KR20110096664A - 카메라의 전자파 특성 평가 방법 - Google Patents

카메라의 전자파 특성 평가 방법 Download PDF

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Abstract

카메라 모듈의 EMII 특성을 자동으로 평가하는 방법을 개시한다. 카메라 모듈의 EMI 특성 평가를 통해 초기 개발 단계에서 EMI 특성이 좋은 카메라 모듈을 선별하여 사용하게 되므로 EMI 특성을 조기에 확보함으로써 EMI 디버깅 시간을 줄여 제품 개발 기간을 단축할 수 있고, 카메라 모듈의 EMI를 측정하여 결과를 분석하는 알고리즘과 어느 정도의 EMI 특성 값이 RE/RFI 측정 시 문제를 일으킬 수 있는지에 대한 판단 기준을 설정하여 카메라 모듈의 EMI 품질 특성을 향상시킴으로써 EMI 규격 승인 시 합격률을 높일 수 있다. 또한, 카메라 모듈의 RE/RFI 측정 결과를 바탕으로 한 카메라 모듈의 EMI 특성 평가를 데이터 베이스화하여 EMI 특성이 좋은 카메라 모듈 내의 부품(IC, PCB 등)을 선정하고 설계에 반영하여 궁극적으로 카메라 모듈의 품질 향상 효과를 기대할 수 있다.

Description

카메라의 전자파 특성 평가 방법{CAMERA NOISE EVALUATION METHOD}
카메라 모듈의 EMI 특성 평가를 통해 초기 개발 단계에서 카메라 모듈의 EMI 특성을 확보할 수 있는 카메라의 전자파 특성 평가 방법에 관한 것이다.
최근, 전자 제품 및 디지털 제품의 사용이 많아지면서 그에 따라 각각의 제품들도 다양해지고 있다. 이러한 제품들은 집적 회로(Integrated Circuit: IC)와 부품 소자 등이 실장된 인쇄회로기판(Printed Circuit Board; 이하, PCB라 한다) 상태 또는 제품이 조립된 상태에서 발생한 각종 스퓨리어스(spurious)와 잡음(noise) 성분들이 외부 전자파로 방사된다. 각 제품에서 방사되는 전자파는 다른 전자 시스템에 방해 전파로 작용되므로 전자파를 측정하고 분석하는 기술이 중요시되고 있다.
이와 같이, 전자 제품에서 방사되는 전자파가 다른 전자 시스템에 방해 전파로 작용되는 간섭 현상을 전자파 간섭(또는 전자파 방해, Electromagnetic Interference; 이하, EMI라 한다)이라 한다. 이에 국가 및 기관에서 EMI를 규격화하여 일정 기준 이상의 EMI 방사가 되는 경우에는 제품을 판매하지 못하도록 규제하고 있다.
통상 EMI 규격을 테스트하는 과정은 제품의 개발 과정 중 끝부분에 이루어지고 있으므로 EMI 규격 테스트를 통과하지 못하는 경우, 제품을 다시 설계해야 하는 문제점과 설계에 투자되는 시간의 손실이 크다. 특히 카메라 모듈을 사용하는 핸드폰의 경우, 카메라 모듈에서 신호 전송의 기준이 되는 P-Clock의 하모닉 주파수가 높아지면서 카메라 모듈이 원인이 되어서 EMI 규격 승인을 받지 못하는 경우가 많음에도 불구하고, 카메라 모듈을 부품 단위로 EMI 특성 평가를 하지 않아서 EMI 디버깅 시간이 길어지고 이에 따라 제품 개발 기간이 길어진다.
또한, 제품에서 방사되는 EMI를 측정하여 결과를 분석하는데 있어 어느 정도의 EMI 특성 값이 RE(Radiated Emission)/RFI(Radio Frequency Interference) 측정 시 문제를 일으킬 수 있는지에 대하여 판단 기준이 없어서 EMI 특성 값에 상관없이 제품에 사용되어 제품(핸드폰)의 EMI 규격 승인 시 불합격률이 높다.
이외에도, 제품에서 방사되는 EMI를 측정하여 결과를 분석하기 위해서는 고도의 전문적인 지식을 가진 기술자가 있어야 한다.
카메라 모듈의 EMI 특성 평가를 통해 EMI 특성이 좋은 카메라 모듈을 선별하여 사용하게 되므로 초기 개발 단계에서 카메라 모듈의 EMI 특성을 확보할 수 있는 카메라의 전자파 특성 평가 방법을 개시한다.
이를 위해 본 발명의 일 측면에 의한 카메라의 전자파 특성 평가 방법은, 카메라 모듈에서 방사되는 EMI를 측정하고; 측정된 데이터를 분석하고 평가하는 알고리즘을 이용하여 카메라 모듈의 EMI 특성을 평가하고; 평가된 결과를 저장하여 관리하는 것을 포함한다.
또한, 본 발명의 일 측면에 의한 카메라의 전자파 특성 평가 방법은, 카메라 모듈의 EMI 측정 전에 카메라 모듈에 대한 데이터를 입력하는 것을 더 포함하고, 카메라 모듈의 EMI를 측정하는 것은, 입력된 데이터에 따라 카메라 모듈의 RE 또는 RFI를 측정하는 것이다.
카메라 모듈의 EMI 특성을 평가하는 것은, 카메라 모듈의 RE 측정에 따라 각 주파수 성분의 최대 값들을 추출하고; 추출된 최대 값들에서 P-Clock의 체배 주파수 성분 값을 복수 개 검출하고; 검출된 성분 값에 따라 카메라 모듈의 RE를 평가하는 것을 포함한다.
카메라 모듈의 RE 평가는, 검출된 성분 값이 정의된 제2평가 기준 값보다 높은 경우 카메라 모듈의 개선이 필요한 POOR로 판정하는 것이 바람직하다.
카메라 모듈의 RE 평가는, 검출된 성분 값이 정의된 제2평가 기준 값보다 낮고, 정의된 제1평가 기준 값보다 높은 경우 카메라 모듈의 개선을 권장하는 FAIR로 판정하는 것이 바람직하다.
카메라 모듈의 RE 평가는, 검출된 성분 값이 정의된 제1평가 기준 값보다 낮은 경우 카메라 모듈이 양호한 GOOD로 판정하는 것이 바람직하다.
제1평가 기준 값은 제2평가 기준 값보다 낮은 주파수 성분 값을 사용하는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명의 일 측면에 의한 카메라의 전자파 특성 평가 방법은, 검출된 복수 개의 성분 값 중에 GOOD 또는 FAIR로 판정받은 성분의 개수와 상관없이 POOR로 판정받은 성분의 개수가 하나 이상인 경우, 카메라 모듈의 RE 최종 평가를 POOR로 최종 판정하는 것을 더 포함한다.
또한, 본 발명의 일 측면에 의한 카메라의 전자파 특성 평가 방법은, 검출된 복수 개의 성분 값 중에 GOOD로 판정받은 성분의 개수와 상관없이 POOR로 판정받은 성분의 개수가 없고, FAIR로 판정받은 성분의 개수가 하나 이상인 경우, 카메라 모듈의 RE 최종 평가를 FAIR로 판정하는 것을 더 포함한다.
또한, 본 발명의 일 측면에 의한 카메라의 전자파 특성 평가 방법은, 검출된 복수 개의 성분 값 중에 POOR 또는 FAIR로 판정받은 성분의 개수가 없고, GOOD로 판정받은 성분의 개수가 하나 이상인 경우, 카메라 모듈의 RE 최종 평가를 GOOD로 판정하는 것을 더 포함한다.
카메라 모듈의 EMI 특성을 평가하는 것은, 카메라 모듈의 RFI 측정에 따라 해당 통신 대역의 각 주파수 성분의 피크 값들을 추출하고; 추출된 피크 값들에서 최대 값을 검출하고; 검출된 최대 피크 값에 따라 카메라 모듈의 RFI를 평가하는 것을 포함한다.
카메라 모듈의 RFI 평가는, 검출된 최대 피크 값이 정의된 제4평가 기준 값보다 높은 경우 카메라 모듈의 개선이 필요한 POOR로 판정하는 것이 바람직하다.
카메라 모듈의 RFI 평가는, 검출된 최대 피크 값이 정의된 제4평가 기준 값보다 낮고, 정의된 제3평가 기준 값보다 높은 경우 카메라 모듈의 개선을 권장하는 FAIR로 판정하는 것이 바람직하다.
카메라 모듈의 RFI 평가는, 검출된 최대 피크 값이 정의된 제3평가 기준 값보다 낮은 경우 카메라 모듈이 양호한 GOOD로 판정하는 것이 바람직하다.
제3평가 기준 값은 제4평가 기준 값보다 낮은 주파수 성분 값을 사용하는 것이 바람직하다.
개시된 카메라의 전자파 특성 평가 방법에 의하면, 카메라 모듈의 EMI 특성 평가를 통해 초기 개발 단계에서 EMI 특성이 좋은 카메라 모듈을 선별하여 사용하게 되므로 EMI 특성을 조기에 확보함으로써 EMI 디버깅 시간을 줄여 제품 개발 기간을 단축할 수 있다.
또한, 카메라 모듈의 EMI를 측정하여 결과를 분석하는 알고리즘과 어느 정도의 EMI 특성 값이 RE/RFI 측정 시 문제를 일으킬 수 있는지에 대한 판단 기준을 설정하여 카메라 모듈의 EMI 품질 특성을 향상시킴으로써 EMI 규격 승인 시 합격률을 높일 수 있다.
또한, 제품에서 방사되는 EMI 특성을 측정하여 결과를 분석하는 과정이 자동으로 진행되어 고도의 전문적인 지식을 가진 기술자가 아니어도 EMI 특성의 평가 결과를 쉽게 확인할 수 있다.
또한, 카메라 모듈의 RE/RFI 측정 결과를 바탕으로 한 카메라 모듈의 EMI 특성 평가를 데이터 베이스화하여 EMI 특성이 좋은 카메라 모듈 내의 부품(IC, PCB 등)을 선정하고 설계에 반영하여 궁극적으로 카메라 모듈의 특성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 전자파 특성을 평가하는 시스템 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 EMI 특성 평가 방법을 설명하기 위한 전체적인 동작 순서도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 EMI 특성 평가 방법에서 RE를 평가하는 알고리즘에 대한 동작 순서도이다.
도 4는 도 3의 평가 알고리즘에 따른 카메라 모듈의 RE 평가 결과를 예시한 그래프의 일 예를 나타낸 도면으로, S8300의 RE 평가 결과를 예시한 그래프이다.
도 5는 도 3의 평가 알고리즘에 따른 카메라 모듈의 RE 평가 결과를 예시한 데이터 시트의 일 예를 나타낸 도면으로, S8300의 RE 평가 결과를 예시한 데이터 시트이다.
도 6은 도 3의 평가 알고리즘에 따른 카메라 모듈의 RE 평가 결과를 예시한 그래프의 다른 예를 나타낸 도면으로, S6700C의 RE 평가 결과를 예시한 그래프이다.
도 7은 도 3의 평가 알고리즘에 따른 카메라 모듈의 RE 평가 결과를 예시한 데이터 시트의 다른 예를 나타낸 도면으로, S6700C의 RE 평가 결과를 예시한 데이터 시트이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 EMI 특성 평가 방법에서 RFI를 평가하는 알고리즘에 대한 동작 순서도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 EMI 특성 평가 방법에서 RFI를 평가하는 통신 대역(RFI 분석용 무선 수신 주파수 대역)을 나타낸 표이다.
도 10은 도 8의 평가 알고리즘에 따른 카메라 모듈의 RFI 평가 결과를 예시한 그래프의 일 예를 나타낸 도면으로, S3500C GSM850 대역의 RFI 평가 결과를 예시한 그래프이다.
도 11은 도 8의 평가 알고리즘에 따른 카메라 모듈의 RFI 평가 결과를 예시한 그래프의 다른 예를 나타낸 도면으로, D908i GSM900 대역의 RFI 평가 결과를 예시한 그래프이다.
이하, 본 발명의 일 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 전자파 특성을 평가하는 시스템 구성도이다.
도 1에서, 카메라 모듈의 전자파 특성 평가 시스템은 제품(구체적으로, 핸드폰에 사용되는 카메라 모듈)의 EMI 특성을 평가하기 위해 카메라 모듈에서 방사되는 전자파의 EMI를 측정하는 스캐너(10)와, 스캐너(10)에서 측정된 전자파를 분석하여 측정 영역에 대해 전자파 강도로 해석하는 스펙트럼 분석기(20)와, 스캐너(10) 및 스펙트럼 분석기(20)를 제어하는 제어부(31)를 포함한다.
스캐너(10, Near Field Scanner)는 카메라 모듈에서 발생되는 전자기장 신호를 측정하는 프로브(11)와, 제어부(31)의 제어에 따라 프로브(11)의 위치를 X, Y, Z축 방향으로 이동시키는 이동부(12)와, 프로브(11)의 위치 조정을 위해 제어부(31)의 제어에 따라 측정 이미지를 캡쳐하여 제어부(31)로 전송하는 스캐너 카메라(13)를 포함한다.
이동부(12)는 3축 시스템으로 X, Y, Z축 끝에 프로브(11)를 고정하여 제어부(31)의 제어 명령에 따라 X, Y, Z축 방향으로 이동한다.
또한, 스펙트럼 분석기(20)는 프로브(11)에서 측정된 전자기장 신호의 값을 측정하여 그 측정된 값을 제어부(31)로 전송한다.
제어부(31)는 스캐너(10)의 측정 데이터를 기반으로 하여 카메라 모듈의 EMI 특성을 평가하는 CPU로, 프로브(11)를 측정이 필요한 위치로 이동시키도록 프로브(11)의 X, Y, Z축 위치를 제어한다.
또한, 제어부(31)는 스펙트럼 분석기(20)의 측정 영역을 설정하고, 측정 영역에 대해 해석된 전자파 강도 데이터를 불러와서 저장한다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 전자파 특성 평가 시스템은 제어부(31)에서 분석된 파형을 디스플레이하는 표시부(32)를 더 포함한다.
표시부(32)는 제어부(31)의 제어 명령에 따라 카메라 모듈의 EMI 특성 평가 과정 및 결과를 작업자가 확인할 수 있도록 디스플레이하는 모니터이다.
본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 전자파 특성 평가 시스템에서 제어부(31)와 표시부(32)는 컴퓨터(30)를 구성한다.
이하, 상기와 같이 구성된 카메라의 전자파 특성 평가 방법의 동작과정 및 작용효과를 설명한다.
먼저, 본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 EMI 특성을 평가하기 위해서 RE(Radiated Emission)와 RFI(Radio Frequency Interference)를 측정한다.
RE(Radiated Emission)는 전자 제품의 정상 작동 시 외부로 방사되는 전자파의 강도에 대한 측정 규격으로, 주로 30~1000MHz로 규격을 의미하고, 측정 안테나와 제품 사이의 이격 거리를 3m 또는 10m로 한다.
RFI(Radio Frequency Interference)는 전파를 발사하는 두 송신소에서 같은 주파수를 발사하면 두 송신소의 중간 지점에서는 같은 주파수를 수신하게 되고, 이때 동일 주파수의 파동이 합성되거나 상쇄되는 현상이 일어난다. 이렇게 서로 합성과 상쇄가 일어날 때를 전파 간섭이 일어나서 TV 방송 화질을 떨어뜨리거나 통신의 혼선을 유발한다.
또한, 제품에서 방사되는 전자파의 EMI 측정 시, 제품과 안테나 사이의 거리가 가깝고 먼 정도로 근거리(Near Field) 측정과 장거리(Far Field) 측정으로 나누게 된다. 이때 근거리(Near Field) 측정은 제품에 따라 1mm~10cm 등으로 다양하고 이를 측정할 수 있는 장비를 Near Field Scanner라고 한다.
Near Field Scanner는 본 발명의 일 실시예에서 사용하는 스캐너(10)로, 제품(구체적으로, 핸드폰에 사용되는 카메라 모듈)에서 방사되는 전자파의 EMI를 근거리에서 측정하여 방사가 많이 되는 주파수를 찾고, 그 주파수로 방사하는 카메라 모듈 내의 부품(IC, PCB 등)의 위치를 찾도록 해주는 장비이다. 스캐너(10, Near Field Scanner)는 제품의 개발 단계에서 EMI 규격 테스트를 통과하지 못하는 경우, 규격 초과되는 주파수를 찾고 그 주파수를 방사하는 부품 또는 도선 등의 노이즈 소스를 찾기 위해 주로 사용한다.
본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 전자파 특성 평가 시스템은 이러한 스캐너(10, Near Field Scanner)의 측정 데이터를 기반으로 하여 카메라 모듈의 EMI 특성을 평가한다.
즉, 카메라 모듈의 EMI 특성 평가는 RE(Radiated Emission)와 RFI(Radio Frequency Interference)를 측정하여 분석하고, 분석된 자료를 바탕으로 EMI 특성을 평가하는 것이다. RE와 RFI의 측정을 위해 제어부(31)는 스캐너(10)와 스펙트럼 분석기(20)를 제어하여 측정된 데이터를 분석하고, 평가 알고리즘에 따라 카메라 모듈의 EMI 특성을 평가한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 EMI 특성 평가 방법을 설명하기 위한 전체적인 동작 순서도이다.
도 2에서, 카메라 모듈의 EMI 설계/제작이 완료되면, 제어부(31)는 카메라 모듈의 측정 전에 카메라 모듈과 관련된 DB(데이터 베이스) 값(SE Code, 핸드폰 모델명, 과제명, 카메라 모듈 제조업체, 카메라 화소, 센서 제조업체, 카메라 모듈에서 신호 전송의 기준이 되는 P-Clock의 하모닉 주파수 값, 신호 처리 ISP 제조업체 등)을 입력받는다(100).
이후, 제어부(31)는 RE 선택 시 측정 대역을 표시하고, RFI 선택 시 RFI 분석용 무선 수신 주파수를 참고하여 수신 주파수의 측정 대역을 선택한다(102).
이와 같이, 측정 세팅이 완료되면(104), 제어부(31)는 스캐너(10)와 스펙트럼 분석기(20)를 제어하여 카메라 모듈에 대한 RE/RFI 측정을 시작하고, 측정이 완료되면 스캐너(10)와 스펙트럼 분석기(20)를 제어하여 카메라 모듈에 대한 RE/RFI 측정을 종료한다(106).
이후, 제어부(31)는 측정된 카메라 모듈에 대한 RE/RFI 측정 데이터를 분석하고(108), 도 3 및 도 8의 평가 알고리즘에 따라 카메라 모듈의 EMI 특성을 평가한다(110).
그리고, 제어부(31)는 평가된 카메라 모듈의 EMI 특성을 DB(데이터 베이스)화하여 관리한다(112).
도 3은 본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 EMI 특성 평가 방법에서 RE를 평가하는 알고리즘에 대한 동작 순서도이다.
도 3에서, 제어부(31)는 RE를 측정함에 있어서 각 주파수 성분의 최대 값들을 추출하거나 또는 각 주파수 상위 N개 값을 비교하여 그 평균값들을 추출한다(200).
이후, 제어부(31)는 카메라 모듈에서 신호 전송의 기준이 되는 P-Clock의 체배 주파수 성분들(예를 들어, P-Clock 20MHz인 경우: 20, 40, 60, 80, 100, ..., 980, 1000MHz)을 검출한다(202). 제어부(31)는 P-Clock의 체배 주파수 성분을 검출할 때, 체배 주파수의 +3MHz, -3MHz 범위의 주파수 성분들을 비교하여 최대 값을 추출(예를 들어: P-Clock의 체배 주파수가 40MHz인 경우, 37과 43 사이의 주파수 성분들의 값들을 비교하여 최대 값을 추출)한다.
그리고, 제어부(31)는 검출된 주파수 성분 값(NF_Peaks)이 미리 정의된 제2평가 기준 값(Level 2)보다 낮은가를 판단하여(204), 검출된 주파수 성분 값(NF_Peaks)이 제2평가 기준 값(Level 2)보다 높은 경우 제어부(31)는 카메라 모듈의 개선이 필요한(necessary) POOR로 판정하여 표시부(32)를 통해 디스플레이한다(206).
단계 204의 판단 결과, 검출된 주파수 성분 값(NF_Peaks)이 제2평가 기준 값(Level 2)보다 낮은 경우 제어부(31)는 검출된 주파수 성분 값(NF_Peaks)이 미리 정의된 제1평가 기준 값(Level 1)보다 낮은가를 판단한다(208).
단계 208의 판단 결과, 검출된 주파수 성분 값(NF_Peaks)이 제2평가 기준 값(Level 2)보다 낮고 제1평가 기준 값(Level 1)보다 높은 경우 제어부(31)는 카메라 모듈의 개선을 권장하는(optional) FAIR로 판정하여 표시부(32)를 통해 디스플레이한다(210).
한편, 단계 208의 판단 결과, 검출된 주파수 성분 값(NF_Peaks)이 제1평가 기준 값(Level 1)보다 낮은 경우 제어부(31)는 카메라 모듈이 양호한 GOOD로 판정하여 표시부(32)를 통해 디스플레이한다(212).
도 4는 도 3의 평가 알고리즘에 따른 카메라 모듈의 RE 평가 결과를 예시한 그래프의 일 예를 나타낸 도면으로, S8300의 RE 평가 결과를 예시한 그래프이다.
도 4는 스캐너(10)에서 측정되는 카메라 모듈에 대한 RE 측정 결과 데이터를 나타낸 것으로, 가로축은 P-Clock의 주파수 성분(Frequency[MHz])이고, 세로축은 P-Clock의 주파수 성분에서 측정된 RE 측정 결과 데이터의 최대 값이며, 점선으로 표시된 Level 1, 2는 미리 정의된 평가 기준 값의 적용 등급을 나타내고, 실선으로 표시된 그래프가 S8300의 RE 평가 결과를 나타낸다.
도 5는 도 3의 평가 알고리즘에 따른 카메라 모듈의 RE 평가 결과를 예시한 데이터 시트의 일 예를 나타낸 도면으로, S8300의 RE 평가 결과를 예시한 데이터 시트이다.
도 5는 스캐너(10)에서 측정되는 카메라 모듈에 대한 RE 측정 결과 데이터를 기반으로 카메라 모듈의 RE 평가 결과를 나타낸 것으로, POOR가 1개 이상이면 카메라 모듈의 개선이 필요한(necessary) POOR로 판정한 평가 결과를 나타낸 것이다.
즉, 검출된 주파수 성분 값들(NF_Peaks) 중에 GOOD 또는 FAIR로 판정받은 성분 값의 개수와 상관없이 POOR로 판정받은 성분 값의 개수가 하나 이상인 경우, 카메라 모듈의 RE 최종 평가를 POOR로 판정하는 것을 나타낸 것이다.
도 6은 도 3의 평가 알고리즘에 따른 카메라 모듈의 RE 평가 결과를 예시한 그래프의 다른 예를 나타낸 도면으로, S6700C의 RE 평가 결과를 예시한 그래프이다.
도 6은 스캐너(10)에서 측정되는 카메라 모듈에 대한 RE 측정 결과 데이터를 나타낸 것으로, 가로축은 P-Clock의 주파수 성분(Frequency[MHz])이고, 세로축은 P-Clock의 주파수 성분에서 측정된 RE 측정 결과 데이터의 최대 값이며, 점선으로 표시된 Level 1, 2는 미리 정의된 평가 기준 값의 적용 등급을 나타내고, 실선으로 표시된 그래프가 S6700C의 RE 평가 결과를 나타낸다.
도 7은 도 3의 평가 알고리즘에 따른 카메라 모듈의 RE 평가 결과를 예시한 데이터 시트의 다른 예를 나타낸 도면으로, S6700C의 RE 평가 결과를 예시한 데이터 시트이다.
도 7은 스캐너(10)에서 측정되는 카메라 모듈에 대한 RE 측정 결과 데이터를 기반으로 카메라 모듈의 RE 평가 결과를 나타낸 것으로, FAIR가 1개 이상이면 카메라 모듈의 개선을 권장하는(optional) FAIR로 판정한 평가 결과를 나타낸 것이다.
즉, 검출된 주파수 성분 값들(NF_Peaks) 중에 GOOD로 판정받은 성분 값의 개수와 상관없이 POOR로 판정받은 성분 값의 개수가 없고, FAIR로 판정받은 성분 값의 개수가 하나 이상인 경우, 카메라 모듈의 RE 최종 평가를 FAIR로 판정하는 것을 나타낸 것이다.
이외에도, 검출된 주파수 성분 값들(NF_Peaks) 중에 POOR 또는 FAIR로 판정받은 성분 값의 개수가 없고, GOOD로 판정받은 성분 값의 개수가 하나 이상인 경우에는 카메라 모듈의 RE 최종 평가를 GOOD로 판정한다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 EMI 특성 평가 방법에서 RFI를 평가하는 알고리즘에 대한 동작 순서도이고, 도 9는 본 발명의 일 실시예에 의한 카메라 모듈의 EMI 특성 평가 방법에서 RFI를 평가하는 통신 대역(RFI 분석용 무선 수신 주파수 대역)을 나타낸 표이다.
도 8에서, RFI의 경우 스캐너(10)는 한 번의 프로브(11) 이동으로 여러 통신 대역(RF Band)을 자동으로 측정하여 제어부(31)에 전달한다.
따라서, 제어부(31)는 RFI를 측정함에 있어서 도 9에 도시한 해당 통신 대역(RF Band)의 각 주파수 성분의 피크(Peak) 값들을 추출하고(300), 피크(Peak) 값들이 여러 개인 경우 그 피크 값들 중의 최대 값을 추출한다(302). 제어부(31)는 각 통신 대역(RF Band)의 피크 값들을 델타(Delta) 값을 기준으로 검출한다. 델타(Delta) 값은 이웃하는 측정 데이터 간의 최대 최소 값의 차이 정도를 나타낸 것으로, 델타(Delta) 값이 클수록 이웃하는 주파수의 최대 최소 값의 차이가 커진다.
이후, 제어부(31)는 검출된 최대 피크 값(NF_Peaks)이 미리 정의된 제4평가 기준 값(Level 4)보다 낮은가를 판단하여(304), 검출된 최대 피크 값(NF_Peaks)이 제4평가 기준 값(Level 4)보다 높은 경우 제어부(31)는 카메라 모듈의 개선이 필요한(necessary) POOR로 판정한다(306).
단계 304의 판단 결과, 검출된 최대 피크 값(NF_Peaks)이 제4평가 기준 값(Level 4)보다 낮은 경우 제어부(31)는 검출된 최대 피크 값(NF_Peaks)이 미리 정의된 제3평가 기준 값(Level 3)보다 낮은가를 판단한다(308).
단계 308의 판단 결과, 검출된 최대 피크 값(NF_Peaks)이 제4평가 기준 값(Level 4)보다 낮고 제3평가 기준 값(Level 3)보다 높은 경우 제어부(31)는 카메라 모듈의 개선을 권장하는(optional) FAIR로 판정한다(310).
한편, 단계 308의 판단 결과, 검출된 최대 피크 값(NF_Peaks)이 제3평가 기준 값(Level 3)보다 낮은 경우 제어부(31)는 카메라 모듈이 양호한 GOOD로 판정한다(312).
도 10은 도 8의 평가 알고리즘에 따른 카메라 모듈의 RFI 평가 결과를 예시한 그래프의 일 예를 나타낸 도면으로, S3500C GSM850 대역의 RFI 평가 결과를 예시한 그래프이다.
도 10은 스캐너(10)에서 측정되는 카메라 모듈에 대한 RFI 측정 결과 데이터를 나타낸 것으로, 가로축은 해당 통신 대역(GSM850 대역)의 주파수 성분(Frequency[MHz])이고, 세로축은 해당 통신 대역(GSM850 대역)의 주파수 성분에서 측정된 RFI 측정 결과 데이터의 피크 값이며, 점선으로 표시된 Level 3, 4는 미리 정의된 평가 기준 값의 적용 등급을 나타내고, 실선으로 표시된 그래프가 S3500C GSM850 대역의 RFI 평가 결과를 나타낸다.
도 10에서, S3500C GSM850 대역의 RFI 평가 결과는 FAIR로, 이는 FAIR가 1개 이상이면 카메라 모듈의 개선을 권장하는(optional) 결과를 나타낸 것이다.
도 11은 도 8의 평가 알고리즘에 따른 카메라 모듈의 RFI 평가 결과를 예시한 그래프의 다른 예를 나타낸 도면으로, D908i GSM900 대역의 RFI 평가 결과를 예시한 그래프이다.
도 11은 스캐너(10)에서 측정되는 카메라 모듈에 대한 RFI 측정 결과 데이터를 나타낸 것으로, 가로축은 해당 통신 대역(GSM900 대역)의 주파수 성분(Frequency[MHz])이고, 세로축은 해당 통신 대역(GSM900 대역)의 주파수 성분에서 측정된 RFI 측정 결과 데이터의 피크 값이며, 점선으로 표시된 Level 3, 4는 미리 정의된 평가 기준 값의 적용 등급을 나타내고, 실선으로 표시된 그래프가 D908i GSM900 대역의 RFI 평가 결과를 나타낸다.
도 11에서, D908i GSM900 대역의 RFI 평가 결과는 POOR로, 이는 POOR가 1개 이상이면 카메라 모듈의 개선이 필요한(necessary) 결과를 나타낸 것이다.
이에 따라, 제어부(31)는 RE/RFI 평가 결과를 데이터 베이스화하여 EMI 특성이 좋은 카메라 모듈 내의 부품(IC, PCB 등)을 선정하고, 이를 설계에 반영하여 체계적으로 카메라 모듈의 EMI 특성의 품질 관리를 할 수 있게 된다.
10 : 스캐너 11 : 프로브
12 : 이동부 13 : 스캐너 카메라
20 : 스펙트럼 분석기 30 : 컴퓨터
31 : 제어부 32 : 표시부

Claims (15)

  1. 카메라 모듈에서 방사되는 EMI를 측정하고;
    상기 측정된 데이터를 분석하고 평가하는 알고리즘을 이용하여 상기 카메라 모듈의 EMI 특성을 평가하고;
    상기 평가된 결과를 저장하여 관리하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 카메라 모듈의 EMI 측정 전에 상기 카메라 모듈에 대한 데이터를 입력하는 것을 더 포함하고,
    상기 카메라 모듈의 EMI를 측정하는 것은,
    상기 입력된 데이터에 따라 상기 카메라 모듈의 RE 또는 RFI를 측정하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 카메라 모듈의 EMI 특성을 평가하는 것은,
    상기 카메라 모듈의 RE 측정에 따라 각 주파수 성분의 최대 값들을 추출하고;
    상기 추출된 최대 값들에서 P-Clock의 체배 주파수 성분 값을 복수 개 검출하고;
    상기 검출된 성분 값에 따라 상기 카메라 모듈의 RE를 평가하는 것을 포함하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 카메라 모듈의 RE 평가는,
    상기 검출된 성분 값이 정의된 제2평가 기준 값보다 높은 경우 상기 카메라 모듈의 개선이 필요한 POOR로 판정하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 카메라 모듈의 RE 평가는,
    상기 검출된 성분 값이 정의된 제2평가 기준 값보다 낮고, 정의된 제1평가 기준 값보다 높은 경우 상기 카메라 모듈의 개선을 권장하는 FAIR로 판정하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  6. 제3항에 있어서,
    상기 카메라 모듈의 RE 평가는,
    상기 검출된 성분 값이 정의된 제1평가 기준 값보다 낮은 경우 상기 카메라 모듈이 양호한 GOOD로 판정하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  7. 제4항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제1평가 기준 값은 상기 제2평가 기준 값보다 낮은 주파수 성분 값인 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  8. 제4항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 검출된 복수 개의 성분 값 중에 GOOD 또는 FAIR로 판정받은 성분의 개수와 상관없이 POOR로 판정받은 성분의 개수가 하나 이상인 경우, 상기 카메라 모듈의 RE 최종 평가를 POOR로 최종 판정하는 것을 더 포함하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  9. 제4항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 검출된 복수 개의 성분 값 중에 GOOD로 판정받은 성분의 개수와 상관없이 POOR로 판정받은 성분의 개수가 없고, FAIR로 판정받은 성분의 개수가 하나 이상인 경우, 상기 카메라 모듈의 RE 최종 평가를 FAIR로 판정하는 것을 더 포함하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  10. 제4항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 검출된 복수 개의 성분 값 중에 POOR 또는 FAIR로 판정받은 성분의 개수가 없고, GOOD로 판정받은 성분의 개수가 하나 이상인 경우, 상기 카메라 모듈의 RE 최종 평가를 GOOD로 판정하는 것을 더 포함하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  11. 제2항에 있어서,
    상기 카메라 모듈의 EMI 특성을 평가하는 것은,
    상기 카메라 모듈의 RFI 측정에 따라 해당 통신 대역의 각 주파수 성분의 피크 값들을 추출하고;
    상기 추출된 피크 값들에서 최대 값을 검출하고;
    상기 검출된 최대 피크 값에 따라 상기 카메라 모듈의 RFI를 평가하는 것을 포함하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 카메라 모듈의 RFI 평가는,
    상기 검출된 최대 피크 값이 정의된 제4평가 기준 값보다 높은 경우 상기 카메라 모듈의 개선이 필요한 POOR로 판정하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 카메라 모듈의 RFI 평가는,
    상기 검출된 최대 피크 값이 정의된 제4평가 기준 값보다 낮고, 정의된 제3평가 기준 값보다 높은 경우 상기 카메라 모듈의 개선을 권장하는 FAIR로 판정하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 카메라 모듈의 RFI 평가는,
    상기 검출된 최대 피크 값이 정의된 제3평가 기준 값보다 낮은 경우 상기 카메라 모듈이 양호한 GOOD로 판정하는 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
  15. 제12항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제3평가 기준 값은 상기 제4평가 기준 값보다 낮은 주파수 성분 값인 카메라의 전자파 특성 평가 방법.
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