KR20100107928A - Probe device of measuring apparatus - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A probe device of measuring an apparatus is provided to improve the convenience and accuracy of a measurement process. CONSTITUTION: In a probe device of measuring an apparatus, a probe tip(20) is combined with the front end of a probe body. A lamp(30) is attached to a finger guide which is formed on a probe body. A control switch(40) controls the on/off of the lamp.

Description

계측기기용 프로브 장치{PROBE DEVICE OF MEASURING APPARATUS}PROBE DEVICE OF MEASURING APPARATUS [0001]

본 발명은 계측기기용 프로브 장치에 관한 것이다. 보다 구체적으로, 본 발명은 어두운 곳에서 계측 작업을 수행하는 사용자 및 미세한 계측 대상물에 대한 계측 작업을 수행하는 사용자의 계측 작업의 편의성 및 정확성을 향상시키는 계측기기용 프로브 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a probe apparatus for an instrument. More particularly, the present invention relates to a probe apparatus for a measuring instrument that improves the convenience and accuracy of a measurement task performed by a user performing a measurement task in a dark place and a user performing a measurement task with respect to a minute measurement target.

일반적으로 전자제품의 개발이나 생산시 제품의 성능을 측정하거나 전자제품의 고장 수리시 고장 원인을 찾기 위하여, 전자제품의 회로기판에 각종 테스트 포인트를 만들어서 회로기판에 실장된 부품들의 상태를 계측하게 된다.Generally, in order to measure the performance of a product during the development or production of the electronic product, or to find the cause of the failure in the repair of the electronic product, various test points are made on the circuit board of the electronic product to measure the state of the components mounted on the circuit board .

그리고 이러한 계측작업은 오실로스코프(oscilloscope) 등과 같은 계측기기에 의해 이루어지게 되며, 프로브 장치는 계측기기와 계측대상물인 전자부품이 실장된 인쇄회로기판의 각종 테스트 포인트를 전기적으로 연결시키는 역할을 한다.Such a measurement operation is performed by an instrument such as an oscilloscope, and the probe apparatus electrically connects various test points of the printed circuit board on which the meter and the electronic component to be measured are mounted.

도 1에 이러한 종래의 계측기기용 프로브 장치가 도시되어 있다.Fig. 1 shows such a conventional probe apparatus for a measuring instrument.

도 1을 참조하면, 종래의 계측기기용 프로브 장치는 프레임의 기능을 하는 프로브 본체(probe body, 1) 및 계측대상물인 전자부품이 실장된 인쇄회로기판의 각종 테스트 포인트에 접촉되는 부분인 프로브 팁(probe tip, 2)을 포함하여 구성된다.1, a conventional probe apparatus for a measuring instrument includes a probe body 1 serving as a frame and a probe tip 1 serving as a portion contacting with various test points of a printed circuit board on which electronic components to be measured are mounted. probe tip, 2).

프로브 본체(1)는 계측기기용 프로브 장치의 프레임을 구성하는 부분이다. 이 프로브 본체(1)의 전단에는 프로브 팁(2)이 전기적 및 기계적으로 결합되어 있다. 또한 프로브 본체(1)의 후단은 케이블에 의하여 오실로스코프(oscilloscope) 등과 같은 계측기기(3)에 전기적으로 연결되어 있다.The probe main body 1 is a part constituting the frame of the probe device for a measuring instrument. The probe tip 2 is electrically and mechanically coupled to the front end of the probe main body 1. The rear end of the probe main body 1 is electrically connected to the measuring device 3 such as an oscilloscope by a cable.

프로브 팁(2)은 프로브 본체(1)의 전단에 결합되어 있다. 이 프로브 팁(2)은 프로브 본체(1)에 내장된 도시하지 않은 전기 부품들 및 전기 배선을 매개로 계측기기에 전기적으로 연결되어 있다. 계측대상물에 대하여 계측작업을 수행하는 사용자가 이 프로브 팁(2)을 계측의 대상이 되는 인쇄회로기판의 테스트 포인트에 접촉시키면, 계측기기(3)에 상기 테스트 포인트에서 검출되는 전압, 전류 등의 정보가 표시된다. 사용자는 계측기기(3)에 표시되는 이 정보들을 이용하여 계측의 대상이 되는 피계측물에 대한 계측작업을 수행하는 것이다.The probe tip 2 is coupled to the front end of the probe main body 1. The probe tip 2 is electrically connected to the measuring instrument through electrical components and electric wiring (not shown) embedded in the probe main body 1. [ When a user performing a measurement operation with respect to a measurement object touches the probe tip 2 with a test point of a printed circuit board to be measured, a voltage, a current, etc. detected at the test point Information is displayed. The user uses the information displayed on the measuring instrument 3 to perform a measurement operation on the measurement object to be measured.

그러나 종래의 이러한 계측기기용 프로브 장치에 따르면, 다음과 같은 문제점들이 있다.However, according to the conventional probe apparatus for a measuring instrument, there are the following problems.

첫째, 어두운 곳에서 계측 작업을 수행해야 하는 경우, 계측작업을 수행하는 사용자의 계측 작업의 편의성 및 정확성이 저하되는 문제점이 있다. 이 경우 별도의 조명장치를 사용한다 하여도, 매번 조명 환경에 맞추어 조명장치를 설치한 후 계측 작업을 하여야 하므로, 시간적 및 비용적 측면에서의 효율성이 저하되는 문제점이 있다.First, when the measurement operation must be performed in a dark place, the convenience and accuracy of the measurement operation of the user performing the measurement operation is deteriorated. In this case, even if a separate illumination device is used, the measurement operation must be performed after the illumination device is installed in accordance with the illumination environment every time, so that efficiency in terms of time and cost is deteriorated.

둘째, 미세한 계측 대상물에 대한 계측 작업을 수행해야 하는 경우, 사용자가 갖는 시각적 한계로 인하여, 계측 작업의 정확성 및 사용자의 편의성이 저하되는 문제점이 있다.Second, when a measurement task is to be performed on a fine measurement object, the accuracy of the measurement task and the convenience of the user are deteriorated due to the visual limitations of the user.

본 발명은 어두운 곳에서 계측 작업을 수행하는 사용자의 계측 작업의 편의성 및 정확성을 향상시키는 것을 기술적 과제로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to improve the convenience and accuracy of a measurement operation of a user performing a measurement operation in a dark place.

또한, 본 발명은 미세한 계측 대상물에 대한 계측 작업을 수행하는 사용자의 계측 작업의 편의성 및 정확성을 향상시키는 것을 기술적 과제로 한다.It is another object of the present invention to improve the convenience and accuracy of a measurement operation performed by a user who performs a measurement operation on a fine measurement object.

이러한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 계측기기용 프로브 장치는 프로브 본체(probe body), 상기 프로브 본체의 전단에 결합된 프로브 팁(probe tip), 상기 프로브 팁 뒤쪽의 프로브 본체에 형성된 핑거 가이드(finger guide)에 부착된 램프 및 상기 램프의 점멸을 제어하기 위한 점멸 제어 스위치를 포함하여 구성된다.According to an aspect of the present invention, there is provided a probe apparatus for a measuring instrument including a probe body, a probe tip coupled to a front end of the probe body, a finger guide formed on a probe body behind the probe tip, a finger attached to the finger guide, and a blinking control switch for controlling the blinking of the lamp.

본 발명에 따른 계측기기용 프로브 장치는 확대경, 상기 확대경의 둘레를 감싸면서 상기 확대경을 수용하는 수용 링(ring) 및 일단이 상기 프로브 본체에 형성된 와이어 결합홈에 체결되고 타단이 상기 수용 링에 형성된 결합홀에 체결된 프레임 와이어를 더 포함하여 구성될 수 있다.A probe apparatus for a measuring instrument according to the present invention comprises a magnifying glass, a receiving ring for receiving the magnifying glass while surrounding the circumference of the magnifying glass, a coupling having one end fastened to a wire coupling groove formed in the probe main body, And may further comprise a frame wire fastened to the hole.

본 발명에 따른 계측기기용 프로브 장치에 있어서, 상기 프레임 와이어는 상기 확대경을 수용하는 수용 링의 위치를 변경시킬 수 있을 정도로 플렉서블(flexible)한 재질을 갖는 것이 바람직하다.In the probe apparatus for a measuring instrument according to the present invention, it is preferable that the frame wire has a flexible material so as to change the position of the receiving ring for accommodating the magnifying glass.

본 발명에 따른 계측기기용 프로브 장치에 있어서, 상기 수용 링에 형성된 결합홀에는 암나사산이 가공되어 있고, 상기 프레임 와이어의 타단에는 상기 암나사산에 대응하는 수나사산이 가공되어 있다. 이에 따라, 상기 수용 링을 회전시킴으로써 상기 확대경이 수용된 수용 링과 상기 프레임 와이어는 서로 탈부착이 가능해진다.In the probe device for a measuring instrument according to the present invention, a female thread is formed in a coupling hole formed in the receiving ring, and a male thread corresponding to the female thread is machined at the other end of the frame wire. Thus, by rotating the receiving ring, the receiving ring accommodating the magnifying glass and the frame wire can be detachably attached to each other.

본 발명에 따른 계측기기용 프로브 장치에 있어서, 상기 프로브 본체에 형성된 와이어 결합홈은 상기 프로브 본체의 외면을 따라 나선형으로 형성되어 있고, 상기 프레임 와이어의 일단은 상기 와이어 결합홈을 감싸면서 상기 와이어 결합홈에 체결되는 것이 바람직하다.In the probe apparatus for a measuring instrument according to the present invention, a wire coupling groove formed in the probe main body is formed in a spiral shape along an outer surface of the probe main body, and one end of the frame wire surrounds the wire coupling groove, As shown in Fig.

본 발명에 따르면, 어두운 곳에서 계측 작업을 수행하는 사용자의 계측 작업의 편의성 및 정확성이 향상되는 효과가 있다.According to the present invention, there is an effect that convenience and accuracy of a measurement operation of a user performing a measurement operation in a dark place is improved.

또한, 미세한 계측 대상물에 대한 계측 작업을 수행하는 사용자의 계측 작업의 편의성 및 정확성이 향상되는 효과가 있다.In addition, there is an effect that the convenience and accuracy of the measurement work of the user performing the measurement work on the fine measurement target is improved.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치를 나타낸 도면이고, 도 3은 도 2의 본 발명의 제1 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치에 포함된 램프의 점멸을 제어하기 위한 회로를 나타낸 도면이다.FIG. 2 is a view showing a probe apparatus for a measuring instrument according to a first embodiment of the present invention. FIG. 3 is a schematic view of a probe apparatus for a measuring instrument according to a first embodiment of the present invention, Fig.

도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치는 프로브 본체(probe body, 10), 프로브 팁(probe tip, 20), 램프(30) 및 점멸 제어 스위치(40)를 포함하여 구성된다.2 and 3, a probe apparatus for a measuring instrument according to a first embodiment of the present invention includes a probe body 10, a probe tip 20, a lamp 30, and a blinking control switch 40).

프로브 본체(10)는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치의 프레임을 구성하는 부분이다. 이 프로브 본체(10)의 전단에는 후술할 프로브 팁(20)이 전기적 및 기계적으로 결합되어 있다. 또한 프로브 본체(10)의 후단은 케이블에 의하여 계측기기(3)에 전기적으로 연결되어 있다.The probe main body 10 constitutes a frame of the probe apparatus for a measuring instrument according to the first embodiment of the present invention. A probe tip 20 to be described later is electrically and mechanically coupled to the front end of the probe main body 10. The rear end of the probe main body 10 is electrically connected to the measuring instrument 3 by a cable.

프로브 팁(20)은 프로브 본체(10)의 전단에 결합되어 있다. 이 프로브 팁(20)은 도시하지 않은 전기 부품들 및 전기 배선을 매개로 계측기기(3)에 전기적으로 연결되어 있다. 본 발명의 제1 실시 예의 특징은 이 전기 부품들 및 전기 배선에 있지 않으므로, 이에 대한 상세한 설명은 생략한다. 예를 들어, 사용자가 이 프로브 팁(20)을 계측의 대상이 되는 인쇄회로기판의 테스트 포인트에 접촉시키면, 계측기기(3)에 상기 테스트 포인트에 대한 전압, 전류 등의 정보가 표시된다. 사용자는 계측기기(3)에 표시되는 이 정보들을 이용하여 계측의 대상이 되는 피계측물에 대한 계측작업을 수행한다.The probe tip 20 is coupled to the front end of the probe main body 10. The probe tip 20 is electrically connected to the measuring instrument 3 through electric components and electric wiring (not shown). Since the features of the first embodiment of the present invention are not in the electric parts and the electric wiring, a detailed description thereof will be omitted. For example, when the user brings the probe tip 20 into contact with a test point of a printed circuit board to be measured, information such as voltage, current, and the like for the test point is displayed on the measuring instrument 3. The user uses this information displayed on the measuring instrument 3 to perform measurement work on the measurement object to be measured.

후술할 램프(30)와 점멸 제어 스위치(40)는 본 발명의 제1 실시 예의 특징적인 구성요소이다.The lamp 30 and the blinking control switch 40 to be described later are characteristic components of the first embodiment of the present invention.

램프(30)는 프로브 팁(20) 뒤쪽의 프로브 본체(10)에 형성된 핑거 가이드(finger guide)에 부착되어 있다. 예를 들어, 이 램프(30)는 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)를 이용하여 구현될 수 있다.The lamp 30 is attached to a finger guide formed on the probe main body 10 behind the probe tip 20. For example, the lamp 30 may be implemented using a light emitting diode (LED).

점멸 제어 스위치(40)는 램프(30)의 점멸을 제어하기 위한 수단이다. 도 2에는 슬라이딩 방식의 예가 도시되어 있으나, 누름 버튼 방식을 채택하여 점멸 제어 스위치(40)를 구현하는 것도 물론 가능하다.The blinking control switch 40 is a means for controlling the blinking of the lamp 30. Although an example of the sliding method is shown in FIG. 2, it is of course possible to implement the flashing control switch 40 by adopting a push button method.

도 3에 램프(30)와 이 램프(30)의 점멸을 제어하기 위한 회로가 도시되어 있다.Fig. 3 shows a lamp 30 and a circuit for controlling the blinking of the lamp 30. In Fig.

도 3을 참조하면, 이 회로는 전원, 램프(30) 및 점멸 제어 스위치(40)로 구성된다.Referring to FIG. 3, this circuit is composed of a power source, a lamp 30 and a flashing control switch 40.

전원은 예를 들어, 1.5 볼트(V)의 수은 건전지 2개를 직렬 연결하여 구성될 수 있다.The power source can be configured, for example, by connecting two 1.5 volt (V) mercury batteries in series.

램프(30)는 예를 들어, 발광다이오드를 이용하여 구현된 LED 램프(30)일 수 있다. 이 LED 램프(30)의 양극인 애노드(anode)는 전원의 양극에 전기적으로 연결되어 있다. 또한, LED 램프(30)의 음극인 캐소드(cathode)는 후술할 점멸 제어 스위치(40)의 일단에 전기적으로 연결되어 있다.The lamp 30 may be, for example, an LED lamp 30 implemented using light emitting diodes. The anode, which is the anode of the LED lamp 30, is electrically connected to the anode of the power source. The cathode, which is a cathode of the LED lamp 30, is electrically connected to one end of a flicker control switch 40 to be described later.

점멸 제어 스위치(40)는 LED 램프(30)의 점멸을 제어하기 위한 수단이다. 이 점멸 제어 스위치(40)의 일단은 LED 램프(30)의 음극인 캐소드(cathode)에 전기적으로 연결되어 있다. 또한, 점멸 제어 스위치(40)의 타단은 전원의 음극에 전기적으로 연결되어 있다.The blinking control switch 40 is a means for controlling the blinking of the LED lamp 30. One end of the flicker control switch 40 is electrically connected to a cathode which is a cathode of the LED lamp 30. The other end of the flashing control switch 40 is electrically connected to the cathode of the power source.

한편, 점멸 제어 스위치(40)가 슬라이딩 방식 또는 누름 버튼 방식으로 구현될 수 있음은 앞에서 설명하였다.It is to be noted that the flickering control switch 40 can be realized by a sliding method or a push button method.

사용자가 슬라이딩 또는 누름 동작으로 이 점멸 제어 스위치(40)를 턴온하는 경우, 전원과 LED 램프(30)와 점멸 제어 스위치(40) 및 전원으로 구성되는 전류 루프가 생성된다. 이에 따라, LED 램프(30)가 점등된다.When the user turns on the blinking control switch 40 in a sliding or pressing operation, a current loop composed of the power source, the LED lamp 30, the blinking control switch 40 and the power source is generated. Thus, the LED lamp 30 is turned on.

또한, 사용자가 슬라이딩 또는 누름 동작으로 이 점멸 제어 스위치(40)를 턴오프하는 경우, 앞서 설명한 전류 루프가 끊어지게 되어, LED 램프(30)가 소등된다.In addition, when the user turns off the blinking control switch 40 in a sliding or pressing operation, the current loop described above is cut off, and the LED lamp 30 is turned off.

이상에서 상세히 설명한 바와 같이, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치에 따르면, 프로브 본체(10)에 형성된 핑거 가이드에 램프(30)를 추가하고, 점멸 제어 스위치(40)로 램프(30)의 점등 및 소등을 제어함으로써, 어두운 곳에서 계측 작업을 수행하는 사용자의 계측 작업의 편의성 및 정확성이 향상되는 효과가 있다.As described above in detail, according to the probe apparatus for a measuring instrument according to the first embodiment of the present invention, the lamp 30 is added to the finger guide formed on the probe main body 10, 30 are controlled to be turned on and off so that the convenience and accuracy of the measurement operation of the user performing the measurement operation in the dark place can be improved.

도 4는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치를 나타낸 도면이고, 도 5는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치에 있어서 확대경이 연결되기 전후의 형상을 나타낸 도면이고, 도 6은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치에 포함된 수용 링의 하나의 예를 나타낸 도면이고, 도 7은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치에 포함된 수용 링의 다른 예를 나타낸 도면이다.FIG. 4 is a view showing a probe apparatus for a measuring instrument according to a second embodiment of the present invention, FIG. 5 is a view showing a shape before and after a magnifying glass is connected in a probe apparatus for a measuring instrument according to a second embodiment of the present invention 6 is a view showing one example of a receiving ring included in a probe apparatus for a measuring instrument according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a sectional view of the probe apparatus for a measuring instrument according to the second embodiment of the present invention Fig. 8 is a view showing another example of the receiving ring. Fig.

도 4 내지 도 7을 참조하면, 본 발명의 제2 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치는 프로브 본체(probe body, 10), 프로브 팁(probe tip, 20), 램프(30) 및 점멸 제어 스위치(40), 확대경(50), 수용 링(60, 61) 및 프레임 와이어(70)를 포함하여 구성된다.4 to 7, a probe apparatus for a measuring instrument according to a second embodiment of the present invention includes a probe body 10, a probe tip 20, a lamp 30, and a blinking control switch 40, a magnifying glass 50, receiving rings 60, 61, and a frame wire 70.

이하에서는, 프로브 팁(20), 램프(30) 및 점멸 제어 스위치(40)의 기능 구조 및 기능에 대한 상세한 설명은 본 발명의 제1 실시 예에 대한 상세한 설명으로 대체하고, 본 발명의 제1 실시 예와 비교하여 제2 실시 예가 갖는 특징적인 부분인 프로브 본체(10), 확대경(50), 수용 링(60, 61), 프레임 와이어(70)에 초점을 맞추어 본 발명의 제2 실시 예를 상세히 설명한다.In the following, a detailed description of the functional structure and function of the probe tip 20, the lamp 30, and the blinking control switch 40 is replaced with a detailed description of the first embodiment of the present invention, Focus on the probe main body 10, the magnifying glass 50, the receiving rings 60 and 61, and the frame wire 70, which is a characteristic part of the second embodiment as compared with the second embodiment, Will be described in detail.

프로브 본체(10)에는 와이어 결합홈(14)이 형성되어 있다. 이 와이어 결합홈(14)은 후술할 프레임 와이어(70)의 일단을 프로브 본체(10)에 체결하기 위한 수단이다. 예를 들어, 이 와이어 결합홈(14)은 프로브 본체(10)의 외면을 따라 형성된 나선형의 형상을 가질 수 있다. 이 경우, 프레임 와이어(70)의 일단은 와이어 결합홈(14)의 둘레를 감싸면서 와이어 결합홈(14)에 체결된다.A wire coupling groove 14 is formed in the probe main body 10. The wire connecting groove 14 is a means for fastening one end of a frame wire 70 to be described later to the probe main body 10. For example, the wire coupling groove 14 may have a spiral shape formed along the outer surface of the probe main body 10. [ In this case, one end of the frame wire 70 is fastened to the wire coupling groove 14 while surrounding the periphery of the wire coupling groove 14.

확대경(50)은 계측 작업을 수행하는 사용자의 시각적 능력을 강화하기 위한 수단이다. 이 확대경(50)은 후술할 수용 링에 수용되어 있다.The magnifying glass 50 is a means for enhancing the visual ability of the user performing the measurement work. The magnifying glass 50 is accommodated in a receiving ring to be described later.

수용 링(60, 61)은 확대경(50)의 둘레를 감싸면서 확대경(50)을 수용하기 위한 수단이다. 이 수용 링(60, 61)에는 후술할 프레임 와이어(70)의 타단을 체결하기 위한 결합홀(62)이 형성되어 있다. 이 결합홀(62)이 형성된 수용 링(60, 61)의 예들이 도 6 및 도 7에 도시되어 있다.The accommodating rings 60 and 61 are means for accommodating the magnifying glass 50 while surrounding the periphery of the magnifying glass 50. A coupling hole 62 for coupling the other end of the frame wire 70 to be described later is formed in the receiving rings 60 and 61. Examples of receiving rings 60 and 61 formed with this engaging hole 62 are shown in Figs. 6 and 7. Fig.

도 6을 참조하면, 수용 링(60)의 외곽에 프레임 와이어(70)의 직경에 대응하는 정도의 직경을 갖는 결합홀(62)이 형성되어 있다. Referring to FIG. 6, a coupling hole 62 having a diameter corresponding to the diameter of the frame wire 70 is formed on the outer periphery of the receiving ring 60.

하나의 예로, 이 결합홀(62)의 내부에 암나사산을 가공하여 형성할 수 있다. 이 경우, 프레임 와이어(70)의 타단에 상기 암나사산에 대응하는 규격을 갖는 수나사산을 가공하여 형성하고, 수용 링(60)을 회전시킴으로써 확대경(50)이 수용된 수용 링(60)과 프레임 와이어(70)를 서로 탈부착할 수 있다.As one example, the engagement hole 62 may be formed by processing a female thread. In this case, a male thread having a standard corresponding to the female thread is formed at the other end of the frame wire 70. By rotating the receiving ring 60, the receiving ring 60 accommodating the magnifying glass 50, (70) can be detached and attached to each other.

다른 예로, 결합홀의 내부와 프레임 와이어(70)의 타단에 나사산을 형성하지 않고, 프레임 와이어(70)의 타단을 결합홀 내부로 밀어 넣거나 프레임 와이어(70)의 타단을 결합홀 내부로부터 빼냄으로써, 확대경(50)이 수용된 수용 링(60)과 프레임 와이어(70)를 서로 탈부착할 수 있다.As another example, the other end of the frame wire 70 is pushed into the coupling hole, or the other end of the frame wire 70 is pulled out from the inside of the coupling hole without forming a thread in the inside of the coupling hole and the other end of the frame wire 70, The receiving ring 60 and the frame wire 70 accommodating the magnifying glass 50 can be detachably attached to each other.

도 7을 참조하면, 수용 링(61)의 두께를 프레임 와이어(70)의 직경보다 두껍게 설정하고, 수용 링(61)의 외곽면과 내부면 사이의 영역에 프레임 와이어(70)의 직경에 대응하는 정도의 직경을 갖는 결합홀(62)이 형성되어 있다. 수용 링(61)과 프레임 와이어(70)의 체결 방식은 도 6의 경우와 동일하다.7, the thickness of the receiving ring 61 is set to be larger than the diameter of the frame wire 70, and corresponds to the diameter of the frame wire 70 in an area between the outer surface and the inner surface of the receiving ring 61 A coupling hole 62 having a diameter that is as large as the diameter of the coupling hole 62 is formed. The fastening manner of the receiving ring 61 and the frame wire 70 is the same as in the case of Fig.

프레임 와이어(70)는 앞서 설명한 바와 같이 수용 링(60, 61)과 프로브 본체(10)를 연결하기 위한 수단이다. 이러한 프레임 와이어(70)는 확대경(50)을 수용하는 수용 링(60, 61)의 위치를 변경시킬 수 있을 정도로 플렉서블(flexible)한 재질을 갖도록 설정하는 것이 바람직하다. 이에 따르면, 계측 작업을 수행하는 사용자가 필요에 따라 수용 링(60, 61)의 위치를 변경하는 것이 가능해지고, 계측 작업 의 편의성과 정확성이 향상되는 효과가 있다.The frame wire 70 is a means for connecting the receiving rings 60 and 61 and the probe main body 10 as described above. It is preferable that the frame wire 70 is set to have a flexible material such that the position of the receiving rings 60 and 61 accommodating the magnifying glass 50 can be changed. This makes it possible to change the positions of the receiving rings 60 and 61 according to the need of the user who performs the measurement operation, thereby improving the convenience and accuracy of the measurement operation.

이상에서 상세히 설명한 바와 같이, 본 발명의 제2 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치에 따르면, 프로브 본체(10)에 형성된 핑거 가이드에 램프(30)를 추가하고, 점멸 제어 스위치(40)로 램프(30)의 점등 및 소등을 제어하는 한편, 플렉서블한 재질의 프레임 와이어(70)로 확대경(50)을 수용한 수용 링(60, 61)을 프로브 몸체(10)에 연결시켜 사용함으로써, 어두운 곳에서 계측 작업을 수행하는 사용자의 계측 작업의 편의성 및 정확성이 향상되는 효과가 있고, 미세한 계측 대상물에 대한 계측 작업을 수행하는 사용자의 계측 작업의 편의성 및 정확성이 향상되는 효과가 있다.As described above in detail, according to the probe apparatus for a measuring instrument according to the second embodiment of the present invention, the lamp 30 is added to the finger guide formed on the probe main body 10, And the reception rings 60 and 61 accommodating the magnifying glass 50 are connected to the probe body 10 by using the frame wire 70 made of a flexible material while controlling the turning on and off of the probe 30, The convenience and accuracy of the measurement task of the user performing the measurement task is improved and the convenience and accuracy of the measurement task of the user performing the measurement task on the fine measurement object is improved.

이상에서 본 발명에 대한 기술사상을 첨부도면과 함께 서술하였지만 이는 본 발명의 바람직한 실시 예를 예시적으로 설명한 것이지 본 발명을 한정하는 것은 아니다. 또한, 이 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 누구나 본 발명의 기술사상의 범주를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변형 및 모방이 가능함은 명백한 사실이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been disclosed for illustrative purposes, those skilled in the art will appreciate that various modifications, additions and substitutions are possible, without departing from the scope and spirit of the invention as disclosed in the accompanying claims. In addition, it is a matter of course that various modifications and variations are possible without departing from the scope of the technical idea of the present invention by anyone having ordinary skill in the art.

도 1은 종래의 계측기기용 프로브 장치를 나타낸 도면이다.1 is a view showing a conventional probe apparatus for a measuring instrument.

도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치를 나타낸 도면이다.2 is a view showing a probe apparatus for a measuring instrument according to a first embodiment of the present invention.

도 3은 도 2의 본 발명의 제1 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치에 포함된 램프의 점멸을 제어하기 위한 회로를 나타낸 도면이다.FIG. 3 is a circuit diagram for controlling the flashing of the lamp included in the probe device for a measuring instrument according to the first embodiment of the present invention shown in FIG. 2. Referring to FIG.

도 4는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치를 나타낸 도면이다.4 is a view showing a probe apparatus for a measuring instrument according to a second embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치에 있어서 확대경이 연결되기 전후의 형상을 나타낸 도면이다.5 is a view showing a shape of a probe device for a measuring instrument according to a second embodiment of the present invention before and after a magnifying glass is connected.

도 6은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치에 포함된 수용 링의 하나의 예를 나타낸 도면이다.6 is a view showing one example of a receiving ring included in the probe apparatus for a measuring instrument according to the second embodiment of the present invention.

도 7은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 계측기기용 프로브 장치에 포함된 수용 링의 다른 예를 나타낸 도면이다.7 is a view showing another example of the receiving ring included in the probe apparatus for a measuring instrument according to the second embodiment of the present invention.

***** 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *****Description of Reference Numerals to Main Parts of the Drawings *****

10: 프로브 본체(probe body) 12: 핑거 가이드(finger guide)10: probe body 12: finger guide

14: 와이어 결합홈 20: 프로브 팁(probe tip)14: wire coupling groove 20: probe tip

30: 램프 40: 점멸 제어 스위치30: Lamp 40: Flash control switch

50: 확대경 60, 61: 수용 링(ring)50: magnifying glass 60, 61: receiving ring

62: 결합홀 70: 프레임 와이어62: coupling hole 70: frame wire

Claims (5)

프로브 본체(probe body);A probe body; 상기 프로브 본체의 전단에 결합된 프로브 팁(probe tip);A probe tip coupled to a front end of the probe body; 상기 프로브 팁 뒤쪽의 프로브 본체에 형성된 핑거 가이드(finger guide)에 부착된 램프; 및A lamp attached to a finger guide formed on the probe body behind the probe tip; And 상기 램프의 점멸을 제어하기 위한 점멸 제어 스위치를 포함하는, 계측기기용 프로브 장치.And a blinking control switch for controlling the blinking of the lamp. 제1 항에 있어서,The method according to claim 1, 확대경;magnifying glass; 상기 확대경의 둘레를 감싸면서 상기 확대경을 수용하는 수용 링(ring); 및A receiving ring surrounding the periphery of the magnifying glass to receive the magnifying glass; And 일단이 상기 프로브 본체에 형성된 와이어 결합홈에 체결되고 타단이 상기 수용 링에 형성된 결합홀에 체결된 프레임 와이어를 더 포함하는, 계측기기용 프로브 장치.Further comprising a frame wire having one end fastened to a wire coupling groove formed in the probe main body and the other end fastened to a coupling hole formed in the receiving ring. 제2 항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 프레임 와이어는 상기 확대경을 수용하는 수용 링의 위치를 변경시킬 수 있을 정도로 플렉서블(flexible)한 재질을 갖는 것을 특징으로 하는, 계측기기용 프로브 장치.Characterized in that the frame wire has a flexible material so as to change the position of the receiving ring for receiving the magnifying glass. 제2 항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 수용 링에 형성된 결합홀에는 암나사산이 가공되어 있고, 상기 프레임 와이어의 타단에는 상기 암나사산에 대응하는 수나사산이 가공되어 있고,Wherein the engaging hole formed in the receiving ring is machined with a female thread and the other end of the frame wire is formed with a male thread corresponding to the female thread, 상기 수용 링을 회전시킴으로써 상기 확대경이 수용된 수용 링과 상기 프레임 와이어는 서로 탈부착이 가능한 것을 특징으로 하는, 계측기기용 프로브 장치.Wherein the receiving ring and the frame wire accommodating the magnifying glass are detachably attached to each other by rotating the receiving ring. 제2 항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 프로브 본체에 형성된 와이어 결합홈은 상기 프로브 본체의 외면을 따라 나선형으로 형성되어 있고, 상기 프레임 와이어의 일단은 상기 와이어 결합홈을 감싸면서 상기 와이어 결합홈에 체결된 것을 특징으로 하는, 계측기기용 프로브 장치.Wherein the wire connecting groove formed in the probe main body is formed in a spiral shape along the outer surface of the probe main body and one end of the frame wire is fastened to the wire connecting groove while surrounding the wire connecting groove. Device.
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