KR20100104245A - Delay time counting circuit and touch sensor with the same - Google Patents

Delay time counting circuit and touch sensor with the same Download PDF

Info

Publication number
KR20100104245A
KR20100104245A KR1020090022534A KR20090022534A KR20100104245A KR 20100104245 A KR20100104245 A KR 20100104245A KR 1020090022534 A KR1020090022534 A KR 1020090022534A KR 20090022534 A KR20090022534 A KR 20090022534A KR 20100104245 A KR20100104245 A KR 20100104245A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
oscillation
signal
pulse
pulse width
value
Prior art date
Application number
KR1020090022534A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101096102B1 (en
Inventor
이강원
Original Assignee
이강원
주식회사 넥시아 디바이스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 이강원, 주식회사 넥시아 디바이스 filed Critical 이강원
Priority to KR1020090022534A priority Critical patent/KR101096102B1/en
Publication of KR20100104245A publication Critical patent/KR20100104245A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101096102B1 publication Critical patent/KR101096102B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318328—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences for delay tests
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31725—Timing aspects, e.g. clock distribution, skew, propagation delay
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • H03K5/14—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of delay lines

Abstract

PURPOSE: A delay time measuring circuit and a touch sensor including the same are provided to accurately measure a delay time while increasing the oscillation number of an oscillation circuit. CONSTITUTION: A delay oscillation pulse generator changes an oscillation frequency according to an impedance value applied from the outside and oscillates the preset number of oscillation processes by using a gate delay generated regardless of the changed oscillation frequency, and outputs a pulse signal with a pulse width changed according to the oscillation period. A pulse width counter counts the pulse width of the pulse signal outputted from the delay oscillation pulse generator.

Description

지연시간 측정 회로 및 이를 구비하는 터치센서{DELAY TIME COUNTING CIRCUIT AND TOUCH SENSOR WITH THE SAME}Delay time measuring circuit and touch sensor having same {DELAY TIME COUNTING CIRCUIT AND TOUCH SENSOR WITH THE SAME}

본 발명은 지연시간 측정 회로 및 이를 구비하는 터치센서에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 정전 용량 방식의 터치 패널의 누른 위치를 정확하게 판별하고 나아가 터치 패널에 직접 접촉하지 않고 근접한 상태도 판별할 수 있는 지연시간 측정 회로 및 이를 구비하는 터치센서에 관한 것이다.The present invention relates to a delay time measuring circuit and a touch sensor having the same. More specifically, the present invention relates to a delay that can accurately determine a pressed position of a capacitive touch panel and further determine a state in which the touch panel is not in direct contact with the touch panel. It relates to a time measuring circuit and a touch sensor having the same.

디스플레이 장치의 입력 수단의 하나로 터치 패널 장치가 널리 사용되고 있다. 터치 패널 장치는 터치 패드가 패턴 형성되며 사용자의 손가락이 직접 접촉되는 터치 패널과, 터치 패널로부터 입력되는 전기적인 신호를 분석하여 어느 패드가 터치되었는지 판별하는 터치센서로 이루어진다.Touch panel devices are widely used as one of input means of display devices. The touch panel device includes a touch panel in which a touch pad is patterned and directly touched by a user's finger, and a touch sensor that determines which pad is touched by analyzing an electrical signal input from the touch panel.

터치 패널 장치에서 터치 감도를 향상시킬 수 있는 방법은 터치 패널의 패턴을 미세하게 형성하고, 패터닝된 각각의 터치 패드가 눌러졌는지 또는 눌러지지 않았는지를 정확하게 판별할 수 있는 고감도의 터치센서가 필요하다.The method of improving the touch sensitivity in the touch panel device requires a high-sensitivity touch sensor capable of finely forming a pattern of the touch panel and accurately determining whether each of the patterned touch pads is pressed or not pressed.

지연시간 측정회로는 측정을 시작하는 기준 시간으로부터 측정되는 신호가 인가될 때까지의 시간을 측정하여 측정된 시간에 대응하는 값을 출력하는 회로이며, 측정된 시간을 디지털 데이터로 출력하는 경우에는 시간-디지털변환회로라고도 한다. 시간 영역의 값을 디지털 데이터로 출력할 수 있는 지연시간 측정회로는 각종 전자 장치에 적용되어 사용되며, 일반적으로는 측정 시작 시간을 지정하기 위한 기준 신호와 측정하고자 하는 측정 신호를 인가받아 기준 신호에 대한 측정 신호의 지연 시간을 측정한다. 여기서 지연시간 측정회로는 다양한 방법으로 지연 시간을 측정할 수 있으며, 그 중 대표적인 방법으로 딜레이 체인(Delay chain)을 구비하여 지연 시간을 측정하는 방법이 있다.The delay time measuring circuit measures a time from a reference time at which measurement starts until a signal to be measured is applied, and outputs a value corresponding to the measured time. Also called digital conversion circuit. A delay time measuring circuit that can output time-domain values as digital data is applied to various electronic devices. Generally, a reference signal for specifying a measurement start time and a measurement signal to be measured are applied to a reference signal. Measure the delay time of the measured signal. Here, the delay time measuring circuit can measure the delay time in various ways, and a representative method is a method of measuring the delay time with a delay chain.

도 1은 종래의 지연시간 측정회로의 일 예로서 딜레이 체인을 이용하여 지연 시간을 측정하는 지연시간 측정회로를 나타내는 도면이다. 도 1은 특허출원 2005-117183호(이하 인용발명이라 함)에 도시된 도면으로 인용발명은 임피던스나 전압의 변화를 지연 시간차로 변환하여 지연 시간차를 측정하는 센서 또는 아날로그-디지털 변환기이다. 도 1에서 지연시간측정회로(1)는 리드 신호 발생부(10), 리셋 신호 발생부(20), 딜레이 체인(30), 온도계 코드 발생부(40) 및 이진 코드 디코더(50)를 구비한다.1 is a diagram illustrating a delay time measuring circuit measuring delay time by using a delay chain as an example of a conventional delay time measuring circuit. 1 is a diagram shown in Patent Application No. 2005-117183 (hereinafter referred to as Cited Invention), which is a sensor or an analog-to-digital converter for measuring a delay time difference by converting a change in impedance or voltage into a delay time difference. In FIG. 1, the delay time measuring circuit 1 includes a read signal generator 10, a reset signal generator 20, a delay chain 30, a thermometer code generator 40, and a binary code decoder 50. .

리드 신호 발생부(10)는 기준 신호(ref)를 반전 및 지연시키는 인버터(I1), 측정 신호(sen)를 지연시키는 인버터들(I2, I3) 및 반전 및 지연된 기준 신호(ref)와 지연된 측정 신호(sen)를 논리곱하여, 반전 및 지연된 기준신호(ref)의 상승 에지에 동기 되어 클럭킹되는 리드 신호(read)를 발생하는 AND 게이트(AND1)로 구성되고, 리셋 신호 발생부(20)는 측정 신호(sen)를 지연시키는 인버터들(I4, I5), 지 연된 측정 신호(sen)와 지연되지 않은 측정 신호(sen)를 배타적으로 논리합하여 측정 신호(sen)의 상승 및 하강 에지에 동기 되어 클럭킹되는 신호를 발생하는 XOR 게이트(XOR) 및 XOR 게이트(XOR)의 출력신호와 지연된 측정 신호(sen)를 논리곱하여 지연된 측정신호(sen)의 하강 에지에 동기 되어 클럭킹되는 리셋 신호(reset)를 발생하는 AND 게이트(AND2)로 구성된다.The read signal generation unit 10 includes an inverter I1 for inverting and delaying the reference signal ref, inverters I2 and I3 for delaying the measurement signal sen, and delayed measurement with the inverted and delayed reference signal ref. AND gate AND1 for generating a read signal clocked in synchronization with the rising edge of the inverted and delayed reference signal ref by multiplying the signal sen, and the reset signal generator 20 measures Inverters I4 and I5 that delay the signal sen, and exclusively OR the delayed measurement signal sen and the non-delayed measurement signal sen to clock in synchronization with the rising and falling edges of the measurement signal sen. Generates a reset signal that is clocked in synchronization with the falling edge of the delayed measurement signal sen by multiplying the output signal of the XOR gate XOR and the output signal of the XOR gate XOR and the delayed measurement signal sen that generate the signal And AND gate AND2.

이때, 리드 신호(read)는 짝수개의 인버터들(I2, I3) 및 AND 게이트(AND1)를 통해 발생되는 반면에 리셋 신호(reset)는 짝수개의 인버터들(I4, I5), XOR 게이트(XOR) 및 AND 게이트(AND2)를 통해 발생되므로 리드 신호(read)가 리셋 신호(reset)보다 먼저 클럭킹되는 특징을 가진다. 즉, 리셋 신호(reset)가 리드 신호(read)보다 하나의 논리 게이트(XOR)를 더 거쳐 발생되므로, 리드 신호(read)가 리셋 신호(reset)보다 먼저 클럭킹 된다.In this case, the read signal read is generated through the even-numbered inverters I2 and I3 and the AND gate AND1, while the reset signal is the even-numbered inverters I4 and I5 and the XOR gate XOR. And a read signal read is clocked before the reset signal reset because it is generated through the AND gate AND2. That is, since the reset signal reset is generated through one logic gate XOR more than the read signal read, the read signal read is clocked before the reset signal reset.

그리고 딜레이 체인(30)은 기준 신호(ref)를 지연시켜 복수 개 지연 신호들(delay1 ~ delay7)을 발생하는 직렬 연결된 복수 개 지연 소자들(D1 ~ D7)로 구성되고, 온도계 코드 발생부(40)는 지연 신호(delay1 ~ delay7)에 응답하여 측정 신호(sen)를 래치하여 복수개의 출력 신호(Q1 ~ Q7)를 발생하며 리셋 신호(reset)에 의해 리셋되는 복수개의 D플립플롭들(D-FF1 ~ D-FF7) 및 복수개의 D플립플롭들(D-FF1 ~ D-FF7)의 출력신호들(Q1 ~ Q7)과 리드 신호(read)를 부정 논리곱하여 온도계 코드를 발생하는 복수개의 NAND 게이트들(NAND1 ~ NAND7)로 구성되고, 이진 코드 디코더(50)는 온도계 코드를 이진 코드(b_code)로 변환하는 이진 코드 디코더로 구현된다.The delay chain 30 is composed of a plurality of delay elements D1 to D7 connected in series to delay the reference signal ref to generate a plurality of delay signals delay1 to delay7. The thermometer code generator 40 ) Latches the measurement signal sen in response to the delay signals delay1 to delay7 to generate a plurality of output signals Q1 to Q7 and are reset by the reset signal reset. A plurality of NAND gates that generate a thermometer code by performing negative AND on the output signals Q1 to Q7 and the read signals read of the FF1 to D-FF7 and the plurality of D flip-flops D-FF1 to D-FF7 (NAND1 to NAND7), the binary code decoder 50 is implemented as a binary code decoder for converting the thermometer code into a binary code (b_code).

도 2를 참조하여 도 1의 지연시간 측정회로(1)의 동작을 설명하도록 한다. 먼저, 지연시간 측정회로(1)는 동일한 지연시간을 가지는 기준 신호(ref)와 측정 신호(sen)를 수신하면, 다음과 같이 동작된다.The operation of the delay time measuring circuit 1 of FIG. 1 will be described with reference to FIG. 2. First, when the delay time measuring circuit 1 receives the reference signal ref and the measurement signal sen having the same delay time, the following operation is performed.

딜레이 체인(30)은 복수 개의 지연 소자들(D1 ~ D7)을 통해 기준 신호(ref)를 지연시켜 서로 다른 지연시간을 가지는 복수 개의 지연 신호들(delay1 ~ delay7)을 생성하고, 모든 D 플립플롭들(D-FF1 ~ D-FF7)은 지연 신호들(delay1 ~ delay7) 각각의 상승 에지에 동기되어 하이 레벨을 가지는 측정 신호(sen)를 래치하여 하이 레벨의 출력 신호들(Q1 ~ Q7)을 발생한다.The delay chain 30 delays the reference signal ref through the plurality of delay elements D1 to D7 to generate a plurality of delay signals delay1 to delay7 having different delay times, and all D flip-flops. (D-FF1 to D-FF7) latch the measurement signal (sen) having a high level in synchronization with the rising edge of each of the delay signals (delay1 to delay7) to receive the high level output signals (Q1 to Q7). Occurs.

소정의 시간이 경과하여, 리드 신호(read)가 클럭킹되면, 복수 개의 NAND 게이트들(NAND1 ~ NAND7)은 리드 신호(read)와 복수 개의 출력 신호들(Q1 ~ Q7)을 부정 논리곱하여 0값을 가지는 온도계 코드(0000000)를 발생한다.After a predetermined time elapses, when the read signal read is clocked, the plurality of NAND gates NAND1 to NAND7 negatively multiply the read signal read and the plurality of output signals Q1 to Q7 to zero. Branch generates a thermometer code (0000000).

이에 이진 코드 디코더(50)는 0값을 가지는 온도계 코드(0000000)를 수신하고, 수신한 온도계 코드(0000000)를 이진 코드(b_code)로 변환하여 출력한다.The binary code decoder 50 receives a thermometer code (0000000) having a value of 0, converts the received thermometer code (0000000) into a binary code (b_code), and outputs it.

그러나 지연시간 측정회로(1)에 지연시간차(tdiff)를 가지는 기준 신호(ref)와 측정 신호(sen)가 인가되면, 소정개의 D 플립플롭들(D-FF1)은 측정 신호(sen)의 지연시간보다 작은 지연시간을 가지는 지연 신호들(delay1)을 수신하고, 나머지 D플립플롭들(D-FF2 ~ D-FF7)은 측정 신호(sen)의 지연시간보다 큰 지연시간을 가지는 지연 신호들(delay2 ~ delay7)을 수신하게 된다.However, when the reference signal ref having the delay time difference tdiff and the measurement signal sen are applied to the delay time measurement circuit 1, the predetermined D flip-flops D-FF1 delay the measurement signal sen. Receive delay signals delay1 having a delay time smaller than the time, and the remaining D flip-flops D-FF2 to D-FF7 receive delay signals having a delay time larger than the delay time of the measurement signal sen. delay2 ~ delay7) will be received.

이에 소정개의 D플립플롭들(D-FF1)은 로우 레벨의 측정 신호(sen)를 래치하여 로우 레벨의 신호들(Q1)을 발생하고, 나머지 D플립플롭들(D-FF2 ~ D-FF7)은 이 전과 동일하게 하이 레벨의 측정 신호(sen)를 래치하여 하이 레벨의 신호들(Q2 ~ Q7)을 발생한다.The predetermined D flip-flops D-FF1 latch the low-level measurement signal sen to generate low-level signals Q1, and the remaining D-flop flops D-FF2 to D-FF7. In the same manner as before, the latches the high level measurement signal sen to generate the high level signals Q2 to Q7.

소정의 시간이 경과하여, 리드 신호(read)가 클럭킹되면, 복수개의 NAND 게이트들(NAND1 ~ NAND7)은 복수 개의 D 플립플롭들(D-FF1 ~ D-FF7)의 출력 신호들(Q1 ~ Q7)에 응답하여 온도계 코드(1000000)를 발생한다. 즉, 기준 신호(ref)와 측정 신호(sen)간의 지연시간 차에 상응하는 값을 가지는 온도계 코드(1000000)를 발생한다.When a predetermined time elapses and the read signal is clocked, the plurality of NAND gates NAND1 to NAND7 may output the output signals Q1 to Q7 of the plurality of D flip-flops D-FF1 to D-FF7. To generate a thermometer code (1000000). That is, a thermometer code 1000000 having a value corresponding to the delay time difference between the reference signal ref and the measurement signal sen is generated.

이진 코드 디코더(50)는 지연시간차에 상응하는 값을 가지는 온도계 코드(1000000)를 수신하고, 이를 이진 코드(b_code)로 변환하여 출력한다.The binary code decoder 50 receives a thermometer code 1000000 having a value corresponding to the delay time difference, converts it into a binary code b_code, and outputs the converted code.

이와 같이 지연시간 측정회로(1)는 기준 신호(ref)와 측정 신호(sen)의 지연시간차(tdiff)에 따라 복수개의 D플립플롭들(D-FF1 ~ D-FF7)이 서로 다른 레벨을 가지는 출력 신호(Q1 ~ Q7)를 출력하도록 하여 기준 신호(ref)와 측정 신호(sen)의 지연시간차(tdiff)를 계산할 수 있도록 한다.As described above, in the delay time measuring circuit 1, the plurality of D flip-flops D-FF1 to D-FF7 have different levels according to the delay time difference tdiff of the reference signal ref and the measurement signal sen. The output signals Q1 to Q7 are output so that the delay time difference tdiff between the reference signal ref and the measurement signal sen can be calculated.

도 1에 도시된 지연시간 측정회로(1)는 정밀도를 높이기 위하여 딜레이 체인(30)을 구성하는 복수 개 지연 소자(D1 ~ D7) 각각의 지연 시간이 정확하게 일치하여야 하는 문제점이 있었다. 또한 측정 시간(sen)에 일부 노이즈가 포함될 경우 측정 시간의 정확한 지연 시간을 측정할 수 없는 문제점이 있었고, 측정하고자 하는 지연시간이 짧을 경우 정밀한 측정이 어렵다는 문제점이 있었다.The delay time measuring circuit 1 shown in FIG. 1 has a problem in that the delay times of the plurality of delay elements D1 to D7 constituting the delay chain 30 must be exactly coincident in order to increase the accuracy. In addition, when some noise is included in the measurement time (sen), there was a problem in that the accurate delay time of the measurement time could not be measured, and when the delay time to be measured was short, accurate measurement was difficult.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하고자 하는 것으로서, 측정하고자 하는 지연시간이 짧을 경우에도 정확한 측정이 가능하고, 정밀도를 높게 측정하고자 할 경우에도 별도 회로를 추가할 필요가 없는 지연시간 측정 회로 및 이를 구비하는 터치센서를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention is to solve the problems as described above, even when the delay time to be measured is accurate, the delay time measuring circuit does not need to add a separate circuit even if you want to measure high accuracy and this It is an object to provide a touch sensor provided.

본 발명은 주변 온도, 습도 및 전압 변경에 따라 정확한 터치 여부를 판단할 수 있는 지연시간 측정 회로 및 이를 구비하는 터치센서를 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a delay time measuring circuit that can determine whether the correct touch according to changes in ambient temperature, humidity and voltage, and a touch sensor having the same.

본 발명의 상기 목적은 외부에서 인가되는 임피던스 값에 따라 발진 주파수가 변경되고, 변경된 발진 주파수에 따라 클럭에 무관하게 발생되는 게이트 딜레이를 이용하여 일정 횟수 발진시키고, 발진 기간에 따라 변화되는 펄스폭을 갖는 펄스 신호를 출력하는 지연 발진 펄스 생성부 및 지연 발진 펄스 생성부에서 출력되는 펄스신호의 펄스폭을 카운터하는 펄스폭 카운터부를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연시간 측정 회로에 의해서 달성 가능하다.The object of the present invention is that the oscillation frequency is changed according to the impedance value applied from the outside, the oscillation frequency is oscillated a predetermined number of times using a gate delay generated irrespective of the clock in accordance with the changed oscillation frequency, and the pulse width changed according to the oscillation period A delay time measurement circuit can be achieved by including a delay oscillation pulse generation unit for outputting a pulse signal having a pulse width counter unit for counting the pulse width of the pulse signal output from the delay oscillation pulse generation unit.

본 발명의 또 다른 목적은 터치 여부에 따라 변화되는 임피던스를 측정하는 터치센서에 있어서, 외부에서 인가되는 임피던스 값에 따라 발진 주파수가 변경되고, 변경된 발진 주파수에 따라 클럭에 무관하게 발생되는 게이트 딜레이를 이용하 여 일정 횟수 발진시키고, 발진 기간에 따라 변화되는 펄스폭을 갖는 펄스 신호를 출력하는 지연 발진 펄스 생성부와, 지연 발진 펄스 생성부에서 출력되는 펄스신호의 펄스폭을 카운터하는 펄스폭 카운터부와, 임피던스가 터치되지 않았을 때의 펄스폭 카운터의 출력값인 기준값을 저장하는 기준값 저장부 및 펄스폭 카운터부의 출력값과 상기 기준값 저장부에 저장된 기준값을 비교하여 터치 여부를 판별하는 연산 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치센서에 의해서 달성 가능하다.Still another object of the present invention is to provide a touch sensor for measuring impedance that changes according to whether or not a touch is provided. An oscillation frequency is changed according to an impedance value applied from the outside, and a gate delay generated regardless of a clock according to the changed oscillation frequency is determined. A delayed oscillation pulse generator for oscillating a predetermined number of times and outputting a pulse signal having a pulse width that varies according to the oscillation period, and a pulse width counter unit for counting the pulse width of the pulse signal output from the delayed oscillation pulse generator; And a reference value storage unit for storing a reference value which is an output value of the pulse width counter when the impedance is not touched, and an operation control unit for comparing the output value of the pulse width counter unit with the reference value stored in the reference value storage unit to determine whether the touch is performed. It can be achieved by the touch sensor.

본 발명의 지연시간 측정 회로는 외부에서 인가되는 임피던스에 따라 변화되는 주파수를 갖는 발진 파형의 정해진 횟수만큼 반복시켜 아날로그적으로 더하는 방식을 사용함으로써 종래 지연시간 측정 회로와 비교할 때 지연시간을 보다 정밀하게 측정할 수 있게 되었다. 따라서 측정하고자 하는 지연시간이 짧을 경우에도 발진 회로의 발진 횟수를 증가시키면 가능하므로 정확한 측정이 가능하고, 정밀도를 높게 측정하고자 할 경우에도 별도 회로를 추가할 필요가 없게 되었다.The delay time measuring circuit of the present invention repeats a predetermined number of oscillation waveforms having a frequency that changes according to an externally applied impedance, and adds them analogically, so that the delay time is more precisely compared with the conventional delay time measuring circuit. It became measurable. Therefore, it is possible to increase the number of oscillations of the oscillation circuit even when the delay time to be measured is short, so that accurate measurement is possible, and there is no need to add a separate circuit to measure the accuracy with high accuracy.

또한 본 발명에서는 사용하는 펄스폭 카운터는 클럭 해상도를 변경할 수 있게 구현함으로써 외부에서 인가되는 임피던스가 사용자의 터치 여부에 따라 변경될 경우 보다 정확하게 터치 여부를 판단할 수 있게 되었다. 나아가 외부에서 인가되는 임피던스가 용량성 임피던스일 경우에는 사용자의 신체가 터치패드에 닿기 직전에 발생되는 미세한 용량 변화를 감지할 수 있게 되었다. 따라서 이러한 미세한 변화를 감지하여 사용자가 터치하고자 하는 화면의 일부 영역을 부분 확대하는 기 능도 제시할 수 있게 되었다.In addition, in the present invention, the pulse width counter to be used is implemented so that the clock resolution can be changed, so that the touch can be more accurately determined when the impedance applied from the outside is changed according to the user's touch. Furthermore, when the impedance applied from the outside is the capacitive impedance, it is possible to detect a minute change in capacitance generated just before the user's body touches the touchpad. Therefore, it is possible to present a function of detecting a minute change to partially enlarge a part of the screen that the user wants to touch.

또한 본 발명의 터치센서는 주변 온도, 습도 및 전압 변경에 따라 일정 기간 이상 미세하게 임피던스의 기준값이 변경될 경우 터치 여부를 판별하는 임피던스의 기준값을 용이하게 변경할 수 있도록 하여 보다 정확한 터치 여부에 대한 판별이 가능하도록 하였다.In addition, the touch sensor of the present invention can easily change the reference value of the impedance to determine whether the touch if the reference value of the impedance is finely changed for more than a certain period in accordance with the change of the ambient temperature, humidity and voltage to determine whether more accurate touch This made it possible.

이하에서, 본 발명의 장점, 특징 및 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 상세하게 설명하도록 한다.Hereinafter, the advantages, features and preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명에 따른 일 실시예의 지연시간 측정 회로의 블록도이다. 도 3에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 지연시간 측정 회로는 지연 발진 펄스 생성부, 펄스폭 카운터부 및 연산제어부로 구성된다. 지연 발진 펄스 생성부는 외부에서 인가되는 임피던스 값(Zsen)에 따라 발진 주파수가 변경되고, 변경된 발진 주파수에 따라 내부 클럭을 사용함이 없이 게이트 딜레이를 이용하여 일정 횟수 발진시키고, 발진 기간에 따라 변화되는 펄스폭을 갖는 펄스 신호를 출력한다. 펄스폭 카운터부는 지연 발진 펄스 생성부에서 출력되는 펄스신호의 펄스폭을 계수한 후 이를 출력한다. 연산제어부는 지연 발진 펄스 생성부에 시작신호를 인가하고, 지연 발진 펄스 생성부가 외부 클럭가 비동기적으로 발생시키는 종료신호를 입력받아 시작신호를 종료시키는 등 지연 발진 펄스 생성부와 펄스폭 카운터부를 제어하는 기능을 한다.3 is a block diagram of a delay time measuring circuit according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 3, the delay time measuring circuit according to the present invention includes a delay oscillation pulse generator, a pulse width counter, and an operation controller. The delayed oscillation pulse generator changes the oscillation frequency according to the externally applied impedance value Zsen and oscillates a predetermined number of times using a gate delay without using an internal clock according to the changed oscillation frequency, and changes according to the oscillation period. A pulse signal having a width is output. The pulse width counter unit counts the pulse width of the pulse signal output from the delayed oscillation pulse generator and outputs it. The operation control unit applies a start signal to the delayed oscillation pulse generator and controls the delayed oscillation pulse generator and the pulse width counter to terminate the start signal by receiving an end signal generated by an external clock asynchronously. Function

도 4는 지연 발진 펄스 생성부의 입력신호와 출력신호를 설명하는 블록도와 입력신호 및 출력신호의 타이밍도이다. 도 4(a)에 도시된 바와 같이 지연 발진 펄스 생성부는 발진 반복 횟수(repeat[ ])와 시작신호(strat)를 입력받은 후 펄스 신호(pulse)와 종료신호(finish)를 출력한다. 지연 발진 펄스 생성부는 이연 발진기(relaxation oscillator) 또는 링 발진기(ring oscillator)로 구성할 수 있다.4 is a block diagram illustrating an input signal and an output signal of a delayed oscillation pulse generator, and a timing diagram of an input signal and an output signal. As shown in FIG. 4A, the delayed oscillation pulse generator outputs a pulse signal and a finish signal after receiving the oscillation repetition number repeat [] and the start signal strat. The delayed oscillation pulse generator may be configured as a relaxation oscillator or a ring oscillator.

본 발명에 따른 지연 발진 펄스 생성부의 동작을 도 4(b)에 따라 설명하기로 한다. 연산제어부로부터 발진 반복 횟수 '3'이 입력된 후 시작신호(start)가 입력되면, 이연 발진기 또는 링 발진기는 파형(waveform)으로 도시된 파(wave)가 발진 반복 횟수 '3'만큼 발진된다. 3번의 발진이 종료되는 순간 종료신호(finish)가 활성화되고, 펄스 신호(pulse)는 시작신호(start)가 활성화되는 순간부터 종료신호(finish)가 활성화될 때까지의 펄스폭을 갖는 펄스신호를 출력한다. 이후 종료신호(finish)는 연산제어부로 입력되고, 연산제어부는 입력된 종료신호(finish)에 따라 발진이 종료되었음을 파악한 후 클럭틱을 발생시켜 지연 발진 펄스 생성부를 초기화시킨다. 클럭틱은 지연시간 측정 회로에서 사용하는 시스템 클럭을 표시한다.An operation of the delayed oscillation pulse generator according to the present invention will be described with reference to FIG. 4 (b). When the start signal (start) is input after the oscillation repetition number '3' is input from the operation control unit, the delayed oscillator or the ring oscillator oscillates the wave shown in the waveform by the oscillation repetition number '3'. The end signal (finish) is activated at the end of three oscillations, and the pulse signal (pulse) is a pulse signal having a pulse width from the moment the start signal (start) is activated until the end signal (finish) is activated Output After that, the finish signal (finish) is input to the operation control unit, the operation control unit recognizes that the oscillation is finished in accordance with the input end signal (finish) and generates a clock tick to initialize the delayed oscillation pulse generator. Clock tick indicates the system clock used by the latency measurement circuit.

도 4(c)에 도시한 바와 같이 발진 파형(waveform)은 시작신호(start) 인가 후에 발진 시작 지연 시간(Td)을 거친 후 발진 주파수에 따라 지정된 발진 횟수(도 4에서는 세번)만큼 발진(To)을 진행한다. 이러한 발진 시작 지연 시간(Td) 및 발진 주파수(To)는 외부에서 인가되는 임피던스값에 따라 변하게 된다. 따라서 지연 발진 펄스 생성부에 입력되는 발진 횟수를 증가시키면 외부 임피던스값에 의해 발생되는 지연 시간을 아날로그적으로 더(adding) 해 갈 수 있으므로 작은 지연시간을 갖는 경우에도 정밀한 측정이 가능하다. 즉 발진 횟수를 조절함으로써 측정하고자 하는 외부 임피던스에 의한 지연시간의 해상도를 조절할 수 있게 된다.As shown in FIG. 4C, the oscillation waveform oscillates by the number of oscillations (three times in FIG. 4) according to the oscillation frequency after passing the oscillation start delay time Td after the start signal is applied. Proceed). The oscillation start delay time Td and oscillation frequency To change according to an impedance value applied from the outside. Therefore, when the number of oscillations inputted to the delay oscillation pulse generator is increased, the delay time generated by the external impedance value can be added analogously, so that accurate measurement can be performed even with a small delay time. That is, by adjusting the number of oscillations, the resolution of the delay time due to the external impedance to be measured can be adjusted.

도 5는 본 발명에 따른 지연 발진 펄스 생성부를 이연 발진기와 링 발진기로 구성할 경우 생성되는 파형을 도시한다. 지연 발진 펄스 생성부를 풀업저항(R)과 오픈 드레인 구조를 갖는 이연 발진기(도 5(a))로 구현할 경우 파형이 상승시에는 풀업저항(R)에서 인가되는 전원을 사용하고 하강시에는 구동단의 출력을 이용하여 도 5(b)와 같은 형태의 발진 신호가 출력된다. 지연 발진 펄스 생성부를 홀수 개의 인버터를 갖는 링 발진기(도 5(c))로 구현할 경우 상승 파형과 하강 파형이 모두 구동단의 출력으로 만들어지는 출력파형(도 5(d))을 가지므로 높은 주파수를 생성해 낼 수 있다.5 illustrates waveforms generated when the delayed oscillation pulse generator according to the present invention comprises a delayed oscillator and a ring oscillator. When the delayed oscillation pulse generating unit is implemented with a delayed oscillator having a pull-up resistor (R) and an open-drain structure (FIG. 5 (a)), the power source is applied from the pull-up resistor (R) when the waveform is rising and the driving stage is lowered when the waveform is rising. The oscillation signal of the form as shown in FIG. 5 (b) is output using the output. When the delayed oscillation pulse generating unit is implemented by a ring oscillator having an odd number of inverters (Fig. 5 (c)), the rising frequency and the falling waveform have an output waveform (Fig. 5 (d)) in which the output of the driving stage is made high frequency. You can generate

도 6은 본 발명에 따른 지연 발진 펄스 생성부를 링 발진기로 구현한 구체적인 게이트 레벨의 회로도이다. 도 6의 지연 발진 펄스 생성부는 도 4(b)에 도시된 타이밍도에 따라 동작된다. 본 발명에 따른 지연 발진 펄스 생성부는 발진 횟수를 카운터하는 제 1 래치(L2, L3)와, 시작 신호를 입력받는 게이트(g4), 홀수 개의 인버터를 구비하는 발진 파형을 구현하는 게이트(g1, g2)와, 연산제어부로부터 입력되는 발진 횟수와 제 1래치의 출력값을 비교하여 일치하는 경우 일치 신호를 생성 하는 비교기 및 비교기로부터 입력되는 일치 신호를 이용하여 발진 횟수만큼 발진이 완료되었음을 나타내는 종료신호를 출력하는 제 2래치(L1)를 포함한다.6 is a circuit diagram of a specific gate level in which a delay oscillation pulse generator is implemented as a ring oscillator according to the present invention. The delayed oscillation pulse generator of FIG. 6 is operated according to the timing diagram shown in FIG. The delayed oscillation pulse generator according to the present invention includes first latches L2 and L3 for countering the number of oscillations, a gate g4 for receiving a start signal, and gates g1 and g2 for implementing an oscillation waveform including an odd number of inverters. ) And a comparator for generating a coincidence signal when the oscillation number inputted from the operation control unit and the output value of the first latch are matched, and outputting an end signal indicating that the oscillation is completed by the oscillation number using the coincidence signal inputted from the comparator. The second latch L1 is included.

연산 제어부로부터 반복 횟수(repeat[])가 미리 지정되고, 다음으로 시작신호(start)가 인가되면 게이트(g4)가 활성화되면서 펄스신호(pulse)가 활성화된다. 이후 버퍼(g1)와 인버터(g2)로 구성된 링 발진기를 통해 외부 임피던스에 따라 변화된 발진 주파수를 갖는 발진신호가 발생된다. 본 발명에 따른 지연 발진 펄스 생성부는 주어진 시작신호(start)에 따라 외부 또는 내부에서 인가되는 별도의 클럭없이 구성된 게이트 딜레이만을 이용하여 발진을 일으킨다. 이러한 특징으로 인해 인가되는 외부 임피던스에 의해 발생되는 지연신호를 아날로그적으로 더함으로 정확한 지연시간을 측정할 수 있는 잇점이 있다. 링 발진기의 발진 횟수는 리플 카운터로 구성된 제 1래치(L2, L3)에 저장되고, 비교기를 통해 연산 제어부로부터 인가되는 반복 횟수(repeat[])와 동일하면 비교기는 제 2래치(L1)에 지정된 횟수가 도달됨을 알린다. 제 2래치(L1)의 출력신호 종료신호(finish) 신호를 생성하고, 또한 게이트(g4)를 비활성화시키고, 이어서 펄스신호(pulse)가 비활성화된다. 종료신호(finish)는 연산제어부로 입력되어 지정된 발진횟수만큼 발진이 완료되었음을 파악하도록 한다.The repetition number repeat [] is predetermined from the operation control unit. Next, when the start signal start is applied, the gate g4 is activated and the pulse signal pulse is activated. Thereafter, an oscillation signal having an oscillation frequency changed according to an external impedance is generated through a ring oscillator composed of a buffer g1 and an inverter g2. The delayed oscillation pulse generator according to the present invention generates an oscillation using only a gate delay configured without a separate clock applied externally or internally according to a given start signal. This feature has the advantage that it is possible to accurately measure the delay time by analogizing the delay signal generated by the applied external impedance. The number of oscillations of the ring oscillator is stored in the first latches L2 and L3 constituted by the ripple counter, and the comparator is assigned to the second latch L1 if it is equal to the number of repeats [repeat [] applied from the operation control unit through the comparator. Inform that the number of times is reached. An output signal finish signal (finish) of the second latch L1 is generated, the gate g4 is also deactivated, and the pulse signal pulse is then deactivated. The finish signal (finish) is input to the operation control unit to determine that the oscillation is completed by the specified number of oscillations.

도 7은 인가되는 외부 임피던스값에 따라 생성되는 본 발명에 따른 지연 발진 펄스 생성부의 입력 및 출력 신호 파형을 도시한다. 도 7(a)는 외부 임피던스값이 작은 경우를 도시한 것이고, 도 7(b)는 외부 임피던스 값이 큰 경우를 도시한 것이다. 외부 임피던스 값이 작을 경우가 큰 경우에 비하여 발진 주파수가 작고 출력되는 펄스신호(pulse)의 펄스폭이 좁음을 알 수 있다.7 illustrates input and output signal waveforms of a delayed oscillation pulse generator according to the present invention generated according to an applied external impedance value. FIG. 7A illustrates a case where the external impedance value is small, and FIG. 7B illustrates a case where the external impedance value is large. It can be seen that the oscillation frequency is smaller and the pulse width of the output pulse signal pulse is smaller than the case where the external impedance value is small.

도 8은 본 발명에 따른 일 실시예의 펄스폭 카운터의 회로도이다. 도 8(a)에 도시한 바와 같이 펄스폭 카운터는 지연 발진 펄스 생성부로부터 입력되는 펄스신호(pulse)와 연산 제어부로부터 입력되는 해상도(resolution) 및 초기화 신호(set)를 입력으로 하고, 카운터된 값을 데이터 신호(data[])로 출력한다. 도 8(b)는 펄스폭 카운터를 클럭 생성기(clock generator) 및 펄스 카운터(pulse counter)로 구현한 일 예이다. 클럭 생성기는 입력되는 펄스신호의 펄스폭이 활성화되는 동안 해상도(resolution)에 의해 정해진 주기에 따른 클럭신호(clock)를 생성하여 출력하고, 펄스 카운터는 입력되는 클럭신호(clock)를 계수하고 계수된 값을 데이터 신호(data[])로 출력한다.8 is a circuit diagram of a pulse width counter of one embodiment according to the present invention. As shown in FIG. 8 (a), the pulse width counter receives a pulse signal input from a delay oscillation pulse generator and a resolution and initialization signal set from an operation control unit. The value is output as a data signal data []. 8B illustrates an example in which the pulse width counter is implemented as a clock generator and a pulse counter. The clock generator generates and outputs a clock signal according to a period determined by the resolution while the pulse width of the input pulse signal is activated, and the pulse counter counts the input clock signal and counts The value is output as a data signal data [].

도 9는 본 발명에 따른 일 실시예의 클럭 생성기 회로 블록도이다. 도 9(a)에 도시된 바와 같이 해상도(resolution[])을 입력으로 하는 다수 개의 먹스(MUX)를 이용하여 펄스신호(pulse)의 펄스폭에 해당하는 만큼의 클럭을 생성한다. 도 9(b)는 도 9(a)에 입력되는 펄스신호와 출력되는 클럭신호(clock)을 도시한다.9 is a block diagram of a clock generator circuit in one embodiment according to the present invention. As illustrated in FIG. 9A, a clock corresponding to the pulse width of the pulse signal is generated using a plurality of muxes MUX having a resolution []. FIG. 9B shows the pulse signal inputted to FIG. 9A and the clock signal outputted.

도 10은 본 발명에 따른 일 실시예의 펄스 카운터(pulse counter)를 구현한 예이다. 도 10에 도시된 바와 같이 펄스 카운터는 다수 개의 래치를 리플 카운터로 형성한 예이다. 도 10에서 클럭신호(clock)는 클럭 생성기로부터 출력되는 신 호이며, 초기화 신호(set)는 연산 제어부로부터 입력되며 래치를 초기화하는데 이용된다.10 illustrates an example of implementing a pulse counter of one embodiment according to the present invention. As shown in FIG. 10, the pulse counter is an example of forming a plurality of latches as a ripple counter. In FIG. 10, a clock signal is a signal output from a clock generator, and an initialization signal set is input from an operation control unit and used to initialize a latch.

도 11은 본 발명에 따른 일 실시예의 터치센서를 적용한 터치 패널 장치의 구성예이다. 도 11에 도시된 바와 같이 터치 패널 장치는 터치 패드가 패턴 형성되며 사용자의 손가락이 직접 접촉되는 터치 패널(200)과, 터치 패널로부터 입력되는 전기적인 신호를 분석하여 어느 터치 패드가 터치되었는지 판별하는 터치센서(100)로 이루어진다. 도 11에서는 정전 용량 방식의 터치 패널 장치를 도시하였으며, 터치 패널(200)은 N 개의 터치 패드가 패턴 형성되어 있는데 이를 N 개의 용량성 임피던스(1st Csen, 2nd Csen 및 Nth Csen)로 간략히 표시하였다.11 is a configuration example of a touch panel device to which a touch sensor according to an embodiment of the present invention is applied. As illustrated in FIG. 11, the touch panel apparatus may be configured to determine which touch pad is touched by analyzing a touch panel 200 having a touch pad patterned thereon and directly contacting a user's finger with an electrical signal input from the touch panel. It consists of a touch sensor 100. In FIG. 11, the capacitive touch panel device is illustrated, and the touch panel 200 has N touch pads in a pattern, which is briefly represented as N capacitive impedances (1st Csen, 2nd Csen, and Nth Csen).

본 발명에 따른 터치센서는 용량성 임피던스와 연결되는 지연 발진 펄스 생성부 및 펄스폭 카운터부와, 연산제어부 및 기준값 저장부로 구성된다. 도 11에서는 지연시간 측정 회로(52)가 지연 발진 펄스 생성부와 펄스폭 카운터부로만 구성되는 것으로 표시하였으며 이는 터치센서에 사용되는 연산제어부가 지연시간 측정 회로에 사용되는 연산제어부보다 보다 복잡한 연산 및 제어를 담당하기 때문에 제외시켜 표시한 것이다. 따라서 연산 제어부의 일부 기능도 지연시간 측정 회로(52)에 포함되는 것으로 해석되어져야 한다. 지연 발진 펄스 생성부 및 펄스폭 카운터부는 전술한 지연시간 측정 회로의 설명 부분과 동일한 구성을 가지므로 이에 대한 설명을 생략하기로 한다. 연산 제어부는 지연 발진 펄스 생성부에 반복 횟수(repeat[])를 지정하고, 시작신호(start)를 인가하고, 지연 발진 펄스 생성부 로부터 발생되는 종료신호(finish)를 입력받은 후 시스템 클럭을 제어하는 기능을 하고, 또한 펄스폭 카운터부로부터 출력되는 카운트(data[])를 입력받고, 이를 기준값 저장부에 저장된 값과 비교함으로써 터치 패드의 접촉 여부를 판별하고 기준값을 변경하는 기능을 한다. 기준값 저장부는 각 터치 패드의 기준값, 문턱값 및 노이즈값을 저장하는 저장부로서, 연산제어부에 구비되는 메모리를 사용할 수도 있고 또는 연산제어부와는 별도의 메모리를 사용할 수 있음은 물론이다.The touch sensor according to the present invention includes a delay oscillation pulse generator and a pulse width counter connected to the capacitive impedance, an operation controller and a reference value storage. In FIG. 11, the delay time measuring circuit 52 is composed of only a delay oscillation pulse generator and a pulse width counter, which indicates that the operation controller used for the touch sensor is more complicated than the operation controller used for the delay time measurement circuit. Since it is in charge of control, it is omitted. Therefore, some functions of the calculation control unit should also be interpreted as being included in the delay time measuring circuit 52. Since the delayed oscillation pulse generator and the pulse width counter have the same configuration as the description of the delay time measurement circuit described above, description thereof will be omitted. The operation control unit repeats the delayed oscillation pulse generator Specify the number of times (repeat []), apply a start signal (start), and receives the end signal (finish) generated from the delayed oscillation pulse generator to control the system clock, and also the pulse width counter It receives a count (data []) output from the input, and compares it with the value stored in the reference value storage to determine whether the touch pad touches and changes the reference value. The reference value storage unit may store a reference value, a threshold value, and a noise value of each touch pad. The reference value storage unit may use a memory included in the operation control unit, or may use a memory separate from the operation control unit.

도 12는 본 발명에 따른 일 실시예의 지연 발진 펄스 생성부의 발진기 동작 순서를 예시하는 타이밍도이다. 도면에서 각 사각형 내부에 표시된 숫자는 터치 패드에 연결된 터치센서를 구성하는 지연 발진 펄스 생성부, 펄스폭 카운터부를 도시한다. 예를 들어 내부에 '1'을 갖는 사각형은 제 1 용량성 임피던스와 연결된 지연 발진 펄스 생성부, 펄스폭 카운터부가 동작되는 타이밍을 도시한 것이다. 도 12(a)는 각각의 용량성 임피던스와 연결된 회로가 순차적으로 동작되는 방식을 도시한 것이고, 도 12(b)는 각각의 용량성 임피던스와 연결된 회로가 동시에 동작되는 방식을 도시한 것이다. 본 발명에 따른 터치센서는 도 12에 도시된 두 가지 방식 중 어느 방식으로도 동작될 수 있으며, 도면에는 도시되지 않았으나 그룹화하여 동작시킬 수 있음도 물론이다. 12 is a timing diagram illustrating an oscillator operation sequence of a delayed oscillation pulse generator according to an embodiment of the present invention. In the drawings, the numerals indicated inside the rectangles show a delayed oscillation pulse generating unit and a pulse width counter unit constituting a touch sensor connected to the touch pad. For example, a rectangle having '1' therein shows a timing at which the delayed oscillation pulse generator and the pulse width counter are connected to the first capacitive impedance. FIG. 12 (a) shows how circuits connected with each capacitive impedance are operated sequentially, and FIG. 12 (b) shows how circuits connected with each capacitive impedance are operated simultaneously. The touch sensor according to the present invention may be operated in any of the two methods shown in FIG. 12, and although not shown in the drawing, the touch sensor may be operated in a group.

도 13은 본 발명에 따른 터치센서의 펄스폭 카운터부로부터 출력되는 카운터값(data[])을 이용하여 터치패드의 상태를 판별하는 상태도를 도시한 것이고, 도 14는 본 발명에 따른 터치센서의 제어 연산부에서 터치패드이 상태를 파악하는 흐름도이다. 도 13 및 도 14를 이용하여 본 발명에 따른 터치센서를 이용하여 터치 여부를 판단하는 동작에 대해 설명하기로 한다.FIG. 13 illustrates a state diagram for determining a state of a touch pad using a counter value data [] output from a pulse width counter of a touch sensor according to the present invention, and FIG. 14 illustrates a touch sensor according to the present invention. In the control calculator, a touch pad detects a state. An operation of determining whether a touch is made using the touch sensor according to the present invention will be described with reference to FIGS. 13 and 14.

도 13에서 그래프 왼쪽 편에 표기된 숫자는 현재 펄스폭 카운트에서 출력되는 카운트값(data[])을 표시하며, 가운데 밑줄친 숫자는 코드화된 값을 나타낸다. 각 용량성 임피던스의 기준값(reference value), 노이즈값(noise value) 및 문턱값(threshold value)은 기준값 저장부에 저장된다. 기준값(reference value)은 각 용량성 임피던스가 충전되지 않았을 경우라고 가정할 때 펄스폭 카운트에 출력되는 카운트값이며, 노이즈값은 펄스폭 카운트에서 출력되는 카운트값의 허여 가능한 오차 범위를 나타내는 것이며, 문턱값은 각 용량성 임피던스가 터치되었음을 판단하는 임계치이다.In FIG. 13, the number indicated on the left side of the graph indicates a count value data [] output from the current pulse width count, and the underlined number indicates a coded value. Reference values, noise values, and threshold values of each capacitive impedance are stored in the reference value storage. The reference value is a count value output to the pulse width count assuming that each capacitive impedance is not charged, and the noise value represents an allowable error range of the count value output from the pulse width count. The value is a threshold for determining that each capacitive impedance has been touched.

코드화된 값은 이전에 저장된 기준값과 현재 읽어들인 카운터값을 비교하여 코드화한 값으로서, 코드 '0'은 이전에 저장된 기준값보다 현재 읽어들인 카운터값이 작은 상태를 나타내고, 코드 '1'은 이전에 저장된 기준값보다 현재 읽어들인 카운터값이 노이즈값 범위 내에서 큰 상태를 나타내고, 코드 '2'는 이전에 저장된 기준값보다 현재 읽어들인 카운터값이 노이즈값 범위를 초과하면서 문턱값 범위 내에서 큰 상태를 나타내고, 코드 '3'은 이전에 저장된 기준값보다 현재 읽어들인 카운터값이 문턱값 범위를 초과하면서 큰 상태를 나타낸다. 비교코드가 '3'일 경우 해당 용량성 임피던스에 터치가 발생하였다고 인식하고, 비교코드가 '3'이 아닐 경우에는 해당 용량성 임피던스가 터치되지 않았다고 판단한다.The coded value is a value obtained by comparing a previously stored reference value with a currently read counter value. The code '0' indicates that the currently read counter value is smaller than the previously stored reference value, and the code '1' previously The currently read counter value is larger than the stored reference value within the noise value range, and the code '2' is larger than the previously stored reference value and the counter value currently read exceeds the noise value range and is larger than the threshold value. The code '3' indicates that the currently read counter value is larger than the previously stored reference value while exceeding the threshold range. When the comparison code is '3', it is recognized that a touch has occurred in the corresponding capacitive impedance, and when the comparison code is not '3', it is determined that the capacitive impedance is not touched.

이하 도 13에 표시된 구체적인 수치를 이용하여 기준값과 다양한 코드값에 대해 설명하기로 한다. 도 13은 이전에 저장된 용량성 임피던스의 카운터값(data[])를 기준값 '2'이고, 노이즈값은 '2'이고, 문턱값은 '6'임을 가정한 것이다. 비교 코드는 현재 읽어드린 용량성 임피던스의 펄스폭 카운터(data[])에서 이전에 저장된 용량성 임피던스이 펄스폭 카운터값(data[])을 제한 후, 제한값을 이용하여 결정된다.Hereinafter, reference values and various code values will be described using specific numerical values shown in FIG. 13. 13 assumes that the counter value data [] of the previously stored capacitive impedance is the reference value '2', the noise value is '2', and the threshold value is '6'. The comparison code is determined using the limit value after the capacitive impedance previously stored in the pulse width counter data [] of the currently read capacitive impedance limits the pulse width counter value data [].

예를 들어, 용량성 임피던스의 현재 읽어들인 카운터값(data[])이 '3'이라면 비교 코드는 '1'으로 저장된다. 이는 현재 읽어드린 용량성 임피던스의 펄스폭 카운터(data[]=3)에서 이전에 저장된 용량성 임피던스의 펄스폭 카운터값(data[]=2)을 제한 후, 제한값(1)이 기준값보다 크고 노이즈값(2)의 범위 내에 있기 때문에 비교 코드 '0'으로 결정되는 것이다. 동일한 방식으로, 용량성 임피던스의 현재 읽어들인 펄스폭 카운터값(data[])이 '1'이라면 비교 코드는 '0'으로 저장되고, 용량성 임피던스의 현재 읽어들인 펄스폭 카운터값(data[])이 '5'라면 비교 코드는 '2'로 저장되고, 마지막으로 용량성 임피던스이 현재 읽어들인 용량성 펄스폭 카운터값(data[])이 '9'라면 비교 코드 '3'으로 저장되는 것이다.For example, if the current read counter value data [] of the capacitive impedance is '3', the comparison code is stored as '1'. This is because the pulse width counter (data [] = 3) of the capacitive impedance currently read out is limited to the pulse width counter value (data [] = 2) of the previously stored capacitive impedance, and the limit value (1) is larger than the reference value. Since it is in the range of the value (2), it is determined by the comparison code '0'. In the same way, if the currently read pulse width counter value data [] of capacitive impedance is '1', the comparison code is stored as '0', and the currently read pulse width counter value data [] of capacitive impedance is stored. ) Is '5', the comparison code is stored as '2', and finally, if the capacitive impedance currently read capacitive pulse width counter value (data []) is '9', the comparison code is stored as '3'.

본 발명에 따른 터치센서는 주위 온도, 습도, 전압에 따라 기준값을 변화시킬 수 있으므로 정확한 터치 여부에 대한 판별이 가능하도록 하였다. 이러한 터치센서의 동작을 도 14의 흐름도를 이용하여 설명하기로 한다.The touch sensor according to the present invention can change the reference value according to the ambient temperature, humidity, voltage, so that it is possible to determine whether the correct touch. The operation of the touch sensor will be described using the flowchart of FIG. 14.

터치센서를 구동시키면 연산제어부의 비교 카운터와 저장 코드값을 '0'으로 초기화하고, 터치센서를 한 번 동작시켜 펄스폭 카운터의 출력값을 기준값으로 설 정한다(S1). 이후 터치센서를 다시 동작시켜 펄스폭 카운터의 출력값을 읽어온다(S3). 새롭게 읽어온 펄스폭 카운터의 출력값을 기준값과 비교하여 비교 코드를 생성한다(S4). 저장 코드와 비교 코드를 비교하여 동일한 값인지를 판단한다(S5). 동일한 값일 경우 비교 카운터를 '1' 증가시킨다(S6). 이후, 비교 코드가 '1'이고 비교 카운터에 오버플로우가 발생하였는지를 판단하고(S7), 판단 결과가 참일 경우 기준값을 현재 읽어온 펄스폭 카운터의 출력값으로 변경하고, 즉 기준값을 증가시키고(S8), 다시 터치회로를 동작시켜 새로운 값을 입력받는다(S3). S7 단계가 만족하지 않고 비교 코드가 '0'이고 비교 카운터에 오버플로우가 발생하였는지를 판단하고(S9), 판단 결과가 참일 경우 기준값을 현재 읽어온 펄스폭 카운터의 출력값으로 변경하고, 즉 기준값을 감소시키고(S8), 다시 터치회로를 동작시켜 새로운 값을 입력받는다(S3). S5 단계의 판단결과 조건이 만족하지 않을 경우 비교 카운터를 초기화하고(S11), 비교 코드값을 저장하고(S12), 다시 터치회로를 동작시켜 새로운 값을 입력받는다(S3).When the touch sensor is driven, the comparison counter and the storage code value of the operation control unit are initialized to '0', and the touch sensor is operated once to set the output value of the pulse width counter as a reference value (S1). After that, the touch sensor is operated again to read the output value of the pulse width counter (S3). A comparison code is generated by comparing the output value of the newly read pulse width counter with a reference value (S4). The storage code and the comparison code are compared to determine whether they are the same value (S5). If the value is the same, the comparison counter is increased to '1' (S6). Then, it is determined whether the comparison code is '1' and an overflow occurs in the comparison counter (S7). If the determination result is true, the reference value is changed to the output value of the pulse width counter currently read, that is, the reference value is increased (S8). In operation S3, the touch circuit receives a new value. It is determined whether step S7 is not satisfied and the comparison code is '0' and an overflow occurs in the comparison counter (S9). If the determination result is true, the reference value is changed to the output value of the currently read pulse width counter, that is, the reference value is decreased. In operation S8, the touch circuit is operated again to receive a new value (S3). When the determination result of step S5 is not satisfied, the comparison counter is initialized (S11), the comparison code value is stored (S12), and the touch circuit is operated again to receive a new value (S3).

상기 도 4의 흐름도를 이용하여 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 터치회로는 기준값을 자체적으로 업데이트할 수 있도록 하였다. 예를 들어 외부에서 인가되는 용량성 캐패시터의 용량이 외부의 온도나 습도에 반응하여 감소한 상태가 지속될 경우 펄스폭 카운터값이 감소될 것이고, S4 단계에서 생성되는 비교코드는 '0'으로 생성되고, 비교 카운터가 오버플로우되는 조건이 충족될 경우 현재 설정된 기준값보다 낮은 값으로 기준값을 변경하게 된다. 이와 유사하게 외부에서 인가되는 용량성 캐패시터의 용량이 외부의 온도나 습도에 반응하여 증가한 상태가 지속 될 경우 펄스폭 카운터값이 감소될 것이고, S4 단계에서 생성되는 비교코드는 '1'로 생성되고, 비교 카운터가 오버플로우되는 조건이 충족될 경우 현재 설정된 기준값보다 높은 값으로 기준값을 변경하게 된다. 이러한 기준값을 변경하는 원리를 이용함으로써 본 발명에 따른 터치센서는 주변의 온도, 습도 및 전압이 변경하더라도 정확한 터치 여부를 판단할 수 있게 되는 것이다.As described with reference to the flowchart of FIG. 4, the touch circuit according to the present invention can update the reference value by itself. For example, if the capacity of an externally applied capacitive capacitor decreases in response to external temperature or humidity, the pulse width counter value will be decreased, and the comparison code generated in step S4 is generated as '0'. When the condition that the comparison counter overflows is satisfied, the reference value is changed to a value lower than the currently set reference value. Similarly, if the capacity of the externally applied capacitive capacitor continues to increase in response to external temperature or humidity, the pulse width counter value will decrease, and the comparison code generated in step S4 is generated as '1'. If the condition that the comparison counter overflows is satisfied, the reference value is changed to a value higher than the currently set reference value. By using the principle of changing the reference value, the touch sensor according to the present invention is able to determine whether the correct touch, even if the ambient temperature, humidity and voltage changes.

상기에서 본 발명의 특정한 실시예가 설명 및 도시되었지만, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당업자에 의하여 다양하게 변형되어 실시될 가능성이 있는 것은 자명한 일이다. 이와 같이 변형된 실시예들은 본 발명의 사상 및 범위로부터 개별적으로 이해되어져서는 안되며, 본 발명에 첨부된 청구범위 안에 속한다고 해야 할 것이다.Although specific embodiments of the present invention have been described and illustrated above, it will be apparent that various modifications may be made by those skilled in the art without departing from the technical spirit of the present invention. Such modified embodiments should not be understood individually from the spirit and scope of the present invention, but should fall within the claims appended to the present invention.

도 1은 종래의 지연시간 측정회로의 일 예로서 딜레이 체인을 이용하여 지연 시간을 측정하는 지연시간 측정회로를 나타내는 도.1 is a diagram illustrating a delay time measuring circuit for measuring a delay time using a delay chain as an example of a conventional delay time measuring circuit.

도 2를 참조하여 도 1의 지연시간 측정회로(1)의 동작을 설명하는 도.2 illustrates the operation of the delay time measuring circuit 1 of FIG. 1 with reference to FIG.

도 3은 본 발명에 따른 일 실시예의 지연시간 측정 회로의 블록도.3 is a block diagram of a delay time measuring circuit of one embodiment according to the present invention;

도 4는 지연 발진 펄스 생성부의 입력신호와 출력신호를 설명하는 블록도와 입력신호 및 출력신호의 타이밍도.4 is a block diagram illustrating an input signal and an output signal of a delayed oscillation pulse generator, and a timing diagram of an input signal and an output signal.

도 5는 본 발명에 따른 지연 발진 펄스 생성부를 이연 발진기와 링 발진기로 구성할 경우 생성되는 파형도.5 is a waveform diagram generated when the delayed oscillation pulse generator according to the present invention comprises a delayed oscillator and a ring oscillator.

도 6은 본 발명에 따른 지연 발진 펄스 생성부를 링 발진기로 구현한 구체적인 게이트 레벨의 회로도.6 is a circuit diagram of a specific gate level in which a delay oscillation pulse generator is implemented as a ring oscillator according to the present invention.

도 7은 인가되는 외부 임피던스값에 따라 생성되는 본 발명에 따른 지연 발진 펄스 생성부의 입력 및 출력 신호 파형도.7 is an input and output signal waveform diagram of a delayed oscillation pulse generator according to the present invention generated according to an applied external impedance value.

도 8은 본 발명에 따른 일 실시예의 펄스폭 카운터의 회로도.8 is a circuit diagram of a pulse width counter of one embodiment according to the present invention.

도 9는 본 발명에 따른 일 실시예의 클럭 생성기 회로 블록도.9 is a block diagram of a clock generator circuit in one embodiment according to the present invention.

도 10은 본 발명에 따른 일 실시예의 펄스 카운터(pulse counter)를 구현한 예.10 is an example of implementing a pulse counter of one embodiment according to the present invention.

도 11은 본 발명에 따른 일 실시예의 터치센서를 적용한 터치 패널 장치의 구성예.11 is a configuration example of a touch panel device to which a touch sensor according to an embodiment of the present invention is applied.

도 12는 본 발명에 따른 일 실시예의 지연 발진 펄스 생성부의 발진기 동작 순서를 예시하는 타이밍도.12 is a timing diagram illustrating an oscillator operation sequence of a delayed oscillation pulse generator according to an embodiment of the present invention.

도 13은 본 발명에 따른 터치센서의 펄스폭 카운터부로부터 출력되는 카운터값(data[])을 이용하여 터치패드의 상태를 판별하는 상태도.13 is a state diagram for determining a state of a touch pad using a counter value data [] output from a pulse width counter of a touch sensor according to the present invention.

도 14는 본 발명에 따른 터치센서의 제어 연산부에서 터치패드이 상태를 파악하는 흐름도.14 is a flow chart to determine the state of the touch pad in the control calculation unit of the touch sensor according to the present invention.

***** 도면상의 주요 부분에 대한 간략한 설명 *********** Brief description of the main parts of the drawing ******

52: 지연시간 측정 회로 100: 터치센서52: delay time measuring circuit 100: touch sensor

200: 터치 패널200: touch panel

Claims (16)

외부에서 인가되는 임피던스 값에 따라 발진 주파수가 변경되고, 변경된 발진 주파수에 따라 클럭에 무관하게 발생되는 게이트 딜레이를 이용하여 일정 횟수 발진시키고, 발진 기간에 따라 변화되는 펄스폭을 갖는 펄스 신호를 출력하는 지연 발진 펄스 생성부, 및The oscillation frequency is changed according to the impedance value applied from the outside, the oscillation frequency is oscillated a predetermined number of times using a gate delay generated irrespective of the clock according to the changed oscillation frequency, and a pulse signal having a pulse width changed according to the oscillation period is output. A delayed oscillation pulse generator, and 상기 지연 발진 펄스 생성부에서 출력되는 펄스신호의 펄스폭을 카운터하는 펄스폭 카운터부를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연시간 측정 회로.And a pulse width counter unit for counting a pulse width of a pulse signal output from the delayed oscillation pulse generator. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 외부로부터 인가되는 신호의 임피던스는 정전 용량, 저항치 및 유도 용량 중 하나인 것을 특징으로 하는 지연시간 측정 회로.The impedance of the signal applied from the outside is a delay time measuring circuit, characterized in that one of the capacitance, resistance value and inductive capacity. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 지연 발진 펄스 생성부는 링 발진기 또는 이연 발진기로 이루어지는 것을 특징으로 하는 지연시간 측정 회로.The delay oscillation pulse generator is a delay time measurement circuit, characterized in that consisting of a ring oscillator or a delay oscillator. 제 3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 지연시간 측정 회로는 시작 신호와 발진 횟수를 인가하는 연산제어부를 더 구비하고, The delay time measuring circuit further includes an operation control unit for applying a start signal and the number of oscillations, 상기 지연 발진 펄스 생성부는 The delayed oscillation pulse generator 발진 횟수를 카운터하는 제 1 래치와, A first latch for countering the number of oscillations; 시작 신호를 입력받는 게이트 및A gate receiving the start signal and 홀수 개의 인버터를 구비하는 발진 파형을 구현하는 게이트와,A gate for implementing an oscillation waveform having an odd number of inverters, 상기 연산제어부로부터 입력되는 발진 횟수와 상기 제 1래치의 출력값을 비교하여 일치하는 경우 일치 신호를 생성하는 비교기 및A comparator configured to compare the number of oscillations inputted from the operation control unit with an output value of the first latch and to generate a coincidence signal when they match; 상기 비교기로부터 입력되는 일치 신호를 이용하여 발진 횟수만큼 발진이 완료되었음을 나타내는 종료신호를 출력하는 제 2래치를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연시간 측정 회로.And a second latch outputting an end signal indicating that the oscillation is completed by the number of oscillations by using the coincidence signal input from the comparator. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 펄스폭 카운터부는 상기 지연 발진 펄스 생성부에서 출력되는 펄스 신호를 입력받은 후 상기 펄스 신호의 펄스폭에 해당하는 복수 개 클럭 신호를 출력하는 클럭 생성기; 및The pulse width counter may include a clock generator configured to output a plurality of clock signals corresponding to the pulse width of the pulse signal after receiving a pulse signal output from the delayed oscillation pulse generator; And 생성된 클럭 신호를 계수하는 펄스 카운터를 포함하는 것을 특징으로 하는 지연시간 측정 회로.And a pulse counter for counting the generated clock signal. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 클럭 생성기는 생성되는 클럭 사이클을 변경시켜 상기 펄스 신호를 해석하는 해상도 조절이 가능한 것을 특징으로 하는 지연시간 측정 회로.The clock generator is a delay time measurement circuit, characterized in that the resolution can be adjusted to change the generated clock cycle to interpret the pulse signal. 터치 여부에 따라 변화되는 임피던스를 측정하는 터치센서에 있어서,In the touch sensor for measuring the impedance that changes depending on whether the touch, 외부에서 인가되는 임피던스 값에 따라 발진 주파수가 변경되고, 변경된 발진 주파수에 따라 클럭에 무관하게 발생되는 게이트 딜레이를 이용하여 일정 횟수 발진시키고, 발진 기간에 따라 변화되는 펄스폭을 갖는 펄스 신호를 출력하는 지연 발진 펄스 생성부와,The oscillation frequency is changed according to the impedance value applied from the outside, the oscillation frequency is oscillated a predetermined number of times using a gate delay generated irrespective of the clock according to the changed oscillation frequency, and a pulse signal having a pulse width changed according to the oscillation period is output. A delayed oscillation pulse generator, 상기 지연 발진 펄스 생성부에서 출력되는 펄스신호의 펄스폭을 카운터하는 펄스폭 카운터부와,A pulse width counter unit for counting a pulse width of a pulse signal output from the delayed oscillation pulse generator; 상기 임피던스가 터치되지 않았을 때의 펄스폭 카운터의 출력값인 기준값을 저장하는 기준값 저장부 및A reference value storage unit for storing a reference value which is an output value of a pulse width counter when the impedance is not touched; 상기 펄스폭 카운터부의 출력값과 상기 기준값 저장부에 저장된 기준값을 비교하여 터치 여부를 판별하는 연산 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치센서.And an operation control unit for comparing the output value of the pulse width counter unit with a reference value stored in the reference value storage unit to determine whether or not the touch is performed. 제 7항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 임피던스는 정전 용량, 저항치 및 유도 용량 중 하나인 것을 특징으로 하는 터치센서.The impedance is a touch sensor, characterized in that one of capacitance, resistance value and inductive capacity. 제 8항에 있어서, The method of claim 8, 상기 임피던스는 정전 용량인 것을 특징으로 하는 터치센서.The impedance is a touch sensor, characterized in that the capacitance. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 지연 발진 펄스 생성부는 링 발진기 또는 이연 발진기로 이루어지는 것을 특징으로 하는 터치센서.The delayed oscillation pulse generator is a touch sensor, characterized in that consisting of a ring oscillator or a delay oscillator. 제 10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 연산제어부는 지연시간 측정 회로에 시작 신호와 발진 횟수를 인가하는 기능을 더 수행하고,The operation controller further performs a function of applying a start signal and the number of oscillations to a delay time measuring circuit. 상기 지연 발진 펄스 생성부는 The delayed oscillation pulse generator 발진 횟수를 카운터하는 제 1 래치와, A first latch for countering the number of oscillations; 시작 신호를 입력받는 게이트와,A gate receiving a start signal, 홀수 개의 인버터를 구비하는 발진 파형을 구현하는 게이트와,A gate for implementing an oscillation waveform having an odd number of inverters, 상기 연산제어부로부터 입력되는 발진 횟수와 상기 제 1래치의 출력값을 비교하여 일치하는 경우 일치 신호를 생성하는 비교기 및A comparator configured to compare the number of oscillations inputted from the operation control unit with an output value of the first latch and to generate a coincidence signal when they match; 상기 비교기로부터 입력되는 일치 신호를 이용하여 발진 횟수만큼 발진이 완료되었음을 나타내는 종료신호를 출력하는 제 2래치를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치센서.And a second latch outputting an end signal indicating that the oscillation is completed by the number of oscillations using the coincidence signal input from the comparator. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 펄스폭 카운터부는 상기 지연 발진 펄스 생성부에서 출력되는 펄스 신호를 입력받은 후 상기 펄스 신호의 펄스폭에 해당하는 복수 개 클럭 신호를 출력하는 클럭 생성기; 및The pulse width counter may include a clock generator configured to output a plurality of clock signals corresponding to the pulse width of the pulse signal after receiving a pulse signal output from the delayed oscillation pulse generator; And 생성된 클럭 신호를 계수하는 펄스 카운터를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치센서.And a pulse counter for counting the generated clock signal. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 클럭 생성기는 생성되는 클럭 사이클을 변경시켜 상기 펄스 신호를 해석하는 해상도 조정이 가능한 것을 특징으로 하는 터치센서.The clock generator is a touch sensor, characterized in that for changing the clock cycle is generated to adjust the resolution to interpret the pulse signal. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 기준값 저장부에는 펄스폭 카운트에서 출력되는 카운트값의 허여 가능한 오차 범위를 표시하는 노이즈값과 각 용량성 임피던스가 터치되었음을 판단하는 임계치인 문턱값을 더 저장하는 것을 특징으로 하는 터치센서.The reference value storage unit further includes a noise value indicating a permissible error range of the count value output from the pulse width count and a threshold value which is a threshold value for determining that each capacitive impedance is touched. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 연산제어부는 새롭게 인식된 펄스폭 카운터의 출력값이 기준값 저장부에 저장된 기준값이 보다 클 경우에는 상기 기준값을 증가시키는 것을 특징으로 하는 터치센서.And the calculation controller increases the reference value when the output value of the newly recognized pulse width counter is larger than the reference value stored in the reference value storage unit. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 연산제어부는 새롭게 인식된 펄스폭 카운터의 출력값이 기준값 저장부에 저장된 기준값이 보다 적을 경우에는 상기 기준값을 감소시키는 것을 특징으로 하는 터치센서.And the calculation control unit decreases the reference value when the output value of the newly recognized pulse width counter is smaller than the reference value stored in the reference value storage unit.
KR1020090022534A 2009-03-17 2009-03-17 Delay time counting circuit and touch sensor with the same KR101096102B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090022534A KR101096102B1 (en) 2009-03-17 2009-03-17 Delay time counting circuit and touch sensor with the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090022534A KR101096102B1 (en) 2009-03-17 2009-03-17 Delay time counting circuit and touch sensor with the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100104245A true KR20100104245A (en) 2010-09-29
KR101096102B1 KR101096102B1 (en) 2011-12-19

Family

ID=43008518

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020090022534A KR101096102B1 (en) 2009-03-17 2009-03-17 Delay time counting circuit and touch sensor with the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101096102B1 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101327886B1 (en) * 2011-06-10 2013-11-11 (주)멜파스 Delay compensating apparatus and method of touch panel system
US9172382B2 (en) 2014-02-24 2015-10-27 SK Hynix Inc. Semiconductor device and operating method thereof
KR20190048151A (en) * 2017-10-30 2019-05-09 엘지디스플레이 주식회사 Touch driving circuit, touch controller and touch display device
KR102158709B1 (en) * 2019-05-03 2020-09-22 삼성전기주식회사 Touch input sensing apparatus and controller ic thereof

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10533966B2 (en) 2017-07-27 2020-01-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Digital time domain readout circuit for bioFET sensor cascades

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101327886B1 (en) * 2011-06-10 2013-11-11 (주)멜파스 Delay compensating apparatus and method of touch panel system
US8884667B2 (en) 2011-06-10 2014-11-11 Melfas Inc. Touch panel system with delay compensation capability and method for compensating delay in touch panel system
US9172382B2 (en) 2014-02-24 2015-10-27 SK Hynix Inc. Semiconductor device and operating method thereof
KR20190048151A (en) * 2017-10-30 2019-05-09 엘지디스플레이 주식회사 Touch driving circuit, touch controller and touch display device
KR102158709B1 (en) * 2019-05-03 2020-09-22 삼성전기주식회사 Touch input sensing apparatus and controller ic thereof
US11048357B2 (en) 2019-05-03 2021-06-29 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Touch sensing apparatus and controller IC thereof

Also Published As

Publication number Publication date
KR101096102B1 (en) 2011-12-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI521875B (en) System and method for determining capacitance value
RU2451391C2 (en) Circuit device and method to measure clock signal shaking
US8179380B2 (en) Method and apparatus for implementing a capacitive touch slider
TWI484193B (en) Apparatus and method for measuring a long time period
KR100982282B1 (en) Sensor, sensing method for the sensor, and filter for the sensor
KR101096102B1 (en) Delay time counting circuit and touch sensor with the same
US20130113756A1 (en) Method and device for sensing capacitance change and recording medium in which program for executing method is recorded thereon, and method and device for sensing touch using method and recording medium in which program for executing method is recorded thereon
US11531424B2 (en) Nano-power capacitance-to-digital converter
TWI433018B (en) Control device for a touch panel
JPWO2006038468A1 (en) Phase difference measurement circuit
US9568889B1 (en) Time to digital converter with high resolution
JP2010197390A (en) Capacitance measuring circuit
CN104535918A (en) Cross clock domain synchronizer internal constant testing circuit and method
US20200059239A1 (en) Time-based, Current-Controlled Paired Oscillator Analog-to-Digital Converter with Selectable Resolution
US9966900B2 (en) Apparatus for oscillator with improved precision and associated methods
CN103675383B (en) A kind of circuit measuring waveform
US20230003781A1 (en) Apparatus, method, system and medium for measuring pulse signal width
TWI425404B (en) Proximity detection method for a capacitive touchpad and control method using proximity detection by a capacitive touchpad
US8907732B2 (en) Oscillation frequency regulating circuit and method
JP2009200681A (en) Proximity detection apparatus and proximity detecting method
US11761996B2 (en) Power supply voltage detector, power supply voltage detection apparatus, system and medium
RU187313U1 (en) DIGITAL FREQUENCY METER FOR LOW POWER INTEGRAL CIRCUITS
CN115762372A (en) Driving signal detection method and device and display device
US11301091B2 (en) Touch sensor circuit
KR101140128B1 (en) Apparatus and method for controlling sensing frequency in touch sensing device, and record media recorded program realizing the same

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E902 Notification of reason for refusal
E90F Notification of reason for final refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee