KR20100073513A - Method for controlling wireless electronic label, and wireless electronic label adopting the same - Google Patents
Method for controlling wireless electronic label, and wireless electronic label adopting the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR20100073513A KR20100073513A KR1020080132213A KR20080132213A KR20100073513A KR 20100073513 A KR20100073513 A KR 20100073513A KR 1020080132213 A KR1020080132213 A KR 1020080132213A KR 20080132213 A KR20080132213 A KR 20080132213A KR 20100073513 A KR20100073513 A KR 20100073513A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- flag
- reset signal
- signal
- voltage
- type well
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
- G06K19/00—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
- G06K19/06—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
- G06K19/067—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
- G06K19/07—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
- G06K19/0701—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips at least one of the integrated circuit chips comprising an arrangement for power management
- G06K19/0715—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips at least one of the integrated circuit chips comprising an arrangement for power management the arrangement including means to regulate power transfer to the integrated circuit
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
본 발명은, 알에프아이디(RFID) 태그와 같은 무선 전자 라벨의 제어 방법 및 이를 채용한 무선 전자 라벨에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 안테나 및 집적회로 소자를 포함한 무선 전자 라벨의 제어 방법 및 이를 채용한 무선 전자 라벨에 관한 것이다.The present invention relates to a method for controlling a wireless electronic label, such as an RFID tag, and a wireless electronic label employing the same, and more particularly, to a method for controlling a wireless electronic label including an antenna and an integrated circuit device and employing the same. One wireless electronic label relates.
알에프아이디(RFID) 태그와 같은 무선 전자 라벨은 현재 다양하게 이용되고 있다.Wireless electronic labels, such as RFID tags, are currently used in a variety of ways.
대부분의 경우, 1 개의 리더는 다수의 무선 전자 라벨들로부터 태그 정보들을 수신한다. 따라서, 리더는 통신 대상의 어느 한 무선 전자 라벨을 설정하기 위하여, 높은 논리 또는 낮은 논리의 플래그(flag) 신호를 다수의 무선 전자 라벨들에 전송한다. In most cases, one reader receives tag information from multiple wireless electronic labels. Thus, the reader sends a flag signal of high logic or low logic to a plurality of radio electronic labels in order to set any radio electronic label of the communication object.
이와 관련하여, 무선 전자 라벨들은 태그 발생부를 내장한다. 보다 상세하게는, 자신의 태그 정보를 전송하기 위하여 대기중인 어느 한 무선 전자 라벨에 있 어서, 리더로부터의 플래그 정보가 상기 태그 발생부에서 재생된 후에 재생된 태그 정보를 다시 리더에 반송한다. 이에 따라 리더와 해당 무선 전자 라벨이 통신을 수행할 수 있다.In this regard, the wireless electronic labels incorporate a tag generator. More specifically, in any wireless electronic label waiting to transmit its own tag information, the tag information reproduced after the flag information from the reader is reproduced in the tag generating unit is returned to the reader. Accordingly, the reader and the corresponding wireless electronic label can communicate.
한편, 상기와 같은 무선 전자 라벨들에 있어서, 리더의 안테나로부터의 교류 전원이 무선 전자 라벨에서 직류 전원으로 변환되어 사용된다. 따라서, 공급 전원이 불안정할 경우에 어느 한 무선 전자 라벨은 오프(off) 상태로 전환되었다가 다시 온(on) 상태로 복원되는 경우가 발생된다. On the other hand, in the above wireless electronic labels, AC power from the antenna of the reader is converted from the wireless electronic label to DC power and used. Thus, when the power supply is unstable, either wireless electronic label is switched off and then restored to on.
여기에서, 어느 한 무선 전자 라벨이 리더로부터의 태그 신호를 재생하여 반송하기 직전에 공급 전원의 순간적인 불안정으로 인하여 오프(off) 상태로 전환되었다가, 짧은 시간 동안에 다시 온(on) 상태로 복원되는 경우가 발생된다. 이 복원 시점에 있어서, 해당 무선 전자 라벨 내부에서의 초기화 동작으로 인하여, 오프(off) 상태로 전환되기 직전에 저장되었던 높은 논리 상태의 플래그 신호가 반전되는 문제점이 있다.Here, a wireless electronic label is turned off due to a momentary instability of the supply power just before reproducing and returning a tag signal from the reader, and then restored to on again for a short time. Is generated. At this time of restoration, there is a problem that the flag signal of the high logic state that was stored immediately before switching to the off state is inverted due to the initialization operation inside the radio electronic label.
즉, 어느 한 무선 전자 라벨이 리더로부터의 태그 신호를 재생하여 반송하기 직전에 오프(off) 상태로 전환되고, 수 초 정도의 짧은 시간 동안에 다시 온(on) 상태로 복원되는 경우, 해당 무선 전자 라벨은 리더로부터 새로운 플래그 신호를 받기 위하여 기다려야만 하는 문제점이 있다.That is, if any wireless electronic label is switched off immediately before reproducing and returning a tag signal from the reader, and restored to the on state for a short time of several seconds, the wireless electronic label The label has a problem of waiting to receive a new flag signal from the reader.
따라서, 전원 공급의 순간적인 불안정으로 인하여 어느 한 무선 전자 라벨과 리더 사이의 통신이 비효율적으로 지연되는 문제점이 있다. Therefore, there is a problem that communication between any one of the wireless electronic labels and the reader is inefficiently delayed due to instantaneous instability of the power supply.
본 발명의 목적은, 전원 공급의 순간적인 불안정으로 인하여 어느 한 무선 전자 라벨과 리더 사이의 통신이 비효율적으로 지연되는 문제점을 개선할 수 있는 무선 전자 라벨의 제어 방법 및 이를 채용한 무선 전자 라벨을 제공하는 것이다. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a method of controlling a wireless electronic label and a wireless electronic label employing the same, which can improve the problem that communication between any one of the wireless electronic labels and the reader is inefficiently delayed due to instantaneous instability of the power supply. It is.
본 발명의 방법은, 안테나, 디지털 제어부, 전원 공급부, 리셋 신호 발생부, 및 플래그 발생부를 포함한 무선 전자 라벨의 제어 방법이다.The method of the present invention is a control method of a radio electronic label including an antenna, a digital control unit, a power supply unit, a reset signal generator, and a flag generator.
이 방법은, 상기 전원 공급부에 의하여, 상기 안테나로부터의 교류 전압을 설정 직류 전압으로 변환하여 상기 디지털 제어부에 제공하는 단계를 포함한다.The method includes converting, by the power supply, an alternating voltage from the antenna into a set direct current voltage and providing it to the digital controller.
또한, 상기 리셋 신호 발생부에 의하여, 상기 전원 공급부로부터의 직류 전압이 상기 정격 레벨 이상으로 상승하는 동안에 리셋 신호를 발생시켜서 상기 디지털 제어부에 제공한다.The reset signal generating unit generates a reset signal while providing the digital control unit while the DC voltage from the power supply unit rises above the rated level.
또한, 상기 플래그 발생부에 의하여, 상기 디지털 제어부로부터의 플래그(flag) 신호를 재생하여 상기 디지털 제어부에 반송한다.The flag generation section reproduces a flag signal from the digital control section and returns the flag signal to the digital control section.
그리고, 상기 리셋 신호 발생부로부터의 리셋 신호를 지연시켜서, 지연된 리셋 신호를 상기 플래그 발생부의 전원 전압으로서 사용한다.Then, the reset signal from the reset signal generator is delayed, and the delayed reset signal is used as the power supply voltage of the flag generator.
본 발명의 무선 전자 라벨은 안테나 및 집적회로 소자를 포함한다. 상기 집적회로 소자는 디지털 제어부, 전원 공급부, 리셋 신호 발생부, 플래그 발생부, 및 신호 지연부를 포함한다.The wireless electronic label of the present invention includes an antenna and an integrated circuit element. The integrated circuit device may include a digital controller, a power supply unit, a reset signal generator, a flag generator, and a signal delay unit.
상기 전원 공급부는 상기 안테나로부터의 교류 전압을 설정 직류 전압으로 변환하여 상기 디지털 제어부에 제공한다.The power supply unit converts an AC voltage from the antenna into a set DC voltage and provides the same to the digital controller.
상기 리셋 신호 발생부는 상기 전원 공급부로부터의 직류 전압이 상기 정격 레벨 이상으로 상승하는 동안에 리셋 신호를 발생시켜서 상기 디지털 제어부에 제공한다.The reset signal generator generates a reset signal while the DC voltage from the power supply rises above the rated level and provides the reset signal to the digital controller.
상기 플래그 발생부는 상기 디지털 제어부로부터의 플래그(flag) 신호를 재생하여 상기 디지털 제어부에 반송한다.The flag generation unit reproduces a flag signal from the digital control unit and returns the flag signal to the digital control unit.
상기 신호 지연부는, 상기 리셋 신호 발생부로부터의 리셋 신호를 지연시켜서, 지연된 리셋 신호를 상기 플래그 발생부의 전원 전압으로서 출력한다.The signal delay unit delays the reset signal from the reset signal generator, and outputs the delayed reset signal as a power supply voltage of the flag generator.
본 발명의 상기 무선 전자 라벨의 제어 방법 및 이를 채용한 무선 전자 라벨에 의하면, 상기 신호 지연부로부터의 지연된 리셋 신호가 상기 플래그 발생부의 전원으로서 인가된다. 즉, 상기 플래그 발생부는 상기 디지털 제어부보다 늦게 동작을 개시한다.According to the control method of the radio electronic label of the present invention and the radio electronic label employing the same, the delayed reset signal from the signal delay unit is applied as a power source of the flag generation unit. That is, the flag generator starts operation later than the digital controller.
따라서, 본 발명에 따른 무선 전자 라벨이 리더로부터의 태그 신호를 재생하여 반송하기 직전에 공급 전원의 순간적인 불안정으로 인하여 오프(off) 상태로 전환되었다가, 짧은 시간 동안에 다시 온(on) 상태로 복원되는 경우, 상기 플래그 발생부는 상기 디지털 제어부보다 늦게 동작을 개시한다.Accordingly, the wireless electronic label according to the present invention is turned off due to the momentary instability of the supply power just before reproducing and returning the tag signal from the reader, and then back on again for a short time. When restored, the flag generator starts operation later than the digital controller.
따라서, 상기 디지털 제어부가 동작을 다시 초기화한 직후에 알 수 없는 논리 상태의 플래그 신호를 상기 플래그 발생부에 입력하더라도, 상기 플래그 발생부 는 이에 반응하지 않는다. 또한, 상기 플래그 발생부는 오프(off) 상태 직전에 재생하여 저장하였던 논리 상태의 플래그 신호를 상기 제어부에 출력한다. 즉, 오프(off) 상태 직전에 재생하여 저장하였던 논리 상태의 플래그 신호가 상기 디지털 제어부를 통하여 리더에 반송될 수 있다. 이에 따라, 자신이 전송하였던 논리 상태의 플래그 신호를 리더가 반송받아 통신이 재개될 수 있다.Therefore, even if the digital control unit inputs a flag signal of an unknown logic state immediately after re-initializing the operation, the flag generation unit does not respond to it. The flag generator outputs a flag signal of a logic state which has been reproduced and stored immediately before the off state to the controller. That is, a flag signal of a logic state that has been reproduced and stored immediately before the off state can be conveyed to the reader through the digital controller. Accordingly, the reader may receive a flag signal of a logic state transmitted by the reader and communication may be resumed.
결과적으로, 전원 공급의 순간적인 불안정으로 인하여 어느 한 무선 전자 라벨과 리더 사이의 통신이 비효율적으로 지연되는 문제점이 개선될 수 있다.As a result, the problem that communication between any one of the wireless electronic labels and the reader is inefficiently delayed due to instantaneous instability of the power supply can be improved.
이하, 첨부된 도면들과 함께 본 발명에 따른 바람직한 실시예가 상세히 설명된다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 일 실시예의 제어 방법이 채용된 무선 전자 라벨로서의 알에프아이디(RFID) 태그(1)의 내부 구조를 보여준다. Fig. 1 shows the internal structure of an
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예의 무선 전자 라벨로서의 알에프아이디(RFID) 태그(1)에 있어서, 기판(14) 위에 집적회로 소자(11) 및 안테나(12)가 형성된다. 안테나(12)는 집적회로 소자(11)를 통하여 단일 폐루프를 형성한다. 즉, 연결 단자들(13a,13b) 사이의 연결 영역(CN)에 도체가 연결된다.Referring to FIG. 1, in an
도 2는 도 1의 집적회로 소자(11)의 내부 구성을 보여준다.FIG. 2 shows an internal configuration of the
도 3은 도 2의 회로에서 발생되는 각 부의 파형들을 보여준다. 도 3에서, 참조 부호 VDC2는 도 2의 전원 공급부(21)로부터의 직류 전압을, SRS1은 도 2의 리셋 신호 발생부(1111)로부터의 리셋 신호를, SRS2는 도 2의 신호 지연부(1113)로터의 지연된 리셋 신호를, Sdf는 도 2의 디지털 제어부(1119)로부터 도 2의 플래그 발생부(1123)에 전송될 플래그 신호의 일 예를, 그리고 Sfd는 도 2의 플래그 발생부(1123)으로부터 도 2의 디지털 제어부(1119)에 전송될 플래그 신호의 일 예를 각각 가리킨다. 도 3의 t1 시점은 무선 전자 라벨로서의 알에프아이디(RFID) 태그(1)의 전원 문제로 인하여 전체적으로 오프(off) 상태가 되는 시점을 가리킨다. t2 시점은, 알에프아이디(RFID) 태그(1)의 전원(VDC2)이 복구됨으로 인하여, 신호 발생부(1111)로부터의 리셋 신호(SRS1)가 온(on) 상태가 되고, 이로 인하여 디지털 제어부(1119)가 온(on) 상태가 되는 시점을 가리킨다. t2 시점은, 신호 지연부(1113)로터의 지연된 리셋 신호가 온(on) 상태가 됨으로 인하여, 플래그 발생부(1123)가 온(on) 상태가 되는 시점을 가리킨다. 3 shows waveforms of respective parts generated in the circuit of FIG. 2. In FIG. 3, reference numeral V DC2 denotes a DC voltage from the
도 2 및 3을 참조하면, 도 1의 집적회로 소자(11)는 디지털 제어부(1119), 전원 공급부(21), 클럭 펄스 발생부(1115), 리셋 신호 발생부(1111), 신호 지연부(1113), 복조부(1107), 변조부(1109), 메모리(1121), 승압부(1117), 및 플래그 발생부(1123)를 포함한다.2 and 3, the
전원 공급부(21)는 안테나(12)로부터의 교류 전압(VA)을 설정 직류 전압(VDC2)으로 변환하여 디지털 제어부(1119)에 제공한다. 클럭 펄스 발생부(1115)는 전원 공급부(21)로부터의 직류 전압(VDC2)이 정격 레벨보다 낮은 제1 레벨 이상 으로 상승하는 동안(예를 들어, t2 직전의 시점부터 그 이후의 시간 동안)에 클럭 펄스들(SCK)을 디지털 제어부(1119)에 제공한다. 리셋 신호 발생부(1111)는, 전원 공급부(21)로부터의 직류 전압이 정격 레벨 이상으로 상승하는 동안(예를 들어, t2 시점부터 그 이후의 시간 동안) 높은 논리 상태의 리셋 신호(SRS1)를 발생시켜서, 디지털 제어부(1119)에 제공한다. The
전원 공급부(21)로부터의 설정 직류 전압(VDC2)은 신호 지연부(1113)에도 제공된다.The set direct current voltage V DC2 from the
신호 지연부(1113)는 리셋 신호 발생부(1111)로부터의 리셋 신호(SRS1)를 약 20 마이크로-초(μs) 동안(t2~t3) 지연시켜서 지연된 리셋 신호(SRS2)를 플래그 발생부(1123)에 전원으로서 제공한다. 즉, 플래그 발생부(1123)는 디지털 제어부(1119)보다 늦게 동작을 개시한다.The
따라서, 본 발명에 따른 무선 전자 라벨이 리더로부터의 태그 신호를 재생하여 반송하기 직전에 공급 전원의 순간적인 불안정으로 인하여 오프(off) 상태로 전환되었다가(t1 시점), 짧은 시간 동안(t1~t2)에 다시 온(on) 상태로 복원되는 경우, 플래그 발생부(1123)는 디지털 제어부(1119)보다 늦게 동작을 개시한다.Therefore, the wireless electronic label according to the present invention is switched off (t1 time) due to instantaneous instability of the supply power just before reproducing and conveying the tag signal from the reader (t1 time point), and for a short time (t1 ~ When it is restored to the on state again at t2, the
따라서, 디지털 제어부(1119)가 동작을 다시 초기화한 직후에 알 수 없는 논리 상태의 플래그 신호를 플래그 발생부(1123)에 입력하더라도, 플래그 발생부(1123)는 이에 반응하지 않는다. 또한, 플래그 발생부(1123)는 오프(off) 상태 직전(t1보다 앞선 시점)에 재생하여 저장하였던 논리 상태의 플래그 신호를 디지털 제어부(1119)에 출력한다. 즉, 오프(off) 상태 직전(t1보다 앞선 시점)에 재생하여 저장하였던 논리 상태의 플래그 신호가 디지털 제어부(1119)를 통하여 리더에 반송될 수 있다. 이에 따라, 자신이 전송하였던 논리 상태의 플래그 신호를 리더가 반송받아 통신이 재개될 수 있다.Therefore, even if the
결과적으로, 전원 공급의 순간적인 불안정으로 인하여 어느 한 무선 전자 라벨과 리더 사이의 통신이 비효율적으로 지연되는 문제점이 개선될 수 있다.As a result, the problem that communication between any one of the wireless electronic labels and the reader is inefficiently delayed due to instantaneous instability of the power supply can be improved.
한편, 복조부(1107)는 안테나(12)로부터의 입력 신호(SIN1)를 복조하여, 복조된 입력 신호(SIN2)를 디지털 제어부(1119)에 제공한다. 또한, 변조부(1109)는 디지털 제어부(1119)로부터의 출력 신호(SOUT1)를 변조하여, 변조된 출력 신호(SOUT2)를 안테나(12)에 제공한다.Meanwhile, the
메모리(1121) 예를 들어, 비휘발성 메모리로서의 이이피롬(EEPROM: Electrically Erasable & Programmable Read Only Memory)에는 식별 정보가 저장된다.
전원 공급부(21)로부터의 약 1.7 볼트(V)의 설정 직류 전압(VDC2)은 메모리(1121)에 제공된다. 하지만, 복조부(1107)로부터의 데이터를 메모리(1121)에 기록하기 위하여 보다 높은 전압 예를 들어, 3.3 볼트(V)의 전압이 필요하다. 이에 따라, 승압부(1117) 예를 들어, 전하 펌프(Charge pump)는 전원 공급부(21)로부터 의 설정 직류 전압(VDC2)을 승압하여 메모리(1121)의 기록 동작 전압(VDC3)을 메모리(1121)에 제공한다.A set direct current voltage V DC2 of about 1.7 volts V from the
한편, 전원 공급부(21)는 정류부(1101), 전압 제한부(1105) 및 강압부(1103)를 포함한다.Meanwhile, the
정류부(1101)는 안테나(12)로부터의 교류 전압(VAC)을 제1 직류 전압(VDC1)으로 변환한다. 여기에서 제1 직류 전압(VDC1)은 증배된 전압으로서 약 3.6 볼트(V)이다. The
전압 제한부(1105)는 정류부(1101)로부터의 제1 직류 전압(VDC1)의 레벨이 상한 레벨 예를 들어, 약 3.6 볼트(V)를 초과하지 않도록 제한한다.The
강압부(1103)는 정류부(1101)로부터의 제1 직류 전압(VDC1)을 강압하여 약 1.7 볼트(V)의 설정 직류 전압(VDC2)을 디지털 제어부(1119)에 제공한다. The step-down
도 4는 도 2의 신호 지연부(1113)의 일 예를 보여준다. 도 5는 도 4의 회로에서 각 부의 파형들을 보여준다. 도 4 및 5에서 참조 부호 SRS1은 도 2의 리셋 신호 발생부(1111)로부터의 리셋 신호를, SRS2는 도 2의 신호 지연부(1113)로터의 지연된 리셋 신호를, 그리고 VC1은 캐패시터(C1)의 전압을 각각 가리킨다.4 illustrates an example of the
도 5의 t1 시점은 도 2의 리셋 신호 발생부(1111)로부터의 리셋 신호(SRS1)의 상승 시점을 가리킨다. 도 5의 t2 시점은 도 2의 신호 지연부(1113)로부터의 지연 된 리셋 신호(SRS2)의 상승 시점을 가리킨다. 도 5의 t3 시점은 도 2의 리셋 신호 발생부(1111)로부터의 리셋 신호(SRS1)의 하강 시점, 신호 지연부(1113)로부터의 지연된 리셋 신호(SRS2)의 하강 시점, 및 캐패시터(C41)의 전압의 상승 시점을 가리킨다. A time point t1 of FIG. 5 indicates a time point of rising of the reset signal S RS1 from the
도 4 및 5를 참조하면, 도 2의 신호 지연부(1113)는 제1 스위치(PM41), 저항부(NM41), 캐패시터(C41) 및 인버터(INV41)를 포함한다.4 and 5, the
제1 스위치(PM41)는 전원 공급부(도 2의 21)로부터의 설정 직류 전압(VDC2)을 공급받고, 리셋 신호 발생부(도 2의 1111)로부터 리셋 신호(SRS1)가 높은 논리 상태인 동안(t1~t3)에 오프(Off)된다.The first switch PM41 receives a set DC voltage V DC2 from the
저항부(NM41)는 제1 스위치(PM41)와 접지단 사이에서 전류 통로를 제공한다.The resistor portion NM41 provides a current path between the first switch PM41 and the ground terminal.
캐패시터(C41)는 제1 스위치(PM41)와 접지단 사이에서 충방전을 수행한다.The capacitor C41 performs charging and discharging between the first switch PM41 and the ground terminal.
인버터(INV41)는, 전원 공급부(도 2의 21)로부터의 설정 직류 전압(VDC2)을 공급받고, 캐패시터(C41)의 전압(VC1)에 대한 반전 디지털 신호(SRS2)를 발생시킨다.The inverter INV41 is supplied with the set DC voltage V DC2 from the
제1 스위치(PM41)는 P-채널 전계효과트랜지스터이다. 제1 스위치(PM41)로서의 P-채널 전계효과트랜지스터의 소오스(Source)에 전원 공급부(21)로부터의 설정 직류 전압(VDC2)이 인가된다. 제1 스위치(PM41)로서의 P-채널 전계효과트랜지스터의 게이트(Gate)에 리셋 신호 발생부(1111)로부터 리셋 신호(SRS1)가 인가된다. 제 1 스위치(PM41)로서의 P-채널 전계효과트랜지스터의 드레인(Drain)은 인버터(INV41)의 입력 단자, 저항부(NM41) 및 캐패시터(C41)에 연결된다. The first switch PM41 is a P-channel field effect transistor. The set DC voltage V DC2 from the
저항부(NM41)는 N-채널 전계효과트랜지스터이다. The resistor portion NM41 is an N-channel field effect transistor.
저항부(NM41)로서의 N-채널 전계효과트랜지스터의 소오스(Source)는 접지된다. 저항부(NM41)로서의 N-채널 전계효과트랜지스터의 게이트(Gate)에 정극성의 기준 전압(SREF)이 인가된다. 저항부(NM41)로서의 N-채널 전계효과트랜지스터의 드레인(Drain)은 제1 스위치(PM41)로서의 P-채널 전계효과트랜지스터의 드레인(Drain)에 연결된다.The source of the N-channel field effect transistor as the resistor portion NM41 is grounded. A positive reference voltage S REF is applied to a gate of the N-channel field effect transistor as the resistor portion NM41. The drain of the N-channel field effect transistor as the resistor portion NM41 is connected to the drain of the P-channel field effect transistor as the first switch PM41.
이에 따라, 저항부(NM41)의 게이트에 순방향 바이어스가 인가되므로, 제1 스위치(PM41)가 온(On) 상태인 동안에 저항부(NM41)는 일정한 저항값을 가지면서 전류 통로를 형성한다.Accordingly, since the forward bias is applied to the gate of the resistor portion NM41, the resistor portion NM41 forms a current path while having a constant resistance value while the first switch PM41 is in an on state.
0 ~ t1 시간에서, 도 2의 리셋 신호 발생부(1111)로부터의 리셋 신호(SRS1)가 낮은 논리 상태이므로, 제1 스위치(PM41)는 온(On)된다. 이에 따라, 제1 스위치(PM41)로부터 저항부(NM41)로 전류가 흐르고, 캐패시터(C41)의 전압(VC41)은 충전에 의하여 약 1.7 볼트(V)의 설정 직류 전압(VDC2)을 유지한다. At
t1 ~ t3 시간에서, 도 2의 리셋 신호 발생부(1111)로부터의 리셋 신호(SRS1)가 높은 논리 상태이므로, 제1 스위치(PM41)는 오프(Off)된다. 이에 따라, 캐패시터(C41)의 전압(VC41)은 방전에 의하여 낮아진다. 이와 같이 캐패시터(C41)가 방전 하는 도중에 캐패시터(C41)의 전압(VC41)이 인버터(INV41)의 문턱 전압(threshold voltage)에 다다르면, 인버터(INV41)의 출력 신호(SRS2) 즉, 도 2의 신호 지연부(1113)로터의 지연된 리셋 신호(SRS2)의 논리 상태가 낮은 논리 상태에서 높은 논리 상태로 전환한다.At times t1 to t3, since the reset signal S RS1 from the
상기와 같은 구성 및 동작에 의하여, 신호 지연부(1113)는 리셋 신호 발생부(1111)로부터의 리셋 신호(SRS1)를 약 20 마이크로-초(μs) 동안(t2~t3 또는 t7~t8) 지연시켜서 지연된 리셋 신호(SRS2)를 플래그 발생부(도 2의 1123)에 제공한다. By the above-described configuration and operation, the
잘 알려져 있는 바와 같이, 캐패시터(C41)의 방전 속도는 저항부(NM41)의 저항값과 캐패시터(C41)의 캐패시턴스의 곱에 반비례한다. 따라서, 저항부(NM41)의 저항값 및 캐패시터(C41)의 캐패시턴스를 조정함에 의하여 지연 시간(t1~t2)이 조정될 수 있음은 물론이다.As is well known, the discharge rate of the capacitor C41 is inversely proportional to the product of the resistance value of the resistor portion NM41 and the capacitance of the capacitor C41. Therefore, the delay time t1 to t2 may be adjusted by adjusting the resistance value of the resistor NM41 and the capacitance of the capacitor C41.
도 6은 도 2의 신호 지연부(1113)의 또다른 예를 보여준다. 도 6에서 도 4와 동일한 참조 부호는 동일한 기능의 대상을 가리킨다.6 illustrates another example of the
따라서, 도 4의 신호 지연부(1113)의 회로에 비하여 도 6의 신호 지연부(1113)의 회로가 갖는 차이점은, 캐패시터(C41)가 전계효과트랜지스터로써 형성되는 것이다. 이 캐패시터(C41)로서의 전계효과트랜지스터의 소오스(Source) 및 드레인(Drain)은 접지된다. 또한, 게이트(Gate)가 인버터(INV41)의 입력 단자에 연결된다.Therefore, a difference between the circuit of the
도 6과 같은 회로에 의하면 도 4의 회로에 비하여 집적 회로의 제조가 용이하다는 잇점이 있다. 물론 도 6의 회로의 동작은 도 4를 참조하여 설명된 바와 같다. According to the circuit of FIG. 6, an integrated circuit can be manufactured more easily than the circuit of FIG. 4. Of course, the operation of the circuit of FIG. 6 is as described with reference to FIG. 4.
도 7은 도 2의 태그 발생부(1123)의 일 예를 보여준다. 도 7에서 도 2와 동일한 참조 부호는 동일한 기능의 대상을 가리킨다.FIG. 7 shows an example of the
도 2 및 7을 참조하면, 도 2의 태그 발생부(1123)는 제1 인버터(INV71), 제2 인버터(INV72), 다이오드(NM71), 캐패시터(C71), 및 제2 N-형 전계효과트랜지스터(NM71)를 포함한다. 2 and 7, the
제1 인버터(INV71)는 신호 지연부(1113)로부터의 지연된 리셋 신호(SRS2)를 전원으로서 공급받아 동작하여, 디지털 제어부(1119)로부터의 플래그 신호(Sdf)를 반전시킨다.The first inverter INV71 operates by receiving the delayed reset signal S RS2 from the
제2 인버터(INV72)는, 신호 지연부(1113)로부터의 지연된 리셋 신호(SRS2)를 전원으로서 공급받아 동작하여, 제1 인버터(INV71)로부터의 플래그 신호를 반전시킨다.The second inverter INV72 operates by receiving the delayed reset signal S RS2 from the
다이오드(NM71)는, 제2 인버터(INV72)와 디지털 제어부(1119)의 플래그 입력단 사이에 연결되어, 제2 인버터(INV72)로부터의 출력 신호가 높은 논리 상태이면 턴-온(turn on)되고, 낮은 논리 상태이면 턴-오프(turn off)된다.The diode NM71 is connected between the second inverter INV72 and the flag input terminal of the
캐패시터(C71)는, 디지털 제어부(1119)의 플래그 입력단과 접지단 사이에 연 결되어, 다이오드(NM71)로부터의 플래그 신호가 높은 논리 상태이면 충전된다.The capacitor C71 is connected between the flag input terminal and the ground terminal of the
제2 N-형 전계효과트랜지스터(NM71)는 그 드레인(D)이 디지털 제어부(1119)의 플래그 입력단에 연결되고, 그 소오스(S)가 접지단에 연결되며, 그 게이트가 제1 인버터(INV71)의 출력단에 연결되어, 제1 인버터(INV71)로부터의 플래그 신호가 높은 논리 상태이면 턴-온(turn on)되어 캐패시터(C71)를 방전시킨다.In the second N-type field effect transistor NM71, the drain D thereof is connected to the flag input terminal of the
다이오드(NM71)는 제1 N-형 전계효과트랜지스터로 되어 있다. 다이오드(NM71)로서의 제1 N-형 전계효과트랜지스터에서, 드레인(D)과 게이트가 제2 인버터(INV72)의 출력단에 연결되고, 소오스(S)가 디지털 제어부(1119)의 플래그 입력단에 연결된다. The diode NM71 is a first N-type field effect transistor. In the first N-type field effect transistor as the diode NM71, the drain D and the gate are connected to the output terminal of the second inverter INV72, and the source S is connected to the flag input terminal of the
도 8은 도 7의 다이오드(NM71)로서의 통상적인 N-형 전계효과트랜지스터의 구조를 보여준다. 도 8에서 참조 부호 B는 P+ 이온 영역의 바디(Body) 단을, D는 N+ 이온 영역의 드레인을, G는 게이트를, 그리고 S는 N+ 이온 영역의 소오스를 각각 가리킨다. FIG. 8 shows the structure of a conventional N-type field effect transistor as the diode NM71 of FIG. In FIG. 8, reference numeral B denotes a body end of the P + ion region, D denotes a drain of the N + ion region, G denotes a gate, and S denotes a source of the N + ion region, respectively.
도 9는 도 8의 도면을 등가적으로 보여준다. 9 equivalently shows the diagram of FIG. 8.
도 10은 도 9의 등가 회로에 의하여 도 7의 캐패시터(C71)에 충전되었던 전하들이 누설됨을 보여준다. FIG. 10 shows that the charges that have been charged in the capacitor C71 of FIG. 7 are leaked by the equivalent circuit of FIG. 9.
도 11은 도 10의 누설에 의하여 도 7의 캐패시터(C71)의 전위가 보다 빠르게 낮아짐을 보여준다. 도 11에서 도 3과 동일한 참조 부호는 동일한 기능의 대상을 가리킨다. FIG. 11 shows that the potential of the capacitor C71 of FIG. 7 is lowered faster by the leakage of FIG. 10. In FIG. 11, the same reference numerals as used in FIG. 3 indicate objects of the same function.
도 8 내지 10을 참조하면, 도 7의 다이오드(NM71)로서 통상적인 N-형 전계효 과트랜지스터가 사용될 경우, P+ 이온 영역의 바디(Body) 단(B)이 접지되어야 함에 따라, 접지단과 드레인 사이에 제1 기생 다이오드(JDD1)가 자생하고, 접지단과 소오스 사이에 제2 기생 다이오드(JDS1)가 자생함을 알 수 있다. 즉, 정상적인 다이오드(MD1) 외에도 기생 다이오드들(JDD1, JDS1)이 생성됨을 알 수 있다.8 to 10, when a conventional N-type field effect overtransistor is used as the diode NM71 of Fig. 7, the body end B of the P + ion region should be grounded, so that the ground end and the drain It can be seen that the first parasitic diode JD D1 grows in between, and the second parasitic diode JD S1 grows between the ground terminal and the source. That is, it can be seen that parasitic diodes JD D1 and JD S1 are generated in addition to the normal diode MD 1 .
따라서, 충전되어 있는 캐패시터(C71)의 특성상, 접지단과 소오스 사이에 제2 기생 다이오드(JDS1)로부터 캐패시터(C71)로 전류가 흐를 가능성이 없지만, 접지단으로부터 제1 기생 다이오드(JDD1)를 통하여 전류가 흐를 가능성이 있다. 예를 들어, 제1 기생 다이오드(JDD1)의 전위가 접지단보다 낮아지는 경우가 발생될 경우, 캐패시터(C71)에 충전되어 있는 전하들이 접지단으로부터 제1 기생 다이오드(JDD1)를 통하여 누설될 수 있다(도 10의 화살표 참조).Therefore, due to the characteristics of the capacitor C71 being charged, there is no possibility that current flows from the second parasitic diode JD S1 to the capacitor C71 between the ground terminal and the source, but the first parasitic diode JD D1 is removed from the ground terminal. There is a possibility that current flows through it. For example, when the potential of the first parasitic diode JD D1 becomes lower than the ground terminal, the charges charged in the capacitor C71 leak from the ground terminal through the first parasitic diode JD D1 . (See arrow in FIG. 10).
따라서, 상기와 같은 누설로 인하여, 도 11에 도시된 바와 같이(Sfd 신호 참조), 전원 공급의 중단 동안에 플래그 발생부(도 2의 1123)에서 높은 논리 상태의 플래그 신호를 저장하는 시간이 짧아지는 문제점이 있다.Therefore, due to such leakage, as shown in FIG. 11 (see the Sfd signal), the time for storing the flag signal of the high logic state in the flag generator (1123 in FIG. 2) is shortened during the interruption of power supply. There is a problem.
도 12는 도 7의 다이오드(NM71)로서의 제1 N-형 전계효과트랜지스터가 무선주파수(Radio Frequency)용 N-형 전계효과트랜지스터인 경우의 내부 구조를 보여준다. FIG. 12 shows an internal structure when the first N-type field effect transistor as the diode NM71 of FIG. 7 is an N-type field effect transistor for radio frequency.
도 12를 참조하여, 도 7의 다이오드(NM71)로서의 무선주파수(Radio Frequency)용 N-형 전계효과트랜지스터의 구조를 설명하면 다음과 같다.Referring to FIG. 12, a structure of an N-type field effect transistor for a radio frequency as the diode NM71 of FIG. 7 will be described.
깊은 N-형 우물(DNW, Deep N-Well, 124)은 기저 P-형 기판(123) 위에 형성된다. 또한, 깊은 N-형 우물(124)에서 상부 P-형 기판이 형성된다.Deep N-type wells (DNW) 124 are formed over the underlying P-
드레인(Drain, D)은 N+ 이온 영역으로서 상부 P-형 기판에서 형성된다.Drain D is formed in the upper P-type substrate as an N + ion region.
소오스(Source, S)도 N+ 이온 영역으로서 상부 P-형 기판에서 형성된다.Sources (S) are also formed in the upper P-type substrate as N + ion regions.
게이트(Gate, G)는 드레인(D)과 소오스(S) 사이에 형성된다.Gates G and G are formed between the drain D and the source S.
드레인(D)과 깊은 N-형 우물(124)의 일측 사이에는 제1 방호 고리(Guard Ring, 121)가 형성된다.A
그리고, 소오스(S)와 상기 깊은 N-형 우물(124)의 타측 사이에는 제2 방호 고리(Guard Ring, 122)가 형성된다.A
제1 방호 고리(Guard Ring, 121)는 제1 N-형 우물(N-Well), 제1 N+ 이온 영역, 및 제1 바디(Body) 영역(B)을 포함한다. 제1 N-형 우물(N-Well)은 드레인(D)과 깊은 N-형 우물(124)의 일측 사이에 형성된다. 제1 N+ 이온 영역은 제1 N-형 우물(N-Well) 안에 매립된다. 제1 바디(Body) 영역(B)은 제1 N-형 우물(N-Well)과 드레인(D) 사이에 형성된 제1 바디(Body) 영역을 포함한다. The
여기에서, 제1 바디(Body) 영역(B)은 드레인(D)에 연결된다. Here, the first body region B is connected to the drain D.
제2 방호 고리(Guard Ring,122)는 제2 N-형 우물(N-Well), 제2 N+ 이온 영역, 및 제2 바디(Body) 영역을 포함한다. 제2 N-형 우물(N-Well)은 소오스(S)와 깊은 N-형 우물(124)의 타측 사이에 형성된다. 제2 N+ 이온 영역은 제2 N-형 우물(N-Well) 안에 매립된다. 제2 바디(Body) 영역(B)은 제2 N-형 우물(N-Well)과 소오스(S) 사이에 형성된다.The
따라서, 상기와 같은 무선주파수(Radio Frequency)용 N-형 전계효과트랜지스터(NM71)의 구조를 참조하면, 제1 바디(Body) 영역(B)은 드레인(D)에 연결될 수 있음을 알 수 있다. Accordingly, referring to the structure of the N-type field effect transistor NM71 for radio frequency, it can be seen that the first body region B may be connected to the drain D. FIG. .
도 13은 도 12의 도면을 등가적으로 보여준다. 도 14는 도 13의 등가 회로에 의하여 도 7의 캐패시터에 충전되었던 전하들이 누설되지 않음을 보여준다. 도 15는 도 14와 같이 누설되지 않음에 의하여 도 7의 캐패시터(C71)의 전위가 보다 늦게 낮아짐을 보여주는 타이밍도이다. 도 15에서 도 3과 동일한 참조 부호는 동일한 기능의 대상을 가리킨다. 13 equivalently shows the diagram of FIG. 12. FIG. 14 shows that the charges charged to the capacitor of FIG. 7 are not leaked by the equivalent circuit of FIG. 13. FIG. 15 is a timing diagram illustrating that the potential of the capacitor C71 of FIG. 7 is lowered later by not leaking as shown in FIG. 14. In FIG. 15, the same reference numerals as used in FIG. 3 indicate objects of the same function.
도 12 내지 14를 참조하면, 다이오드(NM71)로서 무선주파수(Radio Frequency)용 N-형 전계효과트랜지스터(NM71)가 사용될 경우, P+ 이온 영역의 바디(Body) 영역(B)이 드레인(D)에 연결될 수 있다.12 to 14, when the N-type field effect transistor NM71 for radio frequency is used as the diode NM71, the body region B of the P + ion region is the drain D. Can be connected to.
따라서, 드레인(D)과 소오스(S) 사이의 기생 다이오드(JDS1)만 자생함을 알 수 있다. 즉, 정상적인 다이오드(MD1) 외에 1 개의 기생 다이오드(JDS1)이 생성됨을 알 수 있다. 또한, 이 기생 다이오드(JDS1)가 정상적인 다이오드(MD1)와 동일하게 결선된 상태이므로, 아무런 누설 전류가 흐르지 않는다.Accordingly, it can be seen that only the parasitic diode JD S1 between the drain D and the source S grows native. That is, it can be seen that one parasitic diode JD S1 is generated in addition to the normal diode MD 1 . In addition, since the parasitic diode JD S1 is connected in the same manner as the normal diode MD 1 , no leakage current flows.
따라서, 상기와 같이 아무런 누설 전류가 흐르지 않음으로 인하여, 도 15에 도시된 바와 같이(Sfd 신호 참조), 전원 공급의 중단 동안에 플래그 발생부(도 2의 1123)에서 높은 논리 상태의 플래그 신호를 저장하는 시간이 짧아지지 않음을 알 수 있다.Therefore, since no leakage current flows as described above, as shown in FIG. 15 (see the Sfd signal), the flag generator (1123 of FIG. 2) stores the high logic state flag signal during the interruption of power supply. It can be seen that the time to do not shorten.
도 16은 도 2의 태그 발생부(1123)의 또다른 예를 보여준다. 도 16에서 도 7과 동일한 참조 부호는 동일한 기능의 대상을 가리킨다. 따라서, 도 7에 대한 도 16의 유일한 차이점은 도 16의 다이오드(PM71)로서 P-형 전계효과트랜지스터가 사용되었다는 것이다. FIG. 16 illustrates another example of the
도 16을 참조하면, 다이오드(PM71)로서의 제1 P-형 전계효과트랜지스터에서, 소오스(S)가 제2 인버터(INV72)의 출력단에 연결되고, 드레인(D)과 게이트가 디지털 제어부(1119)의 플래그 입력단에 연결된다. Referring to FIG. 16, in the first P-type field effect transistor as the diode PM71, the source S is connected to the output terminal of the second inverter INV72, and the drain D and the gate are connected to the
도 17은 도 16의 다이오드(PM71)로서의 P-형 전계효과트랜지스터의 구조를 보여준다. 도 18은 도 17의 도면을 등가적으로 보여준다. 도 19는 도 18의 등가 회로에 의하여 도 16의 캐패시터(C71)에 충전되었던 전하들이 누설되지 않음을 보여준다.FIG. 17 shows the structure of a P-type field effect transistor as the diode PM71 of FIG. 18 equivalently shows the diagram of FIG. 17. FIG. 19 shows that the charges charged to the capacitor C71 of FIG. 16 are not leaked by the equivalent circuit of FIG. 18.
도 16 내지 19를 참조하면, 다이오드(PM71)로서의 제1 P-형 전계효과트랜지스터는, 기저 P-형 기판(171), N-형 우물(172), 드레인(D), 소오스(S), 게이트(G), 및 바디(Body) 영역을 포함한다.16 to 19, the first P-type field effect transistor as the diode PM71 includes a base P-
기저 P-형 기판(171) 위에는 N-형 우물(172)이 형성된다.An N-
N-형 우물(172) 안에서는 P+ 이온 영역으로서의 드레인(D)과 소오스(S)가 각각 형성된다. 드레인(D)과 소오스(S) 사이에는 게이트(G)가 형성된다. 또한, N-형 우물(172) 안에서는 N+ 이온 영역으로서 바디(Body) 영역(B)이 형성된다. 바디(Body) 영역(B)은 드레인(D)에 연결된다.In the N-
상기와 같이, 다이오드(PM71)로서 P-형 전계효과트랜지스터가 사용될 경우, N+ 이온 영역의 바디(Body) 영역(B)이 드레인(D)에 연결될 수 있다.As described above, when the P-type field effect transistor is used as the diode PM71, the body region B of the N + ion region may be connected to the drain D.
결과적으로, 드레인(D)과 소오스(S) 사이의 기생 다이오드(JDS2)만 자생함을 알 수 있다. 즉, 정상적인 다이오드(MD1) 외에 1 개의 기생 다이오드(JDS2)이 생성됨을 알 수 있다. 또한, 이 기생 다이오드(JDS2)가 정상적인 다이오드(MD1)와 동일하게 결선된 상태이므로, 아무런 누설 전류가 흐르지 않는다.As a result, it can be seen that only the parasitic diode JD S2 between the drain D and the source S grows native. That is, it can be seen that one parasitic diode JD S2 is generated in addition to the normal diode MD 1 . In addition, since the parasitic diode JD S2 is connected in the same manner as the normal diode MD 1 , no leakage current flows.
따라서, 상기와 같이 아무런 누설 전류가 흐르지 않음으로 인하여, 도 15에 도시된 바와 같이(Sfd 신호 참조), 전원 공급의 중단 동안에 플래그 발생부(도 2의 1123)에서 높은 논리 상태의 플래그 신호를 저장하는 시간이 짧아지지 않음을 알 수 있다.Therefore, since no leakage current flows as described above, as shown in FIG. 15 (see the Sfd signal), the flag generator (1123 of FIG. 2) stores the high logic state flag signal during the interruption of power supply. It can be seen that the time to do not shorten.
이상 설명된 바와 같이, 본 발명에 따른 무선 전자 라벨의 제어 방법 및 이를 채용한 무선 전자 라벨에 의하면, 신호 지연부로부터의 지연된 리셋 신호가 상기 플래그 발생부의 전원으로서 인가된다. 즉, 플래그 발생부는 디지털 제어부보다 늦게 동작을 개시한다.As described above, according to the method for controlling the radio electronic label according to the present invention and the radio electronic label employing the same, the delayed reset signal from the signal delay unit is applied as a power source of the flag generation unit. In other words, the flag generator starts operation later than the digital controller.
따라서, 본 발명에 따른 무선 전자 라벨이 리더로부터의 태그 신호를 재생하여 반송하기 직전에 공급 전원의 순간적인 불안정으로 인하여 오프(off) 상태로 전환되었다가, 짧은 시간 동안에 다시 온(on) 상태로 복원되는 경우, 플래그 발생부는 디지털 제어부보다 늦게 동작을 개시한다.Accordingly, the wireless electronic label according to the present invention is turned off due to the momentary instability of the supply power just before reproducing and returning the tag signal from the reader, and then back on again for a short time. When restored, the flag generator starts operation later than the digital controller.
따라서, 디지털 제어부가 동작을 다시 초기화한 직후에 알 수 없는 논리 상태의 플래그 신호를 플래그 발생부에 입력하더라도, 플래그 발생부는 이에 반응하 지 않는다. 또한, 플래그 발생부는 오프(off) 상태 직전에 재생하여 저장하였던 논리 상태의 플래그 신호를 디지털 제어부에 출력한다. 즉, 오프(off) 상태 직전에 재생하여 저장하였던 논리 상태의 플래그 신호가 디지털 제어부를 통하여 리더에 반송될 수 있다. 이에 따라, 자신이 전송하였던 논리 상태의 플래그 신호를 리더가 반송받아 통신이 재개될 수 있다.Therefore, even if the digital control section inputs a flag signal in an unknown logic state immediately after re-initializing the operation, the flag generation section does not respond to it. The flag generation section outputs a flag signal of a logic state, which has been reproduced and stored immediately before the off state, to the digital controller. That is, the flag signal of the logic state which was reproduced and stored immediately before the off state can be conveyed to the reader through the digital control unit. Accordingly, the reader may receive a flag signal of a logic state transmitted by the reader and communication may be resumed.
결과적으로, 전원 공급의 순간적인 불안정으로 인하여 어느 한 무선 전자 라벨과 리더 사이의 통신이 비효율적으로 지연되는 문제점이 개선될 수 있다.As a result, the problem that communication between any one of the wireless electronic labels and the reader is inefficiently delayed due to instantaneous instability of the power supply can be improved.
본 발명은, 상기 실시예에 한정되지 않고, 청구범위에서 정의된 발명의 사상 및 범위 내에서 당업자에 의하여 변형 및 개량될 수 있다. The present invention is not limited to the above embodiments, but may be modified and improved by those skilled in the art within the spirit and scope of the invention as defined in the claims.
도 1은 본 발명의 일 실시예의 제어 방법이 채용된 무선 전자 라벨로서의 알에프아이디(RFID) 태그의 내부 구조를 보여주는 평면도이다. 1 is a plan view showing an internal structure of an RFID tag as a wireless electronic label employing a control method according to an embodiment of the present invention.
도 2는 도 1의 집적회로 소자의 내부 구성을 보여주는 블록도이다.FIG. 2 is a block diagram illustrating an internal configuration of the integrated circuit device of FIG. 1.
도 3은 도 2의 회로에서 발생되는 각 신호의 파형들을 보여주는 타이밍도이다.3 is a timing diagram showing waveforms of each signal generated in the circuit of FIG. 2.
도 4는 도 2의 신호 지연부의 일 예를 보여주는 회로도이다.4 is a circuit diagram illustrating an example of the signal delay unit of FIG. 2.
도 5는 도 4의 회로에서 각 부의 파형들을 보여주는 타이밍도이다.FIG. 5 is a timing diagram showing waveforms of each unit in the circuit of FIG. 4.
도 6은 도 2의 신호 지연부의 또다른 예를 보여주는 회로도이다. 6 is a circuit diagram illustrating still another example of the signal delay unit of FIG. 2.
도 7은 도 2의 태그 발생부의 일 예를 보여주는 회로도이다. FIG. 7 is a circuit diagram illustrating an example of a tag generator of FIG. 2.
도 8은 도 7의 다이오드로서의 통상적인 N-형 전계효과트랜지스터의 구조를 보여주는 도면이다.FIG. 8 shows the structure of a conventional N-type field effect transistor as the diode of FIG.
도 9는 도 8의 도면을 등가적으로 보여주는 회로도이다.FIG. 9 is an equivalent circuit diagram of the diagram of FIG. 8.
도 10은 도 9의 등가 회로에 의하여 도 7의 캐패시터에 충전되었던 전하들이 누설됨을 보여주는 회로도이다.FIG. 10 is a circuit diagram illustrating leakage of charges charged in the capacitor of FIG. 7 by the equivalent circuit of FIG. 9.
도 11은 도 10의 누설에 의하여 도 7의 캐패시터의 전위가 보다 빠르게 낮아짐을 보여주는 타이밍도이다. FIG. 11 is a timing diagram illustrating that the potential of the capacitor of FIG. 7 is lowered faster by the leakage of FIG. 10.
도 12는 도 7의 다이오드로서의 제1 N-형 전계효과트랜지스터가 무선주파수(Radio Frequency)용 N-형 전계효과트랜지스터인 경우의 내부 구조를 보여주는 도면이다.FIG. 12 is a diagram illustrating an internal structure when the first N-type field effect transistor as the diode of FIG. 7 is an N-type field effect transistor for radio frequency.
도 13은 도 12의 도면을 등가적으로 보여주는 회로도이다.FIG. 13 is a circuit diagram equivalently showing the drawing of FIG. 12.
도 14는 도 13의 등가 회로에 의하여 도 7의 캐패시터에 충전되었던 전하들이 누설되지 않음을 보여주는 회로도이다. FIG. 14 is a circuit diagram illustrating that the charges charged in the capacitor of FIG. 7 are not leaked by the equivalent circuit of FIG. 13.
도 15는 도 14와 같이 누설되지 않음에 의하여 도 7의 캐패시터의 전위가 보다 늦게 낮아짐을 보여주는 타이밍도이다. FIG. 15 is a timing diagram illustrating that the potential of the capacitor of FIG. 7 is lowered later by not leaking as shown in FIG. 14.
도 16은 도 2의 태그 발생부의 또다른 예를 보여주는 회로도이다. 16 is a circuit diagram illustrating still another example of the tag generator of FIG. 2.
도 17은 도 16의 다이오드로서의 P-형 전계효과트랜지스터의 구조를 보여주는 도면이다.FIG. 17 shows the structure of a P-type field effect transistor as the diode of FIG.
도 18은 도 17의 도면을 등가적으로 보여주는 회로도이다.FIG. 18 is a circuit diagram equivalently showing the diagram of FIG. 17.
도 19는 도 18의 등가 회로에 의하여 도 16의 캐패시터에 충전되었던 전하들이 누설되지 않음을 보여주는 회로도이다.FIG. 19 is a circuit diagram illustrating that charges charged to the capacitor of FIG. 16 are not leaked by the equivalent circuit of FIG. 18.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
1...알에프아이디(RFID) 태그, 11...집적회로 소자,1 RFID tag, 11 integrated circuit device,
12...안테나, 21...전원 공급부,12 antenna, 21 power supply,
1101...정류부, 1103...강압부,1101 ... rectifier, 1103 ...
1105...전압 제한부, 1107...복조부,1105 ... voltage limiter, 1107 ... demodulator,
1109...변조부, 111...리셋 신호 발생부, 1109 ... modulator, 111 ... reset signal generator,
1113...신호 지연부, 1115...클럭 펄스 발생부,1113 ... signal delay section, 1115 ... clock pulse generator section,
1117...승압부, 1119...디지털 제어부,1117 ... booster, 1119 ... digital control,
1121...메모리, 1123...플래그 발생부. 1121 ... Memory, 1123 ... Flag generation part.
Claims (12)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080132213A KR20100073513A (en) | 2008-12-23 | 2008-12-23 | Method for controlling wireless electronic label, and wireless electronic label adopting the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080132213A KR20100073513A (en) | 2008-12-23 | 2008-12-23 | Method for controlling wireless electronic label, and wireless electronic label adopting the same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100073513A true KR20100073513A (en) | 2010-07-01 |
Family
ID=42636460
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080132213A KR20100073513A (en) | 2008-12-23 | 2008-12-23 | Method for controlling wireless electronic label, and wireless electronic label adopting the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20100073513A (en) |
-
2008
- 2008-12-23 KR KR1020080132213A patent/KR20100073513A/en not_active Application Discontinuation
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7233213B2 (en) | Oscillator of semiconductor device | |
US9177182B2 (en) | Semiconductor device for wireless communication | |
US7227780B2 (en) | Semiconductor device and control method thereof | |
US7891868B2 (en) | Temperature sensor and semiconductor memory device using the same | |
US6424203B1 (en) | Power supply circuit and method | |
US20140355353A1 (en) | Current sensing amplifier and sensing method thereof | |
KR101443419B1 (en) | Method and circuit for preventing high voltage memory disturb | |
US6525362B2 (en) | IC chip for contactless IC card | |
WO1996023308A1 (en) | Improvements in an apparatus and method of use of radiofrequency identification tags | |
US20080093466A1 (en) | Ic card | |
CN101873125B (en) | Reset circuit | |
KR100700849B1 (en) | A semiconductor integrated circuit, a contactless information medium having the semiconductor integrated circuit, and a method of driving the semiconductor integrated circuit | |
TW201711392A (en) | Biasing circuit for level shifter with isolation | |
US7616032B2 (en) | Internal voltage initializing circuit for use in semiconductor memory device and driving method thereof | |
US20030117204A1 (en) | Clock generating circuit | |
KR20080009544A (en) | A tag chip and method for driving the same | |
TWI277295B (en) | High voltage switch circuit of semiconductor device | |
CN110533124B (en) | Flag holding circuit and flag holding method | |
Zhao et al. | Design of a rectifier-free UHF Gen-2 compatible RFID tag using RF-only logic | |
KR20100073513A (en) | Method for controlling wireless electronic label, and wireless electronic label adopting the same | |
US7514976B2 (en) | Pulsed flip-flop and method of controlling the same | |
JP2008123074A (en) | Semiconductor integrated circuit | |
KR100308216B1 (en) | Unauthorized unsealing detection apparatus for sealed electronic device | |
JP4420518B2 (en) | High voltage output inverter | |
KR102634826B1 (en) | Charge pump circuit and voltage generating device including the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |