KR20100072985A - Semiconductor chip with security function and method of processing thereof - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A semiconductor chip having security function and an operation method thereof are provided to determine forgery of the semiconductor chip by measured surrounding environment information value with a sensor which is sensitive to the outside surrounding environment. CONSTITUTION: A sensor unit(112) measures around environment information according to physical change of a semiconductor chip(100). A storage unit(111) stores initial surrounding environment information which the sensor unit measured. A control unit(113) compares the measured current surrounding environment information and the stored initial surrounding environment information. If the measured current surrounding environment information and the stored initial surrounding environment information do not match, the control unit performs preset operation informing abnormality of the semiconductor chip or stops operation of the semiconductor chip.

Description

보안 기능이 구비된 반도체 칩 및 그 동작 방법{Semiconductor chip with security function and method of processing thereof}Semiconductor chip with security function and method of processing

본 발명은 보안 기능이 구비된 반도체 칩 및 그 동작 방법에 관한 것이다. 더욱 상세하게는 해킹 방지 기능 및 인증 기능이 구비된 반도체 칩 및 그 동작 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor chip with a security function and a method of operating the same. More specifically, the present invention relates to a semiconductor chip equipped with a hacking prevention function and an authentication function and a method of operating the same.

본 발명은 지식경제부 및 정보통신연구진흥원의 IT 성장동력기술개발사업의 일환으로 수행한 연구로부터 도출된 것이다[과제관리번호: 2006-S-041-03, 과제명: 차세대 모바일 단말기의 보안 및 신뢰 서비스를 위한 공통 보안 핵심 모듈 개발]. The present invention is derived from a study conducted as part of the IT growth engine technology development project of the Ministry of Knowledge Economy and the Ministry of Information and Telecommunications Research and Development. Develop common security core modules for services.

반도체 칩은 IT 산업에 필수적인 요소 기술이다. 반도체 칩에 대한 중요하고 핵심적인 기술을 보호하고, 방어하기 위한 다양한 기술이 개발되어 있다. Semiconductor chips are essential technology for the IT industry. Various technologies have been developed to protect and defend critical and critical technologies for semiconductor chips.

종래에는 반도체 칩 자체에서 반도체 칩의 기술 보호 및 방어를 위한 기술을 적용한 사례들이 소개되고 있다. 이러한 기술이 적용된 장치들은 반도체 칩이 물리적인 침투를 당하는 것을 막기 위해, 반도체 레이아웃을 다양하게 구현한다. 즉, 휴즈 장치, 특정 환경에 반응하는 센서 등을 반도체 칩에 구현하여 물리적 침투를 방어한다. Conventionally, examples of applying a technology for protecting and defending a semiconductor chip in the semiconductor chip itself have been introduced. Devices using this technology implement various semiconductor layouts to prevent the semiconductor chip from being physically penetrated. In other words, a fuse device, a sensor responding to a specific environment, and the like are implemented in a semiconductor chip to prevent physical penetration.

그러나 이러한 장치가 구현된 반도체 칩에 대해서도 불법 사용자는 다양한 기술로 해킹을 시도한다. 주로, 핵심적이고, 고가의 반도체 칩에 대해 복제 시도가 이루어진다. However, illegal users attempt to hack into the semiconductor chips in which such devices are implemented. Primarily, cloning attempts are made on critical, expensive semiconductor chips.

따라서, 이러한 반도체 칩에 대해 불법적 이용 및 반도체 칩 정보의 위· 변조 방지 등을 위한 인증 및 복제 방지 장치의 필요성이 매우 크다. Therefore, there is a great need for an authentication and copy protection device for illegal use of such semiconductor chips and prevention of tampering with semiconductor chip information.

본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 불법적 이용 방지 및 위변조 방지를 위한 보안 기능이 구비된 반도체 칩 및 그 동작 방법을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in an effort to provide a semiconductor chip having a security function for preventing illegal use and preventing forgery and a method of operating the same.

본 발명의 한 실시예에 따르면, 반도체 칩이 제공된다. 보안 기능이 구비된 반도체 칩은 상기 반도체 칩의 물리적인 변화에 따른 주변 환경 정보-여기서 주변 환경 정보는 온도, 압력, 습도, 소리, 빛 및 상기 반도체 칩에 대한 물리적인 접촉에 따른 변화 중 하나 이상을 포함하는 정보임-를 측정하는 센서부; 상기 센서부가 측정한 초기 주변 환경 정보를 저장하는 저장부; 및 상기 센서부에 의해 측정된 현재 주변 환경 정보와 상기 저장부에 저장된 초기 주변 환경 정보를 비교하여 일치 여부를 판단하고, 일치하지 않는 경우 상기 반도체 칩의 이상을 알리는 기 설정된 동작을 실행하거나 또는 상기 반도체 칩의 동작을 정지시키는 제어부를 포함한다. According to one embodiment of the invention, a semiconductor chip is provided. A semiconductor chip having a security function may include environmental information according to physical changes of the semiconductor chip, wherein the environmental information may include at least one of temperature, pressure, humidity, sound, light, and physical contact with the semiconductor chip. Sensor unit for measuring the information including; A storage unit which stores initial environment information measured by the sensor unit; And compares the current surrounding environment information measured by the sensor unit with the initial surrounding environment information stored in the storage unit to determine whether to match, and if not, executes a preset operation of notifying the abnormality of the semiconductor chip or And a control unit for stopping the operation of the semiconductor chip.

본 발명의 다른 한 실시예에 따르면, 반도체 칩의 동작 방법이 제공된다. 보안 기능이 구비된 반도체 칩의 동작 방법에 따르면, (a) 상기 반도체 칩의 제조시, 상기 반도체 칩에 대해 측정된 상기 반도체 칩의 물리적인 변화에 따른 주변 환경 정보-여기서 주변 환경 정보는 온도, 압력, 습도, 소리, 빛 및 상기 반도체 칩에 대한 물리적인 접촉에 따른 변화 중 하나 이상을 포함하는 정보임-의 초기 값을 저장하는 단계; (b) 상기 반도체 칩에 대해 현재 측정되는 상기 주변 환경 정보와, 상기 (a) 단계에서 저장된 초기 주변 환경 정보를 비교하여 일치 여부를 판단하는 단계; 및 (c) 상기 (b) 단계에서 판단 결과, 일치하지 않는 경우 상기 반도체 칩의 이상을 알리는 기 설정된 동작을 실행하거나 또는 상기 반도체 칩의 동작을 정지시키는 단계 를 포함한다.According to another embodiment of the present invention, a method of operating a semiconductor chip is provided. According to a method of operating a semiconductor chip having a security function, (a) when manufacturing the semiconductor chip, the environment information according to the physical change of the semiconductor chip measured with respect to the semiconductor chip, where the environment information is temperature, Storing an initial value of information including one or more of pressure, humidity, sound, light, and a change in physical contact with the semiconductor chip; (b) comparing the surrounding environment information currently measured with respect to the semiconductor chip with the initial surrounding environment information stored in the step (a) to determine whether there is a match; And (c) executing a preset operation for notifying the abnormality of the semiconductor chip or stopping the operation of the semiconductor chip when it does not match as a result of the determination in step (b).

본 발명의 실시예에 의하면, 외부 주변 환경에 민감한 소자들로 이루어진 내장 혹은 외장된 센서에 대응하여 출력되는 센서 값으로부터 반도체 칩이 주위 환경에 대해 안정한가의 여부 또는 위변조 여부를 판별할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, whether the semiconductor chip is stable to the surrounding environment or forgery can be determined from the sensor value output corresponding to the built-in or external sensor composed of elements sensitive to the external surrounding environment.

또한, 반도체 칩에 내장 혹은 외장되어 반도체 칩의 식별에 사용되는 값을 이용하여 반도체 칩을 인증함으로써 반도체 칩의 보안을 강화할 수 있다. 더불어, 반도체 칩에 부착한 제품의 진위 또는 파괴 여부 등을 알 수 있다. In addition, it is possible to strengthen the security of the semiconductor chip by authenticating the semiconductor chip using a value embedded in or external to the semiconductor chip and used for identification of the semiconductor chip. In addition, the authenticity or destruction of the product attached to the semiconductor chip can be known.

아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시 예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시 예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention. In the drawings, parts irrelevant to the description are omitted in order to clearly describe the present invention, and like reference numerals designate like parts throughout the specification.

명세서 및 청구범위 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성 요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "…부", "…기", "모듈", "블록" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.Throughout the specification and claims, when a part is said to "include" a certain component, it means that it can further include other components, without excluding other components unless specifically stated otherwise. In addition, the terms “… unit”, “… unit”, “module”, “block”, etc. described in the specification mean a unit that processes at least one function or operation, which is hardware or software or a combination of hardware and software. It can be implemented as.

이제 본 발명의 실시예에 따른 보안 기능이 구비된 반도체 칩 및 그 동작 방법에 대하여 도면을 참고로 하여 상세하게 설명한다.Now, a semiconductor chip with a security function and an operation method thereof according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 실시예에 따르면, 보안 기능이 구비된 반도체 칩은 불법적 이용과 반도체 칩 정보의 위변조 방지를 위한 인증 기능을 포함한다. 또한, 우주, 항공 등에 사용되는 초정밀 성능의 반도체 복제 등으로 인한 불량 반도체 칩의 사용에 따른 위험을 방지하기 위한 반도체 칩 복제(또는 해킹) 방지 기능을 포함한다.According to an embodiment of the present invention, a semiconductor chip having a security function includes an authentication function for preventing illegal use and forgery of semiconductor chip information. In addition, the present invention includes a semiconductor chip copy (or hacking) prevention function for preventing a risk caused by the use of a defective semiconductor chip due to ultra-precision semiconductor copying used in space, aviation, and the like.

이러한 반도체 칩의 보안 기능(이하, '보안 장치'라 통칭함)을 구현하는 구성은 네가지 실시예로 구현될 수 있다. 반도체 칩의 여러 특성에 따라 보안 장치의 구성을 여러 형태로 기술 할 수 있고, 반도체 칩의 중요도에 일부 구성을 제거할 수 있다. A configuration for implementing a security function of the semiconductor chip (hereinafter, referred to as a "security device") may be implemented in four embodiments. According to various characteristics of the semiconductor chip, the configuration of the security device may be described in various forms, and some components may be removed due to the importance of the semiconductor chip.

<실시예 1>&Lt; Example 1 >

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 반도체 칩의 보안 장치의 구성을 나타 낸 블록도이다.1 is a block diagram showing a configuration of a security device of a semiconductor chip according to a first embodiment of the present invention.

도 1에 보인 바와 같이, 제1 실시예에 따른 반도체 칩(100)의 보안 장치(110)는 저장부(111), 센서부(112) 및 제어부(113)를 포함한다. As shown in FIG. 1, the security device 110 of the semiconductor chip 100 according to the first embodiment includes a storage 111, a sensor 112, and a controller 113.

저장부(111)는 ROM(Read Only Memory), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), RAM(random access memory), OTP(one-time programmable EPROM) 메모리 등의 메모리 형태로 구현될 수 있다. 저장부(111)는 반도체 칩(100)을 제조하여 사용자에게 공급하기 전에 측정된 반도체 칩(100)에 대한 초기 주변 환경 정보를 저장한다. 여기서, 초기 주변 환경 정보는 반도체 칩(100)의 주변 환경 정보의 초기 값으로서, 주변 환경 정보는 반도체 칩의 물리적인 변화에 따른 정보를 말한다. 이는 온도, 압력, 습도, 소리, 빛 및 반도체 칩에 대한 물리적인 접촉에 따른 변화 중 하나 이상을 포함하는 정보이다. 온도, 압력, 습도, 소리, 빛은 각각의 해당 센서를 통해 측정한다. 예를 들어, 저항형 온도 센서를 사용하는 경우, 온도가 변화하면 저항(임피던스) 값이 변경된다. 또한, 반도체 칩에 대한 물리적인 접촉에 따른 변화는 반도체 칩을 불법적으로 사용하려 해킹자가 반도체 칩에 접촉하여 반도체 칩이 손상될 경우, 반도체 칩의 물리적인 값 즉 저항 값등이 변화하는 것을 말한다. The storage 111 may be implemented in the form of a memory such as a read only memory (ROM), an electrically erasable programmable read-only memory (EEPROM), a random access memory (RAM), and a one-time programmable EPROM (OTP) memory. The storage 111 stores initial peripheral environment information about the semiconductor chip 100 measured before the semiconductor chip 100 is manufactured and supplied to the user. Here, the initial environment information is an initial value of the environment information of the semiconductor chip 100, and the environment information refers to information according to physical changes of the semiconductor chip. This is information that includes one or more of changes in temperature, pressure, humidity, sound, light, and physical contact with the semiconductor chip. Temperature, pressure, humidity, sound and light are measured by their respective sensors. For example, when using a resistance temperature sensor, the resistance (impedance) value changes as the temperature changes. In addition, the change due to physical contact with the semiconductor chip refers to a change in physical value, that is, resistance value, of the semiconductor chip when a hacker contacts the semiconductor chip and damages the semiconductor chip to illegally use the semiconductor chip.

센서부(112)는 반도체 칩(100)에 대한 주변 환경 정보를 측정한다. 센서부(112)는 초기 주변 환경 정보 또는 현재 주변 환경 정보를 측정하여 제어부(113)로 출력한다. The sensor unit 112 measures environmental information about the semiconductor chip 100. The sensor unit 112 measures initial surrounding environment information or current surrounding environment information and outputs it to the controller 113.

제어부(113)는 저장부(111) 및 센서부(112)와 연결되어 반도체 칩(100)의 보 안 기능을 위한 다양한 신호 처리를 제어한다. 제어부(113)는 센서부(112)로부터 출력되는 초기 주변 환경 정보를 저장부(111)에 저장한다. 또한, 센서부(112)로부터 출력되는 현재 주변 환경 정보와, 저장부(111)로부터 독출한 초기 주변 환경 정보를 비교하여 일치 여부를 판단한다. 이때, 일치하지 않는 경우로 판단되면, 반도체 칩(100)의 이상을 알리는 기 설 정된 동작을 실행하거나 또는 반도체 칩(100)의 동작을 정지시킨다. The controller 113 is connected to the storage 111 and the sensor 112 to control various signal processing for the security function of the semiconductor chip 100. The control unit 113 stores the initial surrounding environment information output from the sensor unit 112 in the storage unit 111. In addition, the current surrounding environment information output from the sensor unit 112 and the initial surrounding environment information read out from the storage unit 111 are compared to determine whether there is a match. In this case, if it is determined that the case does not match, the predetermined operation for notifying the abnormality of the semiconductor chip 100 is executed or the operation of the semiconductor chip 100 is stopped.

제어부(113)는 반도체 칩(100)의 이상 여부를 다양한 물리적인 조치를 통해 나타낼 수 있다. 물리적인 조치는 반도체 칩(100)의 사전 정의된 임의의 특정한 핀에 임피던스(저항성, 커패턴스, 인덕턴스) 값의 변화 유도를 포함한다. 여기서, 임피던스의 변화는 제어부의 제어 신호를 "0" 또는 "1"로 변이를 줌으로 저항, 커패시터, 인덕턴스의 값에 변화를 주는 것을 의미한다. 이렇게 하면 반도체 칩(100)에 직접 측정 장치를 이용하여 물리적으로 변화된 값을 측정하므로 반도체 칩(100)의 이상 유무를 인지할 수 있다. The controller 113 may indicate whether the semiconductor chip 100 is abnormal through various physical measures. Physical measures include inducing a change in impedance (resistance, pattern, inductance) value on any predefined pin of semiconductor chip 100. Here, the change in impedance means that the control signal of the controller is changed to "0" or "1" to change the value of the resistor, the capacitor, and the inductance. In this case, since the physically changed value is measured by using the measuring device directly on the semiconductor chip 100, it is possible to recognize the abnormality of the semiconductor chip 100.

또한, 물리적인 조치는 반도체 칩(100)의 입출력에 사전 정의된 특정한 신호 발생을 포함한다. 예를 들어, 리셋 신호를 발생시키거나 또는 입출력 단자에 정해진 "1" 또는 "0"의 신호를 발생시키므로 반도체 칩(100)에 문제가 있음을 알려주는 것이다. 또한, 물리적인 조치는 반도체 칩(100)을 사용 못하게 조치하는 것을 포함한다.In addition, the physical measures include generating a specific signal predefined in the input and output of the semiconductor chip 100. For example, it generates a reset signal or generates a signal of "1" or "0" defined at the input / output terminal, thereby indicating that there is a problem in the semiconductor chip 100. In addition, physical measures include disabling the semiconductor chip 100.

<실시예 2> <Example 2>

도 2는 본 발명의 제2 실시예에 따른 반도체 칩의 보안 장치의 구성을 나타 낸 블록도이다.2 is a block diagram showing the configuration of a security device for a semiconductor chip according to a second embodiment of the present invention.

도 2에 보인 바와 같이, 제2 실시예에 따른 반도체 칩(100)의 보안 장치(110)는 도 1의 구성에 추가적으로 표시부(114)를 포함한다. 도 1과 동일한 구성에 대해서는 앞서 설명하였으므로, 그 설명은 생략한다.As shown in FIG. 2, the security device 110 of the semiconductor chip 100 according to the second embodiment includes the display unit 114 in addition to the configuration of FIG. 1. Since the same structure as FIG. 1 was demonstrated above, the description is abbreviate | omitted.

표시부(114)는 제어부(113)의 판단 결과 반도체 칩(100)의 이상이 발견된 경우 반도체 칩(100)의 이상 여부를 사람이 육안으로 판별할 수 있도록 외부에 알리는 표시 동작을 수행한다. When an abnormality of the semiconductor chip 100 is found as a result of the determination of the controller 113, the display unit 114 performs a display operation of notifying the outside of the semiconductor chip 100 so that a person can visually determine whether the semiconductor chip 100 is abnormal.

표시부(114)는 작게 반도체 칩(100)에 내장되는 형태로 구현할 수 있다. 이런 경우, 발광 다이오드, 사전 정의된 임의의 전압 또는 전류에 의해서 색깔이 변경되는 물질 등으로 구현할 수 있다. 이는 반도체 칩(100)을 제작할 때, 반도체 칩(100)에 실장하여 만들수 있다. 반도체 칩(100)의 내장이라고 함은 반도체 칩(100) 자체를 의미하는 것이다. The display unit 114 may be embodied in a form small in the semiconductor chip 100. In this case, the light emitting diode may be implemented as a material whose color is changed by a predetermined voltage or current. This may be made by mounting the semiconductor chip 100 when the semiconductor chip 100 is manufactured. Embedded semiconductor chip 100 refers to the semiconductor chip 100 itself.

또한, 표시부(114)는 크게 반도체 칩(100)에 외장되는 형태로 구현할 수 있다. 이와 같이, 외장 표시부(114)는 반도체 칩(100)의 단자(또는 핀 단자)에 LED(light-emitting diode), LCD(liquid crystal display), 7-세그먼트, 임의의 전압 또는 전류에 의해서 색깔이 변경되는 물질 등을 연결하여 칩의 이상 여부를 나타낼 수 있다. In addition, the display unit 114 may be implemented in a form largely external to the semiconductor chip 100. As such, the external display 114 may be colored by a light-emitting diode (LED), a liquid crystal display (LCD), a 7-segment, an arbitrary voltage or current at a terminal (or a pin terminal) of the semiconductor chip 100. By connecting a change material and the like can indicate whether the chip is abnormal.

<실시예 3> <Example 3>

도 3은 본 발명의 제3 실시예에 따른 반도체 칩의 보안 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.3 is a block diagram showing the configuration of a security device for a semiconductor chip according to a third embodiment of the present invention.

도 3에 보인 바와 같이, 제3 실시예에 따른 반도체 칩(100)의 보안 장치(110)는 도 1 및 도 2의 구성에 추가적으로 보안부(115)를 포함한다. 도 1 및 도 2와 동일한 구성에 대해서는 앞서 설명하였으므로, 그 설명은 생략한다.As shown in FIG. 3, the security device 110 of the semiconductor chip 100 according to the third embodiment includes a security unit 115 in addition to the configuration of FIGS. 1 and 2. 1 and 2 have been described above, the description thereof will be omitted.

보안부(115)는 센서부(112)로부터 출력되어 제어부(113)를 통해 입력되는 주변 환경 정보 및 저장부(111)로부터 출력되어 제어부(113)를 통해 입력되는 초기 주변 환경 정보를 암호화 또는 복호화하는 기능을 수행한다. 이때, 보안부(115)는 저장부(111)에 저장될 초기 주변 환경 정보를 암호화하여 저장부(111)에 저장하고, 저장부(111)로부터 초기 주변 환경 정보를 독출시 복호화하여 제어부(113)로 출력한다. 이러한 보안부(115)의 구성은 반도체 칩(100)이 고가이거나 매우 중요한 칩일 경우 사용될 수 있다. The security unit 115 encrypts or decrypts the surrounding environment information output from the sensor unit 112 and input through the control unit 113 and the initial surrounding environment information output from the storage unit 111 and input through the control unit 113. Perform the function. At this time, the security unit 115 encrypts the initial environment information to be stored in the storage unit 111 and stores it in the storage unit 111, and decrypts the initial environment information from the storage unit 111 when reading out the control unit 113 Will output The configuration of the security unit 115 may be used when the semiconductor chip 100 is an expensive or very important chip.

<실시예 4> <Example 4>

도 4는 본 발명의 제4 실시예에 따른 반도체 칩의 보안 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.4 is a block diagram showing the configuration of a security device for a semiconductor chip according to a fourth embodiment of the present invention.

도 4에 보인 바와 같이, 제4 실시예에 따른 반도체 칩(100)의 보안 장치(110)는 도 1, 도 2 및 도 3의 구성에 추가적으로 입출력 인터페이스부(116)를 포함한다. 도 1, 도 2 및 도 3과 동일한 구성에 대해서는 앞서 설명하였으므로, 그 설명은 생략한다.As shown in FIG. 4, the security device 110 of the semiconductor chip 100 according to the fourth embodiment includes an input / output interface unit 116 in addition to the configuration of FIGS. 1, 2, and 3. 1, 2, and 3 have been described above, the description thereof will be omitted.

입출력 인터페이스부(116)는 반도체 칩(100)의 보안 장치(110)의 입출력 인터페이스 단자를 통하여 반도체 칩(100)의 신뢰할 수 있는 정보를 처리하는 통신 모듈이다. 입출력 인터페이스부(116)는 제어부(113)와 연결되어 반도체 칩(100)의 신뢰성을 검증하기 위해 반도체 칩(100)의 외부 기기(200)와 통신을 수행한다. 즉 반도체 칩(100)이 복제된 칩이 아닌 정당한 칩인지 인증하기 위한 정보를 외부 기기(200)와 송수신한다. 이러한 입출력 인터페이스부(116)를 통해 휴대폰 복제, 밧데리 복제, 핵심칩 복제 등에 다양하게 반도체 칩(100)의 보안 장치(110)가 이용되도록 할 수 있다. The input / output interface unit 116 is a communication module that processes reliable information of the semiconductor chip 100 through the input / output interface terminal of the security device 110 of the semiconductor chip 100. The input / output interface unit 116 is connected to the control unit 113 to communicate with an external device 200 of the semiconductor chip 100 to verify the reliability of the semiconductor chip 100. That is, information for authenticating whether the semiconductor chip 100 is a legitimate chip, not a duplicated chip, is transmitted and received with the external device 200. Through the input / output interface 116, the security device 110 of the semiconductor chip 100 may be used in various ways, such as cell phone replication, battery replication, and core chip replication.

또한, 입출력 인터페이스부(116)는 직렬 통신 모듈 즉 UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter), I2C, GPIO(General Purpose Input/Output), USB(Universal Serial Bus) 등을 포함할 수 있다.In addition, the input / output interface unit 116 may include a serial communication module, that is, a universal asynchronous receiver / transmitter (UART), I2C, general purpose input / output (GPIO), universal serial bus (USB), and the like.

한편, 도 5는 도 1 내지 도 4에서 설명한 센서부(112)의 세부적인 구성을 나타낸 블록도이다.5 is a block diagram illustrating a detailed configuration of the sensor unit 112 described with reference to FIGS. 1 to 4.

도 5에 보인 바와 같이, 센서부(112)는 센서(112a) 및 센서 신호 처리 모듈(112b)을 포함한다. As shown in FIG. 5, the sensor unit 112 includes a sensor 112a and a sensor signal processing module 112b.

센서(112a)는 반도체 칩에 내장 또는 외장되어 측정한 주변 환경 정보 또는초기 주변 환경 정보의 아날로그 신호를 생성한다. The sensor 112a generates an analog signal of ambient environment information or initial ambient environment information measured by being embedded or external to the semiconductor chip.

센서 신호 처리 모듈(112b)은 센서(112a)와 연결되고, 센서(112a)로부터 출력되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 제어부(113)로 출력한다. 센서 신호 처리 모듈(112b)는 기 정의된 특정 비트(bit)(또는 N bit)의 디지털 값으로 변환한다. The sensor signal processing module 112b is connected to the sensor 112a, converts an analog signal output from the sensor 112a into a digital signal, and outputs the digital signal to the controller 113. The sensor signal processing module 112b converts the digital value of a predetermined specific bit (or N bit).

다음, 도 6 및 도 7은 도 4에서 설명한 입출력 인터페이스부(116)의 실시예를 나타낸 것이다. 이때, 반도체 칩(100)의 신뢰성 검증을 위한 반도체 칩(100)의 식별 정보를 무선 주파수 식별(Radio Frequency Identification, 이하 'RFID'라 통칭함) 태그 형태로 구현한 것이다.6 and 7 illustrate an embodiment of the input / output interface unit 116 described with reference to FIG. 4. At this time, the identification information of the semiconductor chip 100 for verifying the reliability of the semiconductor chip 100 is implemented in the form of a radio frequency identification (hereinafter referred to as "RFID") tag form.

도 6은 본 발명의 제1 실시예에 따른 입출력 인터페이스부(116)를 나타낸다.6 shows an input / output interface unit 116 according to the first embodiment of the present invention.

도 6a에 보인 바와 같이, 제1 실시예에 따른 입출력 인터페이스부(116)는 반도체 칩(100)의 패키지(package)에 내장된 RFID 태그를 나타낸다. 이때, RFID 태그는 패키지 상태를 고려하여, 특히 HF(High Frequency), UHF(Ultrahigh Frequency), VUHF 대역에서 동작하는 RFID 태그를 패키지에 삽입하여 반도체 칩 복제를 방지한다. RFID 태그는 수동형 및 반능동형으로 만들 수 있다. RFID 태그는 패키지 내의 공간이 허락하는 부분에 실장하는 것을 특징으로 한다. 다시 말하자면, 패키지 형태의 비접촉 RFID 태그라고 말할 수 있다. 패키지에 반도체 칩(100)을 내장하였기 때문에, 반도체 칩의 진위를 RFID 리더기를 사용하여 반도체 칩(100)의 RFID 태그 ID를 인식하여 쉽게 판별할 수 있다.As shown in FIG. 6A, the input / output interface unit 116 according to the first embodiment represents an RFID tag embedded in a package of the semiconductor chip 100. In this case, the RFID tag considers the package state, and in particular, inserts an RFID tag operating in a high frequency (HF), ultrahigh frequency (UHF), and VUHF band into the package to prevent duplication of a semiconductor chip. RFID tags can be made passive and semi-active. The RFID tag is mounted on a portion allowed by space in the package. In other words, it can be said to be a packageless contactless RFID tag. Since the semiconductor chip 100 is embedded in the package, the authenticity of the semiconductor chip can be easily determined by recognizing the RFID tag ID of the semiconductor chip 100 using an RFID reader.

그런데, 반도체 칩(100) 자체의 복제가 아닌 반도체 칩(100)을 해킹하기 위해 패키지만 제거하고 복제할 수 있다. 이럴 경우, 패키지에 내장된 RFID 태그만으로는 반도체 복제를 방어할 수 없다. 따라서, 도 6b 및 도 6c와 같이 강화된 반도체 복제 방지를 위해 센서를 삽입하여 처리할 수 있다. 이때, 센서는 도 6b에 보인 바와 같이 반도체 칩 패키지의 외장에 위치하거나 또는 도 6c에 보인 바와 같이 반도체 칩 패키지의 내부에 위치하여 기 정의된 임의의 램덤한 값을 가질 수 있다. 이런 경우, 반도체 칩의 센서부(112)와 RFID 태그 칩은 하나의 반도체 칩(100)으로 구성되지만 센서는 도 6b 및 도 6c와 같이 별도로 구성된다. 즉 센서는 반도체 칩(100) 내 반도체 칩 패키지의 한 부분에 위치한다. 그리고 센서와 RFID 태그는 패드(Pad) 를 통해 연결 한다.However, in order to hack the semiconductor chip 100 instead of the replication of the semiconductor chip 100 itself, only the package may be removed and duplicated. In this case, RFID tags embedded in the package alone cannot protect against semiconductor duplication. Therefore, the sensor can be inserted and processed to prevent the enhanced semiconductor copying as illustrated in FIGS. 6B and 6C. In this case, the sensor may be located at the exterior of the semiconductor chip package as shown in FIG. 6B or may be located at the inside of the semiconductor chip package as shown in FIG. 6C to have any random value predefined. In this case, the sensor unit 112 and the RFID tag chip of the semiconductor chip is composed of one semiconductor chip 100, but the sensor is separately configured as shown in FIGS. 6B and 6C. That is, the sensor is located at a portion of the semiconductor chip package in the semiconductor chip 100. The sensor and the RFID tag are connected through a pad.

이때, 센서는 N bit(N 자연수)의 데이터를 반도체 칩(100)의 저장부(111)에 저장하거나 또는 외부 기기인 RFID 리더기에 저장할 수 있다. 이때, 저장되는 값은 초기 값이다. 반도체 칩(100)은 초기 값이 저장된 상태에 판매되어 시장에서 사용된다. In this case, the sensor may store the N bit (N natural number) data in the storage 111 of the semiconductor chip 100 or in an RFID reader which is an external device. At this time, the stored value is an initial value. The semiconductor chip 100 is sold in the state where the initial value is stored and used in the market.

도 7은 본 발명의 제2 실시예에 따른 입출력 인터페이스부(116)를 나타낸다.7 shows an input / output interface unit 116 according to a second embodiment of the present invention.

도 7에 보인 바와 같이, 제2 실시예에 따른 입출력 인터페이스부(116)는 반도체 칩(100)의 외부 패키지에 RFID 안테나가 장착된다. RFID 태그 칩은 RFID 안테나와 연결되고, 반도체 칩의 내부에 내장되어 반도체 칩을 인증하기 위한 식별 정보를 저장한다. 반도체 칩에 RFID 태그 및 센서부가 내장되고, 패드에서 반도체 칩(100)과 RFID 안테나가 연결되는 구조이다. As shown in FIG. 7, the input / output interface unit 116 according to the second embodiment is equipped with an RFID antenna in an external package of the semiconductor chip 100. The RFID tag chip is connected to the RFID antenna and stored inside the semiconductor chip to store identification information for authenticating the semiconductor chip. The RFID chip and the sensor unit are embedded in the semiconductor chip, and the semiconductor chip 100 and the RFID antenna are connected in the pad.

이때, 도 7a는 RFID 안테나가 반도체 칩의 패키지 내부에 장착되는 형태이고, 도 7b는 RFID 안테나가 반도체 칩의 패키지 외부 또는 반도체 칩 실장 보드에 장착되는 형태를 나타낸다. 7A illustrates a form in which an RFID antenna is mounted inside a package of a semiconductor chip, and FIG. 7B illustrates a form in which an RFID antenna is mounted outside a package of a semiconductor chip or on a semiconductor chip mounting board.

그러면, 이상 기술한 실시예 중에서 제1 실시예 및 제3 실시예 각각의 구성에 따른 반도체 칩의 동작 방법에 대해 설명한다. Next, a method of operating a semiconductor chip according to each of the first and third embodiments will be described.

도 8은 본 발명의 제1 실시예에 따른 반도체 칩의 동작 방법을 나타낸 흐름도이다.8 is a flowchart illustrating a method of operating a semiconductor chip according to a first embodiment of the present invention.

도 8에 보인 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 반도체 칩의 동작 방 법에 따르면 크게 초기 단계와 사용 단계로 구분된다.As shown in FIG. 8, according to the method of operating a semiconductor chip according to the first exemplary embodiment of the present invention, it is largely divided into an initial stage and a use stage.

초기 단계에서는, 제어부(도 1의 113)가 센서부(도 1의 112)에게 초기 주변 환경 정보의 측정을 요청(S101)하여 초기 센서 값(초기 주변 환경 정보와 동일한 의미임)을 응답받는다(S103). In the initial stage, the control unit 113 of FIG. 1 requests the sensor unit 112 of FIG. 1 to measure initial ambient environment information (S101) and receives an initial sensor value (which means the same as the initial ambient environment information) ( S103).

제어부(113)는 S103 단계에서 응답받은 초기 센서 값을 저장부(도 1의 111)로 전달(S105)한다. 저장부(111)는 S105 단계에서 전달받은 초기 센서 값을 저장한다(S107).The controller 113 transmits the initial sensor value received in step S103 to the storage unit 111 of FIG. 1 (S105). The storage unit 111 stores the initial sensor value received in step S105 (S107).

이후, 제어부(113)는 인증 상황의 발생 즉 반도체 칩(도 1의 100)의 복제 여부 판단의 필요 상황을 인지하면(S109), 센서부(112)에게 주변 환경 정보의 측정을 요청(S111)하여 인증 센서 값(주변 환경 정보와 동일한 의미임)을 응답받는다(S113). Subsequently, when the controller 113 recognizes the occurrence of the authentication situation, that is, whether the semiconductor chip (100 in FIG. 1) needs to be copied (S109), the control unit 112 requests the sensor unit 112 to measure the surrounding environment information (S111). In response to the authentication sensor value (meaning the same meaning as the surrounding environment information) is received (S113).

그리고 제어부(113)는 저장부(111)에게 S107 단계에서 저장된 초기 센서 값을 요청한다(S115). 저장부(111)는 저장된 초기 센서 값을 독출(S117)하여 제어부(113)에게 전달한다(S119). The control unit 113 requests the storage unit 111 to store the initial sensor value stored in step S107 (S115). The storage unit 111 reads out the stored initial sensor value (S117) and transmits the stored initial sensor value to the control unit 113 (S119).

제어부(113)는 S113 단계에서 응답받은 인증 센서 값과 S119 단계에서 전달받은 초기 센서 값을 비교하여(S121) 일치 여부를 판단한다(S123). The controller 113 compares the authentication sensor value received in step S113 with the initial sensor value received in step S119 (S121) and determines whether there is a match (S123).

제어부(113)는 S123 단계에서 일치한 경우로 판단되면, 반도체 칩(100)의 인증을 허용한다. 즉 반도체 칩(100)이 복제된 칩이 아닌 정당한 사용 권한이 있는 칩으로 판정하는 것이다. If it is determined in step S123 that the controller 113 matches, the controller 113 permits authentication of the semiconductor chip 100. That is, the semiconductor chip 100 determines not to be a duplicated chip but a chip having a right to use.

한편, 제어부(113)는 S123 단계에서 일치하지 않는 경우로 판단되면, 반도체 칩(100)에 대해 기 정의된 물리적인 조치를 실행한다. On the other hand, if it is determined that the case does not match in step S123, the control unit 113 executes a predetermined physical action on the semiconductor chip 100.

도 9는 본 발명의 제2 실시예에 따른 반도체 칩의 동작 방법을 나타낸 흐름도이다.9 is a flowchart illustrating a method of operating a semiconductor chip according to a second embodiment of the present invention.

도 9에 보인 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 반도체 칩의 동작 방법에 따르면 도 8과 동일하게 크게 초기 단계와 사용 단계로 구분된다.As shown in FIG. 9, according to the method of operating a semiconductor chip according to the second exemplary embodiment of the present invention, the method is divided into an initial stage and a use stage, as in FIG. 8.

반도체 칩(100)이 사용자에게 제공되기 이전 제조 시점에 제어부(도 3의 113)는 센서부(112)에게 요청(S201)하여 응답(S203)받은 초기 센서 값(초기 주변 환경 정보와 동일한 의미임)을 보안부(도 3의 115)에게 전달한다(S205). 보안부(115)는 전달받은 초기 센서 값을 암호화(S207)하여 저장부(도 3의 111)로 전달(S209)한다. 저장부(111)는 전달받은 암호화된 초기 센서 값을 저장(S211)한다.At the manufacturing time before the semiconductor chip 100 is provided to the user, the controller (113 of FIG. 3) requests the sensor unit 112 (S201) and receives a response (S203). ) Is transmitted to the security unit (115 of FIG. 3) (S205). The security unit 115 encrypts the received initial sensor value (S207) and transfers the stored sensor (111 in FIG. 3) (S209). The storage 111 stores the received encrypted initial sensor value (S211).

이후, 반도체 칩(100)에 대한 인증 상황 발생이 인지되면(S213) 제어부(113)는 센서부(112)에게 인증 센서 값(주변 환경 정보와 동일한 의미임)을 요청(S215)하여 응답받는다(S217). Subsequently, when the occurrence of the authentication situation for the semiconductor chip 100 is recognized (S213), the controller 113 requests a sensor sensor 112 (which has the same meaning as the surrounding environment information) and receives a response (S215) ( S217).

제어부(113)는 저장부(111)에 S209에서 저장된 암호화된 초기 센서 값을 요청(S219)한다. 저장부(111)는 저장된 초기 센서 값을 독출(S221)하여 보안부(115)로 전달(S223)한다. The control unit 113 requests the encrypted initial sensor value stored in S209 from the storage 111 (S219). The storage unit 111 reads out the stored initial sensor value (S221) and transmits it to the security unit 115 (S223).

보안부(115)는 전달받은 암호화된 초기 센서 값을 복호화(S225)하여 제어부(113)로 전달한다(S227). The security unit 115 decrypts the received encrypted initial sensor value (S225) and transmits the encrypted initial sensor value to the control unit 113 (S227).

제어부(113)는 S227 단계에서 전달받은 복호화된 초기 센서 값과 S217 단계에서 응답받은 인증 센서 값을 비교(S229)하여 일치 여부를 판단(S231)한다. The control unit 113 compares the decoded initial sensor value received in step S227 with the authentication sensor value received in step S217 (S229), and determines whether there is a match (S231).

S231 단계의 판단 결과, 일치하는 경우 제어부(113)는 반도체 칩(100)의 인증을 허용하고, 일치하지 않으면 반도체 칩(100)에 대해 기 설정된 물리적인 조치를 실행한다. As a result of the determination in step S231, if there is a match, the controller 113 allows authentication of the semiconductor chip 100, and if it does not match, the controller 113 executes a predetermined physical action on the semiconductor chip 100.

본 발명의 실시예는 이상에서 설명한 장치 및/또는 방법을 통해서만 구현되는 것은 아니며, 본 발명의 실시예의 구성에 대응하는 기능을 실현하는 프로그램 또는 그 프로그램이 기록된 기록 매체를 통해 구현될 수도 있으며, 이러한 구현은 앞서 설명한 실시예의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술 분야의 전문가라면 쉽게 구현할 수 있는 것이다.The embodiment of the present invention is not implemented only through the above-described apparatus and / or method, but may be implemented through a program or a recording medium on which the program is recorded, which realizes a function corresponding to the configuration of the embodiment of the present invention. Such an implementation can be easily implemented by those skilled in the art from the description of the above-described embodiments.

이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리 범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리 범위에 속하는 것이다.Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concepts of the present invention defined in the following claims are also provided. It belongs to the scope of rights.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 반도체 칩의 보안 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.1 is a block diagram showing the configuration of a security device for a semiconductor chip according to a first embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 제2 실시예에 따른 반도체 칩의 보안 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.2 is a block diagram showing the configuration of a security device for a semiconductor chip according to a second embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 제3 실시예에 따른 반도체 칩의 보안 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.3 is a block diagram showing the configuration of a security device for a semiconductor chip according to a third embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 제4 실시예에 따른 반도체 칩의 보안 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.4 is a block diagram showing the configuration of a security device for a semiconductor chip according to a fourth embodiment of the present invention.

도 5는 도 1 내지 도 4에서 설명한 센서부의 세부적인 구성을 나타낸 블록도이다.5 is a block diagram illustrating a detailed configuration of the sensor unit described with reference to FIGS. 1 to 4.

도 6은 본 발명의 제1 실시예에 따른 입출력 인터페이스부를 나타낸다.6 shows an input / output interface unit according to a first embodiment of the present invention.

도 7은 본 발명의 제2 실시예에 따른 입출력 인터페이스부를 나타낸다.7 illustrates an input / output interface unit according to a second embodiment of the present invention.

도 8은 본 발명의 제1 실시예에 따른 반도체 칩의 동작 방법을 나타낸 흐름도이다.8 is a flowchart illustrating a method of operating a semiconductor chip according to a first embodiment of the present invention.

도 9는 본 발명의 제2 실시예에 따른 반도체 칩의 동작 방법을 나타낸 흐름도이다.9 is a flowchart illustrating a method of operating a semiconductor chip according to a second embodiment of the present invention.

Claims (12)

보안 기능이 구비된 반도체 칩에 있어서, In a semiconductor chip with a security function, 상기 반도체 칩의 물리적인 변화에 따른 주변 환경 정보를 측정하는 센서부; A sensor unit measuring ambient environment information according to physical changes of the semiconductor chip; 상기 센서부가 측정한 초기 주변 환경 정보를 저장하는 저장부; 및 A storage unit which stores initial environment information measured by the sensor unit; And 상기 센서부에 의해 측정된 현재 주변 환경 정보와 상기 저장부에 저장된 초기 주변 환경 정보를 비교하여 일치 여부를 판단하고, 일치하지 않는 경우 상기 반도체 칩의 이상을 알리는 기 설정된 동작을 실행하거나 또는 상기 반도체 칩의 동작을 정지시키는 제어부 Compares the current surrounding environment information measured by the sensor unit with the initial surrounding environment information stored in the storage unit to determine whether to match, and if it does not match, executes a predetermined operation for notifying the abnormality of the semiconductor chip or the semiconductor Control unit to stop the operation of the chip 를 포함하는 반도체 칩. Semiconductor chip comprising a. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 센서부는, The sensor unit includes: 상기 반도체 칩의 주변 환경 정보를 측정하고, 측정된 주변 환경 정보의 아날로그 신호를 생성하는 센서; 및A sensor for measuring environmental information of the semiconductor chip and generating an analog signal of the measured environmental information; And 상기 센서와 연결되고, 상기 센서로부터 출력되는 상기 아날로그 신호를 기 정의된 특정 비트 값을 가지는 디지털 신호로 변환하여 상기 제어부로 출력하는 센서 신호 처리 모듈A sensor signal processing module connected to the sensor and converting the analog signal output from the sensor into a digital signal having a predetermined specific bit value and outputting the digital signal to the controller 을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 칩.A semiconductor chip comprising a. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 주변 환경 정보는 온도, 압력, 습도, 소리, 빛 및 상기 반도체 칩에 대한 물리적인 접촉에 따른 변화 중 하나 이상을 포함하는 정보인 것을 특징으로 하는 반도체 칩.And the surrounding environment information is information including one or more of temperature, pressure, humidity, sound, light, and changes due to physical contact with the semiconductor chip. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 1 to 3, 상기 제어부의 판단 결과 상기 반도체 칩의 이상이 발견된 경우 상기 반도체 칩의 이상을 외부에 알리는 표시 동작을 수행하는 표시부; A display unit for performing a display operation of informing the outside of the abnormality of the semiconductor chip when the abnormality of the semiconductor chip is found as a result of the determination of the controller; 상기 초기 주변 환경 정보를 암호화하여 상기 저장부에 저장하고, 상기 저장부로부터 상기 초기 주변 환경 정보를 독출시 복호화하여 상기 제어부로 출력하는 보안부; 및A security unit which encrypts the initial surrounding environment information and stores it in the storage unit, decrypts the initial surrounding environment information from the storage unit, and outputs the initial surrounding environment information to the controller; And 상기 제어부의 제어하에 외부 기기와 연동하여 상기 반도체 칩의 인증을 위한 정보를 송수신하는 입출력 인터페이스부Input / output interface unit for transmitting and receiving information for authentication of the semiconductor chip in cooperation with an external device under the control of the controller 중 하나 이상을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 칩.The semiconductor chip further comprises one or more of. 제4항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 입출력 인터페이스부는, The input and output interface unit, 상기 반도체 칩의 패키지에 무선 주파수 식별 태그 칩 형태로 장착된 것을 특징으로 하는 반도체 칩.And a radio frequency identification tag chip mounted on the package of the semiconductor chip. 제4항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 입출력 인터페이스부는, The input and output interface unit, 상기 반도체 칩의 패키지에 장착되거나 또는 상기 반도체 칩의 패키지 외부에 장착되는 무선 주파수 식별 태그 안테나; 및A radio frequency identification tag antenna mounted on the package of the semiconductor chip or mounted outside the package of the semiconductor chip; And 상기 무선 주파수 식별 태그 안테나와 연결되고, 상기 반도체 칩의 내부에 내장되어 상기 반도체 칩을 인증하기 위한 식별 정보를 저장하는 무선 주파수 식별 태그 칩A radio frequency identification tag chip connected to the radio frequency identification tag antenna and stored in the semiconductor chip to store identification information for authenticating the semiconductor chip. 을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 칩.A semiconductor chip comprising a. 보안 기능이 구비된 반도체 칩의 동작 방법에 있어서, In the method of operating a semiconductor chip with a security function, 상기 반도체 칩의 제조시, 상기 반도체 칩에 대해 측정된 상기 반도체 칩의 물리적인 변화에 따른 주변 환경 정보의 초기 값을 저장하는 단계; Storing an initial value of surrounding environment information according to a physical change of the semiconductor chip measured for the semiconductor chip when the semiconductor chip is manufactured; 상기 반도체 칩에 대해 현재 측정되는 상기 주변 환경 정보와, 상기 저장하는 단계에서 저장된 초기 주변 환경 정보를 비교하여 일치 여부를 판단하는 단계; 및Comparing the surrounding environment information currently measured with respect to the semiconductor chip with the initial surrounding environment information stored in the storing step, and determining whether or not there is a match; And 상기 판단하는 단계에서 판단 결과, 일치하지 않는 경우 상기 반도체 칩의 이상을 알리는 기 설정된 동작을 실행하거나 또는 상기 반도체 칩의 동작을 정지시키는 단계As a result of the determination, in the case of mismatching, executing a predetermined operation for notifying the abnormality of the semiconductor chip or stopping the operation of the semiconductor chip 를 포함하는 반도체 칩의 동작 방법.Method of operating a semiconductor chip comprising a. 제7항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 정지시키는 단계는, The stopping step is, 상기 반도체 칩의 이상을 알리기 위한 기 설정된 특정 핀에 임피던스 값의 변화를 유도하거나 또는 상기 반도체 칩의 입출력에 기 정의된 특정 신호를 발생시키는 것을 특징으로 하는 반도체 칩의 동작 방법.A method of operating a semiconductor chip, the method comprising inducing a change in an impedance value to a predetermined specific pin for notifying an abnormality of the semiconductor chip or generating a specific signal predefined at an input / output of the semiconductor chip. 제7항 또는 제8항에 있어서, 9. The method according to claim 7 or 8, 상기 정지시키는 단계는, The stopping step is, 상기 반도체 칩의 이상을 외부에 알리는 기 정의된 표시 동작을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 칩의 동작 방법.And performing a predefined display operation of informing the outside of the abnormality of the semiconductor chip. 제9항에 있어서, 10. The method of claim 9, 상기 판단하는 단계는, The determining step, 상기 저장하는 단계에서 암호화되어 저장된 상기 초기 주변 환경 정보를 독출하여 복호화하여 상기 주변 환경 정보와 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 칩의 동작 방법.And reading out and decrypting the initial ambient environment information which is encrypted and stored in the storing step, and comparing the decrypted initial environment information with the surrounding environment information. 제10항에 있어서, The method of claim 10, 외부 기기의 요청에 따라, 상기 반도체 칩의 인증 절차 수행에 필요한 무선 주파수 식별 태그 정보를 상기 외부 기기에 제공하는 단계At the request of an external device, providing the external device with radio frequency identification tag information necessary to perform an authentication procedure of the semiconductor chip; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 칩의 동작 방법.Method of operating a semiconductor chip further comprising. 제11항에 있어서, The method of claim 11, 상기 주변 환경 정보는 온도, 압력, 습도, 소리, 빛 및 상기 반도체 칩에 대한 물리적인 접촉에 따른 변화 중 하나 이상을 포함하는 정보인 것을 특징으로 하는 반도체 칩의 동작 방법.And the surrounding environment information is information including one or more of temperature, pressure, humidity, sound, light, and a change in physical contact with the semiconductor chip.
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