KR20100002834A - Liquid crystal display - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 액정표시장치에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device.
정보화 기술이 발달함에 따라 사용자와 정보간의 연결 매체인 표시장치의 시장이 커지고 있다. 이에 따라, 액정표시장치(Liquid Crystal Display: LCD), 유기전계 발광소자(Organic Light Emitting Diodes: OLED) 및 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel: PDP) 등과 같은 평판 표시장치(Flat Panel Display: FPD)의 사용이 증가하고 있다. 그 중 고해상도를 구현할 수 있고 소형화뿐만 아니라 대형화가 가능한 액정표시장치가 널리 사용되고 있다.With the development of information technology, the market for a display device, which is a connection medium between a user and information, is growing. Accordingly, flat panel displays (FPDs), such as liquid crystal displays (LCDs), organic light emitting diodes (OLEDs), and plasma display panels (PDPs), may be used. Usage is increasing. Among them, a liquid crystal display device capable of realizing high resolution and capable of large size as well as small size is widely used.
이러한 액정표시장치는 크게 트랜지스터 어레이 기판과 컬러필터 기판으로 구성된다. 트랜지스터 어레이 기판에는 게이트, 반도체층, 소오스 및 드레인을 포함하는 트랜지스터와 트랜지스터의 소오스 또는 드레인에 연결된 화소 전극을 포함하는 서브 픽셀이 형성된다. 그리고 컬러필터 기판에는 컬러필터와 블랙매트릭스가 형성된다.Such a liquid crystal display device is largely composed of a transistor array substrate and a color filter substrate. A subpixel including a transistor including a gate, a semiconductor layer, a source and a drain, and a pixel electrode connected to a source or a drain of the transistor is formed on the transistor array substrate. A color filter and a black matrix are formed on the color filter substrate.
한편, 트랜지스터 제조공정 중 소오스 및 드레인은 게이트를 기준으로 형성하는데, 종래에는 오버레이(overlay) 편차에 의해 소오스와 드레인이 조금씩 틀어 지는 문제가 있었다.On the other hand, the source and the drain during the transistor manufacturing process is formed based on the gate, there has been a problem that the source and the drain is slightly distorted by the overlay (overlay) in the prior art.
오버레이 편차와 관련하여 설명을 부가하면, 동일한 기판 상에서 같은 방향으로 배치된 트랜지스터의 경우 층간 오버레이가 틀어지더라도 게이트와 소오스 간의 기생커패시턴스(Cgs)는 동일하게 형성될 수 있다. 그러나, 도 1과 같이 좌우 대칭형태로 형성된 1자형 트랜지스터의 경우 소오스와 드레인을 형성할 때, 게이트를 기준으로 어느 방향으로 편차가 발생하느냐에 따라 서브 픽셀 간의 Cgs 값이 달리 지게 된다. 여기서, Cgs 값의 차이는 결국 △Vp의 차이를 유발하게 되는데, 이와 같은 문제는 서브 픽셀 내의 전압 차징(charging) 정도의 차이를 유발하게 되어 딤(dim)이나 특정 얼룩과 같은 표시불량을 야기하게 되므로 이의 개선이 요구된다.In addition to the description regarding the overlay deviation, in the case of transistors disposed in the same direction on the same substrate, the parasitic capacitance Cgs between the gate and the source may be formed the same even if the interlayer overlay is distorted. However, as shown in FIG. 1, when forming a source and a drain, the Cgs value between the subpixels varies depending on which direction the gate is formed when the source and the drain are formed. Here, the difference in the Cgs value eventually causes a difference in ΔVp. This problem causes a difference in the degree of voltage charging in the sub-pixels, resulting in display defects such as dim or specific spots. Therefore, improvement is required.
상술한 배경기술의 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 트랜지스터 제조공정 중 오버레이 편차에 따른 게이트 소오스 간의 기생커패시턴스(Cgs) 차를 방지할 수 있는 액정표시장치를 제공하여 서브 픽셀 내의 전압 차징 정도에 따른 딤(dim)이나 특정 얼룩과 같은 표시불량을 야기하는 문제를 해결하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a liquid crystal display device capable of preventing a parasitic capacitance (Cgs) difference between gate sources due to an overlay deviation during a transistor manufacturing process. It is to solve the problem that causes display defects such as dim or specific stains.
상술한 과제 해결 수단으로 본 발명은, 기판 상에 위치하며 제1방향으로 배열된 제1배선부와, 제1방향과 직교하도록 제1배선부로부터 연장된 게이트 영역을 갖는 복수의 게이트 배선; 기판 상에 위치하며 복수의 게이트 배선을 따라 이격하도록 위치하는 복수의 공통 전압 배선; 복수의 게이트 배선 및 복수의 공통 전압 배선 상에 위치하는 제1절연막; 제1절연막 상에 위치하며 제2방향으로 배열된 제3배선부와, 두 개의 주사선마다 게이트 영역의 일측과 타측에 중첩하는 제1전극 영역을 갖는 복수의 데이터 배선; 및 제1절연막 상에 위치하며 제1전극 영역에 대향하도록 게이트 영역의 일측과 타측에 두 개의 주사선마다 중첩하는 제2전극 영역과, 화소 전극에 연결되는 콘택 영역을 갖되 제2전극 영역이 게이트 영역에 모두 중첩하는 복수의 금속 전극을 포함하는 액정표시장치를 제공한다.According to the above-described problem solving means, the present invention includes: a plurality of gate wirings disposed on a substrate and having a first wiring portion arranged in a first direction and a gate region extending from the first wiring portion to be orthogonal to the first direction; A plurality of common voltage wirings positioned on the substrate and spaced apart along the plurality of gate wirings; A first insulating film on the plurality of gate lines and the plurality of common voltage lines; A plurality of data lines disposed on the first insulating layer and having a third wiring portion arranged in a second direction and a first electrode region overlapping one side and the other side of the gate region for every two scanning lines; And a second electrode region on the first insulating layer, the second electrode region overlapping every two scanning lines on one side and the other side of the gate region so as to face the first electrode region, and a contact region connected to the pixel electrode, wherein the second electrode region is a gate region. A liquid crystal display device including a plurality of metal electrodes overlapping all of them is provided.
제2전극 영역은 콘택 영역보다 제2방향으로 길게 형성되고, 콘택 영역은 제2전극보다 제1방향으로 길게 형성될 수 있다.The second electrode region may be formed longer in the second direction than the contact region, and the contact region may be formed longer in the first direction than the second electrode.
복수의 금속 전극은, (ㅓ) 또는 (ㅏ)자 형상으로 형성될 수 있다.The plurality of metal electrodes may be formed in a (v) or (v) shape.
게이트 영역의 폭은, 제1배선부의 폭보다 넓을 수 있다.The width of the gate region may be wider than the width of the first wiring portion.
제1전극 영역이 두 개의 주사선마다 게이트 영역의 일측과 타측에 중첩함에 따라 제1전극 영역과 대향하는 제2전극 영역은 두 개의 주사선마다 서로 다른 전압이 교번하여 걸릴 수 있다.As the first electrode region overlaps one side and the other side of the gate region every two scan lines, the second electrode region facing the first electrode region may alternately take different voltages every two scan lines.
본 발명은, 트랜지스터 제조공정 중 오버레이 편차에 따른 게이트 소오스 간의 기생커패시턴스(Cgs) 차를 방지할 수 있는 액정표시장치를 제공하여 서브 픽셀 내의 전압 차징 정도에 따른 딤(dim)이나 특정 얼룩과 같은 표시불량을 야기하는 문제를 해결할 수 있는 효과가 있다.The present invention provides a liquid crystal display device that can prevent the parasitic capacitance (Cgs) difference between the gate source due to the overlay deviation during the transistor manufacturing process, such as display such as dim (dim) or specific spots according to the voltage charging degree in the sub-pixel There is an effect that can solve the problem causing the defect.
이하, 본 발명의 실시를 위한 구체적인 내용을 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, the specific content for the practice of the present invention will be described.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치의 분해 사시도이다.1 is an exploded perspective view of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 1에 도시된 바와 같이 일 실시예에 따른 액정표시장치는 광을 출사하는 광원(171)을 포함할 수 있다. 광원(171)의 경우 예를 들면, 냉음극관 형광램프(Cold Cathode Fluorescent Lamp: CCFL), 열음극관 형광램프(Hot Cathode Fluorescent Lamp: HCFL), 외부전극 형광램프(External Electrode Fluorescent Lamp: EEFL) 및 발광 다이오드(Light Emitting Diode: LED) 중 어느 하나를 선택할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.As shown in FIG. 1, the liquid crystal display according to the exemplary embodiment may include a
광원(171)은 램프가 일 측면 외측에 위치하는 에지형, 램프가 양쪽 측면에 위치하는 듀얼형, 램프가 직선으로 다수 배열된 직하형 중 어느 하나를 선택할 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 이와 같은 광원(171)은 인버터에 연결되어 전원을 공급받아 광을 출사할 수 있다.The
또한, 액정표시장치는 광원(171)으로부터 출사되는 광을 인도하는 광학필름층(176)을 포함할 수 있다. 광학필름층(176)은 광원(171) 상에 위치하는 확산판(172), 확산시트(173), 광학시트(174) 및 보호시트(175)를 포함할 수 있다.In addition, the liquid crystal display may include an
광학시트(174)의 경우, 예를 들면 도시된 바와 같이 프리즘 형상일 수 있으나, 렌티큘러 렌즈 또는 마이크로 렌즈 등과 같은 형상으로 위치할 수 있다. 그리고 이러한 광학시트(174)는 비드를 포함할 수도 있다.The
또한, 액정표시장치는 화상을 표시하는 액정패널(183) 및 광원(171)이 수납되는 상부 케이스(190) 및 하부 케이스(170)를 포함할 수 있다. 하부 케이스(170)는 광원(171)을 수납할 수 있다. 광원(171) 상에는 액정패널(183)이 일정 간격을 두고 위치할 수 있다. 액정패널(183) 및 광원(171)은 하부 케이스(170)와 체결되는 상부 케이스(190)에 의해 고정 및 보호될 수 있다.In addition, the liquid crystal display may include a
상부 케이스(190)의 상부 면에는 액정패널(183)의 화상 표시 영역을 노출시키는 개구부가 마련될 수 있다. 그리고 액정패널(183)과 광원(171) 사이에 위치하는 광학필름층(176)의 주변부가 안착 되는 몰드프레임(미도시)이 더 포함될 수도 있다.An opening for exposing an image display area of the
액정패널(183)은 트랜지스터 등이 형성된 기판(110)과 컬러필터 등이 형성된 기판(180)이 액정층을 사이에 두고 합착된 구조를 가질 수 있다. 이러한 액정패널(183)은 트랜지스터에 의해 독립적으로 구동되는 서브 픽셀이 매트릭스 형태로 배열된다.The
액정패널(183)의 기판(110)에는 구동부(189)가 접속될 수 있다. 구동부(189)는 패널(183)의 데이터 배선과 게이트 배선을 각각 구동하기 위한 구동 칩(187)을 실장하여 기판(110)과 일측부가 접속된 다수의 필름 회로(186)와, 다수의 필름 회로(186)의 타측부와 접속된 인쇄 회로 기판(188)을 포함할 수 있다.The
구동 칩(187)을 실장한 필름 회로(186)는 COF(Chip On Film)나 TCP(Tape Carrier Package) 방식을 나타낸 것이다. 그러나 이와는 달리 구동 칩(187)은 COG(Chip On Glass) 방식으로 기판(110) 상에 직접 실장되거나, 트랜지스터 형성 공정에서 기판(110) 상에 형성되어 내장될 수 있다.The
액정패널(183)의 기판(110) 상에 위치하는 서브 픽셀은 구동 칩(187)으로부터 구동 신호를 공급받을 수 있다. 구동 칩(187)은 서브 픽셀에 데이터 신호를 공급하는 데이터 구동부와 서브 픽셀에 스캔 신호를 공급하는 스캔 구동부를 포함할 수 있다.The subpixels positioned on the
데이터 구동부 및 스캔 구동부 중 적어도 하나는 COG(Chip On Glass) 방식으로 기판(110) 상에 직접 실장되거나, 트랜지스터 형성 공정에서 기판(110) 상에 형성되어 내장될 수 있다.At least one of the data driver and the scan driver may be directly mounted on the
이와 같은 구조에 따라, 기판(110) 상에 위치하는 각 서브 픽셀은 스캔 신호 가 공급되면, 공통 전극에 공급된 공통 전압과 트랜지스터에 연결된 화소 전극에 공급된 데이터 신호와의 차전압에 따라 액정 배열을 제어하여 광 투과율을 조절함으로써 화상을 표시할 수 있다.According to such a structure, when a sub-pixel positioned on the
이하, Z영역의 일부 개략도를 참조하여 서브 픽셀의 배치 구조에 대해 설명한다.Hereinafter, the arrangement structure of the sub pixels will be described with reference to some schematic diagrams of the Z area.
도 2는 도 1의 Z영역의 일부 개략도이다. 단, 도시된 서브 픽셀(SP011..SP063)은 일부 주사선(S1..S6)에 배치된 것만 개략적으로 도시한 것이다.FIG. 2 is a partial schematic view of the Z region of FIG. 1. However, only the ones arranged on the part of the scan lines S1..S6 are schematically illustrated in the illustrated subpixels SP011..SP063.
도 2에 도시된 바와 같이 각 서브 픽셀(SP011..SP063)은 기판(110) 상에서 교차하는 게이트 배선(120)과 데이터 배선(130) 사이에 위치할 수 있다. 게이트 배선(120)과 데이터 배선(130)의 교차영역에 위치하는 각 서브 픽셀(SP011..SP063)은 게이트 배선(120)으로부터 스캔 신호를 공급받을 수 있고, 데이터 배선(130)으로부터 데이터 신호를 공급받을 수 있으며, 공통 전압 배선(150)으로부터 공통 전압을 공급받을 수 있다.As illustrated in FIG. 2, each sub-pixel SP011... SP063 may be positioned between the
각 서브 픽셀(SP011..SP063)은 게이트 배선(120)과 데이터 배선(130)에 연결된 트랜지스터와 스토리지 커패시터를 포함할 수 있다. 여기서, 트랜지스터는 소오스 또는 드레인을 통해 공급된 데이터 신호를 화소 전극에 전달하는 금속 전극(140)과 연결될 수 있다.Each sub-pixel SP011 .. SP063 may include a transistor and a storage capacitor connected to the
한편, 본 발명의 일 실시예는 도 2와 같은 구조로 배치된 2 도트(dot) Z 인 버전(Inversion) 방식으로 구동할 수 있도록 구현된 액정표시장치이다.On the other hand, an embodiment of the present invention is a liquid crystal display device implemented to be driven in a two-dot Z inversion method arranged in the structure shown in FIG.
이와 같은 구조를 갖는 액정표시장치는 데이터 배선(130)이 두 개의 주사선(S1,S2과 S3,S4)마다 트랜지스터의 게이트 영역의 일측과 타측에 중첩하도록 교번 배선된다. 이에 따라, 각 서브 픽셀(SP011..SP063)에 포함된 트랜지스터는 두 개의 주사선(S1,S2과 S3,S4)마다 데이터 배선(130)을 기준으로 일측과 타측으로 교번하여 배치된다.In the liquid crystal display having the structure as described above, the
그러므로, 제1 및 제2주사선(S1, S2)에 위치하는 트랜지스터와 제3 및 제4주사선(S3, S4)에 위치하는 트랜지스터는 좌우 대칭형태로 배치된다. 트랜지스터가 이와 같이 좌우 대칭형태로 배치되게 되면, 두 개의 주사선(S1,S2과 S3,S4)마다 서로 다른 전압이 교번하여 걸릴 수 있다.Therefore, the transistors positioned in the first and second scan lines S1 and S2 and the transistors located in the third and fourth scan lines S3 and S4 are arranged in left-right symmetry. When the transistors are arranged symmetrically in this manner, different voltages may be alternately applied to the two scan lines S1, S2, S3, and S4.
이하, 도 3을 참조하여 서브 픽셀에 대해 설명한다.Hereinafter, the subpixel will be described with reference to FIG. 3.
도 3은 도 2에 도시된 서브 픽셀의 개략도이고, 도 4는 도 3의 A1-A2영역의 단면도이다.3 is a schematic diagram of the subpixel illustrated in FIG. 2, and FIG. 4 is a cross-sectional view of an area A1-A2 of FIG. 3.
도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이 하나의 서브 픽셀은, 제1방향(x방향)으로 배열된 제1배선부(121)와, 제1방향(x방향)과 직교하도록 제1배선부(121)로부터 연장된 게이트 영역(125)을 갖는 복수의 게이트 배선(120)을 포함할 수 있다. 또한, 복수의 게이트 배선(120)을 따라 이격하도록 위치하는 복수의 공통 전압 배선(150)을 포함할 수 있다. 또한, 복수의 게이트 배선(120) 및 복수의 공통 전압 배선(150) 상에 위치하는 제1절연막(115)을 포함할 수 있다. 또한, 제1절연막(115) 상에 위치하며 제2방향(y방향)으로 배열된 제3배선부(131)와, 두 개의 주사선마다 게이트 영역의 일측과 타측에 중첩하는 제1전극 영역(135)을 갖는 복수의 데이터 배선(130)을 포함할 수 있다. 또한, 제1절연막(115) 상에 위치하며 제1전극 영역(135)에 대향하도록 게이트 영역(125)의 일측과 타측에 두 개의 주사선마다 중첩하는 제2전극 영역(141)과, 화소 전극(160)에 연결되는 콘택 영역(145)을 갖되 제2전극 영역(141)이 게이트 영역(125)에 모두 중첩하는 복수의 금속 전극(140)을 포함할 수 있다.As shown in FIGS. 3 and 4, one subpixel includes a
도 4를 참조하면, 트랜지스터는 제1기판(110) 상에 형성된 게이트 영역(125)을 포함할 수 있다. 게이트 영역(125)은 게이트 배선(120) 중 실질적으로 트랜지스터의 게이트가 되는 영역이다. 게이트를 형성하기 위한 재료는 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어질 수 있다. 또한, 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 다중층일 수 있다. 또한, 몰리브덴/알루미늄-네오디뮴 또는 몰리브덴/알루미늄의 2중층일 수 있다.Referring to FIG. 4, the transistor may include a
또한, 트랜지스터는 게이트 영역(125) 상에 위치하는 제1절연막(115)을 포함할 수 있다. 제1절연막(115)은 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있으나 이에 한정되지 않는다.In addition, the transistor may include a first insulating
또한, 트랜지스터는 제1절연막(115) 상에 위치하는 액티브층(116)을 포함할 수 있다. 또한, 액티브층(116) 상에 정의된 소오스 영역 및 드레인 영역에 각각 위치하는 오믹콘택층(117)을 포함할 수 있다. 액티브층(116)은 a-Si 또는 p-Si 등으로 형성될 수 있으며, 오믹콘택층(117)은 전기 접촉저항을 줄이기 위해 위치할 수 있다.In addition, the transistor may include an
또한, 트랜지스터는 액티브층(116) 및 오믹콘택층(117)에 접촉하는 제1전극 영역(135)과 제2전극 영역(141)을 포함할 수 있다. 제1전극 영역(135)과 제2전극 영역(141)은 데이터 배선(130)과 금속 전극(140) 중 실질적으로 소오스 또는 드레인이 되는 영역이다. 소오스 및 드레인은 단일층 또는 다중층으로 이루어질 수 있다. 소오스 및 드레인이 단인층인 경우 이를 형성하기 위한 재료로는 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어질 수 있다. 반면, 소오스 및 드레인이 다중층인 경우 이를 형성하기 위한 재료로는 몰리브덴/알루미늄-네오디뮴의 2중층, 몰리브덴/알루미늄/몰리브덴 또는 몰리브덴/알루미늄-네오디뮴/몰리브덴의 3중층으로 이루어질 수 있다.In addition, the transistor may include a
또한, 트랜지스터는 제1전극 영역(135)과 제2전극 영역(141) 상에 위치하는 제2절연막(119)을 포함할 수 있다. 제2절연막(119)은 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 제2절연막(119)은 패시베이션막일 수 있다.In addition, the transistor may include a second insulating
이와 같이 형성된 트랜지스터에서 금속 전극(140) 중 콘택 영역(145)은 비어홀(VH)를 통해 제2절연막(119) 상에 위치는 화소 전극(160)에 연결될 수 있다. 화 소 전극(160)은 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide) 또는 ZnO(Zinc Oxide) 중 어느 하나일 수 있다.In the transistor formed as described above, the
제2전극 영역(141)은 콘택 영역(145)보다 제2방향(y방향)으로 길게 형성되고, 콘택 영역(145)은 제2전극(141)보다 제1방향(x방향)으로 길게 형성될 수 있다. 즉, 복수의 금속 전극(140)은 (ㅓ) 또는 (ㅏ)자 형상으로 형성될 수 있다.The
한편, 게이트 영역(125)의 폭은 제1배선부(121)의 폭보다 넓게 형성된다. 이와 같이, 게이트 영역(125)의 폭을 제1방향(x방향)으로 넓게 형성하게 되면 오버레이(overlay) 편차에 의해 소오스와 드레인이 되는 제1전극 영역(135)과 제2전극 영역(141)이 제1방향(x방향)의 좌측 또는 우측으로 틀어지더라도 트랜지스터의 게이트 소오스 간의 기생커패시턴스(Cgs)를 동일하게 형성할 수 있게 된다.Meanwhile, the width of the
트랜지스터의 Cgs 편차의 경우 제2방향(y방향)으로의 틀어짐은 좌우 대칭형태로 배치된 트랜지스터 구조에서는 동일한 Cgs 차가 발생하므로 서브 픽셀 간의 휘도 차이는 발생하지 않는다. 그러나, 제1방향(x방향)으로의 틀어짐은 좌우 대칭형태로 배치된 트랜지스터 구조에서는 큰 Cgs 차가 발생하므로 서브 픽셀 간의 휘도 차가 발생하게 된다.In the case of the Cgs deviation of the transistor, the distortion in the second direction (y direction) is the same in the transistor structure arranged in the left-right symmetry so that the same Cgs difference occurs, so that the luminance difference between the subpixels does not occur. However, the distortion in the first direction (x direction) causes a large Cgs difference in the transistor structure arranged in a symmetrical manner, and thus a luminance difference between subpixels occurs.
여기서, 게이트 영역(125)의 폭을 넓게 함에 따라 Cgs가 다소 커질 경우, 서브 픽셀 설계시 스토리지 커패시터, 액정층(Clc)을 키우는 방법을 통해 △Vp가 커지는 것을 방지할 수도 있다.In this case, when the width of the
이하, 오버레이 편차 발생시 트랜지스터의 Cgs 차이가 발생하는 것에 대해 종래 기술과 본 발명을 비교하여 설명한다.Hereinafter, the Cgs difference of the transistors in the occurrence of the overlay deviation will be described by comparing the present invention with the prior art.
도 5 및 도 6은 종래 기술과 본 발명 간의 오버레이 편차에 따른 트랜지스터의 Cgs 차이를 설명하기 위한 도면이다. 단, 도 5 및 도 6에는 설명에 필요한 주요 부위에만 도면 부호를 기재한다.5 and 6 are diagrams for explaining the difference in the Cgs of the transistor according to the overlay deviation between the prior art and the present invention. 5 and 6, reference numerals are written only to the main parts necessary for explanation.
도 5 및 도 6은 오버레이 편차에 의해 트랜지스터 의 소오스 및 드레인이 틀어진 것을 나타낸 도면이다. 도 5 및 도 6의 "OLn"은 n번째 주사선에 위치하는 트랜지스터의 편차 발생 영역을 나타내고, "OLn+k는 n+k번째 주사선에 위치하는 트랜지스터의 편차 발생 영역을 나타낸다.5 and 6 are diagrams showing that the source and the drain of the transistor are twisted due to the overlay deviation. "OLn" in Figs. 5 and 6 indicates the deviation occurrence region of the transistor located in the nth scan line, and "OLn + k indicates the deviation occurrence region of the transistor located in the n + kth scan line.
여기서, 도 5에 도시된 종래의 트랜지스터의 경우 게이트 영역(125)의 폭이 제1배선부(121)의 폭과 유사한 좁은 폭을 갖는다. 이에 따라, 우측 화살표 방향(x방향)으로 오버레이 편차가 발생할 경우, 소오스 및 드레인이 되는 제1전극 영역(135)과 제2전극 영역(141)이 x방향으로 치우쳐진 형태로 형성되면 트랜지스터의 Cgs 차이가 발생하게 된다. 즉, n번째 주사선에 위치하는 트랜지스터의 Cgs와 n+k번째 주사선에 위치하는 트랜지스터의 Cgs 값은 오버레이 편차 발생 정도와 관계되어 △Vp 차에 따른 문제를 유발할 수 있다.In the case of the conventional transistor illustrated in FIG. 5, the width of the
반면, 도 6에 도시된 일 실시예의 트랜지스터의 경우 게이트 영역(125)의 폭이 제1배선부(121)의 폭보다 넓은 폭을 갖는다. 이에 따라, 우측 화살표 방향(x방향)으로 오버레이 편차가 발생할 경우, 소오스 및 드레인이 되는 제1전극 영역(135)과 제2전극 영역(141)이 x방향으로 치우쳐진 형태로 형성되더라도 게이트 영역(125) 내에 제1전극 영역(135)과 제2전극 영역(141)이 포함되므로 트랜지스터의 Cgs 차이가 발생하지 않게 된다. 즉, n번째 주사선에 위치하는 트랜지스터의 Cgs와 n+k번째 주사선에 위치하는 트랜지스터의 Cgs 값은 오버레이 편차 발생 정도와 무관하게 되어 △Vp 차에 따른 문제를 방지할 수 있다.In contrast, in the transistor of the exemplary embodiment illustrated in FIG. 6, the width of the
이상 본 발명의 일 실시예는 트랜지스터 제조공정 중 오버레이 편차에 따른 게이트 소오스 간의 기생커패시턴스(Cgs) 차를 방지할 수 있는 액정표시장치를 제공하여 서브 픽셀 내의 전압 차징정도 차에 따른 딤(dim)이나 특정 얼룩과 같은 표시불량을 야기하는 문제를 해결할 수 있는 효과가 있다.One embodiment of the present invention provides a liquid crystal display device that can prevent the parasitic capacitance (Cgs) difference between the gate source due to the overlay deviation during the transistor manufacturing process, so that the dim (Dim) There is an effect that can solve the problem that causes display defects such as certain stains.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다. 아울러, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어진다. 또한, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, the technical configuration of the present invention described above may be modified in other specific forms by those skilled in the art to which the present invention pertains without changing its technical spirit or essential features. It will be appreciated that it may be practiced. Therefore, the embodiments described above are to be understood as illustrative and not restrictive in all aspects. In addition, the scope of the present invention is shown by the claims below, rather than the above detailed description. Also, it is to be construed that all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts are included in the scope of the present invention.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정표시장치의 분해 사시도.1 is an exploded perspective view of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 2는 도 1의 Z영역의 일부 개략도.FIG. 2 is a partial schematic view of the Z region of FIG. 1. FIG.
도 3은 도 2에 도시된 서브 픽셀의 개략도.3 is a schematic diagram of the sub-pixel shown in FIG.
도 4는 도 3의 A1-A2영역의 단면도.4 is a cross-sectional view of region A1-A2 of FIG. 3;
도 5 및 도 6은 종래 기술과 본 발명 간의 오버레이 편차에 따른 트랜지스터의 Cgs 차이를 설명하기 위한 도면.5 and 6 are diagrams for explaining the difference in the Cgs of the transistor according to the overlay deviation between the prior art and the present invention.
<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명><Explanation of symbols on main parts of the drawings>
110: 기판 115: 제1절연막110: substrate 115: first insulating film
116: 액티브층 119: 제2절연막116: active layer 119: second insulating film
120: 게이트 배선 121: 제1배선부120: gate wiring 121: first wiring portion
125: 게이트 영역 130: 데이터 배선125: gate region 130: data wiring
131: 제2배선부 135: 제1전극 영역131: second wiring unit 135: first electrode region
140: 금속 전극 141: 제2전극 영역140: metal electrode 141: second electrode region
145: 콘택 영역 150: 공통 전압 배선145: contact region 150: common voltage wiring
160: 화소 전극 VH: 비어홀160: pixel electrode VH: via hole
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080062875A KR20100002834A (en) | 2008-06-30 | 2008-06-30 | Liquid crystal display |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080062875A KR20100002834A (en) | 2008-06-30 | 2008-06-30 | Liquid crystal display |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100002834A true KR20100002834A (en) | 2010-01-07 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080062875A KR20100002834A (en) | 2008-06-30 | 2008-06-30 | Liquid crystal display |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR20100002834A (en) |
-
2008
- 2008-06-30 KR KR1020080062875A patent/KR20100002834A/en not_active Application Discontinuation
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