KR20090131434A - Rfid 시스템 테스트 장치 및 방법 - Google Patents

Rfid 시스템 테스트 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20090131434A
KR20090131434A KR1020080057301A KR20080057301A KR20090131434A KR 20090131434 A KR20090131434 A KR 20090131434A KR 1020080057301 A KR1020080057301 A KR 1020080057301A KR 20080057301 A KR20080057301 A KR 20080057301A KR 20090131434 A KR20090131434 A KR 20090131434A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
environment information
rfid device
converted
rfid
Prior art date
Application number
KR1020080057301A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100989862B1 (ko
Inventor
김광훈
박민재
Original Assignee
경기대학교 산학협력단
경기도
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 경기대학교 산학협력단, 경기도 filed Critical 경기대학교 산학협력단
Priority to KR1020080057301A priority Critical patent/KR100989862B1/ko
Publication of KR20090131434A publication Critical patent/KR20090131434A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100989862B1 publication Critical patent/KR100989862B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K7/00Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
    • G06K7/0095Testing the sensing arrangement, e.g. testing if a magnetic card reader, bar code reader, RFID interrogator or smart card reader functions properly
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K17/00Methods or arrangements for effecting co-operative working between equipments covered by two or more of main groups G06K1/00 - G06K15/00, e.g. automatic card files incorporating conveying and reading operations
    • G06K17/0022Methods or arrangements for effecting co-operative working between equipments covered by two or more of main groups G06K1/00 - G06K15/00, e.g. automatic card files incorporating conveying and reading operations arrangements or provisious for transferring data to distant stations, e.g. from a sensing device

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

RFID 시스템 테스트 장치 및 방법이 개시된다. RFID 시스템 테스트 장치는 사용자에게 유저 인터페이스를 제공하여 RF 환경 정보를 입력받는 인터페이스부, 테스트 대상 RFID(Radio Frequency Identification) 장치와 데이터를 주고 받는 통신부 및 입력받은 RF 환경 정보를 변환 RF 환경 정보로 변환하고 상기 변환 RF 환경 정보를 이용하여 상기 테스트 대상 RFID 장치를 테스트하는 제어부를 포함할 수 있다. 본 발명에 따르면 RF 환경 정보를 최소한의 입력으로 편리하게 생성 및 수정할 수 있는 효과가 있다.
RFID, 테스트, 마크업 언어

Description

RFID 시스템 테스트 장치 및 방법{Apparatus and Method for testing RFID System}
본 발명은 RFID(Radio Frequency Identification) 시스템 테스트 장치 및 방법에 관한 것으로 상세하게는 통합 가상 RF(Radio Frequency) 환경을 이용한 RFID 시스템 테스트 장치 및 방법에 관한 것이다.
RFID(Radio Frequency Identification, 전파 식별) 기술은 IC칩과 무선을 통해 식품, 동물, 사물 등 다양한 개체의 정보를 관리할 수 있는 차세대 인식 기술이다.
RFID는 생산에서 판매에 이르는 모든 과정의 정보를 초소형 칩(IC칩)에 내장시켜 이를 무선주파수로 추적할 수 있도록 한 기술로서, '전자태그' 혹은 '스마트 태그', '전자 라벨', '무선식별' 등으로 불린다.
RFID는 지금까지 유통분야에서 일반적으로 물품관리를 위해 사용된 바코드를 대체할 차세대 인식기술로 꼽힌다.
RFID는 판독 및 해독 기능을 하는 판독기(Reader)와 정보를 제공하는 태그(Tag)로 구성되는데, 제품에 붙이는 태그에 제품에 대한 정보를 담고, 판독기로 하여금 안테나를 통해서 이 정보를 읽도록 한다. 또 인공위성이나 이동통신망과 연계하여 정보시스템과 통합하여 사용될 수 있다.
RFID 기술을 사용하는 RFID 시스템을 개발할 때, 직접 RFID 태그가 부착된 제품을 이용하여 테스트하는 것은 실용적이지 못하므로 가상의 RF 환경을 제공하여 RFID 시스템을 테스트한다.
종래에는 RFID 시스템을 테스트할 때, RFID 시스템을 구성하는 장치마다 별도로 RF 환경 정보를 입력하여야 했다. 따라서 사용자는 RF 환경 정보를 맨 처음 적용할 때나 RF 환경 정보가 변경되었을 때 같은 작업을 반복해야 하는 불편을 겪을 수 있다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, RF 환경 정보를 최소한의 입력으로 편리하게 생성 및 수정하는데 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 사용자가 직관적으로 RF 환경 정보를 입력할 수 있게 하는 데 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 사용자가 여러 테스트 대상 RFID 장치를 편리하게 테스트할 수 있도록 하는 데 그 목적이 있다.
본 발명의 일 측면에 따르면 RFID 시스템 테스트 장치가 제공된다.
본 발명의 일 실시예에 따르는 RFID 시스템 테스트 장치는 사용자에게 유저 인터페이스를 제공하여 RF 환경 정보를 입력받는 인터페이스부, 테스트 대상 RFID(Radio Frequency Identification) 장치와 데이터를 주고 받는 통신부 및 입력받은 RF 환경 정보를 변환 RF 환경 정보로 변환하고 상기 변환 RF 환경 정보를 이용하여 상기 테스트 대상 RFID 장치를 테스트하는 제어부를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 측면에 따르면 RFID 시스템 테스트 방법이 제공된다.
본 발명의 일 실시예에 따르는 RFID 시스템 테스트 방법은 유저 인터페이스를 통하여 RF(Radio Frequency) 환경 정보가 입력되는 단계, 상기 입력된 RF 환경 정보가 변환 RF 환경 정보로 변환되는 단계 및 상기 변환 RF 환경 정보를 이용하여 상기 테스트 대상 RFID 장치가 테스트 되는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면 RF 환경 정보를 최소한의 입력으로 편리하게 생성 및 수정할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 사용자가 직관적으로 RF 환경 정보를 입력할 수 있게 하는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 사용자가 여러 테스트 대상 RFID 장치를 편리하게 테스트할 수 있도록 하는 효과가 있다.
이하, 본 발명에 따른 RFID 시스템 테스트 장치 및 방법의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명하기로 하며, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
본 명세서에서 'RFID 장치'는 RFID 기술을 직접 사용하는 장치는 물론이고 RFID 기술을 직접 사용하지는 않지만 RFID 기술을 이용한 시스템에서 사용되는 장치 및 이와 균등한 범위에 있는 장치를 포괄적으로 일컫는 표현이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따르는 RFID 시스템 테스트 장치가 포함된 망 구성도이다.
RFID 시스템 테스트 장치(200)는 미들웨어(middleware, 110), RFID 리더(reader)(120) 및 안테나(130)에 연결될 수 있다. RFID 시스템 테스트 장치(200)는 반드시 미들웨어(110), RFID 리더(120) 및 안테나(130)에 직접 연결되어야 하는 것은 아니고, 다른 장치를 통해서 연결되어도 무방하고, 무선 통신을 통하여 연결될 수도 있다.
RFID 시스템 테스트 장치(200)는 RF 환경 정보를 입력받아 미들웨어(110), RFID 리더(120) 및 안테나(130) 등 테스트 대상 RFID 장치에 대한 통합적 테스트를 수행할 수 있다. 테스트 대상 RFID 장치들이 전체적으로 하나의 시스템을 이루어 테스트가 필요한 경우 통합적 RF 환경 정보 관리를 수행할 수 있다.
RF 환경 정보는 테스트 대상 RFID 장치의 테스트를 위한 가상의 환경을 나타내는 정보이다. RF 환경 정보에는 테스트 대상 RFID 장치들의 설정 정보가 포함될 수 있다.
RFID 시스템 테스트 장치(200)는 예시된 장치들 외에도 예시되지 않은 테스트 대상 RFID 장치 또는 테스트 대상 RFID 장치의 테스트에 필요한 다른 장치에 연결되어 그 테스트 대상 RFID 장치에 대한 테스트를 수행할 수 있다.
RFID 시스템 테스트 장치(200)는 별도의 하드웨어 구성을 가질 수도 있다. 실시예에 따라 RFID 시스템 테스트 장치(200)는 테스트 대상 RFID 장치에 포함된 모듈이나 소프트웨어 또는 프로그램이 될 수도 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따르는 RFID 시스템 테스트 장치(200)의 블록 구성도이다.
RFID 시스템 테스트 장치(200)는 인터페이스부(210), 통신부(220) 및 제어부(400)를 포함할 수 있다.
인터페이스부(210)는 사용자에게 유저 인터페이스를 제공하여 RF 환경 정보를 입력받을 수 있다.
제공되는 유저 인터페이스는 GUI(Graphical User Interface)가 될 수 있다.
제공되는 GUI는 웹 페이지 형식이 될 수도 있고, 별도의 애플리케이션에 의할 수도 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따르는 인터페이스부(210)가 제공하는 GUI 화면의 예시도이다.
GUI 화면은 도 3과 같은 트리 형태로 제공될 수 있다.
사용자는 왼쪽의 트리 형태 인터페이스(310)에서 수정하고자 하는 엘리먼트(element, 구성요소)를 선택하고, 오른쪽 인터페이스(320)에서 속성값을 수정하거나 추가 또는 삭제하는 방식으로 RF 환경 정보를 편집할 수 있다. 또한, 사용자는 현재 RF 환경의 상태도 조회할 수 있다.
도 3의 화면 배치는 일 실시예일 뿐이며, 실시예에 따라 오른쪽과 왼쪽의 배치가 서로 바뀌거나 트리 형태 인터페이스가 화면 상단 또는 하단에 배치될 수도 있다.
사용자는 왼쪽의 트리 형태의 인터페이스(310)에서 엘리먼트를 추가하거나 삭제할 수도 있다.
통신부(220)는 테스트 대상 RFID 장치와 데이터를 주고받을 수 있다.
통신부(220)는 GUI로 입력받은 RF 환경 정보를 테스트 대상 RFID 장치에 전달할 수 있다.
실시예에 따라 사용자가 RF 환경 정보를 수정할 때 바로 RF 환경 정보가 전달될 수 있다. 다른 실시예에 따르면 일정 주기마다 RF 환경 정보가 전달될 수 있다. 또 다른 실시예에 따르면 사용자로부터 명시적으로 RF 환경 정보를 테스트 대상 RFID 장치에 전달하도록 하는 입력을 받은 경우에 RF 환경 정보가 전달될 수 있 다.
통신부(220)는 제어부(400)에서 변환한 변환 RF 환경 정보를 테스트 대상 RFID 장치에 전달할 수 있다. 통신부(220)는 실시예에 따라 변환 RF 환경 정보와 다른 형태로 RF 환경 정보를 테스트 대상 RFID 장치에 전달할 수 있다. 통신부(220)는 RF 환경 정보가 일부만 변경된 경우 변경된 RF 환경 정보만을 테스트 대상 RFID 장치에 전달할 수도 있다.
통신부(220)는 테스트 대상 RFID 장치를 테스트하기 위한 테스트 데이터를 테스트 대상 RFID 장치에 전달할 수 있다. 테스트 데이터는 가상 RF 테스트 환경에서의 가상 RFID 태그의 이동정보 등 RFID 시스템 테스트에 필요한 데이터를 포함할 수 있다.
통신부(220)는 테스트 대상 RFID 장치의 테스트가 수행된 후, 또는 수행 도중에 테스트 대상 RFID 장치로부터 테스트 결과데이터를 전달받을 수 있다. 테스트 결과데이터는 오류 발생 여부나 발생한 오류의 종류, 작업 처리 결과, 판매 실적 및 재고 현황(판매에 관계된 장치인 경우) 등 테스트 대상 RFID 장치의 정상 동작 여부 또는 테스트 대상 RFID 장치의 성능을 판단하는데 필요한 정보를 포함할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따르는 제어부(400)의 블록 구성도이다.
제어부(400)는 입력받은 RF 환경 정보를 변환 RF 환경 정보로 변환하고 변환 RF 환경 정보를 이용하여 상기 테스트 대상 RFID 장치를 테스트할 수 있다.
RF 환경 정보 변환부(410)는 GUI로 입력받은 RF 환경 정보를 변환 RF 환경 정보로 변환할 수 있다.
변환 RF 환경 정보는 마크업 언어 형태가 될 수 있다.
마크업 언어는 마크업 정보를 표현하는 언어이다. 마크업 언어를 이용한 문서에는 문서 내용 이외에, 문서의 논리 구조나 체제와 같은 문서의 서식 작성(formatting)을 지정하거나, 문서 내용의 찾아보기 또는 찾아보기 작업(indexing) 방법을 지정하거나 문서 중의 단어나 구, 화상과 같은 어떤 요소를 같은 문서 또는 다른 문서 중의 다른 요소와 연결(link)하는 방법을 지정하여 컴퓨터 시스템에 지시하는 마크업 정보가 추가된다. 마크업 언어는 문서 내에 끼워 넣는(embed) 일련의 부호로 구성될 수 있다. 마크업 언어의 예로는 XML(eXtensible Markup Language), HTML(HyperText Markup Language), GML(Generalized Markup Language) SGML(Standard Generalized Markup Language), XHTML(eXtensible HyperText Markup Language) 등을 들 수 있다.
RF 환경 정보가 XML과 같은 마크업 언어로 변환되면 사용자가 마크업 언어를 보고 환경 정보를 이해하기 쉽게 된다.
또한, 전자 장치가 RF 환경 정보를 저장하거나 읽어 들이기도 쉬워진다.
변환 RF 환경 정보는 마크업 언어 형태가 아니지만 이와 유사하게 구조를 나타낼 수 있는 형태를 가질 수도 있다.
GUI를 이용해 입력된 RF 환경 정보는 GUI에서 제공되는 트리 구조와 유사한 구조의 변환 RF 환경 정보로 변환될 수 있다.
GUI에서 제공되는 트리 구조와 변환 RF 환경 정보의 구조는 서로 대응될 수 있다. 예를 들어 GUI에서 A 엘리먼트의 자식 엘리먼트로 B 엘리먼트가 존재한다면, 변환 RF 환경 정보에서도 A 엘리먼트와 A엘리먼트의 자식 엘리먼트인 B 엘리먼트가 존재할 수 있다.
실시예에 따라 GUI로 표현된 RF 환경 정보에는 테스트 대상 RFID 장치에 대응하는 RFID 장치 정보 엘리먼트가 포함될 수 있다. 이 RFID 장치 정보 엘리먼트에는 대응되는 테스트 대상 RFID 장치의 테스트에 필요한 RF 환경 정보가 포함될 수 있다. RF 환경 정보는 이러한 RFID 장치 정보 엘리먼트의 집합을 포함할 수 있다.
사용자는 GUI에서 임의의 테스트 대상 RFID 장치에 대응하는 RFID 장치 정보 엘리먼트를 선택하여 수정함으로써 그 장치에 대한 환경 정보를 수정할 수 있다. 또한, 사용자는 GUI에서 RFID 장치 정보 엘리먼트를 추가하거나 삭제하여 임의의 테스트 대상 RFID 장치를 추가하거나 임의의 테스트 대상 RFID 장치를 삭제할 수도 있다.
여러 테스트 대상 RFID 장치를 포함한 RFID 시스템의 테스트를 위해서 사용자는 여러 테스트 대상 RFID 장치에 대응하는 RFID 장치 정보 엘리먼트를 GUI를 통해 입력할 수 있다. 입력된 RFID 장치 정보 엘리먼트는 변환 RF 환경 정보에 적합한 형태로 변환되어 변환 RF 환경 정보에 포함된 RFID 장치 정보 엘리먼트에 포함될 수 있다.
다만, 그 속성상 GUI에서 표현되는 것이 바람직하지 않은 엘리먼트는 변환 RF 환경 정보의 구조에만 포함될 수도 있다. 또 속성상 GUI에서만 표현되면 충분한 엘리먼트는 변환 RF 환경 정보의 구조에는 포함되지 않을 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 마크업 언어로 변환된 RF 환경 정보를 나타낸 도면이다.
도 5에서 RF 환경 정보는 마크업 언어의 일종인 XML 형태로 변환되었다.
아래 설명에서 마크업 언어로 변환된 변환 RF 환경 정보에 대해서 설명하고 있으나 다른 형태로 변환된 변환 RF 환경 정보에 대해서도 적용이 가능할 것이다.
도 5를 참조하면 하나의 XML 문서는 여러 RF 환경(RFID_Environment) 엘리먼트를 포함할 수 있다. 사용자는 여러 RF 환경 중 하나의 RF 환경을 선택하여 테스트를 수행하거나 수정, 편집 및 삭제 작업을 할 수 있다. 여러 RF 환경에 대해 공통으로 해당되는 부분을 한꺼번에 수정, 편집 및 삭제하는 것도 가능할 것이다.
각 RF 환경 엘리먼트는 RFID 태그 집합(Tags) 엘리먼트, 안테나 집합(Antennas) 엘리먼트, RFID 리더 집합(Readers) 엘리먼트, 미들웨어 집합(Middlewares) 엘리먼트 및 메시지 생성(Message_Generation) 엘리먼트를 포함할 수 있다. 안테나 집합(Antennas) 엘리먼트, RFID 리더 집합(Readers) 엘리먼트 및 미들웨어 집합(Middlewares) 엘리먼트는 RFID 장치 정보 엘리먼트의 일종이다.
안테나 집합 엘리먼트, RFID 리더 집합 엘리먼트 및 메시지 생성 엘리먼트는 각각 테스트 대상 RFID 장치 종류를 나타내는 엘리먼트로써 그 하위 엘리먼트에는 그 종류에 속하는 실제 테스트 대상 RFID 장치에 대한 환경 정보가 포함될 수 있다.
마크업 언어로 변환된 RF 환경 정보에는 테스트 대상 RFID 장치에 대응하는 엘리먼트가 포함될 수 있다. 하나의 RF 환경 정보에 여러 RFID 장치에 필요한 환경 정보가 포함될 수 있다. 이 경우 사용자는 GUI에서 임의의 테스트 대상 RFID 장치에 대응하는 엘리먼트를 선택하여 수정함으로써 그 장치에 대한 환경 정보를 수정할 수 있다.
또 통신부(220)는 임의의 테스트 대상 RFID 장치에 대하여 그 테스트 대상 RFID 장치에 대응하는 엘리먼트를 선택하여 그 엘리먼트만을 그 테스트 대상 RFID 장치에 전달할 수도 있다. 다만, 이 경우에도 공통으로 사용되는 RF 환경 정보는 모든 테스트 대상 RFID 장치에 전달되어야 할 것이다.
도 5에 예시된 엘리먼트 외에도 테스트의 대상 RFID 장치나 RFID 시스템 테스트를 위해 필요한 다른 장치에 대한 환경 정보가 포함될 수 있다.
RF 환경 정보를 마크업 언어의 형태로 관리하기 때문에 여러 테스트 대상 RFID 장치를 동시에 테스트하더라도 RF 환경이 구조적으로 관리되어 편리하다.
테스트 데이터 생성부(420)는 변환 RF 환경 정보를 이용하여 테스트 데이터를 생성할 수 있다.
생성되는 테스트 데이터는 가상 RF 테스트 환경에서의 가상 RFID 태그의 이동정보 등 RFID 시스템 테스트에 필요한 데이터를 포함할 수 있다.
생성된 테스트 데이터는 통신부(220)를 통해 테스트 대상 RFID 장치에 전달될 수 있다. 각 테스트 대상 RFID 장치에 필요한 테스트 데이터가 상이한 경우 각 테스트 대상 RFID 장치에 필요한 테스트 데이터만을 테스트 대상 RFID 장치에 전달할 수 있다.
테스트 결과데이터 저장부(430)는 통신부(220)를 통해 테스트 대상 RFID 장치의 테스트 결과데이터를 전달받아 결과 데이터를 저장할 수 있다.
실시예에 따라 테스트 결과데이터 저장부(430)는 테스트 결과 데이터를 단순히 저장할 수도 있고, 테스트 결과 데이터를 마크업 언어로 변환하거나 사용자가 이해하기 쉬운 텍스트 형태 또는 그래픽 형태로 변환할 수도 있다. 테스트 결과데이터는 테스트 대상 RFID 장치별로 그에 상응하는 테스트 결과데이터끼리 하나의 집합을 이루어 저장될 수 있다.
테스트 결과 데이터 저장부(430)는 테스트 결과 데이터를 토대로 통계(오류 발생의 빈도 횟수, 시간당 처리량 등) 데이터를 생성할 수 있다. 생성된 통계 데이터는 사용자가 이해하기 쉬운 텍스트 형태 또는 그래픽 형태로 변환될 수 있다.
테스트 결과데이터는 오류 발생 여부나 발생한 오류의 종류, 작업 처리 결과, 판매 실적 및 재고 현황(판매에 관계된 장치인 경우) 등 테스트 대상 RFID 장치의 정상 동작 여부 또는 테스트 대상 RFID 장치의 성능을 판단하는데 필요한 정보를 포함할 수 있다.
테스트 결과데이터 저장부(430)는 테스트 결과데이터를 저장할 수 있다. 예 를 들어 'RF 환경 1'에 따라 테스트 된 결과 데이터는 'RF 환경 1'과 한 쌍으로 저장될 수 있다. 사용자는 GUI에서 'RF 환경 1'을 선택한 경우 그 RF 환경에 따라 테스트 된 결과데이터를 제공받을 수 있다.
테스트 결과데이터 저장부(430)는 각 RF 환경에 따른 테스트 결과데이터를 서로 비교한 비교데이터를 생성할 수 있다.
테스트 결과데이터 저장부(420)는 테스트 결과데이터를 테스트 결과데이터를 생성한 테스트 대상 RFID 장치에 따라 분류할 수 있다. 예를 들어 제1 RFID 리더의 테스트 결과데이터와 제2 RFID 리더의 테스트 결과데이터는 분류되어 저장될 수 있다. 사용자에게 테스트 결과 데이터를 제공할 때에도 테스트 대상 RFID 장치에 따라 분류하여 제공할 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따르는 RFID 시스템 테스트 과정을 나타낸 순서도이다.
단계 S610에서 유저 인터페이스를 통하여 RF 환경 정보가 입력될 수 있다.
인터페이스부(210)는 사용자에게 유저 인터페이스를 제공하여 RF 환경 정보를 입력받을 수 있다. 유저 인터페이스에 대한 설명은 상술한 바와 같다.
단계 S620에서 입력된 RF 환경 정보가 변환 RF 환경 정보로 변환될 수 있다.
RF 환경 정보 변환부(410)는 GUI로 입력받은 RF 환경 정보를 변환 RF 환경 정보로 변환할 수 있다. 변환 RF 환경 정보는 마크업 언어의 형태를 취할 수 있다. 마크업 언어의 예로는 XML 등을 들 수 있다.
단계 S625에서 RFID 장치 정보 엘리먼트가 추가 또는 삭제될 수 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 의한 단계 S625의 상세 순서도이다.
단계 S810에서 사용자가 새로운 테스트 대상 RFID 장치를 추가하길 바라는 경우 유저 인터페이스를 통해서 RFID 장치 정보 엘리먼트 추가 입력이 전달될 수 있다. 예를 들어 RFID 리더를 추가하는 입력이 전달될 수 있다. 이는 사용자가 유저 인터페이스에서 추가 버튼을 누르거나 일정한 키 입력을 하고 필요한 정보를 입력하는 방식으로 수행될 수 있다.
단계 S820에서 RFID 장치 정보 엘리먼트 추가 입력에 상응하는 RFID 장치 정보 엘리먼트가 변환 RF 환경 정보에 추가될 수 있다. 이후로는 RFID 시스템 테스트시에 추가된 RFID 장치 정보 엘리먼트에 상응하는 테스트 대상 RFID 장치가 테스트 될 수 있다.
단계 S830에서 사용자가 임의의 테스트 대상 RFID 장치를 삭제하길 바라는 경우 유저 인터페이스를 통해서 RFID 장치 정보 엘리먼트 삭제 입력이 전달될 수 있다. 예를 들어 제1 RFID 리더를 삭제하는 입력이 전달될 수 있다. 이는 사용자가 유저 인터페이스에서 삭제 버튼을 누르거나 일정한 키 입력을 하는 방식으로 수행될 수 있다.
단계 S840에서 RFID 장치 정보 엘리먼트 삭제 입력에 상응하는 RFID 장치 정 보 엘리먼트가 변환 RF 환경 정보에서 삭제될 수 있다. 이후로는 RFID 시스템 테스트시에 삭제된 RFID 장치 정보 엘리먼트에 상응하는 테스트 대상 RFID 장치가 테스트에서 제외될 수 있다.
단계 S630에서 입력된 RF 환경 정보가 테스트 대상 RFID 장치로 전달될 수 있다.
통신부(220)는 제어부(400)에서 변환 RF 환경 정보를 테스트 대상 RFID 장치에 전달할 수 있다.
단계 S640에서 변환 RF 환경 정보를 이용하여 테스트 대상 RFID 장치가 테스트 될 수 있다.
도 7은 도 6의 단계 S640의 상세 순서도이다.
단계 S710에서 변환 RF 환경 정보를 이용하여 테스트 데이터가 생성될 수 있다.
생성되는 테스트 데이터는 테스트 데이터는 가상 RF 테스트 환경에서의 가상 RFID 태그의 이동정보 등 RFID 시스템 테스트에 필요한 데이터를 포함할 수 있다.
단계 S720에서 단계 S710에서 생성된 테스트 데이터가 통신부(220)를 통해 테스트 대상 RFID 장치에 전달될 수 있다.
단계 S730에서 RFID 시스템 테스트 장치는 통신부(220)를 통해 테스트 대상 RFID 장치로부터 테스트 결과데이터를 전달받을 수 있다.
단계 S740에서 단계 S730에서 전달받은 테스트 데이터에 의한 테스트 결과데이터가 저장될 수 있다.
테스트 결과 데이터 저장부(430)는 테스트 결과 데이터를 토대로 통계(오류 발생의 빈도 횟수, 시간당 처리량 등) 데이터를 생성할 수 있다. 생성된 통계 데이터는 사용자가 이해하기 쉬운 텍스트 형태 또는 그래픽 형태로 변환될 수 있다.
테스트 결과데이터는 오류 발생 여부나 발생한 오류의 종류, 작업 처리 결과, 판매 실적 및 재고 현황(판매에 관계된 장치인 경우) 등 테스트 대상 RFID 장치의 정상 동작 여부 또는 테스트 대상 RFID 장치의 성능을 판단하는데 필요한 정보를 포함할 수 있다.
테스트 결과데이터는 상기 테스트 결과데이터를 생성한 테스트 대상 RFID 장치에 따라 분류되어 저장될 수 있다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 의한 RFID 시스템 테스트 시나리오의 모식도이다.
태그 등록 장치(910), 출고 장치(920), 자동 입고 장치(930, 960), 자동 출고 장치(850), 재고 관리 시스템(940) 및 판매 관리 자동 보충 시스템(970) 중 테스트에 필요한 장치가 RFID 시스템 테스트 장치(200)에 연결될 수 있다.
RFID 시스템 테스트 장치(200)는 연결된 테스트 대상 RFID 장치에 상응하는 GUI를 제공하여 사용자가 RF 환경 정보를 수정, 편집하거나 조회하게 할 수 있다.
테스트가 시작되면 테스트 데이터에 따른 테스트 결과데이터가 저장되고 그 결과데이터는 사용자에게 제공될 수 있다. 종래의 기술에 따르면 장치마다 환경 설정을 해야 하는 불편이 있으나, 본원 발명에 따르면 사용자가 최소한의 입력만으로 RF 환경을 설정할 수 있다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나 의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
본 발명의 실시예는 다양한 컴퓨터로 구현되는 동작을 수행하기 위한 프로그램 명령을 포함하는 컴퓨터 판독 가능 매체를 포함할 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 로컬 데이터 파일, 로컬 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체는 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다.
또한, 도 2 및 도 4에 도시된 구성요소들은 반드시 하드웨어 구성을 가질 필요는 없으며, 일부 구성요소는 동일 또는 유사한 기능을 수행하는 응용 프로그램의 형태로 구현될 수 있다. 또한, 각 구성요소들은 발명의 사상 범위 내에서 결합하거나 분리될 수도 있음은 물론이다.
이제까지 본 발명에 대하여 그 실시예를 중심으로 살펴보았다. 전술한 실시예 외의 많은 실시예들이 본 발명의 특허청구범위 내에 존재한다. 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 개시된 실시예는 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따르는 RFID 시스템 테스트 장치가 포함된 망 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따르는 RFID 시스템 테스트 장치(200)의 블록 구성도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따르는 인터페이스부(210)가 제공하는 GUI 화면의 예시도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따르는 제어부(400)의 블록 구성도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 마크업 언어로 변환된 RF 환경 정보를 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따르는 RFID 시스템 테스트 과정을 나타낸 순서도이다.
도 7은 도 6의 단계 S640의 상세 순서도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 의한 단계 S625의 상세 순서도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 의한 RFID 시스템 테스트 시나리오의 모식도이다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
200: RFID 시스템 테스트 장치
110: 미들웨어(middleware)
120: RFID 리더(reader)
130: 안테나(antenna)

Claims (20)

  1. 사용자에게 유저 인터페이스를 제공하여 RF 환경 정보를 입력받는 인터페이스부;
    테스트 대상 RFID(Radio Frequency Identification) 장치와 데이터를 주고 받는 통신부; 및
    입력받은 RF(Radio Frequency) 환경 정보를 변환 RF 환경 정보로 변환하고 상기 변환 RF 환경 정보를 이용하여 상기 테스트 대상 RFID 장치를 테스트하는 제어부를 포함하는 RFID 시스템 테스트 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 통신부는 테스트 대상 RFID 장치에 상기 변환 RF 환경 정보를 전송하는 RFID 시스템 테스트 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는
    입력받은 RF 환경 정보를 변환 RF 환경 정보로 변환하는 RF 환경 정보 변환부;
    상기 변환 RF 환경 정보를 이용하여 테스트 데이터를 생성하는 테스트 데이터 생성부; 및
    상기 테스트 데이터에 의한 테스트 결과데이터를 저장하는 테스트 결과데이터 저장부를 포함하는 RFID 시스템 테스트 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 통신부는 상기 생성된 테스트 데이터를 테스트 대상 RFID 장치에 전달하고, 상기 테스트 대상 RFID장치로부터 상기 테스트 결과데이터를 전달받는 RFID 시스템 테스트 장치.
  5. 제3항에 있어서,
    테스트 결과데이터 저장부는 상기 테스트 결과데이터를 상기 테스트 결과데이터를 생성한 테스트 대상 RFID 장치에 따라 분류하는 기능을 더 수행하는 RFID 시스템 테스트 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 인터페이스부는,
    트리(Tree)형태로 RF 환경 정보를 표시하는 RFID 시스템 테스트 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 RF 환경 정보는 테스트 대상 RFID 장치에 대응하는 엘리먼트(element)를 포함하고,
    상기 통신부는 테스트 대상 RFID 장치에 상기 변환 RF 환경 정보 중 상기 테스트 대상 RFID 장치에 대응하는 엘리먼트를 전송하는 RFID 시스템 테스트 장치.
  8. 제3항에 있어서,
    상기 인터페이스부는 RFID 장치 정보 엘리먼트 추가 입력을 전달받는 기능을 더 수행하고,
    상기 RF 환경 정보 변환부는 상기 RFID 장치 정보 엘리먼트 추가 입력에 상응하는 RFID 장치 정보 엘리먼트를 상기 변환 RF 환경 정보에 추가하는 기능을 더 수행하는 RFID 시스템 테스트 장치.
  9. 제3항에 있어서,
    상기 인터페이스부는 RFID 장치 정보 엘리먼트 삭제 입력을 전달받는 기능을 더 수행하고,
    상기 RF 환경 정보 변환부는 상기 RFID 장치 정보 엘리먼트 삭제 입력에 상응하는 RFID 장치 정보 엘리먼트를 상기 변환 RF 환경 정보에서 삭제하는 기능을 더 수행하는 RFID 시스템 테스트 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 변환 RF 환경 정보는 마크업 언어(markup language) 형태인 RFID 시스템 테스트 장치.
  11. 유저 인터페이스를 통하여 RF(Radio Frequency) 환경 정보가 입력되는 단계;
    상기 입력된 RF 환경 정보가 변환 RF 환경 정보로 변환되는 단계; 및
    상기 변환 RF 환경 정보를 이용하여 상기 테스트 대상 RFID 장치가 테스트 되는 단계를 포함하는 RFID 시스템 테스트 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 입력된 RF 환경 정보가 테스트 대상 RFID 장치로 전달되는 단계를 더 포함하는 RFID 시스템 테스트 방법.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 RF 환경 정보는 테스트 대상 RFID 장치에 대응하는 엘리먼트(element)를 포함하고,
    테스트 대상 RFID 장치에 상기 변환 RF 환경 정보 중 상기 테스트 대상 RFID 장치에 대응하는 엘리먼트가 전달되는 단계를 더 포함하는 RFID 시스템 테스트 방법.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 변환 RF 환경 정보를 이용하여 상기 테스트 대상 RFID 장치가 테스트 되는 단계는,
    상기 변환 RF 환경 정보를 이용하여 테스트 데이터가 생성되는 단계; 및
    상기 테스트 데이터에 의한 테스트 결과데이터가 저장되는 단계를 포함하는 RFID 시스템 테스트 방법.
  15. 제14항에 있어서
    상기 테스트 결과데이터를 상기 테스트 결과데이터를 생성한 테스트 대상 RFID 장치에 따라 분류하는 단계를 더 포함하는 RFID 시스템 테스트 방법.
  16. 제11항에 있어서,
    상기 변환 RF 환경 정보를 이용하여 상기 테스트 대상 RFID 장치가 테스트 되는 단계는,
    상기 생성된 테스트 데이터가 테스트 대상 RFID 장치에 전달되는 단계; 및
    상기 테스트 대상 RFID장치로부터 상기 테스트 결과데이터를 전달받는 단계를 포함하는 RFID 시스템 테스트 방법.
  17. 제11항에 있어서
    유저 인터페이스를 통해서 RFID 장치 정보 엘리먼트 추가 입력이 전달되는 단계; 및
    상기 RFID 장치 정보 엘리먼트 추가 입력에 상응하는 RFID 장치 정보 엘리먼트가 상기 변환 RF 환경 정보에 추가되는 단계를 포함하는 RFID 시스템 테스트 방법.
  18. 제11항에 있어서
    유저 인터페이스를 통해서 RFID 장치 정보 엘리먼트 삭제 입력이 전달되는 단계; 및
    상기 RFID 장치 정보 엘리먼트 삭제 입력에 상응하는 RFID 장치 정보 엘리먼트가 상기 변환 RF 환경 정보에서 삭제되는 단계를 포함하는 RFID 시스템 테스트 방법.
  19. 제11항에 있어서,
    상기 변환 RF 환경 정보는 마크업 언어 형태인 RFID 시스템 테스트 방법.
  20. RFID 시스템 테스트 방법을 수행하기 위해 전자장치에 의해 실행될 수 있는 명령어의 프로그램이 유형적으로 구현되어 있으며, 상기 전자장치에 의해 판독될 수 있는 프로그램을 기록한 기록매체에 있어서,
    제11항 내지 제19항 중 어느 한 항의 방법을 수행하는 프로그램을 기록한 기록매체.
KR1020080057301A 2008-06-18 2008-06-18 Rfid 시스템 테스트 장치 및 방법 KR100989862B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080057301A KR100989862B1 (ko) 2008-06-18 2008-06-18 Rfid 시스템 테스트 장치 및 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080057301A KR100989862B1 (ko) 2008-06-18 2008-06-18 Rfid 시스템 테스트 장치 및 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090131434A true KR20090131434A (ko) 2009-12-29
KR100989862B1 KR100989862B1 (ko) 2010-10-29

Family

ID=41690647

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080057301A KR100989862B1 (ko) 2008-06-18 2008-06-18 Rfid 시스템 테스트 장치 및 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100989862B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101833034A (zh) * 2010-05-28 2010-09-15 中国科学院自动化研究所 一种rfid标签介质影响的基准测试系统及方法
KR101891140B1 (ko) * 2017-12-16 2018-08-23 세타랩 주식회사 테스트 자동화를 위한 기법

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101833034A (zh) * 2010-05-28 2010-09-15 中国科学院自动化研究所 一种rfid标签介质影响的基准测试系统及方法
CN101833034B (zh) * 2010-05-28 2012-08-08 中国科学院自动化研究所 一种rfid标签介质影响的基准测试系统及方法
KR101891140B1 (ko) * 2017-12-16 2018-08-23 세타랩 주식회사 테스트 자동화를 위한 기법
WO2019117438A1 (ko) * 2017-12-16 2019-06-20 세타랩 주식회사 테스트 자동화를 위한 기법
US11636023B2 (en) 2017-12-16 2023-04-25 Seta Lab, Inc. Scheme for test automation

Also Published As

Publication number Publication date
KR100989862B1 (ko) 2010-10-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107783899B (zh) 应用程序中h5页面的测试方法、装置和计算机设备
US9953296B2 (en) System, method, and computer-readable medium for managing edge devices
KR100687762B1 (ko) 코드 해석 장치, 코드정보 제공 장치 및 이를 이용한 방법
US8413170B2 (en) Event processing finite state engine and language
US7946495B2 (en) Information providing system, information providing apparatus, information providing method, portable terminal, information outputting method, and computer program
US8254543B2 (en) Sensor event controller
CN101395608B (zh) 在搜索结果的站点内搜索
US20060294176A1 (en) Customizable information processing apparatus
CN101002207A (zh) 进行结构化医学报告的一般方法
US9124934B2 (en) Rule-based classification of electronic devices
CN104903843A (zh) 支持近场通信功能的图像形成装置及图像形成装置中显示菜单的方法
US9058325B2 (en) Information providing system, apparatus and method for information processing, and computer program product
WO2006051958A1 (ja) 情報配信システム
US20060047693A1 (en) Apparatus for and method of generating data extraction definition information
Haq et al. A Comprehensive analysis of XML and JSON web technologies
CN113536185B (zh) 应用页面的加载方法、存储介质、及其相关设备
US20080215963A1 (en) HTML page conversion method, apparatus, and computer readable media
KR101514039B1 (ko) 태그 정보 제공 방법 및 그 시스템
US9715670B2 (en) Industrial identify encoding and decoding language
KR100818296B1 (ko) 무선 인식을 이용한 우편기기 관리 시스템 및 방법
US9081865B2 (en) Identifying selected elements in dynamic content
KR100989862B1 (ko) Rfid 시스템 테스트 장치 및 방법
US20140075288A1 (en) Electronic device and method for displaying images on screen
US20020174099A1 (en) Minimal identification
JP4582506B2 (ja) 情報提供システム

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131008

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141007

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20151020

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee