KR20090102441A - A measurement and compensation apparatus and method of lifetime for oled panel - Google Patents

A measurement and compensation apparatus and method of lifetime for oled panel

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KR20090102441A
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Abstract

PURPOSE: An apparatus for measuring and compensating a panel lifetime, and a method thereof are provided to improve a lifetime of a panel by minimizing a voltage drop effect of the panel. CONSTITUTION: An apparatus for measuring and compensating a panel lifetime includes a current detecting part, a compensation value calculating part(108), and a panel compensating part(110). The current detecting part is installed between a panel and a power source terminal. The current detecting part detects a current flowing to the panel, and converts the detected current into a voltage value. The compensation value calculating part calculates a compensation value based on the voltage value detected in the current detecting part. The panel compensating part performs the panel compensation based on the compensation value.

Description

패널 노화 측정 및 보상 장치와 그 방법{A MEASUREMENT AND COMPENSATION APPARATUS AND METHOD OF LIFETIME FOR OLED PANEL}A MEASUREMENT AND COMPENSATION APPARATUS AND METHOD OF LIFETIME FOR OLED PANEL}

본 발명은 OLED(Organic Light Emitting Diode, 이하 'OLED'라고 한다.) 패널 노화 측정에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 패널에 흐르는 전류 감지를 통해 패널의 노화 정도를 측정하고, 이를 토대로 패널에 대한 보상을 실시할 수 있는 패널 노화 측정 및 보상 장치와 그 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an OLED (Organic Light Emitting Diode, hereinafter referred to as 'OLED') panel aging measurement, and more particularly to measure the degree of aging of the panel by sensing the current flowing through the panel, based on this compensation for the panel The present invention relates to a panel aging measurement and compensation device and a method thereof.

현재까지 OLED가 주로 휴대용 기기 용도로 쓰여 수명이 3000시간 정도면 크게 문제가 되지 않았지만, OLED가 TFT-LCD와 같은 디스플레이로서 확고한 자리를 구축하기 위해서는 뛰어난 화질뿐 아니라 디스플레이 상품성의 기본적인 요건인 최소한의 수명 확보가 필수적이다.To date, OLED has been used mainly for portable devices, and the lifespan of 3000 hours has not been a big problem.However, in order to establish a firm position as a display such as TFT-LCD, OLED has not only excellent image quality but also minimum lifespan, which is a basic requirement of display merchandise. Securing is essential.

한편, OLED의 수명이 PDP나 LCD에 비해 짧은 편인데, 그 이유는 OLED가 전계에서 자체적으로 빛을 발광하는 유기 물질을 광원으로 쓰기 때문에 발광 재료 자체의 열화가 가장 큰 이유이다. On the other hand, the lifetime of OLED is shorter than that of PDP or LCD, which is the reason why the deterioration of the light emitting material itself is the biggest since OLED uses an organic material which emits light in the electric field as a light source.

또한, 소자 외부에서 유입되는 산소나 수분에 의한 발광 재료와 전극 재료의 산화에 의해서이다.Further, this is due to oxidation of the light emitting material and the electrode material by oxygen or moisture introduced from the outside of the device.

따라서, OLED을 디스플레이로 이용하기 위해서는 30,000시간 이상의 발광 재료를 개발하는 것이 필수적이다. 그러나, 충분한 수명을 갖는 발광 재료를 개발하는 것은 많은 시간이 소요되기 때문에 현재 확보되어 있는 재료 수명을 최대한 활용하는 전략이 필요하다. 또한, 가까운 미래에 유기 물질의 개선이 수명을 연장시키고, 열화의 속도를 느려지게 한다 하더라도 OLED의 발광 유기물의 열화 현상은 픽셀의 총 발광 시간과 발광량에 따라 다른 속도로 진행되어 전체 화면이 균일하지 않게 되고, 화이트 발런스(white balance)가 나빠져 결과적으로 화질을 저하시키는 문제도 동반한다.Therefore, in order to use OLED as a display, it is essential to develop a light emitting material of 30,000 hours or more. However, developing a light emitting material having a sufficient lifespan takes a lot of time, so a strategy is needed to make the most of the material life secured. In addition, even if the improvement of organic materials in the near future prolongs the lifespan and slows down the degradation rate, the degradation phenomenon of the OLED's emission organic matter proceeds at different speeds according to the total emission time and the emission amount of the pixel, so that the whole screen is not uniform. In addition, the white balance is worsened, resulting in a deterioration in image quality.

따라서, 수명 연장을 위한 발광 물질을 개발함과 동시에 시간이 흐름에 따라 다른 속도로 노화되는 OLED의 화소 열화 정도를 측정하고, 측정된 화소 열화 정보를 바탕으로 노화를 보상하는 방법에 대한 연구도 함께 이루어져야 한다.Therefore, while developing a luminescent material to extend the lifespan, we also study the method of measuring the degree of pixel degradation of OLEDs aging at different rates over time and compensating for aging based on the measured pixel degradation information. Should be done.

OLED의 화소 열화 정보를 측정하는 종래의 방법으로는 외부 카메라를 이용하는 방법과 포토 센서(photo sensor)를 이용하는 방법이 있다.Conventional methods for measuring pixel degradation information of OLEDs include a method using an external camera and a method using a photo sensor.

노화 측정을 위해 패널 외부에 카메라를 설치하는 방법은 OLED 패널에 색상 정보를 디스플레이한 후 패널의 외부의 CMOS 카메라로 화면을 가져온 후 컴퓨터와 같은 연산 장치에 해당 화면을 불러들여 분석하는 방법이다. 이 방법은 2002년 MIT의 Eko T Lisuwandi에 의해 5ㅧ5 LED 화소 매트릭스를 보상하기 위하여 사용되었다. 즉, 컴퓨터에서 불러온 화면에 여러 가지 디지털 영상 처리를 적용하여 화소의 노화 정보와 그 위치를 파악할 수 있다.The method of installing the camera outside the panel for aging measurement is to display the color information on the OLED panel, bring the screen to the CMOS camera outside the panel, and then load the screen into a computing device such as a computer and analyze it. This method was used by Eko T Lisuwandi of MIT in 2002 to compensate for the 5 ㅧ 5 LED pixel matrix. In other words, by applying various digital image processing to a screen loaded from a computer, it is possible to determine the aging information of the pixel and its position.

또한, 이러한 방법에 의해 파악된 노화 정보를 OLED 패널의 구동 보드 내 ROM 등에 기억시켜 패널의 보상 시에 이용한다.In addition, the aging information grasped by this method is stored in a ROM in a driving board of the OLED panel and used for compensation of the panel.

이와 같은 방법은 카메라에서 불러온 디지털 이미지를 컴퓨터에서 다양하고 강력한 영상 처리 알고리즘을 적용할 수 있고, S/W적으로 접근할 수 있게 한다. In this way, digital images from cameras can be applied to a variety of powerful image processing algorithms on a computer and can be accessed in software.

포토센서를 이용하는 방법은 디스플레이 공정 시 처음부터 애노드와 유리 기판 사이에 포토센서를 내장하여 제작하는 것이다. 포토센서는 출력되는 휘도에 비례하는 전류 크기를 출력하는 디바이스이다. OLED의 한 화소가 발광을 하게 되면 빛이 포토-트랜지스터층을 통과하면서 빛의 양에 비례한 전류가 출력되는 것이다. 따라서, OLED의 구동 시 각 화소에서 출력되는 전류의 크기로 그 화소의 휘도를 알 수 있다. 이러한 구조는 OLED에서 출력되는 휘도를 비교적 정확하게 측정할 수 있다.The method of using a photosensor is to manufacture a photo sensor embedded between the anode and the glass substrate from the beginning during the display process. The photosensor is a device that outputs a current amount proportional to the luminance output. When one pixel of the OLED emits light, light passes through the photo-transistor layer to output a current proportional to the amount of light. Therefore, the luminance of the pixel can be known by the amount of current output from each pixel when the OLED is driven. Such a structure can relatively accurately measure the luminance output from the OLED.

종래의 카메라를 이용하여 OLED 패널의 노화 정도를 측정하는 방법은 측정 시에 CMOS 카메라가 필수적이고 주변의 조명으로 인해 측정 시 잘못된 데이터를 얻을 수 있는 문제점이 있을 뿐만 아니라 실제 어플리케이션 구현에 어려움이 있다.The conventional method of measuring the aging degree of an OLED panel using a camera is not only a problem that a CMOS camera is necessary at the time of measurement and incorrect data can be obtained at the time of measurement due to the ambient light, and there is a difficulty in implementing an actual application.

종래의 포토 센서를 이용하여 OLED 패널의 노화 정도를 측정하는 방법은 포토센서인 내장된 포토-트랜지스터의 영향으로 개구율이 줄어들어 OLED의 발광 효율이 감소하게 되고, 화면 크기가 늘어나면 OLED 패널 제작 비용이 늘어나는 문제점이 있다. 또한, 포토-트랜지스터를 내장하는 것 외에 측정 결과를 분석하는 등의 부가 회로가 필요한 단점이 있다.In the conventional method of measuring the aging degree of an OLED panel using a photo sensor, the aperture ratio is reduced by the effect of the built-in photo-transistor, which is a photo sensor, thereby reducing the luminous efficiency of the OLED. There is an increasing problem. In addition, there is a disadvantage in that an additional circuit such as analyzing a measurement result in addition to embedding a photo-transistor is required.

본 발명은 실시간으로 패널의 노화 정도를 측정한 후 이를 저장하고, 그 저장된 값을 이용하여 패널에 대한 보상을 실시함으로서, 패널의 노화를 실시간으로 보상할 수 있도록 한다.The present invention measures the degree of aging of the panel in real time, stores it, and compensates the panel using the stored value, thereby making it possible to compensate the aging of the panel in real time.

본 발명은 패널에 흐르는 전류의 감지를 통해 패널의 노화 정도를 감지하여 이를 보상할 수 있도록 한다.The present invention can detect the degree of aging of the panel through the detection of the current flowing in the panel to compensate for this.

본 발명은 트리 알고리즘을 이용하여 고속으로 패널의 노화 정도를 측정할 수 있도록 한다.The present invention makes it possible to measure the degree of aging of the panel at high speed using the tree algorithm.

본 발명에 따른 패널의 노화 측정 및 보상 장치는, 패널과 전원단자 사이에 설치되어 상기 패널로 흐르는 전류를 감지하여 전압값으로 변환하는 전류 감지부와, 상기 전류 감지부에서 감지된 전압값을 토대로 보상값을 산출하는 보상값 산출부와, 상기 보상값을 토대로 상기 패널 보상을 수행하는 패널 보상부를 포함한다.An aging measuring and compensating apparatus for a panel according to the present invention includes a current sensing unit installed between a panel and a power terminal to sense a current flowing through the panel and converting the current into a voltage value, and based on the voltage value detected by the current sensing unit. A compensation value calculator for calculating a compensation value, and a panel compensation unit for performing the panel compensation based on the compensation value.

본 발명에 따른 패널의 노화 측정 및 보상 방법은, 패널과 전원단자 사이에 설치된 감지부를 이용하여 패널에 흐르는 전류를 감지한 후 이를 전압값으로 변환하여 출력하는 단계와, 상기 출력되는 전압값을 토대로 보상값을 산출하는 단계와, 상기 산출된 보상값을 토대로 상기 패널에 대한 보상을 실시하는 단계를 포함한다.In the aging measurement and compensation method of the panel according to the present invention, using a sensing unit provided between the panel and the power supply terminal detects the current flowing in the panel and converts it to a voltage value and outputs it, based on the output voltage value Calculating a compensation value, and performing compensation for the panel based on the calculated compensation value.

본 발명은 전류 감지를 통해 패널의 노화를 실시간으로 측정 및 보상할 수 있도록 함으로서, 측정 단계에서 패널의 전압 강하 효과를 최소화시킬 수 있을 뿐만 아니라 보상을 통하여 패널의 수명을 향상시킬 수 있다.The present invention enables to measure and compensate the aging of the panel in real time through current sensing, thereby minimizing the voltage drop effect of the panel in the measuring step, and can also improve the life of the panel through compensation.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 패널의 노화 측정 및 보상 장치를 도시한 블록도이며,1 is a block diagram showing an aging measurement and compensation device of a panel according to an embodiment of the present invention,

도 2는 도 1의 장치에서 전류 센서가 패널에 적용되는 예를 도시한 도면이며,FIG. 2 is a diagram illustrating an example in which a current sensor is applied to a panel in the apparatus of FIG. 1.

도 3은 도 1의 장치에서 적응형 증폭부 및 A/D 컨버터의 구성을 세부적으로 도시한 도면이며,3 is a view showing in detail the configuration of the adaptive amplifier and the A / D converter in the apparatus of FIG.

도 4는 본 발명의 사용자 인터페이스를 도시한 도면이며,4 is a diagram illustrating a user interface of the present invention.

도 5a 내지 도 5b 및 도 6 내지 도 7은 본 발명에 적용되는 트리 알고리즘을 설명하기 위한 도면이다.5A to 5B and 6 to 7 are diagrams for explaining a tree algorithm applied to the present invention.

＜도면의 주요부분에 대한 부호의 설명＞<Description of the code | symbol about the principal part of drawing>

100 : 패널 102 : 전류 센서100: panel 102: current sensor

104 : 적응형 증폭부 106 : A/D 컨버터104: adaptive amplifier 106: A / D converter

108 : 보상값 산출부 110 : 패널 보상부108: compensation value calculation unit 110: panel compensation unit

112 : 버퍼 보드 114 : 제어 보드112: buffer board 114: control board

116 : 사용자 인터페이스 116: user interface

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 아울러 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, in describing the present invention, when it is determined that the detailed description of the related known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

본 발명의 바람직한 실시 예에서는 패널에 흐르는 전류 감지를 통해 패널의 노화 정도에 따른 보상값을 산출한 후 이를 저장하고, 저장된 보상값을 토대로 패널에 대한 보상을 실시할 수 있는 패널의 노화 측정 및 보상 장치와 그 방법에 대해 설명한다.In a preferred embodiment of the present invention, after calculating the compensation value according to the degree of aging of the panel by sensing the current flowing through the panel and stores it, the aging measurement and compensation of the panel that can compensate for the panel based on the stored compensation value The apparatus and its method are described.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 패널 측정 및 보상 장치를 도시한 블록도로서, 전압 단자(미도시됨)와 OLED 패널(100) 사이에 설치된 전류 센서(102), 전류 센서(102)의 출력을 측정 가능한 범위로 증폭하는 적응형(adaptive) 증폭부(104), 적응형 증폭부(104)의 출력을 디지털 값으로 변환하여 출력하는 A/D 컨버터(106), 디지털 값을 토대로 보상 값을 산출하는 보상값 산출부(108), 보상값 산출부(108)에서 산출된 보상값으로 패널 보상을 수행하는 패널 보상부(110), 버퍼 보드(112), 제어 보드(114) 및 사용자 인터페이스(116)를 포함한다.1 is a block diagram illustrating a panel measuring and compensating device according to an exemplary embodiment of the present invention, wherein a current sensor 102 and a current sensor 102 are installed between a voltage terminal (not shown) and an OLED panel 100. An adaptive amplifier 104 for amplifying the output of the amplifier to a measurable range, an A / D converter 106 for converting the output of the adaptive amplifier 104 into a digital value and outputting the digital value, and compensating based on the digital value. Compensation value calculating unit 108 for calculating the value, the panel compensation unit 110 for performing the panel compensation with the compensation value calculated in the compensation value calculating unit 108, buffer board 112, control board 114 and the user Interface 116.

전류 센서(102)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 패널(100)의 노화를 측정하기 위해서 패널(100)에 전원을 공급하는 전원 단자(Vdd)를 절단한 후 그 위치에 설치되며, 전원 단자에서 패널(100)로 흐르는 전류를 감지하여 전압으로 바꾸어 적응형 증폭부(104)에 출력한다. 본 발명에서 사용되는 전류 센서(102)의 예로는 Allegro 사에서 제공하는 ACS7XX 시리즈를 들 수 있다.As shown in FIG. 2, the current sensor 102 is installed at the location after cutting the power supply terminal Vdd for supplying power to the panel 100 to measure the aging of the panel 100. The current flowing from the terminal to the panel 100 is sensed and converted into a voltage and output to the adaptive amplifier 104. An example of the current sensor 102 used in the present invention is the ACS7XX series provided by Allegro.

이러한 전류 센서(102)는 전원 단자로부터 제공되는 전류에 의해 패널(100)에 있는 소자가 점등될 때 흐르는 전류를 감지하여 전압값으로 변경하여 증폭기(104)에 출력한다.The current sensor 102 detects the current flowing when the device in the panel 100 is turned on by the current provided from the power supply terminal, changes the voltage to a voltage value, and outputs it to the amplifier 104.

이와 같이, 본 발명에서는 전류 센서(102)를 이용하여 패널(100)의 상태를 측정하기 때문에 저항을 이용하여 패널(100)에 흐르는 전류를 측정하는 종래 방식에 비해 전압 강하의 효과가 미미하다. 즉, 종래의 방법인 저항을 이용하게 되면 측정 저항의 크기가 커야 전압 강하를 측정할 수 있고, 저항의 크기가 클수록 패널(100)에 공급되는 파워를 분배하기 때문에 패널(100)에 전압 강하 효과가 나타나게 된다. 그래서, 종래의 방법으로 측정과 보상을 동시에 하게 되면 패널(100)이 흐려지는 현상을 볼 수 있다. 하지만, 전류 센서(102)를 이용하게 되면 전류 센서(102)의 자체 내부 저항이 μΩ 범위이기 때문에 패널(100)에 미치는 전합 강하의 효과가 적다. 이런 이유로 본 발명과 같이 전류 센서(102)를 이용하게 되면, 측정과 보상을 동시에 하여도 패널(100)에는 아무런 영향을 끼치지 않게 된다.As described above, in the present invention, since the state of the panel 100 is measured using the current sensor 102, the effect of the voltage drop is insignificant compared to the conventional method of measuring the current flowing through the panel 100 using a resistance. That is, when using a conventional method of resistance, the voltage drop can be measured only when the size of the measurement resistance is large, and the larger the size of the resistance distributes the power supplied to the panel 100, so that the voltage drop effect on the panel 100. Will appear. Therefore, when the measurement and compensation are performed at the same time by the conventional method, the panel 100 may be blurred. However, when the current sensor 102 is used, since the internal resistance of the current sensor 102 is in the μΩ range, the effect of the drop on the panel 100 is small. For this reason, when the current sensor 102 is used as in the present invention, the panel 100 is not affected even when the measurement and the compensation are performed at the same time.

적응형(adaptive) 증폭기(104)는 전류 센서(102)로부터 출력되는 전압 값을 측정 가능한 범위까지 증폭한 후 이를 A/D 컨버터(106)에 제공한다.The adaptive amplifier 104 amplifies the voltage value output from the current sensor 102 to a measurable range and provides it to the A / D converter 106.

본 발명에서 켜지는 소자의 개수가 1개가 되면, 전압의 범위는 ㎶이고, 패널(100)을 24개의 블록으로 나누어서 각각의 블록을 켜게 되면, V 범위의 전압이 전류 센서(102)에 의해 측정된다. When the number of devices to be turned on in the present invention is one, the voltage range is ,, and when the panel 100 is divided into 24 blocks to turn on each block, the voltage in the V range is measured by the current sensor 102. do.

이와 같이, 작은 범위를 갖는 전압은 측정이 불가능하기 때문에 측정 가능한 범위까지 적절하게 증폭될 필요가 있다. 그러나, 일반적인 증폭기를 구성하는 경우 전류 센서(102)에서 큰 전압이 측정되는 경우에는 증폭기의 최대값을 넘어서기 때문에 정확한 데이터를 얻을 수 없다. 이런 이유로, 도 3에 도시된 바와 같이, 다수의 차동 증폭기(Differential Amplifier)가 직렬 연결된 적응형 증폭부(104)를 이용한다. 이러한 적응형 증폭부(104)는 각 차동 증폭기가 10배의 증폭률을 가지고 있기 때문에 전체 증폭률이 최소 10배에서 최대 100000배까지 가능하다. 적응형 증폭부(104)를 구성하고 있는 차동 증폭기들은 각기 다른 증폭률로 증폭된 전압값을 각각 출력(V1, V2, V3, V4, V5)하며, 출력되는 각각 전압(V1, V2, V3, V4, V5)은 A/D 컨버터(106)에 입력된다.As such, since a voltage having a small range cannot be measured, it needs to be properly amplified to the measurable range. However, in the case of configuring a general amplifier, when a large voltage is measured in the current sensor 102, accurate data cannot be obtained because the maximum value of the amplifier is exceeded. For this reason, as shown in FIG. 3, a plurality of differential amplifiers use the adaptive amplifier 104 connected in series. Since the adaptive amplifier 104 has an amplification factor of 10 times, the adaptive amplification unit 104 may have a total amplification rate of at least 10 times and up to 100000 times. The differential amplifiers constituting the adaptive amplifier 104 output the voltage values amplified at different amplification rates (V1, V2, V3, V4, V5), respectively, and output the voltages (V1, V2, V3, V4). , V5) is input to the A / D converter 106.

도 3에 도시된 바와 같이, 각각의 차동 증폭기가 끝나는 단에서 출력을 뽑으면, 10배, 100배, 1000배, ...... 등으로 증폭된 데이터를 얻을 수 있다. 즉, 소자가 1개만 켜지면 제일 마지막의 차동 증폭기에서 100000배 증폭된 값을 얻고, 패널(100)을 블록으로 나누어서 블록별로 측정해서 전압이 크면 10배만 증폭, 즉 첫 번째 차동 증폭기의 출력을 이용한다. 차동 증폭기의 각각의 출력은 A/D 컨버터(106)에 연결된다. As shown in FIG. 3, when the output is disconnected at the end of each differential amplifier, data amplified by 10 times, 100 times, 1000 times,... That is, if only one device is turned on, the final differential amplifier is amplified by 100,000 times, and the panel 100 is divided into blocks and measured by block. If the voltage is large, only 10 times is amplified, that is, the output of the first differential amplifier is used. . Each output of the differential amplifier is connected to the A / D converter 106.

A/D 컨버터(106)는 PIC 마이크로프로세서로서, 도 3에 도시된 바와 같이 적응형 증폭부(104)를 구성하는 각 차동 증폭기의 출력단과 연결되는 먹스(106a)를 구비하며, 먹스(106a)를 통해 입력되는 전압 값들 중 어느 하나를 선택하여 디지털 값으로 변환하여 보상값 산출부(108)에 제공한다.The A / D converter 106 is a PIC microprocessor and has a mux 106a connected to an output terminal of each differential amplifier constituting the adaptive amplifier 104 as shown in FIG. 3, and the mux 106a. Any one of the voltage values input through the signal is selected and converted into a digital value and provided to the compensation value calculator 108.

보상값 산출부(108)는 A/D 컨버터(106)에서 출력되는 디지털 값을 이용하여 보상값을 산출하며, 산출된 보상값은 USB(Universial Serial Bus, 이하 "USB"라고한다.) 통신을 통해 패널 보상부(110)에 연결된 메모리(110a)에 제공되어 저장된다. The compensation value calculator 108 calculates a compensation value using the digital value output from the A / D converter 106, and the calculated compensation value is referred to as USB (Universal Serial Bus, hereinafter referred to as "USB") communication. It is provided to and stored in the memory 110a connected to the panel compensator 110.

A/D 컨버터(106)와 보상값 산출부(108)는 USB 통신을 통해 연결된다.The A / D converter 106 and the compensation value calculator 108 are connected through USB communication.

한편, 전류 센서(102)에서 측정된 전압값은 다양한 범위의 값을 가질 수 있다. 즉 패널(100)의 크기에 따라서 OLED 소자의 개수가 틀려지고 측정 시 켜고 끄는 소자의 개수에 따라서 전류 값이 틀려지기 때문에, 본 발명에 따른 장치에서는 소자의 위치와 개수를 변경하면서 패널(100)에 소자를 켜고 끌 수 있는 사용자 인터페이스(116)를 제공한다. 이러한 사용자 인터페이스(116)는 보상값 산출부(108)와 포함되어 구현되어 질 수 있는데, 즉 여러 가지 기능이 포함된 컴퓨터 프로그램, 예컨대 Visual C++ 프로그램으로 구현될 수 있다.Meanwhile, the voltage value measured by the current sensor 102 may have various ranges of values. That is, since the number of OLED elements is changed according to the size of the panel 100 and the current value is changed according to the number of elements turned on and off during measurement, in the device according to the present invention, the panel 100 is changed while changing the position and the number of elements. Provides a user interface 116 to turn the device on and off. The user interface 116 may be implemented with the compensation value calculator 108, that is, a computer program including various functions, for example, a Visual C ++ program.

본 발명에서는, 도 4에 도시된 바와 같이, 패널(100)의 크기가 1280ㅧ768이고, 패널(100)의 특정 위치 소자를 켜고 끌 수 있는 사용자 인터페이스(116)를 제공한다. In the present invention, as shown in FIG. 4, the size of the panel 100 is 1280 x 768, and the user interface 116 is provided to turn on and off specific position elements of the panel 100.

패널 보상부(110)는 메모리(110a)에 저장된 보상값을 버퍼 보드(112) 및 제어 보드(114)를 통해 패널(100)에 공급함으로서, 패널(100)에 보상의 효과를 나타내게 한다.The panel compensator 110 supplies the compensation value stored in the memory 110a to the panel 100 through the buffer board 112 and the control board 114 to thereby exhibit the effect of the compensation on the panel 100.

이와 같이 본 발명에 따르면, 실시간으로 패널(100)의 노화를 측정하여 피드백으로 보상 값을 바꾸어 줄 수 있기 때문에 실시간 패널(100)의 상태를 측정할 수 있을 뿐만 아니라 보상이 가능하다.As described above, since the aging of the panel 100 can be measured in real time and the compensation value can be changed by feedback, the state of the real-time panel 100 can be measured as well as the compensation.

상기와 같은 구성을 갖는 장치가 패널의 노화를 측정하는 과정에 대해 설명하면 아래와 같다.Referring to the process of measuring the aging of the panel device having the configuration as described above are as follows.

일반적으로, 패널(100)의 소자들이 노화되는 조건은 발광 시간에 비례하게 된다. 소자의 자체가 발광으로 인하여 겉보기 저항이 증가하게 되고, 겉보기 저항은 전류의 감소를 초래하게 된다. 패널(100)에서 영상을 디스플레이할 때 랜덤하게 출력하기 때문에 시간이 지나면서 부분적으로 랜덤하게 노화가 진행되는 것을 볼 수 있다. 랜덤하게 노화가 진행이 되면, 그 위치에 있는 소자의 노화 정보를 파악해야 하는데, 소자 하나하나의 노화를 측정하려고 하면 1개의 소자를 측정하는데 걸리는 시간이 1초라고 해도 전체 패널(100)의 소자 개수가 983040개이기 때문에 대략 273 시간이라는 아주 오랜 시간이 걸리기 된다. 패널(100)이 커질수록, 즉 패널(100)의 해상도가 좋아질수록 소자의 개수는 증가하게 되고, 이에 따라 측정 시간 또한 증가하게 된다. 그렇기 때문에 소자 한 개를 따로 측정하는 것은 시간상 불가능하다. 따라서, 본 발명에서는 트리 알고리즘을 이용하여 패널(100)의 노화를 고속으로 측정한다.In general, the condition that the elements of the panel 100 are aged is proportional to the emission time. As the device itself emits light, the apparent resistance increases, and the apparent resistance causes a decrease in current. Since the panel 100 randomly outputs an image when displaying the image, it can be seen that aging proceeds at random in part over time. If the aging progresses randomly, the aging information of the device at the location should be grasped. If one attempts to measure the aging of each device, even if the time taken to measure one device is one second, the device of the entire panel 100 Since the number is 983040, it takes about 273 hours. As the panel 100 becomes larger, that is, the resolution of the panel 100 is improved, the number of devices increases, thereby increasing the measurement time. Therefore, it is impossible to measure one device separately in time. Therefore, in the present invention, the aging of the panel 100 is measured at high speed using a tree algorithm.

즉, 도 5a에 도시된 바와 같이, 처음에 패널(100)을 24개의 블록으로 나누게 되며, 초기 측정 시에는 각각의 블록을 켜고 끄게끔 사용자 인터페이스(116)를 구성하여 각각의 블록만을 측정하게 된다. 각각의 블록이 시간이 지나서 노화되는 부분이 생기게 되면, 제품 출하 시 측정해 놓았던 기준 값과 비교하여 값이 떨어지게 된다.That is, as shown in FIG. 5A, the panel 100 is first divided into 24 blocks, and the user interface 116 is configured to turn each block on and off during the initial measurement, thereby measuring only each block. . As each block ages over time, the value drops against the baseline value measured at the factory.

기준값 이하로 떨어진 블록(노화 블록)에 대해 노화가 발생된 것으로 판단하고, 노화 블록을 세분화하여 측정한다. 예를 들어, 도 5b에 도시된 바와 같이, 2번 블록이 기준값보다 떨어지게 되면, 노화 블록을 k, 예컨대 4개의 블록(Sub_Block1, Sub_Block2, Sub_Block3, Sub_Block4)으로 나누어서 새롭게 측정을 한다. 그리고, 4개로 나누어진 블록을 기준값과 비교하여 검사를 수행한다. 기준값보다 값이 떨어진 블록이 있으면, 해당 블록, 예컨대 Sub_Block4를 4개로 나누어서 세밀하게 측정하게 된다. 이와 같은 과정 중에 노화 블록이 기 설정된 크기보다 작거나 같은 경우에는 노화 블록에 대한 보상값을 산출한 후 이를 토대로 노화 블록에 대한 보상을 실시하고, 그렇지 않을 경우 상기와 같은 트리 알고리즘을 적용하여 노화 블록 n개의 블록으로 나누어서 검사를 수행한다.It is determined that aging has occurred for blocks (aging blocks) falling below a reference value, and the aging blocks are subdivided and measured. For example, as shown in FIG. 5B, when the second block falls below the reference value, the aging block is divided into k, for example, four blocks (Sub_Block1, Sub_Block2, Sub_Block3, and Sub_Block4) and newly measured. Then, the test is performed by comparing the four divided blocks with the reference values. If there is a block that is smaller than the reference value, the corresponding block, for example, Sub_Block4, is divided into four and measured in detail. If the aging block is smaller than or equal to the predetermined size during this process, the compensation value for the aging block is calculated and then the aging block is compensated based on this. Otherwise, the aging block is applied by applying the tree algorithm as described above. The test is divided into n blocks.

이런 방식으로 세분화하여 측정을 하게 되면, 전체 패널을 검사할 필요 없이 노화된 부분만을 찾아서 세밀하게 측정하기 때문에 엄청난 시간을 절약할 수 있게 된다.Segmentation and measurement in this way can save you tremendous time because you can only find the aging parts and make detailed measurements without having to examine the entire panel.

이와 같은 본 발명에서의 노화 측정 방법인 트리 알고리즘에 대해서는 도 6 내지 도 7에 자세히 설명되어 있으며, 모든 소자를 측정하는 이전의 알고리즘의 복잡도가 "O(MN), M은 패널의 가로크기, N은 패널의 세로 크기)"일 때, 본 발명에서 제안된 트리 알고리즘의 복잡도는 아래의 수학식 1에 의해 표현된다.Such a tree algorithm, which is a method of measuring aging in the present invention, is described in detail with reference to FIGS. 6 to 7. Is the vertical size of the panel) ", the complexity of the tree algorithm proposed in the present invention is represented by Equation 1 below.

Sub_block의 가로 사이즈) Sub_block's width size)

지금까지 본 발명의 일 실시예에 국한하여 설명하였으나 본 발명의 기술이 당업자에 의하여 용이하게 변형 실시될 가능성이 자명하다. 이러한 변형된 실시 예들은 본 발명의 특허청구범위에 기재된 기술사상에 포함된다고 하여야 할 것이다.It has been described so far limited to one embodiment of the present invention, it is obvious that the technology of the present invention can be easily modified by those skilled in the art. Such modified embodiments should be included in the technical spirit described in the claims of the present invention.

Claims (11)

패널과 전원단자 사이에 설치되어 상기 패널로 흐르는 전류를 감지하여 전압값으로 변환하는 전류 감지부와,A current sensing unit installed between the panel and the power terminal to sense current flowing through the panel and converting the current into a voltage value; 상기 전류 감지부에서 감지된 전압값을 토대로 보상값을 산출하는 보상값 산출부와,A compensation value calculator configured to calculate a compensation value based on the voltage value detected by the current sensor; 상기 보상값을 토대로 상기 패널 보상을 수행하는 패널 보상부A panel compensator for performing the panel compensation based on the compensation value 를 포함하는 패널의 노화 측정 및 보상 장치.Aging measurement and compensation device of the panel comprising a. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 노화 측정 및 보상 장치는,The aging measurement and compensation device, 상기 전류 감지부에서 출력되는 전압값의 기 설정된 값 이하인 경우 상기 전압값을 소정 범위까지 증폭하여 상기 보상값 산출부에 제공하는 적응형 증폭부Adaptive amplifier for amplifying the voltage value to a predetermined range and provided to the compensation value calculator when the voltage value output from the current sensing unit is less than or equal to a predetermined value 를 더 포함하는 패널의 노화 측정 및 보상 장치.Aging measurement and compensation device of the panel further comprising. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 적응형 증폭부는, 기 설정된 증폭률을 갖는 다수개의 차동 증폭기가 직렬로 연결되어 있으며, 상기 각 차동 증폭기마다 출력단을 갖는 것을 특징으로 하는 패널의 노화 측정 및 보상 장치.The adaptive amplifier unit, the aging measurement and compensation device of the panel, characterized in that a plurality of differential amplifiers having a predetermined amplification factor is connected in series, each of the differential amplifier has an output terminal. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 노화 측정 및 보상 장치는,The aging measurement and compensation device, 상기 각 차동 증폭기의 출력단으로 출력되는 전압값을 제공받아 어느 하나를 선택하는 먹스부와,A mux unit for receiving any one of the voltage values output to the output terminals of the respective differential amplifiers, 상기 먹스부에서 선택된 전압값을 디지털 값으로 변환하여 상기 보상값 산출부에 출력하는 A/D 컨버터An A / D converter converting the voltage value selected by the MUX unit into a digital value and outputting the digital value to the compensation value calculating unit 를 더 포함하는 패널의 노화 측정 및 보상 장치.Aging measurement and compensation device of the panel further comprising. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 A/D 컨버터는, USB 통신 인터페이스를 통해 상기 디지털 값을 상기 보상값 산출부에 출력하는 것을 특징으로 하는 패널의 노화 측정 및 보상 장치.And the A / D converter outputs the digital value to the compensation value calculator through a USB communication interface. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 보상값 산출부는, 상기 보상값을 USB 통신 인터페이스를 통해 상기 보상부에 출력하는 것을 특징으로 하는 패널의 노화 측정 및 보상 장치.And the compensation value calculator outputs the compensation value to the compensation unit through a USB communication interface. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 보상값 산출부는, 상기 패널내의 측정하고자 하는 소자의 개수 및 위치를 설정할 수 있는 사용자 인터페이스를 제공하는 것을 특징으로 하는 패널의 노화 측정 및 보상 장치.The compensation value calculator, the aging measurement and compensation device of the panel, characterized in that to provide a user interface for setting the number and location of the elements to be measured in the panel. 패널과 전원단자 사이에 설치된 감지부를 이용하여 패널에 흐르는 전류를 감지한 후 이를 전압값으로 변환하여 출력하는 단계와,Detecting a current flowing through the panel by using a detector installed between the panel and the power terminal, and converting the current into a voltage value and outputting the converted voltage value; 상기 출력되는 전압값을 토대로 보상값을 산출하는 단계와,Calculating a compensation value based on the output voltage value; 상기 산출된 보상값을 토대로 상기 패널에 대한 보상을 실시하는 단계Compensating for the panel based on the calculated compensation value 를 포함하는 패널의 노화 측정 및 보상 방법.Aging measurement and compensation method of the panel comprising a. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 전압값으로 변환하여 출력하는 단계는,Converting and outputting the voltage value, 상기 패널 내 측정하고자 하는 소자의 위치 및 개수를 설정하는 단계와,Setting a position and the number of devices to be measured in the panel; 상기 설정된 위치 및 개수에 대응되는 소자에 흐르는 전류를 감지한 후 이를 전압값을 변환하여 출력하는 단계Detecting a current flowing in a device corresponding to the set position and number and converting the voltage value and outputting the voltage value; 를 포함하는 패널의 노화 측정 및 보상 방법.Aging measurement and compensation method of the panel comprising a. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 방법은,The method, 상기 출력되는 전압값의 기 설정된 값 이하인 경우 상기 전압값을 소정 범위까지 증폭하는 단계와,Amplifying the voltage value to a predetermined range when the output voltage value is less than or equal to a predetermined value; 상기 증폭된 전압값을 이용하여 보상값을 산출하는 단계Calculating a compensation value using the amplified voltage value 를 더 포함하는 패널의 노화 측정 및 보상 방법.Aging measurement and compensation method of the panel further comprising. (a) 패널을 n(n>1, 자연수)개의 블록으로 나누어서 상기 각 블록의 소자를 구동시키는 단계와,(a) dividing the panel into n (n> 1, natural numbers) blocks to drive the elements of each block; (b) 상기 각 블록의 구동에 따른 전압값을 각각 측정하는 단계와,(b) measuring voltage values according to the driving of each block; (c) 상기 측정된 각 전압값과 기준값의 비교를 통해 상기 기준값 이하의 전압값이 측정되는 노화 블록이 존재하는지를 판단하는 단계와, (c) determining whether there is an aging block in which a voltage value below the reference value is measured by comparing the measured voltage value with a reference value; (d) 상기 판단 결과, 상기 노화 블록이 존재하는 경우 상기 노화 블록이 기 설정된 크기를 갖는지를 판단하는 단계와,(d) determining whether the aging block has a preset size when the aging block exists as a result of the determination; (e) 상기 노화 블록이 기 설정된 크기보다 작거나 같은 경우 상기 노화 블록에 대한 보상값을 산출한 후 이를 토대로 상기 노화 블록에 대한 보상을 실시하는 단계와,(e) calculating a compensation value for the aging block when the aging block is smaller than or equal to a preset size and performing compensation for the aging block based on the calculated value; (f) 상기 노화 블록이 기 설정된 크기보다 큰 경우 상기 노화 블록을 k(k>1, 자연수)개의 블록으로 세분화한 후 상기 (b) 단계를 수행하는 단계(f) subdividing the aging block into k (k> 1, natural numbers) blocks if the aging block is larger than a predetermined size, and then performing step (b) 를 포함하는 패널의 노화 측정 및 보상 방법.Aging measurement and compensation method of the panel comprising a.
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