KR20090054527A

KR20090054527A - Test socket durability checking apparatus

Info

Publication number: KR20090054527A
Application number: KR1020070121227A
Authority: KR
Inventors: 이재영; 예윤수; 고창수
Original assignee: 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사
Priority date: 2007-11-27
Filing date: 2007-11-27
Publication date: 2009-06-01
Also published as: KR100901996B1

Abstract

An apparatus for testing the durability of a test socket is provided to improve precision of the durability testing by converting the rotational movement of a servo motor into the reciprocation by a link unit to apply a uniform pressure to the test socket. A supporting bar(280) is vertically and long installed on a supporting plate. A test socket(220) is mounted at a lower part of the center of the supporting plate to repetitively receive a fixed pressure. A central plate(240) is inserted/mounted into the support bar as being parallel to the supporting plate. A work press(210) repetitively presses the test socket through the reciprocation by being mounted at a lower part of the central plate. A link unit is connected/installed to an upper part of the work press to convert the rotational motion into the reciprocation.

Description

Test socket durability checking apparatus

본 발명은 테스트 소켓 내구성 시험 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 서보모터의 회전운동에 의해 워크 프레스가 테스트 소켓을 반복적으로 가압함으로써, 반도체 패키지의 테스트시 중간 부재 역할을 제공하는 테스트 소켓 자체의 라이프 타임을 미리 정확하게 측정할 수 있는 테스트 소켓 내구성 시험 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a test socket durability test apparatus, and more particularly, by the work press repeatedly presses the test socket by the rotational movement of the servomotor, thereby providing a life of the test socket itself, which serves as an intermediate member in the test of the semiconductor package. The present invention relates to a test socket durability test apparatus capable of accurately measuring time in advance.

현대 사회 전반에서는 수많은 전자기기들이 사용되고 있으며 그러한 전자기기들에는 다양한 종류의 반도체 패키지(Semiconductor Package)들이 다량 사용되고 있다. A large number of electronic devices are used throughout the modern society, and various kinds of semiconductor packages are used in such electronic devices.

이러한 반도체 패키지들은 자동화된 양산체제하에서 대규모로 생산되고 있는데, 대규모 생산을 위한 공정 과정에서 여러가지 원인으로 인하여 예상치 못한 불량이 발생할 수 있으며, 이러한 불량의 발생은 생산성의 저하 및 손실을 초래하기 때문에 그 발생을 억제 및 감소시키는 대책이 그 무엇보다도 중요하다. These semiconductor packages are produced on a large scale under an automated mass production system. Unexpected defects may occur due to various causes in the process for large-scale production, and the occurrence of such defects may cause deterioration and loss of productivity. The measures to suppress and reduce the risk are of paramount importance.

이와 같은 반도체 패키지의 불량은 패키지 공정이 완료된 반도체 패키지의 전기적 신호가 제대로 흐르는지를 테스트함으로써 해결할 수 있으며, 이를 위한 테스트 장치는 이미 개발되어 사용되고 있다.Such a defect of the semiconductor package can be solved by testing whether the electrical signal of the semiconductor package after the package process is properly flowed, and a test apparatus for this has already been developed and used.

또한, 상기 테스트 장치는 반도체 패키지가 삽입되어 반도체 패키지와 테스트 장치간에 중간 매개체 역할을 하는 테스트 소켓을 구비하는데, 이하 첨부 도면을 참조하여 테스트 소켓의 일반적인 구조를 살펴보기로 한다.In addition, the test apparatus includes a test socket into which a semiconductor package is inserted to serve as an intermediate medium between the semiconductor package and the test apparatus. Hereinafter, a general structure of the test socket will be described with reference to the accompanying drawings.

첨부한 도 1은 반도체 패키지용 테스트 소켓의 개시도이다.1 is a view illustrating a test socket for a semiconductor package.

도 1에서 도시한 바와 같이, 테스트 소켓(10)은 일정 규격의 패널(20) 중앙에 탄성수단에 의해 눌림 및 탄성복원이 가능한 복수의 포고핀(30)이 장착된 구조로서, 테스트의 대상이 되는 반도체 패키지의 외부연결단자와 테스트 보드의 외부연결단자를 연결하는 포고핀(30)을 구비하는 것이 일반적이다.As shown in FIG. 1, the test socket 10 is a structure in which a plurality of pogo pins 30 that can be pressed and elastically restored by elastic means are mounted at the center of a panel 20 of a predetermined size. It is generally provided with a pogo pin 30 connecting the external connection terminal of the semiconductor package and the external connection terminal of the test board.

이러한 테스트 소켓은 반도체 패키지의 기능 시험(Function test)시 반도체 테스트 장치에 의해 반복적인 외부 압력을 받게되어 계속적인 피로(Fatigue)가 쌓임으로써, 일정 횟수 이상의 테스트후에 변형되는 문제점이 있다.The test socket is subjected to repetitive external pressure by the semiconductor test apparatus during the function test of the semiconductor package, and thus accumulates continuous fatigue, thereby deforming after a certain number of tests.

따라서, 상기 테스트 소켓의 라이프 타임을 미리 테스트하여 내구성이 떨어지는 불량 테스트 소켓을 걸러 내기 위해 별도의 테스트 소켓용 시험 장치를 사용하게 된다.Therefore, a test apparatus for a test socket is used to test the life of the test socket in advance to filter out poor test sockets having low durability.

이하 첨부 도면을 참조하여 종래 테스트 소켓 시험 장치의 문제점을 살펴보기로 한다.Hereinafter, the problems of the conventional test socket test apparatus will be described with reference to the accompanying drawings.

첨부한 도 2는 종래 테스트 소켓 시험 장치의 개시도이다.2 is a view illustrating a conventional test socket test apparatus.

도 2에서 도시한 바와 같이, 종래 테스트 소켓 시험 장치는 테스트를 위한 회로패턴(105)이 형성된 회로기판(100)상에 테스트 소켓(120)의 하부면이 부착된다.As shown in FIG. 2, in the conventional test socket test apparatus, a bottom surface of the test socket 120 is attached to a circuit board 100 on which a circuit pattern 105 for a test is formed.

또한, 테스트 소켓(120)이 구성된 회로기판(100)면의 상부 공간에는 이동수단(150), 예를 들어, 다축 로봇(robot) 등에 의해 그 위치를 이동시킬 수 있으며 테스트 소켓(120)을 그 상부에서 푸셔 구동부(140)의 작동에 의해 가압할 수 있는 푸셔(130)가 구성되어 있다. In addition, in the upper space of the surface of the circuit board 100 in which the test socket 120 is configured, the position thereof may be moved by a moving means 150, for example, a multi-axis robot, and the test socket 120 may be moved. The pusher 130 is configured to pressurize by the operation of the pusher drive unit 140 from the top.

이와 같이 구성된 종래 테스트 소켓 시험 장치에서 푸셔 구동부(140)는 주로 운영자나 프로그램 등으로부터의 제어신호에 의해 제어되는 전동력으로 구동된다. In the conventional test socket test apparatus configured as described above, the pusher driver 140 is mainly driven by an electric force controlled by a control signal from an operator or a program.

이때, 전기적 노이즈(electrical noise) 또는 제어 프로그램 등의 오류로 인한 이상 신호가 푸셔 구동부(140)에 유입되는 경우 테스트 소켓(120)에 대한 푸셔(130)의 가압 동작에 미스가 발생하여 테스트 소켓(120)에 손상을 주거나 아니면 테스트 소켓(120)에 전혀 가압을 하지 못하는 문제점이 발생하였다. In this case, when an abnormal signal due to an error such as electrical noise or a control program flows into the pusher driver 140, a miss occurs in the pressing operation of the pusher 130 with respect to the test socket 120. 120 or damage to the test socket 120 or a problem that does not press at all occurred.

또한, 이동수단(150)으로서 주로 이용되는 다축 로봇 등도 앞선 푸셔 구동부(140)에서와 같이 이상 신호 유입으로 인한 오작동 문제가 발생하였으며, 이동에 있어서 기계적 마모, 프로그램의 오류 등으로 인해 수 만회 이상의 장시간에 걸친 내구성 시험을 하게 되면 가압량이나 위치 제어가 정확히 이루어지지 않거는 하는 문제점도 있었다. In addition, a multi-axis robot or the like mainly used as the moving means 150 also has a malfunction problem due to the inflow of abnormal signals, as in the pusher drive unit 140, a long time more than tens of thousands of times due to mechanical wear, errors in the program, etc. If the durability test over, there was a problem that the amount of pressure or position control is not made correctly.

이외에도 하나의 테스트 소켓(120)의 내구성를 테스트하고 나서, 다른 테스트 소켓(120)을 테스트하기 위해서는 그 때마다 푸셔(130)의 위치를 이동해야 했기 때문에 테스트 소켓(120)의 테스트에 소요되는 시간, 즉 인덱스 시간(index time)이 많이 소요되는 문제점이 있었다. In addition, after testing the durability of one test socket 120, in order to test another test socket 120, the time required for the test of the test socket 120, because the position of the pusher 130 had to be moved each time, In other words, there is a problem that takes a lot of index time (index time).

덧붙여, 종래 테스트 소켓 시험 장치를 구성하는 푸셔(130), 푸셔 구동부(140) 및 이동 수단(150) 등은 큰 부피를 차지한채 결합 설치되어 테스트 소켓 시험 장치 자체의 크기를 소형화하는데 한계로 작용하였을 뿐만 아니라, 그 자체의 교체나 정비도 용이하게 이루어지지 못하게 하는 문제점을 제공하였다.In addition, the pusher 130, the pusher driving unit 140, and the moving means 150, which constitute the conventional test socket test apparatus, may be combined to occupy a large volume, thereby limiting the size of the test socket test apparatus itself. In addition, it provided a problem that the replacement or maintenance of itself is not easily made.

본 발명은 상기와 같은 점을 감안하여 기존의 테스트 소켓 내구성 장치의 구조를 개선한 것으로서, 서보모터의 회전운동을 링크부에 의해 왕복운동으로 변환시켜 일정한 압력을 테스트 소켓에 가함으로써, 테스트 소켓에 대한 내구성 시험의 정밀도를 향상시키고, 콘트롤 패널을 사용하여 워크 프레스의 가압 횟수 및 높이를 조절함으로써, 테스트 소켓의 라이프 타임 측정에 대한 용이성을 향상시키는 테스트 소켓 내구성 시험 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention improves the structure of the existing test socket durability device in view of the above, by converting the rotational motion of the servo motor to the reciprocating motion by the link unit by applying a constant pressure to the test socket, It is an object of the present invention to provide a test socket durability test apparatus which improves the accuracy of the durability test for the test socket and improves the ease of measuring the life time of the test socket by adjusting the press number and height of the work press using the control panel.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 The present invention for achieving the above object

받침판에 수직으로 길게 설치되는 복수의 지지대와; 상기 받침판의 중앙 하부에 장착되되, 반복적으로 일정한 압력을 받는 테스트 소켓과; 상기 받침판과 수평을 이룬채 상기 지대대에 삽입 장착되는 중앙판과; 상기 중앙판의 하부에 장착되어 왕복운동에 의해 상기 테스트 소켓을 반복적으로 가압하는 워크 프레스와; 상기 워크 프레스의 상부에 연결 설치되어 회전운동을 왕복운동으로 변환시키는 링크부와; 상기 링크부의 일측에 장착되어 상기 링크부에 회전력을 제공하는 서보모터와; 상기 중앙판에 수직으로 관통한채 나사결합하는 이동나사와; 상기 이동나사의 상부에 설치되어 상기 이동나사를 작동시키는 나사 작동부; 상기 지지대 및 이동나사의 상부에 수직으로 삽입 장착되는 상부판;A plurality of supports vertically installed on the support plate; A test socket mounted on a lower portion of the center of the support plate and repeatedly subjected to a constant pressure; A center plate inserted into the abutment while being parallel to the support plate; A work press mounted at a lower portion of the center plate to repeatedly press the test socket by a reciprocating motion; A link unit connected to an upper portion of the work press and converting a rotational motion into a reciprocating motion; A servo motor mounted to one side of the link part to provide a rotational force to the link part; A moving screw which is screwed while penetrating perpendicular to the middle plate; A screw operating part installed at an upper portion of the moving screw to operate the moving screw; An upper plate inserted vertically on top of the support and the moving screw;

을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.Characterized in that comprises a.

또한, 상기 링크부는 상기 서보모터의 중심에 장착되되 일측에 힌지 베어링을 포함하는 회전기와; 상기 회전기와 힌지 베어링에 의해 연결되어 상기 회전기의 회전운동시 왕복운동하는 이동링크와; 상기 이동링크와 워크 프레스를 연결하여 상기 이동링크의 왕복운동을 워크 프레스에 전달하는 전달기;In addition, the link unit is mounted to the center of the servo motor, the rotor including a hinge bearing on one side; A moving link connected by the rotor and a hinge bearing to reciprocate during rotation of the rotor; A transmitter for connecting the movable link and the work press to transfer the reciprocating motion of the movable link to a work press;

를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.Characterized in that comprises a.

또한, 상기 이동링크의 일측에는 원점확인 센서가 설치되어, 상기 이동링크 및 이동링크에 전달기로 연결된 워크 프레스가 테스트 소켓에 가압이 전달되는 상태, 즉 내구성 시험을 위한 자동 조작 준비가 완료된 상태에 있을 때, 워크 프레스와 테스트 소켓간의 상하간 거리를 확인하는 것을 특징으로 한다.In addition, an origin check sensor is installed at one side of the mobile link, and the work press connected to the mobile link and the mobile link as a transmitter is in a state in which pressure is transmitted to a test socket, that is, in a state in which the automatic operation preparation for the durability test is completed. At this time, it is characterized by checking the distance between the work press and the test socket.

또한, 상기 나사 작동부는 상기 이동나사에 회전력을 가하는 핸들부와;상기 핸들부의 하부에 설치되어 핸들부의 회전력을 이동나사에 전달하는 타이밍풀리 및 타이밍벨트와; 상기 타이밍벨트의 중앙에 장착되어 타이밍풀리의 장력이 한쪽으로 치우침을 방지하는 장력조정 브라켓;The screw operating part may include a handle part for applying a rotational force to the moving screw; a timing pulley and a timing belt installed under the handle part to transmit the rotational force of the handle part to the moving screw; A tension adjustment bracket mounted at the center of the timing belt to prevent the tension of the timing pulley from biasing to one side;

또한, 상기 중앙판의 일측에는 높이측정 센서가 장착되어 상기 받침판으로부터 중앙판까지의 높이를 측정하는 것을 특징으로 한다.In addition, a height measuring sensor is mounted on one side of the center plate to measure the height from the base plate to the center plate.

또한, 상기 높이측정 센서 및 서보모터에 콘트롤 패널이 연결되어 워크 프레스의 높이 및 서보모터의 작동을 제어하는 것을 특징으로 한다.In addition, a control panel is connected to the height measuring sensor and the servomotor to control the height of the work press and the operation of the servomotor.

이상에서 본 바와 같이 본 발명에 따른 테스트 소켓 내구성 시험 장치는 다음과 같은 효과를 제공한다.As described above, the test socket durability test apparatus according to the present invention provides the following effects.

우선, 서보모터를 사용하여 일정한 압력으로 테스트 소켓을 반복적으로 가압함으로써, 소켓 라이프 타임 테스트의 정밀도를 향상시키고,First, by repeatedly pressing the test socket at a constant pressure using a servomotor, it is possible to improve the accuracy of the socket life test,

핸들부 및 높이조절 센서를 사용하여 워크 프레스의 높이를 조절함으로써, 작업자가 원하는 위치에서 워크 프레스를 작동시키는 것이 가능해지고,By adjusting the height of the work press using the handle portion and the height adjustment sensor, it becomes possible for the operator to operate the work press at a desired position,

콘트롤 패널을 사용하여 워크 프레스의 가압횟수 및 높이를 변경 설정한 후에 자동 모드를 수행케 함으로써, 소켓 라이프 타임 테스트에 소요되는 시간을 절감시키는 효과가 있다. By using the control panel to change the number of presses and heights of the work press, the automatic mode is performed, thereby reducing the time required for the socket life test.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, “포함하다” 또는 “가지다” 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들의 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular example embodiments only and is not intended to be limiting of the present invention. A singular expression includes a plural expression unless the context clearly indicates otherwise. In this application, the terms “comprises” or “having” are intended to indicate that there is a feature, number, step, action, component, part, or combination thereof described in the specification, and one or more other It is to be understood that the present invention does not exclude the possibility of the presence or the addition of features, numbers, steps, operations, components, parts, or a combination thereof.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조로 상세하게 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

첨부한 도 3은 본 발명에 따른 테스트 소켓 내구성 시험 장치의 개시도이고, 도 4은 도 3의 사시도이다.3 is a view illustrating a test socket durability test apparatus according to the present invention, and FIG. 4 is a perspective view of FIG. 3.

본 발명은 도 3에서 도시한 바와 같이, 서보모터(200)의 회전운동에 의해 워크 프레스(210)가 왕복운동하여 테스트 소켓(220)을 반복적으로 가압함으로써, 테스트 소켓의 라이프 타임을 평가하는 테스트 소켓 내구성 시험 장치를 제공한다.As shown in FIG. 3, the work press 210 reciprocates by the rotational movement of the servomotor 200 to repeatedly press the test socket 220, thereby evaluating the life time of the test socket. Provide a socket durability test apparatus.

우선, 본 발명에 따른 테스트 소켓 내구성 시험 장치의 구성을 살펴보면, 받침판(270)의 저면에 평판형의 보드(271)가 장착되어 테스트 소켓(220)이 설치 고정되도록 하고, 받침판(270)의 중앙에는 관통홈(272)이 형성되어 워크 프레스(210)가 이 관통홈(272)을 통해 테스트 소켓(220)을 가압시킬 수 있게 된다.First, looking at the configuration of the test socket durability test apparatus according to the present invention, a flat board 271 is mounted on the bottom of the support plate 270 so that the test socket 220 is installed and fixed, the center of the support plate 270 Through grooves 272 are formed in the work press 210 to press the test socket 220 through the through grooves 272.

상기 테스트 소켓(220)은 반도체 패키지의 테스트를 위한 전용 구조물로서, 테스트의 대상이 되는 반도체 패키지의 외부 연결단자와 테스트보드의 외부 연결단자를 연결하는 포고핀을 구비하는 것이 일반적이다.The test socket 220 is a dedicated structure for testing a semiconductor package, and generally includes a pogo pin connecting an external connection terminal of the semiconductor package to be tested and an external connection terminal of the test board.

또한, 상기 테스트 소켓(220)은 테스트 대상의 반도체 패키지의 종류에 따라 포고핀 타입이나 리드 등 여러가지 형태로 제작될 수 있고, 이러한 테스트 소켓(220)의 형태 및 포고핀의 길이에 따라 본 발명은 다양한 세팅 모드(워크 프레스의 높이, 가압횟수, 가압력의 크기)에서 테스트 조건을 설정한 후 자동모드로 소켓 라이프 타임 테스트를 수행하게 된다.In addition, the test socket 220 may be manufactured in various forms such as a pogo pin type or a lead according to the type of semiconductor package to be tested, the present invention according to the shape of the test socket 220 and the length of the pogo pin After setting test conditions in various setting modes (work press height, number of presses, magnitude of pressing force), socket life test is performed in automatic mode.

그리고, 상기 테스트 소켓(220)은 별도의 소켓 베이스 플레이트에 의해 보드(271)에 장착되어 워크 프레스(210)의 계속되는 가압으로 인해 보드(271)에서 이탈되는 것이 방지된다.In addition, the test socket 220 is mounted on the board 271 by a separate socket base plate to prevent the test socket 220 from being separated from the board 271 due to the continuous pressurization of the work press 210.

상기 받침판(270)의 상부에는 수직으로 길게 복수의 지지대(280)가 설치되어 장치의 각종 구성을 지지하는 역할을 제공하고, 지지대(280) 사이에는 이동나사(290)가 길게 설치되어 중앙판(240)의 높이를 조절하게 된다.A plurality of supports 280 are vertically installed on the upper portion of the support plate 270 to serve to support various configurations of the device, and a moving screw 290 is installed between the supports 280 to extend the center plate ( 240) to adjust the height.

여기서, 상기 중앙판(240)은 받침판(270)과 수평을 이룬채 지지대(280)에 삽입 장착되고, 이동나사(290)에 나사결합하여 이동나사(290)의 회전에 의해 지지대(280)를 따라 상하로 이동하게 된다.Here, the center plate 240 is inserted and mounted to the support plate 280 in parallel with the support plate 270, screwed to the moving screw 290 to support the support 280 by the rotation of the moving screw 290 Will move up and down.

상기 중앙판(240)의 하부에는 하면이 평평한 워크 프레스(210)가 설치되어 왕복운동에 의해 일정한 압력으로 테스트 소켓(220)을 반복적으로 가압한다.A work press 210 having a flat lower surface is installed below the middle plate 240 to repeatedly press the test socket 220 at a predetermined pressure by reciprocating motion.

또한, 상기 워크 프레스(210)가 일정 가압 횟수에 도달하면 테스트 소켓(220)의 불량 포고핀 발생 유무를 확인함으로써, 포고핀의 내구성을 테스트하게 된다.In addition, when the work press 210 reaches a predetermined number of times, by checking whether or not a defective pogo pin is generated in the test socket 220, the durability of the pogo pin is tested.

또한, 워크 프레스(210)의 상부에는 링크부(310)가 장착되어 링크부(310)의 일측에 장착된 서보모터(200)의 회전력을 왕복운동으로 변환함으로써 이를 워크 프레스(210)에 전달하게 된다.In addition, the link portion 310 is mounted on the upper portion of the work press 210 to convert the rotational force of the servo motor 200 mounted on one side of the link portion 310 to a reciprocating motion to transfer it to the work press 210. do.

이때, 본 발명에서는 링크부(310)에 회전력을 부여하기 위해 서보모터(200)를 사용함으로써, 빠른 응답과 넓은 속도제어의 범위로 워크 프레스(210)의 왕복운동을 조절하는 것이 가능해진다.In this case, in the present invention, by using the servo motor 200 to impart rotational force to the link unit 310, it becomes possible to adjust the reciprocating motion of the work press 210 in a range of fast response and wide speed control.

덧붙여, 상기 서보모터(200)는 콘트롤 패널(400)에 의해 회전속도가 제어되어 워크 프레스(210)의 왕복이동 속도 및 인덱스 타임(가압과 다음 가압과의 시간차)을 테스트 특성에 맞게 조절할 수 있게 된다.In addition, the servo motor 200 may be controlled by the control panel 400 to adjust the reciprocating speed and index time (time difference between the pressurization and the next pressurization) of the work press 210 according to the test characteristics. do.

그리고, 테스트 소켓의 포고핀의 탄성력을 충분히 가압할 수 있는 힘을 얻기 위하여 상기 서보모터(200)의 일측에는 감속기(230)를 설치하여 서보모터의 회전 스피드를 늦추는 대신 회전력을 증대시킨다.In addition, in order to obtain a force capable of sufficiently pressing the elastic force of the pogo pin of the test socket, a reduction gear 230 is installed at one side of the servo motor 200 to increase the rotational force instead of slowing down the rotational speed of the servomotor.

한편, 상기 링크부(310)는 서보모터(200)의 중심축에 장착되어 서보모터(200)의 작동시 회전하는 회전기(311)와, 회전기(311)의 일측에 힌지 베어링(313)으로 결합되어 회전기(311)의 회전운동을 왕복운동으로 변환하는 이동링크(312)와, 이동링크(312)의 하부에 설치되되 중앙판(240)을 관통하여 워크 프레스(210)에 왕복운동을 전달하는 전달기(314)로 이루어진다.On the other hand, the link unit 310 is mounted on the central axis of the servo motor 200 is coupled to the rotating rotor 311 and the hinge bearing 313 on one side of the rotating motor 311. And a moving link 312 for converting the rotational movement of the rotor 311 into a reciprocating motion, and installed at a lower portion of the moving link 312 to penetrate the central plate 240 to transmit the reciprocating motion to the work press 210. Consisting of a transmitter 314.

또한, 상기 전달기(314)는 중앙판(240)에 형성된 관통홀에 슬라이드 베어링(241)으로 연결되어 왕복운동시 중앙판(240)과의 사이에서 발생하는 마찰력을 최소화하게 된다.In addition, the transmitter 314 is connected to the through hole formed in the center plate 240 by the slide bearing 241 to minimize the friction force generated between the center plate 240 during the reciprocating motion.

그리고, 상기 이동링크(312)의 일측에는 원점확인 센서(315)가 설치되어, 상기 이동링크(312) 및 이동링크에 전달기(314)로 연결된 워크 프레스(210)가 테스트 소켓(220)에 가압이 전달되는 상태, 즉 내구성 시험을 위한 자동 모드 준비가 완료된 상태에 있을 때, 워크 프레스(210)와 테스트 소켓(220)간의 거리를 확인하게 된다.In addition, an origin check sensor 315 is installed at one side of the mobile link 312, and the work press 210 connected to the mobile link 312 and the transfer link 314 to the mobile link is connected to the test socket 220. When the pressure is transmitted, that is, when the automatic mode preparation for the durability test is completed, the distance between the work press 210 and the test socket 220 is checked.

이 확인 거리 정보는 어느 정도 시일이 경과한 후에 동일한 소켓의 내구성 시험을 하고자 할 때 이용하기 위한 세팅 정보이다.The confirmation distance information is setting information for use when the durability test of the same socket is to be performed after some time has passed.

덧붙여, 상기 이동나사(290)의 상부에는 나사 작동부(350)가 설치되어 이동나사(290)를 돌리 것이 가능해지는데, 상기 나사 작동부(350)는 상부판(250)의 일 측 상부에 장착되어 수동조작에 의해 회전력을 부여하는 핸들부(300)와, 핸들부(300)의 회전력을 상부판(250) 양측의 이동나사(290)에 전달하는 타이밍풀리(351) 및 타이밍벨트(352)와, 타이밍 벨트(352)상에 설치되어 타이밍풀리(351)의 장력이 좌우 한쪽으로 몰리는 것을 방지하는 장력조정 브라켓(353)으로 이루어진다.In addition, the screw operating portion 350 is installed on the upper portion of the moving screw 290 to be able to turn the moving screw 290, the screw operating portion 350 is mounted on the upper side of the upper plate 250 And a timing unit 351 and a timing belt 352 which transmit the rotational force of the handle unit 300 to the moving screws 290 on both sides of the upper plate 250, thereby providing a rotational force by manual operation. And a tension adjustment bracket 353 provided on the timing belt 352 to prevent the tension of the timing pulley 351 from being pushed to the left and right.

구체적인 작동과정을 설명하면, 테스트 소켓(220)을 가압하기 전에 핸들부(300)를 수동으로 돌리는 경우 핸들부(300) 하부에 장착된 타이밍풀리(351a)가 회전하면서 타이밍풀리(351)에 결합된 이동나사(290a)가 함께 회전하여 이동나사(290)와 나사결합된 중앙판(240)이 핸들부의 회전방향에 따라 상하 이동한다.In detail, when the handle 300 is manually turned before the test socket 220 is pressed, the timing pulley 351a mounted on the lower portion of the handle 300 is rotated and coupled to the timing pulley 351. The moving screw 290a rotates together and the center plate 240 screwed with the moving screw 290 moves up and down according to the rotation direction of the handle part.

이때, 핸들부(300) 하부에 장착된 타이밍풀리(351a)에 연결되는 타이밍벨트(352)가 작동하면서 핸들부(300) 반대측에 위치한 타이밍풀리(351b) 및 이동나사(290b)도 같이 회전함에 따라, 중앙판(240)을 상하로 이동시키는데 소요되는 힘이 양쪽에서 부여되도록 한다. At this time, the timing belt 352 connected to the timing pulley 351a mounted on the lower portion of the handle part 300 operates while the timing pulley 351b and the moving screw 290b positioned opposite the handle part 300 rotate together. Accordingly, the force required to move the middle plate 240 up and down is applied to both sides.

또한, 상기 이동나사(290)는 상부판(250)에 설치된 고정 베어링과 결합하고 중앙판(240) 상부에 설치된 고정 브라켓(251)과 결합하여, 핸들부(300)의 조작에 의한 회전시 이동나사(290) 자체는 상하로 이동되지 않고 중앙판(240)만이 상하로 이동할 수 있도록 한다.In addition, the moving screw 290 is coupled to the fixed bearing installed on the upper plate 250 and coupled to the fixing bracket 251 installed on the upper middle plate 240, the movement during rotation by the operation of the handle portion 300 The screw 290 itself does not move up and down, so that only the center plate 240 can move up and down.

다만, 이동나사(290)의 하부는 받침판(270)의 상면에 설치된 스러스트 베어링(275)과 결합하여 회전시 발생하는 마찰열을 감소시키게 된다.However, the lower portion of the moving screw 290 is combined with the thrust bearing 275 installed on the upper surface of the support plate 270 to reduce the frictional heat generated during rotation.

그리고, 상기 중앙판(240)의 내부홀에는 슬라이딩 베어링(281)을 이용하여 복수의 지지대(280)를 삽입 장착시킴으로써, 이동나사(290)에 의한 중앙판(240) 이동시 지지대(280)와의 마찰을 최소화하게 된다.In addition, by inserting and mounting the plurality of supports 280 using the sliding bearing 281 in the inner hole of the central plate 240, friction with the support 280 during the movement of the central plate 240 by the moving screw 290. Will be minimized.

상기 중앙판(240)의 일측에는 레이져를 이용한 높이측정 센서(260)가 설치되어 받침판(270)으로부터 중앙판(240)까지의 높이를 측정함으로써, 중앙판(240) 하부에 전달기(314)로 연결된 워크 프레스(210)와 테스트 소켓(220) 사이의 거리를 측정할 수 있게 된다.On one side of the central plate 240 is installed a height measuring sensor 260 using a laser to measure the height from the base plate 270 to the central plate 240, the transmitter 314 below the central plate 240 It is possible to measure the distance between the work press 210 and the test socket 220 connected to.

더욱이, 상기 콘트롤 패널(400)은 서보모터(200)와 연결되어 서보모터(200)의 방향 전환수를 통해 워크 프레스(210)의 가압 횟수를 산출함으로써, 일정 횟수(예를 들어 10만 또는 20만)만큼의 가압이 이루어진 후에 테스트 소켓(220)을 꺼내어 소켓 내부의 포고핀 변형상태를 관찰하게 된다.In addition, the control panel 400 is connected to the servo motor 200 to calculate the number of times of pressurization of the work press 210 through the direction change number of the servo motor 200, by a predetermined number of times (for example 100,000 or 20 Only after the pressurization is performed, the test socket 220 is taken out to observe the state of deformation of the pogo pin in the socket.

또한, 상기 콘트롤 패널(400)은 각 테스트 소켓(220)별로 가압 횟수에 따른 워크 프레스(210)의 높이를 저장하여, 동일한 테스트 소켓(220)을 가압하거나 일정 가압횟수 이후에 다시 테스트를 시작하는 경우 저장된 가압횟수와 워크 프레스(210)의 높이로 테스트를 재개하는 것이 가능해진다.In addition, the control panel 400 stores the height of the work press 210 according to the number of presses for each test socket 220 to press the same test socket 220 or to start the test again after a predetermined number of presses. In this case, the test can be resumed with the stored number of times of pressurization and the height of the work press 210.

그리고, 콘트롤 패널(400)의 전면에는 스톱버튼(410)이 설치되어 테스트 장치에 응급상황 발생시 서보모터(200)의 일측에 장착된 감속기(230)를 작동시킴에 따라 서보모터(200)의 작동을 재빨리 중단시킴으로써, 안전사고의 발생을 차단하게 된다.In addition, a stop button 410 is installed at the front of the control panel 400 to operate the reducer 230 mounted on one side of the servo motor 200 when an emergency situation occurs in the test apparatus. By quickly stopping, the occurrence of a safety accident is prevented.

이하 상기에서 설명한 본 발명에 따른 테스트 소켓을 이용한 반도체 칩 테스트 장치의 작동과정을 살펴보기로 한다.Hereinafter, an operation process of the semiconductor chip test apparatus using the test socket according to the present invention described above will be described.

우선, 워크 프레스(210)가 받침판(270)에서 일정 거리만큼 이격된 상태에서 받침판(270) 하부의 보드(271)에 테스트 소켓(220)을 안착시키고, 콘트롤 패널(400)에 나타난 워크 프레스(210)의 높이를 관측하면서 핸들부(300) 조작에 의해 워크 프레스(210)와 테스트 소켓(220) 사이의 거리를 조절한다.First, while the work press 210 is spaced apart from the support plate 270 by a predetermined distance, the test socket 220 is seated on the board 271 under the support plate 270, and the work press shown in the control panel 400 ( While observing the height of 210, the distance between the work press 210 and the test socket 220 by adjusting the handle 300 is adjusted.

이후, 콘트롤 패널(400)의 조작을 통해 서보모터(200)의 회전각을 미세 이동시켜 워크 프레스(210)를 하강시킴으로써, 워크 프레스(210)와 테스트 소켓(220)간의 미세한 거리를 조절하게 된다.Thereafter, the rotation angle of the servomotor 200 is moved finely by the operation of the control panel 400 to lower the work press 210, thereby controlling the fine distance between the work press 210 and the test socket 220. .

이때, 워크 프레스(210)가 적정 높이에 세팅되었을때 그 높이값을 콘트롤 패널(400)에 저장하여 동일한 종류의 테스트 소켓(220)을 테스트시 세팅 조건을 그대로 활용함으로써, 워크 프레스(210)의 높이를 조절하는데 소요되는 시간을 절감할 수 있다.At this time, when the work press 210 is set to an appropriate height by storing the height value in the control panel 400 by using the same type of test socket 220 test conditions, the work press 210 of the The time taken to adjust the height can be reduced.

그리고, 워크 프레스(210)의 높이를 조절한 후에는 콘트롤 패널(400)에 일정한 회전각을 입력하여 서보모터(200)가 일정한 압력으로 테스트 소켓(220)을 가압하도록 한다.After adjusting the height of the work press 210, the servo motor 200 presses the test socket 220 at a constant pressure by inputting a constant rotation angle to the control panel 400.

또한, 상기 콘트롤 패널(400)은 서보모터(200)의 회전수를 통해 워크 프레스(210)의 가압 횟수를 제어하고, 가압 횟수가 콘트롤 패널(400)에 설정된 일정값에 도달시 서보모터(200)의 작동은 자동 중단된다.In addition, the control panel 400 controls the number of times of pressurization of the work press 210 through the rotational speed of the servomotor 200, and when the number of times of pressurization reaches a predetermined value set in the control panel 400, the servomotor 200 ) Is automatically stopped.

다음으로, 핸들부(300)를 다시 조작하여 워크 프레스(210)를 상방향으로 이동시킨후 테스트 소켓(220)을 꺼내어 현미경 등을 통해 그 소켓 내부의 포고핀 변형상태를 육안으로 관찰하거나 전기적 성능 저하(Electrical Contact Failure)를 검사하게 된다.Next, after operating the handle unit 300 again to move the work press 210 upwards, take out the test socket 220 and visually observe the state of the pogo pin deformation inside the socket through a microscope or the like or electrical performance The electrical contact failure is checked.

이와 같이, 본 발명은 핸들부(300)를 사용하여 워크 프레스(210)의 높이를 조절하고, 서보모터(200)를 이용하여 워크 프레스(210)가 반복적으로 테스트 소켓(220)을 가압하도록 하며, 콘트롤 패널(400)에 의해 워크 프레스의 가압횟수 및 높이를 자동으로 조절함으로써, 내구성 테스트의 용이성과 정밀성을 향상시키는 테스트 소켓 내부의 포고핀에 대한 내구성 시험 장치를 제공한다.As described above, the present invention adjusts the height of the work press 210 using the handle part 300, and the work press 210 repeatedly pressurizes the test socket 220 by using the servo motor 200. By controlling the press number and height of the work press by the control panel 400 automatically, it provides a durability test device for the pogo pin inside the test socket to improve the ease and precision of the durability test.

이상에서는 본 발명을 특정의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 이러한 실시예에 한정되지 않으며, 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 실시할 수 있는 다양한 형태의 실시예들을 모두 포함한다.While the invention has been shown and described with respect to certain preferred embodiments thereof, the invention is not limited to these embodiments, and has been claimed by those of ordinary skill in the art to which the invention pertains. It includes all the various forms of embodiments that can be carried out without departing from the spirit.

도 1은 반도체 패키지용 테스트 소켓의 개시도,1 is an exploded view of a test socket for a semiconductor package;

도 2는 종래 테스트 소켓 시험 장치,2 is a conventional test socket test apparatus,

도 3는 본 발명에 따른 테스트 소켓 내구성 시험 장치의 개시도, 3 is a view illustrating a test socket durability test apparatus according to the present invention;

도 4는 도 3의 사시도.4 is a perspective view of FIG.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

200 : 서보모터 210 : 워크 프레스200: servomotor 210: work press

220 : 테스트 소켓 230 : 감속기220: test socket 230: reducer

240 : 중앙판 250 : 상부판240: center plate 250: top plate

270 : 받침판 280 : 지지대270: support plate 280: support

290 : 이동나사 300 : 핸들부290: Moving screw 300: Handle portion

Claims

A plurality of supports vertically installed on the support plate;

A test socket mounted on a lower portion of the center of the support plate and repeatedly subjected to a constant pressure;

A center plate inserted into the abutment while being parallel to the support plate;

A work press mounted at a lower portion of the center plate to repeatedly press the test socket by a reciprocating motion;

A link unit connected to an upper portion of the work press and converting a rotational motion into a reciprocating motion;

A servo motor mounted to one side of the link part to provide a rotational force to the link part;

A moving screw which is screwed while penetrating perpendicular to the middle plate;

A screw operating part installed at an upper portion of the moving screw to operate the moving screw;

An upper plate inserted vertically on top of the support and the moving screw;

Test socket durability test device, characterized in that comprising a.

The rotor of claim 1, wherein the link unit includes a rotor mounted at a center of the servo motor and including a hinge bearing at one side thereof;

A moving link connected by the rotor and a hinge bearing to reciprocate during rotation of the rotor;

A transmitter for connecting the movable link and the work press to transfer the reciprocating motion of the movable link to a work press;

Test socket durability test device, characterized in that comprising a.

The test socket durability test apparatus according to claim 2, wherein an origin check sensor is installed at one side of the movable link to check a distance between the work press and the test socket.

The method of claim 1, wherein the screw operating portion and the handle portion for applying a rotational force to the moving screw;

A timing pulley and a timing belt installed at a lower portion of the handle part to transmit a rotational force of the handle part to a moving screw;

A tension adjustment bracket mounted at the center of the timing belt to prevent the tension of the timing pulley from biasing to one side;

Test socket durability test device, characterized in that comprising a.

The test socket durability test apparatus according to claim 1, wherein a height measuring sensor is mounted at one side of the center plate to measure a height from the base plate to the center plate.

The test socket durability test apparatus according to claim 5, wherein a control panel is connected to the height measuring sensor and the servomotor to control the height of the work press and the operation of the servomotor.