KR20090044778A - 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법 및 그를 이용한플라즈마 디스플레이 장치 - Google Patents

플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법 및 그를 이용한플라즈마 디스플레이 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 플라즈마 디스플레이 장치에 관한 것이다. 그 플라즈마 디스플레이 장치는, 플라즈마 디스플레이 패널에 형성된 복수의 스캔 전극들은 제1, 2 그룹으로 나뉘어 스캔 신호가 공급되고, 어드레스 구간 중 적어도 어느 한 구간에서 제1, 2 그룹에 공급되는 스캔 바이어스 전압이 서로 상이하며, 하나의 프레임을 구성하는 복수의 서브필드들 중 적어도 하나의 서브필드에서 서스테인 구간 동안 공급되는 복수의 서스테인 신호들 중 첫번째 서스테인 신호의 폭이 나머지 서스테인 신호의 폭보다 큰 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 장치에 의하면, 플라즈마 디스플레이 패널에 형성된 복수의 스캔 전극들을 2 이상의 그룹으로 분할 구동함에 있어서, 서스테인 펄스의 폭을 서브필드의 특성에 따라 가변시킴으로써, 벽전하 손실에 따른 어드레스 오방전을 감소시킴과 동시에 서스테인 오방전에 따른 디스플레이 영상의 화질 저하를 개선할 수 있다.
PDP, 스캔 전극, 스캔 신호, 그룹, 고속 구동

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법 및 그를 이용한 플라즈마 디스플레이 장치{Method for driving plasma display panel and plasma display device thereof}
본 발명은 플라즈마 디스플레이 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 플라즈마 디스플레이 패널을 구동시키는 방법에 관한 것이다.
플라즈마 디스플레이 장치는 격벽이 형성된 배면기판 및 이와 대향되는 전면기판 사이에 복수의 방전셀들이 형성되는 패널을 포함하고, 입력되는 영상 신호에 따라 상기 복수의 방전셀들을 선택적으로 방전시켜 상기 방전에 의해 발생하는 진공 자외선이 형광체를 발광시키도록 함으로써 영상을 디스플레이하는 장치이다.
영상의 효과적인 디스플레이를 위해, 플라즈마 디스플레이 장치는 일반적으로 입력되는 영상 신호를 처리하여 패널에 포함된 복수의 전극들에 구동 신호를 공급하는 구동부로 출력하는 구동 제어 장치를 포함한다.
대화면의 플라즈마 디스플레이 장치의 경우, 패널 구동을 위한 시간 마진(margin)이 부족하여, 패널을 고속 구동시키는 것이 필요하다.
본 발명의 기술적 과제는 플라즈마 디스플레이 패널의 고속 구동시 발생할 수 있는 벽전하 손실에 따른 어드레스 오방전 및 서스테인 오방전을 감소시켜 디스플레이 영상의 화질을 개선할 수 있는 플라즈마 디스플레이 장치를 제공하는데 있다.
상기한 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 장치는, 상부기판에 형성되는 복수의 스캔전극들 및 서스테인전극들, 하부기판에 형성되는 복수의 어드레스전극들을 구비하는 플라즈마 디스플레이 패널; 및 상기 복수의 전극들에 구동 신호를 공급하는 구동부를 포함하고, 상기 복수의 스캔 전극들은 제1, 2 그룹으로 나뉘어 스캔 신호가 공급되고, 어드레스 구간 중 적어도 어느 한 구간에서 상기 제1, 2 그룹에 공급되는 스캔 바이어스 전압이 서로 상이하며, 하나의 프레임을 구성하는 복수의 서브필드들 중 적어도 하나의 서브필드에서, 서스테인 구간 동안 공급되는 복수의 서스테인 신호들 중 첫번째 서스테인 신호의 폭이 나머지 서스테인 신호의 폭보다 큰 것을 특징으로 한다.
상기한 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법은, 상기 복수의 스캔 전극들은 제1, 2 그룹으로 나뉘어 스캔 신호가 공급되고, 어드레스 구간 중 적어도 어느 한 구간에서 상기 제1, 2 그룹에 공급되는 스캔 바이어스 전압이 서로 상이하며, 하나의 프레임을 구성하는 복수의 서 브필드들 중 적어도 하나의 서브필드에서, 서스테인 구간 동안 공급되는 복수의 서스테인 신호들 중 첫번째 서스테인 신호의 폭이 나머지 서스테인 신호의 폭보다 큰 것을 특징으로 한다.
상기한 바와 같이 구성되는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 장치에 의하면, 플라즈마 디스플레이 패널에 형성된 복수의 스캔 전극들을 2 이상의 그룹으로 분할 구동함에 있어서, 서스테인 펄스의 폭을 서브필드의 특성에 따라 가변시킴으로써, 벽전하 손실에 따른 어드레스 오방전을 감소시킴과 동시에 서스테인 오방전에 따른 디스플레이 영상의 화질 저하를 개선할 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법 및 그를 이용한 플라즈마 디스플레이 장치에 관하여 상세히 설명한다. 도 1은 플라즈마 디스플레이 패널의 구조에 대한 일실시예를 사시도로 도시한 것이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 플라즈마 디스플레이 패널은 상부기판(10) 상에 형성되는 유지 전극 쌍인 스캔 전극(11) 및 서스테인 전극(12), 하부기판(20) 상에 형성되는 어드레스 전극(22)을 포함한다.
상기 유지 전극 쌍(11, 12)은 통상 인듐틴옥사이드(Indium-Tin-Oxide;ITO)로 형성된 투명전극(11a, 12a)과 버스 전극(11b, 12b)을 포함하며, 상기 버스 전극(11b, 12b)은 은(Ag), 크롬(Cr) 등의 금속 또는 크롬/구리/크롬(Cr/Cu/Cr)의 적 층형이나 크롬/알루미늄/크롬(Cr/Al/Cr)의 적층형으로 형성될 수 있다. 버스 전극(11b, 12b)은 투명전극(11a, 12a) 상에 형성되어, 저항이 높은 투명전극(11a, 12a)에 의한 전압 강하를 줄이는 역할을 한다.
한편, 본 발명의 일실시예에 따르면 유지 전극쌍(11, 12)은 투명전극(11a 12a)과 버스 전극(11b, 12b)이 적층된 구조 뿐만 아니라, 투명 전극(11a, 12a)이 없이 버스 전극(11b, 12b)만으로도 구성될 수 있다. 이러한 구조는 투명 전극(11a, 12a)을 사용하지 않으므로, 패널 제조의 단가를 낮출 수 있는 장점이 있다. 이러한 구조에 사용되는 버스 전극(11b, 12b)은 위에 열거한 재료 이외에 감광성 재료등 다양한 재료가 가능할 것이다.
스캔 전극(11) 및 서스테인 전극(12)의 투명전극(11a, 12a)과 버스전극(11b, 11c)의이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법 및 그를 이용한 플라즈마 디스플레이 장치에 관하여 상세히 설명한다. 도 1은 플라즈마 디스플레이 패널의 구조에 대한 일실시예를 사시도로 도시한 것이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 플라즈마 디스플레이 패널은 상부기판(10) 상에 형성되는 유지 전극 쌍인 스캔 전극(11) 및 서스테인 전극(12), 하부기판(20) 상에 형성되는 어드레스 전극(22)을 포함한다.
상기 유지 전극 쌍(11, 12)은 통상 인듐틴옥사이드(Indium-Tin-Oxide;ITO)로 형성된 투명전극(11a, 12a)과 버스 전극(11b, 12b)을 포함하며, 상기 버스 전극(11b, 12b)은 은(Ag), 크롬(Cr) 등의 금속 또는 크롬/구리/크롬(Cr/Cu/Cr)의 적 층형이나 크롬/알루미늄/크롬(Cr/Al/Cr)의 적층형으로 형성될 수 있다. 버스 전극(11b, 12b)은 투명전극(11a, 12a) 상에 형성되어, 저항이 높은 투명전극(11a, 12a)에 의한 전압 강하를 줄이는 역할을 한다.
한편, 본 발명의 일실시예에 따르면 유지 전극쌍(11, 12)은 투명전극(11a 12a)과 버스 전극(11b, 12b)이 적층된 구조 뿐만 아니라, 투명 전극(11a, 12a)이 없이 버스 전극(11b, 12b)만으로도 구성될 수 있다. 이러한 구조는 투명 전극(11a, 12a)을 사용하지 않으므로, 패널 제조의 단가를 낮출 수 있는 장점이 있다. 이러한 구조에 사용되는 버스 전극(11b, 12b)은 위에 열거한 재료 이외에 감광성 재료등 다양한 재료가 가능할 것이다.
스캔 전극(11) 및 서스테인 전극(12)의 투명전극(11a, 12a)과 버스전극(11b, 11c)의 사이에는 상부 기판(10)의 외부에서 발생하는 외부광을 흡수하여 반사를 줄여주는 광차단의 기능과 상부 기판(10)의 퓨리티(Purity) 및 콘트라스트를 향상시키는 기능을 하는 블랙 매트릭스(Black Matrix, BM, 15)가 배열된다.
본 발명의 일실시예에 따른 블랙 매트릭스(15)는 상부 기판(10)에 형성되는데, 격벽(21)과 중첩되는 위치에 형성되는 제1 블랙 매트릭스(15)와, 투명전극(11a, 12a)과 버스전극(11b, 12b)사이에 형성되는 제2 블랙 매트릭스(11c, 12c)로 구성될 수 있다. 여기서, 제 1 블랙 매트릭스(15)와 블랙층 또는 블랙 전극층이라고도 하는 제 2 블랙 매트릭스(11c, 12c)는 형성 과정에서 동시에 형성되어 물리적으로 연결될 수 있고, 동시에 형성되지 않아 물리적으로 연결되지 않을 수도 있다.
또한, 물리적으로 연결되어 형성되는 경우, 제 1 블랙 매트릭스(15)와 제 2 블랙 매트릭스(11c, 12c)는 동일한 재질로 형성되지만, 물리적으로 분리되어 형성되는 경우에는 다른 재질로 형성될 수 있다.
스캔 전극(11)과 서스테인 전극(12)이 나란하게 형성된 상부기판(10)에는 상부 유전체층(13)과 보호막(14)이 적층된다. 상부 유전체층(13)에는 방전에 의하여 발생된 하전입자들이 축적되고, 유지 전극 쌍(11, 12)을 보호하는 기능을 수행할 수 있다. 보호막(14)은 가스 방전시 발생된 하전입자들의 스피터링으로부터 상부 유전체층(13)을 보호하고, 2차 전자의 방출 효율을 높이게 된다.
또한, 어드레스 전극(22)은 스캔 전극(11) 및 서스테인 전극(12)과 교차되는 방향으로 형성된다. 또한, 어드레스 전극(22)이 형성된 하부기판(20) 상에는 하부 유전체층(23)과 격벽(21)이 형성된다.
또한, 하부 유전체층(24)과 격벽(21)의 표면에는 형광체층(23)이 형성된다. 격벽(21)은 세로 격벽(21a)와 가로 격벽(21b)가 폐쇄형으로 형성되고, 방전셀을 물리적으로 구분하며, 방전에 의해 생성된 자외선과 가시광이 인접한 방전셀에 누설되는 것을 방지한다.
본 발명의 일실시예에는 도 1에 도시된 격벽(21)의 구조뿐만 아니라, 다양한 형상의 격벽(21)의 구조도 가능할 것이다. 예컨대, 세로 격벽(21a)과 가로 격벽(21b)의 높이가 다른 차등형 격벽 구조, 세로 격벽(21a) 또는 가로 격벽(21b) 중 적어도 하나 이상에 배기 통로로 사용 가능한 채널(Channel)이 형성된 채널형 격벽 구조, 세로 격벽(21a) 또는 가로 격벽(21b) 중 하나 이상에 홈(Hollow)이 형성된 홈형 격벽 구조 등이 가능할 것이다.
여기서, 차등형 격벽 구조인 경우에는 가로 격벽(21b)의 높이가 높은 것이 더 바람직하고, 채널형 격벽 구조나 홈형 격벽 구조인 경우에는 가로 격벽(21b)에 채널이 형성되거나 홈이 형성되는 것이 바람직할 것이다.
한편, 본 발명의 일실시예에서는 R, G 및 B 방전셀 각각이 동일한 선상에 배열되는 것으로 도시 및 설명되고 있지만, 다른 형상으로 배열되는 것도 가능할 것이다. 예컨대, R, G 및 B 방전셀이 삼각형 형상으로 배열되는 델타(Delta) 타입의 배열도 가능할 것이다. 또한, 방전셀의 형상도 사각형상 뿐만 아니라, 오각형, 육각형 등의 다양한 다각 형상도 가능할 것이다.
또한, 형광체층(23)은 가스 방전시 발생된 자외선에 의해 발광되어 적색(R), 녹색(G) 또는 청색(B) 중 어느 하나의 가시광을 발생하게 된다. 여기서, 상부/하부 기판(10, 20)과 격벽(21) 사이에 마련된 방전공간에는 방전을 위한 He+Xe, Ne+Xe 및 He+Ne+Xe 등의 불활성 혼합가스가 주입된다.
도 2는 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 배치에 대한 일실시예를 도시한 것으로, 플라즈마 디스플레이 패널을 구성하는 복수의 방전셀들은 도 2에 도시된 바와 같이 매트릭스 형태로 배치되는 것이 바람직하다. 복수의 방전셀들은 각각 스캔 전극 라인(Y1 내지 Ym), 서스테인 전극 라인(Z1 내지 Zm) 및 어드레스 전극 라인(X1 내지 Xn)의 교차부에 마련된다. 스캔 전극 라인(Y1 내지 Ym)은 순차적으로 구동되거나 동시에 구동될 수 있고, 서스테인 전극 라인(Z1 내지 Zm)은 동시에 구동될 수 있다. 어드레스 전극라인(X1 내지 Xn)은 기수 번째 라인들과 우수 번째 라 인들로 분할되어 구동되거나 순차적으로 구동될 수 있다.
도 2에 도시된 전극 배치는 본 발명에 따른 플라즈마 패널의 전극 배치에 대한 일실시예에 불과하므로, 본 발명은 도 2에 도시된 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 배치 및 구동 방식에 한정되지 아니한다. 예컨데, 상기 스캔 전극 라인(Y1 내지 Ym)들 중 2 개의 스캔 전극 라인이 동시에 스캐닝되는 듀얼 스캔(dual scan) 방식도 가능하다. 또한, 상기 어드레스 전극 라인(X1 내지 Xn)은 패널의 중앙 부분에서 상하 또는 좌우로 분할되어 구동될 수도 있다.
도 3은 하나의 프레임(frame)을 복수의 서브필드로 나누어 시분할 구동시키는 방법에 대한 일실시예를 타이밍도로 도시한 것이다. 단위 프레임은 시분할 계조 표시를 실현하기 위하여 소정 개수 예컨대 8개의 서브필드들(SF1, ..., SF8)로 분할될 수 있다. 또한, 각 서브필드(SF1, ...SF8)는 리셋 구간(미도시)과, 어드레스 구간(A1, ..., A8)및, 서스테인 구간(S1, ..., S8)로 분할된다.
여기서, 본 발명의 일실시예에 따르면 리셋 구간은 복수 개의 서브필드 중 적어도 하나에서 생략될 수 있다. 예컨대, 리셋 구간은 최초의 서브필드에서만 존재하거나, 최초의 서브필드와 전체 서브필드 중 중간 정도의 서브필드에서만 존재할 수도 있다.
각 어드레스 구간(A1, ..., A8)에서는, 어드레스 전극(X)에 표시 데이터 신호가 인가되고, 각 스캔 전극(Y)에 상응하는 스캔 펄스가 순차적으로 인가된다.
각 서스테인 구간(S1, ...,S8)에서는, 스캔 전극(Y)과 서스테인 전극(Z)에 서스테인 펄스가 교호하게 인가되어, 어드레스 구간(A1, ..., A8)에서 벽전하들이 형성된 방전셀들에서 서스테인 방전을 일으킨다.
플라즈마 디스플레이 패널의 휘도는 단위 프레임에서 차지하는 서스테인 방전 구간(S1, ..., S8)내의 서스테인 방전 펄스 개수에 비례한다. 1 화상을 형성하는 하나의 프레임이, 8개의 서브필드와 256계조로 표현되는 경우에, 각 서브필드에는 차례대로 1, 2, 4, 8, 16, 32, 64, 128의 비율로 서로 다른 서스테인 펄스의 수가 할당될 수 있다. 만일 133계조의 휘도를 얻기 위해서는, 서브필드1 구간, 서브필드3 구간 및 서브필드8 구간 동안 셀들을 어드레싱하여 서스테인 방전하면 된다.
각 서브필드에 할당되는 서스테인 방전 수는, APC(Automatic Power Control)단계에 따른 서브필드들의 가중치에 따라 가변적으로 결정될 수 있다. 즉, 도 3에서는 한 프레임을 8개의 서브필드로 분할하는 경우를 예로 들어 설명하였으나 본 발명은 그에 한정되지 아니하며, 한 프레임을 형성하는 서브필드의 수를 설계사양에 따라 다양하게 변형하는 것이 가능하다. 예를 들어, 한 프레임을 12 또는 16 서브필드 등과 같이, 8 서브필드 이상으로 분할하여 플라즈마 디스플레이 패널을 구동시킬 수 있다.
또한 각 서브필드에 할당되는 서스테인 방전 수는 감마특성이나 패널특성을 고려하여 다양하게 변형하는 것이 가능하다. 예컨대, 서브필드 4에 할당된 계조도를 8에서 6으로 낮추고, 서브필드 6 에 할당된 계조도를 32 에서 34 로 높일 수 있다.
도 4는 플라즈마 디스플레이 패널을 구동시키기 위한 구동 신호에 대한 일실시예를 타이밍도로 도시한 것이다.
상기 서브필드는 스캔 전극들(Y) 상에 정극성 벽전하를 형성하고 서스테인 전극들(Z) 상에 부극성 벽전하를 형성하기 위한 프리 리셋(pre reset) 구간, 프리 리셋 구간에 의해 형성된 벽전하 분포를 이용하여 전 화면의 방전셀들을 초기화하기 위한 리셋(reset) 구간, 방전셀을 선택하기 위한 어드레스(address) 구간 및 선택된 방전셀들의 방전을 유지시키기 위한 서스테인(sustain) 구간을 포함할 수 있다.
리셋 구간은 셋업(setup) 구간 및 셋 다운(setdown) 구간으로 이루어지며, 상기 셋업 구간에서는 모든 스캔 전극으로 상승 램프 파형(Ramp-up)이 동시 인가되어 모든 방전셀에서 미세 방전이 발생되고, 이에 따라 벽전하가 생성된다. 상기 셋다운 구간에는 상기 상승 램프 파형(Ramp-up)의 피크 전압보다 낮은 정극성 전압에서 하강하는 하강 램프파형(Ramp-down)이 모든 스캔 전극(Y)으로 동시에 인가되어 모든 방전셀에서 소거방전이 발생되고, 이에 따라 셋업 방전에 의해 생성된 벽전하 및 공간전하 중 불요 전하를 소거시킨다.
어드레스 구간에는 스캔 전극으로 부극성의 스캔 전압(Vsc)을 가지는 스캔 신호가 순차적으로 인가되고, 이와 동시에 상기 어드레스 전극(X)으로 정극성의 데이터 신호가 인가된다. 이러한 상기 스캔 신호와 데이터 신호 간의 전압 차와 상기 리셋 구간 동안 생성된 벽전압에 의해 어드레스 방전이 발생 되어 셀이 선택된다. 한편, 어드레스 방전의 효율을 높이기 위해, 상기 어드레스 구간 동안 서스테인 바이어스 전압(Vzb)이 서스테인 전극에 인가된다.
상기 어드레스 구간동안, 복수의 스캔 전극들(Y)은 2 이상의 그룹으로 나뉘 어 그룹별로 순차적으로 스캔 신호들이 공급될 수 있으며, 상기 분할된 그룹들 각각은 다시 2 이상의 서브 그룹으로 나뉘어 상기 서브 그룹별로 순차적으로 스캔 신호들이 공급될 수 있다. 예를 들어 복수의 스캔 전극들(Y)은 제1 그룹 및 제2 그룹으로 분할되고, 상기 제1 그룹에 속하는 스캔 전극들에 스캔 신호들이 순차적으로 공급된 후, 상기 제2 그룹에 속하는 스캔 전극들에 스캔 신호들이 순차적으로 공급될 수 있다.
본 발명에 따른 일실시예로서 복수의 스캔 전극들(Y)은 패널 상에 형성된 위치에 따라 우수(even) 번째에 위치하는 제1 그룹과 기수(odd) 번째에 위치하는 제2 그룹으로 분할될 수 있으며, 또 다른 실시예로서 패널의 중심을 기준으로 상측에 위치하는 제1 그룹과 하측에 위치하는 제2 그룹으로 분할될 수 있다.
상기와 같은 방법에 의해 분할된 제1 그룹에 속하는 스캔 전극들을 다시 우수(even) 번째에 위치하는 제1 서브 그룹과 기수(odd) 번째에 위치하는 제2 서브 그룹으로 분할되거나, 상기 제1 그룹의 중심을 기준으로 상측에 위치하는 제1 서브 그룹과 하측에 위치하는 제2 그룹으로 분할될 수 있다.
서스테인 구간에는 스캔 전극과 서스테인 전극에 교번적으로 서스테인 전압(Vs)을 가지는 서스테인 펄스가 인가되어 스캔 전극과 서스테인 전극 사이에 면방전 형태로 서스테인 방전이 발생된다.
서스테인 구간에서 스캔 전극과 서스테인 전극에 교번적으로 공급되는 복수의 서스테인 신호들 중 첫번째 서스테인 신호 또는 마지막 서스테인 신호의 폭은 나머지 서스테인 펄스의 폭보다 클 수 있다.
상기 서스테인 방전이 발생한 후, 어드레스 구간에서 선택된 온셀(ON cell)의 스캔 전극 또는 서스테인 전극에 남아있는 벽전하를 약한 방전을 발생시킴에 의해 소거시키는 소거 구간이 서스테인 구간 이후에 더 포함될 수 있다.
상기 소거 구간은 복수의 서브필드 전체 또는 그 중 일부의 서브필드에 포함될 수 있으며, 서스테인 구간에서 마지막 서스테인 펄스가 인가되지 않은 전극에 상기 약한 방전을 위한 소거 신호가 인가되는 것이 바람직하다.
상기 소거 신호는 점진적으로 증가하는 램프(ramp) 형태의 신호, 저전압 광폭 펄스(low-voltage wide pulse), 고전압 협폭 펄스(high-voltage narrow pulse), 기하급수적으로 증가하는 신호(exponential signal) 또는 half-sinusoidal pulse 등이 사용될 수 있다.
또한, 상기 약한 방전을 발생시키기 위해 스캔 전극 또는 서스테인 전극에 복수의 펄스가 순차적으로 인가될 수도 있다.
도 4에 도시된 구동 파형들은 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널을 구동시키기 위한 신호들에 대한 일실시예로서, 상기 도 4에 도시된 파형들에 의해 본 발명은 한정되지 아니한다. 예컨데, 상기 프리 리셋 구간이 생략될 수 있으며, 도 4에 도시된 구동 신호들의 극성 및 전압 레벨은 필요에 따라 변경이 가능하고, 상기 서스테인 방전이 완료된 후에 벽전하 소거를 위한 소거 신호가 서스테인 전극에 인가될 수도 있다. 또한, 상기 서스테인 신호가 스캔 전극(Y)과 서스테인(Z) 전극 중 어느 하나에만 인가되어 서스테인 방전을 일으키는 싱글 서스테인(single sustain) 구동도 가능하다.
도 5는 플라즈마 디스플레이 패널을 구동시키기 위한 구동 장치의 구성에 대한 일실시예를 도시한 것이다.
도 5를 참조하면, 방열 프레임(30)은 패널의 배면에 설치되어 패널을 지지함과 아울러 패널에서 발생되는 열을 흡수하여 방출시킨다. 또한, 방열 프레임(30)의 배면에는 패널에 구동 신호들을 인가하는 인쇄 회로기판이 설치된다.
인쇄 회로기판(40)은 패널의 어드레스 전극들에 구동 신호를 공급하는 어드레스 구동부(50), 패널의 스캔 전극들에 구동 신호를 공급하는 스캔구동부(60), 패널의 서스테인 전극들에 구동신호를 공급하는 서스테인구동부(70), 상기 구동 회로들을 제어하는 구동제어부(80) 및 각 구동 회로에 전원을 공급하는 파워 서플라이 유닛(PSU, 90)를 포함할 수 있다.
어드레스구동부(50)는 패널에 형성된 어드레스 전극들에 구동신호를 공급하여 패널에 형성된 복수개의 방전셀들 중 방전되는 방전셀만이 선택되도록 한다.
어드레스구동부(50)는 싱글 스캔 방식 또는 듀얼 스캔 방식에 따라 패널의 상측과 하측 중 어느 하나 또는 양측 모두에 설치될 수 있다.
어드레스구동부(50)에는 상기 어드레스 전극에 인가되는 전류를 제어하도록 데이터 IC(미도시)가 설치되고, 상기 데이터 IC에서는 인가되는 전류를 제어하기 위해 스위칭이 발생되어 다량의 열이 발생될 수 있다. 따라서 어드레스구동부(50)에는 상기 제어 과정에서 발생 된 발열을 해소하기 위해 히트싱크(미도시)가 설치될 수 있다.
도 5에 도시된 바와 같이, 스캔구동부(60)는 구동 제어부(80)와 연결되는 스 캔 서스테인 보드(62) 및 스캔 서스테인 보드(62)와 패널을 연결하는 스캔 드라이버 보드(64)를 포함할 수 있다.
스캔 드라이버 보드(64)는 상측과 하측 2 부분으로 나뉘어져 설치될 수 있으며, 도 5에 도시된 바와 달리 하나로 설치되거나 더 많은 복수 개로 설치될 수도 있다.
스캔 드라이버 보드(64)에는 패널의 스캔 전극으로 구동 신호를 공급하는 스캔 IC(65)가 설치되고, 스캔 IC(65)는 상기 스캔 전극에 리셋, 스캔 및 서스테인 신호를 연속으로 인가할 수 있다.
서스테인구동부(70)는 패널의 서스테인 전극으로 구동 신호를 공급한다.
구동 제어부(80)는 메모리에 저장된 신호 처리 정보를 이용해 입력되는 영상 신호에 대해 소정의 신호 처리를 수행하여 어드레스 전극들에 공급될 데이터로 변환하며, 스캔 순서 등에 따라 상기 변환된 데이터를 정렬할 수 있다. 또한, 구동 제어부(80)는 어드레스구동부(50), 스캔구동부(60) 및 서스테인구동부(70)에 타이밍 컨트롤(timing control) 신호를 공급하여, 상기 구동 회로들의 구동 신호 공급 시점을 제어할 수 있다.
도 6 내지 도 9는 플라즈마 디스플레이 패널의 스캔 전극들을 2개의 그룹으로 나누어 구동시키는 방법에 대한 실시예들을 타이밍도도 도시한 것이다.
도 6을 참조하면, 패널에 형성된 복수의 스캔 전극들(Y)은 적어도 두 그룹(Y1, Y2)으로 분할될 수 있다. 어드레스 구간은 상기 분할된 제1, 2 그룹들 각각에 대해 스캔 신호를 공급하는 제1, 2 그룹 스캔 구간으로 분리될 수 있으며, 상기 제1 그룹 스캔 구간동안 상기 제1 그룹에 속하는 스캔 전극들(Y1)에 스캔 신호가 순차적으로 공급된 후, 상기 제2 그룹 스캔 구간동안 상기 제2 그룹에 속하는 스캔 전극들(Y2)에 스캔 신호가 순차적으로 공급될 수 있다.
예를 들어, 복수의 스캔 전극들(Y)은 패널 상에 형성된 위치에 따라 패널의 상단으로부터 우수(even) 번째에 위치하는 제1 그룹(Y1)과 기수(odd) 번째에 위치하는 제2 그룹(Y2)으로 분할될 수 있으며, 또 다른 실시예로서 패널의 중심을 기준으로 상측에 위치하는 제1 그룹(Y1)과 하측에 위치하는 제2 그룹(Y1)으로 분할될 수 있다. 복수의 스캔 전극들(Y)은 상기한 방법 이외에 여러 다른 방법으로 분할될 수 있으며, 상기 제1, 2 그룹(Y1, Y2) 각각에 속하는 스캔 전극들의 개수가 서로 상이할 수도 있다.
리셋 구간동안 스캔 전극들(Y)에는 어드레스 방전을 위해 부극성(-)의 음전하가 형성되고, 어드레스 구간동안 스캔 전극들(Y)에 공급되는 구동 신호는 스캔 바이어스 전압을 유지하다가 순차적으로 부극성의 스캔 신호가 공급됨으로써 어드레스 방전이 발생된다.
복수의 스캔 전극들(Y)을 제1, 2 그룹으로 나누어 순차적으로 스캔 신호를 공급하는 경우, 제1 그룹(Y1)에 스캔 신호들을 공급하는 제1 그룹 스캔 구간동안 제2 그룹(Y2)에 속하는 스캔 전극들(Y2)에 형성된 부극성(-)의 벽전하가 손실될 수 있다. 그에 따라 제2 그룹 스캔 구간동안 제2 그룹(Y2)에 속하는 스캔 전극들(Y2)에 스캔 신호가 공급되어도 어드레스 방전이 발생하지 않는 어드레스 오방전이 발생할 수 있다.
따라서, 도 6에 도시된 바와 같이 리셋 구간 이후부터 제2 그룹(Y2)에 스캔 신호가 공급되는 제2 그룹 스캔 구간 이전까지, 예를 들어 제1 그룹 스캔 구간동안 제2 그룹(Y2)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1)을 증가시켜 제2 그룹(Y2)에 속하는 스캔 전극들에 형성된 부극성(-) 벽전하의 손실을 감소시킬 수 있다.
즉, 제1 그룹 스캔 구간에 있어서 제1 그룹 스캔 전극들(Y1)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1)보다 큰 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1)을 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급하여 어드레스 오방전을 감소시킬 수 있다.
상기 제1 그룹 스캔 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1)은 서스테인 전압(Vs)보다 작은 것이 바람직하다. 상기 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1)이 서스테인 전압(Vs)보다 작을 때 불필요한 전력 소모의 증가를 방지할 수 있으며, 스캔 전극의 벽전하량이 너무 많아짐에 따른 휘점 오방전 발생을 감소시킬 수 있다.
제1 그룹 스캔 구간동안 제1 스캔그룹전극(Y1)에 부극성의 제3 스캔 바이어스 전압(Vscb3)이 인가된다. 스캔전극에 스캔신호 인가시 부극성의 바이어스 전압으로 어드레스 전극에 인가되는 데이터 신호와의 전위차가 커져서 방전이 용이하게 일어난다.
어드레스 구간동안 어드레스 전극들(X)에 공급되는 정극성의 데이터 신호와의 전위차를 크게하여 어드레스 방전을 용이하게 하기 위해, 제1 그룹 스캔 구간동안 제1 그룹 스캔 전극들(Y1)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1) 및 제2 그룹 스캔 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_2) 은 부극성의 전압일 수 있다. 그에 따라, 구동 회로 구성의 용이성을 고려하면, 제1 그룹 스캔 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1)은 그라운드 전압(GND)일 수 있으며, 어드레스 구간동안 제1 그룹 스캔 전극들(Y1)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vcb1)은 일정할 수 있다.
도 6을 참조하면, 어드레스 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 스캔 바이어스 전압은 변화할 수 있다. 좀 더 구체적으로 어드레스 구간 중 제1 그룹 스캔 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1)은 제2 그룹 스캔 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_2)보다 클 수 있다.
복수의 스캔 전극들을 우수번째에 위치하는 제1 그룹(Y1)과 기수번째에 위치하는 제2 그룹(Y2)으로 분할하는 경우, 상기와 같이 제1 그룹 스캔 구간동안 제1, 2 그룹 스캔 전극들(Y1, Y2)에 상이한 스캔 바이어스 전압(Vscb1, Vscb2_1)을 공급함으로써, 인접한 방전셀들 사이의 간섭에 따른 영향을 감소시킬 수 있다.
또한, 제1 그룹 스캔 구간동안 제2 그룹에 속하는 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vsc2_1)은 2 이상의 값을 가질 수 있으며, 그러한 경우 제2 그룹 스캔 전극들(Y2) 중 스캔 신호가 먼저 공급되는 스캔 전극보다 뒤에 공급되는 스캔 전극에 제1 그룹 스캔 구간동안 더 높은 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1)을 공급할 수 있다. 그에 따라 리셋 구간에서 스캔 전극에 형성된 벽전하의 손실을 더욱 효과적으로 감소시킬 수 있다.
도 6을 참조하여 설명한 바와 같은 구동 파형은 하나의 프레임을 구성하는 복수의 서브필드들 중 일부의 서브필드들에 적용될 수 있으며, 예를 들어 두번째 이후의 서브필드들 중 적어도 하나의 서브필드에 적용될 수 있다.
도 7은 복수의 스캔 전극들(Y)을 제1, 2 그룹으로 분할하여 순차적으로 스캔 신호들을 공급하는 구동 신호 파형에 대한 다른 실시예를 타이밍도로 도시한 것으로, 도 7에 도시된 구동 파형에 대한 설명 중 도 6을 참조하여 설명한 것과 동일한 것에 대해서는 설명을 생략하기로 한다.
도 7을 참조하면, 제1 그룹 스캔 전극들(Y1)에 스캔 신호들을 순차적으로 공급하는 제1 그룹 스캔 구간과 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 스캔 신호들을 순차적으로 공급하는 제2 그룹 스캔 구간 사이에 점진적으로 하강하는 신호가 스캔 전극(Y)에 공급되는 중간 구간(a)이 있을 수 있다.
상기한 바와 같이 리셋 구간 중 셋다운 구간에서는 점진적으로 하강하는 셋다운 신호가 스캔 전극(Y)에 공급되어 셋업 구간에서 형성된 벽전하 중 불요 전하를 소거한다.
스캔 전극(Y)을 복수의 그룹들로 나누어 순차적으로 스캔 신호를 공급하는 경우, 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 속하는 스캔 전극들(Y2)에 형성된 부극성(-)의 벽전하가 제1 그룹 스캔 구간동안 손실될 수 있으므로, 어드레스 구간이 시작되는 시점에서 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 형성된 벽전하량은 제1 그룹 스캔 전극들(Y1)에 형성된 벽전하량보다 많도록 하여 벽전하의 손실을 보상할 수 있다.
예를 들어, 도 7에 도시된 바와 같이 리셋 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압을 증가(절대값은 감소됨)시킴으로써, 어드레스 구간이 시작되는 시점에서 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 형성된 벽전하량을 증가시킬 수 있다. 또한, 제1 그룹 스캔 구간이 종료된 후 점진적으로 하강하는 신호를 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급하여 불요 벽전하를 소거할 수 있다.
그를 위해, 리셋 구간 중 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압은 중간 구간(a) 중 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 제2 셋다운 신호의 최저 전압이 상이할 수 있으며, 좀 더 구체적으로 상기 제1 셋다운 신호의 최저 전압이 상기 제2 셋다운 신호의 최저 전압보다 높을 수 있다.
또한, 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 형성된 벽전하의 손실을 더욱 효과적으로 보상하기 위해, 리셋 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압은 2 이상의 값을 가질 수 있으며, 그러한 경우 제2 그룹 스캔 전극들(Y2) 중 스캔 신호가 먼저 공급되는 스캔 전극보다 뒤에 공급되는 스캔 전극에 더 높은 최저 전압을 가지는 셋다운 신호를 공급할 수 있다.
예를 들어, 제2 그룹(Y2) 중 두번째 스캔 전극(Y2_2)에 공급되는 제1, 2 셋다운 신호의 최저 전압 차이(△V2)가 첫번째 스캔 전극(Y2_1)에 공급되는 제1, 2 셋다운 신호의 최저 전압 차이(△V1)보가 클 수 있다.
상기한 바와 같은 파형의 구동 신호를 생성하는 구동 회로의 구성 상 용이성을 고려하면, 도 7에 도시된 바와 같이 상기 제1, 2 그룹 스캔 구간 사이의 중간 구간(a) 동안 제1 그룹 스캔 전극들(Y1)에도 점진적으로 하강하는 제2 셋다운 신호가 공급될 수 있다. 즉, 중간 구간(a)에서 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에만 상기 제2 셋다운 신호를 공급하는 경우, 제1, 2 그룹별로 셋다운 신호를 공급하기 위한 회로 구성을 달리해야할 수 있다.
도 7을 참조하면, 리셋 구간 중 제1 그룹 스캔 전극들(Y1)에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압은 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압보다 낮을 수 있다. 또한, 회로 구성을 용이성을 고려하면, 리셋 구간 중 제1 그룹 스캔 전극들(Y1)에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압과 중간 구간(a)동안 제1, 2 그룹 스캔 전극들(Y1, Y2)에 공급되는 제2 셋다운 신호의 최저 전압은 동일할 수 있다.
구동 회로 구성의 용이성을 위해, 상기 제1, 2 셋다운 신호들의 하강 기울기는 동일할 수 있으며, 그러한 경우 셋다운 신호의 폭, 즉 상기 제1, 2 셋다운 신호들의 하강 시간을 조절함에 의해 상기 제1, 2 셋다운 신호들의 최저 전압을 상기한 바와 같이 가변시킬 수 있다.
또한, 리셋 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압의 크기는 상기 중간 구간(a)동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 제2 셋다운 신호의 최저 전압의 크기와 반비례하는 관계를 가질 수 있다. 즉, 리셋 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2) 중 어느 하나에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압이 낮아질 수록 중간 구간(a)동안 상기 스캔 전극에 공급되는 제2 셋다운 신호의 최저 전압은 높아질 수 있다. 리셋 구간동안 제2 그룹 스캔 전극(Y2)에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압이 낮아질 수록 어드레스 구간 시작 시점에서 상기 스캔 전극에 형성된 벽전하의 량이 감소하므로, 중간 구간(a)동안 상기 스캔 전극에 공급되는 제2 셋다운 신호의 최저 전압은 높여 상기 스캔 전 극에 형성된 벽전하의 소거량을 감소시킬 수 있으며, 그에 따라 제2 그룹 스캔 전극(Y2)을 어드레스 방전을 위해 적당한 벽전하 상태로 유지할 수 있다.
도 7에 도시된 바와 달리, 리셋 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에는 셋다운 신호가 공급되지 않을 수도 있다, 그에 따라 어드레스 구간 시작 시점에서 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 형성된 부극성(-)의 벽전하량을 더욱 증가시킬 수 있다.
도 7을 참조하여 설명한 바와 같은 구동 파형은 하나의 프레임을 구성하는 복수의 서브필드들 중 일부의 서브필드들에 적용될 수 있으며, 예를 들어 두번째 이후의 서브필드들 중 적어도 하나의 서브필드에 적용될 수 있다. 또한, 도 6에 도시된 바와 같이 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 스캔 바이어스 전압은 가변적일 수 있다.
도 8을 참조하면, 리셋 구간 중 제1, 2 스캔 그룹 전극들(Y1, Y2)에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압이 스캔 신호의 최저 전압보다 높은 값을 가지도록 할 수 있다. 그에 따라, 어드레스 구간의 시작 시점에서 제1, 2 스캔 그룹 전극들(Y1, Y2)에 형성된 벽전하량을 증가시켜 어드레스 방전이 더욱 안정적으로 발생할 수 있다.
상기한 바와 같이 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 형성된 벽전하가 제1 그룹 스캔 구간동안 손실되는 것을 보상하기 위해 리셋 구간 중 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압을 높일 수 있다. 그에 따라, 제2 스캔 그룹 전극(Y2)에 공급되는 셋다운 신호와 스캔 신호의 최저 전압 차이(△Vy2)는 제1 스캔 그룹 전극(Y1)에 공급되는 셋다운 신호와 스캔 신호의 최저 전압 차이(△Vy1)보 가 클 수 있다.
도 9를 참조하면, 리셋 구간동안 스캔 전극에 공급되는 셋다운 신호의 하강 구간은 불연속적인 파형을 가질 수 있다. 즉, 상기 셋다운 신호의 하강 구간은 제1 전압까지 점진적으로 하강하는 제1 하강 구간, 상기 제1 전압을 유지하는 유지 구간 및 상기 제1 전압으로부터 점진적으로 하강하는 제2 하강구간을 포함할 수 있다. 또한, 상기 셋다운 신호는 상기한 바와 같은 유지 구간을 2 이상 포함할 수도 있다.
상기한 같이 리셋 구간동안 스캔 전극에 불연속한 하강 구간을 가지는 셋다운 신호를 공급함으로써, 어드레스 구간의 시작 시점에서 상기 스캔 전극에 형성된 벽전하 량을 증가시킬 수 있으며, 그로 인해 어드레스 방전을 안정화시킬 수 있다.
도 9에 도시된 바와 같이 불연속한 하강 구간을 가지는 셋다운 신호는 제1 그룹 스캔 전극들(Y1) 중 적어도 어느 하나에 공급될 수 있으며, 그와 달리 제2 그룹 스캔 전극들(Y2) 중 적어도 어느 하나 또는 제1, 2 그룹 스캔 전극들(Y1, Y2) 모두에 공급될 수도 있다.
도 8 및 도 9를 참조하여 설명한 바와 같은 구동 파형은 하나의 프레임을 구성하는 복수의 서브필드들 중 일부의 서브필드들에 적용될 수 있으며, 예를 들어 두번째 이후의 서브필드들 중 적어도 하나의 서브필드에 적용될 수 있다.
또한, 도 6 내지 도 9에 도시된 바와 같은 구동 신호 파형은 상기 복수의 서브필드들 중 어느 하나에 있어서 동시에 적용될 수도 있다.
도 10은 상기한 바와 같은 방법에 의해 분할된 스캔 전극 그룹들을 각각 2 이상의 서브그룹들로 나누어 구동시키는 방법에 대한 실시예들을 나타내는 타이밍도이다.
도 10을 참조하면, 플라즈마 디스플레이 패널에 형성된 복수의 스캔 전극들(Y)은 제1, 2 그룹(Y1, Y2)으로 분할될 수 있다. 예를 들어, 복수의 스캔 전극들(Y)은 패널 상에 형성된 위치에 따라 패널의 상단으로부터 우수(even) 번째에 위치하는 제1 그룹(Y1)과 기수(odd) 번째에 위치하는 제2 그룹(Y2)으로 분할될 수 있으며, 또 다른 실시예로서 패널의 중심을 기준으로 상측에 위치하는 제1 그룹(Y1)과 하측에 위치하는 제2 그룹(Y1)으로 분할될 수 있다. 복수의 스캔 전극들(Y)은 상기한 방법 이외에 여러 다른 방법으로 분할될 수 있으며, 상기 제1, 2 그룹(Y1, Y2) 각각에 속하는 스캔 전극들의 개수가 서로 상이할 수도 있다.
또한, 상기 제1, 2 그룹 스캔 전극들(Y1, Y2)은 다시 복수의 서브그룹들로 나누어질 수 있다 그러한 경우 복수의 스캔 전극들은 제1, 2 그룹 순으로 순차적으로 스캔 신호들이 공급되며, 상기 제1, 2 그룹 내에서는 상기 분할된 복수의 서브그룹별로 순차적으로 스캔 신호들이 공급될 수 있다.
상기 제1 그룹에 속하는 서브그룹의 개수(M)는 상기 제2 그룹에 속하는 서브그룹의 개수(N)와 상이할 수 있다.
도 10을 참조하면, 복수의 서브그룹들(Y1_1,...,Y1_M, Y2_1,..., Y2_N)은 각각에 대응되는 스캔 구간(제1 내지 제(M+N) 스캔 구간)동안 스캔 신호들이 순차적으로 공급된다. 즉, 제1 스캔 구간동안 제1 그룹에 속하는 제1 서브그룹 스캔 전극들(Y1_1)에 순차적으로 스캔 신호들이 공급되고, 제2 스캔 구간동안 제1 그룹에 속 하는 제2 서브그룹 스캔 전극들(Y1_2)에 순차적으로 스캔 신호들이 공급되며, 제(M+1) 스캔 구간동안 제2 그룹에 속하는 제1 서브그룹 스캔 전극들(Y2_1)에 순차적으로 스캔 신호들이 공급될 수 있다.
상기한 바와 같이, 각 서브그룹들에 있어서 리셋 구간동안 형성된 부극성(-)의 벽전하가 스캔 신호가 공급되는 구간 이전에 손실될 수 있으며, 그에 따라 어드레스 오방전이 발생할 수 있다. 예를 들어, 제1 그룹에 속하는 제2 서브그룹 스캔 전극들(Y1_2)의 경우 리셋 구간에서 형성된 벽전하가 제1 스캔 구간동안 손실될 수 있으며, 제2 그룹에 속하는 제1 서브그룹 스캔 전극들(Y2_1)의 경우 리셋 구간에서 형성된 벽전하가 제1 내지 제M 스캔 구간 동안 손실되어 어드레스 오방전이 발생할 수 있다.
상기와 같은 벽전하 손실을 감소시키기 위해, 어드레스 구간의 시작 시점부터 해당 서브그룹에 스캔 신호가 공급되기 이전까지의 구간에서 스캔 바이어스 전압의 크기를 증가시킬 수 있다.
상기와 같이 증가되는 스캔 바이어스 전압의 크기는 서스테인 전압(Vs)보다 작은 것이 바람직하다. 상기 스캔 바이어스 전압이 서스테인 전압(Vs)보다 작을 때 불필요한 전력 소모의 증가를 방지할 수 있으며, 스캔 전극의 벽전하량이 너무 많아짐에 따른 휘점 오방전 발생을 감소시킬 수 있다.
즉, 제1 그룹에 속하는 제2 서브그룹 스캔 전극들(Y1_2)의 경우 제1 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1_2a)을 그 이후의 구간, 즉 제2 내지 제(M+N) 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1_2b)보다 크게 할 수 있 다. 또한, 제1 그룹에 속하는 제M 서브그룹 스캔 전극들(Y1_M)의 경우 제1 내지 제(M-1) 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1_Ma)을 제(M) 내지 제(M+N) 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1_Mb)보다 크게 할 수 있다.
제2 그룹의 경우에도, 제1 서브그룹 스캔 전극들(Y2_1)의 경우 제1 내지 제(M) 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1a)을 제(M+1) 내지 제(M+N) 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1b)보다 크게 하거나, 제2 서브그룹 스캔 전극들(Y2_2)의 경우 제1 내지 제(M+1) 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_2a)을 제(M+2) 내지 제(M+N) 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_2b)보다 크게 하거나, 제N 서브그룹 스캔 전극들(Y2_N)의 경우 제1 내지 제((M+N)-1) 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_Na)을 제(M+N) 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_Nb)보다 크게 할 수 있다.
상기와 같은 이유에 따라, 본 발명의 일실시예에 의한 구동 신호에 따르면 어드레스 구간 중 적어도 어느 한 시점에서 제1 그룹에 속하는 임의의 두 서브그룹에 공급되는 스캔 바이어스 전압이 서로 상이할 수 있으며, 어드레스 구간 중 적어도 어느 한 시점에서 제2 그룹에 속하는 임의의 두 서브그룹에 공급되는 스캔 바이어스 전압이 서로 상이할 수 있고, 어드레스 구간 중 적어도 어느 한 시점에서 제1 그룹에 속하는 어느 한 서브그룹과 제2 그룹에 속하는 어느 한 서브그룹에 공급되는 스캔 바이어스 전압이 서로 상이할 수 있다.
도 10을 참조하면, 제1 그룹의 경우, 제1 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압이 제1, 2 서브그룹(Y1_1, Y1_2) 또는 제1 서브그룹과 제M 서브그룹(Y1_1, Y1_M)에 있어 서로 상이하며, 제2 내지 제(M-1) 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압이 제2 서브그룹과 제M 서브그룹(Y1_2, Y1_M)에 있어 서로 상이하다.
제2 그룹의 경우, 제(M+1) 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압이 제1, 2 서브그룹(Y2_1, Y2_2) 또는 제1 서브그룹과 제N 서브그룹(Y2_1, Y2_M)에 있어 서로 상이하며, 제(M+2) 내지 제((M+N)-1) 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압이 제2 서브그룹과 제N 서브그룹(Y2_2, Y2_N)에 있어 서로 상이하다.
또한, 제1 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압이 제1 그룹에 속하는 제1 서브그룹(Y1_1)과 제2 그룹에 속하는 서브그룹에 있어 서로 상이하며, 제2 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압이 제1 그룹에 속하는 제2 서브그룹(Y1_2)과 제2 그룹에 속하는 서브그룹에 있어 서로 상이하고, 제M 스캔 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압이 제1 그룹에 속하는 제M 서브그룹(Y1_M)과 제2 그룹에 속하는 서브그룹에 있어 서로 상이하다.
상기한 바와 같이, 상기 복수의 서브그룹들 각각에 있어서 스캔 신호가 공급되는 구간동안에는 부극성의 스캔 바이어스 전압이 공급될 수 있다.
구동 회로 구성의 용이성을 위해 스캔 신호가 공급되는 구간동안의 스캔 바이어스 전압(Vscb1_1, Vscb1_2b,..., Vscb1_Mb, Vscb2_1b,..., Vscb2_2b,..., Vscb2_Nb)은 서로 동일할 수 있으며, 스캔 신호가 공급되기 이전까지의 구간동안 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1_2a,..., Vscb1_Ma, Vscb2_1a,..., Vscb2_2a,..., Vscb2_Na)은 그라운드 전압(GND)일 수 있다.
즉, 상기와 같은 전압 레벨을 이용함에 따라, 도 4 내지 도 9를 참조하여 설명한 구동 신호 파형을 공급하는 구동 회로 구성을 크게 변경하지 아니하고, 구동 회로의 스위칭 타이밍만을 조절함으로써 도 10에 도시된바와 같은 파형의 구동 신호를 패널에 공급할 수 있다.
또한, 상기한 바와 같이 스캔 신호의 공급이 늦어질수록 벽전하의 손실이 커질수 있으므로, 스캔 신호가 공급되기 이전까지의 구간동안 각 서브그룹에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1_2a,..., Vscb1_Ma, Vscb2_1a,..., Vscb2_2a,..., Vscb2_Na)의 크기는 구동 순서가 뒤에 위치할 수록 증가할 수도 있다. 즉, 제1 그룹에 있어 제1 스캔 구간동안 제M 서브그룹(Y1_M)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1_Ma)이 제2 서브그룹(Y1_2)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1_2a)보다 클 수 있으며, 제2 그룹에 있어 제1 스캔 구간동안 제2 서브그룹(Y2_2)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_2a)이 제1 서브그룹(Y2_1)에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1a)보다 클 수 있다. 또한, 제1 스캔 구간동안 제2 그룹(Y2)에 속하는 N개의 서브그룹들에 공급되는 스캔 바이어스 전압은 제1 그룹(Y1)에 속하는 M개의 서브그룹들에 공급되는 스캔 바이어스 전압보다 클 수 있다.
도 11은 복수의 스캔 전극들을 상기한 바와 같은 서브그룹들로 나누어 구동시키는 방법에 대한 또 다른 실시예들을 나타내는 타이밍도이다. 도 11에 도시된 구동 파형에 대한 설명 중 도 10을 참조하여 설명한 것과 동일한 것에 대해서는 설 명을 생략하기로 한다.
도 11을 참조하면, 복수의 서브그룹들 각각에 대해 스캔 신호가 공급되는 복수의 스캔 구간들(제1 내지 제(M+N) 스캔 구간) 중 서로 인접한 두 스캔 구간 사이의 중간 구간(a)동안 점진적으로 하강하는 신호를 공급하여 스캔 신호 공급 이전에 불요 벽전하를 소거할 수 있다.
또한, 어드레스 구간의 시작 시점에서 스캔 전극에 형성된 벽전하의 량을 증가시켜 이후 발생하는 벽전하 손실을 보상하기 위해, 리셋 구간 중 스캔 전극들에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압을 높일 수(절대값은 작아짐) 있다.
예를 들어, 도 11에 도시된 바와 같이 제1 그룹에 속하는 제2 내지 제M 서브그룹 또는 제2 그룹에 속하는 서브그룹들에 있어서, 리셋 구간 중 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압을 높여 어드레스 구간의 시작 시점에서의 스캔 전극 벽전하량을 증가시키고, 상기 서브그룹의 스캔 구간 직전에 제2 셋다운 신호를 공급하여 불요 벽전하를 소거함으로써 어드레스 방전을 위해 적당한 벽전하 상태를 유지하게 할 수 있다.
구동 회로 구성의 용이성을 위해, 상기 제1, 2 셋다운 신호들의 하강 기울기는 동일할 수 있으며, 그러한 경우 셋다운 신호의 폭, 즉 상기 제1, 2 셋다운 신호들의 하강 시간을 조절함에 의해 상기 제1, 2 셋다운 신호들의 최저 전압을 상기한 바와 같이 가변시킬 수 있다.
또한, 스캔 전극들에 형성된 벽전하의 손실을 더욱 효과적으로 보상하기 위해 리셋 구간동안 스캔 전극들에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압은 2 이상 의 값을 가질 수 있으며, 그러한 경우 스캔 구간이 앞서 위치하는 서브그룹의 제1 셋다운 신호 최저 전압이 스캔 구간이 그보다 뒤에 위치하는 서브그룹의 제1 셋다운 신호 최저 전압보다 낮을 수 있다. 예를 들어, 제1 그룹에 속하는 제2 서브그룹(Y1_2)에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압이 제M 서브그룹(Y1_M)에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압보다 낮을 수 있으며, 제2 그룹에 속하는 제1 서브그룹(Y2_1)에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압이 제2 서브그룹(Y2_2)에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압보다 낮을 수 있다. 그에 따라, 서브그룹들 각각의 제1, 2 셋다운 신호 최저 전압 차이(△V)는 스캔 구간이 뒤에 위치하는 서브그룹일 수록 증가할 수 있다.
리셋 구간동안 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압의 크기는 중간 구간(a)동안 공급되는 제2 셋다운 신호의 최저 전압의 크기와 반비례하는 관계를 가질 수 있다. 즉, 리셋 구간동안 서브그룹에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압이 낮을 수록 중간 구간(a)동안 상기 서브 그룹에 공급되는 제2 셋다운 신호의 최저 전압은 높을 수 있다.
도 11에 도시된 바와 달리, 제1 그룹에 속하는 제1 서브그룹(Y1_1)을 제외한 나머지 서브그룹들에 있어서 리셋 구간동안 셋다운 신호가 공급되지 않을 수도 있다, 그에 따라 어드레스 구간 시작 시점에서 스캔 전극들에 형성된 부극성(-)의 벽전하량을 더욱 증가시킬 수 있다.
구동 회로의 구성 및 구동 회로 제어의 용이성을 위해, 리셋 구간 중 공급되는 제1 셋다운 신호의 기울기와 중간 구간(a)에서 공급되는 제2 셋다운 신호의 기 울기는 동일할 수 있으며, 상기 제2 셋다운 신호의 최저 전압은 리셋 구간 중 제1 그룹에 속하는 제1 서브그룹(Y1_1)에 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압과 동일할 수 있다. 또한, 제1 그룹에 속하는 제1 서브그룹(Y1_1)을 제외한 나머지 서브그룹들에 있어서, 리셋 구간 중 공급되는 제1 셋다운 신호의 최저 전압은 동일할 수 있다.
즉, 상기와 같은 전압 레벨을 이용함에 따라, 종래의 구동 회로 구성을 크게 변경하지 아니하고, 구동 회로의 스위칭 타이밍만을 조절함으로써 도 11에 도시된바와 같은 파형의 구동 신호를 패널에 공급할 수 있다.
또한, 구동 회로의 구성 및 구동 회로 제어의 용이성을 위해, 도 11에 도시된 중간 구간들(a) 각각에 있어서 상기 제2 셋다운 신호를 복수의 서브그룹들에 동시에 공급할 수도 있다.
도 10 및 도 11을 참조하여 설명한 바와 같은 구동 파형은 하나의 프레임을 구성하는 복수의 서브필드들 중 일부의 서브필드들에 적용될 수 있으며, 예를 들어 두번째 이후의 서브필드들 중 적어도 하나의 서브필드에 적용될 수 있다.
또한, 도 10 내지 도 11에 도시된 바와 같은 구동 신호 파형은 상기 복수의 서브필드들 중 어느 하나에 있어서 동시에 적용될 수도 있으며, 필요한 경우 도 6 내지 도 9에 도시된 바와 같은 구동 신호 파형도 함께 적용 가능하다.
이하에서는 상기 제1, 2 그룹들을 각각 두개의 서브그룹들로 나누어 순차적으로 스캔 신호를 공급하는 것을 예로 들어, 스캔 전극들을 복수의 서브그룹들로 나누어 구동하는 방법에 대한 좀 더 구체인 실시예들을 살펴보기로 한다.
플라즈마 디스플레이 패널에 형성된 복수의 스캔 전극들(Y)은 제1, 2 그룹(Y1, Y2)으로 분할될 수 있다. 예를 들어, 복수의 스캔 전극들(Y)은 패널 상에 형성된 위치에 따라 패널의 상단으로부터 우수(even) 번째에 위치하는 제1 그룹(Y1)과 기수(odd) 번째에 위치하는 제2 그룹(Y2)으로 분할될 수 있으며, 또 다른 실시예로서 패널의 중심을 기준으로 상측에 위치하는 제1 그룹(Y1)과 하측에 위치하는 제2 그룹(Y1)으로 분할될 수 있다.
또한, 상기 제1 그룹에 속하는 스캔 전극들(Y1)은 다시 제1 서브그룹과 제2 서브그룹으로 나뉘며, 상기 제2 그룹에 속하는 스캔 전극들(Y2)은 다시 제3 서브그룹과 제4 서브그룹으로 나뉠 수 있다.
상기 제1, 2 그룹들 각각을 2개의 서브그룹으로 나누는 방법에 대한 실시예로서, 상기 제1 그룹에 속하는 스캔 전극들(Y1) 중 우수(even) 번째에 위치하는 제1 서브그룹과 기수(odd) 번째에 위치하는 제2 서브그룹(Y2)으로 분할되거나, 제1 그룹의 중심을 기준으로 상측에 위치하는 제1 서브그룹과 하측에 위치하는 제2 서브그룹으로 분할될 수 있다. 또한, 상기한 방법 이외에 여러 다른 방법을 사용하여 복수의 스캔 전극들을 4 이상의 서브그룹들로 분할할 수도 있다.
도 12를 참조하면, 제1 스캔 구간동안 제1 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1)은 제2 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1)과 상이할 수 있다, 또한, 제1 스캔 구간동안에 발생하는 제2 서브그룹 스캔 전극들의 벽전하 손실을 감소시키기 위해 제1 스캔 구간동안 제2 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1)은 제1 서브그룹 스캔 전극들 에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1)보다 높을 수 있다.
제3 스캔 구간동안 제3 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb3_2)은 제4 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb4_1)과 상이할 수 있으며, 제1 내지 제3 스캔 구간동안에 발생하는 제4 서브그룹 스캔 전극들의 벽전하 손실을 감소시키기 위해 제3 스캔 구간동안 제4 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb4_1)은 제3 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb3_2)보다 높을 수 있다.
또한, 제1 스캔 구간동안 제1 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1)은 제3, 4 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb3_1, Vscb4_1)과 상이할 수 있으며, 제1 스캔 구간동안에 발생하는 제3, 4 서브그룹 스캔 전극들의 벽전하 손실을 감소시키기 위해 제1 스캔 구간동안 제3, 4 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb3_1, Vscb4_1)은 제1 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1)보다 높을 수 있다.
그와 더불어, 제2 스캔 구간동안 제2 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_2)은 제3, 4 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb3_1, Vscb4_1)과 상이할 수 있으며, 제2 스캔 구간동안에 발생하는 제3, 4 서브그룹 스캔 전극들의 벽전하 손실을 감소시키기 위해 제2 스캔 구간동안 제3, 4 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb3_1, Vscb4_1)은 제2 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_2)보다 높을 수 있다.
상기한 바와 같이, 스캔 전극에 형성된 벽전하 손실을 효과적으로 감소시키 기 위해, 스캔 바이어스 전압의 크기는 Vscb1, Vscb2_1, Vscb3_1, Vscb4_1의 순으로 증가할 수 있다.
다만, 구동 회로의 구성 및 구동 회로 제어의 용이성을 고려하면, Vscb2_1, Vscb3_1, Vscb4_1의 크기는 서로 동일할 수 있으며, Vscb1, Vscb2_2, Vscb3_2, Vscb4_2의 크기는 서로 동일할 수 있다.
상기와 같이 높은 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1, Vscb3_1, Vscb4_1)은 서스테인 전압(Vs)보다 작은 것이 바람직하다. 상기 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1, Vscb3_1, Vscb4_1)이 서스테인 전압(Vs)보다 작을 때 불필요한 전력 소모의 증가를 방지할 수 있으며, 스캔 전극의 벽전하량이 너무 많아짐에 따른 휘점 오방전 발생을 감소시킬 수 있다.
상기 제1 그룹은 패널에 형성된 복수의 스캔 전극들 중 우수번째(even)에 위치하는 스캔 전극들을 포함하며, 제2 그룹은 상기 복수의 스캔 전극들 중 기수번째(odd)에 위치하는 스캔 전극들을 포함할 수 있다. 또한, 상기 제1, 2 서브그룹들은 각각 상기 제1 그룹에 속하는 스캔 전극들 중 우수번째(even)에 위치하는 스캔 전극들 및 기수번째(odd)에 위치하는 스캔 전극들을 포함하고, 상기 제3, 4 서브그룹들은 각각 상기 제2 그룹에 속하는 스캔 전극들 중 우수번째(even)에 위치하는 스캔 전극들 및 기수번째(odd)에 위치하는 스캔 전극들을 포함할 수 있다.
도 13을 참조하면, 제1 그룹 스캔 구간동안 제1 그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1, Vscb2)은 제2 그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb3_1, Vscb4_1)과 상이할 수 있다. 또한, 제1 그룹 스캔 구간동안 에 발생하는 제2 그룹 스캔 전극들의 벽전하 손실을 감소시키기 위해 제1 스캔 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb3_1, Vscb4_1)은 제1 그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1, Vscb2)보다 클 수 있다.
또한, 스캔 전극에 형성된 벽전하 손실을 효과적으로 감소시키기 위해, 스캔 바이어스 전압의 크기는 Vscb1, Vscb2, Vscb3_1, Vscb4_1의 순으로 증가할 수 있다.
다만, 구동 회로의 구성 및 구동 회로 제어의 용이성을 고려하면, Vscb1, Vscb2, Vscb3_2, Vscb4_2의 크기는 서로 동일할 수 있으며, Vscb3_1, Vscb4_1의 크기는 서로 동일할 수 있다.
상기와 같이 높은 스캔 바이어스 전압(Vscb3_1, Vscb4_1)은 서스테인 전압(Vs)보다 작은 것이 바람직하다. 상기 스캔 바이어스 전압(Vscb3_1, Vscb4_1)이 서스테인 전압(Vs)보다 작을 때 불필요한 전력 소모의 증가를 방지할 수 있으며, 스캔 전극의 벽전하량이 너무 많아짐에 따른 휘점 오방전 발생을 감소시킬 수 있다.
도 13에 도시된 바와 같이, 제1, 2 스캔 구간 사이의 제1 중간 구간(a1)에서 제1, 2 서브그룹 스캔 전극들에 점진적으로 하강하는 신호가 공급될 수 있으며, 제3, 4 스캔 구간 사이의 제2 중간 구간(a2)에서 제3, 4 서브그룹 스캔 전극들에 점진적으로 하강하는 신호가 공급될 수 있다. 이 경우, 스캔 전극의 벽전하가 손실되는 것을 보상하기 위해 리셋 구간동안 제2 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 셋다 운 신호의 최저 전압은 제1 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압보다 높을 수 있으며, 리셋 구간동안 제4 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압은 제3 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압보다 높을 수 있다.
구동 회로의 구성 및 구동 회로 제어의 용이성을 고려하면 제1, 2 중간 구간(a1, a2)에서 공급되는 신호의 최저 전압은 리셋 구간 중 제1, 3 서브그룹에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압과 동일할 수 있다. 그에 따라, 제2 서브그룹에 리셋 구간동안 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압과 제1 중간 구간동안 공급되는 신호의 최저 전압은 △V1 만큼 차이날 수 있으며, 제4 서브그룹에 리셋 구간동안 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압과 제2 중간 구간동안 공급되는 신호의 최저 전압은 △V2 만큼 차이날 수 있다.
또한, 스캔 전극의 벽전하 손실을 보다 효과적으로 보상하기 위해, 상기 △V2는 상기 △V1보다 클 수 있다.
도 13에 도시된 바와 달리, 제1 중간 구간(a1)동안 제1 서브그룹에 공급되는 신호 또는 제2 중간 구간(a2)동안 제3 서브그룹에 공급되는 신호는 생략될 수 있으며, 제1 중간 구간(a1)동안 제3, 4 서브그룹들 중 적어도 하나에 점진적으로 하강하는 신호가 공급되거나, 제2 중간 구간(a2)동안 제1, 2 서브그룹들 중 적어도 하나에 점진적으로 하강하는 신호가 공급될 수도 있다.
상기 제1 그룹은 패널에 형성된 복수의 스캔 전극들 중 우수번째(even)에 위치하는 스캔 전극들을 포함하며, 제2 그룹은 상기 복수의 스캔 전극들 중 기수번 째(odd)에 위치하는 스캔 전극들을 포함할 수 있다. 또한, 상기 제1, 2 서브그룹들은 각각 상기 제1 그룹에 속하는 스캔 전극들 중 상측에 위치하는 스캔 전극들 및 하측에 위치하는 스캔 전극들을 포함하고, 상기 제3, 4 서브그룹들은 각각 상기 제2 그룹에 속하는 스캔 전극들 중 상측에 위치하는 스캔 전극들 및 하측에 위치하는 스캔 전극들을 포함할 수 있다.
도 14를 참조하면, 제1, 2 그룹 스캔 구간 사이의 중간 구간(a)에서 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 점진적으로 하강하는 신호가 공급될 수 있다. 이 경우, 스캔 전극의 벽전하가 손실되는 것을 보상하기 위해 리셋 구간동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압은 상기 중간 구간(a)동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 신호의 최저 전압보다 높을 수 있다.
구동 회로의 구성 및 구동 회로 제어의 용이성을 고려하면 중간 구간(a)동안 제2 그룹 스캔 전극들(Y2)에 공급되는 신호의 최저 전압은 리셋 구간 중 제1 그룹 스캔 전극들(Y1)에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압과 동일할 수 있다. 그에 따라, 리셋 구간동안 제3 서브그룹에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압과 중간 구간(a)동안 제3 서브그룹에 공급되는 신호의 최저 전압은 △V1 만큼 차이날 수 있으며, 리셋 구간동안 제4 서브그룹에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압과 중간 구간(a)동안 제4 서브그룹에 공급되는 신호의 최저 전압은 △V2 만큼 차이날 수 있다.
또한, 스캔 전극의 벽전하 손실을 보다 효과적으로 보상하기 위해, 상기 △V2는 상기 △V1보다 클 수 있다.
도 14에 도시된 바와 같이, 제1 스캔 구간동안 제1 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1)은 제2 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1)과 상이할 수 있다. 또한, 제1 스캔 구간동안에 발생하는 제2 서브그룹 스캔 전극들의 벽전하 손실을 감소시키기 위해 제1 스캔 구간동안 제2 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1)은 제1 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb1)보다 클 수 있다.
또한, 제3 스캔 구간동안 제3 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb3)은 제4 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb4_1)과 상이할 수 있다. 또한, 제3 스캔 구간동안에 발생하는 제4 서브그룹 스캔 전극들의 벽전하 손실을 감소시키기 위해 제3 스캔 구간동안 제4 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb4_1)은 제3 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 스캔 바이어스 전압(Vscb3)보다 클 수 있다.
스캔 전극에 형성된 벽전하 손실을 효과적으로 감소시키기 위해, Vscb4_1은 Vscb2_1보다 클 수 있다.
다만, 구동 회로의 구성 및 구동 회로 제어의 용이성을 고려하면, Vscb1, Vscb2_2, Vscb3, Vscb4_2의 크기는 서로 동일할 수 있으며, Vscb2_1, Vscb4_1의 크기는 서로 동일할 수 있다.
상기와 같이 높은 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1, Vscb4_1)은 서스테인 전압(Vs)보다 작은 것이 바람직하다. 상기 스캔 바이어스 전압(Vscb2_1, Vscb4_1)이 서스테인 전압(Vs)보다 작을 때 불필요한 전력 소모의 증가를 방지할 수 있으며, 스캔 전극의 벽전하량이 너무 많아짐에 따른 휘점 오방전 발생을 감소시킬 수 있다.
도 14에 도시된 바와 달리, 제1, 2 스캔 구간동안 제 4 서브그룹 스캔 전극들에 Vscb4_1와 동일한 크기의 스캔 바이어스 전압이 공급될 수도 있으며, 중간 구간(a)동안 제1 그룹 스캔 전극들(Y1)에 점진적으로 하강하는 신호가 공급될 수도 있다.
상기 제1 그룹은 복수의 스캔 전극들 중 패널의 중심을 기준으로 상측에 위치하는 스캔 전극들을 포함하고, 상기 제2 그룹은 하측에 위치하는 스캔 전극들을 포함할 수 있다.
또한, 상기 제1, 2 서브그룹들은 각각 상기 제1 그룹에 속하는 스캔 전극들 중 우수번째에 위치하는 스캔 전극들 및 기수번째에 위치하는 스캔 전극들을 포함하고, 상기 제3, 4 서브그룹들은 각각 상기 제2 그룹에 속하는 스캔 전극들 중 우수번째에 위치하는 스캔 전극들 및 기수번째에 위치하는 스캔 전극들을 포함할 수 있다.
도 15를 참조하면, 제1, 2 서브그룹 스캔 구간 사이의 제1 중간 구간(a1)에서 제2 서브그룹 스캔 전극들에 점진적으로 하강하는 신호가 공급되고, 제2, 3 서브그룹 스캔 구간 사이의 제2 중간 구간(a2)에서 제3 서브그룹 스캔 전극들에 점진적으로 하강하는 신호가 공급되며, 제3, 4 서브그룹 스캔 구간 사이의 제3 중간 구간(a3)에서 제4 서브그룹 스캔 전극들에 점진적으로 하강하는 신호가 공급될 수 있다.
이 경우, 스캔 전극의 벽전하가 손실되는 것을 보상하기 위해 리셋 구간동안 제2, 3, 4 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압은 상기 중간 구간들(a1, a2, a3)동안 제2, 3, 4 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 신호의 최저 전압보다 높을 수 있다.
구동 회로의 구성 및 구동 회로 제어의 용이성을 고려하면 중간 구간들(a1, a2, a3)동안 제2, 3, 4 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 신호의 최저 전압은 리셋 구간 중 제1 서브그룹 스캔 전극들에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압과 동일할 수 있다. 그에 따라, 리셋 구간동안 제2 서브그룹에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압과 제1 중간 구간(a1)동안 제2 서브그룹에 공급되는 신호의 최저 전압은 △V1 만큼 차이날 수 있으며, 리셋 구간동안 제2 서브그룹에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압과 제2 중간 구간(a2)동안 제2 서브그룹에 공급되는 신호의 최저 전압은 △V2 만큼 차이날 수 있으며, 리셋 구간동안 제4 서브그룹에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압과 제3 중간 구간(a3)동안 제4 서브그룹에 공급되는 신호의 최저 전압은 △V3 만큼 차이날 수 있다.
또한, 스캔 전극의 벽전하 손실을 보다 효과적으로 보상하기 위해, 상기 최저 전압의 차이는 △V1, △V2, △V3의 순으로 증가할 수 있다.
도 15에 도시된 바와 달리, 구동 회로의 구성 및 구동 회로 제어의 용이성을 위해 제1, 2, 3 중간 구간들(a1, a2, a3) 각각에 있어 모든 스캔 전극들(Y1)에 점진적으로 하강하는 신호가 공급될 수도 있다.
상기 제1 그룹은 복수의 스캔 전극들 중 패널의 중심을 기준으로 상측에 위 치하는 스캔 전극들을 포함하고, 상기 제2 그룹은 하측에 위치하는 스캔 전극들을 포함할 수 있다.
또한, 상기 제1, 2 서브그룹들은 각각 상기 제1 그룹에 속하는 스캔 전극들 중 상측 스캔 전극들 및 하측에 위치하는 스캔 전극들을 포함하고, 상기 제3, 4 서브그룹들은 각각 상기 제2 그룹에 속하는 스캔 전극들 중 상측에 위치하는 스캔 전극들 및 하측에 위치하는 스캔 전극들을 포함할 수 있다.
도 10 및 도 11을 참조하여 설명한 바와 같은 구동 파형은 하나의 프레임을 구성하는 복수의 서브필드들 중 일부의 서브필드들에 적용될 수 있으며, 예를 들어 두번째 이후의 서브필드들 중 적어도 하나의 서브필드에 적용될 수 있다.
또한, 도 12 내지 도 15에 도시된 바와 같은 구동 신호 파형은 상기 복수의 서브필드들 중 어느 하나에 있어서 동시에 적용될 수도 있으며, 필요한 경우 도 6 내지 도 11에 도시된 바와 같은 구동 신호 파형도 함께 적용 가능하다. 예를 들어, 도 12 내지 도 15에 도시된 리셋 구간의 셋다운 신호들은 불연속적인 하강 구간을 포함할 수 있으며, 상기 셋다운 신호의 최저 전압은 스캔 신호의 최저 전압보다 높을 수 있다.
도 5 내지 도 15를 참조하여 설명한 바와 같이 패널에 형성된 복수의 스캔 전극들을 복수의 그룹 또는 서브그룹들로 분할하여 순차적으로 스캔 신호를 공급하는 경우, 어드레스 방전에 의해 스캔 전극에 형성된 정극성(+)의 벽전하가 서스테인 구간 이전에 손실될 수 있으며, 그에 따라 서스테인 오방전이 발생할 수 있다.
예를 들어, 도 6을 참조하면 제1 그룹 스캔 구간동안 제1 그룹 스캔 전 극(Y1)에 형성된 정극성(+) 벽전하는 제2 그룹 스캔 구간동안 손실될 수 있으며, 그에 따라 서스테인 구간에서 서스테인 신호가 공급되어도 턴온되어야 할 셀의 제1 그룹 스캔 전극(Y1)에서 서스테인 방전이 발생하지 않을 수 있다.
상기와 같은 서스테인 오방전에 의해 디스플레이 영상의 휘도가 감소하거나 영상의 화질이 저하될 수 있다. 또한, 상기 서스테인 오방전이 가중치가 높은, 즉 공급되는 서스테인 신호들의 개수가 많은 서브필드에서 발생하는 경우, 상기 휘도 감소 또는 화질 저하의 문제가 더욱 커질 수 있다.
이하, 도 16 내지 도 19를 참조하여 본 발명에 따른 구동 신호 파형에 대한 실시예들을 살펴보기로 한다.
도 16은 서스테인 구간에서 스캔 전극(Y)과 서스테인 전극(Z)에 교번적으로 공급되는 복수의 서스테인 신호들을 도시한 것이다.
도 16을 참조하면, 상기 복수의 서스테인 신호들의 폭은 2 이상의 값을 가질 수 있다. 예를 들어, 첫번째 공급되는 서스테인 신호의 폭(w1)이 두번째 서스테인 신호의 폭(w2)보다 클 수 있으며, 상기 두번째 서스테인 신호의 폭(w2)은 세번째 서스테인 펄스의 폭(w3)보다 클 수 있다.
도 16에 도시된 바와 같이, 첫번째 또는 두번째 서스테인 신호의 폭(w1, w2)을 나머지 서스테인 신호의 폭(w3, w4, w5)보다 크게함으로써, 스캔 전극들(Y1)에 형성된 정극성(+) 벽전하가 서스테인 구간이전에 손실되어도 첫번째 내지 두번째 서스테인 방전을 안정적으로 수행할 수 있다. 또한, 상기와 같이 첫번째 내지 두번째 서스테인 방전을 안정적으로 수행되면 스캔 및 서스테인 전극의 벽전하 상태가 안정화될 수 있으며, 그 이후의 서스테인 방전들도 안정적으로 수행될 수 있다.
도 16에서는 첫번째 또는 두번째 서스테인 신호의 폭(w1, w2)을 나머지 서스테인 신호의 폭(w3, w4, w5)보다 크게 하였으나, 그와 더불어 세번째 서스테인 신호의 폭(w3)을 네번째 스테인 신호의 폭(w4)보다 크게 하는 등 서스테인 신호의 폭을 점차 감소시킬 수 있다.
도 17을 참조하면, 패널에 형성된 복수의 스캔 전극들을 2 이상의 그룹으로 분할하여 구동하는 경우, 제1 그룹 스캔 구간 동안 제1 그룹 스캔 전극(Y1)에 형성된 벽전하가 제2 그룹 스캔 구간 동안 손실될 수 있으며, 그에 따라 서스테인 구간에서 서스테인 오방전이 발생할 수 있다.
따라서 서스테인 구간동안 공급되는 복수의 서스테인 신호들 중 첫번째 서스테인 신호의 폭(w1)을 나머지 서스테인 신호들의 폭(w2, w3, w4, w5)보다 크게 하여, 첫번째 서스테인 방전이 안정적으로 발생할 수 있다.
또한, 두번째 서스테인 신호의 폭(w2)을 나머지 서스테인 펄스들의 폭(w3, w4, w5)보다 크게 할 수 있으며, 그에 따라 두번째 서스테인 방전이 안정적으로 발생할 수 있다.
상기와 같이 첫번째 또는 두번째 서스테인 방전이 안정적으로 발생하면, 스캔 전극(Y) 및 서스테인 전극(Z)의 벽전하가 서스테인 방전에 충분한 상태를 유지할 수 있게되므로, 그 이후의 서스테인 방전도 안정적으로 발생할 수 있다.
도 16 및 도 17을 참조하여 설명한 바와 같은 서스테인 신호는 하나의 프레임을 구성하는 복수의 서브필드들 중 일부 서브필드에 대해 적용될 수 있다.
첫번째 서스테인 신호의 폭을 증가시키는 경우, 오프 셀들, 즉 어드레스 방전이 발생되지 않은 방전셀들에서 첫번째 서스테인 방전이 일어날 수 있으며, 그에 따라 나머지 서스테인 신호들에 의해서도 서스테인 방전이 발생할 수 있다. 따라서 가중치가 적은 서브필드, 즉 공급되는 서스테인 신호들의 개수가 적은 서브필드들에서 첫번째 내지 세번째 서스테인 신호의 폭을 증가시키는 것이 바람직하다.
상기한 바와 같이 가중치가 가장 적은 서브필드들에서 첫번째 내지 세번째 서스테인 신호의 폭을 크게함으로써, 오프 셀에서 서스테인 방전이 발생하여도 전체 영상의 휘도에는 크게 영향을 미치지 않을 수 있다.
또한, 디스플레이 영상의 휘도를 크게 저하시키기 않기 위해, 하나의 프레임을 구성하는 전체 서브필드들의 1/2 이하의 서브필드들에서 첫번째 내지 세번째 서스테인 신호의 폭을 증가시킬 수 있다.
가중치가 증가하는 순서로 서브필드들을 배치하는 경우, 바람직하게는 첫번째 내지 네번째 서브필드에서 첫번째 내지 세번째 서스테인 신호의 폭을나머지 서스테인 신호의 폭보다 크게할 수 있다.
도 18을 참조하면, 하나의 프레임을 구성하는 복수의 서브필드들 중 첫번째 내지 세번째 서브필드(1SF, 2SF, 3SF)에서, 첫번째 서스테인 신호의 폭(w1, w21, w31)을 나머지 서스테인 신호들의 폭(w22, w23, w32, w33, w34, w35)보다 크게 하고, 두번째 서스테인 신호의 폭(w22, w32)을 나머지 서스테인 펄스들의 폭(w23, w33, w34, w35)보다 크게하여, 서스테인 방전이 안정적으로 발생할 수 있게 할 수 있다.
도 18에서는 복수의 서브필드들 중 세개의 서브필드들에서 첫번째 내지 두번째 서스테인 신호의 폭을 증가시켰으나, 패널의 구동 마진 등을 고려하여 4 이상의 서브필드들에서 첫번째 내지 두번째 서스테인 신호의 폭을 증가시킬 수도 있으며, 세번째 이후의 서스테인 신호들의 폭도 가변시킬 수 있다.
도 19에 도시된 바와 같이, 첫번째 서브필드(1SF)에서는 Vst1까지 상승하는 리셋 신호를 공급하여 전체 방전셀들에 대해 초기화 방전을 수행하고, 두번째 이후의 서브필드들(2SF, 3SF,...)에서는 상기 Vst1보다 낮은 Vst2 또는 Vst3까지 상승하는 리셋 신호를 공급하여 이전 서브필드에서 서스테인 방전이 발생한 방전셀에 대해서만 초기화 방전을 수행할 수 있다.
상기와 같이, 두번째 이후의 서브필드들(2SF, 3SF,...)에서 낮은 최고 전압(Vst2, Vst3)을 가지는 리셋 신호를 공급함으로써, 패널 구동에 소모되는 전력을 감소시키고, 패널 구동 마진을 충분히 확보할 수 있다, 그에 따라, 본 발명에 따른 스캔 전극 분할 구동의 경우 발생할 수 있는 구동 전력 증가 및 어드레스 구간 길이 증가를 보상할 수 있다.
또한, 플라즈마 디스플레이 장치의 온도가 상승할수록 서스테이 오방전이 발생할 가능성이 낮아질 수 있으므로, 패널 구동 마진 확보를 위해 상기 첫번째 서스테인 신호의 폭은 상기 플라즈마 디스플레이 장치의 온도에 반비례하도록 설정될 수 있다.
다음의 표 1은 첫번째 서스테인 신호의 폭을 가변시키면서 디스플레이 영상 의 휘도를 측정한 결과로서, 풀 화이트(full white) 영상 데이터와 풀 블랙(full black) 영상 데이터에 대해 휘도를 측정한 결과이다. 두번째 이후의 서스테인 신호 폭(w2)을 4㎛로 고정하고 첫번째 서스테인 신호의 폭(w1)을 4㎛ 내지 38㎛의 범위에서 가변시키면서 디스플레이되는 영상의 휘도를 측정한 것이다.
Figure 112007078725370-PAT00001
표 1에서의 휘도값은 풀 화이트(full white) 영상의 휘도를 1로 하고, 풀 블랙(full black) 영상의 휘도를 0으로 하여 각 디스플레이 영상의 휘도를 표시한 것이다.
표 1 및 도 20을 참조하면, 휘도 1은 첫번째 서스테인 신호의 폭(w1)이 32㎛ 내지 38㎛일 때 풀 화이트(full white) 영상에 가까운 휘도를 가지며, 첫번째 서스테인 신호의 폭(w1)의 감소에 따라 디스플레이 영상의 휘도가 감소한다.
또한, 첫번째 서스테인 신호의 폭(w1)이 12㎛이하로 감소함에 따라 휘도 1이 급격히 감소하여, 첫번째 서스테인 신호의 폭(w1)이 10㎛이하일 때 휘도 1은 0.8 미만으로 감소하게 된다.
표 1 및 도 21을 참조하면, 휘도 2는 첫번째 서스테인 신호의 폭(w1)이 4㎛ 내지 10㎛일 때 풀 블랙(full black) 영상에 가까운 휘도를 가지며, 첫번째 서스테인 신호의 폭(w1)의 증가에 따라 디스플레이 영상의 휘도가 증가한다.
또한, 첫번째 서스테인 신호의 폭(w1)이 30㎛이상으로 증가함에 따라 휘도 2이 급격히 증가하여, 첫번째 서스테인 신호의 폭(w1)이 32㎛이상일 때 휘도 2는 1.1을 초과하게 된다.
따라서 서스테인 오방전을 감소시켜 디스플레이 영상의 휘도가 크게 왜곡되지 않도록 하기 위해서는, 첫번째 서스테인 신호의 폭(w1)이 두번째 서스테인 신호 폭(w2)의 3배 내지 7.5배일 수 있다.
또한, 두번째 서스테인 신호의 폭(w2)이 세번째 이후의 서스테인 신호 폭(w3, w4, w5...)보다 클 수 있으며, 서스테인 오방전을 방지함과 동시에 패널의 구동 마진을 충분히 확보하기 위해, 두번째 서스테인 신호의 폭(w2)은 세번째 이후의 서스테인 신호 폭(w3, w4, w5...)의 1.3배 내지 3.5배로 할 수 있다.
상기 본 발명은 또한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광 데이터 저장장치 등이 있으며, 또한 캐리어 웨이브(예를 들어 인터넷을 통한 전송)의 형태로 구현되는 것도 포함한다. 또한 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어, 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다. 그리고 본 발명을 구현하기 위한 기능적인(functional) 프로그램, 코드 및 코드 세그먼트들은 본 발명이 속하는 기술분야의 프로그래머들에 의해 용이하게 추론될 수 있다.
이상 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 상세히 기술하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에 있어서 통상의 지식을 가진 사람이라면, 첨부된 청구범위에 정의된 본 발명의 정신 및 범위에 벗어나지 않으면서 본 발명을 여러 가지로 변형 또는 변경하여 실시할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 앞으로의 실시예들의 변경은 본 발명의 기술을 벗어날 수 없을 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구조에 대한 일실시예를 나타내는 사시도이다.
도 2 는 플라즈마 디스플레이 패널의 전극 배치에 대한 일실시예를 도시한 도면이다.
도 3은 하나의 프레임(frame)을 복수의 서브필드(subfield)로 나누어 플라즈마 디스플레이 패널을 시분할 구동시키는 방법에 대한 일실시예를 나타내는 타이밍도이다.
도 4는 플라즈마 디스플레이 패널을 구동시키기 위한 구동 신호의 파형에 대한 일실시예를 나타내는 타이밍도이다.
도 5는 플라즈마 디스플레이 패널을 구동시키기 위한 구동 장치의 구성에 대한 일실시예를 나타내는 도면이다.
도 6 내지 도 9는 플라즈마 디스플레이 패널의 스캔 전극들을 2개의 그룹으로 나누어 구동시키는 방법에 대한 실시예들을 나타내는 타이밍도이다.
도 10 및 도 11은 스캔 전극들을 2 이상의 그룹으로 나누어 구동시키는 방법에 대한 실시예들을 나타내는 타이밍도이다.
도 12 내지 도 15는 스캔 전극들을 4개의 그룹으로 나누어 구동시키는 방법에 대한 실시예들을 나타내는 타이밍도이다.
도 16 내지 도 19는 본 발명에 따른 구동 신호 파형에 대한 실시예들을 나타내는 타이밍도이다.
도 20 및 도 21은 첫번째 서스테인 신호의 폭의 변화에 따라 디스플레이 영상의 휘도를 측정한 결과를 나타내는 그래프이다.

Claims (20)

  1. 상부기판에 형성되는 복수의 스캔전극들 및 서스테인전극들, 하부기판에 형성되는 복수의 어드레스전극들을 구비하는 플라즈마 디스플레이 패널; 및 상기 복수의 전극들에 구동 신호를 공급하는 구동부를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치에 있어서,
    상기 복수의 스캔 전극들은 제1, 2 그룹으로 나뉘어 스캔 신호가 공급되고, 어드레스 구간 중 적어도 어느 한 구간에서 상기 제1, 2 그룹에 공급되는 스캔 바이어스 전압이 서로 상이하며,
    하나의 프레임을 구성하는 복수의 서브필드들 중 적어도 하나의 서브필드에서, 서스테인 구간 동안 공급되는 복수의 서스테인 신호들 중 첫번째 서스테인 신호의 폭이 나머지 서스테인 신호의 폭보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 첫번째 서스테인 신호의 폭은 두번째 서스테인 신호의 폭의 3배 내지 7.5배인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 첫번째 서스테인 신호는 상기 스캔 전극에 공급되며, 두번째 서스테인 신호는 상기 서스테인 전극에 공급되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 서스테인 신호들 중 두번째 서스테인 신호의 폭은 세번째 서스테인 신호의 폭의 1.3배 내지 3.5배인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 서스테인 신호들 중 세번째 서스테인 신호의 폭이 네번째 서스테인 신호의 폭보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 서브필드들 중 첫번째 내지 네번째 서브필드에서, 상기 첫번째 서스테인 신호의 폭이 나머지 서스테인 신호의 폭보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 서브필드들 중 첫번째 내지 네번째 서브필드에서 공급되는 첫번째 서스테인 신호의 폭이 나머지 서브필드들에서 공급되는 첫번째 서스테인 신호의 폭보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 서브필드들 중 첫번째 내지 네번째 서브필드들에서 공급되는 첫번째 서스테인 신호의 폭은 서브필드의 구동 순서가 뒤로 갈수록 감소하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 서브필드들 중 첫번째 서브필드에서 공급되는 리셋 신호의 최고 전압이 나머지 서브필드들에서 공급되는 리셋 신호의 최고 전압보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 첫번째 서스테인 신호의 폭은 상기 플라즈마 디스플레이 장치의 온도에 따라 변화하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 어드레스 구간은 상기 제1, 2 그룹들 각각에 스캔 신호가 공급되는 제1, 2 그룹 스캔 구간들을 순차적으로 포함하고,
    상기 제1 그룹 스캔 구간에서, 상기 제2 그룹에 공급되는 스캔 바이어스 전 압은 상기 제1 그룹에 공급되는 스캔 바이어스 전압보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 어드레스 구간은 상기 제1, 2 그룹들 각각에 스캔 신호가 공급되는 제1, 2 그룹 스캔 구간을 포함하고,
    상기 제1, 2 그룹 스캔 구간 사이의 구간에서 상기 제1, 2 그룹 중 적어도 하나에 점진적으로 하강하는 셋다운 신호가 인가되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  13. 제12항에 있어서,
    리셋 구간에서 상기 제2 그룹에 공급되는 리셋 신호의 최저 전압은 상기 제1, 2 그룹 스캔 구간 사이의 구간에서 상기 제2 그룹에 공급되는 셋다운 신호의 최저 전압보다 높은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 제1 그룹에 공급되는 리셋 신호의 최저 전압은 상기 제2 그룹에 공급되는 리셋 신호의 최저 전압보다 낮은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  15. 제1항에 있어서,
    상기 제1, 2 그룹 중 적어도 하나에 공급되는 리셋 신호의 최저 전압은 부극성의 스캔 전압보다 높은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  16. 제1항에 있어서,
    리셋 구간에서 상기 제1, 2 그룹들 중 적어도 하나에 제1 전압까지 점진적으로 하강하는 제1 하강 구간, 상기 제1 전압을 유지하는 유지 구간 및 상기 제1 전압으로부터 점진적으로 하강하는 제2 하강 구간을 순차적으로 포함하는 불연속 셋다운 신호가 공급되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  17. 상부기판에 형성되는 복수의 스캔전극들 및 서스테인전극들, 하부기판에 형성되는 복수의 어드레스전극들을 구비하는 플라즈마 디스플레이 패널을 구동하는 방법에 있어서,
    상기 복수의 스캔 전극들은 제1, 2 그룹으로 나뉘며, 어드레스 구간은 상기 제1, 2 그룹에 스캔 신호를 공급하는 제1, 2 그룹 스캔 구간을 포함하고, 상기 제1 그룹 스캔 구간에서 상기 제2 그룹에 공급되는 스캔 바이어스 전압이 상기 제1 그룹에 공급되는 스캔 바이어스 전압보다 크며,
    하나의 프레임을 구성하는 복수의 서브필드들 중 적어도 하나의 서브필드에서, 서스테인 구간 동안 공급되는 복수의 서스테인 신호들 중 첫번째 서스테인 신호의 폭이 나머지 서스테인 신호의 폭보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플 레이 패널의 구동 방법.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 첫번째 서스테인 신호의 폭은 두번째 서스테인 신호의 폭의 3배 내지 7.5배인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법.
  19. 제17항에 있어서,
    상기 복수의 서스테인 신호들 중 두번째 서스테인 신호의 폭은 세번째 서스테인 신호의 폭의 1.3배 내지 3.5배인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법.
  20. 제17항에 있어서,
    상기 복수의 서브필드들 중 첫번째 내지 네번째 서브필드에서, 상기 첫번째 서스테인 신호의 폭이 나머지 서스테인 신호의 폭보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법.
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