KR20080047888A - Method for compensating display defect of flat display - Google Patents

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Abstract

A method for compensating a display defect of a flat panel display device is provided to perfectly compensate a mura defect by adding or subtracting a compensation value optimized according to types of mura defects and gray scales to data to be displayed at the mura defect. An operator inputs model identification information of a display panel as panel information to a computer(S71) and inputs mura defect information to the computer(S72). The inputted panel information and the mura defect information are compared to automatically determine position data of the mura defect corresponding to the panel information and the mura defect information(S73). While increasing or decreasing a compensation value for each gray scale, the compensation value is added to or subtracted from test data, which is then supplied to data lines of the display panel to display the test data, and an inspecting process is performed on a displayed image(S74,S75). Whether or not the display panel has a mura defect is determined, and if a mura defect is shown, the compensation value is adjusted for each gray scale(S76,S77).

Description

평판표시장치의 표시결함 보상방법{Method for Compensating Display Defect of Flat Display}Method for Compensating Display Defect of Flat Display

도 1은 노광장비의 렌즈 어셈블리와 표시패널에서 발생 가능한 표시결함의 상관관계를 나타내는 도면. 1 is a view showing a correlation between display defects that may occur in a lens assembly and a display panel of an exposure apparatus.

도 2는 도 1의 렌즈 어셈블리와 선 결함의 상관 관계를 나타내는 도면. FIG. 2 is a diagram showing a correlation between the lens assembly of FIG. 1 and a line defect. FIG.

도 3은 선 결함의 휘도패턴과 보상값을 나타내는 도면. 3 is a diagram showing luminance patterns and compensation values of line defects.

도 4는 도 1의 렌즈 어셈블리와 면 결함의 상관 관계를 나타내는 도면. 4 is a view showing a correlation between the lens assembly and the surface defect of FIG.

도 5는 면 결함의 휘도패턴과 보상값을 나타내는 도면. 5 is a diagram showing luminance patterns and compensation values of surface defects.

도 6은 도 1의 렌즈 어셈블리와 면/선 혼합결함의 상관 관계를 나타내는 도면. FIG. 6 is a view illustrating a correlation between a lens assembly of FIG. 1 and a face / line mixed defect. FIG.

도 7은 면/선 혼합결함의 휘도패턴과 보상값을 나타내는 도면. Fig. 7 is a graph showing luminance patterns and compensation values of plane / line mixed defects.

도 8은 본 발명의 실시예에 따른 평판표시장치의 제조방법을 단계적으로 설명하기 위한 흐름도. 8 is a flowchart for explaining step by step a method of manufacturing a flat panel display device according to an embodiment of the present invention;

도 9는 표시결함의 위치 데이터와 보상값 결정방법을 단계적으로 설명하기 위한 흐름도. 9 is a flowchart for explaining stepwise determination methods of position data and compensation values of display defects.

도 10은 도 10의 제조방법에서 이용되는 표시결함의 분석 및 보상값 결정 시 스템을 나타내는 도면. FIG. 10 is a diagram showing a system for analyzing display defects and determining a compensation value used in the manufacturing method of FIG. 10; FIG.

도 11은 본 발명에서 적용 가능한 FRC의 디더패턴의 일예를 나타내는 도면.11 is a view showing an example of the dither pattern of the FRC applicable in the present invention.

도 12는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 나타내는 블록도. 12 is a block diagram illustrating a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 13은 도 12에 도시된 보상회로를 상세히 나타내는 블록도. FIG. 13 is a block diagram illustrating in detail the compensation circuit shown in FIG. 12; FIG.

<도면의 주요 부호에 대한 설명><Description of Major Symbols in Drawing>

101 : 데이터 구동회로 102 : 게이트 구동회로101: data driving circuit 102: gate driving circuit

103 : 액정표시패널 104 : 타이밍 콘트롤러103: liquid crystal display panel 104: timing controller

105 : 보상회로 111 : FRC 제어부105: compensation circuit 111: FRC control unit

112 : EEPROM 113 : 레지스터112: EEPROM 113: Register

114 : 인터페이스회로114: interface circuit

본 발명은 평판표시장치에 관한 것으로 특히, 패널과 노광기의 렌즈배열의 상관관계의 분석 결과를 기초로 하여 다양한 형태의 표시얼룩을 전기적인 보상방법으로 보상하도록 한 평판표시장치의 표시결함 보상방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flat panel display device, and more particularly, to a display defect compensation method of a flat panel display device which compensates various types of display stains by an electrical compensation method based on analysis results of a correlation between a lens array of a panel and an exposure machine. It is about.

평판표시장치에는 액정표시소자(Liquid Crystal Display, LCD), 전계 방출 표시소자(Field Emission Display, FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel, PDP) 및 유기발광다이오드 표시소자(Organic Light Emitting Diode Display, OLED) 등이 있고 이들 대부분이 실용화되어 시판되고 있다.The flat panel display device includes a liquid crystal display (LCD), a field emission display (FED), a plasma display panel (PDP), and an organic light emitting diode display (OLED). OLED), and most of them are commercially available and commercially available.

액정표시소자는 전자제품의 경박단소 추세를 만족할 수 있고 양산성이 향상되고 있어 많은 응용분야에서 음극선관을 빠른 속도로 대체하고 있다. Liquid crystal display devices can meet the trend of light and short and short of electronic products and mass production is improving, and are rapidly replacing cathode ray tubes in many applications.

특히, 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : 이하, "TFT"라 한다)를 이용하여 액정셀을 구동하는 액티브 매트릭스 타입의 액정표시소자는 화질이 우수하고 소비전력이 낮은 장점이 있으며, 최근의 양산기술 발전과 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화로 급속히 발전하고 있다. In particular, an active matrix type liquid crystal display device that drives a liquid crystal cell using a thin film transistor (hereinafter referred to as "TFT") has advantages of high image quality and low power consumption. As a result of research and development, it is rapidly developing into larger size and higher resolution.

이러한 액정표시소자의 제조공정은 포토리소그래피 공정을 포함한 반도체 공정으로 TFT 어레이 기판을 제작하게 된다. 포토리소그래피 공정은 일련의 노광, 현상, 식각 공정을 포함하게 된다. The manufacturing process of the liquid crystal display device is to produce a TFT array substrate by a semiconductor process including a photolithography process. The photolithography process will include a series of exposure, development, and etching processes.

포토리소그래피 공정에서 노광양의 불균일 등으로 인하여, 완성된 기판의 표시상태를 검사하는 검사공정에서 선 형태의 표시결함(이하, "선 결함"이라 함), 비교적 넓은 면으로 나타나는 면 형태의 표시결함(이하, "면 결함"이라 함) 등이 발견될 수 있다. 이러한 결함들이 발생되는 원인은 포토리소그래프 공정에서 노광양의 차이로 인하여 TFT의 게이트-드레인 간의 중첩면적, 스페이서의 높이, 신호배선들 간의 기생용량, 신호배선과 화소전극 간의 기생용량 등이 정상적인 표시면과 결함 면 사이에서 달라지는 데에서 기인한다. 선 결함이나 면 결함은 정상적인 표시면에 비하여 휘도와 색도가 다르게 보이므로 이러한 표시결함이 보이는 패널은 표시장치로써의 기본적인 기능을 상실하게 된다. In the photolithography process, due to the unevenness of the exposure amount, a display defect in the form of a line (hereinafter referred to as "line defect") in the inspection process for inspecting the display state of the completed substrate, a surface defect in the form of a relatively large surface (Hereinafter referred to as "face defect") and the like can be found. These defects are caused by the difference in the exposure amount in the photolithography process.The overlapping area between the gate and the drain of the TFT, the height of the spacer, the parasitic capacitance between the signal wirings, and the parasitic capacitance between the signal wiring and the pixel electrode are normal. This is due to the difference between the face and the defect face. Since line defects and surface defects look different in luminance and chromaticity than normal display surfaces, the panel showing such display defects loses its basic function as a display device.

표시결함의 불량 수준을 낮추기 위하여, 각 제조업체들은 현재 리페어공정만으로 결함부분을 완화시키고 있지만 완화된 수준이 양품 기준에 이르지 못하면 그 패널을 폐기처분하고 있다. 특히, 표시결함은 표시패널에 따라 다른 형태로 나타나고 불량정도도 다르게 나타나므로 검사공정과 리페어공정에서 표시결함이 나타나는 위치, 크기, 불량정도를 표시패널마다 분석하여야 한다. 따라서, 표시결함은 공정적인 해법으로는 해결될 수 없을 뿐만 아니라 생산성을 떨어뜨리는 주원인으로 작용한다. To reduce the level of defects in labeling defects, manufacturers are currently mitigating the defects with the repair process alone, but disposing of the panel if the mitigated level does not meet the product standard. In particular, since display defects appear in different forms and display defects differently depending on the display panel, the position, size, and degree of display defects in the inspection process and the repair process should be analyzed for each display panel. Therefore, the display defect is not only solved by a fair solution but also serves as the main cause of the decrease in productivity.

본 발명의 목적은 종래 기술에 의해 나타나는 문제를 해결하고자 안출된 발명으로써 표시패널과 노광기의 렌즈배열의 상관관계 분석 결과를 기초로 하여 다양한 형태의 표시얼룩을 전기적인 보상방법으로 보상하도록 한 평판표시장치의 표시결함 보상방법를 제공하는데 있다. Disclosure of Invention An object of the present invention is to solve the problems caused by the prior art, and is based on a correlation analysis result of a lens array of a display panel and an exposure machine. The present invention provides a method for compensating for display defects of a device.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 평판표시장치의 표시결함 보상방법은 렌즈 어셈블리와 패널의 상관관계를 서로 다른 다양한 모델들의 표시패널에 대하여 분석하여 렌즈와 패널의 상관 맵을 작성하는 단계; 표시패널에서 표시결함을 감지하는 단계; 상기 표시결함을 분석하여 얻어진 표시결함 정보와 상기 표시패널의 정보를 상기 렌즈와 패널의 상관 맵과 비교하여 그 비교 결과 상 기 렌즈와 패널의 상관 맵으로부터 상기 표시결함의 위치정보를 얻는 단계; 상기 표시결함의 휘도를 보상하기 위한 보상값들을 결정하는 단계; 상기 보상값들과 상기 표시결함의 위치정보를 메모리에 저장하는 단계; 및 상기 메모리에 저장된 보상값들과 위치정보를 이용하여 상기 표시결함에 표시될 디지털 비디오 데이터를 변조하여 상기 평판표시패널에 화상을 표시하는 단계를 포함한다. In order to achieve the above object, the display defect compensation method of the flat panel display device according to an embodiment of the present invention to create a correlation map between the lens and the panel by analyzing the correlation between the lens assembly and the panel with respect to the display panels of different models Doing; Detecting a display defect on the display panel; Comparing the display defect information obtained by analyzing the display defect and the information on the display panel with a correlation map between the lens and the panel and obtaining position information of the display defect from the correlation map between the lens and the panel; Determining compensation values for compensating for the luminance of the display defect; Storing the compensation values and position information of the display defect in a memory; And modulating the digital video data to be displayed on the display defect by using the compensation values and the position information stored in the memory to display an image on the flat panel display panel.

상기 렌즈와 패널의 상관 맵은 상기 렌즈 어셈블리의 렌즈들의 중첩부분과 비중첩부분에 대응하는 상기 표시패널의 상대 위치정보, 상기 상대 위치정보로부터 얻어진 상기 표시패널에서 발생 가능한 선 결함의 발생 위치정보, 상기 선 결함에 부여되는 보상값들이 가감되는 상기 표시패널의 위치정보, 상기 상대 위치정보로부터 얻어진 상기 표시패널에서 발생 가능한 면 결함의 발생 위치정보, 상기 면 결함에 부여되는 보상값들이 가감되는 상기 표시패널의 위치정보, 상기 상대 위치정보로부터 얻어진 상기 표시패널에서 발생 가능한 면/선 혼합결함의 발생 위치정보, 및 상기 면/선 혼함결함에 부여되는 보상값들이 가감되는 상기 표시패널의 위치정보를 포함한다. The correlation map between the lens and the panel may include relative position information of the display panel corresponding to overlapping and non-overlapping portions of the lenses of the lens assembly, occurrence position information of line defects that may occur in the display panel obtained from the relative position information, Position information of the display panel to which the compensation values applied to the line defects are added or subtracted, position information on occurrence of surface defects that may occur in the display panel obtained from the relative position information, and display on which the compensation values to the surface defects are added or subtracted. Position information of the panel, position information of surface / line mixed defects that may occur in the display panel obtained from the relative position information, and position information of the display panel to which compensation values given to the surface / line mixed defects are added or subtracted. do.

상기 선 결함에 부여되는 보상값들이 가감되는 상기 표시패널의 위치정보는 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 시작점을 기준으로 정해진 좌측 점진적 보상영역의 위치정보, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 끝점을 기준으로 정해진 우측 점진적 보상영역의 위치정보, 및 상기 좌측 점진적 보상영역과 상기 우측 점진적 보상영역 사이에 위치하는 중앙보상영역의 위치정보를 포함한다. The position information of the display panel to which the compensation values applied to the line defects are added or subtracted is determined based on the position information of the left progressive compensation region determined based on the start point of the overlapping portion between the lenses and the end point of the overlapping portion between the lenses. Location information of the right progressive compensation area and the central compensation area located between the left progressive compensation area and the right progressive compensation area.

상기 면 결함에 부여되는 보상값들이 가감되는 상기 표시패널의 위치정보는 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 시작점을 기준으로 정해진 좌측 점진적 보상영역의 위치정보, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 시작점을 기준으로 정해진 우측 점진적 보상영역의 위치정보, 및 상기 좌측 점진적 보상영역과 상기 우측 점진적 보상영역 중 어느 하나에 이웃하는 중앙보상영역의 위치정보를 포함한다. The position information of the display panel to which the compensation values applied to the surface defects are added or subtracted is determined based on the position information of the left progressive compensation region determined based on the start point of the overlapping portion between the lenses and the start point of the overlapping portion between the lenses. Location information of the right progressive compensation area, and location information of the central compensation area neighboring any one of the left progressive compensation area and the right progressive compensation area.

상기 면/선 혼합결함에 부여되는 보상값들이 가감되는 상기 표시패널의 위치정보는 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 시작점을 기준으로 분할된 중앙보상영역과 약 흑선 각각을 지시하는 위치정보, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 끝점을 경계로 하여 상기 약 흑선과 이웃하는 약 휘선을 지시하는 위치정보를 포함한다. The position information of the display panel to which the compensation values given to the surface / line mixed defects are added or subtracted is position information indicating each of the central compensation region divided by the starting point of the overlapping portion between the lenses and about black lines, and the lenses. And the position information indicating the weak black line and the adjacent weak bright line at the boundary of the end point of the overlapping portion of the liver.

이하, 도 1 내지 도 13을 참조하여 액정표시장치를 중심으로 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하기로 한다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 13.

도 1을 참조하면, 도면부호 '10'은 노광장비의 렌즈 어셈블리(Lens Assembly)(10)를 나타내며, 도면부호 '11'은 렌즈 어셈블리에 의해 노광되는 표시패널(11)의 기판을 나타낸다. Referring to FIG. 1, reference numeral 10 denotes a lens assembly 10 of an exposure apparatus, and reference numeral 11 denotes a substrate of the display panel 11 exposed by the lens assembly.

렌즈 어셈블리(10)는 다수의 렌즈 예를 들면, 7 개의 렌즈(L1 내지 L7)을 포함한다. 렌즈들(L1 내지 L7)은 전열 렌즈들(L1, L3, L5, L7)과, 후열 렌즈들(L2, L4, L6)을 포함하고, 이웃한 전열 렌즈와 후열 렌즈는 서로의 가장자리가 소정 폭만큼 중첩된다. 렌즈 어셈블리(10)는 화살표 방향으로 이동하면서 포토레지스트가 도포된 표시패널(11)의 기판을 노광한다. 노광공정에 이어서, 현상공정과 식각공정에 의해 기판 상에는 원하는 신호배선, 전극, 스페이서, 격벽 등의 패턴이 형성된다. 이렇게 기판 상에 다양한 패턴이 형성된 후, 그 기판과 다른 기판의 합착공 정, 구동회로 실장공정 등을 실시하여 표시패널이 완성되면 그 표시패널에 대하여 각 계조별로 휘도 및 색도 검사가 실시된다. The lens assembly 10 includes a plurality of lenses, for example seven lenses L1 to L7. The lenses L1 to L7 include electrothermal lenses L1, L3, L5 and L7, and post-heat lenses L2, L4 and L6, and adjacent heat-transfer lenses and the post-heat lenses each have a predetermined width at an edge thereof. Overlap. The lens assembly 10 exposes the substrate of the display panel 11 coated with the photoresist while moving in the direction of the arrow. Following the exposure step, a pattern of desired signal wiring, electrodes, spacers, barrier ribs, etc. is formed on the substrate by the developing step and the etching step. After the various patterns are formed on the substrate, when the display panel is completed by performing a bonding process between the substrate and other substrates, a driving circuit mounting process, and the like, luminance and chromaticity inspections are performed for each gray level of the display panel.

이러한 검사공정과 반복적인 실험 결과, 동일한 크기, 동일한 해상도 및 동일한 셀피치를 가지는 동일 모델의 표시패널에서는 선 결함이나 면 결함의 개수가 다르고 그 결함위치에서의 휘도와 색도가 차이가 날 수 있지만 선 결함이 나타나는 위치와 면 결함이 나타나는 위치가 동일하게 나타난다는 규칙성이 발견되었다.As a result of this inspection process and repeated experiments, the number of line defects or surface defects may be different in the display panel of the same model having the same size, the same resolution, and the same cell pitch. The regularity was found that the position where the defect appeared and the position where the surface defect appeared appeared the same.

그 규칙성에 의하면, 선 결함은 노광장비의 렌즈 어셈블리(10)에서 렌즈들(L1 내지 L7)의 중첩부분(B1 내지 B6)에서 나타나고, 면 결함은 노광장비의 렌즈 어셈블리(10)에서 렌즈들(L1 내지 L7)의 비중첩부분(A1 내지 A7)에서 나타난다. 도 1의 예는 제2 중첩부분(B2)에서 나타나는 선 결함, 제4 비중첩 부분(A4)에서 나타나는 면 결함, 제6 비중첩부분(A6)과 제5 및 제6 중첩부분(B5, B6)에서 나타나는 면/선 혼합 결함을 보여 준다. 선 결함은 렌즈 수차에 의해 렌즈들(L1 내지 L7)의 중첩부분(B1 내지 B6) 중에서 다른 중첩부분이나 비중첩부분들에 비하여 포토레지스트의 노광양이 달라지는 것에 기인하여 발생된다. 면 결함은 렌즈들(L1 내지 L7) 간의 수차 편차에 의해 발생되는 것으로, 렌즈들(L1 내지 L7)의 비중첩부분(A1 내지 A7) 들 중에서 다른 렌즈들에 비하여 다른 렌즈들에 비하여 수차가 더 크거나 낮은 렌즈의 비중첩 부분의 상대위치에 해당하는 포토레지스트의 노광양이 다른 렌즈들의 비중첩 부분에 비하여 달라지는 것에 기인하여 발생된다. 면/선 혼합결함은 이웃하는 비중첩부분과 중첩부분에서 발생된다. According to its regularity, line defects appear in the overlapping portions B1 to B6 of the lenses L1 to L7 in the lens assembly 10 of the exposure apparatus, and surface defects are defined in the lenses (10) in the lens assembly 10 of the exposure apparatus. L1 to L7) in the non-overlapping portions A1 to A7. In the example of FIG. 1, the line defects appearing in the second overlapping part B2, the surface defects appearing in the fourth non-overlapping part A4, the sixth non-overlapping part A6, and the fifth and sixth overlapping parts B5 and B6. ) Shows the face / line mixing defects appearing. Line defects are caused by a change in the exposure amount of the photoresist due to lens aberration compared to other overlapping portions or non-overlapping portions among the overlapping portions B1 to B6 of the lenses L1 to L7. Surface defects are caused by aberration deviations between the lenses L1 to L7, and have more aberration than other lenses among the non-overlapping portions A1 to A7 of the lenses L1 to L7. The exposure amount of the photoresist corresponding to the relative position of the non-overlapping portion of the large or low lens is generated due to the difference of the non-overlapping portion of the other lenses. Face / line mixing defects occur at neighboring non-overlapping and overlapping areas.

노광장비의 렌즈 어셈블리(10)에서 렌즈들(L1 내지 L7)의 중첩부분들(B1 내 지 B6)과 비중첩부부분들(A1 내지 A7)은 고정되어 있다. 이에 비하여, 이 노광장비에 의해 노광되는 표시패널은 크기, 해상도, 셀피치 등이 다르면 렌즈들(L1 내지 L7)의 중첩부분들(B1 내지 B6)에 대향하는 상대 위치와 비중첩부분들(A1 내지 A7)에 대향하는 상대 위치가 다르게 된다. In the lens assembly 10 of the exposure apparatus, the overlapping portions B1 to B6 and the non-overlapping portions A1 to A7 of the lenses L1 to L7 are fixed. In contrast, when the display panel exposed by the exposure apparatus has different sizes, resolutions, cell pitches, and the like, the relative positions and the non-overlapping portions A1 to L2 that face the overlapping portions B1 to B6 of the lenses L1 to L7 are different. The relative position opposite to A7) becomes different.

표시패널의 모델이 변경되면 렌즈들(L1 내지 L7)의 중첩부분들(B1 내지 B6)에 대향하는 상대 위치와 비중첩부분들(A1 내지 A7)에 대향하는 상대 위치가 달라지므로 선 결함 위치와 면 결함 위치가 다르게 된다. 즉, 모델이 변경되면 렌즈들(L1 내지 L7)의 중첩부분들(B1 내지 B6)에 대향하는 상대 위치와 비중첩부분들(A1 내지 A7)이 달라지므로 도 1에서 선 결함의 시작위치(P1, P3, P5, P7, P9, P11) 및 선 결함의 끝위치(P2, P4, P6, P8, P10, P12), 면 결함의 시작위치(P2, P4, P6, P8, P10, P12) 및 면 결함의 끝위치(P1, P3, P5, P7, P9, P11)는 달라진다. 이에 비하여, 모델이 달라져도 선 결함과 면 결함의 위치, 개수가 달라지지만 렌즈들(L1 내지 L7)의 중첩부분들(B1 내지 B6)과 비중첩부분들(A1 내지 A7)이 고정되므로 모든 모델의 패널들에서 나타나는 선 결함의 폭과 면 결함의 폭은 동일하다. When the model of the display panel is changed, the relative position opposite to the overlapping portions B1 to B6 of the lenses L1 to L7 and the relative position opposite to the non-overlapping portions A1 to A7 are changed. The defect location is different. That is, when the model is changed, since the relative position and the non-overlapping portions A1 to A7 opposite to the overlapping portions B1 to B6 of the lenses L1 to L7 are changed, the starting position P1 of the line defect in FIG. P3, P5, P7, P9, P11) and end positions of line defects (P2, P4, P6, P8, P10, P12), start positions of surface defects (P2, P4, P6, P8, P10, P12) and plane The end positions P1, P3, P5, P7, P9 and P11 of the defects are different. On the other hand, although the position and the number of line defects and surface defects are different even if the model is different, overlapping parts B1 to B6 and non-overlapping parts A1 to A7 of the lenses L1 to L7 are fixed, so that all panels of the model are fixed. The widths of the line defects and the surface defects appearing in the field are the same.

본 발명은 렌즈들(L1 내지 L7)의 중첩부분들(B1 내지 B6)과 비중첩부부분들(A1 내지 A7)의 상대 위치들을 표시패널의 모델마다 맵핑시킨 "렌즈와 패널의 상관 맵"을 이용하여 표시패널에서 표시결함의 형태와 위치를 예측한다. 그리고 본 발명은 렌즈와 패널의 상관 맵을 이용하여 표시결함의 위치를 판단하고, 검사공정에서 발견된 표시결함의 불량정도와 결함의 형태에 따라 보상값을 최적화시킨다.The present invention uses a "correlation map of lenses and panels" in which the relative positions of the overlapping portions B1 to B6 and the non-overlapping portions A1 to A7 of the lenses L1 to L7 are mapped for each model of the display panel. The display panel predicts the shape and position of the display defect. In addition, the present invention determines the position of the display defect using the correlation map between the lens and the panel, and optimizes the compensation value according to the defect degree and the type of the defect found in the inspection process.

도 2는 렌즈 어셈블리(10)의 길이보다 작은 표시패널의 기판에서 선 결함이 나타나는 예를 보여 준다. 2 illustrates an example in which line defects appear on a substrate of a display panel smaller than the length of the lens assembly 10.

도 2를 참조하면, 렌즈 어셈블리(10)의 렌즈들(L1 내지 L7) 중에서 양 가장자리에 위치한 제1 렌즈(L1)와 제7 렌즈(L7)에 의해서는 표시패널(11)의 기판에 형성된 포토레지스트가 노광되지 않는다. 기판에 형성된 포토레지스트는 제3 내지 제5 렌즈들(L3 내지 L5)에 의해 노광되고 또한, 제2 렌즈(L2)의 절반과 제6 렌즈(L6)의 절반에 의해 노광된다. Referring to FIG. 2, a photo formed on the substrate of the display panel 11 by the first lens L1 and the seventh lens L7 positioned at both edges of the lenses L1 to L7 of the lens assembly 10. The resist is not exposed. The photoresist formed on the substrate is exposed by the third to fifth lenses L3 to L5 and is exposed by half of the second lens L2 and half of the sixth lens L6.

이러한 렌즈 어셈블리(10)와 표시패널의 상관 관계에서, 선 결함이 발생 가능한 표시패널(11)의 위치는 제5 렌즈(L5)와 제6 렌즈(L6)가 중첩되는 제2 중첩부분(B2), 제4 렌즈(L4)와 제5 렌즈(L5)가 중첩되는 제3 중첩부분(B1), 제3 렌즈(L3)와 제4 렌즈(L4)가 중첩되는 제4 중첩부분(B4), 제2 렌즈(L2)와 제3 렌즈(L3)가 중첩되는 제5 중첩부분(B5)이다. In the correlation between the lens assembly 10 and the display panel, the position of the display panel 11 where line defects may occur is the second overlapped portion B2 in which the fifth lens L5 and the sixth lens L6 overlap. , A third overlapping portion B1 in which the fourth lens L4 and the fifth lens L5 overlap, and a fourth overlapping portion B4 in which the third lens L3 and the fourth lens L4 overlap, and A fifth overlapping portion B5 in which the two lenses L2 and the third lens L3 overlap.

이렇게 선 결함이 발생 가능한 위치에서 보상값이 부여되는 기준위치는 제2 중첩부분(B2)의 P3 및 P4, 제3 중첩부분(B1)의 P5 및 P6, 제4 중첩부분(B4)의 P7 및 P8, 제5 중첩부분(B5)의 P9 및 P10이다. 이러한 선 결함과 그와 이웃하는 정상표시면은 휘도가 서로 중첩된다. 따라서, 선 결함의 휘도패턴은 도 3과 같이 중앙 보상영역(C1)에서 가장 어둡고 가장자리로 갈수록 휘도가 점진적으로 높아진다. 이러한 선 결함의 휘도를 보상하기 위하여 선 결함에 부여되는 보상값은 중앙 보상영역(C1)에서 가장 높고 중앙 보상영역(C1)의 양측 가장자리에 위치하는 점진적 보상영역(Gradient compensating region)(SG1, SG2) 각각에서 점진적으로 낮아진다. The reference position to which the compensation value is given at the position where the line defect can occur is P3 and P4 of the second overlapping portion B2, P5 and P6 of the third overlapping portion B1, P7 of the fourth overlapping portion B4, and P8 and P9 and P10 of the fifth overlapping portion B5. These line defects and adjacent normal display surfaces overlap with each other in luminance. Therefore, the luminance pattern of the line defect is the darkest in the central compensation region C1 as shown in FIG. 3, and the luminance gradually increases toward the edge. In order to compensate for the luminance of such line defects, the compensation value applied to the line defects is the highest in the center compensation region C1 and is located in the progressive compensating regions SSG1 and SG2 located at both edges of the center compensation region C1. Progressively lower in each case.

중앙 보상영역(C1)은 선 결함의 폭방향(x)에서 중앙 위치에 해당하며 선 결함 내에서 가장 어둡게 보이는 영역이다. 이 중앙 보상영역(C1)은 정상 표시면과 중첩되지 않기 때문에 가장 어둡게 보이며 선 결함 내에서 보상값(a1)이 가장 높게 적용된다. 중앙 보상영역(C1)의 보상값(a1)은 중앙 보상영역(C1)의 휘도와 정상 표시면의 휘도차를 휘도 측정장비나 육안으로 느끼는 주관적 휘도차를 근거로 하여 중앙 보상영역(C1)과 정상 표시면의 휘도차를 육안으로 느낄 수 없는 값으로 결정된다. The center compensation area C1 corresponds to a center position in the width direction x of the line defect and is the darkest area in the line defect. Since the center compensation region C1 does not overlap the normal display surface, it appears darkest and the compensation value a1 is applied highest within the line defect. The compensation value a1 of the center compensation area C1 is based on the subjective brightness difference that the luminance measurement device or the naked eye senses the difference between the brightness of the center compensation area C1 and the brightness of the normal display surface. The difference in luminance of the normal display surface is determined by a value which cannot be seen by the naked eye.

점진적 보상영역(SG1, SG2)은 중앙 보상영역(C1)의 휘도와 정상 표시면의 휘도가 중첩되는 영역으로 선 결함 내에서 중앙 보상영역의 좌측(SG1)과 우측(SG2)에 위치하며, 중앙 보상영역(C1)에 가까운 위치일수록 중앙 보상영역(C1)의 휘도와 근접하는 휘도로 보이고 또한, 정상 표시면의 비중첩면으로 갈수록 정상 표시면의 휘도와 가까운 휘도로 보인다. 즉, 점진적 보상영역(SG1, SG2)은 중앙 보상영역(C1)에 가까울수록 어둡고 정상 표시면의 비중첩면으로 갈수록 밝게 보인다. 점진적 보상영역(SG1, SG2)은 다수의 구간으로 나뉘어진다. 여기서, 구간들 각각의 폭은 점진적 보상영역(SG1, SG2)의 폭방향 길이(x)를 화소 수로 환산하고, 그 환산 길이를 4의 배수로 나눈 폭으로 정의된다. 이러한 점진적 보상영역(SG1, SG2)에서, 보상값(b1~e1, b1'~e1')은 중앙 보상영역(C1)에 가까운 구간으로부터 정상 표시면의 비중첩면에 가까운 구간으로 갈수록 점진적으로 작은 값으로 자동 결정된다. 다시 말하여, 점진적 보상영역(SG1, SG2)의 각 구간들에 적용되는 보상값(b1~e1, b1'~e1')은 중앙 보상영역(C1)의 보상값(a1)이 결정되면 그 보상값(a1)과 '0' 사이 에서 자동적으로 결정되며, 완전한 좌우 대칭을 만족한다. 점진적 보상영역(SG1, SG2)의 구간 수는 중앙 보상영역(C1)의 보상값(a1)이 높을수록 많아지고, 중앙 보상영역(C1)의 보상값(a1)이 낮을수록 작아진다. The progressive compensation areas SG1 and SG2 are areas in which the luminance of the center compensation area C1 overlaps with the luminance of the normal display surface and is located on the left side SG1 and the right side SG2 of the center compensation area within the line defect. The closer to the compensation area C1, the luminance appears to be closer to the luminance of the central compensation region C1, and the closer to the non-overlapping surface of the normal display surface, the closer to the luminance of the normal display surface. That is, the progressive compensation areas SG1 and SG2 appear darker as they approach the center compensation area C1, and become brighter toward the non-overlapping surfaces of the normal display surface. The progressive compensation areas SG1 and SG2 are divided into a plurality of sections. The width of each of the sections is defined as a width obtained by dividing the width direction length x of the progressive compensation areas SG1 and SG2 by the number of pixels and dividing the conversion length by a multiple of four. In these progressive compensation areas SG1 and SG2, the compensation values b1 to e1 and b1 ′ to e1 ′ are gradually smaller from a section closer to the center compensation region C1 to a section closer to the non-overlapping surface of the normal display surface. The value is automatically determined. In other words, the compensation values b1 to e1, b1 ′ to e1 ′ applied to the respective sections of the progressive compensation areas SG1 and SG2 are determined when the compensation value a1 of the central compensation area C1 is determined. It is automatically determined between the value a1 and '0', which satisfies the perfect symmetry. The number of sections of the progressive compensation areas SG1 and SG2 increases as the compensation value a1 of the central compensation area C1 is higher, and decreases as the compensation value a1 of the central compensation area C1 is lower.

선 결함의 보상값을 결정하기 위하여, 중앙 보상영역(C1)과 점진적 보상영역(SG1, SG2)의 구간을 설정하는 기준은 전술한 "렌즈와 패널의 상관 맵"에 의해 예측된 선 결함 발생 가능 위치를 기준으로 결정된다. 예컨대, 도 3과 같이 렌즈 어셈블리(10)의 제2 중첩부분(B2)에서 선 결함이 나타나면 본 발명은 "렌즈와 패널의 상관 맵"에 의해 알고 있는 P3을 기준으로 좌측 점진적 보상영역(SG1) 내에서 우측으로 1개의 구간, 좌측으로 3개의 구간들을 정한고 또한, 이와 대칭적으로 P4를 기준으로 우측 점진적 보상영역(SG1) 내에서 좌측으로 1개의 구간, 우측으로 3개의 구간들을 정한다. In order to determine the compensation value of the line defect, a criterion for setting the interval between the center compensation region C1 and the progressive compensation regions SG1 and SG2 may be a line defect predicted by the aforementioned "correlation map of lens and panel". Determined based on location. For example, when line defects appear in the second overlapping portion B2 of the lens assembly 10 as shown in FIG. 3, the present invention provides a left progressive compensation area SG1 based on P3 known by the “correlation map between the lens and the panel”. One section to the right and three sections to the left are defined, and one section to the left and three sections to the right are defined symmetrically with respect to P4 based on P4.

이와 같은 방법으로, 렌즈 어셈블리(10)의 제3 중첩부분(B3)에서 선 결함이 나타나면 본 발명은 "렌즈와 패널의 상관 맵"에 의해 알고 있는 P5를 기준으로 좌측 점진적 보상영역(SG1) 내에서 우측으로 1개의 구간, 좌측으로 3개의 구간들을 정한고 또한, 이와 대칭적으로 P6을 기준으로 우측 점진적 보상영역(SG1) 내에서 좌측으로 1개의 구간, 우측으로 3개의 구간들을 정한다. In this way, if a line defect appears in the third overlapping portion B3 of the lens assembly 10, the present invention is based on the P5 known by the "correlation map of the lens and the panel" in the left progressive compensation area SG1. In 1, one section to the right and three sections to the left are defined, and symmetrically, one section to the left and three sections to the right are defined in the right gradual compensation region SG1 based on P6.

렌즈 어셈블리(10)의 제4 중첩부분(B4)에서 선 결함이 나타나면 P5를 기준으로 좌측 점진적 보상영역(SG1) 내에서 우측으로 1개의 구간, 좌측으로 3개의 구간들이 정해지고 또한, 이와 대칭적으로 P6을 기준으로 우측 점진적 보상영역(SG1) 내에서 좌측으로 1개의 구간, 우측으로 3개의 구간들이 정해진다. If line defects appear in the fourth overlapping portion B4 of the lens assembly 10, one section to the right and three sections to the left are defined within the left gradual compensation area SG1 based on P5, and symmetrical thereto. As a result, one section to the left and three sections to the right are determined in the right gradual compensation area SG1 based on P6.

좌측 점진적 보상영역(SG1) 내에서 좌측에 분할되는 구간들의 개수와 우측 점진적 보상영역(SG1) 내에서 우측에 분할되는 구간들의 개수는 전술한 바와 같이 중앙 보상영역(C1)의 보상값(a1)이 높을수록 많아지고, 중앙 보상영역(C1)의 보상값(a1)이 낮을수록 작아진다. The number of sections divided on the left side in the left progressive compensation area SG1 and the number of sections divided on the right side in the right progressive compensation area SG1 is the compensation value a1 of the central compensation area C1 as described above. The higher the value is, the smaller the compensation value a1 of the central compensation area C1 is.

도 4는 렌즈 어셈블리(10)의 길이보다 작은 표시패널의 기판에서 면 결함이 나타나는 예를 보여 준다. 4 illustrates an example in which surface defects appear on a substrate of a display panel smaller than the length of the lens assembly 10.

도 4를 참조하면, 렌즈 어셈블리(10)의 렌즈들(L1 내지 L7) 중에서 양 가장자리에 위치한 제1 렌즈(L1)와 제7 렌즈(L7)에 의해서는 표시패널(11)의 기판에 형성된 포토레지스트가 노광되지 않는다. 기판에 형성된 포토레지스트는 제3 내지 제5 렌즈들(L3 내지 L5)에 의해 노광되고 또한, 제2 렌즈(L2)의 절반과 제6 렌즈(L6)의 절반에 의해 노광된다. Referring to FIG. 4, a photo formed on the substrate of the display panel 11 by the first lens L1 and the seventh lens L7 positioned at both edges of the lenses L1 to L7 of the lens assembly 10. The resist is not exposed. The photoresist formed on the substrate is exposed by the third to fifth lenses L3 to L5 and is exposed by half of the second lens L2 and half of the sixth lens L6.

이러한 렌즈 어셈블리(10)와 표시패널의 상관 관계에서, 면 결함이 발생 가능한 표시패널(11)의 위치는 렌즈 어셈블리(10)에서 렌즈의 비중첩부분들(A2 내지 A6)이다. In the correlation between the lens assembly 10 and the display panel, the position of the display panel 11 where surface defects may occur is the non-overlapping portions A2 to A6 of the lens in the lens assembly 10.

이렇게 면 결함이 발생 가능한 위치에서 보상값이 부여되는 면은 렌즈의 비중첩부분들(A2 내지 A6)보다 크게 설정된다. 이는 면 결함과 그와 인접하는 정상 표시면 사이에 휘도가 중첩되어 면 결함이 발생되는 면의 휘도와 정상 표시면의 휘도가 중첩되는 부분까지 보상값이 부여되기 때문이다. 만약, "렌즈와 패널의 상관 맵"에 기초하여 면 결함이 발생한 면에서만 보상값을 부여하면 그 보상값으로 면 결함이 발생한 면에 표시될 데이터의 변조를 통해 보상한 후에 면 결함이 발생된 면과 그와 이웃하는 정상 표시면의 경계에서 휘도차가 나타난다. The surface to which the compensation value is given at the position where the surface defect can occur is set larger than the non-overlapping portions A2 to A6 of the lens. This is because the luminance is overlapped between the surface defect and the normal display surface adjacent thereto so that a compensation value is applied to a portion where the luminance of the surface where the surface defect occurs and the luminance of the normal display surface overlap. If a compensation value is assigned only to the plane where the plane defect occurs based on the "correlation map between the lens and the panel", the plane where the plane defect occurs after the compensation is performed through the modulation of data to be displayed on the plane where the plane defect occurs as the compensation value. The luminance difference appears at the boundary between the and the adjacent normal display surface.

면 결함의 휘도패턴은 도 5와 같이 중앙 보상영역(C2)에서 가장 어둡고 정상 표시면과의 경계부에 해당하는 점진적 보상영역(SG3)에서 정상 표시면에 가까울수록 휘도가 점진적으로 높아진다. 중앙 보상영역(C2)은 면 결함면의 대부분을 차지하며 정상 표시면과 중첩되지 않기 때문에 면 결함 내에서 가장 어둡게 보이며 면 결함면 내에서 보상값(a2)이 가장 높게 적용된다. 중앙 보상영역(C2)의 보상값(a2)은 중앙 보상영역(C2)의 휘도와 정상 표시면의 휘도차를 휘도 측정장비나 육안으로 느끼는 주관적 휘도차를 근거로 하여 중앙 보상영역(C2)과 정상 표시면의 휘도차를 육안으로 느낄 수 없는 값으로 결정된다. As shown in FIG. 5, the luminance pattern of the surface defect is gradually darker in the center compensation region C2 and gradually closer to the normal display surface in the progressive compensation region SG3 corresponding to the boundary with the normal display surface. Since the center compensation region C2 occupies most of the surface defect surface and does not overlap with the normal display surface, it appears darkest in the surface defect and the highest compensation value a2 is applied in the surface defect surface. The compensation value a2 of the central compensation area C2 is based on the subjective luminance difference that the luminance measurement device or the naked eye senses the difference between the brightness of the central compensation area C2 and the brightness of the normal display surface. The difference in luminance of the normal display surface is determined by a value which cannot be seen by the naked eye.

점진적 보상영역(SG3)은 중앙 보상영역(C2)의 휘도와 정상 표시면의 휘도가 중첩되는 면으로써 중앙 보상영역(C2)에 가까운 위치일수록 중앙 보상영역(C1)의 휘도와 근접하는 휘도로 보이고 또한, 정상 표시면의 비중첩면으로 갈수록 정상 표시면의 휘도와 가까운 휘도로 보인다. 즉, 점진적 보상영역(SG3)은 중앙 보상영역(C2)에 가까울수록 어둡고 정상 표시면의 비중첩면으로 갈수록 밝게 보인다. 점진적 보상영역(SG3)은 다수의 구간으로 나뉘어진다. 여기서, 구간들 각각의 폭은 점진적 보상영역(SG3)의 폭방향 길이(x)를 화소 수로 환산하고, 그 환산 길이를 4의 배수로 나눈 폭으로 정의된다. 이러한 점진적 보상영역(SG3)에서, 보상값(b2~i2)은 중앙 보상영역(C2)에 가까운 구간으로부터 정상 표시면의 비중첩면에 가까운 구간으로 갈수록 점진적으로 작은 값으로 자동 결정된다. 다시 말하여, 점진적 보상영역(SG3)의 각 구간들에 적용되는 보상값(b2~i2)은 중앙 보상영역(C2)의 보상값(a2)이 결정되면 그 보상값(a2)과 '0' 사이에서 자동적으로 결정된다. 점진적 보상영역(SG3)의 구간을 분할하는 기준위치는 면 결함이 도 4 및 도 5와 같이 렌즈 어셈블리(10)의 제2 비중첩면(A2)에서 발생된다고 가정할 때, 그 시작위치인 'P3'이며, 이 P3를 기준으로 좌측과 우측에서 동일한 개수의 구간들로 점진적 보상영역(SG3)이 분할된다. 면 결함이 렌즈 어셈블리(10)의 제4 비중첩면(A4)에서 발생되면, 점진적 보상영역(SG3)은 'P6'을 중심으로 좌/우 각각에서 동일한 개수의 구간들로 분할되고, 면 결함이 렌즈 어셈블리(10)의 제6 비중첩면(A6)에서 발생되면, 점진적 보상영역(SG3)은 'P10'을 중심으로 좌/우 각각에서 동일한 개수의 구간들로 분할된다. 점진적 보상영역(SG3)에서 기준위치를 중심으로 좌/우로 분할되는 구간들의 개수는 중앙 보상영역(C2)의 보상값(a2)이 높을수록 많아지고, 중앙 보상영역(C2)의 보상값(a2)이 낮을수록 작아진다. The progressive compensation area SG3 is a surface where the luminance of the central compensation area C2 overlaps with the luminance of the normal display surface, and the closer to the central compensation area C2, the closer the luminance is to the central compensation area C1. In addition, toward the non-overlapping surface of the normal display surface, the luminance appears closer to that of the normal display surface. That is, the progressive compensation area SG3 is darker as it approaches the center compensation area C2, and becomes brighter toward the non-overlapping plane of the normal display surface. The progressive compensation area SG3 is divided into a plurality of sections. The width of each of the sections is defined as a width obtained by dividing the widthwise length x of the progressive compensation area SG3 by the number of pixels and dividing the converted length by a multiple of four. In the gradual compensation area SG3, the compensation values b2 to i2 are automatically determined to be gradually smaller from a section closer to the center compensation area C2 to a section closer to the non-overlapping surface of the normal display surface. In other words, the compensation values b2 ˜ i2 applied to the respective sections of the gradual compensation area SG3 have the compensation values a2 and '0' when the compensation value a2 of the central compensation area C2 is determined. Is automatically determined between. A reference position for dividing the section of the gradual compensation area SG3 is assumed to be a starting point at the second non-overlapping surface A2 of the lens assembly 10 as shown in FIGS. 4 and 5. P3 ', the progressive compensation area SG3 is divided into equal numbers of sections on the left and right sides based on this P3. When the surface defect is generated at the fourth non-overlapping surface A4 of the lens assembly 10, the progressive compensation area SG3 is divided into equal numbers of sections in each of left and right around 'P6' and the surface defect When generated at the sixth non-overlapping surface A6 of the lens assembly 10, the progressive compensation area SG3 is divided into equal numbers of sections at left and right sides, respectively, about 'P10'. The number of sections divided left and right around the reference position in the progressive compensation area SG3 increases as the compensation value a2 of the central compensation area C2 increases, and the compensation value a2 of the central compensation area C2. The lower the), the smaller.

도 6은 렌즈 어셈블리(10)의 길이보다 작은 표시패널의 기판에서 면/선 혼합결함이 나타나는 예를 보여 준다. FIG. 6 illustrates an example in which surface / line mixing defects appear on a substrate of a display panel smaller than the length of the lens assembly 10.

도 6을 참조하면, 렌즈 어셈블리(10)의 렌즈들(L1 내지 L7) 중에서 양 가장자리에 위치한 제1 렌즈(L1)와 제7 렌즈(L7)에 의해서는 표시패널(11)의 기판에 형성된 포토레지스트가 노광되지 않는다. 기판에 형성된 포토레지스트는 제3 내지 제5 렌즈들(L3 내지 L5)에 의해 노광되고 또한, 제2 렌즈(L2)의 절반과 제6 렌즈(L6)의 절반에 의해 노광된다. Referring to FIG. 6, a photo formed on the substrate of the display panel 11 by the first lens L1 and the seventh lens L7 positioned at both edges of the lenses L1 to L7 of the lens assembly 10. The resist is not exposed. The photoresist formed on the substrate is exposed by the third to fifth lenses L3 to L5 and is exposed by half of the second lens L2 and half of the sixth lens L6.

이러한 렌즈 어셈블리(10)와 표시패널의 상관 관계에서, 면/선 혼합결함이 발생 가능한 표시패널(11)의 위치는 렌즈 어셈블리(10)에서 렌즈의 비중첩부분 들(A2 내지 A6)과 그에 이웃하는 중첩부분들(B2 내지 B5)이다. 도 6에서는 제2 비중첩부분(A2)과 그에 이웃하는 제2 중첩부분(B2), 제3 중첩부분(B3)과 그에 이웃하는 제4 비중첩부분(A4) 및 제4 중첩부분(B4), 제5 중첩부분(B5)과 그에 이웃하는 제6 비중첩부분(A6)에서 면/선 혼합결함(MR1, MR2, MR3)이 나타나는 예를 보여준다. In the correlation between the lens assembly 10 and the display panel, the position of the display panel 11 where surface / line mixing defects may occur is determined by the non-overlapping portions A2 to A6 of the lens in the lens assembly 10 and neighbors thereof. Are overlapping portions B2 to B5. In FIG. 6, the second non-overlapping portion A2, the second overlapping portion B2 adjacent thereto, the third overlapping portion B3, and the fourth non-overlapping portion A4 adjacent thereto and the fourth overlapping portion B4. 4 illustrates an example in which face / line mixed defects MR1, MR2, and MR3 appear in the fifth overlapping portion B5 and the sixth non-overlapping portion A6 adjacent thereto.

면/선 혼합결함(MR1, MR2, MR3)은 렌즈들(L1 내지 L7)의 비중첩부분(A1 내지 A6)과 중첩부분(B1 내지 B7)의 경계에서 도 7과 같이 약 흑선(BL)과 약 휘선(WL)이 나타난다. 약 흑선은 비중첩부분의 끝 지점과 약 휘선의 시작 점 사이에서 나타나며, 약 휘선은 중첩부분의 끝과 그에 이웃하는 정상 표시면의 가장자리에서 나타난다. 예를 들면, 도 6에서 제1 면/선 혼합결함(MR1)의 약 흑선(BL)은 도 7과 같이 제2 중첩부분(B2)의 시작점 P3와 제2 중첩부분(B2)의 끝점 P4 사이에서 나타나고, 약 휘선(WL)은 P4와 그에 이웃하는 제2 비중첩부분(A2)의 좌측 가장자리에서 나타난다. 제2 면/선 혼합결함(MR2)에서 약 흑선(BL)과 약 휘선(WL)은 양가장자리에서 나타난다. 제2 면/선 혼합결함(MR2)의 우측 약 흑선(BL)은 제3 중첩부분(B3)의 시작점 P5와 제3 중첩부분(B3)의 끝점 P6 사이에서 나타나고, 좌측 약 흑선(BL)은 제4 중첩부분(B4)의 시작점 P7과 제4 중첩부분의 끝점 P8 사이에서 나타난다. 제2 면/선 혼합결함(MR2)의 좌측 약 휘선(WL)은 P5와 그에 이웃하는 제2 비중첩부분(A2)의 우측 가장자리에서 나타나고, 제2 면/선 혼합결함(MR2)의 우측 약 휘선(WL)은 P8과 그에 이웃하는 제5 비중첩부분(A5)의 좌측 가장자리에서 나타난다. 제3 면/선 혼합결함(MR3)의 약 흑선(BL)은 제5 중첩부분(B5)의 시작점 P9와 제5 중 첩부분(B5)의 끝점 P10 사이에서 나타나고, 약 휘선(WL)은 P9와 그에 이웃하는 제5 비중첩부분(A5)의 우측 가장자리에서 나타난다. The surface / line mixed defects MR1, MR2, and MR3 are approximately black lines BL as shown in FIG. 7 at the boundary between the non-overlapping portions A1 to A6 and the overlapping portions B1 to B7 of the lenses L1 to L7. About WL appears. The weak black line appears between the end point of the non-overlapping portion and the start point of the about bright line, and the weak black line appears at the end of the overlapping portion and the edge of the normal display surface adjacent thereto. For example, in FIG. 6, about black line BL of the first surface / line mixed defect MR1 is between the starting point P3 of the second overlapping portion B2 and the end point P4 of the second overlapping portion B2 as shown in FIG. 7. About WL appears at the left edge of P4 and the second non-overlapping portion A2 adjacent thereto. In the second face / line mixed defect MR2, about black line BL and about bright line WL appear at both edges. The right weak black line BL of the second face / line mixed defect MR2 appears between the starting point P5 of the third overlapping portion B3 and the end point P6 of the third overlapping portion B3, and the left weak black line BL is It appears between the starting point P7 of the fourth overlapping portion B4 and the end point P8 of the fourth overlapping portion. The left weakened line WL of the second face / line mixed defect MR2 appears at the right edge of the second non-overlapping portion A2 adjacent to P5 and the right side of the second face / line mixed defect MR2. The broken line WL appears at the left edge of P8 and the fifth non-overlapping portion A5 adjacent thereto. About black line BL of 3rd surface / line mixing defect MR3 appears between the starting point P9 of the 5th overlapping part B5, and the end point P10 of the 5th overlapping part B5, and the weakly curved line WL is P9 And the right edge of the neighboring fifth non-overlapping portion A5.

면/선 혼합결함(MR1, MR2, MR3)에서의 휘도패턴을 살펴 보면, 중앙 보상영역(C3)에서 가장 어둡고 약 흑선(BL)과 약 휘선(WL)을 포함한 점진적 보상영역(SG4)에서 정상 표시면에 가까울수록 휘도가 점진적으로 높아진다. 중앙 보상영역(C3)은 면/선 혼합결함면의 대부분을 차지하며 정상 표시면의 휘도와 중첩되지 않기 때문에 면/선 혼합결함 내에서 가장 어둡게 보이며 면/선 혼합결함 내에서 보상값이 가장 높게 적용된다. 중앙 보상영역(C3)의 보상값은 중앙 보상영역의 휘도와 정상 표시면의 휘도차를 휘도 측정장비나 육안으로 느끼는 주관적 휘도차를 근거로 하여 중앙 보상영역(C3)과 정상 표시면의 휘도차를 육안으로 느낄 수 없는 값으로 결정된다. Looking at the luminance patterns in the plane / line mixed defects MR1, MR2, and MR3, the darkest in the central compensation region C3 and the normal in the progressive compensation region SG4 including the weak black line BL and the weak bright line WL are normal. The closer to the display surface, the higher the luminance is. The center compensation area (C3) occupies most of the plane / line mixed defect plane and does not overlap with the brightness of the normal display plane, so it appears darkest within the plane / line mixed defect and has the highest compensation value within the plane / line mixed defect. Apply. The compensation value of the center compensation area C3 is based on the subjective brightness difference between the brightness of the center compensation area and the brightness of the normal display surface and the subjective brightness difference perceived by the naked eye, and the brightness difference between the center compensation area C3 and the normal display surface. Is determined by a value that cannot be felt by the naked eye.

면/선 혼합결함(MR1, MR2, MR3)의 점진적 보상영역(SG4)은 중앙 보상영역(C3)의 휘도와 정상 표시면의 휘도가 중첩되는 면으로써 중앙 보상영역(C3)에 가까운 위치일수록 중앙 보상영역(C3)의 휘도와 근접하는 휘도로 보이고 또한, 정상 표시면의 비중첩면으로 갈수록 정상 표시면의 휘도와 가까운 휘도로 보인다. 즉, 점진적 보상영역(SG4)은 중앙 보상영역(C3)에 가까울수록 어둡고 정상 표시면의 비중첩면으로 갈수록 밝게 보인다. 점진적 보상영역(SG4)은 다수의 구간으로 나뉘어진다. 여기서, 구간들 각각의 폭은 점진적 보상영역(SG4)의 폭방향 길이(x)를 화소 수로 환산하고, 그 환산 길이를 4의 배수로 나눈 폭으로 정의된다. 이러한 점진적 보상영역(SG4)에서, 보상값은 중앙 보상영역(C3)에 가까운 구간으로부터 정상 표시면의 비중첩면에 가까운 구간으로 갈수록 점진적으로 작은 값으로 자동 결정된다. 다시 말하여, 점진적 보상영역(SG4)의 각 구간들에 적용되는 보상값은 중앙 보상영역(C3)의 보상값이 결정되면 그 보상값과 '0' 사이에서 자동적으로 결정된다. 점진적 보상영역(SG4)의 구간을 분할하는 기준위치는 약 흑선(BL)과 약 휘선(WL)의 경계선 즉, 렌즈들의 중첩부분과 그에 이웃하는 비중첩부분이 만나는 점이다. 예컨대, 도 6에서 제1 면/선 혼합결함(MR1)에서 점진적 보상영역(SG4)의 구간들을 분할하기 위한 기준위치는 P4, 제2 면/선 혼합결함(MR2)에서 좌측 점진적 보상영역(SG4)의 구간들을 분할하기 위한 기준위치는 P5, 제2 면/선 혼합결함(MR2)에서 우측 점진적 보상영역(SG4)의 구간들을 분할하기 위한 기준위치는 P8, 제3 면/선 혼합결함(MR2)에서 점진적 보상영역(SG4)의 구간들을 분할하기 위한 기준위치는 P9이다. 이러한 기준위치를 기준으로 약 흑선(BL)과 약 휘선(WL) 각각은 다수의 구간들로 분할된다. 구간들의 개수는 중앙 보상영역(C3)과 약 흑선(BL)의 보상값이 높을수록 많아지고, 중앙 보상영역(C3)과 약 흑선(BL)의 보상값이 낮을수록 작아진다. The progressive compensation area SG4 of the plane / line mixed defects MR1, MR2, and MR3 is a plane where the luminance of the center compensation area C3 overlaps with the luminance of the normal display surface, and is closer to the center compensation area C3. The luminance appears to be close to the luminance of the compensation area C3, and the luminance is closer to the non-overlapping surface of the normal display surface. That is, the progressive compensation area SG4 is darker as it approaches the center compensation area C3, and appears brighter toward the non-overlapping plane of the normal display surface. The progressive compensation area SG4 is divided into a plurality of sections. The width of each of the sections is defined as a width obtained by dividing the widthwise length x of the progressive compensation area SG4 by the number of pixels and dividing the converted length by a multiple of four. In this gradual compensation area SG4, the compensation value is automatically determined to be gradually smaller from the section closer to the center compensation area C3 to the section closer to the non-overlapping surface of the normal display surface. In other words, the compensation value applied to each section of the progressive compensation area SG4 is automatically determined between the compensation value and '0' when the compensation value of the central compensation area C3 is determined. The reference position for dividing the section of the progressive compensation area SG4 is a boundary line between the black line BL and the weak line WL, that is, the overlapping portion of the lenses and the non-overlapping portion adjacent thereto. For example, in FIG. 6, the reference position for dividing the sections of the progressive compensation region SG4 in the first surface / line mixed defect MR1 is P4 and the left progressive compensation region SG4 in the second surface / line mixed defect MR2. The reference position for dividing the sections of the frame is P5, the reference position for dividing the sections of the right gradual compensation area SG4 in the second plane / line mixed defect MR2 is P8, the third plane / line mixed defect MR2. ), The reference position for dividing the sections of the progressive compensation area SG4 is P9. Based on this reference position, each of the about black line BL and the about bright line WL is divided into a plurality of sections. The number of sections increases as the compensation value of the central compensation region C3 and the weak black line BL increases, and decreases as the compensation value of the central compensation region C3 and the weak black line BL becomes low.

전술한 선 결함, 면 결함, 면/선 혼합결함의 보상값들은 표시패널에 공급되는 데이터전압의 감마특성을 고려하여 계조별로 다르게 최적화된다. 보상값들은 정상 표시면의 휘도에 비하여 낮은 휘도로 보이는 표시결함을 보상하기 위한 보상값들로써 표시결함에 표시될 디지털 비디오 데이터에 가산된다. 한편, 표시결함은 정상 표시면의 휘도에 비하여 더 밝은 휘도로 보이는 표시결함도 포함한다. 이렇게 밝게 보이는 표시결함의 휘도를 보상하기 위한 보상값들은 전술한 실시예들과 같이 계조별로 표시결함과 정상 표시면의 휘도차를 보상하기 위한 값들로 최적화되고, 밝게 보이는 표시결함에 표시될 디지털 비디오 데이터에 감산된다. The compensation values of the above-described line defects, surface defects, and surface / line mixed defects are optimized differently for each gray level in consideration of gamma characteristics of data voltages supplied to the display panel. The compensation values are added to the digital video data to be displayed on the display defects as compensation values for compensating for a display defect appearing at a lower luminance than the luminance of the normal display surface. On the other hand, display defects also include display defects that appear to be brighter than the luminance of the normal display surface. The compensation values for compensating the brightness of the brightly displayed display defects are optimized to compensate for the difference in brightness between the display defects and the normal display surface for each gray level as in the above-described embodiments, and the digital video to be displayed in the brightly displayed display defects. Are subtracted from the data.

이러한 보상값들은 정수+1 미만의 소수로 결정될 수 있고, 정수값의 보상값은 일반적인 비트 가산기 또는 감산기를 이용하여 디지털 비디오 데이터에 가감되고, 소수값의 보상값은 디더패턴(Dither pattern)을 이용한 프레임 레이트 콘트롤(Frame rate control; 이하, "FRC"라 함) 방법으로 디지털 비디오 데이터에 가감된다. These compensation values may be determined by a decimal number less than an integer +1, and the compensation value of the integer value is added to or subtracted from the digital video data using a general bit adder or subtractor, and the compensation value of the decimal value is determined using a dither pattern. Digital video data is added or subtracted by a frame rate control (hereinafter referred to as "FRC") method.

렌즈와 패널의 상관 맵에는 전술한 바와 같이 렌즈 어셈블리(10)의 렌즈 배치들과 크기, 해상도, 셀피치 등이 다른 모델들의 표시패널의 상관관계에 기초하여 표시결함의 종류에 따라 그리고 표시패널의 모델에 따라 표시결함들이 발생 가능한 위치의 데이터라인들과 픽셀들의 위치정보가 분류된다. 본 발명의 실시예에 따른 평판표시장치의 표시결함 보상방법은 렌즈와 패널의 상관 맵을 룩업 테이블 형태로 메모리에 저장하고, 검사공정에서 패널정보와 실제로 발견된 표시결함 정보를 입력하여 렌즈와 패널의 상관 맵에서 예측된 표시결함의 위치를 자동 선택한다. 이렇게 자동 생성된 표시결함의 위치 데이터와 함께 룩업 테이블 형태로 메모리에 저장된다. 표시결함의 위치 데이터와 보상값이 저장되는 메모리는 비휘발성 메모리 예를 들면, EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory) 또는 EDID ROM(Extended Display Identification Data ROM)을 포함한다. EDID ROM에는 상기 표시결함의 보상값과 위치 데이터 이외에 기본적으로 표시소자의 판매자/생산자 식별정보(ID) 및 기본 표시소자의 변수 및 특성 등이 저장되어 있다. 이러한 메모리는 표시결함의 보상값을 디지털 비디오 데이터에 가산 또는 감산하기 연산기와 평판표시장치의 구동회로에 추가된다. According to the correlation map between the lens and the panel, as described above, the lens arrangements of the lens assembly 10 and the size, resolution, cell pitch, and the like of the display panel are determined according to the type of display defect and According to the model, location information of data lines and pixels of locations at which display defects may occur are classified. In the display defect compensation method of the flat panel display device according to an embodiment of the present invention, the correlation map between the lens and the panel is stored in a memory in the form of a look-up table, and the panel and the display defect information actually found in the inspection process are inputted to the lens and the panel. Automatically select the predicted location of the display defect in the correlation map. The location data of the automatically generated display defects are stored in the memory in the form of a lookup table. The memory in which the position data and the compensation value of the display defect are stored includes a nonvolatile memory, for example, an electrically erasable programmable read only memory (EEPROM) or an extended display identification data ROM (EDID ROM). In addition to the compensation value and position data of the display defect, the EDID ROM basically stores the seller / producer identification information (ID) of the display element and the variables and characteristics of the basic display element. This memory is added to the driving circuit of the calculator and flat panel display device to add or subtract the compensation value of the display defect to the digital video data.

도 8 및 도 9는 본 발명의 실시예에 따른 평판표시장치의 제조방법을 단계적으로 설명하기 위한 흐름도이다. 도 10은 도 8 및 도 9의 검사공정에서 이용되는 표시결함의 분석 및 보상값 결정 시스템을 나타낸다. 8 and 9 are flowcharts illustrating a method of manufacturing a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention step by step. FIG. 10 illustrates a system for analyzing display defects and determining a compensation value used in the inspection process of FIGS. 8 and 9.

도 8 내지 도 10을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 평판표시장치의 제조방법은 상판 및 하판을 각각 제작한 후에, 상/하판을 실재(Sealant)나 프릿글라스(Frit glass)로 합착한다.(S1, S2, S3) 상판과 하판은 평판표시패널(40)에 따라 여러 형태로 제작될 수 있다. 예컨대, 액정표시패널의 경우에 상판에는 컬러필터, 블랙 매트릭스, 공통전극, 상부 배향막 등이 형성될 수 있고, 하판에는 데이터라인, 게이트라인, TFT, 화소전극, 하부 배향막, 컬럼 스페이서 등이 형성될 수 있다. 플라즈마 디스플레이 패널의 경우에 하판에는 어드레스전극, 하부 유전체, 격벽, 형광체 등이 형성될 수 있고, 상판에는 상부 유전체, MgO 보호막, 서스테인전극쌍이 형성될 수 있다. 8 to 10, in the manufacturing method of the flat panel display device according to the exemplary embodiment of the present invention, after manufacturing the upper and lower plates, respectively, the upper and lower plates are bonded with a sealant or frit glass. (S1, S2, S3) The upper plate and the lower plate may be manufactured in various forms according to the flat panel display panel 40. For example, in the case of a liquid crystal display panel, a color filter, a black matrix, a common electrode, an upper alignment layer, etc. may be formed on an upper plate, and a data line, a gate line, a TFT, a pixel electrode, a lower alignment layer, a column spacer, etc. may be formed on a lower plate. Can be. In the case of a plasma display panel, an address electrode, a lower dielectric, a partition, a phosphor, and the like may be formed on a lower plate, and an upper dielectric, an MgO passivation layer, and a sustain electrode pair may be formed on an upper plate.

이어서, 평판표시장치의 검사공정에서 각 계조의 테스트 데이터를 평판표시패널(40)에 인가하여 각 계조별로 테스트 데이터를 표시하고 그 테스트 데이터의 표시상태에 대하여 도 10과 같은 감지장치(42)를 이용한 전기적인 검사 및/또는 육안검사를 통해 표시면 전체의 휘도 및 색도를 측정한다.(S4) 그리고 검사공정에서 평판표시장치에 표시결함이 발견되면(S5), 그 표시결함과 정상 표시면의 휘도차를 분석하고 그 표시결함이 선 결함, 면 결함, 면/선 혼합결함 중 어느 결함에 해당하 는가를 분석한다.(S6) Subsequently, in the inspection process of the flat panel display device, test data of each gray level is applied to the flat panel display panel 40 to display test data for each gray level, and the detection device 42 as shown in FIG. The brightness and chromaticity of the entire display surface are measured by electrical inspection and / or visual inspection. (S4) If a display defect is found on the flat panel display in the inspection process (S5), the display defect and normal display surface The luminance difference is analyzed and whether the display defect corresponds to one of line defects, surface defects, and surface / line mixed defects (S6).

이어서, 본 발명은 표시결함 내의 각 픽셀을 지시하는 위치 데이터를 렌즈와 패널의 상관 맵으로부터 결정하고 표시결함의 휘도를 보상하기 위한 보상값을 각 계조별로 결정한다. 보상값은 표시결함의 중앙 보상영역에서 인위적으로 결정되며 중앙 보상영역의 보상값이 결정되면 점진적 보상영역의 각 구간에 부여되는 보상값들은 중앙 보상영역의 보상값과 '0' 사이에서 자동 결정된다. 점진적 보상영역 역시 중앙 보상영역과 마찬가지로 각 계조별로 최적화되어야 한다.(S7)Next, the present invention determines position data indicating each pixel in the display defect from the correlation map between the lens and the panel, and determines a compensation value for each gray level to compensate for the luminance of the display defect. The compensation value is artificially determined in the central compensation area of the display defect. When the compensation value of the central compensation area is determined, the compensation values assigned to each section of the progressive compensation area are automatically determined between the compensation value of the central compensation area and '0'. . The gradual compensation area should be optimized for each gray level like the central compensation area (S7).

그리고 본 발명은 표시결함의 각 픽셀별 위치를 지시하는 위치 데이터와, 표시결함의 보상값들을 유저 커넥터(User connector)와 롬기록기(ROM writer)를 통해 메모리에 저장한다.(S8)The present invention stores position data indicating the position of each pixel of the display defect and compensation values of the display defect in a memory through a user connector and a ROM writer (S8).

S5 단계에서 표시면 전체에서 표시결함이 보이지 않으면 그 평판표시장치는 양품으로 판정되어 출하된다.(S13)If no display defects are seen in the entire display surface in step S5, the flat panel display device is determined as good quality and shipped.

S7 단계의 표시결함의 위치 데이터와 보상값 결정방법은 도 9와 같이 먼저, 운용자는 표시패널의 크기, 해상도, 셀피치 등을 포함한 모델 식별정보를 패널 정보로써 컴퓨터(44)에 입력하고, 검사공정에서 판단된 표시결함의 종류, 표시결함과 정상 표시면의 휘도차를 포함한 표시결함 정보를 컴퓨터(44)에 입력한다.(S71, S72)As shown in FIG. 9, the operator inputs model identification information including the size, resolution, cell pitch, and the like of the display panel to the computer 44 as panel information. The display defect information including the type of the display defect determined in the process, the display defect and the luminance difference between the normal display surface, is input into the computer 44. (S71, S72)

이어서, 표시결함의 위치 데이터와 보상값 결정방법은 미리 저장된 "렌즈와 패널의 상관 맵"을 이용하여 표시결함의 위치 데이터를 자동 결정하기 위한 프로그램을 실행시킨다. 이 프로그램은 입력된 패널 정보와 표시결함 정보를 비교하여 " 렌즈와 패널의 상관 맵"으로부터 패널 정보와 표시결함 정보와 일치하는 표시결함의 위치 데이터를 자동 결정한다.(S73)Subsequently, the method of determining the position data of the display defect and the compensation value executes a program for automatically determining the position data of the display defect using the previously stored "correlation map between the lens and the panel". This program compares the input panel information with the display defect information and automatically determines the position data of the display defect matching the panel information and the display defect information from the "correlation map between the lens and the panel" (S73).

이어서, 표시결함의 위치 데이터와 보상값 결정방법은 각 계조별로 보상값을 증감하면서 그 보상값을 테스트 데이터에 가감하여 표시패널(40)의 데이터라인들에 공급하여 테스트 데이터를 표시패널(40)에 표시하고, 그 표시화상에 대한 검사공정을 실시한다.(S74, S75) 그리고 표시결함의 위치 데이터와 보상값 결정방법은 검사공정의 결과로 표시결함의 유무를 판정하고 표시결함이 보이면 각 계조별로 보상값을 조정한다.(S76, S77) S74 내지 S77의 일련의 보상값 조정 및 검사공정에서 각 계조별로 표시결함이 보이지 않으면, 그 때의 보상값을 최적화된 보상값으로써 결정한다.(S78) Subsequently, in the method of determining the position data of the display defect and the compensation value, the compensation value is increased or decreased for each gray level, and the test value is supplied to the data lines of the display panel 40 by adding or subtracting the compensation value to the test data. (S74, S75) The position data of the display defect and the method of determining the compensation value determine whether there is a display defect as a result of the inspection process. (S76, S77) If the display defects are not displayed for each gray level in the series of compensation value adjustment and inspection steps S74 to S77, the compensation value at that time is determined as the optimized compensation value. )

표시결함의 분석 및 보상값 결정 시스템은 도 10과 같이 평판표시패널(40)의 휘도와 색도를 감지하기 위한 감지장치(42), 평판표시패널(40)에 데이터를 공급하고 감지장치(42)의 출력신호로부터 평판표시패널(40)의 휘도와 색도를 분석하는 컴퓨터(44), 및 컴퓨터(44)에 의해 결정된 표시결함의 위치 데이터와 보상값이 저장되는 메모리(46)를 구비한다. The display defect analysis and compensation value determination system supplies data to the sensing device 42 and the flat panel display panel 40 for sensing the luminance and chromaticity of the flat panel 40 as shown in FIG. And a computer 44 for analyzing the luminance and chromaticity of the flat panel display panel 40 from the output signal of &lt; RTI ID = 0.0 &gt;, &lt; / RTI &gt; and a memory 46 for storing the position data of the display defects determined by the computer 44 and the compensation value.

감지장치(42)는 카메라 및/또는 광센서를 포함하여 평판표시패널(40)에 표시된 테스트 화상의 휘도 및 색도를 감지하여 전압 또는 전류를 발생한 후, 그 전압 또는 전류를 디지털 감지 데이터로 변환하여 컴퓨터(44)에 공급한다. The sensing device 42 detects the brightness and chromaticity of the test image displayed on the flat panel display panel 40 including a camera and / or an optical sensor to generate voltage or current, and then converts the voltage or current into digital sensing data. Supply to computer 44.

컴퓨터(44)는 각 계조별로 테스트 데이터를 평판표시패널의 구동회로에 공급하고, 감지장치(42)로부터 입력되는 디지털 감지 데이터에 따라 각 계조별로 표시 패널(40)의 전 표시면에 대하여 테스트 화상의 휘도 및 색도를 판정한다. 이 컴퓨터(44)는 표시패널(40)에서 감지장비(42)에 의해 표시결함이 감지되거나 혹은, 관리자에 의해 주관적인 평가로 패널정보와 표시결함 정보가 입력되면 프로그램을 실행시켜 표시결함의 위치 데이터를 자동 생성하고, 보상값을 바꿔가면서 그 보상값을 표시결함에 표시될 테스트 데이터에 가감하여 보상값으로 가감된 테스트 데이터를 표시패널(40)에 공급한다. 그리고 컴퓨터(44)는 표시결함의 휘도 및 색도 변화를 관찰하고 그 결과 표시결함의 휘도와 정상 표시면의 휘도가 미리 설정된 임계값 이하로 판정되면 그 때의 보상값을 최적화된 보상값으로써 위치 데이터와 함께 메모리(46)에 저장한다. 여기서, 임계값은 동일 계조에서 육안으로 볼 때 선 결함과 정상 표시면의 휘도 차이가 보이지 않는 실험적으로 결정된 값이다. The computer 44 supplies the test data for each gray level to the driving circuit of the flat panel display panel, and the test image is applied to the entire display surface of the display panel 40 for each gray level according to the digital sensing data input from the sensing device 42. The luminance and chromaticity of When the display defect is detected by the detection device 42 on the display panel 40 or the panel information and the display defect information are input by the administrator in a subjective evaluation, the computer 44 executes a program to execute the position data of the display defect. Is automatically generated, and the compensation value is added to or subtracted from the test data to be displayed on the display defect while the compensation value is changed, and the test data added to the compensation value is supplied to the display panel 40. The computer 44 observes the change in luminance and chromaticity of the display defect, and as a result, if the luminance of the display defect and the luminance of the normal display surface are determined to be less than or equal to the preset threshold value, the position compensation data as the optimized compensation value is used. To the memory 46 together. Here, the threshold value is an experimentally determined value that does not show a difference in luminance between the line defect and the normal display surface when viewed visually at the same gray level.

메모리(46)는 컴퓨터(44)의 제어에 의해 표시결함의 위치 데이터와 각 계조별 보상값을 저장하고 표시패널의 구동회로에 추가된다. The memory 46 stores the position data of the display defect and the compensation value for each gradation under the control of the computer 44, and is added to the driving circuit of the display panel.

도 11은 전술한 선 결함의 휘도를 보상하기 위한 보상값 중에서 '1' 미만의 미세 보상값을 표현하는 FRC의 디더패턴 예를 나타낸다. FIG. 11 illustrates an example of a dither pattern of an FRC that expresses a fine compensation value of less than '1' among compensation values for compensating for luminance of a line defect described above.

도 11을 참조하면, FRC는 8 픽셀×8 픽셀 크기를 가지며 보상값에 따라 '1'이 가산되는 픽셀들의 개수가 다르게 설정되어 1 미만의 소수 계조에 해당하는 보상값을 표현하는 1/8 디더패턴 내지 8/7 디더패턴을 이용한다. Referring to FIG. 11, the FRC has a size of 8 pixels by 8 pixels, and the number of pixels to which '1' is added is set differently according to the compensation value to express the compensation value corresponding to the fractional gray scale of less than one. Patterns to 8/7 dither patterns are used.

1/8 디더패턴은 64 개의 픽셀들 중에서 '1'이 가산되는 8 개의 픽셀들을 설정하여 1/8(=0.125) 계조에 해당하는 보상값을 표현하고, 2/8 디더패턴은 64 개의 픽셀들 중에서 '1'이 가산되는 16 개의 픽셀들을 설정하여 2/8(=0.250) 계조에 해 당하는 보상값을 표현하고, 3/8 디더패턴은 64 개의 픽셀들 중에서 '1'이 가산되는 24 개의 픽셀들을 설정하여 3/8(=0.375) 계조에 해당하는 보상값을 표현한다. 4/8 디더패턴은 64 개의 픽셀들 중에서 '1'이 가산되는 32 개의 픽셀들을 설정하여 4/8(=0.500) 계조에 해당하는 보상값을 표현하고, 5/8 디더패턴은 64 개의 픽셀들 중에서 '1'이 가산되는 40 개의 픽셀들을 설정하여 5/8(=0.625) 계조에 해당하는 보상값을 표현하고, 6/8 디더패턴은 64 개의 픽셀들 중에서 '1'이 가산되는 48 개의 픽셀들을 설정하여 6/8(=0.750) 계조에 해당하는 보상값을 표현한다. 그리고 7/8 디더패턴은 64 개의 픽셀들 중에서 '1'이 가산되는 56 개의 픽셀들을 설정하여 7/8(=0.875) 계조에 해당하는 보상값을 표현한다. 이러한 디더패턴들 각각은 프레임기간마다 '1'이 가산되는 픽셀들의 위치를 변경한다.The 1/8 dither pattern sets 8 pixels to which '1' is added among the 64 pixels to express a compensation value corresponding to 1/8 (= 0.125) gray scale, and the 2/8 dither pattern shows 64 pixels. 16 pixels to which '1' is added are set to express a compensation value corresponding to 2/8 (= 0.250) gray scale, and 3/8 dither pattern is 24 pixels to which '1' is added among 64 pixels. Set these to represent the compensation value corresponding to 3/8 (= 0.375) gradation. The 4/8 dither pattern sets 32 pixels to which '1' is added among 64 pixels to express a compensation value corresponding to 4/8 (= 0.500) gray scale, and the 5/8 dither pattern is 64 pixels 40 pixels to which '1' is added are set to express a compensation value corresponding to 5/8 (= 0.625) gray scale, and the 6/8 dither pattern is 48 pixels to which '1' is added among 64 pixels. Set these to represent the compensation value corresponding to 6/8 (= 0.750) gradation. The 7/8 dither pattern expresses a compensation value corresponding to 7/8 (= 0.875) gray level by setting 56 pixels to which '1' is added among 64 pixels. Each of these dither patterns changes the positions of pixels to which '1' is added every frame period.

도 12는 본 발명의 실시예에 따른 평판표시장치를 나타낸다. 이 평판표시장치에 대하여 액정표시장치를 예로 들어 설명하기로 한다. 12 illustrates a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention. This flat panel display device will be described by taking a liquid crystal display device as an example.

도 12를 참조하면, 본 발명의 평판표시장치는 데이터라인들(106)과 게이트라인들(108)이 교차하고 그 교차부에 액정셀들(Clc)을 구동하기 위한 TFT들이 형성된 표시패널(103); 미리 저장된 보상값을 이용하여 선 결함에 표시될 디지털 비디오 데이터(Ri/Gi/Bi)를 변조하는 보상회로(105); 데이터라인들(106)에 변조된 데이터(Rc/Gc/Bc)를 공급하는 데이터 구동회로(101); 게이트라인들(106)에 스캔신호를 공급하는 게이트 구동회로(102); 및 구동회로들(101, 102)을 제어하는 타이밍 콘트롤러(104)를 구비한다.Referring to FIG. 12, in the flat panel display of the present invention, the display panel 103 in which the data lines 106 and the gate lines 108 cross each other and TFTs for driving the liquid crystal cells Clc are formed at the intersection thereof. ); A compensation circuit 105 for modulating the digital video data Ri / Gi / Bi to be displayed on the line defect using a pre-stored compensation value; A data driving circuit 101 for supplying modulated data Rc / Gc / Bc to the data lines 106; A gate driving circuit 102 for supplying a scan signal to the gate lines 106; And a timing controller 104 for controlling the driving circuits 101 and 102.

액정표시패널(103)은 두 장의 기판(TFT 기판, 컬러필터 기판)의 사이에 액정 분자들이 주입된다. TFT 기판 상에 형성된 데이터라인들(106)과 게이트라인들(108)은 상호 직교한다. 데이터라인들(106)과 게이트라인들(108)의 교차부에 형성된 TFT는 게이트라인(108)으로부터의 스캔신호에 응답하여 데이터라인(106)을 경유하여 공급되는 데이터전압을 액정셀(Clc)의 픽셀전극에 공급한다. 칼라필터 기판 상에는 도시하지 않은 블랙매트릭스, 컬러필터 등이 형성된다. 공통전압(Vcom)이 공급되는 공통전극은 IPS(In-plain Switching) 모드나 FFS(Fringe Field Switching) 모드 등에서 TFT 기판상에 형성되고, TN(Twisted Nematic) 모드, OCB(optically compensated bent) 모드, VA(Vertically Alignment) 모드 등에서 컬러필터 기판에 형성된다. 이러한 TFT 기판과 컬러필터 기판에는 서로 수직한 광 흡수축을 가지는 편광판이 각각 부착된다.Liquid crystal molecules are injected into the liquid crystal display panel 103 between two substrates (a TFT substrate and a color filter substrate). The data lines 106 and the gate lines 108 formed on the TFT substrate are perpendicular to each other. The TFT formed at the intersection of the data lines 106 and the gate lines 108 receives a data voltage supplied via the data line 106 in response to a scan signal from the gate line 108. To the pixel electrode. Black matrices, color filters, and the like, which are not shown, are formed on the color filter substrate. The common electrode supplied with the common voltage Vcom is formed on a TFT substrate in an IPS (In-plain Switching) mode or a FFS (Fringe Field Switching) mode, and is formed in a twisted nematic (TN) mode, an optically compensated bent (OCB) mode, It is formed on the color filter substrate in a VA (Vertically Alignment) mode or the like. Polarizers having light absorption axes perpendicular to each other are attached to the TFT substrate and the color filter substrate.

보상회로(105)는 시스템 인터페이스(System Interface)로부터 입력데이터(Ri/Gi/Bi)를 공급받아 표시결함의 각 픽셀들에 표시될 디지털 비디오 데이터(Ri/Gi/Bi)에 미리 저장된 표시결함 보상값을 가감하여 표시결함에 표시될 디지털 비디오 데이터(Rc/Gc/Bc)를 변조한다. 그리고 보상회로(105)는 표시결함에 표시될 변조된 디지털 비디오 데이터(Rc/Gc/Bc)와 정상 표시면에 표시될 미 변조 데이터(Ri/Gi/Bi)를 출력한다. The compensation circuit 105 receives input data Ri / Gi / Bi from a system interface and compensates for display defects previously stored in digital video data Ri / Gi / Bi to be displayed on each pixel of the display defect. A value is added or subtracted to modulate the digital video data Rc / Gc / Bc to be displayed in the display defect. The compensation circuit 105 outputs modulated digital video data Rc / Gc / Bc to be displayed on the display defect and unmodulated data Ri / Gi / Bi to be displayed on the normal display surface.

타이밍 콘트롤러(104)는 보상회로(105)로부터의 디지털 비디오 데이터(Rc/Gc/Bc, Ri/Gi/Bi)를 도트 클럭(DCLK)에 맞추어 데이터 구동회로(101)에 공급함과 아울러 수직/수평 동기 신호(Vsync, Hsync), 데이터 인에이블 신호(DE) 및 도트 클럭(DCLK)을 이용하여 게이트 구동회로(102)를 제어하기 위한 게이트 제어신 호(GDC), 데이터 구동회로(101)를 제어하기 위한 데이터 제어신호(DDC)를 발생한다. 이러한 보상회로(105)와 타이밍 콘트롤러(104)는 하나의 칩으로 집적될 수 있다. The timing controller 104 supplies the digital video data Rc / Gc / Bc, Ri / Gi / Bi from the compensating circuit 105 to the data driving circuit 101 in accordance with the dot clock DCLK and vertical / horizontal. The gate control signal GDC and the data driving circuit 101 for controlling the gate driving circuit 102 are controlled by using the synchronization signals Vsync and Hsync, the data enable signal DE, and the dot clock DCLK. A data control signal DDC is generated. The compensation circuit 105 and the timing controller 104 may be integrated into one chip.

데이터 구동회로(101)는 타이밍 콘트롤러(104)로부터 공급되는 디지털 비디오 데이터(Rc/Gc/Bc, Ri/Gi/Bi)를 아날로그 감마보상전압으로 변환하고 그 아날로그 감마보상전압을 데이터전압으로써 데이터라인들(106)에 공급한다.The data driving circuit 101 converts the digital video data Rc / Gc / Bc, Ri / Gi / Bi supplied from the timing controller 104 into an analog gamma compensation voltage and converts the analog gamma compensation voltage into a data line as a data voltage. To the field 106.

게이트 구동회로(102)는 데이터전압이 공급될 수평라인을 선택하는 스캔신호를 게이트라인들(108)에 순차적으로 공급한다. The gate driving circuit 102 sequentially supplies a scan signal to the gate lines 108 to select a horizontal line to which a data voltage is supplied.

도 13은 보상회로(105)를 상세히 나타낸다. 13 shows the compensation circuit 105 in detail.

도 13을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 보상회로(105)는 FRC 제어부(111), EEPROM(112), 레지스터(113) 및 인터페이스회로(114)를 구비한다. Referring to FIG. 13, a compensation circuit 105 according to an exemplary embodiment of the present invention includes an FRC controller 111, an EEPROM 112, a register 113, and an interface circuit 114.

FRC 제어부(111)는 수직 및 수평 동기신호(Vsync, Hsync), 데이터 인에이블신호(DE), 도트클럭(DCLK)에 따라 디지털 비디오 데이터(Ri, Bi, Gi)의 표시위치를 판단하고, 그 위치 판단결과와 EEPROM(112)으로부터의 위치정보(PD)를 비교하여 표시결함에 표시될 디지털 비디오 데이터(Ri/Bi/Gi)를 검출한다. 그리고 FRC 제어부(111)는 표시결함에 표시될 디지털 비디오 데이터(Ri, Bi, Gi)를 리드 어드레스로 하여 EEPROM(112)에 공급하고, 그 리드 어드레스에 응답하여 EEPROM(112)으로부터 출력된 보상값들(CD)을 선 결함과 백선에 표시될 디지털 비디오 데이터(Ri/Bi/Gi)에 가산 및 감산한다. 여기서, FRC 제어부(111)는 도 11과 같이 미리 결정된 디더패턴에 따라 보상값을 시간적 및 공간적으로 분산시켜 디더패턴 단위로 1 계조 미만의 보상값을 디지털 비디오 데이터(Ri/Bi/Gi)에 가산하고, 1 계조 이상의 정수 보상값을 디지털 비디오 데이터에 각 픽셀 단위로 가산한다. The FRC control unit 111 determines the display position of the digital video data Ri, Bi, and Gi according to the vertical and horizontal synchronization signals Vsync and Hsync, the data enable signal DE, and the dot clock DCLK. The position determination result is compared with the position information PD from the EEPROM 112 to detect digital video data Ri / Bi / Gi to be displayed on the display defect. The FRC control unit 111 supplies the digital video data Ri, Bi, and Gi to be displayed on the display defect as a read address to the EEPROM 112, and the compensation value output from the EEPROM 112 in response to the read address. Field CD is added to and subtracted from the line defect and the digital video data Ri / Bi / Gi to be displayed on the white line. Here, the FRC control unit 111 distributes the compensation value temporally and spatially according to the predetermined dither pattern as shown in FIG. 11 and adds a compensation value of less than 1 gray scale to the digital video data Ri / Bi / Gi in the dither pattern unit. An integer compensation value of one or more gray levels is added to the digital video data in units of pixels.

EEPROM(112)은 표시결함의 보상값(CD), 표시결함의 위치 데이터(PD)를 룩업 테이블 형태로 저장한 메모리이다. 이 EEPROM(112)에 저장된 위치데이터(PD)와 보상값들(CD)은 인터페이스회로(114)를 통해 외부 컴퓨터(44)로부터 인가되는 전기적 신호에 의해 갱신될 수 있다. The EEPROM 112 stores a compensation value CD of display defects and position data PD of display defects in the form of a lookup table. The position data PD and the compensation values CD stored in the EEPROM 112 may be updated by an electrical signal applied from the external computer 44 through the interface circuit 114.

인터페이스회로(114)는 보상회로(105)와 외부 시스템 간의 통신을 위한 구성으로써 이 인터페이스회로(114)는 I2C 등의 통신 표준 프로토콜 규격에 맞춰 설계된다. EEPROM(112)에 저장된 위치데이터와 보상값(CD)은 공정변화, 적용 모델간 차이 등과 같은 이유에 의해 갱신이 요구되며, 사용자는 갱신하고자 하는 사용자 위치데이터(UPD)와 사용자 보상값(UCD)을 외부 시스템을 통해 입력한다. 컴퓨터(44)는 위와 같은 요구가 있을 때 인터페이스회로(114)를 통해 EEPROM(112)에 저장된 데이터를 읽어들이거나 수정할 수 있다. The interface circuit 114 is configured for communication between the compensation circuit 105 and an external system, and the interface circuit 114 is designed in accordance with a communication standard protocol standard such as I 2 C. The position data and the compensation value (CD) stored in the EEPROM 112 are required to be updated for reasons such as process change and difference between the applied models, and the user needs to update the user position data (UPD) and the user compensation value (UCD). Is entered via an external system. The computer 44 may read or modify data stored in the EEPROM 112 through the interface circuit 114 when such a request is made.

레지스터(113)에는 EEPROM(112)에 저장된 위치데이터(PD) 및 보상데이터(CD)를 갱신하기 위하여 인터페이스회로(114)를 통해 전송되는 사용자 데이터들(UPD, CD)이 임시 저장된다.The register 113 temporarily stores user data UPD and CD transmitted through the interface circuit 114 to update the position data PD and the compensation data CD stored in the EEPROM 112.

이러한 액정표시장치는 다른 평판표시장치에도 큰 변경없이 적용될 수 있다. 예컨대, 액정표시패널(103)은 전계 방출 표시소자, 플라즈마 디스플레이 패널 및 유기발광다이오드 표시소자 등으로 대신될 수 있다. Such a liquid crystal display device can be applied to other flat panel display devices without significant change. For example, the liquid crystal display panel 103 may be replaced by a field emission display device, a plasma display panel, an organic light emitting diode display device, or the like.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 평판표시장치의 표시결함 보상방법는 렌즈 어셈블리와 패널의 상관관계를 서로 다른 다양한 모델들의 표시패널에 대하여 분석하여 "렌즈와 패널의 상관 맵"을 작성하고, 입력된 패널 정보 및 표시결함 정보를 "렌즈와 패널의 상관 맵"과 비교하여 표시결함의 위치 데이터를 자동 결정하고, 표시결함의 종류와 계조에 따라 보상값을 최적화한다. 그리고 본 발명은 보상값을 표시결함에 표시될 데이터에 가감하여 표시결함의 휘도를 보상한다. 따라서, 본 발명에 따른 평판표시장치의 표시결함 보상방법는 공정적인 해결방법만으로는 보상이 어려운 표시결함의 휘도를 완벽하게 보상할 수 있다. As described above, the display defect compensation method of the flat panel display device according to the present invention analyzes the correlation between the lens assembly and the panel with respect to the display panels of different models to create a "correlation map between the lens and the panel", The panel information and the display defect information are compared with the "correlation map between the lens and the panel" to automatically determine the position data of the display defect, and optimize the compensation value according to the type and gradation of the display defect. The present invention compensates the luminance of the display defect by adding or subtracting a compensation value to data to be displayed on the display defect. Therefore, the display defect compensation method of the flat panel display device according to the present invention can completely compensate for the luminance of the display defect that is difficult to be compensated only by a fair solution.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

Claims (8)

렌즈 어셈블리와 패널의 상관관계를 서로 다른 다양한 모델들의 표시패널에 대하여 분석하여 렌즈와 패널의 상관 맵을 작성하는 단계; Analyzing the correlation between the lens assembly and the panel with respect to the display panels of various models to create a correlation map between the lens and the panel; 표시패널에서 표시결함을 감지하는 단계; Detecting a display defect on the display panel; 상기 표시결함을 분석하여 얻어진 표시결함 정보와 상기 표시패널의 정보를 상기 렌즈와 패널의 상관 맵과 비교하여 그 비교 결과 상기 렌즈와 패널의 상관 맵으로부터 상기 표시결함의 위치정보를 얻는 단계; Comparing display defect information obtained by analyzing the display defect and information on the display panel with a correlation map between the lens and the panel and obtaining position information of the display defect from the correlation map between the lens and the panel; 상기 표시결함의 휘도를 보상하기 위한 보상값들을 결정하는 단계; Determining compensation values for compensating for the luminance of the display defect; 상기 보상값들과 상기 표시결함의 위치정보를 메모리에 저장하는 단계; 및 Storing the compensation values and position information of the display defect in a memory; And 상기 메모리에 저장된 보상값들과 위치정보를 이용하여 상기 표시결함에 표시될 디지털 비디오 데이터를 변조하여 상기 평판표시패널에 화상을 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 표시결함 보상방법. And modulating the digital video data to be displayed on the display defect using the compensation values and the position information stored in the memory to display an image on the flat panel display panel. . 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 렌즈와 패널의 상관 맵은, The correlation map of the lens and the panel, 상기 렌즈 어셈블리의 렌즈들의 중첩부분과 비중첩부분에 대응하는 상기 표시패널의 상대 위치정보, 상기 상대 위치정보로부터 얻어진 상기 표시패널에서 발생 가능한 선 결함의 발생 위치정보, 상기 선 결함에 부여되는 보상값들이 가감되는 상기 표시패널의 위치정보, 상기 상대 위치정보로부터 얻어진 상기 표시패널에 서 발생 가능한 면 결함의 발생 위치정보, 상기 면 결함에 부여되는 보상값들이 가감되는 상기 표시패널의 위치정보, 상기 상대 위치정보로부터 얻어진 상기 표시패널에서 발생 가능한 면/선 혼합결함의 발생 위치정보, 및 상기 면/선 혼함결함에 부여되는 보상값들이 가감되는 상기 표시패널의 위치정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 표시결함 보상방법. Relative position information of the display panel corresponding to overlapping and non-overlapping portions of the lenses of the lens assembly, position information of occurrence of line defects that may occur in the display panel obtained from the relative position information, and compensation values applied to the line defects. The position information of the display panel to which the display panel has been added or subtracted, the position information of occurrence of surface defects that may occur in the display panel obtained from the relative position information, the position information of the display panel to which the compensation values applied to the surface defects are added, and the relative Flat panel display including position information of surface / line mixed defects that can be generated in the display panel obtained from position information, and position information of the display panel to which compensation values given to the surface / line mixed defects are added or subtracted; Method of compensating for display defects on the device. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 선 결함에 부여되는 보상값들이 가감되는 상기 표시패널의 위치정보는,Position information of the display panel to which the compensation values applied to the line defects are added or subtracted, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 시작점을 기준으로 정해진 좌측 점진적 보상영역의 위치정보, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 끝점을 기준으로 정해진 우측 점진적 보상영역의 위치정보, 및 상기 좌측 점진적 보상영역과 상기 우측 점진적 보상영역 사이에 위치하는 중앙보상영역의 위치정보를 포함하고, Location information of the left progressive compensation region defined based on the start point of the overlapping portion between the lenses, position information of the right progressive compensation region determined based on the end point of the overlapping portion between the lenses, and the left progressive compensation region and the right progressive Including location information of the central compensation area located between the compensation areas, 상기 중앙보상영역의 보상값은 상기 선 결함 내에서 가장 높은 값으로 결정되고, 상기 점진적 보상영역들의 보상값은 상기 중앙보상영역의 보상값과 0 사이의 값으로 결정되며, The compensation value of the central compensation area is determined to be the highest value within the line defect, and the compensation value of the progressive compensation areas is determined to be a value between the compensation value of the central compensation area and zero, 상기 점진적 보상영역들은 상기 보상값이 각각 부여되는 다수의 구간들로 가상 분할되고 상기 구간들 간에 상기 보상값들이 점진적으로 달라지는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 표시결함 보상방법. And the progressive compensation areas are virtually divided into a plurality of sections to which the compensation value is assigned, and the compensation values gradually vary between the sections. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 좌측 점진적 보상영역의 위치정보는,Position information of the left progressive compensation area, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 시작점을 기준으로 상기 좌측 점진적 보상영역의 우측에 배치된 구간을 지시하는 위치정보, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 시작점을 기준으로 상기 좌측 점진적 보상영역의 좌측에 배치된 구간을 지시하는 위치정보를 포함하고,Location information indicating a section disposed on the right side of the left progressive compensation region based on a start point of the overlapping portions between the lenses, and a section disposed on the left side of the left progressive compensation region based on a start point of the overlapping portions between the lenses Including location information indicating a, 상기 우측 점진적 보상영역의 위치정보는,Position information of the right progressive compensation area, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 끝점을 기준으로 상기 우측 점진적 보상영역의 우측에 배치된 구간을 지시하는 위치정보, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 끝점을 기준으로 상기 우측 점진적 보상영역의 좌측에 배치된 구간을 지시하는 위치정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 표시결함 보상방법. Location information indicating a section disposed on the right side of the right gradual compensation region on the basis of an end point of the overlapping portion between the lenses, and a section disposed on the left side of the right gradual compensation region on the basis of the end point of the overlapping portion between the lenses Display defect compensation method of the flat panel display device comprising the position information indicating. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 면 결함에 부여되는 보상값들이 가감되는 상기 표시패널의 위치정보는,Position information of the display panel to which the compensation values applied to the surface defect are added or subtracted, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 시작점을 기준으로 정해진 좌측 점진적 보상영역의 위치정보, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 시작점을 기준으로 정해진 우측 점진적 보상영역의 위치정보, 및 상기 좌측 점진적 보상영역과 상기 우측 점진적 보상영역 중 어느 하나에 이웃하는 중앙보상영역의 위치정보를 포함하고, Location information of the left progressive compensation region defined based on the start point of the overlapping portion between the lenses, position information of the right progressive compensation region determined based on the start point of the overlapping portion between the lenses, and the left progressive compensation region and the right progressive Including location information of a central compensation area neighboring any one of the compensation areas; 상기 중앙보상영역의 보상값은 상기 면 결함 내에서 가장 높은 값으로 결정되고, 상기 점진적 보상영역들의 보상값은 상기 중앙보상영역의 보상값과 0 사이의 값으로 결정되며, The compensation value of the central compensation area is determined to be the highest value in the plane defect, and the compensation value of the progressive compensation areas is determined to be a value between 0 and the compensation value of the central compensation area. 상기 점진적 보상영역들은 상기 보상값이 각각 부여되는 다수의 구간들로 가상 분할되고 상기 구간들 간에 상기 보상값들이 점진적으로 달라지는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 표시결함 보상방법. And the progressive compensation areas are virtually divided into a plurality of sections to which the compensation value is assigned, and the compensation values gradually vary between the sections. 제 5 항에 있어서,The method of claim 5, wherein 상기 점진적 보상영역의 위치정보는,Position information of the progressive compensation region, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 시작점과 끝점 중 어느 하나를 기준으로 분할된 상기 점진적 보상영역의 우측에 배치된 구간을 지시하는 위치정보와 상기 점진적 보상영역의 좌측에 배치된 구간을 지시하는 위치정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 표시결함 보상방법. Position information indicating a section disposed on the right side of the progressive compensation region divided based on one of a start point and an end point of the overlapping portion between the lenses and position information indicating a section disposed on the left side of the progressive compensation region; Display defect compensation method of the flat panel display comprising a. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 면/선 혼합결함에 부여되는 보상값들이 가감되는 상기 표시패널의 위치정보는,Position information of the display panel to which the compensation values given to the surface / line mixed defects are added or subtracted, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 시작점을 기준으로 분할된 중앙보상영역과 약 흑선 각각을 지시하는 위치정보, 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 끝점을 경계로 하여 상기 약 흑선과 이웃하는 약 휘선을 지시하는 위치정보를 포함하고, Position information indicating each of the central compensation region divided by the starting point of the overlapping portion between the lenses and the weak black line, and position indicating the weak bright line adjacent to the weak black line based on the end point of the overlapping portion between the lenses. Contains information, 상기 중앙보상영역의 보상값은 상기 면/선 혼함결함 내에서 가장 높은 값으로 결정되고, 상기 약 흑선과 상기 약 휘선의 보상값들은 상기 중앙보상영역의 보상값과 0 사이의 값으로 결정되며, The compensation value of the central compensation area is determined to be the highest value within the plane / line mixing defect, and the compensation values of the weak black line and the weak bright line are determined to be a value between the compensation value of the central compensation area and 0, 상기 약 흑선과 상기 약 휘선은 상기 보상값이 각각 부여되는 다수의 구간들로 가상 분할되고 상기 구간들 간에 상기 보상값들이 점진적으로 달라지는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 표시결함 보상방법. The weak black line and the weak bright line are virtually divided into a plurality of sections to which the compensation value is respectively provided, and the compensation values gradually vary between the sections. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 약 흑선과 상기 약 휘선은 The black line and the bright line 상기 렌즈들 간의 중첩부분의 시작점과 끝점을 기준으로 분할된 상기 구간들 각각을 지시하는 위치정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시장치의 표시결함 보상방법. And position information indicating each of the sections divided based on a start point and an end point of the overlapping portion of the lenses.
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