KR20080021250A - Dc generator using differential amplifier having variable input voltages - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS In order to better understand the drawings cited in the detailed description of the invention, a brief description of each drawing is provided.
도 1은 종래의 내부 전원전압 발생기의 회로도이다. 1 is a circuit diagram of a conventional internal power supply voltage generator.
도 2는 본 발명에 따른 내부 전원전압 발생기를 설명하기 위한 도면이다. 2 is a view for explaining an internal power supply voltage generator according to the present invention.
도 3은 도 2의 본 발명에 따른 내부 전원전압 발생기의 회로도이다. 3 is a circuit diagram of an internal power supply voltage generator according to the present invention of FIG. 2.
**도면의 주요부분에 대한 부호의 설명**** Description of the symbols for the main parts of the drawings **
101, 201: 차동 증폭기(Diff. Amp.-Differential Amplifier)101, 201: Diff.Amp.-Differential Amplifier
205, 207, 209, 211: 스위치205, 207, 209, 211: switch
311,313: 전송 게이트311,313: transfer gate
371, 373: P형 모스 트랜지스터(P-MOSFET)371, 373: P-type MOS transistor (P-MOSFET)
375, 377: N형 모스 트랜지스터(N-MOSFET)375, 377: N-type MOS transistor
본 발명은 내부 전원전압 발생기에 관한 것으로서, 특히 가변 입력 전압을 가지는 차동 증폭기를 이용한 내부 전원전압 발생기에 관한 것이다. The present invention relates to an internal power supply voltage generator, and more particularly, to an internal power supply voltage generator using a differential amplifier having a variable input voltage.
도 1은 종래의 내부 전원전압 발생기의 회로도이다. 1 is a circuit diagram of a conventional internal power supply voltage generator.
도 1을 참조하면, 종래의 내부 전원전압 발생기(100)는 차동 증폭기(Diff. Amp.-Differential Amplifier)(101), P형 모스 트랜지스터(103), 및 저항(R)을 구비한다. Referring to FIG. 1, a conventional internal power
차동 증폭기(101)는 입력단 일단 및 다른 일단으로 각각 기준 전압(V_REF) 및 내부 전압(V_INT)을 입력받고, 기준 전압(V_REF) 및 내부 전압(V_INT)의 차이를 증폭하여 제1 전압(V1)으로 출력한다. 차동 증폭기(101)는 입력되는 기준 전압(V_REF) 및 내부 전압(V_INT)의 값이 동일한 값을 가지면, 입력 전압들의 차이가 동일하여 동작하지 않는다. The
입력되는 기준 전압(V_INT)이 내부 전압(V_INT)보다 큰 값을 가지면, 출력되는 제1 전압(V1)이 논리 로우 레벨로 출력한다. 그러면, P형 모스 트랜지스터(103)가 턴 온 되고, 드라이버(110)로 전류가 흐르게 된다. 따라서, 출력되는 내부전압(V_INT) 값이 증가하게 된다. 내부 전압(V_INT)이 증가하여, 다시 기준 전압(V_INT)과 동일한 값을 가지면, 차동 증폭기(101)는 동작을 멈추게 된다. 상술한 바와 같이, 내부 전원 전압 발생기(100)는 일정한 값으로 고정된 기준 전압(V_REF)을 기준으로, 동일한 값의 내부 전압(V_INT)이 출력 되도록 하는 것이다. 여기서, 안정화된 최종 내부 전압(V_INT)값은 높은 전원 전압(V_EXT)에서 P형 모스 트랜지스터(103)에 드레인과 소스 사이에 걸리는 전압(Vgs)을 뺀 값이 될 수 있다. When the input reference voltage V_INT has a larger value than the internal voltage V_INT, the output first voltage V1 is output at a logic low level. As a result, the P-
여기서, 기준 전압(V_REF)은 목표값으로 안정화된 드라이버(110)의 출력 전 압인 내부 전압(V_INT)과 동일한 값으로 입력한다. 예를 들어, 사용자가, 출력하고자 하는 내부 전압(V_INT)의 목표값을 1.4V로 하였다면, 기준 전압(V_REF)는 1.4V로 입력하게 되는 것이다. Here, the reference voltage V_REF is input at the same value as the internal voltage V_INT which is the output voltage of the
P형 모스 트랜지스터(103)는 일단 및 다른 일단이 각각 높은 전원 전압(V_EXT) 및 제1 노드(N1)에 연결되고, 게이트 일단은 차동 증폭기(101)의 출력 단자와 연결된다. 따라서, 입력된 기준 전압(V_REF) 및 내부 전압(V_INT)을 차동 증폭하여 출력한 제1 전압(V1)의 제어를 받아서, P형 모스 트랜지스터(103)의 도통 여부가 결정되며, 출력 전압(V_INT)이 출력되는 것이다. One end and the other end of the P-
저항(R)은 P형 모스 트랜지스터(103)가 도통된 경우, P형 모스 트랜지스터(103)를 통하여 흐르는 전류의 양을 조절한다. 동일한 크기의 외부 전압(V_EXT)이 인가되는 경우, 저항(R) 값 커지면 드라이버에 드라이빙(driving)되는 전류 값이 감소하게 된다.The resistor R adjusts the amount of current flowing through the P-
여기서, 인가되는 기준 전압(V_REF)의 크기에 따라서, 차동 증폭기의 반응 시간(response time)과 드라이버의 드라이빙 용량(driving capacity)이 결정된다. 차동 증폭기의 반응 시간(response time)이란, 차동 증폭기 입력단으로 전압을 인가한 후, 드라이버으로 전압(V1)이 출력되기까지 걸리는 시간을 말한다. 드라이버의 드라이빙 용량(driving capacity)이란, 최종 출력되는 출력 전압(V_INT)이 출력되는 드라이버(110)를 통하여 구동되는 전류의 양을 말한다. 즉, 드라이빙 용량(driving capacity)이 크면, 큰 값을 가지는 전류가 드라이버로 흐르게 된다. Here, the response time of the differential amplifier and the driving capacity of the driver are determined according to the magnitude of the applied reference voltage V_REF. The response time of the differential amplifier refers to the time taken for the voltage V1 to be output to the driver after applying a voltage to the differential amplifier input terminal. The driving capacity of the driver refers to the amount of current driven through the
여기서, 인가되는 기준 전압(V_REF)의 크기가 증가하면, 차동 증폭기(Diff. Amp.)의 반응 시간이 빨라지고, 출력 단의 드라이빙 용량은 감소하게 된다. 그리고, 기준 전압(V_REF)의 크기가 작아지면, 차동 증폭기(Diff. Amp.)의 반응 시간은 느려지고, 출력 단의 드라이빙 용량이 커지게 된다.Herein, when the magnitude of the applied reference voltage V_REF increases, the response time of the differential amplifier Diff. Amp. Is increased, and the driving capacity of the output stage is reduced. When the magnitude of the reference voltage V_REF decreases, the response time of the differential amplifier Diff. Amp. Becomes slow and the driving capacity of the output stage becomes large.
종래의 내부 전원전압 발생기는 반도체 장치의 많은 영역에서 이용된다. 여기서, 반도체 장치에 이용되는 종래의 내부 전원전압 발생기는 차동 증폭기(Diff. Amp.)의 입력단으로 입력되는 내부 전압(V_INT)을 드라이버(110)에서 출력되는 제1 노드(N1)의 전압을 피드백(feedback)한 값으로 고정시켜 입력하였다. 또한, 기준 전압(V_REF) 역시 고정된 값으로 입력하였다. 레이아웃의 측면에서 보면, 전압은 금속 단자(metal line)를 통하여 인가되는데, 다른 크기의 전압을 인가하기 위해서는 별도의 금속 단자(metal line)를 구비하여야 하며, 별도의 전원 공급원이 필요하기 때문이다. Conventional internal power supply voltage generators are used in many areas of semiconductor devices. Here, the conventional internal power supply voltage generator used in the semiconductor device feeds back the voltage of the first node N1 output from the
반도체 장치, 예를 들어 DRAM에 있어서, 액티브 동작인 데이터의 기입 및 독출(Read 및 Wirte) 동작을 수행할 때에는 빨리 데이터가 기입 및 독출(Read 및 Wirte)되어야 하기 때문에, 반응 시간(response time)이 빨라질 것이 요구된다. 반면에, 저장된 데이터(커패시터에 충전된 전압)를 정기적으로 지우는 셀프 리프레쉬(Self refresh)동작의 경우에는, 한번에 많은 전류를 흘려야할 필요가 있으므로 드라이빙 용량(driving capacity)이 클 것이 요구된다. In a semiconductor device such as a DRAM, a response time is required because data must be written and read (read and written) quickly when performing a write and read (read and write) operation of data that is an active operation. It is required to be fast. On the other hand, in the case of a self refresh operation in which the stored data (voltage charged in the capacitor) is periodically erased, a large driving capacity is required because a large amount of current needs to flow at a time.
종래의 내부 전원전압 발생기는 차동 증폭기(Diff. Amp.)의 입력단으로 입력되는 기준 전압(V_REF) 및 내부 전압(V_INT)값을 고정된 값으로 사용하고 있으므로, 반도체 장치의 동작 변화(예를 들어, 데이터의 독출 동작을 하다 셀프 리프레 쉬 동작으로 진입하는 경우)에 유연히 대응하지 못하는 문제가 있다. In the conventional internal power supply voltage generator, since the reference voltage V_REF and the internal voltage V_INT input to the input terminal of the differential amplifier Diff. Amp. Are fixed values, an operation change of the semiconductor device (for example, For example, there is a problem in that it cannot flexibly cope with a case of entering data into a self refresh operation.
본 발명이 이루고자하는 기술적 과제는 변화하는 회로 동작에 맞춰 유연하게 동작할 수 있는 내부 전원전압 발생기를 제공하는데 있다. An object of the present invention is to provide an internal power supply voltage generator that can be flexibly operated in accordance with changing circuit operation.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 내부 전원전압 발생기는 차동 증폭기, 드라이버, 및 제1 스위칭부를 구비한다.An internal power supply voltage generator according to an embodiment of the present invention for achieving the above technical problem includes a differential amplifier, a driver, and a first switching unit.
드라이버는 제1 전압에 응답하여 내부 전압을 드라이빙한다. The driver drives the internal voltage in response to the first voltage.
제1 스위칭부는 반도체 장치의 동작 모드 변화에 따라 입력되는 제1 또는 제2 스위칭 신호에 응답하여, 내부 전압 또는 분배된 내부 전압 중 택일하여 제1 내부 전압으로 출력한다. In response to a first or second switching signal input according to a change in an operation mode of the semiconductor device, the first switching unit selects either an internal voltage or a divided internal voltage and outputs the first internal voltage.
제2 스위칭부는 제1 또는 상기 제2 스위칭 신호에 응답하여, 기준 전압 또는 분배된 기준 전압 중 택일하여 제1 기준 전압으로 출력한다.In response to the first or the second switching signal, the second switching unit alternately outputs the reference voltage or the divided reference voltage as the first reference voltage.
차동 증폭기는 제1 내부 전압 및 제1 기준 전압을 차동 증폭하여 제1 전압을 출력한다. The differential amplifier differentially amplifies the first internal voltage and the first reference voltage to output the first voltage.
여기서, 제1 및 제2 스위칭 신호는 사용자가 선택하여 입력하는 신호가 된다. 그리고, 내부 전압이 제1 내부 전압으로 입력되는 경우, 제1 기준 전압은 내부 전압과 동일한 값을 가지며, 분배된 내부 전압이 제1 내부 전압으로 입력되는 경우, 제1 기준 전압은 분배된 내부 전압과 동일한 값으로 입력된다.Here, the first and second switching signals are signals that the user selects and inputs. When the internal voltage is input as the first internal voltage, the first reference voltage has the same value as the internal voltage, and when the divided internal voltage is input as the first internal voltage, the first reference voltage is the divided internal voltage. It is entered with the same value as.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 도면에 기재된 내용을 참조하여야 한다. DETAILED DESCRIPTION In order to fully understand the present invention, the operational advantages of the present invention, and the objects achieved by the practice of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings which illustrate preferred embodiments of the present invention and the contents described in the drawings.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference numerals in the drawings denote like elements.
도 2는 본 발명에 따른 내부 전원전압 발생기를 설명하기 위한 도면이다. 2 is a view for explaining an internal power supply voltage generator according to the present invention.
도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 내부 전원전압 발생기(200)에 구비되는 차동 증폭기(201)는 가변적인 제1 기준 전압(V_REF1) 및 제1 내부 전압(V_INT1)을 입력단자로 입력받는다. 여기서, 기준 전압 V1_REF은 기준전압 V2_REF보다 큰 값을 가지며, 내부 전압 V_INT1은 내부 전압 V2_INT보다 큰 값을 가진다고 한다. 그리고, 스위치 S1 및 S3은 제1 스위칭 신호(A)가 논리 하이로 인가되면 턴 온 되고, 스위치 S2 및 S4는 제2 스위칭 신호(B)가 논리 하이로 인가되면 턴 온 된다고 한다. Referring to FIG. 2, the
제1 기준 전압(V_REF1)은, 입력되는 내부 전압 V1_INT 또는 내부 전압 V2_INT중 어느 것이 제1 내부 전압(V_INT1)으로 선택되느냐에 따라서, 기준 전압 V1_REF 또는 기준 전압 V2_REF중 고정된 값으로 선택 입력되게 된다. 사용자가 의도한 목표값으로 안정화된 내부 전압(V_INT)과 동일한 값을 기준 전압(V_INT)으로 입력하는 것이다. 즉, 목표하는 내부 전압 V1_INT이 2V 또는 목표하는 내부 전압 V2_INT가 1V라면, 기준 전압 V1_REF과 기준 전압 V2_REF는 각각 2V와 1V가 된다. 아래에서 설명하는 제1 스위칭부(240)의 전압 분배율이 1/2이라 2V로 출력된 내부 전압(V_INT)이 1V로 전압 분배되어 차동 증폭기(201)의 입력단으로 입력되었다면, 원래의 2V로 입력되었던 기준 전압 V1_REF도 1/2로 전압 분배하여 1V값의 기준 전압 V2_REF로 입력하게 되는 것이다. 즉, 사용자는 제1 스위칭부(240)의 전압 분배율에 따라서 변화된 기준 전압(V_REF)을 고정 입력한다. The first reference voltage V_REF1 is selected and input as a fixed value among the reference voltage V1_REF or the reference voltage V2_REF according to which one of the input internal voltage V1_INT or the internal voltage V2_INT is selected as the first internal voltage V_INT1. . The user inputs a value equal to the internal voltage V_INT stabilized to the intended target value as the reference voltage V_INT. That is, when the target internal voltage V1_INT is 2V or the target internal voltage V2_INT is 1V, the reference voltage V1_REF and the reference voltage V2_REF become 2V and 1V, respectively. If the voltage distribution ratio of the
반도체 장치의 동작 상태에 따라서, 반응 시간(response time)이 짧아야 하는 동작에 있어서는 스위치 S1과 S3이 턴 온 되도록 제1 스위칭 신호(A)를 논리 하이로 인가한다. 높은 기준 전압 V1_REF 및 높은 내부 전압 V1_INT이 입력되면, 차동 증폭기(201)의 반응 시간은 빨라지게 된다. 그리고, 차동 증폭기(201)의 출력 전압 V1은 높은 레벨로 출력되며, 따라서 드라이버(290)의 P형 모스 트랜지스터(Mp_1)에는 감소된 전류가 흐르게 된다. 따라서, 드라이빙 용량(driving capacity)은 감소하게 된다. 높은 기준 전압 V1_REF 및 높은 내부 전압 V1_INT이 입력이 인가되도록 스위치 S1 및 S3를 턴 온 시키는 경우는, 반응 시간(response time)이 짧아야 하는 동작 모드, 예를 들어 데이터의 기입 또는 독출 동작에서 이용된다. According to an operation state of the semiconductor device, in an operation in which a response time should be short, the first switching signal A is applied to logic high so that the switches S1 and S3 are turned on. When the high reference voltage V1_REF and the high internal voltage V1_INT are input, the response time of the
드라이빙 용량(driving capacity)이 커야하는 동작에 있어서는 스위치 S2와 S4가 턴 온 되도록 제2 스위칭 신호(B)를 논리 하이로 인가한다. 낮은 기준 전압(V_REF) 및 낮은 내부 전압(V_INT)이 입력되면, 차동 증폭기(201)의 반응 시간은 느려지고, 차동 증폭기에서 출력되는 제1 전압(V1)의 전압 레벨은 낮아지게 된다. 따라서, P형 모스 트랜지스터(Mp_1)를 통하여 흐르는 전류는 증가하게 된다. 드라이버(290)의 드라이빙 용량(driving capacity)은 증가하게 되는 것이다. 제2 스위 칭 신호(B)를 논리 하이로 인가하야 스위치 S2 및 S4를 턴 온 시키는 경우는 드라이빙 용량(driving capacity)이 커야 하는 동작 모드, 예를 들어 셀프 리프레쉬(Self Refresh)와 같은 동작에서 이용된다. In an operation in which a driving capacity must be large, the second switching signal B is applied to logic high so that the switches S2 and S4 are turned on. When the low reference voltage V_REF and the low internal voltage V_INT are input, the response time of the
여기서, 제1 또는 제2 전송신호(A, B)를 논리 하이로 인가하는 것은 사용자의 선택에 의한다. 사용자가 짧은 반응 시간(response time)을 요구하는 동작을 수행하고자 하면, 제1 스위칭 신호(A)를 논리 하이로 인가하고, 사용자가 큰 드라이빙 용량(driving capacity)을 요구하는 동작을 수행하고자 하면, 제2 스위칭 신호(B)를 논리 하이로 인가하는 것이다. Here, applying the first or second transmission signals A and B to logic high is at the user's choice. If the user wants to perform an operation requiring a short response time, and if the user applies the first switching signal A to logic high, and the user wants to perform an operation requiring a large driving capacity, The second switching signal B is applied to logic high.
도 3은 도 2의 본 발명에 따른 내부 전원전압 발생기의 회로도이다. 3 is a circuit diagram of an internal power supply voltage generator according to the present invention of FIG. 2.
도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 내부 전원전압 발생기(200)는 차동 증폭기(201), 제2 스위칭부(210), 제1 스위칭부(240), 및 드라이버(290)를 구비한다. Referring to FIG. 3, the internal power
차동 증폭기(201)는 제1 기준 전압(V1_REF) 및 제1 내부 전압(V1_INT)을 입력받고, 이를 차동 증폭하여 제1 전압(V1)을 출력한다. The
차동 증폭기(201)는 제1 및 제2 P형 모스 트랜지스터(M1, M2), 제3 및 제4 N형 모스 트랜지스터(M3, M4), 및 제8 N형 모스 트랜지스터(M8)를 구비한다. 제1 모스 트랜지스터(M1)는 소스 및 드레인이 각각 높은 전원 전압(V_EXT) 및 제9 노드(N9)에 연결되고, 게이트는 제2 P형 모스 트랜지스터(M2)의 게이트 단자와 공통 접속된다. 제2 P형 모스 트랜지스터(M2)는 소스 및 드레인이 각각 높은 전원 전압(V_EXT) 및 제10 노드(N10)에 연결된다. 제3 N형 모스 트랜지스터(M3)는 드레인 및 소스가 각각 제9 노드(N9) 및 제11 노드(N11)에 연결되고, 게이트는 제1 노드(N1)에 연결된다. 제4 N형 모스 트랜지스터(M4)는 드레인 및 소스가 각각 제10 노드(N10) 및 제11 노드(N11)에 연결되고, 게이트는 제2 노드(N2)에 연결된다. 제8 N형 모스 트랜지스터(M8)는 드레인 및 소스가 각각 제11 노드(N11) 및 낮은 전원 전압(V_GND)에 연결되고, 게이트는 제3 N형 모스 트랜지스터의 게이트와 공통 접속된다. The
여기서, 제1 및 제2 P형 모스 트랜지스터(M1, M2)는 커런트 미러(Current Mirror)를 형성한다. 제1 노드(N1)에 제1 기준 전압(V1_REF)이 인가되면 제1 전류(I1)가 발생하고, 이를 미러링(Mirroring)하여 제2 전류(I2)를 발생시킨다. 제3 및 제4 N형 모스 트랜지스터(M3, M4)는 대칭적으로 배치되고, 각각의 게이트 단자를 통하여 인가된 제1 기준 전압(V1_REF) 및 제1 내부 전압(V_INT)의 차이를 차동 증폭하여 출력하는 차동 증폭부를 구성한다. 제8 N형 모스 트랜지스터(M8)는 제1 및 제2 전류(I1, I2)의 전류량을 조절하는 기능을 한다. 제8 N형 모스 트랜지스터(M8)의 도통되는 정도에 따라서 제1 및 제2 전류(I1, I2)가 접지단(Ground)으로 빠져나가게 되는 정도가 결정되는 것이다. Here, the first and second P-type MOS transistors M1 and M2 form a current mirror. When the first reference voltage V1_REF is applied to the first node N1, the first current I1 is generated and mirrored to generate the second current I2. The third and fourth N-type MOS transistors M3 and M4 are symmetrically disposed and differentially amplify the difference between the first reference voltage V1_REF and the first internal voltage V_INT applied through the respective gate terminals. Configure the differential amplifier to output. The eighth N-type MOS transistor M8 functions to adjust the amount of current of the first and second currents I1 and I2. According to the degree of conduction of the eighth N-type MOS transistor M8, the degree to which the first and second currents I1 and I2 exit to the ground is determined.
제1 스위칭부(240)는 드라이버(290)에서 출력되는 내부 전압(V_INT)을 입력받고, 직렬 연결된 2개 이상의 저항(R3, R4)을 이용하여 내부 전압(V_INT)을 분배한다. 그리고, 사용자가 선택하여 입력하는 제1 또는 제2 스위칭 신호(A,B)에 응답하여, 내부 전압(V_INT) 또는 분배된 내부 전압(V_INT)을 택일하여 차동 증폭기(201)의 입력단인 제2 노드(N2)로 출력한다. The
제1 스위칭부(240)는 제3 저항(R3), 제4 저항(R4), 제3 전송 게이트(341), 제4 전송 게이트(343), 및 제6 N형 모스 트랜지스터(M6)를 구비한다. 제3 전송 게이트(341)는 제2 노드(N2)와 제4 노드(N4) 사이에 연결된다. 제3 저항(R3) 및 제4 전송 게이트(343)는 직렬 연결되어, 제4 노드(N4)와 제8 노드(N8) 사이에 연결된다. 제4 저항(R4)의 양단은 각각 제8 노드(N8)와 제6 N형 모스 트랜지스터(M6)의 드레인과 연결되다. 제6 N형 모스 트랜지스터(M6)는 드레인 및 소스는 각각 제4 저항(R4)의 일단 및 낮은 전 원 전압(V_GND)에 연결되고, 게이트는 제2 스위칭 신호(B)를 입력받는다. The
제1 스위칭 신호(A)가 논리 하이로 입력되고 제2 전송신호(B)가 논리 로우로 입력되면, 제3 전송 게이트(341)가 도통되고, 제4 전송 게이트(343) 및 제6 N형 모스 트랜지스터(M6)는 턴 오프된다. 따라서, 분배되지 않은 높은 레벨의 전원인 내부 전압(V_INT)이 제2 노드(N2)로 입력된다. When the first switching signal A is input to logic high and the second transmission signal B is input to logic low, the
제1 스위칭 신호(A)가 논리 로우로 입력되고 제2 전송신호(B)가 논리 하이로 입력되면, 제3 전송 게이트(341)는 턴 오프되고, 제4 전송 게이트(343) 및 제6 N형 모스 트랜지스터(M6)는 도통된다. 따라서, 분배되어 낮은 전압 레벨을 갖는 분배된 내부 전압(V_INT)이 제2 노드(N2)로 입력된다. 여기서, 저항 값 R3, R4는 사용자가 얻고자 하는 분배된 내부 전압(V_INT)에 따라 정해진다. 전압이 분배되는 원리는 전단의 제2 스위칭부(210) 부분의 설명과 동일하다. When the first switching signal A is input to the logic low and the second transmission signal B is input to the logic high, the
도 2에서 설명한 바와 같이 제1 스위칭부(240)의 전압 분배율과 동일한 비율로 최초 기준 전압(V_REF)을 분배하여, 제1 기준 전압(V1_REF)으로 입력하기 위하 여 제2 스위칭부(210)를 더 구비할 수 있다. As described above with reference to FIG. 2, the
제2 스위칭부(210)는 기준 전압(V_REF)을 입력받고, 직렬 연결된 2개 이상의 저항을 이용하여 기준 전압(V_REF)을 분배한다. 그리고, 사용자가 선택하여 입력하는 제1 또는 제2 전송신호(A, B)에 응답하여, 기준 전압(V_REF) 또는 분배된 기준 전압(V_INT)을 택일하여 차동 증폭기(201)의 입력단인 제1 노드(N1)로 출력한다. The
제2 스위칭부(210)는 제1 저항(R1), 제2 저항(R2), 제1 전송 게이트(311), 제2 전송 게이트(315), 및 제5 N형 모스 트랜지스터(M5)를 구비한다. 제1 전송 게이트(311)는 제5 노드(N5)와 제1 노드(N1) 사이에 연결된다. 제1 저항(R1) 및 제2 전송 게이트(313)는 제1 제5 노드(N5)와 제6 노드(N6) 사이에 연결되고, 제1 저항(R)의 일단과 제2 전송 게이트(313)의 일단이 직렬 연결된다. 도 3에서는 제1 저항이 상부에 연결되어 있도록 도시하였으나, 제1 저항(R1)과 제2 전송 게이트(313)의 연결에 있어서 그 상하는 바뀔 수 있다. 제2 저항(R2)은 일단 및 다른 일단이 각각 제6 노드(N6)와 제5 N형 모스 트랜지스터(N5)의 일단과 연결된다. 제5 N형 모스 트랜지스터(N5)는 드레인 소스가 각각 제2 저항(R2)의 일단 및 낮은 전원 전압(V_GND)에 연결되고, 게이트는 제2 스위칭 신호(B)와 연결된다. The
제1 스위칭 신호(A)가 논리 하이로 입력되고, 제2 스위칭 신호(B)가 논리 로우로 입력되면, 제1 전송 게이트(311)는 도통되고, 제2 전송 게이트(313) 및 제5 N형 모스 트랜지스터(M5)는 턴 오프된다. 따라서, 분배되지 않은 높은 레벨의 전원인 기준 전압(V_REF)이 제1 노드로 입력된다. When the first switching signal A is input to logic high and the second switching signal B is input to logic low, the
제2 스위칭 신호(B)가 논리 하이로 입력되고, 제1 스위칭 신호(A)가 논리 로 우로 입력되면, 제1 전송 게이트(311)는 턴 오프되고, 제2 전송 게이트(313) 및 제5 N형 모스 트랜지스터(M5)가 도통된다. 따라서, 분배되어 낮은 전압 레벨을 갖는 분배된 기준 전압이 제1 노드(N1)로 입력된다. When the second switching signal B is input to logic high and the first switching signal A is input to logic low, the
여기서, 저항 값 R1과 R2의 비는 저항 값 R3과 R4의 비와 같다. 드라이버(290)에서 출력되는 내부 전압(V_INT)을 1/2로 분배하여 제2 노드(N2)로 입력하고자 하면, 저항 R3와 R4의 비를 1:1로 설정하게 된다. 따라서, 저항 R1과 R2의 비는 1:1로 하면 된다. 전압 분배의 원리는 저항들이 직렬 연결된 전압분배기의 원리와 동일하다. Here, the ratio of the resistance values R1 and R2 is equal to the ratio of the resistance values R3 and R4. When the internal voltage V_INT output from the
드라이버(290)는 차동 증폭기(201)의 출력 전압 V1에 응답하여, 내부 전압(V_INT)을 출력한다. 드라이버(290)는 제7 P형 모스 트랜지스터(M7)로 구성되며, 제7 P형 모스 트랜지스터(M7)를 통하여 출력 전류(Iout)가 흐르게 된다. 제7 P형 모스 트랜지스터(M7)는 게이트 단자가 제9 노드(N9)와 연결되고, 일단 및 다른 일단이 각각 높은 전원 전압(V_EXT) 및 제4 노드(N4)와 연결된다. The
회로의 동작은 높은 전압 레벨인 기준 전압(V_REF) 및 내부 전압(V_INT)이 각각 차동 증폭기(201)에 입력되는 경우(이하 '제1 모드')와, 분배되어 낮은 전압 레벨을 갖는 분배된 기준 전압(V_REF) 및 분배된 내부 전압(V_INT)이 각각 차동 증폭기(201)에 입력되는 경우(이하 '제2 모드')로 나누어 아래에서 상술한다. 여기서 설명의 편의상, 분배된 기준 전압(V_REF)은 기준 전압(V_REF)의 1/2값을 갖도록, 제1 저항(R1) 및 제2 저항(R2)이 동일한 값을 갖도록 설정하여 설명한다. 그리고, 분배된 내부 전압(V_INT)은 내부 전압(V_INT)의 1/2값을 갖도록, 제3 저항(R3) 및 제4 저항(R4)이 동일한 값을 갖도록 설정하여 설명한다. The operation of the circuit is divided into a distributed reference having a divided low voltage level when the reference voltage V_REF and the internal voltage V_INT, which are high voltage levels, are respectively input to the differential amplifier 201 (hereinafter 'first mode'). When the voltage V_REF and the divided internal voltage V_INT are respectively input to the differential amplifier 201 (hereinafter referred to as 'second mode'), they will be described in detail below. For convenience of description, the divided reference voltage V_REF is set to have the same value as the first resistor R1 and the second resistor R2 so that the divided reference voltage V_REF has a half value of the reference voltage V_REF. The divided internal voltage V_INT is set so that the third resistor R3 and the fourth resistor R4 have the same value so that the divided internal voltage V_INT has a half value of the internal voltage V_INT.
제1 모드에서 동작하는 경우, 사용자는 제1 스위칭 신호(A)를 논리 하이로, 제2 스위칭 신호(B)를 논리 로우로 하여, 제1 내지 제2 전송 게이트(311, 313, 341, 343)로 전송한다. 그러면, 제1 전송 게이트(311) 및 제3 전송 게이트(341)가 도통된다. 그리고, 제2 전송 게이트(313), 제4 전송 게이트(343), 제5 N형 모스 트랜지스터(M5), 및 제6 N형 모스 트랜지스터(M6)는 턴 오프 된다. When operating in the first mode, the user sets the first switching signal A to a logic high and the second switching signal B to a logic low, so that the first to
제1 모드에서, 기준 전압(V_REF) 및 내부 전압(V_INT)이 차동 증폭기(201)의 입력단 양단으로 각각 입력된다. 분배되지 않은 기준 전압(V_REF)은 분배된 전압보다 상대적으로 높은 전압 레벨을 갖기 때문에, 제3 N형 모스 트랜지스터는 분배된 기준 전압(V_REF)을 제1 노드로 입력하는 경우보다, 상대적으로 큰 전류 제1 전류(I1)를 흘리게 된다. 제1 전류(I1)의 값이 큰 값을 가지면 제9 노드(N9)의 전압이 더 큰 값으로, 더 빨리 출력될 수 있다. 따라서, 차동 증폭기(201)의 반응 시간(response time)은 빨라지게 된다. 제7 P형 모스 트랜지스터(M7)의 게이트로 인가되는 전압인 제1 전압(V1) 레벨이 큰 값을 갖게 되면, 제7 P형 모스 트랜지스터(M7)는 감소된 출력 전류(Iout)을 흘리게 된다. 따라서, 드라이버의 드라이빙 용량(Driving Capacitor)은 감소하게 된다. In the first mode, the reference voltage V_REF and the internal voltage V_INT are input across the input terminals of the
제2 모드에서는, 분배된 기준 전압(0.5V_REF) 및 분배된 내부 전압(0.5V_REF)이 차동 증폭기(201)의 입력단 양단으로 각각 입력된다. In the second mode, the divided reference voltage 0.5V_REF and the distributed internal voltage 0.5V_REF are input across the input terminals of the
분배된 기준 전압(0.5V_REF)이 제3 N형 모스 트랜지스터(M3) 게이트로 입력되면, 기준 전압(V_REF)이 입력될 때보다, 제3 N형 모스 트랜지스터(M3)는 상대적 으로 적은 제1 전류(I1)를 흘리게 된다. 제1 전류(I1) 제9 노드(N9)의 전압(V1)은 더 작은 값으로, 더 느리게 출력된다. 따라서, 차동 증폭기(201)의 반응 시간(response time)은 느려지게 된다. 제7 P형 모스 트랜지스터(M7)의 게이트로 인가되는 전압인 제1 전압(V1)이 작은 값을 갖게 되면, 제7 P형 모스 트랜지스터(M7)는 증가된 출력 전압(Iout)을 흘리게 된다. 따라서, 드라이버의 드라이빙 용량(Driving Capacitor)은 증가하게 된다.When the divided reference voltage 0.5V_REF is input to the gate of the third N-type MOS transistor M3, the third N-type MOS transistor M3 has a relatively small first current than when the reference voltage V_REF is input. (I1) will flow. The voltage V1 of the ninth node N9 of the first current I1 is smaller and is output more slowly. Thus, the response time of the
이상에서와 같이 도면과 명세서에서 최적 실시예가 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다. As described above, optimal embodiments have been disclosed in the drawings and the specification. Although specific terms have been used herein, these terms are only used for the purpose of describing the present invention and are not intended to limit the scope of the present invention as defined in the claims or the claims. Therefore, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 내부 전원전압 발생기는 사용되는 차동 증폭기의 내부 전압이 가변되도록 함으로써, 차등 증폭기의 반응 시간 및 내부 전원전압 발생기 드라이버의 드라이빙 용량 등을 변화하는 회로 동작에 맞춰 유연하게 변화시킬 수 있는 장점이 있다. As described above, the internal power supply voltage generator according to the present invention allows the internal voltage of the differential amplifier to be used to be varied, thereby flexibly changing the response time of the differential amplifier and the driving capacity of the internal power supply generator to vary the circuit operation. There is an advantage to this.
Claims (13)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020060084133A KR20080021250A (en) | 2006-09-01 | 2006-09-01 | Dc generator using differential amplifier having variable input voltages |
Applications Claiming Priority (1)
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KR1020060084133A KR20080021250A (en) | 2006-09-01 | 2006-09-01 | Dc generator using differential amplifier having variable input voltages |
Publications (1)
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KR20080021250A true KR20080021250A (en) | 2008-03-07 |
Family
ID=39395782
Family Applications (1)
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KR1020060084133A KR20080021250A (en) | 2006-09-01 | 2006-09-01 | Dc generator using differential amplifier having variable input voltages |
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2006
- 2006-09-01 KR KR1020060084133A patent/KR20080021250A/en not_active Application Discontinuation
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Legal Events
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WITN | Withdrawal due to no request for examination |