KR20080002567A - Lcd panel and identification mark forming method thereof - Google Patents

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Abstract

An LCD(Liquid Crystal Display) panel and an ID mark forming method thereof are provided to form a glass ID mark on a first layer formed on the glass substrate and form a panel ID mark on a second layer formed on the glass substrate, thereby reducing the generation of a position separation defect of the ID mark and reducing the number of reproduction processes. An ID(Identification) mark forming method for an LCD panel comprises the following steps of: providing a glass substrate(S10); forming a gate layer on the surface of the glass substrate(S20); forming a glass ID mark(S30); forming separately mask align keys at each edge of the glass substrate(S40); recognizing coordinates by using the mask align keys(S50); and forming a panel ID mark(S60).

Description

액정디스플레이패널 및 그의 아이디 마크 형성방법{LCD PANEL AND IDENTIFICATION MARK FORMING METHOD THEREOF}LCD PANEL AND IDENTIFICATION MARK FORMING METHOD THEREOF}

도 1은 종래의 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법에 의해 형성된 아이디 마크를 도시한 도면, 1 is a view showing an ID mark formed by an ID mark forming method of a conventional liquid crystal display panel;

도 2는 도 1의 패널 아이디 마크를 확대 도시한 도면,2 is an enlarged view of a panel ID mark of FIG. 1;

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법을 도시한 도면, 3 is a view showing an ID mark forming method of a liquid crystal display panel according to an embodiment of the present invention;

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정디스플레이패널의 글라스 아이디 마크 및 패널 아이디 마크의 형성과정을 도시한 도면이다.4 is a view illustrating a process of forming a glass ID mark and a panel ID mark of a liquid crystal display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

111 : 글라스 기판 117 : 마스크 얼라인 키111: glass substrate 117: mask alignment key

121 : 패널 122 : 표시영역121: panel 122: display area

123 : 패드영역 125 : 설정위치123: Pad Area 125: Setting Position

131 : 글라스 아이디 마크 132 : 패널 아이디 마크131: glass ID mark 132: panel ID mark

본 발명은, 액정디스플레이패널 및 그의 아이디 마크 형성방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 아이디 마크가 설정 위치에 정확하게 형성되도록 함으로써 아이디 마크의 위치 이탈에 기인한 불량 발생 및 재작업을 줄일 수 있도록 한 액정디스플레이패널 및 그의 아이디 마크 형성방법에 관한 것이다. The present invention relates to a liquid crystal display panel and a method of forming an ID mark thereof, and more particularly, to reduce the occurrence of defects and rework due to the positional deviation of the ID mark by allowing the ID mark to be accurately formed at the set position. A liquid crystal display panel and a method of forming an ID mark thereof are provided.

주지된 바와 같이, 액정표시장치 또는 액정디스플레이(LCD:이하 액정디스플레이라고 표기함)는 투명 전극이 형성된 두 글라스 기판 사이에 액정층을 개재하는 액정 셀 공정에 의해 제작된다. 이 액정 셀 공정은 액정 분자의 배향을 위한 배향막 형성공정과, 셀 갭(cell gap) 형성공정, 액정주입공정, 셀 컷팅(cell cutting) 공정 및 검사 공정으로 크게 구분된다. 이러한 일련의 액정 셀 공정은 자동화되어 있으며, 각 공정의 효율을 제고하기 위해 각 액정디스플레이 패널에는 타이틀러(titler)라고 하는 장비를 이용하여 고유의 아이디 마크가 형성된다.As is well known, a liquid crystal display device or liquid crystal display (hereinafter referred to as liquid crystal display) is manufactured by a liquid crystal cell process interposing a liquid crystal layer between two glass substrates on which transparent electrodes are formed. The liquid crystal cell process is roughly divided into an alignment film forming process for alignment of liquid crystal molecules, a cell gap forming process, a liquid crystal injection process, a cell cutting process, and an inspection process. This series of liquid crystal cell processes is automated, and a unique ID mark is formed on each liquid crystal display panel by using a device called a titler to improve the efficiency of each process.

도 1은 종래의 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법에 의해 형성된 아이디 마크를 도시한 도면이고, 도 2는 도 1의 패널 아이디 마크를 확대 도시한 도면이다. 이들 도면에 도시된 바와 같이, 액정디스플레이패널의 하부 기판은 복수의 하부 기판(21)이 동시에 형성될 수 있는 큰 크기의 글라스 기판(bear glass)(11)을 이용하여 형성된다. 상기 글라스 기판(11)의 표면에는 복수의 각 패널의 하부 기판(이하, 패널이라고 표기함)(21)의 게이트(gate) 라인 형성을 위해 게이트 공정을 거치면서 게이트 레이어(layer)가 형성된다. FIG. 1 is a view showing an ID mark formed by a conventional ID mark forming method of a liquid crystal display panel, and FIG. 2 is an enlarged view of a panel ID mark of FIG. 1. As shown in these figures, the lower substrate of the liquid crystal display panel is formed by using a large size glass glass (bear glass) 11 in which a plurality of lower substrates 21 can be formed at the same time. A gate layer is formed on the surface of the glass substrate 11 through a gate process to form a gate line of a lower substrate (hereinafter, referred to as a panel) 21 of each panel.

한편, 종래의 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법에 따르면, 글라스 기판(11)의 표면에 형성된 게이트 레이어의 외각 일 영역에는 생산 관련 정보의 기 록 등을 위해 글라스 아이디 마크(31)가 형성되며, 각 패널(21)의 표시 영역(active area)(22)을 제외한 패드(pad) 영역(23)에는 각 패널(21)의 패널 아이디 마크(32)가 형성된다. 여기서, 글라스 아이디 마크(31) 및 패널 아이디 마크(32)는 통상 숫자와 문자의 조합으로 구성되며 타이틀러(미도시)를 이용하여 동시에 형성된다. On the other hand, according to the conventional ID mark forming method of the liquid crystal display panel, a glass ID mark 31 is formed in the outer region of the gate layer formed on the surface of the glass substrate 11 for recording production related information. The panel ID mark 32 of each panel 21 is formed in the pad area 23 except for the active area 22 of each panel 21. Here, the glass ID mark 31 and the panel ID mark 32 are usually composed of a combination of numbers and letters, and are simultaneously formed using a titler (not shown).

그런데, 이러한 종래의 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법에 있어서는, 게이트 공정에서 마스크 얼라인 키(mask align key)(17)가 형성되지 아니한 상태에서 타이틀러를 이용하여 글라스 아이디 마크(31) 및 패널 아이디 마크(32)를 동시에 형성하도록 하고 있어, 각 패널(21)의 패널 아이디 마크(32)가 해당 패널(21)의 패드 영역(23)에 형성되는 설정위치(25)를 도 2에 도시된 바와 같이, 이탈하게 되어 불량이 발생할 뿐만 아니라, 불량을 처리하기 위한 재작업을 하게 되어 많은 시간 및 비용이 소요된다고 하는 문제점이 있다. By the way, in the conventional ID mark forming method of the liquid crystal display panel, the glass ID mark 31 and the panel using the titler in a state in which the mask alignment key 17 is not formed in the gate process. The ID mark 32 is formed at the same time, and the setting position 25 in which the panel ID mark 32 of each panel 21 is formed in the pad area 23 of the panel 21 is shown in FIG. As described above, there is a problem that not only defects occur, but also reworking to deal with defects takes a lot of time and cost.

따라서, 본 발명의 목적은, 아이디 마크가 설정 위치에 정확하게 형성되도록 함으로써 아이디 마크의 위치 이탈에 기인한 불량 발생 및 재작업을 줄일 수 있는 액정디스플레이패널 및 그의 아이디 마크 형성방법을 제공하는 것이다. Accordingly, it is an object of the present invention to provide a liquid crystal display panel and an ID mark forming method thereof, by which an ID mark is accurately formed at a set position, thereby reducing defects and rework caused by deviation of the ID mark.

상기 목적은, 본 발명에 따라, 글라스 기판에 형성된 제1레이어에 글라스 아이디 마크를 형성하는 단계와; 상기 글라스 기판에 형성된 제2레이어에 패널 아이디 마크를 형성하는 단계를 포함하는 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법 에 의해 달성된다.The object is, according to the present invention, forming a glass ID mark on the first layer formed on the glass substrate; It is achieved by the ID mark forming method of the liquid crystal display panel comprising the step of forming a panel ID mark on the second layer formed on the glass substrate.

이는 글라스 아이디 마크 및 패널 아이디 마크를 서로 다른 레이어에 형성함으로써 글라스 기판의 대형화와 각 패널의 패드 영역의 슬림화에 따른 아이디 마크의 위치 이탈 불량 발생 및 재작업 시간이 증가하는 것을 방지하기 위한 것이다.This is because the glass ID mark and the panel ID mark are formed on different layers to prevent the occurrence of defects in positional deviation of the ID mark and rework time due to the enlargement of the glass substrate and the slimming of the pad area of each panel.

여기서, 글라스 아이디 마크는 글라스 기판의 각 패널이 형성되는 영역을 제외한 제1레이어(예를 들면 게이트 레이어)의 일 영역에 형성하고, 패널 아이디 마크는 게이트 공정의 후속 공정인 소오스/드레인 공정에서 제2레이어(예를 들면, 소오스/드레인 레이어)의 각 패널의 표시 영역을 제외한 패드 영역에 형성되도록 하는 것이 액정디스플레이패널의 제조 공정 초기부터 생산관련정보를 관리할 수 있어 바람직하다. 이 때, 패널 아이디 마크는 게이트 공정에서 형성된 마스크 얼라인 키를 기준으로 좌표를 인식한 후 형성하는 것이 패널 아이디 마크 형성시 정확한 위치에 패널 아이디 마크의 형성이 가능하여 패널 아이디 마크의 위치 이탈 불량이 발생되는 것을 방지할 수 있다.Here, the glass ID mark is formed in one region of the first layer (for example, the gate layer) except for the region where each panel of the glass substrate is formed, and the panel ID mark is formed in the source / drain process, which is a subsequent process of the gate process. It is preferable to form the pad region except for the display region of each panel of two layers (for example, source / drain layers) since the production related information can be managed from the beginning of the manufacturing process of the liquid crystal display panel. At this time, the panel ID mark is formed after the coordinates are recognized on the basis of the mask alignment key formed in the gate process, so that the panel ID mark can be formed at the correct position when the panel ID mark is formed. Can be prevented from occurring.

한편, 본 발명에 따르면, 글라스 기판의 게이트 레이어의 일 영역에 글라스 아이디 마크를 형성하는 단계와; 상기 글라스 기판의 소스/드레인 레이어에 마스크 얼라인 키를 기준으로 패널 아이디 마크를 형성하는 단계를 포함하는 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법이 제공된다. On the other hand, according to the present invention, forming a glass ID mark in one region of the gate layer of the glass substrate; A method of forming an ID mark of a liquid crystal display panel is provided, the method including forming a panel ID mark on a source / drain layer of the glass substrate based on a mask alignment key.

또한, 본 발명에 따르면, 글라스 기판과; 상기 글라스 기판상에 형성되는 게이트 레이어 이후에 형성되는 상기 게이트 레이어와 다른 레이어에 형성되는 패널 아이디 마크를 포함하는 액정디스플레이패널이 제공된다. In addition, according to the present invention, a glass substrate; A liquid crystal display panel is provided that includes a panel ID mark formed on a layer different from the gate layer formed after the gate layer formed on the glass substrate.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the present invention.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법을 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정디스플레이패널의 글라스 아이디 마크 및 패널 아이디 마크(132)의 형성과정을 도시한 도면이다. 이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법은, 글라스 기판(111)에 형성된 제1레이어에 글라스 아이디 마크(131)를 형성하는 단계(S30)와; 상기 글라스 기판(111)에 형성된 제2레이어에 패널 아이디 마크(132)를 형성하는 단계(S60)를 포함하여 구성된다.3 is a view illustrating a method of forming an ID mark of a liquid crystal display panel according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a glass ID mark and a panel ID mark 132 of a liquid crystal display panel according to an embodiment of the present invention. Is a diagram illustrating a formation process of a. As shown in these figures, the ID mark forming method of the liquid crystal display panel includes: forming a glass ID mark 131 on the first layer formed on the glass substrate 111 (S30); And forming a panel ID mark 132 on the second layer formed on the glass substrate 111 (S60).

게이트 공정에서는 복수의 패널의 기판(이하, 패널이라고 표기함)(121)이 동시에 형성될 수 있는 크기를 가지는 글라스 기판(111)이 투입되면(S10), 상기 글라스 기판(111)의 표면에 게이트 라인 형성을 위한 게이트 레이어가 형성된다(S20). 게이트 레이어가 형성되면 복수의 패널(121)이 형성될 영역을 제외한 일 영역에 글라스 아이디 마크(131)가 형성되도록 한다(S30). 게이트 공정에서 글라스 아이디 마크(131)의 형성 후에는 글라스 기판(111)의 각 모서리에 마스크 얼라인 키(mask align key)(117)가 각각 형성된다(S40). In the gate process, when a glass substrate 111 having a size capable of simultaneously forming a plurality of panel substrates (hereinafter, referred to as a panel) 121 is inserted (S10), a gate is formed on the surface of the glass substrate 111. A gate layer for forming a line is formed (S20). When the gate layer is formed, the glass ID mark 131 is formed in one region except for the region where the plurality of panels 121 are to be formed (S30). After the glass ID mark 131 is formed in the gate process, a mask align key 117 is formed at each corner of the glass substrate 111 (S40).

게이트 공정이 종료되면, 각 패널(21)의 소오스/드레인(source/drain) 전극 형성을 위한 소오스/드레인 공정이 진행된다. 이 때, 마스크 얼라인 키(117)를 이용하여 좌표를 인식한 후(S50), 각 패널(21)의 표시 영역(122)을 제외한 패드 영역(123)에 형성된 설정위치(125)에 해당 패널(121)의 패널 아이디 마크(132)가 형성되도록 한다(S60). 이에 의해, 각 패널(121)의 패널 아이디 마크(132)는 해당 패 널(121)의 패드 영역(123)으로부터 이탈되는 불량 발생이 방지된다. When the gate process is completed, a source / drain process for forming a source / drain electrode of each panel 21 is performed. At this time, after the coordinates are recognized by using the mask alignment key 117 (S50), the panel corresponding to the set position 125 formed in the pad region 123 except for the display region 122 of each panel 21. The panel ID mark 132 of 121 is formed (S60). As a result, the failure of the panel ID mark 132 of each panel 121 to be separated from the pad area 123 of the panel 121 is prevented.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 글라스 기판에 형성된 제1레이어에 글라스 아이디 마크를 형성하는 단계와; 상기 글라스 기판에 형성된 제2레이어에 패널 아이디 마크를 형성하는 단계를 포함하도록 함으로써, 아이디 마크의 위치 이탈 불량 발생 및 그에 따른 재작업 공수를 줄일 수 있는 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법이 제공된다. As described above, according to the present invention, forming a glass ID mark on the first layer formed on the glass substrate; By forming a panel ID mark on the second layer formed on the glass substrate, there is provided a method of forming an ID mark of a liquid crystal display panel which can reduce the occurrence of defects in the position of the ID mark and the reworking time accordingly.

또한, 본 발명에 따르면, 상기 글라스 아이디 마크는 게이트 레이어에 형성되도록 하고, 상기 패널 아이디 마크는 각 패널의 표시영역을 제외한 패드 영역에 형성되도록 함으로써 액정디스플레이패널의 제조 공정 초기부터 정보의 기록이 가능한 효과가 있다.In addition, according to the present invention, the glass ID mark is formed on the gate layer, and the panel ID mark is formed on the pad area except for the display area of each panel, so that information can be recorded from the beginning of the manufacturing process of the liquid crystal display panel. It works.

또한, 본 발명에 따르면, 글라스 기판의 게이트 레이어의 일 영역에 글라스 아이디 마크를 형성하는 단계와; 상기 글라스 기판의 소스/드레인 레이어에 마스크 얼라인 키를 기준으로 패널 아이디 마크를 형성하는 단계를 포함하도록 함으로써, 패널 아이디 마크를 해당 패널의 패드영역에 정확하게 형성할 수 있어 위치 이탈 불량 및 재작업 공수를 줄일 수 있을 뿐만 아니라 공정 초기부터 생산관련 정보의 기록이 가능하여 관리를 용이하게 할 수 있는 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법이 제공된다. In addition, according to the present invention, forming a glass ID mark in one region of the gate layer of the glass substrate; And forming a panel ID mark on the source / drain layer of the glass substrate based on a mask alignment key, so that the panel ID mark can be accurately formed in the pad area of the panel. A method of forming an ID mark of a liquid crystal display panel is provided that can reduce the number of steps and record information related to production from the beginning of the process, thereby facilitating management.

또한, 본 발명에 따르면, 글라스 기판과; 상기 글라스 기판상에 형성되는 게이트 레이어 이후에 형성되는 레이어에 형성되는 패널 아이디 마크를 포함하도록 함으로써 패널 아이디 마크의 위치 이탈에 따른 불량 발생을 억제할 수 있으며 불량에 기인한 재작업 공수를 줄일 수 있는 액정디스플레이패널이 제공된다. In addition, according to the present invention, a glass substrate; By including the panel ID mark formed on the layer formed after the gate layer formed on the glass substrate, it is possible to suppress the occurrence of defects due to the positional deviation of the panel ID mark and to reduce the number of rework due to the defect. A liquid crystal display panel is provided.

Claims (7)

글라스 기판에 형성된 제1레이어에 글라스 아이디 마크를 형성하는 단계와;Forming a glass ID mark on the first layer formed on the glass substrate; 상기 글라스 기판에 형성된 제2레이어에 패널 아이디 마크를 형성하는 단계를 포함하는 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법.Forming an ID mark on the second layer formed on the glass substrate. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제1레이어는 게이트 레이어인 것을 특징으로 하는 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법.The first layer is a gate layer, characterized in that the ID mark forming method of the liquid crystal display panel. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제2레이어는 소오스/드레인 레이어인 것을 특징으로 하는 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법. The second layer is a source / drain layer, characterized in that the ID mark forming method of the liquid crystal display panel. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 3, 상기 패널 아이디 마크를 형성하는 단계 전에 마스크 얼라인 키를 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법. And forming a mask align key prior to forming the panel ID mark. 제4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 패널 아이디 마크를 형성하는 단계 전에 상기 마스크 얼라인 키를 이용하여 좌표를 인식하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법. And forming coordinates using the mask alignment key prior to forming the panel ID mark. 글라스 기판의 게이트 레이어의 일 영역에 글라스 아이디 마크를 형성하는 단계와; 상기 글라스 기판의 소스/드레인 레이어에 마스크 얼라인 키를 기준으로 패널 아이디 마크를 형성하는 단계를 포함하는 액정디스플레이패널의 아이디 마크 형성방법.Forming a glass ID mark on one region of the gate layer of the glass substrate; And forming a panel ID mark on the source / drain layer of the glass substrate based on a mask alignment key. 글라스 기판과; 상기 글라스 기판상에 형성되는 게이트 레이어 이후에 형성되는 상기 게이트 레이어와 다른 레이어에 형성되는 패널 아이디 마크를 포함하는 액정디스플레이패널.A glass substrate; And a panel ID mark formed on a layer different from the gate layer formed after the gate layer formed on the glass substrate.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016110029A1 (en) * 2015-01-09 2016-07-14 京东方科技集团股份有限公司 Transfer printing board, display screen, display device and manufacturing method for display device
KR20160093538A (en) * 2013-12-26 2016-08-08 보에 테크놀로지 그룹 컴퍼니 리미티드 A display apparatus and method for producing the same

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160093538A (en) * 2013-12-26 2016-08-08 보에 테크놀로지 그룹 컴퍼니 리미티드 A display apparatus and method for producing the same
US9798181B2 (en) 2013-12-26 2017-10-24 Boe Technology Group Co., Ltd. Display apparatus and method for producing a marker in the display apparatus
WO2016110029A1 (en) * 2015-01-09 2016-07-14 京东方科技集团股份有限公司 Transfer printing board, display screen, display device and manufacturing method for display device
US10162202B2 (en) 2015-01-09 2018-12-25 Boe Technology Group Co., Ltd. Transfer plate for forming alignment films on motherboard having unit display screens

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