KR20070099770A - Test apparatus for application processor embedding arm core - Google Patents

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Abstract

A device for testing a processor embedded with an ARM code is provided to improve productivity of an ARM core-embedded processor with reduced test time by testing electronic performance of the ARM core-embedded processor at a reference speed in one process. A test board(221) is equipped with a memory device to realize the same configuration as a real use environment of the ARM core-embedded processor(131) and includes an electronic circuit to test a function of the ARM core-embedded processor. An ATE(Automatic Test Equipment)(211) stores a program for testing the ARM core-embedded processor and is electronically connected to the test board when the performance of the ARM core-embedded processor is tested, and generates/provides a control signal for testing the performance of the ARM core-embedded processor to the memory device and the electronic circuit. The memory includes A RAM(223) storing the program needed for testing ARM core-embedded processor and a ROM(224) storing a booting program needed for booting the ARM core-embedded processor.

Description

암코아 내장 프로세서의 테스트 장치{Test apparatus for application processor embedding ARM core} Test apparatus for application processor embedding ARM core}

본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS In order to better understand the drawings cited in the detailed description of the invention, a brief description of each drawing is provided.

도 1은 ATE를 사용하여 암코아 내장 프로세서를 테스트하는 종래의 방법을 설명하기 위한 블록도이다. 1 is a block diagram illustrating a conventional method for testing an Amcore embedded processor using ATE.

도 2는 암코아 내장 프로세서를 테스트하는 본 발명의 실시예에 따른 테스트 장치의 블록도이다. 2 is a block diagram of a test apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention for testing an embedded Amcore processor.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명> <Explanation of symbols for main parts of the drawings>

201; 테스트 장치,211; ATE 201; Test apparatus 211; ATE

221; 테스트 보드,131; 암코아 내장 프로세서 221; Test board, 131; Amcoa Embedded Processor

본 발명은 집적회로 장치의 전기적 성능을 테스트하는 테스트 장치에 관한 것으로서, 특히 암 코아(ARM core)가 내장된 응용 프로세서(Application Processor)의 전기적 성능을 한번에 테스트함으로써 테스트 시간을 단축시키는 테 스트 장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test apparatus for testing the electrical performance of an integrated circuit device, and more particularly, to a test apparatus that reduces test time by testing the electrical performance of an application processor having an ARM core at a time. It is about.

암(ARM) 회사에서 개발한 암코아(ARM core)는 집적회로 장치의 일종인 마이크로프로세서(Micro-processor)에 내장되어 신호 처리 시스템을 제어하는데 많이 사용된다. 암코아가 내장된 응용 프로세서의 전기적 성능을 테스트하기 위하여 ATE(Automatic Test Equipment)와실장 셋 테스트를 이용한다. The ARM core developed by the ARM company is embedded in a microprocessor, a kind of integrated circuit device, and is used to control a signal processing system. To test the electrical performance of Amcore's embedded application processors, we use Automatic Test Equipment (ATE) and a set-mount test.

도 1은 ATE를 사용하여 암코아 내장 프로세서를 테스트하는 종래의 방법을 설명하기 위한 블록도이다. 1 is a block diagram illustrating a conventional method for testing an Amcore embedded processor using ATE.

도 1을 참조하면, 암코아(133)가 내장된 응용 프로세서(131)(암코아 내장 프로세서로 약칭함)를 전기적으로 테스트하기 위해서는 테스트 보드(121)와 ATE(111)가 구비된다. Referring to FIG. 1, a test board 121 and an ATE 111 are provided to electrically test an application processor 131 (abbreviated as an embedded processor) having an embedded AMcore 133.

테스트 보드(121)에는 암코아 내장 프로세서(131)의 일반적인 성능 테스트인 펑션(function) 테스트를 수행하기 위한 전기 회로(123)가 구성된다. The test board 121 includes an electric circuit 123 for performing a function test, which is a general performance test of the Amcore embedded processor 131.

암코아 내장 프로세서(131)의 펑션 테스트를 수행하기 위해서는 테스트 보드(121)를 ATE(111)에 전기적으로 연결하고, 암코아 내장 프로세서(131)를 테스트 보드(121)에 전기적으로 연결한다. 이 때, 암코아 내장 프로세서(131)는 수작업으로 테스트 보드(121)에 장착될 수도 있고, 핸들러(handler)(미도시)를 통해서 테스트 보드(121)에 전기적으로 연결될 수도 있다. In order to perform a function test of the Amcore embedded processor 131, the test board 121 is electrically connected to the ATE 111, and the Amcore embedded processor 131 is electrically connected to the test board 121. In this case, the Amcoa embedded processor 131 may be mounted on the test board 121 by hand or may be electrically connected to the test board 121 through a handler (not shown).

이 상태에서, ATE(111)는 테스트 신호를 출력하여 암코아 내장 프로세서(131)에 인가하고, 암코아 내장 프로세서(131)에서 출력되는 신호를 검출하여 암코아 내장 프로세서(131)의 성능을 판단한다. In this state, the ATE 111 outputs a test signal and applies the test signal to the internal processor 131, and detects the signal output from the internal processor 131 to determine the performance of the internal processor 131. do.

도 1에 도시된 구성으로는 암코아 내장 프로세서(131)의 펑션만을 테스트할 수 있으며, 암코아(133)의 성능을 모두 테스트하지는 못한다. 따라서, 암코아(133)의 성능을 테스트하기 위하여 실장 셋 테스트를 별도로 수행한다. 실장 셋 테스트는 암코아 내장 프로세서(131)를 실제 사용 환경과 동일하게 구성된 상태에서 테스트되는 것이다. In the configuration illustrated in FIG. 1, only the function of the embedded Amcoa processor 131 may be tested, and the performance of the Amcoa 133 may not be tested. Therefore, in order to test the performance of the AM core 133, a mounting set test is separately performed. The implementation set test is performed in a state in which the Amcoa embedded processor 131 is configured to be identical to an actual use environment.

상기와 같이, 암코아 내장 프로세서(131)의 전기적 성능을 검사하기 위해서는 ATE(111)를 사용한 펑션 테스트와 실제 사용 환경에서 진행되는 실장 셋 테스트를 거쳐야 한다. 즉, 2번에 걸쳐 테스트가 수행된다. As described above, in order to test the electrical performance of the AMCO embedded processor 131, a function test using the ATE 111 and a mounting set test performed in an actual use environment must be performed. That is, the test is performed twice.

이와 같이, 암코아 내장 프로세서(131)를 테스트하기 위해서는 2번에 걸쳐 테스트가 수행되기 때문에, 테스트 시간이 길어져서 암코아 내장 프로세서(131)의 전체적인 생산성이 저하되는 문제점이 있다. As described above, since the test is performed twice in order to test the embedded Amcore processor 131, the test time is long, and thus, the overall productivity of the embedded Amcore processor 131 is deteriorated.

본 발명은 암코아 내장 프로세서를 한번에 테스트할 수 있는 테스트 장치를 제공하는데 그 목적이 있다. It is an object of the present invention to provide a test apparatus that can test an Amcore embedded processor at a time.

상기 기술적 과제를 이루기 위하여 본 발명은 The present invention to achieve the above technical problem

암코아 내장 프로세서를 테스트하는 테스트 장치에 있어서, 상기 암코아 내장 프로세서의 실제 사용 환경과 동일한 구성을 갖도록 하기 위해 메모리 장치를 구비하며, 상기 암코아 내장 프로세서의 펑션 테스트를 위한 전기 회로를 갖는 테스트 보드 및 상기 암코아 내장 프로세서를 테스트 하기 위한 프로그램을 저장하 며, 상기 암코아 내장 프로세서의 성능을 테스트할 때, 상기 테스트 보드에 전기적으로 연결되며, 상기 암코아 내장 프로세서의 성능을 테스트하기 위한 제어 신호를 발생하여 상기 메모리 장치와 상기 전기 회로에 제공하는 ATE를 구비하는 암코아 내장 프로세서의 테스트 장치를 제공한다. A test apparatus for testing an embedded Amcoa processor, the test apparatus including a memory device to have a configuration identical to an actual use environment of the embedded Amcoa processor, and a test board having an electrical circuit for function test of the embedded processor. And a program for testing the AMD core embedded processor, and when the performance of the AMD core embedded processor is tested, the control signal is electrically connected to the test board to test the performance of the AMD core embedded processor. It provides a test device of an embedded Amcoa processor having an ATE to generate and provide to the memory device and the electrical circuit.

바람직하기는, 상기 메모리 장치는 상기 암코아 내장 프로세서를 테스트하는데 필요한 테스트 프로그램을 저장하는 램 및 상기 암코아 내장 프로세서를 부팅시키는데 필요한 부팅 프로그램이 저장된 롬을 구비하며, 상기 ATE는 상기 암코아 내장 프로세서를 테스트할 때, 상기 램에 저장된 테스트 프로그램과 상기 롬에 저장된 부팅 프로그램을 실행시키기 위한 제어 신호를 발생한다. Preferably, the memory device includes a RAM storing a test program required to test the Amcoa embedded processor and a ROM storing a boot program required to boot the Amcoa embedded processor, and the ATE includes the Amcoa embedded processor. When a test is performed, a control signal for executing a test program stored in the RAM and a boot program stored in the ROM is generated.

상기 본 발명에 의하여, 암코아 내장 프로세서의 전기적 성능을 기준 스피드(at speed)로 한번에 테스트할 수가 있으며, 그에 따라, 암코아 내장 프로세서의 테스트 타임이 단축되어 암코아 내장 프로세서의 생산성이 향상된다. According to the present invention, it is possible to test the electrical performance of the embedded Amcoa processor at a speed at a time, thereby reducing the test time of the embedded Amcoa processor to improve the productivity of the embedded Amcoa processor.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference numerals in the drawings denote like elements.

도 2는 암코아 내장 프로세서(131)를 테스트하는 본 발명의 실시예에 따른 테스트 장치(201)의 블록도이다. 도 2를 참조하면, 암코아 내장 프로세서(131)를 테스트하는 테스트 장치(201)는 ATE(211)와 테스트 보드(221)를 구비한다. 2 is a block diagram of a test apparatus 201 according to an embodiment of the present invention for testing an embedded Amcore processor 131. Referring to FIG. 2, the test device 201 for testing the embedded Amcore processor 131 includes an ATE 211 and a test board 221.

테스트 보드(221)는 암코아 내장 프로세서(131)의 실제 사용환경, 예컨대 램(RAM; Random Access Memory)(223) 롬(ROM; Read Only Memory)(224), 버 퍼(buffer)(225), 전원 장치(226), 입출력 장치(미도시) 및 펑션 테스트를 위한 전기회로(227)가 구비된다. The test board 221 is a real environment of the Amcore embedded processor 131, for example, a random access memory (RAM) 223, a read only memory (ROM) 224, and a buffer 225. , A power supply unit 226, an input / output device (not shown), and an electric circuit 227 for function testing.

램(223)은 데이터를 임시로 저장할 수 있는 장치로, SDRAM(Synchronous Dynamic RAM) 계열의 메모리 집적회로 장치를 구비하는 것이 바람직하다. 램(223)에는 암코아 내장 프로세서(131)를 테스트하는데 필요한 테스트 프로그램, 예컨대 Win-CE, OS(Operating System) 등이 저장된다. The RAM 223 is a device capable of temporarily storing data, and preferably includes a memory integrated circuit device of a synchronous dynamic RAM (SDRAM) series. The RAM 223 stores a test program necessary for testing the Amcore embedded processor 131, for example, Win-CE, an operating system (OS), and the like.

롬(224)에는 암코아 내장 프로세서(131)를 부팅시키는데 필요한 부팅 프로그램이 저장된다. 롬(224)으로는 플래시 메모리(Flash memory)를 사용하는 것이 바람직하다. The ROM 224 stores a boot program for booting the Amcoa embedded processor 131. It is preferable to use a flash memory as the ROM 224.

ATE(211)는 암코아 내장 프로세서(131)를 테스트하기 위한 프로그램이 저장된다. 즉, 암코아 내장 프로세서(131)를 테스트하기 위해서는 클럭 신호를 발생하여 램(223)에 저장된 테스트 프로그램과 롬(224)에 저장된 부팅 프로그램을 실행함으로써 암코아 내장 프로세서(131)를 기준 스피드(at-speed)로 테스트한다. ATE(211)는 상기와 같이 램(223)에 저장된 테스트 프로그램을 실행하기 위한 클럭 신호를 발생하여 램(223)에 제공하고, 테스트 보드(221)에 구성된 전원 장치(226)에 전원 전압을 인가하며, 롬(224)에 저장된 부팅 프로그램을 실행시키는 제어 신호를 발생하여 롬(224)에 제공하며, 그 결과로 암코아 내장 프로세서(131)로부터 출력되는 신호를 받아서, 분석하여 암코아 내장 프로세서(131)의 성능을 판단한다. 즉, 암코아 내장 프로세서(131)의 양, 불량을 판단한다. The ATE 211 stores a program for testing the embedded Amcore processor 131. That is, in order to test the embedded Amkor core processor 131, a clock signal may be generated to execute a test program stored in the RAM 223 and a boot program stored in the ROM 224, thereby causing the Amcore embedded processor 131 to operate at a reference speed. -speed) As described above, the ATE 211 generates a clock signal for executing a test program stored in the RAM 223, provides the clock signal to the RAM 223, and applies a power voltage to the power supply 226 configured in the test board 221. In addition, a control signal for executing a boot program stored in the ROM 224 is generated and provided to the ROM 224. As a result, the signal output from the AMCOA embedded processor 131 is received, analyzed, and analyzed. 131) to determine the performance. That is, the quantity and the failure of the Amcore embedded processor 131 are determined.

암코아 내장 프로세서(131)의 전기적 성능을 테스트하기 위해서는 테스트 보 드(221)를 ATE(211)에 전기적으로 연결한 다음, 암코아 내장 프로세서(131)를 테스트 보드(221)에 전기적으로 연결한다. 이 때, 테스트 보드(221)는 핸들러(미도시)에 전기적으로 연결되고, 다수개의 암코아 내장 프로세서(131)들이 핸들러에 장착됨으로써, 테스트가 수행되는 동안 암코아 내장 프로세서(131)들은 핸들러에 의해 하나씩 자동으로 테스트 보드(221)에 전기적으로 연결된다. In order to test the electrical performance of the Amkor embedded processor 131, the test board 221 is electrically connected to the ATE 211, and then the Amcore embedded processor 131 is electrically connected to the test board 221. . In this case, the test board 221 is electrically connected to a handler (not shown), and the plurality of Amcoa embedded processors 131 are mounted to the handler, so that the Amcoa embedded processors 131 are connected to the handler while the test is performed. One by one is automatically electrically connected to the test board 221.

암코아 내장 프로세서(131)가 테스트 보드(221)에 연결되면, ATE(211)는 제어 신호들을 테스트 보드(221)를 통해서 암코아 내장 프로세서(131)에 전송하고, 소정 시간 후에 암코아 내장 프로세서(131)로부터 출력되는 신호를 검출하여 암코아 내장 프로세서(131)의 성능에 대해 양, 불량을 판단한다. When the Amcoa embedded processor 131 is connected to the test board 221, the ATE 211 transmits control signals to the Amcoa embedded processor 131 through the test board 221, and after a predetermined time, the Amcoa embedded processor The signal output from 131 is detected to determine the quantity and the defect of the performance of the embedded Amcore processor 131.

이와 같이, 테스트 보드(221)를 암코아 내장 프로세서(131)의 실제 사용환경과 동일하도록 구성하고, 또한, 펑션 테스트를 수행하기 위한 전기 회로(221)를 함께 구성함으로써, 암코아 내장 프로세서(131)의 성능을 기준 스피드(at speed)에서 한번에 테스트할 수가 있다. In this way, the test board 221 is configured to be the same as the actual usage environment of the built-in Amcoa processor 131, and by configuring the electric circuit 221 for performing a function test together, the built-in Amcoa processor 131 ) Can be tested at one speed at a speed.

도면과 명세서에 최적의 실시 예가 개시되었으며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 기재된 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다. The best embodiments have been disclosed in the drawings and specification, and various modifications and equivalent other embodiments will be possible to those skilled in the art. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit described in the appended claims.

상술한 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따라 테스트 보드(221)에 암코아 내장 프로세서(131)의 실제 환경과 동일하도록 램(223), 롬(224), 버퍼(225), 전원장 치(226)를 구성하고, ATE(211)에 램(223)과 롬(224)에 저장된 테스트 프로그램을 실행하기 위한 제어 신호를 발생하는 기능을 구성함으로써, 암코아 내장 프로세서(131)의 전기적 성능을 기준 스피드(at speed)로 한번에 테스트할 수가 있다. As described above, the RAM 223, the ROM 224, the buffer 225, and the power supply unit may be mounted on the test board 221 to be identical to the actual environment of the embedded processor 131 according to the exemplary embodiment of the present invention. 226, and a function of generating a control signal for executing a test program stored in the RAM 223 and the ROM 224 in the ATE 211, thereby referring to the electrical performance of the embedded processor 131. You can test at one speed at a time.

따라서, 암코아 내장 프로세서(131)의 테스트 타임이 단축되어 암코아 내장 프로세서(131)의 생산성이 향상된다. Therefore, the test time of the embedded Amcore processor 131 is shortened, and the productivity of the embedded Amcore processor 131 is improved.

Claims (3)

암코아 내장 프로세서를 테스트하는 테스트 장치에 있어서, A test apparatus for testing an Amkor embedded processor, 상기 암코아 내장 프로세서의 실제 사용 환경과 동일한 구성을 갖도록 하기 위해 메모리 장치를 구비하며, 상기 암코아 내장 프로세서의 펑션 테스트를 위한 전기 회로를 갖는 테스트 보드 및 A test board having a memory device to have the same configuration as an actual use environment of the Amcore embedded processor, and a test board having an electric circuit for function test of the Amcore embedded processor; 상기 암코아 내장 프로세서를 테스트 하기 위한 프로그램을 저장하며, 상기 암코아 내장 프로세서의 성능을 테스트할 때, 상기 테스트 보드에 전기적으로 연결되며, 상기 암코아 내장 프로세서의 성능을 테스트하기 위한 제어 신호를 발생하여 상기 메모리 장치와 상기 전기 회로에 제공하는 ATE를 구비하는 것을 특징으로 하는 암코아 내장 프로세서의 테스트 장치. Stores a program for testing the AMD core embedded processor, and when the performance of the AMD core embedded processor is tested, is electrically connected to the test board, and generates a control signal for testing the performance of the AMD core embedded processor. And an ATE provided to the memory device and the electrical circuit. 제1항에 있어서, 상기 메모리 장치는 The memory device of claim 1, wherein the memory device 상기 암코아 내장 프로세서를 테스트하는데 필요한 테스트 프로그램을 저장하는 램 및 RAM for storing a test program for testing the Amcore embedded processor; 상기 암코아 내장 프로세서를 부팅시키는데 필요한 부팅 프로그램이 저장된 롬을 구비하는 것을 특징으로 하는 암코아 내장 프로세서의 테스트 장치. And a ROM storing a booting program required to boot the Amcore embedded processor. 제2항에 있어서, 상기 ATE는 The method of claim 2, wherein the ATE is 상기 암코아 내장 프로세서를 테스트할 때, 상기 램에 저장된 테스트 프로그 램과 상기 롬에 저장된 부팅 프로그램을 실행시키기 위한 제어 신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 암코아 내장 프로세서의 테스트 장치. And a control signal for executing a test program stored in the RAM and a booting program stored in the ROM when the AMD core processor is tested.
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