KR20070092081A - Testing pin assembly and a testing apparatus with such an assembly - Google Patents

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Abstract

A test pin assembly and a test apparatus including the test pin assembly are provided to press a printed circuit board(PCB) to be tested downward such that a tested point of the PCB electrically and physically make contact with the upper end portion of a test pin, thereby providing electricity to the tested point through an electric wire. A test pin assembly includes a pin member having a lower end portion and a spring member(206) electrically connected to the pin member through a connector(204). The connector(204) has a top surface electrically connected to the lower end portion of the pin member. The lower end portion of the connector(204) is at received in a cavity of the first end portion of the spring member(206). The connector(204) has conductivity. The top surface of the connector(204) is convex. The lower end portion of the pin member is movable on the top surface of the connector(204).

Description

시험 핀 조립체와 시험 핀 조립체를 구비한 시험 장치{TESTING PIN ASSEMBLY AND A TESTING APPARATUS WITH SUCH AN ASSEMBLY}TESTING PIN ASSEMBLY AND A TESTING APPARATUS WITH SUCH AN ASSEMBLY

도 1은 인쇄 회로 기판의 시험용 선행 기술 장치의 도식적인 도면이다.1 is a schematic diagram of a prior art device for testing a printed circuit board.

도 2는 도 1에서 A로 표시된 원으로 둘러싸인 부분의 확대도이다.FIG. 2 is an enlarged view of a portion enclosed by a circle denoted by A in FIG. 1.

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 시험 핀 조립체의 도식적인 도면이다.3 is a schematic diagram of a test pin assembly in accordance with a preferred embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 인쇄 회로 기판 시험용 장치의 도식적인 도면이다.4 is a schematic diagram of an apparatus for testing a printed circuit board according to a preferred embodiment of the present invention.

도 5는 도 4에서 원으로 둘러싸인 부분의 확대도이다.5 is an enlarged view of a portion enclosed by a circle in FIG. 4.

** 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 **** Description of symbols for the main parts of the drawing **

200: 시험 핀 조립체 112, 202: 시험 핀200: test pin assembly 112, 202: test pin

204: 커넥터 108, 206: 스프링204: connector 108, 206: spring

102, 302: 기부 114, 310: 인쇄 회로 기판102, 302: base 114, 310: printed circuit board

116, 312: 피시험 지점 120, 306: 개구부116, 312 Test Points 120 and 306: Openings

122, 308: 플랫폼122, 308: platform

본 발명은 시험 핀 조립체와 시험 핀 조립체를 구비한 시험 장치에 관한 것이며, 상세하게는 인쇄 회로 기판(PCB) 시험용 시험 핀 조립체와 시험 핀 조립체를 구비한 시험 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a test device having a test pin assembly and a test pin assembly, and more particularly, to a test device having a test pin assembly and a test pin assembly for a printed circuit board (PCB) test.

인쇄 회로 기판 시험용 선행 기술의 시험 핀 조립체를 구비한 예시적인 시험 장치가 도 1 및 도 2에 도시되어 있으며, 전체적으로 도면 부호 100으로 표시되어 있다. 상기 시험 장치(100)는 다수의 지지 기둥(104)에 의해 지지되는 기부(base)(102)를 포함한다. 기부(102) 내에는 각각이 스프링(108)을 수용하는 다수의 수직 원통형 관통 구멍(106)이 있다.Exemplary test apparatuses with prior art test pin assemblies for printed circuit board testing are shown in FIGS. 1 and 2, and generally designated 100. The test apparatus 100 includes a base 102 supported by a plurality of support pillars 104. Within the base 102 are a number of vertical cylindrical through holes 106 each receiving a spring 108.

스프링(108)에 전기를 제공하기 위해 스프링(108)과 전기적인 연결 상태에 있는 전선(110)이 스프링(108)의 하단부와 연결된다. 시험 핀(112)의 하단부는 스프링(108) 상단부의 공동 내에 안착되고, 스프링(108)과 물리적 접촉 상태 및 화학적 접촉 상태에 있게 된다. 이에 따라, 전선(110)에 의해 제공되는 전기가 시험 핀(112)에 공급될 수 있다. 시험 핀(112)은 다수의 플랫폼(122)의 개구부(120)를 통과해서 연장된다.An electrical wire 110 in electrical connection with the spring 108 is connected to the lower end of the spring 108 to provide electricity to the spring 108. The lower end of the test pin 112 is seated in the cavity of the upper end of the spring 108 and is in physical and chemical contact with the spring 108. Accordingly, electricity provided by the wire 110 may be supplied to the test pin 112. The test pin 112 extends through the opening 120 of the plurality of platforms 122.

시험 중에, 피시험 지점(116)이 상기 시험 핀(112)의 상단부와 접촉을 일으키도록 피시험 인쇄 회로 기판(114)이 아래쪽으로 눌리게 된다. 그러므로 시험을 위해 전기는 전선(110)을 지나 피시험 지점(116)으로 갈 수 있게 된다.During the test, the printed circuit board 114 under test is pressed downward so that the point under test 116 contacts the upper end of the test pin 112. Thus, for testing, electricity can pass through the wire 110 to the point under test 116.

이와 같은 선행 기술 장치는 아래의 단점을 갖고 있다.This prior art device has the following disadvantages.

a. 도 1에 도시된 바와 같이, 고밀도 인쇄 회로 기판의 시험 중에, 피시험 지점(116)들 사이의 거리(B)는 수직 관통 구멍(106)들 사이의 거리(C)와 다를 수 있으며, 예를 들어 더 작거나 더 넓을 수 있으며, 하나 이상의 시험 핀(112)은 관통 구멍(106)에 대해 기울어야 하므로 시험 핀(112)은 180°보다 작은 각도로 스프링(108) 각각의 세로축에 대해 경사진다. 이로 인해, 스프링(108)이 기부(102)에 마모나 긁힘을 일으킬 수 있으므로(도 2에 D로 표시된 부분에 도시된 바와 같이), 스프링(108)에 손상을 주고 시험 결과에도 영향을 미치게 된다.a. As shown in FIG. 1, during testing of a high density printed circuit board, the distance B between the points under test 116 may differ from the distance C between the vertical through holes 106, for example. For example, it may be smaller or wider, and one or more test pins 112 must be inclined with respect to the through hole 106 so that the test pins 112 are inclined with respect to the longitudinal axis of each of the springs 108 at an angle of less than 180 °. . As a result, the spring 108 may cause wear or scratches on the base 102 (as shown in the portion marked D in FIG. 2), thereby damaging the spring 108 and affecting the test results. .

b. 스프링(108)의 상단부와 시험 핀(112)의 하단부 사이의 전기 전도도는 사용함에 따라서 감소하게 된다. 시험 핀(112)의 하단부와 스프링(108)의 상단부 사이의 연속적인 마모나 긁힘은 파편을 생성하며 시험 핀의 하단부와 스프링의 상단부의 코팅에 손상을 줄 수 있다(도 2에 E로 표시된 부분에 도시된 바와 같이). 이와 같은 마모나 긁힘은 다시 전기 전도율을 감소시키고 시험의 결과에도 영향을 미치게 된다.b. The electrical conductivity between the upper end of the spring 108 and the lower end of the test pin 112 will decrease with use. Continuous wear or scratching between the lower end of the test pin 112 and the upper end of the spring 108 creates debris and can damage the coating of the lower end of the test pin and the upper end of the spring (parts indicated by E in FIG. 2). As shown in). This wear or scratch again reduces electrical conductivity and affects the results of the test.

c. 시험 장치(100)에서 가장 쉽게 손상되는 요소는 스프링(108)이다. 그러나 스프링은 그 자체로 기부(102) 내에 수용되며, 하나의 손상된 스프링(108)이라도 교체를 위해서 제거되기 전에 기부(102)와 전선(110)이 분해되고 제거되어야 한다. 이와 같은 것은 분명히 귀찮은 일이다.c. The most easily damaged element in the test device 100 is the spring 108. However, the spring itself is housed in the base 102 and the base 102 and the wire 110 must be disassembled and removed before any damaged spring 108 can be removed for replacement. This is obviously annoying.

d. 스프링(108)의 상단부 내경이 시험 핀(112)의 하단부 직경보다 작게 스프링(108)을 제조하는 것이 필요하다. 이것은 스프링(108)을 제조하기 위해 요구되는 장치, 금형, 및 기술에 높은 표준을 설정해서, 생산비와 생산 난이도를 상당히 증가시키게 된다.d. It is necessary to manufacture the spring 108 such that the inner diameter of the upper end of the spring 108 is smaller than the diameter of the lower end of the test pin 112. This sets high standards in the equipment, molds, and techniques required to manufacture the spring 108, which significantly increases production costs and production difficulty.

따라서, 본 발명의 목적은 위에서 언급한 단점을 완화하거나 적어도 공중에게 유용한 대안을 제공하기 위해 시험 핀 조립체와 시험 핀 조립체를 구비한 시험 장치를 제공하는 것이다.It is therefore an object of the present invention to provide a test pin assembly with a test pin assembly and a test pin assembly in order to alleviate the above mentioned disadvantages or at least provide a useful alternative to the public.

본 발명의 제1 태양에 따르면, 하단부가 있는 핀 부재와, 커넥터를 거쳐 핀 부재와 전기적으로 연결된 스프링 부재를 포함하며, 상기 커넥터는 상기 핀 부재의 하단부와 전기적으로 연결되는 상부 면을 포함하며, 상기 커넥터의 하단부는 상기 스프링 부재의 제1 단부의 공동(cavity) 내에 적어도 부분적으로 수용되는 시험 핀 조립체가 제공된다.According to a first aspect of the invention, there is provided a pin member having a lower end, and a spring member electrically connected to the pin member via a connector, the connector including an upper surface electrically connected to the lower end of the pin member, A lower end of the connector is provided with a test pin assembly that is at least partially received in a cavity of the first end of the spring member.

본 발명의 제2 태양에 따르면, 하단부가 있는 핀 부재와, 커넥터를 거쳐 핀 부재와 전기적으로 연결된 스프링 부재를 포함하는 시험 핀 조립체를 포함하며, 상기 커넥터는 상기 핀 부재의 하단부와 전기적으로 연결되는 상부 면을 포함하며, 상기 커넥터의 하단부는 상기 스프링 부재의 제1 단부의 공동 내에 적어도 부분적으로 수용되며, 상기 스프링 부재와 상기 커넥터는 기부 부재 내에 수용되며, 상기 핀 부재는 플랫폼 부재의 개구부를 통과해 연장되는 인쇄 회로 기판 시험용 장치 장치가 제공된다. According to a second aspect of the invention there is provided a test pin assembly comprising a pin member with a lower end and a spring member electrically connected to the pin member via a connector, the connector being electrically connected with the lower end of the pin member. An upper surface, wherein a lower end of the connector is at least partially received in the cavity of the first end of the spring member, the spring member and the connector are received in the base member, and the pin member passes through the opening of the platform member. An apparatus for testing a printed circuit board which is extended is provided.

본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 단지 예제의 방식으로 설명한다.Preferred embodiments according to the invention are described by way of example only with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 바람직한 실시예에 따른 시험 핀 조립체가 도 3에 도시되며, 전반 에 걸쳐 도면 부호 200으로 표시된다.A test pin assembly according to a preferred embodiment of the present invention is shown in FIG. 3 and denoted with reference numeral 200 throughout.

시험 핀 조립체(200)는 전도 시험 핀(202), 전도 커넥터(204), 및 전도 스프링(206)을 포함한다. 스프링(206)의 하단부는 전기를 수용하기 위한 전선(208)과 연결된다.Test pin assembly 200 includes a conductive test pin 202, a conductive connector 204, and a conductive spring 206. The lower end of the spring 206 is connected with a wire 208 for receiving electricity.

시험 핀(202)의 하단부는 커넥터(204)의 움푹 들어간 오목한 상부 면(210)에 안착되고, 상기 상부 면에 대해서 이동할 수 있다. 커넥터(204)의 하단부는 아래쪽을 향하는 원뿔 첨단부(214)(도 5에 도시됨)가 있는 원통형 부재(212)를 구비한다. 원뿔 첨단부(214)가 있는 원통형 부재(212)는 스프링(206) 상단부의 공동 내에 수용된다. 커넥터(204)를 스프링(206)과 고정시키기 위해서, 커넥터(204)의 원통형 부재(212)는 스프링(206)의 상단부에 맞추어 들어가는 축소된 직경의 환형 홈통(trough)(216)을 구비한다.The lower end of the test pin 202 is seated in the recessed upper surface 210 of the connector 204 and is movable relative to the upper surface. The lower end of the connector 204 has a cylindrical member 212 with a conical tip 214 facing down (shown in FIG. 5). The cylindrical member 212 with the conical tip 214 is received in the cavity of the top end of the spring 206. To secure the connector 204 with the spring 206, the cylindrical member 212 of the connector 204 has a reduced diameter annular trough 216 that fits into an upper end of the spring 206.

도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 전반에 걸쳐 도면 부호 300으로 표시된 인쇄 회로 기판 시험용 모듈 장치는 다수의 지지 기둥(304)에 의해 지지되는 기부(302)를 포함한다. 기부(302) 내에는 다수의 수직 원통형 관통 구멍(306)이 있으며, 상기 관통 구멍 각각은 핀 조립체(200) 각각의 스프링(206)을 수용한다. 핀 조립체(200)의 커넥터(204) 각각과 연결된 시험 핀(202)은 다수의 플랫폼(308)에서 개구부(306)를 통해 연장된다.As shown in FIGS. 4 and 5, the module device for testing a printed circuit board, indicated at 300 throughout, includes a base 302 supported by a plurality of support columns 304. Within the base 302 is a plurality of vertical cylindrical through holes 306, each of which receives a spring 206 of each of the pin assemblies 200. Test pins 202 associated with each of the connectors 204 of the pin assembly 200 extend through the openings 306 in the plurality of platforms 308.

시험 중에, 피시험 지점(312)이 시험 핀(202)의 상단부와 물리적 접촉 및 전기적 접촉을 일으키도록 피시험 인쇄 회로 기판(310)이 아래쪽으로 눌리게 된다. 필요한 경우에는, 시험 핀(202)의 상단부가 시험 핀(202)이 커넥터(204)와 전기적 으로 연결된 상태에 있도록 하면서, 시험 핀(202)의 하단부가 피시험 지점(312)을 스프링(206) 각각과 접촉시킬 수 있도록 시험 핀(202)의 하단부가 상부 면(210)에서 움직일 수, 예를 들어 활주할 수 있다. 그러므로 시험을 위해 전기가 전선(208)에 의해 피시험 지점(312)에 제공될 수 있게 된다. 스프링(206)과 커넥터 홈통(216) 사이의 맞물림은 상기 2개의 부재가 헐거워지지 않도록 할 수 있다. 이와 같은 배치에 의해서, 피시험 인쇄 회로 기판(310)에 의해 가해지는 압력이 스프링(206)에 균등하게 분포될 수 있다.During the test, the printed circuit board 310 under test is pressed downward so that the point under test 312 makes physical and electrical contact with the upper end of the test pin 202. If necessary, the upper end of the test pin 202 is in a state where the test pin 202 is in electrical connection with the connector 204, while the lower end of the test pin 202 springs the point under test 312 to the spring 206. The lower end of the test pin 202 can move, for example slide, on the upper surface 210 so as to be in contact with each. Thus, electricity can be provided to the point under test 312 by the wire 208 for testing. Engagement between the spring 206 and the connector trough 216 may prevent the two members from loosening. With this arrangement, the pressure applied by the printed circuit board 310 under test can be evenly distributed on the spring 206.

시험 후에는, 인쇄 회로 기판(310)이 시험 핀(202)으로부터 위쪽으로 멀리 이동하며, 시험 핀(202)은 스프링(206) 편의력(biasing force)에 의해 통상의 직립 위치로 돌아오게 된다.After the test, the printed circuit board 310 moves upwardly away from the test pin 202, which is returned to the normal upright position by the spring 206 biasing force.

본 발명에 따르면, 시험 중에, 피시험 인쇄 회로 기판이 아래쪽으로 눌려서 피시험 지점이 시험 핀의 상단부와 물리적 접촉 및 전기적 접촉을 일으키도록 하므로 전선은 시험 목적으로 전기를 피시험 지점에 제공할 수 있게 된다. 스프링과 커넥터 홈통 사이의 맞물림은 상기 2개의 부재가 헐거워지는 것을 막는다. 이와 같은 배치에 의해서, 피시험 인쇄 회로 기판에 의해 가해지는 압력을 스프링에 균등하게 분포시킬 수 있으므로, 스프링이 기부에 마모나 긁힘을 일으키는 것을 막을 수 있고 시험 핀 하단부와 스프링 상단부 사이의 연속적인 마모나 긁힘을 막을 수 있어서, 스프링에 손상을 주지 않고 시험 핀의 하단부와 스프링의 상단부의 코팅에 손상을 주지 않게 되어 결국 전기 전도율을 감소시키지 않고 시험 결과에도 나쁜 영 향을 미치지 않게 할 수 있다.According to the present invention, during the test, the printed circuit board under test is pressed downward so that the point under test causes physical and electrical contact with the upper end of the test pin so that the wire can provide electricity to the point under test for testing purposes. do. Engagement between the spring and the connector trough prevents the two members from loosening. This arrangement makes it possible to distribute the pressure exerted by the printed circuit board under test evenly on the spring, thereby preventing the spring from causing wear and scratches on the base and causing continuous wear between the lower end of the test pin and the upper end of the spring. However, it can prevent scratches, which will not damage the coating of the lower end of the test pin and the upper end of the spring, which in turn will not reduce the electrical conductivity and adversely affect the test results.

전술할 것은 본 발명이 수행될 수 있는 예를 단지 예시할 뿐이며, 본 발명의 개념에서 출발하지 않고도 다양한 수정 및/또는 변경이 가능하다는 것이 이해되어야 한다. 간결함을 위해 단일 실시예와 관련하여 설명한 본 발명의 특정 특징들은 그 각각이 별개로 마련되거나 임의의 적당한 조합으로 제공될 수 있다는 것 역시 이해되어야 한다.It is to be understood that the foregoing merely illustrates examples in which the invention may be practiced, and that various modifications and / or changes may be made without departing from the concept of the invention. It is also to be understood that certain features of the invention, which are, for brevity, described in connection with a single embodiment, may each be provided separately or in any suitable combination.

Claims (8)

하단부가 있는 핀 부재와, 커넥터를 거쳐 상기 핀 부재와 전기적으로 연결된 스프링 부재를 포함하며, 상기 커넥터는 상기 핀 부재의 하단부와 전기적으로 연결되는 상부 면을 포함하며, 상기 커넥터의 하단부는 상기 스프링 부재의 제1 단부의 공동(cavity) 내에 적어도 부분적으로 수용되는 것을 특징으로 하는 시험 핀 조립체.A pin member having a lower end, and a spring member electrically connected to the pin member via a connector, the connector including an upper surface electrically connected to the lower end of the pin member, and the lower end of the connector being the spring member. And at least partially received within a cavity of the first end of the test pin. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 커넥터는 전기 전도성이 있는 것을 특징으로 하는 시험 핀 조립체.And the connector is electrically conductive. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 커넥터의 상부면이 볼록한 것을 특징으로 하는 시험 핀 조립체.And wherein the top surface of the connector is convex. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 핀 부재의 하단부가 상기 커넥터의 상부면에서 움직일 수 있는 것을 특징으로 하는 시험 핀 조립체.And the lower end of the pin member is movable on the upper surface of the connector. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 커넥터의 하단부가 대체로 원통 형태인 것을 특징으로 하는 시험 핀 조 립체.And a lower end of the connector is generally cylindrical in shape. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 커넥터의 하단부가 상기 스프링 부재의 적어도 일 부분을 수용하기 위한 환형 홈통을 포함하는 것을 특징으로 하는 시험 핀 조립체.A lower end of the connector comprises an annular trough for receiving at least a portion of the spring member. 제1항에 따른 시험 핀 조립체를 포함하며, 상기 스프링 부재와 상기 커넥터는 기부 부재 내에 수용되며, 상기 핀 부재가 플랫폼 부재의 개구부를 통해 연장되는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판 시험용 장치.An apparatus for testing a printed circuit board comprising a test pin assembly according to claim 1, wherein the spring member and the connector are received in a base member and the pin member extends through an opening of the platform member. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 핀 부재가 다수의 플랫폼 부재 개구부 각각을 통해 연장되는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판 시험용 장치.And the pin member extends through each of the plurality of platform member openings.
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