KR20070079233A - System and method for measuring dcc - Google Patents

System and method for measuring dcc Download PDF

Info

Publication number
KR20070079233A
KR20070079233A KR1020060009790A KR20060009790A KR20070079233A KR 20070079233 A KR20070079233 A KR 20070079233A KR 1020060009790 A KR1020060009790 A KR 1020060009790A KR 20060009790 A KR20060009790 A KR 20060009790A KR 20070079233 A KR20070079233 A KR 20070079233A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
trigger pulse
dcc
rising
look
Prior art date
Application number
KR1020060009790A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
정재원
박봉임
전봉주
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020060009790A priority Critical patent/KR20070079233A/en
Publication of KR20070079233A publication Critical patent/KR20070079233A/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G5/00—Control arrangements or circuits for visual indicators common to cathode-ray tube indicators and other visual indicators
    • G09G5/02—Control arrangements or circuits for visual indicators common to cathode-ray tube indicators and other visual indicators characterised by the way in which colour is displayed
    • G09G5/06—Control arrangements or circuits for visual indicators common to cathode-ray tube indicators and other visual indicators characterised by the way in which colour is displayed using colour palettes, e.g. look-up tables
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N7/00—Television systems
    • H04N7/01—Conversion of standards, e.g. involving analogue television standards or digital television standards processed at pixel level
    • H04N7/0135—Conversion of standards, e.g. involving analogue television standards or digital television standards processed at pixel level involving interpolation processes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0252—Improving the response speed
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N2201/00—Indexing scheme relating to scanning, transmission or reproduction of documents or the like, and to details thereof
    • H04N2201/04—Scanning arrangements
    • H04N2201/047—Detection, control or error compensation of scanning velocity or position
    • H04N2201/04753—Control or error compensation of scanning position or velocity
    • H04N2201/04758—Control or error compensation of scanning position or velocity by controlling the position of the scanned image area
    • H04N2201/04787—Control or error compensation of scanning position or velocity by controlling the position of the scanned image area by changing or controlling the addresses or values of pixels, e.g. in an array, in a memory, by interpolation

Abstract

A DCC measuring system and method are provided to reduce a time required for implementing a look-up table by measuring rising and falling voltages using one test pattern. A system for measuring DCC(Dynamic Capacitance Compensation) includes a pattern generator(223), a brightness processing unit(210), a collector(221), and a look-up table generator(222). The pattern generator generates a test pattern(T_PATT) having a data pattern corresponding to a trigger pulse and predetermined grayscale. The brightness processing unit detects brightness of images displayed on an LCD(Liquid Crystal Display) device, and converts the detected brightness to a voltage signal. The collector collects rising and falling voltages of the voltage signal with respect to transition of the trigger pulse. The look-up table generator forms a look-up table on the DCC voltage based on the rising and falling voltages.

Description

디씨씨 측정 시스템 및 그 방법{SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING DCC}DC measurement system and its method {SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING DCC}

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 DCC 측정 시스템을 보여주는 도면;1 shows a DCC measurement system according to a preferred embodiment of the present invention;

도 2는 패턴 발생기에 의해서 발생된 테스트 패턴 및 휘도계로부터 출력되는 전압 신호를 보여주는 도면; 그리고2 shows a test pattern generated by the pattern generator and a voltage signal output from the luminance meter; And

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 DCC 측정 방법의 수순을 보여준다.Figure 3 shows the procedure of the DCC measurement method according to a preferred embodiment of the present invention.

*도면의 주요 부분에 대한 설명* Description of the main parts of the drawing

100 : 액정 표시 장치 200 : DCC 측정 시스템100: liquid crystal display 200: DCC measuring system

210 : 휘도계 220 : DCC 장치210: luminance meter 220: DCC device

221 : 수집기(DAQ) 223 : 룩-업 테이블 생성기221: Collector (DAQ) 223: Look-up Table Generator

223 : 패턴 발생기223: pattern generator

본 발명은 액정 표시 장치의 응답 속도를 향상시키기 위한 보상 전압을 구하는 DCC(dynamic capacitance compensation) 측정 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a dynamic capacitance compensation (DCC) measurement system for obtaining a compensation voltage for improving a response speed of a liquid crystal display.

DCC 기술은 목표 구동 전압보다 높은/낮은 전압을 픽셀로 제공함으로써 액정 표시 장치의 응답 속도를 향상시키기 위해 사용된다. 목표 구동 전압보다 얼마나 높은/낮은 전압을 픽셀로 제공할 것인 가를 결정하기 위해서는 픽셀로 소정 전압을 인가하고 이때 액정 표시 장치에 표시되는 영상의 휘도를 감지해서 픽셀로 인가되는 전압 레벨을 조정하는 과정이 필요하다.DCC technology is used to improve the response speed of the liquid crystal display by providing pixels with voltages higher / lower than the target driving voltage. In order to determine how much higher / lower voltage than the target driving voltage is to be provided to the pixel, a process of applying a predetermined voltage to the pixel and then adjusting the voltage level applied to the pixel by sensing the luminance of the image displayed on the liquid crystal display This is necessary.

그러나 엔지니어가 픽셀로 인가 가능한 모든 전압들 각각에 대한 보상 전압(DCC 전압)을 직접 구하기에는 많은 시간과 노력이 소요된다.However, it takes a lot of time and effort for the engineer to directly obtain the compensation voltage (DCC voltage) for each of the voltages that can be applied to the pixel.

따라서 본 발명의 목적은 액정 표시 장치의 응답 속도를 향상시키기 위한 보상 전압들을 자동으로 구하는 DCC 측정 방법을 제공하는데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a DCC measurement method for automatically obtaining compensation voltages for improving the response speed of a liquid crystal display.

본 발명의 다른 목적은 액정 표시 장치의 응답 속도를 향상시키기 위한 보상 전압들을 자동으로 구하는 DCC 측정 시스템을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a DCC measurement system that automatically obtains compensation voltages for improving the response speed of a liquid crystal display.

상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 의하면, DCC(dynamic capacitance compensation) 측정 방법은: 트리거 펄스와 소정 계조 전압에 대응하는 데이터 패턴을 갖는 테스트 패턴을 액정 표시 장치로 제공하는 단계, 액정 표시 장치에 표시된 영상의 휘도를 감지하는 단계, 감지된 휘도를 전압 신호로 변환하는 단계, 상기 전압 신호에 포함된 상기 트리거 펄스의 천이를 기준으로 소정 시간 후 상기 전압 신호의 라이징 전압과 폴링 전압을 각각 수집하는 단계, 그리고 상기 라이징 전압과 상기 폴링 전압에 근거해서 DCC(dynamic capacitance compensation) 전압에 대한 룩-업 테이블을 작성하는 단계를 포함한다.According to an aspect of the present invention for achieving the above object, a dynamic capacitance compensation (DCC) measuring method includes the steps of: providing a test pattern having a data pattern corresponding to a trigger pulse and a predetermined gray scale voltage to a liquid crystal display device; Sensing a luminance of an image displayed on the liquid crystal display, converting the sensed luminance into a voltage signal, and after the predetermined time based on the transition of the trigger pulse included in the voltage signal, the rising voltage and the falling voltage of the voltage signal And collecting a look-up table for a dynamic capacitance compensation (DCC) voltage based on the rising voltage and the falling voltage.

상기 트리거 펄스는 1 프레임 동안 소정 전압 레벨로 유지되는 펄스 신호이다.The trigger pulse is a pulse signal that is maintained at a predetermined voltage level for one frame.

상기 전압 수집 단계는, 상기 전압 신호에 포함된 상기 트리거 펄스의 천이를 기준으로 (n+1)번째 프레임의 전압을 상기 라이징 전압으로 수집하는 단계, 그리고 상기 전압 신호에 포함된 상기 트리거 펄스의 천이를 기준으로 (2n+1)번째 프레임의 전압을 상기 폴링 전압으로 수집하는 단계를 포함한다.The collecting voltage may include collecting the voltage of the (n + 1) th frame as the rising voltage based on the transition of the trigger pulse included in the voltage signal, and the transition of the trigger pulse included in the voltage signal. Collecting the voltage of the (2n + 1) th frame based on the polling voltage.

본 발명의 다른 특징에 따른 액정 표시 장치의 응답 속도를 향상시키기 위한 보상 전압 측정하는 DCC(dynamic capacitance compensation) 측정 시스템은: 패턴 생성기, 휘도계, 수집기 그리고 룩-업 테이블 생성기를 포함한다. 상기 패턴 생성기는, 트리거 펄스와 소정 계조 전압에 대응하는 데이터 패턴을 갖는 테스트 패턴을 생성한다. 상기 휘도계는 성가 액정 표시 장치에 표시된 영상의 휘도를 감지하고, 감지된 휘도를 전압 신호로 변환한다. 상기 수집기는 상기 전압 신호에 포함된 상기 트리거 펄스의 천이를 기준으로 소정 시간 후 상기 전압 신호의 라이징 전압과 폴링 전압을 각각 수집한다. 상기 룩-업 테이블 생성기는, 상기 라이징 전압과 상기 폴링 전압에 근거해서 DCC 전압에 대한 룩-업 테이블을 작성한다.According to another aspect of the present invention, a DCC measuring system for measuring a compensation voltage for improving a response speed of a liquid crystal display includes a pattern generator, a luminance meter, a collector, and a look-up table generator. The pattern generator generates a test pattern having a data pattern corresponding to a trigger pulse and a predetermined gray scale voltage. The luminance meter detects the luminance of an image displayed on the annoying liquid crystal display and converts the detected luminance into a voltage signal. The collector collects the rising voltage and the falling voltage of the voltage signal after a predetermined time based on the transition of the trigger pulse included in the voltage signal. The look-up table generator creates a look-up table for the DCC voltage based on the rising voltage and the falling voltage.

상기 수집기는, 상기 전압 신호에 포함된 상기 트리거 펄스의 천이를 기준으로 (n+1)번째 프레임의 전압을 상기 라이징 전압으로 수집하고, 상기 전압 신호에 포함된 상기 트리거 펄스의 천이를 기준으로 (2n+1)번째 프레임의 전압을 상기 폴 링 전압으로 수집한다.The collector collects the voltage of the (n + 1) th frame as the rising voltage based on the transition of the trigger pulse included in the voltage signal, and based on the transition of the trigger pulse included in the voltage signal ( The voltage of the 2n + 1) th frame is collected as the polling voltage.

이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 DCC 측정 시스템을 보여주고 있다.1 shows a DCC measurement system according to a preferred embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, DCC 측정 시스템(200)은 휘도계(210)와 DCC 장치(220)를 포함한다. DCC 장치(220)는 데이터 수집기 즉, DAQ(data acquisition, 221), 룩-업 테이블 생성기(222) 그리고 패턴 발생기(223)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the DCC measurement system 200 includes a luminance meter 210 and a DCC device 220. The DCC device 220 includes a data collector, that is, a data acquisition 221, a look-up table generator 222, and a pattern generator 223.

패턴 발생기(223)는 DCC 전압을 구하기 위한 소정의 테스트 패턴(T_PATT)을 발생한다. 본 발명의 실시예에서 테스트 패턴(T_PATT)은 트리거 펄스 및 데이터 패턴을 포함한다. 데이터 패턴은 계조 전압 레벨을 갖는다. 테스트 패턴(T_PATT)은 액정 표시 장치(100)로 제공된다. 액정 표시 장치(100)는 테스트 패턴(T_PATT)에 대응하는 영상을 디스플레이한다.The pattern generator 223 generates a predetermined test pattern T_PATT for obtaining the DCC voltage. In an embodiment of the present invention, the test pattern T_PATT includes a trigger pulse and a data pattern. The data pattern has a gray voltage level. The test pattern T_PATT is provided to the liquid crystal display 100. The liquid crystal display 100 displays an image corresponding to the test pattern T_PATT.

휘도계(210)는 액정 표시 장치(100)에 디스플레이되는 영상의 휘도를 감지하고 감지된 휘도 정보를 전압 신호로 변환한다. 휘도계(210)로부터 출력되는 전압 신호는 DCC 장치(220) 내 DAQ(221)로 제공된다. DAQ(221)는 매 프레임마다 전압을 검출한다.The luminance meter 210 detects luminance of an image displayed on the liquid crystal display 100 and converts the sensed luminance information into a voltage signal. The voltage signal output from the luminance meter 210 is provided to the DAQ 221 in the DCC device 220. The DAQ 221 detects a voltage every frame.

룩-업 테이블 생성기(222)는 DAQ(221)로부터 제공된 프레임 전압들을 가지고 DCC 룩-업 테이블(DCC_LUT)을 작성한다.The look-up table generator 222 creates a DCC look-up table (DCC_LUT) with the frame voltages provided from the DAQ 221.

이와 같은 구성을 갖는 DCC 측정 시스템(200)은 패턴 발생기(223)에 의해서 발생된 테스트 패턴(T_PATT)의 트리거 펄스를 기준으로 소정 프레임 뒤 발생하는 데이터 패턴의 라이징 전압 및 폴링 전압을 수집한다.The DCC measurement system 200 having such a configuration collects the rising voltage and the falling voltage of the data pattern generated after a predetermined frame based on the trigger pulse of the test pattern T_PATT generated by the pattern generator 223.

계속해서 도 2 및 도 3을 참조하여 도 1에 도시된 DCC 측정 시스템의 동작이 설명된다.Subsequently, the operation of the DCC measurement system shown in FIG. 1 is described with reference to FIGS. 2 and 3.

도 2는 패턴 발생기(223)에 의해서 발생된 테스트 패턴 및 휘도계(210)로부터 출력되는 전압 신호를 보여주고 있고, 도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 DCC 측정 방법의 수순을 보여준다.2 illustrates a test pattern generated by the pattern generator 223 and a voltage signal output from the luminance meter 210, and FIG. 3 illustrates a procedure of a DCC measuring method according to a preferred embodiment of the present invention.

단계 300에서 패턴 발생기(223)는 테스트 패턴(T_PATT)을 발생한다. 테스트 패턴(T_PATT)은 트리거 펄스와 데이터 패턴을 포함한다. 트리거 펄스는 1프레임 동안 소정 전압 레벨로 유지되는 펄스 신호이고, 데이터 패턴은 n프레임 동안 계조 전압 레벨로 유지되는 신호이다. 트리거 펄스와 데이터 패턴은 n 프레임 간격으로 순차적으로 발생된다. 발생된 테스트 패턴(T_PATT)은 액정 표시 장치(100)로 제공된다.In operation 300, the pattern generator 223 generates a test pattern T_PATT. The test pattern T_PATT includes a trigger pulse and a data pattern. The trigger pulse is a pulse signal maintained at a predetermined voltage level for one frame, and the data pattern is a signal maintained at a gray voltage level for n frames. Trigger pulses and data patterns are generated sequentially at n frame intervals. The generated test pattern T_PATT is provided to the liquid crystal display 100.

단계 310에서 휘도계(210)는 액정 표시 장치(100)에 표시된 영상의 휘도를 감지하고, 감지된 휘도에 대응하는 전압 신호를 출력한다.In operation 310, the luminance meter 210 detects the luminance of the image displayed on the liquid crystal display 100 and outputs a voltage signal corresponding to the sensed luminance.

단계 320에서, DAQ(221)는 매 프레임마다 휘도계(210)로부터 출력되는 전압 신호 수집한다. 이때, DAQ(221)가 전압 감지를 시작하는 시작점은 트리거 펄스의 폴링 에지이다. 트리거 펄스의 폴링 에지로부터 (n+1)프레임 이후에 데이터 패턴의 전압 상승이 시작되고, 트리거 펄스의 폴링 에지로부터 (2n+1)프레임 이후에 데이터 패턴의 전압 하강이 시작된다.In operation 320, the DAQ 221 collects a voltage signal output from the luminance meter 210 every frame. At this time, the starting point at which the DAQ 221 starts voltage sensing is the falling edge of the trigger pulse. The voltage rise of the data pattern begins after a (n + 1) frame from the falling edge of the trigger pulse, and the voltage drop of the data pattern begins after a (2n + 1) frame from the falling edge of the trigger pulse.

도 2에 도시된 바와 같이, DAQ(221)는 매 프레임마다 휘도계(210)로부터 출력되는 전압 신호를 수집하므로, 트리거 펄스의 폴링 에지로부터 (n+1)프레임 이후 의 전압 즉, 데이터 패턴의 전압이 상승하기 시작한 후 1 프레임이 경과했을 때의 전압인 라이징 전압(Vr)과, 트리거 펄스의 폴링 에지로부터 (2n+1)프레임 이후의 전압 즉, 데이터 패턴의 전압이 하강하기 시작한 후 1 프레임이 경과했을 때의 전압인 폴링 전압(Vf)이 수집된다.As shown in FIG. 2, the DAQ 221 collects a voltage signal output from the luminance meter 210 every frame, so that the voltage after the (n + 1) frame, that is, the data pattern, from the falling edge of the trigger pulse is collected. Rising voltage (Vr), which is the voltage when one frame elapses after the voltage starts to rise, and one frame after the voltage (2n + 1) or more from the falling edge of the trigger pulse, that is, the voltage of the data pattern starts to fall. The polling voltage Vf, which is the voltage when this elapses, is collected.

단계 330에서, 룩-업 테이블 생성기(222)는 DAQ(221)에서 수집된 라이징 전압(Vr) 및 폴링 전압(Vf)과 목표 라이징 전압 및 목표 폴링 전압을 각각 비교해서 차를 구하는 파형 분석을 수행한다.In operation 330, the look-up table generator 222 performs a waveform analysis to obtain a difference by comparing the rising voltage Vr and the falling voltage Vf collected from the DAQ 221 with the target rising voltage and the target falling voltage, respectively. do.

단계 340에서, 룩-업 테이블 생성기(340)는 라이징 전압(Vr)과 목표 라이징 전압 그리고 폴링 전압(Vf)과 목표 폴링 전압의 차를 가지고 룩-업 테이블을 작성한다.In step 340, the look-up table generator 340 creates a look-up table with the rising voltage Vr and the target rising voltage and the difference between the falling voltage Vf and the target falling voltage.

상술한 바와 같이, 본 발명의 DCC 측정 시스템(200)은 트리거 펄스를 기준으로 (n+1)번째 프레임에서의 라이징 전압(Vr) 및 (2n+1)번째 프레임에서의 폴링 전압(Vf)을 수집하므로, 라이징 전압(Vr) 및 폴링 전압(Vf)을 정확하게 측정할 수 있다. 시작점이 되는 트리거 펄스를 사용하지 않는 경우, DAQ(221)의 특성에 따라서 라이징 전압(Vr) 및 폴링 전압(Vf)을 수집 시점이 가변적이어서 정확한 라이징 전압(Vr) 및 폴링 전압(Vf)을 획득할 수 없게 된다.As described above, the DCC measurement system 200 of the present invention measures the rising voltage Vr in the (n + 1) th frame and the falling voltage Vf in the (2n + 1) th frame based on the trigger pulse. By collecting, the rising voltage Vr and the falling voltage Vf can be measured accurately. When not using the trigger pulse as a starting point, the acquisition time of the rising voltage (Vr) and the falling voltage (Vf) is variable according to the characteristics of the DAQ 221 to obtain the correct rising voltage (Vr) and the falling voltage (Vf) You will not be able to.

또한, 본 발명의 DCC 측정 시스템(200)은 트리거 펄스를 기준으로 (n+1)번째 프레임에서의 라이징 전압(Vr) 및 (2n+1)번째 프레임에서의 폴링 전압(Vf)을 수 집하므로 하나의 테스트 패턴을 이용하여 라이징 전압(Vr) 및 폴링 전압(Vf)을 획득할 수 있다. 이는 라이징 전압(Vr)을 수집하기 위한 테스트 패턴과 폴링 전압(Vf)을 수집하기 위한 테스트 패턴을 구분하는 것에 비해 테스트 시간이 1/2로 감소 한다. In addition, the DCC measurement system 200 of the present invention collects the rising voltage Vr in the (n + 1) th frame and the polling voltage Vf in the (2n + 1) th frame based on the trigger pulse. The rising voltage Vr and the falling voltage Vf may be obtained using one test pattern. This reduces the test time by one half compared to distinguishing the test pattern for collecting the rising voltage Vr and the test pattern for collecting the falling voltage Vf.

또한, 본 발명의 DCC 측정 시스템(200)은 모든 계조 전압들에 대한 테스트 패턴을 생성하지 않고, 소정 간격의 계조 전압들에 대한 테스트 패턴을 생성해서 라이징 전압(Vr) 및 폴링 전압(Vf)을 획득한 후 나머지 계조 전압들에 대한 라이징 전압 및 폴링 전압을 보간(interpolation)한 방식으로 룩-업 테이블을 작성한다. 그러므로 DCC 측정 시스템(200)의 룩-업 테이블 작성에 소요되는 시간은 더욱 감소한다.In addition, the DCC measurement system 200 of the present invention does not generate a test pattern for all gray voltages, but generates a test pattern for gray voltages at a predetermined interval to obtain a rising voltage Vr and a falling voltage Vf. After the acquisition, the look-up table is created by interpolating the rising voltage and the falling voltage for the remaining gray voltages. Therefore, the time required to prepare the look-up table of the DCC measurement system 200 is further reduced.

예시적인 바람직한 실시예를 이용하여 본 발명을 설명하였지만, 본 발명의 범위는 개시된 실시예들에 한정되지 않는다는 것이 잘 이해될 것이다. 오히려, 본 발명의 범위에는 다양한 변형 예들 및 그 유사한 구성들이 모두 포함될 수 있도록 하려는 것이다. 따라서, 청구범위는 그러한 변형 예들 및 그 유사한 구성들 모두를 포함하는 것으로 가능한 폭넓게 해석되어야 한다. While the invention has been described using exemplary preferred embodiments, it will be understood that the scope of the invention is not limited to the disclosed embodiments. Rather, the scope of the present invention is intended to include all of the various modifications and similar configurations. Accordingly, the claims should be construed as broadly as possible to cover all such modifications and similar constructions.

이와 같은 본 발명에 의하면, 액정 표시 장치의 응답 속도를 향상시키기 위한 보상 전압을 구하는데 필요한 룩-업 테이블이 DCC 측정 시스템에 의해서 자동으로 생성된다. 더욱이, 트리거 펄스를 기준으로 하여 라이징 전압과 폴링 전압을 측정하므로 정확도가 향상되고, 하나의 테스트 패턴으로 라이징 전압과 폴링 전압 을 모두 측정할 수 있어서 룩-업 테이블 작성에 소요되는 시간이 감소한다.According to the present invention, a look-up table necessary for obtaining a compensation voltage for improving the response speed of the liquid crystal display is automatically generated by the DCC measurement system. In addition, accuracy is increased by measuring the rising and falling voltages based on the trigger pulse, and both the rising and falling voltages can be measured in one test pattern, reducing the time required to create the look-up table.

Claims (6)

트리거 펄스와 소정 계조 전압에 대응하는 데이터 패턴을 갖는 테스트 패턴을 액정 표시 장치로 제공하는 단계와;Providing a test pattern having a trigger pulse and a data pattern corresponding to a predetermined gray scale voltage to the liquid crystal display; 액정 표시 장치에 표시된 영상의 휘도를 감지하는 단계와;Sensing the luminance of an image displayed on the liquid crystal display; 감지된 휘도를 전압 신호로 변환하는 단계와;Converting the sensed luminance into a voltage signal; 상기 전압 신호에 포함된 상기 트리거 펄스의 천이를 기준으로 소정 시간 후 상기 전압 신호의 라이징 전압과 폴링 전압을 각각 수집하는 단계; 그리고Collecting a rising voltage and a falling voltage of the voltage signal after a predetermined time based on the transition of the trigger pulse included in the voltage signal; And 상기 라이징 전압과 상기 폴링 전압에 근거해서 DCC(dynamic capacitance compensation) 전압에 대한 룩-업 테이블을 작성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 DCC 측정 방법.And generating a look-up table for a dynamic capacitance compensation (DCC) voltage based on the rising voltage and the falling voltage. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 트리거 펄스는 1 프레임 동안 소정 전압 레벨로 유지되는 펄스 신호인 것을 특징으로 하는 DCC 측정 방법.And the trigger pulse is a pulse signal maintained at a predetermined voltage level for one frame. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 전압 수집 단계는,The voltage collection step, 상기 전압 신호에 포함된 상기 트리거 펄스의 천이를 기준으로 (n+1)번째 프레임의 전압을 상기 라이징 전압으로 수집하는 단계; 그리고Collecting the voltage of the (n + 1) th frame as the rising voltage based on the transition of the trigger pulse included in the voltage signal; And 상기 전압 신호에 포함된 상기 트리거 펄스의 천이를 기준으로 (2n+1)번째 프레임의 전압을 상기 폴링 전압으로 수집하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 DCC 측정 방법.And collecting a voltage of a (2n + 1) th frame as the falling voltage based on the transition of the trigger pulse included in the voltage signal. 액정 표시 장치의 응답 속도를 향상시키기 위한 보상 전압 측정하는 DCC(dynamic capacitance compensation) 측정 시스템에 있어서:In a dynamic capacitance compensation (DCC) measurement system for measuring a compensation voltage to improve a response speed of a liquid crystal display device: 트리거 펄스와 소정 계조 전압에 대응하는 데이터 패턴을 갖는 테스트 패턴을 생성하는 패턴 생성기와;A pattern generator for generating a test pattern having a trigger pulse and a data pattern corresponding to a predetermined gray scale voltage; 성가 액정 표시 장치에 표시된 영상의 휘도를 감지하고, 감지된 휘도를 전압 신호로 변환하는 휘도계와;A luminance meter for sensing the luminance of an image displayed on the annoying liquid crystal display and converting the detected luminance into a voltage signal; 상기 전압 신호에 포함된 상기 트리거 펄스의 천이를 기준으로 소정 시간 후 상기 전압 신호의 라이징 전압과 폴링 전압을 각각 수집하는 수집기; 그리고A collector configured to collect the rising voltage and the falling voltage of the voltage signal after a predetermined time based on the transition of the trigger pulse included in the voltage signal; And 상기 라이징 전압과 상기 폴링 전압에 근거해서 DCC 전압에 대한 룩-업 테이블을 작성하는 룩-업 테이블 생성기를 포함하는 것을 특징으로 하는 DCC 측정 시스템.And a look-up table generator for creating a look-up table for the DCC voltage based on the rising voltage and the falling voltage. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 트리거 펄스는 1 프레임 동안 소정 전압 레벨로 유지되는 펄스 신호인 것을 특징으로 하는 DCC 측정 시스템.The trigger pulse is a pulse signal maintained at a predetermined voltage level for one frame. 제 5 항에 있어서,The method of claim 5, 상기 수집기는,The collector, 상기 전압 신호에 포함된 상기 트리거 펄스의 천이를 기준으로 (n+1)번째 프레임의 전압을 상기 라이징 전압으로 수집하고, 상기 전압 신호에 포함된 상기 트리거 펄스의 천이를 기준으로 (2n+1)번째 프레임의 전압을 상기 폴링 전압으로 수집하는 것을 특징으로 하는 DCC 측정 시스템.The voltage of the (n + 1) th frame is collected as the rising voltage based on the transition of the trigger pulse included in the voltage signal, and (2n + 1) based on the transition of the trigger pulse included in the voltage signal. Collecting the voltage of the first frame as the polling voltage.
KR1020060009790A 2006-02-01 2006-02-01 System and method for measuring dcc KR20070079233A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060009790A KR20070079233A (en) 2006-02-01 2006-02-01 System and method for measuring dcc

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060009790A KR20070079233A (en) 2006-02-01 2006-02-01 System and method for measuring dcc

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20070079233A true KR20070079233A (en) 2007-08-06

Family

ID=38599913

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060009790A KR20070079233A (en) 2006-02-01 2006-02-01 System and method for measuring dcc

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20070079233A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8913071B2 (en) 2011-04-08 2014-12-16 Samsung Display Co., Ltd. Liquid crystal display, and device and method of modifying image signal for liquid crystal display
KR20160004136A (en) * 2014-07-02 2016-01-12 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus and method for compensating of brightness deviation

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8913071B2 (en) 2011-04-08 2014-12-16 Samsung Display Co., Ltd. Liquid crystal display, and device and method of modifying image signal for liquid crystal display
KR20160004136A (en) * 2014-07-02 2016-01-12 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus and method for compensating of brightness deviation

Similar Documents

Publication Publication Date Title
AU2014371874B2 (en) Life prediction method, life prediction program, and life prediction device
CN101231830B (en) Method for generating LCD device gamma correction table
CN102118549B (en) Image sensing device and method for sensing flashing frequency light by using same
US10403187B2 (en) Gamma voltage debugging method for electroluminescent display device and apparatus thereof
CN103257468B (en) A kind of liquid crystal display response time measuring method based on reference brightness
JP2000089709A (en) Automatic image quality regulating device and display device
US10750148B2 (en) Unevenness correction system, unevenness correction apparatus and panel drive circuit
CN100424733C (en) Method and apparatus for controlling the brightness of image display device
CN103926714A (en) Gamma correction system of display device and correction method
CN104952419B (en) Flicker of display panel degree adjusting apparatus and method
CN103676231A (en) Method and device for measuring Flicker value of liquid crystal module
CN101577096B (en) Method for adjusting common voltage of liquid crystal display device
JP2000305555A (en) Image display device
JP2005242308A (en) Lcd overdrive auto-calibration apparatus and method
CN102682681B (en) Liquid crystal display response time measuring method and device
CN111025698A (en) Detection device and detection method for measuring flicker degree of display panel
US11651747B2 (en) Flicker measurement device and measurement method
KR20070079233A (en) System and method for measuring dcc
WO2020149068A1 (en) Flicker measurement device, flicker measurement method, and flicker measurement program
CN104700759A (en) Device and method for analyzing brightness spectrum of display panel
JP2001042845A (en) Data obtaining device for dynamic characteristic measurement of display, and dynamic characteristic measuring device
KR102445424B1 (en) Display device and method and apparatus for detecting bending degree of display device
CN204463781U (en) Display panel luminance spectrum analytical equipment
US20230204413A1 (en) Method and apparatus for detecting ambient light under display screen, and electronic device
CN110599935A (en) Automatic adjusting device and automatic adjusting method for public voltage

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination