KR20070048970A - Method for examining optical components of an optical pick-up device - Google Patents

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KR20070048970A
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Abstract

본 발명의 광픽업장치의 광부품 검사방법은 (ａ) 적어도 하나의 광부품을 광경로에 대해 조정가능하도록 광픽업베이스에 설치하는 단계, (ｂ) 광부품에 광빔을 조사하여 광경로를 검사하는 단계, (ｃ) (ｂ)단계에서 광경로의 오차가 발생되는 경우, 적어도 하나의 광부품을 조정하여 광경로의 오차를 제거하는 단계 및 (ｄ) 광부품을 광픽업베이스에 고정되게 결합하는 단계를 포함하고, 이때, 적어도 하나의 광부품은 광경로에 대해 전후로 이동되거나 또는 회전됨으로써 조정될 수 있다.The optical component inspection method of the optical pickup apparatus of the present invention comprises the steps of: (a) installing at least one optical component on the optical pickup base to be adjustable with respect to the optical path, (i) irradiating a light beam to the optical component to inspect the optical path And (c) if an error in the optical path occurs in step (c), adjusting the at least one optical part to eliminate the error in the optical path, and (d) fixing the optical part fixedly to the optical pickup base. Wherein the at least one optical component can be adjusted by moving back and forth or rotating relative to the optical path.

광픽업장치, 광경로, 검사방법, 오차, 조정 Optical pickup device, optical path, inspection method, error, adjustment

Description

광픽업장치의 광부품 검사방법{Method for Examining optical components of an optical pick-up device}Method for Examining optical components of an optical pick-up device

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광픽업장치의 광부품 검사방법을 나타내는 흐름도;1 is a flowchart showing an optical component inspection method of an optical pickup apparatus according to a preferred embodiment of the present invention;

도 2a 내지 도 2d는 도 1의 검사방법을 나타내는 개략도; 및2A-2D are schematic diagrams showing the inspection method of FIG. 1; And

도 3a 내지 도 3f는 종래기술의 광픽업장치의 광부품 검사방법을 나타내는 개략도이다.3A to 3F are schematic diagrams showing an optical component inspection method of the optical pickup apparatus of the prior art.

〈도면의 주요부분에 대한 부호의 설명〉<Explanation of symbols for main parts of drawing>

10, 210 : 광픽업베이스 20, 220 : 광원10, 210: optical pickup base 20, 220: light source

30, 230 : 제1반사거울 40, 240 : 제2반사거울30, 230: first reflection mirror 40, 240: second reflection mirror

50, 250 : 기준거울 60, 260 : 판형빔분할기50, 250: reference mirror 60, 260: plate beam splitter

70, 270 : 정방형빔분할기70, 270: square beam splitter

본 발명은 광픽업장치의 광부품 검사방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 광픽업베이스에 설치되는 광부품의 광경로 오차를 신속하게 검사할 수 있는 광픽업 장치의 광부품 검사방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical component inspection method of an optical pickup apparatus, and more particularly, to an optical component inspection method of an optical pickup apparatus capable of quickly inspecting an optical path error of an optical component installed in an optical pickup base.

광픽업장치는 광기록/재생장치에 장착되어 기록매체인 광디스크에 정보를 기록하거나 기록된 정보를 재생하는 장치로, 광디스크에 광빔을 수직으로 조사하고 광디스크에서 반사되는 광빔을 검출하는 방식으로 구동된다.The optical pickup device is a device mounted on an optical recording / reproducing apparatus for recording information on or reproducing the recorded information on an optical disk, which is a recording medium. .

여기서, 광픽업장치의 광원에서 출사되는 광빔이 광디스크에 수직으로 입사되고 광디스크에서 반사되는 광빔이 광검출기에 정확히 입사될 수 있도록, 광부품은 광경로의 오차 발생 여부에 대해 개별적으로 검사된 후 광픽업베이스에 설치되어야 하며, 이와 같은 광부품 검사방법을 다음의 도 3a 내지 도 3f에 개략적으로 도시하였다.Here, the optical parts are individually inspected for errors in the optical paths so that the light beams emitted from the light source of the optical pickup apparatus are incident perpendicularly to the optical discs and the light beams reflected from the optical discs are accurately incident on the photodetectors. Should be installed in the pickup base, such an optical component inspection method is schematically shown in the following Figures 3a to 3f.

도 3a에 도시된 바와 같이, 종래의 광부품 검사방법은 먼저 광픽업베이스(10)에 광원(20) 및 제1반사거울(30)이 소정 위치에 설치된 후, 검사하고자 하는 제2반사거울(40) 및 광빔을 검사기로 반사시키는 기준거울(50)이 소정 위치에 임시 배치된다. 여기서, 검사기는 광원(20) 내부에 일체로 설치되므로 도시하지 않으며 광원(20)과 동일한 참조번호로 표시된다.As shown in FIG. 3A, in the conventional optical component inspection method, first, a light source 20 and a first reflection mirror 30 are installed at a predetermined position on an optical pickup base 10, and then a second reflection mirror to be inspected ( 40 and a reference mirror 50 for reflecting the light beam to the inspector are temporarily disposed at a predetermined position. Here, the inspector is installed in the light source 20 integrally, not shown, and is indicated by the same reference numerals as the light source 20.

다음, 도 3b에 도시된 바와 같이, 광원(20)에서 출사되고 제1 및 제2반사거울(30,40)에서 반사된 광빔이 기준거울(50)에 반사되어 검사기(20)로 입사된다. 이때, 검사기(20)에서 광빔의 광경로 오차를 검사하여 광경로의 불량 여부를 판별한다. 만약 제2반사거울(40)이 정확한 광경로를 갖는다면 제2반사거울(40)은 광픽업베이스(10)에 고정되게 설치되고 기준거울(50)이 제거된다.Next, as shown in FIG. 3B, the light beams emitted from the light source 20 and reflected from the first and second reflection mirrors 30 and 40 are reflected by the reference mirror 50 and are incident to the inspector 20. At this time, the inspector 20 determines whether the light path is defective by checking the light path error of the light beam. If the second reflection mirror 40 has the correct optical path, the second reflection mirror 40 is installed to be fixed to the optical pickup base 10 and the reference mirror 50 is removed.

다음, 도 3c에 도시된 바와 같이, 광픽업베이스(10)에 검사하고자 하는 판형 빔분할기(60)와 기준거울(50)이 임시 배치된다. Next, as illustrated in FIG. 3C, the plate-shaped beam splitter 60 and the reference mirror 50 to be inspected are temporarily arranged on the optical pickup base 10.

다음, 도 3d에 도시된 바와 같이, 광원(20)에서 출사되고 판형빔분할기(60)에서 회절반사된 광빔이 기준거울(50)에 반사되어 검사기(20)로 입사되고, 광경로 오차가 검사된다. 만약 판형빔분할기(60)가 정확한 광경로를 갖는다면 판형빔분할기(60)는 광픽업베이스(10)에 고정되게 설치되고 기준거울(50)이 제거된다.Next, as shown in FIG. 3D, the light beam emitted from the light source 20 and diffracted by the plate-shaped beam splitter 60 is reflected on the reference mirror 50 to be incident on the inspector 20, and the optical path error is inspected. do. If the plate-shaped beam splitter 60 has the correct optical path, the plate-shaped beam splitter 60 is installed to be fixed to the optical pickup base 10 and the reference mirror 50 is removed.

다음, 도 3e에 도시된 바와 같이, 광픽업베이스(10)에 정방형빔분할기(70)와 기준거울(50)이 임시 배치된다.Next, as shown in FIG. 3E, a square beam splitter 70 and a reference mirror 50 are temporarily disposed on the optical pickup base 10.

마지막으로, 도 3f에 도시된 바와 같이, 광원(20)에서 출사되고 정방형빔분할기(70)에서 반사된 광빔이 기준거울(50)에 반사되어 검사기(20)로 입사되고, 광경로의 오차가 검사된다. 만약 정방형빔분할기(70)가 정확한 광경로를 갖는다면 정방형빔분할기(70)는 광픽업베이스(10)에 고정되게 설치되고 기준거울(50)이 제거된다.Finally, as shown in FIG. 3F, the light beam emitted from the light source 20 and reflected from the square beam splitter 70 is reflected by the reference mirror 50 to be incident to the inspector 20, and the error of the light path is Is checked. If the square beam splitter 70 has the correct optical path, the square beam splitter 70 is fixed to the optical pickup base 10 and the reference mirror 50 is removed.

그러나 상술한 종래기술의 광부품 검사방법은 광픽업베이스에 각각의 광부품을 설치할 때마다 광경로 오차에 대한 검사가 매번 수행되고 있어 조립공정에 많은 시간이 요구되는 문제점이 있었다.However, the above-described optical component inspection method of the related art has a problem that a lot of time is required for the assembly process because the inspection of the optical path error is performed every time each optical component is installed in the optical pickup base.

또한, 광경로 오차 검사시 불량으로 판정되는 광픽업이 전량 폐기되어 생산단가가 증가되는 문제점이 있었다.In addition, there is a problem in that the production cost is increased by discarding all the optical pickup that is determined to be defective when inspecting the optical path error.

본 발명은 상술한 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 창안한 것으로, 광경로 검사 없이 대부분의 광부품을 광픽업베이스에 설치하고, 한 번의 광경로 오차 검사를 수행함으로써, 조립공정에 요구되는 시간을 단축시키는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and by installing most optical parts in the optical pickup base without optical path inspection, and performing a single optical path error inspection, the time required for the assembly process is reduced. It aims at shortening.

또한, 적어도 하나의 광부품을 광경로에 대해 조정가능하게 설치하고 광경로 검사시 불량으로 판정되었을 때, 이 광부품을 조정하여 광경로의 오차를 제거함으로써 생산단가를 줄이는 것을 목적으로 한다.In addition, when at least one optical component is installed to be adjustable with respect to the optical path and is determined to be defective in the optical path inspection, the object is to reduce the production cost by adjusting the optical part to eliminate the error in the optical path.

상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 (ａ) 적어도 하나의 광부품을 광경로에 대해 조정가능하도록 광픽업베이스에 설치하는 단계, (ｂ) 광부품에 광빔을 조사하여 광경로를 검사하는 단계, (ｃ) (ｂ)단계에서 광경로의 오차가 발생되는 경우, 적어도 하나의 광부품을 조정하여 광경로의 오차를 제거하는 단계 및 (ｄ) 광부품을 광픽업베이스에 고정되게 결합하는 단계를 포함하는 광픽업장치의 광부품 검사방법을 제공한다.In order to achieve the object of the present invention described above, the present invention (a) installing at least one optical component in the optical pickup base to be adjustable with respect to the optical path, (i) irradiating a light beam to the optical component to the optical path (C) if an error in the optical path occurs in step (c) (i), adjusting the at least one optical part to remove the error in the optical path, and (d) fixing the optical part to the optical pickup base. It provides an optical component inspection method of the optical pickup device comprising the step of combining.

이때, 적어도 하나의 광부품은 광경로에 대해 전후로 이동되거나 또는 회전됨으로써 조정될 수 있다.In this case, the at least one optical component may be adjusted by being moved back and forth or rotated with respect to the optical path.

또한, 적어도 하나의 광부품은 정방형빔분할기일 수 있다.In addition, the at least one optical component may be a square beam splitter.

이하, 첨부도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광픽업장치의 광부품 검사방법을 상세하게 설명한다.Hereinafter, an optical part inspection method of an optical pickup apparatus according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1에 도시한 바와 같이, 본 실시예에 따른 광픽업장치의 광부품 검사방법은 광원, 제1반사거울, 제2반사거울, 판형빔분할기 및 정방형빔분할기 등의 광부품과 기준거울을 광픽업베이스에 설치하는 단계(Ｓ110), 광부품에 광빔을 조사하여 광경로를 검사하는 단계(Ｓ120), 광경로에 대한 오차가 발생하는 경우, 정방형빔분할기를 조정하여 광경로 오차를 제거하는 단계(Ｓ130) 및 광부품을 장착하고 기준거울을 제거하는 단계(Ｓ140)를 포함한다.As shown in FIG. 1, the optical component inspection method of the optical pickup apparatus according to the present embodiment includes optical components such as a light source, a first reflecting mirror, a second reflecting mirror, a plate beam splitter, and a square beam splitter, and a reference mirror. Installing in the pickup base (S110), irradiating a light beam to the optical component to inspect the optical path (S120), if an error in the optical path occurs, adjusting the square beam splitter to remove the optical path error (S130) and the step of mounting the optical component and removing the reference mirror (S140).

상술한 광픽업장치의 광부품 검사방법을 다음의 도 2a 내지 도 2d에 개략적으로 도시한다. The optical component inspection method of the optical pickup apparatus described above is schematically shown in Figs. 2A to 2D.

먼저, 도 2a에 도시한 바와 같이, 광픽업베이스(210)에 광원(220), 제1반사거울(230), 제2반사거울(240), 판형빔분할기(260)를 고정되게 설치하고, 정방형빔분할기(270)를 조정가능하게 설치하며, 기준거울(250)을 제거가능하게 설치한다.First, as shown in FIG. 2A, a light source 220, a first reflecting mirror 230, a second reflecting mirror 240, and a plate-shaped beam splitter 260 are fixedly installed on the optical pickup base 210. The square beam splitter 270 is installed to be adjustable, and the reference mirror 250 is installed to be removable.

광원(220)은 기록매체에 정보를 기록하거나 기록된 정보를 판독하는 데 사용되는 광빔을 출사하기 위한 것으로, 광픽업베이스(210)에 고정되게 결합되고 광빔은 소정의 파장을 갖는다. The light source 220 emits a light beam used for recording information on the recording medium or reading the recorded information. The light source 220 is fixedly coupled to the optical pickup base 210 and the light beam has a predetermined wavelength.

이때, 광원(220)은 기록매체가 DVD인 경우 650nm의 파장을 갖는 광빔을 발광시키는 DVD용 광원과 기록매체가 CD인 경우 780nm의 파장을 갖는 광빔을 발광시키는 CD용 광원으로 이루어지고, 기록매체의 종류에 해당하는 광원을 채용하여 사용한다.At this time, the light source 220 is composed of a DVD light source for emitting a light beam having a wavelength of 650nm when the recording medium is a DVD and a CD light source for emitting a light beam having a wavelength of 780nm when the recording medium is a CD, Adopt a light source that corresponds to the type of.

하지만, 최근에는 기록매체의 호환 적용에 대한 요구로써 서로 다른 파장의 광빔을 출사하는 2개의 광원을 모두 사용한다. 본 실시예의 광픽업장치도 두 종류의 광원을 모두 사용하지만, 광경로의 검사를 위해 하나의 광원(220)만을 사용하기로 한다. Recently, however, both light sources emitting light beams having different wavelengths are used as a request for compatible application of recording media. Although the optical pickup apparatus of the present embodiment uses both kinds of light sources, only one light source 220 is used for the inspection of the optical path.

또한, 광원(220)은 그 내부에 검사기가 설치되어 도시되지 않으므로, 본 실 시예에서 검사기는 광원(220)과 동일한 참조번호로 표시하기로 한다. 여기서, 검사기(220)는 광빔이 맺히는 위치를 검사하여 광경로의 오차를 검사한다. In addition, since the light source 220 is not shown installed inside the tester, the tester in the present embodiment will be denoted by the same reference numerals as the light source 220. Here, the inspector 220 inspects the position of the light beam to check the error of the optical path.

제1 및 제2반사거울(230,240)는 광원(220)에서 출사되는 광빔을 반사하기 위한 것으로, 소정 각도로 경사지게 설치된다.The first and second reflection mirrors 230 and 240 are for reflecting the light beams emitted from the light source 220 and are inclined at a predetermined angle.

판형빔분할기(260)는 광빔을 회절반사하기 위한 것으로, 소정 각도로 경사지게 설치되며, 전면은 제2반사거울(240)로부터 입사되는 광빔을 회절반사하도록 코팅 처리된다.The plate beam splitter 260 is for diffractive reflection of the light beam, is inclined at a predetermined angle, and the front surface is coated to diffract and reflect the light beam incident from the second reflection mirror 240.

정방형빔분할기(270)는 광원(220)으로부터의 광빔과 광디스크에서 반사되는 광빔을 분리하기 위한 것으로, 외력에 의해 조정가능하게 광픽업베이스에 설치된다.The square beam splitter 270 separates the light beam from the light source 220 and the light beam reflected from the optical disk, and is installed on the optical pickup base to be adjustable by an external force.

여기서, 정방형빔분할기(270)는 광픽업베이스(210)에 A-A를 축으로 회전가능하게 설치되거나 광경로에 대해 화살표 B방향으로 미소거리만큼 이동가능하게 설치된다.Here, the square beam splitter 270 is installed on the optical pick-up base 210 so as to be rotatable about A-A or to be moved by a small distance in the arrow B direction with respect to the optical path.

또한, 정방형빔분할기(270)는 두 개의 삼각 프리즘을 겹쳐 전체적으로 정육면체로 형성되고, 프리즘의 서로 겹쳐진 면에 반사면을 형성하고, 반사면은 광원(220)으로부터 입사되는 광빔을 광디스크로 회절반사하고, 광디스크로부터 반사되는 광빔을 미도시한 광검출기로 안내한다.In addition, the square beam splitter 270 is formed as a cube in total by overlapping two triangular prisms, and forms a reflective surface on the superposed surfaces of the prism, and the reflective surface diffracts and reflects the light beam incident from the light source 220 onto the optical disk. The light beam reflected from the optical disc is guided to a photodetector (not shown).

여기서, 광검출기는 입사되는 광빔을 검출하여 알에프(RF), 포커스 에러검출, 트랙킹조절 및 정보를 전기적 신호로 변환시킨다.Here, the photodetector detects the incident light beam and converts RF, focus error detection, tracking control and information into an electrical signal.

기준거울(250)은 광빔을 반사하기 위한 것으로, 광원(220), 제1 및 제2반사 거울(230,240), 판형빔분할기(260) 및 정방형빔분할기(270)의 경로를 통해 진행되는 광빔을 반사하여 역순으로 진행시킨다.The reference mirror 250 reflects the light beam, and receives the light beam traveling through the paths of the light source 220, the first and second reflection mirrors 230 and 240, the plate beam splitter 260, and the square beam splitter 270. Reflect and proceed in reverse order.

다음, 도 2b에 도시한 바와 같이, 광원(220)에서 출사되고 제1 및 제2반사거울(230,240), 판형빔분할기(260) 및 정방형빔분할기(270)를 통해 진행되는 광빔이 기준거울(250)에 반사되어 광원(220) 내에 설치되는 검사기(220)로 입사된다. Next, as shown in FIG. 2B, the light beam emitted from the light source 220 and propagated through the first and second reflection mirrors 230 and 240, the plate beam splitter 260, and the square beam splitter 270 is a reference mirror ( The light is reflected by 250 and incident to the inspector 220 installed in the light source 220.

광빔은 45°로 경사지게 설치된 제1반사거울(230)에 의해 90°로 반사되어 제2반사거울(240)에 입사되고, 제2반사거울(240)은 제1반사거울(230)에서 반사된 광빔을 판형빔분할기(260)로 다시 반사한다. 판형빔분할기(260)에 입사되는 광빔이 회절반사되어 정방형빔분할기(270)로 입사되고, 정방형빔분할기(270)의 반사면에서 90°로 반사된다. 정방형빔분할기(270)에서 반사되는 광빔은 기준거울(250)에 의해 반사되어 상술한 경로에 대해 역으로 진행되어 광원(220)으로 입사되고, 이로 인해 광빔은 검사기(220)에 맺히게 된다. 검사기(220)는 광빔이 맺히는 위치를 검사하여 광경로 오차 발생 여부를 판별한다.The light beam is reflected at 90 ° by the first reflection mirror 230 inclined at 45 ° and is incident on the second reflection mirror 240, and the second reflection mirror 240 is reflected at the first reflection mirror 230. The light beam is reflected back to the plate-shaped beam splitter 260. The light beam incident on the plate beam splitter 260 is diffracted and incident on the square beam splitter 270, and is reflected at 90 ° from the reflective surface of the square beam splitter 270. The light beam reflected by the square beam splitter 270 is reflected by the reference mirror 250 and proceeds in the reverse direction with respect to the above-described path and is incident on the light source 220, thereby causing the light beam to be incident on the inspector 220. The inspector 220 determines whether an optical path error occurs by inspecting a position where the light beam is formed.

다음, 도 2c에 도시한 바와 같이, 광경로 오차를 제거한다.Next, as shown in Fig. 2C, the optical path error is eliminated.

광경로 검사 후 광경로의 오차가 검출되면, 정방형빔분할기(270)를 조정하여 광경로 오차를 제거한다. 이때, 정방형빔분할기(270)는 A-A를 축으로 회전되거나 미도시한 흡입기에 의해 화살표 B방향으로 이동됨으로써 조정되고, 이로 인해 광경로의 오차가 제거될 수 있다.If the error of the optical path is detected after the optical path inspection, the square beam splitter 270 is adjusted to remove the optical path error. At this time, the square beam splitter 270 is adjusted by rotating the axis A-A or moving in the direction of arrow B by an inhaler (not shown), whereby the error of the optical path can be eliminated.

마지막으로, 도 2d에 도시된 바와 같이, 광부품이 광픽업베이스(210)에 설치된다.Finally, as shown in FIG. 2D, the optical component is installed in the optical pickup base 210.

광경로 검사 후 또는 광경로 조정 후, 정확한 광경로를 갖는 모든 광부품이 광픽업베이스(210)에 고정되게 설치되고 임시 배치된 기준거울(250)이 제거된다.After the optical path inspection or after the optical path adjustment, all optical parts having the correct optical path are fixedly installed in the optical pickup base 210 and the reference mirror 250 temporarily disposed is removed.

본 발명의 광픽업장치의 광부품 검사방법에 따르면, 한 번의 광경로 검사로 광부품의 광경로 오차에 대한 검사를 수행하기 때문에, 조립공정이 단순해 질 수 있고, 이로 인해 조립시간이 단축될 수 있다.According to the optical component inspection method of the optical pickup apparatus of the present invention, since the inspection of the optical path error of the optical component in one optical path inspection, the assembly process can be simplified, thereby reducing the assembly time Can be.

또한, 광경로 오차 검사시 광픽업이 불량으로 판정되면, 정방형빔분할기를 조정하여 광경로 오차를 제거하기 때문에 생산단가를 감소시킬 수 있다.In addition, when the optical pickup is determined to be defective during the optical path error inspection, the square beam splitter is adjusted to eliminate the optical path error, thereby reducing the production cost.

Claims (3)

(ａ) 적어도 하나의 광부품을 광경로에 대해 조정가능하도록 광픽업베이스에 설치하는 단계;(a) installing at least one optical component in the optical pickup base to be adjustable with respect to the optical path; (ｂ) 상기 광부품에 광빔을 조사하여 광경로를 검사하는 단계;(iii) irradiating the optical component with a light beam to inspect an optical path; (ｃ) 상기 (ｂ)단계에서 상기 광경로의 오차가 발생되는 경우, 상기 적어도 하나의 광부품을 조정하여 상기 광경로의 오차를 제거하는 단계; 및(c) if the error of the optical path occurs in the step (iii), adjusting the at least one optical component to remove the error of the optical path; And (ｄ) 상기 광부품을 상기 광픽업베이스에 고정되게 결합하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광픽업장치의 광부품 검사방법.and (d) coupling the optical component to the optical pickup base to be fixed. 제1항에 있어서, 상기 적어도 하나의 광부품은 상기 광경로에 대해 전후로 이동되거나 또는 회전됨으로써 조정되는 것을 특징으로 하는 검사방법.The inspection method according to claim 1, wherein the at least one optical component is adjusted by being moved back and forth or rotated with respect to the optical path. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 적어도 하나의 광부품은 정방형빔분할기인 것을 특징으로 하는 검사방법.The inspection method according to claim 1 or 2, wherein the at least one optical component is a square beam splitter.
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