KR20060088968A - Self refresh plus generation apparatus and semiconductor memory device including the same - Google Patents

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KR20060088968A
KR20060088968A KR1020050009500A KR20050009500A KR20060088968A KR 20060088968 A KR20060088968 A KR 20060088968A KR 1020050009500 A KR1020050009500 A KR 1020050009500A KR 20050009500 A KR20050009500 A KR 20050009500A KR 20060088968 A KR20060088968 A KR 20060088968A
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황수만
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삼성전자주식회사
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Abstract

셀프 리프레시 펄스 생성 장치 및 이를 구비하는 반도체 메모리 장치가 개시되어 있다. 셀프 리프레시 펄스 생성 장치는, 반도체 메모리 장치에 구비된 N개의 뱅크의 셀프 리프레시를 수행하기 위한 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성하는 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부; 및 상기 생성된 표준 셀프 리프레시 펄스를 입력받고, 상기 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기에 따라 상기 입력된 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 변환시켜 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 상기 생성된 각 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 대응되는 뱅크 측으로 전송하는 뱅크별 셀프 리프레시 신호 발생부로 구성된다. 따라서, 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기 특성에 따른 각각의 뱅크에 대응되는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성하고, 그 주기에 따른 셀프 리프레시를 수행할 수 있다.Disclosed are a self refresh pulse generator and a semiconductor memory device having the same. The self refresh pulse generation device includes a standard self refresh pulse generator for generating a standard self refresh pulse for performing self refresh of N banks included in a semiconductor memory device; And receiving the generated standard self refresh pulses, converting the periods of the input standard self refresh pulses according to the self refresh periods of each bank to generate N bank self refresh pulses, and then generating the respective bank self And a bank-specific self refresh signal generator for transmitting a refresh pulse to a corresponding bank side. Therefore, a bank self refresh pulse corresponding to each bank according to the self refresh cycle characteristics of each bank can be generated, and self refresh according to the cycle can be performed.

Description

셀프 리프레시 펄스 생성 장치 및 이를 구비하는 반도체 메모리 장치 {SELF REFRESH PLUS GENERATION APPARATUS AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE INCLUDING THE SAME} Self-refreshing pulse generating device and semiconductor memory device having the same {SELF REFRESH PLUS GENERATION APPARATUS AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE INCLUDING THE SAME}             

도 1은 종래의 반도체 메모리 장치의 구성을 도시하는 블록도로서, 셀프 리프레시에 관련된 부분을 개략적으로 도시하고 있다.Fig. 1 is a block diagram showing the structure of a conventional semiconductor memory device, and schematically shows a portion related to self refresh.

도 2는 도 1에 도시된 각 뱅크의 스태틱 리프레시 주기(Static Refresh Period)를 나타내는 블록도이다.FIG. 2 is a block diagram illustrating a static refresh period of each bank shown in FIG. 1.

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 메모리 장치의 구성을 도시하는 블록도이다.3 is a block diagram showing a configuration of a semiconductor memory device according to a preferred embodiment of the present invention.

도 4는 도 3에 도시된 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부의 구성을 도시하는 블록도이다.FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of a bank-specific self refresh pulse generator shown in FIG. 3.

<도면의 주요 부분에 대한 부호 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

100 : 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부100: standard self refresh pulse generator

110 : 기본 펄스 발생부110: basic pulse generator

120 : 셀프 리프레시 카운터120: self refresh counter

130 : 표준 셀프 리프레시 펄스 생성부130: standard self refresh pulse generator

200 : 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부200: self-refresh pulse generator for each bank

310, 320, 330, 340 : 로우 어드레스 카운터310, 320, 330, 340: row address counter

410, 420, 430, 440 : 로우 디코더410, 420, 430, 440: row decoder

510, 520, 530, 540 : 제 1뱅크, 제 2 뱅크, 제 3 뱅크, 제 4 뱅크510, 520, 530, 540: first bank, second bank, third bank, fourth bank

본 발명은 뱅크의 셀프 리프레시 주기 특성에 따라 각각의 셀프 리프레시 펄스를 생성시킬 수 있는 셀프 리프레시 펄스 생성 장치 및 이를 구비하는 반도체 메모리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a self refresh pulse generation device capable of generating respective self refresh pulses according to a self refresh cycle characteristic of a bank, and a semiconductor memory device having the same.

일반적으로, 디램(DRAM : Dynamic Random Access Memory) 등과 같은 반도체 메모리 장치는 트랜지스터와 커패시터로 구성된 단위 셀(Cell)들 집합체로 구성되고, 상기 커패시터에 데이터를 저장한다.In general, a semiconductor memory device such as a dynamic random access memory (DRAM) or the like is composed of a collection of unit cells composed of a transistor and a capacitor, and stores data in the capacitor.

그런데, 반도체 기판 위에 형성되는 커패시터는 주변과 완벽히 전기적으로 분리될 수는 없으므로, 누설 전류가 발생하여 커패시터에 저장된 데이터 즉, 전하가 시간이 지날수록 방전되고 그에 따라 셀에 저장된 데이터가 사라지는 현상이 발생한다.However, since the capacitor formed on the semiconductor substrate cannot be completely electrically separated from the surroundings, leakage current occurs and data stored in the capacitor, that is, the charge is discharged over time, and thus the data stored in the cell disappears. do.

따라서, 반도체 메모리 장치는 이와 같은 현상을 방지하기 위하여 일정 주기마다 셀에 저장된 정보를 재 기입해주는 동작을 지속적으로 수행하는데, 이를 셀프 리프레시(Self Refresh)라 한다.Therefore, in order to prevent such a phenomenon, the semiconductor memory device continuously performs an operation of rewriting information stored in a cell at a predetermined cycle, which is called self refresh.

이러한, 셀프 리프레시는 메모리의 셀 어레이(Memory Cell Array) 내에 존재하는 각 셀들이 가지는 리텐션 타임(Retention Time) 내에 적어도 한 번씩 워드라인을 선택하여 데이터를 센싱한 뒤, 증폭시키는 방식으로 이루어진다. 이때, 리텐션 타임이란 셀에 어떠한 데이터를 기록한 후 리프레시 없이 데이터가 셀에서 유지될 수 있는 시간을 의미한다.The self refresh is performed by selecting a word line at least once within a retention time of each cell existing in a memory cell array of a memory, sensing the data, and then amplifying the data. At this time, the retention time means a time after which data is recorded in the cell and the data can be maintained in the cell without refreshing.

즉, 셀프 리프레시 동작 명령이 입력되면, 일정 주기마다 로우 어드레스가 순차적으로 증가되고, 로우 어드레시가 순차적으로 증가되면서 메모리 셀의 워드 라인이 선택된다. 이때, 워드 라인에 대응하는 커패시터에 저장된 전하는 감지 증폭 수단에 의하여 증폭되어 다시 커패시터에 저장된다. 이러한 일련의 셀프 리프레시 과정을 통하여 저장된 데이터가 손상 없이 보존되는 것이다.That is, when the self-refresh operation command is input, the row address is sequentially increased at regular intervals, and the row address is sequentially increased to select the word line of the memory cell. At this time, the charge stored in the capacitor corresponding to the word line is amplified by the sense amplifying means and stored in the capacitor again. Through this series of self refresh processes, the stored data is preserved intact.

도 1은 종래의 반도체 메모리 장치의 구성을 도시하는 블록도로서, 셀프 리프레시에 관련된 부분을 개략적으로 도시하고 있다.Fig. 1 is a block diagram showing the structure of a conventional semiconductor memory device, and schematically shows a portion related to self refresh.

도 1을 참조하면, 종래의 반도체 메모리 장치는 기본 펄스 발생기를 발생시키는 기본 펄스 발생기(10)와, 셀프 리프레시 주기에 따른 카운트를 수행하는 셀프 리프레시 카운터(20)와, 기본 펄스 발생기(10) 및 셀프 리프레시 카운터(20)를 이용하여 일정 주기를 갖는 셀프 리프레시 펄스를 출력하는 셀프 리프레시 펄스 발생부(30)와, 셀프 리프레시 펄스 발생부(30)로부터 출력되는 셀프 리프레시 펄스를 카운트하여 각 뱅크(61, 62, 63, 64)의 로우 어드레스 선택을 위한 신호를 출력하는 로우 어드레스 카운터(40)와, 로우 어드레스 카운터(40)로부터 전달되는 신호를 디코딩하여 해당 뱅크(61, 62, 63, 64)의 로우를 선택하는 4개의 로우 디코더(51, 52, 63, 54) 및 상기 로우 디코더(51, 52, 63, 54)의 선택에 따라 셀프 리프레시를 수행하는 4개의 메모리 뱅크(61, 62, 63, 64)로 구성된다.Referring to FIG. 1, a conventional semiconductor memory device includes a basic pulse generator 10 generating a basic pulse generator, a self refresh counter 20 performing a count according to a self refresh cycle, a basic pulse generator 10, The self refresh pulse generator 30 outputs a self refresh pulse having a predetermined period using the self refresh counter 20, and the self refresh pulses output from the self refresh pulse generator 30 are counted to count each bank 61. And a row address counter 40 for outputting a signal for row address selection of the channels 62, 63, and 64, and a signal transmitted from the row address counter 40 to decode the corresponding banks 61, 62, 63, and 64. Four row decoders 51, 52, 63, 54 for selecting a row, and four memory banks 61, 62, 63, for performing self refresh according to the selection of the row decoders 51, 52, 63, 54, Consists of 64) do.

이때, 각 메모리 뱅크(61, 62, 63, 64)가 가지는 셀프 리프레시 주기는 각각 다르므로, 셀프 리프레시 펄스의 주기는 공정을 고려한 최악의 상황에 대비할 수 있도록 4개의 뱅크(61, 62, 63, 64) 중 셀프 리프레시 특성이 가장 나쁜 뱅크 즉, 주기가 가장 짧은 뱅크의 셀프 리프레시 주기에 맞춰서 생성되게 된다.In this case, since the self refresh periods of the memory banks 61, 62, 63, and 64 are different from each other, the periods of the self refresh pulses are set in four banks 61, 62, 63, to prepare for the worst case considering the process. In the 64), the self refresh characteristic is generated in accordance with the self refresh period of the bank having the shortest period.

도 2는 도 1에 도시된 각 뱅크(61, 62, 63, 64)의 스태틱 리프레시 주기(Static Refresh Period)를 나타내는 블록도이다.FIG. 2 is a block diagram illustrating a static refresh period of each bank 61, 62, 63, and 64 shown in FIG. 1.

도 2를 참조하면, 뱅크 A(61), 뱅크 B(62), 뱅크 C(63) 및 뱅크 D(64)는 각각 128ms, 192ms, 256ms 및 320ms의 스태틱 리프레시 주기를 가진다. 따라서, 상술한 종래의 경우에는 셀프 리프레시 펄스 주기를 4개의 뱅크(61, 62, 63, 64)를 모두 만족시킬 수 있도록 128ms로 하여야 한다.2, bank A 61, bank B 62, bank C 63 and bank D 64 each have a static refresh period of 128 ms, 192 ms, 256 ms and 320 ms. Therefore, in the above-described conventional case, the self-refresh pulse period must be 128 ms to satisfy all four banks 61, 62, 63, and 64.

그런데, 이러한 경우 뱅크 A(61)는 요구되는 셀프 리프레시 주기에 맞춰서 셀프 리프레시가 수행되나, 뱅크 B(62)는 필요한 주기보다 50% 이상 과도하게 셀프 리프레시를 수행하는 것이 된다. 같은 개념으로 뱅크 C(63)와 뱅크 D(64)는 요구되는 주기보다 100% 및 150% 각각 과도하게 셀프 리프레시가 수행되는 것이라 할 수 있다.In this case, however, the bank A 61 performs the self refresh in accordance with the required self refresh period, but the bank B 62 performs the self refresh more than 50% more than the required period. In the same concept, the bank C 63 and the bank D 64 may be self refreshing 100% and 150% more than the required period.

따라서, 뱅크 B(62), C(63) 및 D(64)는 과도한 셀프 리프레시의 수행에 따른 필요 이상의 전류의 소모가 발생되고, 이는 곧 반도체 메모리 장치의 경제적 효율 성을 저하시키는 결과를 가져오게 된다.Therefore, the banks B 62, C 63 and D 64 consume more current than necessary due to excessive self refresh, which results in lowering the economic efficiency of the semiconductor memory device. do.

본 발명은 이러한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기 특성에 따른 셀프 리프레시 펄스를 생성할 수 있는 셀프 리프레시 펄스 생성 장치를 제공하는데 본 발명의 제 1 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and a first object of the present invention is to provide a self refresh pulse generation apparatus capable of generating self refresh pulses according to the self refresh cycle characteristics of each bank.

또한, 상기 셀프 리프레시 펄스 생성 장치를 구비함으로써 과도한 셀프 리프레시 수행에 따른 전류 소모를 방지할 수 있는 반도체 메모리 장치를 제공하는데 본 발명의 제 2 목적이 있다.
Another object of the present invention is to provide a semiconductor memory device capable of preventing current consumption due to excessive self refresh by providing the self refresh pulse generation device.

이러한 본 발명의 제 1 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 셀프 리프레시 펄스 생성 장치는, 반도체 메모리 장치에 구비된 N개의 뱅크의 셀프 리프레시를 수행하기 위한 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성하는 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부; 및 상기 생성된 표준 셀프 리프레시 펄스를 입력받고, 상기 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기에 따라 상기 입력된 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 변환시켜 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 상기 생성된 각 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 대응되는 뱅크 측으로 전송하는 뱅크별 셀프 리프레시 신호 발생부로 구성된다.The self-refresh pulse generating device according to the present invention for achieving the first object of the present invention, generating a standard self refresh pulse for performing a self-refresh of the N banks provided in the semiconductor memory device part; And receiving the generated standard self refresh pulses, converting the periods of the input standard self refresh pulses according to the self refresh periods of each bank to generate N bank self refresh pulses, and then generating the respective bank self And a bank-specific self refresh signal generator for transmitting a refresh pulse to a corresponding bank side.

이때, 상기 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부는, 기본 펄스를 발생시키는 기 본 펄스 발생부와; 상기 발생된 기본 펄스를 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기에 따라 카운트하는 셀프 리프레시 카운터; 및 상기 기준 펄스 발생부와 상기 셀프 리프레시 카운터를 제어하여 상기 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성시키는 표준 셀프 리프레시 펄스 생성부로 구성된다.In this case, the standard self-refresh pulse generator may include a basic pulse generator configured to generate a basic pulse; A self refresh counter for counting the generated basic pulse according to a period of the standard self refresh pulse; And a standard self refresh pulse generator configured to control the reference pulse generator and the self refresh counter to generate the standard self refresh pulse.

또한, 상기 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부는, 상기 입력되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 상기 N개의 뱅크 중 어느 하나의 뱅크의 셀프 리프레시 주기와 동일하게 변환시켜, 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 해당 뱅크로 전송하는 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부를 구비한다.The bank-specific self refresh pulse generation unit converts the input standard self refresh pulses to the self refresh period of any one of the N banks to generate the bank self refresh pulses. N bank self-refresh pulse generators are transmitted.

상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부는, 상기 입력되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 인가하고, 해당 뱅크의 리프레시 주기에 따라 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스의 주기를 선택하는 주기 선택부; 및 상기 인가되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 상기 선택된 주기로 변환시켜 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 출력하는 변환부로 이루어진다. 또한, 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부는 상기 변환부에서 출력되는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 다중화하여 출력하는 멀티플렉서를 더 포함시킬 수도 있다.The bank self refresh pulse generation unit may include a period selector configured to apply the input standard self refresh pulse and select a period of the bank self refresh pulse according to a refresh period of a corresponding bank; And a converter for converting the applied standard self refresh pulse to the selected period to output the bank self refresh pulse. The bank self refresh pulse generator may further include a multiplexer configured to multiplex and output a bank self refresh pulse output from the converter.

상기 변환부는 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 정수배로 증가 또는 감소시킨다. 즉, 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 해당 뱅크의 주기에 맞도록 1배, 2배, 4배, 1/2배 및 1/4배 등으로 변환시켜 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한다. 이때, 상기 변환부는 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 배수로 변환시키기 위한 다수의 주기 카운터를 구비한다.The conversion unit increases or decreases the period of the standard self refresh pulse by an integer multiple. That is, the bank self refresh pulse is generated by converting the period of the standard self refresh pulse to 1, 2, 4, 1/2, and 1/4 times so as to match the period of the corresponding bank. In this case, the conversion unit includes a plurality of period counters for converting the period of the standard self refresh pulse to a multiple.

한편, 본 발명의 제 2 목적을 달성하기 위한 반도체 메모리 장치는, 복수개의 메모리 셀들을 구비하며 각각 고유의 셀프 리프레시 주기를 가지는 N개의 뱅크와; 셀프 리프레시를 수행하기 위한 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성하는 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부; 및 상기 생성된 표준 셀프 리프레시 펄스를 입력받고, 상기 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기에 따라 상기 입력된 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 변환시켜 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 해당 뱅크 측으로 출력하는 뱅크별 셀프 리프레시 신호 발생부로 구성된다.On the other hand, a semiconductor memory device for achieving the second object of the present invention, N banks having a plurality of memory cells, each having a unique self refresh period; A standard self refresh pulse generator for generating a standard self refresh pulse for performing self refresh; And receiving the generated standard self refresh pulses, converting the periods of the input standard self refresh pulses according to the self refresh periods of each bank to generate N bank self refresh pulses, and outputting the banks to the corresponding bank side. Each self refresh signal generator is composed.

상기 반도체 장치는 상기 각 뱅크에 대응되게 구비되며, 상기 뱅크별 셀프 리프레시 신호 발생부에 의하여 출력된 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 카운트하여 대응된 뱅크에 로우 어드레스 신호를 출력하는 N개의 로우 어드레스 카운터; 및 상기 각 뱅크에 대응되게 각각 배치되며, 상기 로우 어드레스 카운트로부터 출력된 로우 어드레스 신호에 따라 대응된 뱅크의 로우를 지정하는 N개의 로우 디코더를 더 포함시킬 수 있다.The semiconductor device includes N row address counters corresponding to the respective banks and counting the bank self refresh pulses output by the bank self refresh signal generators to output row address signals to the corresponding banks; And N row decoders respectively disposed corresponding to the respective banks and specifying rows of corresponding banks according to row address signals output from the row address counts.

이때, 상기 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부는, 기본 펄스를 발생시키는 기본 펄스 발생부와; 상기 발생된 기본 펄스를 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기에 따라 카운트하는 셀프 리프레시 카운터; 및 상기 기준 펄스 발생부와 상기 셀프 리프레시 카운터를 제어하여 상기 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성시키는 표준 셀프 리프레시 펄스 생성부로 구성된다.In this case, the standard self-refresh pulse generator may include a basic pulse generator configured to generate a basic pulse; A self refresh counter for counting the generated basic pulse according to a period of the standard self refresh pulse; And a standard self refresh pulse generator configured to control the reference pulse generator and the self refresh counter to generate the standard self refresh pulse.

또한, 상기 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부는, 상기 입력되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 상기 N개의 뱅크 중 어느 하나의 뱅크의 셀프 리프레시 주기와 동 일하게 변환시켜, 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 해당 뱅크로 전송하는 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부를 구비한다.The bank-specific self-refresh pulse generator converts the input standard self-refresh pulse to be equal to the self-refresh period of any one of the N banks to generate the bank self-refresh pulse. N bank self-refresh pulse generators are sent to the bank.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, it will be described in detail a preferred embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 메모리 장치의 구성을 도시하는 블록도이다.3 is a block diagram showing a configuration of a semiconductor memory device according to a preferred embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 메모리 장치는 4개의 뱅크 즉, 제 1 뱅크(510), 제 2 뱅크(520), 제 3 뱅크(530) 및 제 4 뱅크(540)를 가지며, 각 뱅크(510, 520, 530, 540)에는 대응되는 로우 디코더(410, 420, 430, 440) 및 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)가 각각 연결된다. 이때, 도시되지는 않았지만 상기 뱅크(510, 520, 530, 540)에는 로우와 칼럼들에 배열되는 복수개의 메모리 셀들이 구비되며, 상기 로우 디코더(410, 420, 430, 440)들은 연결된 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)로부터 신호를 인가 받아 해당 뱅크(510, 520, 530, 540)의 로우를 지정한다.Referring to FIG. 3, a semiconductor memory device according to an exemplary embodiment of the present invention may include four banks, that is, a first bank 510, a second bank 520, a third bank 530, and a fourth bank 540. Each bank 510, 520, 530, 540 has a row decoder 410, 420, 430, 440 and a row address counter 310, 320, 330, 340, respectively. Although not shown, the banks 510, 520, 530, and 540 are provided with a plurality of memory cells arranged in rows and columns, and the row decoders 410, 420, 430, and 440 are connected to a row address counter. Signals from (310, 320, 330, 340) are received to specify the rows of the banks (510, 520, 530, 540).

또한, 본 실시예에서는 상기 제 1 뱅크(510)와 제 3 뱅크(530)의 셀프 리프레시 주기가 동일하고, 제 2 뱅크(520)는 제 1 뱅크(510)보다 2배 긴 셀프 리프레시 주기를 갖고, 제 4 뱅크(540)는 제 1 뱅크(510)보다 4배 긴 셀프 리프레시 주기를 갖는 걸로 가정한다. 하지만, 구비되는 뱅크의 개수와 셀프 리프레시 주기는 실시 환경에 따라 다양하게 변할 수 있는 것이다.In addition, in the present embodiment, the self refresh periods of the first bank 510 and the third bank 530 are the same, and the second bank 520 has a self refresh period twice as long as that of the first bank 510. It is assumed that the fourth bank 540 has a self refresh period four times longer than the first bank 510. However, the number of banks provided and the self refresh period may vary depending on the implementation environment.

한편, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 4개의 뱅크(510, 520, 530, 540)의 셀프 리프레시를 수행할 수 있도록 반도체 메모리 장치는 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부(100) 및 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부(200)를 구비한다.As illustrated in FIG. 3, the semiconductor memory device may perform a standard self refresh pulse generator 100 and a self refresh pulse for each bank so as to perform self refresh of the four banks 510, 520, 530, and 540. The generator 200 is provided.

표준 셀프 리프레시 펄스 발생부(100)는 상기 뱅크(510, 520, 530, 540)들의 셀프 리프레시를 수행하기 위한 표준 신호인 표준 셀프 리프레시 펄스를 발생시켜 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부(200)로 출력하는 기능을 수행한다.The standard self refresh pulse generator 100 generates a standard self refresh pulse, which is a standard signal for performing self refresh of the banks 510, 520, 530, and 540, and outputs the standard self refresh pulse to the self refresh pulse generator 200 for each bank. It performs the function.

상기 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부(100)는 기본 펄스를 발생시키는 기본 펄스 발생부(110)와, 기본 펄스를 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기에 따라 카운트하는 셀프 리프레시 카운터(120) 및 기준 펄스 발생부(110)와 셀프 리프레시 카운터(120)를 제어하여 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성시키는 표준 셀프 리프레시 펄스 생성부(130)로 구성된다.The standard self refresh pulse generator 100 includes a basic pulse generator 110 for generating a basic pulse, a self refresh counter 120 and a reference pulse generator for counting the basic pulses according to a cycle of the standard self refresh pulse. And a standard self refresh pulse generator 130 for controlling the self refresh counter 120 to generate a standard self refresh pulse.

뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부(200)는 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부(100)에 의하여 생성된 표준 셀프 리프레시 펄스를 입력받아, 각 뱅크(510, 520, 530, 540)의 리프레시 주기에 따라 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 변환시켜 각 뱅크(510, 520, 530, 540)에 대응하는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 해당 뱅크(510, 520, 530, 540)의 뱅크 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)로 전송한다.The self refresh pulse generator 200 for each bank receives the standard self refresh pulses generated by the standard self refresh pulse generator 100, and performs a standard self refresh according to the refresh cycles of the respective banks 510, 520, 530, and 540. After generating the bank self refresh pulses corresponding to the respective banks 510, 520, 530, and 540 by converting the periods of the refresh pulses, the bank row address counters 310 and 320 of the corresponding banks 510, 520, 530, and 540. , 330, 340.

즉, 표준 셀프 리프레시 펄스를 입력받아, 제 1 뱅크(510), 제 2 뱅크(520), 제 3 뱅크(530) 및 제 4 뱅크(540)의 셀프 리프레시 주기에 대응하는 제 1 뱅크(510)의 뱅크 셀프 리프레시 펄스, 제 2 뱅크(520)의 뱅크 셀프 리프레시 펄스, 제 3 뱅크(530)의 뱅크 셀프 리프레시 펄스 및 제 4 뱅크(540)의 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 각각 생성하여 각 뱅크(510, 520, 530, 540)에 대응되는 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)로 각기 전송하는 것이다.That is, the first bank 510 corresponding to the self refresh periods of the first bank 510, the second bank 520, the third bank 530, and the fourth bank 540 is received by receiving the standard self refresh pulse. The bank self refresh pulses of the second bank 520, the bank self refresh pulses of the second bank 520, the bank self refresh pulses of the third bank 530, and the bank self refresh pulses of the fourth bank 540, respectively. Transmission to the row address counters 310, 320, 330, and 340 corresponding to 520, 530, and 540, respectively.

도 4는 도 3에 도시된 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부(200)의 구성을 도시하는 블록도이다.FIG. 4 is a block diagram illustrating a configuration of the self refresh pulse generator 200 for each bank illustrated in FIG. 3.

도 3 및 도 4를 참조하면, 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부(200)는 각 뱅크(510, 520, 530, 540)에 대응하는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성할 수 있도록 4개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부 즉, 제 1 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(210), 제 2 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(220), 제 3 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(230) 및 제 4 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(240)로 구성된다.3 and 4, each bank self refresh pulse generator 200 generates four bank self refresh pulses to generate bank self refresh pulses corresponding to each bank 510, 520, 530, and 540. That is, the first bank self refresh pulse generator 210, the second bank self refresh pulse generator 220, the third bank self refresh pulse generator 230, and the fourth bank self refresh pulse generator 240 are described. It consists of.

이때, 각 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(210, 220, 230, 240)는 입력되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 인가하고, 해당 뱅크(510, 520, 530, 540)의 셀프 리프레시 주기에 따라 뱅크 셀프 리프레시 펄스의 주기를 선택하는 주기 선택부(211, 221, 231, 241)와, 주기 선택부(211, 221, 231, 241)에 의해서 선택된 주기에 따라 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 해당 뱅크(510, 520, 530, 540)의 리프레시 주기와 동일하게 변환시켜 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 출력하는 변환부(213, 223, 233, 243) 및 출력된 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 다중화하여 해당 뱅크(510, 520, 530, 540)의 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)로 출력하는 멀티플렉서(215, 225, 235, 245)로 구성된다.At this time, each of the bank self refresh pulse generators 210, 220, 230, and 240 applies an input standard self refresh pulse, and according to the self refresh periods of the banks 510, 520, 530, and 540, the bank self refresh pulses. The periods of the standard self refresh pulses are selected according to the periods selected by the period selectors 211, 221, 231, and 241 and the periods selected by the period selectors 211, 221, 231, and 241. Converters 213, 223, 233, and 243 for outputting the bank self refresh pulses by converting them in the same manner as the refresh cycles of the memory cells 530, 540, and the banks 510, 520, 530, The multiplexers 215, 225, 235, and 245 output to the row address counters 310, 320, 330, and 340 of the 540.

상기 변환부(213, 223, 233, 243)는 표준 셀프 리프레시 신호를 그대로 출력 하는 제 1 변환부(a)와, 표준 셀프 리프레시 신호의 주기를 2배로 변환시켜 출력하는 제 2 변환부(b) 및 표준 셀프 리프레시 신호의 주기를 4배로 변환시켜 출력하는 제 3 변환부(c)로 각각 구성된다.The converting units 213, 223, 233, and 243 may include a first converting unit (a) for outputting a standard self refresh signal as it is, and a second converting unit (b) for converting and outputting a double cycle of the standard self refresh signal. And a third converter c for converting the period of the standard self refresh signal four times and outputting the same.

이때, 제 2 변환부(b) 및 제 3 변환부(c)에는, 상기 프로세스를 수행하기 위해서, 입력되는 펄스의 주기를 2배로 변환시키는 주기 카운터(k)가 구비된다. 제 1 변환부(a)는 표준 셀프 리프레시 신호를 그대로 출력하고, 제 2 변환부(b)는 표준 셀프 리프레시 신호를 주기 카운터(k)를 통하여 2배로 하여 출력하고, 제 3 변환부(c)는 표준 셀프 리프레시 신호 및 제 2 변환부(b)의 주기 카운터(k)에 의하여 2배로 변환된 펄스 신호를 입력받아 그 변환된 펄스 신호의 주기를 2배로 변환시켜 4배의 주기를 갖는 펄스 신호를 출력한다.In this case, in order to perform the above process, the second converter b and the third converter c are provided with a period counter k for converting the period of the input pulse twice. The first converting unit a outputs the standard self refresh signal as it is, and the second converting unit b outputs the standard self refresh signal by doubling the period through the period counter k. Is a pulse signal having four times the period by receiving the standard self refresh signal and the pulse signal converted twice by the period counter k of the second converter b, and converting the period of the converted pulse signal twice. Outputs

따라서, 표준 셀프 리프레시 펄스 주기의 1배, 2배 및 4배의 주기를 갖는 뱅크 셀프 리프레시 펄스의 출력이 가능하다. 이때, 상기 출력은 앞서 언급했던 주기 선택부(211, 221, 231, 241)의 제어에 의해서 3개의 출력 중의 하나가 출력된다.Therefore, the output of the bank self refresh pulses having cycles of 1, 2 and 4 times the standard self refresh pulse period is possible. At this time, the output is one of the three outputs by the control of the period selection unit 211, 221, 231, 241 described above.

각 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(210, 220, 230, 240)의 동작을 살펴보면, 상기 제 1 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(210)의 주기 선택부(211)는, 제 1 뱅크(510)의 셀프 리프레시 주기가 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기와 동일하므로 변환부(213)의 제 1 변환부(a)를 통해서 표준 셀프 리프레시 펄스를 그대로 출력하고, 출력된 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 멀티플렉서(215)로 다중화하여 제 1 뱅크(510)의 로우 어드레스 카운터(310)로 전송한다.Referring to the operation of each of the bank self refresh pulse generators 210, 220, 230, and 240, the period selector 211 of the first bank self refresh pulse generator 210 is self-self from the first bank 510. Since the refresh cycle is the same as that of the standard self refresh pulse, the standard self refresh pulse is output as it is through the first converter a of the converter 213, and the output bank self refresh pulse is multiplexed by the multiplexer 215. Transmit to the row address counter 310 of the first bank 510.

제 2 뱅크 리프레시 펄스 발생부(220)의 주기 선택부(221)는, 제 2 뱅크 (520)의 셀프 리프레시 주기가 표준 셀프 리프레시 펄스 주기의 2배이므로 변환부(223)의 제 2 변환부(b)를 통해서 표준 셀프 리프레시 신호의 주기를 2배로 변환시켜 변환된 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 출력한다. 출력된 제 2 뱅크(520)의 뱅크 셀프 리프레시 펄스는 제 2 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(220)의 멀티플렉서(225)에 의해서 다중화되어 제 2 뱅크(520)의 로우 어드레스 카운터(320)로 전송된다.The period selector 221 of the second bank refresh pulse generator 220 may include the second converter of the converter 223 because the self refresh period of the second bank 520 is twice the standard self refresh pulse period. Through b), the period of the standard self refresh signal is doubled to output the converted bank self refresh pulse. The output bank self refresh pulse of the second bank 520 is multiplexed by the multiplexer 225 of the second bank self refresh pulse generator 220 and transmitted to the row address counter 320 of the second bank 520. .

제 3 뱅크 리프레시 펄스 발생부(230)의 주기 선택부(231)는, 제 3 뱅크(530)의 셀프 리프레시 주기가 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기와 동일하므로 변환부(233)의 제 1 변환부(a)를 통해서 표준 셀프 리프레시 펄스를 그대로 출력하고, 출력된 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 멀티플렉서(235)로 다중화하여 제 3 뱅크(530)의 로우 어드레스 카운터(330)로 전송한다.The period selector 231 of the third bank refresh pulse generator 230 may include the first converter of the converter 233 because the self refresh period of the third bank 530 is the same as that of the standard self refresh pulse. Through a), the standard self refresh pulse is output as it is, the output bank self refresh pulse is multiplexed by the multiplexer 235, and transmitted to the row address counter 330 of the third bank 530.

제 4 뱅크 리프레시 펄스 발생부(240)의 주기 선택부(241)는, 제 4 뱅크(540)의 셀프 리프레시 주기가 표준 셀프 리프레시 펄스 주기의 4배이므로 변환부(243)의 제 3 변환부(c)를 통해서 표준 셀프 리프레시 신호의 주기를 4배로 변환시켜 변환된 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 출력한다. 출력된 제 4 뱅크(540)의 뱅크 셀프 리프레시 펄스는 제 4 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(240)의 멀티플렉서(245)에 의해서 다중화되어 제 4 뱅크(540)의 로우 어드레스 카운터(340)로 전송된다.The period selector 241 of the fourth bank refresh pulse generator 240 may include the third converter of the converter 243 because the self refresh period of the fourth bank 540 is four times the standard self refresh pulse period. Through c), the period of the standard self refresh signal is converted four times to output the converted bank self refresh pulses. The output bank self refresh pulses of the fourth bank 540 are multiplexed by the multiplexer 245 of the fourth bank self refresh pulse generator 240 and transmitted to the row address counter 340 of the fourth bank 540. .

한편, 각 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(210, 220, 230, 240)로부터 출력된 해당 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)로 전송되고, 각 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)들은 전송된 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 동기되어 대응된 뱅크(510, 520, 530, 540)의 로우를 선택하기 위한 선택 신호를 해당 뱅크의 로 우 디코더(410, 420, 430, 440)로 출력한다.Meanwhile, the row address counters 310, 320, 330, and 340 output from the respective bank self refresh pulse generators 210, 220, 230, and 240 are transmitted to the corresponding row address counters 310, 320, 330, and 340. ) Outputs a selection signal for selecting a row of the corresponding banks 510, 520, 530, and 540 in synchronization with the transmitted bank self refresh pulses to the low decoders 410, 420, 430, and 440 of the corresponding bank. .

따라서, 각 로우 디코더(410, 420, 430, 440)는 해당 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 대응되는 주기로 대응된 뱅크(510, 520, 530, 540)의 로우를 선택하고, 각 뱅크(510, 520, 530, 540)는 셀프 리프레시 동작을 수행하게 되는 것이다.Accordingly, each row decoder 410, 420, 430, 440 selects a row of the banks 510, 520, 530, 540 corresponding to a period corresponding to the corresponding bank self refresh pulse, and selects each bank 510, 520, 530. , 540 is to perform a self refresh operation.

즉, 제 1 뱅크(510)는 표준 셀프 리프레시 펄스와 그 주기가 동일한 제 1 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 의하여 셀프 리프레시를 수행하고, 제 2 뱅크(520)는 표준 셀프 리프레시 펄스 주기의 2배의 주기를 갖는 제 2 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 의해서 셀프 리프레시를 수행하고, 제 3 뱅크(530)는 표준 셀프 리프레시 펄스와 그 주기가 동일한 제 3 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 의하여 셀프 리프레시를 수행하고, 제 4 뱅크(540)는 표준 셀프 리프레시 펄스 주기의 4배의 주기를 갖는 제 4 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 의해서 셀프 리프레시를 수행한다.That is, the first bank 510 performs self refresh by the first bank self refresh pulse having the same period as the standard self refresh pulse, and the second bank 520 performs twice the period of the standard self refresh pulse period. The self refresh is performed by the second bank self refresh pulse, and the third bank 530 performs the self refresh by the third bank self refresh pulse having the same period as the standard self refresh pulse, and the fourth bank 540. Performs a self refresh by the fourth bank self refresh pulse having a period four times the standard self refresh pulse period.

그러므로, 종래에는 각 뱅크들의 셀프 리프레시 주기 특성에 관계없이 가장 셀프 리프레시의 주기가 빠른 뱅크의 셀프 리프레시 주기에 맞추어 모든 뱅크가 셀프 리프레시를 수행하여야 했으나, 상술한 실시예에서는 각기 다른 셀프 리프레시 주기를 갖는 뱅크들이 자신의 셀프 리프레시 주기에 대응되게 생성된 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 따라 셀프 리프레시를 수행하므로 불필요한 전류의 소모를 막을 수 있는 것이다.Therefore, conventionally, all banks must perform self refresh in accordance with the self refresh period of the bank having the fastest self refresh period regardless of the self refresh cycle characteristics of each bank. However, in the above-described embodiment, each bank has a different self refresh period. Since the banks perform self refresh according to the bank self refresh pulses generated corresponding to their self refresh periods, it is possible to prevent unnecessary current consumption.

이상 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변 경시켜 실시할 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the present invention has been described above with reference to its preferred embodiments, those skilled in the art will variously modify the present invention without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. And it will be understood that changes can be made.

특히, 앞선 실시예에서는 4개의 뱅크를 갖는 반도체 메모리 장치와 셀프 리프레시 장치를 설명하였으나, 뱅크의 개수는 실시환경에 따라 달라질 수 있으며 각 뱅크가 갖는 셀프 리프레시 주기도 1배, 2배 및 4배뿐만 아니라 1/2배, 1/4배, 8배, 16배 등과 같이 적용할 수 있을 것이다.In particular, the foregoing embodiment has described a semiconductor memory device and a self-refreshing device having four banks, but the number of banks may vary depending on the implementation environment, and the self-refresh cycles of each bank are not only 1, 2, and 4 times. It may be applied as 1/2, 1/4, 8, or 16 times.

즉, 소정의 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성하고 이를 각 뱅크의 특성에 따라 주기를 변화시켜 각 뱅크의 주기에 맞는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성하여 제공할 수 있다.That is, a predetermined standard self refresh pulse may be generated, and the period may be changed according to the characteristics of each bank to generate and provide a bank self refresh pulse suitable for the period of each bank.

따라서, 본 발명의 앞으로의 실시예들의 변경은 본 발명의 기술을 벗어날 수 없을 것이다.Accordingly, modifications to future embodiments of the present invention will not depart from the technology of the present invention.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 셀프 리프레시 펄스 생성 장치 및 이를 구비하는 반도체 메모리 장치에 따르면 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기 특성에 따른 각각의 뱅크에 대응되는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성하고, 그 주기에 따른 셀프 리프레시를 수행할 수 있으므로, 종래에 발생하던 셀프 리프레시 시의 불필요한 전류 소모를 방지할 수 있는 장점을 가지게 된다.As described above, according to the self-refresh pulse generating device and the semiconductor memory device having the same according to the present invention, the bank self-refresh pulse corresponding to each bank according to the self-refresh cycle characteristics of each bank is generated, Since the self refresh can be performed, it is possible to prevent unnecessary current consumption during the self refresh that has occurred in the past.

Claims (19)

반도체 메모리 장치에 구비된 N개의 뱅크의 셀프 리프레시를 수행하기 위한 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성하는 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부; 및A standard self refresh pulse generator configured to generate a standard self refresh pulse for performing self refresh of N banks provided in the semiconductor memory device; And 상기 생성된 표준 셀프 리프레시 펄스를 입력받고, 상기 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기에 따라 상기 입력된 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 변환시켜 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 상기 생성된 각 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 대응되는 뱅크 측으로 전송하는 뱅크별 셀프 리프레시 신호 발생부를 포함하는 것을 특징으로 하는 셀프 리프레시 펄스 생성 장치.After receiving the generated standard self refresh pulse, the period of the input standard self refresh pulse is converted according to the self refresh period of each bank to generate N bank self refresh pulses, and then each of the generated bank self refresh pulses. And a self refresh signal generator for each bank for transmitting a pulse to a corresponding bank side. 제 1 항에 있어서, 상기 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부는,The method of claim 1, wherein the standard self refresh pulse generator, 기본 펄스를 발생시키는 기본 펄스 발생부;A basic pulse generator for generating a basic pulse; 상기 발생된 기본 펄스를 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기에 따라 카운트하는 셀프 리프레시 카운터; 및A self refresh counter for counting the generated basic pulse according to a period of the standard self refresh pulse; And 상기 기준 펄스 발생부와 상기 셀프 리프레시 카운터를 제어하여 상기 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성시키는 표준 셀프 리프레시 펄스 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 셀프 리프레시 펄스 생성 장치.And a standard self refresh pulse generator for controlling the reference pulse generator and the self refresh counter to generate the standard self refresh pulses. 제 1 항에 있어서, 상기 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부는,The method of claim 1, wherein the self-refresh pulse generator for each bank, 상기 입력되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 상기 N개의 뱅크 중 어느 하나의 뱅크의 셀프 리프레시 주기와 동일하게 변환시켜, 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 해당 뱅크로 전송하는 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부를 구비하는 것을 특징으로 하는 셀프 리프레시 펄스 생성 장치.N bank self refresh pulse generators which convert the input standard self refresh pulses into the same self refresh periods of any one of the N banks, generate the bank self refresh pulses, and then transfer the bank self refresh pulses to the corresponding banks. Self-refreshing pulse generator, characterized in that provided. 제 3 항에 있어서, 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부는,The method of claim 3, wherein the bank self refresh pulse generator, 상기 입력되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 인가하고, 해당 뱅크의 리프레시 주기에 따라 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스의 주기를 선택하는 주기 선택부; 및A period selecting unit applying the input standard self refresh pulse and selecting a period of the bank self refresh pulse according to a refresh period of a corresponding bank; And 상기 인가되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 상기 선택된 주기로 변환시켜 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 출력하는 변환부를 포함하는 것을 특징으로 하는 셀프 리프레시 펄스 생성 장치.And a converting unit converting the applied standard self refresh pulses into the selected period to output the bank self refresh pulses. 제 4 항에 있어서, 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부는 상기 변환부에서 출력되는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 다중화하여 출력하는 멀티플렉서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 셀프 리프레시 펄스 발생 장치.The apparatus of claim 4, wherein the bank self refresh pulse generator further comprises a multiplexer configured to multiplex and output a bank self refresh pulse output from the converter. 제 4 항에 있어서, 상기 변환부는 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 정수배로 증가 또는 감소시키는 것을 특징으로 하는 셀프 리프레시 펄스 발생 장치.5. The self-refresh pulse generator of claim 4, wherein the converter increases or decreases the period of the standard self-refresh pulse by an integer multiple. 제 6 항에 있어서, 상기 변환부는 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 1 배, 2배, 4배, 1/2배 및 1/4배 중 어느 하나로 변환시켜 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성하는 것을 특징으로 하는 셀프 리프레시 펄스 발생 장치.The method of claim 6, wherein the conversion unit converts the period of the standard self refresh pulse to any one of 1, 2, 4, 1/2 and 1/4 times to generate the bank self refresh pulse. Self-refresh pulse generator. 제 4 항에 있어서, 상기 변환부는 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 배수로 변환시키기 위한 다수의 주기 카운터를 포함하는 것을 특징으로 하는 셀프 리프레시 펄스 발생 장치.The apparatus of claim 4, wherein the conversion unit comprises a plurality of period counters for converting the periods of the standard self refresh pulses into multiples. 제 1 항에 있어서, 상기 N은 4인 것을 특징으로 하는 셀프 리프레시 펄스 발생 장치.2. The self-refresh pulse generator as claimed in claim 1, wherein N is four. 복수개의 메모리 셀들을 구비하며 각각 고유의 셀프 리프레시 주기를 가지는 N개의 뱅크;N banks having a plurality of memory cells, each bank having a unique self refresh period; 셀프 리프레시를 수행하기 위한 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성하는 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부; 및A standard self refresh pulse generator for generating a standard self refresh pulse for performing self refresh; And 상기 생성된 표준 셀프 리프레시 펄스를 입력받고, 상기 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기에 따라 상기 입력된 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 변환시켜 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 해당 뱅크 측으로 출력하는 뱅크별 셀프 리프레시 신호 발생부를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.The bank receives the generated standard self refresh pulses, converts the periods of the input standard self refresh pulses according to the self refresh periods of the respective banks, generates N bank self refresh pulses, and outputs the banks to corresponding banks. And a self refresh signal generator. 제 10 항에 있어서, 상기 각 뱅크에 대응되게 구비되며, 상기 뱅크별 셀프 리프레시 신호 발생부에 의하여 출력된 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 카운트하여 대응된 뱅크에 로우 어드레스 신호를 출력하는 N개의 로우 어드레스 카운터; 및The N row address counter of claim 10, further comprising N row address counters corresponding to the respective banks and counting the bank self refresh pulses output by the bank self refresh signal generators to output row address signals to the corresponding banks. ; And 상기 각 뱅크에 대응되게 각각 배치되며, 상기 로우 어드레스 카운트로부터 출력된 로우 어드레스 신호에 따라 대응된 뱅크의 로우를 지정하는 N개의 로우 디코더를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.And N row decoders respectively disposed corresponding to each of the banks and specifying rows of corresponding banks according to row address signals output from the row address counts. 제 10 항에 있어서, 상기 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부는,The method of claim 10, wherein the standard self refresh pulse generator, 기본 펄스를 발생시키는 기본 펄스 발생부;A basic pulse generator for generating a basic pulse; 상기 발생된 기본 펄스를 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기에 따라 카운트하는 셀프 리프레시 카운터; 및A self refresh counter for counting the generated basic pulse according to a period of the standard self refresh pulse; And 상기 기준 펄스 발생부와 상기 셀프 리프레시 카운터를 제어하여 상기 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성시키는 표준 셀프 리프레시 펄스 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.And a standard self refresh pulse generator configured to control the reference pulse generator and the self refresh counter to generate the standard self refresh pulses. 제 10 항에 있어서, 상기 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부는,The method of claim 10, wherein the self-refresh pulse generator for each bank, 상기 입력되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 상기 N개의 뱅크 중 어느 하나의 뱅크의 셀프 리프레시 주기와 동일하게 변환시켜, 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 해당 뱅크로 전송하는 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.N bank self refresh pulse generators which convert the input standard self refresh pulses into the same self refresh periods of any one of the N banks, generate the bank self refresh pulses, and then transfer the bank self refresh pulses to the corresponding banks. A semiconductor memory device, characterized in that provided. 제 13 항에 있어서, 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부는,The method of claim 13, wherein the bank self refresh pulse generator, 상기 입력되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 인가하고, 해당 뱅크의 리프레시 주기에 따라 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스의 주기를 선택하는 주기 선택부; 및A period selecting unit applying the input standard self refresh pulse and selecting a period of the bank self refresh pulse according to a refresh period of a corresponding bank; And 상기 인가되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 상기 선택된 주기로 변환시켜 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 출력하는 변환부를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.And a converter configured to convert the applied standard self refresh pulse to the selected period to output the bank self refresh pulse. 제 14 항에 있어서, 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부는 상기 변환부에서 출력되는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 다중화하여 출력하는 멀티플렉서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.The semiconductor memory device of claim 14, wherein the bank self refresh pulse generator further comprises a multiplexer configured to multiplex and output a bank self refresh pulse output from the converter. 제 14 항에 있어서, 상기 변환부는 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 정수배로 증가 또는 감소시키는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.15. The semiconductor memory device according to claim 14, wherein the converter increases or decreases the period of the standard self refresh pulse by an integer multiple. 제 14 항에 있어서, 상기 변환부는 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 1배, 2배, 4배, 1/2배 및 1/4배 중 어느 하나로 변환시켜 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.15. The method of claim 14, wherein the conversion unit converts the period of the standard self refresh pulse to any one of 1, 2, 4, 1/2 and 1/4 times to generate the bank self refresh pulse. A semiconductor memory device. 제 14 항에 있어서, 상기 변환부는 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 배수로 변환시키기 위한 다수의 주기 카운터를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도 체 메모리 장치.15. The semiconductor memory device according to claim 14, wherein the conversion unit includes a plurality of period counters for converting the period of the standard self refresh pulse to a multiple. 제 10 항에 있어서, 상기 N은 4인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.11. The semiconductor memory device of claim 10, wherein N is four.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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