KR20060088968A - Self refresh plus generation apparatus and semiconductor memory device including the same - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 3
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- E—FIXED CONSTRUCTIONS
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- B02—CRUSHING, PULVERISING, OR DISINTEGRATING; PREPARATORY TREATMENT OF GRAIN FOR MILLING
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
셀프 리프레시 펄스 생성 장치 및 이를 구비하는 반도체 메모리 장치가 개시되어 있다. 셀프 리프레시 펄스 생성 장치는, 반도체 메모리 장치에 구비된 N개의 뱅크의 셀프 리프레시를 수행하기 위한 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성하는 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부; 및 상기 생성된 표준 셀프 리프레시 펄스를 입력받고, 상기 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기에 따라 상기 입력된 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 변환시켜 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 상기 생성된 각 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 대응되는 뱅크 측으로 전송하는 뱅크별 셀프 리프레시 신호 발생부로 구성된다. 따라서, 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기 특성에 따른 각각의 뱅크에 대응되는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성하고, 그 주기에 따른 셀프 리프레시를 수행할 수 있다.Disclosed are a self refresh pulse generator and a semiconductor memory device having the same. The self refresh pulse generation device includes a standard self refresh pulse generator for generating a standard self refresh pulse for performing self refresh of N banks included in a semiconductor memory device; And receiving the generated standard self refresh pulses, converting the periods of the input standard self refresh pulses according to the self refresh periods of each bank to generate N bank self refresh pulses, and then generating the respective bank self And a bank-specific self refresh signal generator for transmitting a refresh pulse to a corresponding bank side. Therefore, a bank self refresh pulse corresponding to each bank according to the self refresh cycle characteristics of each bank can be generated, and self refresh according to the cycle can be performed.
Description
도 1은 종래의 반도체 메모리 장치의 구성을 도시하는 블록도로서, 셀프 리프레시에 관련된 부분을 개략적으로 도시하고 있다.Fig. 1 is a block diagram showing the structure of a conventional semiconductor memory device, and schematically shows a portion related to self refresh.
도 2는 도 1에 도시된 각 뱅크의 스태틱 리프레시 주기(Static Refresh Period)를 나타내는 블록도이다.FIG. 2 is a block diagram illustrating a static refresh period of each bank shown in FIG. 1.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 메모리 장치의 구성을 도시하는 블록도이다.3 is a block diagram showing a configuration of a semiconductor memory device according to a preferred embodiment of the present invention.
도 4는 도 3에 도시된 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부의 구성을 도시하는 블록도이다.FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of a bank-specific self refresh pulse generator shown in FIG. 3.
<도면의 주요 부분에 대한 부호 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
100 : 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부100: standard self refresh pulse generator
110 : 기본 펄스 발생부110: basic pulse generator
120 : 셀프 리프레시 카운터120: self refresh counter
130 : 표준 셀프 리프레시 펄스 생성부130: standard self refresh pulse generator
200 : 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부200: self-refresh pulse generator for each bank
310, 320, 330, 340 : 로우 어드레스 카운터310, 320, 330, 340: row address counter
410, 420, 430, 440 : 로우 디코더410, 420, 430, 440: row decoder
510, 520, 530, 540 : 제 1뱅크, 제 2 뱅크, 제 3 뱅크, 제 4 뱅크510, 520, 530, 540: first bank, second bank, third bank, fourth bank
본 발명은 뱅크의 셀프 리프레시 주기 특성에 따라 각각의 셀프 리프레시 펄스를 생성시킬 수 있는 셀프 리프레시 펄스 생성 장치 및 이를 구비하는 반도체 메모리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a self refresh pulse generation device capable of generating respective self refresh pulses according to a self refresh cycle characteristic of a bank, and a semiconductor memory device having the same.
일반적으로, 디램(DRAM : Dynamic Random Access Memory) 등과 같은 반도체 메모리 장치는 트랜지스터와 커패시터로 구성된 단위 셀(Cell)들 집합체로 구성되고, 상기 커패시터에 데이터를 저장한다.In general, a semiconductor memory device such as a dynamic random access memory (DRAM) or the like is composed of a collection of unit cells composed of a transistor and a capacitor, and stores data in the capacitor.
그런데, 반도체 기판 위에 형성되는 커패시터는 주변과 완벽히 전기적으로 분리될 수는 없으므로, 누설 전류가 발생하여 커패시터에 저장된 데이터 즉, 전하가 시간이 지날수록 방전되고 그에 따라 셀에 저장된 데이터가 사라지는 현상이 발생한다.However, since the capacitor formed on the semiconductor substrate cannot be completely electrically separated from the surroundings, leakage current occurs and data stored in the capacitor, that is, the charge is discharged over time, and thus the data stored in the cell disappears. do.
따라서, 반도체 메모리 장치는 이와 같은 현상을 방지하기 위하여 일정 주기마다 셀에 저장된 정보를 재 기입해주는 동작을 지속적으로 수행하는데, 이를 셀프 리프레시(Self Refresh)라 한다.Therefore, in order to prevent such a phenomenon, the semiconductor memory device continuously performs an operation of rewriting information stored in a cell at a predetermined cycle, which is called self refresh.
이러한, 셀프 리프레시는 메모리의 셀 어레이(Memory Cell Array) 내에 존재하는 각 셀들이 가지는 리텐션 타임(Retention Time) 내에 적어도 한 번씩 워드라인을 선택하여 데이터를 센싱한 뒤, 증폭시키는 방식으로 이루어진다. 이때, 리텐션 타임이란 셀에 어떠한 데이터를 기록한 후 리프레시 없이 데이터가 셀에서 유지될 수 있는 시간을 의미한다.The self refresh is performed by selecting a word line at least once within a retention time of each cell existing in a memory cell array of a memory, sensing the data, and then amplifying the data. At this time, the retention time means a time after which data is recorded in the cell and the data can be maintained in the cell without refreshing.
즉, 셀프 리프레시 동작 명령이 입력되면, 일정 주기마다 로우 어드레스가 순차적으로 증가되고, 로우 어드레시가 순차적으로 증가되면서 메모리 셀의 워드 라인이 선택된다. 이때, 워드 라인에 대응하는 커패시터에 저장된 전하는 감지 증폭 수단에 의하여 증폭되어 다시 커패시터에 저장된다. 이러한 일련의 셀프 리프레시 과정을 통하여 저장된 데이터가 손상 없이 보존되는 것이다.That is, when the self-refresh operation command is input, the row address is sequentially increased at regular intervals, and the row address is sequentially increased to select the word line of the memory cell. At this time, the charge stored in the capacitor corresponding to the word line is amplified by the sense amplifying means and stored in the capacitor again. Through this series of self refresh processes, the stored data is preserved intact.
도 1은 종래의 반도체 메모리 장치의 구성을 도시하는 블록도로서, 셀프 리프레시에 관련된 부분을 개략적으로 도시하고 있다.Fig. 1 is a block diagram showing the structure of a conventional semiconductor memory device, and schematically shows a portion related to self refresh.
도 1을 참조하면, 종래의 반도체 메모리 장치는 기본 펄스 발생기를 발생시키는 기본 펄스 발생기(10)와, 셀프 리프레시 주기에 따른 카운트를 수행하는 셀프 리프레시 카운터(20)와, 기본 펄스 발생기(10) 및 셀프 리프레시 카운터(20)를 이용하여 일정 주기를 갖는 셀프 리프레시 펄스를 출력하는 셀프 리프레시 펄스 발생부(30)와, 셀프 리프레시 펄스 발생부(30)로부터 출력되는 셀프 리프레시 펄스를 카운트하여 각 뱅크(61, 62, 63, 64)의 로우 어드레스 선택을 위한 신호를 출력하는 로우 어드레스 카운터(40)와, 로우 어드레스 카운터(40)로부터 전달되는 신호를 디코딩하여 해당 뱅크(61, 62, 63, 64)의 로우를 선택하는 4개의 로우 디코더(51, 52, 63, 54) 및 상기 로우 디코더(51, 52, 63, 54)의 선택에 따라 셀프 리프레시를 수행하는 4개의 메모리 뱅크(61, 62, 63, 64)로 구성된다.Referring to FIG. 1, a conventional semiconductor memory device includes a
이때, 각 메모리 뱅크(61, 62, 63, 64)가 가지는 셀프 리프레시 주기는 각각 다르므로, 셀프 리프레시 펄스의 주기는 공정을 고려한 최악의 상황에 대비할 수 있도록 4개의 뱅크(61, 62, 63, 64) 중 셀프 리프레시 특성이 가장 나쁜 뱅크 즉, 주기가 가장 짧은 뱅크의 셀프 리프레시 주기에 맞춰서 생성되게 된다.In this case, since the self refresh periods of the
도 2는 도 1에 도시된 각 뱅크(61, 62, 63, 64)의 스태틱 리프레시 주기(Static Refresh Period)를 나타내는 블록도이다.FIG. 2 is a block diagram illustrating a static refresh period of each
도 2를 참조하면, 뱅크 A(61), 뱅크 B(62), 뱅크 C(63) 및 뱅크 D(64)는 각각 128ms, 192ms, 256ms 및 320ms의 스태틱 리프레시 주기를 가진다. 따라서, 상술한 종래의 경우에는 셀프 리프레시 펄스 주기를 4개의 뱅크(61, 62, 63, 64)를 모두 만족시킬 수 있도록 128ms로 하여야 한다.2,
그런데, 이러한 경우 뱅크 A(61)는 요구되는 셀프 리프레시 주기에 맞춰서 셀프 리프레시가 수행되나, 뱅크 B(62)는 필요한 주기보다 50% 이상 과도하게 셀프 리프레시를 수행하는 것이 된다. 같은 개념으로 뱅크 C(63)와 뱅크 D(64)는 요구되는 주기보다 100% 및 150% 각각 과도하게 셀프 리프레시가 수행되는 것이라 할 수 있다.In this case, however, the
따라서, 뱅크 B(62), C(63) 및 D(64)는 과도한 셀프 리프레시의 수행에 따른 필요 이상의 전류의 소모가 발생되고, 이는 곧 반도체 메모리 장치의 경제적 효율 성을 저하시키는 결과를 가져오게 된다.Therefore, the
본 발명은 이러한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기 특성에 따른 셀프 리프레시 펄스를 생성할 수 있는 셀프 리프레시 펄스 생성 장치를 제공하는데 본 발명의 제 1 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and a first object of the present invention is to provide a self refresh pulse generation apparatus capable of generating self refresh pulses according to the self refresh cycle characteristics of each bank.
또한, 상기 셀프 리프레시 펄스 생성 장치를 구비함으로써 과도한 셀프 리프레시 수행에 따른 전류 소모를 방지할 수 있는 반도체 메모리 장치를 제공하는데 본 발명의 제 2 목적이 있다.
Another object of the present invention is to provide a semiconductor memory device capable of preventing current consumption due to excessive self refresh by providing the self refresh pulse generation device.
이러한 본 발명의 제 1 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 셀프 리프레시 펄스 생성 장치는, 반도체 메모리 장치에 구비된 N개의 뱅크의 셀프 리프레시를 수행하기 위한 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성하는 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부; 및 상기 생성된 표준 셀프 리프레시 펄스를 입력받고, 상기 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기에 따라 상기 입력된 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 변환시켜 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 상기 생성된 각 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 대응되는 뱅크 측으로 전송하는 뱅크별 셀프 리프레시 신호 발생부로 구성된다.The self-refresh pulse generating device according to the present invention for achieving the first object of the present invention, generating a standard self refresh pulse for performing a self-refresh of the N banks provided in the semiconductor memory device part; And receiving the generated standard self refresh pulses, converting the periods of the input standard self refresh pulses according to the self refresh periods of each bank to generate N bank self refresh pulses, and then generating the respective bank self And a bank-specific self refresh signal generator for transmitting a refresh pulse to a corresponding bank side.
이때, 상기 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부는, 기본 펄스를 발생시키는 기 본 펄스 발생부와; 상기 발생된 기본 펄스를 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기에 따라 카운트하는 셀프 리프레시 카운터; 및 상기 기준 펄스 발생부와 상기 셀프 리프레시 카운터를 제어하여 상기 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성시키는 표준 셀프 리프레시 펄스 생성부로 구성된다.In this case, the standard self-refresh pulse generator may include a basic pulse generator configured to generate a basic pulse; A self refresh counter for counting the generated basic pulse according to a period of the standard self refresh pulse; And a standard self refresh pulse generator configured to control the reference pulse generator and the self refresh counter to generate the standard self refresh pulse.
또한, 상기 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부는, 상기 입력되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 상기 N개의 뱅크 중 어느 하나의 뱅크의 셀프 리프레시 주기와 동일하게 변환시켜, 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 해당 뱅크로 전송하는 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부를 구비한다.The bank-specific self refresh pulse generation unit converts the input standard self refresh pulses to the self refresh period of any one of the N banks to generate the bank self refresh pulses. N bank self-refresh pulse generators are transmitted.
상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부는, 상기 입력되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 인가하고, 해당 뱅크의 리프레시 주기에 따라 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스의 주기를 선택하는 주기 선택부; 및 상기 인가되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 상기 선택된 주기로 변환시켜 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 출력하는 변환부로 이루어진다. 또한, 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부는 상기 변환부에서 출력되는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 다중화하여 출력하는 멀티플렉서를 더 포함시킬 수도 있다.The bank self refresh pulse generation unit may include a period selector configured to apply the input standard self refresh pulse and select a period of the bank self refresh pulse according to a refresh period of a corresponding bank; And a converter for converting the applied standard self refresh pulse to the selected period to output the bank self refresh pulse. The bank self refresh pulse generator may further include a multiplexer configured to multiplex and output a bank self refresh pulse output from the converter.
상기 변환부는 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 정수배로 증가 또는 감소시킨다. 즉, 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 해당 뱅크의 주기에 맞도록 1배, 2배, 4배, 1/2배 및 1/4배 등으로 변환시켜 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한다. 이때, 상기 변환부는 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 배수로 변환시키기 위한 다수의 주기 카운터를 구비한다.The conversion unit increases or decreases the period of the standard self refresh pulse by an integer multiple. That is, the bank self refresh pulse is generated by converting the period of the standard self refresh pulse to 1, 2, 4, 1/2, and 1/4 times so as to match the period of the corresponding bank. In this case, the conversion unit includes a plurality of period counters for converting the period of the standard self refresh pulse to a multiple.
한편, 본 발명의 제 2 목적을 달성하기 위한 반도체 메모리 장치는, 복수개의 메모리 셀들을 구비하며 각각 고유의 셀프 리프레시 주기를 가지는 N개의 뱅크와; 셀프 리프레시를 수행하기 위한 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성하는 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부; 및 상기 생성된 표준 셀프 리프레시 펄스를 입력받고, 상기 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기에 따라 상기 입력된 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 변환시켜 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 해당 뱅크 측으로 출력하는 뱅크별 셀프 리프레시 신호 발생부로 구성된다.On the other hand, a semiconductor memory device for achieving the second object of the present invention, N banks having a plurality of memory cells, each having a unique self refresh period; A standard self refresh pulse generator for generating a standard self refresh pulse for performing self refresh; And receiving the generated standard self refresh pulses, converting the periods of the input standard self refresh pulses according to the self refresh periods of each bank to generate N bank self refresh pulses, and outputting the banks to the corresponding bank side. Each self refresh signal generator is composed.
상기 반도체 장치는 상기 각 뱅크에 대응되게 구비되며, 상기 뱅크별 셀프 리프레시 신호 발생부에 의하여 출력된 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 카운트하여 대응된 뱅크에 로우 어드레스 신호를 출력하는 N개의 로우 어드레스 카운터; 및 상기 각 뱅크에 대응되게 각각 배치되며, 상기 로우 어드레스 카운트로부터 출력된 로우 어드레스 신호에 따라 대응된 뱅크의 로우를 지정하는 N개의 로우 디코더를 더 포함시킬 수 있다.The semiconductor device includes N row address counters corresponding to the respective banks and counting the bank self refresh pulses output by the bank self refresh signal generators to output row address signals to the corresponding banks; And N row decoders respectively disposed corresponding to the respective banks and specifying rows of corresponding banks according to row address signals output from the row address counts.
이때, 상기 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부는, 기본 펄스를 발생시키는 기본 펄스 발생부와; 상기 발생된 기본 펄스를 상기 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기에 따라 카운트하는 셀프 리프레시 카운터; 및 상기 기준 펄스 발생부와 상기 셀프 리프레시 카운터를 제어하여 상기 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성시키는 표준 셀프 리프레시 펄스 생성부로 구성된다.In this case, the standard self-refresh pulse generator may include a basic pulse generator configured to generate a basic pulse; A self refresh counter for counting the generated basic pulse according to a period of the standard self refresh pulse; And a standard self refresh pulse generator configured to control the reference pulse generator and the self refresh counter to generate the standard self refresh pulse.
또한, 상기 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부는, 상기 입력되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 상기 N개의 뱅크 중 어느 하나의 뱅크의 셀프 리프레시 주기와 동 일하게 변환시켜, 상기 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 해당 뱅크로 전송하는 N개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부를 구비한다.The bank-specific self-refresh pulse generator converts the input standard self-refresh pulse to be equal to the self-refresh period of any one of the N banks to generate the bank self-refresh pulse. N bank self-refresh pulse generators are sent to the bank.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, it will be described in detail a preferred embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 메모리 장치의 구성을 도시하는 블록도이다.3 is a block diagram showing a configuration of a semiconductor memory device according to a preferred embodiment of the present invention.
도 3을 참조하면, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 메모리 장치는 4개의 뱅크 즉, 제 1 뱅크(510), 제 2 뱅크(520), 제 3 뱅크(530) 및 제 4 뱅크(540)를 가지며, 각 뱅크(510, 520, 530, 540)에는 대응되는 로우 디코더(410, 420, 430, 440) 및 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)가 각각 연결된다. 이때, 도시되지는 않았지만 상기 뱅크(510, 520, 530, 540)에는 로우와 칼럼들에 배열되는 복수개의 메모리 셀들이 구비되며, 상기 로우 디코더(410, 420, 430, 440)들은 연결된 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)로부터 신호를 인가 받아 해당 뱅크(510, 520, 530, 540)의 로우를 지정한다.Referring to FIG. 3, a semiconductor memory device according to an exemplary embodiment of the present invention may include four banks, that is, a
또한, 본 실시예에서는 상기 제 1 뱅크(510)와 제 3 뱅크(530)의 셀프 리프레시 주기가 동일하고, 제 2 뱅크(520)는 제 1 뱅크(510)보다 2배 긴 셀프 리프레시 주기를 갖고, 제 4 뱅크(540)는 제 1 뱅크(510)보다 4배 긴 셀프 리프레시 주기를 갖는 걸로 가정한다. 하지만, 구비되는 뱅크의 개수와 셀프 리프레시 주기는 실시 환경에 따라 다양하게 변할 수 있는 것이다.In addition, in the present embodiment, the self refresh periods of the
한편, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 4개의 뱅크(510, 520, 530, 540)의 셀프 리프레시를 수행할 수 있도록 반도체 메모리 장치는 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부(100) 및 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부(200)를 구비한다.As illustrated in FIG. 3, the semiconductor memory device may perform a standard self
표준 셀프 리프레시 펄스 발생부(100)는 상기 뱅크(510, 520, 530, 540)들의 셀프 리프레시를 수행하기 위한 표준 신호인 표준 셀프 리프레시 펄스를 발생시켜 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부(200)로 출력하는 기능을 수행한다.The standard self
상기 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부(100)는 기본 펄스를 발생시키는 기본 펄스 발생부(110)와, 기본 펄스를 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기에 따라 카운트하는 셀프 리프레시 카운터(120) 및 기준 펄스 발생부(110)와 셀프 리프레시 카운터(120)를 제어하여 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성시키는 표준 셀프 리프레시 펄스 생성부(130)로 구성된다.The standard self
뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부(200)는 표준 셀프 리프레시 펄스 발생부(100)에 의하여 생성된 표준 셀프 리프레시 펄스를 입력받아, 각 뱅크(510, 520, 530, 540)의 리프레시 주기에 따라 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 변환시켜 각 뱅크(510, 520, 530, 540)에 대응하는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성한 뒤, 해당 뱅크(510, 520, 530, 540)의 뱅크 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)로 전송한다.The self
즉, 표준 셀프 리프레시 펄스를 입력받아, 제 1 뱅크(510), 제 2 뱅크(520), 제 3 뱅크(530) 및 제 4 뱅크(540)의 셀프 리프레시 주기에 대응하는 제 1 뱅크(510)의 뱅크 셀프 리프레시 펄스, 제 2 뱅크(520)의 뱅크 셀프 리프레시 펄스, 제 3 뱅크(530)의 뱅크 셀프 리프레시 펄스 및 제 4 뱅크(540)의 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 각각 생성하여 각 뱅크(510, 520, 530, 540)에 대응되는 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)로 각기 전송하는 것이다.That is, the
도 4는 도 3에 도시된 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부(200)의 구성을 도시하는 블록도이다.FIG. 4 is a block diagram illustrating a configuration of the self
도 3 및 도 4를 참조하면, 뱅크별 셀프 리프레시 펄스 발생부(200)는 각 뱅크(510, 520, 530, 540)에 대응하는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성할 수 있도록 4개의 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부 즉, 제 1 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(210), 제 2 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(220), 제 3 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(230) 및 제 4 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(240)로 구성된다.3 and 4, each bank self
이때, 각 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(210, 220, 230, 240)는 입력되는 표준 셀프 리프레시 펄스를 인가하고, 해당 뱅크(510, 520, 530, 540)의 셀프 리프레시 주기에 따라 뱅크 셀프 리프레시 펄스의 주기를 선택하는 주기 선택부(211, 221, 231, 241)와, 주기 선택부(211, 221, 231, 241)에 의해서 선택된 주기에 따라 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기를 해당 뱅크(510, 520, 530, 540)의 리프레시 주기와 동일하게 변환시켜 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 출력하는 변환부(213, 223, 233, 243) 및 출력된 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 다중화하여 해당 뱅크(510, 520, 530, 540)의 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)로 출력하는 멀티플렉서(215, 225, 235, 245)로 구성된다.At this time, each of the bank self
상기 변환부(213, 223, 233, 243)는 표준 셀프 리프레시 신호를 그대로 출력 하는 제 1 변환부(a)와, 표준 셀프 리프레시 신호의 주기를 2배로 변환시켜 출력하는 제 2 변환부(b) 및 표준 셀프 리프레시 신호의 주기를 4배로 변환시켜 출력하는 제 3 변환부(c)로 각각 구성된다.The converting
이때, 제 2 변환부(b) 및 제 3 변환부(c)에는, 상기 프로세스를 수행하기 위해서, 입력되는 펄스의 주기를 2배로 변환시키는 주기 카운터(k)가 구비된다. 제 1 변환부(a)는 표준 셀프 리프레시 신호를 그대로 출력하고, 제 2 변환부(b)는 표준 셀프 리프레시 신호를 주기 카운터(k)를 통하여 2배로 하여 출력하고, 제 3 변환부(c)는 표준 셀프 리프레시 신호 및 제 2 변환부(b)의 주기 카운터(k)에 의하여 2배로 변환된 펄스 신호를 입력받아 그 변환된 펄스 신호의 주기를 2배로 변환시켜 4배의 주기를 갖는 펄스 신호를 출력한다.In this case, in order to perform the above process, the second converter b and the third converter c are provided with a period counter k for converting the period of the input pulse twice. The first converting unit a outputs the standard self refresh signal as it is, and the second converting unit b outputs the standard self refresh signal by doubling the period through the period counter k. Is a pulse signal having four times the period by receiving the standard self refresh signal and the pulse signal converted twice by the period counter k of the second converter b, and converting the period of the converted pulse signal twice. Outputs
따라서, 표준 셀프 리프레시 펄스 주기의 1배, 2배 및 4배의 주기를 갖는 뱅크 셀프 리프레시 펄스의 출력이 가능하다. 이때, 상기 출력은 앞서 언급했던 주기 선택부(211, 221, 231, 241)의 제어에 의해서 3개의 출력 중의 하나가 출력된다.Therefore, the output of the bank self refresh pulses having cycles of 1, 2 and 4 times the standard self refresh pulse period is possible. At this time, the output is one of the three outputs by the control of the
각 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(210, 220, 230, 240)의 동작을 살펴보면, 상기 제 1 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(210)의 주기 선택부(211)는, 제 1 뱅크(510)의 셀프 리프레시 주기가 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기와 동일하므로 변환부(213)의 제 1 변환부(a)를 통해서 표준 셀프 리프레시 펄스를 그대로 출력하고, 출력된 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 멀티플렉서(215)로 다중화하여 제 1 뱅크(510)의 로우 어드레스 카운터(310)로 전송한다.Referring to the operation of each of the bank self
제 2 뱅크 리프레시 펄스 발생부(220)의 주기 선택부(221)는, 제 2 뱅크 (520)의 셀프 리프레시 주기가 표준 셀프 리프레시 펄스 주기의 2배이므로 변환부(223)의 제 2 변환부(b)를 통해서 표준 셀프 리프레시 신호의 주기를 2배로 변환시켜 변환된 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 출력한다. 출력된 제 2 뱅크(520)의 뱅크 셀프 리프레시 펄스는 제 2 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(220)의 멀티플렉서(225)에 의해서 다중화되어 제 2 뱅크(520)의 로우 어드레스 카운터(320)로 전송된다.The
제 3 뱅크 리프레시 펄스 발생부(230)의 주기 선택부(231)는, 제 3 뱅크(530)의 셀프 리프레시 주기가 표준 셀프 리프레시 펄스의 주기와 동일하므로 변환부(233)의 제 1 변환부(a)를 통해서 표준 셀프 리프레시 펄스를 그대로 출력하고, 출력된 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 멀티플렉서(235)로 다중화하여 제 3 뱅크(530)의 로우 어드레스 카운터(330)로 전송한다.The
제 4 뱅크 리프레시 펄스 발생부(240)의 주기 선택부(241)는, 제 4 뱅크(540)의 셀프 리프레시 주기가 표준 셀프 리프레시 펄스 주기의 4배이므로 변환부(243)의 제 3 변환부(c)를 통해서 표준 셀프 리프레시 신호의 주기를 4배로 변환시켜 변환된 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 출력한다. 출력된 제 4 뱅크(540)의 뱅크 셀프 리프레시 펄스는 제 4 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(240)의 멀티플렉서(245)에 의해서 다중화되어 제 4 뱅크(540)의 로우 어드레스 카운터(340)로 전송된다.The
한편, 각 뱅크 셀프 리프레시 펄스 발생부(210, 220, 230, 240)로부터 출력된 해당 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)로 전송되고, 각 로우 어드레스 카운터(310, 320, 330, 340)들은 전송된 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 동기되어 대응된 뱅크(510, 520, 530, 540)의 로우를 선택하기 위한 선택 신호를 해당 뱅크의 로 우 디코더(410, 420, 430, 440)로 출력한다.Meanwhile, the row address counters 310, 320, 330, and 340 output from the respective bank self
따라서, 각 로우 디코더(410, 420, 430, 440)는 해당 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 대응되는 주기로 대응된 뱅크(510, 520, 530, 540)의 로우를 선택하고, 각 뱅크(510, 520, 530, 540)는 셀프 리프레시 동작을 수행하게 되는 것이다.Accordingly, each
즉, 제 1 뱅크(510)는 표준 셀프 리프레시 펄스와 그 주기가 동일한 제 1 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 의하여 셀프 리프레시를 수행하고, 제 2 뱅크(520)는 표준 셀프 리프레시 펄스 주기의 2배의 주기를 갖는 제 2 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 의해서 셀프 리프레시를 수행하고, 제 3 뱅크(530)는 표준 셀프 리프레시 펄스와 그 주기가 동일한 제 3 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 의하여 셀프 리프레시를 수행하고, 제 4 뱅크(540)는 표준 셀프 리프레시 펄스 주기의 4배의 주기를 갖는 제 4 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 의해서 셀프 리프레시를 수행한다.That is, the
그러므로, 종래에는 각 뱅크들의 셀프 리프레시 주기 특성에 관계없이 가장 셀프 리프레시의 주기가 빠른 뱅크의 셀프 리프레시 주기에 맞추어 모든 뱅크가 셀프 리프레시를 수행하여야 했으나, 상술한 실시예에서는 각기 다른 셀프 리프레시 주기를 갖는 뱅크들이 자신의 셀프 리프레시 주기에 대응되게 생성된 뱅크 셀프 리프레시 펄스에 따라 셀프 리프레시를 수행하므로 불필요한 전류의 소모를 막을 수 있는 것이다.Therefore, conventionally, all banks must perform self refresh in accordance with the self refresh period of the bank having the fastest self refresh period regardless of the self refresh cycle characteristics of each bank. However, in the above-described embodiment, each bank has a different self refresh period. Since the banks perform self refresh according to the bank self refresh pulses generated corresponding to their self refresh periods, it is possible to prevent unnecessary current consumption.
이상 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변 경시켜 실시할 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the present invention has been described above with reference to its preferred embodiments, those skilled in the art will variously modify the present invention without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. And it will be understood that changes can be made.
특히, 앞선 실시예에서는 4개의 뱅크를 갖는 반도체 메모리 장치와 셀프 리프레시 장치를 설명하였으나, 뱅크의 개수는 실시환경에 따라 달라질 수 있으며 각 뱅크가 갖는 셀프 리프레시 주기도 1배, 2배 및 4배뿐만 아니라 1/2배, 1/4배, 8배, 16배 등과 같이 적용할 수 있을 것이다.In particular, the foregoing embodiment has described a semiconductor memory device and a self-refreshing device having four banks, but the number of banks may vary depending on the implementation environment, and the self-refresh cycles of each bank are not only 1, 2, and 4 times. It may be applied as 1/2, 1/4, 8, or 16 times.
즉, 소정의 표준 셀프 리프레시 펄스를 생성하고 이를 각 뱅크의 특성에 따라 주기를 변화시켜 각 뱅크의 주기에 맞는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성하여 제공할 수 있다.That is, a predetermined standard self refresh pulse may be generated, and the period may be changed according to the characteristics of each bank to generate and provide a bank self refresh pulse suitable for the period of each bank.
따라서, 본 발명의 앞으로의 실시예들의 변경은 본 발명의 기술을 벗어날 수 없을 것이다.Accordingly, modifications to future embodiments of the present invention will not depart from the technology of the present invention.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 셀프 리프레시 펄스 생성 장치 및 이를 구비하는 반도체 메모리 장치에 따르면 각 뱅크의 셀프 리프레시 주기 특성에 따른 각각의 뱅크에 대응되는 뱅크 셀프 리프레시 펄스를 생성하고, 그 주기에 따른 셀프 리프레시를 수행할 수 있으므로, 종래에 발생하던 셀프 리프레시 시의 불필요한 전류 소모를 방지할 수 있는 장점을 가지게 된다.As described above, according to the self-refresh pulse generating device and the semiconductor memory device having the same according to the present invention, the bank self-refresh pulse corresponding to each bank according to the self-refresh cycle characteristics of each bank is generated, Since the self refresh can be performed, it is possible to prevent unnecessary current consumption during the self refresh that has occurred in the past.
Claims (19)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020050009500A KR20060088968A (en) | 2005-02-02 | 2005-02-02 | Self refresh plus generation apparatus and semiconductor memory device including the same |
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KR1020050009500A KR20060088968A (en) | 2005-02-02 | 2005-02-02 | Self refresh plus generation apparatus and semiconductor memory device including the same |
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ID=37177197
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KR1020050009500A KR20060088968A (en) | 2005-02-02 | 2005-02-02 | Self refresh plus generation apparatus and semiconductor memory device including the same |
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KR (1) | KR20060088968A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9767050B2 (en) | 2015-08-24 | 2017-09-19 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory systems that adjust an auto-refresh operation responsive to a self-refresh operation history |
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2005
- 2005-02-02 KR KR1020050009500A patent/KR20060088968A/en not_active Application Discontinuation
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