KR20060084119A - Method for calibrating of adc - Google Patents

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Abstract

본 발명은 센서에 의해 측정된 물리적 신호의 크기를 원하는 측정값으로 매핑하는 방법에 있어서 물리적 신호의 크기를 디지털 값으로 변환하는 아날로그 디지털 컨버터의 게인 편차에 의한 에러를 보상하는 캘리브레이션 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a calibration method for compensating for errors due to a gain deviation of an analog-to-digital converter for converting a magnitude of a physical signal measured by a sensor to a desired measurement value.

본 발명에 따른 ADC의 캘리브레이션 방법은 ADC를 게인의 크기에 따라 표준의 게인을 가지는 표준 게인 그룹, 표준보다 높은 게인을 가지는 하이 게인 그룹, 그리고 표준보다 낮은 게인을 가지는 로우 게인 그룹들로 분류하는 과정; 상기 분류된 그룹들 각각에 상당하는 변환식들을 설정하는 과정; ADC에 의해 아날로그값을 디지털 값으로 변환하고, 디지털 변환된 값을 ADC가 속한 그룹에 해당하는 변환식에 의해 원하는 측정값으로 매핑하는 과정; 및 매핑된 측정값을 상기 ADC가 속한 그룹을 참조하여 캘리브레이션하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the calibration method of the ADC according to the present invention, the ADC is classified into a standard gain group having a standard gain, a high gain group having a gain higher than the standard, and a low gain group having a gain lower than the standard according to the gain size. ; Setting conversion equations corresponding to each of the classified groups; Converting an analog value into a digital value by the ADC and mapping the digitally converted value to a desired measurement value by a conversion equation corresponding to a group to which the ADC belongs; And calibrating the mapped measured value with reference to the group to which the ADC belongs.

본 발명에 따른 ADC의 캘리브레이션 방법은 ADC의 게인 편차에 의한 측정값의 오류를 보상함으로써 정확한 측정값을 얻게 하는 효과를 가진다.The calibration method of the ADC according to the present invention has the effect of obtaining an accurate measurement value by compensating for the error of the measurement value due to the gain deviation of the ADC.

Description

아날로그 디지털 컨버터의 캘리브레이션 방법{Method for calibrating of ADC}Calibration Method for Analog-to-Digital Converters {Method for calibrating of ADC}

도 1은 종래의 캘리브레이션 장치를 보이는 블록도이다.1 is a block diagram showing a conventional calibration device.

도 2는 본 발명이 적용되는 하드디스크 드라이브(10)의 구성을 보이는 것이다.2 shows a configuration of a hard disk drive 10 to which the present invention is applied.

도 3은 도 2에 도시된 하드디스크 드라이브의 전기적인 회로를 보이는 블록도이다.FIG. 3 is a block diagram illustrating an electrical circuit of the hard disk drive of FIG. 2.

도 4a 및 도 4b는 각각 도 2에 도시된 온도 센서(260)의 구성 및 더미스터의 온도-출력 특성을 보이는 것이다.4A and 4B show the configuration of the temperature sensor 260 and the temperature-output characteristic of the dummyster, respectively, shown in FIG. 2.

도 5는 매핑된 온도와 더미스터의 검출값과의 관계를 보이는 것이다.Figure 5 shows the relationship between the mapped temperature and the detected value of the dummyster.

도 6은 하드디스크 드라이브에 있어서 온도 측정 과정을 보이는 흐름도이다.6 is a flowchart illustrating a temperature measurement process in a hard disk drive.

도 7은 본 발명에 따른 ADC의 캘리브레이션 방법을 보이는 흐름도이다. 7 is a flowchart illustrating a calibration method of an ADC according to the present invention.

도 8은 도 7에 도시된 캘리브레이션 방법에 있어서 게인에 따라 ADC를 분류하는 방법을 도식적으로 보이는 그래프이다.FIG. 8 is a graph schematically illustrating a method of classifying ADCs according to gains in the calibration method illustrated in FIG. 7.

본 발명은 센서에 의해 측정된 물리적 신호의 크기를 원하는 측정값으로 매핑하는 방법에 있어서 물리적 신호의 크기를 디지털 값으로 변환하는 아날로그 디지털 컨버터의 게인(gain; 증폭 이득) 편차에 의한 에러를 보상하는 캘리브레이션 방법에 관한 것이다.The present invention provides a method for mapping the magnitude of a physical signal measured by a sensor to a desired measurement value, which compensates for errors due to gain (amplification gain) deviation of an analog-to-digital converter that converts the magnitude of a physical signal into a digital value. It relates to a calibration method.

데이터 저장 장치의 하나인 하드디스크 드라이브는 자기 헤드에 의해 디스크에 기록된 데이터를 재생하거나, 디스크에 사용자 데이터를 기록한다..A hard disk drive, which is one of the data storage devices, plays back data recorded on the disk by the magnetic head or records user data on the disk.

하드디스크 드라이브는 데이터를 기록함에 있어서 환경적인 변화에 매우 민감한 특성을 보인다. 이렇게 변화되는 환경적 요소를 정확하게 파악하여 하드디스크의 동작에 반영하여야만 위크라이트(weak write)나 인접트랙기록(adjacent track write) 등을 방지할 수 있다.Hard disk drives are very sensitive to environmental changes in recording data. The changing environmental factors must be accurately understood and reflected in the operation of the hard disk to prevent weak writes or adjacent track writes.

하드디스크 드라이브의 동작에 영향을 주는 환경적 요인들 중의 하나가 온도이다. 온도는 디스크의 보자력, 디스크 팽창 등에 영향을 준다. 주지하는 바와 같이 하드디스크의 리드/라이트 채널 파라메터 최적화에 있어서 온도는 가장 중요한 팩터가 된다.One of the environmental factors that affect the operation of hard disk drives is temperature. Temperature affects the coercive force of the disc, the disc expansion, and the like. As is well known, temperature is the most important factor in the optimization of read / write channel parameters of a hard disk.

하드디스크 드라이브의 동작 온도를 검출하기 위하여 더미스터를 사용한다. 하드디스크 드라이브는 더미스터의 출력값으로부터 온도값을 얻기 위하여 더미스터의 출력값을 디지털 변환하고, 디지털 변환된 더미스터 출력값을 변환식을 사용하여 온도값으로 매핑한다. 이 과정에서 더미스터의 출력값을 디지털 변환하기 위하여 아날로그/디지털 변환기(Analog to Digital Converter; ADC)가 사용된다. Dummyster is used to detect the operating temperature of the hard disk drive. The hard disk drive digitally converts the output value of the dummyster to obtain the temperature value from the output value of the dummyster, and maps the digitally converted dummyster output value to the temperature value using a conversion equation. In this process, an analog-to-digital converter (ADC) is used to digitally convert the dummy output value.

ADC는 고유의 오프셋 및 게인을 가진다. 즉, ADC마다 오프셋 및 게인이 다르 다. 따라서, 일정한 입력값에 대하여 일정한 출력을 낼 수 있도록 ADC를 캘리브레이션할 필요가 있다. ADCs have inherent offsets and gains. In other words, each ADC has a different offset and gain. Therefore, it is necessary to calibrate the ADC to produce a constant output for a constant input value.

도 1은 종래의 캘리브레이션 장치를 보이는 블록도이다. 도 1을 참조하면 더미스터(102), ADC(104) 그리고 게인 조절용 레지스터(106)가 도시된다. 게인 조절용 레지스터(106)는 ADC(104)의 게인 편차를 보상하기 위한 것이다. 실제에 있어서 게인 조절용 레지스터(106)는 ADC(104)의 내부에 구현되는 것이지만 설명의 편의를 위하여 ADC(104)의 외부로 인출하여 도시되고 있다.1 is a block diagram showing a conventional calibration device. Referring to FIG. 1, a dummyster 102, an ADC 104, and a gain adjusting register 106 are shown. The gain adjusting register 106 is for compensating for the gain deviation of the ADC 104. In practice, the gain adjusting register 106 is implemented inside the ADC 104, but is drawn out of the ADC 104 for convenience of description.

종래의 캘리브레이션 방법은 ADC(104)의 출력 편차 즉, 표준의 입력에 대한 표준의 출력으로부터의 차이에 상응하여 게인을 조정하도록 하고 있다.The conventional calibration method is to adjust the gain corresponding to the output deviation of the ADC 104, i.e., the difference from the output of the standard to the input of the standard.

그렇지만, 실제에 있어서는 ADC(104)의 게인을 조정하더라도 ADC들 사이의 편차가 소정의 범위 내에 들어오도록 캘리브레이션하는 것이 어렵다. 이것은 ADC(104)의 게인을 조절함에 의해 출력 편차가 적어지더라도 ADC(104)에 의해 변환된 디지털 값을 변환식에 의해 원하는 측정값 예를 들어 온도값으로 매핑시키는 과정에서 출력 편차가 다시 크게 증폭되어 나타나기 때문이다.In practice, however, even if the gain of the ADC 104 is adjusted, it is difficult to calibrate so that the deviation between the ADCs falls within a predetermined range. Although the output deviation is reduced by adjusting the gain of the ADC 104, the output deviation is amplified again in the process of mapping the digital value converted by the ADC 104 to a desired measured value, for example, a temperature value, by a conversion equation. Because it appears.

본 발명은 ADC의 게인 편차를 보정하는 캘리브레이션 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a calibration method for correcting a gain deviation of an ADC.

본 발명의 다른 목적은 상기의 캘리브레이션 방법을 수행하는 프로그램이 기록된 기록 매체를 제공하는 것에 있다.Another object of the present invention is to provide a recording medium on which a program for performing the above calibration method is recorded.

상기의 목적을 달성하는 본 발명에 따른 ADC의 캘리브레이션 방법은Calibration method of the ADC according to the present invention to achieve the above object

센서에 의해 측정된 물리적 신호의 크기를 원하는 ADC를 통하여 디지털 값으로 변환하고, 변환된 디지털 값을 변환식을 사용하여 원하는 측정값으로 매핑하는 방법에 있어서,In the method of converting the magnitude of the physical signal measured by the sensor to a digital value through the desired ADC, and converting the converted digital value to the desired measurement value using a conversion equation,

상기 ADC를 게인의 크기에 따라 표준의 게인을 가지는 표준 게인 그룹, 표준보다 높은 게인을 가지는 하이 게인 그룹, 그리고 표준보다 낮은 게인을 가지는 로우 게인 그룹들로 분류하는 과정;Classifying the ADC into a standard gain group having a gain of a standard, a high gain group having a gain higher than a standard, and a low gain group having a gain lower than a standard according to a gain size;

상기 분류된 그룹들 각각에 상당하는 변환식들을 설정하는 과정;Setting conversion equations corresponding to each of the classified groups;

ADC에 의해 아날로그값을 디지털 값으로 변환하고, 디지털 변환된 값을 ADC가 속한 그룹에 해당하는 변환식에 의해 원하는 측정값으로 매핑하는 과정; 및Converting an analog value into a digital value by the ADC and mapping the digitally converted value to a desired measurement value by a conversion equation corresponding to a group to which the ADC belongs; And

매핑된 측정값을 상기 ADC가 속한 그룹을 참조하여 캘리브레이션하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다. And calibrating the mapped measured value with reference to the group to which the ADC belongs.

여기서, 상기 캘리브레이션 과정은 Here, the calibration process

상위 게인 그룹의 ADC일 경우 상기 매핑된 측정값에서 표준 게인 그룹에 해당하는 변환식에 의한 변환 결과와의 차이만큼을 감산하여 출력하고, In the case of the ADC of the upper gain group, the mapped measurement value is subtracted and output as much as the difference from the conversion result by the conversion equation corresponding to the standard gain group.

로우 게인 그룹의 ADC일 경우 상기 매핑된 측정값에서 표준 게인 그룹에 해당하는 변환식에 의한 변환 결과와의 차이만큼을 가산하여 출력하며, 그리고In the case of the ADC of the low gain group, and outputs by adding as much as the difference from the conversion result by the conversion equation corresponding to the standard gain group in the mapped measured value, and

표준 게인 그룹의 ADC일 경우 상기 매핑된 측정값을 출력하도록 하는 것을 특징으로 한다.In the case of the ADC of the standard gain group, the mapped measurement value is output.

또한, ADC를 게인의 크기에 따라 분류하는 과정은In addition, the process of classifying ADCs according to the amount of gain

오프셋에 상당하는 레퍼런스 입력 전압, 레퍼런스 전압보다 k만큼 큰 제1입력 전압, 그리고 레퍼런스 전압보다 2K만큼 큰 제2입력 전압들을 ADC에 인가하여 각각의 입력 전압들에 상응하는 레퍼런스 출력 전압, 제1출력 전압, 그리고 제2출력 전압을 얻는 과정;The reference input voltage corresponding to the offset, the first input voltage larger by k than the reference voltage, and the second input voltages larger by 2K than the reference voltage are applied to the ADC so that the reference output voltage and the first output corresponding to the respective input voltages are applied. Obtaining a voltage and a second output voltage;

레퍼런스 출력 전압과 제2출력 전압과의 평균과 제1출력 전압과의 차이를 산출하는 과정; 및Calculating a difference between the average of the reference output voltage and the second output voltage and the first output voltage; And

상기 차이값의 크기에 따라 ADC를 분류하는 과정을 포함하는 것이 바람직하다.It is preferable to include the step of classifying the ADC according to the magnitude of the difference value.

상기의 다른 목적을 달성하는 본 발명에 따른 컴퓨터로 읽어들일 수 있는 기록 매체는 A computer-readable recording medium according to the present invention for achieving the above another object is

센서에 의해 측정된 물리적 신호의 크기를 원하는 ADC를 통하여 디지털 값으로 변환하고, 변환된 디지털 값을 변환식을 사용하여 원하는 측정값으로 매핑하는 방법이 기록된 컴퓨터로 읽어들일 수 있는 기록 매체에 있어서,In a recording medium that can be read by a computer, a method of converting the magnitude of a physical signal measured by a sensor into a digital value through a desired ADC and converting the converted digital value into a desired measurement value using a conversion equation,

상기 ADC를 게인의 크기에 따라 표준의 게인을 가지는 표준 게인 그룹, 표준보다 높은 게인을 가지는 하이 게인 그룹, 그리고 표준보다 낮은 게인을 가지는 로우 게인 그룹들로 분류하는 과정;Classifying the ADC into a standard gain group having a gain of a standard, a high gain group having a gain higher than a standard, and a low gain group having a gain lower than a standard according to a gain size;

상기 분류된 그룹들 각각에 상당하는 변환식들을 설정하는 과정;Setting conversion equations corresponding to each of the classified groups;

ADC에 의해 아날로그값을 디지털 값으로 변환하고, 디지털 변환된 값을 ADC가 속한 그룹에 해당하는 변환식에 의해 원하는 측정값으로 매핑하는 과정; 및Converting an analog value into a digital value by the ADC and mapping the digitally converted value to a desired measurement value by a conversion equation corresponding to a group to which the ADC belongs; And

매핑된 측정값을 상기 ADC가 속한 그룹을 참조하여 캘리브레이션하는 과정들 이 기록된 것을 특징으로 한다.The process of calibrating the mapped measured value with reference to the group to which the ADC belongs is recorded.

본 발명의 특징들 및 장점들은 첨부된 도면들에 도시되는 본 발명의 예시적인 실시예들을 구체적으로 설명함에 의해 명백해질 것이다.The features and advantages of the present invention will become apparent from the following detailed description of exemplary embodiments of the invention shown in the accompanying drawings.

본 발명의 예시적인 실시예에 대한 참조가 상세하게 이루어질 것이며, 여기서 동일한 참조부호는 동일한 구성요소들을 나타낸다. 또한, 설명을 간략하게 하기 위하여 본 발명에 있어서 신규하지 않거나 당업자에게 잘 알려진 것은 생략하기로 한다.Reference will be made in detail to exemplary embodiments of the invention, wherein like reference numerals denote like elements. In addition, in order to simplify the description, anything that is not novel or well known to those skilled in the art will be omitted.

도 2는 본 발명이 적용되는 하드디스크 드라이브(10)의 구성을 보이는 것이다. 도 2에 도시된 하드디스크 드라이브(10)는 스핀들 모터(14)에 의하여 회전되는 적어도 하나의 자기 디스크(12)를 포함하고 있다. 하드디스크 드라이브(10)는 디스크 표면(18)에 인접되게 위치한 변환기(16)를 또한 포함하고 있다.2 shows a configuration of a hard disk drive 10 to which the present invention is applied. The hard disk drive 10 shown in FIG. 2 includes at least one magnetic disk 12 that is rotated by a spindle motor 14. Hard disk drive 10 also includes a transducer 16 located adjacent disk surface 18.

변환기(16)는 각각의 디스크(12)의 자계를 감지하고 자화시킴으로써 회전하는 디스크(12)에서 정보를 읽거나 기록할 수 있다. 전형적으로 각각의 변환기(16)는 각각의 디스크 표면(18)과 연관되어 있다. 한편, 도 1에서는 단일의 변환기(16)로 도시되어 설명되어 있지만, 실질적으로 이것은 디스크(12)를 자화시키기 위한 기록용 변환기와 디스크(12)의 자계를 감지하기 위한 분리된 읽기용 변환기로 이루어져 있는 것으로 이해되어야 한다. 전형적으로, 쓰기용 변환기는 공극을 가지는 자기 회로로 구성되고, 읽기용 변환기는 자기 저항(MR : Magneto-Resistive) 소자로 구성된다. 변환기(16)는 통상적으로 헤드(Head)라 칭해지기도 한다.The transducer 16 can read or write information on the rotating disk 12 by sensing and magnetizing the magnetic field of each disk 12. Typically each transducer 16 is associated with a respective disk surface 18. On the other hand, although shown and described as a single transducer 16 in FIG. 1, in practice this consists of a write transducer for magnetizing the disc 12 and a separate read transducer for sensing the magnetic field of the disc 12. It should be understood that there is. Typically, write converters consist of magnetic circuits with voids, and read converters consist of Magneto-Resistive (MR) elements. The transducer 16 is also commonly referred to as a head.

변환기(16)는 슬라이더(20)에 통합되어 질 수 있다. 슬라이더(20)는 변환기 (16)와 디스크 표면(18)사이에 공기 베어링(air bearing)을 생성시키는 구조로 되어 있다. 슬라이더(20)는 헤드 짐벌 어셈블리(22)에 결합되어 있다. 헤드 짐벌 어셈블리(22)는 보이스 코일(26)을 갖는 액튜에이터 암(24)에 부착되어 있다. 보이스 코일(26)은 보이스 코일 모터(VCM : Voice Coil Motor 30)를 특정하는 마그네틱 어셈블리(28)에 인접되게 위치하고 있다. 보이스 코일(26)에 공급되는 전류는 베어링 어셈블리(32)에 대하여 액튜에이터 암(24)을 회전시키는 토오크를 발생시킨다. 액튜에이터 암(24)의 회전은 디스크 표면(18)을 가로질러 변환기(16)를 이동시킬 것이다.The transducer 16 can be integrated into the slider 20. The slider 20 is structured to create an air bearing between the transducer 16 and the disk surface 18. The slider 20 is coupled to the head gimbal assembly 22. The head gimbal assembly 22 is attached to an actuator arm 24 having a voice coil 26. The voice coil 26 is located adjacent to the magnetic assembly 28 that specifies the voice coil motor 30 (VCM). The current supplied to the voice coil 26 generates a torque that rotates the actuator arm 24 relative to the bearing assembly 32. Rotation of actuator arm 24 will move transducer 16 across disk surface 18.

정보는 전형적으로 디스크(12) 상의 동심원형 트랙들에 저장된다. 각 트랙(34)은 일반적으로 복수의 섹터를 포함하고 있다. 각 섹터는 데이터 필드(data field)와 식별 필드(identification field, 서보 필드라고도 함)를 포함하고 있다. 식별 필드는 섹터 및 트랙(실린더)을 식별하는 그레이 코드(Gray code), 변환기(16)가 트랙 중심으로부터 벗어나는 정도를 검출하기 위한 버스트 신호들로 구성되어 있다. 변환기(16)는 액튜에이터 아암의 운동에 의해 디스크 표면(18)을 가로질러 이동된다.The information is typically stored in concentric circular tracks on the disc 12. Each track 34 generally includes a plurality of sectors. Each sector includes a data field and an identification field (also called a servo field). The identification field consists of a gray code identifying the sector and the track (cylinder), and burst signals for detecting the extent to which the transducer 16 deviates from the track center. The transducer 16 is moved across the disk surface 18 by the movement of the actuator arm.

도 3은 도 2에 도시된 하드디스크 드라이브의 전기적인 회로를 보이는 블록도이다. FIG. 3 is a block diagram illustrating an electrical circuit of the hard disk drive of FIG. 2.

도 3에 도시된 하드디스크 드라이브는 디스크(12), 변환기(16), 프리 앰프(210), 기록/판독 채널(220), 호스트 인터페이스(230), 컨트롤러(240), 메모리(250), 온도 센서(260) 및 보이스 코일 모터(VCM) 구동부(270)를 구비한다.The hard disk drive shown in FIG. 3 includes a disk 12, a converter 16, a preamplifier 210, a write / read channel 220, a host interface 230, a controller 240, a memory 250, and a temperature. The sensor 260 and the voice coil motor (VCM) driver 270 are provided.

위의 프리 앰프(210) 및 기록/판독 채널(220)을 포함하는 회로 구성을 기록/판독 회로라 칭하기로 한다.The circuit configuration including the preamplifier 210 and the write / read channel 220 above will be referred to as a write / read circuit.

메모리(250)에는 하드디스크 드라이브를 제어하기 위한 각종 프로그램 및 데이터들이 저장되어 있으며, 특히 본 발명의 실시 예에 의한 리트라이 제어 방법을 실행시키기 위하여 리트라이 테이블 및 이전 리트라이 정보들이 저장된다. 이때 메모리(250)는 비휘발성 메모리로 설계한다. The memory 250 stores various programs and data for controlling the hard disk drive. In particular, the retry table and previous retry information are stored to execute the retry control method according to an exemplary embodiment of the present invention. In this case, the memory 250 is designed as a nonvolatile memory.

리트라이 테이블은 하드디스크 드라이브가 최적의 성능을 발휘하도록 하기 위한 파라메터 값들을 저장한다.The retry table stores parameter values to ensure optimal performance of the hard disk drive.

우선, 일반적인 하드디스크 드라이브의 동작을 설명하면 다음과 같다.First, the operation of a general hard disk drive will be described.

데이터 읽기(Read) 모드에서, 하드디스크 드라이브는 디스크(12)로부터 변환기(16 ; 일명 헤드라 칭함)에 의하여 감지된 전기적인 신호를 프리 앰프(210)에서 신호 처리에 용이하도록 증폭시킨다. 그리고 나서, 기록/판독 채널(220)에서는 증폭된 아날로그 신호를 호스트 기기(도면에 미도시)가 판독할 수 있는 디지털 신호로 부호화시키고, 스트림 데이터로 변환하여 호스트 인터페이스(230)를 통하여 호스트 기기로 전송한다. In the data read mode, the hard disk drive amplifies the electrical signal sensed by the converter 16 (also called a head) from the disk 12 in the preamplifier 210 to facilitate signal processing. Then, in the recording / reading channel 220, the amplified analog signal is encoded into a digital signal that can be read by a host device (not shown), converted into stream data, and transmitted to the host device through the host interface 230. send.

반대로 데이터 쓰기(Write) 모드에서, 하드디스크 드라이브는 호스트 기기로부터 데이터를 입력받아 호스트 인터페이스(230)에 내장된 버퍼(도면에 미도시)에 일시 저장시킨 후에, 버퍼에 저장된 데이터를 순차적으로 출력하여 기록/판독 채널(220)에 의하여 기록 채널에 적합한 바이너리 데이터 스트림으로 변환시킨 후에 프리 앰프(210)에 의하여 증폭된 기록 전류를 변환기(16)를 통하여 디스크(12)에 기 록시킨다.In contrast, in the data write mode, the hard disk drive receives data from a host device and temporarily stores the data in a buffer (not shown) embedded in the host interface 230, and sequentially outputs the data stored in the buffer. The write / read channel 220 converts the write current amplified by the preamplifier 210 to the disk 12 via the converter 16 after conversion into a binary data stream suitable for the write channel.

컨트롤러(240)는 디지털 신호 프로세서(DSP : Digital Signal Processor), 마이크로프로세서, 마이크로컨트롤러 등이 된다. 컨트롤러(240)는 디스크(12)로부터 읽거나 또는 디스크(12)에 정보를 기록하기 위하여 기록/판독 채널(220)로 제어신호를 공급한다. 정보는 전형적으로 R/W 채널로부터 호스트 인터페이스 회로(2320)로 전송된다. 호스트 인터페이스 회로(230)는 퍼스널 컴퓨터와 같은 시스템에 인터페이스하기 위하여 하드디스크 드라이브를 허용하는 버퍼 메모리 및 제어 회로를 포함하고 있다.The controller 240 may be a digital signal processor (DSP), a microprocessor, a microcontroller, or the like. The controller 240 supplies a control signal to the write / read channel 220 to read from or write information to the disk 12. Information is typically sent from the R / W channel to the host interface circuit 2320. The host interface circuit 230 includes a buffer memory and control circuitry that allows a hard disk drive to interface to a system such as a personal computer.

컨트롤러(240)는 보이스 코일(26)에 구동 전류를 공급하는 VCM 구동 회로(270)에 또한 결합되어 있다. 컨트롤러(240)는 VCM의 여기 및 변환기(16)의 움직임을 제어하기 위하여 VCM 구동 회로(270)로 제어신호를 공급한다. The controller 240 is also coupled to the VCM drive circuit 270 which supplies a drive current to the voice coil 26. The controller 240 supplies a control signal to the VCM driving circuit 270 to control the excitation of the VCM and the movement of the transducer 16.

컨트롤러(240)는 플레쉬 메모리 소자와 같은 비휘발성 메모리 소자(250)에 결합되어 있다. 메모리 소자(250)는 소프트웨어 루틴을 실행시키기 위하여 컨트롤러(240)에 의하여 사용되어지는 명령어 및 데이터가 저장되어 있다. 소프트웨어 루틴의 하나로서 한 트랙에서 다른 트랙으로 변환기(16)를 이동시키는 시크 루틴이 있다. 시크 루틴은 변환기(16)를 정확한 트랙으로 이동시키는 것을 보증하기 위한 서버 제어 루틴을 포함하고 있다. The controller 240 is coupled to a nonvolatile memory device 250 such as a flash memory device. The memory device 250 stores instructions and data used by the controller 240 to execute a software routine. One software routine is a seek routine that moves the transducer 16 from one track to another. The seek routine includes a server control routine to ensure that the transducer 16 is moved to the correct track.

또한, 컨트롤러(240)는 온도 검출이 필요한 경우 온도 센서(260)로부터의 검출값을 메모리(250)에 저장된 다항식을 이용하여 실제의 온도에 맞게 근사화하여 사용한다. 온도 검출이 필요한 대표적인 경우는 리드/라이트 채널 파라메터를 최적 화하는 동작이다. In addition, when the temperature detection is required, the controller 240 approximates and uses the detected value from the temperature sensor 260 according to the actual temperature using the polynomial stored in the memory 250. A typical case where temperature detection is required is to optimize the read / light channel parameters.

도 4a 및 도 4b는 각각 도 2에 도시된 온도 센서(260)의 구성 및 더미스터의 온도-출력 특성을 보이는 것이다. 더미스터(262)의 특성상 고온일수록 출력값이 낮고, 저온일수록 출력값이 높다. 즉, 더미스터(262)의 특성은 온도에 대비하여 선형적이지 않다.4A and 4B show the configuration of the temperature sensor 260 and the temperature-output characteristic of the dummyster, respectively, shown in FIG. 2. The higher the temperature, the lower the output value, and the lower the temperature, the higher the output value. That is, the characteristics of the dummy 262 is not linear with respect to temperature.

도 5는 매핑된 온도와 더미스터의 검출값과의 관계를 보이는 것이다. 도 5에 있어서 종축은 온도를 나타내며, 횡축은 더미스터의 검출값을 나타낸다. 또한, 도 5에 있어서 굵은 실선으로 도시된 것은 다항식에 의해 근사화된 결과를 보이는 것이다. Figure 5 shows the relationship between the mapped temperature and the detected value of the dummyster. In FIG. 5, the vertical axis | shaft shows a temperature and the horizontal axis shows a detection value of a dummyster. In addition, what is shown by the thick solid line in FIG. 5 shows the result approximated by a polynomial.

도 6은 하드디스크 드라이브에 있어서 온도 추정 과정을 보이는 흐름도이다.6 is a flowchart illustrating a temperature estimation process in a hard disk drive.

온도 변화가 발생하면, 온도 센서(260)의 저항값이 변화하며, 이에 따라 도 3a에 있어서의 온도 센서(260)에 인가되는 전압값 Vout이 변동한다. When a temperature change occurs, the resistance value of the temperature sensor 260 changes, so that the voltage value Vout applied to the temperature sensor 260 in FIG. 3A fluctuates.

온도 센서(260)에 의해 검출되는 전압값 Vout은 ADC(264)에 의해 디지털 값으로 변환되어 컨트롤러(240)에 제공된다. 컨트롤러(240)는 ADC(264)에 의해 변환된 디지털 값을 변환식을 이용하여 온도를 추정한다. 여기서, 변환식은 도 4를 참조하여 설명되고 있는 다항식에 상응한다. The voltage value Vout detected by the temperature sensor 260 is converted into a digital value by the ADC 264 and provided to the controller 240. The controller 240 estimates the temperature of the digital value converted by the ADC 264 using a conversion equation. Here, the conversion equation corresponds to the polynomial described with reference to FIG.

도 7은 본 발명에 따른 ADC의 캘리브레이션 방법을 보이는 흐름도로서, 하드디스크 드라이브에서 온도를 측정하는 예를 보인다.7 is a flowchart illustrating a calibration method of an ADC according to the present invention, and shows an example of measuring a temperature in a hard disk drive.

먼저, ADC를 게인에 따라 3개의 그룹으로 분류한다.(s702) ADC는 표준의 게인을 가지는 것(표준 게인 그룹), 표준보다 높은 게인을 가지는 것(하이 게인 그 룹), 그리고 표준보다 낮은 게인을 가지는 것(로우 게인 그룹)들로 분류할 수 있다.First, the ADC is classified into three groups according to the gain. (S702) The ADC has a gain of the standard (standard gain group), a gain higher than the standard (high gain group), and a gain lower than the standard. Can be classified into those having a low gain group.

분류된 그룹들에 상응하는 변환식들을 설정한다.(s704) 즉, 하이 게인 그룹,표준 게인 그룹, 그리고 로우 게인 그룹 각각에 상응하는 변환식들을 설정한다. 여기서, 변환식은 도 4를 참조하여 설명되는 다항식과 ADC의 게인을 고려하여 설정된다.Transforms corresponding to the classified groups are set (s704). That is, transforms corresponding to the high gain group, the standard gain group, and the low gain group are set. Here, the conversion equation is set in consideration of the gain of the polynomial and the ADC described with reference to FIG.

ADC에 의해 아날로그값을 디지털 값으로 변환하고, 디지털 변환된 값을 ADC가 속한 그룹에 해당하는 변환식에 의해 원하는 측정값으로 매핑한다.(s706) 예를 들어, 하이 게인 그룹에 속한 ADC일 경우 하이 게인 그룹에 대하여 설정된 변환식에 의해 원하는 측정값 예를 들어 온도값으로 매핑된다.The analog value is converted into a digital value by the ADC, and the digital converted value is mapped to a desired measurement value by a conversion formula corresponding to the group to which the ADC belongs. (S706) For example, a high gain group ADC The conversion formula set for the gain group maps to the desired measured value, for example the temperature value.

매핑된 측정값을 ADC가 속한 그룹을 참조하여 캘리브레이션한다.(s708)The mapped measurement value is calibrated by referring to the group to which the ADC belongs (s708).

도 8은 도 7에 도시된 캘리브레이션 방법에 있어서 게인에 따라 ADC를 분류하는 방법을 도식적으로 보이는 그래프로서, 입력 전압에 따른 출력 전압을 보이는 ADC의 출력 특성 곡선을 도시하고 있다. 도 5에 있어서 3개의 출력 특성 곡선들(f1, f2, f3)이 도시된다. 이 중에서 f2는 표준의 게인을 가지는 ADC의 출력 특성 곡선이고, f1 및 f2는 각각 표준의 게인보다 높거나 낮은 게인들을 가지는 ADC의 출력 특성 곡선이다.FIG. 8 is a graph schematically illustrating a method of classifying ADCs according to gains in the calibration method illustrated in FIG. 7, and illustrates output curves of the ADCs showing output voltages according to input voltages. In Fig. 5 three output characteristic curves f1, f2, f3 are shown. Among these, f2 is an output characteristic curve of an ADC having standard gain, and f1 and f2 are output characteristic curves of an ADC having gains higher or lower than the standard gain, respectively.

한편, 입력 전압들 중에서 VI_ref는 오프셋에 해당하는 레퍼런스 입력 전압이고, VI_1은 레퍼런스 입력 전압 VI_ref보다 k만큼 높은 제1입력 전압이며, 그리고 VI_2는 레퍼런스 입력 전압 VI_ref보다 2k만큼 높은 제2입력 전압이다. 또한, 출력 전압들 중에서 VO_ref는 오프셋에 해당하는 레퍼런스 출력 전압이고, VO_1은 제1입력 전압 VI_1에 상응하는 제1출력 전압이며, 그리고 VO_2는 제2입력 전압 VI_2에 상응하는 제2출력 전압이다. 여기서, 제1입력 전압 VI_1 및 제2입력 전압 VI_2는 ADC의 다이내믹 레인지 내에서 될수록 큰 값으로 선정되는 것이 바람직하다.Among the input voltages, VI_ref is a reference input voltage corresponding to an offset, VI_1 is a first input voltage higher by k than the reference input voltage VI_ref, and VI_2 is a second input voltage higher by 2k than the reference input voltage VI_ref. Also, among the output voltages, VO_ref is a reference output voltage corresponding to an offset, VO_1 is a first output voltage corresponding to the first input voltage VI_1, and VO_2 is a second output voltage corresponding to the second input voltage VI_2. Here, it is preferable that the first input voltage VI_1 and the second input voltage VI_2 are selected to be larger as possible within the dynamic range of the ADC.

표준 게인 그룹에 속하는 ADC의 출력 특성 곡선(f2)을 참조하면, Referring to the output characteristic curve (f2) of the ADC belonging to the standard gain group,

(VO_2 VO_ref)/2 = VO_1의 관계가 유지된다. The relationship of (VO_2 VO_ref) / 2 = VO_1 is maintained.

그렇지만, 하이 게인 그룹에 속하는 ADC의 출력 특성 곡선(f1)을 참조하면, However, referring to the output characteristic curve f1 of the ADC belonging to the high gain group,

(VO_2 VO_ref)/2 > VO_1 이고,(VO_2 VO_ref) / 2> VO_1

반대로 로우 게인 그룹에 속하는 ADC의 출력 특성 곡선(f3)을 참조하면, Conversely, referring to the output characteristic curve (f3) of the ADC belonging to the low gain group,

(VO_2 VO_ref)/2 < VO_1이다.(VO_2 VO_ref) / 2 <VO_1.

즉, (VO_2 VO_ref)/2 과 VO_1의 차이에 의해 ADC가 어떠한 게인 특성을 가지는 것인지를 판단할 수 있다.That is, it is possible to determine what gain characteristics the ADC has based on the difference between (VO_2 VO_ref) / 2 and VO_1.

예를 들어 (VO_2 VO_ref)/2 - VO_1 = error count라 한다면For example, if (VO_2 VO_ref) / 2-VO_1 = error count

if error count > 10, then 표준보다 높은 게인을 가지는 ADCif error count> 10, then ADC with higher gain than standard

if error count <= 10 and error count > -10, then 표준 게인을 가지는 ADCif error count <= 10 and error count> -10, then ADC with standard gain

if error count < -10, then 표준보다 높은 게인을 가지는 ADCif error count <-10, then ADC with higher gain than standard

로 분류할 수 있다.Can be classified as

도 7에 도시된 변환식 설정 과정(s704)에서는 ADC의 분류 그룹들 각각에 상응하는 변환식들이 설정된다. In the conversion equation setting process s704 illustrated in FIG. 7, conversion equations corresponding to each of the classification groups of the ADC are set.

ADC의 디지털 변환값을 x라 할 때, 표준보다 높은 게인의 ADC에 대한 변환식 y1, 표준의 게인을 가지는 ADC에 대한 변환식 y2, 그리고 표준보다 낮은 게인을 가지는 ADC에 대한 변환식 y3는 다음과 같이 정의된다.When x is the digital conversion value of the ADC, the conversion formula y1 for the ADC having a gain higher than the standard, the conversion formula y2 for the ADC having a gain higher than the standard, and the conversion formula y3 for the ADC having a lower gain than the standard are defined as follows. do.

y1 = f_high_gain_conversion(x)y1 = f_high_gain_conversion (x)

y2 = f_middle_gain_conversion(x)y2 = f_middle_gain_conversion (x)

y3 = f_low_gain_conversion(x)y3 = f_low_gain_conversion (x)

예를 들어, 표준 게인 게인 그룹에 속하는 ADC라면 변환식 y2에 의해 ADC 변환된 결과를 측정값으로 매핑한다. 여기서, y1 ~ y3는 도 5를 참조하여 설명된 다항식 및 ADC의 게인에 따라 설정된 변환식들이다. For example, in case of ADC belonging to the standard gain group, the result of ADC conversion by the conversion formula y2 is mapped to the measured value. Here, y1 to y3 are conversion equations set according to the polynomial and the gain of the ADC described with reference to FIG. 5.

그렇지만 매핑에 의한 값은 아직 정확하게 캘리브레이션된 값이 아니다. 비록 ADC의 게인 차이를 고려하여 서로 다른 변환식들을 적용하였지만, y1 및 y3에 의한 변환결과가 y2에 의한 변환 결과와 정확하게 매칭되는 것이 아니기 때문이다.However, mapping values are not yet correctly calibrated. Although different conversion equations are applied in consideration of gain difference of ADC, the conversion result by y1 and y3 does not exactly match the conversion result by y2.

도 7에 도시된 캘리브레이션 과정(s708)에서는 매핑된 측정값을 표준의 게인을 가지는 ADC에 의한 측정값이 되도록 보상함에 의해 게인 편차가 보상된 측정값을 얻는다.In the calibration process s708 illustrated in FIG. 7, the measured value compensated for the gain deviation is obtained by compensating the mapped measured value to be the measured value by the ADC having standard gain.

구체적으로 하이 게인 그룹에 속하는 ADC라면 y1에 의해 변환된 결과에서 y1-y2만큼을 빼줌에 의해 보상하고, 하위 게인 그룹에 속하는 ADC라면 y3에 의해 변환된 결과에서 y2-y3만큼을 더해준다. 표준 게인 그룹에 속하는 ADC라면 y2에 의해 변환된 결과를 그대로 사용한다. 즉, y1 및 y3에 의해 변환된 결과를 y2에 의해 변환된 결과에 매칭되도록 보상함에 의해 정확한 캘리브레이션이 달성된다. Specifically, the ADC that belongs to the high gain group compensates by subtracting y1-y2 from the result converted by y1, and the ADC that belongs to the lower gain group adds y2-y3 from the result converted by y3. If the ADC belongs to the standard gain group, the result converted by y2 is used as it is. In other words, accurate calibration is achieved by compensating the result transformed by y1 and y3 to match the result transformed by y2.

여기서, y2-y3는 y2 변환식에 의한 결과와 y3변환식에 의한 결과와의 차이를 나타낸다.Here, y2-y3 represents the difference between the result by the y2 conversion formula and the result by the y3 conversion formula.

본 발명은 방법, 장치, 시스템 등으로서 실행될 수 있다. 소프트웨어로 실행될 때, 본 발명의 구성 수단들은 필연적으로 필요한 작업을 실행하는 코드 세그먼트들이다. 프로그램 또는 코드 세그먼트들은 프로세서 판독 가능 매체에 저장되어 질 수 있으며 또는 전송 매체 또는 통신망에서 반송파와 결합된 컴퓨터 데이터 신호에 의하여 전송될 수 있다. 프로세서 판독 가능 매체는 정보를 저장 또는 전송할 수 있는 어떠한 매체도 포함한다. 프로세서 판독 가능 매체의 예로는 전자 회로, 반도체 메모리 소자, ROM, 플레쉬 메모리, 이레이져블 ROM(EROM : Erasable ROM), 플로피 디스크, 광 디스크, 하드디스크, 광 섬유 매체, 무선 주파수(RF) 망, 등이 있다. 컴퓨터 데이터 신호는 전자 망 채널, 광 섬유, 공기, 전자계, RF 망, 등과 같은 전송 매체 위로 전파될 수 있는 어떠한 신호도 포함된다. The invention can be practiced as a method, apparatus, system, or the like. When implemented in software, the constituent means of the present invention are code segments that necessarily perform the necessary work. The program or code segments may be stored in a processor readable medium or transmitted by a computer data signal coupled with a carrier on a transmission medium or network. Processor readable media includes any medium that can store or transmit information. Examples of processor-readable media include electronic circuits, semiconductor memory devices, ROMs, flash memory, erasable ROM (EROM), floppy disks, optical disks, hard disks, optical fiber media, radio frequency (RF) networks, Etc. Computer data signals include any signal that can propagate over transmission media such as electronic network channels, optical fibers, air, electromagnetic fields, RF networks, and the like.

첨부된 도면에 도시되어 설명된 특정의 실시 예들은 단지 본 발명의 예로서 이해되어 지고, 본 발명의 범위를 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 본 발명에 기술된 기술적 사상의 범위에서도 다양한 다른 변경이 발생될 수 있으므로, 본 발명은 보여지거나 기술된 특정의 구성 및 배열로 제한되지 않는 것은 자명하다. 즉, 본 발명은 하드디스크 드라이브를 포함하는 각종 디스크 드라이브에 적용될 수 있을 뿐만 아니라, 다양한 종류의 데이터 저장 장치에 적용될 수 있음은 당연한 사실이다.Specific embodiments shown and described in the accompanying drawings are only to be understood as an example of the present invention, not to limit the scope of the invention, but also within the scope of the technical spirit described in the present invention in the technical field to which the present invention belongs As various other changes may occur, it is obvious that the invention is not limited to the specific constructions and arrangements shown or described. That is, it is a matter of course that the present invention can be applied not only to various disk drives including hard disk drives, but also to various kinds of data storage devices.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 ADC의 캘리브레이션 방법은 ADC의 게인 편차에 의한 측정값의 오류를 보상함으로써 정확한 측정값을 얻게하는 효과를 가진다. As described above, the calibration method of the ADC according to the present invention has the effect of obtaining an accurate measurement value by compensating for the error of the measurement value due to the gain deviation of the ADC.

Claims (4)

센서에 의해 측정된 물리적 신호의 크기를 원하는 ADC를 통하여 디지털 값으로 변환하고, 변환된 디지털 값을 변환식을 사용하여 원하는 측정값으로 매핑하는 방법에 있어서,In the method of converting the magnitude of the physical signal measured by the sensor to a digital value through the desired ADC, and converting the converted digital value to the desired measurement value using a conversion equation, 상기 ADC를 게인의 크기에 따라 표준의 게인을 가지는 표준 게인 그룹, 표준보다 높은 게인을 가지는 하이 게인 그룹, 그리고 표준보다 낮은 게인을 가지는 로우 게인 그룹들로 분류하는 과정;Classifying the ADC into a standard gain group having a gain of a standard, a high gain group having a gain higher than a standard, and a low gain group having a gain lower than a standard according to a gain size; 상기 분류된 그룹들 각각에 상당하는 변환식들을 설정하는 과정;Setting conversion equations corresponding to each of the classified groups; ADC에 의해 아날로그값을 디지털 값으로 변환하고, 디지털 변환된 값을 ADC가 속한 그룹에 해당하는 변환식에 의해 원하는 측정값으로 매핑하는 과정; 및Converting an analog value into a digital value by the ADC and mapping the digitally converted value to a desired measurement value by a conversion equation corresponding to a group to which the ADC belongs; And 매핑된 측정값을 상기 ADC가 속한 그룹을 참조하여 캘리브레이션하는 과정을 포함하는 캘리브레이션 방법. And calibrating the mapped measured value with reference to the group to which the ADC belongs. 제1항에 있어서, 상기 캘리브레이션 과정은 The method of claim 1, wherein the calibration process 상위 게인 그룹의 ADC일 경우 상기 매핑된 측정값에서 표준 게인 그룹에 해당하는 변환식에 의한 변환 결과와의 차이만큼을 감산하여 출력하고, In the case of the ADC of the upper gain group, the mapped measurement value is subtracted and output as much as the difference from the conversion result by the conversion equation corresponding to the standard gain group. 로우 게인 그룹의 ADC일 경우 상기 매핑된 측정값에서 표준 게인 그룹에 해당하는 변환식에 의한 변환 결과와의 차이만큼을 가산하여 출력하며, 그리고In the case of the ADC of the low gain group, and outputs by adding as much as the difference from the conversion result by the conversion equation corresponding to the standard gain group in the mapped measured value, and 표준 게인 그룹의 ADC일 경우 상기 매핑된 측정값을 출력하도록 하는 것을 특징으로 하는 캘리브레이션 방법.In the case of the ADC of the standard gain group, the calibration method characterized in that to output the mapped measured value. 제1항에 있어서, 상기 ADC를 게인의 크기에 따라 분류하는 과정은The process of claim 1, wherein the classifying of the ADC according to the magnitude of the gain is performed. 오프셋에 상당하는 레퍼런스 입력 전압, 레퍼런스 전압보다 k만큼 큰 제1입력 전압, 그리고 레퍼런스 전압보다 2K만큼 큰 제2입력 전압들을 ADC에 인가하여 각각의 입력 전압들에 상응하는 레퍼런스 출력 전압, 제1출력 전압, 그리고 제2출력 전압을 얻는 과정;The reference input voltage corresponding to the offset, the first input voltage larger by k than the reference voltage, and the second input voltages larger by 2K than the reference voltage are applied to the ADC so that the reference output voltage and the first output corresponding to the respective input voltages are applied. Obtaining a voltage and a second output voltage; 레퍼런스 출력 전압과 제2출력 전압과의 평균과 제1출력 전압과의 차이를 산출하는 과정; 및Calculating a difference between the average of the reference output voltage and the second output voltage and the first output voltage; And 상기 차이값의 크기에 따라 ADC를 분류하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 캘리브레이션 방법.And classifying the ADC according to the magnitude of the difference value. 센서에 의해 측정된 물리적 신호의 크기를 원하는 ADC를 통하여 디지털 값으로 변환하고, 변환된 디지털 값을 변환식을 사용하여 원하는 측정값으로 매핑하는 방법이 기록된 컴퓨터로 읽어들일 수 있는 기록 매체에 있어서,In a recording medium that can be read by a computer, a method of converting the magnitude of a physical signal measured by a sensor into a digital value through a desired ADC and converting the converted digital value into a desired measurement value using a conversion equation, 상기 ADC를 게인의 크기에 따라 표준의 게인을 가지는 표준 게인 그룹, 표준보다 높은 게인을 가지는 하이 게인 그룹, 그리고 표준보다 낮은 게인을 가지는 로 우 게인 그룹들로 분류하는 과정;Classifying the ADC into a standard gain group having a gain of a standard according to a gain size, a high gain group having a gain higher than a standard, and a low gain group having a gain lower than a standard; 상기 분류된 그룹들 각각에 상당하는 변환식들을 설정하는 과정;Setting conversion equations corresponding to each of the classified groups; ADC에 의해 아날로그값을 디지털 값으로 변환하고, 디지털 변환된 값을 ADC가 속한 그룹에 해당하는 변환식에 의해 원하는 측정값으로 매핑하는 과정; 및Converting an analog value into a digital value by the ADC and mapping the digitally converted value to a desired measurement value by a conversion equation corresponding to a group to which the ADC belongs; And 매핑된 측정값을 상기 ADC가 속한 그룹을 참조하여 캘리브레이션하는 과정들이 기록된 것을 특징으로 하는 기록 매체.And a process of calibrating the mapped measured value with reference to the group to which the ADC belongs.
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