KR20060028252A

KR20060028252A - Apparatus and method for evaluating matching of alignment film and liquid crystal

Info

Publication number: KR20060028252A
Application number: KR1020040077343A
Authority: KR
Inventors: 우정원
Original assignee: 엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority date: 2004-09-24
Filing date: 2004-09-24
Publication date: 2006-03-29

Abstract

본 발명은 액정의 배향을 위한 배향막과 액정간 매칭을 평가하는 것에 관한 것으로, 배향막과 액정 계면에 누적된 충전전하의 양을 전류계를 이용 직접적으로 측정하여, 배향막과 액정 계면에 누적된 충전전하의 양과 흡착력 및 이동도를 측정하기 위한 방법에 관한 것이다.The present invention relates to evaluating the matching between the alignment film and the liquid crystal for the alignment of the liquid crystal, by directly measuring the amount of charge charge accumulated on the alignment film and the liquid crystal interface using an ammeter to determine the charge charge accumulated on the alignment film and the liquid crystal interface. A method for measuring amount, adsorption force and mobility.

또한, 이러한 방법에 따라 측정된 결과로 배향막과 액정간의 잔상이나 얼룩이 최소인 재료 조합의 선정을 목적으로 하고 있다.
Moreover, as a result measured by such a method, it aims at selection of the material combination with the minimum afterimage or unevenness | corrugation between an oriented film and a liquid crystal.

Description

Apparatus and Method For evaluating matching of Alignment Film and Liquid Crystal}

도 1은 일반적인 액정표시장치의 단면도.1 is a cross-sectional view of a general liquid crystal display device.

도 2a 내지 도 2c는 잔류 직류 전압 측정법을 도시한 도면.2A to 2C show a residual DC voltage measurement method.

도 3a 내지 도 3d는 본 발명에 따른 매칭 평가방법을 도시한 도면.3a to 3d illustrate a matching evaluation method according to the present invention.

도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 시험용 셀에 인가되는 직류 전원의 단계도 및 반대 방향 직류 전원을 인가할 때 얻어지는 전류-전압 곡선.4A and 4B are a step diagram of a direct current power source applied to a test cell according to the present invention and a current-voltage curve obtained when applying a reverse direction direct current power source.

도 5는 본 발명에 따른 전류를 측정하기 위한 시스템 구성도.
5 is a system configuration for measuring the current in accordance with the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

PI : 배향막PI: alignment film

LC : 액정LC: Liquid Crystal

400 : 충전전하 q의 총량
400: total amount of charge charge q

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 패널에서 액정을 정렬하기 위한 배향막과 액정간의 매칭에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to matching between an alignment layer and a liquid crystal for aligning liquid crystals in a panel.

액정표시장치(Liquid Crystal Display Device : 이하 LCD라 함)는 브라운관 방식에 비해 소비전력이 낮고, 경량박형이 가능하며, 유해 전자파를 방출하지 않는 장점으로 점차 그 수요가 증가하는 추세이다.Liquid crystal display devices (hereinafter referred to as LCDs) have lower power consumption, lighter weight, and do not emit harmful electromagnetic waves compared to CRTs.

이러한, LCD는 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : TFT)를 이용한 액티브 매트릭스(Active matrix) 구동방식의 LCD가 해상도 및 동영상 구현능력이 우수하여 일반적으로 널리 사용되고 있다.Such LCDs are generally used widely because LCDs of an active matrix driving method using thin film transistors (TFTs) have excellent resolution and video performance.

이러한 LCD의 단면도를 도 1에 개략적으로 도시하였다.A cross-sectional view of this LCD is schematically shown in FIG.

LCD는 컬러 필터 기판(상부 기판)과, 어레이 기판(하부 기판)을 서로 대응되게 합착하고, 두 기판 사이에 액정(100)을 주입하는 형태로 구성된다.The LCD is configured such that the color filter substrate (upper substrate) and the array substrate (lower substrate) are bonded to each other and the liquid crystal 100 is injected between the two substrates.

컬러 필터 기판은 제1 투명 기판(150) 위에 블랙 매트릭스(152, Black Matrix)로 광차단막을 형성한 후, 색상을 구현하기 위한 컬러 필터층(154)과, 컬러 필터층(154) 위에 공통전극(156)이 증착된 형태로 구성된다.The color filter substrate is formed of a light blocking film with a black matrix 152 on the first transparent substrate 150, and then the color filter layer 154 for realizing color and the common electrode 156 on the color filter layer 154. ) Is in a deposited form.

어레이 기판은 제2 투명 기판(110) 위에 각 픽셀(Pixel)마다 박막트랜지스터(T)와 화소전극(120)이 배열되어 있고, 이들을 매트릭스 형태로 서로 연결하는 게이트(Gate, 미도시) 및 데이터(Date, 미도시) 배선으로 구성된다.In the array substrate, a thin film transistor T and a pixel electrode 120 are arranged for each pixel on the second transparent substrate 110, and a gate and data (not shown) connecting them to each other in a matrix form ( Date, not shown).

상술한 박막트랜지스터(T)는 전기적 신호를 제어하는 역할을 하며 액정(100)은 인가된 전압에 따라 배열이 변화하여 빛의 투과를 조절한다. 액정(100)을 통과 한 빛은 컬러 필터를 통과하면서 원하는 색과 영상을 표시하게 된다.The thin film transistor T serves to control an electrical signal, and the liquid crystal 100 adjusts light transmission by changing an arrangement according to an applied voltage. The light passing through the liquid crystal 100 passes through the color filter to display a desired color and image.

LCD의 액정은 유동성(Fluidity)과 같은 액체의 성질과 장거리 질서(Long range order)와 같은 결정체(고체)의 성질을 동시에 지니는, 액체와 고체의 중간상태에 있는 물질을 사용한다.Liquid crystals in LCDs use materials in the intermediate state between liquid and solid, which have both liquid properties such as fluidity and crystalline (solid) properties such as long range order.

액정분자는 막대모양의 독특한 구조를 하고 있기 때문에 굴절률, 유전율, 전도율, 점성률 등의 물성 값이 분자 장축에 평행한 방향과 수직한 방향에 따라 서로 다르게 나타나는 이방성의 성질을 갖게 되며, 영상을 표시하기 위해서는 매우 중요한 물성이 된다.Since the liquid crystal molecules have a unique rod-like structure, the physical properties such as refractive index, dielectric constant, conductivity, and viscosity are different in anisotropy, which are different depending on the direction parallel to the molecular long axis and the direction perpendicular to each other. In order to become very important physical properties.

상술한 박막트랜지스터(T)가 턴-온(Turn-On)되면 공통전극(156)과 화소전극(120) 사이에 전계가 형성되고, 이러한 전계에 의해 어레이 기판과 컬러 필터 기판 사이에 주입된 액정(100)의 배열각이 변화되고, 배열각에 따라서 투과되는 빛의 양이 조절되어 원하는 화상을 얻게 된다.When the thin film transistor T is turned on, an electric field is formed between the common electrode 156 and the pixel electrode 120, and the liquid crystal injected between the array substrate and the color filter substrate by the electric field. The arrangement angle of 100 is changed, and the amount of light transmitted is adjusted according to the arrangement angle to obtain a desired image.

이때, 액정을 정렬시키면 더욱 우수한 화질을 얻을 수 있으므로 액정의 초기 배열을 고르게 하기 위해서 배향막(130)을 형성하게 되며, 일반적으로 폴리이미드(Polyimide)의 고분자 박막을 이용하여 액정을 일정한 방향으로 배향한다.At this time, since alignment of the liquid crystals may provide better image quality, an alignment layer 130 is formed to evenly arrange the initial alignment of the liquid crystals. In general, the liquid crystals are aligned in a predetermined direction by using a polymer thin film of polyimide. .

이러한 배향막(130)과 액정(100)간의 매칭은 액정표시장치의 화질에 영향을 미치게 되며, 매칭의 평가는 잔상 현상을 통하여 유추할 수 있다.The matching between the alignment layer 130 and the liquid crystal 100 affects the image quality of the liquid crystal display, and the evaluation of the matching may be inferred through the afterimage phenomenon.

상술한 LCD는 이를 이루는 소자들의 고유 특성에 기인한 몇 가지 결함을 가지고 있는데 이중 하나는 잔상(Image Sticking or Residual Image)현상이다.The LCD described above has some defects due to the inherent characteristics of the elements that make up the LCD, and one of them is an image sticking or residual image phenomenon.

잔상은 특정 정지화상을 오랜 시간 구동시킨 후 다른 화상을 나타내고자 할 때 이전의 화상 패턴이 남아 있으므로 인해서 화질을 저하시키는 현상이다.An afterimage is a phenomenon in which the image quality is deteriorated because a previous image pattern is left when trying to display another image after driving a specific still image for a long time.

시험을 통하여 잔상의 정도를 예측하는 일반적인 방법인 잔류 직류 전압(Residual DC Voltage: 이하 RDC라 함) 측정법의 원리를 도 2a 내지 도 2c를 참조하여 설명한다.The principle of the residual DC voltage (hereinafter referred to as RDC) measuring method, which is a general method of predicting the degree of residual image through a test, will be described with reference to FIGS. 2A to 2C.

상술한 RDC 측정법의 원리는, 도 2a에서와 같이 시험용 셀(Cell)에 직류 전원(DC)을 인가하면 배향막(PI)보다 커패시턴스(Capacitance)가 작은 액정층(LC)에 대부분의 전압이 인가된다. 즉, 직류 전원 인가 직후 대부분의 전압강하는 액정층(LC)에서 일어난다.In the principle of the above-described RDC measurement method, as shown in FIG. 2A, when DC power is applied to the test cell, most of the voltage is applied to the liquid crystal layer LC having a smaller capacitance than the alignment layer PI. . That is, most of the voltage drop immediately after the DC power is applied in the liquid crystal layer LC.

하지만, 상술한 시험용 셀에 직류 전원을 충분한 시간동안, 일반적으로는 1시간 이상 인가하게 되면 직류 전원 성분은 도 2b와 같이 옴의 법칙에 따라 전압 강하가 일어나게 되고, 배향막(PI)과 액정층(LC)에 전압이 분배되며, 배향막(PI)과 액정(LC) 계면에 충전전하 q가 누적 되는 현상이 발생하게 된다.However, if DC power is applied to the test cell for a sufficient time, generally 1 hour or more, the voltage drop of the DC power component occurs according to Ohm's law as shown in FIG. 2B, and the alignment film PI and the liquid crystal layer ( The voltage is divided in the LC), and the charge q is accumulated at the interface between the alignment layer PI and the liquid crystal LC.

다음 단계로 RDC 측정을 위해 내부 저항이 낮은 교류 전원 장치를 이용하여 양쪽 전극에 10V 미만의 교류 전원을 인가하여 전압의 크기를 측정 한다.The next step is to measure the voltage level by applying an AC power supply of less than 10V to both electrodes using an AC power supply with low internal resistance.

상술한 교류 전원을 시험용 셀에 인가했을 때 측정된 전압에서 교류 성분을 무시하고 RDC만을 도 2c에 도시하였다. Only the RDC is shown in FIG. 2C, ignoring the AC component in the measured voltage when the above-described AC power is applied to the test cell.

이 때, RDC는 피크에서 피크까지의 전압이이며, 측정된 RDC로부터 배향막(PI)과 액정(LC) 계면에 누적된 충전전하 q를 구한다.At this time, RDC is the voltage from peak to peak, and the charge charge q accumulated at the interface between the alignment film PI and the liquid crystal LC is obtained from the measured RDC.

이러한, 배향막(PI)과 액정(LC) 계면에 누적된 충전전하 q는 배향막(PI)과 액정(LC)의 상호 매칭(Matching)을 대표하는 양으로 활용 가능하게 되며, 충전전하 q의 총량이 클수록 배향막(PI)과 액정(LC)간 상호 매칭이 나쁜 것을 의미하게 된다.The charge q accumulated at the interface of the alignment layer PI and the liquid crystal LC may be utilized in an amount representing a matching of the alignment layer PI and the liquid crystal LC, and the total amount of the charge charge q The larger means that the mutual matching between the alignment layer PI and the liquid crystal LC is poor.

또한, 충전전하 q의 정량화를 통하여 매칭 정도의 정량화가 가능하게 되며, 그런데, 이러한 RDC 측정방법은 충전전하 q의 총량을 직접적으로 측정하는 것이 아니라 누적된 q에 의해 유도된 RDC를 측정하여 간접적으로 q를 측정하는 방법이다.
In addition, it is possible to quantify the matching degree through the quantification of the charge charge q, but this RDC measurement method indirectly by measuring the RDC induced by the accumulated q rather than directly measuring the total amount of the charge charge q It is a method of measuring q.

따라서, 상술한 RDC를 통하여 배향막과 액정 계면에 누적된 충전전하 q를 결정할 경우는 몇 가지 문제점을 가지고 있다.Therefore, there are some problems when determining the charge charge q accumulated at the alignment layer and the liquid crystal interface through the above-described RDC.

첫째, 배향막과 액정의 유전율에 의해서 잔류직류전압이 영향을 받게 되고, 이로 인해서 서로 다른 물성을 가진 배향막과 액정간의 비교 평가 시에 충전전하 q의 총량을 구하기가 어렵게 된다.First, the residual DC voltage is affected by the dielectric constant of the alignment layer and the liquid crystal, which makes it difficult to obtain the total amount of charge q in comparison evaluation between the alignment layer and the liquid crystal having different physical properties.

둘째, 배향막 계면에 충전전하들이 흡착되어 있을 경우 흡착력의 크기 예측이 불가능 하게 된다.Second, when the charges are adsorbed on the interface of the alignment layer, the magnitude of the adsorption force is impossible to predict.

셋째, 충전전하 q의 이동도(Mobility) 예측이 불가능 하게 된다.Third, the mobility (mobility) prediction of the charge charge q becomes impossible.

본 발명은 이러한 배향막과 액정 계면에 누적된 충전전하 q를 결정할 경우의 문제점을 개선하는데 목적이 있다.
An object of the present invention is to improve the problem when determining the charge charge q accumulated in the alignment layer and the liquid crystal interface.

상기와 같은 목적을 위하여 본 발명에 따른 배향막과 액정간 매칭성 평가 방 법은 시험용 셀에 제1 직류 전원을 인가하는 단계와; 상기 시험용 셀의 양 전극을 단락 시키는 단계와; 상기 시험용 셀에 제2 직류 전원을 인가하는 단계와; 상기 시험용 셀에 흐르는 전류를 측정하는 단계를 포함한다.According to the present invention, a method for evaluating matching between an alignment layer and a liquid crystal according to the present invention includes applying a first DC power source to a test cell; Shorting both electrodes of the test cell; Applying a second direct current power source to the test cell; Measuring a current flowing in the test cell.

이 때, 상기 제1 직류 전원과 제2 직류 전원은 서로 반대 극성을 갖는 것이 특징이다.In this case, the first DC power supply and the second DC power supply are characterized in that they have opposite polarities.

상기 제1 직류 전원은 옴의 법칙에 따라 배향막층과 액정층에 전압이 분배되는 안정화 상태가 될 때까지 인가하여 주는 것이 특징이다.The first DC power source is applied until the voltage is distributed to the alignment layer and the liquid crystal layer according to Ohm's law until the stabilization state is achieved.

상기와 같은 목적을 위하여 본 발명에 따른 배향막과 액정간 매칭성 평가 장치는 정방향과 부방향의 직류 전원을 발생시기는 직류 전원장치와; 전류를 측정하기 위한 전류계와; 상기 직류 전원 장치와 전류계를 제어하고 측정된 데이터를 저장하기 위하여 상기 장치들과 제어용 통신선으로 연결되어진 제어용 PC를 포함한다.According to the present invention, there is provided an apparatus for evaluating matching between an alignment layer and a liquid crystal according to the present invention, including: a direct current power supply for generating direct and negative DC power; An ammeter for measuring current; And a control PC connected with the devices and a control communication line to control the DC power supply and the ammeter and to store the measured data.

이 때, 시험용 셀과 상기 직류 전원장치와 전류계가 직렬로 연결된 것이 특징이다.In this case, the test cell, the DC power supply and the ammeter are connected in series.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3a 내지 도 3d는 본 발명에 따른 배향막과 액정간 매칭 평가방법의 과정을 도시하였다.3A to 3D illustrate a process of a matching evaluation method between an alignment layer and a liquid crystal according to the present invention.

상술한 바 있듯, 도 2a에서와 같이, 시험용 셀(Test Cell)에 직류 전원(DC)을 인가하면 커패시턴스(Capacitance)가 작은 액정층(LC)에서 대부분의 전압강하가 일어난다. As described above, as shown in FIG. 2A, when a DC power source DC is applied to a test cell, most voltage drops occur in the liquid crystal layer LC having a small capacitance.

하지만, 시험용 셀에 직류 전원을 충분한 시간동안, 일반적으로는 1시간 이상 직류 전원을 인가하게 되면, 도 3a에서와 같이 직류 전원 성분은 옴의 법칙에 따라 전압 강하가 일어나게 되고, 배향막(PI)과 액정층(LC)에 전압이 분배된다.However, when DC power is applied to the test cell for a sufficient time, generally, for 1 hour or more, as shown in FIG. 3A, the DC power component causes a voltage drop according to Ohm's law. The voltage is distributed to the liquid crystal layer LC.

이 후, 종래 RDC 측정법과는 달리 본 발명에 따른 방법에서는 장시간의 직류 전원인가로 안정화된 상태의 시험용 셀 양전극을 단락(Short)시키는 과정을 거치게 되며, 이로 인해서 셀 내부에서 전압 및 충전전하의 분포가 도 3b와 같이 형성된다.Subsequently, unlike the conventional RDC measurement method, the method according to the present invention undergoes a process of shorting the test cell positive electrode in a stabilized state with a long time DC power applied, thereby distributing voltage and charge charges in the cell. Is formed as shown in FIG. 3B.

이러한 도면은 종래의 RDC측정법에서 교류 전원을 인가하여 RCD를 측정한 후 교류 전원 성분을 무시하고 RDC만을 도시한 도 2c와 같게 된다.This figure is the same as Figure 2c showing only the RDC after ignoring the AC power component after applying the AC power in the conventional RDC measurement method to measure the RCD.

이 때 양의 전하(+q)는 음(-)의 극성을 가진 배향막(PI)에 적층되고, 음의 전하(-q)는 양(+)의 극성을 가진 배향막(PI)에 적층되며, 셀 내부에 유도되는 전압 분포는 배향막(PI)과 액정(LC) 계면에 누적된 충전전하에 의해서 형성되는 것이다.At this time, the positive charge (+ q) is stacked on the alignment film (PI) having a negative polarity, the negative charge (-q) is stacked on the alignment film (PI) having a positive polarity, The voltage distribution induced inside the cell is formed by charge charges accumulated at the interface between the alignment layer PI and the liquid crystal LC.

상술한 바와 같이 시험용 셀의 양 전극을 1~2초 정도 단락 시킨 후에 초기 직류 전원을 인가한 방향에 반대 방향으로, 즉 극성을 반대로 하여 셀에 직류 전원을 인가하게 된다.As described above, after shorting both electrodes of the test cell for about 1 to 2 seconds, DC power is applied to the cell in the opposite direction to the direction in which the initial DC power is applied, that is, the polarity is reversed.

도 3c에 반대 방향으로 직류 전원을 시험용 셀에 인가할 때를 도시하였다.3C illustrates a case where a direct current power source is applied to a test cell in the opposite direction.

이와 같이, 반대 방향으로 직류 전원을 시험용 셀에 인가하게 되면, 시험용 셀 내의 누설 전류(Leakage Current) 성분과 배향막(PI) 및 액정(LC) 계면에 누적된 충전전하 q들의 운동에 의하여 전류(Current) I가 형성된다.As such, when DC power is applied to the test cell in the opposite direction, the current (Current) is caused by the movement of the leakage current component and the charge charges accumulated at the interface between the alignment layer PI and the liquid crystal LC. ) I is formed.

이렇게 형성된 전류량 I를 측정하면 배향막(PI)과 액정(LC) 계면에 누적되었 던 충전전하 q의 총량과 이동도 및 배향막(PI) 계면에서의 충전전하의 흡착력 정보를 구할 수 있게 된다.By measuring the current amount I thus formed, the total amount of charge charge q accumulated at the interface between the alignment film PI and the liquid crystal LC, the mobility and the adsorption force information of the charge charge at the interface of the alignment film PI can be obtained.

이러한 전류, 즉 반대 방향으로 직류 전원을 시험용 셀에 인가하여 형성된 전류의 진행이 완료한 후 배향막과 액정간의 전압 및 충전전하 q의 분포를 도 3d에 도시하였다.The distribution of voltage and charge charge q between the alignment film and the liquid crystal after the completion of the current, that is, the current formed by applying the DC power source to the test cell in the opposite direction, is shown in FIG. 3D.

도 4a 및 4b는 본 발명에 따른 시험용 셀에 인가되는 직류 전원의 단계도 및 반대 방향 직류 전원을 인가(3단계)할 때 얻어지는 전류-전압 곡선(420)이다.4A and 4B are a step diagram of a DC power source applied to a test cell according to the present invention and a current-voltage curve 420 obtained when applying a reverse direction DC power source (three steps).

도 4a에서와 같이, 시험용 셀에 인가되는 직류 전원의 단계는 3단계로 구분되며, 1단계에서 정방향(+)의 직류 전원을 인가한다.As shown in FIG. 4A, the DC power applied to the test cell is divided into three stages. In the first stage, the DC power in the positive direction is applied.

이어, 2단계에서는 단락 시키고, 2단계인 단락 단계를 거친 후 3단계에선 1단계와 반대인 부방향(-)의 직류 전원을 인가한다.Subsequently, in step 2, the circuit is short-circuited, and in step 3, DC power in a negative direction (-) opposite to step 1 is applied.

이 때, 3단계 초기에 부방향(-) 직류 전원은 서서히 상승하며 일정 시점이후 일정 전압을 유지하게 된다.At this time, in the early stage 3, the negative (-) DC power supply gradually rises and maintains a constant voltage after a certain point.

배향막(PI)과 액정(LC) 계면에 누적되는 충전전하 q의 총량은 셀 누설 전류 성분(420)을 도시한 도 4b의 직선을 바탕으로 하여 얻어진 면적(400)을 계산하여 구한다.The total amount of charge charge q accumulated at the interface between the alignment film PI and the liquid crystal LC is obtained by calculating the area 400 obtained based on the straight line of FIG. 4B showing the cell leakage current component 420.

도 4b에서 파형(410)의 폭(430)은 전하의 이동도(Mobility)와 반비례 관계를 가진다. 즉 진폭의 시작점(431)과 진폭의 끝점(432) 간 거리는 전하의 이동도(Mobility)가 작을수록 넓어지고 파형(410)도 완만한 곡선을 그리게 된다.In FIG. 4B, the width 430 of the waveform 410 is inversely related to the mobility of charge. That is, the distance between the start point 431 of the amplitude and the end point 432 of the amplitude becomes wider as the mobility of the charge becomes smaller and the waveform 410 also shows a gentle curve.

파형(410)의 피크(Peak) 전압은 배향막(PI) 계면에서 충전전하의 흡착력에 비례한다. 이로 인해서, 상술한 배향막(PI) 계면에서의 충전전하의 흡착력이 강할수록 파형(410)의 피크(Peak)가 높은 전압에서 나타나게 된다.The peak voltage of the waveform 410 is proportional to the adsorption force of the charges at the interface of the alignment layer PI. Thus, the stronger the adsorption force of the charge charges at the interface of the alignment film PI, the higher the peak of the waveform 410 appears at the high voltage.

도 5는 전류를 측정하기 위한 시스템 구성을 도시한 블록도이다.5 is a block diagram showing a system configuration for measuring current.

시험용 셀(540)에 직류 전원을 인가하기 위한 직류 전원 장치(520, DC Power Supply)와, 전류를 측정하기 위한 전류계(530), 그리고 직류 전원 장치(520)와 전류계(530)를 제어하기 위한 PC(500)로 구성된다.DC power supply (520) for applying DC power to the test cell (540), ammeter (530) for measuring the current, and DC power supply (520) for controlling the current meter (530) PC 500 is configured.

상술한 시험용 셀(540)에 직류 전원 장치(520)로 정(+)방향과 부(-)방향의 직류 전원을 인가하게 되고, 이들 사이에 전류계(530)를 직렬 연결하여 부방향의 직류 전원 인가시에 전류를 측정하게 된다.DC power supply in the positive (+) direction and negative (-) direction is applied to the test cell 540 described above with the DC power supply device 520, and a negative DC power supply is connected by connecting an ammeter 530 in series therebetween. When applied, current is measured.

직류 전원 장치(520) 및 전류계(530)는 제어용 통신선(510)을 이용하여 PC에 의해 제어 되므로, 별도의 제어용 통신선(510)을 구비해야 된다. 또한 제어용 PC(500)는 이들로부터 얻어진 데이터(Data)를 보관하는 역할도 하게 된다.Since the DC power supply device 520 and the ammeter 530 are controlled by the PC using the control communication line 510, a separate control communication line 510 must be provided. In addition, the control PC 500 also serves to store data (Data) obtained from them.

본 발명은 상기 실시예로 한정되지 않고, 본 발명의 취지를 벗어나지 않는 한도 내에서 다양하게 변경하여 실시 할 수 있다.
The present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

이와 같이, 초기에 누적된 충전전하 q의 총량을 구하기 위하여 전류 I를 측정하는 방법은 배향막과 액정간의 매칭 정도의 정량화가 가능하며, 서로 다른 물성을 가진 배향막과 액정간의 비교 평가 시에도 충전전하 q의 총량을 구할 수 있게 된다. 또한 배향막 계면에 흡착된 충전전하의 흡착력 크기 예측이 가능하고, 충전 전하 q의 이동도 예측이 가능하게 된다.As described above, the method of measuring the current I in order to obtain the total amount of the charged charge q accumulated in the initial stage can quantify the degree of matching between the alignment layer and the liquid crystal, and the charge charge q even in the comparative evaluation between the alignment layer and the liquid crystal having different physical properties. The total amount of can be obtained. In addition, it is possible to predict the magnitude of the adsorption force of the charges adsorbed at the interface of the alignment film, and the mobility of the charges q can be predicted.

이로 인해서, 상술한 방법을 통해서 배향막과 액정간의 잔상이나 얼룩이 최소인 재료 조합의 선정이 가능하게 된다.For this reason, it becomes possible to select the material combination with the smallest afterimage or unevenness between an alignment film and a liquid crystal through the above-mentioned method.

Claims

Applying a first DC power source to the test cell;

Shorting both electrodes of the test cell;

Applying a second direct current power source to the test cell;

Measuring a current flowing in the test cell

Matching evaluation method between the alignment film and the liquid crystal comprising a.

The method of claim 1,

And the first DC power supply and the second DC power supply have a polarity opposite to each other.

The method of claim 1,

The first DC power supply is applied according to the Ohm's law until the voltage is distributed to the alignment layer and the liquid crystal layer until the stabilization state of the distribution is characterized in that the matching between the alignment layer and the liquid crystal.

In the evaluation of the matching between the alignment film and the liquid crystal,

A direct current power supply for generating direct and negative direct current power;

An ammeter for measuring current;

A control PC connected to the DC power supply and the ammeter and connected to the devices and a control communication line for storing the measured data.

Matching evaluation device between the alignment film and the liquid crystal comprising a.

The method of claim 4, wherein

An apparatus for evaluating matching between an alignment film and a liquid crystal having a characteristic in which a test cell, the DC power supply, and an ammeter are connected in series.