KR20050074216A - 광전도 및 확산을 이용한 샘플 측정 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 샘플 측정 방법에 관한 것으로, 보다 자세하게는 빛의 전도 및 확산을 이용하여 샘플의 성형에 따른 균일도를 얻을 수 있는 방법에 관한 것이다.
본 발명의 상기 목적은 빛이 입사되는 입사부, 상기 입사부에서 등간격으로 형성된 하나 이상의 홀 및 상기 홀에 형성된 광센서를 포함하는 홀더를 이용하여 상기 홀더 밑에 측정하고자 하는 대상물을 설치하여 상기 입사부에서 입사되는 빛이 상기 대상물에서 확산하여 상기 광센서에서 확산되는 빛을 검출하여 상기 대상물의 특성을 측정하는 것을 특징으로 하는 샘플 측정 방법에 의해 달성된다.
따라서, 본 발명의 샘플 측정 방법은 빛의 전도 및 확산 등 빛의 전달 현상을 이용하여 물질의 특성을 측정하여 측정하고자 하는 플라스틱의 성형에 따른 균일도를 측정할 수 있는 효과가 있다.
Description
본 발명은 샘플 측정 방법에 관한 것으로, 보다 자세하게는 빛의 전도 및 확산을 이용하여 샘플의 성형에 따른 균일도를 얻을 수 있는 방법에 관한 것이다.
빛은 전자기복사선(electromagnetic radiation)으로 이루어져 있으며, 파동과 파장의 형태로 이러한 특성에 따라 낮은 대역의 라디오파에서부터 마이크로파, 적외선, 가시선, 자외선, X-선 등의 순서로 높아지게 되며, 물질의 성분에 따라 그 대응되는 광의 특성이 다르게 나타나게 된다. 가시선은 우리의 눈으로 볼 수 있는 파장 영역의 광으로서, 대부분의 물질의 색상 특성은 이 파장대역에서 측정이 가능하다. 근적외선은 가시선과 중적외선 사이에 존재하고 있으며, 광원으로부터 조사된 근적외선은 물질의 분자 내 결합의 진동에 관련된 파장의 빛을 흡수하여 해당 파장의 빛의 세기가 감소하게 된다. 이러한 세기의 변화는 시료 내의 특정 물질의 농도와 관련이 있으며, 그 변이는 검출기에 의해 검출되고 측정된 연속파장의 빛의 세기(스펙트럼)는 물질의 정량분석이나 정성분석에 이용되게 된다.
플라스틱 판넬은 금형을 이용하는 프레스나 사출성형기 등을 사용하여 제작된다. 플라스틱 판넬의 제작과정은 금형 내에서 폴리머가 용융되어 소정 크기와 소정 형상으로 제작된다. 그러나, 금형 내에서 폴리머들이 녹을 때 각각의 조건에 따라 제품의 특성이 달라진다. 이는 냉각수 온도, 금형온도 등의 조건이 틀려 플라스틱 판넬에 내부응력이 발생하기 때문이다. 이러한 판넬 즉 유리글라스 또는 플라스틱 제품 등의 제품의 결함을 검출하기 위해 종래에는 투과법을 사용한 빛을 이용하여 검사하였다. 그러나 이러한 투과법은 샘플의 두께만큼만의 정보만 얻을 수 있는 단점이 있다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 광전도 및 확산 등 빛의 산란 현상을 이용하여 물질의 특성을 측정하여 측정하고자 하는 대상의 균일도 및 여러 가지 물리적 특성을 얻을 수 있는 샘플 측정 방법을 제공함에 본 발명의 목적이 있다.
본 발명의 상기 목적은 빛이 입사되는 입사부, 상기 입사부에서 등간격으로 형성된 하나 이상의 홀 및 상기 홀에 형성된 광센서를 포함하는 홀더를 이용하여 상기 홀더 밑에 측정하고자 하는 대상물을 설치하여 상기 입사부에서 입사되는 빛이 상기 대상물에서 확산하여 상기 광센서에서 확산되는 빛을 검출하여 상기 대상물의 특성을 측정하는 것을 특징으로 하는 샘플 측정 방법에 의해 달성된다.
본 발명의 상기 목적과 기술적 구성 및 그에 따른 작용효과에 관한 자세한 사항은 본 발명의 바람직한 실시예를 도시하고 있는 도면을 참조한 이하 상세한 설명에 의해 보다 명확하게 이해될 것이다.
먼저, 도 1은 본 발명에 따른 샘플 측정 방법을 나타낸 도면이다.
우선 측정하고 하는 대상물(11)의 상부에 측정 홀더(12)를 준비하여 샘플의 물리적 특성을 측정한다. 상기 측정하고자 하는 대상물은 플라스틱 기판 등으로 매질 내에서 빛이 확산가능한 물질이다. 상기 측정 홀더는 빛이 통과하지 않는 물질로 측정하고자 하는 대상물에서 확산된 빛이 홀더에 의해서 영향을 받지 않아야 한다.
상기 측정 홀더(12)는 빛이 입사되는 입사부(21), 상기 입사부에서 동일 위치에 형성된 하나 이상의 측정 홀(22) 및 상기 홀에 형성된 광센서로 구성된다. 상기 입사부는 측정하고자 하는 대상물에 빛이 입사되는 부분으로 홀더의 중심에 홀을 형성하여 마련한다. 상기 측정 홀은 상기 입사부에서 동일한 거리에 다수의 홀을 형성하여 마련되며, 상기 측정 홀 각각에는 빛을 감지하는 광센서가 구비된다.
샘플의 측정 방법은 우선 빛이 입사부에 입사되면 측정하고자 하는 대상물의 표면 및 내부에서 빛이 확산된다. 상기 확산된 빛을 각각의 측정 홀에 구비된 광센서에서 검출하여 각각의 빛들을 분석하여 대상물의 성형에 따른 균일도를 분석할 수 있다. 또한 물질 내부의 균일도도 분석가능하다.
또한 일 실시예로 측정홀을 등간격으로 설치하여 각각의 측정 홀에서 검출되는 빛을 분석하여 측정하는 물질이 혼합물일 경우 균일하게 혼합되었는지 검사할 수 있다.
도 2는 종래의 샘플 측정 방법과 본 발명의 샘플 측정 방법의 측정범위를 비교한 도면이다.
기존의 샘플 측정 방법인 투과형 측정 방법은 샘플에 빛을 조사하여 조사된 빛이 샘플을 투과하면 투과된 빛을 분석하는 방법이었다. 이러한 방법은 샘플의 두께만큼만의 정보(31)만 얻을 수 있었다. 하지만 본 발명의 샘플 측정 방법은 확산을 이용하여 샘플의 표면 및 샘플의 넓이 정보(32)를 얻을 수 있다. 또한 본 발명의 샘플 측정 장치에 종래의 샘플 측정 방법인 샘플의 입사부 반대편에 광센서를 설치하여 샘플의 두께에 따른 물질의 특성을 조사할 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예를 도시한 도면으로, 홀더에 베어링(41)을 설치하여 측정 가능한 측정 홀과 광센서가 위치한 부분은 회전 가능하도록 하고 홀더의 끝 부분에 홀더를 샘플에 고정할 수 있는 다수의 고정부(42)를 형성하여 홀더를 샘플에 고정시킨 상태에서 측정 부위를 회전시키면서 샘플의 특성을 검사할 수 있다. 상기 샘플에 홀더를 고정시 샘플과 홀더의 기밀을 유지하는 것이 중요하다. 상기와 같이 측정부를 회전하면서 측정시 샘플의 균일도 분포를 측정할 수 있다.
상세히 설명된 본 발명에 의하여 본 발명의 특징부를 포함하는 변화들 및 변형들이 당해 기술 분야에서 숙련된 보통의 사람들에게 명백히 쉬워질 것임이 자명하다. 본 발명의 그러한 변형들의 범위는 본 발명의 특징부를 포함하는 당해 기술 분야에 숙련된 통상의 지식을 가진 자들의 범위 내에 있으며, 그러한 변형들은 본 발명의 청구항의 범위 내에 있는 것으로 간주된다.
따라서, 본 발명의 샘플 측정 방법은 광전도 및 확산 등 빛의 전달 현상을 이용하여 물질을 측정하여 측정하고자 하는 대상의 균일도를 얻을 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 샘플 측정 방법을 나타낸 도면.
도 2는 종래의 샘플 측정 방법과 본 발명의 샘플 측정 방법의 측정범위를 비교한 도면.
도 3은 본 발명의 일 실시예를 도시한 도면.
Claims (2)
- 빛이 입사되는 입사부, 상기 입사부에서 동일 거리에 형성된 하나 이상의 홀 및 상기 홀에 형성된 광센서를 포함하는 홀더를 이용하여 상기 홀더 밑에 측정하고자 하는 대상물을 설치하여 상기 입사부에 입사하여 상기 대상물에서 확산된 빛을 상기 광센서에서 검출하여 상기 대상물의 특성을 측정하는 것을 특징으로 하는 광전도 및 확산을 이용한 샘플 측정 방법.
- 제 1항에 있어서,상기 측정하고자 하는 대상물은 플라스틱 기판으로 빛이 확산가능한 물질임을 특징으로 하는 광전도 및 확산을 이용한 샘플 측정 방법.
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