KR20050054594A - Input buffer circuit having direct current voltage detecting circuit - Google Patents

Input buffer circuit having direct current voltage detecting circuit Download PDF

Info

Publication number
KR20050054594A
KR20050054594A KR1020030087979A KR20030087979A KR20050054594A KR 20050054594 A KR20050054594 A KR 20050054594A KR 1020030087979 A KR1020030087979 A KR 1020030087979A KR 20030087979 A KR20030087979 A KR 20030087979A KR 20050054594 A KR20050054594 A KR 20050054594A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
node
voltage
transistor
voltage level
buffer
Prior art date
Application number
KR1020030087979A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
이재형
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020030087979A priority Critical patent/KR20050054594A/en
Publication of KR20050054594A publication Critical patent/KR20050054594A/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0008Arrangements for reducing power consumption
    • H03K19/0016Arrangements for reducing power consumption by using a control or a clock signal, e.g. in order to apply power supply
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00346Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents
    • H03K19/00361Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents in field effect transistor circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/0185Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
    • H03K19/018507Interface arrangements

Abstract

직류 전압 검출 회로 및 직류 전압 검출 회로를 구비하는 입력 버퍼 회로가 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 직류 전압 검출 회로는 수신부, 제 1 제어부, 제 2 노드 및 제 2 제어부를 구비한다. 수신부는 입력 신호를 수신하여 제 1 노드의 전압 레벨을 제어한다. 제 1 제어부는 상기 입력 신호의 전압 레벨이 소정의 전압 레벨 이상이 되면 상기 수신부를 통하여 흐르는 직류 전류를 제거한다. 제 2 노드는 상기 제 1 노드의 전압 레벨과 반대되는 전압 레벨을 가진다. 제 2 제어부는 상기 제 2 노드의 전압 특성이 히스테리시스(Hysteresis) 특성을 가지도록 제어한다. 상기 제 1 제어부는 전원 전압에 소스가 연결되고 게이트와 드레인이 서로 연결되는 다이오드 형 트랜지스터이다. 본 발명에 따른 직류 전압 검출 회로 및 직류 전압 검출 회로를 구비하는 입력 버퍼 회로는 불필요하게 소모되는 직류 전류를 줄이고 잡음에 의해서 입력 신호의 전압 레벨이 변동되어도 어느 정도 잡음의 영향을 제거할 수 있는 장점이 있다. An input buffer circuit having a direct current voltage detection circuit and a direct current voltage detection circuit is disclosed. The DC voltage detection circuit according to the embodiment of the present invention includes a receiver, a first controller, a second node, and a second controller. The receiver receives an input signal and controls the voltage level of the first node. The first controller removes the DC current flowing through the receiver when the voltage level of the input signal is greater than or equal to a predetermined voltage level. The second node has a voltage level opposite to the voltage level of the first node. The second control unit controls the voltage characteristic of the second node to have a hysteresis characteristic. The first controller is a diode-type transistor having a source connected to a power supply voltage and a gate and a drain connected to each other. The input buffer circuit including the DC voltage detection circuit and the DC voltage detection circuit according to the present invention has the advantage of reducing unnecessary DC current and removing the influence of noise to some extent even when the voltage level of the input signal is changed by noise. There is this.

Description

직류 전압 검출 회로 및 직류 전압 검출 회로를 구비하는 입력 버퍼 회로{Input buffer circuit having direct current voltage detecting circuit}Input buffer circuit having a direct current voltage detecting circuit and a direct current voltage detecting circuit.

본 발명은 직류 전압 검출 회로 및 직류 전압 검출 회로를 구비하는 입력 버퍼 회로에 관한 것으로서 특히 소비 전류를 감소시키고 잡음의 영향을 줄일 수 있는 직류 전압 검출 회로를 구비하는 입력 버퍼 회로에 관한 것이다. The present invention relates to an input buffer circuit having a direct current voltage detection circuit and a direct current voltage detection circuit, and more particularly, to an input buffer circuit having a direct current voltage detection circuit capable of reducing current consumption and reducing the influence of noise.

반도체 칩(chip)에 이용되는 입력 버퍼 회로의 경우 파워 업 시퀀스(Power up sequence)에 의하여 초기 동작이 수행되도록 설정되어 있다. 즉, 반도체 칩의 내부에 사용되는 전원 전압(VDD), 출력 드라이버용 전원 전압(VDDQ), 기준 전압(VREF) 등의 직류 전압(DC voltage) 레벨이 소정의 전압 레벨에 도달하도록 충분한 시간(약 200us)이 지난 후에 입력 버퍼 회로는 클럭 신호나 명령(Command)을 받아들여 내부 동작을 수행하도록 되어 있다. In the case of the input buffer circuit used in the semiconductor chip, the initial operation is set to be performed by a power up sequence. That is, a time sufficient to allow a DC voltage level such as a power supply voltage VDD, an output driver power supply voltage VDDQ, and a reference voltage VREF used inside the semiconductor chip to reach a predetermined voltage level (about After 200us), the input buffer circuit accepts a clock signal or a command to perform an internal operation.

하지만 입력 버퍼 회로의 내부 회로를 구성하기에 따라 전원 전압(VDD), 출력 드라이버용 전원 전압(VDDQ), 기준 전압(VREF) 등의 직류 전압(DC voltage) 레벨이 소정의 전압 레벨에 도달하기 전에 입력 버퍼 회로가 클럭 신호나 명령을 받아들여 내부의 직류 전류(DC current)를 증가시키거나 유효하지 않은 출력 값을 발생하여 오동작 할 수 있다.However, according to the internal circuit of the input buffer circuit, before the DC voltage levels such as the power supply voltage VDD, the output driver power supply voltage VDDQ, and the reference voltage VREF reach a predetermined voltage level. The input buffer circuit may receive a clock signal or command to increase the internal DC current or generate an invalid output value and cause a malfunction.

이런 현상을 없애기 위해 입력 버퍼 회로로 인가되는 입력 신호에 따라 CMOS 입력 버퍼와 SSTL 입력 버퍼를 따로 구성하고 입력 버퍼 회로가 기준전압의 전압 레벨과 무관하게 동작하도록 하는 방법이 이용되고 있다. In order to eliminate this phenomenon, a method of configuring the CMOS input buffer and the SSTL input buffer separately according to the input signal applied to the input buffer circuit and allowing the input buffer circuit to operate regardless of the voltage level of the reference voltage is used.

또는 피모스 트랜지스터와 엔모스 트랜지스터의 사이즈 비율을 조절할 수 있는 직류 전압 검출 회로를 이용하여 입력 버퍼 회로로 인가되는 입력 신호의 전압 레벨을 인식하는 방법도 이용되고 있다. Alternatively, a method of recognizing a voltage level of an input signal applied to an input buffer circuit using a DC voltage detection circuit capable of adjusting a size ratio of a PMOS transistor and an NMOS transistor is also used.

도 1은 종래의 직류 전압 검출 회로를 구비하는 입력 버퍼 회로를 나타내는 회로도이다.1 is a circuit diagram showing an input buffer circuit including a conventional DC voltage detection circuit.

도 2는 도 1의 입력 신호의 전압 레벨과 제 2 노드 전압 레벨의 관계를 설명하는 도면이다.FIG. 2 is a diagram illustrating a relationship between the voltage level of the input signal of FIG. 1 and the second node voltage level.

도 1을 참조하면, 입력 버퍼 회로(100)는 직류 전압 검출 회로(110), 버퍼 신호 발생부(120) 및 버퍼부(130)를 구비한다.Referring to FIG. 1, the input buffer circuit 100 includes a DC voltage detection circuit 110, a buffer signal generator 120, and a buffer unit 130.

직류 전압 검출 회로(110)는 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨을 측정하여 입력 제어 신호(INCTRL)를 출력한다. 버퍼 신호 발생부(120)는 입력 제어 신호(INCTRL)와 버퍼 제어 신호(BUFCTRL)에 응답하여 버퍼부(130)를 턴 온 또는 턴 오프 시키는 버퍼 신호(BUFS)를 발생한다. The DC voltage detection circuit 110 measures the voltage level of the input signal DC_IN and outputs an input control signal INCTRL. The buffer signal generator 120 generates a buffer signal BUFS for turning on or off the buffer 130 in response to the input control signal INCTRL and the buffer control signal BUFCTRL.

버퍼부(130)는 명령(CMD)을 수신하고 버퍼 신호(BUFS)에 응답하여 명령(CMD)을 출력(OUT_CMD)한다. The buffer unit 130 receives the command CMD and outputs the command CMD in response to the buffer signal BUFS (OUT_CMD).

직류 전압 검출 회로(110)는 전원 전압(VDD)에 연결되는 저항(R), 저항(R)과 접지 전압(VSS) 사이에 직렬로 연결되며 게이트로 입력 신호(DC_IN)를 수신하는 제 1 및 제 2 트랜지스터(TR1, TR2), 제 1 노드(N1)의 전압 레벨을 반전시켜 입력 제어 신호(INCTRL)로서 출력하는 인버터(INV)를 구비한다.The DC voltage detection circuit 110 may include a first resistor R connected to the power supply voltage VDD, a first connection between the resistor R, and the ground voltage VSS, and receiving an input signal DC_IN through a gate. An inverter INV for inverting the voltage levels of the second transistors TR1 and TR2 and the first node N1 and outputting it as an input control signal INCTRL is provided.

제 1 노드(N1)는 제 1 트랜지스터(TR1)와 제 2 트랜지스터(TR2)가 서로 연결되는 노드이다. 인버터(INV)의 출력 단이 제 2 노드(N2)이다. The first node N1 is a node in which the first transistor TR1 and the second transistor TR2 are connected to each other. The output terminal of the inverter INV is the second node N2.

직류 전압 검출 회로(110)는 저항(R)의 크기 및 제 1 및 제 2 트랜지스터(TR1, TR2)의 사이즈를 조절하여 제 1 노드(N1)의 전압 레벨을 제어한다. 제 2 노드(N2)의 전압 레벨은 제 1 노드(N1)의 전압 레벨에 따라 반대로 변동한다.The DC voltage detection circuit 110 controls the voltage level of the first node N1 by adjusting the size of the resistor R and the size of the first and second transistors TR1 and TR2. The voltage level of the second node N2 fluctuates inversely depending on the voltage level of the first node N1.

입력 버퍼 회로(100)가 정상적으로 동작하기 위한 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨을 제 1 전압 레벨이라고 가정한다. 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 제 1 전압 레벨 이하인 경우 제 1 트랜지스터(TR1)가 턴 온 되고 제 2 트랜지스터(TR2)는 턴 오프 되어 제 1 노드(N1)는 하이 레벨이 된다. It is assumed that the voltage level of the input signal DC_IN for the input buffer circuit 100 to operate normally is the first voltage level. When the voltage level of the input signal DC_IN is equal to or less than the first voltage level, the first transistor TR1 is turned on, the second transistor TR2 is turned off, and the first node N1 is at a high level.

그러면 제 2 노드(N2)는 로우 레벨이 된다. 도 2에서 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 낮은 부분은 제 2 노드(N2)의 전압 레벨이 로우 레벨을 나타내고 있다. Then, the second node N2 is at a low level. In FIG. 2, the low voltage level of the input signal DC_IN indicates that the voltage level of the second node N2 is low.

입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 제 1 전압 레벨 이상인 경우 제 2 트랜지스터(TR2)가 턴 온 되어 제 1 노드(N1)는 로우 레벨이 된다. 그러면 제 2 노드(N2)는 하이 레벨이 된다. 도 2에서 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 높은 부분은 제 2 노드(N2)의 전압 레벨이 하이 레벨을 나타내고 있다. When the voltage level of the input signal DC_IN is equal to or greater than the first voltage level, the second transistor TR2 is turned on so that the first node N1 becomes a low level. Then, the second node N2 is at a high level. In FIG. 2, the voltage level of the input signal DC_IN indicates that the voltage level of the second node N2 is high.

제 2 노드(N2)에서 출력되는 신호가 입력 제어 신호(INCTRL)이다. 버퍼 제어 신호(BUFCTRL)는 버퍼부(130)의 동작을 제어하는 신호이다. 입력 제어 신호(INCTRL)가 하이 레벨이고 버퍼 제어 신호(BUFCTRL)가 하이 레벨이면 버퍼 신호(BUFS)는 로우 레벨이 되고 버퍼부(130)는 턴 온 된다. The signal output from the second node N2 is the input control signal INCTRL. The buffer control signal BUFCTRL is a signal for controlling the operation of the buffer unit 130. When the input control signal INCTRL is at a high level and the buffer control signal BUFCTRL is at a high level, the buffer signal BUFS is at a low level, and the buffer unit 130 is turned on.

즉, 버퍼부(130)는 버퍼 제어 신호(BUFCTRL)가 로우 레벨인 경우에 턴 온 된다. That is, the buffer unit 130 is turned on when the buffer control signal BUFCTRL is at a low level.

그러나 버퍼 제어 신호(BUFCTRL)가 하이 레벨이어도 입력 제어 신호(INCTRL)가 하이 레벨이 아니면, 즉, 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 제 1 전압 레벨 이상이 되지 않으면 버퍼부(130)는 턴 온 되지 아니한다. However, even if the buffer control signal BUFCTRL is at a high level, if the input control signal INCTRL is not at a high level, that is, if the voltage level of the input signal DC_IN does not exceed the first voltage level, the buffer unit 130 is turned on. Not.

버퍼부(130)가 턴 온 되면 버퍼부(130)는 명령(CMD)을 수신하여 출력(OUT_CMD)한다. When the buffer unit 130 is turned on, the buffer unit 130 receives the command CMD and outputs the output OUT_CMD.

그런데, 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 제 1 전압 레벨 이상인 경우 제 1 트랜지스터(TR1)가 완전히 턴 오프 되지 않고 약하게 턴 온 된 상태를 유지한다. 따라서 제 1 트랜지스터(TR1)와 제 2 트랜지스터(TR2)를 통하여 직류 전류(I)가 흐르게 되는 문제가 있다. However, when the voltage level of the input signal DC_IN is equal to or greater than the first voltage level, the first transistor TR1 is not turned off completely but remains weakly turned on. Therefore, there is a problem that the DC current I flows through the first transistor TR1 and the second transistor TR2.

또한, 입력 신호(DC_IN)가 잡음에 의하여 영향을 받으면 제 2 노드(N2)의 전압 레벨도 입력 신호(DC_IN)가 받는 잡음의 영향을 그대로 받는다. 즉, 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 제 1 전압 레벨과 근사한 경우 잡음에 의하여 제 2 노드(N2)의 전압 레벨이 하이 레벨로 발생될 수도 있고 로우 레벨로 발생될 수 도 있다. In addition, when the input signal DC_IN is affected by noise, the voltage level of the second node N2 is also affected by the noise that the input signal DC_IN receives. That is, when the voltage level of the input signal DC_IN is close to the first voltage level, the voltage level of the second node N2 may be generated at a high level or may be generated at a low level due to noise.

이와 같이 종래의 입력 버퍼 회로(100)는 직류 전류(I)를 계속 흐르게 하여 소비 전류가 증가되는 문제가 있고 또한 입력 신호(DC_IN)에 영향을 주는 잡음에 취약한 문제가 있다. As described above, the conventional input buffer circuit 100 has a problem in that the current consumption is increased by continuously flowing the DC current I and is also vulnerable to noise affecting the input signal DC_IN.

본 발명이 이루고자하는 기술적 과제는 소비 전류와 잡음의 영향을 줄일 수 있는 직류 전압 검출 회로를 제공하는데 있다. An object of the present invention is to provide a DC voltage detection circuit that can reduce the influence of current consumption and noise.

본 발명이 이루고자하는 다른 기술적 과제는 소비 전류와 잡음의 영향을 줄일 수 있는 직류 전압 검출 회로를 구비하는 입력 버퍼 회로를 제공하는데 있다. Another object of the present invention is to provide an input buffer circuit having a DC voltage detection circuit capable of reducing the influence of current consumption and noise.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 직류 전압 검출 회로는 수신부, 제 1 제어부, 제 2 노드 및 제 2 제어부를 구비한다. The DC voltage detection circuit according to the embodiment of the present invention for achieving the above technical problem includes a receiver, a first controller, a second node and a second controller.

수신부는 입력 신호를 수신하여 제 1 노드의 전압 레벨을 제어한다. 제 1 제어부는 상기 입력 신호의 전압 레벨이 소정의 전압 레벨 이상이 되면 상기 수신부를 통하여 흐르는 직류 전류를 제거한다. The receiver receives an input signal and controls the voltage level of the first node. The first controller removes the DC current flowing through the receiver when the voltage level of the input signal is greater than or equal to a predetermined voltage level.

제 2 노드는 상기 제 1 노드의 전압 레벨과 반대되는 전압 레벨을 가진다. 제 2 제어부는 상기 제 2 노드의 전압 특성이 히스테리시스(Hysteresis) 특성을 가지도록 제어한다. The second node has a voltage level opposite to the voltage level of the first node. The second control unit controls the voltage characteristic of the second node to have a hysteresis characteristic.

상기 제 1 제어부는 전원 전압에 소스가 연결되고 게이트와 드레인이 서로 연결되는 다이오드 형 트랜지스터이다. The first controller is a diode-type transistor having a source connected to a power supply voltage and a gate and a drain connected to each other.

상기 수신부는 제 1 트랜지스터 및 제 2 트랜지스터를 구비한다. 제 1 트랜지스터는 상기 다이오드형 트랜지스터의 드레인에 제 1 단이 연결되고 게이트로 상기 입력 신호를 수신하고 상기 제 1 노드에 제 2 단이 연결된다.  The receiver includes a first transistor and a second transistor. The first transistor has a first end connected to the drain of the diode-type transistor, receives the input signal through a gate, and a second end connected to the first node.

제 2 트랜지스터는 상기 제 1 노드에 제 1 단이 연결되고 게이트로 상기 입력 신호를 수신하며 접지 전압에 제 2 단이 연결된다. The second transistor has a first end connected to the first node, receives the input signal to a gate, and a second end connected to a ground voltage.

상기 제 2 제어부는 전원 전압에 제 1 단이 연결되고 게이트가 상기 제 2 노드에 연결되며 제 2 단이 상기 제 1 노드에 연결되는 피모스 트랜지스터일 수 있다. 상기 피모스 트랜지스터의 사이즈와 상기 제 2 트랜지스터의 사이즈의 비율에 따라 상기 제 2 노드의 전압 특성이 제어된다. The second controller may be a PMOS transistor having a first end connected to a power supply voltage, a gate connected to the second node, and a second end connected to the first node. The voltage characteristic of the second node is controlled according to a ratio of the size of the PMOS transistor to the size of the second transistor.

상기 제 2 제어부는 접지 전압에 제 1 단이 연결되고 게이트가 상기 제 2 노드에 연결되며 제 2 단이 상기 제 1 노드에 연결되는 엔모스 트랜지스터일 수 있다. 상기 엔모스 트랜지스터의 사이즈와 상기 제 2 트랜지스터의 사이즈의 비율에 따라 상기 제 2 노드의 전압 특성이 제어된다. The second controller may be an NMOS transistor having a first end connected to a ground voltage, a gate connected to the second node, and a second end connected to the first node. The voltage characteristic of the second node is controlled according to a ratio of the size of the NMOS transistor to the size of the second transistor.

상기 제 1 제어부는 게이트와 드레인이 서로 연결되는 복수개의 다이오드형 트랜지스터가 전원 전압에 직렬로 연결될 수 있다. In the first controller, a plurality of diode-type transistors having gates and drains connected to each other may be connected in series with a power supply voltage.

상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 입력 버퍼 회로는 직류 전압 검출 회로, 버퍼 신호 발생부 및 버퍼부를 구비한다. According to another aspect of the present invention, an input buffer circuit includes a DC voltage detection circuit, a buffer signal generator, and a buffer unit.

직류 전압 검출 회로는 입력 신호의 전압 레벨이 소정의 전압 레벨 이상이 되면 입력 제어 신호를 발생한다. 버퍼 신호 발생부는 상기 입력 제어 신호 및 버퍼 제어 신호에 응답하여 버퍼 신호를 발생한다. The DC voltage detection circuit generates an input control signal when the voltage level of the input signal becomes above a predetermined voltage level. The buffer signal generator generates a buffer signal in response to the input control signal and the buffer control signal.

버퍼부는 명령(command)을 수신하고 상기 버퍼 신호에 응답하여 상기 명령을 출력한다. 상기 버퍼 신호 발생부는 상기 입력 제어 신호 및 상기 버퍼 제어 신호가 모두 활성화되면 상기 버퍼 신호를 활성화시키는 반전 논리곱 수단이다. The buffer unit receives a command and outputs the command in response to the buffer signal. The buffer signal generator is an inverse AND product that activates the buffer signal when both the input control signal and the buffer control signal are activated.

본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 도면에 기재된 내용을 참조하여야 한다.DETAILED DESCRIPTION In order to fully understand the present invention, the operational advantages of the present invention, and the objects achieved by the practice of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings which illustrate preferred embodiments of the present invention and the contents described in the drawings.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference numerals in the drawings denote like elements.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 직류 전압 검출 회로를 구비하는 입력 버퍼 회로를 나타내는 회로도이다.3 is a circuit diagram illustrating an input buffer circuit including a DC voltage detection circuit according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4는 도 3의 입력 신호의 전압 레벨과 제 2 노드의 전압 레벨의 관계를 설명하는 도면이다. 4 is a diagram illustrating a relationship between the voltage level of the input signal of FIG. 3 and the voltage level of the second node.

도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 입력 버퍼 회로(300)는 직류 전압 검출 회로(310), 버퍼 신호 발생부(320) 및 버퍼부(330)를 구비한다. Referring to FIG. 3, an input buffer circuit 300 according to an embodiment of the present invention includes a DC voltage detection circuit 310, a buffer signal generator 320, and a buffer unit 330.

직류 전압 검출 회로(310)는 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 소정의 전압 레벨 이상이 되면 입력 제어 신호(INCTRL)를 발생한다. 이하에서는 소정의 전압 레벨을 앞서 설명한 것과 마찬가지로 제 1 전압 레벨로 표현한다. The DC voltage detection circuit 310 generates an input control signal INCTRL when the voltage level of the input signal DC_IN becomes greater than or equal to a predetermined voltage level. Hereinafter, the predetermined voltage level is expressed as the first voltage level as described above.

버퍼 신호 발생부(320)는 입력 제어 신호(INCTRL) 및 버퍼 제어 신호(BUFCTRL)에 응답하여 버퍼 신호(BUFS)를 발생한다. 버퍼 신호 발생부(320)는 도 3에 도시된 것과 같이 반전 논리곱 수단일 수 있다. The buffer signal generator 320 generates a buffer signal BUFS in response to the input control signal INCTRL and the buffer control signal BUFCTRL. The buffer signal generator 320 may be an inverse AND function as shown in FIG. 3.

버퍼 제어 신호(BUFCTRL)는 버퍼부(330)의 동작을 제어하는 신호이다. 입력 제어 신호(INCTRL) 및 버퍼 제어 신호(BUFCTRL)가 모두 하이 레벨이면 버퍼 신호(BUFS)가 로우 레벨로 발생된다. 버퍼부(330)는 버퍼 신호(BUFS)가 로우 레벨인 경우에 턴 온 된다. The buffer control signal BUFCTRL is a signal for controlling the operation of the buffer unit 330. If both the input control signal INCTRL and the buffer control signal BUFCTRL are at a high level, the buffer signal BUFS is generated at a low level. The buffer unit 330 is turned on when the buffer signal BUFS is at a low level.

버퍼부(330)가 턴 온 되면 버퍼부(330)는 명령(CMD)을 수신하여 출력(OUT_CMD)한다. 버퍼 신호 발생부(320) 및 버퍼부(330)의 동작은 도 1의 입력 버퍼 회로(100)와 동일하므로 동작에 관한 상세한 설명을 생략한다. When the buffer unit 330 is turned on, the buffer unit 330 receives the command CMD and outputs the output OUT_CMD. Since the operation of the buffer signal generator 320 and the buffer unit 330 is the same as the input buffer circuit 100 of FIG. 1, detailed description of the operation will be omitted.

직류 전압 검출 회로(310)는 수신부(311), 제 1 제어부(313), 제 2 노드(N2) 및 제 2 제어부(315)를 구비한다. The DC voltage detection circuit 310 includes a receiver 311, a first controller 313, a second node N2, and a second controller 315.

수신부(311)는 입력 신호(DC_IN)를 수신하여 제 1 노드(N1)의 전압 레벨을 제어한다. 제 1 제어부(313)는 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 소정의 전압 레벨 이상이 되면 수신부(311)를 통하여 흐르는 직류 전류를 제거한다. The receiver 311 receives the input signal DC_IN and controls the voltage level of the first node N1. The first controller 313 removes the DC current flowing through the receiver 311 when the voltage level of the input signal DC_IN becomes equal to or greater than the predetermined voltage level.

제 2 노드(N2)는 제 1 노드(N1)의 전압 레벨과 반대되는 전압 레벨을 가진다. The second node N2 has a voltage level opposite to the voltage level of the first node N1.

직류 전압 검출 회로(310)는 종래의 직류 전압 검출 회로(310)와 달리 제 1 제어부(313)와 제 2 제어부(315)를 구비한다. 제 1 제어부(313)는 수신부(311)를 통하여 흐르는 직류 전류를 제거한다. 그리고 제 2 제어부(315)는 입력 신호(DC_IN)에 영향을 미치는 잡음이 제 2 노드(N2)의 전압 레벨에 영향을 미치지 않도록 제어한다.The DC voltage detection circuit 310 includes a first control unit 313 and a second control unit 315 unlike the conventional DC voltage detection circuit 310. The first controller 313 removes the DC current flowing through the receiver 311. The second controller 315 controls the noise that affects the input signal DC_IN not to affect the voltage level of the second node N2.

제 1 제어부(313)는 전원 전압(VDD)에 소스가 연결되고 게이트와 드레인이 서로 연결되는 다이오드 형 트랜지스터(DTR)이다. The first controller 313 is a diode-type transistor DTR having a source connected to the power supply voltage VDD and a gate and a drain connected to each other.

수신부(311)는 제 1 트랜지스터(TR1) 및 제 2 트랜지스터(TR2)를 구비한다. 제 1 트랜지스터(TR1)는 다이오드형 트랜지스터(DTR)의 드레인에 제 1 단이 연결되고 게이트로 입력 신호(DC_IN)를 수신하고 제 1 노드(N1)에 제 2 단이 연결된다.  The receiver 311 includes a first transistor TR1 and a second transistor TR2. The first transistor TR1 has a first terminal connected to a drain of the diode transistor DTR, receives an input signal DC_IN through a gate, and a second terminal connected to the first node N1.

제 2 트랜지스터(TR2)는 제 1 노드(N1)에 제 1 단이 연결되고 게이트로 입력 신호(DC_IN)를 수신하며 접지 전압(VSS)에 제 2 단이 연결된다. The second transistor TR2 has a first end connected to a first node N1, receives an input signal DC_IN through a gate, and a second end connected to a ground voltage VSS.

제 1 제어부(313)의 다이오드형 트랜지스터(DTR)에 의해서 제 1 트랜지스터(TR1)의 소스 전압은 전원 전압(VDD)에서 다이오드형 트랜지스터(DTR)의 문턱 전압(Vt)을 뺀 값이다.The source voltage of the first transistor TR1 is the value obtained by subtracting the threshold voltage Vt of the diode transistor DTR from the power supply voltage VDD by the diode transistor DTR of the first controller 313.

전원 전압(VDD)이 약 2.5 V 라고 가정하고 다이오드형 트랜지스터(DTR)의 문턱 전압이 약 0.7V 라고 가정하면 제 1 트랜지스터(TR1)의 소스 전압은 약 1.8V가 된다. 제 1 트랜지스터(TR1)의 문턱 전압도 약 0.7V라고 하면 제 1 트랜지스터(TR1)를 턴 온 시키기 위하여 제 1 트랜지스터(TR1)의 게이트로 인가되어야 하는 전압은 약 1.1 V 이하이어야 한다.Assuming that the power supply voltage VDD is about 2.5V and the threshold voltage of the diode-type transistor DTR is about 0.7V, the source voltage of the first transistor TR1 is about 1.8V. If the threshold voltage of the first transistor TR1 is also about 0.7V, the voltage that should be applied to the gate of the first transistor TR1 to turn on the first transistor TR1 should be about 1.1V or less.

그러나 입력 신호(DC_IN)가 기준 전압 신호라면 기준 전압 신호는 일반적으로 전원 전압의 전압 레벨의 1/2 레벨이므로 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨은 약 1.25V 의 전압 레벨이 된다. However, if the input signal DC_IN is a reference voltage signal, the reference voltage signal is generally 1/2 level of the voltage level of the power supply voltage, and thus the voltage level of the input signal DC_IN is about 1.25V.

입력 신호(DC_IN)가 1.25V의 전압 레벨로 인가되는 동안 제 1 트랜지스터(TR1)는 턴 오프 된다. 그리고, 제 2 트랜지스터(TR2)는 턴 온 되어 제 1 노드(N1)의 전압 레벨을 로우 레벨로 만든다. The first transistor TR1 is turned off while the input signal DC_IN is applied at a voltage level of 1.25V. The second transistor TR2 is turned on to make the voltage level of the first node N1 low.

그러면 인버터(INV)는 입력 제어 신호(INCTRL)를 하이 레벨로 버퍼 신호 발생부(320)로 인가한다. 입력 신호(DC_IN)가 1.25V의 전압 레벨로 인가되어 버퍼부(330)가 턴 온 되고 명령(CMD)이 전송되는 동안 제 1 트랜지스터(TR1)는 턴 오프 상태를 유지하므로 직류 전류가 발생되지 아니한다. The inverter INV applies the input control signal INCTRL to the buffer signal generator 320 at a high level. Since the first transistor TR1 is turned off while the input signal DC_IN is applied at a voltage level of 1.25V and the buffer unit 330 is turned on and the command CMD is transmitted, no DC current is generated. .

만일 전원 전압(VDD)의 전압 레벨이 높아진다면 제 1 제어부(313)의 다이오드 형 트랜지스터를 복수 개 연결하여 제 1 트랜지스터(TR1)의 소스 전압 레벨을 조절할 수 있다. If the voltage level of the power supply voltage VDD is increased, a plurality of diode transistors of the first controller 313 may be connected to adjust the source voltage level of the first transistor TR1.

제 2 제어부(315)는 제 2 노드(N2)의 전압 특성이 히스테리시스(Hysteresis) 특성을 가지도록 제어한다. 제 2 제어부(315)는 전원 전압(VDD)에 제 1 단이 연결되고 게이트가 제 2 노드(N2)에 연결되며 제 2 단이 제 1 노드(N1)에 연결되는 피모스 트랜지스터일 수 있다. The second controller 315 controls the voltage characteristic of the second node N2 to have hysteresis characteristics. The second controller 315 may be a PMOS transistor having a first terminal connected to the power supply voltage VDD, a gate connected to the second node N2, and a second terminal connected to the first node N1.

제 2 제어부(315)는 제 2 노드(N2)의 전압 특성이 도 4에 도시된 특성을 가지도록 한다. 도 4에 도시된 전압 특성을 히스테리시스 특성이라고 한다.The second controller 315 allows the voltage characteristic of the second node N2 to have the characteristic shown in FIG. 4. The voltage characteristic shown in FIG. 4 is called hysteresis characteristic.

입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 증가됨에 따라 제 2 노드(N2)의 전압 레벨이 하이 레벨로 변화되는 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨을 VH라고 할 경우, VH=VDD-2*Vtp(Vtp는 다이오드형 트랜지스터(DTR)와 제 1 트랜지스터(TR1)의 문턱 전압이다.)가 된다. When the voltage level of the input signal DC_IN where the voltage level of the second node N2 changes to a high level as the voltage level of the input signal DC_IN is increased is VH, VH = VDD-2 * Vtp (Vtp Is the threshold voltage of the diode-type transistor DTR and the first transistor TR1.

그리고, 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 낮아짐에 따라 제 2 노드(N2)의 전압 레벨이 로우 레벨로 변화되는 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨을 VL라고 할 경우, VL 은 제 2 트랜지스터(TR2)와 제 2 제어부(315)의 트랜지스터(PTR)의 사이즈 비율에 따라 결정된다. In addition, when the voltage level of the input signal DC_IN where the voltage level of the second node N2 changes to a low level as the voltage level of the input signal DC_IN decreases, VL is the second transistor TR2. ) And the size ratio of the transistor PTR of the second control unit 315.

도 1의 종래의 직류 전압 검출 회로(110)는 도 2에 도시된 것처럼 제 2 노드(N2)의 전압 레벨이 하이 레벨로 변화되거나 로우 레벨로 변화되는 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 일정하다.In the conventional DC voltage detection circuit 110 of FIG. 1, as shown in FIG. 2, the voltage level of the input signal DC_IN in which the voltage level of the second node N2 changes to a high level or changes to a low level is constant. .

따라서, 제 2 노드(N2)의 전압 레벨을 하이 레벨로 만든 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 조금만 낮아져도 제 2 노드(N2)의 전압 레벨이 로우 레벨로 변동될 가능성이 크다. 즉, 잡음에 의하여 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 조금만 변화되어도 제 2 노드(N2)의 전압 레벨도 변화된다.Therefore, even if the voltage level of the input signal DC_IN which makes the voltage level of the second node N2 high is slightly lowered, there is a high possibility that the voltage level of the second node N2 is changed to a low level. That is, even if the voltage level of the input signal DC_IN is slightly changed by noise, the voltage level of the second node N2 is also changed.

그러나 도 3의 직류 전압 검출 회로(310)는 도 4에 도시된 것처럼 제 2 노드(N2)의 전압 레벨이 하이 레벨로 변화되는 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨(VH)과 제 2 노드(N2)의 전압 레벨이 로우 레벨로 변화되는 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨(VL)이 서로 다르다. However, the DC voltage detection circuit 310 of FIG. 3 has a voltage level VH and a second node N2 of the input signal DC_IN where the voltage level of the second node N2 changes to a high level as shown in FIG. 4. ) Is different from the voltage level VL of the input signal DC_IN in which the voltage level of the signal is changed to the low level.

따라서, 제 2 노드(N2)의 전압 레벨을 하이 레벨로 만든 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨(VH)이 잡음에 의하여 VL 까지 낮아지더라도 제 2 노드(N2)의 전압 레벨이 하이 레벨을 유지한다. 즉, 제 2 제어부(315)의 트랜지스터(PTR)에 의해서 직류 전압 검출 회로(310)는 잡음의 영향을 덜 받는다. Therefore, even if the voltage level VH of the input signal DC_IN which makes the voltage level of the second node N2 high is lowered to VL due to noise, the voltage level of the second node N2 remains high. do. That is, the DC voltage detection circuit 310 is less affected by noise by the transistor PTR of the second controller 315.

제 2 제어부(315)는 도 3에 도시된 것과 달리 접지 전압(VSS)에 제 1 단이 연결되고 게이트가 제 2 노드(N2)에 연결되며 제 2 단이 제 1 노드(N1)에 연결되는 엔모스 트랜지스터(미도시)일 수 있다.Unlike in FIG. 3, the second controller 315 has a first end connected to the ground voltage VSS, a gate connected to the second node N2, and a second end connected to the first node N1. It may be an NMOS transistor (not shown).

제 2 제어부(315)가 엔모스 트랜지스터(미도시) 인 경우에도 제 2 노드(N2)의 전압 레벨을 제어하는 원리는 제 2 제어부(315)가 피모스 트랜지스터(PTR)인 경우와 동일하므로 설명을 생략한다. Even when the second control unit 315 is an NMOS transistor (not shown), the principle of controlling the voltage level of the second node N2 is the same as that of the case where the second control unit 315 is the PMOS transistor PTR. Omit.

도 5(A)는 도 3의 입력 신호의 전압 레벨과 제 1 노드의 전압 레벨의 관계를 설명하는 도면이다. FIG. 5A is a diagram illustrating a relationship between the voltage level of the input signal of FIG. 3 and the voltage level of the first node.

도 5(B)는 입력 신호의 전압 레벨에 따라 직류 전류가 제거되는 것을 설명하는 도면이다. FIG. 5B is a diagram illustrating the removal of the direct current according to the voltage level of the input signal.

도 5(A)를 참조하면, 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 낮아지는 경우 종래의 직류 전압 검출 회로(110)의 제 1 노드(CON_N1)의 전압 레벨이 하이 레벨로 변화되는 순간까지의 전압 마진이 (A)로 표시되어 있다. Referring to FIG. 5A, when the voltage level of the input signal DC_IN decreases, the voltage until the moment when the voltage level of the first node CON_N1 of the conventional DC voltage detection circuit 110 changes to a high level. Margin is indicated by (A).

제 1 노드(N1)의 전압 레벨과 제 2 노드(N2)의 전압 레벨은 위상만 반대이므로 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨과 제 1 노드(CON_N1)의 전압 레벨과의 관계는 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨과 제 2 노드(N2)의 전압 레벨과의 관계와 동일하다. Since the voltage level of the first node N1 and the voltage level of the second node N2 are only opposite in phase, the relationship between the voltage level of the input signal DC_IN and the voltage level of the first node CON_N1 is determined by the input signal DC_IN. Is the same as the relationship between the voltage level of the circuit and the voltage level of the second node N2.

입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 낮아지는 경우 본 발명의 실시예에 따른 직류 전압 검출 회로(310)의 제 1 노드(PRO_N1)의 전압 레벨이 하이 레벨로 변화되는 순간까지의 전압 마진이 (B)로 표시되어 있다. When the voltage level of the input signal DC_IN is lowered, the voltage margin until the moment when the voltage level of the first node PRO_N1 of the DC voltage detection circuit 310 changes to the high level is (B). Are indicated by).

본 발명의 실시예에 따른 직류 전압 검출 회로(310)의 전압 마진(B)이 종래의 직류 전압 검출 회로(110)의 전압 마진(A)보다 크므로 본 발명의 실시예에 따른 직류 전압 검출 회로(310)가 잡음에 더 강한 것을 알 수 있다. Since the voltage margin B of the DC voltage detection circuit 310 according to the embodiment of the present invention is larger than the voltage margin A of the conventional DC voltage detection circuit 110, the DC voltage detection circuit according to the embodiment of the present invention. It can be seen that 310 is more resistant to noise.

도 5(B)를 참조하면, 입력 신호(DC_IN)의 전압 레벨이 일정한 전압 레벨 이상으로 유지되어 제 2 트랜지스터(TR2)가 턴 온 되는 동안(C) 직류 전류가 매우 감소되는 것을 알 수 있다. Referring to FIG. 5B, it can be seen that the DC current is greatly reduced while the second transistor TR2 is turned on (C) because the voltage level of the input signal DC_IN is maintained above a certain voltage level.

이상에서와 같이 도면과 명세서에서 최적 실시예가 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.As described above, optimal embodiments have been disclosed in the drawings and the specification. Although specific terms have been used herein, they are used only for the purpose of describing the present invention and are not intended to limit the scope of the invention as defined in the claims or the claims. Therefore, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.

상술한 바와 같이 본 발명에 따른 직류 전압 검출 회로 및 직류 전압 검출 회로를 구비하는 입력 버퍼 회로는 불필요하게 소모되는 직류 전류를 줄이고 잡음에 의해서 입력 신호의 전압 레벨이 변동되어도 어느 정도 잡음의 영향을 제거할 수 있는 장점이 있다. As described above, the input buffer circuit including the DC voltage detection circuit and the DC voltage detection circuit according to the present invention reduces the unnecessary DC current and removes the influence of noise to some extent even if the voltage level of the input signal is changed by noise. There is an advantage to this.

본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS In order to better understand the drawings cited in the detailed description of the invention, a brief description of each drawing is provided.

도 1은 종래의 직류 전압 검출 회로를 구비하는 입력 버퍼 회로를 나타내는 회로도이다.1 is a circuit diagram showing an input buffer circuit including a conventional DC voltage detection circuit.

도 2는 도 1의 입력 신호의 전압 레벨과 제 2 노드 전압 레벨의 관계를 설명하는 도면이다.FIG. 2 is a diagram illustrating a relationship between the voltage level of the input signal of FIG. 1 and the second node voltage level.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 직류 전압 검출 회로를 구비하는 입력 버퍼 회로를 나타내는 회로도이다.3 is a circuit diagram illustrating an input buffer circuit including a DC voltage detection circuit according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4는 도 3의 입력 신호의 전압 레벨과 제 2 노드의 전압 레벨의 관계를 설명하는 도면이다. 4 is a diagram illustrating a relationship between the voltage level of the input signal of FIG. 3 and the voltage level of the second node.

도 5(A)는 도 3의 입력 신호의 전압 레벨과 제 1 노드의 전압 레벨의 관계를 설명하는 도면이다. FIG. 5A is a diagram illustrating a relationship between the voltage level of the input signal of FIG. 3 and the voltage level of the first node.

도 5(B)는 입력 신호의 전압 레벨에 따라 직류 전류가 제거되는 것을 설명하는 도면이다.FIG. 5B is a diagram illustrating the removal of the direct current according to the voltage level of the input signal.

Claims (18)

입력 신호를 수신하여 제 1 노드의 전압 레벨을 제어하는 수신부 ;A receiver which receives an input signal and controls a voltage level of the first node; 상기 입력 신호의 전압 레벨이 소정의 전압 레벨 이상이 되면 상기 수신부를 통하여 흐르는 직류 전류를 제거하는 제 1 제어부 ;A first control unit which removes a DC current flowing through the receiving unit when the voltage level of the input signal is greater than or equal to a predetermined voltage level; 상기 제 1 노드의 전압 레벨과 반대되는 전압 레벨을 가지는 제 2 노드 ; 및A second node having a voltage level opposite to that of the first node; And 상기 제 2 노드의 전압 특성이 히스테리시스(Hysteresis) 특성을 가지도록 제어하는 제 2 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 직류 전압 검출 회로.And a second controller configured to control the voltage characteristic of the second node to have a hysteresis characteristic. 제 1항에 있어서, 상기 제 1 제어부는,The method of claim 1, wherein the first control unit, 전원 전압에 소스가 연결되고 게이트와 드레인이 서로 연결되는 다이오드 형 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 직류 전압 검출 회로.A DC voltage detection circuit comprising a diode-type transistor having a source connected to a power supply voltage and a gate and a drain connected to each other. 제 2항에 있어서, 상기 수신부는,The method of claim 2, wherein the receiving unit, 상기 다이오드형 트랜지스터의 드레인에 제 1 단이 연결되고 게이트로 상기 입력 신호를 수신하고 상기 제 1 노드에 제 2 단이 연결되는 제 1 트랜지스터 ; 및 A first transistor connected to a drain of the diode transistor, a first transistor connected to a gate thereof, and a second terminal connected to the first node; And 상기 제 1 노드에 제 1 단이 연결되고 게이트로 상기 입력 신호를 수신하며 접지 전압에 제 2 단이 연결되는 제 2 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 직류 전압 검출 회로.And a second transistor connected to the first node, receiving the input signal through a gate, and a second transistor connected to a ground voltage. 제 3항에 있어서, 상기 제 2 제어부는,The method of claim 3, wherein the second control unit, 전원 전압에 제 1 단이 연결되고 게이트가 상기 제 2 노드에 연결되며 제 2 단이 상기 제 1 노드에 연결되는 피모스 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 직류 전압 검출 회로.And a PMOS transistor having a first end connected to a power supply voltage, a gate connected to the second node, and a second end connected to the first node. 제 4항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 피모스 트랜지스터의 사이즈와 상기 제 2 트랜지스터의 사이즈의 비율에 따라 상기 제 2 노드의 전압 특성이 제어되는 것을 특징으로 하는 직류 전압 검출 회로.And a voltage characteristic of the second node is controlled according to a ratio of the size of the PMOS transistor to the size of the second transistor. 제 3항에 있어서, 상기 제 2 제어부는, The method of claim 3, wherein the second control unit, 접지 전압에 제 1 단이 연결되고 게이트가 상기 제 2 노드에 연결되며 제 2 단이 상기 제 1 노드에 연결되는 엔모스 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 직류 전압 검출 회로.And an NMOS transistor, wherein a first end is connected to a ground voltage, a gate is connected to the second node, and a second end is connected to the first node. 제 6항에 있어서, The method of claim 6, 상기 엔모스 트랜지스터의 사이즈와 상기 제 2 트랜지스터의 사이즈의 비율에 따라 상기 제 2 노드의 전압 특성이 제어되는 것을 특징으로 하는 직류 전압 검출 회로. And a voltage characteristic of the second node is controlled according to a ratio of the size of the NMOS transistor to the size of the second transistor. 제 1항에 있어서, 상기 제 1 제어부는,The method of claim 1, wherein the first control unit, 게이트와 드레인이 서로 연결되는 복수개의 다이오드형 트랜지스터가 전원 전압에 직렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 직류 전압 검출 회로. A DC voltage detection circuit, characterized in that a plurality of diode-type transistors having a gate and a drain connected to each other are connected in series with a power supply voltage. 입력 신호의 전압 레벨이 소정의 전압 레벨 이상이 되면 입력 제어 신호를 발생하는 직류 전압 검출 회로 ;A DC voltage detection circuit for generating an input control signal when the voltage level of the input signal becomes equal to or higher than a predetermined voltage level; 상기 입력 제어 신호 및 버퍼 제어 신호에 응답하여 버퍼 신호를 발생하는 버퍼 신호 발생부 ; 및 A buffer signal generator for generating a buffer signal in response to the input control signal and the buffer control signal; And 명령(command)을 수신하고 상기 버퍼 신호에 응답하여 상기 명령을 출력하는 버퍼부를 구비하는 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로. And a buffer unit for receiving a command and outputting the command in response to the buffer signal. 제 9항에 있어서, 상기 버퍼 신호 발생부는,The method of claim 9, wherein the buffer signal generation unit, 상기 입력 제어 신호 및 상기 버퍼 제어 신호가 모두 활성화되면 상기 버퍼 신호를 활성화시키는 반전 논리곱 수단인 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로. And an inverse AND function for activating the buffer signal when both the input control signal and the buffer control signal are activated. 제 9항에 있어서, 상기 직류 전압 검출 회로는,The method of claim 9, wherein the DC voltage detection circuit, 상기 입력 신호를 수신하여 제 1 노드의 전압 레벨을 제어하는 수신부 ;A receiver which receives the input signal and controls a voltage level of a first node; 상기 입력 신호의 전압 레벨이 소정의 전압 레벨 이상이 되면 상기 수신부를 통하여 흐르는 직류 전류를 제거하는 제 1 제어부 ;A first control unit which removes a DC current flowing through the receiving unit when the voltage level of the input signal is greater than or equal to a predetermined voltage level; 상기 제 1 노드의 전압 레벨과 반대되는 전압 레벨을 가지는 상기 입력 제어 신호를 발생하는 제 2 노드 ; 및A second node for generating the input control signal having a voltage level opposite to that of the first node; And 상기 제 2 노드의 전압 특성이 히스테리시스(Hysteresis) 특성을 가지도록 제어하는 제 2 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로. And a second controller for controlling the voltage characteristic of the second node to have a hysteresis characteristic. 제 11항에 있어서, 상기 제 1 제어부는,The method of claim 11, wherein the first control unit, 전원 전압에 소스가 연결되고 게이트와 드레인이 서로 연결되는 다이오드 형 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.An input buffer circuit, comprising: a diode-type transistor having a source connected to a power supply voltage and a gate and a drain connected to each other. 제 12항에 있어서, 상기 수신부는,The method of claim 12, wherein the receiving unit, 상기 다이오드형 트랜지스터의 드레인에 제 1 단이 연결되고 게이트로 상기 입력 신호를 수신하고 상기 제 1 노드에 제 2 단이 연결되는 제 1 트랜지스터 ; 및 A first transistor connected to a drain of the diode transistor, a first transistor connected to a gate thereof, and a second terminal connected to the first node; And 상기 제 1 노드에 제 1 단이 연결되고 게이트로 상기 입력 신호를 수신하며 접지 전압에 제 2 단이 연결되는 제 2 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.And a second transistor connected to the first node, receiving the input signal through a gate, and a second transistor connected to a ground voltage. 제 13항에 있어서, 상기 제 2 제어부는,The method of claim 13, wherein the second control unit, 전원 전압에 제 1 단이 연결되고 게이트가 상기 제 2 노드에 연결되며 제 2 단이 상기 제 1 노드에 연결되는 피모스 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.And a PMOS transistor having a first end connected to a power supply voltage, a gate connected to the second node, and a second end connected to the first node. 제 14항에 있어서, The method of claim 14, 상기 피모스 트랜지스터의 사이즈와 상기 제 2 트랜지스터의 사이즈의 비율에 따라 상기 제 2 노드의 전압 특성이 제어되는 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.And the voltage characteristic of the second node is controlled according to a ratio of the size of the PMOS transistor to the size of the second transistor. 제 13항에 있어서, 상기 제 2 제어부는,The method of claim 13, wherein the second control unit, 접지 전압에 제 1 단이 연결되고 게이트가 상기 제 2 노드에 연결되며 제 2 단이 상기 제 1 노드에 연결되는 엔모스 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.And an NMOS transistor having a first end connected to a ground voltage, a gate connected to the second node, and a second end connected to the first node. 제 16항에 있어서, The method of claim 16, 상기 엔모스 트랜지스터의 사이즈와 상기 제 2 트랜지스터의 사이즈의 비율에 따라 상기 제 2 노드의 전압 특성이 제어되는 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.And the voltage characteristic of the second node is controlled according to a ratio of the size of the NMOS transistor to the size of the second transistor. 제 11항에 있어서, 상기 제 1 제어부는,The method of claim 11, wherein the first control unit, 게이트와 드레인이 서로 연결되는 복수개의 다이오드형 트랜지스터가 전원 전압에 직렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로. An input buffer circuit, characterized in that a plurality of diode-type transistors having a gate and a drain connected to each other are connected in series with a power supply voltage.
KR1020030087979A 2003-12-05 2003-12-05 Input buffer circuit having direct current voltage detecting circuit KR20050054594A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030087979A KR20050054594A (en) 2003-12-05 2003-12-05 Input buffer circuit having direct current voltage detecting circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030087979A KR20050054594A (en) 2003-12-05 2003-12-05 Input buffer circuit having direct current voltage detecting circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20050054594A true KR20050054594A (en) 2005-06-10

Family

ID=37249857

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020030087979A KR20050054594A (en) 2003-12-05 2003-12-05 Input buffer circuit having direct current voltage detecting circuit

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20050054594A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100648537B1 (en) Semiconductor integrated circuit and method for generating internal supply voltage in semiconductor integrated circuit
US7307469B2 (en) Step-down power supply
US5818258A (en) Integrated circuit output buffers having duration sensitive output voltage, and related buffering methods
KR100240423B1 (en) The level detecting circuit of semiconductor device
KR100735752B1 (en) Swing limiter
US6101137A (en) Semiconductor memory device having delay locked loop (DLL)
KR100384396B1 (en) Improved data output buffer
US7583110B2 (en) High-speed, low-power input buffer for integrated circuit devices
KR20020092117A (en) Data output buffer for detecting variation of supply voltage
KR20050120369A (en) Power-up reset circuit of semiconductor memory device
US5990708A (en) Differential input buffer using local reference voltage and method of construction
US5523978A (en) Supply voltage detecting circuit of a semiconductor memory device
KR0157885B1 (en) Power supply detecting circuit
JP2006146868A (en) Internal voltage generator for semiconductor device
US8395420B2 (en) Input buffer circuit
US20040017238A1 (en) Data output circuit for reducing skew of data signal
KR20050054594A (en) Input buffer circuit having direct current voltage detecting circuit
KR100196331B1 (en) Trip regulation circuit of input buffer
JP2851211B2 (en) Input buffer circuit
KR100406579B1 (en) Circuit of output driver in rambus dram
KR100234373B1 (en) Input buffer for semiconductor memory device
KR101051794B1 (en) Multi-level input / output circuit, medium potential generator circuit and potential comparison circuit
KR20030032178A (en) Data out driver for controlling the voltage level of output data
KR100451991B1 (en) Internal power voltage generating circuit
KR100263675B1 (en) Output buffer in semiconductor memory device

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination