KR20050032854A - Finger printer recognition sensor and the fabrication method - Google Patents

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KR20050032854A
KR20050032854A KR1020030068831A KR20030068831A KR20050032854A KR 20050032854 A KR20050032854 A KR 20050032854A KR 1020030068831 A KR1020030068831 A KR 1020030068831A KR 20030068831 A KR20030068831 A KR 20030068831A KR 20050032854 A KR20050032854 A KR 20050032854A
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이돈희
이헌민
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엘지전자 주식회사
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/004Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points

Abstract

A fingerprint recognition sensor and a fabrication method are provided to increase the corrosion resistance and abrasion resistance of a fingerprint recognition sensor of a DC(Direct Current) restive method so as to increase the reliability. A fingerprint recognition sensor includes a substrate(401), an electrode(402), a passivation conductor layer(403), and an insulated shield(404). The electrode(402) is formed on the substrate(401) in a predetermined pattern. The passivation conductor layer(403) is formed on the electrode(402). The insulated shield(404) is formed on the passivation conductor layer(403) in planarization.

Description

지문인식 센서 및 그 제조방법{FINGER PRINTER RECOGNITION SENSOR AND THE FABRICATION METHOD}Fingerprint sensor and its manufacturing method {FINGER PRINTER RECOGNITION SENSOR AND THE FABRICATION METHOD}

본 발명은 지문인식 센서 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 특히 DC 레지스티브 방식 지문인식 센서에 내식성과 내마모성을 좋게 하여 신뢰성을 향상시킬 수 있는 지문인식 센서 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a fingerprint recognition sensor and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a fingerprint recognition sensor and a method for manufacturing the same, which improve reliability by improving corrosion resistance and wear resistance in a DC resistive fingerprint recognition sensor.

일반적으로 현재 제품화 수준에 이른 지문인식 센서는 지문의 측정 방식에 따라 AC 전계(electric field) 방식, DC 캐패시티브(Capacitive) 방식, 써멀 스위프(Thermal sweep) 방식 그리고 옵티컬(Optical) 방식의 크게 4 가지로 구분해 볼 수 있다.Generally, the fingerprint sensor that has reached the level of commercialization is largely divided into AC electric field, DC capacitive, thermal sweep, and optical methods according to the fingerprint measurement method. It can be divided into branches.

이 중에서 상기 옵티컬(Optical) 방식은 감지 신뢰성 측면에서는 강점이 있지만 광학계를 기본으로 사용하기 때문에 그 크기가 상대적으로 매우 크다는 단점이 있기 때문에 다른 3 가지 방식의 지문인식 센서와는 그 응용 제품에 있어서 큰 차이가 난다. Of these, the optical method has strength in terms of detection reliability, but since the optical system is used as a base, the size of the optical method is relatively large. It makes a difference.

또한, 지문인식 센서부, 센서 구동회로, 및 지문인식 알고리즘(algorism)처리부를 단일 칩(chip) 상에 구현 가능한 AC 전계(electric field) 방식, DC 캐패시티브(Capacitive) 방식, 써멀 스위프(Thermal sweep) 방식과는 그 기술적인 측면에 있어서 옵티컬(optical) 방식이 매우 다르기 때문에 주로 AC 전계(electric field) 방식, DC 캐패시티브(Capacitive) 방식 그리고 써멀 스위프(Thermal sweep) 방식을 위주로 기술하고자 한다.In addition, an AC electric field method, a DC capacitive method, and a thermal sweep capable of implementing a fingerprint sensor unit, a sensor driving circuit, and a fingerprint recognition algorithm processing unit on a single chip. Since the optical method is very different from the technical method in terms of the sweep method, mainly the AC electric field method, the DC capacitive method, and the thermal sweep method will be mainly described. .

도 1a는 AC 전계(electric field) 방식을 이용한 지문인식 센서를 개략적으로 도시한 도면이다. 이에 도시된 바와 같이, 지문의 내부에 존재하는 컨덕팅(conducting)부를 하나의 단자로 하고, 지문인식 센서 내에 존재하는 또 다른 하나의 단자를 이용하여 AC 전계(electric field)를 발생시킨다.FIG. 1A is a diagram schematically illustrating a fingerprint sensor using an AC electric field method. As shown therein, the conducting portion existing inside the fingerprint is used as one terminal, and another terminal existing in the fingerprint sensor is used to generate an AC electric field.

그리고, 지문 인식 센서의 표면에 안테나(antenna) 역할을 하는 금속 패턴 어레이(pattern array)를 배열하여 지문의 산과 골에 따라 감지되는 AC 전계(electric field)의 차이를 측정함으로써 지문을 인식하게 된다.Then, a fingerprint pattern is recognized by arranging a metal pattern array serving as an antenna on the surface of the fingerprint recognition sensor and measuring a difference in an AC electric field sensed according to the acid and valley of the fingerprint.

이 때, 금속 패턴(pattern array)은 절연막으로 보호되며 이 절연막에 의해 외부의 이물질의 접촉에 의해 생길 수 있는 센서의 손상을 방지해 주는 역할을 하게 된다. At this time, the metal pattern (pattern array) is protected by an insulating film and serves to prevent damage to the sensor that may be caused by the contact of the foreign matter by the insulating film.

이러한 AC 전계(electric field) 방식 지문인식 센서는 이물질이 센서의 표면에 묻더라도 AC 전계(electric field)가 잘 투과할 수 있는 정도의 캐패시턴스(Capacitance)와 인덕턴스(Inductance)를 갖는 다면 전혀 문제가 되지 않기 때문에 비교적 이물질에 의한 오염에 강한 특징을 보인다. This AC electric field fingerprint sensor is not a problem if it has capacitance and inductance that the AC field can penetrate well even if foreign matter gets on the surface of the sensor. Because of this, it is relatively resistant to contamination by foreign substances.

그러나, AC 전계(electric field) 방식의 경우 지문의 산과 골에 의한 전계(electric field)의 변화를 크게 하기 위해서는 인가하는 AC 전계(electric field)의 크기가 커야 하고 신호 처리를 위한 부가적인 회로가 복잡하기 때문에 소모전력이 상대적으로 높다는 단점이 있다. However, in the case of the AC electric field method, in order to increase the change of the electric field due to the acid and valley of the fingerprint, the size of the applied AC electric field must be large and additional circuits for signal processing are complicated. Therefore, there is a disadvantage that the power consumption is relatively high.

도 1b는 DC 캐패시티브(Capacitive) 방식을 이용한 지문인식 센서를 개략적으로 도시한 도면이다. 이에 도시된 바와 같이, 이 방식은 패턴(pattern) 되어진 금속 전극이 어레이(array)로 배치된다는 측면에서 AC 전계(electric field) 방식과 별 차이가 없다. FIG. 1B schematically illustrates a fingerprint sensor using a DC capacitive method. As shown here, this method is not much different from the AC electric field method in that the patterned metal electrodes are arranged in an array.

그러나, 지문이 센서의 표면에 닿았을 때, 지문의 골 부위가 닿으면 유전율이 εo의 매질인 공기(air)에 의한 캐패시턴스(capacitance) 변화를 읽게 되고, 지문의 산 부분이 닿으면 유전율이 ε인 사람의 표피에 의하여 생기는 캐패시턴스 (capacitance)의 변화를 읽게 된다.However, when the fingerprint touches the surface of the sensor, when the bone region of the fingerprint touches, the change in capacitance caused by air, which is a medium of ε o , is read. The change in capacitance caused by the epidermis of a person of ε is read.

이 때, 발생하는 산과 골에 의한 캐패시턴스의 변화는 수십에서 수백 pF 정도의 변화가 발생하게 된다. 이러한 캐패시턴스의 변화를 읽는 구동회로는 여러 가지 다양한 방식 들이 가능하다.At this time, the change of capacitance caused by the generated hills and valleys is a change of about tens to hundreds of pF. There are many different ways to drive circuitry that reads this change in capacitance.

이러한 DC 캐패시턴스 방식 지문인식 센서는 사람의 손에 의한 센서의 오염이 발생하여 잔상이 발생하기 때문에 주기적으로 지문인식 센서의 표면을 세정(cleaning)해야 하며, 전기 상태 방전(Electro Static Discharge : ESD)에 매우 취약하다는 단점이 있다. Since the DC capacitance fingerprint sensor may cause afterimages due to contamination of the sensor by a human hand, the surface of the fingerprint sensor should be periodically cleaned and prevented from electrostatic discharge (ESD). The disadvantage is that it is very vulnerable.

또한, 모사 지문을 사용하여도 실제 사람의 지문과 구분할 수 없다는 단점이 있다. In addition, even using a simulated fingerprint has a disadvantage that it can not be distinguished from the fingerprint of a real person.

도 1c는 써멀 스위프(Thermal sweep) 방식을 이용한 지문인식 센서를 도시한 도면이다. 이에 도시된 바와 같이, 이 방식은 단위 센서들이 리니어 어레이(linear array) 형태로 배치되며, 단위 센서들은 사람의 지문이 닿았을 때 지문의 골과 산에 따라서 방사되는 열의 차이를 읽음으로써 지문을 인식하게 된다. FIG. 1C is a diagram illustrating a fingerprint sensor using a thermal sweep method. As shown therein, the unit sensors are arranged in a linear array, and the unit sensors recognize the fingerprint by reading the difference in heat radiated according to the valley and acid of the fingerprint when the human fingerprint is touched. Done.

이 때, 열을 감지하는 센서의 방식은 일반적으로 초전형이다. 이러한 초전형 열 감지 방식이 지문인식에 사용 될 수 있는 것은 단위 센서의 구조를 구조적으로 안정한 상태로 구현 할 수 있기 때문이다. At this time, the method of sensing the heat is generally pyroelectric. This pyroelectric thermal sensing method can be used for fingerprint recognition because the structure of the unit sensor can be implemented in a structurally stable state.

상기 써멀 스위프(Thermal sweep) 지문인식 센서 방식은 주변 온도에 민감하고 좋은 지문 상을 얻기 위해서는 스위프(sweep) 동작에 익숙해져야 한다는 단점이 있다.The thermal sweep fingerprint sensor method has a disadvantage in that it is sensitive to ambient temperature and needs to be familiar with sweep operation in order to obtain a good fingerprint image.

따라서, 최근의 지문인식 센서는 인체 지문의 저항을 측정하는 DC 레지스티브 방식이 적용된다.Therefore, the recent fingerprint recognition sensor is applied to the DC resistive method for measuring the resistance of the human fingerprint.

도 2a 내지 도 2c는 종래에 따른 DC 레지스티브 방식에 의한 지문인식 센서의 단위 지문인식 센서의 여러 가지 전극 형태를 도시한 도면이다. 이에 도시된 바와 같이, 일반적으로 지문인식 센서 어레이(array)는 그 해상도에 따라서 단위 지문인식 센서들이 n×n 으로 배열된 형태를 갖는다. 2A to 2C illustrate various types of electrodes of a unit fingerprint recognition sensor of a fingerprint sensor according to a conventional DC resistive method. As shown in the drawing, generally, a fingerprint sensor array has a form in which unit fingerprint sensors are arranged in n × n according to the resolution thereof.

상기 n×n 배열이 500 dpi 이상의 해상도를 유지하기 위해서는 단위 지문인식 센서의 크기가 50×50 ㎛2 정도의 크기가 되어야 한다. 이 지문인식 센서 어레이(array)의 하부에는 센서의 리드-아웃(read-out) 회로가 심어져 있고, 읽혀진 신호는 배선을 통해 IC로 읽히며 이것을 통해 특정 기능을 수행하는 것이 가능하게 된다.In order for the n × n array to maintain a resolution of 500 dpi or more, the size of the unit fingerprint sensor should be about 50 × 50 μm 2 . The read-out circuit of the sensor is planted in the lower part of the fingerprint sensor array, and the read signal is read by the IC through the wiring, and it becomes possible to perform a specific function.

두 개의 포트(port)로 구성된 지문인식 센서의 구동 방식은 상기 도 2a 및 도 2b와 같은 콤 형태는 지문이 접촉되지 않았을 경우 DC에서는 전기적으로 오픈(open)을 유지하게 된다. In the driving method of the fingerprint recognition sensor composed of two ports, the comb shape as shown in FIGS. 2A and 2B maintains an electrical open in DC when the fingerprint is not contacted.

상기 도 2c와 같이 패턴드 전극형태는 지문이 접촉되지 않았을 경우, 매우 큰 저항을 갖게 된다. 이러한 전극 형태에 지문의 접촉이 이루어지면 병렬로 저항이 덧붙여지는 형태가 된다. 이 때 지문에 의한 저항의 크기는 지문의 습기 상태에 따라서 또는 개인에 따라서 차이가 있을 수 있으며, 그 크기는 보통 1-100 kΩ 정도의 저항 값을 갖게 된다. As shown in FIG. 2C, when the fingerprint is not contacted, the patterned electrode has a very large resistance. When a contact of a fingerprint is made to such an electrode form, a resistance is added in parallel. At this time, the magnitude of the resistance by the fingerprint may vary depending on the moisture state of the fingerprint or the individual, and the magnitude of the resistance is usually about 1-100 kΩ.

따라서 지문의 접촉이 이루어지면, 전기적으로 오픈(open)이나 매우 큰 저항 값에서 전극의 형태에 따라 지문 접촉에 따른 저항 값의 변화는 매우 큰 값을 갖게 된다. Therefore, when the contact of the fingerprint is made, the change in the resistance value according to the fingerprint contact according to the shape of the electrode at the electrically open (open) or very large resistance value has a very large value.

한편, 도 3은 종래에 따른 DC 레지스티브 방식에 의한 지문인식 센서를 도시한 단면도이다. 이에 도시된 바와 같이, 기판(301)과; 상기 기판(301)상에 소정패턴으로 형성된 전극(302)과; 상기 전극(302)의 소정패턴사이에 형성된 절연 보호막(303)을 포함하는 구성이 된다. On the other hand, Figure 3 is a cross-sectional view showing a fingerprint recognition sensor by a conventional DC resistive method. As shown therein, the substrate 301; An electrode 302 formed in a predetermined pattern on the substrate 301; The insulating protective film 303 is formed between the predetermined pattern of the electrode 302.

따라서, 상기와 같이 형성된 전극(302)에 지문의 접촉 유무에 따른 단위 지문인식 센서의 저항 값의 변화를 읽음으로써 지문의 감지가 가능하게 된다. Therefore, the fingerprint can be detected by reading a change in the resistance value of the unit fingerprint recognition sensor according to whether or not the contact of the fingerprint to the electrode 302 formed as described above.

그러나, 상기 지문인식 센서를 구성할 경우 인체 지문의 저항 측정을 위해 지문과 접촉하는 물질이 금속물질이 형성되어야 하고, 이러한 금속 물질은 인체 지문과의 장기적인 접촉이 일어나는 환경을 견딜 수 있는 내식성과 내마모성이 충분히 좋은 금속 물질이 없기 때문에 지문인식 센서의 장기 신뢰성 측면에서 문제점이 발생된다. However, when the fingerprint sensor is configured, a metal material must be formed in contact with the fingerprint to measure the resistance of the human fingerprint, and the metal material has corrosion resistance and wear resistance that can withstand an environment in which long-term contact with the human fingerprint occurs. The lack of this good enough metallic material creates problems in terms of long-term reliability of the fingerprint sensor.

본 발명은, DC 레지스티브 방식 지문인식 센서에 내식성과 내마모성을 좋게 하여 신뢰성을 향상시킬 수 있는 지문인식 센서 및 그 제조방법을 제공함에 그 목적이 있다.It is an object of the present invention to provide a fingerprint recognition sensor and a method of manufacturing the same which can improve reliability by improving corrosion resistance and wear resistance of a DC resistive fingerprint recognition sensor.

상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 지문인식 센서는, Fingerprint recognition sensor according to the present invention to achieve the above object,

기판과;A substrate;

상기 기판상에 소정패턴으로 형성된 전극과; An electrode formed in a predetermined pattern on the substrate;

상기 전극층상에 형성된 패시베이션 컨덕터층과; A passivation conductor layer formed on said electrode layer;

상기 전극 및 상기 패시베이션의 소정패턴사이에 형성된 절연 보호막을 포함하는 점에 그 특징이 있다. It is characterized in that it comprises an insulating protective film formed between the electrode and the predetermined pattern of the passivation.

또한, 상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 지문인식 센서의 제조방법은, In addition, the manufacturing method of the fingerprint sensor according to the present invention in order to achieve the above object,

기판상에 금속막을 증착하는 단계와;Depositing a metal film on the substrate;

상기 증착된 금속막상에 패시베이션 컨덕터층을 증착하는 단계와;Depositing a passivation conductor layer on the deposited metal film;

상기 패시베이션 컨덕터층과 상기 금속막을 소정패턴으로 전극을 형성하는 단계와;Forming an electrode on the passivation conductor layer and the metal film in a predetermined pattern;

상기 형성된 전극 패턴상에 절연 보호막을 형성하는 단계와;Forming an insulating protective film on the formed electrode pattern;

상기 형성된 절연 보호막을 평탄화하는 단계를 포함하는 점에 그 특징이 있다. It is characterized in that it comprises the step of planarizing the formed insulating protective film.

여기서, 특히 상기 절연 보호막은 상기 소정패턴으로 형성된 패시베이션 컨덕터층과 상기 금속막의 제거된 부분에 형성된 점에 그 특징이 있다. Here, in particular, the insulating protective film is characterized in that it is formed on the passivation conductor layer formed in the predetermined pattern and the removed portion of the metal film.

여기서, 특히 상기 전극은 Poly Si, Al, Cr, Ta, Ti, Pt, Ir, Au, Mo 등의 물질로 형성되는 점에 그 특징이 있다.Here, in particular, the electrode is characterized in that it is formed of a material such as Poly Si, Al, Cr, Ta, Ti, Pt, Ir, Au, Mo.

여기서, 특히 상기 패시베이션 컨덕터층은 ITO(indium tin oxide), RuO2, IrO2 물질로 형성되는 점에 그 특징이 있다.In particular, the passivation conductor layer is characterized in that it is formed of indium tin oxide (ITO), RuO 2 , IrO 2 materials.

여기서, 특히 상기 절연 보호막은 Oxide, SiO2, SiNx등의 물질로 형성되는 점에 그 특징이 있다.In particular, the insulating protective film is characterized in that it is formed of a material such as Oxide, SiO 2 , SiN x .

이와 같은 본 발명에 의하면, DC 레지스티브 방식 지문인식 센서에 내식성과 내마모성을 좋게 하여 신뢰성을 향상시킬 수 있다. According to the present invention as described above, the DC resistive fingerprint sensor can be improved in reliability by improving corrosion resistance and wear resistance.

이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 실시 예를 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명에 따른 지문인식 센서의 구조를 도시한 단면도이다. 이에 도시된 바와 같이, 기판(401)과; 상기 기판(401)상에 소정패턴으로 형성된 전극(402)과; 상기 전극(402)상에 형성된 패시베이션 컨덕터층(403)과; 상기 패시베이션 컨덕터층(403)상에 평탄화되어 형성된 절연 보호막(404)을 포함하는 점에 그 특징이 있다. 4 is a cross-sectional view showing the structure of a fingerprint sensor according to the present invention. As shown therein, the substrate 401; An electrode 402 formed on the substrate 401 in a predetermined pattern; A passivation conductor layer (403) formed on the electrode (402); It is characterized in that it includes an insulating protective film 404 formed to be planarized on the passivation conductor layer 403.

상기 전극(402)은 Poly Si, Al, Cr, Ta, Ti, Pt, Ir, Au, Mo 등의 물질로 형성되어 있다. The electrode 402 is formed of a material such as Poly Si, Al, Cr, Ta, Ti, Pt, Ir, Au, Mo, or the like.

상기 패시베이션 컨덕터층(403)은 ITO(indium tin oxide), RuO2, IrO2 물질로 형성되어 있다.The passivation conductor layer 403 is formed of indium tin oxide (ITO), RuO 2 , or IrO 2 material.

상기 절연 보호막(404)은 Oxide, SiO2, SiNx등의 물질로 형성되어 있다.The insulating protective film 404 is formed of a material such as oxide, SiO 2 , SiN x, or the like.

도 5a 내지 도 5e는 본 발명에 따른 지문인식 센서의 제조방법을 도시한 순서도이다. 먼저, 도 5a에 도시된 바와 같이, 기판(401)상에 금속막(402)을 증착하는 단계가 수행된다.5A through 5E are flowcharts illustrating a method of manufacturing a fingerprint recognition sensor according to the present invention. First, as shown in FIG. 5A, a step of depositing a metal film 402 on a substrate 401 is performed.

보다 자세히 설명하면, 상기 기판(401)은 지문인식 센서의 제조 공정은 일반적인 반도체 공정에 적용할 수 있는 공정이기 때문에 구동회로 또는 구동회로와 시스템(system) IC를 포함하고 있는 기판을 사용하는 것이 가능하다.In more detail, the substrate 401 may be a substrate including a driving circuit or a driving circuit and a system IC since the manufacturing process of the fingerprint sensor is a process applicable to a general semiconductor process. Do.

또 다른 방법으로는 센서만을 제작하고 구동회로나 시스템(system) IC는 오프-칩(off-chip) 방식으로 PCB위에 구현하는 것도 가능하다. 상기 기판(401) 위에 지문인식 센서용 포트(port) 전극 물질을 증착하는 것이다.Alternatively, only the sensor can be manufactured, and the driving circuit or system IC can be implemented on the PCB in an off-chip manner. A port electrode material for a fingerprint sensor is deposited on the substrate 401.

이때, 사용되는 지문인식 센서의 센서 전극(sensor electrode)(402) 물질로는 Al, Cr, Ta, Ti, Pt, Ir, Au, Mo 등과 같이 메탈 컨덕터(metal conductor)나 Na+ 이온(ion)에 의해 전기적인 특성의 편차가 심한 폴리실리콘(Poly Si)이다.In this case, the material of the sensor electrode 402 of the fingerprint sensor used is a metal conductor or Na + ion such as Al, Cr, Ta, Ti, Pt, Ir, Au, Mo, or the like. Polysilicon (Poly Si) with a wide variation in electrical characteristics.

그리고 도 5b에 도시된 바와 같이, 상기 증착된 금속막(402)상에 패시베이션 컨덕터층(403)을 증착하는 단계가 수행된다.As shown in FIG. 5B, the passivation conductor layer 403 is deposited on the deposited metal film 402.

상기 패시베이션 컨더터층(passivation conductor)(403)은 상기 금속막(402)을 보호하기 위해 증착하는 것이다. 이 때, 상기 금속 전극(metal electrode)(402)을 보호해 줄 수 있는 세라믹(ceramic) 형태의 패시베이션 컨더터층(passivation conductor)(403)으로는 ITO(indium tin oxide), RuO2, IrO2 등이 있다.The passivation conductor layer 403 is deposited to protect the metal film 402. In this case, a ceramic passivation conductor layer 403 that may protect the metal electrode 402 may be indium tin oxide (ITO), RuO 2 , IrO 2, or the like. There is this.

이어 도 5c에 도시된 바와 같이, 상기 패시베이션 컨덕터층(403)과 상기 금속막(402)을 소정패턴으로 패터닝하여 전극(402)을 형성하는 단계가 수행된다.Subsequently, as illustrated in FIG. 5C, the passivation conductor layer 403 and the metal layer 402 are patterned in a predetermined pattern to form an electrode 402.

상기 지문인식 센서 전극인 금속막(402)을 패터닝(patterning)하게 되며, 상기 패터닝(Patterning) 하는 방법으로는 건식 식각 공정, 습식 식각 공정, 또는 리프트-오프(lift-off) 방법이 적용된다. The metal layer 402, which is the fingerprint sensor electrode, is patterned, and the patterning method is a dry etching process, a wet etching process, or a lift-off method.

다음으로 도 5d에 도시된 바와 같이, 상기 형성된 전극(402) 패턴상에 절연 보호막(404)을 형성하는 단계가 수행된다.Next, as shown in FIG. 5D, a step of forming an insulating protective film 404 on the formed electrode 402 pattern is performed.

보다 상세하게는, 상기 패턴된 포트(port)의 전극 간에 절연을 유지해 주고, 외부의 이물질로부터 전극의 측면을 보호해 주기 위해 절연 보호막(404)을 증착한다. More specifically, an insulating protective film 404 is deposited to maintain insulation between the electrodes of the patterned port and to protect the side of the electrode from external foreign matter.

이 때, 상기 절연 보호막(404)으로는 Oxide, SiO2, SiNx등이 사용된다.At this time, oxide, SiO 2 , SiN x, or the like is used as the insulating protective film 404.

마지막으로 도 5e에 도시된 바와 같이, 상기 형성된 절연 보호막(404)을 평탄화하는 단계가 수행된다. Finally, as shown in FIG. 5E, the step of planarizing the formed insulating protective film 404 is performed.

상기 절연 보호막(404)을 평탄화함으로써 상기 패턴된 전극을 외부로 노출시킨다.The insulating protective layer 404 is planarized to expose the patterned electrode to the outside.

이는 상기 전극(402) 물질이 열악한 지문인식 환경에 직접 노출되는 것을 막아 줄 수 있고, DC 레지스티브(Resistive) 방식 지문인식 센서의 전기적인 특성의 열화 없이 일정하게 유지할 수 있다. This may prevent the electrode 402 material from being directly exposed to a poor fingerprint recognition environment, and may be kept constant without deterioration of electrical characteristics of the DC resistive fingerprint sensor.

따라서, 상기와 같은 방법에 의한 지문인식 센서는 인체 지문과 같이 금속 부성이 강한 물질인 Na이 다량 접촉되는 지문인식 환경에서도 지문과의 접촉에 의한 지문인식 센서 성능을 지속적으로 유지할 수 있다. Therefore, the fingerprint recognition sensor according to the above method can continuously maintain the performance of the fingerprint recognition sensor by contact with the fingerprint even in a fingerprint recognition environment in which a large amount of metallic negative material such as human fingerprint is in contact.

본 발명은 도면에 도시된 실시 예를 참고로 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.Although the present invention has been described with reference to the embodiments illustrated in the drawings, this is merely exemplary, and it will be understood by those skilled in the art that various modifications and equivalent other embodiments are possible. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.

이상의 설명에서와 같이 본 발명에 따른 지문인식 센서 및 그 제조방법은, DC 레지스티브 방식 지문인식 센서에 내식성과 내마모성을 좋게 하여 신뢰성을 향상시킬 수 있다. As described above, the fingerprint sensor and the manufacturing method thereof according to the present invention can improve reliability by improving the corrosion resistance and wear resistance of the DC resistive fingerprint sensor.

도 1a는 AC 전계(electric field) 방식을 이용한 지문인식 센서를 개략적으로 도시한 도면.FIG. 1A schematically illustrates a fingerprint sensor using an AC electric field scheme. FIG.

도 1b는 DC 캐패시티브(Capacitive) 방식을 이용한 지문인식 센서를 개략적으로 도시한 도면.FIG. 1B schematically illustrates a fingerprint sensor using a DC capacitive scheme. FIG.

도 1c는 써멀 스위프(Thermal sweep) 방식을 이용한 지문인식 센서를 도시한 도면.Figure 1c is a diagram showing a fingerprint sensor using a thermal sweep (Thermal sweep) method.

도 2a 내지 도 2c는 종래에 따른 DC 레지스티브 방식에 의한 지문인식 센서의 단위 지문인식 센서의 여러 가지 전극 형태를 도시한 도면.2A to 2C are views illustrating various electrode shapes of a unit fingerprint recognition sensor of a fingerprint sensor according to a conventional DC resistive method.

도 3은 종래에 따른 DC 레지스티브 방식에 의한 지문인식 센서를 도시한 단면도.Figure 3 is a cross-sectional view showing a fingerprint recognition sensor according to the conventional DC resistive method.

도 4는 본 발명에 따른 지문인식 센서의 구조를 도시한 단면도.Figure 4 is a cross-sectional view showing the structure of the fingerprint sensor according to the present invention.

도 5a 내지 도 5e는 본 발명에 따른 지문인식 센서의 제조방법을 도시한 순서도5a to 5e is a flow chart showing a manufacturing method of the fingerprint sensor according to the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

401 --- 기판 402 --- 전극401 --- Substrate 402 --- Electrode

403 --- 패시베이션 컨턱터 404 --- 절연 보호막403 --- Passivation Conductor 404 --- Insulation Shield

Claims (6)

기판과;A substrate; 상기 기판상에 소정패턴으로 형성된 전극과; An electrode formed in a predetermined pattern on the substrate; 상기 전극층상에 형성된 패시베이션 컨덕터층과; A passivation conductor layer formed on said electrode layer; 상기 전극 및 상기 패시베이션의 소정패턴사이에 형성된 절연 보호막을 포함하는 것을 특징으로 하는 지문인식 센서.And an insulating protective film formed between the electrode and the predetermined pattern of the passivation. 기판상에 금속막을 증착하는 단계와;Depositing a metal film on the substrate; 상기 증착된 금속막상에 패시베이션 컨덕터층을 증착하는 단계와;Depositing a passivation conductor layer on the deposited metal film; 상기 패시베이션 컨덕터층과 상기 금속막을 소정패턴으로 전극을 형성하는 단계와;Forming an electrode on the passivation conductor layer and the metal film in a predetermined pattern; 상기 형성된 전극 패턴상에 절연 보호막을 형성하는 단계와;Forming an insulating protective film on the formed electrode pattern; 상기 형성된 절연 보호막을 평탄화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 지문인식 센서의 제조방법.And planarizing the formed insulating protective film. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 절연 보호막은 상기 소정패턴으로 형성된 패시컨덕터층과 상기 금속막의 제거된 부분에 형성되는 것을 특징으로 하는 지문인식 센서의 제조방법.The insulating protective film is a manufacturing method of a fingerprint sensor, characterized in that formed in the removed portion of the passivation layer and the metal film formed in the predetermined pattern. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 전극은 Poly Si, Al, Cr, Ta, Ti, Pt, Ir, Au, Mo 등의 물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 지문인식 센서의 제조방법.The electrode is a method of manufacturing a fingerprint sensor, characterized in that formed of a material such as Poly Si, Al, Cr, Ta, Ti, Pt, Ir, Au, Mo. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 패시베이션 컨덕터층은 ITO(indium tin oxide), RuO2, IrO2 물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 지문인식 센서의 제조방법.The passivation conductor layer is a method of manufacturing a fingerprint sensor, characterized in that formed of indium tin oxide (ITO), RuO 2 , IrO 2 material. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 절연 보호막은 Oxide, SiO2, SiNx등의 물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 지문인식 센서의 제조방법.The insulating protective film is a method of manufacturing a fingerprint sensor, characterized in that formed of a material such as Oxide, SiO 2 , SiN x .
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