KR20050001798A - Circuit and method for detecting address in pre-groove signal of wobble detection system of optical disc device - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 DVD+R/RW와 같은 광 디스크 장치의 워블(wobble) 검출 시스템에 관한 것으로, 특히 워블 검출 시스템의 ADIP(Address In Pre-groove) 신호 검출회로 및 검출방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wobble detection system of an optical disk device such as a DVD + R / RW, and more particularly, to an address in pre-groove signal detection circuit and a detection method of a wobble detection system.
DVD+R/RW의 기록을 위해서는 DVD+R/RW의 디스크 어드레스 정보, 즉 ADIP를 정확히 복조(demodulation)하는 것이 매우 중요하다. 디스크 어드레스 정보에 대한 복조를 제대로 수행하지 못할 경우에는 기록품질이 떨어지는 것은 물론이고 디스크에 기록된 데이터를 읽어 내지 못할 수도 있다.In order to record a DVD + R / RW, it is very important to accurately demodulate the disc address information of the DVD + R / RW, that is, the ADIP. If demodulation of the disk address information is not performed properly, not only the recording quality is deteriorated but also the data recorded on the disk may not be read.
그런데 도 1에 도시된 바와 같이 ADIP 신호는 CD의 ATIP(Absolute Time In Pre-groove) 신호와 달리 불연속점이 존재한다는 것이다. 이 불연속점은 ADIP 변조 룰들(ADIP Modulation Rules)에서 ADIP 단위(Unit)의 데이터를 나타내는 것이기 때문에 이의 검출이 가장 중요하다.However, as shown in FIG. 1, the ADIP signal has a discontinuity point unlike the ATIP (Absolute Time In Pre-groove) signal of the CD. This discontinuity point represents the data of the ADIP unit in the ADIP Modulation Rules, so its detection is most important.
도 2는 일반적인 DVD+R/RW의 워블 검출 시스템을 나타내는 블록도이다. 이를 참조하면, 워블 검출회로(22)가 OPU(Optical Pick-up Unit)(21)로부터 입력되는 신호를 받아 워블 신호(WB)를 검출하고 ADIP 신호 검출회로(23)가 워블 신호(WB)를 받아 ADIP 신호(ADIP)를 검출한다. ADIP 신호(ADIP)는 ADIP 디코더(24)에 의해 디코드된다.2 is a block diagram showing a wobble detection system of a general DVD + R / RW. Referring to this, the wobble detection circuit 22 receives a signal input from the optical pick-up unit (OPU) 21 to detect the wobble signal WB, and the ADIP signal detection circuit 23 receives the wobble signal WB. Receive the ADIP signal (ADIP). The ADIP signal ADIP is decoded by the ADIP decoder 24.
그런데 상술한 바와 같이 ADIP 신호에는 불연속점이 존재하므로 ADIP 신호검출회로(23)는 이 불연속점을 정확히 빠르게 검출하는 것이 필요하다. 또한 ADIP 신호 검출회로(23)는 집적회로로 구현시 회로가 간단하여 쉽게 구현될 수 있어야 한다.However, as described above, since there are discontinuities in the ADIP signal, the ADIP signal detection circuit 23 needs to detect this discontinuity point quickly and accurately. In addition, the ADIP signal detection circuit 23 should be easy to implement because the circuit is simple when implemented as an integrated circuit.
따라서 본 발명이 이루고자하는 기술적 과제는, DVD+R/RW와 같은 광 디스크 장치의 워블 검출 시스템에서 불연속점을 정확히 빠르게 검출할 수 있고 또한 회로가 간단하여 쉽게 집적회로로 구현될 수 있는 ADIP 신호 검출회로를 제공하는 데 있다.Therefore, the technical problem to be achieved by the present invention, ADIP signal detection that can detect the discontinuity point quickly and accurately in the wobble detection system of the optical disk device, such as DVD + R / RW, and also the circuit is simple and can be easily implemented as an integrated circuit To provide a circuit.
본 발명이 이루고자하는 다른 기술적 과제는, DVD+R/RW와 같은 광 디스크 장치의 워블 검출 시스템에서 불연속점을 정확히 빠르게 검출할 수 있고 또한 집적회로로 쉽게 구현될 수 있는 ADIP 신호 검출방법을 제공하는 데 있다.Another technical problem to be solved by the present invention is to provide a method for detecting an ADIP signal that can accurately detect a discontinuity point in a wobble detection system of an optical disk device such as a DVD + R / RW and can be easily implemented in an integrated circuit. There is.
본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS In order to better understand the drawings cited in the detailed description of the invention, a brief description of each drawing is provided.
도 1은 CD의 ATIP 신호 및 DVD+R/RW의 ADIP 신호의 파형도를 나타내는 도면이다.1 is a diagram showing waveform diagrams of an ATIP signal of a CD and an ADIP signal of a DVD + R / RW.
도 2는 일반적인 DVD+R/RW의 워블 검출 시스템을 나타내는 블록도이다.2 is a block diagram showing a wobble detection system of a general DVD + R / RW.
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 ADIP 신호 검출회로를 나타내는 블록도이다.3 is a block diagram showing an ADIP signal detection circuit according to a first embodiment of the present invention.
도 4는 도 3의 ADIP 신호 검출회로가 포지티브 불연속점을 검출할 때 각 신호들의 파형도를 나타내는 도면이다.4 is a diagram illustrating waveforms of signals when the ADIP signal detection circuit of FIG. 3 detects a positive discontinuity point.
도 5는 도 3의 ADIP 신호 검출회로가 네거티브 불연속점을 검출할 때 각 신호들의 파형도를 나타내는 도면이다.5 is a diagram illustrating waveforms of signals when the ADIP signal detection circuit of FIG. 3 detects a negative discontinuity point.
도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 ADIP 신호 검출회로를 나타내는 블록도이다.6 is a block diagram showing an ADIP signal detection circuit according to a second embodiment of the present invention.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일면(Aspect)에 따른 ADIP 신호 검출회로는, 지연기, 제1윈도우 비교기, 제2윈도우 비교기, 제1에지 검출회로, 제2에지 검출회로, 제1불연속점 판단회로, 제2불연속점 판단회로, ADIP 신호 발생부, 및 기준레벨 조절회로를 구비한다.According to an aspect of the present invention for achieving the above technical problem, an ADIP signal detection circuit includes a delayer, a first window comparator, a second window comparator, a first edge detection circuit, a second edge detection circuit, and a first discontinuity. And a point determining circuit, a second discontinuous point determining circuit, an ADIP signal generator, and a reference level adjusting circuit.
상기 지연기는 워블 신호(wobble)를 소정의 시간만큼 지연시킨다. 상기 제1윈도우 비교기는 포지티브 기준레벨과 상기 워블 신호를 비교하여 제1비교신호를 발생하고 네거티브 기준레벨과 상기 워블 신호를 비교하여 제2비교신호를 발생한다. 상기 제2윈도우 비교기는 상기 포지티브 기준레벨과 상기 지연기의 출력신호를비교하여 제3비교신호를 발생하고 상기 네거티브 기준레벨과 상기 지연기의 출력신호를 비교하여 제4비교신호를 발생한다.The delay unit delays the wobble signal by a predetermined time. The first window comparator generates a first comparison signal by comparing a positive reference level and the wobble signal, and generates a second comparison signal by comparing a negative reference level and the wobble signal. The second window comparator generates a third comparison signal by comparing the positive reference level with the output signal of the delayer, and generates a fourth comparison signal by comparing the negative reference level with the output signal of the delayer.
상기 제1에지 검출회로는 상기 제1비교신호 및 상기 제3비교신호를 수신하여 상기 제1비교신호의 에지들을 검출한다. 상기 제2에지 검출회로는 상기 제2비교신호 및 상기 제4비교신호를 수신하여 상기 제2비교신호의 에지들을 검출한다.The first edge detection circuit receives the first comparison signal and the third comparison signal to detect edges of the first comparison signal. The second edge detection circuit receives the second comparison signal and the fourth comparison signal to detect edges of the second comparison signal.
상기 제1불연속점 판단회로는 상기 제1에지 검출회로에 의해 검출된 에지들중 연속하는 두 개의 에지들이 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 상기 워블 신호의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호를 발생한다. 상기 제2불연속점 판단회로는 상기 제2에지 검출회로에 의해 검출된 에지들중 연속하는 두 개의 에지들이 상기 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 상기 워블 신호의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호를 발생한다.The first discontinuity point determination circuit generates a signal corresponding to the positive discontinuity point of the wobble signal when two consecutive edges among the edges detected by the first edge detection circuit exist within a predetermined time interval. The second discontinuity determination circuit generates a signal corresponding to the negative discontinuity point of the wobble signal when two consecutive edges among the edges detected by the second edge detection circuit exist within the predetermined predetermined time interval. .
상기 ADIP 신호 발생부는 상기 워블 신호의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호 및 상기 워블 신호의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호를 수신하여 상기 ADIP(Address in pre-groove) 신호를 발생한다. 상기 기준레벨 조절회로는 상기 포지티브 기준레벨 및 상기 네거티브 기준레벨을 조절한다.The ADIP signal generator receives the signal corresponding to the positive discontinuity point of the wobble signal and the signal corresponding to the negative discontinuity point of the wobble signal to generate the address in pre-groove signal. The reference level adjusting circuit adjusts the positive reference level and the negative reference level.
상기 에지들은 포지티브 에지들 또는 네거티브 에지들이다.The edges are positive edges or negative edges.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 다른 일면(Aspect)에 따른 ADIP 신호 검출회로는, 윈도우 비교기, 제1에지 검출회로, 제2에지 검출회로, 제1불연속점 판단회로, 제2불연속점 판단회로, ADIP 신호 발생부, 및 기준레벨 조절회로를 구비한다.According to another aspect of the present invention for achieving the above technical problem, an ADIP signal detection circuit includes a window comparator, a first edge detection circuit, a second edge detection circuit, a first discontinuity point determination circuit, and a second discontinuity point determination. A circuit, an ADIP signal generator, and a reference level control circuit.
상기 윈도우 비교기는 포지티브 기준레벨과 워블 신호를 비교하여 제1비교신호를 발생하고 네거티브 기준레벨과 상기 워블 신호를 비교하여 제2비교신호를 발생한다. 상기 제1에지 검출회로는 상기 제1비교신호를 수신하여 상기 제1비교신호의 에지들을 검출한다. 상기 제2에지 검출회로는 상기 제2비교신호를 수신하여 상기 제2비교신호의 에지들을 검출한다.The window comparator generates a first comparison signal by comparing a positive reference level and a wobble signal, and generates a second comparison signal by comparing a negative reference level and the wobble signal. The first edge detection circuit receives the first comparison signal and detects edges of the first comparison signal. The second edge detection circuit receives the second comparison signal and detects edges of the second comparison signal.
상기 제1불연속점 판단회로는 상기 제1에지 검출회로에 의해 검출된 에지들중 연속하는 두 개의 에지들이 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 상기 워블 신호의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호를 발생한다. 상기 제2불연속점 판단회로는 상기 제2에지 검출회로에 의해 검출된 에지들중 연속하는 두 개의 에지들이 상기 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 상기 워블 신호의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호를 발생한다.The first discontinuity point determination circuit generates a signal corresponding to the positive discontinuity point of the wobble signal when two consecutive edges among the edges detected by the first edge detection circuit exist within a predetermined time interval. The second discontinuity determination circuit generates a signal corresponding to the negative discontinuity point of the wobble signal when two consecutive edges among the edges detected by the second edge detection circuit exist within the predetermined predetermined time interval. .
상기 ADIP 신호 발생부는 상기 워블 신호의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호 및 상기 워블 신호의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호를 수신하여 상기 ADIP(Address in pre-groove) 신호를 발생한다. 상기 기준레벨 조절회로는 상기 포지티브 기준레벨 및 상기 네거티브 기준레벨을 조절한다.The ADIP signal generator receives the signal corresponding to the positive discontinuity point of the wobble signal and the signal corresponding to the negative discontinuity point of the wobble signal to generate the address in pre-groove signal. The reference level adjusting circuit adjusts the positive reference level and the negative reference level.
상기 에지들은 포지티브 에지들 또는 네거티브 에지들이다.The edges are positive edges or negative edges.
상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일면(Aspect)에 따른 ADIP 신호 검출방법은, 포지티브 기준레벨과 워블 신호를 비교하여 제1비교신호를 발생하고 네거티브 기준레벨과 상기 워블 신호를 비교하여 제2비교신호를 발생하는 단계를 구비한다.According to an aspect of the present invention, an ADIP signal detection method includes generating a first comparison signal by comparing a positive reference level and a wobble signal, and comparing the negative reference level with the wobble signal. Generating a comparison signal.
상기 워블 신호는 소정의 시간만큼 지연된다. 상기 포지티브 기준레벨과 상기 지연기의 출력신호는 서로 비교되어 제3비교신호가 발생되고 상기 네거티브 기준레벨과 상기 지연기의 출력신호가 서로 비교되어 제4비교신호가 발생된다.The wobble signal is delayed by a predetermined time. The positive reference level and the output signal of the delayer are compared with each other to generate a third comparison signal, and the negative reference level and the output signal of the delayer are compared with each other to generate a fourth comparison signal.
다음에 상기 제1비교신호 및 상기 제3비교신호를 수신하여 상기 제1비교신호의 에지들이 검출되고 상기 제2비교신호 및 상기 제4비교신호를 수신하여 상기 제2비교신호의 에지들이 검출된다.Next, the edges of the first comparison signal are detected by receiving the first comparison signal and the third comparison signal, and the edges of the second comparison signal are detected by receiving the second comparison signal and the fourth comparison signal. .
다음에 상기 검출된 제1비교신호의 에지들중 연속하는 두 개의 에지들이 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에 상기 워블 신호의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호가 발생된다. 상기 검출된 제2비교신호의 에지들중 연속하는 두 개의 에지들이 상기 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에 상기 워블 신호의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호가 발생된다.Next, a signal corresponding to the positive discontinuity point of the wobble signal is generated when two consecutive edges of the detected edges of the first comparison signal exist within a predetermined time interval. The signal corresponding to the negative discontinuity point of the wobble signal is generated when two consecutive edges of the detected edges of the second comparison signal exist within the predetermined predetermined time interval.
다음에 상기 워블 신호의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호 및 상기 워블 신호의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호를 수신하여 ADIP(Address in pre-groove) 신호가 발생된다.Next, an ADIP (Address in pre-groove) signal is generated by receiving a signal corresponding to a positive discontinuity point of the wobble signal and a signal corresponding to a negative discontinuity point of the wobble signal.
상기 에지들은 포지티브 에지들 또는 네거티브 에지들이다.The edges are positive edges or negative edges.
상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 다른 일면(Aspect)에 따른 ADIP 신호 검출방법은, 포지티브 기준레벨과 워블 신호를 비교하여 제1비교신호를 발생하고 네거티브 기준레벨과 상기 워블 신호를 비교하여 제2비교신호를 발생하는 단계를 구비한다.According to another aspect of the present invention, an ADIP signal detection method includes generating a first comparison signal by comparing a positive reference level and a wobble signal, and comparing a negative reference level and the wobble signal. Generating a second comparison signal.
다음에 상기 제1비교신호를 수신하여 상기 제1비교신호의 에지들이 검출되고상기 제2비교신호를 수신하여 상기 제2비교신호의 에지들이 검출된다.Next, the edges of the first comparison signal are detected by receiving the first comparison signal, and the edges of the second comparison signal are detected by receiving the second comparison signal.
다음에 상기 검출된 제1비교신호의 에지들중 연속하는 두 개의 에지들이 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에 상기 워블 신호의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호가 발생된다. 상기 검출된 제2비교신호의 에지들중 연속하는 두 개의 에지들이 상기 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에 상기 워블 신호의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호가 발생된다.Next, a signal corresponding to the positive discontinuity point of the wobble signal is generated when two consecutive edges of the detected edges of the first comparison signal exist within a predetermined time interval. The signal corresponding to the negative discontinuity point of the wobble signal is generated when two consecutive edges of the detected edges of the second comparison signal exist within the predetermined predetermined time interval.
다음에 상기 워블 신호의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호 및 상기 워블 신호의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호를 수신하여 상기 ADIP(Address in pre-groove) 신호가 발생된다.Next, a signal corresponding to a positive discontinuity point of the wobble signal and a signal corresponding to a negative discontinuity point of the wobble signal are received to generate the address in pre-groove (ADIP) signal.
상기 에지들은 포지티브 에지들 또는 네거티브 에지들이다.The edges are positive edges or negative edges.
본 발명과 본 발명의 동작 상의 잇점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.In order to fully understand the present invention, the operational advantages of the present invention, and the objects achieved by the practice of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings illustrating preferred embodiments of the present invention and the contents described in the accompanying drawings.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference numerals in the drawings denote like elements.
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 ADIP 신호 검출회로를 나타내는 블록도이다.3 is a block diagram showing an ADIP signal detection circuit according to a first embodiment of the present invention.
도 3을 참조하면, 본 발명의 제1실시예에 따른 ADIP 신호 검출회로는, 지연기(31), 제1윈도우 비교기(32), 제2윈도우 비교기(33), 제1에지 검출회로(34), 제2에지 검출회로(35), 제1불연속점 판단회로(36), 제2불연속점 판단회로(37), 기준레벨 조절회로(38), 및 ADIP 신호 발생부(39)를 구비한다.Referring to FIG. 3, the ADIP signal detection circuit according to the first embodiment of the present invention may include a delay unit 31, a first window comparator 32, a second window comparator 33, and a first edge detection circuit 34. ), A second edge detection circuit 35, a first discontinuity point determination circuit 36, a second discontinuity point determination circuit 37, a reference level control circuit 38, and an ADIP signal generator 39. .
지연기(31)는 워블 검출회로(미도시)를 거쳐서 입력되는 워블(wobble) 신호(WB)를 소정의 시간만큼 지연시킨다. 지연기(31)는 저역통과 필터(low pass filter, LPF) 또는 디지털 위상 지연소자로 구성될 수 있다. 여기에서 지연기(31)의 지연시간은 신호의 반응속도와 관련이 있다. 지연시간이 너무 클 경우 불연속점이 제대로 검출되지 않을 수 있으므로 지연시간은 지나치게 크지 않은 값이어야 한다.The delay unit 31 delays the wobble signal WB input through the wobble detection circuit (not shown) by a predetermined time. The retarder 31 may be composed of a low pass filter (LPF) or a digital phase delay element. Here, the delay time of the delay unit 31 is related to the response speed of the signal. If the delay time is too large, the discontinuity may not be detected properly, so the delay time should not be too large.
제1윈도우 비교기(window comparator)(32)는 포지티브 기준레벨(REFP)과 워블 신호(WB)를 비교하여 제1비교신호(CP1)를 발생하고 네거티브 기준레벨(REFN)과 워블 신호(WB)를 비교하여 제2비교신호(CN1)를 발생한다. 제2윈도우 비교기(33)는 포지티브 기준레벨(REFP)과 지연기(31)의 출력신호(DWB)를 비교하여 제3비교신호(CP2)를 발생하고 네거티브 기준레벨(REFN)과 지연기(31)의 출력신호(DWB)를 비교하여 제4비교신호(CN2)를 발생한다.The first window comparator 32 compares the positive reference level REFP and the wobble signal WB to generate a first comparison signal CP1 and generates the negative reference level RENP and the wobble signal WB. In comparison, the second comparison signal CN1 is generated. The second window comparator 33 compares the positive reference level REFP and the output signal DWB of the delay unit 31 to generate a third comparison signal CP2, and generates the negative reference level RENP and the delay unit 31. Output signal DWB is compared to generate a fourth comparison signal CN2.
포지티브 기준레벨(REFP) 및 네거티브 기준레벨(REFN)은 기준레벨 조절회로(38)에 의해 조절된다. 포지티브 기준레벨(REFP) 및 네거티브 기준레벨(REFN)은 ADIP 신호(ADIP)의 검출속도와 밀접한 관련이 있으며 신호의 정확한 검출 유무와 관련이 있다. 따라서 빠른 검출속도와 오검출 방지를 위해서는 최적의 레벨을 찾아야 한다.The positive reference level REFP and the negative reference level REREF are adjusted by the reference level adjusting circuit 38. The positive reference level (REFP) and the negative reference level (REFN) are closely related to the detection speed of the ADIP signal (ADIP) and related to the accurate detection of the signal. Therefore, it is necessary to find the optimal level for fast detection speed and prevention of false detection.
제1에지 검출회로(34) 및 제1불연속점 판단회로(36)는 워블 신호(WB)의 포지티브 데이터에서의 불연속점을 찾기 위한 것이며, 제2에지 검출회로(35) 및 제2불연속점 판단회로(37)는 워블 신호(WB)의 네거티브 데이터에서의 불연속점을 찾기 위한 것이다.The first edge detection circuit 34 and the first discontinuity point determination circuit 36 are for finding discontinuities in the positive data of the wobble signal WB, and the second edge detection circuit 35 and the second discontinuity point determination are determined. The circuit 37 is for finding the discontinuities in the negative data of the wobble signal WB.
제1에지 검출회로(34)는 제1비교신호(CP1) 및 제3비교신호(CP2)를 수신하여 제1비교신호(CP1)의 에지들을 검출한다. 제2에지 검출회로(35)는 제2비교신호(CN1) 및 제4비교신호(CN2)를 수신하여 제2비교신호(CN1)의 에지들을 검출한다. 여기에서 제1에지 검출회로(34) 및 제2에지 검출회로(35)는 포지티브 에지들을 검출하도록 구성될 수도 있고 필요에 따라 네거티브 에지들을 검출하도록 구성될 수도 있다.The first edge detection circuit 34 receives the first comparison signal CP1 and the third comparison signal CP2 to detect edges of the first comparison signal CP1. The second edge detection circuit 35 receives the second comparison signal CN1 and the fourth comparison signal CN2 to detect edges of the second comparison signal CN1. Here, the first edge detection circuit 34 and the second edge detection circuit 35 may be configured to detect positive edges or may be configured to detect negative edges as needed.
제1불연속점 판단회로(36)는 제1에지 검출회로(34)에 의해 검출된 에지들중 연속하는 두 개의 에지들이 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 워블 신호(WB)의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호(P1)를 발생한다. 즉 상기 연속하는 두 개의 에지들이 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 워블 신호(WB)의 포지티브 데이터에 불연속점이 존재하는 것으로 판단된다.The first discontinuity point determination circuit 36 corresponds to the positive discontinuity point of the wobble signal WB when two consecutive edges among the edges detected by the first edge detection circuit 34 exist within a predetermined time interval. To generate a signal P1. That is, when the two consecutive edges exist within a predetermined time period, it is determined that a discontinuity point exists in the positive data of the wobble signal WB.
제2불연속점 판단회로(37)는 제2에지 검출회로(35)에 의해 검출된 에지들중 연속하는 두 개의 에지들이 상기 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 워블 신호(WB)의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호(P2)를 발생한다. 즉 상기 연속하는 두 개의 에지들이 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 워블 신호(WB)의 네거티브 데이터에 불연속점이 존재하는 것으로 판단된다.The second discontinuity point determination circuit 37 is connected to the negative discontinuity point of the wobble signal WB when two consecutive edges among the edges detected by the second edge detection circuit 35 exist within the predetermined predetermined time interval. Generate the corresponding signal P2. That is, when the two consecutive edges exist within a predetermined time interval, it is determined that a discontinuity point exists in the negative data of the wobble signal WB.
ADIP 신호 발생부(39)는 워블 신호의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호(P1) 및 워블 신호의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호(P2)를 수신하여ADIP(Address in pre-groove) 신호(ADIP)를 발생한다.The ADIP signal generator 39 receives a signal P1 corresponding to the positive discontinuity point of the wobble signal and a signal P2 corresponding to the negative discontinuity point of the wobble signal, thereby receiving an ADIP (Address in pre-groove) signal (ADIP). Occurs.
좀더 상세하게는 제1에지 검출회로(34)는, 제1비교신호(CP1) 및 제3비교신호(CP2)를 배타적 논리합하는 배타적 논리합(exclusive OR) 회로(341), 및 배타적 논리합 회로(341)의 출력신호(E1)와 제3비교신호(CP2)를 논리곱하는 논리곱 회로(342)를 구비한다.More specifically, the first edge detection circuit 34 may include an exclusive OR circuit 341 that exclusively ORs the first comparison signal CP1 and the third comparison signal CP2, and an exclusive OR circuit 341. Logical AND circuit 342 for logical ANDing the output signal E1 and the third comparison signal CP2.
여기에서 제1에지 검출회로(34)는 네거티브 에지들을 검출하도록 구성되었다. 제1에지 검출회로(34)는 포지티브 에지들을 검출하도록 구성될 수 있으며 이러한 경우에는 제3비교신호(CP2) 대신에 제1비교신호(CP1)가 논리곱 회로(342)에 입력된다.Here, the first edge detection circuit 34 is configured to detect negative edges. The first edge detection circuit 34 may be configured to detect the positive edges, in which case the first comparison signal CP1 is input to the AND circuit 342 instead of the third comparison signal CP2.
제2에지 검출회로(35)는, 제2비교신호(CN1) 및 제4비교신호(CN2)를 배타적 논리합하는 배타적 논리합(exclusive OR) 회로(351), 및 배타적 논리합 회로(351)의 출력신호(E2)와 제4비교신호(CN2)를 논리곱하는 논리곱 회로(352)를 구비한다.The second edge detection circuit 35 includes an exclusive OR circuit 351 for exclusive OR of the second comparison signal CN1 and the fourth comparison signal CN2, and an output signal of the exclusive OR circuit 351. A logical AND circuit 352 for ANDing the E2 and the fourth comparison signal CN2 is provided.
여기에서 제2에지 검출회로(35)는 네거티브 에지들을 검출하도록 구성되었다. 제2에지 검출회로(35)는 포지티브 에지들을 검출하도록 구성될 수 있으며 이러한 경우에는 제4비교신호(CN2) 대신에 제2비교신호(CN1)가 논리곱 회로(352)에 입력된다.Here, the second edge detection circuit 35 is configured to detect negative edges. The second edge detection circuit 35 may be configured to detect the positive edges, in which case the second comparison signal CN1 is input to the AND circuit 352 instead of the fourth comparison signal CN2.
제1불연속점 판단회로(36)는 클럭신호(CLK)에 응답하여 제1에지 검출회로(34)의 출력신호(A1)를 수신하는 플립플롭(361) 및 클럭신호(CLK)에 응답하여 플립플롭(361)의 출력신호를 카운트하는 카운터(362)를 구비한다. 카운터(362)는 클럭신호(CLK)에 응답하여, 제1에지 검출회로(34)에 의해 검출된 에지들을 카운트하여 연속하는 두 개의 에지들이 상기 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에 상기 포지티브 불연속점에 해당하는 신호(P1)를 발생한다.The first discontinuity point determination circuit 36 flips in response to the clock signal CLK and a flip-flop 361 that receives the output signal A1 of the first edge detection circuit 34 in response to the clock signal CLK. A counter 362 for counting the output signal of the flop 361 is provided. The counter 362 counts the edges detected by the first edge detection circuit 34 in response to the clock signal CLK to the positive discontinuity when two consecutive edges exist within the predetermined time period. Generate the corresponding signal P1.
제2불연속점 판단회로(37)는 클럭신호(CLK)에 응답하여 제2에지 검출회로(35)의 출력신호(A2)를 수신하는 플립플롭(371) 및 클럭신호(CLK)에 응답하여 플립플롭(371)의 출력신호를 카운트하는 카운터(372)를 구비한다. 카운터(372)는 클럭신호(CLK)에 응답하여 제2에지 검출회로(35)에 의해 검출된 에지들을 카운트하여 연속하는 두 개의 에지들이 상기 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에 상기 네거티브 불연속점에 해당하는 신호(P2)를 발생한다. 클럭신호(CLK)는 구현하고자 하는 DVD+R/RW 시스템의 배속과 관련된다.The second discrete point determination circuit 37 flips in response to the clock signal CLK and a flip-flop 371 that receives the output signal A2 of the second edge detection circuit 35 in response to the clock signal CLK. A counter 372 for counting the output signal of the flop 371 is provided. The counter 372 counts the edges detected by the second edge detection circuit 35 in response to the clock signal CLK to correspond to the negative discontinuity when two consecutive edges exist within the predetermined time period. To generate a signal P2. The clock signal CLK is related to the speed of the DVD + R / RW system to be implemented.
도 4는 도 3의 ADIP 신호 검출회로가 포지티브 불연속점을 검출할 때 각 신호들의 파형도를 나타내는 도면이고, 도 5는 도 3의 ADIP 신호 검출회로가 네거티브 불연속점을 검출할 때 각 신호들의 파형도를 나타내는 도면이다.4 is a diagram illustrating waveforms of signals when the ADIP signal detection circuit of FIG. 3 detects a positive discontinuity point, and FIG. 5 is a waveform diagram of each signal when the ADIP signal detection circuit of FIG. 3 detects a negative discontinuity point. It is a figure which shows a figure.
이하 도 4의 파형도 및 도 5의 파형도를 참조하여 상술한 제1실시예에 따른 ADIP 신호 검출회로에서 수행되는 본 발명의 ADIP 신호 검출방법이 좀더 설명된다.Hereinafter, the ADIP signal detection method of the present invention performed in the ADIP signal detection circuit according to the first embodiment described above with reference to the waveform diagram of FIG. 4 and the waveform diagram of FIG.
먼저 워블 검출회로(미도시)를 거쳐서 워블 신호(WB)가 입력되면 지연기(31)에 의해 소정의 시간만큼 지연되어 지연된 워블 신호(DWB)가 생성된다. 워블 신호(WB)는 제1윈도우 비교기(32)에서 포지티브 기준레벨(REFP)과 비교되어 그 결과로서 제1비교신호(CP1)가 발생된다. 또한 워블 신호(WB)는 제1윈도우 비교기(32)에서 네거티브 기준레벨(REFN)과 비교되어 그 결과로서 제2비교신호(CN1)가 발생된다.First, when the wobble signal WB is input through a wobble detection circuit (not shown), a delayed wobble signal DWB is generated by the delayer 31 for a predetermined time. The wobble signal WB is compared with the positive reference level REFP at the first window comparator 32, and as a result, the first comparison signal CP1 is generated. In addition, the wobble signal WB is compared with the negative reference level REFN in the first window comparator 32, and as a result, the second comparison signal CN1 is generated.
지연된 워블 신호(DWB)는 제2윈도우 비교기(33)에서 포지티브 기준레벨(REFP)과 비교되어 그 결과로서 제3비교신호(CP2)가 발생된다. 또한 지연된 워블 신호(DWB)는 제2윈도우 비교기(33)에서 네거티브 기준레벨(REFN)과 비교되어 그 결과로서 제4비교신호(CN2)가 발생된다.The delayed wobble signal DWB is compared with the positive reference level REFP in the second window comparator 33, and as a result, the third comparison signal CP2 is generated. In addition, the delayed wobble signal DWB is compared with the negative reference level REFN in the second window comparator 33, and as a result, the fourth comparison signal CN2 is generated.
다음에 제1비교신호(CP1) 및 제3비교신호(CP2)는 제1에지 검출회로(34)의 배타적 논리합 회로(341)에 의해 배타적 논리합되고 배타적 논리합 회로(341)의 출력신호(E1)는 논리곱 회로(342)에 의해 제3비교신호(CP2)와 논리곱된다. 그 결과로서 제1비교신호(CP1)의 하강 에지들을 나타내는 펄스들을 갖는 신호(A1)가 발생된다.The first comparison signal CP1 and the third comparison signal CP2 are then exclusive ORed by the exclusive OR circuit 341 of the first edge detection circuit 34 and output signal E1 of the exclusive OR circuit 341. Is logically multiplied with the third comparison signal CP2 by the AND circuit 342. As a result, a signal A1 having pulses representing falling edges of the first comparison signal CP1 is generated.
신호(A1)는 제1불연속점 판단회로(36)의 플립플롭(361)을 거쳐 카운터(362)에 입력된다. 카운터(362)에 의해, 신호(A1)의 펄스들중 연속하는 두 개의 펄스들이 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 워블 신호(WB)의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호(P1)가 발생된다. 즉 상기 연속하는 두 개의 펄스들이 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 워블 신호(WB)의 포지티브 데이터에 불연속점이 존재하는 것으로 판단된다.The signal A1 is input to the counter 362 via the flip-flop 361 of the first discontinuity point determination circuit 36. The counter 362 generates a signal P1 corresponding to the positive discontinuity point of the wobble signal WB when two consecutive pulses of the pulses of the signal A1 exist within a predetermined predetermined time interval. That is, when the two consecutive pulses exist within a predetermined time period, it is determined that a discontinuity point exists in the positive data of the wobble signal WB.
한편 제2비교신호(CN1) 및 제4비교신호(CN2)는 제2에지 검출회로(35)의 배타적 논리합 회로(351)에 의해 배타적 논리합되고 배타적 논리합 회로(351)의 출력신호(E2)는 논리곱 회로(352)에 의해 제4비교신호(CN2)와 논리곱된다. 그 결과로서 제2비교신호(CN1)의 하강 에지들을 나타내는 펄스들을 갖는 신호(A2)가 발생된다.On the other hand, the second comparison signal CN1 and the fourth comparison signal CN2 are exclusive-OR by the exclusive-OR circuit 351 of the second edge detection circuit 35, and the output signal E2 of the exclusive-OR circuit 351 is The AND product 352 performs an AND operation on the fourth comparison signal CN2. As a result, a signal A2 having pulses representing falling edges of the second comparison signal CN1 is generated.
신호(A2)는 제2불연속점 판단회로(37)의 플립플롭(371)을 거쳐 카운터(372)에 입력된다. 카운터(372)에 의해, 신호(A2)의 펄스들중 연속하는 두 개의 펄스들이 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 워블 신호(WB)의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호(P2)가 발생된다. 즉 상기 연속하는 두 개의 펄스들이 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 워블 신호(WB)의 네거티브 데이터에 불연속점이 존재하는 것으로 판단된다.The signal A2 is input to the counter 372 via the flip-flop 371 of the second discontinuous point determination circuit 37. The counter 372 generates a signal P2 corresponding to the negative discontinuity of the wobble signal WB when two consecutive pulses of the pulses of the signal A2 exist within a predetermined predetermined time interval. That is, when the two consecutive pulses exist within a predetermined time interval, it is determined that a discontinuity point exists in the negative data of the wobble signal WB.
워블 신호(WB)의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호(P1) 및 워블 신호(WB)의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호(P2)는 ADIP 신호 발생부(39)에 입력된다. ADIP 신호 발생부(39)에 의해, 최종신호(ADIP)는 신호(P2)의 상승에지에서 논리"로우"가 되고 신호(P1)의 상승에지에서 논리"하이"가 된다. 다시말해 최종신호(ADIP)는, 워블 신호(WB)에 네거티브 불연속점이 존재할 때 논리"로우"가 되고 워블 신호(WB)에 포지티브 불연속점이 존재할 때 논리"하이"가 된다.The signal P1 corresponding to the positive discontinuity point of the wobble signal WB and the signal P2 corresponding to the negative discontinuity point of the wobble signal WB are input to the ADIP signal generator 39. By the ADIP signal generator 39, the final signal ADIP becomes logic "low" at the rising edge of the signal P2 and becomes logic "high" at the rising edge of the signal P1. In other words, the final signal ADIP becomes logic "low" when there is a negative discontinuity point in the wobble signal WB and becomes logic "high" when there is a positive discontinuity point in the wobble signal WB.
도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 ADIP 신호 검출회로를 나타내는 블록도이다.6 is a block diagram showing an ADIP signal detection circuit according to a second embodiment of the present invention.
도 6을 참조하면, 본 발명의 제2실시예에 따른 ADIP 신호 검출회로는, 윈도우 비교기(61), 제1에지 검출회로(62), 제2에지 검출회로(63), 제1불연속점 판단회로(64), 제2불연속점 판단회로(65), 기준레벨 조절회로(66), 및 ADIP 신호 발생부(67)를 구비한다.Referring to FIG. 6, the ADIP signal detection circuit according to the second embodiment of the present invention may include a window comparator 61, a first edge detection circuit 62, a second edge detection circuit 63, and a first discontinuity point determination. A circuit 64, a second discontinuous point determination circuit 65, a reference level adjusting circuit 66, and an ADIP signal generator 67.
제2실시예에 따른 ADIP 신호 검출회로는 도 3에 도시된 제1실시예에 따른 ADIP 신호 검출회로와 동작이 동일하면서 그 구성만이 다소 다르다.The ADIP signal detection circuit according to the second embodiment has the same operation as that of the ADIP signal detection circuit according to the first embodiment shown in FIG.
윈도우 비교기(61)는 포지티브 기준레벨(REFP)과 워블 신호(WB)를 비교하여 제1비교신호(CP)를 발생하고 네거티브 기준레벨(REFN)과 워블 신호(WB)를 비교하여제2비교신호(CN)를 발생한다. 포지티브 기준레벨(REFP) 및 네거티브 기준레벨(REFN)은 기준레벨 조절회로(66)에 의해 조절된다.The window comparator 61 generates a first comparison signal CP by comparing the positive reference level REFP and the wobble signal WB, and compares the second reference signal by comparing the negative reference level REFN and the wobble signal WB. (CN) occurs. The positive reference level REFP and the negative reference level REREF are adjusted by the reference level adjusting circuit 66.
제1에지 검출회로(62) 및 제1불연속점 판단회로(64)는 워블 신호(WB)의 포지티브 데이터에서의 불연속점을 찾기 위한 것이며, 제2에지 검출회로(63) 및 제2불연속점 판단회로(65)는 워블 신호(WB)의 네거티브 데이터에서의 불연속점을 찾기 위한 것이다.The first edge detection circuit 62 and the first discontinuity point determination circuit 64 are for finding discontinuities in the positive data of the wobble signal WB, and the second edge detection circuit 63 and the second discontinuity point determination are determined. The circuit 65 is for finding discontinuities in the negative data of the wobble signal WB.
제1에지 검출회로(62)는 제1비교신호(CP)를 수신하여 제1비교신호(CP)의 에지들을 검출한다. 제2에지 검출회로(63)는 제2비교신호(CN)를 수신하여 제2비교신호(CN)의 에지들을 검출한다. 제1에지 검출회로(62) 및 제2에지 검출회로(63)는 포지티브 에지들을 검출하도록 구성될 수도 있고 필요에 따라 네거티브 에지들을 검출하도록 구성될 수도 있다.The first edge detection circuit 62 receives the first comparison signal CP to detect edges of the first comparison signal CP. The second edge detection circuit 63 receives the second comparison signal CN to detect edges of the second comparison signal CN. The first edge detection circuit 62 and the second edge detection circuit 63 may be configured to detect positive edges or may be configured to detect negative edges as needed.
여기에서 제1에지 검출회로(62)는 네거티브 에지들을 검출하도록 구성되어 있으며 지연기(621), 배타적 논리합(exclusive OR) 회로(622), 및 논리곱 회로(623)를 구비한다. 지연기(621)는 제1비교신호(CP)를 소정의 시간만큼 지연시킨다. 배타적 논리합(exclusive OR) 회로(622)는 제1비교신호(CP) 및 지연기(621)의 출력신호를 배타적 논리합한다. 논리곱 회로(623)는 배타적 논리합 회로(622)의 출력신호와 지연기(621)의 출력신호를 논리곱한다.Here, the first edge detection circuit 62 is configured to detect negative edges and includes a delay 621, an exclusive OR circuit 622, and an AND circuit 623. The delay unit 621 delays the first comparison signal CP by a predetermined time. The exclusive OR circuit 622 performs an exclusive OR on the first comparison signal CP and the output signal of the delay unit 621. The AND circuit 623 ANDs the output signal of the exclusive OR circuit 622 and the output signal of the delay unit 621.
제1에지 검출회로(62)가 포지티브 에지들을 검출하도록 구성될 경우에는 지연기(621)의 출력신호 대신에 제1비교신호(CP)가 논리곱 회로(623)에 입력된다.When the first edge detection circuit 62 is configured to detect the positive edges, the first comparison signal CP is input to the AND circuit 623 instead of the output signal of the delay unit 621.
제2에지 검출회로(63)는 네거티브 에지들을 검출하도록 구성되어 있으며 지연기(631), 배타적 논리합(exclusive OR) 회로(632), 및 논리곱 회로(633)를 구비한다. 지연기(631)는 제2비교신호(CN)를 소정의 시간만큼 지연시킨다. 배타적 논리합(exclusive OR) 회로(632)는 제2비교신호(CN) 및 지연기(631)의 출력신호를 배타적 논리합한다. 논리곱 회로(633)는 배타적 논리합 회로(632)의 출력신호와 지연기(631)의 출력신호를 논리곱한다.The second edge detection circuit 63 is configured to detect negative edges and includes a delay 631, an exclusive OR circuit 632, and an AND circuit 633. The delay unit 631 delays the second comparison signal CN by a predetermined time. The exclusive OR circuit 632 performs an exclusive OR on the second comparison signal CN and the output signal of the delay unit 631. The AND circuit 633 logically multiplies the output signal of the exclusive OR circuit 632 with the output signal of the delay unit 631.
제2에지 검출회로(63)가 포지티브 에지들을 검출하도록 구성될 경우에는 지연기(631)의 출력신호 대신에 제2비교신호(CN)가 논리곱 회로(633)에 입력된다.When the second edge detection circuit 63 is configured to detect the positive edges, the second comparison signal CN is input to the logical product circuit 633 instead of the output signal of the delay unit 631.
제1불연속점 판단회로(64)는 제1실시예에서와 마찬가지로 플립플롭(641) 및 카운터(642)를 구비하며 동일한 동작을 수행한다. 즉 제1불연속점 판단회로(64)는 제1에지 검출회로(62)에 의해 검출된 에지들중 연속하는 두 개의 에지들이 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 워블 신호(WB)의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호(P1)를 발생한다.The first discontinuity point determination circuit 64 has a flip-flop 641 and a counter 642 and performs the same operation as in the first embodiment. That is, the first discontinuity point determination circuit 64 is located at the positive discontinuity point of the wobble signal WB when two consecutive edges among the edges detected by the first edge detection circuit 62 exist within a predetermined time interval. Generate the corresponding signal P1.
제2불연속점 판단회로(65)는 제1실시예에서와 마찬가지로 플립플롭(651) 및 카운터(652)를 구비하며 동일한 동작을 수행한다. 즉 제2불연속점 판단회로(65)는 제2에지 검출회로(63)에 의해 검출된 에지들중 연속하는 두 개의 에지들이 상기 소정의 일정시간 구간내에 존재할 때에는 워블 신호(WB)의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호(P2)를 발생한다.The second discontinuity determination circuit 65 has a flip-flop 651 and a counter 652 as in the first embodiment and performs the same operation. That is, the second discontinuity point determination circuit 65 may generate a negative discontinuity point of the wobble signal WB when two consecutive edges among the edges detected by the second edge detection circuit 63 exist within the predetermined time period. It generates a signal P2 corresponding to.
ADIP 신호 발생부(67)는 제1실시예에서와 마찬가지로 워블 신호의 포지티브 불연속점에 해당하는 신호(P1) 및 워블 신호의 네거티브 불연속점에 해당하는 신호(P2)를 수신하여 ADIP(Address in pre-groove) 신호(ADIP)를 발생한다.The ADIP signal generator 67 receives the signal P1 corresponding to the positive discontinuity point of the wobble signal and the signal P2 corresponding to the negative discontinuity point of the wobble signal, as in the first embodiment, and receives the ADIP (Address in pre). Generate the -groove signal (ADIP).
상술한 제2실시예에 따른 ADIP 신호 검출회로에서 수행되는 ADIP 신호 검출방법은 제1실시예에 따른 ADIP 신호 검출회로에서 수행되는 ADIP 신호 검출방법과 거의 유사하므로 여기에서 상세한 설명은 생략된다.The ADIP signal detection method performed in the ADIP signal detection circuit according to the second embodiment described above is almost similar to the ADIP signal detection method performed in the ADIP signal detection circuit according to the first embodiment, and thus the detailed description thereof will be omitted.
이상 도면과 명세서에서 최적 실시예가 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.The best embodiment has been disclosed in the drawings and specification above. Although specific terms have been used herein, they are used only for the purpose of describing the present invention and are not intended to limit the scope of the invention as defined in the claims or the claims. Therefore, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible from this. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.
상술한 바와 같이 본 발명의 ADIP 신호 검출방법에 따라 구현되는 본 발명의 ADIP 신호 검출회로는, 하나 또는 두 개의 윈도우 비교기, 각각 배타적 논리합 회로와 논리곱 회로로 구성되는 두 개의 에지 검출회로들, 각각 플립플롭과 카운터로 구성되는 두 개의 불연속점 판단회로들을 구비한다. 따라서 회로가 간단하여 쉽게 집적회로로 구현될 수 있으며 또한 동작속도가 빨라 불연속점을 정확히 빠르게 검출할 수 있는 장점이 있다.As described above, the ADIP signal detection circuit of the present invention implemented according to the ADIP signal detection method of the present invention includes one or two window comparators, two edge detection circuits each consisting of an exclusive OR circuit and an AND circuit, respectively. Two discontinuity point determination circuits comprising a flip-flop and a counter are provided. Therefore, since the circuit is simple, it can be easily implemented as an integrated circuit, and the operation speed is high, so that the discontinuity point can be detected accurately and quickly.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
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Payment date: 20130430 Year of fee payment: 8 |
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FPAY | Annual fee payment |
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LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |