KR20040034252A - Matrix assisted laser desorption ionization time of flight mass spectrometry - Google Patents

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KR20040034252A
KR20040034252A KR1020020064346A KR20020064346A KR20040034252A KR 20040034252 A KR20040034252 A KR 20040034252A KR 1020020064346 A KR1020020064346 A KR 1020020064346A KR 20020064346 A KR20020064346 A KR 20020064346A KR 20040034252 A KR20040034252 A KR 20040034252A
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이재철
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삼성전자주식회사
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Abstract

PURPOSE: A matrix assisted laser deposition ionization-time of flight mass spectroscopy is provided to improve resolution by fabricating the matrix assisted laser deposition ionization-time of flight mass spectroscopy in a compact size. CONSTITUTION: A matrix assisted laser deposition ionization-time of flight mass spectroscopy includes a light source(101), a main chamber(105), a flight tube(123), and a sub-chamber(129). The light source(101) radiates light onto a test sample so as to dissolve the test sample into ions. A light attenuator(102) is provided in front of the light source(101) in order to attenuate intensity of light. A prism(103) is installed in a light route formed between the light attenuator(102) and the test sample. The prism(103) refracts light toward the test sample so that ions are separated from the test sample.

Description

매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기{Matrix assisted laser desorption ionization time of flight mass spectrometry}Matrix assisted laser desorption ionization time of flight mass spectrometry

본 발명은 매질보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기(MALDI-TOF MS; Matrix Assisted Laser Deposition Ionization- Time Of Flight Mass Spectroscopy) 에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 고성능의 분해능을 가지는 소형의 매질보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기에 관한 것이다.The present invention relates to a matrix assisted laser detachment time-of-flight mass spectrometer (MALDI-TOF MS), and more particularly to a compact medium assisted laser detachment excitation with high performance resolution. A time-of-flight mass spectrometer.

매질보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기(이하 질량분석기라 함)는 DNA, 단백질과 같은 고분자 바이오 물질의 질량을 분석하는 장치이다.Medium assisted laser desorption excitation time mass spectrometry (hereinafter referred to as mass spectrometry) is a device that analyzes the mass of polymer biomaterials such as DNA and proteins.

도 1은 종래의 질량분석기를 보인 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing a conventional mass spectrometer.

도 1을 참조하면, 광원(11)으로부터 방출된 레이저빔 또는 자외선은 광감쇠기(12)를 통과하면서 광강도가 조절된 다음 프리즘(13)에 의해 굴절되어 시료(S0)에 조사된다. 시료(S0)는 시료챔버(19)로부터 메인소스챔버(15)로 이송되어 시료홀더(16)에 안착되고, 광원(11)으로부터 조사된 광은 시료(S0)로부터 이온(I0)들을 탈착시킨다. 탈착된 이온(I0)들은 제1그리드(17)와 제2그리드(20)에 인가되는 전압에 의해 형성되는 전기장으로 인해 상기 전기장 방향으로 가속되고, 비행관(23)을 통과하여 검출챔버(29)에 도달한다.Referring to FIG. 1, the laser beam or ultraviolet light emitted from the light source 11 is adjusted by the light intensity while passing through the light attenuator 12 and then refracted by the prism 13 to irradiate the sample S 0 . Samples (S 0) is transferred to the main source chamber 15 from the sample chamber 19 is mounted on the sample holder 16, the ions from the light samples (S 0) irradiated from the light source (11), (I 0) Remove them. The desorbed ions I 0 are accelerated in the direction of the electric field due to the electric field formed by the voltage applied to the first grid 17 and the second grid 20, and pass through the flight tube 23 to detect the chamber. 29).

검출챔버(29)에는 선형 검출기(28)가 마련되어 비행관(23)의 축방향으로 일부 직진하는 이온들을 검출하고, 검출챔버(29)의 내부에는 복수의 반사경(27)이 배열되어 이온들(I0)이 반사형 검출기(26)로 되돌아가도록 변화시킨다. 이온들(I0)의 대부분은 반사경(27)에 의해 경로가 변화되어 반사형 검출기(26)에 검출된다. 참조부호 20은 콜리젼 셀(collision cell)이고, 참조부호 22는 비디오 카메라이며, 참조부호 24는 빔 가이드 와이어(beam guide wire)이고, 참조부호 25는 이온 셀렉터(ion selector)이다.The detection chamber 29 is provided with a linear detector 28 to detect ions traveling straight in the axial direction of the flight tube 23, and a plurality of reflectors 27 are arranged inside the detection chamber 29 to form ions ( I 0 ) changes to return to the reflective detector 26. Most of the ions I 0 are changed by the reflector 27 and detected by the reflective detector 26. Reference numeral 20 denotes a collision cell, reference numeral 22 denotes a video camera, reference numeral 24 denotes a beam guide wire, and reference numeral 25 denotes an ion selector.

종래에는 도시된 형태의 질량분석기를 이용하여, 이온들(I0)이 비행관을 통과하는 시간을 측정함으로써 이온의 질량(원자량 대 전하비)에 관한 정보를 얻을 수 있었다. 하지만, 종래의 질량분석기는 구비되는 비행관의 길이가 길기 때문에 질량분석기의 전체 부피가 커지고 따라서 넓은 설치공간을 필요로 한다. 또한, 종래의 질량분석기가 직선 형태의 비행관을 구비하는 경우 질량분석기의 모양은 간단한 반면 질량 분해능이 떨어지고, 곡선 형태의 비행관을 구비하는 경우 분해능은 향상되지만 별도의 전위나 자장을 인가해주는 장치가 필요한 단점을 가진다.Conventionally, using a mass spectrometer of the type shown, it was possible to obtain information about the mass (atomic weight to charge ratio) of the ions by measuring the time the ions I 0 pass through the flight tube. However, the conventional mass spectrometer has a long length of the flight tube provided, so that the total volume of the mass spectrometer is large and thus requires a large installation space. In addition, when the conventional mass spectrometer is provided with a straight flight tube, the mass spectrometer is simple in shape but the mass resolution is inferior. In the case where a curved flight tube is provided, the resolution is improved but a device for applying a separate potential or magnetic field is provided. Has the necessary disadvantages.

따라서, 본 발명은 상기 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여, 향상된 분해능을 가지는 소형의 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기를 제공하는 것이다.Accordingly, the present invention provides a compact medium assisted laser desorption excitation time-of-flight mass spectrometer with improved resolution in order to solve the problems of the prior art.

도 1은 종래의 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기의 구성도,1 is a block diagram of a conventional medium assisted laser desorption excitation flight time mass spectrometer,

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기의 구성도.2 is a block diagram of a medium assisted laser desorption excitation flight time mass spectrometer according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

101 ; 광원 102 ; 감쇠기101; Light source 102; Attenuator

103 ; 프리즘 105 ; 메인 챔버103; Prism 105; Main chamber

106 ; 시료 홀더 107 ; 제1그리드106; Sample holder 107; First grid

111 ; 진공 챔버 113 ; 제2그리드111; Vacuum chamber 113; Second grid

119; 샘플 챔버 120 ; 반사형 검출기119; Sample chamber 120; Reflective Detector

121 ; 개구 채널 122 ; 비디오 카메라121; Aperture channel 122; Video camera

127 ; 반사경 128 ; 선형 검출기127; Reflector 128; Linear detector

129 ; 서브 챔버129; Subchamber

상기 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명은,The present invention to achieve the above technical problem,

광학계;Optical system;

상기 광학계로부터 조사되는 빔에 의해 이온이 탈착되는 시료가 안착되는 시료홀더와, 상기 이온을 가속시키는 제1그리드 및, 상기 제1그리드를 통과한 다음 회귀하는 이온을 검출하는 반사형 검출기를 포함하는 메인 챔버;And a sample holder on which a sample from which ions are desorbed by a beam irradiated from the optical system is seated, a first grid for accelerating the ions, and a reflective detector for detecting ions passing back after passing through the first grid. Main chamber;

상기 메인챔버와 관통하며, 상기 메인 챔버에서 가속된 상기 이온이 비행하는 비행관;A flight tube which penetrates through the main chamber and in which the ions accelerated in the main chamber fly;

상기 비행관과 관통하며, 상기 이온의 경로를 변화시켜 상기 메인챔버로 회귀시키는 반사경과, 상기 비행관의 중심축에 나란하게 진행하는 이온을 검출하는 선형 검출기를 포함하는 서브 챔버; 및A subchamber including a reflector penetrating the air pipe and changing the path of the ions to return to the main chamber, and a linear detector for detecting ions traveling parallel to the central axis of the air pipe; And

상기 메인 챔버, 상기 비행관 및, 상기 서브 챔버를 진공상태로 유지시키는 진공 챔버;를 구비하는 것을 특징으로 하는 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기을 제공한다.And a main chamber, the flight tube, and a vacuum chamber for maintaining the sub-chamber in a vacuum state.

상기 메인 챔버는 상기 반사형 검출기의 주변을 등전위 영역으로 형성하는 제2그리드를 구비한다.The main chamber has a second grid that forms an equipotential region around the reflective detector.

상기 반사경은, 상기 서브 챔버의 내부의 양측벽에 마련되고 상기 이온을 상기 비행관의 중심축에 대해 대칭인 제1 및 제2경로로 분리하여 상기 메인챔버로 회귀시킨다.The reflector is provided on both side walls of the inside of the subchamber and separates the ions into first and second paths symmetrical with respect to the central axis of the flight tube and returns to the main chamber.

상기 반사형 검출기는, 상기 서브챔버로부터 제1 및 제2경로로 회귀하는 이온을 검출하는 제1 및 제2검출판을 구비한다.The reflective detector includes first and second detection plates for detecting ions returning to the first and second paths from the subchamber.

상기 메인 챔버는, 상기 비행관으로부터 회귀하는 이온을 집속시키도록 상기 비행관과의 연결부에 개구 채널을 더 구비하는 것이 바람직하다.The main chamber preferably further includes an opening channel at a connection portion with the flight tube to focus ions returning from the flight tube.

상기 메인챔버의 외부에는 상기 시료를 공급하는 시료챔버가 더 구비될 수 있다.A sample chamber for supplying the sample may be further provided outside the main chamber.

상기 광학계는, 레이저빔 또는 자외선을 조사하는 광원을 포함한다.The optical system includes a light source for irradiating a laser beam or ultraviolet light.

상기 광학계는, 상기 광원으로부터 조사되는 레이저 빔 또는 자외선의 광강도를 조절하는 광감쇠기를 더 구비할 수 있다.The optical system may further include a light attenuator for adjusting the light intensity of the laser beam or ultraviolet light irradiated from the light source.

본 발명의 실시예에 따른 질량분석기는, 종래의 질량분석기와 달리, 시료에서 탈착된 이온이 비행하는 경로를 두 배 정도로 증가시킴으로써 분해능이 향상된다. 또한, 본 발명의 실시예에 따른 질량분석기에서, 이온이 종래의 질량분석기의 비행경로와 비슷한 길이의 경로를 비행하는 경우 종래의 질량분석기와 비슷한 분해능을 가지면서 소형으로 제조할 수 있다.Mass spectrometer according to an embodiment of the present invention, unlike the conventional mass spectrometer, the resolution is improved by doubling the path by which the ions desorbed from the sample fly about. In addition, in the mass spectrometer according to the embodiment of the present invention, when the ions fly a path having a length similar to that of the conventional mass spectrometer, the mass spectrometer may have a similar resolution to that of the conventional mass spectrometer and may be manufactured in a compact size.

이하 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기(이하 질량분석기라 함)를 상세히 설명한다.Hereinafter, a medium assisted laser desorption excitation flight time mass spectrometer (hereinafter referred to as a mass spectrometer) according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 질량 분석기의 구성도이다.2 is a block diagram of a mass spectrometer according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 질량 분석기는, 광원(101)과, 서로 관통하며 연결되는 메인 챔버(105)와, 비행관(123)과, 서브 챔버(129)를 포함한다.2, a mass spectrometer according to an embodiment of the present invention includes a light source 101, a main chamber 105 penetrating and connected to each other, a flight tube 123, and a sub chamber 129. .

광원(101)은, 시료(S)를 이온으로 분해시킬 수 있는 레이저빔 또는 자외선 등의 광을 방출하는데, 여기서 광원(101)은 레이저로 가정한다. 광원(101)의 전방에는 광감쇠기(102)가 더 위치하여 조사되는 레이저빔의 광강도를 완화시킨다. 광감쇠기(102)와 시료(S) 사이의 광경로상에는 프리즘(103)이 배치되어 레이저빔을 굴절시켜 시료(S)에 조사함으로써 시료(S)로부터 이온을 탈착시킨다.The light source 101 emits light such as a laser beam or ultraviolet light capable of decomposing the sample S into ions, where the light source 101 is assumed to be a laser. The light attenuator 102 is further positioned in front of the light source 101 to mitigate the light intensity of the laser beam to be irradiated. A prism 103 is disposed on the optical path between the optical attenuator 102 and the sample S to deflect the laser beam and irradiate the sample S to desorb ions from the sample S.

메인 챔버(105)는, 시료(S)가 안착되는 시료홀더(106)와, 시료(S)로부터 탈착된 이온을 가속시키는 제1그리드(107)와, 제1그리드(107)를 통과한 다음, 비행관(123)의 중심축에 대해 대칭인 제1 및 제2경로로 회귀하는 이온(I1, I2)들을검출하는 반사형 검출기(120) 및, 반사형 검출기(120)의 주변에 제1그리드(107)에 대한 역전압을 인가하여 전위차가 없는 등전위 영역으로 형성하는 제2그리드(113)를 포함한다.The main chamber 105 passes through the sample holder 106 on which the sample S is seated, the first grid 107 for accelerating the ions desorbed from the sample S, and the first grid 107. , A reflective detector 120 for detecting ions I1 and I2 returning to the first and second paths symmetrical with respect to the central axis of the flight tube 123, and a first detector around the reflective detector 120. A second grid 113 is formed by applying a reverse voltage to the grid 107 to form an equipotential region having no potential difference.

비행관(123)은, 좌측이 메인 챔버(105)와 관통하고, 그 내부에는 제1 및 제2그리드(107, 113)에 의해 형성된 전기장에 의해 가속되는 이온이 비행한다.The flight pipe 123 penetrates through the main chamber 105 on the left side, and ions accelerated by the electric fields formed by the first and second grids 107 and 113 fly therein.

서브 챔버(129)는, 비행관(123)의 우측과 관통하며, 비행관(123)으로부터 가속되어 비행하는 이온들 중 비행관(123)의 중심축에 대해 나란하게 비행하는 이온(Ic)들을 검출하는 선형 검출기(128)를 시료(S)와 대향하도록 내부에 구비한다. 또한, 서브챔버(129)의 내부에는 소정의 방위각을 가지고 발산된 이온(I1, I2)을 제1 및 제2경로로 분리하여 메인 챔버(105)로 회귀시키도록 전기장을 역으로 인가하는 반사경(127)이 양측벽쪽으로 마련되어 있다.The subchamber 129 penetrates with the right side of the air duct 123, and among the ions accelerated from the air duct 123, ions Ic flying side by side with respect to the central axis of the air duct 123 are flying. The linear detector 128 to detect is provided inside so that the sample S may be opposed. In addition, inside the subchamber 129, a reflecting mirror that reversely applies an electric field to separate ions I1 and I2 having a predetermined azimuth angle into first and second paths and return them to the main chamber 105 ( 127 is provided on both side walls.

비행관(123)의 좌측에는 개구 채널(121)이 별도로 마련되어 발산되어 입사하는 이온(I1, I2)을 반사형 검출기(120)로 집속시키는 기능을 한다.An opening channel 121 is separately provided on the left side of the flight tube 123 to focus and divert incident ions I1 and I2 to the reflective detector 120.

메인 챔버(105)에는 메인 챔버(105), 비행관(123) 및, 서브 챔버(129)를 진공상태로 유지시키는 진공 챔버(111)가 마련되고, 또한 시료홀더(106)에 안착되는 시료(S)를 공급하는 시료 챔버(119)가 연결된다. 진공 챔버(111)는 미캐니컬 펌프와 고진공을 얻을 수 있는 터보 분자펌프가 구비되어 상기 펌프들의 펌핑작용을 통해 메인 챔버(105), 비행관(123) 및 서브 챔버(129)의 내부 압력을 조절한다.The main chamber 105 is provided with a main chamber 105, a flight pipe 123, and a vacuum chamber 111 for maintaining the subchamber 129 in a vacuum state, and a sample placed on the sample holder 106 ( The sample chamber 119 which supplies S) is connected. Vacuum chamber 111 is provided with a mechanical pump and a turbo molecular pump to obtain a high vacuum through the pumping action of the pumps to increase the internal pressure of the main chamber 105, the flight pipe 123 and the sub-chamber 129 Adjust

메인 챔버(105)의 외부에는 시료(S)의 상태를 모니터할 수 있는 비디오 카메라(122)가 더 구비될 수 있다.The outside of the main chamber 105 may be further provided with a video camera 122 that can monitor the state of the sample (S).

다음, 본 발명의 실시예에 따른 질량분석기를 이용하여, 이온의 질량(m)을 알아내는 방법을 살펴본다.Next, a method of determining the mass (m) of ions using a mass spectrometer according to an embodiment of the present invention will be described.

먼저, 레이저빔이나 자외선을 시료(S)에 조사하고 시료(S)로부터 탈착된 이온이 시료(S)로부터 선형 검출기(128) 또는 반사형 검출기(120)까지 비행한 시간(t)을 측정한다. 이온의 질량을 분석할 수 있다. 이온들의 비행시간(t)은 선형 검출기(128)와 반사형 검출기(120)에 검출되는 신호로부터 측정할 수 있다. 이온화된 시료의 질량(m)은 수학식 1과 같이 시료에 가해주는 전위 에너지(V)를 운동에너지(E)로 근사시키고, 수학식 1을 이온의 질량(m)에 대한 식으로 계산하면 수학식 2와 같이 이온의 질량(m)을 구할 수 있다.First, a laser beam or ultraviolet rays are irradiated onto the sample S, and the time t that ions desorbed from the sample S fly from the sample S to the linear detector 128 or the reflective detector 120 is measured. . Mass of ions can be analyzed. The flight time t of the ions may be measured from signals detected by the linear detector 128 and the reflective detector 120. The mass (m) of the ionized sample is approximated to the kinetic energy (E) by applying the potential energy (V) applied to the sample as shown in Equation 1, and the equation (1) is calculated as an equation for the mass (m) of ions. The mass (m) of ions can be obtained as in Equation 2.

수학식 2에서 미지수인 이온의 속도(v)는, 시료(S)와 선형 검출기(128) 또는 반사형 검출기(120)까지의 거리(x)를 측정하고, 검출기(128, 120)의 신호로부터 구한 비행 시간(t)를 수학식 3과 같은 간단한 운동방정식에 대입하여 구할 수 있다.The velocity v of the unknown ion in Equation 2 measures the distance x between the sample S and the linear detector 128 or the reflective detector 120, and from the signals of the detectors 128 and 120. The obtained flight time (t) can be obtained by substituting a simple equation such as equation (3).

수학식 3에서 구한 이온의 속도(v)를 수학식 2에 대입하면 측정하고자 하는 시료(S)의 질량을 알 수 있다.Substituting the velocity (v) of the ion obtained in Equation 3 into Equation 2, the mass of the sample S to be measured can be known.

본 발명은 분석하고자 하는 물질을 매질에 혼합시켜 이온화시킴으로써 분석하고자 하는 물질이 불필요하게 분쇄되는 것을 방지하고 분자량이 큰 DNA와 같은 물질의 질량을 고분해능으로 분석하기에 용이한 장점을 가진다.The present invention has the advantage that the material to be analyzed in the medium to be mixed and ionized to prevent unnecessary crushing of the material to be analyzed and to analyze the mass of a material such as DNA having high molecular weight with high resolution.

또한 본 발명은, 기존의 질량분석기와 유사한 분해능을 달성하면서, 비행관의 길이를 종래의 직선형 비행관에 비해 절반 정도로 줄일 수 있어 소형으로 제작될 수 있으며 바람직하게는 휴대용으로도 제작될 수 있다.In addition, the present invention, while achieving a resolution similar to the conventional mass spectrometer, the length of the flight tube can be reduced by about half compared to the conventional straight flight tube can be made compact and preferably can also be manufactured to be portable.

상기한 설명에서 많은 사항이 구체적으로 기재되어 있으나, 그들은 발명의 범위를 한정하는 것이라기보다, 바람직한 실시예의 예시로서 해석되어야 한다. 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 의하여 정하여 질 것이 아니고 특허 청구범위에 기재된 기술적 사상에 의해 정하여져야 한다.While many details are set forth in the foregoing description, they should be construed as illustrative of preferred embodiments, rather than to limit the scope of the invention. The scope of the invention should not be defined by the described embodiments, but should be determined by the technical spirit described in the claims.

상술한 바와 같이 본 발명의 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기의 장점은, 종래의 질량분석기와 비슷한 분해능을 가지면서 소형으로 제조될 수 있으며, 종래의 질량분석기와 비슷한 길이의 이온 비행경로를 가지면서 향상된 분해능으로 고분자 DNA와 같은 유기물의 질량을 분석할 수 있다는 것이다.As described above, the advantages of the medium assisted laser desorption excitation flight time mass spectrometer of the present invention can be manufactured compactly with a resolution similar to that of a conventional mass spectrometer, and have an ion flight path similar to that of a conventional mass spectrometer. The improved resolution allows the analysis of masses of organic materials such as polymer DNA.

Claims (8)

광학계;Optical system; 상기 광학계로부터 조사되는 빔에 의해 이온이 탈착되는 시료가 안착되는 시료홀더와, 상기 이온을 가속시키는 제1그리드 및, 상기 제1그리드를 통과한 다음 회귀하는 이온을 검출하는 반사형 검출기를 포함하는 메인 챔버;And a sample holder on which a sample from which ions are desorbed by a beam irradiated from the optical system is seated, a first grid for accelerating the ions, and a reflective detector for detecting ions passing back after passing through the first grid. Main chamber; 상기 메인챔버와 관통하며, 상기 메인 챔버에서 가속된 상기 이온이 비행하는 비행관;A flight tube which penetrates through the main chamber and in which the ions accelerated in the main chamber fly; 상기 비행관과 관통하며, 상기 이온의 경로를 변화시켜 상기 메인챔버로 회귀시키는 반사경과, 상기 비행관의 중심축과 나란하게 진행하는 이온을 검출하는 선형 검출기를 포함하는 서브 챔버; 및A subchamber including a reflector penetrating the air pipe and changing a path of the ions to return to the main chamber, and a linear detector for detecting ions traveling parallel to the center axis of the air pipe; And 상기 메인 챔버, 상기 비행관 및, 상기 서브 챔버를 진공상태로 유지시키는 진공 챔버;를 구비하는 것을 특징으로 하는 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기.And a vacuum chamber for maintaining the main chamber, the flight pipe, and the sub-chamber in a vacuum state. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 메인 챔버는 상기 반사형 검출기의 주변을 등전위 영역으로 형성하는 제2그리드를 구비하는 것을 특징으로 하는 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기.The main chamber has a second grid for forming the periphery of the reflective detector to the equipotential region. 제 2 항에 있어서, 상기 반사경은,The method of claim 2, wherein the reflector, 상기 서브 챔버의 내부의 양측벽에 마련되고 상기 이온을 상기 비행관의 중심축에 대해 대칭인 제1 및 제2경로로 분리하여 상기 메인챔버로 회귀시키는 것을특징으로 하는 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기.Medium assisted laser desorption excitation flight time provided on both side walls of the subchamber and separating the ions into first and second paths symmetrical with respect to the center axis of the flight tube and returning to the main chamber. Mass spectrometer. 제 3 항에 있어서, 상기 반사형 검출기는,The method of claim 3, wherein the reflective detector, 상기 서브챔버로부터 제1 및 제2경로로 회귀하는 이온을 검출하는 제1 및 제2검출판을 구비하는 것을 특징으로 하는 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기.And a first and a second detection plate for detecting ions returning from the subchamber to the first and second paths. 제 4 항에 있어서, 상기 메인 챔버는,The method of claim 4, wherein the main chamber, 상기 비행관으로부터 회귀하는 이온을 집속시키도록 상기 비행관과의 연결부에 개구 채널을 가지는 것을 특징으로 하는 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기.The medium assisted laser desorption excitation time-of-flight mass spectrometer having an opening channel at a connection with the air line to focus ions returning from the air line. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 메인챔버의 외부에 상기 시료를 공급하는 시료챔버가 더 구비되는 것을 특징으로 하는 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기.A medium assisted laser desorption excitation flight time mass spectrometer, further comprising a sample chamber for supplying the sample to the outside of the main chamber. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 광학계는, 레이저빔 또는 자외선을 조사하는 광원을 포함하는 것을 특징으로 하는 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기.The optical system, the medium-assisted laser desorption excitation flight time mass spectrometer, characterized in that it comprises a light source for irradiating a laser beam or ultraviolet light. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 광학계는, 상기 광원으로부터 조사되는 레이저 빔 또는 자외선의 광강도를 조절하는 광감쇠기를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 매질 보조 레이저 탈착 여기 비행시간 질량분석기.The optical system further comprises a light attenuator for adjusting the light intensity of the laser beam or ultraviolet light irradiated from the light source.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10388506B2 (en) 2014-12-30 2019-08-20 Kora Basic Science Institute Time-of-flight mass spectrometer using a cold electron beam as an ionization source
KR20200021753A (en) * 2018-08-21 2020-03-02 한국기초과학지원연구원 Time of flight mass spectrometer and driving method thereof
CN116153761A (en) * 2023-04-21 2023-05-23 浙江迪谱诊断技术有限公司 Time-of-flight mass spectrometer

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4694168A (en) * 1984-02-29 1987-09-15 Centre National De La Recherche Scientifique Time-of-flight mass spectrometer
JPS63146339A (en) * 1986-12-08 1988-06-18 Shimadzu Corp Time-of-flight type mass spectrometer
JPH04154040A (en) * 1990-10-17 1992-05-27 Hitachi Ltd Microscopic laser excitation mass spectrometer
JPH06124684A (en) * 1992-10-13 1994-05-06 Hitachi Ltd Mass spectrometer
US6057543A (en) * 1995-05-19 2000-05-02 Perseptive Biosystems, Inc. Time-of-flight mass spectrometry analysis of biomolecules
EP1137044A2 (en) * 2000-03-03 2001-09-26 Micromass Limited Time of flight mass spectrometer with selectable drift lenght

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4694168A (en) * 1984-02-29 1987-09-15 Centre National De La Recherche Scientifique Time-of-flight mass spectrometer
JPS63146339A (en) * 1986-12-08 1988-06-18 Shimadzu Corp Time-of-flight type mass spectrometer
JPH04154040A (en) * 1990-10-17 1992-05-27 Hitachi Ltd Microscopic laser excitation mass spectrometer
JPH06124684A (en) * 1992-10-13 1994-05-06 Hitachi Ltd Mass spectrometer
US6057543A (en) * 1995-05-19 2000-05-02 Perseptive Biosystems, Inc. Time-of-flight mass spectrometry analysis of biomolecules
EP1137044A2 (en) * 2000-03-03 2001-09-26 Micromass Limited Time of flight mass spectrometer with selectable drift lenght

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10388506B2 (en) 2014-12-30 2019-08-20 Kora Basic Science Institute Time-of-flight mass spectrometer using a cold electron beam as an ionization source
KR20200021753A (en) * 2018-08-21 2020-03-02 한국기초과학지원연구원 Time of flight mass spectrometer and driving method thereof
CN116153761A (en) * 2023-04-21 2023-05-23 浙江迪谱诊断技术有限公司 Time-of-flight mass spectrometer

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