KR20040010676A - 전화선 점유를 검출하기 위한 디바이스 - Google Patents

전화선 점유를 검출하기 위한 디바이스 Download PDF

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Abstract

전화선 점유를 검출하기 위한 디바이스는 전화선에 직렬로 연결되고 수미식으로 배치된 제 1 및 제 2 광 결합기(OC1, OC2)에 걸쳐서 전화선의 전압(UL)의 측정을 수행한다. 제 1 광 결합기(OC1)는 전화선에 연결된 커패시터(C)를 방전시킬 수 있고, 제 2 광 결합기(OC2)는 방전 전류(ID)를 측정 회로(S)에서 이미지 전류(ID')로 변환한다. 이 디바이스는 제 2 광 결합기(OC2)로부터 제 1 광 결합기(OC1)로의 네거티브 피드백을 보장하는 수단을 포함한다. 이 배치를 통해, 전압 측정에 대한 광 결합기의 전달 계수 영향은, 측정의 정확도를 높이기 위해 줄어든다.

Description

전화선 점유를 검출하기 위한 디바이스{DEVICE FOR DETECTING TELEPHONE LINE SEIZURE}
좀더 상세하게는, 본 발명은 독자적으로 전화 호출을 할 수 있는 전화 장치 또는 단자를 위한 것이다. 본 발명은 예컨대 텔레비전 수신기, 케이블 또는 위성 네트워크 및 전화선에 링크되기 위해 가입자의 구내에 설치되어 있는 모듈과 같은 케이블-텔레비전 또는 위성-텔레비전 네트워크 가입 모듈에 통합될 수 있다. 그러한 모듈을 통해, 가입자는 특히 케이블 네트워크의 특정한 채널에 의해 이용 가능하게 될 수 있는 메뉴로부터 영화를 선택함으로써 가입자가 선택한 영화를 주문할 수 있다. 모듈은 전화선을 통해 대응하는 요청을 발송하여, 케이블 네트워크가 선택된 영화를 가입자 모듈에 전송하게 하는 모뎀을 포함한다. 전화선이 이 전화선에 병렬로 연결된 장치를 통해 통신하고 있는 또 다른 사용자에 의해 사용되는 경우,모듈은 진행중인 통신을 방해하지 않기 위해 그 요청의 발송을 연기하기 위해 전화선이 사용되고 있음을 반드시 검출할 수 있어야 한다. 유사하게, 이러한 장치가 호출을 할 때, 만약 이러한 장치가 또 다른 장치가 호출을 시도하고 있음을 검출한다면, 이러한 장치는 또한 전화선을 해제할 수 있어야 한다. 종래에, 전화선 점유의 검출은 전화선 전압을 측정하는 것이며, 이러한 전압은 만약 전화선이 사용중이 아니라면 대략 50V이며, 만약 이것이 사용되고 있다면 더 낮은 값이다. 전화선이 사용될 때, 만약 또 다른 장치가 호출을 시도한다면, 이것은 또한 전화선 전압의 강하를 야기할 것이다.
특히, 수미식으로 배치되고 전화선의 단자와 직렬로 배치된 두 개의 광 결합기를 통해 이러한 측정을 수행하는 것이 알려져 있다. 이 디바이스에서, 제 1 광 결합기는 또한 광 결합기와 병렬로 전화선에 연결되는 커패시터의 방전을 트리거하기 위해 펄스 생성기에 의해 구동된다. 커패시터의 각 방전은 제 2 광 결합기에 의해 측정 회로에서 방전 전류를 반영하는 이미지 전류로 변환되는 방전 전류를 생성한다. 커패시터의 방전이 일정 전류에서 수행되고 있기 때문에, 방전 시간은 전화선 전압을 방전 전류 값으로 나눈 값에 비례하며, 이 방전 시간은 전화선 전압을 확인하기 위해 측정 회로에서 평가된다. 광 결합기를 사용함으로써, 전화선을 통해 송신될 수 있는 과전압으로부터 측정 회로를 보호하기 위해 측정 회로로부터 전화선을 격리시킬 수 있다. 이러한 디바이스에서, 제 1 광 결합기는 커패시터의 방전 전류 값을 제어하며, 이러한 방전 전류는 제 1 광 결합기의 전달 계수에 비례한다.
이러한 배치의 문제점은 제 1 광 결합기의 전달 계수의 분산이 측정의 분산을 생성한다는 점이다. 이러한 결함을 해결하는 한 가지 방식으로 명확히 한정된 전달 계수를 갖는 광 결합기를 선택하는 것이며, 이점은 상당한 추가적인 제조 비용을 생성한다.
본 발명은 전화선에 직렬로 연결되고 수미식으로(head-to-tail) 배치된 제 1 및 제 2 광 결합기(optocoupler)에 걸쳐서 상기 전화선의 전압 측정을 수행함으로써 전화선 점유(seizure)를 탐지하기 위한 디바이스에 관한 것이며, 제 1 광 결합기는 전화선에 연결된 커패시터를 방전시킬 수 있고, 제 2 광 결합기는 측정 회로에서 방전 전류를 이미지 전류로 변환한다.
도 1은 본 발명에 따른 디바이스의 개략도.
도 2는 측정 정확도에 대한 전달 계수의 영향을 보여주는 곡선을 도시한 도면.
도 3은 일정한 전류에서의 커패시터 방전을 도시한 그래프.
본 발명의 목적은 광 결합기의 전달 계수의 분산으로 인해 겪을 수 있는 단점을 해결하는 것이다.
따라서, 본 발명의 요지는, 전화선에 직렬로 연결되며, 수미식으로 배치된 제 1 및 제 2 광 결합기에 걸쳐서 상기 전화선의 전압을 측정함으로써 전화선 점유를 검출하기 위한 디바이스로서, 상기 제 1 광 결합기는 상기 전화선에 연결된 커패시터를 방전시킬 수 있고, 상기 제 2 광 결합기는 상기 방전 전류를 측정 회로에서 이미지 전류로 변환하는, 디바이스이며, 이 디바이스는 상기 제 2 광 결합기로부터 상기 제 1 광 결합기로의 네거티브 피드백을 보장하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
이러한 구조를 통해, 디바이스의 측정 정확도를 높이기 위해, 전압 측정에 대한 광 결합기의 전달 계수 영향이 줄어든다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따라, 제 1 광 결합기는 저항을 걸쳐서 이 디바이스의 접지에 링크된 다이오드를 가지며, 제 2 광 결합기는 네거티브 피드백을 보장하기 위해 상기 저항을 걸쳐서 이 디바이스의 접지에 또한 링크되는 트랜지스터를 갖는다. 이러한 배치를 통해, 네거티브 피드백이 더 낮은 비용으로 얻어진다.
이제, 본 발명은 비-제한적 예에 의해 그 실시예를 예시하는 첨부된 도면을참조하여 더 상세하게 기술될 것이다.
도 1에서 볼 수 있는 바와 같이, 본 발명에 따른 디바이스는 전압(UL)을 갖는 전화선 단자에 연결된 커패시터(C)와, 전화선 단자에 직렬로 연결되고 수미식으로 배치된 두 개의 광 결합기(OC1, OC2)를 포함한다. 이들 광 결합기는 전화선과 전화선 전압을 측정하기 위한 회로 사이의 전기 보호 인터페이스를 형성한다. 이 도면에서, 전화선은 부하 저항인 저항(R1)과, 커패시터(C)의 방전 전류(ID)에 의해 횡단되기 위해 전화선과 커패시터에 링크된 방전 저항(RD)을 포함한다. 저항(R1)은, 저항(R1)을 걸쳐서 커패시터(C)를 충전하기 위한 전류가 전화선을 방해하지 않기 위해 매우 낮게 되도록 높은 임피던스이다. 방전 저항(RD)은 필요하다면 제 1 광 결합기(OC1)의 트랜지스터의 컬렉터 전압을 줄이는데 기여하는 낮은 값의 임피던스이다. 저항(RD)은 특정한 경우에는 없을 수 도 있다.
제 1 광 결합기(OC1)는 전화선의 컨덕터와 제 2 광 결합기(OC2)의 다이오드의 양극에 연결된 트랜지스터를 가지며, 이러한 다이오드는 소위 수미식 배치를 형성하기 위해 저항(R1및 RD)을 걸쳐서 전화선에 연결되는 그 음극을 갖는다. 제 1 광 결합기의 다이오드는 저항(Rg)을 걸쳐서 펄스 생성기(GC)에 의해 제공된 전류(Ig)가 공급되는 양극을 갖는다. 생성기(GC)는 저항(Rg)과 디바이스의 접지(M) 사이에 연결된다. 제 1 광 결합기(OC1)의 다이오드는 저항(R2)을 걸쳐서 디바이스의 접지(M)에 연결되는 음극을 가져서, 펄스 생성기(GC)는 커패시터(C)의 일정 전류(ID)에서 방전을 트리거하기 위해 제 1 광 결합기의 트랜지스터를 턴 온시킬 수 있다. 제 2 광 결합기(OC2)는 전원(AL)에 의해 제공된 전류를 수신하는 트랜지스터를 갖는다. 이것은 저항(R3)에 의해 이러한 전원의 포지티브 단자에 연결되고, 저항(R2)을 걸쳐서 접지(M)에 연결된다. 커패시터(C)가 방전할 때, 이것은 전류(ID)를 생성하며, 이 전류(ID)는 측정 회로에서 이미지 전류(ID')로 변환되기 위해 두 개의 광 결합기를 통과하며, 측정 회로는 특히 제 2 광 결합기의 트랜지스터와 저항(R3)을 포함한다.
방전은 전화선 전압 측정을 수행하기 원할 때마다 생성기(GC)에 의해 트리거된다. 펄스는 각각 50V 전압에서 커패시터(C)의 방전 시간 보다더 큰 지속기간을 가지며, 펄스 지속기간은 예컨대 10ms이다. 방전의 지속기간(T)은 이미지 전류(ID')레벨에서 측정되며, 이 이미지 전류(ID')는 저항(R3)을 통과하며, 이 지속기간은 C.UL=I*T이므로 전화선의 전압에 정비례한다. 제안된 예시적인 실시예에서, 저항(R3)은 트랜지스터(TR)의 컬렉터와 게이트에 각각 연결되는 두 개의 단자를 가지며, 트랜지스터(TR)의 이미터는 저항(R4)에 의해 접지(M)에 링크된다. 따라서, 커패시터(C)가 방전할 때 저항(R4)을 통해 0이 아닌 전류가 흐르며, 이 전류는 방전의 끝에서 사라진다. 방전 시간 측정은 보조 회로(미도시)에 의해 TR의 이미터와 저항(R4) 사이에 놓인 지점(S)에서 수행된다.
디바이스는, 경우에 따라 전화선 점유를 수행할 수 있는 장치 또는 장비에 관련, 즉 통합된다.
종래 기술에서, 제 2 광 결합기는, 도 1에서 점선으로 도시된 바와 같이 회로의 접지(M)에 직접 링크되는 다이오드의 음극을 갖는다. 그러면, 방전 전류(ID)는 제 1 광 결합기의 전달 계수(K1)에 정비례한다, 즉 ID=((VC-VD)/R2)*K1이며, 여기서 VD및 VC는 각각 제 1 광 결합기(OC1)의 다이오드의 단자에서의 전압 강하와, 펄스 생성기(GC)의 전압을 나타낸다. 이러한 배치를 통해, 측정 분산은 K1의 분산에 비례한다. 달리 말하면, 0.5와 1.5 사이에서 변하는 전달 계수에 대해 언급하면, 측정은 또한 종래 기술 회로에서 0.5와 1.5 사이에서 변한다.
본 발명에 따른 디바이스에서, 회로는 이러한 결점을 해결하기 위해 제 2 광결합기(OC2)로부터 제 1 광 결합기(OC1)로 네거티브 피드백시키기 위한 루프를 포함한다. 좀더 상세하게, 제 2 광 결합기(OC2)는 네거티브 피드백을 형성하기 위해 저항(R2)의 레벨에서 제 1 광 결합기의 다이오드에 연결되는 트랜지스터의 이미터를 갖는다. 그러므로, 저항(R2)에는 이미지 전류(ID')와 펄스 생성기(GC)에 의해 제공된 전류(Ig)가 횡단된다. 방전 전류는 다음과 같이 기록될 수 있다: ID=((VC-VD)/R2)*(K1/(1+K1.K2))이며, 여기서 VD및 VC는 각각 제 1 광 결합기(OC1)의 다이오드의 전압 강하와 생성기(GC)의 전압을 각각 나타낸다.
도 2는, 주어진 전압(UL)에 대해 측정값을 본 발명에 따른 디바이스에서 K1=K2인 경우에 대해 전달 계수 함수로 제공하는 곡선을 도시한다. 본 발명에 따른 디바이스에서 방전 전류에 대한 표현에 비춰보면, 이 곡선은 함수, y=x/(1+x2)의 곡선이다. 따라서, 0.5와 1.5 사이에서 변하는 전달 계수에 대해, 측정은 만약 K1=K2라면 본 발명에 따른 디바이스를 통해서는 0.4와 0.5 사이에서 변한다. 좀더 일반적으로, 전달 계수의 값에 상관없이, 측정 인자는 반드시 0과 0.5 사이에 놓이는 반면, 종래 기술에서, 측정 인자는 대응하는 곡선이 직선 y=x의 곡선이므로 앞의 수치로 제한되지 않는다.
좀더 상세하게, 만약 하나의 동일한 디바이스인 두 개의 광 결합기가 한 쌍으로써 매칭하지 않다면, 이들 각각의 전달 계수는 반드시 동일하지 않다. 대량 생산 체제 내에서, 전달 계수에 대한 매우 다양한 값을 얻을 가능성은 디바이스가 그 유리한 성능(its interest)을 유지할 만큼 충분히 낮다.
도 3에는 50V와 10V 사이에서 변하는 전화선 초기 전압에 대해 여러 방전 동안에 커패시터(C) 단자에 걸친 전압이 도시되어 있다. 이 그래프는 본 발명에 따른 디바이스에 대한 방전 시간을 예시하며, 여기서 소자의 특징은 다음과 같다:
R1=2200k, R2=2k, R3=2k, R4=47k, Rg=10k, C=100nf, AL=5V 및 K1=K2=100%이며, 이것은 대략 1mA의 전류(ID, ID' 및 Ig)를 야기한다.
이 도면에서 볼 수 있는 바와 같이, 얻어진 방전 시간(T)은 50V에 대한 5ms와 10V에서의 1.25ms 사이에서 선형적으로 변한다. 그러므로, 디바이스는 예컨대 매 초마다 측정을 수행하는데 적합하며, 이것은 전화선 모니터링을 하는데 충분하다. 좀더 상세하게, 커패시터(C)의 방전은 선형적이며, 전화선의 모든 초기 전압에 대해 동일한 기울기를 따른다. 그러므로, 만약 두 개의 광 결합기가 한 쌍으로서 매칭된다면, 본 발명에 따른 디바이스는 전달 계수와 독립적이며, 이러한 디바이스는, 이들 광 결합기가 하나의 동일한 실리콘웨이퍼로부터 유래되므로 그러한 경우이다.
상술한 바와 같이, 본 발명은, 상기 전화선에 직렬로 연결되고 수미식으로 배치된 제 1 및 제 2 광 결합기에 걸쳐서 상기 전화선의 전압 측정을 수행함으로써 전화선 점유를 탐지하기 위한 디바이스에서 광 결합기의 전달 계수의 분산으로 인해 겪을 수 있는 단점을 해결하는데 이용된다.

Claims (3)

  1. 전화선에 직렬로 연결되고, 수미식으로(head-to-tail) 배치된 제 1 및 제 2 광 결합기(OC1, OC2)에 걸쳐서 상기 전화선의 전압(UL)을 측정함으로써, 전화선 점유(seizure)를 검출하기 위한 디바이스로서, 상기 제 1 광 결합기(OC1)는 상기 전화선에 연결된 커패시터(C)를 방전시킬 수 있고, 상기 제 2 광 결합기(OC2)는 방전 전류(ID)를 측정 회로(S)에서의 이미지 전류(ID')로 변환하는, 전화선 점유 검출 디바이스에 있어서,
    상기 제 2 광 결합기(OC2)로부터 상기 제 1 광 결합기(OC1)로의 네거티브 피드백을 보장하는 수단을 포함하는 것을,
    특징으로 하는 전화선 점유 검출 디바이스.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 측정 회로에서, 상기 제 1 광 결합기(OC1)는 저항(R2)을 걸쳐서 상기 디바이스의 접지(M)에 그 음극에 의해 링크되는 다이오드를 가지며, 상기 제 2 광 결합기(OC2)는 상기 저항(R2)을 걸쳐서 접지(M)에 그 이미터에 의해 링크되는 트랜지스터를 갖는, 전화선 점유 검출 디바이스.
  3. 전화선 점유를 수행하기 위한 수단을 포함하는 장치에 있어서,
    제 1항 또는 제 2항에 기재된 검출 디바이스를 포함하는 것을,
    특징으로 하는 장치.
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