KR200339961Y1 - Laser scaning unit - Google Patents

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KR200339961Y1
KR200339961Y1 KR20-1999-0005852U KR19990005852U KR200339961Y1 KR 200339961 Y1 KR200339961 Y1 KR 200339961Y1 KR 19990005852 U KR19990005852 U KR 19990005852U KR 200339961 Y1 KR200339961 Y1 KR 200339961Y1
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Abstract

베이스와; 이 베이스에 설치되며, 회전력을 제공하는 구동모타와; 구동모타에 설치되고, 입사광을 회절 편향시키도록 형성된 홀로그램 패턴을 가지며, 회전에 의해 주사선을 형성하는 편향디스크와; 편향디스크의 일면에 대면되게 위치되도록 상기 베이스에 설치되며, 편향디스크의 일 입사위치에 광을 조사하는 광원모듈과; 일단은 광원모듈에 지지되고 타단은 고정되어 온도변화에 따라 변형되면서 광원모듈을 회동시키는 바이메탈을 구비하는 광원모듈 위치조정수단;을 포함하여, 바이메탈에 의해 광원모듈이 편향디스크의 일 입사위치를 중심으로 베이스에 대해 회동되어 위치조정됨으로써, 편향디스크에 의해 편향 주사된 광의 중심이 편향디스크에 대해 동일 회절각으로 주사되는 것을 특징으로 하는 광 주사유니트가 개시된다.A base; A drive motor installed at the base and providing rotational force; A deflection disk installed in the drive motor, the deflection disk having a hologram pattern formed to diffractively deflect incident light, and forming a scanning line by rotation; A light source module installed at the base so as to face one surface of the deflection disk, the light source module irradiating light to one incident position of the deflection disk; One end is supported by the light source module and the other end is fixed and deformed according to the temperature change, the light source module position adjusting means having a bimetal for rotating the light source module, including; An optical scanning unit is disclosed in which the center of light deflected by the deflection disc is scanned at the same diffraction angle with respect to the deflection disc by being rotated and positioned relative to the base.

Description

광 주사유니트{Laser scaning unit}Optical scanning unit {Laser scaning unit}

본 고안은 편향디스크를 이용한 광 주사유니트에 관한 것으로, 상세하게는 편향디스크에 대한 광원의 설치 위치를 조정할 수 있도록 된 광 주사유니트에 관한 것이다.The present invention relates to an optical scanning unit using a deflection disk, and more particularly, to an optical scanning unit capable of adjusting an installation position of a light source for a deflection disk.

일반적으로, 편향디스크를 이용한 광 주사유니트는 광원에서 조사되어 편향디스크의 홀로그램 패턴에 입사된 레이저 광을 편향디스크의 회전에 의해 회절 편향시켜 주사하는 장치이다.In general, an optical scanning unit using a deflection disk is a device for diffracting and scanning laser light incident on a hologram pattern of a deflection disk by rotation of the deflection disk.

도 1을 참조하면, 종래의 광 주사유니트는 회전력을 제공하는 구동원(1)과, 이 구동원(1)에 설치되며 각각 홀로그램 패턴이 형성된 복수의 섹터로 구획된 편향디스크(3)와, 상기 편향디스크(3)의 일면에 대향되게 배치되어 레이저 광을 주사하는 적어도 하나의 광원(5)과, 상기 편향디스크(3)에서 회절편향된 주사선(L)의 보정 및 진행경로를 변환하는 광학부재(7)를 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 1, a conventional optical scanning unit includes a drive source 1 for providing a rotational force, a deflection disk 3 partitioned into a plurality of sectors installed in the drive source 1 and each having a hologram pattern, and the deflection; At least one light source 5 disposed opposite one surface of the disk 3 to scan laser light, and an optical member 7 for converting the correction path and the path of correction of the scanning line L diffracted and deflected from the deflection disk 3; It is configured to include).

상기 광원(5)은 소정 파장 예컨대, 대략 785nm 파장의 광을 편향디스크(3)의 일 지점(P)에 조사하는 반도체 레이저이다. 이 광원(5)은 그 광축이 상기 편향디스크(3)의 배면에 대해 각θ가 되도록 고정 배치되어 있다. 편향디스크(3)가 소정의 각속도로 회전시, 광원(5)에서 조사되어 편향 회절된 주사선(L)은 그 중심의 진행방향이 편향디스크(3)의 배면에 대해 각α로 광학부재(7)의 일 미러(M)로 향한다. 여기서, 상기 편향디스크(3)의 회절 편향 조건이 동일하고, 상기 광원(5)의 설치각이 각인 경우, 상기 회절각α은 상기 광원(5)에서 조사된 광의 파장 변화에 따라 점선으로 도시된 방향과 같이 각 α보다 작은 각(α1) 또는 큰 각(α2)으로 변화된다.The light source 5 is a semiconductor laser that irradiates a point P of the deflection disk 3 with light of a predetermined wavelength, for example, approximately 785 nm. This light source 5 is fixedly arranged so that its optical axis becomes an angle θ with respect to the rear surface of the deflection disk 3. When the deflection disc 3 rotates at a predetermined angular velocity, the scanning line L irradiated and deflected by the light source 5 has its optical direction 7 at an angle α with respect to the rear surface of the deflection disc 3. 1 mirror (M). Here, the diffraction deflection conditions of the deflection disc 3 are the same, and the installation angle of the light source 5 is equal to each other. In this case, the diffraction angle α is changed to an angle α 1 or a larger angle α 2 than the angle α in the direction shown by the dotted line according to the wavelength change of the light emitted from the light source 5.

한편, 상기 광원(5)은 모드홉핑(Mode Hopping), 드리프트(Drift), 드루프(Droop)등에 기인한 오차에 의하여, 소망하는 파장 예컨대, 785nm에서 대략 ±10nm의 오차를 가진다. 여기서, 모드홉핑은 주입전류, 온도, 광학적 피드백 등에의하여 레이저의 주발진 모드가 시프트되는 현상을 말한다. 시프트 정도는 레이저 다이오드의 캐비티 길이에 따라 다르며, 인접 모드 사이의 발진파장 차이가 대략 0.3 내지 0.5nm 정도이다. 상기한 드리프트는 온도변화 등에 따라서 파장이 변화하는 것으로, 좁은 의미에서는 캐비티 길이의 변화에 따른 영향을 뜻하고, 넓은 의미에서는 상기한 모드 홉핑을 포함하여 온도에 따른 파장변화를 뜻하기도 한다. 상기한 드루프란 레이저 다이오드를 온(on)했을 때, 처음의 피크 파우어에 대하여 일정 시간이 경과한 후 출사광량의 감소비율을 의미한다.On the other hand, the light source 5 has an error of approximately ± 10 nm at a desired wavelength, for example, 785 nm due to errors due to mode hopping, drift, drop, and the like. Here, mode hopping refers to a phenomenon in which the main oscillation mode of the laser is shifted by injection current, temperature, optical feedback, and the like. The degree of shift depends on the cavity length of the laser diode and the oscillation wavelength difference between adjacent modes is about 0.3 to 0.5 nm. The drift is a wavelength that changes according to temperature change, etc., in a narrow sense, means the effect of the change in the cavity length, and in a broad sense, it also means a wavelength change in accordance with the temperature including the mode hopping. The droop means the reduction ratio of the amount of emitted light after a predetermined time has elapsed with respect to the first peak power when the laser diode is turned on.

따라서, 상기 편향디스크(3)에 대한 상기 광원의 설치위치를 고정시키는 경우, 소망하는 회절각 α를 맞추기 어렵다. 이에 따라, 소정 위치에 주사선이 맺히도록 하기 위하여, 상기한 복수의 광학부재(7) 각각에 대한 광학적 정렬이 요구되므로 조립공수가 복잡하고, 바른 주사가 어렵다는 단점이 있다.Therefore, when fixing the installation position of the said light source with respect to the said deflection disc 3, it is difficult to match the desired diffraction angle (alpha). Accordingly, in order for the scan line to be formed at a predetermined position, optical alignment with respect to each of the plurality of optical members 7 is required, and thus, assembly work is complicated and correct scanning is difficult.

상기와 같은 문제점을 감안하여 본 출원인은 도 2에 도시된 바와 같은 광 주사장치를 특허 출원한 바 있다.In view of the above problems, the present applicant has filed a patent for the optical scanning device as shown in FIG.

도 2를 참조하면, 광 주사유니트는 베이스(10)의 하측에 설치되어 광을 편향디스크(12)로 조사하는 광원모듈(20)을 위치이동시키기 위한 이동수단으로, 상기 광원모듈(20)을 일방향으로 탄성바이어스하기 위한 탄성부재(32)와, 상기 광원모듈(20)을 지지하는 지지편(34) 및 조정나사(36)를 구비한다. 상기 조정나사(36)는 그 단부가 상기 광원모듈(20)의 마운트(22)에 접촉되도록 베이스(10)에 설치되어 있다.Referring to FIG. 2, the light scanning unit is a moving means installed at the lower side of the base 10 to move the light source module 20 for irradiating light to the deflection disc 12. An elastic member 32 for elastic bias in one direction, a support piece 34 for supporting the light source module 20 and an adjustment screw 36 are provided. The adjusting screw 36 is mounted to the base 10 so that its end contacts the mount 22 of the light source module 20.

상기와 같은 구성에 있어서, 상기 조정나사(36)를 회전시켜 광원모듈(20)의위치를 조정하여 광원모듈(20)에서 편향디스크(12)의 일 입사위치(P)로 조사되는 광의 경로를 조절할 수 있게 된다. 따라서, 광원모듈(20)의 초기세팅시, 상기 조정나사(36)를 이용하여 광원모듈(20)의 위치를 조정함으로써, 편향디스크(12)에서 회절 편향된 주사선(L)이 동일위치로 향하도록 하였다.In the above configuration, the adjustment screw 36 is rotated to adjust the position of the light source module 20 so that the path of the light irradiated from the light source module 20 to one incident position P of the deflection disk 12 is adjusted. It can be adjusted. Therefore, during initial setting of the light source module 20, by adjusting the position of the light source module 20 using the adjustment screw 36, the diffracted deflected scan line L on the deflection disc 12 is directed to the same position. It was.

그런데, 이러한 광 주사유니트는 작업자가 직접 수작업을 통해 광원모듈(20)의 위치를 조정해주어야 한다. 따라서, 초기 세팅시 소망하는 회절각 α를 맞추었더라도, 온도변화에 따라 광의 파장이 변화하는 것은 능동적으로 대처하기 힘들다는 한계가 있었다.By the way, such an optical scanning unit has to be adjusted by the operator manually the position of the light source module 20. Therefore, even if the desired diffraction angle α is set at the time of initial setting, there is a limit that it is difficult to actively cope with the change of the wavelength of light in response to the temperature change.

본 고안은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 창안된 것으로, 광원에서 조사되어 편향디스크의 일 입사위치에 입사되는 광의 입사각을 온도변화에 따라 능동적으로 조절하여 회절각을 일정하게 유지할 수 있도록 된 광 주사유니트를 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention was devised to solve the above problems, and the optical scanning is made to maintain the diffraction angle constant by actively adjusting the incident angle of the light irradiated from the light source and incident at one incident position of the deflection disk according to the temperature change. The purpose is to provide a unit.

도 1은 종래의 편향디스크를 이용한 광 주사유니트를 나타내 보인 개략적인 도면.1 is a schematic view showing an optical scanning unit using a conventional deflection disk.

도 2는 본 출원인에 의해 제안된 바 있는 광주사유니트를 나타내 보인 개략적인 정면도.Figure 2 is a schematic front view showing a photowangsa unit as proposed by the applicant.

도 3은 본 고안의 일 실시예에 따른 광 주사유니트의 요부를 발췌하여 나타내 보인 개략적인 도면.Figure 3 is a schematic diagram showing the main portion of the optical scanning unit according to an embodiment of the present invention.

도 4는 본 고안의 일 실시예에 따른 광 주사유니트를 나타내 보인 개략적인 정면도.4 is a schematic front view showing an optical scanning unit according to an embodiment of the present invention.

도 5는 본 고안의 일 실시예에 따른 광주사유니트의 베이스를 나타내 보인 사시도.Figure 5 is a perspective view showing a base of a photowangsa unit according to an embodiment of the present invention.

도 6은 본 고안의 일 실시예에 따른 광 주사유니트를 나타내 보인 평면도.6 is a plan view showing an optical scanning unit according to an embodiment of the present invention.

도 7은 본 고안의 일 실시예에 따른 광 주사유니트의 광원모듈을 보인 분리 사시도.Figure 7 is an exploded perspective view showing a light source module of the optical scanning unit according to an embodiment of the present invention.

도 8은 본 고안의 일 실시예에 따른 광 주사유니트의 광원모듈을 보인 단면도.8 is a cross-sectional view showing a light source module of an optical scanning unit according to an embodiment of the present invention.

도 9는 본 고안의 일 실시예에 따른 광 주사유니트의 지지편을 나타내 보인사시도.Figure 9 is a perspective view showing a support piece of the optical scanning unit according to an embodiment of the present invention.

도 10은 본 고안의 다른 실시예에 따른 광 주사유니트를 나타내 보인 개략적인 단면도.10 is a schematic cross-sectional view showing an optical scanning unit according to another embodiment of the present invention.

도 11은 본 고안의 다른 실시예에 따른 광 주사유니트를 나타내 보인 개략적인 사시도.11 is a schematic perspective view showing an optical scanning unit according to another embodiment of the present invention.

도 12는 본 고안의 다른 실시예에 따른 광 주사유니트의 광원도듈을 나타내 보인 분리 사시도.12 is an exploded perspective view showing a light source module of the optical scanning unit according to another embodiment of the present invention.

< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Major Parts of Drawings>

40,140..베이스 41..통과공 45..가이드부40,140..Base 41..Through hole 45..Guide part

50..구동모타 60..편향디스크 70,170..광원모듈50. Driving motor 60. Deflection disc 70, 170. Light source module

71,171..광원 73,173..마운트 77,177..경통71,171..light source 73,173..mount 77,177 .. barrel

81..스터드 83..지지편 85..지지브라켓81. Stud 83. Support 85. Support bracket

87,187..바이메탈 88..지지부재 89,183..체결부재87,187 Bimetal 88 Support member 89,183 Fastening member

91..집속렌즈 93,193..어퍼쳐 스톱 185..돌출핀91 .. Focusing lens 93,193 .. Aperture stop 185. Protrusion pin

상기 목적을 달성하기 위한 본 고안에 따른 광 주사유니트는, 베이스와; 상기 베이스에 설치되며, 회전력을 제공하는 구동모타와; 상기 구동모타에 설치되고, 입사광을 회절 편향시키도록 형성된 홀로그램 패턴을 가지며, 회전에 의해 주사선을 형성하는 편향디스크와; 상기 편향디스크의 일면에 대면되게 위치되도록 상기 베이스에 설치되며, 상기 편향디스크의 일 입사위치에 광을 조사하는 광원모듈과; 일단은 상기 광원모듈에 지지되고 타단은 고정되어 온도변화에 따라 변형되면서 상기 광원모듈을 회동시키는 바이메탈을 구비하는 광원모듈 위치조정수단;을 포함하여, 상기 바이메탈에 의해 상기 광원모듈이 상기 편향디스크의 일 입사위치를 중심으로 상기 베이스에 대해 회동되어 위치조정됨으로써, 상기 편향디스크에 의해 편향 주사된 광의 중심이 상기 편향디스크에 대해 동일 회절각으로 주사되는 것을특징으로 한다.Optical scanning unit according to the present invention for achieving the above object, the base; A driving motor installed at the base and providing rotational force; A deflection disk installed in the drive motor, the deflection disk having a hologram pattern formed to diffractively deflect incident light, and forming a scan line by rotation; A light source module installed at the base so as to face one surface of the deflecting disk, wherein the light source module irradiates light to one incident position of the deflection disk; And a light source module position adjusting means having one end supported by the light source module and the other end fixed and deformed according to a temperature change, and having a bimetal rotating the light source module. By rotating and positioning about the base about one incidence position, the center of light deflected and scanned by the deflection disc is scanned at the same diffraction angle with respect to the deflection disc.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 실시예에 따른 광 주사유니트를 자세히 설명하기로 한다.Hereinafter, an optical scanning unit according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3 및 도 4를 참조하면, 본 고안의 일 실시예에 따른 광 주사장치는 베이스(40)와, 상기 베이스(40)에 설치되며 회전력을 제공하는 구동모타(50)와, 편향디스크(60)와, 상기 편향디스크(60)의 일 입사위치에 광을 조사하는 광원모듈(70)과, 광원모듈 위치조정장치를 구비한다.3 and 4, an optical scanning device according to an embodiment of the present invention includes a base 40, a drive motor 50 installed on the base 40 to provide rotational force, and a deflection disk 60. ), A light source module 70 for irradiating light to one incident position of the deflection disc 60, and a light source module position adjusting device.

상기 베이스(40)는, 도 5를 참조하면, 상기 광원모듈(70)에서 출사된 광이 통과되는 통과공(41)을 가지며, 배면에 형성되어 상기 광원모듈(70)의 조정을 가이드하는 가이드부(45)를 구비한다. 상기 가이드부(45)는 반원통형상으로 볼록하게 형성되어 있으며, 그 외주면(45a)은 상기 편향디스크(60)의 일 입사위치(P)를 중심으로 하는 곡면이다. 또한, 상기 베이스(40)에는 상기한 광원모듈 위치조정수단의 일부분을 결합하는데 이용되는 스터드(도 4의 81)가 설치되는 중공(40a)이 형성되어 있다. 여기서, 상기 베이스(40)는 복수의 광원모듈이 장착되는 경우에 채용될 수 있도록, 도시된 바와 같이 복수의 통과공(41) 및 복수의 가이드부(45)를 구비할 수 있다.Referring to FIG. 5, the base 40 has a through hole 41 through which the light emitted from the light source module 70 passes, and is formed on a rear surface of the base 40 to guide the adjustment of the light source module 70. The part 45 is provided. The guide portion 45 is formed to be convex in a semi-cylindrical shape, and its outer circumferential surface 45a is a curved surface centering on one incidence position P of the deflection disk 60. In addition, the base 40 is formed with a hollow 40a in which a stud (81 of FIG. 4) used to couple a portion of the light source module position adjusting means is installed. Here, the base 40 may include a plurality of through holes 41 and a plurality of guide parts 45 as shown, so that the base 40 may be employed when a plurality of light source modules are mounted.

상기 구동원(50)은 상기 베이스(40) 내에 설치되며, 상기 편향디스크(60)를 소정 각속도로 회전구동한다. 도 4 및 도 6을 참조하면, 상기 편향디스크(60)는 상기 구동원(50)에 설치되고 각각 홀로그램 패턴이 형성된 복수의 섹터로 구획된 영역(61)을 가지며, 회전에 의해 입사광을 회절 편향시켜 주사선(L)을 형성한다.The drive source 50 is installed in the base 40, and rotates the deflection disc 60 at a predetermined angular speed. 4 and 6, the deflection disc 60 has an area 61 provided in the drive source 50 and partitioned into a plurality of sectors each having a hologram pattern, and diffracted deflects incident light by rotation. The scanning line L is formed.

도 4, 도 7 및 도 8을 참조하면, 상기 광원모듈(70)은 상기 편향디스크(60)의 일면 예컨대 배면에 대향되게 위치되도록 상기 베이스(40)에 설치되며, 상기 편향디스크(60)의 일 입사위치(P)에 광을 조사한다. 이 광원모듈(70)은 광원(71)과, 이 광원(71)이 장착되며 상기 가이드부(45)에 슬라이딩 가능하게 위치되는 가이드면(73a)을 가지는 마운트(73)를 포함한다. 상기 광원(71)은 소정 파장의 레이저 광을 조사하며, 조사된 광은 상기 베이스(40)의 통과공(도 5의 41)을 통과하여 상기 편향디스크에 입사된다. 여기서, 상기 가이드면(73a)은 상기 가이드부(45)의 외주면(도 5의 45a)과 같이 상기 편향디스크(60)의 일 입사위치(P)를 중심으로 하는 곡면인 것이 바람직하다. 또한, 광원모듈(70)은 상기 통과공(41)에 끼워지며 체결부(79)에 의해 상기 마운트에 결합된 경통(77)과, 이 경통(77) 내에 설치되어 상기 광원(71)에서 조사된 광을 집속시키는 집속렌즈(91) 및, 소정 크기 및 형상으로 형성된 개구(93a)에 의해 집속된 광의 투과영역을 제한하여 소망하는 크기 및 형상을 갖는 광을 제공하는 어퍼쳐 스톱(93)을 더 포함한다.4, 7 and 8, the light source module 70 is installed on the base 40 so as to be opposite to one surface of the deflection disk 60, for example, the back surface of the deflection disk 60. Light is irradiated to one incident position P. FIG. The light source module 70 includes a light source 71 and a mount 73 having a light guide 71 on which the light source 71 is mounted and which is slidably positioned on the guide part 45. The light source 71 irradiates laser light of a predetermined wavelength, and the irradiated light passes through a through hole (41 in FIG. 5) of the base 40 and is incident on the deflection disc. Here, the guide surface 73a is preferably a curved surface centering on one incidence position P of the deflection disk 60, as shown in the outer circumferential surface (45a of FIG. 5) of the guide portion 45. In addition, the light source module 70 is fitted into the through-hole 41 and is coupled to the mount by the fastening portion 79, and installed in the barrel 77 and irradiated from the light source 71 A focusing lens 91 for focusing the collected light and an aperture stop 93 for limiting the transmission region of the focused light by the opening 93a formed in a predetermined size and shape to provide light having a desired size and shape. It includes more.

여기서, 상기 베이스(40)와 마운트(73) 각각에는 상기 광원모듈(70)의 위치조정방향이 일방향이 되도록, 상기 마운트(73)의 움직임 방향을 규제하는 제1 및 제2규제부(45b)(75)가 마련되어 있다. 상기 제1규제부(45b)는 상기 가이드부(45)의상기 통과공(41) 주변에 형성된 가이드홈이고, 상기 제2규제부(75)는 상기 제1규제부(45b)에 대응되도록 상기 마운트(73)의 가이드면(73a)에 돌출 형성된 가이드돌기이다. 여기서, 상기 제1규제부(45b)와 상기 제2규제부(75)의 형상은 서로 바뀌어도 무방하다.Here, each of the base 40 and the mount 73, the first and second regulatory portion 45b for regulating the movement direction of the mount 73 so that the position adjustment direction of the light source module 70 is one direction 75 is provided. The first regulation part 45b is a guide groove formed around the passage hole 41 of the guide part 45, and the second regulation part 75 corresponds to the first regulation part 45b. It is a guide protrusion protruding from the guide surface 73a of the mount 73. Here, the shapes of the first regulatory part 45b and the second regulatory part 75 may be interchanged.

상기 광원모듈 위치조정수단은 상기 편향디스크(60)에 의해 편향 주사된 광의 중심이 편향디스크(60)에 동일 회절각(α)으로 주사되도록, 상기 편향디스크(60)의 일 입사위치(P)를 중심으로 상기 베이스(40)에 대해 상기 광원모듈(70)을 온도변화에 따라 자동으로 회동시켜 광원모듈(70)과 편향디스크(60) 사이의 입사각을 조정한다. 이는 도 2를 참조하면, 광원모듈(70)의 입사각 θ를 기준으로 할 때, 이보다 작은 입사각 θ1또는 큰 입사각 θ2등으로 조정하여, 광원(71)에서 조사되는 광 파장이 온도의 영향으로 변화되더라도 동일 회절각(α)으로 광이 회절편향되도록 한다.The light source module position adjusting means has one incidence position P of the deflection disc 60 such that the center of the light scanned by the deflection disc 60 is scanned at the same diffraction angle α on the deflection disc 60. The light source module 70 is automatically rotated with respect to the base 40 in accordance with the temperature change to adjust the incident angle between the light source module 70 and the deflection disk 60. Referring to FIG. 2, when the incidence angle θ of the light source module 70 is used as a reference, the light wavelength irradiated from the light source 71 is adjusted by the influence of temperature by adjusting to a smaller incidence angle θ 1 or a larger incidence angle θ 2 . Even if it changes, the light is diffracted at the same diffraction angle α.

상기 광원모듈 위치조정수단은 온도변화에 의해 변형되면서 상기 광원모듈(70)을 회동시키는 바이메탈(87)와, 상기 마운트(73)의 가이드면(73a)이 상기 가이드부(45)에 접촉되도록 지지하는 지지편(83)과, 상기 마운트(73)의 하측에 설치되어 상기 바이메탈(87)의 일단을 클램핑하는 지지부와, 상기 바이메탈(87)의 타단을 고정시키는 지지브라켓(85)을 구비한다.The light source module position adjusting means is supported by the bimetal 87 for rotating the light source module 70 and the guide surface 73a of the mount 73 to be in contact with the guide part 45 while being deformed by temperature change. The support piece 83 is provided below, the support 73 for clamping one end of the bimetal 87, and a support bracket 85 for fixing the other end of the bimetal 87.

상기 바이메탈(87)은 열팽창계수가 서로 다른 금속들을 마주하도록 결합시킨 구조이다. 이러한 바이메탈(87)은 온도가 변화함에 따라 각각의 금속들이 서로다른 길이로 변형됨으로써, 그 일단이 어느한 쪽으로 휘어지는 성질을 갖는 것으로 산업전반에서 널리 사용되고 있다. 상기 바이메탈(87)은 타단이 상기 지지브라켓(85)에 결합되는 체결부재(89)에 의해 고정되어 지지된다. 또한, 상기 바이메탈(87)은 상기 지지브라켓(85)에 압입등에 의해 직접 고정될 수도 있다.The bimetal 87 has a structure in which thermal expansion coefficients are coupled to face metals having different thermal expansion coefficients. The bimetal 87 is widely used in the industry to have a property that each metal is deformed to different lengths as the temperature changes, so that one end thereof is bent to one side. The bimetal 87 is fixed and supported by a fastening member 89 having the other end coupled to the support bracket 85. In addition, the bimetal 87 may be directly fixed to the support bracket 85 by press fitting.

상기 지지편(83)은 도 4 및 도 9를 참조하면, 상기 마운트(73)의 일측에 접촉되게 설치되어, 상기 마운트(73)가 상기 가이드부(45)에 접촉된 채로 슬라이딩 가능하도록 지지한다. 이 지지편(83)은 상기 스터드(81)에 끼워지도록 일단부에 설치공(83a)이 형성되어 있으며, 타단부는 상기 베이스(40)의 하면에 체결된다. 또한, 상기 지지편(83)의 중앙부위에는 상기 바이메탈(87)이 통과되어 소정거리 움직여도 간섭되지 않도록 충분한 크기의 구멍(83b)이 형성되어 있다.4 and 9, the support piece 83 is installed to be in contact with one side of the mount 73, and supports the mount 73 to be slidably in contact with the guide part 45. . The support piece 83 is provided with an installation hole 83a at one end thereof to be fitted to the stud 81, and the other end thereof is fastened to the bottom surface of the base 40. In addition, a hole 83b having a sufficient size is formed in the central portion of the support piece 83 so that the bimetal 87 passes and does not interfere even when moved a predetermined distance.

상기 지지부는, 도 7 및 도 8을 참조하면, 상기 마운트(73)의 하측에 설치되는 지지부재(88)를 구비한다. 상기 지지부재(88)는 그 양단 각각에 상기 마운트(73)에 체결되기 위한 수단으로 로킹돌기(88b)가 돌출형성되어 있다. 또한, 상기 지지부재(88)의 중앙부위에는 상기 바이메탈(87)의 일단이 움직임 없이 삽입결합되는 삽입공(88a)이 형성되어 있다. 여기서, 상기 지지부재(88)는 마운트(73)와 일체로 하여 형성키키고, 바이메탈(87)에 대응되는 위치에 홈(미도시) 등을 형성하여 바이메탈(87)의 일단이 클램핑되게 할 수도 있다.7 and 8, the support part includes a support member 88 provided below the mount 73. The support member 88 has a locking protrusion 88b protruding from each other at both ends thereof as a means for being fastened to the mount 73. In addition, an insertion hole 88a into which one end of the bimetal 87 is inserted without movement is formed at a central portion of the support member 88. In this case, the support member 88 may be formed integrally with the mount 73, and a groove (not shown) may be formed at a position corresponding to the bimetal 87 to allow one end of the bimetal 87 to be clamped. have.

상기 지지브라켓(85)은 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 베이스(40)의 하방에 상기 지지편(83)과 함께 체결되어 있다. 이 지지브라켓(85)의 일측에는 상기 체결부재(89)가 체결되어 있다.As shown in FIG. 4, the support bracket 85 is fastened together with the support piece 83 below the base 40. The fastening member 89 is fastened to one side of the support bracket 85.

상기와 같은 구성에 있어서, 상기 광원모듈(70)의 위치는 온도의 변화가 있을 경우에만, 상기 바이메탈(87)의 변형에 의해 조정된다. 즉, 온도가 상승하거나 내겨갈 경우에 바이메탈(87)은 어느 한 쪽으로 변형되면서 광원모듈(70)을 가압하게 된다. 따라서, 광원모듈(70)은 편향디스크(60)의 일 입사위치(P)를 중심으로 하여 지지편(83)에 의해 상기 가이드부(45)에 접촉된 채로 상기 스터드(81)에 가까워지는 방향 또는 그 반대방향으로 이동된다.In the above configuration, the position of the light source module 70 is adjusted by the deformation of the bimetal 87 only when there is a change in temperature. That is, when the temperature rises or falls, the bimetal 87 deforms to one side and presses the light source module 70. Therefore, the light source module 70 is closer to the stud 81 while being in contact with the guide portion 45 by the support piece 83 about the one incident position P of the deflection disk 60. Or in the opposite direction.

따라서, 광원모듈(70)을 상기 회절각(α)이 동일하도록 초기에 세팅시킨 상태에서, 온도변화에 따라 광원(71)에서 조사된 광의 파장이 변화하여 초기 세팅된 회절각(α)이 변화하더라도, 온도가 변화한 만큼 바이메탈(87)이 변형되어 광원모듈(70)의 위치가 자동적으로 조정됨으로써, 편향디스크(60)에서 회절 편향된 주사선(L)이 동일 위치로 향하도록 할 수 있다.Therefore, in the state where the light source module 70 is initially set such that the diffraction angle α is the same, the wavelength of the light irradiated from the light source 71 is changed according to the temperature change so that the initially set diffraction angle α is changed. Even if the bimetal 87 is deformed as the temperature changes, the position of the light source module 70 is automatically adjusted, so that the scanning line L diffracted and deflected on the deflection disc 60 is directed to the same position.

도 10 및 도 11을 참조하면, 본 고안의 다른 실시예에 따른 광 주사유니트는, 베이스(140)와, 상기 베이스(140)에 설치되며 회전력을 제공하는 구동모타(50)와, 편향디스크(60), 상기 편향디스크(60)의 일 입사위치에 광을 조사하는 광원모듈(170) 및 광원모듈 위치조정수단을 구비한다.10 and 11, an optical scanning unit according to another embodiment of the present invention includes a base 140, a driving motor 50 installed on the base 140 to provide rotational force, and a deflection disk ( 60), the light source module 170 and the light source module position adjusting means for irradiating light to one incident position of the deflection disk (60).

상기 베이스(140)는 그 상면으로부터 인입형성되어 상기 광원모듈(170)을 슬라이딩 가능하게 수용하는 수용부(141)를 구비한다. 상기 수용부(141)는 그 저면(141a)이 하방으로 오목하게 형성되어 있으며, 상기 편향디스크(60)의 일 입사위치(P)를 중심으로 하는 곡면이다. 또한, 상기 수용부(141)는 그 측면으로부터 인입된 홈을 가지고 있어, 상기 광원모듈 위치조정수단 중 일부를 이동가능하게 수용할 수 있게 된다. 여기서, 상기 베이스(140)는 복수의 광원모듈을 채용할 수 있도록, 도시된 바와 같이 복수의 수용부(141)를 구비할 수 있다.The base 140 has a receptacle 141 which is formed to be retracted from an upper surface thereof to slidably receive the light source module 170. The accommodating portion 141 has a bottom surface 141a which is formed to be concave downward, and is a curved surface centering on one incidence position P of the deflection disk 60. In addition, the accommodating part 141 has a groove drawn in from the side thereof, so that a part of the light source module position adjusting means is movable to be accommodated. Here, the base 140 may be provided with a plurality of receiving portions 141, as shown, so as to employ a plurality of light source modules.

도 10, 도 11 및 도 12를 참조하면, 상기 광원모듈(171)은 상기 편향디스크(60)의 배면에 대향되게 위치되도록 상기 수용부(141)에 수용되게 설치되며, 상기 편향디스크(60)의 일 입사위치(P)에 광을 조사한다. 이 광원모듈(170)은 광원(171)과, 이 광원(171)이 장착되며 상기 저면(141a)에 슬라이딩 가능하게 접촉되는 가이드면(173a)을 가지는 마운트(173)를 구비한다. 상기 광원(171)은 소정 파장의 레이저 광을 상기 편향디스크(60)의 일 입사위치(P)로 조사한다. 여기서, 상기 가이드면(173a)은 상기 저면(141a)과 마찬가지로 상기 편향디스크(60)의 일 압시위치(P)를 중심으로 하는 곡면인 것이 바람직하다. 또한, 상기 광원모듈(170)은 체결부(179)에 의해 상기 마운트(173)에 결합되는 경통(177)을 구비한다. 이 경통(177) 내에는 상기 광원(171)에서 조사된 광을 집속시키는 집속렌즈(미도시)가 설치되어 있다. 또한, 상기 경통(177)에는 소정 크기 및 형상으로 형성된 개구(193a)에 의해 집속된 광의 투과영역을 제한하여 소망하는 크기 및 형상의 광을 제공하는 어퍼쳐 스톱(193)을 더 구비한다.10, 11 and 12, the light source module 171 is installed to be accommodated in the receiving portion 141 so as to face the rear surface of the deflection disk 60 and the deflection disk 60. The light is irradiated to one incident position P of. The light source module 170 includes a light source 171 and a mount 173 having a light source 171 and a guide surface 173a on which the light source 171 is mounted and slidably contacts the bottom surface 141a. The light source 171 irradiates a laser light having a predetermined wavelength to one incident position P of the deflection disk 60. Here, the guide surface 173a is preferably a curved surface centering on one pressing position P of the deflection disk 60, similarly to the bottom surface 141a. In addition, the light source module 170 has a barrel 177 coupled to the mount 173 by a fastening unit 179. The barrel 177 is provided with a focusing lens (not shown) for focusing the light irradiated from the light source 171. In addition, the barrel 177 is further provided with an aperture stop 193 which provides light of a desired size and shape by limiting a transmission area of light focused by the opening 193a formed in a predetermined size and shape.

상기 광원모듈 위치조정수단은 상기 베이스(140)에 대해 고정되며 온도변화에 의해 열팽창되어 변형되면서 상기 광원모듈(170)의 위치를 조정하는 바이메탈(187)과, 상기 베이스(140)의 상부에 설치되어 상기 마운트(173)를 가압하는 판스프링(181)과, 상기 마운트(173)에 마련되는 지지부 및 체결부재(183)를 구비한다.The light source module position adjusting means is fixed with respect to the base 140 and is thermally expanded and deformed by a temperature change, thereby adjusting the position of the light source module 170 and a bimetal 187 installed on the base 140. And a leaf spring 181 for pressing the mount 173, and a support part and a fastening member 183 provided at the mount 173.

상기 바이메탈(187)은 앞서 도 4에 도시된 바이메탈(87)과 동일한 부재로서,동일한 구조 및 성질을 갖는다. 이러한 바이메탈(187)은 일단이 상기 마운트(173)의 일측에 마련된 지지부에 의해 클램핑되어, 그 마운트(173)에 대해 고정되어 있다. 또한, 바이메탈(187)의 타단은 상기 체결부재(183)에 결합되어 베이스(140)에 대해 고정되어 있다.The bimetal 187 is the same member as the bimetal 87 shown in FIG. 4 and has the same structure and properties. One end of the bimetal 187 is clamped by a support provided on one side of the mount 173, and is fixed to the mount 173. In addition, the other end of the bimetal 187 is coupled to the fastening member 183 and fixed to the base 140.

상기 판스프링(181)은 일단이 나사에 의해 상기 베이스(140)의 상부에 결합되어 있으며, 타단은 상기 마운트(173)에 접촉되어 있다. 이러한 판스프링(181)은 상기 마운트(173) 쪽으로 탄성바이어스되어 있어서, 상기 마운트(173)의 가이드면(173a)이 상기 수용부(141)의 저면(141a)에 항시 접촉된 상태로 유지되도록 한다.One end of the leaf spring 181 is coupled to the upper portion of the base 140 by a screw, and the other end is in contact with the mount 173. The leaf spring 181 is elastically biased toward the mount 173 so that the guide surface 173a of the mount 173 is always in contact with the bottom surface 141a of the receiving portion 141. .

상기 지지부는 상기 마운트(173)의 일측으로부터 돌출되게 마련된 한 쌍의 돌출핀(185)를 구비한다. 이 돌출핀(185)은 한 쌍이 마련되며, 그 사이에 상기 바이메탈(187)의 일단이 끼워져서 클램핑되어 있다. 이러한 돌출핀(185)은 마운트(173)의 일측에 압입고정되거나 일체로 형성될 수 있다.The support part includes a pair of protruding pins 185 provided to protrude from one side of the mount 173. A pair of the protruding pins 185 is provided, and one end of the bimetal 187 is sandwiched and clamped therebetween. The protruding pin 185 may be press-fitted or integrally formed on one side of the mount 173.

상기와 같이 구성을 가지는 본 발명의 제2실시예에 따른 광 주사유니트는, 상기 바이메탈(187)이 온도변화에 따라 열팽창되어 변형되면서, 상기 마운트(173)를 상기 일 입사위치(P)를 중심으로 회동시키면서 상기 주사선(L)이 동일 위치를 향하도록 한다. 따라서, 상기 제2실시예에 따른 광주사장치는 앞서 도 4에서 설명한 제1실시예의 경우와 동일한 작용 효과를 나타내므로 그 설명은 생략하기로 한다.In the optical scanning unit according to the second embodiment of the present invention having the configuration as described above, the bimetal 187 is thermally expanded and deformed according to temperature change, and the mount 173 is centered on the one incident position P. The scan line L is directed to the same position while rotating to. Therefore, the optical photonic device according to the second embodiment has the same operation and effect as the case of the first embodiment described above with reference to FIG. 4, and thus description thereof will be omitted.

상술한 바와 같은 본 고안의 광 주사유니트에 따르면, 주위의 온도변화에 따라 광원모듈의 위치를 자동으로 조정하여 편향디스크의 일 입사위치에 입사되는 광의 입사각을 조절할 수 있게 된다. 따라서, 선택된 광의 파장이 온도변화에 의해 변화하더라도 편향디스크에서 회절 편향된 주사선이 동일 방향을 향하도록 할 수 있게 되어, 주사선이 바른위치에 일정하게 맺히도록 할 수 있다. 그리고, 이로 인해 기기의 신뢰성 및 정밀성 향상을 가져올 수 있게 된다.According to the optical scanning unit of the present invention as described above, it is possible to automatically adjust the position of the light source module according to the ambient temperature change to adjust the incident angle of the light incident at one incident position of the deflection disk. Therefore, even if the wavelength of the selected light changes due to the temperature change, the scanning lines diffracted and deflected on the deflection disc can be directed in the same direction, so that the scanning lines can be made constant at the correct position. And, this can lead to improved reliability and precision of the device.

Claims (7)

베이스와;A base; 상기 베이스에 설치되며, 회전력을 제공하는 구동모타와;A driving motor installed at the base and providing rotational force; 상기 구동모타에 설치되고, 입사광을 회절 편향시키도록 형성된 홀로그램 패턴을 가지며, 회전에 의해 주사선을 형성하는 편향디스크와;A deflection disk installed in the drive motor, the deflection disk having a hologram pattern formed to diffractively deflect incident light, and forming a scan line by rotation; 상기 편향디스크의 일면에 대면되게 위치되도록 상기 베이스에 설치되며, 상기 편향디스크의 일 입사위치에 광을 조사하는 광원모듈과;A light source module installed at the base so as to face one surface of the deflecting disk, wherein the light source module irradiates light to one incident position of the deflection disk; 일단은 상기 광원모듈에 지지되고 타단은 고정되어 온도변화에 따라 변형되면서 상기 광원모듈을 회동시키는 바이메탈을 구비하는 광원모듈 위치조정수단;을 포함하여,And a light source module position adjusting means having one end supported by the light source module and the other end fixed and having a bimetal that rotates the light source module while being deformed according to temperature change. 상기 바이메탈에 의해 상기 광원모듈이 상기 편향디스크의 일 입사위치를 중심으로 상기 베이스에 대해 회동되어 위치조정됨으로써, 상기 편향디스크에 의해 편향 주사된 광의 중심이 상기 편향디스크에 대해 동일 회절각으로 주사되는 것을특징으로 하는 광 주사유니트.The light source module is rotated with respect to the base with respect to one incidence position of the deflection disc by the bimetal, so that the center of the light scanned by the deflection disc is scanned at the same diffraction angle with respect to the deflection disc. Optical scanning unit characterized in that. 제1항에 있어서, 상기 베이스는,The method of claim 1, wherein the base, 상기 광원모듈에서 출사된 광이 통과되는 통과공을 가지며, 배면에 형성되어 상기 광원모듈의 회동을 가이드하는 가이드부를 포함하며,It has a through hole through which the light emitted from the light source module passes, and is formed on the rear side and includes a guide for guiding the rotation of the light source module, 상기 광원모듈은,The light source module, 광원과, 상기 광원이 장착되며 상기 가이드부에 스라이딩 가능하게 위치되는 가이드면을 가지는 마운트를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 주사유니트.And a mount having a light source and a guide surface on which the light source is mounted and slidably positioned in the guide part. 제2항에 있어서, 상기 광원모듈 위치조정수단은,The method of claim 2, wherein the light source module position adjusting means, 상기 베이스에 설치되어 상기 마운트의 가이드면이 상기 베이스의 가이드부에 접촉되도록 상기 광원모듈을 지지하는 지지편과;A support piece installed on the base and supporting the light source module such that the guide surface of the mount contacts the guide part of the base; 상기 마운트의 하측에 마련되며 상기 바이메탈의 일단이 클램핑되어 지지되는 지지부와;A support part provided below the mount and supported by clamping one end of the bimetal; 상기 베이스에 결합되며, 상기 바이메탈의 타단을 지지하는 지지브라켓;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 주사유니트.And a support bracket coupled to the base and supporting the other end of the bimetal. 제1항에 있어서, 상기 베이스는,The method of claim 1, wherein the base, 그 상면으로부터 인입형성되어 상기 광원모듈을 슬라이딩 가능하게 수용하는 수용부를 포함하며,A receptacle formed from an upper surface thereof to receive the light source module slidably; 상기 광원모듈은,The light source module, 광원과, 상기 광원이 장착되며 상기 수용부의 저면에 슬라이딩 가능하게 접촉되는 가이드면을 가지는 마운트를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 주사유니트.And a mount having a light source and a guide surface on which the light source is mounted, the guide surface being slidably in contact with the bottom surface of the receiving portion. 제4항에 있어서, 상기 수용부의 저면과, 상기 가이드면 각각은 상기 편향디크스의 일 입사위치를 중심으로 하는 곡면인 것을 특징으로 하는 광 주사유니트.The optical scanning unit of claim 4, wherein each of the bottom surface of the accommodation portion and the guide surface is a curved surface centered on one incidence position of the deflection disc. 제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 광원모듈 위치조정수단은,The method of claim 4 or 5, wherein the light source module position adjusting means, 상기 베이스의 상부에 설치되며, 상기 마운트의 가이드면이 상기 수용부의 저면에 접촉되도록 상기 마운트를 가압하는 판스프링과;A leaf spring installed on the base and pressurizing the mount such that the guide surface of the mount contacts the bottom surface of the receiving portion; 상기 마운트의 일측에 마련되며 상기 바이메탈의 일단이 클램핑되어 지지되는 지지부와;A support part provided at one side of the mount and supported by clamping one end of the bimetal; 상기 베이스에 결합되어 상기 바이메탈의 타단을 고정시키는 체결부재;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 주사유니트.And a fastening member coupled to the base to fix the other end of the bimetal. 제6항에 있어서, 상기 지지부는,The method of claim 6, wherein the support portion, 상기 마운트의 일측으로부터 돌출되게 한 쌍이 소정 간격으로 마련되며, 그 사이에 상기 바이메탈의 일단이 끼워져서 클램핑되는 돌출핀를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 주사유니트.A pair is provided at a predetermined interval so as to protrude from one side of the mount, the optical scanning unit, characterized in that it comprises a protruding pin is clamped by clamping one end of the bimetal.
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