KR200308146Y1 - Rice-selecting device by color light intensity - Google Patents

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KR200308146Y1 KR20-2002-0038813U KR20020038813U KR200308146Y1 KR 200308146 Y1 KR200308146 Y1 KR 200308146Y1 KR 20020038813 U KR20020038813 U KR 20020038813U KR 200308146 Y1 KR200308146 Y1 KR 200308146Y1
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Abstract

본 고안은, 미립 색채 선별 장치에 관한 것으로서, 특히 낙하 유로에서의 임의의 불량미의 낙하 속도 내지 낙하 시간을 정확히 계측하여 불량미를 선별 제거 하기 위한 정확한 지연시간(遲延時間)의 자동 제어가 가능하도록 된 것을 특징으로 하는 미립 색채 선별 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a fine particle color sorting apparatus, and in particular, it is possible to automatically control the accurate delay time for sorting out and removing the defective taste by accurately measuring the falling speed or falling time of any defective taste in the drop passage. It relates to a particulate color sorting device, characterized in that.

종래의 기술에서는, 개개의 임의의 불량미의 정확한 낙하 속도 내지 낙하 시간을 알 수 없었기 때문에 그 선별 제거를 위한 지연시간의 자동 제어가 불가능한 문제점이 있었다.In the prior art, there was a problem that automatic control of the delay time for sorting removal was impossible because the exact dropping speed or the dropping time of each arbitrary bad taste was not known.

본 고안은, 낙하 유로에서 임의의 불량미가 소정의 상단점과 소정의 하단점 사이를 낙하함을 선별 감지 가능하도록 상단 광센서와 하단 광센서가 구비되고, 상기 상단 광센서로부터의 임의의 불량미의 선별 감지 신호와 상기 하단 광센서로부터의 상기 임의의 불량미의 선별 감지 신호에 따라, 이에 각각 상응하는 "클록 펄스 계수 개시 신호"와 "클록 펄스 계수 정지 신호"를 출력하는 "타이밍 회로"가 구비되고, 상기 "클록 펄스 계수 개시 신호"와 상기 "클록 펄스 계수 정지 신호"에 의하여 낙하 유로에서 상기 임의의 불량미의 낙하 시간를 계측하기 위한 계수기(計數器)(카운터)와, D-A(디지털-아날로그) 변환기와, 오프셋(offset) 회로와, 차동 증폭기(差動 增幅器)가 구비되고, 이 차동 증폭기로부터의 출력 전압이 통상의 지연(遲延)회로의 V-F(전압-주파수) 변환기에 인가되도록 회로 연결된 미립 색채 선별 장치에 관한 것이다.The present invention is provided with an upper optical sensor and a lower optical sensor to selectively detect that any defective taste falls between a predetermined upper end point and a predetermined lower end point in a drop passage, and any defective taste from the upper optical sensor. According to the screening detection signal of and the random detection signal of any defective taste from the lower light sensor, a "timing circuit" for outputting a corresponding "clock pulse count start signal" and "clock pulse count stop signal" respectively; A counter (counter) and DA (digital-analog) for measuring the fall time of the arbitrary defective taste in the drop passage by the "clock pulse count start signal" and the "clock pulse count stop signal". ) A converter, an offset circuit, and a differential amplifier, and the output voltage from the differential amplifier is VF (voltage-frequency) of a normal delay circuit. And a color sorting device circuit-connected to be applied to the transducer.

본 고안에 의하면, 낙하 유로에서의 임의의 불량미의 낙하 속도 내지 낙하 시간을 정확히 계측 가능하여, 불량미를 선별 제거 가능하게, 상기 낙하 속도 내지 낙하 시간에 정확히 맞추어 전자 밸브 구동 회로와 전자 밸브와 공기 분사 노즐의 작동을 위한 정확한 지연시간의 자동 제어가 가능하다.According to the present invention, it is possible to accurately measure the fall rate or fall time of any defective rice in the drop passage, and to remove and remove the defective rice accurately. Automatic control of the exact delay time for the operation of the air jet nozzle is possible.

Description

미립 색채 선별 장치(米粒 色彩 選別 裝置){Rice-selecting device by color light intensity}Fine-selecting device by color light intensity}

본 고안은, 미립 색채 선별 장치(米粒 色彩 選別 裝置)에 관한 것으로서, 특히 낙하 유로에서의 임의의 불량미의 낙하 속도 내지 낙하 시간을 정확히 계측(計測)하여, 불량미를 선별 제거 가능하게, 상기 낙하 속도 내지 낙하 시간에 일치하도록 전자 밸브(電磁 valve) 및 공기 분사 노즐의 작동을 위한 정확한 지연시간(遲延時間)의 자동 제어가 가능하도록 된 것을 특징으로 하는 미립 색채 선별 장치(米粒 色彩 選別 裝置)에 관한 것이다.The present invention relates to a fine particle color sorting apparatus, and particularly, to accurately measure a drop rate or a drop time of any defective rice in a drop passage, so that the defective rice can be selectively removed. Fine color sorting device, characterized in that it is possible to automatically control the precise delay time for the operation of the solenoid valve and the air jet nozzle to match the drop speed or the drop time. It is about.

종래의 기술로서, 원료미에 혼입된 불량미를 광학적 수단을 이용하여 선별 검출하고, 전자 밸브 및 공기 분사 노즐을 작동시켜 공기압을 이용하여 불량미를 선별 제거하는 미립 색채 선별 장치에 있어서, 원료미를 불량미 검출 광학 수단에 공급하는 슈트에서 미립의 낙하 속도는 미립의 유량의 다소와, 미립의 형태, 및 그 표면의 상태에 의해 낙하 속도가 일정하지 않고 비산(飛散)(흩어짐) 현상이 있고, 이로 인하여 전자 밸브 및 공기 분사 노즐이 작동하여도 불량미의 제거가 되지 않는 문제점이 있었다.In the prior art, in the fine particle color sorting apparatus which sorts and detects the defective rice mixed in the raw rice using optical means, and operates the solenoid valve and the air injection nozzle to selectively remove the defective rice using air pressure. In the chute supplied to the defect detection optical means, the dropping speed of the fine particles is not constant and the scattering phenomenon is scattered due to the particle flow rate, the shape of the fine particles, and the state of the surface thereof. As a result, even if the solenoid valve and the air injection nozzle are operated, there is a problem that the bad taste is not removed.

미립 색채 선별 장치의 구조에 관하여는, 도6에 도시된 바와 같이, 미립의 흐름을 따라서 설명하면, 호퍼로부터의 원료미는 피더(feeder, 미립 공급 장치)(11)에서 슈트(12)에 공급되어, 슈트 상측으로부터 슈트 하측으로 흐르면서 정렬, 낙하하여 불량미 검출 광학 수단(20)에 이른다.Regarding the structure of the particulate color sorting apparatus, as shown in FIG. 6, the particulate matter from the hopper is supplied to the chute 12 from the feeder 11. It flows from the chute upper side to the chute lower side, aligns and falls, and reaches the defective taste detection optical means 20.

착색된 불량미는 슈트(12)로부터 떨어져 원료미 낙하 유로의 공중에서 광센서(22)에 의해 선별 검출되어, 그 밑에 설치되어 있는 공기 분사 노즐(43)에 의한공기압에 의하여 선별 제거되지만, 광센서(22)의 시야를 방해하지 않도록 광센서(22)의 광축으로부터 공기 분사 노즐(43)은 상하 방향으로 약 40mm 내지 120mm정도 떨어져 설치되어 있기 때문에, 광센서(22)가 불량미를 선별 검출한 후 불량미의 선별 제거를 위하여 전자 밸브(42) 및 공기 분사 노즐(43)을 작동시키는 시간은 불량미의 낙하 시간에 정확히 맞출 필요가 있고, 이러한 필요에 따라 통상의 지연 시간(딜레이(delay)시간)의 설정이 필요하게 된다.The colored defective rice is separated from the chute 12 by the optical sensor 22 in the air of the raw material drop flow path, and is selectively removed by the air pressure by the air injection nozzle 43 provided thereunder. Since the air jet nozzle 43 is provided at an angle of about 40 mm to 120 mm in the vertical direction from the optical axis of the optical sensor 22 so as not to disturb the field of view of the optical sensor 22, the optical sensor 22 selectively detects the defective taste. The time for operating the solenoid valve 42 and the air injection nozzle 43 to sort out and remove the defective rice afterwards needs to be precisely matched to the falling time of the defective rice, and according to this need, a normal delay time (delay) Time) is required.

더욱이 슈트의 상부를 흐르는 미립의 속도는 슈트의 골 구조의 형태, 미립의 유량의 다소, 미립 표면의 상태에 의하여 비산(飛散)이 생기므로, 따라서 불량미의 선별 검출 후 불량미의 선별 제거를 위하여 전자 밸브 및 공기 분사 노즐이 작동할 때까지 지연 시간을 변경할 필요가 있었지만, 개개의 임의의 불량미의 정확한 낙하 속도 내지 낙하 시간을 알 수 없었기 때문에 지연시간의 자동 제어가 불가능한 문제점이 있었다.Furthermore, the speed of the fine particles flowing through the upper part of the chute is scattered due to the shape of the chute structure, the flow rate of the fine particles, and the state of the particulate surface. For this reason, it was necessary to change the delay time until the solenoid valve and the air injection nozzle were operated, but there was a problem in that automatic control of the delay time was impossible because the exact drop speed or the drop time of each arbitrary defect was not known.

종래의 기술에서는, 불량미의 낙하 속도 내지 낙하 시간을 계측하려면, 불량미 흐름 방향에 광센서를 새로이 슈트 단위로 설치하거나, 광센서로부터의 신호를 화상 처리의 기법을 도입하여 처리하는 등의 필요가 있고, 그 구성이 복잡하게 되고, 설치비용이 올라가는 문제점이 있었다.In the prior art, in order to measure the fall rate or fall time of a defective rice, it is necessary to install a new optical sensor in a chute unit in the defective rice flow direction, or to process a signal from the optical sensor by introducing an image processing technique. There is a problem that the configuration becomes complicated, the installation cost goes up.

종래의 기술에서, 전자 밸브 및 공기 분사 노즐의 작동 타이밍 조정을 위하여, 원료미의 낙하 흐름을 보면서 사람의 눈을 통해 직접 조정하는 방법은, 불량미 검출 광학 수단의 배경판의 반사광의 밝기를 양품미의 반사광의 밝기보다도 밝게 설정하여, 모든 양품미가 어둡게 보이도록 조정하여, 소량씩 적은 유량으로 원료미를 낙하하여, 보다 많게 제거 가능한 상태를 눈으로 확인해 가면서 지연 시간을 조정하여, 그 조정에 많은 시간과 경비가 필요한 문제점이 있었다.In the prior art, in order to adjust the operation timing of the solenoid valve and the air jet nozzle, a method of directly adjusting the human eye while watching the falling flow of the raw material rice yields the brightness of the reflected light of the background plate of the defective taste detection optical means. It is set to be brighter than the reflected light of beauty, adjusts so that all good quality looks dark, falls raw material at small flow rate little by little, and adjusts delay time while visually confirming more removable condition. There was a problem that required time and expense.

더욱이 종래의 기술에서는 불량미 제거를 위하여 공기 분사 노즐의 작동 시간을 길게 하여 불량미를 날려 버림에 따라, 불량미 1립(粒)을 제거하는데 양품미 7 내지 10립(粒)이 함께 날려 제거되는 문제점이 있었다.Furthermore, in the prior art, in order to remove the defective rice, as long as the operation time of the air jet nozzle is blown away and the defective rice is blown out, 7 to 10 grains of good quality are blown together to remove one defective rice. There was a problem.

결국, 종래의 기술에서는, 불량미의 낙하 속도 내지 낙하 시간을 자동으로 계측하거나, 또는 불량미의 선별 제거을 위한 전자 밸브 및 공기 분사 노즐의 정확한 작동을 위한 정확한 지연시간을 자동 제어하는 미립 색채 선별 장치는 실현되어 있지 않았다.As a result, in the prior art, the granular color sorting device which automatically measures the drop speed or fall time of the defective rice, or automatically controls the precise delay time for the accurate operation of the solenoid valve and the air jet nozzle for sorting and removing the defective rice. Was not realized.

본 고안은, 종래 기술의 상기 문제점을 해결하기 위한 것으로서,The present invention is to solve the above problems of the prior art,

본 고안의 목적은, 낙하 유로에서 임의의 불량미가 소정의 상단점과 소정의 하단점 사이를 낙하함을 선별 감지 가능하도록 상단 광센서와 하단 광센서가 구비되고, 상기 상단 광센서로부터의 임의의 불량미의 선별 감지 신호와 상기 하단 광센서로부터의 상기 임의의 불량미의 선별 감지 신호에 따라, 이에 각각 상응하는 "클록 펄스 계수 개시 신호"와 "클록 펄스 계수 정지 신호"를 출력하는 "타이밍 회로"가 구비되고, 상기 "클록 펄스 계수 개시 신호"와 상기 "클록 펄스 계수 정지 신호"에 의하여 낙하 유로에서 상기 임의의 불량미의 낙하 시간를 계측하기 위한 계수기(計數器)(카운터, counter)와, D-A(디지털-아날로그) 변환기(converter)와, 오프셋(offset) 회로와, 차동 증폭기(差動 增幅器)가 구비되고, 이 차동 증폭기로부터의 출력 전압이 통상의 지연(遲延) 회로의 V-F(전압 주파수) 변환기(converter)에 인가되도록 회로 연결되어,An object of the present invention is provided with an upper optical sensor and a lower optical sensor to selectively detect that any bad taste falls between a predetermined upper end point and a predetermined lower end point in a drop passage, A "timing circuit" for outputting a corresponding "clock pulse count start signal" and a "clock pulse count stop signal" corresponding to each of the bad taste sorting detection signals and the arbitrary bad taste sorting detection signal from the lower light sensor; And a counter (counter, counter) for measuring the fall time of the arbitrary defective rice in the drop passage by the "clock pulse count start signal" and the "clock pulse count stop signal", and DA (Digital-to-analog) converters, offset circuits, and differential amplifiers are provided, and the output voltages from these differential amplifiers are typically delayed. Circuit-connected to be applied to a V-F (voltage frequency) converter of the circuit,

낙하 유로에서의 임의의 불량미의 낙하 속도 내지 낙하 시간을 정확히 계측 가능하여, 불량미를 선별 제거 가능하게, 상기 낙하 속도 내지 낙하 시간에 정확히 맞추어 전자 밸브 구동 회로와 전자 밸브와 공기 분사 노즐의 작동을 위한 정확한 지연시간의 자동 제어가 가능하도록 된 미립 색채 선별 장치를 제공함에 그 목적이 있다.The operation of the solenoid valve driving circuit, the solenoid valve, and the air injection nozzle can be accurately measured at the dropping speed and the dropping time so that the dropping speed and the dropping time of any defective rice in the drop passage can be accurately measured. An object of the present invention is to provide a particulate color sorting device, which enables automatic control of accurate delay time.

도1은 본 고안에 따른 실시예의 구성 및 작용을 전체적이고 개략적으로 나타낸 종단면도,1 is a longitudinal cross-sectional view showing the configuration and operation of the embodiment according to the present invention in a general and schematic manner;

도2는 본 고안에 따른 실시예의 상단 광센서와, 하단 광센서의 구성 및 그 작용을 개략적으로 나타낸 종단면도,Figure 2 is a longitudinal cross-sectional view schematically showing the configuration and operation of the upper optical sensor and the lower optical sensor of the embodiment according to the present invention,

도3는 본 고안에 따른 실시예의 회로의 블럭 다이어그램,3 is a block diagram of a circuit of an embodiment according to the present invention;

도4은 도2에서의 M의 회로의 블럭 다이어그램,4 is a block diagram of the circuit of M in FIG.

도5는 본 고안에 따른 클록 펄스 계수 개시 신호, 클록 펄스 계수 정지 신호, 홀드 신호, 리셋 신호 등의 파형과 그 상호 관계를 나타낸 파형도,5 is a waveform diagram showing waveforms of a clock pulse count start signal, a clock pulse count stop signal, a hold signal, a reset signal, and the like, and their correlations according to the present invention;

도6은 종래의 기술에서의 미립 색채 선별 장치의 구성 및 작용을 전체적이고 개략적으로 나타낸 종단면도,6 is a longitudinal sectional view schematically and schematically showing the construction and operation of the particulate color sorting apparatus in the prior art;

도7은 종래의 기술에서의 회로의 블록 다이어그램.7 is a block diagram of a circuit in the prior art.

* 본 고안의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of the codes for the main parts of the present invention

1 : 불량미(不良米), 1-a : 임의의 불량미, 1-a' : 거리(L)을 낙하한 상기 임의의 불량미, 1-b : 새로운 임의의 불량미,1: bad rice 1-a: random bad rice, 1-a ': random bad rice dropping distance L, 1-b: new random bad rice,

2 : 양품미(良品米), 3 원료미(原料米),2: good quality rice (良 品 米), 3 raw material rice (原料 米),

10 : 미립(米粒) 공급 수단, 11 : 피더(feeder, 미립 공급 장치), 12 : 슈트(chute, 미립 활강로(米粒 滑降路)), 15 : 원료미 낙하 유로(落下 流路),10: fine grain supply means, 11 feeder, 12 chute, fine runway, 15 raw material fall flow path,

20 : 불량미 검출 광학 수단,20: optical means for detecting bad taste

21 : 광원으로서의 형광등,21: fluorescent lamp as light source,

22 : 광센서(光 sensor(즉, 포토다이오드(photodiode)),22: optical sensor (ie photodiode),

22-a : 렌즈,22-a: lens,

23-1 : 타측의 광센서에 대응하는 배경판(背景板),23-1: background plate corresponding to the other optical sensor,

23-2 : 일측의 광센서에 대응하는 배경판(背景板),23-2: background plate corresponding to the light sensor on one side,

30 : 신호 처리 수단, 31 : 증폭 회로,30: signal processing means, 31: amplifying circuit,

32-1, 32-2 : 비교 회로, 32-1-a, 32-2-a : 설정기,32-1, 32-2: comparison circuit, 32-1-a, 32-2-a: setter,

34 : 오알(OR) 회로,34: OR circuit,

35 : 원셧 멀티바이브레이터(one shot multivibrator)(단안정(單安定) 멀티 바이브레이터), 36 : V-F(전압-주파수) 변환기(컨버터, converter), 37 : 시프트 레지스터(shift register), 38 : 지연(遲延) 회로,35: one shot multivibrator (mono-stable multivibrator), 36: VF (voltage-frequency) converter (converter, converter), 37: shift register, 38: delay ) Circuit,

40 : 불량미 제거 수단, 41 : 전자 밸브 구동 회로,40: bad taste removal means, 41: solenoid valve drive circuit,

42 : 전자 밸브(電磁 valve), 43 : 공기(air) 분사 노즐(nozzle),42: solenoid valve, 43: air injection nozzle,

51-1 : 상단 광센서(上段 光 sensor(즉, 포토다이오드(photodiode)), 51-2 : 하단 광센서(下端 光 sensor(즉, 포토다이오드(photodiode)), 52 : 광원, 53, 53' : 배경판, 54 : 렌즈,51-1: upper optical sensor (ie photodiode), 51-2: lower optical sensor (ie photodiode), 52: light source, 53, 53 ' : Background plate, 54: lens,

61-1 : 제1 증폭 회로, 61-2 : 제2 증폭 회로,61-1: first amplifier circuit, 61-2: second amplifier circuit,

62-1 : 제1 비교 회로, 62-1-a : 제1 설정기,62-1: first comparison circuit, 62-1-a: first setter,

62-2 : 제2 비교 회로, 62-2-a : 제2 설정기,62-2: second comparison circuit, 62-2-a: second setter,

70 : 타이밍(timing) 회로,70: timing circuit,

81 : 클록 펄스(clock pulse) 발생기,81: a clock pulse generator,

82 : 계수기(計數器)(counter),82: counter,

85 : D-A(디지털-아날로그) 변환기(converter),85: D-A (Digital-Analog) Converter,

86 : 오프셋(offset) 회로, 86-1 : 저항, 86-2 : 가변 저항기86: offset circuit, 86-1: resistor, 86-2: variable resistor

90 : 차동 증폭기(差動 增幅器), 90-a : 설정기90: differential amplifier, 90-a: setter

P : 소정의 상단점(上段點), Q : 소정의 하단점(下段點),P: predetermined upper point, Q: predetermined lower point,

L : P와 Q 사이의 소정의 거리,L: a predetermined distance between P and Q,

CL : 클록 펄스의 파형,CL: waveform of the clock pulse,

ST : 클록 펄스 계수 개시 신호,ST: clock pulse count start signal,

SP : 클록 펄스 계수 정지 신호,SP: clock pulse count stop signal,

HO : 홀드(hold) 신호,HO: hold signal,

RE : 리셋(reset) 신호,RE: reset signal,

CO : 클록 펄스 계수 개시 신호의 인가 때로부터 클럭 펄스 계수 정지 신호의 인가 때까지 계수기에 인가된 클록 펄스의 파형CO: waveform of the clock pulse applied to the counter from the time of application of the clock pulse count start signal to the time of application of the clock pulse count stop signal

V2 : D-A(디지털-아날로그) 변환기로부터의 출력신호의 전압.V2: Voltage of the output signal from the D-A (Digital-Analog) converter.

본 고안은 첨부된 도면과 그 실시예에 따라 상세히 설명하면 하기와 같다.The present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings and embodiments thereof.

본 고안의 구성은, 도1 내지 도5에 도시된 바와 같이,The configuration of the present invention, as shown in Figures 1 to 5,

불량미(不良米)(1)를 선별 검출하여 제거함이 가능하도록;To detect and remove defective rice 1;

불량미(1)와 양품미(2)가 혼합되어 있는 원료미(原料米)(3)를 불량미 검출 광학 수단(不良米 檢出 光學 手段)(20)에 공급하는 미립(米粒) 공급 수단(10)과;Fine-grained supply means for supplying the raw-material rice (3) in which the defective rice (1) and the good rice (2) are mixed to the defective rice detecting optical means (20). 10;

원료미(3) 중에 혼입되어 있는 불량미(不良米)(1)를 선별 검출 가능하도록 광원(光源)으로서의 형광등(21)과, 광센서(光 sensor)(즉, 포토다이오드(photodiode))(22)와, 렌즈(22-a)와, 상기 광센서(22)에 대응하는 배경판(背景板)(23)[도1에서의 배경판(23-1)(23-2)]이 구비된 불량미 검출 광학 수단(20)이 구비되고;Fluorescent lamp 21 as a light source and an optical sensor (that is, a photodiode) so that the defective rice 1 mixed in the raw rice 3 can be detected selectively. 22, a lens 22-a, and a background plate 23 (background plates 23-1 and 23-2 in FIG. 1) corresponding to the optical sensor 22 are provided. The defective taste detection optical means 20 is provided;

상기 광센서(22)에 의하여 선별 검출된 불량미(1)를 제거하게 상기 광센서(22)로부터의 출력 신호에 따라 전자(電磁) 밸브(valve)(42)를 구동시키도록, 증폭회로(31)와, 비교 회로(32-1)(32-2)와, 설정기(32-1-a)(32-2-a)와, 오알(OR) 회로(34)와, 원셧 멀티바이브레이터(one shot multivibrator)(단안정(單安定) 멀티바이브레이터)(35)가 갖추어지고, V-F(전압-주파수) 변환기(컨버터, converter))(36)와 시프트 레지스터(shift register)(37)가 갖추어진 지연(遲延) 회로(38)가 구비된 신호 처리 수단(30)이 구비되고;An amplification circuit (100) is driven to drive an electromagnetic valve (42) in accordance with an output signal from the optical sensor (22) to remove the defective taste (1) that has been selectively detected by the optical sensor (22). 31, comparison circuits 32-1 and 32-2, setters 32-1-a and 32-2-a, OR circuits 34, and one-shot multivibrator ( one shot multivibrator (mono-stable multivibrator) 35, VF (voltage-frequency) converter (36) and a shift register (37) A signal processing means 30 provided with a delay circuit 38 is provided;

상기 V-F(전압-주파수) 변환기(36)에는, 원료미 낙하 유로(落下 流路)[이하, "낙하 유로"라고 함](15)에서 상기 광센서(22)[즉, 도1에서의 일측의 광센서(22)와, 타측의 광센서(22)]의 광축(光軸)으로부터 공기(air) 분사 노즐(nozzle)(43)까지의 거리를 불량미(1)가 낙하하는데 소요되는 "소정의 평균 낙하 시간(T1)" 만큼을, 전자 밸브 구동 회로(41)와 전자 밸브(電磁 valve)(42) 및 공기 분사 노즐(43)의 작동의 "소정의 평균 지연 시간(T1)"으로서, 지연시키도록 하는 소정의 기준 전압(V1)[이하, "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"이라고 함]을 인가하며;In the VF (voltage-frequency) converter 36, the optical sensor 22 (i.e., one side in FIG. 1) in the raw material fall flow path (hereinafter referred to as "falling flow path") 15; Is required for the defective rice 1 to drop the distance from the optical axis of the optical sensor 22 and the optical sensor 22 of the other side to the air injection nozzle 43. The predetermined average fall time T1 is defined as the " predetermined average delay time T1 " of the operation of the solenoid valve drive circuit 41, the solenoid valve 42, and the air injection nozzle 43. A predetermined reference voltage V1 (hereinafter referred to as "the predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1") to be delayed is applied;

상기 신호 처리 수단(30)으로부터의 전자 밸브 구동 신호에 의하여 낙하 유로(15)를 통과하는 불량미(不良米)(1)를 제거하도록 전자 밸브 구동 회로(41)와, 전자 밸브(電磁 valve)(42)와, 공기(air) 분사 노즐(nozzle)(43)이 구비된 불량미 제거 수단(40)으로 이루어진 미립 색채 선별 장치(米粒 色彩 選別 裝置)에 있어서;The solenoid valve drive circuit 41 and the solenoid valve so that the bad rice 1 which passes the fall flow path 15 by the solenoid valve drive signal from the said signal processing means 30 may be removed. In the fine particle color sorting apparatus which consists of 42 and the bad taste removal means 40 provided with the air injection nozzle 43;

상기 낙하 유로(15)에서 임의의 불량미(1-a)가 소정의 상단점(上段點)(P)을 통과함을 선별 감지(選別 感知) 가능하도록 된 상단 광센서(上段 光 sensor(즉, 포토다이오드(photodiode))(51-1)[즉, 상단 선별 감지용 광센서]와, 상기 낙하유로(15)에서 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 소정의 상단점(P)으로부터 소정의 거리(L) 만큼 하방(下方)에 위치한 소정의 하단점(Q)을 통과함을 선별 감지(選別 感知) 가능하도록 하단 광센서(下端 光 sensor(즉, 포토다이오드(photodiode))(51-2)[즉, 하단 선별 감지용 광센서]와, 광원(52)과, 배경판(53)(53')과, 렌즈(54)가 구비된다.An upper optical sensor (ie, an upper optical sensor) capable of selectively detecting that any defective taste 1-a passes through a predetermined upper end point P in the drop passage 15. A photodiode) 51-1 (that is, an optical sensor for detecting a top screen) and the defective taste 1-a in the drop passage 15, the predetermined top point P. A lower optical sensor (i.e. photodiode) to allow selective detection of passing through a predetermined lower end point Q located below the predetermined distance L from the 51-2) (i.e., an optical sensor for bottom sorting detection), a light source 52, a background plate 53 (53 '), and a lens 54 are provided.

상기 광원(52)은 상기 통상의 불량미 검출 광학 수단(20)의 광원으로서의 형광등(21)을 그대로 사용하는 구성이 바람직하며, 아울러 상기 배경판(53)(53')은, 상기 상단 광센서(51-1)과 상기 하단 광센서(51-2)에 각각 대응하는 위치에 설치된 상기 통상의 불량미 검출 광학 수단(20)의 배경판(23)을 그대로 사용하는 구성이 바람직하다.Preferably, the light source 52 is configured to use the fluorescent lamp 21 as a light source of the ordinary bad taste detection optical means 20 as it is, and the background plates 53 and 53 'are formed of the upper optical sensor. The structure which uses the background plate 23 of the said normal bad taste detection optical means 20 provided in the position corresponding to 51-1 and the said lower light sensor 51-2, respectively is preferable.

상기 상단 광센서(51-1)와 상기 하단 광센서(51-2)는 상기 불량미 검출 광학 수단(20)에 설치되며, 상기 소정의 거리(L) 즉, 상기 소정의 상단점(P)과 상기 소정의 하단점(Q) 사이의 거리 즉, 상기 상단 광센서(51-1)의 광축(光軸)과 상기 하단 광센서(51-2)의 광축(光軸) 사이의 낙하 유로(15)에서의 거리는, 상기 통상의 광센서(22)[즉, 도1에서의 일측의 광센서(22)와, 타측의 광센서(22)]의 광축과 공기 분사 노즐(43) 사이에 존재하는 낙하 유로(15)에서의 거리로서, 바람직한 실시예에서 20mm 내지 80mm로 구성된다.The upper optical sensor 51-1 and the lower optical sensor 51-2 are installed at the defective light detecting optical means 20, and the predetermined distance L, that is, the predetermined upper end point P is provided. And a distance between the predetermined lower end point Q, that is, a falling flow path between the optical axis of the upper optical sensor 51-1 and the optical axis of the lower optical sensor 51-2. The distance at 15 is between the optical axis of the conventional optical sensor 22 (that is, the optical sensor 22 on one side and the optical sensor 22 on the other side) and the air jet nozzle 43. As a distance in the falling flow path 15, it consists of 20 mm-80 mm in a preferable embodiment.

상기 상단 광센서(51-1)와 상기 하단 광센서(51-2)가 상기 임의의 불량미(1-a)를 선별 감지하여 검출 가능하도록, 상기 배경판(53)(53')의 반사광[상기 광원(52)의 광선에 따른 반사광임]의 밝기는 양품미(2)의 반사광[상기 광원(52)의광선에 따른 반사광임]의 밝기와 일치하도록 구성된다.Reflected light of the background plates 53 and 53 'such that the upper photo sensor 51-1 and the lower photo sensor 51-2 detect and detect the random defect 1-a. The brightness of [the reflected light according to the light ray of the said light source 52] is comprised so that the brightness of the reflected light (the reflected light according to the light ray of the said light source 52) of the good quality 2 may be matched.

상기 렌즈(54)는 상기 상단 광센서(51-1)의 광축과 상기 하단 광센서(51-2)의 광축에 설치된다.The lens 54 is installed on the optical axis of the upper optical sensor 51-1 and the optical axis of the lower optical sensor 51-2.

또한, 상기 상단 광센서(51-1)에 의하여 상기 임의의 불량미(1-a)에 대한 선별 감지가 가능하도록; 상기 상단 광센서(51-1)로부터의 출력 신호를 증폭하는 제1 증폭 회로(61-1)와; 상기 상단 광센서(51-1)에 대한 상기 임의의 불량미(1-a)의 반사광의 밝기가 상기 배경판(53)의 반사광의 밝기보다 소정의 밝기 미만으로 어두운 경우[즉, 양품미(2) 중에서 양품미(2)의 반사광이 가장 어두운 경우의 소정의 밝기 미만의 경우]에는 상기 제1 증폭 회로(61-1)로부터의 출력 신호의 전압과, 소정의 비교 기준 전압(Vg)[즉, 양품미(2) 중에서 양품미(2)의 반사광이 가장 어두운 경우의 소정의 밝기에 따른 상기 상단 광센서(51-1)로부터의 출력 신호의 전압이 상기 제1 증폭 회로(61-1)에 의하여 증폭된 전압(Vg)]의 차이의 존재에 따른, 상기 임의 의 불량미(1-a)의 선별 제거를 위한, 디지털 신호 하이(High) 레벨을 출력 가능하도록 하는 제1 비교 회로(62-1)와; 이 제1 비교 회로(62-1)의 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)을 설정하여 상기 제1 비교 회로(62-1)에 인가하는 제1 설정기(62-1-a)가 구비된다.In addition, by the upper optical sensor (51-1) to enable the selective detection of the random defective taste (1-a); A first amplifier circuit 61-1 for amplifying the output signal from the upper optical sensor 51-1; When the brightness of the reflected light of the arbitrary defective rice 1-a with respect to the upper optical sensor 51-1 is darker than the brightness of the reflected light of the background plate 53, that is, 2) is less than a predetermined brightness when the reflected light of the non-defective product 2 is the darkest], the voltage of the output signal from the first amplifier circuit 61-1 and the predetermined comparison reference voltage Vg [ That is, the voltage of the output signal from the upper optical sensor 51-1 according to the predetermined brightness when the reflected light of the non-defective product 2 is the darkest among the non-defective products 2 is the first amplifying circuit 61-1. A first comparator circuit capable of outputting a digital signal high level for the selective elimination of any defective taste 1-a according to the presence of the difference of the voltage amplified by 62-1); A first setter 62-1-a is provided for setting the predetermined comparison reference voltage Vg of the first comparison circuit 62-1 and applying it to the first comparison circuit 62-1. .

또한, 상기 하단 광센서(51-2)에 의하여 상기 임의의 불량미(1-a)에 대한 선별 감지가 가능하도록; 상기 하단 광센서(51-2)로부터의 출력 신호를 증폭하는 제2 증폭 회로(61-2)와; 상기 하단 광센서(51-2)에 대한 상기 불량미(1-a)의 반사광의 밝기가 상기 배경판(53')의 반사광의 밝기보다 소정의 밝기 미만으로 어두운 경우[즉, 양품미(2) 중에서 양품미(2)의 반사광이 가장 어두운 경우의 소정의 밝기 미만의 경우]에는 상기 제2 증폭 회로(61-2)로부터의 출력 신호의 전압과, 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)[즉, 양품미(2) 중에서 양품미(2)의 반사광이 가장 어두운 경우의 소정의 밝기에 따른 상기 하단 광센서(51-2)로부터의 출력 신호의 전압이 상기 제2 증폭 회로(61-2)에 의하여 증폭된 전압(Vg)] 사이의 차이의 존재에 따른, 상기 임의의 불량미(1-a)의 선별 제거를 위한, 디지털 신호 하이(High) 레벨을 출력 가능하도록 된 제2 비교 회로(62-2)와; 이 제2 비교 회로(62-2)의 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)을 설정하여 상기 제2 비교 회로(62-2)에 인가하는 제2 설정기(62-2-a)가 구비된다.In addition, by the lower optical sensor (51-2) to enable the selective detection of the random defective taste (1-a); A second amplifying circuit 61-2 for amplifying an output signal from the lower optical sensor 51-2; When the brightness of the reflected light of the defective rice 1-a with respect to the lower optical sensor 51-2 is darker than the brightness of the reflected light of the background plate 53 '(i.e., good quality 2) ) Is less than the predetermined brightness when the reflected light of the non-defective product 2 is the darkest], the voltage of the output signal from the second amplifying circuit 61-2 and the predetermined comparison reference voltage Vg [ That is, the voltage of the output signal from the lower optical sensor 51-2 according to the predetermined brightness when the reflected light of the non-defective product 2 is the darkest among the non-defective products 2 is the second amplifying circuit 61-2. A second comparison circuit capable of outputting a digital signal high level for the selective elimination of any of the defective tastes 1-a according to the presence of the difference between the voltage amplified by (62-2); A second setter 62-2-a is provided for setting the predetermined comparison reference voltage Vg of the second comparison circuit 62-2 and applying it to the second comparison circuit 62-2. .

또한, 본 고안은, 타이밍(timing) 회로(70)가 구비되고, 이 타이밍 회로(70)는,In addition, the present invention is provided with a timing circuit 70, the timing circuit 70,

상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 소정의 상단점(P)에서 선별 감지된 경우에는 상기 제1 비교 회로(62-1)로부터의 상기 디지털 신호 하이(High) 레벨의 출력 신호의 인가에 따라 상기 타이밍 회로(70)가 "클록 펄스 계수 개시 신호"(clock pulse 計數 開始 信號)를 출력하여 계수기(計數器, counter)(82)에 인가 가능하도록 하며;Application of the output signal of the digital signal high level from the first comparison circuit 62-1 when the random defective taste 1-a is selectively detected at the predetermined upper point P. Accordingly, the timing circuit 70 outputs a " clock pulse count start signal " (clock pulse pulse timing signal) so that it can be applied to a counter 82;

아울러 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 소정의 하단점(Q)에서 선별 감지된 경우에는 상기 제2 비교 회로(62-2)로부터의 상기 디지털 신호 하이(High) 레벨의 출력 신호의 인가에 따라 상기 타이밍 회로(70)가 "클록 펄스 계수 정지 신호"(clock pulse 計數 停止 信號)를 출력하여 계수기(計數器, counter)(82)에 인가 가능하도록 하며;In addition, when the random defect 1-a is detected at the predetermined lower end point Q, the output signal of the digital signal high level from the second comparison circuit 62-2 may be used. Upon application, the timing circuit 70 outputs a " clock pulse count stop signal " (clock pulse pulse stop signal) so that it can be applied to a counter 82;

아울러 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "클록 펄스 계수 개시 신호"의 인가 때로부터 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "클록 펄스 계수 정지 신호"의 인가 때까지에서 상기 계수기(82)에 인가된 클럭 펄스를 상기 계수기(82)가 계수(計數)하여, "동일 불량미에 따른 단위 신호"로서 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)에 인가 가능하도록 "계수(計數)된 신호"[이하 "계수된 신호"라고 함]의 상태로서, 유지하며 출력 가능하도록 하는 "계수된 신호의 홀드(hold) 신호"[이하, "홀드 신호"라고 함]를, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 "클록 펄스 계수 정지 신호"의 출력에 바로 이어서, 상기 타이밍 회로(70)가 출력하여, 이 "홀드 신호"가 상기 계수기(82)에 인가됨에 따라 상기 계수기(82)가 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 "계수된 신호"를 출력하여 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)에 인가 가능하도록 하며;Further, from the time of application of the "clock pulse coefficient start signal" according to the random defect 1-a to the time of application of the "clock pulse coefficient stop signal" according to the random defect 1-a. The counter 82 counts the clock pulses applied to the counter 82 so as to be applied to the DA (digital-analog) converter 85 as a "unit signal according to the same defective taste". A "hold signal of a counted signal" (hereinafter referred to as a "hold signal"), which is maintained as a state of a " signaled signal " Immediately following the output of the "clock pulse count stop signal" according to the defective taste (1-a), the timing circuit 70 outputs and the "hold signal" is applied to the counter 82, so that the counter ( 82 outputs the " counted signal " according to the random taste 1-a, so that DA (digital-analog) To be applicable to the transducer 85;

또한, 상기 "홀드 신호"가 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되어 상기 계수기(82)에 인가되면, 바로 이어서, 상기 계수기(82)가 다시 새로이, 상기 낙하 유로(15)에서의 새로운 임의의 불량미(1-b)에 따른, "클록 펄스 계수 개시 신호"의 인가에 따라 클록 펄스의 계수가 개시될 수 있도록 상기 계수기(82)를 초기화(初期化)하는 리셋(reset) 신호를 타이밍 회로(70)가 출력하여, 상기 리셋 신호를 상기 계수기(82)에 인가 가능하도록 하는 타이밍(timing) 회로(70)로서 이루어진다.Further, when the " hold signal " is output from the timing circuit 70 and applied to the counter 82, immediately afterwards, the counter 82 is newly renewed and any new defect in the drop passage 15 A reset signal for initializing the counter 82 so that the count of the clock pulses can be started in response to the application of the "clock pulse count start signal" according to US 1-b. 70 is provided as a timing circuit 70 for outputting the reset signal to the counter 82.

또한, 상기 타이밍 회로(70)와 상기 계수기(82)에 클록 펄스(clock pulse)를 인가하는 클록 펄스 발생기(81)가 구비되고,In addition, a clock pulse generator 81 for applying a clock pulse to the timing circuit 70 and the counter 82 is provided.

상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되는 상기 "클록 펄스 계수 개시 신호"의 인가에 따라 상기 클록 펄스의 계수를 개시하며, 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되는 상기 "클록 펄스 계수 정지 신호"의 인가에 따라 상기 클록 펄스의 계수를 정지하며, 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되는 상기 "홀드 신호"의 인가에 따라, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "계수된 신호"를 출력하여 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)에 인가하며, 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되는 상기 "리셋 신호"의 인가에 따라 계수기(82)를, 상기 낙하 유로(15)에서의 새로운 임의의 불량미(1-b)에 따른 "클록 펄스 계수 개시 신호"에 따라 다시 새로이 상기 클록 펄스의 계수의 개시가 가능하게, 초기화로 리셋(reset)하도록 된 계수기(計數器, counter)(82)가 구비된다.The counting of the clock pulses is started in accordance with the application of the "clock pulse count start signal" output from the timing circuit 70, and the application of the "clock pulse count stop signal" output from the timing circuit 70. Stops the counting of the clock pulse and outputs the " counted signal " according to the random defect 1-a in response to the application of the " hold signal " output from the timing circuit 70. Applied to the DA (digital-to-analog) converter 85, and the counter 82 is applied with the " reset signal " output from the timing circuit 70, and any new defects in the drop passage 15 A counter 82 is provided to reset the clock pulse to start again in accordance with the "clock pulse count start signal" according to US 1-b. .

상기 계수기(82)는 바람직한 실시예로서, 예컨대 10진(進) 3단(段)의 계수기로 구성된다.The counter 82 is a preferred embodiment and is composed of, for example, a decimal three stage counter.

또한, 본 고안은, 상기 계수기(82)로부터 출력되는, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른, 상기 "계수된 신호"를 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)가 인가받아 아날로그 신호로 변환하여 출력하도록 함에서, 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 "소정의 평균 낙하 시간(T2)"인 경우에는 상기 "계수된 신호"에 따른, D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의, 출력 신호의 전압(V2)을 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"과 같은 전압(V1)이 되도록 하며, 아울러 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)"보다 긴 시간인 경우에는 상기 "계수된 신호"에 따른,D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의, 출력 신호의 전압(V2)을 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"보다 높은 소정의 전압이 되도록 하며, 아울러 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)"보다 짧은 시간인 경우에는 상기 "계수된 신호"에 따른, D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의, 출력 신호의 전압(V2)을 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"보다 낮은 소정의 전압이 되도록 하는 D-A(디지털-아날로그) 변환기(converter)(85)가 구비되고;In addition, the present invention, the DA (digital-analog) converter 85 receives the "counted signal" according to the random defect (1-a) output from the counter 82, the analog signal In the case of the time when the arbitrary defective taste 1-a falls the distance L is "predetermined average fall time T2", it is determined according to the "counted signal". The voltage V2 of the output signal from the DA (digital-to-analog) converter 85 to be a voltage V1 equal to the " predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1 " In addition, when the time when the arbitrary defective taste 1-a falls the distance L is longer than the "predetermined average falling time T2", DA (according to the "counted signal"), The voltage V2 of the output signal from the digital-to-analog converter 85 is higher than the "predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1". When the time when the arbitrary defective taste 1-a falls the distance L is shorter than the "predetermined average fall time T2", Signal V2 of the output signal from the DA (digital-analog) converter 85 according to the " signal " is lower than the " predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1 " A DA (digital-analog) converter 85 is provided;

상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의 출력 신호의 전압(V2)을, 상기 "평균 지연 속도(T1)를 위한 소정의 기준 전압(V1)"과 같은 절대치의 -전압(즉, -V1)으로, 오프셋(offset)하도록 하는 오프셋(offset) 회로(86)가 구비된다.The voltage V2 of the output signal from the DA (digital-to-analog) converter 85 is equal to an absolute voltage (i.e., "the predetermined reference voltage V1 for the average delay speed T1"). V1), there is provided an offset circuit 86 for offsetting.

상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)는 상기 계수기(82)로부터의 출력 신호에 대한 분해능을 가진 통상의 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)이며, 10비트(bit) 이상의 분해능이 바람직하며, 바람직한 실시예에서는 예컨대 11비트(bit)의 분해능의 것으로 구성된다.The DA (Digital-Analog) Converter 85 is a conventional DA (Digital-Analog) Converter 85 having a resolution of the output signal from the counter 82, and preferably 10 or more bits of resolution. In the preferred embodiment, for example, the resolution is 11 bits.

상기 오프셋 회로(86)는 저항(86-1)과 가변저항기(86-2)로 이루어진 통상의 오프셋 회로이다.The offset circuit 86 is a conventional offset circuit composed of a resistor 86-1 and a variable resistor 86-2.

또한, 본 고안은, 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"이 차동 증폭기(90)의 +단자(비반전 단자(非反轉 端子))에 인가되고, 상기 거리(L)를 낙하하는 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "계수된 신호"의 인가에 따른 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의 출력 신호의 전압(V2)이 상기 -전압(즉,-V1)으로 오프셋(offset)된 전압(V3)이 차동 증폭기(90)의 -단자(반전 단자(反轉 端子))에 인가되어, 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"과 상기 오프셋(offset)된 전압(V3)의 차전압(差電壓)(V4)을 출력하도록 된 차동 증폭기(差動 增幅器)(90)가 구비되고, 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"을 설정하여 상기 차동 증폭기(90)에 인가 가능하도록 된 설정기(90-a)가 구비되고;Further, in the present invention, the "predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1" is applied to the + terminal (non-inverting terminal) of the differential amplifier 90, and the distance The voltage V2 of the output signal from the DA (digital-analog) converter 85 in response to the application of the "counted signal" according to the arbitrary defective taste 1-a dropping (L) is- A voltage V3 offset to a voltage (i.e., -V1) is applied to the negative terminal (inverting terminal) of the differential amplifier 90, so that the predetermined value for the " average delay time T1 " And a differential amplifier 90 configured to output the difference voltage V4 of the reference voltage V1 " and the offset voltage V3, wherein the " average " A setter 90-a is provided which is set to a predetermined reference voltage V1 for the delay time T1 and is applicable to the differential amplifier 90;

상기 임의의 불량미(1-a)를 선별 제거하게, 상기 전자 밸브 구동 회로(41)와 상기 전자 밸브(42)와 상기 공기 분사 노즐(43)의 정확한 작동을 위한 지연시간의 정확한 자동 제어가 가능하도록, 상기 차동 증폭기(90)로부터 출력되는 상기 차전압(差電壓)(V4)이 상기 V-F(전압-주파수) 변환기(36)에 인가되도록 회로 연결된 미립 색채 선별 장치(米粒 色彩 選別 裝置)이다.Accurate automatic control of the delay time for the correct operation of the solenoid valve drive circuit 41, the solenoid valve 42, and the air injection nozzle 43 to selectively remove the defective taste 1-a It is a fine color sorting device circuit-connected so that the difference voltage V4 output from the differential amplifier 90 can be applied to the VF (voltage-frequency) converter 36. .

바람직한 실시예에서, 상기 차동 증폭기(90)의 상기 차전압(差電壓)(V4)에 대한 전압 증폭율은 "1"로서 구성된다.In a preferred embodiment, the voltage amplification factor for the differential voltage V4 of the differential amplifier 90 is configured as "1".

상기 구성의 본 고안의 작용은 하기와 같다.The action of the present invention of the above configuration is as follows.

통상의 미립 색채 선별 장치에 있어서, 도6에서 도시된 바와 같이, 불량미(1)를 선별 검출하여 제거하기 위하여, 불량미(1)와 양품미(2)가 혼입된 원료미(3)는 상기 미립 공급 수단(10)을 거쳐서, 상기 불량미 검출 광학 수단(20)으로 이동한다.In the conventional fine particle color sorting apparatus, as shown in FIG. 6, in order to selectively detect and remove the defective rice 1, the raw rice 3 in which the defective rice 1 and the good quality rice 2 are mixed is It moves to the said defect detection optical means 20 via the said particulate supply means 10. As shown in FIG.

상기 원료미(3)에 혼입된 불량미(1)와 양품미(2)는 상기 불량미 검출 광학 수단(20)에서의 낙하 유로(15)에서, 상기 광센서(22)에 의하여 불량미(1)가 선별감지되어, 통상의 구성인 상기 신호 처리 수단(30)과 상기 불량미 제거 수단(40)에 의하여 선별 제거된다. 즉,The defective rice 1 and the good quality rice 2 mixed in the raw rice 3 are collected by the optical sensor 22 in the drop passage 15 in the defective rice detecting optical means 20. 1) is selectively detected and removed by the signal processing means 30 and the defective taste removing means 40 having a normal configuration. In other words,

상기 낙하 유로(15)에서 상기 광원으로서의 형광등(21)에 대한 상기 불량미(1)의 반사광의 밝기가, 상기 광센서(22)에 의하여 상기 광원으로서의 형광등(21)에 대한 상기 배경판(23)의 반사광의 밝기와 비교되어, 불량미(1)는 상기 소정의 밝기를 초과하여 밝게 감지되거나, 상기 소정의 밝기 미만으로 어둡게 감지되므로, 상기 양품미(2)의 반사광의 밝기와 일치하도록 조정된 상기 배경판(23)의 반사광의 밝기와의 차이에 의하여 상기 양품미(2)와 구별되어 상기 불량미(1)는 선별 감지가 가능하다.The brightness of the reflected light of the defective light 1 with respect to the fluorescent light 21 as the light source in the drop passage 15 is the background plate 23 for the fluorescent light 21 as the light source by the optical sensor 22. Compared with the brightness of the reflected light, the bad taste 1 is detected to be brighter than the predetermined brightness or darker than the predetermined brightness, so that it is adjusted to match the brightness of the reflected light of the good quality 2. The defective taste 1 is distinguished from the good quality 2 by the difference between the brightness of the reflected light of the background plate 23, and the defective taste 1 can be selectively detected.

상기 낙하 유로(15)에서의 선별 감지된 불량미(1)에 따른 상기 광센서(22)로부터의 출력 신호는, 도7 및 도3에 도시된 바와 같이, 통상의 구성인, 상기 증폭회로(31)와, 상기 비교 회로(32-1)(32-2)와, 상기 오알(OR) 회로(34)와, 상기 원셧 멀티바이브레이터(one shot multivibrator)(단안정(單安定) 멀티바이브레이터)(35)가 갖추어지고, 상기 V-F(전압-주파수) 변환기(컨버터, converter)(36)와 시프트 레지스터(shift register)(37)가 갖추어진 지연(遲延) 회로(38)가 구비된 신호 처리 수단(30)에 의하여, 상기 불량미(1)의 낙하 속도 내지 낙하 시간에 맞추어진 지연(遲延)시간으로 지연된 전자 밸브 구동 신호을 출력하게 되어, 통상의 구성인, 상기 전자 밸브 구동 회로(41)와 상기 전자 밸브(電磁 valve)(42)와 상기 공기(air) 분사 노즐(nozzle)(43)에 의하여 상기 낙하 유로(15)를 통과하는 불량미(1)를 선별 제거함이 가능하다. 즉,The output signal from the optical sensor 22 according to the defective taste 1 detected by the drop passage 15 is, as shown in Figs. 31, the comparison circuits 32-1 and 32-2, the OR circuit 34, and the one shot multivibrator (monostable multivibrator) ( A signal processing means having a delay circuit 38 equipped with a VF (voltage-frequency) converter (converter) 36 and a shift register 37; 30, the solenoid valve drive signal delayed by the fall time of the said defective rice 1 or the delay time matched with the fall time is output, and the said solenoid valve drive circuit 41 and the said which are a normal structure are said The defect which passes the fall flow path 15 by the solenoid valve 42 and the air injection nozzle 43 (1) it can be selectively removed. In other words,

양품미(2)의 반사광의 밝기에 일치시켜진, 배경판(23)[즉, 도6과 도1에서의 배경판(23-1)(23-2)]의 반사광의 밝기에 대비된 불량미(1)의 반사광의 밝기가 상기 광센서(22)에 선별 감지되어;A defect in contrast with the brightness of the reflected light of the background plate 23 (that is, the background plates 23-1 and 23-2 in FIGS. 6 and 1) matched to the brightness of the reflected light of the good quality 2 The brightness of the reflected light of the rice (1) is selectively detected by the optical sensor (22);

상기 광센서(22)로부터의 출력 신호는 상기 증폭 회로(31)에 의하여 증폭되어, 설정기(32-2-a)에 의하여, 양품미(2) 중에서 양품미(2)의 반사광이 가장 어두운 소정의 밝기에 따른 상기 광센서(22)로부터의 출력 신호의 전압이 상기 증폭 회로(31)에 의하여 증폭된 전압인, 통상의 소정의 비교 기준 전압(Vg)으로 설정된 비교 회로(32-2)와; 설정기(32-1-a)에 의하여, 양품미(2) 중에서 양품미(2)의 반사광이 가장 밝은 소정의 밝기에 따른 상기 광센서(22)로부터의 출력 신호의 전압이 상기 증폭 회로(31)에 의하여 증폭된 전압인, 통상의 소정의 비교 기준 전압(Vf)으로 설정된 비교 회로(32-1)에 의하여 비교되어, 양품미(2)의 반사광의 밝기에 일치시켜진, 배경판(23)[도6과 도1에서의 배경판(23-1)(23-2)]의 반사광의 밝기와의 차이가 상기 소정의 밝기 미만의 경우[즉, 불량미(1)의 반사광의 밝기가 양품미(2)로서의 가장 어두운 소정의 밝기 미만의 밝기인 경우]와, 상기 차이가 상기 소정의 밝기 초과의 경우[즉, 불량미(1)의 반사광의 밝기가 양품미(2)로서의 가장 밝은 소정의 밝기 초과의 밝기인 경우]에는 불량미(1)로 감지된다. 즉,The output signal from the optical sensor 22 is amplified by the amplifying circuit 31, and by the setter 32-2-a, the reflected light of the good quality 2 from the good quality 2 is the darkest. Comparison circuit 32-2, in which the voltage of the output signal from the optical sensor 22 according to the predetermined brightness is set to the usual predetermined reference voltage Vg, which is a voltage amplified by the amplifier circuit 31. Wow; By the setter 32-1-a, the voltage of the output signal from the optical sensor 22 according to the predetermined brightness in which the reflected light of the non-defective rice 2 is the brightest among the non-defective rice 2 is supplied to the amplification circuit ( The background plate (compared by the comparison circuit 32-1 set to the usual predetermined comparison reference voltage Vf, which is the voltage amplified by 31), is matched with the brightness of the reflected light of the good quality 2 ( 23) When the difference from the brightness of the reflected light of [the background plates 23-1 and 23-2 in Figs. 6 and 1] is less than the predetermined brightness (that is, the brightness of the reflected light of the defective taste 1). Is the brightness less than the darkest predetermined brightness as the good quality 2, and when the difference is more than the predetermined brightness (that is, the brightness of the reflected light of the defective rice 1 is the best quality as the good quality 2). In the case of the brightness exceeding the bright predetermined brightness], it is detected as the defective taste (1). In other words,

불량미(1)의 반사광의 밝기가 양품미(2)로서의 가장 어두운 소정의 밝기 보다 어두운 경우에는, 이 경우에 따른 상기 광센서(22)로부터의 출력 신호의 전압이 상기 증폭기(31)을 거쳐 증폭되어, 상기 설정된 상기 비교 기준 전압(Vg) 보다 낮은 전압이 출력되어 상기 비교 회로(32-2)에 의하여 불량미(1)의 제거를 위한 디지털 신호 하이(High) 레벨이 출력되고,When the brightness of the reflected light of the defective rice 1 is darker than the darkest predetermined brightness as the good rice 2, the voltage of the output signal from the optical sensor 22 in this case passes through the amplifier 31. Amplified, the voltage lower than the set comparison reference voltage (Vg) is output, and the digital signal high level for removing the bad taste (1) is output by the comparison circuit 32-2,

불량미(1)의 반사광의 밝기가 양품미(2)로서의 가장 밝은 소정의 밝기 보다 밝은 경우에는, 이 경우에 따른 상기 광센서(22)로부터의 출력 신호의 전압이 상기 증폭기(31)을 거쳐 증폭되어, 상기 설정된 상기 비교 기준 전압(Vf) 보다 높은 전압이 출력되어 상기 비교 회로(32-1)에 의하여 불량미(1)의 제거를 위한 디지털 신호 하이(High) 레벨이 출력된다.When the brightness of the reflected light of the defective rice 1 is brighter than the brightest predetermined brightness as the good rice 2, the voltage of the output signal from the optical sensor 22 in this case passes through the amplifier 31. Amplified, a voltage higher than the set reference voltage Vf is output, and the digital signal high level for removing the defective tail 1 is output by the comparison circuit 32-1.

이어서, 상기 비교 회로(32-2)로부터의 불량미(1)의 제거를 위한 디지털 신호 하이(High) 레벨과, 상기 비교 회로(32-1)로부터의 불량미(1)의 제거를 위한 디지털 신호 하이(High) 레벨이, 상기 오알(OR) 회로(34)에 의하여 불량미(1)의 제거를 위한 디지털 신호 하이(High) 레벨로서 출력된다.Subsequently, the digital signal high level for the removal of the defective rice 1 from the comparison circuit 32-2 and the digital for removing the defective rice 1 from the comparison circuit 32-1. The signal high level is output by the OR circuit 34 as the digital signal high level for the removal of the bad taste 1.

이어서, 상기 오알(OR) 회로(34)로부터 불량미(1)의 제거를 위한 디지털 신호 하이(High) 레벨이 출력되면, 상기 원셧 멀티바이브레이터(one shot multivibrator)(단안정(單安定) 멀티 바이브레이터)(35)에 의하여 전자 밸브 구동 신호가 출력되며, 이 전자 밸브 구동 신호는, 상기 V-F(전압-주파수) 변환기(컨버터, converter))(36)와 상기 시프트 레지스터(shift register)(37)가 갖추어진 지연(遲延) 회로(38)에 의하여, 통상의 "소정의 평균 지연 시간(T1)" 만큼 지연된 전자 밸브 구동 신호 즉 불량미 제거의 신호로서 출력되어, 상기 불량미 제거 수단(40)의 전자 밸브 구동 회로(41)와 전자 밸브(42)와 공기 분사 노즐(43)의 통상의 작용에 의하여 불량미(1)가 선별 제거 가능하다.Subsequently, when the digital signal high level for removing the bad taste 1 is output from the OR circuit 34, the one shot multivibrator (monostable multivibrator) is output. The solenoid valve drive signal is outputted by the reference numeral 35, and the solenoid valve drive signal is generated by the VF (voltage-frequency) converter (converter)) 36 and the shift register 37. The delay circuit 38 is provided as a solenoid valve driving signal delayed by a normal " predetermined average delay time T1 " The defective taste 1 can be selectively removed by the normal action of the solenoid valve drive circuit 41, the solenoid valve 42, and the air injection nozzle 43.

상기 "소정의 평균 지연 시간(T1)"은 사전에 불량미(1)의 그 "소정의 평균적인 낙하 속도" 내지 낙하 시간을 계측하여, 상기 V-F(전압-주파수) 변환기(36)에, "낙하 유로(15)"에서 상기 광센서(22)의 광축(光軸)으로부터 공기(air) 분사 노즐(nozzle)(43)까지의 거리를 불량미(1)가 낙하하는데 소요되는 "소정의 평균 낙하 시간(T1)" 만큼을, 상기 전자 밸브(電磁 valve)(42) 및 상기 공기 분사 노즐(43)의 작동의 "소정의 평균 지연 시간(T1)"으로서, 지연시키도록 하는 소정의 기준 전압(V1)[즉, "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"]을 인가함으로써 상기 "소정의 평균 지연 시간(T1)"의 구성 및 작용이 가능하다.The " predetermined average delay time T1 " measures in advance the " predetermined average fall rate " to the fall time of the defective rice 1, so that the " VF (voltage-frequency) converter 36 " A predetermined average required for the defective rice 1 to drop the distance from the optical axis of the optical sensor 22 to the air injection nozzle 43 in the drop passage 15. The predetermined reference voltage to delay the fall time T1 "as" predetermined average delay time T1 "of the operation of the solenoid valve 42 and the air injection nozzle 43. By applying (V1) (i.e., " predetermined reference voltage V1 for average delay time T1 "), the configuration and operation of the " predetermined average delay time T1 " is possible.

본 고안은, 도1 내지 도5에 도시된 바와 같이,The present invention, as shown in Figures 1 to 5,

불량미(1)의 낙하 유로(15)에서 임의의 불량미(1-a)가 소정의 상단점(上段點)(P)을 통과함을 선별 감지(選別 感知) 가능하도록, 상단 광센서(上段 光 sensor)(51-1)와, 광원(52)과, 배경판(53)과, 렌즈(54)가 구비되고,In the falling flow path 15 of the defective rice 1, the upper optical sensor (1) may be used to selectively detect that any defective rice 1-a passes through a predetermined upper point P. An upper optical sensor 51-1, a light source 52, a background plate 53, and a lens 54,

상기 광원(52)은 통상의 상기 광원으로서의 형광등(21)이 사용되는 구성이 바람직하여, 그 제조 원가가 절약되고, 아울러 상기 배경판(53)은 통상의 상기 배경판(23)[즉, 도1과 도2에서의 배경판(23-2)]이 사용되는 구성이 바람직하여, 그 제조 원가가 절약된다.The light source 52 is preferably a configuration in which a fluorescent lamp 21 as a conventional light source is used, and thus the manufacturing cost thereof is saved, and the background plate 53 is a conventional background plate 23 (that is, FIG. 1 and 2 are preferably used, and the manufacturing cost thereof is saved.

상기 상단 광센서(51-1)가 상기 낙하 유로(15)에서 상기 임의의 불량미(1-a)를 선별 감지하여 검출 가능하도록, 상기 배경판(53)의 반사광[상기 광원(52)의 광선에 따른 반사광임]의 밝기는 양품미(2)의 반사광[상기 광원(52)의 광선에 따른 반사광임]의 밝기와 일치하도록 구성되어,Reflected light of the background plate 53 (the light source 52 of the light source 52 so that the upper photo sensor 51-1 detects and detects the random defective taste 1-a in the drop passage 15). The brightness of the reflected light according to the light beam] is configured to coincide with the brightness of the reflected light (the reflected light according to the light beam of the light source 52) of the good quality 2,

상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 낙하 유로(15)에서 상기 배경판(53)의 반사광보다 상기 소정의 밝기 미만으로 어두운 반사광을 가지는 경우에서, 상기 광센서(51-1)로부터의 출력 신호의 전압은 상기 제1 증폭 회로(61-1)에 의하여 증폭되어, 상기 제1 설정기(62-1-a)에 의하여 설정된 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)이 인가된 상기 제1 비교 회로(62-1)에 의하여 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)과 비교되어,In the case where the random defective taste 1-a has the reflected light darker than the reflected light of the background plate 53 in the drop passage 15 and less than the predetermined brightness, from the optical sensor 51-1 The voltage of the output signal is amplified by the first amplifier circuit 61-1, and the first comparison reference voltage Vg set by the first setter 62-1-a is applied. The comparison circuit 62-1 compares the predetermined comparison reference voltage Vg,

상기 제1 비교 회로(62-1)로부터 상기 임의의 불량미(1-a)의 선별 검출에 따른 신호 즉 디지털 신호 하이(High) 레벨의 출력이 가능하다.From the first comparison circuit 62-1, a signal according to the selective detection of the arbitrary defective rice 1-a, that is, a digital signal high level, can be output.

불량미(1)의 반사광은 일반적으로 양품미(2) 중 가장 어두운 경우의 양품미(2)의 반사광 보다 어두우므로, 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)과의 비교를 위한 구성만으로 된 상기 구성이 바람직하며, 다만, 양품미(2) 중 가장 밝은 양품미(2)의 반사광 보다 밝은 경우의 불량미(1)의 반사광의 경우에 대하여는 그 경우가 소수이지만 그 필요에 따라 상기 소정의 비교 기준 전압(Vf)과의 비교를 위한 구성도 이루어질 수 있다.Since the reflected light of the defective rice 1 is generally darker than the reflected light of the non-defective product 2 in the darkest of the non-defective products 2, the above-described configuration includes only the configuration for comparison with the predetermined comparison reference voltage Vg. In the case of the reflected light of the defective rice 1 which is brighter than the reflected light of the brightest good rice 2 among the brightest good rice 2, the case is few, but the predetermined comparison criteria is required as necessary. A configuration for comparison with the voltage Vf can also be made.

상기 낙하 유로(15)에서 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 상단 광센서(51-1)에 의하여 선별 감지되어 검출되어, 상기 상단 광센서(51-1)로부터 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 신호가 출력되면, 동 신호는 상기 제1 증폭 회로(61-1)에 의하여 증폭된 후,The arbitrary defective rice 1-a is detected and detected by the upper optical sensor 51-1 in the drop passage 15, and the arbitrary defective rice is detected from the upper optical sensor 51-1. When a signal according to (1-a) is output, the signal is amplified by the first amplifier circuit 61-1, and

상기 제1 증폭 회로(61-1)로부터의 출력 신호의 전압과, 상기 제1 설정기(61-a)에 의하여 설정되는 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)의 차이의 존재에 따라, 상기 제1 비교 회로(62-1)에 의하여 상기 디지털 신호 하이(High) 레벨이 출력되어, 상기 타이밍 회로(70)에 인가되며, 이에 따라 상기 타이밍 회로(70)는 "클록 펄스 계수 개시 신호"(도5에서의 ST)를 출력하여 " 계수기"(82)에 인가한다.In accordance with the presence of the difference between the voltage of the output signal from the first amplifier circuit 61-1 and the predetermined comparison reference voltage Vg set by the first setter 61-a, 1 The digital signal high level is output by the comparison circuit 62-1 and applied to the timing circuit 70, whereby the timing circuit 70 is " clock pulse coefficient start signal " ST at 5) is output to the " counter "

상기 클록 펄스 발생기(81)로부터 클록 펄스가 인가된 상기 계수기(82)는, 상기 상단 광센서(51-1)의 상기 출력 신호에 따른 상기 디지털 신호 하이(High) 레벨인 "클록 펄스 계수 개시 신호"(도5에서의 ST)에 따라, 상기 클록 펄스를 계수하기 시작한다.The counter 82 to which a clock pulse is applied from the clock pulse generator 81 is a clock clock count start signal which is the digital signal high level according to the output signal of the upper optical sensor 51-1. According to " (ST in FIG. 5), the clock pulses start counting.

또한, 본 고안은, 불량미(1)의 낙하 유로(15)에서 임의의 불량미(1-a)가 소정의 하단점(上段點)(Q)을 통과함을 선별 감지(選別 感知) 가능하도록, 하단 광센서(上段 光 sensor)(51-2)와, 광원(52)과, 배경판(53')과, 렌즈(54)가 구비되고,In addition, the present invention enables selective detection that any defective rice 1-a passes through a predetermined lower end point Q in the falling flow path 15 of the defective rice 1. The lower optical sensor 51-2, the light source 52, the background plate 53 ', and the lens 54 are provided.

상기 광원(52)은 통상의 상기 광원으로서의 형광등(21)이 사용되는 구성이 바람직하여, 그 제조 원가가 절약되고, 아울러 상기 배경판(53')은 통상의 배경판이 사용되는 구성이 가능하여, 그 제조 원가가 절약된다.The light source 52 is preferably a configuration in which a fluorescent lamp 21 as a conventional light source is used, and the manufacturing cost thereof is saved, and the background plate 53 'can be a configuration in which a normal background plate is used. The manufacturing cost is saved.

상기 하단 광센서(51-2)가 상기 낙하 유로(15)에서 상기 임의의 불량미(1-a)[즉, 도2에서의 1-a']를 선별 감지하여 검출 가능하도록, 상기 배경판(53')의 반사광[상기 광원(52)의 광선에 따른 반사광임]의 밝기는 양품미(2)의 반사광[상기 광원(52)의 광선에 따른 반사광임]의 밝기와 일치하도록 구성되어,The background plate so that the lower optical sensor 51-2 detects and detects the random defect 1-a (that is, 1-a 'in FIG. 2) in the drop passage 15. The brightness of the reflected light (which is the reflected light according to the light beam of the light source 52) of 53 'is configured to match the brightness of the reflected light of the good quality 2 (the reflected light according to the light beam of the light source 52),

상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 낙하 유로(15)에서 상기 배경판(53')의 반사광보다 상기 소정의 밝기 미만으로 어두운 반사광을 가지는 경우에서, 상기 광센서(51-2)로부터의 출력 신호의 전압은 상기 제2 증폭 회로(61-2)에 의하여 증폭되어, 상기 제2 설정기(62-2-a)에 의하여 설정된 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)이인가된 상기 제2 비교 회로(62-2)에 의하여 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)과 비교되어,From the optical sensor 51-2, in the case where the random defective taste 1-a has the reflected light darker than the reflected light of the background plate 53 'in the drop passage 15, less than the predetermined brightness. The voltage of the output signal of is amplified by the second amplifying circuit 61-2, and the first comparison reference voltage Vg set by the second setter 62-2-a is applied. 2 is compared with the predetermined comparison reference voltage Vg by the comparison circuit 62-2,

상기 제2 비교 회로(62-2)로부터 상기 임의의 불량미(1-a)의 선별 검출에 따른 신호 즉 디지털 신호 하이(High) 레벨의 출력이 가능하다.From the second comparison circuit 62-2, a signal according to the selective detection of the arbitrary defective taste 1-a, that is, a digital signal high level, can be output.

불량미(1)의 반사광은 일반적으로 양품미(2) 중 가장 어두운 경우의 양품미(2)의 반사광 보다 어두우므로, 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)과의 비교를 위한 구성만으로 된 상기 구성이 바람직하며, 다만, 양품미(2) 중 가장 밝은 양품미(2)의 반사광 보다 밝은 경우의 불량미(1)의 반사광의 경우에 대하여는 그 경우가 소수이지만 그 필요에 따라 상기 소정의 비교 기준 전압(Vf)과의 비교를 위한 구성도 이루어질 수 있다.Since the reflected light of the defective rice 1 is generally darker than the reflected light of the non-defective product 2 in the darkest of the non-defective products 2, the above-described configuration includes only the configuration for comparison with the predetermined comparison reference voltage Vg. In the case of the reflected light of the defective rice 1 which is brighter than the reflected light of the brightest good rice 2 among the brightest good rice 2, the case is few, but the predetermined comparison criteria is required as necessary. A configuration for comparison with the voltage Vf can also be made.

상기 낙하 유로(15)에서 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 하단 광센서(51-2)에 의하여 선별 감지되어 검출되어, 상기 하단 광센서(51-2)로부터 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 신호가 출력되면, 동 신호는 상기 제2 증폭 회로(61-2)에 의하여 증폭된 후,The arbitrary defective rice 1-a is detected and detected by the lower optical sensor 51-2 in the drop passage 15, and the arbitrary defective rice is detected from the lower optical sensor 51-2. When the signal according to (1-a) is output, the signal is amplified by the second amplifying circuit 61-2,

상기 제2 증폭 회로(61-2)로부터의 출력 신호의 전압과, 상기 제2 설정기(61-2-a)에 의하여 설정되는 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)의 차이의 존재에 따라, 상기 제2 비교 회로(62-2)에 의하여 상기 디지털 신호 하이(High) 레벨이 출력되어, 상기 타이밍 회로(70)에 인가되며, 이에 따라 상기 타이밍 회로(70)는 "클록 펄스 계수 정지 신호"(도5에서의 SP)를 출력하여 상기 계수기(82)에 인가한다.In accordance with the presence of the difference between the voltage of the output signal from the second amplifier circuit 61-2 and the predetermined comparison reference voltage Vg set by the second setter 61-2-a, The digital signal high level is output by the second comparison circuit 62-2, and applied to the timing circuit 70, whereby the timing circuit 70 receives a "clock pulse count stop signal". (SP in Fig. 5) is output and applied to the counter 82.

상기 클록 펄스 발생기(81)로부터 클록 펄스가 인가된 상기 계수기(82)는, 상기 하단 광센서(51-2)의 상기 출력 신호에 따른 상기 디지털 신호 하이(High) 레벨인 "클록 펄스 계수 정지 신호"(도5에서의 SP)에 따라, 상기 클록 펄스를 계수하는 것을 정지한다.The counter 82 to which a clock pulse is applied from the clock pulse generator 81 is a clock clock count stop signal that is the digital signal high level according to the output signal of the lower optical sensor 51-2. According to " (SP in Fig. 5), counting of the clock pulses is stopped.

상기 계수기(82)에서, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "클록 펄스 계수 개시 신호"(도5에서의 ST)의 인가에 따라 클록 펄스의 계수가 개시 된 때로부터, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "클록 펄스 계수 정지 신호"(도5에서의 SP)의 인가에 따라 클록 펄스의 계수가 정지된 때까지[이하, "개시부터 정지까지"라고 함] 상기 계수기(82)에 인가된 클록 펄스는 도5에서의 CO의 표시와 같고, 바람직한 실시예에서, 임의의 불량미(1-a)의 낙하 유로(15)에서 낙하 속도가 "소정의 평균적인 낙하 속도"인 경우에는 상기 "개시로부터 정지까지"에서 상기 계수기(82)에 인가되는 클록 펄스의 갯수는 예컨대 1000 정도이다.In the counter 82, from the time when the count of the clock pulse is started in accordance with the application of the "clock pulse count start signal" (ST in Fig. 5) according to the random defect 1-a, the arbitrary Until the count of the clock pulse stops in response to the application of the "clock pulse count stop signal" (SP in FIG. 5) according to the defective taste (1-a) of the following (hereinafter referred to as "start to stop"). The clock pulses applied to the counter 82 are the same as the indication of CO in FIG. 5, and in a preferred embodiment, the drop rate in the drop passage 15 of any bad taste 1-a is " a predetermined average. In the case of "falling speed", the number of clock pulses applied to the counter 82 in the "from start to stop" is, for example, about 1000.

임의의 불량미(1-a)의 낙하 유로(15)에서 낙하 속도가 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 느린 낙하 속도의 경우에는 상기 "개시로부터 정지까지"에서 상기 계수기(82)에 인가되는 클록 펄스의 갯수는 예컨대 1100 정도이며,In the case of the drop speed slower than the "previous average drop speed" in the drop passage 15 of any defective rice 1-a, it is applied to the counter 82 at the "from start to stop". The number of clock pulses is, for example, about 1100,

임의의 불량미(1-a)의 낙하 유로(15)에서 낙하 속도가 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 빠른 낙하 속도의 경우에는 상기 "개시로부터 정지까지"에서 상기 계수기(82)에 인가된 클록 펄스의 갯수는 예컨대 900 정도이다.In the case of the drop speed in which the drop passage 15 of any defective rice 1-a falls faster than the "predetermined average drop speed", it is applied to the counter 82 in the "from start to stop" state. The number of clock pulses is, for example, about 900.

상기 타이밍(timing) 회로(70)에 의하여,By the timing circuit 70,

상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 소정의 상단점(P)에서 선별 감지된 경우에는 상기 제1 비교 회로(62-1)로부터의 디지털 신호 하이(High) 레벨의 출력 신호의 인가에 따라 상기 타이밍 회로(70)가 "클록 펄스 계수 개시 신호"(clock pulse 計數 開始 信號)를 출력하여 상기 계수기(計數器, counter)(82)에 인가하며,When the random defective taste 1-a is detected at the predetermined upper end point P, the application of the output signal of the digital signal high level from the first comparison circuit 62-1 is applied. Accordingly, the timing circuit 70 outputs a " clock pulse count start signal " to the counter 82,

아울러 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 소정의 하단점(Q)에서 선별 감지된 경우에는 상기 제2 비교 회로(62-2)로부터의 디지털 신호 하이(High) 레벨의 출력 신호의 인가에 따라 상기 타이밍 회로(70)가 "클록 펄스 계수 정지 신호"(clock pulse 計數 停止 信號)를 출력하여 상기 계수기(計數器, counter)(82)에 인가한다.In addition, when the random defective taste 1-a is selectively detected at the predetermined lower end point Q, the application of the output signal of the digital signal high level from the second comparison circuit 62-2 is applied. In response, the timing circuit 70 outputs a " clock pulse count stop signal " to the counter 82.

아울러 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "클록 펄스 계수 개시 신호"(도5에서의 ST)의 인가 때로부터 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "클록 펄스 계수 정지 신호"(도5에서의 SP)의 인가 때까지에서 상기 계수기(82)에 인가된 클럭 신호(도5에서의 CO)를 상기 계수기(82)가 계수(計數)하여, "동일 불량미에 따른 단위 신호"로서 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)에 인가 가능하도록 "계수(計數)된 신호"[즉, 상기 "계수된 신호"]의 상태로서, 유지하며 출력 가능하도록 하는 "계수된 신호의 홀드(hold) 신호"[즉, "홀드 신호"](도5에서 HO)를, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 "클록 펄스 계수 정지 신호"의 출력에 바로 이어서, 상기 타이밍 회로(70)가 출력하여, 이 "홀드 신호"가 상기 계수기(82)에 인가됨에 따라 상기 계수기(82)가 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 "계수된 신호"를 출력하여 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)에 인가하며,Further, the "clock pulse coefficient stop according to the arbitrary defective taste 1-a is stopped from the application of the" clock pulse coefficient start signal "(ST in FIG. 5) according to the arbitrary defective taste 1-a. The counter 82 counts the clock signal (CO in FIG. 5) applied to the counter 82 until the application of the signal " (SP in FIG. 5). "Counted signal", which is maintained as a state of a "counted signal" (i.e., the "counted signal") so as to be applicable to the DA (digital-analog) converter 85 as a "signal". The hold signal " (i.e., " hold signal ") (HO in FIG. 5) immediately following the output of the " clock pulse count stop signal " according to the random defect 1-a. As the circuit 70 outputs and this "hold signal" is applied to the counter 82, the counter 82 causes the "count" according to the random defect 1-a. Received signal " and applied to the D-A (digital-analog) converter 85,

아울러 상기 "홀드 신호"가 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되어 상기 계수기(82)에 인가되면, 바로 이어서, 상기 계수기(82)가 다시 새로이, 상기 낙하유로(15)에서의 새로운 임의의 불량미(1-b)에 따른, "클록 펄스 계수 개시 신호"의 인가에 따라 클록 펄스의 계수가 개시될 수 있도록 상기 계수기(82)를 초기화(初期化)하는 리셋(reset) 신호(도5에서의 RE)를 타이밍 회로(70)가 출력하여, 상기 리셋 신호를 상기 계수기(82)에 인가한다.In addition, when the " hold signal " is output from the timing circuit 70 and applied to the counter 82, immediately afterwards, the counter 82 is newly renewed, and any new defects in the drop passage 15 are new. A reset signal (in FIG. 5) that initializes the counter 82 so that the counter of the clock pulse can be started in response to the application of the "clock pulse count start signal" according to (1-b). RE) is output by the timing circuit 70 to apply the reset signal to the counter 82.

클럭 펄스 발생기(81)는, 상기 타이밍 회로(70)와 상기 계수기(82)에 클록 펄스(clock pulse)를 인가한다.The clock pulse generator 81 applies a clock pulse to the timing circuit 70 and the counter 82.

상기 계수기(計數器, counter)(82)는, 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되는 상기 "클록 펄스 계수 개시 신호"(도5에서의 ST)의 인가에 따라 상기 클록 펄스의 계수를 개시하며, 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되는 상기 "클록 펄스 계수 정지 신호"(도5에서의 SP)의 인가에 따라 상기 클록 펄스의 계수를 정지하며, 상기 타이밍 회로(70)으로부터 출력되는 상기 "홀드 신호"(도5에서의 HO)의 인가에 따라, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "계수된 신호"를 출력하여 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)에 인가하며, 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되는 상기 "리셋 신호"(도5에서의 RE)의 인가에 따라 상기 계수기(82)를 상기 낙하 유로(15)에서의 새로운 임의의 불량미(1-b)에 따른 "클록 펄스 계수 개시 신호"에 따라 다시 새로이 상기 클록 펄스의 계수의 개시가 가능하게 초기화로 리셋(reset)한다.The counter 82 starts the counting of the clock pulse in accordance with the application of the "clock pulse counting start signal" (ST in FIG. 5) output from the timing circuit 70. The count of the clock pulse is stopped in response to the application of the "clock pulse count stop signal" (SP in FIG. 5) output from the timing circuit 70, and the "hold signal" output from the timing circuit 70. According to the application of (HO in Fig. 5), the " counted signal " according to the random defect 1-a is outputted and applied to the DA (digital-analog) converter 85, and the timing In response to the application of the " reset signal " (RE in FIG. 5) output from the circuit 70, the counter 82 is changed to " a " The clock pulse counting start signal "can be started again. It resets (reset) to reset.

상기 계수기(82)로부터의 출력 신호는, 사용자가 실시간(real time)으로 용이하게 상태를 파악 가능하도록, 표시기(그 도시는 생략함)에 의하여 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 "계수된 신호"의 수치가 표시됨이 가능하다.The output signal from the counter 82 is " according to the random defect 1-a " by an indicator (not shown) so that the user can easily grasp the state in real time. It is possible that the numerical value of "counted signal" is displayed.

상기 계수기(82)에서의, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른, 상기 "계수된 신호"는, 상기 "클록 펄스 계수 정지 신호"에 바로 이어서 출력되어 상기 계수기(82)에 인가되는, 상기 타이밍 회로(70)로부터의, 상기 홀드 신호에 의하여 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른, "동일 불량미에 따른 단위 신호"로서의 "계수된 신호"로서의 그 상태를 유지하며 상기 D-A(디지털 아날로그) 변환기(85)에 인가된다.The " counted signal " in the counter 82, according to the arbitrary defective taste 1-a, is immediately output after the " clock pulse count stop signal " and applied to the counter 82. And the DA from the timing circuit 70 maintains its state as a " counted signal " as the " unit signal according to the same defective taste " according to the arbitrary defective taste 1-a. Is applied to the (digital-analog) converter 85.

상기 "개시로부터 정지까지"에서 상기 계수기(82)에 인가되는 클록 펄스의 갯수가, 바람직한 실시예에서, 임의의 불량미(1-a)의 낙하 유로(15)에서 낙하 속도가 "소정의 평균적인 낙하 속도"인 경우에는 예컨대 1000 정도이며,The number of clock pulses applied to the counter 82 in the " start to stop ", in the preferred embodiment, is that the drop rate is " a predetermined average " For example, about 1000 drops, for example,

임의의 불량미(1-a)의 낙하 유로(15)에서 낙하 속도가 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 느린 낙하 속도의 경우에는 예컨대 1100 정도이며,In the case of the drop speed slower than the "predetermined average drop speed" in the drop passage 15 of any defective rice 1-a, it is about 1100, for example.

임의의 불량미(1-a)의 낙하 유로(15)에서 낙하 속도가 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 빠른 경우에는 예컨대 900 정도이므로,If the dropping speed in the drop passage 15 of any defective rice 1-a is faster than the " predetermined average dropping speed "

이러한 클록 펄스의 갯수은, 상기 계수기(82)에 의하여 상기 "계수된 신호"에 대한 분해능이 있는 D-A 변환기(85)에 의하여, 즉 바람직하게는 10 bit 이상의 분해능, 실시예에서는 11 bit의 분해능으로서 2의 11승[즉, 211= 2048]의 스텝의 분해능을 가지는 D-A 변환기(85)에 의하여 아날로그 신호로 출력되어, 임의의 불량미(1-a)의 해당하는 낙하 속도 내지 낙하 시간에 따른 전압(V2)이 출력된다.The number of such clock pulses is determined by the DA converter 85 having a resolution for the " counted signal " by the counter 82, i.e. preferably at least 10 bits of resolution, in the embodiment as 11 bits of resolution. Is output as an analog signal by the DA converter 85 having a resolution of 11 powers (i.e., 2 11 = 2048) of the voltage, according to the corresponding drop rate or drop time of any defective taste 1-a. (V2) is output.

상기 홀드 신호의 출력과 인가에 바로 이어서, 상기 타이밍 회로(70)으로부터 리셋 신호가 출력되어 상기 계수기(82)에 인가되어, 상기 리셋 신호에 의하여,상기 계수기(82)에서의 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른, 클록 펄스의 계수 상태는, 새로이 클록 펄스의 인가가 없는 상태 즉, 초기화 상태인 클리어(clear) 상태 즉 제로(0)(zero)의 상태로 회복된다.Immediately following the output and the application of the hold signal, a reset signal is output from the timing circuit 70 and applied to the counter 82, and the reset signal causes the random defect in the counter 82 to be lost. The counting state of the clock pulse according to (1-a) is restored to a state in which no clock pulse is newly applied, that is, a clear state that is an initialization state, that is, a state of zero.

따라서, 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 소정의 하단점(Q)에 도착하기 전에 상기 낙하 유로(15)에서 새로운 별개의 임의의 불량미(1-b)가 상기 소정의 상단점(P)을 통과하여 상기 상기 상단 광센서(51-1)에 의하여 감지되어, 그 출력 신호에 따라 상기 타이밍 회로(70)로부터 "클록 펄스 계수 개시 신호"가 상기 계수기(82)에 인가된 경우에는, 상기 새로운 별개의 임의의 불량미(1-b)에 따른 "클록 펄스 계수 정지 신호"가 인가되기 전에, 상기 임의의 불량미(1-a)[즉, 도2에서의 1-a']에 따른 상기 "클록 펄스 계수 정지 신호"에 바로 이어서 발생되어 인가하는 상기 홀드 신호와 상기 리셋 신호에 의하여, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "계수된 신호"는 상기 새로운 별개의 임의의 불량미(1-b)에 의하여 영향을 받지 아니한다.Thus, before the arbitrary defective taste 1-a arrives at the predetermined lower end point Q, a new separate arbitrary defective taste 1-b is added to the predetermined upper end point in the drop passage 15. Is detected by the upper optical sensor 51-1 through (P), and a "clock pulse count start signal" is applied to the counter 82 from the timing circuit 70 according to the output signal. In addition, before any " clock pulse count stop signal " according to the new distinct random defect 1-b is applied, the random defect 1-a (i.e., 1-a 'in Fig. 2). By the hold signal and the reset signal which are generated and applied immediately after the "clock pulse count stop signal" according to], the "counted signal" according to the random defect 1-a is the new distinction. Not affected by any defective taste (1-b).

상기 계수기(82)로부터 출력되는, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른, 상기 "계수된 신호"를 인가받아 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)가 아날로그 신호로 변환하여 출력하도록 함에서, 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(converter)(85)에 의하여, 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 "소정의 평균 낙하 시간(T2)"인 경우[즉, 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도"인 경우]에는 상기 "계수된 신호"에 따른, 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의, 출력 신호의 전압(V2)이 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"과 같은 전압(V1)이 되며; 아울러 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)"보다 긴 시간인 경우[즉, 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 느린 낙하 속도인 경우]에는 상기 "계수된 신호"에 따른, 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의, 출력 신호의 전압(V2)이 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"보다 높은 소정의 전압이 되며; 아울러 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)"보다 짧은 시간인 경우[즉, 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 빠른 낙하 속도인 경우]에는 상기 "계수된 신호"에 따른, 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의, 출력 신호의 전압(V2)이 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"보다 낮은 소정의 전압이 된다.The DA (digital-to-analog) converter 85 receives the " counted signal " according to the random defect 1-a, which is output from the counter 82, so that the DA (digital-analog) converter 85 converts the analog signal and outputs the analog signal. In this case, by the DA (digital-analog) converter 85, the time when the arbitrary defective taste 1-a drops the distance L is " predetermined average falling time T2. (I.e., in the case of "the predetermined average drop speed"), the voltage V2 of the output signal from the DA (digital-analog) converter 85 according to the "counted signal" A voltage V1 equal to the "predetermined reference voltage V1 for average delay time T1 "; In addition, when the time that the arbitrary defective taste 1-a falls the distance L is longer than the "predetermined average fall time T2" (that is, the "predetermined average fall speed"). At a slower falling rate], the voltage V2 of the output signal from the DA (digital-analog) converter 85, according to the " counted signal " Becomes a predetermined voltage higher than the reference voltage V1 " In addition, when the time that the arbitrary defective taste 1-a falls the distance L is shorter than the "predetermined average fall time T2" (that is, the "predetermined average fall speed"). At a faster drop rate], the voltage V2 of the output signal from the DA (digital-analog) converter 85, according to the " counted signal " Becomes a predetermined voltage lower than the reference voltage V1 "

바람직한 실시예에서, 임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)"인 경우[즉, 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도"인 경우]에는 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의 출력 신호는, 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"으로서, 예컨대 4.5V의 전압으로 출력되고,In a preferred embodiment, when the time when any bad taste 1-a falls the distance L is the "predetermined average fall time T2" (ie, the "predetermined average fall speed"). Is an output signal from the DA (digital-analog) converter 85, the " predetermined reference voltage V1 for average delay time T1 "

임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)" 보다 긴 경우[즉, 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 느린 경우]에는 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의 출력 신호는, 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)" 보다 소정의 높은 전압으로서 예컨대4.7V의 전압으로 출력되고,When the time that any bad taste 1-a falls the distance L is longer than the "predetermined average fall time T2" (ie, slower than the "predetermined average fall speed"). The output signal from the DA (digital-analog) converter 85 is output at a voltage of, for example, 4.7 V as a predetermined higher voltage than the " predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1 " ,

임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)" 보다 짧은 경우[즉, 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 빠른 경우]에는 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의 출력 신호는, 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)" 보다 낮은 전압으로서 예컨대 4.3V의 전압으로 출력된다.When the time that any bad taste 1-a falls the distance L is shorter than the "predetermined average fall time T2" (ie, faster than the "predetermined average fall speed"). The output signal from the DA (digital-analog) converter 85 is output as a voltage lower than the " predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1 "

상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의 출력 신호의 전압(V2)은, 상기 오프셋(offset) 회로(86)에 의하여, 상기 "평균 지연 속도(T1)를 위한 소정의 기준 전압(V1)"과 같은 절대치의 - 전압(즉, -V1)으로 오프셋(offset)되므로,The voltage V2 of the output signal from the DA (digital-analog) converter 85 is, by the offset circuit 86, a predetermined reference voltage V1 for the " average delay speed T1. &Quot; Is offset by an absolute-voltage (ie, -V1) such as

임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)"인 경우[즉, 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도"인 경우]에는 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의 출력 신호의 전압(V2)은 예컨대 4.5V의 전압으로 출력되어, 상기 오프셋 회로(86)에 의하여 상기 "평균 지연 속도(T1)를 위한 소정의 기준 전압(V1)"[예컨대 상기 4.5V]과 같은 절대치의 - 전압(즉, -V1)[즉, -4.5V]로 오프셋(offset)되어, 상기 차동 증폭기(90)의 -단자(반전단자(反轉 端子))에 인가되는 전압(V3)은 0V[즉, 상기 4.5V - 상기 4.5V = 0V]가 된다.When the time that any defective rice 1-a falls the distance L is the "predetermined average fall time T2" (that is, the "predetermined average fall speed"), The voltage V2 of the output signal from the DA (digital-analog) converter 85 is output at a voltage of, for example, 4.5V, so that the offset circuit 86 provides a predetermined reference for the " average delay speed T1. &Quot; Is offset to an absolute -voltage (i.e., -Vl) (i.e., -4.5V) such as a voltage V1 "(e.g., 4.5V), so that the -terminal (inverting terminal) of the differential amplifier 90 is offset. The voltage V3 applied to the counter voltage becomes 0V (ie, 4.5V-4.5V = 0V).

마찬가지로, 임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)" 보다 긴 경우[즉, 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 느린 경우]에는 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의 출력 신호의 전압(V2)은 예컨대 4.7V의 전압으로 출력되어, 상기 오프셋 회로(86)에 의하여 상기 "평균 지연 속도(T1)를 위한 소정의 기준 전압(V1)"[예컨대 상기 4.5V]과 같은 절대치의 - 전압(즉, -V1)[즉, -4.5V]로 오프셋(offset)되어, 상기 차동 증폭기(90)의 -단자(반전단자(反轉 端子))에 인가되는 전압(V3)은 0.2V[즉, 상기 4.7V - 상기 4.5V = 0.2V]가 된다.Similarly, if the time for any bad taste 1-a to drop the distance L is longer than the "predetermined average fall time T2" (ie, the "predetermined average fall speed") Case], the voltage V2 of the output signal from the DA (digital-analog) converter 85 is output at a voltage of, for example, 4.7V, so that the " average delay speed T1 " Is offset to an absolute voltage (i.e., -Vl) (i.e., -4.5V) such as a predetermined reference voltage (V1) "(e.g., 4.5V), so that the-terminal of the differential amplifier 90 The voltage V3 applied to the inverting terminal is 0.2V (that is, 4.7V-4.5V = 0.2V).

마찬가지로, 임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)" 보다 짧은 경우[즉, 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 빠른 경우]에는 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의 출력 신호의 전압(V2)은 예컨대 4.3V의 전압으로 출력되어, 상기 오프셋 회로(86)에 의하여 상기 "평균 지연 속도(T1)를 위한 소정의 기준 전압(V1)"[예컨대 상기 4.5V]과 같은 절대치의 - 전압(즉, -V1)[즉, -4.5V]로 오프셋(offset)되어, 상기 차동 증폭기(90)의 -단자(반전단자(反轉 端子))에 인가되는 전압(V3)은 -0.2V[즉, 상기 4.3V - 상기 4.5V = -0.2V]가 된다.Similarly, if the time for any bad taste 1-a to drop the distance L is shorter than the "predetermined average fall time T2" (i.e., faster than the "predetermined average fall speed"). Case], the voltage V2 of the output signal from the DA (digital-analog) converter 85 is output at a voltage of, for example, 4.3 V, so that the offset circuit 86 provides the " average delay speed T1 " Is offset to an absolute voltage (i.e., -Vl) (i.e., -4.5V) such as a predetermined reference voltage (V1) "(e.g., 4.5V), so that the-terminal of the differential amplifier 90 The voltage V3 applied to the inverting terminal becomes -0.2V (that is, 4.3V-4.5V = -0.2V).

한편, 상기 설정기(90-a)로부터 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"이 상기 차동 증폭기(90)의 +단자(비반전 단자(非反轉 端子))에 인가되고, 상기 거리(L)를 낙하하는 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "계수된 신호"의 인가에 따른 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의 출력 신호의 전압(V2)이 상기 -전압(즉, -V1)으로 오프셋(offset)된 전압(V3)이 상기 차동 증폭기)(90)의 -단자(반전 단자(反轉 端子))에 인가되어, 상기 차동 증폭기(差動 增幅器)(90)는 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"과 상기 오프셋(offset)된 전압(V3)의 차전압(差電壓)(V4)을 출력하게 된다.On the other hand, from the setter 90-a, the " predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1 " is the + terminal of the differential amplifier 90 (non-inverting terminal). Of the output signal from the DA (digital-analog) converter 85 upon application of the " counted signal " according to the random defect 1-a which is applied to and falls the distance L. A voltage V3 whose voltage V2 is offset by the -voltage (i.e., -V1) is applied to the-terminal (inverting terminal) of the differential amplifier 90 so that the differential An amplifier 90 has a difference voltage V4 between the " predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1 " and the offset voltage V3. Will print

상기 차동 증폭기(90)로부터 출력되는 상기 차전압(差電壓)(V4)이 상기 V-F(전압-주파수) 변환기(37)에 인가되어, 상기 임의의 불량미(1-a)를 선별 제거하게, 상기 전자 밸브 구동 회로(41)와 상기 전자 밸브(42)와 상기 공기 분사 노즐(43)의 정확한 작동을 위한 지연시간의 정확한 자동 제어가 가능하게 된다. 즉,The difference voltage V4 output from the differential amplifier 90 is applied to the VF (voltage-frequency) converter 37 so as to selectively remove the random badness 1-a, Accurate automatic control of the delay time for the correct operation of the solenoid valve drive circuit 41, the solenoid valve 42, and the air injection nozzle 43 is possible. In other words,

임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)"인 경우[즉, 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도"인 경우]에는 상기 차동 증폭기(90)의 -단자(반전단자)에 인가되는 전압(V3)은 0V[즉, 상기 4.5V - 상기 4.5V = 0V]이고, 상기 "평균 지연 속도(T1)를 위한 소정의 기준 전압(V1)"[예컨대 상기 4.5V]은 +단자(비반전단자)에 인가되어, 상기 차동 증폭기(90)로부터의 출력 전압(V4)은 그 차전압으로서 {상기 4.5V - 상기 0V}의 결과치인 4.5V가 출력되어, 상기 "평균 지연 속도(T1)를 위한 소정의 기준 전압(V1)"[예컨대 상기 4.5V]과 동일한 전압이 출력되어 상기 V-F(전압-주파수) 변환기(36)에의 인가 전압이 변화가 없어, 상기 불량미 제거 수단(40)의 구동을 위한 상기 "소정의 평균 지연 시간(T1)"은 변화가 없다.When the time that any defective rice 1-a falls the distance L is the "predetermined average fall time T2" (that is, the "predetermined average fall speed"), The voltage V3 applied to the negative terminal (inverting terminal) of the differential amplifier 90 is 0V (i.e., 4.5V-4.5V = 0V), and the predetermined reference voltage for the "average delay speed T1." (V1) "[e.g., 4.5V] is applied to the + terminal (non-inverting terminal) so that the output voltage V4 from the differential amplifier 90 is the difference voltage {result of the 4.5V-0V}. Is output to the VF (voltage-frequency) converter 36 that is equal to the " predetermined reference voltage V1 for the average delay speed T1 " Since the voltage does not change, the "predetermined average delay time T1" for driving the defective taste removing means 40 does not change.

임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)" 보다 긴 경우 경우[즉, 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 느린 경우]에는 상기 차동 증폭기(90)의 -단자(반전단자)에 인가되는 전압(V3)은 0.2V[즉, 상기 4.7V - 상기 4.5V = 0.2V]이고, 상기 "평균 지연 속도(T1)를 위한 소정의 기준 전압(V1)"[예컨대 상기 4.5V]은 상기 차동 증폭기(90)의 +단자(비반전단자)에 인가되어, 상기 차동 증폭기(90)로부터의 출력 전압(V4)은 그 차전압으로서 {상기 4.7V - 상기 0.2V}의 결과치인 4.3V가 출력되어, 상기 "평균 지연 속도(T1)를 위한 소정의 기준 전압(V1)"[예컨대 상기 4.5V] 보다 낮은 전압이 출력되어 상기 V-F(전압-주파수) 변환기(36)에의 인가 전압이 낮아지므로, 상기 V-F(전압-주파수) 변환기(36)로부터의 출력 신호의 주파수가 적어지며 이에 따라 주파수의 주기(周期)(period)가 길어져, 결과적으로 상기 불량미 제거 수단(40)의 구동을 위한 지연시간이, 상기 "소정의 평균 지연 시간(T1)" 보다 길어져, 임의의 불량미(1-a)의 정확한 낙하 시간에 맞추어짐이 가능하다.When the time that any bad taste 1-a falls the distance L is longer than the "predetermined average fall time T2" (that is, it is slower than the "predetermined average fall speed"). ] Is the voltage (V3) applied to the negative terminal (inverting terminal) of the differential amplifier 90 is 0.2V (that is, 4.7V-4.5V = 0.2V), the "average delay speed (T1) A predetermined reference voltage V1 " (e.g., 4.5V) is applied to the positive terminal (non-inverting terminal) of the differential amplifier 90, so that the output voltage V4 from the differential amplifier 90 As a voltage, 4.3V which is a result of {the 4.7V-the 0.2V} is output, and a voltage lower than the "predetermined reference voltage V1 for the average delay speed T1" (for example, the 4.5V) is output. Since the voltage applied to the VF (voltage-frequency) converter 36 is lowered, the frequency of the output signal from the VF (voltage-frequency) converter 36 is lessened and accordingly The period of frequency is long, and as a result, the delay time for driving the defective taste removing means 40 is longer than the " predetermined average delay time T1 " The exact fall time of -a) can be adjusted.

임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)" 보다 짧은 경우[즉, 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 빠른 경우]에는 상기 차동 증폭기(90)의 -단자(반전단자)에 인가되는 전압(V3)은 -0.2V[즉, 상기 4.3V - 상기 4.5V = -0.2V]이고, 상기 "평균 지연 속도(T1)를 위한 소정의 기준 전압(V1)"[예컨대 상기 4.5V]은 차동 증폭기(90)의 +단자(비반전단자)에 인가되어, 상기 차동 증폭기(90)로부터의 출력 전압(V4)은 차전압으로서 {상기 4.5V - (상기 -0.2V)}의 결과치인 4.7V가 출력되어, 상기 "평균 지연 속도(T1)를 위한 소정의 기준 전압(V1)"[예컨대 상기 4.5V] 보다 높은 전압이 출력되어 상기 V-F(전압-주파수) 변환기(36)에의 인가 전압이 높아지므로, 상기 V-F(전압-주파수) 변환기(36)로부터의 출력 신호의 주파수가 많아지며 이에 따라 주파수의 주기(周期)(period)가 짧아져, 결과적으로 상기 불량미 제거 수단(40)의 구동을 위한 지연 시간이, 상기 "소정의 평균 지연 시간(T1)" 보다 짧아져, 임의의 불량미(1-a)의 정확한 낙하 시간에 맞추어짐이 가능하다.When the time that any bad taste 1-a falls the distance L is shorter than the "predetermined average fall time T2" (ie, faster than the "predetermined average fall speed"). The voltage V3 applied to the negative terminal (inverting terminal) of the differential amplifier 90 is -0.2V (that is, the 4.3V-the 4.5V = -0.2V), and the " average delay speed T1 " A predetermined reference voltage V1 " (e.g., 4.5V) is applied to the + terminal (non-inverting terminal) of the differential amplifier 90, so that the output voltage V4 from the differential amplifier 90 is the difference voltage. As a result, 4.7V, which is a result of {the 4.5V-(the -0.2V)}, is output, so that a voltage higher than the " predetermined reference voltage V1 for the average delay speed T1 " As the output voltage is applied to the VF (voltage-frequency) converter 36, the frequency of the output signal from the VF (voltage-frequency) converter 36 increases, and thus the frequency The period of time is shortened, and as a result, the delay time for driving the defective taste removing means 40 is shorter than the " predetermined average delay time T1 " It is possible to fit the exact fall time of 1-a).

바람직한 실시예에서, 통상의 상기 시프트 레지스터(37)는 128단(段)으로 이루어지며, 이에 따라, 임의의 불량미(1-a)가 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도"를 가진 경우에는 임의의 불량미(1-a)를 선별 제거하기 위한 지연 시간은 예컨대 12.8ms로 되며, 바람직한 실시예에서, 임의의 불량미(1-a)가 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 느린 경우에는 임의의 불량미(1-a)를 선별 제거하기 위한 지연 시간은 예컨대 12.8ms 초과부터 12.8 ×1.1ms 이내의 지연시간이 되며, 임의의 불량미(1-a)가 상기 "소정의 평균적인 낙하 속도" 보다 빠른 경우에는 임의의 불량미(1-a)를 선별 제거하기 위한 지연 시간은 예컨대 12.8 ×0.9ms 초과부터 12.8ms 이내의 지연시간이 된다.In a preferred embodiment, the conventional shift register 37 has 128 stages, so that if any bad taste 1-a has the " predetermined average falling speed " The delay time for screening out the defective taste 1-a of, for example, is 12.8 ms, and in the preferred embodiment, if any defective taste 1-a is slower than the " predetermined average falling rate " The delay time for screening out any defective rice 1-a is, for example, a delay time of more than 12.8 ms to within 12.8 x 1.1 ms, and any defective rice 1-a is " predetermined average drop. In the case of faster than "speed", the delay time for screening out any defective rice 1-a is, for example, a delay time of more than 12.8 x 0.9 ms to within 12.8 ms.

상기와 같이, 본 고안에 의하면, 상기 임의의 불량미(1-a)를 선별 제거하게, 상기 전자 밸브 구동 회로(41)와 상기 전자 밸브(42)와 상기 공기 분사 노즐(43)의 정확한 작동을 위한 지연시간의 정확한 자동 제어가 가능하게 된다.As described above, according to the present invention, accurate operation of the solenoid valve driving circuit 41, the solenoid valve 42, and the air injection nozzle 43 to selectively remove the random defective taste 1-a. Accurate automatic control of the delay time is possible.

따라서, 본 고안에 의하면, 상기 임의의 불량미(1-a)의 실제적 낙하 속도 내지 낙하 시간과, 상기 불량미(1)의 소정의 평균적인 낙하 속도 내지 소정의 평균적인 낙하 시간과의 차이 만큼만을 계측하여 제어하는 방식에 의하여, 용이하고 간단한 구성에 의하여, 상기 임의의 불량미(1-a)의 낙하 속도 내지 낙하 시간에 정확히 맞추어진 지연시간의 자동 제어가 가능하여 상기 전자 밸브 구동 회로(41)과 상기 전자 밸브(42)와 상기 공기 분사 노즐(43)을 정확히 자동 제어함이 가능하다.Therefore, according to the present invention, only the difference between the actual falling speed and the falling time of the arbitrary defective rice 1-a and the predetermined average falling speed of the defective rice 1 and the predetermined average falling time By the method of measuring and controlling the pressure, the solenoid valve driving circuit can be automatically controlled by an easy and simple configuration, and automatically controlling the delay time accurately adjusted to the falling speed or falling time of the arbitrary defective rice 1-a. 41, the solenoid valve 42 and the air injection nozzle 43 can be accurately and automatically controlled.

상기 구성 및 작용의 본 고안에 의하면, 낙하 유로에서의 임의의 불량미의낙하 속도 내지 낙하 시간을 용이하게 정확히 계측 가능하여, 불량미를 선별 제거 가능하게, 상기 낙하 속도 내지 낙하 시간에 정확히 맞추어 전자 밸브 구동 회로와 전자 밸브와 공기 분사 노즐의 작동을 위한 정확한 지연시간의 자동 제어가 가능하다.According to the present invention of the above-described configuration and action, the falling speed or falling time of any defective rice in the drop passage can be easily and accurately measured, and the defective rice can be sorted out to be removed. Automatic control of the valve drive circuit and precise delay time for the operation of the solenoid valves and air injection nozzles is possible.

더욱이, 본 고안에 의하면, 임의의 불량미의 실제적 낙하 속도 내지 낙하 시간과, 불량미의 상기 소정의 평균적인 낙하 속도 내지 소정의 평균적 낙하 시간과의 차이 만큼만을 계측하여 제어하는 방식에 의하여, 용이하고 간단한 구성에 의하여 제작 비용이 저렴하게 하는 이점이 있다.Furthermore, according to the present invention, it is easy to measure and control only the difference between the actual falling speed and the falling time of any defective rice and the predetermined average falling speed and the predetermined average falling time of the defective rice. And the simple configuration has the advantage of making the manufacturing cost low.

본 고안은, 미립(米粒)에서의 불량미를 선별 제거할 수 있음에 더하여, 다른 곡립(穀粒)의 불량립을 선별 제거함에도 그 사용이 가능하다.In addition to being able to selectively remove defective grains from fine grains, the present invention can be used to selectively remove defective grains of other grains.

Claims (1)

불량미(不良米)(1)를 선별 검출하여 제거함이 가능하도록,In order to be able to selectively detect and remove defective rice 1, 불량미(1)와 양품미(2)가 혼합되어 있는 원료미(原料米)(3)를 불량미 검출 광학 수단(不良米 檢出 光學 手段)(20)에 공급하는 미립(米粒) 공급 수단(10)과,Fine-grained supply means for supplying the raw-material rice (3) in which the defective rice (1) and the good rice (2) are mixed to the defective rice detecting optical means (20). 10, 원료미(3) 중에 혼입되어 있는 불량미(不良米)(1)를 선별 검출 가능하도록 광원(光源)으로서의 형광등(21)과, 광센서(光 sensor)(즉, 포토다이오드(photodiode))(22)와, 렌즈(22-a)와, 상기 광센서(22)에 대응하는 배경판(背景板)(23)이 구비된 불량미 검출 광학 수단(20)과,Fluorescent lamp 21 as a light source and an optical sensor (that is, a photodiode) so that the defective rice 1 mixed in the raw rice 3 can be detected selectively. 22, a defective light detecting optical means 20 provided with a lens 22-a, a background plate 23 corresponding to the optical sensor 22, 상기 광센서(22)에 의하여 선별 검출된 불량미(1)를 제거하게 상기 광센서(22)로부터의 출력 신호에 따라 전자(電磁) 밸브(valve)(42)를 구동시키도록, 증폭회로(31)와, 비교 회로(32-1)(32-2)와, 설정기(32-1-a)(32-2-a)와, 오알(OR) 회로(34)와, 원셧 멀티바이브레이터(one shot multivibrator)(단안정(單安定) 멀티바이브레이터)(35)가 갖추어지고, V-F(전압-주파수) 변환기(컨버터, converter))(36)와 시프트 레지스터(shift register)(37)가 갖추어진 지연(遲延) 회로(38)가 구비된 신호 처리 수단(30)이 구비되고,An amplification circuit (100) is driven to drive an electromagnetic valve (42) in accordance with an output signal from the optical sensor (22) to remove the defective taste (1) that has been selectively detected by the optical sensor (22). 31, comparison circuits 32-1 and 32-2, setters 32-1-a and 32-2-a, OR circuits 34, and one-shot multivibrator ( one shot multivibrator (mono-stable multivibrator) 35, VF (voltage-frequency) converter (36) and a shift register (37) A signal processing means 30 provided with a delay circuit 38, 상기 V-F(전압-주파수) 변환기(36)에는, 원료미 낙하 유로(落下 流路)[이하, "낙하 유로"라고 함](15)에서 상기 광센서(22)의 광축(光軸)으로부터 공기(air) 분사 노즐(nozzle)(43)까지의 거리를 불량미(1)가 낙하하는데 소요되는 "소정의 평균 낙하 시간(T1)" 만큼을, 전자 밸브 구동 회로(41)와 전자 밸브(電磁 valve)(42) 및공기 분사 노즐(43)의 작동의 "소정의 평균 지연 시간(T1)"으로서, 지연시키도록 하는 소정의 기준 전압(V1)[이하, "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"이라고 함]을 인가하며,The VF (voltage-frequency) converter 36 includes air from an optical axis of the optical sensor 22 in a raw material fall flow path (hereinafter referred to as a "fall flow path") 15. (air) The solenoid valve drive circuit 41 and the solenoid valve as much as "the predetermined | prescribed average fall time T1" which it takes for the bad rice 1 to fall the distance to the injection nozzle 43. valve " predetermined average delay time T1 " of the operation of the air blowing nozzle 43 and the predetermined reference voltage V1 (hereinafter referred to as " average delay time T1 " A predetermined reference voltage V1 "is applied, 상기 신호 처리 수단(30)으로부터의 전자 밸브 구동 신호에 의하여 낙하 유로(15)를 통과하는 불량미(不良米)(1)를 제거하도록 전자 밸브 구동 회로(41)와, 전자 밸브(電磁 valve)(42)와, 공기(air) 분사 노즐(nozzle)(43)이 구비된 불량미 제거 수단(40)으로 이루어진 미립 색채 선별 장치(米粒 色彩 選別 裝置)에 있어서;The solenoid valve drive circuit 41 and the solenoid valve so that the bad rice 1 which passes the fall flow path 15 by the solenoid valve drive signal from the said signal processing means 30 may be removed. In the fine particle color sorting apparatus which consists of 42 and the bad taste removal means 40 provided with the air injection nozzle 43; 상기 낙하 유로(15)에서 임의의 불량미(1-a)가 소정의 상단점(上段點)(P)을 통과함을 선별 감지(選別 感知) 가능하도록 된 상단 광센서(上段 光 sensor)(51-1)와, 상기 낙하 유로(15)에서 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 소정의 상단점(P)으로부터 소정의 거리(L) 만큼 하방(下方)에 위치한 소정의 하단점(Q)을 통과함을 선별 감지(選別 感知) 가능하도록 하단 광센서(下端 光 sensor)(51-2)와, 광원(52)과, 배경판(53)(53')과, 렌즈(54)가 구비되고;The upper optical sensor which enables the selective detection and detection that any defective taste 1-a passes through a predetermined upper end point P in the drop passage 15. 51-1) and the predetermined lower end point in which the said arbitrary defective rice 1-a is located below the predetermined upper end point P by the predetermined distance L in the said fall flow path 15. FIG. Lower light sensor 51-2, light source 52, background plate 53, 53 ', and lens 54 to allow selective detection of passage through (Q). ) Is provided; 상기 상단 광센서(51-1)에 의하여 상기 임의의 불량미(1-a)에 대한 선별 감지가 가능하도록, 상기 상단 광센서(51-1)로부터의 출력 신호를 증폭하는 제1 증폭 회로(61-1)와, 상기 상단 광센서(51-1)에 대한 상기 임의의 불량미(1-a)의 반사광의 밝기가 상기 배경판(53)의 반사광의 밝기보다 소정의 밝기 미만으로 어두운 경우에는 상기 제1 증폭 회로(61-1)로부터의 출력 신호의 전압과 소정의 비교 기준 전압(Vg)의 차이의 존재에 따른, 상기 임의의 불량미(1-a)의 선별 제거를 위한, 디지털 신호 하이(High) 레벨을 출력 가능하도록 하는 제1 비교 회로(62-1)와, 이제1 비교 회로(62-1)의 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)을 설정하여 상기 제1 비교 회로(62-1)에 인가하는 제1 설정기(62-1-a)가 구비되고;A first amplifying circuit for amplifying an output signal from the upper optical sensor 51-1 so that the upper optical sensor 51-1 detects and detects any defective taste 1-a. 61-1) and the brightness of the reflected light of the random defectiveness 1-a with respect to the upper optical sensor 51-1 is darker than the brightness of the reflected light of the background plate 53 by less than a predetermined brightness. Digital display for the selective elimination of any defective taste 1-a according to the presence of the difference between the voltage of the output signal from the first amplifier circuit 61-1 and the predetermined comparison reference voltage Vg. The first comparison circuit 62-1, which enables the output of the signal high level, and the predetermined comparison reference voltage Vg of the first comparison circuit 62-1 are set to set the first comparison circuit ( A first setter 62-1-a for applying to 62-1); 상기 하단 광센서(51-2)에 의하여 상기 임의의 불량미(1-a)에 대한 선별 감지가 가능하도록, 상기 하단 광센서(51-2)로부터의 출력 신호를 증폭하는 제2 증폭 회로(61-2)와, 상기 하단 광센서(51-2)에 대한 상기 불량미(1-a)의 반사광의 밝기가 상기 배경판(53')의 반사광의 밝기보다 소정의 밝기 미만으로 어두운 경우에는 상기 제2 증폭 회로(61-2)로부터의 출력 신호의 전압과 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg) 사이의 차이의 존재에 따른, 상기 임의의 불량미(1-a)의 선별 제거를 위한, 디지털 신호 하이(High) 레벨을 출력 가능하도록 된 제2 비교 회로(62-2)와, 이 제2 비교 회로(62-2)의 상기 소정의 비교 기준 전압(Vg)을 설정하여 상기 제2 비교 회로(62-2)에 인가하는 제2 설정기(62-2-a)가 구비되고;A second amplifying circuit for amplifying an output signal from the lower light sensor 51-2 so that the lower light sensor 51-2 detects and detects any defective taste 1-a. 61-2) and when the brightness of the reflected light of the defective rice 1-a with respect to the lower optical sensor 51-2 is darker than the brightness of the reflected light of the background plate 53 'by a predetermined brightness, For the selective elimination of the arbitrary bad taste 1-a according to the presence of the difference between the voltage of the output signal from the second amplifying circuit 61-2 and the predetermined comparison reference voltage Vg, The second comparison circuit 62-2, capable of outputting a digital signal high level, and the predetermined comparison reference voltage Vg of the second comparison circuit 62-2 are set to perform the second comparison. A second setter 62-2-a applied to the circuit 62-2; 타이밍(timing) 회로(70)가 구비되고, 이 타이밍 회로(70)는,Timing circuit 70 is provided, the timing circuit 70, 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 소정의 상단점(P)에서 선별 감지된 경우에는 상기 제1 비교 회로(62-1)로부터의 상기 디지털 신호 하이(High) 레벨의 출력 신호의 인가에 따라 상기 타이밍 회로(70)가 "클록 펄스 계수 개시 신호"(clock pulse 計數 開始 信號)를 출력하여 계수기(計數器, counter)(82)에 인가 가능하도록 하며,Application of the output signal of the digital signal high level from the first comparison circuit 62-1 when the random defective taste 1-a is selectively detected at the predetermined upper point P. Accordingly, the timing circuit 70 outputs a "clock pulse count start signal" (clock pulse pulse timing signal) so that the timing circuit 70 can be applied to the counter 82, 아울러 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 소정의 하단점(Q)에서 선별 감지된 경우에는 상기 제2 비교 회로(62-2)로부터의 상기 디지털 신호 하이(High) 레벨의 출력 신호의 인가에 따라 상기 타이밍 회로(70)가 "클록 펄스 계수 정지신호"(clock pulse 計數 停止 信號)를 출력하여 계수기(計數器, counter)(82)에 인가 가능하도록 하며,In addition, when the random defect 1-a is detected at the predetermined lower end point Q, the output signal of the digital signal high level from the second comparison circuit 62-2 may be used. In response to the application, the timing circuit 70 outputs a "clock pulse count stop signal" (clock pulse value) so that it can be applied to a counter 82, 아울러 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "클록 펄스 계수 개시 신호"의 인가 때로부터 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "클록 펄스 계수 정지 신호"의 인가 때까지에서 상기 계수기(82)에 인가된 클록 펄스를 상기 계수기(82)가 계수(計數)하여, "동일 불량미에 따른 단위 신호"로서 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)에 인가 가능하도록 "계수(計數)된 신호"[이하 "계수된 신호"라고 함]의 상태로서, 유지하며 출력 가능하도록 하는 "계수된 신호의 홀드(hold) 신호"[이하, "홀드 신호"라고 함]를, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 "클록 펄스 계수 정지 신호"의 출력에 바로 이어서, 상기 타이밍 회로(70)가 출력하여, 이 "홀드 신호"가 상기 계수기(82)에 인가됨에 따라 상기 계수기(82)가 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 "계수된 신호"를 출력하여 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)에 인가 가능하도록 하며,Further, from the time of application of the "clock pulse coefficient start signal" according to the random defect 1-a to the time of application of the "clock pulse coefficient stop signal" according to the random defect 1-a. The counter 82 counts the clock pulses applied to the counter 82 so as to be applied to the DA (digital-analog) converter 85 as a "unit signal according to the same defective taste". A "hold signal of a counted signal" (hereinafter referred to as a "hold signal"), which is maintained as a state of a " signaled signal " Immediately following the output of the "clock pulse count stop signal" according to the defective taste (1-a), the timing circuit 70 outputs and the "hold signal" is applied to the counter 82, so that the counter ( 82 outputs the " counted signal " according to the random taste 1-a, so that DA (digital-analog) To the transducer 85, 아울러 상기 "홀드 신호"가 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되어 상기 계수기(82)에 인가되면, 바로 이어서, 상기 계수기(82)가 다시 새로이, 상기 낙하 유로(15)에서의 새로운 임의의 불량미(1-b)에 따른, "클록 펄스 계수 개시 신호"의 인가에 따라 클록 펄스의 계수가 개시될 수 있도록 상기 계수기(82)를 초기화(初期化)하는 리셋(reset) 신호를 타이밍 회로(70)가 출력하여, 상기 리셋 신호를 상기 계수기(82)에 인가 가능하도록 하는 타이밍(timing) 회로(70)로서 이루어지고;In addition, when the " hold signal " is output from the timing circuit 70 and applied to the counter 82, immediately afterwards, the counter 82 is newly renewed, and any new defects in the drop passage 15 are new. The timing circuit 70 generates a reset signal for initializing the counter 82 so that the counter of the clock pulse can be started upon application of the "clock pulse count start signal" according to (1-b). Is output as a timing circuit (70) for enabling the application of the reset signal to the counter (82); 상기 타이밍 회로(70)와 상기 계수기(82)에 클록 펄스(clock pulse)를 인가하는 클록 펄스 발생기(81)가 구비되고;A clock pulse generator (81) for applying a clock pulse to the timing circuit (70) and the counter (82); 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되는 상기 "클록 펄스 계수 개시 신호"의 인가에 따라 상기 클록 펄스의 계수를 개시하며, 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되는 상기 "클록 펄스 계수 정지 신호"의 인가에 따라 상기 클록 펄스의 계수를 정지하며, 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되는 상기 "홀드 신호"의 인가에 따라, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "계수된 신호"를 출력하여 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)에 인가하며, 상기 타이밍 회로(70)로부터 출력되는 상기 "리셋 신호"의 인가에 따라 계수기(82)를, 상기 낙하 유로(15)에서의 새로운 임의의 불량미(1-b)에 따른 "클록 펄스 계수 개시 신호"에 따라 다시 새로이 상기 클록 펄스의 계수의 개시가 가능하게, 초기화로 리셋(reset)하도록 된 계수기(計數器, counter)(82)가 구비되고;The counting of the clock pulses is started in accordance with the application of the "clock pulse count start signal" output from the timing circuit 70, and the application of the "clock pulse count stop signal" output from the timing circuit 70. Stops the counting of the clock pulse and outputs the " counted signal " according to the random defect 1-a in response to the application of the " hold signal " output from the timing circuit 70. Applied to the DA (digital-to-analog) converter 85, and the counter 82 is applied with the " reset signal " output from the timing circuit 70, and any new defects in the drop passage 15 A counter 82 is provided which is reset in initialization to enable the start of the counting of the clock pulses again in accordance with the "clock pulse counting start signal" according to US 1-b. ; 상기 계수기(82)로부터 출력되는, 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른, 상기 "계수된 신호"를 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)가 인가받아 아날로그 신호로 변환하여 출력하도록 함에서, 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 "소정의 평균 낙하 시간(T2)"인 경우에는 상기 "계수된 신호"에 따른, D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의, 출력 신호의 전압(V2)을 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"과 같은 전압(V1)이 되도록 하며, 아울러 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)"보다 긴 시간인 경우에는 상기 "계수된 신호"에 따른, D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의, 출력 신호의 전압(V2)을 상기 "평균 지연 시간(T1)을위한 소정의 기준 전압(V1)"보다 높은 소정의 전압이 되도록 하며, 아울러 상기 임의의 불량미(1-a)가 상기 거리(L)을 낙하하는 시간이 상기 "소정의 평균 낙하 시간(T2)"보다 짧은 시간인 경우에는 상기 "계수된 신호"에 따른, D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의, 출력 신호의 전압(V2)을 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"보다 낮은 소정의 전압이 되도록 하는 D-A(디지털-아날로그) 변환기(converter)(85)가 구비되고;DA (digital-to-analog) converter 85 is applied by the DA (digital-analog) converter 85 according to the random defect 1-a, which is output from the counter 82, to be converted into an analog signal and outputted. In accordance with the " counted signal " when the time when the arbitrary defective taste 1-a falls the distance L is " predetermined average falling time T2 " ) The voltage V2 of the output signal from the converter 85 to be a voltage V1 equal to the " predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1 " When the time (1-a) falls the distance L is longer than the "predetermined average fall time T2", the DA (digital-analog) converter (according to the "counted signal") 85, the voltage V2 of the output signal becomes a predetermined voltage higher than the " predetermined reference voltage V1 for average delay time T1 ". In addition, when the time that the arbitrary defective taste (1-a) falls the distance (L) is shorter than the "predetermined average fall time (T2)" according to the "counted signal" DA, which causes the voltage V2 of the output signal from the DA (digital-analog) converter 85 to be a predetermined voltage lower than the " predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1 " A digital-to-analog converter 85 is provided; 상기 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의 출력 신호의 전압(V2)을, 상기 "평균 지연 속도(T1)를 위한 소정의 기준 전압(V1)"과 같은 절대치의 -전압(즉, -V1)으로, 오프셋(offset)하도록 하는 오프셋(offset) 회로(86)가 구비되고;The voltage V2 of the output signal from the DA (digital-to-analog) converter 85 is equal to an absolute voltage (i.e., "the predetermined reference voltage V1 for the average delay speed T1"). V1), there is provided an offset circuit 86 for causing an offset; 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"이 +단자(비반전 단자(非反轉 端子))에 인가되고, 상기 거리(L)를 낙하하는 상기 임의의 불량미(1-a)에 따른 상기 "계수된 신호"의 인가에 따른 D-A(디지털-아날로그) 변환기(85)로부터의 출력 신호의 전압(V2)이 상기 -전압(즉, -V1)으로 오프셋(offset)된 전압(V3)이 -단자(반전 단자(反轉 端子))에 인가되어, 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"과 상기 오프셋(offset)된 전압(V3)의 차전압(差電壓)(V4)을 출력하도록 된 차동 증폭기(差動 增幅器)(90)가 구비되고, 상기 "평균 지연 시간(T1)을 위한 소정의 기준 전압(V1)"을 설정하여 상기 차동 증폭기(90)에 인가 가능하도록 된 설정기(90-a)가 구비되고;The " predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1 " is applied to the + terminal (non-inverting terminal), and the arbitrary defective taste (falling in the distance L) The voltage V2 of the output signal from the DA (digital-analog) converter 85 upon application of the "counted signal" according to 1-a is offset to the -voltage (i.e., -V1). Voltage V3 is applied to the negative terminal (inverting terminal) so that the " predetermined reference voltage V1 for average delay time T1 " and the offset voltage V3 are applied. A differential amplifier 90 is provided for outputting a differential voltage V4 of the predetermined voltage, and the predetermined reference voltage V1 for the average delay time T1 is set. A setter 90-a adapted to be applied to the differential amplifier 90; 상기 차동 증폭기(90)로부터 출력되는 상기 차전압(差電壓)(V4)이 상기 V-F(전압-주파수) 변환기(36)에 인가되도록 회로 연결된 것을 특징으로 하는 미립 색채선별 장치(米粒 色彩 選別 裝置).A particulate color discrimination apparatus, characterized in that it is circuit-connected so that the difference voltage V4 output from the differential amplifier 90 is applied to the VF (voltage-frequency) converter 36. .
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