KR20030051012A - Apparatus for diffusing spacer - Google Patents

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김상현
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엘지.필립스 엘시디 주식회사
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Abstract

PURPOSE: A spacer sprayer is provided to spray spacers uniformly and reduce a period of time required for a spacer spraying process. CONSTITUTION: A spacer sprayer includes a spacer spray chamber(62) and a plurality of spray nozzles(72a,72b). The spray nozzles are arranged in at least two rows on a substrate(61) to spray spacers onto the substrate. The substrate is moved while the spacers are sprayed on to the substrate. The spacer sprayer further includes a plurality of driving rollers(80) that are set inside the spacer spray chamber to move the substrate. The spray nozzles are arranged zigzag.

Description

스페이서 산포장치{APPARATUS FOR DIFFUSING SPACER}Spacer spreading device {APPARATUS FOR DIFFUSING SPACER}

본 발명은 스페이서 산포장치에 관한 것으로, 특히 스페이서를 균일하게 산포할 수 있도록 다수개의 산포노즐을 구성하여 스페이서 산포 불량을 방지할 수 있는 스페이서 산포장치에 관한 것이다.The present invention relates to a spacer spreading device, and more particularly, to a spacer spreading device capable of preventing a spacer spreading failure by configuring a plurality of spreading nozzles so as to uniformly distribute the spacers.

액정표시장치는 소형 및 박형화와 소비전력이 낮은 장점을 가지며, 노트북 PC, 사무 자동화 기기, 오디오/비디오 기기 등으로 이용되고 있다. 특히, 스위치 소자로서 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor : 이하 "TFT"라 함)가 이용되는 액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치는 동적인 이미지를 표시하기에 적합하다.LCDs have advantages of small size, thinness, and low power consumption, and are being used as notebook PCs, office automation devices, and audio / video devices. In particular, an active matrix liquid crystal display device using a thin film transistor (hereinafter referred to as "TFT") as a switch element is suitable for displaying a dynamic image.

액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치는 화소들이 게이트라인들과 데이터라인들의 교차부들 각각에 배열되어진 화소매트릭스(Picture Element Matrix 또는 Pixel Matrix)에 텔레비전 신호와 같은 비디오신호에 해당하는 화상을 표시하게 된다. 화소들 각각은 데이터라인으로부터의 데이터신호의 전압레벨에 따라 투과 광량을 조절하는 액정셀을 포함한다. TFT는 게이트라인과 데이터라인들의 교차부에 설치되어 게이트라인으로부터의 스캔신호에 응답하여 액정셀 쪽으로 전송될 데이터신호를 절환하게 된다.In an active matrix type liquid crystal display, an image corresponding to a video signal such as a television signal is displayed on a pixel matrix (Picture Element Matrix or Pixel Matrix) in which pixels are arranged at intersections of gate lines and data lines. Each of the pixels includes a liquid crystal cell that adjusts the amount of transmitted light according to the voltage level of the data signal from the data line. The TFT is provided at the intersection of the gate line and the data lines to switch the data signal to be transmitted to the liquid crystal cell in response to the scan signal from the gate line.

액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치의 제조공정은 기판 세정과, 기판 패터닝, 배향막형성, 기판합착/액정주입, 실장공정으로 나뉘어져 제작된다.The manufacturing process of the active matrix type liquid crystal display device is produced by dividing the substrate into cleaning, substrate patterning, alignment film formation, substrate bonding / liquid crystal injection, and mounting process.

기판세정 공정에서는 상/하부기판의 패터닝 전후에 기판들의 이물질을 세정제를 이용하여 제거하게 된다. 기판 패터닝 공정에서는 상부기판의 패터닝과 하부기판의 패터닝으로 나뉘어진다.In the substrate cleaning process, foreign substances on the substrates before and after the upper and lower substrates are patterned are removed using a cleaning agent. In the substrate patterning process, the upper substrate is patterned and the lower substrate is patterned.

상부기판에는 칼라필터, 공통전극, 블랙 매트릭스 등이 형성된다. 하부기판에는 데이터라인과 게이트라인 등의 신호배선이 형성되고, 데이터라인과 게이트라인의 교차부에 TFT가 형성된다. 데이터라인과 게이트라인 사이의 화소영역에는 화소전극이 형성된다.A color filter, a common electrode, a black matrix, and the like are formed on the upper substrate. Signal lines such as data lines and gate lines are formed on the lower substrate, and TFTs are formed at intersections of the data lines and gate lines. The pixel electrode is formed in the pixel region between the data line and the gate line.

도 1을 참조하면, TFT의 제조공정은 다음과 같다. 먼저, 게이트전극(20)과 게이트라인이 Al, Mo, Cr 또는 이들의 합금 등의 금속으로 기판(18) 상에 증착된 후, 사진식각법에 의해 패터닝된다.Referring to Fig. 1, the manufacturing process of the TFT is as follows. First, the gate electrode 20 and the gate line are deposited on the substrate 18 with a metal such as Al, Mo, Cr, or an alloy thereof, and then patterned by photolithography.

게이트전극(20)이 형성된 기판(18) 상에는 SiNx, SiOx 등의 무기막으로 된 게이트절연막(22)과, 게이트절연막(22) 위에는 비정질 실리콘(amorphous-Si : 이하 "a-Si"이라 함)으로 된 반도체층(24)과 n+ 이온이 도핑된 a-Si으로 된 오믹접촉층(26)이 연속 증착된다.On the substrate 18 on which the gate electrode 20 is formed, a gate insulating film 22 made of an inorganic film such as SiNx, SiOx or the like, and amorphous silicon (hereinafter referred to as "a-Si") on the gate insulating film 22 And the ohmic contact layer 26 made of a-Si doped with n + ions are successively deposited.

오믹접촉층(26) 위에는 Mo, Cr 등의 금속으로 된 소오스전극(28)과 드레인전극(30)이 형성된다. 이 소오스전극(28)은 데이터라인과 일체로 패터닝된다. 소오스전극(28)과 드레인전극(30) 사이의 개구부를 통하여 노출된 오믹접촉층(26)은 건식에칭 또는 습식에칭에 의해 제거된다. 그리고 상기 소오스전극(28)과 드레인전극(30) 위에 SiNx 또는 SiOx로 된 보호막(32)이 전면 증착되어 TFT를 덮게 된다.On the ohmic contact layer 26, a source electrode 28 and a drain electrode 30 made of metal such as Mo and Cr are formed. This source electrode 28 is patterned integrally with the data line. The ohmic contact layer 26 exposed through the opening between the source electrode 28 and the drain electrode 30 is removed by dry etching or wet etching. A protective film 32 made of SiNx or SiOx is deposited on the source electrode 28 and the drain electrode 30 to cover the TFT.

이어서, 보호막(32) 위에는 콘택홀이 형성된다. 이 콘택홀을 통하여 드레인전극(30)에 접속되도록 인듐 틴 옥사이드(Indium Tin Oxide)로 된 화소전극(34)이 도포된다.Subsequently, a contact hole is formed on the protective film 32. A pixel electrode 34 made of indium tin oxide is coated so as to be connected to the drain electrode 30 through the contact hole.

TFT 공정 중, 게이트전극(20), 게이트라인, 소오스전극(28), 데이터라인, 드레인전극(30) 및 화소전극(34)은 물론 도시하지 않은 컬러필터와 블랙 매트릭스는 포토장비를 이용하여 포토레지스트(Photoresist)를 형성하고 노광 및 현상하는 공정에 의해 패터닝되고 있다.During the TFT process, the gate electrode 20, the gate line, the source electrode 28, the data line, the drain electrode 30, and the pixel electrode 34, as well as color filters and black matrices (not shown) are photographed using photo equipment. It is patterned by the process of forming, exposing, and developing a resist.

기판합착/액정주입 공정에서는 하부기판 상에 배향막을 도포하고 러빙하는 공정에 이어서, 실(Seal)을 이용한 상/하부기판 합착공정, 액정주입, 주입구 봉지공정이 순차적으로 이루어진다. 여기서, 실재는 액정주입 공간과 액정영역을 한정하는 역할을 겸한다.In the substrate bonding / liquid crystal injection process, an alignment film is coated and rubbed on the lower substrate, followed by an upper / lower substrate bonding process using a seal, liquid crystal injection, and an injection hole encapsulation process. Here, the reality serves to define the liquid crystal injection space and the liquid crystal region.

기판합착/액정주입 공정에서는 하부기판 상에 배향막을 도포하고 러빙하는 공정에 이어서, 실(Seal)재를 이용한 상/하부기판 합착공정, 액정주입, 주입구 봉지공정이 순차적으로 이루어진다.In the substrate bonding / liquid crystal injection process, an alignment film is coated on the lower substrate and rubbed, followed by an upper / lower substrate bonding process using a seal material, liquid crystal injection, and an injection hole encapsulation process.

마지막으로, 실장공정에서는 게이트 드라이브 집적회로 및 데이터 드라이브 집적회로 등의 집적회로가 실장된 테이프 케리어 패키지(Tape Carrier Package : TCP)를 기판 상의 패드부에 접속시키게 된다.Finally, in the mounting process, a tape carrier package (TCP) in which integrated circuits such as a gate drive integrated circuit and a data drive integrated circuit are mounted is connected to a pad portion on a substrate.

이와 같은 공정순서 중에서 하부기판에는 TFT가 형성된 후, 상부 및 하부기판들의 합착시 액정셀의 셀갭(Cell Gap)을 규제하고 적당한 액정층의 두께를 유지하여 액정층 두께의 불균일로 인하여 발생하는 표시얼룩과 시인성 저하를 방지하기위하여 스페이서(Spacer)를 산포하게 된다.In this process sequence, after the TFT is formed on the lower substrate, when the upper and lower substrates are bonded, the display stain generated due to the non-uniformity of the liquid crystal layer by regulating the cell gap of the liquid crystal cell and maintaining the appropriate thickness of the liquid crystal layer In order to prevent the deterioration of visibility and spacers.

일반적으로 스페이서를 LCD 기판에 산포시키는 산포기의 종류로는 크게 IPA(Isopropylalcohol)와 물을 혼합한 용액에 스페이서를 적정 혼합하여 산포하는 습식산포기와, 스페이서 및 기판이 가지고 있는 정전기 특성을 살려 스페이서와 LCD 기판의 극성을 다르게 대전시킨 후, LCD 기판에 스페이서를 산포하는 건식산포기로 나눌 수 있다.In general, a type of spreader for dispersing a spacer onto an LCD substrate is a wet spreader which properly spreads and distributes the spacer in a solution in which IPA (Isopropylalcohol) and water are mixed. After charging the polarity of the LCD substrate differently, it can be divided into a dry spreader that distributes the spacer on the LCD substrate.

도 2를 참조하면, 종래의 스페이서 산포장치는 스페이서(56)를 산포하기 위한 챔버(42)와, 스페이서(56)를 공급하는 스페이서 공급부(48)와, 스페이서 공급부(48)로부터 스페이서(56)를 챔버(42)에 공급하기 위한 공급파이프(50)와, 챔버(42)에 기판(41)을 로딩시키는 로딩부(44)와, 스페이서(56)가 산포된 기판(41)을 챔버(42)에서 언로딩하기 위한 언로딩부(46)와, 기판(41)에 산포된 스페이서(56)에 대해 분산성 검사를 실시하기 위한 검사부(47)를 구비한다.Referring to FIG. 2, a conventional spacer dispersing apparatus includes a chamber 42 for dispersing a spacer 56, a spacer supply part 48 for supplying the spacer 56, and a spacer 56 from the spacer supply part 48. The supply pipe 50 for supplying the gas to the chamber 42, the loading part 44 for loading the substrate 41 into the chamber 42, and the substrate 41 on which the spacers 56 are scattered. ), And an unloading part 46 for unloading the wafer) and an inspection part 47 for dispersing inspection of the spacers 56 scattered on the substrate 41.

챔버(42)는 공급파이프(50)와 연결되어 스페이서(56)의 산포영역을 조절하기 위한 분사노즐(52)과, 선행 공정을 마친 기판(41)이 로딩되어 안착되는 테이블(54)을 추가로 구비한다.The chamber 42 is connected to the supply pipe 50 and adds a spray nozzle 52 for adjusting the scattering area of the spacer 56, and a table 54 on which the substrate 41, which has been finished, is loaded and seated. It is provided with.

분사노즐(52)은 기판(41) 상에 스페이서(56)가 고르게 분사되도록 하는 역할을 한다. 공급파이프(50)는 스테인레스 재질의 관 형태로 제작되어 스페이서 공급부(48)로부터 스페이서(56)를 챔버(42)의 분사노즐(52)로 압송하는 통로이다.The spray nozzle 52 serves to evenly distribute the spacer 56 on the substrate 41. The supply pipe 50 is made of a stainless steel tube, and is a passage for feeding the spacer 56 from the spacer supply part 48 to the injection nozzle 52 of the chamber 42.

스페이서 공급부(48)는 스페이서(56)를 공정에 필요한 만큼 계량하여 불활성가스에 의해 공급파이프(50)로 압송된다.The spacer supply unit 48 weighs the spacer 56 as necessary for the process and is fed to the supply pipe 50 by an inert gas.

로딩부(44)는 선행 공정을 마친 기판(41)을 챔버(42) 내에 로딩시키는 역할을 하며, 언로딩부(46)는 스페이서(56) 산포공정이 완료된 기판(41)을 챔버(42)에서 언로딩하여 검사부(47)로 이동시키는 역할을 한다. 여기서, 기판(41)은 도시되지 않은 로봇에 의해 로딩부(44)에 로딩되고, 언로딩부(46)에서 검사부(47)로 언로딩된다.The loading unit 44 serves to load the substrate 41 having completed the preceding process into the chamber 42, and the unloading unit 46 stores the substrate 41 having the spacer 56 scattering therein completed in the chamber 42. Unloading from serves to move to the inspection unit (47). Here, the substrate 41 is loaded into the loading unit 44 by a robot (not shown) and unloaded from the unloading unit 46 to the inspection unit 47.

검사부(47)는 기판(41)에 산포된 스페이서(56)의 밀도를 검출하여 스페이서 산포불량을 판단하게 된다.The inspection unit 47 detects the density of spacer dispersion by detecting the density of the spacers 56 scattered on the substrate 41.

이와 같이, 종래의 스페이서 산포장치는 하나의 분사노즐(52)을 이용하여 램덤(Random)하게 스페이서(56)를 산포하기 때문에 스페이서(56)의 뭉침 현상이 발생하게 된다. 또한, 기판(41)은 반송 로봇들에 의해 챔버(42) 내부에 로딩된 후 일정시간 동안 챔버(42)의 테이블(54)에 머물면서 스페이서(56)를 산포된 후 다시 반송 로봇들에 의해 언로딩시키게 되므로 공정시간이 늦어지는 문제점이 있다.As described above, the conventional spacer spreading device randomly scatters the spacers 56 by using one injection nozzle 52, so that agglomeration of the spacers 56 occurs. In addition, the substrate 41 is loaded into the chamber 42 by the transfer robots, and then remains on the table 54 of the chamber 42 for a predetermined time, and then scatters the spacer 56 and then moves the transfer robots again by the transfer robots. Unloading is a problem that the process time is delayed.

따라서, 본 발명의 목적은 스페이서를 균일하게 산포할 수 있도록 다수개의 산포노즐을 구성하여 스페이서 산포 불량을 방지할 수 있는 스페이서 산포장치를 제공하는데 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a spacer spreading device that can prevent a spacer scattering defect by configuring a plurality of scattering nozzles so as to uniformly distribute the spacers.

도 1은 일반적인 박막트랜지스터를 나타내는 단면도.1 is a cross-sectional view showing a general thin film transistor.

도 2는 종래의 스페이서 산포장치를 나타내는 단면도.2 is a cross-sectional view showing a conventional spacer spreading device.

도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 스페이서 산포장치를 나타내는 단면도.3 is a cross-sectional view showing a spacer spreading apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 4는 도 3에 도시된 분사노즐을 나타내는 도면.4 is a view showing the injection nozzle shown in FIG.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>

18 : 유리기판20 : 게이트전극18: glass substrate 20: gate electrode

22 : 게이트절연막24 : 반도체층22 gate insulating film 24 semiconductor layer

26 : 오믹접촉층28 : 소오스전극26 ohmic contact layer 28 source electrode

30 : 드레인전극32 : 보호막30 drain electrode 32 protective film

34 : 화소전극41, 61 : 기판34: pixel electrode 41, 61: substrate

42, 62 : 챔버44 : 로딩부42, 62: chamber 44: loading section

46 : 언로딩부47, 67 : 검사부46: unloading unit 47, 67: inspection unit

48, 68 : 스페이서 공급부50, 70 : 공급파이프48, 68: spacer supply part 50, 70: supply pipe

52, 72a, 72b : 분사노즐56, 76 : 스페이서52, 72a, 72b: injection nozzle 56, 76: spacer

80 : 구동롤러80: drive roller

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 스페이서 산포장치는 스페이서 산포 챔버와, 기판 위쪽에 적어도 2열 이상의 열로 배치되어 상기 기판 상에 스페이서를 각각 분사하는 다수의 분사노즐들을 구비한다.In order to achieve the above object, the spacer spreading apparatus according to the present invention includes a spacer spreading chamber and a plurality of spray nozzles arranged in at least two rows above the substrate to spray the spacers on the substrate, respectively.

상기 기판은 상기 스페이서 분사시 이송되는 것을 특징으로 한다.The substrate may be transferred when the spacer is sprayed.

상기 스페이서 산포챔버 내부에 설치되어 상기 기판을 이송시키기 위한 다수의 구동롤러들을 추가로 구비한다.It is further provided with a plurality of driving rollers installed in the spacer dispersion chamber to transfer the substrate.

상기 분사노즐들은 지그재그 형태로 배치되는 것을 특징으로 한다.The spray nozzles may be arranged in a zigzag form.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부도면을 참조한 실시 예의 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other objects and features of the present invention in addition to the above objects will be apparent from the description of the embodiments with reference to the accompanying drawings.

도 3 및 도 4를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 설명하기로 한다.Referring to Figures 3 and 4 will be described a preferred embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 스페이서 산포장치는 스페이서(76)를 공급하는 스페이서 공급부(68)와, 스페이서(76)를 산포하기 위한 챔버(62)와, 스페이서 공급부(68)로부터 스페이서(76)를 챔버(62)에 공급하기 위한 공급파이프(70)와, 공급파이프(70)와 연결되어 스페이서(76)의 산포영역을 조절하기 위한 2열로 배치되는 제 1 및 제 2 분사노즐들(72a, 72b)과, 챔버(62) 내에 설치되어 기판(61)을 이송시키기 위한 구동롤러들(80)과, 기판(61)에 산포된 스페이서(76)에 대해 분산성 검사를 실시하기 위한 검사부(67)를 구비한다.Referring to FIG. 3, a spacer spreading apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention may include a spacer supply unit 68 supplying a spacer 76, a chamber 62 for distributing the spacer 76, and a spacer supply unit 68. Supply pipe 70 for supplying the spacer 76 to the chamber 62, and the first and second injections, which are connected to the supply pipe 70 and arranged in two rows for adjusting the scattering area of the spacer 76. Dispersion test is performed on the nozzles 72a and 72b, the drive rollers 80 installed in the chamber 62 to transfer the substrate 61, and the spacers 76 scattered on the substrate 61. An inspection unit 67 is provided for the purpose.

스페이서 공급부(68)는 스페이서(76)를 공정에 필요한 만큼 계량하여 불활성가스에 의해 공급파이프(70)로 압송된다.The spacer supply unit 68 weighs the spacer 76 as necessary for the process and is fed to the supply pipe 70 by an inert gas.

공급파이프(70)는 스테인레스 재질의 관 형태로 제작되어 스페이서공급부(68)로부터 스페이서(76)를 챔버(62)의 제 1 및 제 2 분사노즐들(72a, 72b)로 압송하는 통로이다.The supply pipe 70 is made of a stainless steel tube and presses the spacer 76 from the spacer supply part 68 to the first and second injection nozzles 72a and 72b of the chamber 62.

구동롤러들(80)은 선공정을 마친 후 챔버(62) 내로 로딩되는 기판(61)을 이송시킨다. 즉, 구동롤러들(80)은 종래에서와 같이 챔버(62) 내에서 기판(61)을 일정시간 정지시킨 후 기판(61) 상에 스페이서(76)를 산포하는 것이 아니라 기판(61)이 이송되면서 스페이서(76)가 산포되도록 이송시키는 역할을 한다. 결과적으로, 챔버(62) 내에서 기판(61)을 이송하는 구동롤러들(80)로 인해 종래에서와 같이 기판(61)을 로딩 또는 언로딩시키기 위한 반송로봇이 필요없게 된다.The driving rollers 80 transfer the substrate 61 loaded into the chamber 62 after completing the preliminary process. That is, the driving rollers 80 stop the substrate 61 in the chamber 62 for a predetermined time in the chamber 62 as in the related art, and then the substrate 61 is transferred rather than spreading the spacer 76 on the substrate 61. While serving to transport the spacer 76 to be distributed. As a result, the driving rollers 80 for transporting the substrate 61 in the chamber 62 eliminate the need for a transport robot for loading or unloading the substrate 61 as in the prior art.

검사부(67)는 구동롤러들(80)에 의해 반송되는 기판(61)에 산포된 스페이서(76)의 밀도를 검출하여 스페이서 산포불량을 판단하게 된다.The inspection unit 67 detects the density of the spacer spread by detecting the density of the spacer 76 scattered on the substrate 61 conveyed by the driving rollers 80.

제 1 및 제 2 분사노즐들(72a, 72b)은 도 4에 도시된 바와 같이 기판(61) 상에 스페이서(56)가 고르게 분사되도록 지그재그 형태로 배치된다. 제 1 및 제 2 분사노즐들(72a, 72b)은 기판(61)과 대략 100㎛ 정도의 갭(Gap)을 유지하면서 스페이서(76)를 산포한다. 이러한, 제 1 및 제 2 분사노즐들(72a, 72b)에는 대략 1000여개의 노즐들이 설치된다. 한편, 분사노즐은 상술한 바와 같이 2열로 배치되었다고 국한되었으나 3열 또는 그 이상이 지그재그 형태로 설치될 수 있다.The first and second spray nozzles 72a and 72b are arranged in a zigzag form so that the spacers 56 are evenly sprayed on the substrate 61 as shown in FIG. 4. The first and second spray nozzles 72a and 72b scatter the spacer 76 while maintaining a gap Gap of about 100 μm with the substrate 61. About 1000 nozzles are installed in the first and second injection nozzles 72a and 72b. On the other hand, the injection nozzle is limited to being arranged in two rows as described above, but three or more rows may be installed in a zigzag form.

이와 같이, 본 발명의 스페이서 산포장치는 적어도 2열 이상의 분사노즐(72a, 72b)을 이용하여 균일하게 스페이서(76)를 산포하기 때문에 스페이서(76)의 산포를 빠르게 진행할 수 있다. 즉, 종래에서는 챔버 내에 설치된 테이블에 기판을 로딩시킨 후 일정시간 정지된 상태에서 스페이서가 산포된 기판을 반송로봇에 의해 언로딩되는데 반하여 본 발명에서는 구동롤러들(80)에 의해 이송되는 기판(61) 상에 1000여개의 노즐을 갖는 적어도 2열 이상의 분사노즐(72a, 72b)을 이용하여 스페이서(76)를 산포하기 때문에 공정시간이 크게 감소된다.As described above, the spacer dispersing apparatus of the present invention spreads the spacer 76 uniformly by using at least two or more rows of injection nozzles 72a and 72b, so that the spacer 76 can be rapidly spread. That is, while the substrate is loaded in the table installed in the chamber in the prior art, the substrate, in which the spacer is dispersed in the state of being stopped for a certain time, is unloaded by the transport robot, whereas in the present invention, the substrate 61 is transferred by the driving rollers 80. By spreading the spacers 76 using at least two or more rows of injection nozzles 72a and 72b having about 1000 nozzles on the surface, the process time is greatly reduced.

또한, 1000여개의 노즐을 갖는 적어도 2열 이상의 분사노즐(72a, 72b)을 이용하여 기판(61) 상에 스페이서(76)를 산포하기 때문에 스페이서(76)를 균일하게 산포하여 스페이서 뭉침현상이 발생하지 않는다.In addition, since the spacers 76 are scattered on the substrate 61 using at least two or more rows of injection nozzles 72a and 72b each having about 1000 nozzles, the spacers are uniformly dispersed and spacer aggregation occurs. I never do that.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 스페이서 산포장치는 적어도 2열 이상의 분사노즐들을 스페이서 산포챔버에 설치하여 스페이서를 산포함으로써, 스페이서를 균일하게 산포하여 스페이서 뭉침현상을 방지할 수 있다. 또한, 스페이서 산포챔버 내부에 구동롤러들을 설치하여 기판을 이송시키면서 스페이서를 산포하기 때문에 공정시간을 크게 감소시킬 수 있다.As described above, the spacer dispersing apparatus according to the present invention may dispose the spacers by uniformly dispersing the spacers by distributing the spacers by installing at least two or more rows of injection nozzles in the spacer dispersing chamber. In addition, since the driving rollers are installed inside the spacer spreading chamber to distribute the spacer while transferring the substrate, the process time can be greatly reduced.

따라서, 본 발명에 따른 스페이서 산포장치는 스페이서의 산포 불량을 감소시킬 수 있음은 물론 생산성을 크게 향상시킬 수 있다.Therefore, the spacer spreading apparatus according to the present invention can not only reduce the dispersion defect of the spacer, but also greatly improve the productivity.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

Claims (4)

스페이서 산포 챔버와,A spacer spread chamber, 기판 위쪽에 적어도 2열 이상의 열로 배치되어 상기 기판 상에 스페이서를 각각 분사하는 다수의 분사노즐들을 구비하는 것을 특징으로 하는 스페이서 산포장치.And a plurality of spray nozzles arranged in at least two rows above the substrate and spraying the spacers on the substrate, respectively. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기판은 상기 스페이서 분사시 이송되는 것을 특징으로 하는 스페이서 산포장치.And the substrate is transported when the spacer is sprayed. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 스페이서 산포챔버 내부에 설치되어 상기 기판을 이송시키기 위한 다수의 구동롤러들을 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 스페이서 산포장치.And a plurality of driving rollers installed in the spacer spreading chamber to transfer the substrate. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 분사노즐들은 지그재그 형태로 배치되는 것을 특징으로 하는 스페이서 산포장치.And the spray nozzles are arranged in a zigzag shape.
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