KR200208768Y1 - Apparatus for testing impedance of electromagnetic interference source - Google Patents
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Abstract
본 고안에 따른 임피던스 시험 장치는, 전자파장해필터를 설계하기 위한 전자파장해원의 임피던스 시험 장치이다. 이 장치는 공진 회로 및 스위치들을 포함한다. 공진 회로는 예상되는 전자파장해에 대한 코일과 콘덴서의 공진 회로이다. 스위치들은, 사용자의 조작에 의하여 코일과 콘덴서중에서 어느 하나만이 전자파장해원의 전원과 전자파장해원 사이에 연결되게 한다.An impedance test apparatus according to the present invention is an impedance test apparatus of an electromagnetic wave source for designing an electromagnetic interference filter. The device includes a resonant circuit and switches. The resonant circuit is the resonant circuit of the coil and the capacitor against the expected electromagnetic interference. The switches allow only one of the coil and the capacitor to be connected between the power source of the electromagnetic source and the electromagnetic source by the user's manipulation.
Description
본 고안은, 전자파장해원(electromagnetic interference source)의 임피던스 시험 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 전자파장해필터(electromagnetic interference filter)의 설계를 위하여 적용될 전자파장해원의 임피던스를 시험하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an impedance test apparatus for an electromagnetic interference source, and more particularly, to an apparatus for testing impedance of an electromagnetic interference source to be applied for the design of an electromagnetic interference filter. .
도 1은 일반적인 전자파장해필터의 연결 위치를 보여준다.1 shows a connection position of a typical electromagnetic interference filter.
도 1을 참조하면, 전자파장해필터(2)는 전원 공급기(1) 예를 들어, 직류 24 볼트(V)의 전압을 출력하는 전원 공급기(1)와, 그 전원의 부하로 사용되는 전자파장해원(3) 예를 들어, 직류 모터(Direct current Motor) 사이에 연결된다. 이러한 전자파장해필터(2)는 전자파장해원으로부터 발생되는 각종 전자파장해가 전원 공급에 영향을 미치지 않도록 차단한다. 이를 위하여, 대부분의 전자파장해필터(2)에는, 예상되는 전자파장해에 대한 코일과 콘덴서의 공진 회로가 구성되어 있다.Referring to Fig. 1, the electromagnetic interference filter 2 is a power supply 1, for example, a power supply 1 for outputting a voltage of 24 volts (V) and an electromagnetic interference source used as a load of the power supply. (3) For example, it is connected between a direct current motor. Such an electromagnetic interference filter 2 blocks various electromagnetic interferences generated from the electromagnetic interference source so as not to affect the power supply. For this purpose, most of the electromagnetic wave filter 2 is constituted by a resonant circuit of a coil and a capacitor against the expected electromagnetic wave.
위와 같은 전자파장해필터(2)의 설계에 있어서, 코일과 콘덴서의 배치를 효율적으로 하려면, 전자파장해원(3)의 입력 임피던스를 파악하는 것이 필요하다. 왜냐하면, 전자파장해원(3)의 입력 임피던스가 소정의 기준 임피던스보다 낮은 경우에는, 코일의 필터링 역할이 커지므로 이 코일을 전자파장해원(3)에 보다 가깝게 배치해야 하기 때문이다. 이와 반대로, 전자파장해원(3)의 입력 임피던스가 소정의 기준 임피던스보다 높은 경우에는, 콘덴서의 필터링 역할이 커지므로 이 콘덴서를 전자파장해원(3)에 보다 가깝게 배치해야 한다.In the above design of the electromagnetic interference filter 2, it is necessary to grasp the input impedance of the electromagnetic interference source 3 in order to efficiently arrange the coil and the capacitor. This is because, when the input impedance of the electromagnetic wave source 3 is lower than the predetermined reference impedance, the coil's filtering role is increased, so that the coil should be arranged closer to the electromagnetic wave source 3. On the contrary, when the input impedance of the electromagnetic wave source 3 is higher than the predetermined reference impedance, the filtering role of the capacitor is increased, so the capacitor should be disposed closer to the electromagnetic wave source 3.
전자파장해필터(2)의 설계에 있어서, 종래에는, 복잡한 임피던스 측정 장치를 사용하여 전자파장해원(3)의 입력 임피던스를 측정하고, 복잡한 시뮬레이션 및 실험에 의하여 측정된 임피던스를 기준 임피던스와 비교하였다. 이에 따라, 전자파장해원(3)의 입력 임피던스를 시험하는 데에 많은 노력이 필요하게 될 뿐만 아니라, 시험 결과 자체도 오히려 정확하지 못할 확률이 높다.In the design of the electromagnetic interference filter 2, conventionally, the input impedance of the electromagnetic wave source 3 was measured using a complex impedance measuring device, and the impedance measured by the complex simulation and experiment was compared with the reference impedance. Accordingly, not only much effort is required to test the input impedance of the electromagnetic wave source 3, but also the test results themselves are likely to be rather inaccurate.
본 고안의 목적은, 전자파장해원의 임피던스를 간편하고 정확하게 시험하여, 상응하는 전자파장해필터가 효율적으로 설계될 수 있게 하는 임피던스 시험 장치를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide an impedance test apparatus that enables simple and accurate testing of the impedance of an electromagnetic wave source so that a corresponding electromagnetic wave filter can be efficiently designed.
도 1은 일반적인 전자파장해필터의 연결 위치를 보여주는 블록도이다.1 is a block diagram showing a connection position of a general electromagnetic wave filter.
도 2는 본 고안에 따른 임피던스 시험 장치의 연결 위치를 보여주는 블록도이다.2 is a block diagram showing a connection position of the impedance test apparatus according to the present invention.
도 3은 도 2의 임피던스 시험 장치의 내부 회로를 보여주는 회로도이다.3 is a circuit diagram illustrating an internal circuit of the impedance test apparatus of FIG. 2.
도 4는 도 2의 임피던스 시험 장치의 외관을 보여주는 사시도이다.Figure 4 is a perspective view showing the appearance of the impedance test apparatus of FIG.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
1...전원 공급기, 2...전자파장해필터,1 ... power supply, 2 ... electromagnetic filter,
3...직류 모터, 4...임피던스 시험 장치,3 ... DC motor, 4 ... impedance test device,
S1, ..., S5...스위치, L1, L2...코일,S1, ..., S5 ... switch, L1, L2 ... coil,
C1...콘덴서, 41, 42, 43...스위치 손잡이.C1 ... capacitor, 41, 42, 43 ... switch knob.
IH, IG...입력 단자, OH, OG...출력 단자.I H , I G ... input terminals, O H , O G ... output terminals.
상기 목적을 이루기 위한 본 고안의 임피던스 시험 장치는, 전자파장해필터를 설계하기 위한 전자파장해원의 임피던스 시험 장치이다. 이 장치는 공진 회로 및 스위치들을 포함한다. 상기 공진 회로는 예상되는 전자파장해에 대한 코일과 콘덴서의 공진 회로이다. 상기 스위치들은, 사용자의 조작에 의하여 상기 코일과 콘덴서중에서 어느 하나만이 상기 전자파장해원의 전원과 상기 전자파장해원 사이에 연결되게 한다.An impedance test apparatus of the present invention for achieving the above object is an impedance test apparatus of an electromagnetic wave source for designing an electromagnetic interference filter. The device includes a resonant circuit and switches. The resonant circuit is a resonant circuit of the coil and the capacitor against the expected electromagnetic interference. The switches allow only one of the coil and the capacitor to be connected between the power source of the electromagnetic wave source and the electromagnetic wave source by a user's manipulation.
이에 따라, 상기 코일만이 연결되는 경우에 상기 코일로 전자파장해가 유입되면, 상기 전자파장해원의 입력 임피던스가 상대적으로 낮다고 판정할 수 있다. 이와 반대로, 상기 콘덴서만이 연결되는 경우에 상기 콘덴서로 전자파장해가 유입되면, 상기 전자파장해원의 입력 임피던스가 상대적으로 높다고 판정할 수 있다. 즉, 상기 전자파장해원의 임피던스를 간편하고 정확하게 시험할 수 있으므로, 상응하는 전자파장해필터를 효율적으로 설계할 수 있다.Accordingly, when the electromagnetic wave is introduced into the coil when only the coil is connected, it may be determined that the input impedance of the electromagnetic wave source is relatively low. On the contrary, when electromagnetic capacitors flow into the capacitor when only the capacitor is connected, it can be determined that the input impedance of the electromagnetic source is relatively high. That is, since the impedance of the electromagnetic wave source can be tested simply and accurately, the corresponding electromagnetic wave filter can be efficiently designed.
이하, 본 고안에 따른 바람직한 실시예가 상세히 설명된다.Hereinafter, preferred embodiments according to the present invention are described in detail.
도 2는 본 고안에 따른 임피던스 시험 장치의 연결 위치를 보여준다.2 shows the connection position of the impedance test apparatus according to the present invention.
도 2를 참조하면, 본 고안에 따른 임피던스 시험 장치(4)의 위치는 설계되어 사용될 전자파장해필터의 위치와 같다. 보다 상세하게는, 본 고안에 따른 임피던스 시험 장치(4)는, 전원 공급기(1) 예를 들어, 직류 24 볼트(V)의 전압을 출력하는 전원 공급기(1)와, 그 전원의 부하로 사용되는 전자파장해원(3) 예를 들어, 직류 모터 사이에 연결된다. 도 2에서 참조부호 IH와 IG는 본 고안에 따른 임피던스 시험 장치(4)의 입력 단자들을, 그리고 OH와 OG는 출력 단자들을 가리킨다.2, the position of the impedance test apparatus 4 according to the present invention is the same as the position of the electromagnetic interference filter to be designed and used. More specifically, the impedance test apparatus 4 according to the present invention is used as a power supply 1, for example, a power supply 1 for outputting a voltage of 24 VDC (V) and a load of the power supply. The electromagnetic wave source 3, for example, is connected between a DC motor. In Fig. 2, reference numerals I H and I G denote input terminals of the impedance test apparatus 4 according to the present invention, and O H and O G denote output terminals.
도 3은 도 2의 임피던스 시험 장치(4)의 내부 회로를 보여준다. 도 4는 도 2의 임피던스 시험 장치(4)의 외관을 보여준다. 도 3 및 4에서 참조부호 IH와 IG는 본 고안에 따른 임피던스 시험 장치(4)의 입력 단자들을, 그리고 OH와 OG는 출력 단자들을 가리킨다.FIG. 3 shows the internal circuit of the impedance test apparatus 4 of FIG. 2. 4 shows the appearance of the impedance test apparatus 4 of FIG. 2. 3 and 4, reference numerals I H and I G denote input terminals of the impedance test apparatus 4 according to the present invention, and O H and O G denote output terminals.
도 3및 4를 참조하면,본 고안에 따른 임피던스 시험 장치(4)는, 공진 회로(L1, C1, L2) 및 스위치들(S1, ..., S5)을 포함한다. 공진 회로(L1, C1, L2)는 예상되는 전자파장해에 대한 코일들(L1, L2)과 콘덴서(C1)의 공진 회로이다. 스위치들(S1, ..., S5)은, 사용자의 조작에 의하여 코일들(L1, L2)과 콘덴서(C1)중에서 어느 하나(L1 또는 C1 또는 L2)만이 전자파장해원(도 2의 3)의 전원 공급기(도 2의 1)와 전자파장해원(3) 사이에 연결되게 한다.3 and 4, the impedance test apparatus 4 according to the present invention includes resonant circuits L1, C1, L2 and switches S1, ..., S5. The resonant circuits L1, C1, L2 are resonant circuits of the coils L1, L2 and the condenser C1 against the expected electromagnetic interference. The switches S1, ..., S5 have only one of the coils L1, L2 and the capacitor C1 (L1 or C1 or L2) to operate by the user. To be connected between the power supply (1 in FIG. 2) and the electromagnetic wave source (3).
콘덴서(C1)와 제1 스위치(S1)의 직렬 회로는 전원 공급기(1)의 두 출력 라인들 사이에서 병렬로 연결된다. 제1 코일(L1)과 제3 스위치(S3)는 서로 직렬로 연결되어 있고, 이 직렬 회로와 제2 스위치(S2)는 서로 병렬로 연결되어 있으며, 이 병렬 회로는 전원 공급기(1)의 한 출력 라인과 직렬로 연결된다. 이와 마찬가지로, 제2 코일(L2)과 제5 스위치(S5)는 서로 직렬로 연결되어 있고, 이 직렬 회로와 제4 스위치(S4)는 서로 병렬로 연결되어 있으며, 이 병렬 회로는 전원 공급기(1)의 나머지 한 출력 라인과 직렬로 연결된다.The series circuit of the capacitor C1 and the first switch S1 is connected in parallel between the two output lines of the power supply 1. The first coil L1 and the third switch S3 are connected in series with each other, and the series circuit and the second switch S2 are connected in parallel with each other, and this parallel circuit is connected to one of the power supplies 1. It is connected in series with the output line. Similarly, the second coil L2 and the fifth switch S5 are connected in series with each other, and the series circuit and the fourth switch S4 are connected in parallel with each other, and the parallel circuit is connected to the power supply 1. Is connected in series with the other output line.
사용자가 콘덴서 스위치(S1)의 손잡이(41)를 개방(open) 위치에 놓으면 콘덴서 스위치(S1)가 온(On)되고, 폐쇄(close) 위치에 놓으면 콘덴서 스위치(S1)가 오프(off)된다. 사용자가 제1 코일 스위치들(S2, S3)의 손잡이(42)를 개방(open) 위치에 놓으면 제1 병렬 스위치(S2)가 온되고 제1 직렬 스위치(S3)가 오프된다. 이와 반대로, 사용자가 제1 코일 스위치들(S2, S3)의 손잡이(42)를 폐쇄(close) 위치에 놓으면 제1 병렬 스위치(S2)가 오프되고 제1 직렬 스위치(S3)가 온된다. 사용자가 제2 코일 스위치들(S4, S5)의 손잡이(43)를 개방(open) 위치에 놓으면 제2 병렬 스위치(S4)가 온되고 제1 직렬 스위치(S3)가 오프된다. 이와 반대로, 사용자가 제2 코일 스위치들(S4, S5)의 손잡이(43)를 폐쇄(close) 위치에 놓으면 제2 병렬 스위치(S4)가 오프되고 제2 직렬 스위치(S5)가 온된다.When the user puts the knob 41 of the condenser switch S1 in the open position, the condenser switch S1 is turned on, and when the user places it in the closed position, the condenser switch S1 is turned off. . When the user places the knob 42 of the first coil switches S2 and S3 in the open position, the first parallel switch S2 is turned on and the first series switch S3 is turned off. On the contrary, when the user puts the handle 42 of the first coil switches S2 and S3 in the closed position, the first parallel switch S2 is turned off and the first series switch S3 is turned on. When the user places the knob 43 of the second coil switches S4 and S5 in the open position, the second parallel switch S4 is turned on and the first series switch S3 is turned off. On the contrary, when the user puts the handle 43 of the second coil switches S4 and S5 to the closed position, the second parallel switch S4 is turned off and the second series switch S5 is turned on.
따라서, 사용자가 콘덴서 스위치(S1)의 손잡이(41), 및 제2 코일 스위치들(S4, S5)의 손잡이(43)를 개방(open) 위치에 놓고, 제1 코일 스위치들(S2, S3)의 손잡이(42)를 폐쇄(close) 위치에 놓으면, 전원 공급기(1)와 전자파장해원(3)의 사이에는 제1 코일(L1)만이 연결된다. 이 경우에, 제1 코일(L1)에 전자파장해가 유기되면, 전자파장해원(3)의 입력 임피던스가 상대적으로 낮다고 판정할 수 있다. 이와 같은 경우, 전자파장해원(3)에 대한 전자파장해필터의 설계에 있어서, 코일을 전자파장해원(3)과 가장 가까운 위치에 배치하여야 함을 확인할 수 있다.Thus, the user places the knob 41 of the condenser switch S1 and the knob 43 of the second coil switches S4 and S5 in the open position, and the first coil switches S2 and S3. When the knob 42 is placed in the closed position, only the first coil L1 is connected between the power supply 1 and the electromagnetic wave source 3. In this case, if electromagnetic interference is induced in the first coil L1, it can be determined that the input impedance of the electromagnetic interference source 3 is relatively low. In this case, in the design of the electromagnetic wave filter for the electromagnetic wave source 3, it can be confirmed that the coil should be disposed at the position closest to the electromagnetic wave source 3.
사용자가 콘덴서 스위치(S1)의 손잡이(41), 및 제1 코일 스위치들(S2, S3)의 손잡이(43)를 개방(open) 위치에 놓고, 제2 코일 스위치들(S4, S5)의 손잡이(42)를 폐쇄(close) 위치에 놓으면, 전원 공급기(1)와 전자파장해원(3)의 사이에는 제2 코일(L2)만이 연결된다. 이 경우에도, 제1 코일(L2)에 전자파장해가 유기되면, 전자파장해원(3)의 입력 임피던스가 상대적으로 낮다고 판정할 수 있다. 이와 같은 경우에도, 전자파장해원(3)에 대한 전자파장해필터의 설계에 있어서, 코일을 전자파장해원(3)과 가장 가까운 위치에 배치하여야 함을 확인할 수 있다.The user places the handle 41 of the condenser switch S1 and the handle 43 of the first coil switches S2 and S3 in the open position, and the handle of the second coil switches S4 and S5. When the 42 is placed in the closed position, only the second coil L2 is connected between the power supply 1 and the electromagnetic wave source 3. Also in this case, if electromagnetic interference is induced in the first coil L2, it can be determined that the input impedance of the electromagnetic interference source 3 is relatively low. Even in such a case, it can be confirmed that, in the design of the electromagnetic wave filter for the electromagnetic wave source 3, the coil should be disposed at the position closest to the electromagnetic wave source 3.
사용자가 콘덴서 스위치(S1)의 손잡이(41)를 폐쇄(close) 위치에 놓고, 제1 코일 스위치들(S2, S3)의 손잡이(43), 및 제2 코일 스위치들(S4, S5)의 손잡이(42)를 개방(open) 위치에 놓으면, 전원 공급기(1)와 전자파장해원(3)의 사이에는 콘덴서(C1)만이 연결된다. 이 경우에, 콘덴서(C1)에 전자파장해가 유기되면, 전자파장해원(3)의 입력 임피던스가 상대적으로 높다고 판정할 수 있다. 이와 같은 경우, 전자파장해원(3)에 대한 전자파장해필터의 설계에 있어서, 콘덴서를 전자파장해원(3)과 가장 가까운 위치에 배치하여야 함을 확인할 수 있다.The user places the handle 41 of the condenser switch S1 in the closed position, the handle 43 of the first coil switches S2 and S3, and the handle of the second coil switches S4 and S5. When the 42 is placed in the open position, only the capacitor C1 is connected between the power supply 1 and the electromagnetic wave source 3. In this case, when electromagnetic interference is induced in the capacitor C1, it can be determined that the input impedance of the electromagnetic interference source 3 is relatively high. In this case, it can be seen that in the design of the electromagnetic wave filter for the electromagnetic wave source 3, the capacitor should be disposed at the position closest to the electromagnetic wave source 3.
이상 설명된 바와 같이, 본 고안에 따른 임피던스 시험 장치에 의하면, 코일만이 연결되는 경우에 코일로 전자파장해가 유입되면, 전자파장해원의 입력 임피던스가 낮다고 판정할 수 있다. 이와 반대로, 콘덴서만이 연결되는 경우에 콘덴서로 전자파장해가 유입되면, 전자파장해원의 입력 임피던스가 높다고 판정할 수 있다. 즉, 전자파장해원의 임피던스를 간편하고 정확하게 시험할 수 있으므로, 상응하는 전자파장해필터를 효율적으로 설계할 수 있다.As described above, according to the impedance test apparatus according to the present invention, when the electromagnetic wave is introduced into the coil when only the coil is connected, it can be determined that the input impedance of the electromagnetic wave source is low. On the contrary, if electromagnetic interference flows into the capacitor when only the capacitor is connected, it can be determined that the input impedance of the electromagnetic wave source is high. That is, since the impedance of the electromagnetic wave source can be tested simply and accurately, the corresponding electromagnetic wave filter can be efficiently designed.
본 고안은, 상기 실시예에 한정되지 않고, 청구범위에서 정의된 고안의 사상 및 범위 내에서 당업자에 의하여 변형 및 개량될 수 있다.The present invention is not limited to the above embodiments, and may be modified and improved by those skilled in the art within the spirit and scope of the invention defined in the claims.
Claims (2)
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|---|---|---|---|---|
| KR20180132877A (en) * | 2017-03-29 | 2018-12-12 | 안휘 윈타 일렉트로닉 테크놀로지스 컴퍼니 리미티드 | Test methods for integrated circuits and integrated circuits |
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- 2000-06-16 KR KR2020000017132U patent/KR200208768Y1/en not_active IP Right Cessation
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| KR20180132877A (en) * | 2017-03-29 | 2018-12-12 | 안휘 윈타 일렉트로닉 테크놀로지스 컴퍼니 리미티드 | Test methods for integrated circuits and integrated circuits |
| KR102078251B1 (en) * | 2017-03-29 | 2020-02-17 | 안휘 윈타 일렉트로닉 테크놀로지스 컴퍼니 리미티드 | Integrated circuits and test methods of integrated circuits |
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