KR20020076640A - Apparatus and method for measuring magnetic field of cyclotron - Google Patents
Apparatus and method for measuring magnetic field of cyclotron Download PDFInfo
- Publication number
- KR20020076640A KR20020076640A KR1020010016637A KR20010016637A KR20020076640A KR 20020076640 A KR20020076640 A KR 20020076640A KR 1020010016637 A KR1020010016637 A KR 1020010016637A KR 20010016637 A KR20010016637 A KR 20010016637A KR 20020076640 A KR20020076640 A KR 20020076640A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- magnetic field
- coordinates
- plotter
- cyclotron
- measuring
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/07—Hall effect devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 입자 가속기(particle accelerator)의 자기장(magnetic filed) 측정 장치에 관한 것으로, 구체적으로는 사이클로트론(cyclotron)을 위한 자기장 측정 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for measuring magnetic files of a particle accelerator, and more particularly, to an apparatus and a method for measuring a magnetic field for a cyclotron.
일반적으로 전하를 띤 원자나 분자 및 그 무리를 이온이라 한다. 전기적으로 중성인 원자나 분자로부터 전자를 떼어내면 양전하를 띤 양이온(cation)이 되며, 반대로 별도의 전자를 부착시키면 음이온(anion)이 된다. 이온은 전기장에 의해 가속된다. 전기장에 의해 가속된 이온은 고에너지상태가 되며 더 높은 에너지를 얻기 위해서는 진행방향에 수직으로 자기장을 가하여 원운동을 시킨다.In general, charged atoms or molecules and their groups are called ions. When electrons are removed from an electrically neutral atom or molecule, they become positively charged cations. On the contrary, when separate electrons are attached, they become anions. Ions are accelerated by the electric field. The ions accelerated by the electric field are in a high energy state, and in order to obtain higher energy, a circular motion is applied by applying a magnetic field perpendicular to the traveling direction.
입자 가속기는 전자나 양성자와 같은 하전입자를 강력한 전기장이나 자기장 속에서 가속시켜 큰 운동에너지를 발생시키는 장치로서 원자핵이나 소립자에 관한 물질의 심층 구조를 탐구하는 물리실험에 사용되며, 암치료를 위한 의료장비 등에도 사용되고 있다. 이러한 입자 가속기는 원자핵파괴장치, 이온가속기로도 부르며 간단히 가속기라고도 한다.Particle accelerators are devices that generate large kinetic energy by accelerating charged particles such as electrons or protons in powerful electric or magnetic fields. They are used in physical experiments to explore the deep structure of matter related to atomic nuclei and small particles. It is also used for equipment. Such particle accelerators are also referred to as atomic breakers, ion accelerators, or simply as accelerators.
입자가속기는 1932년 E.O.로렌스에 의하여 고안된 것으로서, 동일한 자기장에서 하전입자의 원운동주기는 입자의 질량에 비례하고, 전하와 질량의 세기에 반비례한다는 원리를 이용한 입자가속기이다. 고속중성자선, 양자선, α선 등의 방사선이 이 장치에서 발생한다. 이들 방사선은 각종 종양에 조사하여 종양이 치유되게 하는 것들이다. 고속중성자선은 여성성기암, 골육종, 경부암, 폐암, 연조직육종 등에 이용되고 있다. 이러한 의료에 이용되고 있는 입자가속기로 사이클로트론 치료장치가 있다.The particle accelerator is designed by E.O. Lawrence in 1932. It is a particle accelerator using the principle that the circular motion period of charged particles in the same magnetic field is proportional to the mass of the particle and inversely proportional to the strength of the charge and mass. Radiation such as high-speed neutron beams, quantum wires, and α-rays are generated in this device. These radiations are those that irradiate various tumors and cause the tumors to heal. High-speed neutron radiation is used for female genital cancer, osteosarcoma, cervical cancer, lung cancer, soft tissue sarcoma, and the like. There is a cyclotron treatment apparatus as a particle accelerator used in such medical care.
도 1 내지 도 3은 사이클로트론의 원리를 설명하기 위한 도면으로서, 도 1은 사이클로트론의 자극 및 전극 구조를 보여주는 도면, 도 2a 및 도 2b는 도 1의 D 전극에 의한 공진 원리를 설명하기 위한 도면 그리고 도 3은 도 1의 D 전극 상에서 입자의 운동궤도를 보여주는 도면이다.1 to 3 are diagrams for explaining the principle of the cyclotron, Figure 1 is a view showing the magnetic pole and electrode structure of the cyclotron, Figures 2a and 2b is a view for explaining the resonance principle by the D electrode of Figure 1 and 3 is a view showing a motion trajectory of particles on the D electrode of FIG.
도면을 참조하여, 사이클로트론은 전자석 N, S 극(10, 12) 사이에 마주보는 한쌍의 D 전극(14)이 구비된다. D 전극(14)은 동판으로 구성되고 이는 회로적으로 공진기(20)의 구성을 갖는다. D 전극(14)은 N, S 극(10, 12)에 의해 형성되는 자기장안에 잠겨져 있고, 일정 주파수가 제공되면서 진공 상태의 D 전극 틈새(16)에 가속 전위가 형성된다. 이 D 전극 틈새(16)에 하전입자(22)가 입사되면 자기장의 방향과 입사방향 모두에 대해 수직방향으로 로렌츠힘을 받게 되어, 일정한 원궤도(18)를 그리면서 운동하게 되면서 가속을 받게된다.Referring to the drawings, the cyclotron is provided with a pair of D electrodes 14 facing each other between the electromagnet N and S poles 10 and 12. The D electrode 14 is composed of a copper plate, which has a configuration of the resonator 20 in a circuit. The D electrode 14 is immersed in the magnetic field formed by the N and S poles 10 and 12, and an acceleration potential is formed in the D electrode gap 16 in a vacuum while providing a constant frequency. When the charged particles 22 enter the D-electrode gap 16, they receive a Lorentz force perpendicular to both the direction of the magnetic field and the direction of incidence, and are accelerated as they move while drawing a constant orbit 18. .
사이클로트론의 전자석은 일반적으로 H형, 원통형 등의 다양한 형태로 제작되고 있으나 전자석은 원형으로 제작되고 있다. 전자석의 자기장의 세기는 자극 축을 중심으로 자극의 반지름과 원주의 길에 따라 결정되고, 이에 따라 가속되는 입자의 에너지와 가속 궤도가 결정되게 된다. 그럼으로 사이클로트론을 설계하는 과정에서 사이클로트론의 자기장의 세기를 정확히 측정하는 것이 매우 중요하다.Cyclotron electromagnets are generally manufactured in various shapes such as H-shaped and cylindrical shapes, but electromagnets are manufactured in a circular shape. The strength of the magnetic field of the electromagnet is determined by the radius of the magnetic pole and the length of the circumference of the magnetic pole, and thus the energy and acceleration orbit of the accelerated particle are determined. Therefore, it is very important to accurately measure the intensity of the cyclotron magnetic field in the design of the cyclotron.
사이클로트론의 자기장 세기를 측정하기 위해서는 자극 축을 중심으로 (r, θ) 방향에 따른 각 지점의 자기장 세기를 측정해야 한다. 이를 위한 자기장 측정 장치는 자극 축을 중심으로 θ 방향으로 원주를 그리며 이동하고 r 길이가 가변되면서 홀 센서를 통해 각 위치에서의 자기장 세기를 측정한다.In order to measure the magnetic field strength of cyclotron, the magnetic field strength of each point along the direction of (r, θ) of the magnetic pole axis should be measured. The magnetic field measuring device for this purpose moves circumferentially around the magnetic pole axis in the θ direction and the r length is variable to measure the magnetic field strength at each position through the Hall sensor.
그런데, 사이클로트론의 전자석의 양 기둥에 의해 자기장 측정에 어려움이 있고, 전자석의 크기에 따라 측정 장치의 사이즈를 가변 제작하여야 하는 어려움이 있었다.However, there is a difficulty in measuring the magnetic field by both pillars of the electromagnet of cyclotron, and there is a difficulty in making the size of the measuring device variable according to the size of the electromagnet.
따라서, 본 발명의 목적은 상술한 제반 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서 사이클로트론의 전자석의 사이즈 변화와 관계없이 다양한 사이즈에도 적용할 수 있는 사이클로트론의 자기장 측정 장치 및 방법을 제공하는데 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a cyclotron magnetic field measuring apparatus and method which can be applied to various sizes irrespective of the size change of the electromagnet of cyclotron as proposed to solve the above-mentioned problems.
도 1 내지 도 3은 사이클로트론의 원리를 설명하기 위한 도면으로서,1 to 3 are diagrams for explaining the principle of the cyclotron,
도 1은 사이클로트론의 자극 및 전극 구조를 보여주는 도면, 도 2a 및 도 2b는 도 1의 D 전극에 의한 공진 원리를 설명하기 위한 도면 그리고 도 3은 도 1의 D 전극 상에서 입자의 운동궤도를 보여주는 도면;FIG. 1 is a diagram illustrating a magnetic pole and an electrode structure of a cyclotron, FIGS. 2A and 2B are diagrams for explaining the principle of resonance by the D electrode of FIG. 1, and FIG. ;
도 4는 본 발명의 자기장 측정 장치를 보여주는 도면; 그리고4 shows a magnetic field measuring device of the present invention; And
도 5는 도 4의 자기장 측정 장치의 회로 구성을 보여주는 블록도이다.FIG. 5 is a block diagram illustrating a circuit configuration of the magnetic field measuring device of FIG. 4.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *
10: N극20: S극10: N pole 20: S pole
14: D전극20: 공진기14: D electrode 20: resonator
30: X-Y 플로터40: 자기장 측정 제어기30: X-Y plotter 40: magnetic field measuring controller
상술한 바와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 의하면, 사이클로트론의 자기장의 세기를 측정하기 위한 자기장 측정 장치는: X, Y 이동축에 연결된 홀 센서를 구비한 X-Y 플로터; (r, θ) 좌표의 자기장 측정 위치를 대응하는 (X, Y) 좌표값으로 변환하여 상기 X-Y 플로터로 제공하는 자기장 측정 제어기를 포함하고, 상기 X-Y 플로터는 입력된 (X, Y) 좌표로 상기 홀 센서를 이동시켜 자기장의 세기 측정하여 상기 자기장 측정 제어기로 제공한다.According to a feature of the present invention for achieving the object of the present invention as described above, the magnetic field measuring device for measuring the intensity of the magnetic field of the cyclotron includes: an X-Y plotter having a Hall sensor connected to the X, Y moving axis; a magnetic field measuring controller which converts a magnetic field measurement position of an (r, θ) coordinate to a corresponding (X, Y) coordinate value and provides it to the XY plotter, wherein the XY plotter is configured to input the (X, Y) coordinate to the The Hall sensor is moved to measure the strength of the magnetic field and provided to the magnetic field measurement controller.
이와 같은 본 발명의 실시예에서 상기 자기장 측정 제어기는: 자기장 세기 측정 데이터를 저장하기 위한 저장 장치; (r, θ) 좌표의 자기장 측정 위치 데이터를 받아들이는 입력부; 상기 입력부를 통해 입력된 (r, θ) 좌표값을 (X, Y) 좌표값으로 변환하여 상기 X-Y 플로터로 제공하는 좌표 변환부; 상기 좌표 환산부로부터 현재 측정된 위치의 (r, θ) 좌표값을 제공받고 상기 홀센서에 의해 측정된 자기장의 세기 데이터를 해당되는 (r, θ) 좌표값의 자기장 세기로 상기 저장 장치에 저장하는 자기장 검출부를 포함한다.In such an embodiment of the present invention, the magnetic field measurement controller comprises: a storage device for storing magnetic field strength measurement data; an input unit which receives magnetic field measurement position data of (r, θ) coordinates; A coordinate conversion unit converting the (r, θ) coordinate values inputted through the input unit into (X, Y) coordinate values and providing them to the X-Y plotter; The (r, θ) coordinate value of the current measured position is received from the coordinate conversion unit, and the intensity data of the magnetic field measured by the Hall sensor is stored in the storage device as the magnetic field strength of the corresponding (r, θ) coordinate value. And a magnetic field detector.
본 발명의 다른 특징에 의하면, X, Y 이동축에 연결된 홀 센서를 구비한 X-Y 플로터와 상기 X-Y 플로터를 제어하는 자기장 측정 제어기를 포함하는 사이클로트론 자기장 측정 장치의 제어 방법은: (r, θ) 좌표의 자기장 측정 위치 데이터를 입력받는 단계; 입력된 상기 (r, θ) 좌표의 자기장 측정 위치 데이터를 (X, Y) 좌표값으로 변환하는 단계; 변환된 (X, Y) 좌표로 상기 홀센서를 이동하여 자기장의 세기를 측정하는 단계; 측정된 자기장의 세기 데이터를 해당되는 (r, θ) 좌표의 자기장 세기로 저장하는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present invention, a control method of a cyclotron magnetic field measuring apparatus including an XY plotter having a Hall sensor connected to X and Y moving axes and a magnetic field measuring controller controlling the XY plotter includes: (r, θ) coordinates Receiving magnetic field measurement position data of the apparatus; Converting the magnetic field measurement position data of the input (r, θ) coordinates into (X, Y) coordinate values; Measuring the strength of the magnetic field by moving the Hall sensor to the converted (X, Y) coordinates; And storing the measured intensity data of the magnetic field as the magnetic field strength of the corresponding (r, θ) coordinate.
본 발명의 실시예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예로 인해 한정되어 지는 것으로 해석되어져서는 안 된다. 본 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 명확하게 설명하기 위해서 제공되어지는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어진 것이다.The embodiments of the present invention may be modified in various forms, and the scope of the present invention should not be construed as being limited by the embodiments described below. This embodiment is provided to explain more clearly the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the shape of the elements in the drawings and the like are exaggerated to emphasize a clearer description.
(실시예)(Example)
이하, 본 발명에 따른 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 4는 본 발명의 자기장 측정 장치를 보여주는 도면이고, 도 5는 도 4의 자기장 측정 장치의 회로 구성을 보여주는 블록도이다.4 is a view showing a magnetic field measuring apparatus of the present invention, Figure 5 is a block diagram showing the circuit configuration of the magnetic field measuring apparatus of FIG.
도 4를 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 자기장 측정 장치는 홀 센서(hole sensor)(36)를 구비한 X-Y 플로터(30)와 자기장 측정 제어기(40)로 구성된다. 홀 센서(36)는 X-Y 플로터(30)의 각 X-Y 이동축(32, 34)에 연결되어 자기장 측정 제어기(40)의 제어에 따라 해당되는 (X,Y) 좌표로 이동하며 자기장의 세기를 측정한다.Referring to FIG. 4, the magnetic field measuring device according to the preferred embodiment of the present invention is composed of an X-Y plotter 30 having a hole sensor 36 and a magnetic field measuring controller 40. Hall sensor 36 is connected to each of the XY moving axis (32, 34) of the XY plotter 30 is moved to the corresponding (X, Y) coordinates under the control of the magnetic field measurement controller 40 to measure the strength of the magnetic field do.
자기장 측정 제어기(40)는 일반적인 개인용 컴퓨터로 구성될 수 있으며 마이크로프로세서와 메모리를 구비한 산업용 컴퓨터로도 구성될 수 있다. 자기장 측정 제어기(40)는 측정하고자 하는 (r, θ) 좌표 값을 대응되는 (X, Y) 좌표 값으로 변환하여 X-Y 플로터(30)로 제공한다.The magnetic field measurement controller 40 may be configured as a general personal computer, or may be configured as an industrial computer having a microprocessor and a memory. The magnetic field measurement controller 40 converts the (r, θ) coordinate values to be measured into corresponding (X, Y) coordinate values and provides them to the X-Y plotter 30.
도 5를 참조하여, 자기장 측정 제어기(40)는 입력부(44), 좌표 환산부(42), 자기장 검출부(46), 대용량 저장 장치(48)를 포함하여 구성된다. 좌표 환산부(42)는 (r, θ)좌표를 대응하는 (X, Y)좌표로 환산하기 위한 좌표 변환 테이블(43)을 구비한다.Referring to FIG. 5, the magnetic field measurement controller 40 includes an input unit 44, a coordinate conversion unit 42, a magnetic field detection unit 46, and a mass storage device 48. The coordinate conversion unit 42 includes a coordinate conversion table 43 for converting the (r, θ) coordinates into corresponding (X, Y) coordinates.
자기장 측정 제어기(40)는 먼저 입력부를 통해 (r, θ) 좌표값을 입력받고, 입력된 (r, θ) 좌표값을 좌표 변환 테이블(43)을 이용하여 (X, Y) 좌표값으로 변환하여 X-Y 플로터(30)로 제공한다.The magnetic field measurement controller 40 first receives (r, θ) coordinate values through an input unit, and converts the input (r, θ) coordinate values into (X, Y) coordinate values using the coordinate conversion table 43. To the XY plotter 30.
X-Y 플로터(30)의 X-Y 플로터 구동기(38)는 자기장 측정 제어기(40)로부터 제공되는 (X, Y) 좌표값에 따라 홀 센서(36)의 위치를 이동시켜 해당되는 위치에서의 자기장 세기를 측정한다. 측정된 자기장 세기 데이터는 자기장 측정제어기(40)의 자기장 검출부(46)로 제공된다. 자기장 검출부(46)는 좌표 환산부(42)로부터 현재 측정된 위치의 (r, θ) 좌표값을 제공받고 홀센서(36)에 의해 측정된 자기장의 세기 데이터를 저장 해당되는 (r, θ) 좌표값의 자기장 세기로 저장 장치(48)에 저장한다.The XY plotter driver 38 of the XY plotter 30 moves the position of the hall sensor 36 according to the (X, Y) coordinate values provided from the magnetic field measurement controller 40 to measure the magnetic field strength at the corresponding position. do. The measured magnetic field strength data is provided to the magnetic field detector 46 of the magnetic field measuring controller 40. The magnetic field detector 46 receives the (r, θ) coordinate values of the current measured position from the coordinate conversion unit 42 and stores the intensity data of the magnetic field measured by the Hall sensor 36 corresponding (r, θ). The magnetic field strength of the coordinate value is stored in the storage device 48.
상술한 바와 같은, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 사이클로트론의 자기장 측정 장치 및 방법의 구성 및 동작을 상기한 설명 및 도면에 따라 도시하였지만, 이는 예를 들어 설명한 것에 불과하며 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화 및 변경이 가능하다는 것을 이 분야의 통상적인 기술자들은 잘 이해할 수 있을 것이다.Although the configuration and operation of the cyclotron magnetic field measuring apparatus and method according to the preferred embodiment of the present invention as described above are shown in accordance with the above description and drawings, these are merely described as examples and do not depart from the spirit of the present invention. It will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications can be made without departing from the scope of the present invention.
이상과 같은 본 발명에 의하면, 사이클로트론의 전자석의 사이즈 변화와 관계없이 다양한 사이즈에도 적용하여 사이클로트론의 자기장을 측정할 수 있다. 그러므로 사이클로트론의 전자석의 사이즈 변화에 따라 각기 자기장 측정 장치를 제조할 필요가 없다.According to the present invention as described above, the magnetic field of the cyclotron can be measured by applying to various sizes irrespective of the size change of the electromagnet of the cyclotron. Therefore, it is not necessary to manufacture a magnetic field measuring device in accordance with the size change of the cyclotron electromagnet.
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0016637A KR100387724B1 (en) | 2001-03-29 | 2001-03-29 | Apparatus and method for measuring magnetic field of cyclotron |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0016637A KR100387724B1 (en) | 2001-03-29 | 2001-03-29 | Apparatus and method for measuring magnetic field of cyclotron |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020076640A true KR20020076640A (en) | 2002-10-11 |
KR100387724B1 KR100387724B1 (en) | 2003-06-18 |
Family
ID=27699208
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2001-0016637A KR100387724B1 (en) | 2001-03-29 | 2001-03-29 | Apparatus and method for measuring magnetic field of cyclotron |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100387724B1 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100723010B1 (en) * | 2006-02-15 | 2007-05-29 | 한국원자력연구원 | Device for measuring radiation beam profile |
WO2010076980A2 (en) * | 2008-12-31 | 2010-07-08 | Korea Institute Of Radiological & Medical Sciences | Magnetic field profile measuring apparatus for electromagnet of closed-type cyclotron |
KR101463042B1 (en) * | 2013-06-28 | 2014-12-04 | 군산대학교산학협력단 | Apparatus for estimating the center position of the magnetic field and method thereof |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101331074B1 (en) | 2012-07-26 | 2013-11-19 | 성균관대학교산학협력단 | Magnetic field profile measuring apparatus for electromagnet of cyclotron |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4868500A (en) * | 1988-06-08 | 1989-09-19 | Phillips Petroleum Company | Method for determining properties of liquid-containing porous media using nuclear magnetic resonance imaging |
KR100286648B1 (en) * | 1998-12-21 | 2002-02-28 | 홍상복 | Three-dimensional shape detection method |
JP2001083224A (en) * | 1999-09-16 | 2001-03-30 | Ddi Corp | Method and apparatus for measuring magnetic field |
KR100357526B1 (en) * | 2000-03-14 | 2002-10-19 | 한국원자력연구소 | Magnetic measuring device of cyclotron electromagnet |
KR100357527B1 (en) * | 2000-03-14 | 2002-10-19 | 한국원자력연구소 | Method for measuring magnetic flux of cyclotron using vxibus system |
-
2001
- 2001-03-29 KR KR10-2001-0016637A patent/KR100387724B1/en active IP Right Grant
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100723010B1 (en) * | 2006-02-15 | 2007-05-29 | 한국원자력연구원 | Device for measuring radiation beam profile |
WO2010076980A2 (en) * | 2008-12-31 | 2010-07-08 | Korea Institute Of Radiological & Medical Sciences | Magnetic field profile measuring apparatus for electromagnet of closed-type cyclotron |
WO2010076980A3 (en) * | 2008-12-31 | 2010-09-23 | Korea Institute Of Radiological & Medical Sciences | Magnetic field profile measuring apparatus for electromagnet of closed-type cyclotron |
KR101463042B1 (en) * | 2013-06-28 | 2014-12-04 | 군산대학교산학협력단 | Apparatus for estimating the center position of the magnetic field and method thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100387724B1 (en) | 2003-06-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6433494B1 (en) | Inductional undulative EH-accelerator | |
CN100359993C (en) | Charged particle accelerator | |
KR100442990B1 (en) | Systems and Methods for Generating Nested Static and Time-Varying Magnetic Fields | |
US5748063A (en) | Generating highly uniform electromagnetic field characteristics | |
US20130043403A1 (en) | System, apparatus and method for deflecting a particle beam | |
JP5903864B2 (en) | Ion milling equipment | |
WO1996013045A9 (en) | Generating highly uniform electromagnetic field characteristics | |
TW463534B (en) | Method and system of reducing axial beam focusing | |
Smith et al. | Evaluation of electron beam deflections across a solenoid using Weber-Ritz and Maxwell-Lorentz electrodynamics | |
Saitoh et al. | TIARA electrostatic accelerators for multiple ion beam application | |
KR100387724B1 (en) | Apparatus and method for measuring magnetic field of cyclotron | |
US2736799A (en) | Focussing system for ions and electrons | |
Swain et al. | Laser-cluster interaction in an external magnetic field: Emergence of a nearly monoenergetic weakly relativistic electron beam | |
USH1615H (en) | Magnetic fields for chiron wigglers | |
Lynn et al. | Observation of skewed electromagnetic wakefields in an asymmetric structure driven by flat electron bunches | |
Pasour et al. | Electron drift in a linear magnetic wiggler with an axial guide field | |
WO2016124269A1 (en) | An undulator | |
Voznyi et al. | System for measuring emittance characteristics of ion sources | |
KR100357526B1 (en) | Magnetic measuring device of cyclotron electromagnet | |
JP2001338800A (en) | Neutron generator | |
KR101470521B1 (en) | Cyclotron apparatus | |
CN114496714B (en) | Three-dimensional ion ensemble micron-sized morphology regulation and control method | |
KR101378385B1 (en) | Cyclotron apparatus | |
US6403954B1 (en) | Linear filter | |
WO2024068600A1 (en) | Quantum computing arrangement and quantum computer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130327 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140303 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160428 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170329 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170802 Year of fee payment: 18 |