KR20020069454A - Apparatus for loop back test in interface port - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A device for testing a loopback of an interface port is provided to perform a loopback test by performing an open short of control signals to be looped back simply when a loopback of an interface port is tested in a communication system. CONSTITUTION: An internal loopback device(20) which is tri-state buffer(21) performs a control operation in accordance with a communication protocol supplied in a CPU or a controller, loops TXCLK, TXD, RTS, CD, RXCLK, RXD, CTS, and GND signals of the controller, and checks an operation status. An external loopback device(30) which is tri-state buffer(31) performs a loopback of TXCLK, TXD, RTS, CD, RXCLK, RXD, CTS, GND signals, and a control signal to DTXCLX, DTXD, DRTS, DCD, DRXCLK, DRXD, and DCTS control signals of a line driver which influences an external matching in accordance with a communication protocol supplied in the CPU or the controller, and checks an operation status of the line driver.

Description

인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치{APPARATUS FOR LOOP BACK TEST IN INTERFACE PORT}Loopback test device for interface port {APPARATUS FOR LOOP BACK TEST IN INTERFACE PORT}

본 발명은 인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 전자, 통신 시스템에서 인터페이스 포트의 송수신 상태를 시험하는 루프백 테스트를 3 상 버퍼(TRI-STATE BUFFER)로 편리하고 안정되게 테스트 할 수 있도록 한 인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a loopback test apparatus for an interface port. More specifically, the loopback test for testing the transmission / reception status of an interface port in an electronic and communication system can be conveniently and stably tested with a three-phase buffer (TRI-STATE BUFFER). To one loopback test device.

일반적으로 전자, 통신 시스템의 라인 인터페이스 포트에서는 각 채널에서의 루프백 테스트가 필요하게 되는데, 이때 루프백 테스트를 하는 장치는 도 1 에 도시한 바와 같이, 통상적으로 하드웨어적으로 구성되게 된다.In general, a loopback test on each channel is required at a line interface port of an electronic or communication system. In this case, the apparatus for performing the loopback test is generally hardware-configured, as shown in FIG. 1.

그 이유는 루프백 테스트 장치의 구현이 그 만큼 간단하고 비용면에서도 저렴한 장점이 있기 때문이다.The reason for this is that the implementation of the loopback test device is as simple and inexpensive as possible.

이와 같이 하드웨어적으로 구성되는 루프백 테스트 장치는 통신장치의 보드 내부나 백보드 상에 인터페이스 포트를 제어하는 신호선인 TXCLK, TXD, RTS,CD, RXCLK, RXD, CTS, GND가 배치되는 헤더(header)와, 상기 신호선을 각각 연결하는 션트(shunt)로 구성하여 상기 션트를 헤더에 삽입 또는 분리하는 것으로 인터페이스 포트의 루프백 테스트를 하게 된다.The hardware-configured loopback test apparatus includes a header in which the signal lines TXCLK, TXD, RTS, CD, RXCLK, RXD, CTS, and GND, which control interface ports, are disposed on the board or the back board of the communication device. The loopback test of the interface port is performed by inserting or removing the shunt into a header by configuring a shunt connecting the signal lines, respectively.

그러므로 상기 루프백 테스트시 항상 시험자가 테스트하고자 하는 해당 보드를 장치로 부터 분리한 후, 션트를 삽입해야 하는가 하면, 보드 분리시 전원을 오프해야 하므로 해당 보드 이외의 보드들도 동작이 정지되는 문제점이 있는가 하면, 상기 션트는 루프백 시험시에만 사용하게 되므로 시험을 하지 않을 경우 분실의 위험성이 있다.Therefore, during the loopback test, should the tester always remove the corresponding board from the device and insert a shunt, or do the boards other than the board stop working because power must be turned off when removing the board? In this case, since the shunt is used only for the loopback test, there is a risk of loss if the test is not performed.

뿐만 아니라, 상기 헤더의 각 제어선들의 핀 길이가 다른 부품의 높이 보다 길어 운반이나 이동시 부주의에 의하여 각 핀이 휘어져 실제 테스트시 정작 필요로 하는 동작을 수행하지 못하는 문제점을 가지게 되었다.In addition, since the length of the pins of the control lines of the header is longer than the height of other components, each pin is bent due to carelessness during transportation or movement, thereby failing to perform an operation required for the actual test.

따라서 본 발명의 목적은 전자, 통신시스템에서 인터페이스 포트의 루프백테스트시 루프백시켜야 할 제어신호들을 간편하게 오픈 쇼트시켜서 가면서 루프백 테스트를 수행할 수 있도록 하고자 하는데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to enable a loopback test while simply opening and shorting control signals to be looped back when performing an interface port loopback test in an electronic or communication system.

상기의 목적을 실현하기 위하여 본 발명은 전자,통신 시스템의 인터페이스 포트에 내부 혹은 외부로 부터 기설정된 프로그램에 의하여 인가되는 제어신호에 따라 입력이 그대로 출력되거나 혹은 고 임피던스 상태를 유지하여 아무런 신호가 출력되지 않은 3 상 버퍼를 구성하여 상기 송수신 데이터를 루프백시켜 테스트하도록 한 것을 특징으로 한다.In order to realize the above object, according to the present invention, an input is output as it is or according to a control signal applied by a predetermined program from the inside or the outside to an interface port of an electronic or communication system, or any signal is output by maintaining a high impedance state. It is characterized in that the three-phase buffer that is not configured to loop back and test the transmission and reception data.

도 1 은 종래 인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치의 구성도1 is a block diagram of a loopback test apparatus of a conventional interface port

도 2 는 본 발명 인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치의 블럭도Figure 2 is a block diagram of a loopback test apparatus of the present invention interface port

도 3 은 본 발명 인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치의 회로도3 is a circuit diagram of a loopback test apparatus of an interface port of the present invention;

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명** Explanation of symbols for the main parts of the drawings *

CONTROLLER; 콘트롤러 LINE DRIVER; 라인 드라이버CONTROLLER; Controller LINE DRIVER; Line driver

20; 내부 루프백 장치 21; 3 상버퍼20; Internal loopback device 21; 3 phase buffer

30; 외부 루프백 장치 31; 3 상버퍼30; External loopback device 31; 3 phase buffer

INV1,INV2; 인버터 BUF1-BUF3; 버퍼INV1, INV2; Inverter BUF1-BUF3; buffer

이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부되는 도면에 의거 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, described in detail with reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present invention.

도 2 는 본 발명 인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치의 블럭도 이고, 도 3 은 본 발명 인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치의 회로도 로서, 중앙처리장치(cpu)혹은 콘트롤러(controller)에서 제공해주는 통신 프로토콜에 따라 제어동작하면서 상기 콘트롤러(controller)의 TXCLK, TXD, RTS, CD, RXCLK, RXD, CTS,GND 신호들을 루프시켜 동작 상태를 확인하는 3 상 버퍼(21)인 내부 루프백장치(20)와; 상기 중앙처리장치(cpu)혹은 콘트롤러(controller)에서 제공해주는 통신 프로토콜에 따라 TXCLK, TXD, RTS, CD, RXCLK, RXD, CTS, GND 신호 그리고 제어신호를 외부 정합에 영향을 주는 라인 드라이버(line driver)의 DTXCLK, DTXD, DRTS, DCD, DRXCLK, DRXD, DCTS 제어신호를 루프백하여 라인 드라이버(line driver)의 동작상태를 확인하는 3 상 버퍼(31)인 외부 루프백장치(30)로 분리 구성하게 된다.2 is a block diagram of a loopback test apparatus of an interface port of the present invention, and FIG. 3 is a circuit diagram of a loopback test apparatus of an interface port of the present invention, and is controlled according to a communication protocol provided by a CPU or a controller. An internal loopback device (20) which is a three-phase buffer (21) which loops through the TXCLK, TXD, RTS, CD, RXCLK, RXD, CTS, and GND signals of the controller and checks the operation state; A line driver that affects external matching of TXCLK, TXD, RTS, CD, RXCLK, RXD, CTS, GND signals and control signals according to the communication protocol provided by the CPU or controller. The loopback of the DTXCLK, DTXD, DRTS, DCD, DRXCLK, DRXD, and DCTS control signals is used to separate the external loopback device 30, which is a three-phase buffer 31 that checks the operation status of the line driver. .

상기 내부 루프백 장치(20)와 외부 루프백 장치(30)을 선택적으로 활성화 및 비활성화를 제어하는 콘트롤신호(CONTROL1)를 제어하는 인버터(INV1)와; 외부 루프백장치(30)는 내부 송신클럭(DITXCLK)을 사용할 것인지, 외부에서 입력되는 송신클럭(DOTXCLK)을 사용할 것인지를 선택 제어하는 콘트롤신호(CONTROL2)를 반전시키는 인버터(INV2)와, 상기 내부 또는 외부에서 입력되는 송신 클럭(DOTXCLK)을 완충하는 버퍼(BUF1)(BUF2)(BUF3)로 구성되게 된다.An inverter INV1 for controlling a control signal CONTROL1 for selectively activating and deactivating the inner loopback device 20 and the outer loopback device 30; The external loopback device 30 includes an inverter INV2 for inverting a control signal CONTROL2 for selecting whether to use an internal transmission clock DITXCLK or an externally input transmission clock DOTXCLK, and the internal or external inverter. The buffer BUF1, BUF2, and BUF3 buffer the transmission clock DOTXCLK.

상기와 같이 구성되는 본 발명은 콘트롤러(CONTROLLER)와 라인 드라이버(LINE DRIVER)로 구성되는 인터페이스 보드에서 상기 콘트롤러(CONTROLLER)의 송신데이터(TXD), 요구제어신호(RTS), 송신클럭신호(TXCLK), 접지(CD)와 수신데이터(RXD), 해제 제어신호(CTS), 수신클럭신호(RXCLK), 접지(GND)가 연결되는 내부 루프백(20)인 3 상 버퍼(21)를 장착하고, 상기 콘트롤러(CONTROLLER)를 통해서 제어신호 레벨 및 외부 정합에 영향을 주는 라인 드라이버(LINE DRIVER)의 드라이버 송신데이터(DTXD), 드라이버 요구제어신호(DRTS), 드라이버 송신클럭(DTXCLK), 드라이버 접지(DCD)와 드라이버 수신데이터(DRXD), 드라이버 해제 제어신호(DCTS), 드라이버 수신클럭(DRXCLK), 드라이버 접지(GND)가 연결되는 외부 루프백(30)인 3 상 버퍼(31)를 장착한다.According to the present invention configured as described above, the transmission data TXD, the request control signal RTS, and the transmission clock signal TXCLK of the controller in the interface board composed of a controller and a line driver. And a three-phase buffer 21 which is an internal loopback 20 to which ground CD and receive data RXD, release control signal CTS, receive clock signal RXCLK, and ground GND are connected. Driver transmission data (DTXD), driver request control signal (DRTS), driver transmission clock (DTXCLK), and driver ground (DCD) of the line driver that influence the control signal level and external matching through the controller. And a three-phase buffer 31 that is an external loopback 30 to which the driver reception data DRXD, the driver release control signal DCTS, the driver reception clock DRXCLK, and the driver ground GND are connected.

이와 같이 콘트롤러(CONTROLLER)와 라인 드라이버(LINE DRIVER)에 내부 루프백장치(20)와 외부 루프백장치(30)각각 장착한 상태에서, 먼저 내부 루프백 테스트를 하고자 할 경우, 상기 콘트롤신호(CONTROL1)를'0'을 인가하게 되고, 이 '0'신호는 3 상 버퍼(21)의 출력 인에이블(OE1,OE2)에 인가되어 상기 3 상 버퍼(21)를 활성화시켜 주고, 반면에 상기 '0' 은 외부 루프백 장치(30)의 3 상 버퍼(31)에 인버터(INV1)를 통해서 반전된 '1'이 출력 인에이블 단자(OE1,OE2)에 인가되게 되어 상기 외부 루프백 장치(30)는 비활성화 되게 된다.As such, when the internal loopback device 20 and the external loopback device 30 are mounted in the controller and the line driver, the control signal CONTROL1 is' '0' is applied to the output enable (OE1, OE2) of the three-phase buffer 21 to activate the three-phase buffer 21, while the '0' is Inverted '1' through the inverter INV1 to the three-phase buffer 31 of the external loopback device 30 is applied to the output enable terminals OE1 and OE2 so that the external loopback device 30 is deactivated. .

그러므로 상기 내부 루프백 장치(20)만 활성화 되게 되어 상기 콘트롤러(CONTROLLER)의 송신데이터(TXD), 요구제어신호(RTS), 송신클럭신호(TXCLK), 접지(CD)와 수신데이터(RXD), 해제 제어신호(CTS), 수신클럭신호(RXCLK), 접지(GND)를 서로 연결시켜 주게 된다.Therefore, only the inner loopback device 20 is activated, so that the transmit data TXD, the request control signal RTS, the transmit clock signal TXCLK, the ground CD and the receive data RXD, and release of the controller CONTROLLER are released. The control signal CTS, the receive clock signal RXCLK, and the ground GND are connected to each other.

따라서 상기 콘트롤러(CONTROLLER)의 송신데이터(TXD)는 3 상 버퍼(21)를 통해서 수신 데이터(RXD)로 수신되게 되고, 상기 콘트롤러(CONTROLLER)에서는 이 수신된 데이터가 송신데이터와 같은 가를 비교하여 같으면 루프백이 정상임을 판단하게 된다.Therefore, the transmission data TXD of the controller is received as the reception data RXD through the three-phase buffer 21, and in the controller CONTROLLER compares whether the received data is the same as the transmission data. The loopback is determined to be normal.

이때 데이터 송수신은 내부의 송신 클럭신호(TXCLK), 수신 클럭신호(RXCLK)에 의하여 이루어지게 되고, 상기 통신 포트 제어신호인 요구제어신호(RTS)에서는 송신 데이터(TX)가 발생했을 때 수신단에 알려주는 데이타 송신을 알려 주게 되며, 해제 제어신호(CTS)에서는 수신단에서 수신준비가 완료되면 송신단에 알려 데이터를 송수신하도록 한다.In this case, data transmission and reception is performed by an internal transmission clock signal TXCLK and a reception clock signal RXCLK. The request control signal RTS, which is the communication port control signal, informs the receiving end when transmission data TX is generated. Informs the data transmission, and in the release control signal (CTS) to notify the transmitting end when the receiving end is completed to send and receive data.

한편 상기 외부 루프백 장치(30)를 테스트하고자 할 경우, 상기 콘트롤신호(CONTROL1)를'1'을 인가하게 되고, 이 '1' 신호는 3 상 버퍼(21)의 출력 인에이블(OE1,OE2)에 인가되어 상기 3 상 버퍼(21)를 비활성화시켜 주고, 반면에상기 '1' 은 외부 루프백 장치(30)의 3 상 버퍼(31)에 인버터(INV1)를 통해서 반전된 '0'이 출력 인에이블 단자(OE1,OE2)에 인가되게 되어 상기 외부 루프백 장치(30)는 활성화되게 된다.On the other hand, when the external loopback device 30 is to be tested, the control signal CONTROL1 is applied with '1', and the '1' signal is enabled for the output of the three-phase buffer 21 (OE1 and OE2). Is applied to deactivate the three-phase buffer 21, whereas the '1' is the output '0' inverted through the inverter INV1 to the three-phase buffer 31 of the external loopback device 30. The external loopback device 30 is activated by being applied to the enable terminals OE1 and OE2.

그러므로 상기 외부 루프백 장치(30)만 활성화 되게 되어 상기 콘트롤러(CONTROLLER)의 송신데이터(TXD), 요구제어신호(RTS), 송신클럭신호(TXCLK), 접지(CD)는 라인 드라이버(LINE DRIVER)의 드라이버 송신데이터(DTXD), 드라이버 수신 데이터(DRXD), 드라이버 송신클럭(DTXCLK), 드라이버 수신클럭(DRXCLK), 드라이버 요구제어신호(DRTS), 드라이버 해제 제어신호(DCTS), 드라이버 접지(DCD),접지(GND)를 서로 연결시켜 주게 된다.Therefore, only the external loopback device 30 is activated so that the transmission data TXD, the request control signal RTS, the transmission clock signal TXCLK, and the ground CD of the controller are connected to the line driver. Driver transmission data (DTXD), driver reception data (DRXD), driver transmission clock (DTXCLK), driver reception clock (DRXCLK), driver request control signal (DRTS), driver release control signal (DCTS), driver ground (DCD), Ground (GND) is connected to each other.

따라서 상기 콘트롤러(CONTROLLER)의 드라이버 송신데이터(DTXD)는 3 상 버퍼(31)를 통해서 수신되는 드라이버 수신 데이터(RXD)를 송신데이터와 같은가를 비교하여 같으면 루프백이 정상임을 판단하게 된다.Accordingly, if the driver transmission data DTXD of the controller is equal to the transmission data by comparing the driver reception data RXD received through the three-phase buffer 31 with each other, it is determined that the loopback is normal.

이때 라인 드라이버(LINE DRIVER)데이터 송수신은 내부 송신 클럭신호(DITXCLK)와 외부 송신 클럭신호(DOTXCLK)에 의하여 이루어지게 된다.At this time, the line driver data transmission and reception is performed by the internal transmission clock signal DITXCLK and the external transmission clock signal DOTXCLK.

따라서 상기 내부 송신 클럭신호(DITXCLK)는 중앙처리장치(CPU) 혹은 콘트롤러(CONTROLLER)내부에서 제공되어지는 클럭이고, 외부 송신 클럭신호(DOTXCLK)는 상기 중앙처리장치(CPU) 혹은 콘트롤러(CONTROLLER)에서 제공되는 것이 아닌 외부 발진기(OSCILLATOR)에서 제공되는 클럭에 의하여 이루어지게 된다.Accordingly, the internal transmission clock signal DITXCLK is a clock provided from the CPU or the controller, and the external transmission clock signal DOTXCLK is from the CPU or the controller. This is achieved by a clock provided by an external oscillator.

그러므로 상기 라인 드라이버(LINE DRIVER)의 루프백 시험시 콘트롤신호(CONTROL2)가 'O' 이면, 상기 'O' 신호는 버퍼(BUF2)(BUF3)를 활성화시키는 반면에 버퍼(BUF1)는 인버터(INV2)에 의하여 반전된 신호'1' 가 인가되게 되어 비활성화가 되게 되므로 상기 3 상 버퍼(31)에는 외부 송신 클럭신호(DOTXCLK)가 인가되고 이 외부 송신 클럭신호(DOTXCLK)은 드라이버 수신 클럭(DRXCLK)와 연결되어 루프백을 테스트하게 된다.Therefore, when the control signal CONTROL2 is 'O' during the loopback test of the line driver, the 'O' signal activates the buffers BUF2 and BUF3 while the buffer BUF1 is the inverter INV2. Since the inverted signal '1' is applied and inactivated, an external transmission clock signal DOTXCLK is applied to the three-phase buffer 31 and the external transmission clock signal DOTXCLK is connected to the driver reception clock DRXCLK. It will connect and test the loopback.

한편 상기 콘트롤신호(CONTROL2)가 '1' 이면, 상기 '1' 신호는 버퍼(BUF2)Meanwhile, when the control signal CONTROL2 is '1', the '1' signal is a buffer BUF2.

(BUF3)를 비활성화시키는 반면에, 상기 버퍼(BUF1)는 인버터(INV2)에 의하여 반전된 신호'0'가 인가되게 되어 활성화가 되게 되므로. 상기 3 상 버퍼(31)에는 내부 송신 클럭신호(DITXCLK)가 인가되고 이 내부 송신 클럭신호(DITXCLK)는 드라이버 수신 클럭(DRXCLK)와 연결되어 루프백을 테스트가 이루어지게 되는 것이다.While the buffer BUF3 is inactivated, the buffer BUF1 is activated because the signal '0' inverted by the inverter INV2 is applied. The internal transmission clock signal DITXCLK is applied to the three-phase buffer 31, and the internal transmission clock signal DITXCLK is connected to the driver reception clock DRXCLK to test the loopback.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 전자,통신 시스템의 인터페이스 송수신 포트에 내부 혹은 외부로 부터 기설정된 프로그램에 의하여 인가되는 제어신호에 따라 입력이 그대로 출력되거나 혹은 고 임피던스 상태를 유지하여 아무런 신호가 출력되지 않은 3 상 버퍼를 구성하여 상기 송수신 데이터를 루프백시켜 테스트하도록 함으로써, 상기 하드웨어에 의한 루프백 테스트가 아닌, 소프트웨어에 의하여 신호들을 간편하게 오픈 쇼트시켜서 가면서 루프백 테스트를 수행할 수 있는 효과를 제공하게 되는 것이다.As described above, according to the present invention, the input is output as it is or according to a control signal applied by a preset program from the inside or the outside to the interface transmission / reception port of the electronic or communication system, or no signal is output by maintaining the high impedance state. By configuring a three-phase buffer that is not configured to loop back and test the transmitted / received data, a loopback test can be performed while the signals are easily open shorted by software instead of the loopback test by the hardware.

Claims (5)

전자,통신 시스템의 인터페이스 포트를 루프 백 테스트하는 루프백 테스트 장치에 있어서, 상기 인터페이스 포트에 입력되는 신호를 그대로 출력되거나 고 임피던스 상태를 유지하여 아무런 신호가 출력되지 않은 3 상 버퍼를 구성하여서 된 것을 특징으로 하는 인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치.A loopback test apparatus for loopback testing an interface port of an electronic or communication system, wherein the signal input to the interface port is output as it is or a high-impedance state is configured to configure a three-phase buffer in which no signal is output. Loopback tester on the interface port. 제 1 항에 있어서, 상기 3 상 버퍼는 콘트롤러의 송신데이타를 루프백하는 내부 루프 백 장치와; 콘트롤러로 부터 송신데이터를 라인 드라이버를 통해서 출력되는 드라이버 송신데이터를 루프백하는 외부 루프백 장치로 분리 구성하여서 된 것을 특징으로 하는 인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치.The apparatus of claim 1, wherein the three-phase buffer comprises: an inner loop back device for looping back transmission data of a controller; A loopback test device for an interface port, characterized in that the transmission data from the controller is separated into an external loopback device that loops back the driver transmission data output through the line driver. 제 2 항에 있어서, 상기 내부 루프백 장치와 외부 루프백 장치는 콘트롤 신호에 의하여 선택적으로 활성화되도록 구성하여서 된 것을 특징으로 하는 인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치.The apparatus of claim 2, wherein the inner loopback device and the outer loopback device are configured to be selectively activated by a control signal. 제 3 항에 있어서, 상기 내부 루프백 장치와 외부 루프백 장치의 선택적 활성화는 인버터로 반전 구동되도록 구성하여서 된 것을 특징으로 하는 인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치.4. The loopback test apparatus of claim 3, wherein the selective activation of the inner loopback device and the outer loopback device is configured to be invertedly driven by an inverter. 제 2 항에 있어서, 상기 외부 루프백 장치는 내부 클럭신호와 외부 클럭신호에 의하여 선택적으로 송신데이타가 루프백되도록 구성하여서 된 것을 특징으로 하는 인터페이스 포트의 루프백 테스트 장치.3. The loopback test apparatus of claim 2, wherein the external loopback device is configured such that transmission data is selectively looped back by an internal clock signal and an external clock signal.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104111885A (en) * 2013-04-22 2014-10-22 腾讯科技(深圳)有限公司 Method and device for verifying interface test results
CN112269120A (en) * 2020-11-05 2021-01-26 深圳市广和通无线股份有限公司 Interface signal loop test method and device, computer equipment and storage medium

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104111885A (en) * 2013-04-22 2014-10-22 腾讯科技(深圳)有限公司 Method and device for verifying interface test results
CN104111885B (en) * 2013-04-22 2017-09-15 腾讯科技(深圳)有限公司 The method of calibration and device of interface testing result
CN112269120A (en) * 2020-11-05 2021-01-26 深圳市广和通无线股份有限公司 Interface signal loop test method and device, computer equipment and storage medium

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