KR200188939Y1 - Testing apparatus of dial gauge - Google Patents
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Abstract
본 고안은 다이일게이지(5)의 오차를 신속 정확하게 검사하는 데에 사용되는 장치에 관한 것이다. 본 고안의 장치는 레이저를 이용한 정밀측정이 가능하게 된 것으로, 장치 본체(1) 하부의 정밀정반(2)상에 간섭계옵틱(25)과 기준코너큐브(30)가 조합 내장되고 레이저 빔(27)이 통과할 수 있도륵 레이저 빔 홀(23)이 형성된 간섬계옵틱 지지케이스(3)가 수명 설치된다. 상기 간섭계옵틱 지지케이스(3)의 수직상부에는 반사경 지지케이스(4)가 설치되고 이 반사경 지지케이스(4) 내부에는 반사경(22)이 내장되어 있다. 반사경 지지케이스(4)는 상하 작동 핸들(32)과 일체로 되어 있는 피니언기어(16)축에 연결되어져 있으며, 피니언기어(16)는 안내 빔 가이드(14)에 가공되어진 래크기어(15)와 맞물려 있어 핸들(32)을 회전 조작하면 반사경 지지케이스(4)가 상하로 이동되므로 길이의 변화가 레이저 디스플레이(10)에 카운트된다.The present invention relates to a device used to quickly and accurately check the error of the die gauge (5). The device of the present invention is capable of precise measurement using a laser, and the interferometer optic 25 and the reference corner cube 30 are combined in a laser beam 27 on the precision surface 2 under the device body 1. Hepatic optic support case (3) having a laser beam hole (23) formed thereon can pass through). A reflector support case 4 is installed in a vertical upper portion of the interferometer optical support case 3, and a reflector 22 is built into the reflector support case 4. The reflector support case 4 is connected to the pinion gear 16 shaft which is integrated with the vertical operation handle 32, and the pinion gear 16 is a rack gear 15 which is machined to the guide beam guide 14. When the handle 32 is rotated so that the reflector support case 4 is moved up and down, the change of the length is counted on the laser display 10.
검사대상 다이얼게이지(5)는 장치 본체(1) 전면 상부측에 홀더 지지플레이트(12)와 연결되어진 다이얼게이지 홀더(13)에 착탈가능하게 취부된다. 취부된 다이얼게이지(5)의 스핀들(6) 끝부분의 측정자(7)는 반사경 지지케이스(4) 상부에 부착된 정밀블록(17)에 접촉되어진다.The inspection target dial gauge 5 is detachably mounted to the dial gauge holder 13 connected to the holder support plate 12 on the front upper side of the apparatus main body 1. The measurer 7 at the end of the spindle 6 of the mounted dial gauge 5 is in contact with the precision block 17 attached to the reflector support case 4.
상기와 같이 정렬된 상태에서 레이저 헤드(9)에서 레이저 빔(27)을 발진시키고 핸들(32)을 조작하여 다이얼게이지(5)의 지침을 기준단위만큼 작동시켜 그때 레이저 디스플레이(10)에 나타나는 값으로 오차를 측정 검사할 수 있다.The laser beam 27 is oscillated in the laser head 9 in the aligned state as described above, and the handle 32 is operated to operate the instructions of the dial gauge 5 by a reference unit, and then the value displayed on the laser display 10. The error can be measured and checked.
Description
본 고안은 다이얼게이지 검사용 장치에 관한 것으로, 특히 고 정도의 레이저 간섭계를 이용하여 다이얼게이지의 오차를 짧은 시간에 정확하고 효율적으로 검사할 수 있도록 한 다이얼게이지 검사용 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a device for inspecting a dial gauge, and more particularly, to a device for inspecting a dial gauge that can accurately and efficiently inspect the error of a dial gauge in a short time using a high degree of laser interferometer.
종래의 다이얼게이지 검사용 장치는 제1도에서 도시된 바와 같이 도면상 좌측 고정대(55)에 지지대(51)(52)가 연결되어 다이얼게이지(50)를 상부 지지대(51)에 고정하고 하부 지지대에(52)에는 마이크로미터 헤드(53)를 수직으로 고정한 다음 상부측에 고정된 다이얼게이지 스핀들(60) 끝단의 측정자(61)를 하부에 취부되어진 마이크로미터 헤드(53)의 엔빌(59) 측정면과 접촉시킨 후 다이얼게이지(50) 눈금과 마이크로미터(53) 눈금을 0이 되도록 맞춘 다음 다이얼게이지 검사기준에 의거 다이얼게이지(50)의 지침이 일정 눈금에 가도록 하부에 취부된 마이크로미터 헤드(53)를 돌려서 맞춘 다음 마이크로미터 헤드(53)를 역으로 돌렸다 다시 다이얼게이지(50)의 측정 눈금에 일치시켰을때 마이크로미터 헤드(53)의 전면에 취부된 측정기의 눈금으로 오차를 검사도록 되어 있다.In the conventional dial gauge inspection apparatus, as shown in FIG. 1, the supports 51 and 52 are connected to the left holder 55 in the drawing to fix the dial gauge 50 to the upper support 51 and to the lower support. In the 52, the micrometer head 53 is vertically fixed, and then the anvil 59 measurement of the micrometer head 53 mounted at the lower part of the dial gauge spindle 60 fixed to the upper side is mounted. After making contact with the surface, adjust the scale of the dial gauge 50 and the scale of the micrometer 53 to be 0, and then, based on the dial gauge inspection criteria, the micrometer head mounted on the lower part so that the instructions of the dial gauge 50 reach a certain scale. 53), turn the micrometer head 53 in reverse, and when it matches the measurement scale of the dial gauge 50 again, the error is checked by the scale of the measuring instrument mounted on the front of the micrometer head 53. There.
그러나 상기와 같은 종래의 장치는 그 검사과정이 지나치게 복잡다단하여 검사가 번잡 난해하고 시간이 오래 걸리면서 검사 정밀도가 떨어지는 문제점을 지니고 있다.However, the conventional apparatus as described above has a problem that the inspection process is too complicated, so that inspection is difficult and time-consuming, and inspection accuracy is low.
또한, 제2도에 도시된 바와 같은 또 다른 종래의 장치는 석정반(104) 위에 다이얼게이지(100)를 고정할 수 있는 지지스탠드(101)를 고정시키고 다이얼게이지(100)를 고정용 귓살(102)로 지지스탠드(101)와 체결 고정시키고 다이얼게이지(100)의 스핀들(106) 끝부분의 측정자(107)를 석정반(104) 표면에 0점을 맞춘 다음 다이얼게이지(100)의 측정 눈금에 따라 게이지블록(103)을 조합 밀착시킨 다음 다이얼게이지(100)의 스핀들(106)을 손으로 올려 게이지블륵(103)의 표면에 접촉시켜 오차를 검사하도록 되어 있다.In addition, another conventional device as shown in Figure 2 is fixed to the support stand 101, which can fix the dial gauge 100 on the stone plate (104), and to fix the dial gauge 100 102 is fastened to the support stand 101 and the measuring instrument 107 at the end of the spindle 106 of the dial gauge 100 is set to zero on the surface of the stone plate 104, and then the measurement scale of the dial gauge 100 is measured. The gauge block 103 is in close contact with each other, and then the spindle 106 of the dial gauge 100 is raised by hand to contact the surface of the gauge block 103 to check for errors.
이러한 제2도의 장치는 사람이 게이지블록(103)을 인위적으로 조합 밀착시켜야 하며 그 과정에서 가장 주의해야 하는 온도의 영향으로 커다란 검사오차가 야기되는 불합리한 문제점이 있는 것이다.The apparatus of FIG. 2 has an unreasonable problem in that a person must artificially close and close the gauge block 103 and cause a large inspection error due to the temperature that needs to be paid most attention in the process.
따라서, 본 고안은 상기와 같은 종래의 검사 장치들의 제반 문제점을 감안하여 이를 해소하기 위해 고안한 것으로, 온도변화와 같은 측정환경의 영향에 따른 측정오차가 완전히 배제된 고 정도의 레이저 간섭계를 이용한 다이얼게이지 검사용 장치를 제공하여 다이얼게이지의 오차를 최대한 간편, 신속하게 그리고 정확하고 효율적으로 검사할 수 있도록 하려는 데에 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention was devised to solve the problems in view of the above-described conventional inspection apparatuses, and the dial using a high-precision laser interferometer is completely excluded from the measurement error caused by the influence of the measurement environment such as temperature change. The aim is to provide a gauge inspection device that allows for the simplest, fastest, accurate and efficient inspection of dial gauge errors.
제1도는 종래의 다이얼게이지 검사용 장치를 나타낸 정면도.1 is a front view showing a conventional dial gauge inspection device.
제2도는 종래의 다른 실시예의 다이얼게이지 검사용 장치를 나타낸 개략 측면도.2 is a schematic side view showing a device for inspecting a dial gauge of another conventional embodiment.
제3도는 본 고안의 사시도.3 is a perspective view of the present invention.
제4도는 본 고안의 측면도.4 is a side view of the present invention.
제5a도는 본 고안의 정면도.Figure 5a is a front view of the present invention.
제5b도는 본 고안에서 레이저 빔의 진행 경로를 나타낸 개략도.Figure 5b is a schematic diagram showing the path of the laser beam in the present invention.
제6a도는 본 고안에서 간섭계옵틱과 코너큐브가 내장되는 간섭계옵틱 지지케이스의 분해 사시도.Figure 6a is an exploded perspective view of the interferometer optic support case is built in the interferometer optics and corner cube in the present invention.
제6b도는 본 고안에서 반사경이 내강되는 반사경 지지케이스의 분해 사시도.Figure 6b is an exploded perspective view of the reflector support case that the reflector is luminescent in the present invention.
제7a도는 본 고안에서 반사경 지지케이스 작동부위의 발췌 평면도.Figure 7a is a plan view of the excerpt reflector support case operating part in the present invention.
제7b도는 본 고안에서 다이얼게이지 지지부위의 발췌 평면도.Figure 7b is a plan view of the excerpt of the dial gauge support portion in the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 장치 본체 2 : 정밀정반1: main body of device 2: precision plate
3 : 간섭계옵틱 지지케이스 4 : 반사경 지지케이스3: interferometer optical support case 4: reflector support case
5 : 다이얼게이지 6 : 다이얼게이지 스핀들5: dial gauge 6: dial gauge spindle
7 : 다이얼게이지 측정자 8 : 안내 가이드7: dial gauge measurer 8: a guide guide
9 : 레이저 헤드 10 : 디스플레이9: laser head 10: display
11 : 손잡이 12 : 지지플레이트11 handle 12 support plate
13 : 다이얼게이지 홀더 14 : 안내 빔 가이드13: dial gauge holder 14: guide beam guide
15 : 래크기어 16 : 피니언기어15: rack gear 16: pinion gear
17 : 정밀블록 18 : 반사경 지지케이스 홀더17: precision block 18: reflector support case holder
19 : 카플링 20 : 다이얼게이지 고정용 홀19: coupling 20: dial gauge fixing hole
21 : 다이얼게이지 고정용 볼트 22 : 반사경21: dial gauge fixing bolt 22: reflector
23 : 레이저빔 홀 24 : 간섭계옵틱 고정용 볼트23: laser beam hole 24: interferometer optic fixing bolt
25 : 간섭계 옵틱 26 : 레이저빔 홀25: interferometer optics 26: laser beam holes
27 : 레이저빔 28 : 지축모드조합옵틱27: laser beam 28: axis mode combination optics
29 : 반사경 고정용 볼트 30 : 기존코너큐브29: bolt for fixing the reflector 30: conventional corner cube
31 : 간섭계옵틱 조합용 볼트 32 : 핸들31: Interferometer optical combination bolt 32: Handle
33 : 핸들 작동홀33: handle operating hole
위와 같은 목적을 갖는 본 고안을 첨부된 도면에 의거 상세히 설명하면 다음 과 같다.The present invention having the above object will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
첨부도면중 제3도∼제7b도는 본 고안에 따른 검사 장치의 구성 빛 사용례를 도시한 것이다.3 to 7b of the accompanying drawings show a configuration light use example of the inspection apparatus according to the present invention.
여기에 도시된 바와 같이, 본 고안의 장치는 하부에 정밀정반(2)이 수명배치된 본체(1)와, 상기 정밀정반(2)상에 설치된 간섭계옵틱 지지케이스(3)와, 상기 간섭계옵틱 지지케이스(3) 직상부에 위치하여 상하로 승강가능하게 본체(1)에 결합설치된 반사경 지지케이스(4)와, 상기 반사경 지지케이스(4)를 상하로 승강조작 할수 있도록 본체(1)에 설치제공된 수단(14), (15), (16), (32)들과, 상기 반사경 지지케이스(4)상부에서 검사대상 다이얼게이지(5)를 지지할 수 있도록 본체(1)에 설치제공된 다이얼게이지 지지수단(12), (13), (20), (21)들과, 상기 간섭계옵틱 지지케이스(3)에 대하여 검사용 레이저를 조사할 수 있도록 구성된 레이저 헤드(9)와, 상기 레이저헤드(9)에 전기적으로 연결설치 되어 검사수치를 디스플레이하는 디스플레이(10)를 포함하는 구성으로 된다.As shown here, the device of the present invention has a body 1 with a precision table 2 disposed at the bottom, an interferometer optical support case 3 installed on the precision table 2, and the interferometer optics. Located in the upper portion of the support case (3), the reflector support case (4) coupled to the main body (1), which is capable of lifting up and down, and the reflector support case (4) is installed on the main body (1) to move up and down Provided means 14, 15, 16, 32, and a dial gauge provided on the main body 1 so as to support the dial gauge 5 to be inspected on the reflector support case 4 above. Support means 12, 13, 20, 21, a laser head 9 configured to irradiate a laser for inspection with respect to the interferometer optical support case 3, and the laser head ( 9) is electrically connected to the configuration is configured to include a display 10 for displaying the inspection value.
상기 간섭계옵틱 지지케이스(3)는 제6a도에 도시된 바와 같이 간섭계옵틱(25)과 기준코너큐브(30)를 조합구성된 지축모드조합옵틱(28)을 내장하고 그 일측부 및 상부에 레이저빔 홀(23)을 형성한 구성이다. 여기에서, 부호 24는 간섭계옵틱 고정용 볼트, 31은 간섭계옵틱 조합용 볼트를 각각 나타낸다.As shown in FIG. 6A, the interferometer optical support case 3 includes an axis mode combination optic 28 having a combination of an interferometer optic 25 and a reference corner cube 30, and a laser beam on one side and an upper portion thereof. It is the structure in which the hole 23 was formed. Here, reference numeral 24 denotes an interferometer optical fixing bolt, and 31 denotes an interferometer optical combination bolt.
상기 반사경 지지케이스(4)는 제6b도에 도시된 바와 같이 반사경(22)을 내장하고, 그 저부에 상기 간섭계옵틱 지지케이스(3) 상부의 레이저빔 홀(23)과 대응되는 레이저빔 홀(26)을 형성하고, 상부에는 정밀블록(17)을 수평설치한 구성이다.The reflector support case 4 includes a reflector 22 as shown in FIG. 6B, and a laser beam hole corresponding to the laser beam hole 23 on the upper part of the interferometer optical support case 3 at the bottom thereof. 26) and the precision block 17 is horizontally installed on the upper portion.
여기에서, 29는 반사경 고정용 볼트를 나타낸다.Here, 29 represents a reflector fixing bolt.
상기 반사경 지지케이스(4)를 상하로 승강시키는 수단들은 제4도, 제7a도에 도시된 바와 같이 핸들(32)과, 이 핸들(32)의 축 단부에 형성된 피니언기어(16)와 상기 피니언기어(16)와 맞물리는 래크기어(15)를 일측에 형성한 안내 빔 가이드(14)와, 일측에 반사경 지지케이스(4)를 결합지지하고 타측은 피니언기어(16)의 축에 연결되는 반사경 지지케이스 홀더(18)로 이루어져 있다.Means for elevating the reflector support case 4 up and down are handles 32, pinion gears 16 and pinions formed at shaft ends of the handles 32, as shown in FIGS. A guide beam guide 14 having a rack gear 15 meshing with the gear 16 and a reflector support case 4 coupled to and supported on one side thereof, and the other side connected to the shaft of the pinion gear 16. Reflector support case holder 18 is made.
상기 다이얼게이지 지지수단들은 제4도, 제7b도에 도시된 바와 같이 본체(1) 일측에 제공된 지지플레이트(12)와, 이 지지플레이트(12)에 고정설치된 다이얼게이지 홀더(13)로 이루어져 있다. 상기 다이얼게이지 홀더(13)의 단부에는 다이얼게이지 고정용 홀(20)과 다이얼게이지 고정용 볼트(21)가 제공되어 있다.The dial gauge supporting means includes a support plate 12 provided on one side of the main body 1 and a dial gauge holder 13 fixed to the support plate 12 as shown in FIGS. 4 and 7b. . At the end of the dial gauge holder 13, a dial gauge fixing hole 20 and a dial gauge fixing bolt 21 are provided.
도면중 부호6은 다이얼게이지 스핀들, 7은 다이얼게이지 측정자, 8은 안내가이드, 11은 손잡이, 19는 반사경 지지케이스 홀더(18)를 피니언기어(16)의 축에 연결시키는 카플링, 33은 핸들(32)의 상하작동을 위한 홀을 각각 나타낸다.In the drawing, reference numeral 6 is a dial gauge spindle, 7 is a dial gauge measurer, 8 is a guide guide, 11 is a handle, 19 is a coupling coupling connecting the reflector support case holder 18 to the shaft of the pinion gear 16, 33 is a handle ( 32) show holes for up and down operation respectively.
이러한 본 고안은 먼저 장치 본체(1) 하부의 정밀정반(2) 상에 레이저 빔(27)이 통과할 수 있는 홀(23)을 형성한 간섭계옵틱 지지케이스(3) 내부에 간섭계옵틱(25)과 기존코너큐브(30)가 도시된 예와 같이 조합취부되어 있고 그 상단에 수직대응 되게 반사경(22)을 내장한 반사경 지지케이스(4)는 홀더(18)에 연결되어 있으며 상하 조정 핸들(32)축과 일체로 되어 있는 피니언기어(16)는 반사경 지지케이스 홀더(18)와 결합된 안내 빔 가이드(14)위쪽의 래크기어(15)와 맞물려 있으므로 작동 핸들(32)을 돌리면 반사경 지지케이스(4)가 상하로 미세하게 승강 작동되며, 그 상부의 지지플레이트(12)에 설치된 다이얼게이지 홀더(13)의 고정용 홀(20)에 다이얼게이지(5)를 취부하되 다이얼게이지(15)의 스핀들(6) 끝부분의 측정자(7)가 반사경 지지케이스(4) 상부에 부착된 정밀블륵(17)에 접촉되도록 세팅한 다음 다이얼게이지(5)의 지침을 0이 되도록 핸들(32)을 돌려 맞춘 다음, 제5도에서와 같이 레이저 헤드(9) 및 디스플레이(10)를 작동시키면 레이저 빔(27)이 간섭계옵틱(25)과 반사경(22)을 통과하면서 길이의 값이 레이저 디스플에이(10)에 카운트된다.This invention devises an interferometer optic 25 inside an interferometer optical support case 3 in which a hole 23 through which a laser beam 27 can pass is formed on a precision surface 2 under a device body 1. And the existing corner cube 30 are combined and mounted as shown in the example shown, and the reflector support case 4 having the reflector 22 built therein to be vertically corresponding to the upper end thereof is connected to the holder 18 and the upper and lower adjustment handles 32 The pinion gear 16, which is integral with the shaft, is engaged with the rack gear 15 on the guide beam guide 14 coupled with the reflector support case holder 18, so that the reflector support case is turned by turning the operation handle 32. (4) is moved up and down finely, the dial gauge (5) is attached to the fixing hole (20) of the dial gauge holder (13) installed in the support plate (12) of the upper portion of the dial gauge (15) Precision baffle with the measuring part 7 at the end of the spindle 6 attached to the reflector support case 4 (17) and then turn the handle 32 so that the instructions of the dial gauge 5 are zero, then operate the laser head 9 and the display 10 as shown in FIG. While 27 passes through the interferometer optic 25 and the reflector 22, the value of the length is counted by the laser display 10. As shown in FIG.
이때, 디스플레이(10)에 디스플레이되는 값을 0으로 세팅 한 다음 핸들(32)을 돌려 다이얼게이지(5)의 지침을 정해진 검사기준 단위만큼 작동시키고 이때 나타나는 다이얼게이지(5)의 눈금에 따라 그때의 레이저 디스플레이(10)값을 읽어 검사기준에 의거 오차를 측정 검사한다. 정밀블록(17)은 다이얼게이지(5)의 측정자(7)가 정밀접촉되어 정밀한 측정을 가능하게 한다.At this time, the value displayed on the display 10 is set to 0, and then the handle 32 is rotated to operate the instructions of the dial gauge 5 by a predetermined inspection reference unit, and then according to the scale of the dial gauge 5 appearing at that time. The laser display 10 reads the value and measures the error based on the inspection standard. The precision block 17 allows the measuring member 7 of the dial gauge 5 to be in precise contact to enable precise measurement.
상술한 바와 같은 구성, 작용에 의해 본 고안은 짧은 시간 내에 다이얼게이지오차에 대한 정도높은 검사를 할 수 있으며, 레이저의 분해능이 0.01마이크로미터 단위이므로 다이얼게이지 외에 다이얼인디게이토나 다이얼컴파레이토, 전기마이크로미터, 리니어게이지 등과 갈은 측정기기의 오차를 초정밀하게 검사할 수 있고 종래의 수작업에 의한 불합리한 검사방법을 개선함으로써 측정환경에 영향받지 않는 신뢰성있는 검사를 할 수 있으며 검사 능률의 극대화를 이룰 수 있는 효과가 있다.By the above-described configuration and operation, the present invention can inspect the dial gauge error within a short time, and the resolution of the laser is 0.01 micrometer unit. Therefore, in addition to the dial gauge, dial integrator, dial comparator, electricity Ultra-precise inspection of micrometers, linear gauges and other measuring devices can be inspected with high accuracy. By improving the conventional unreasonable inspection methods, it is possible to perform reliable inspections unaffected by the measurement environment and to maximize inspection efficiency. It has an effect.
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| REGI | Registration of establishment | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20030425 Year of fee payment: 4 |
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