KR200182553Y1 - Optic data link duplication system in exchange - Google Patents

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Abstract

본 고안은 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크(Optic Data Link)에 관한 것으로, 특히 최소의 비용으로 최대의 안정성을 실현하기 위한 옵틱 크로스(Optic Cross) 이중화를 구현하도록 한 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to an optical data link of an all-electronic exchange, and in particular, an optical data link duplication of an all-electronic exchange for implementing an optical cross redundancy for achieving maximum stability at a minimum cost. It's about the system.

종래 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템은 많은 고가 부품들을 소요하고 데이타 프레임에 에러가 발생하여 절체 동작을 수행해 해당 프레임 변경 시에 디프레임 회로부에서 다시 FAW를 확인하여 정상적인 동작을 수행하는데 걸리는 시간 동안에 데이타 유실이 발생하였으나, 본 고안에 의해 두 광전 변환 회로부에서 하나의 수신부로 인가되는 각 155M STM-1 프레임 데이타를 각 디프레임 회로부에 인가시켜 해당 디프레임 회로부에서 추출된 16M PCM 데이타와 에러 검출 신호를 선택 회로부의 입력단과 선택단에 각각 인가하여 해당 선택 회로부에서 해당 에러 검출 신호의 레벨에 따라 해당 16M PCM 데이타를 선택할 수 있으므로써, 송신부와 수신부의 기능 장애 시에 데이타 링크 구간이 디스에이블되는 현상을 방지하고 고가의 옵틱 관련 부품의 소요를 최소화할 수 있을 뿐만 아니라 데이타의 유실을 최대한 방지할 수 있고 시스템의 신뢰도도 향상시킬 수 있다.The optical data link redundancy system of the conventional electronic switchboard takes a lot of expensive parts and performs a transfer operation due to an error in the data frame, and during the time required to perform normal operation by checking the FAW again in the deframe circuit part when the frame is changed. Although data loss occurred, 16M PCM data and an error detection signal extracted from the corresponding deframe circuit part were applied to each deframe circuit part by applying each 155M STM-1 frame data applied from one photoelectric conversion circuit part to one receiving part according to the present invention. Is applied to the input terminal and the selection terminal of the selection circuit, respectively, so that the corresponding 16M PCM data can be selected according to the level of the error detection signal in the selection circuit, so that the data link section is disabled when the transmitter and the receiver fail. And expensive optics-related parts Not only can you take to minimize as much as possible to prevent data loss, and may also improve the reliability of the system.

Description

전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템Optical data link redundancy system of all electronic switch

본 고안은 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크(Optic Data Link)에 관한 것으로, 특히 최소의 비용으로 최대의 안정성을 실현하기 위한 옵틱 크로스(Optic Cross) 이중화를 구현하도록 한 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to an optical data link of an all-electronic exchange, and in particular, an optical data link duplication of an all-electronic exchange for implementing an optical cross redundancy for achieving maximum stability at a minimum cost. It's about the system.

일반적인 전전자 교환기의 데이타 링크에서 옵틱 데이타 링크의 이중화 시스템은 두 가지 종류가 있다.There are two kinds of redundant system of optical data link in data link of general electronic switch.

첫 번쩨 일 예로, 도 1에 도시된 바와 같이, 두 개의 송신부(11-1, 11-2)와, 두 개의 광/전 변환 회로부(12-1, 12-2)와, 두 개의 수신부(13-1, 13-2)를 포함하여 이루어져 있는데, 해당 송신부(11-1, 11-2) 내에는 전/광 변환 회로부(111-1, 111-2)를 각각 포함하고 있으며, 해당 수신부(13-1, 13-2)에는 디프레임(De-frame) 회로부(131-1, 131-2)를 각각 포함하고 있다.As a first example, as shown in FIG. 1, two transmitters 11-1 and 11-2, two photoelectric conversion circuits 12-1 and 12-2, and two receivers 13 are shown. -1, 13-2, and the transmitters 11-1 and 11-2 include all / optical conversion circuits 111-1 and 111-2, respectively, and the receiver 13 -1 and 13-2 include de-frame circuits 131-1 and 131-2, respectively.

그리고, 해당 전/광 변환 회로부(111-1, 111-2)와 광/전 변환 회로부(12-1, 12-2)의 옵틱 케이블(Optic Cable) 구간이 1 : 1로 구성되어 있으며, 해당 광/전 변환 회로부(12-1, 12-2)와 디프레임 회로부(131-1, 131-2)의 155M STM-1 프레임 구간에도 1 : 1로 구성되어 있다.In addition, an optical cable section of the pre / optical converting circuit unit 111-1 and 111-2 and the pre / optic converting circuit unit 12-1 and 12-2 is configured as 1: 1. The 155M STM-1 frame section of the photoelectric conversion circuit section 12-1 and 12-2 and the deframe circuit sections 131-1 and 131-2 is configured to be 1: 1.

상술한 바와 같이 이루어진 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템은 해당 제1송신부(11-1)에서 전송되는 155M STM-1 프레임의 광 데이타를 단일 경로를 통하여 해당 제1광/전 변환 회로부(12-1)로 인가시키며, 해당 제1광/전 변환 회로부(12-1)는 해당 광 데이타를 전기적인 데이타로 변환시켜 다시 단일 경로를 이용해 해당 제1디프레임 회로부(131-1)로 인가시켜 16M PCM 데이타로 변환되어 출력되어진다.The optical data link redundancy system configured as described above transmits optical data of the 155M STM-1 frame transmitted from the corresponding first transmitter 11-1 to the corresponding first optical / electric conversion circuit unit 12-1 through a single path. The first optical / pre-conversion circuit unit 12-1 converts the optical data into electrical data and then applies the single optical signal to the first deframe circuit unit 131-1 using a single path to convert the optical data into 16M PCM data. The output is converted.

그런데, 해당 제1송신부(11-1) 또는 제2송신부(11-2)에서 기능 장애가 발생하였을 경우, 데이타 링크 구간은 디스에이블(Disable) 상태가 되는 단점이 있다.However, when a functional failure occurs in the first transmitter 11-1 or the second transmitter 11-2, the data link section has a disadvantage in that it is disabled.

두 번째 다른 예로, 도 2에 도시된 바와 같이, 두 개의 송신부(14-1, 14-2)와, 두 개의 수신부(15-1, 15-2)를 포함하여 이루어져 있는데, 해당 송신부(14-1, 14-2) 내에는 두 개의 전/광 변환 회로부(141-1, 141-2, 141-3, 141-4)를 각각 포함하고 있으며, 해당 수신부(15-1, 15-2)에는 두 개의 광/전 변환 회로부(151-1, 151-2, 151-3, 151-4)와, 선택 회로부(152-1, 152-2)와, 디프레임 회로부(153-1, 153-2)를 각각 포함하고 있다.As another example, as shown in FIG. 2, two transmitters 14-1 and 14-2 and two receivers 15-1 and 15-2 are included. 1 and 14-2 include two all-optical conversion circuit units 141-1, 141-2, 141-3, and 141-4, respectively, and corresponding receivers 15-1 and 15-2 are included in the receivers 15-1 and 15-2. Two photoelectric conversion circuit sections 151-1, 151-2, 151-3, and 151-4, the selection circuit sections 152-1 and 152-2, and the deframe circuit sections 153-1 and 153-2. Each).

그리고, 해당 제1송신부(14-1)의 제2전/광 변환 회로부(141-2)와 해당 제2수신부(15-2)의 제3광/전 변환 회로부(151-3), 그리고 해당 제2송신부(14-2)의 제3전/광 변환 회로부(141-3)와 해당 제1수신부(15-1)의 제2광/전 변환 회로부(151-2)의 옵틱 케이블 구간이 크로스(Cross)로 구성되어 있으며, 해당 제1송신부(14-1)의 제1전/광 변환 회로부(141-1)와 해당 제1수신부(15-1)의 제1광/전 변환 회로부(151-1), 그리고 해당 제2송신부(14-2)의 제4전/광 변환 회로부(141-4)와 해당 제2수신부(15-2)의 제4광/전 변환 회로부(151-4)의 옵틱 케이블 구간이 1 : 1로 구성되어 있으며, 해당 광/전 변환 회로부(151-1, 151-2, 151-3, 151-4)와 디프레임 회로부(153-1, 153-2) 사이에서 155M STM-1의 프레임을 해당 선택 회로부(152-1, 152-2)에서 선택하여 주도록 구성되어 있다.Then, the second pre / op conversion circuit unit 141-2 of the first transmission unit 14-1 and the third pre / op conversion circuit unit 151-3 of the second reception unit 15-2, and the corresponding The optical cable section of the third electric / optical conversion circuit unit 141-3 of the second transmitter 14-2 and the second optical / electric conversion circuit unit 151-2 of the first receiver 15-1 cross each other. And a first electrical / optical conversion circuit unit 141-1 of the first transmission unit 14-1 and a first optical / electric conversion circuit unit 151 of the first reception unit 15-1. -4) and the fourth pre-optical conversion circuit unit 141-4 of the second transmitting unit 14-2 and the fourth pre-converting circuit unit 151-4 of the second receiving unit 15-2. The optical cable section of 1 is composed of 1: 1, and between the optical / electric conversion circuit sections 151-1, 151-2, 151-3, and 151-4 and the deframe circuit sections 153-1 and 153-2. Is configured to select the frame of the 155M STM-1 by the corresponding selection circuits 152-1 and 152-2.

상술한 바와 같이 이루어진 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템은 해당 제1송신부(14-1)의 제1전/광 변환 회로부(141-1)와 제2전/광 변환 회로부(141-2)에서 각각 해당 제1수신부(15-1)의 제1광/전 변환 회로부(151-1)와 제2수신부(15-2)의 제3광/전 변환 회로부(151-3)로 155M STM-1 프레임의 광 데이타를 각각 전송시킨다.The optical data link redundancy system configured as described above is performed by the first electric field / optical conversion circuit unit 141-1 and the second electric field / optical conversion circuit unit 141-2 of the first transmission unit 14-1. The light of the 155M STM-1 frame is transmitted to the first light / pre-conversion circuit unit 151-1 of the first receiver 15-1 and the third light / pre-conversion circuit unit 151-3 of the second receiver 15-2. Send data separately.

그러면, 해당 제1수신부(15-1)의 제1광/전 변환 회로부(151-1)는 해당 제1송신부(14-1)의 제1전/광 변환 회로부(141-1)로부터 155M STM-1 프레임의 광 데이타를 전송받아 전기적인 데이타로 변환시키고 해당 제1수신부(15-1)의 제2광/전 변환 회로부(151-2)는 해당 제2송신부(14-2)의 제3전/광 변환 회로부(141-3)로부터 155M STM-1 프레임의 광 데이타를 전송받아 전기적인 데이타로 변환시키며, 해당 제1수신부(15-1)의 제1선택 회로부(152-1)에서는 제1디프레임 회로부(153-1)에서 검출되어진 프레임의 에러(Error)를 인가받아 해당 제1광/전 변환 회로부(151-1) 또는 제2광/전 변환 회로부(151-2)를 통해 인가되는 두 개의 전기적인 데이타 중에 하나를 선택하게 된다.Then, the first light / electric conversion circuit unit 151-1 of the first receiving unit 15-1 is 155M STM from the first electric / light conversion circuit unit 141-1 of the first transmission unit 14-1. The optical data of -1 frame is received and converted into electrical data, and the second optical / pre-conversion circuit unit 151-2 of the first receiver 15-1 receives the third data of the second transmitter 14-2. The optical data of the 155M STM-1 frame is received from the all-optical conversion circuit unit 141-3 and converted into electrical data, and the first selection circuit unit 152-1 of the first receiving unit 15-1 receives the optical data. An error of a frame detected by the first deframe circuit unit 153-1 is received and applied through the first optical / pre-conversion circuit unit 151-1 or the second optical / pre-conversion circuit unit 151-2. One of two electrical data is selected.

이에, 해당 제1선택 회로부(152-1)에서 선택되어진 데이타는 해당 제1디프레임 회로부(153-1)에 인가되며, 해당 제1디프레임 회로부(153-1)는 해당 데이타를 16M PCM 데이타로 변환시켜 출력하는데 또다시 해당 변환 데이타의 프레임에 에러가 있는지를 검출하여 해당 제1선택 회로부(152-1)로 보내어 준다.Accordingly, the data selected by the first selection circuit unit 152-1 is applied to the first deframe circuit unit 153-1, and the first deframe circuit unit 153-1 transmits the data to 16M PCM data. The controller detects whether there is an error in the frame of the converted data and sends it to the first selection circuit unit 152-1.

그런데, 상술한 바와 같이 고가 품목의 옵틱 모듈, 옵틱 케이블 등의 옵틱 관련 부품의 소요가 커 비용이 많이 들며, 155M STM-1 프레임의 전기적인 데이타를 해당 디프레임 회로부(153-1, 153-2) 이전의 선택 회로부(152-1, 152-2)에서 선택하므로, 해당 데이타의 프레임에 에러가 발생하였을 경우에 해당 디프레임 회로부(153-1, 153-2)에 입력되는 데이타의 STM-1 프레임이 변경되어지고 이로 인해 해당 디프레임 회로부(153-1, 153-2)에서는 FAW(Frame Alignment Word)를 잃어버려 다시 해당 FAW를 확인하여 해당 선택 회로부(152-1, 152-2)로부터 정상적으로 데이타를 인가받기까지 약 10(ms) 정도가 소요되므로 해당 시간 동안에 데이타의 유실이 발생할 수 있다.However, as described above, the cost of optics-related parts such as an optical module and an optical cable of a high price item is high, and the cost is high, and the electrical data of the 155M STM-1 frame is stored in the corresponding deframe circuit unit 153-1 and 153-2. ) STM-1 of the data input to the deframe circuit unit 153-1, 153-2 when an error occurs in the frame of the data because it is selected by the previous selection circuit unit 152-1, 152-2. The frame is changed, which causes the corresponding deframe circuit parts 153-1 and 153-2 to lose the FAW (Frame Alignment Word), and checks the corresponding FAW again so that they can be normally returned from the selection circuit parts 152-1 and 152-2. It takes about 10 (ms) to receive data, so data loss may occur during that time.

이와 같이, 종래 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템은 많은 고가 부품들을 소요하고 데이타 프레임에 에러가 발생하여 절체 동작을 수행해 해당 프레임 변경 시에 디프레임 회로부에서 다시 FAW를 확인하여 정상적인 동작을 수행하는데 걸리는 시간 동안에 데이타 유실이 발생하는 문제점이 있었다.As such, the optical data link redundancy system of the conventional electronic switchboard takes a lot of expensive parts and performs an operation of switching due to an error in the data frame. When the corresponding frame is changed, the deframe circuit unit checks the FAW again to perform normal operation. There was a problem that data loss occurred during the time taken.

상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해, 본 고안은 전전자 교환기의 데이타 링크에서 최소의 비용으로 최대의 안정성을 실현하기 위한 옵틱 크로스 이중화를 구현하여 옵틱 케이블의 소용량을 최소화함과 동시에 풀 메쉬(Full Mesh) 이중화 구조의 효과를 나타낼 수 있도록 하고자 하는데, 그 목적이 있다.In order to solve the problems described above, the present invention implements optical cross-duplexing to realize maximum stability at minimum cost in the data link of the electronic switchboard, minimizing the small capacity of the optical cable and at the same time full mesh Mesh) I want to be able to show the effect of the redundancy structure.

도 1은 종래 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템의 일 예를 나타낸 구성 블록도.1 is a block diagram showing an example of an optical data link redundancy system of a conventional all-electronic exchange.

도 2는 종래 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템의 다른 예를 나타낸 구성 블록도.2 is a block diagram showing another example of an optical data link redundancy system of a conventional all-electronic exchange.

도 3은 본 고안의 실시예에 따른 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템을 나타낸 구성 블록도.3 is a block diagram showing an optical data link redundancy system of an electronic switching system according to an embodiment of the present invention;

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

21, 22 : 송신부 31, 32 : 광/전 변환 회로부21, 22: transmission unit 31, 32: optical / pre-conversion circuit unit

41, 42 : 수신부 211, 222 : 전/광 변환 회로부41, 42: reception unit 211, 222: all / optical conversion circuit unit

411, 412, 421, 422 : 디프레임 회로부411, 412, 421, 422: deframe circuit section

413, 423 : 선택 회로부413, 423: selection circuit

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안은 두 개의 송신부와, 해당 송신부로부터 전송되는 155M STM-1 프레임 데이타를 각각 전기적인 신호로 변환시키는 두 개의 광/전 변환 회로부와, 두 개의 수신부를 구비하는 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템에 있어서, 상기 송신부와 광/전 변환 회로부의 옵틱 케이블 구간을 1 : 1로 구성하고 상기 광/전 변환 회로부와 수신부의 옵틱 케이블 구간을 크로스로 구성하되; 상기 수신부는 상기 제1광/전 변환 회로부로부터 인가되는 제1변환 데이타에 대해 디프레이밍한 16M PCM 데이타와 에러의 여부를 검출한 제1에러 검출 신호를 각각 생성하는 제1디프레임 회로부와; 상기 제2광/전 변환 회로부로부터 인가되는 제2변환 데이타에 대해 디프레이밍한 16M PCM 데이타와 에러의 여부를 검출한 제2에러 검출 신호를 각각 생성하는 제2디프레임 회로부와; 상기 제1디프레임 회로부로부터 인가되는 제1에러 검출 신호와 상기 제2디프레임 회로부로부터 인가되는 제2에러 검출 신호의 레벨에 따라 상기 제1디프레임 회로부 또는 제2디프레임 회로부로부터 인가되는 16M PCM 데이타 중에 하나를 각각 선택해 출력하는 선택 회로부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object is provided with two transmitters, two optical / pre-conversion circuit unit for converting the 155M STM-1 frame data transmitted from the transmitter to an electrical signal, respectively, and two receivers 10. An optical data link redundancy system of an all-electronic switch, comprising: an optical cable section of the transmitter and the optical / electric conversion circuit section is configured to be 1: 1, and an optical cable section of the optical / electric conversion circuit section and the reception section is formed of a cross; The receiving unit comprises: a first deframe circuit unit for generating 16M PCM data deframed with respect to the first converted data applied from the first optical / pre conversion circuit unit and a first error detection signal that detects an error; A second deframe circuit section for generating 16M PCM data deframed with respect to the second converted data applied from the second optical / pre conversion circuit section and a second error detection signal detecting the error; 16M PCM applied from the first or second deframe circuit unit according to the level of the first error detection signal applied from the first deframe circuit unit and the second error detection signal applied from the second deframe circuit unit. And a selection circuit unit for selecting and outputting each one of the data.

이하 첨부된 도면을 참고하여 다음과 같이 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described as follows.

먼저, 본 고안의 실시예에 따른 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템는 도 3에 도시된 바와 같이, 두 개의 송신부(21, 22)와, 두 개의 광/전 변환 회로부(31, 32)와, 두 개의 수신부(41, 42)를 포함하여 이루어지며, 해당 송신부(21, 22) 내에 전/광 변환 회로부(211, 222)를 각각 포함하여 이루어지며, 해당 수신부(41, 42) 내에 두 개의 디프레임 회로부(411, 412, 421, 422)와 선택 회로부(413, 423)를 각각 포함하여 이루어진다.First, as shown in FIG. 3, an optical data link duplication system of an all-electronic exchange according to an embodiment of the present invention includes two transmitters 21 and 22, two opto-electric conversion circuits 31 and 32, and It includes two receivers 41 and 42, and includes all / optical conversion circuits 211 and 222 in the transmitters 21 and 22, respectively, and two devices in the receivers 41 and 42. Frame circuits 411, 412, 421, 422 and selection circuits 413, 423, respectively.

여기서, 상기 송신부(21, 22)와 광/전 변환 회로부(31, 32) 간의 인테페이스(Interface)는 일 대 일(Point to Point)로 구성되어 있고 상기 광/전 변환 회로부(31, 32)와 수신부(41, 42) 간은 풀 크로스(Full Cross)로 구성되어 있다.Herein, an interface between the transmitters 21 and 22 and the photoelectric conversion circuits 31 and 32 is composed of one-to-one points and the optical / electric conversion circuits 31 and 32. Between the receivers 41 and 42 is comprised by a full cross.

그리고, 상기 송신부(21)의 구성은 종래와 동일하므로, 그 설명은 생략한다.In addition, since the structure of the said transmission part 21 is the same as that of the prior art, the description is abbreviate | omitted.

또한, 상기 제1광/전 변환 회로부(31)는 상기 제1송신부(21)의 제1전/광 변환 회로부(211)로부터 전송되는 155M STM-1 프레임 데이타를 전기적인 신호로 변환시켜 해당 제1변환 데이타를 상기 제1수신부(41)와 제2수신부(42)에 각각 인가한다.In addition, the first optical / electric conversion circuit unit 31 converts the 155M STM-1 frame data transmitted from the first electrical / optical conversion circuit unit 211 of the first transmission unit 21 into an electrical signal to convert the first optical / electric conversion circuit unit 211 into an electrical signal. One converted data is applied to the first receiver 41 and the second receiver 42, respectively.

상기 제2광/전 변환 회로부(32)는 상기 제2송신부(22)의 제2전/광 변환 회로부(222)로부터 전송되는 155M STM-1 프레임 데이타를 전기적인 신호로 변환시켜 해당 제2변환 데이타를 상기 제1수신부(41)와 제2수신부(42)에 각각 인가한다.The second optical / electric conversion circuit unit 32 converts the 155M STM-1 frame data transmitted from the second electrical / optical conversion circuit unit 222 of the second transmission unit 22 into an electrical signal, thereby converting the second signal. Data is applied to the first receiver 41 and the second receiver 42, respectively.

상기 제1디프레임 회로부(411)는 상기 제1광/전 변환 회로부(31)로부터 인가되는 제1변환 데이타를 디프레이밍시킨 16M PCM 데이타와 상기 제1광/전 변환 회로부(31)로부터 인가되는 제1변환 데이타의 STM-1 프레임에서 에러의 여부를 검출한 제1에러 검출 신호(EDS1)를 상기 제1선택 회로부(413)에 인가한다.The first deframe circuit unit 411 is applied from 16M PCM data deframing the first conversion data applied from the first optical / pre conversion circuit unit 31 and the first optical / pre conversion circuit unit 31. The first error detection signal EDS1, which detects an error in the STM-1 frame of the first converted data, is applied to the first selection circuit unit 413.

상기 제2디프레임 회로부(412)는 상기 제2광/전 변환 회로부(32)로부터 인가되는 제2변환 데이타를 디프레이밍시킨 16M PCM 데이타와 상기 제2광/전 변환 회로부(32)로부터 인가되는 제2변환 데이타의 STM-1 프레임에서 에러의 여부를 검출한 제2에러 검출 신호(EDS2)를 상기 제1선택 회로부(413)에 인가한다.The second deframe circuit unit 412 is applied from the 16M PCM data deframing the second conversion data applied from the second optical / pre conversion circuit unit 32 and the second optical / pre conversion circuit unit 32. The second error detection signal EDS2, which detects an error in the STM-1 frame of the second converted data, is applied to the first selection circuit unit 413.

상기 제1디프레임 회로부(421)는 상기 제1광/전 변환 회로부(31)로부터 인가되는 제1변환 데이타를 디프레이밍시킨 16M PCM 데이타와 상기 제1광/전 변환 회로부(31)로부터 인가되는 제1변환 데이타의 STM-1 프레임에서 에러의 여부를 검출한 제1에러 검출 신호(EDS1)를 상기 제2선택 회로부(423)에 인가한다.The first deframe circuit unit 421 is applied from the 16M PCM data deframing the first conversion data applied from the first optical / pre-conversion circuit unit 31 and the first optical / pre-conversion circuit unit 31. The first error detection signal EDS1 that detects an error in the STM-1 frame of the first converted data is applied to the second selection circuit unit 423.

상기 제2디프레임 회로부(422)는 상기 제2광/전 변환 회로부(32)로부터 인가받은 제2변환 데이타를 디프레이밍시킨 16M PCM 데이타와 상기 제2광/전 변환 회로부(32)로부터 인가받은 제2변환 데이타의 STM-1 프레임에서 에러의 여부를 검출한 제2에러 검출 신호(EDS2)를 상기 제2선택 회로부(423)에 인가한다.The second deframe circuit unit 422 receives 16M PCM data deframing the second conversion data applied from the second optical / pre conversion circuit unit 32 and the second optical / pre conversion circuit unit 32. The second error detection signal EDS2, which detects an error in the STM-1 frame of the second converted data, is applied to the second selection circuit unit 423.

상기 제1선택 회로부(413)는 상기 제1디프레임 회로부(411)에서 검출되어진 제1에러 검출 신호(EDS1)와 상기 제2디프레임 회로부(412)에서 검출되어진 제2에러 검출 신호(EDS2)의 레벨에 따라 상기 제1디프레임 회로부(411) 또는 제2디프레임 회로부(412)로부터 인가되는 16M PCM 데이타 중에 하나를 선택하여 출력한다.The first selection circuit unit 413 includes a first error detection signal EDS1 detected by the first deframe circuit unit 411 and a second error detection signal EDS2 detected by the second deframe circuit unit 412. One of the 16M PCM data applied from the first deframe circuit unit 411 or the second deframe circuit unit 412 is selected and output according to the level.

상기 제2선택 회로부(423)는 상기 제1디프레임 회로부(421)에서 검출되어진 제1에러 검출 신호(EDS1)와 상기 제2디프레임 회로부(422)에서 검출되어진 제2에러 검출 신호(EDS2)의 레벨에 따라 상기 제1디프레임 회로부(421) 또는 제2디프레임 회로부(422)로부터 인가되는 16M PCM 데이타 중에 하나를 선택하여 출력한다.The second selection circuit unit 423 may include a first error detection signal EDS1 detected by the first deframe circuit unit 421 and a second error detection signal EDS2 detected by the second deframe circuit unit 422. One of the 16M PCM data applied from the first deframe circuit unit 421 or the second deframe circuit unit 422 is selected and output according to the level.

그 다음으로, 본 고안의 실시예에 따른 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템는 다음과 같이 동작을 수행한다.Next, the optical data link redundancy system of the electronic switching system according to the embodiment of the present invention performs the operation as follows.

본 고안에 의한 시스템은 송신부(21, 22)와 광/전 변환 회로부(31, 32)의 옵틱 케이블 구간은 1 : 1로 구성되어 있고 해당 광/전 변환 회로부(31, 32)와 수신부(41, 42)의 옵틱 케이블 구간은 크로스로 구성되어 있다.In the system according to the present invention, the optical cable section of the transmitters 21 and 22 and the optical / electric conversion circuits 31 and 32 is composed of 1: 1, and the optical / electric conversion circuits 31 and 32 and the receiver 41 , 42) is composed of crosses.

즉, 해당 제1송신부(21) 내에 구비되어 있는 제1전/광 변환 회로부(211)에서는 155M STM-1 프레임 데이타인 제1광 데이타를 옵틱 케이블을 통해 해당 제1광/전 변환 회로부(31)로 전송하고 해당 제2송신부(22) 내에 구비되어 있는 제2전/광 변환 회로부(222)에서는 155M STM-1 프레임 데이타인 제2광 데이타를 옵틱 케이블을 통해 해당 제2광/전 변환 회로부(32)로 전송하게 된다.That is, in the first pre / op conversion circuit unit 211 provided in the first transmission unit 21, the first pre / op conversion circuit unit 31 transmits the first optical data, which is 155M STM-1 frame data, through an optical cable. ) And the second pre / op conversion circuit unit 222 provided in the second transmission unit 22 transmits the second optical data, which is 155M STM-1 frame data, through the optical cable. To 32.

이에, 상기 제1광/전 변환 회로부(31)는 상기 제1전/광 변환 회로부(211)로부터 전송되는 제1광 데이타를 전기적인 신호로 변환시키고 해당 제1변환 데이타를 제1수신부(41) 내에 구비되어 있는 제1디프레임 회로부(411)와 제2수신부(42) 내에 구비되어 있는 제1디프레임 회로부(421)에 각각 인가시켜 준다.Accordingly, the first optical / electric conversion circuit unit 31 converts the first optical data transmitted from the first electrical / optical conversion circuit unit 211 into an electrical signal and converts the first converted data into the first receiver 41. ) Is applied to the first deframe circuit portion 411 and the first deframe circuit portion 421 provided in the second receiver 42.

그리고, 상기 제2광/전 변환 회로부(32)는 상기 제2전/광 변환 회로부(222)로부터 전송되는 제2광 데이타를 전기적인 신호로 변환시키고 해당 제2변환 데이타를 상기 제1수신부(41) 내에 구비되어 있는 제2디프레임 회로부(412)와 제2수신부(42) 내에 구비되어 있는 제2디프레임 회로부(422)에 각각 인가시켜 준다.The second optical / electric conversion circuit unit 32 converts the second optical data transmitted from the second electrical / optical conversion circuit unit 222 into an electrical signal and converts the second converted data into the first receiving unit ( The second deframe circuit portion 412 provided in the 41 and the second deframe circuit portion 422 provided in the second receiver 42 are respectively applied.

그러면, 상기 각 디프레임 회로부(411, 412, 421, 422)는 상기 광/전 변환 회로부(31, 32)로부터 인가되는 변환 데이타를 각각 디프레이밍시켜 각 16M PCM 데이타로 상기 수신부(41, 42) 내에 각각 구비되어 있는 선택 회로부(413, 423)에 각각 인가해 준다.Then, each of the deframe circuit units 411, 412, 421, and 422 deframes the converted data applied from the photoelectric / electric conversion circuit units 31 and 32, respectively, and the receivers 41 and 42 each with 16M PCM data. The selection circuits 413 and 423 are respectively provided therein.

이와 동시에, 상기 제1수신부(41)의 제1디프레임 회로부(411)에서는 상기 제1광/전 변환 회로부(31)로부터 인가받은 제1변환 데이타의 STM-1 프레임에서 에러의 여부를 검출하여 해당 제1에러 검출 신호(EDS1)를 상기 제1선택 회로부(413)에 인가하며, 상기 제1수신부(41)의 제2디프레임 회로부(412)에서는 상기 제2광/전 변환 회로부(32)로부터 인가받은 제2변환 데이타의 STM-1 프레임에서 에러의 여부를 검출하여 해당 제2에러 검출 신호(EDS2)를 상기 제1선택 회로부(413)에 인가하며, 상기 제2수신부(42)의 제1디프레임 회로부(421)에서는 상기 제1광/전 변환 회로부(31)로부터 인가받은 제1변환 데이타의 STM-1 프레임에서 에러의 여부를 검출하여 해당 제1에러 검출 신호(EDS1)를 상기 제2선택 회로부(423)에 인가하며, 상기 제2수신부(42)의 제2디프레임 회로부(422)에서는 상기 제2광/전 변환 회로부(32)로부터 인가받은 제2변환 데이타의 STM-1 프레임에서 에러의 여부를 검출하여 해당 제2에러 검출 신호(EDS2)를 상기 제2선택 회로부(423)에 인가한다.At the same time, the first deframe circuit unit 411 of the first receiver 41 detects whether an error is detected in the STM-1 frame of the first converted data received from the first optical / pre-conversion circuit unit 31. The first error detection signal EDS1 is applied to the first selection circuit unit 413, and the second optical / pre-conversion circuit unit 32 is applied to the second deframe circuit unit 412 of the first receiver 41. The second error detection signal EDS2 is applied to the first selection circuit unit 413 by detecting whether an error is detected in the STM-1 frame of the second conversion data received from the second receiving unit 42. The first deframe circuit unit 421 detects an error in the STM-1 frame of the first conversion data received from the first optical / pre conversion circuit unit 31 and outputs the first error detection signal EDS1 to the first error detection signal EDS1. And the second deframe circuit section 422 of the second receiver section 42. The second error detection signal EDS2 is applied to the second selection circuit unit 423 by detecting whether an error occurs in the STM-1 frame of the second conversion data received from the two-optical / pre conversion circuit unit 32.

이에 따라, 상기 제1선택 회로부(413)는 상기 제1디프레임 회로부(411)에서 검출되어진 제1에러 검출 신호(EDS1)와 상기 제2디프레임 회로부(412)에서 검출되어진 제2에러 검출 신호(EDS2)를 인가받으며, 해당 인가받은 제1에러 검출 신호(EDS1)와 제2에러 검출 신호(EDS2)의 레벨에 따라 상기 제1디프레임 회로부(411) 또는 제2디프레임 회로부(412)로부터 인가되는 16M PCM 데이타 중에 하나를 선택하여 출력하게 된다.Accordingly, the first selection circuit unit 413 may include the first error detection signal EDS1 detected by the first deframe circuit unit 411 and the second error detection signal detected by the second deframe circuit unit 412. (EDS2) and received from the first deframe circuit unit 411 or the second deframe circuit unit 412 according to the level of the first error detection signal EDS1 and the second error detection signal EDS2. One of the 16M PCM data that is applied is selected and output.

예를 들어, 상기 제1에러 검출 신호(EDS1)의 레벨이 `하이'라고 할 경우에 상기 제1선택 회로부(413)는 상기 제2디프레임 회로부(412)로부터 인가되는 16M PCM 데이타를 선택하여 출력하며, 상기 제2에러 검출 신호(EDS2)의 레벨이 `하이'라고 할 경우에 상기 제1선택 회로부(413)는 상기 제1디프레임 회로부(411)로부터 인가되는 16M PCM 데이타를 선택하여 출력하게 된다.For example, when the level of the first error detection signal EDS1 is 'high', the first selection circuit unit 413 selects 16M PCM data applied from the second deframe circuit unit 412. If the level of the second error detection signal EDS2 is 'high', the first selection circuit unit 413 selects and outputs 16M PCM data applied from the first deframe circuit unit 411. Done.

그리고, 상기 제2선택 회로부(423)는 상기 제1디프레임 회로부(421)에서 검출되어진 제1에러 검출 신호(EDS1)와 상기 제2디프레임 회로부(422)에서 검출되어진 제2에러 검출 신호(EDS2)를 인가받으며, 해당 인가받은 제1에러 검출 신호(EDS1)와 제2에러 검출 신호(EDS2)의 레벨에 따라 상기 제1디프레임 회로부(421) 또는 제2디프레임 회로부(422)로부터 인가되는 16M PCM 데이타 중에 하나를 선택하여 출력하게 된다.The second selection circuit unit 423 may include a first error detection signal EDS1 detected by the first deframe circuit unit 421 and a second error detection signal detected by the second deframe circuit unit 422. EDS2) is applied, and is applied from the first deframe circuit unit 421 or the second deframe circuit unit 422 according to the level of the first error detection signal EDS1 and the second error detection signal EDS2. One of 16M PCM data will be selected and printed.

상술한 바와 같은 동작 수행으로, 종래의 옵틱 데이타 링크의 이중화 방식에 있어서 하나의 송신부와 이중화된 다른 하나의 수신부가 기능 장애 상태인 경우에 데이타 링크 구간이 디스에이블되는 현상을 방지할 수 있으며, 고가의 옵틱 관련 부품의 옵틱 모듈 및 옵틱 케이블의 소요를 최소화시킬 수 있다.By performing the operation as described above, in the duplexing scheme of the optical data link, it is possible to prevent the data link interval from being disabled when one transmitter and the other receiver which are duplicated are in a functional failure state, Minimize the need for optics modules and optical cables for optics-related components.

이 것뿐만 아니라, 종래의 구성에서 발생하였던 기존에 선택되어진 STM-1 프레임에서 에러가 발생하는 경우에 FAW를 복구하는 동안에 데이타 유실이 발생하는 것을 막을 수 있는데, 즉 상기 광전 변환 회로부(31, 32)에서 상기 제1수신부(41)로 인가되는 각 155M STM-1 프레임 데이타의 변환 데이타를 상기 각각의 디프레임 회로부(411, 412)에 인가시켜 해당 디프레임 회로부(411, 412)에서 추출된 16M PCM 데이타와 에러 검출 신호(EDS1, EDS2)를 상기 선택 회로부(413)의 입력단과 선택단에 각각 인가하여 해당 선택 회로부(413)에서 해당 에러 검출 신호(EDS1, EDS2)의 레벨에 따라 해당 16M PCM 데이타를 선택할 수 있어 데이타의 유실을 최대한 방지할 수 있고 시스템의 신뢰도도 향상시킬 수 있다.In addition to this, it is possible to prevent the loss of data during the recovery of the FAW in case an error occurs in the previously selected STM-1 frame that occurred in the conventional configuration, that is, the photoelectric conversion circuits 31 and 32. 16M extracted from the corresponding deframe circuits 411 and 412 by applying the converted data of the 155M STM-1 frame data applied to the first receiver 41 to the respective deframe circuits 411 and 412. PCM data and error detection signals EDS1 and EDS2 are applied to the input terminal and the selection terminal of the selection circuit section 413 respectively, and the corresponding 16M PCM is selected according to the level of the error detection signals EDS1 and EDS2 in the selection circuit section 413. Data can be selected to prevent the loss of data as much as possible and improve the reliability of the system.

이상과 같이, 본 고안에 의해 두 광전 변환 회로부에서 하나의 수신부로 인가되는 각 155M STM-1 프레임 데이타를 각 디프레임 회로부에 인가시켜 해당 디프레임 회로부에서 추출된 16M PCM 데이타와 에러 검출 신호를 선택 회로부의 입력단과 선택단에 각각 인가하여 해당 선택 회로부에서 해당 에러 검출 신호의 레벨에 따라 해당 16M PCM 데이타를 선택할 수 있으므로써, 송신부와 수신부의 기능 장애 시에 데이타 링크 구간이 디스에이블되는 현상을 방지하고 고가의 옵틱 관련 부품의 소요를 최소화할 수 있을 뿐만 아니라 데이타의 유실을 최대한 방지할 수 있고 시스템의 신뢰도도 향상시킬 수 있다.As described above, the 155M STM-1 frame data applied from two photoelectric conversion circuit units to one receiving unit is applied to each deframe circuit unit to select 16M PCM data and error detection signals extracted from the corresponding deframe circuit unit. The 16M PCM data can be selected according to the level of the error detection signal in the selected circuit by applying it to the input terminal and the selection terminal of the circuit section, thereby preventing the data link section from being disabled when the transmitter and the receiver fail. In addition to minimizing the need for expensive optics-related components, data loss can be prevented as much as possible and system reliability can be improved.

Claims (1)

두 개의 송신부(21, 22)와, 해당 송신부(21, 22)로부터 전송되는 155M STM-1 프레임 데이타를 각각 전기적인 신호로 변환시키는 두 개의 광/전 변환 회로부(31, 32)와, 두 개의 수신부(41, 42)를 구비하는 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템에 있어서,Two transmitters 21 and 22, two optical / electric conversion circuits 31 and 32 for converting 155M STM-1 frame data transmitted from the transmitters 21 and 22 into electrical signals, respectively, and two In the optical data link redundancy system of the all-electronic exchange having the receivers 41 and 42, 상기 송신부(21, 22)와 광/전 변환 회로부(31, 32)의 옵틱 케이블 구간을 1 : 1로 구성하고 상기 광/전 변환 회로부(31, 32)와 수신부(41, 42)의 옵틱 케이블 구간을 크로스로 구성하되;The optical cable section of the transmitters 21 and 22 and the photoelectric conversion circuit sections 31 and 32 is configured to be 1: 1, and the optical cables of the optical / electric conversion circuit sections 31 and 32 and the reception sections 41 and 42 are provided. Consist of cross sections; 상기 수신부(41, 42)는 상기 제1광/전 변환 회로부(31)로부터 인가되는 제1변환 데이타에 대해 디프레이밍한 16M PCM 데이타와 에러의 여부를 검출한 제1에러 검출 신호(EDS1)를 각각 생성하는 제1디프레임 회로부(411, 421)와;The receivers 41 and 42 decode the 16M PCM data deframed with respect to the first conversion data applied from the first optical / electric conversion circuit unit 31 and the first error detection signal EDS1 detecting the error. First deframe circuits 411 and 421 to generate respectively; 상기 제2광/전 변환 회로부(32)로부터 인가되는 제2변환 데이타에 대해 디프레이밍한 16M PCM 데이타와 에러의 여부를 검출한 제2에러 검출 신호(EDS2)를 각각 생성하는 제2디프레임 회로부(412, 422)와;A second deframe circuit unit which generates 16M PCM data deframed with respect to the second converted data applied from the second optical / pre-conversion circuit unit 32 and a second error detection signal EDS2 detecting an error; 412, 422; 상기 제1디프레임 회로부(411, 421)로부터 인가되는 제1에러 검출 신호(EDS1)와 상기 제2디프레임 회로부(412, 422)로부터 인가되는 제2에러 검출 신호(EDS2)의 레벨에 따라 상기 제1디프레임 회로부(411, 412) 또는 제2디프레임 회로부(412, 422)로부터 인가되는 16M PCM 데이타 중에 하나를 각각 선택해 출력하는 선택 회로부(413, 423)를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 옵틱 데이타 링크 이중화 시스템.The first error detection signal EDS1 applied from the first deframe circuit units 411 and 421 and the second error detection signal EDS2 applied from the second deframe circuit units 412 and 422 may be used. And a selection circuit unit 413 and 423 for selecting and outputting each of 16M PCM data applied from the first deframe circuit unit 411 and 412 or the second deframe circuit unit 412 and 422, respectively. Optical data link redundancy system of electronic exchange.
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