KR200177513Y1 - Purge system for a laser diode - Google Patents
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Abstract
본 고안은 레이져 다이오드 퍼지 장치에 관한 것으로 내부 온도를 일정하게 유지해 주는 오븐과, 상기 오븐내에 수용되며 여러개의 레이져 다이오드를 장착하고 있는 테스트 고정구와 상기 테스트 고정구의 연결단자들에 연결되어 전류를 인가하는 파워 공급기로 구성되며, 파워 공급기로 부터 일정한 전류를 레이져 다이오드 내부로 흘려 레이져 다이오드를 내부적으로 안정화시켜 주는 장치로서, 한대의 파워 공급기를 이용하여 여러개의 다이오드 소자의 동일한 전류를 흘려줌으로써 다이오드 소자의 신뢰성 테스트를 용이하게 할 수 있으며, 레이져 다이오드를 장착시키는 각 채널 사이에 연결단자를 형성함으로서, 테스트 하고자 하는 레이져 다이오드의 숫자를 쉽게 바꾸어 가며 쉽게 연결시킬 수 있다.The present invention relates to a laser diode purge device, which maintains a constant internal temperature, a test fixture accommodated in the oven and equipped with a plurality of laser diodes connected to the terminals of the test fixture to apply current. Consists of a power supply and stabilizes the laser diode internally by flowing a constant current from the power supply into the laser diode. Reliability of the diode device by flowing the same current of several diode devices using one power supply. The test can be easily performed, and by forming a connection terminal between each channel to which the laser diode is mounted, the number of laser diodes to be tested can be easily changed and connected.
Description
제1도는 본 고안에 따른 레이져 다이오드 퍼지 장치의 개략도.1 is a schematic diagram of a laser diode purge device according to the present invention.
제2a도는 제1도에 도시된 테스트 고정구의 내부 연결상태를 도시한 도면.Figure 2a shows the internal connection of the test fixture shown in Figure 1;
제2b도는 레이져 다이오드 채널부를 도시한 도면.2b shows a laser diode channel section.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
11 : 오븐 12 : 테스트 고정구(Test fixture)11 oven 12 test fixture
13 : 레이져 다이오드 14 : 파워 공급기(Power supply)13 laser diode 14 power supply
15 : 연결단자 16 : 연결 와이어(Wire)15: connection terminal 16: connection wire (Wire)
30 : 레이져 다이오드 퍼지 장치30: laser diode purge device
본 고안은 레이져 다이오드(Laser Diode) 퍼지(Purge) 장치에 관한 것으로, 특히 여러개의 레이져 다이오드를 직렬로 연결하여 파워 공급기(Power Supply)로부터 일정한 크기의 전류를 흘려줌으로써 레이져 다이오드 소자 내부의 불안정성을 개선하여 소자의 신뢰성(Reliability)향상시키는 퍼지장치에 관한 것이다.The present invention relates to a laser diode purge device, and in particular, by connecting several laser diodes in series to flow a certain amount of current from a power supply to improve instability in the laser diode device. The present invention relates to a purge device that improves reliability of a device.
일반적으르 레이져 다이오드는 소자 자체의 내부적인 불안정성 예컨데, 과도현상(Transient characteristic)과 같은 불안정한 요소들을 가지고 있기 때문에 사전에 내부적으로 안정화시키기 위해 작업이 이뤄지고 있다.In general, laser diodes have unstable elements such as transient characteristics of the device itself, and thus work is being done to internally stabilize them in advance.
상기와 같이, 레이져 다이오드를 내부적으로 안정화시키기 위해서는 일정한 온도에서 일정한 크기의 전류를 소정시간동안 흘려 줌으로써 안정화시켜 주는 퍼지장치를 이용하게된다. 이러한 퍼지장치로는 현재까지 사용하기에 용이한 장치로 개발되어 있는 것은 거의 없는 상태이며, 또한 종래의 사용되고 있는 장치는 그 구성이 매우 복잡할 뿐만 아니라 가격도 고가이므로 그 실용성이 떨어지는 문제점이 있다.As described above, in order to stabilize the laser diode internally, a purge device that stabilizes the laser diode by supplying a certain amount of current at a constant temperature for a predetermined time is used. As such a purge device, there is almost no state that has been developed as an easy device to use until now, and the conventionally used device has a problem that its practicality is inferior because its configuration is very complicated and its price is also high.
따라서 본 고안은 상기의 문제점을 해결하기 위하여 구성이 간단하면서도 사용이 용이하고 가격이 싼 레이져 다이오드 퍼지 장치를 제공함에 그 목적이 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a laser diode purge device which is simple in construction and easy to use and inexpensive to solve the above problems.
상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 레이져 다이오드 퍼지 장치는 레이져 다이오드와 퍼지 장치에 있어서, 내부에 일정한 온도를 유지해 주는 오븐과 상기 오븐내에 수용되며 여러개의 레이져 다이오드가 직렬로 연결되어 장착되어 있는 테스트 고정구와, 상기 테스트 고정구의 각 연결단자들에 연결되어 일정한 전류를 레이져 다이오드에 인가하는 파워 공급기로 구성됨을 특징으로 한다.The laser diode purge device of the present invention for achieving the above object is a laser diode and a purge device, an oven for maintaining a constant temperature therein and a test fixture accommodated in the oven and a plurality of laser diodes connected in series And a power supply connected to each connection terminal of the test fixture to apply a constant current to the laser diode.
이하 침부된 도면을 참조하여 본 고안의 레이져 다이오드 퍼지장치의 실시예에 대해 상세한 설명을 하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the laser diode purge device of the present invention will be described in detail with reference to the immersed drawings.
제1도는 본 고안에 따른 레이져 다이오드 퍼지장치의 구성을 도시한 도면이다.1 is a view showing the configuration of a laser diode purge device according to the present invention.
상기 도면에 도시한 바와같이 본 고안에 따른 레이져 다이오드 퍼지장치(30)는 내부의 온도가 일정하게 유지할 수 있는 오븐(11)과 상기 오븐(l1)내에 수용되며 여러개의 레이져 다이오드(13)를 테스트하기 위해 고정이 용이한 구조로 된 테스트 고정구(Test Fixtue)(12)와, 상기 테스트 고정구(12)의 단자에 연결되어 고정구(12) 내에 장착된 레이져 다이오드(13) 내부로 일정한 전류를 흘려보내는 파워 공급기(l4)로 구성된다.As shown in the drawings, the laser diode purge device 30 according to the present invention is housed in the oven 11 and the oven 11 in which the internal temperature can be kept constant, and tests several laser diodes 13. In order to secure a fixed structure to the test fixture (Test Fixture) 12, and connected to the terminal of the test fixture 12 to send a constant current into the laser diode 13 mounted in the fixture 12 It is composed of a power supply l4.
상기 오븐(11)은 내부에 레이져 다이오드(13)가 장착된 고정구를 수용하여 내부상태를 일정온도 범위 예컨데 25℃∼200℃의 온도범위에서 일정온도를 유지할 수 있도록 조정할 수 있는 장치이다.The oven 11 is a device that can accommodate a fixture equipped with a laser diode 13 therein to adjust the internal state to maintain a constant temperature in a predetermined temperature range, for example a temperature range of 25 ℃ to 200 ℃.
이때 상기 레이져 다이오드 신뢰성 향상을 위한 테스트시는 대게 상기 온도 범위중에서 약 80℃∼150℃에서 실시한다.At this time, the test for improving the laser diode reliability is usually carried out at about 80 ℃ to 150 ℃ within the temperature range.
상기 오븐(11)내에 수용되는 테스트 고정구(12)에 설치된 연결단자(15)에 결착되어 테스트 하고자 하는 레이져 다이오드(13)에 일정한 전류를 인가하는 파워 공급기(14)는 약 200mA 이하의 전류를 공급할 수 있는 장치로서, 통상 레이져 다이오드(13) 테스트시는 약 100mA 이상의 전류를 공급한다. 또한 상기 파워 공급기(14)는 전압을 일정한 범위 예컨데 약 20V의 범위내에서 고정할 수 있다.The power supply 14, which is fixed to the connection terminal 15 installed in the test fixture 12 accommodated in the oven 11 and applies a constant current to the laser diode 13 to be tested, may supply a current of about 200 mA or less. A device capable of supplying a current of about 100 mA or more in the laser diode 13 test. The power supply 14 can also fix the voltage within a certain range, for example, in the range of about 20V.
제2a도와 제2b도는 상기 오븐(11) 내에 수용되는 레이져 다이오드(13) 테스트 고정구(12)의 상세도면이다.2A and 2B are detailed views of the laser diode 13 test fixture 12 accommodated in the oven 11.
도면에 도시된 바와같이 테스트 고정구(12)는 여러개의 레이져 다이오드(13)를 내부에 테스트용으로 고정시키되, 각 연결 다이오드를 직렬로 연결시켜 채널(1, 2, .. 10)을 형성시키고, 상기 각 채널(1, 2, ... 10)의 하단부에 연결단가(15)을 설치하고, 상기 각 채널의 하단에 설치된 연결단자(15)와 일정한 전류를 인가하는 파워 공급기(14)의 전원 연결선(20, 21)이 용이하게 연결될 수 있도록 한다.As shown in the figure, the test fixture 12 fixes a plurality of laser diodes 13 for testing therein, and connects each connection diode in series to form channels 1, 2,... 10, The power supply of the power supply 14 is provided with a connection unit 15 at the lower end of each channel (1, 2, ... 10), and applies a constant current to the connection terminal 15 installed at the lower end of each channel. The connecting lines 20 and 21 can be easily connected.
이때 테스트 고정구(12)의 최외측에 위치한 채널(16)은 + 극이 되도록 하고 그 외의 채널(1, 2, …, 10)은 - 극 채널로 형성되도록 한다. 따라서 파워 공급기(14)의 + 극 연결선(20)은 최외곽의 채널(16)의 연결단자에 연결되도록 하고 파워 공급기(14)의 - 극 연결선(21)은 그 외의 채널(1, 2, …, 10)에 연결된 단자에 연결된다.At this time, the channel 16 located at the outermost side of the test fixture 12 is to be the + pole and the other channels (1, 2, ..., 10) to be formed as a-pole channel. Therefore, the + pole connecting line 20 of the power supply 14 is connected to the connecting terminal of the outermost channel 16 and the-pole connecting line 21 of the power supply 14 is connected to the other channels 1, 2,. , 10) is connected to the terminal.
제2b도는 상기 제2a도에 도시된 테스트 고정구(12)에 설치된 레이져 다이오드(13)의 채널부의 연결상태를 도시한 도면이다.FIG. 2B is a view showing a connection state of the channel portion of the laser diode 13 installed in the test fixture 12 shown in FIG. 2A.
상기 도면에 도시된 바와같이, 레이져 다이오드(13)가 장착되는 하부블럭(18)의 좌, 우 양측면이 금속판으로 된 프로브(19)에 의해 연장되어 나오고 상기 프로브(19)의 단부에 와이어(1, 16)를 부착시켜 와이어 끝 부위가 파워 공급기의 전원 연결(20, 21)과의 결착이 용이하도록 하는 연결단자(15)가 형성된다.As shown in the figure, the left and right sides of the lower block 18 on which the laser diode 13 is mounted are extended by the probe 19 made of a metal plate, and the wire 1 is connected to the end of the probe 19. , 16 is attached to the end of the wire is connected to the power supply (20, 21) of the power supply to facilitate the connection terminal 15 is formed.
또한 레이져 다이오드(13)가 장착된 하부블럭(18)의 일측면에서 연장되어 나온 와이어(1)는 인접한 레이져 다이오드와 와이어(20)에 의해 직렬로 연결되어진다.In addition, the wire 1 extending from one side of the lower block 18 on which the laser diode 13 is mounted is connected in series by the adjacent laser diode and the wire 20.
따라서 원하는 레이져 다이오드(13) 예컨데 채널(6)을 선택하여 파워 공급기의 전원선을 연결하면 채널 (1)번 부터 채널(6)번 까지의 레이져 다이오드에 전류가 흐르게 되어 레이져 다이오드(13) 소자의 신뢰성을 향상시키게 된다.Therefore, if the desired laser diode 13, for example, channel 6 is selected and the power supply line of the power supply is connected, current flows through the laser diode from channel 1 to channel 6 so that the laser diode 13 Improved reliability
상기와 같이 일정한 온도를 유지해 주는 오븐(11)과 상기 오븐(11)내에 수용되며 여러개의 레이져 다이오드(13)를 장착하고 있는 테스트 고정구(12)와 상기 테스트 고정구(12)의 연결단자(15)들에 연결되어 전류를 인기하는 파워 공급기(14)로 구성된 본 고안에 따른 레이져 다이오드 퍼지 장치를 이용하여 각 레이져 다이오드(13)들에 전류를 인가하여 안정화시키는 단계는 다음과 같이 이뤄진다.The test fixture 12 and the connection terminal 15 of the test fixture 12 accommodated in the oven 11 and the oven 11 to maintain a constant temperature as described above and equipped with a plurality of laser diodes 13 Using the laser diode purge device according to the present invention, which is composed of a power supply 14 that is connected to the electric field and popularizes the current, the step of applying current to each laser diode 13 and stabilizing is performed as follows.
먼저, 내부에 다수개의 레이져 다이오드(13)들을 직렬로 연결하여 장착한 테스트 고정구(12)를 오븐(11)내에 위지시킨 다음 오븐(11)내의 온도를 약 80℃ 내지 150℃의 범위에서 일정한 온도가 유지되도록 한다.First, the test fixture 12 mounted with a plurality of laser diodes 13 connected in series is positioned in the oven 11, and then the temperature in the oven 11 is a constant temperature in the range of about 80 ° C to 150 ° C. Is maintained.
다음, 파워 공급기(14)의 + 극 전원 연결선(20)을 테스트 고정구(12)의 최외각에 위치한 + 연결단자(15a)에 연결하고 테스트 하고자 하는 레이져 다이오드(13)를 선택하여 파워 공급기(14)의 - 극 전원 연결선(21)을 연결하여 전류를 흘러 줌으로써, 여러개의 레이져 다이오드(13)들을 손쉽게 테스트 할 수 있다.Next, the + pole power supply line 20 of the power supply 14 is connected to the + connection terminal 15a located at the outermost side of the test fixture 12, and the laser diode 13 to be tested is selected to select the power supply 14 It is possible to easily test several laser diodes (13) by connecting current through the pole power supply line (21).
이때, 또 다른 다이오드 소자를 테스트하기 위해서는 테스트 고정구(12)의 연결단자(15)들을 변경하여 파워 공급기(14)의 - 극 전원선(21)을 연결하면 된다.In this case, in order to test another diode device, the connection terminals 15 of the test fixture 12 may be changed to connect the negative pole power line 21 of the power supply 14.
이상, 상술한 바와같이 본 고안에 따른 레이져 다이오드 퍼지장치는 한대의 파워 공급기를 이용하여 여러개의 다이오드 소자에 동일한 전류를 흘려줌으로써 다이오드 소자의 신뢰성 테스트를 용이하게 할 수 있으며, 또한 레이져 다이오드를 장착시키는 각 채널 사이에 연결단자를 형성함으로써 테스트 하고자 하는 레이져 다이오드의 숫자를 쉽게 바꾸어 가며 쉽게 연결시킬 수 있다.As described above, the laser diode purge device according to the present invention can facilitate the reliability test of the diode device by flowing the same current to several diode devices by using a single power supply, and also to mount the laser diode. By connecting connectors between each channel, the number of laser diodes to be tested can be easily changed and connected.
Claims (6)
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|---|---|---|---|
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Family Applications (1)
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