KR20010095794A - Examining method and its system for plasma display panel of half finished goods - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A test method and test system for half-finished PDP is provided to reduce reject ratio and significantly increase yield rate by allowing the semi-finished PDP to be tested under the condition where the completely finished PDP is tested. CONSTITUTION: A test system(10) comprises chambers(12,14,16,18,20) having vacuum atmosphere and gas atmosphere same as the test atmosphere of the completely finished PDP; vacuum devices(74a to 74e) for vacuumization of chambers; a gas supply unit(126) for injecting gas to chambers; gate valves(48,50,52,54,56,58) for opening gates of chambers during transporting of a PDP test device, and separating chambers to be sealed when the PDP test device is stopped; gate valve open/shut units(60,62,64,66,68,70) for opening/shutting gate valves; the PDP test device for testing whether the semi-finished PDP is defective under the condition where the completely finished PDP is tested; and a transport unit(24) for transporting the PDP test device to the inside or outside of chambers.

Description

반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사방법 및 그 시스템{Examining method and its system for plasma display panel of half finished goods}Examination method and its system for plasma display panel of half finished goods

본 발명은 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사(시험)방법 및 그 시스템에 관한 것으로, 상세하게는 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel: 이하 "PDP" 이라 함.)의 전면유리와 후면유리를 결합하기 전의 반제품을 실제품에 장착한 것과 같은 진공분위기(약 100torr~300torr)와 가스분위기 환경하에서 불량여부를 연속적으로 검사(시험)하여 불량으로 판정되는 경우 바로 수리(원인을 제거)할 수 있도록 하거나 수리가 불가능한 경우 전면유리와 후면유리 중 양품만 사용하여 제조할 수 있게 함으로써 PDP의 불량율을 종래보다 수백 배 이하로 떨어뜨려 수율을 크게 향상시키고 제조원가를 절감할 수 있도록 한 것이다.The present invention relates to an inspection (test) method and a system of a semi-finished plasma display panel, and more particularly, to a semi-finished product before combining a front glass and a rear glass of a plasma display panel (hereinafter referred to as "PDP"). If it is determined to be defective by continuously inspecting (testing) for defects under the same vacuum atmosphere (approximately 100torr ~ 300torr) and gas atmosphere environment that is installed on the actual product, it is possible to repair (remove the cause) immediately or repair is impossible. By using only the good quality of the front glass and the rear glass to reduce the defect rate of the PDP to several hundred times less than the conventional to greatly improve the yield and reduce the manufacturing cost.

일반적으로 PDP는 제조회사나 제품에 따라 다양한 구조와 방법으로 제조되고 있으며, 주입하는 가스의 종류ㆍ가스주입량ㆍ진공도ㆍ인가전압ㆍ인가전류ㆍ인가전원형태ㆍ크기 등이 다양하여 PDP의 구조나 형상 및 제조방법 등을 특정 지을수 없는 형편이므로 본 발명에서 기술하고 있는 "PDP"라 함은 이들을 전부 포함하는 개념으로 가공이 완료된 이들 PDP의 전면유리와 후면유리를 결합하지 않는 반제품 상태에서 완제품과 같은 환경으로 시험(검사)환경을 조성하여 그 불량여부를 검사하는데 주안점이 있다.In general, PDPs are manufactured in various structures and methods according to the manufacturer or product, and the structure or shape of the PDP is varied due to the type of gas to be injected, gas injection amount, vacuum degree, applied voltage, applied current, applied power source type, and size. And a manufacturing method, etc., because it cannot be specified, the term " PDP " described in the present invention includes all of them, and the environment such as the finished product in the semi-finished state in which the front glass and the rear glass of the finished PDP are not combined. The main point is to create a test (inspection) environment and inspect the defects.

PDP는 가스의 방전현상에 의해 발생하는 자외선으로 형광체를 발광시켜 화상을 표시하는 디스플레이 장치로써 다른 평판 디스플레이 장치, 이를테면 LCD (Lyquid Crystal Display)나 E.L(Electro Luminescence) 디스플레이 모듈로 하기 어려운 대형 평판 디스플레이의 제작이 가능한 장점이 있다.PDP is a display device that displays an image by emitting phosphors by ultraviolet rays generated by the discharge of gas. For example, a large flat panel display device such as an LCD (Lyquid Crystal Display) or an EL (Electro Luminescence) display module cannot be used. There is an advantage that can be produced.

이러한 PDP는 통상 교류(AC) 방식과 직류(DC) 방식으로 대별되며, 교류방식의 PDP는 유전체를 사이에 두고 두 전극간에 교류 전압을 인가시켜 방전을 하고, 직류방식의 PDP는 직접 전극간에 직류전압을 인가시켜 방전을 하는데 특징이 있다.These PDPs are generally classified into alternating current (AC) and direct current (DC) methods. The alternating current type PDP discharges by applying an alternating voltage between two electrodes with a dielectric interposed therebetween, and the direct current type PDP directly discharges between electrodes. It is characteristic to discharge by applying voltage.

여기서, 교류방식의 PDP는 3전극을 이용하는 면방전형으로 전하 축적으로 메모리 효과를 갖는 유전체를 사용하기 때문에 저전력 구동이 가능한 장점이 있으며, 반면 직류방식의 PDP는 대향 방전형으로 직접 전극간에 전압을 인가시키므로 발광효율이 좋은 장점이 있지만 방전공간에 전극들이 노출되므로 수명이 짧아지는 단점이 있다.Here, the AC type PDP is a surface discharge type using three electrodes and has a merit of low power driving because it uses a dielectric having a memory effect as a charge accumulation, whereas the DC type PDP is a counter discharge type and applies a voltage directly between electrodes. Although the light emitting efficiency is good, the electrode is exposed to the discharge space, which shortens the lifespan.

한편, PDP를 제조회사나 PDP의 제품모델에 따라 제조방법(과정)이나 제조순서가 다르겠지만 본 발명의 이해를 돕기 위하여 PDP 제조공정의 일 예를 들면 도 1과 같다.On the other hand, although the manufacturing method (process) or manufacturing order of the PDP is different depending on the manufacturer or the product model of the PDP, an example of the PDP manufacturing process is shown in FIG. 1 to help the understanding of the present invention.

도 1은 상용화의 주류를 이루고 있는 교류(AC) 방식 PDP의 화소 셀에 포함되는 서브셀의 단면 구성도로, 통상 PDP의 화소 셀은 적(R)ㆍ녹(G)ㆍ청(B) 각각에 해당하는 3개의 서브셀로 구성된다.1 is a cross-sectional configuration diagram of a subcell included in a pixel cell of an AC system PDP which is the mainstream of commercialization. In general, pixel cells of a PDP are formed of red (R), green (G), and blue (B). It consists of three subcells.

상기 PDP의 서브셀은 화상의 표시면인 전면유리(1)에 대향하여 후면유리(2)가 소정거리로 이격하여 위치하게 되고, 이 전면유리(1)와 후면유리(2) 사이에는 스트라이프형의 격벽(3)을 형성함으로써 셀 내부에 방전공간이 형성된다.The subcells of the PDP are positioned with the rear glass 2 spaced apart by a predetermined distance from the front glass 1, which is the display surface of the image, and is formed between the front glass 1 and the rear glass 2 with a stripe type. The discharge space is formed inside the cell by forming the partition wall 3.

상기 격벽(3)을 형성하는 방법에는 스크린 인쇄법, 에칭법, 그리고 박막증착후 식각하는 방법 등이 있으며, 스크린 인쇄법은 인쇄와 건조를 수차례에 걸쳐 반복함으로써 격벽을 형성해가는 방법이다. 그리고, 에칭법은 일반적인 습식에칭으로서 격벽(3)재료를 화면 전 영역에 도포한 후 소정의 패턴을 가진 포토레지스트로 가리고 에칭용액에 담가 식각함으로써 격벽을 완성하는 방법이다.A method of forming the barrier rib 3 includes a screen printing method, an etching method, and a method of etching after thin film deposition. The screen printing method is a method of forming a partition by repeating printing and drying several times. The etching method is a general wet etching method in which the barrier 3 material is applied to the entire area of the screen, covered with a photoresist having a predetermined pattern, and immersed in an etching solution to be etched to complete the barrier.

한편, 전면유리(1) 상에는 두 개의 서스테인 전극들, 즉 스트라이프(stripe)형의 주사전극(4)과 유지전극(4a)이 나란히 배치되고, 서스테인 전극들(4)(4a)이 배치된 전면유리(1) 상에는 방전시 방전 전류를 제한하고 전하의 생성을 용이하게 하는 유전체층(5)이 평탄하게 형성되고, 유전체층(5) 위에는 두 전극(4)(4a) 간의 방전에 의해 일어나는 스퍼터링(sputtering)으로부터 상기 주사전극(4)과 유전체층 (3)의 손상을 방지하는 산화마그네슘(MgO) 보호막(4)이 증착된다.Meanwhile, on the windshield 1, two sustain electrodes, that is, a stripe type scan electrode 4 and a sustain electrode 4a are arranged side by side, and a front surface on which the sustain electrodes 4 and 4a are disposed. A dielectric layer 5 is formed on the glass 1 to limit the discharge current during discharge and to facilitate the generation of charge, and sputtering caused by the discharge between the two electrodes 4 and 4a on the dielectric layer 5. ), A magnesium oxide (MgO) protective film 4 is deposited to prevent damage to the scan electrode 4 and the dielectric layer 3.

후면유리(2) 상에는 스트라이프(stripe)형의 어드레스 전극(7)이 배치되며, 상기 어드레스전극(6)은 복수의 방전셀로 분리하여 셀간 혼색을 방지하고 방전공간을 확보할 수 있도록 스프라이프 타입의 격벽(3)이 배열 형성되며, 이 어드레스 전극(7)이 배치된 후면유리(2) 상에는 셀의 방전시 적ㆍ녹ㆍ청의 가시광을 각각 방출하기 위한 적ㆍ녹ㆍ청 형광체 중 어느 하나가 격벽(3)의 일부분을 포함하여 도포되며, 이렇게 구성된 PDP 셀의 내부공간에는 제조회사나 제품모델에 따라 달라지나 비활성 기체, 이를테면 아르곤(Ar), 네온+크세논 등이 봉입된다.A stripe type address electrode 7 is disposed on the rear glass 2, and the address electrode 6 is separated into a plurality of discharge cells to prevent color mixing between cells and to secure a discharge space. Partition walls 3 are arranged, and on the rear glass 2 on which the address electrodes 7 are arranged, any one of red, green, and blue phosphors for emitting red, green, and blue visible light when the cells are discharged Part of the partition wall 3 is applied, and the interior space of the PDP cell configured as described above is dependent on the manufacturer or product model, but inert gas, such as argon (Ar), neon + xenon, etc. is encapsulated.

상기 가스들은 주사전극(4)과 어드레스 전극(4a) 간의 대향방전, 즉 주사방전에 의해 전자와 이온으로 전리되어 플라즈마 상태로 되며, 이 플라즈마 상태에서 가스 입자들이 충돌에 의해 여기(excitation)되어 자외선이 발생하고 상기 자외선에 의해 형광체가 여기되어 발광하는 방식으로 칼라화상이 표현된다.The gases are converted into electrons and ions by opposing discharges between the scan electrode 4 and the address electrode 4a, i.e., by scanning discharge, into a plasma state, and in this plasma state, gas particles are excited by collision and are ultraviolet rays. This occurs and the color image is expressed in such a manner that the phosphor is excited by the ultraviolet rays and emits light.

한편, 상기와 같은 구성의 PDP는 제품모델에 따라 다르기는 하지만 대략 X축으로 수백 개의 방전전극이 형성되고, Y축으로는 수천 개의 칼라신호 전극이 형성되므로 배선이 매우 복잡한 편이다, 따라서 전면유리와 후면유리를 접합한 후의 PDP 제조 불량율이 제조회사나 제품모델에 따라 수십 %(통상 10%~50%)에 달하므로원가상승 부담요인이 있다.On the other hand, although the PDP of the above-described configuration varies depending on the product model, the wiring is very complicated because hundreds of discharge electrodes are formed on the X axis and thousands of color signal electrodes are formed on the Y axis. PDP manufacturing defect rate after laminating to rear glass reaches tens of percent (typically 10% ~ 50%) depending on the manufacturer or product model, and there is a burden of cost increase.

불량율이 수십 %에 달하는 저변에는 대형 PDP에 고직접도의 셀과 전극배선과 격벽 및 산화마그네슘 절연층(MgO)이 형성되기 때문이며, 전극이나 패턴의 단선 및 단락과 같은 전기적인 단락과 먼지나 이물유입에 의한 오염과, 검사자가 육안으로 식별하여 불량여부를 판정하거나 CCD카메라에 의한 자동검사를 하여도 X-Y-Z축에 대한 입체적 검사가 어려울 뿐 아니라주위환경 및 개인의 신체 상태에 따라 PDP 결함 판정의 기준이 다르고 개인오차가 심하게 발생하므로 자동검사도 완벽하지 못하므로 PDP의 결함 산포가 불규칙함에 기인한다.At the bottom, where the defective rate reaches tens of percent, high direct cells, electrode wirings, barrier ribs, and magnesium oxide insulating layer (MgO) are formed on large PDPs. It is not only difficult to check the XYZ axis three-dimensionally even if contamination due to inflow and the inspector identifies with the naked eye to determine whether it is defective or by automatic inspection by a CCD camera. This is due to the irregular distribution of defects in the PDP because the automatic inspection is not perfect because of different and severe personal errors.

또한, 도 2에 도시한 바와 같이 PDP의 제조과정에서 주로 발생하는 불량(결함) 패턴을 살펴보면 기판이나 산화마그네슘(MgO)의 증착불량 전극의 이상 및 절연파괴 등에 의한 아일랜드(Island), 방전거리 불균일에 의한 쇼트(Short), 셀에 구멍이 형성되는 핀 홀(Pin Hole), 전극의 단선과 같은 오픈(Open), 미세먼지나 이물질 혼입 등에 의한 방전불량 등을 들 수 있으며, 이외에도 도 3과 같은 유형의 각종 불량들이 나타나게된다.In addition, as shown in FIG. 2, the defect (defect) pattern mainly generated in the manufacturing process of the PDP is characterized in that the substrate or magnesium oxide (MgO) is poor due to abnormal electrode deposition and dielectric breakdown. Short due to the hole, a pin hole in which a hole is formed in the cell, an open such as disconnection of the electrode, and a discharge failure due to the mixing of fine dust or foreign substances, etc. Various defects of the type will appear.

또한, PDP의 제조공정을 개선하더라도 불량율을 떨어뜨리지 않는 이상 제조원가를 낯추기 어려운 편이며, PDP의 평면적이 대형이므로 획기적인 불량감소가 어려운 편이다.In addition, even if the manufacturing process of the PDP is improved, it is difficult to reduce the manufacturing cost unless the defect rate is lowered. Since the large size of the PDP is large, it is difficult to drastically reduce defects.

따라서, 본 발명은 PDP의 전면유리와 후면유리를 최종적으로 접합하기 전(반제품 상태)에 불량여부를 검사하여 불량으로 판정되는 경우 바로 수리(원인을 제거)할 수 있도록 하거나 수리가 불가능한 경우 전면유리와 후면유리 중 양품만 사용하여 제조할 수 있게 함으로써 PDP의 불량율을 종래보다 수백 배 이하로 떨어뜨려 수율을 크게 향상시키고 제조원가를 절감할 수 있는 PDP 검사방법과 그 시스템을 제공함으로써 원가를 절감하고 PDP의 대중화에 기여하도록 함에 목적이 있다.Therefore, the present invention is to check whether the defect before the final bonding of the front glass and the rear glass of the PDP (semi-finished state) to be repaired (remove the cause) if it is determined to be defective or if the front glass is not repairable PDP inspection method and system that can improve the yield and reduce the manufacturing cost by lowering the defect rate of PDP by several hundred times or less by using only good quality products and the back glass can be manufactured. Aim to contribute to the popularization of

또한, 본 발명은 반제품 상태의 PDP를 마치 완제품과 같은(실제품에 장착한 것과 같은) 진공분위기(약 100torr~300torr)와 가스(gas)분위기 하에서 검사할 수 있는 방법과 그 시스템을 제공함에 목적이 있다.It is also an object of the present invention to provide a method and system for inspecting a semi-finished PDP in a vacuum atmosphere (about 100torr to 300torr) and a gas atmosphere as if it were a finished product. have.

또한, 본 발명은 반제품 상태의 PDP를 완제품과 같은 진공분위기(약 100torr~300torr)와 가스(gas)분위기에서 직접 방전을 하여 형광면을 발광시켜 눈으로 혹은 CCD 카메라로 검사할 수 있는 시스템(System)을 제공함에 목적이 있다.In addition, the present invention is a system that can be inspected by the eyes or a CCD camera to emit a fluorescent surface by directly discharging the PDP in the semi-finished state in a vacuum atmosphere (about 100torr ~ 300torr) and gas atmosphere such as the finished product The purpose is to provide.

또한, 검사 챔버에서 방전가스의 작용에 의해 약 100torr~300torr의 진공도에서도 검사회로의 간섭이나 절연이 파괴되고 아울러 검사회로를 구성하는 부품이나 소자의 내ㆍ외부에 잔류하는 공기분자들이 챔버로 빠져나오면서 진공도 저하 혹은 이물질 분자에 의한 오염등이 발생하므로 검사회로를 진공에폭시로 몰딩시켜 전기절연과 진공도 저하를 방지하도록 함을 목적으로 한다.In addition, due to the action of the discharge gas in the inspection chamber, the interference or insulation of the inspection circuit is destroyed even at a vacuum degree of about 100 torr to 300 torr, and the air molecules remaining inside and outside of the components or elements constituting the inspection circuit come out of the chamber. Since the degree of vacuum decreases or contamination by foreign matter molecules is generated, the test circuit is molded into the vacuum epoxy to prevent the electrical insulation and the degree of vacuum decrease.

또한, 본 발명은 PDP의 전면유리와 후면유리를 별도로 검사하여 수리할 수 있게 함으로써 불량율을 크게 떨어뜨릴 수 있도록 함을 목적으로 한다.In addition, the present invention aims to significantly reduce the defective rate by allowing the front glass and the rear glass of the PDP to be inspected and repaired separately.

또한, 본 발명은 진공을 위한 배기, 고진공배기, 가스주입 및 검사, 검사된 PDP를 끄집어내기 위하여 다단으로 진공을 해제하는 고진공배기 및 배기를 일련의 연속적인 공정으로 신속히 진행하여 생산성을 향상시키도록 함을 목적으로 한다.In addition, the present invention is to improve the productivity by rapidly progressing a high vacuum exhaust and exhaust for releasing the vacuum in multiple stages to exhaust the exhaust, high vacuum exhaust, gas injection and inspection, inspection PDP for vacuum in a series of continuous processes For the purpose of

또한, 본 발명은 연속적인 검사시스템으로 검사에 필요한 준비과정 즉 대기압저진공고진공가스주입검사고진공저진공배기상태로 출력함으로써 전체 소요시간을 줄이도록 함을 목적으로 하며 1개의 챔버로도 검사작업을 수행할 수 있다.In addition, the present invention is a continuous inspection system to prepare the inspection process, that is, atmospheric pressure Low vacuum High vacuum Gas injection inspection High vacuum Low vacuum By outputting in the exhausted state, it is intended to reduce the total time required and inspection can be performed with one chamber.

또한, 3개의 챔버로 DPD 검사에 필요한 준비과정 즉 대기압저진공고진공가스주입검사고진공저진공배기상태로 출력함으로써 PDP 검사작업을 수행할 수 있도록 함을 목적으로 한다.In addition, the three chambers provide the preparation required for DPD inspection, i.e. atmospheric pressure. Low vacuum High vacuum Gas injection inspection High vacuum Low vacuum It aims to be able to perform PDP inspection work by outputting in exhaust state.

상기 목적을 달성하기 위하여 PDP의 검사에 필요한 진공분위기를 조성하고 아울러 방전에 필요한 가스가 주입 및 배기되는 복수 개의 챔버와, 검사장치가 이송(운반)될 때 게이트 밸브를 개방시키고 검사장치가 챔버에 안착 정지하면 챔버끼리 격리시켜 기밀을 유지하는 게이트 밸브와, 게이트 밸브를 개방 및 폐쇄하는 게이트 밸브 개폐수단과, 반제품 PDP를 마치 완성품 PDP와 같은 상황으로 재현된 진공분위기와 가스분위기 하에서 불량여부를 검사하는 PDP 검사장치와, PDP 검사장치를 챔버의 안이나 바깥 또는 옆의 챔버로 이송(운반)시키는 이송장치으로 구성된다.In order to achieve the above object, a plurality of chambers in which a vacuum atmosphere for inspecting a PDP is formed and a gas necessary for discharging is injected and exhausted, a gate valve is opened when the inspection apparatus is transported (transported), and the inspection apparatus is provided in the chamber. When the seating stops, the gate valve is isolated to maintain the air tightness, the gate valve opening and closing means for opening and closing the gate valve, and the semi-finished PDP is inspected for defects under the vacuum atmosphere and gas atmosphere reproduced in the same situation as the finished product PDP. It consists of a PDP inspection apparatus and a transfer apparatus for transferring (transporting) the PDP inspection apparatus to a chamber inside, outside, or next to the chamber.

또한, 챔버는 1×10-4torr의 진공도를 1차 확보하는 배기챔버와, 1차 배기된 진공을 고진공 펌프를 이용하여 1 ×10-4torr~1 ×10-6torr의 진공도를 확보하는 고진공챔버와, 약 100torr~300torr의 진공하에서 PDP 검사에 필요한 방전가스를 주입하여 실제와 같은 가스분위기를 조성한 다음 반제품 PDP의 불량 여부를 검사하는가스주입 및 검사챔버와, 검사가 완료된 PDP를 바깥으로 끄집어 낼 때 가스주입 및 검사챔버로 이물이나 불순물의 유입을 방지하는 고진공챔버와 외기와 같은 압력으로 만드는 및 배기챔버로 구성되며, 본 발명 검사시스템은 가스주입 및 검사챔버를 기준으로 대칭되는 구조이다.In addition, the chamber is configured to secure a vacuum degree of 1 × 10 -4 torr to 1 × 10 -6 torr by using an exhaust chamber for firstly securing a vacuum degree of 1 × 10 -4 torr and a high vacuum pump for the first exhausted vacuum. Inject high-pressure chamber, discharge gas required for PDP inspection under vacuum of about 100torr ~ 300torr to create a realistic gas atmosphere, and then gas injection and inspection chamber to check whether the semi-finished product PDP is defective, and the PDP after inspection It is composed of a high vacuum chamber that prevents the inflow of foreign substances or impurities to the gas injection and inspection chamber and the exhaust chamber made of the same pressure as the outside air and the exhaust chamber when it is pulled out, and the inspection system of the present invention is symmetrical with respect to the gas injection and inspection chamber. .

상기에서 중진공이 유지되는 배기챔버와 고진공이 유지되는 고진공챔버에는 자외선램프를 각각 설치하여 챔버 내부에 잔류하는 수증기 분자(물분자)를 자외선으로 여기시켜 진공도를 빨리 달성할 수 있도록 한다.In the above-mentioned exhaust chamber for maintaining a medium vacuum and high vacuum chamber for maintaining a high vacuum, respectively, an ultraviolet lamp is installed to excite water vapor molecules (water molecules) remaining in the chamber with ultraviolet rays so that the degree of vacuum can be quickly achieved.

또한, 검사장치는 서로 겹쳐지는 PDP와, 겹쳐진 PDP의 전면유리와 후면유리를 기구적으로 고정시켜주는 클램프장치와, PDP로 구동신호와 영상신호를 인가하는 PDP 구동회로 어레이와, PDP 구동회로 어레이로 동작전원을 공급하는 전원부와, 시험화상신호를 PDP 구동회로 어레이를 통하여 PDP로 공급하는 패턴발진기(pattern generater)와, PDP의 단자를 전기적으로 연결하는 착탈식 PDP소켓으로 구성된다. 또한, 가스주입 및 검사챔버에 배기관을 연결하고, 상기 배기관에 개폐밸브 및 진공장치와, 가스공급장치와 복수 개의 가스봄베를 연결하여 반제품 PDP 검사에 필요한 가스를 공급하여 완제품 PDP와 같은 가스분위기를 조성하도록 한다.In addition, the inspection apparatus includes a PDP overlapping with each other, a clamp device for mechanically fixing the front glass and the rear glass of the overlapping PDP, a PDP driving circuit array for applying a driving signal and an image signal to the PDP, and a PDP driving circuit array. And a power supply unit for supplying operating power to the PDP, a pattern generator for supplying the test image signal to the PDP through the PDP driving circuit array, and a removable PDP socket for electrically connecting the terminals of the PDP. In addition, by connecting the exhaust pipe to the gas injection and inspection chamber, and connecting the on-off valve and vacuum device, the gas supply device and a plurality of gas cylinders to the exhaust pipe to supply the gas required for semi-finished PDP inspection gas atmosphere such as the finished product PDP Make it happen.

도 1 : 본 발명의 이해를 돕기 위한 일반적인 PDP의 단면 구성도.1 is a cross-sectional view of a general PDP for better understanding of the present invention.

도 2, 도 3 : PDP에 나타나는 결함 패턴 유형도.2 and 3: Defect pattern type diagrams appearing on the PDP.

도 4 : PDP의 제조공정의 일 실시에서의 개략적인 순서도.4 is a schematic flowchart of one embodiment of a manufacturing process of a PDP.

도 5 : 본 발명 PDP의 제조공정의 일 실시 예의 순서도.5 is a flowchart of one embodiment of a manufacturing process of the present invention PDP.

도 6 : 본 발명 연속 검사시스템의 구성도.6 is a block diagram of a continuous inspection system of the present invention.

도 7 : 본 발명 연속 검사시스템의 부분 확대도.7 is a partially enlarged view of the continuous inspection system of the present invention.

도 8 : 본 발명 검사장치의 구성도.8 is a block diagram of the inspection device of the present invention.

도 9 : 본 발명 검사시스템의 회로 블럭도.9 is a circuit block diagram of the inspection system of the present invention.

도 10 : 본 발명 다른 실시 예의 단면 구성도.10 is a cross-sectional view of another embodiment of the present invention.

도 11 : 본 발명 또 다른 실시 예의 단면 구성도.11 is a cross-sectional view of another embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for main parts of the drawings>

(10)--PDP 검사시스템 (12)(14)(16)(18)(20)--챔버(10)-PDP Inspection System (12) (14) (16) (18) (20)-Chamber

(22)--PDP 검사장치 (24)--이송(운반)장치(22)-PDP Inspection Device (24)-Transfer (Transport) Device

(25)--피딩롤러 (27)--피딩벨트(25)-Feeding Roller (27)-Feeding Belt

(29)--감속모터(29)-Reduction Motor

(26)(28)(30)(32)(34)(36)(38)(40)(42)--게이트(26) (28) (30) (32) (34) (36) 38 (40) (42)-Gate

(48)(50)(52)(54)(56)(58)--게이트 밸브(48) (50) (52) (54) (56) (58)-gate valve

(60)(62)(64)(66)(68)(70)--게이트 밸브 개폐수단(60) (62) (64) (66) (68) (70)-gate valve opening and closing means

(74)--진공장치 (76)(78)--자외선램프(74)-Vacuum Devices (76) (78)-Ultraviolet Lamps

(80)(82)(84)(86)(88)--투명 강화유리 (90)(92)(94)(96)(98)--패킹(80) (82) (84) (86) (88)-Transparent Tempered Glass (90) (92) (94) (96) (98)-Packing

(100)--지지부재 (102)--전면유리(100)-support member (102)-front glass

(104)--후면유리 (106)--간격유지재(104)-Rear Glass (106)-Gap Maintenance Material

(108)--반제품 PDP (110)--PDP구동회로 어레이(108)-Semifinished PDP (110)-PDP Drive Circuit Array

(112)--전원부 (114)--패턴발진기(112)-Power Source (114)-Pattern Oscillator

(117)--PDP 소켓 (118)--급ㆍ배기관(117)-PDP socket (118)-

(120)(120a)--배기관 (122)--개폐밸브(120) (120a)-Exhaust Pipe (122)-Open / Close Valve

(124)--제어기 (126)--가스공급장치(124)-Controller (126)-Gas Supply

(128)--가스봄베 (130)--이송위치감지기(128)-Gas Cylinder (130)-Transfer Position Detector

(132)--게이트 밸브 개ㆍ폐감지기 (134)--진공게이지(132)-Gate Valve Open / Closed Detector (134)-Vacuum Gauge

(136)--이송장치 구동드라이버(136)-Travel Drive Driver

이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부한 도면에 따라 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 PDP를 제조회사나 PDP의 제품모델에 따라 다르겠지만 일 예로 제시한 종래 PDP의 개략적인 제조순서를 도시한 도면으로, 제조 메이커별로 공정은 다르지만 대략 PDP의 전면유리와 후면유리가 각각의 공정에 의해 가공되며, 전면유리의 경우 세정방전전극인쇄산화마그네슘(MgO)코팅을 거쳐 전면유리를 가공하게 되며, 후면유리의 경우 세정어드레스전극인쇄격벽쌓기산화마그네슘(MgO) 코팅청색(B)형광인쇄녹색(G)형광인쇄적색(R)형광 인쇄하여 후면유리를 가공하게된다.4 is a view illustrating a schematic manufacturing procedure of a conventional PDP, which is shown as an example but different according to a manufacturer or a product model of the PDP. Processed by process, cleaning of windshield Discharge electrode printing The front glass is processed through magnesium oxide (MgO) coating, and the rear glass is cleaned. Address electrode printing Bulkhead Magnesium Oxide (MgO) Coating Blue (B) fluorescent printing Green (G) Fluorescent Printing Red (R) fluorescent printing is used to process the rear glass.

또한, 상기의 과정으로 가공된 전면유리와 후면유리를 프리트 글라스로 결합시켜 용접한 다음 후면유리의 배면 모서리 부분에 형성되는 배기구를 통하여 1 ×10-7torr의 고진공을 유지하면서 유리를 350℃정도 가열하여 흡착 불순물을 배기시켜 방전에 필요한 가스를 주입(약100torr~300torr)하고, 충분한 에이징(Ageing)으로 방전전극을 활성화 시킨 다음 최종동작과정을 거쳐 PDP의 제조를 완성하게된다.In addition, the front glass and the rear glass processed by the above process is bonded by welding the glass, and then maintain the high vacuum of 1 × 10 -7 torr through the exhaust hole formed in the rear corner portion of the rear glass while maintaining the glass about 350 ℃ After heating, the adsorbed impurities are exhausted to inject the gas necessary for discharge (about 100 tortor to 300 torr), activate the discharge electrode with sufficient aging, and then complete the manufacturing of the PDP through the final operation process.

한편, 본 발명에서는 도 5와 같이 전면유리와 후면유리를 용접으로 결합하기 바로 전인 반제품 상태로 불량여부를 검사하게되며, 상기 도 5 또한 도 4 처럼 PDP를 제조회사나 PDP의 제품모델에 따라 제조공정이나 순서가 달라짐은 물론이다.On the other hand, in the present invention, as shown in Figure 5 is a defect in the semi-finished state immediately before the combination of the front glass and the rear glass by welding, Figure 5 also manufactured as shown in Figure 4 PDP according to the manufacturer or product model of the PDP Of course, the process and the order is different.

검사결과 PDP의 불량이 발견되면 수리하여 원인을 제거하거나 수리가 불가능한 경우 전면유리와 후면유리 중 양품만 사용하여 PDP를 재차 제조하도록 함으로써 PDP의 불량율이 종래보다 수백 배 이하로 감소되어 수율이 크게 향상되며 제조원가 절감으로 대중화에 기여할 수 있다.If the inspection finds a defect in the PDP, it can be repaired to remove the cause, or if it is impossible to repair, the PDP will be re-manufactured using only the good quality of the front glass and the rear glass. It can contribute to popularization by reducing manufacturing costs.

도 6은 본 발명 PDP 검사시스템(10)의 단면 구성도로, PDP의 검사에 필요한진공분위기를 조성하고 아울러 방전에 필요한 가스가 주입 및 배기되는 복수 개의 챔버(12)(14)(16)(18)(20)와, 복수 개의 피딩롤러로 구성된 이송장치(24)에 의해 검사장치(22)가 이송(운반)될 때 각 챔버(12)(14)(16)(18)(20)의 게이트(26)(28) (30)(32)(34)(36)(38)(40)(42)를 개방시키고 PDP 검사장치(22)가 챔버에 안착 정지하면 챔버(12)(14)(16)(18)(20)끼리의 기밀이 유지되도록 격리시키는 게이트 밸브 (48)(50)(52)(54)(56)(58)와, 게이트 밸브(48)(50)(52)(54)(56)(58)를 개방 및 폐쇄하는 게이트 밸브 개폐수단(60)(62)(64)(66)(68)(70)과, 반제품 PDP를 마치 완성된 PDP와 같은 환경으로 조성된 진공분위기(약 100torr~300torr)와 가스분위기 하에서 PDP의 불량여부를 검사하는 PDP 검사장치(22)와, PDP 검사장치(44)를 챔버 (12)(14)(16)(18)(20)의 안이나 바깥으로 이송(운반)시키거나 옆의 챔버(12)(14) (16)(18)(20)로 이송(운반)시키는 이송장치(24)로 구성된다.FIG. 6 is a cross-sectional configuration diagram of the PDP inspection system 10 of the present invention, in which a plurality of chambers 12, 14, 16, 18 are formed in which a vacuum atmosphere necessary for the inspection of the PDP is formed, and gas for discharge is injected and exhausted. 20 and the gates of the chambers 12, 14, 16, 18 and 20 when the inspection apparatus 22 is transported (transported) by the conveying device 24 composed of a plurality of feeding rollers. (26) (28) (30) (32) (34) (36) (38) (40) (42) are opened and the chamber (12) (14) ( 16, 18, 20 gate valves 48, 50, 52, 54, 56, 58, and gate valves 48, 50, 52 to isolate the airtight from each other. The gate valve opening and closing means 60, 62, 64, 66, 68 and 70 for opening and closing 54, 56 and 58, and the semi-finished PDP are constructed in the same environment as the finished PDP. PDP inspection device 22 for inspecting whether PDP is defective under vacuum atmosphere (about 100torr to 300torr) and gas atmosphere, and PDP inspection device 44 are provided with chambers 12, 14, 16, 18 and 20. of It consists of a conveying device 24 for conveying (transporting) inwards and outwards or for transporting (transporting) to the side chambers 12, 14, 16, 18, 20.

상기 이송장치(24)는 도 7과 같이 수평상태로 고르게 나열되는 복수 개의 피딩롤러(25)와, 피딩롤러(25)를 감싸고 있는 피딩벨트(27)와, 일측 피딩롤러를 구동시키는 감속모터(29)로 구성되어 그 상부에 안착하는 검사장치(22)를 정지 및 이송시키게 된다.The conveying device 24 is a plurality of feeding rollers 25 evenly arranged in a horizontal state as shown in Figure 7, the feeding belt 27 surrounding the feeding roller 25, and a reduction motor for driving one side of the feeding roller ( 29) is configured to stop and transport the inspection device 22 seated on the top.

상기에서 피딩벨트(27)의 재질은 바이톤 계열의 고무로 형성하여 챔버를 진공시킬때 그 영향을 최소화 할 수 있도록 하고, 챔버의 바깥에 설치되는 감속모터 (29)와 일측 피딩롤러(25)의 연결부분에는 진공오링으로 기밀을 유지하도록 한다.The material of the feeding belt 27 is formed of a Viton-based rubber to minimize the effects of vacuuming the chamber, and the reduction motor 29 and one side feeding roller 25 installed outside the chamber. The airtight part is to be kept tight by vacuum o-rings.

상기 챔버(12)(14)(16)(18)(20)는 도 6과 같이 검사에 필요한 진공분위기인1 ×10-4torr~1 ×10-6torr의 적절한 진공도를 얻기 위하여 진공장치(74a)로 1 ×10-1torr~1 ×10-3torr의 진공도를 1차 확보하는 배기챔버(12)와, 1차 배기된 진공을 진공장치(74a)를 이용하여 1 ×10-4torr~1 ×10-6torr의 진공도를 확보하는 고진공챔버(14)와, 100torr~300torr 전후의 진공분위기 하에서 검사에 필요한 가스, 예컨데 아르곤(Ar), 크세논(Xe), 네온(Ne)과 같은 가스를 챔버 또는 반제품 PDP(108)의 전면유리와 후면유리 사이로 주입하여 완제품 PDP와 같은 가스분위기를 조성하여 반제품 PDP의 불량여부를 검사하는 가스주입 및 검사챔버(16)와, 검사가 완료된 반제품 PDP를 검사시스템(10)의 바깥으로 끄집어내기 전에 가스주입 및 검사챔버(16)로 이물이나 불순물 유입을 방지하도록 1 ×10-4torr~1 ×10-6torr의 진공도를 유지하는 고진공챔버(18)와, 반제품 PDP를 검사시스템의 바깥으로 완전히 끄집어낼 수 있도록 게이트 밸브(70)를 열어 진공해제 함으로써 대기와 같은 기압으로 만드는 배기챔버(20)로 구성된다.The chambers 12, 14, 16, 18, and 20 are vacuum devices (1) to obtain an appropriate degree of vacuum of 1 × 10 -4 torr to 1 × 10 -6 torr, which is a vacuum atmosphere required for inspection as shown in FIG. 74a) with an evacuation chamber 12 for securing a primary degree of vacuum of 1 × 10 −1 torr to 1 × 10 −3 torr, and the first exhausted vacuum using a vacuum device 74a to 1 × 10 −4 torr High vacuum chamber 14 which secures a vacuum degree of ˜1 × 10 −6 torr, and gases required for inspection under vacuum atmospheres around 100torr to 300torr, for example, gases such as argon (Ar), xenon (Xe), and neon (Ne) Gas injection and inspection chamber (16) for inspecting whether the semi-finished product PDP is defective by forming a gas atmosphere such as a finished product PDP by injecting the gas between the front glass and the rear glass of the chamber or semi-finished product PDP (108). 1 × 10 -4 torr to 1 × 10 -6 to to prevent foreign material or impurities from entering the gas injection chamber and the inspection chamber 16 before taking it out of the inspection system 10. It consists of a high vacuum chamber 18 which maintains a vacuum degree of rr and an exhaust chamber 20 which opens and releases the gate valve 70 to release the vacuum so that the semi-finished product PDP can be completely taken out of the inspection system. .

본 발명에서 PDP의 시험에 필요한 고진공도를 얻기 위하여 배기챔버(12)의 고진공챔버(14)를 이용하여 다단으로 진공하게 된다.In the present invention, in order to obtain the high vacuum required for the test of the PDP, the vacuum is carried out in multiple stages using the high vacuum chamber 14 of the exhaust chamber 12.

한편, 1 ×10-3torr 까지는 쉽게 진공시킬 수 있으며, 따라서 본 발명에서 시험에 필요한 진공도를 빨리 달성하기 위하여 1 ×10-1torr~1 ×10-3torr 정도의 진공도를 유지시켜도 반제품 PDP의 시험이 가능하지만 이물질이나 먼지 등에 의해 반제품 PDP가 오히려 오염되면서 불량화 할 수 있으므로 본 발명에서는 배기할 때 1 ×10-4torr~1 ×10-6torr로 유지하는 것이 바람직하다.On the other hand, it can be easily vacuumed up to 1 × 10 -3 torr, so that in order to achieve the vacuum degree required for the test in the present invention, even if the vacuum degree of 1 × 10 -1 torr to 1 × 10 -3 torr is maintained, Although the test is possible, the semi-finished product PDP may be deteriorated due to contamination or dust, and thus, the present invention is preferably maintained at 1 × 10 −4 torr to 1 × 10 −6 torr when evacuating.

본 발명에서 배기챔버(12)(20)와 고진공챔버(14)(18)의 내부에는 자외선램프 (76)(78)를 각각 설치하여 이들 챔버(12)(14)(18)(20)의 내벽면에 붙어 있거나 챔버(12)(14)(18)(20)내에 잔류하는 수증기(물)분자를 여기(excitation)시켜 원하는 진공도를 빨리 달성할 수 있도록 한다.In the present invention, ultraviolet lamps 76 and 78 are provided inside the exhaust chambers 12 and 20 and the high vacuum chambers 14 and 18, respectively. Water vapor (water) molecules adhering to the inner wall or remaining in the chambers 12, 14, 18 and 20 are excited to achieve the desired degree of vacuum quickly.

또한, 배기챔버(12a)(18a)의 일단에는 진공을 해제시킬 때 수초간에 걸쳐 서서히 해제시킬 수 있는 리크밸브(121a)(123a)를 각각 설치하여 진공해제에 따른 충격이나 충격소음을 방지하도록 한다.In addition, each of the exhaust chambers 12a and 18a is provided with leak valves 121a and 123a, which can be released gradually for several seconds when releasing the vacuum, so as to prevent shock or impact noise due to vacuum release. .

본 발명에서 챔버(12)(14)(16)(18)(20)는 고진공에도 충분히 견딜 수 있는 내구력의 스텐레스나 알루미늄 합금 재질을 사용함이 바람직하며, 그 구조를 살펴보면 사각형상(정사각형상 또는 직사각형상)의 통구조가 적절하며, 챔버(12)(14) (16)(18)(20)의 양측으로 이송장치(24)에 의해 검사장치(22)가 지나갈 수 있는 게이트(26)(28)(30)(32)(34)(36)(38)(40)(42)가 각각 형성되고, 챔버(12)(14)(16) (18)(20)의 상부로 열린 개방부가 형성된다.In the present invention, the chambers 12, 14, 16, 18, and 20 are preferably made of stainless steel or aluminum alloy, which is durable enough to withstand high vacuum, and the structure of the chambers 12, 14, 16, 18, and 20 is rectangular (square or rectangular). The upper and lower cylindrical structures are suitable, and gates 26 and 28 through which the inspection device 22 can pass by the transfer device 24 to both sides of the chambers 12, 14, 16, 18 and 20. 30, 32, 34, 36, 38, 40, and 42 are formed respectively, and the openings opened to the upper portions of the chambers 12, 14, 16, 18 and 20 are formed. do.

그리고 챔버(12)(14)(16)(18)(20)의 게이트(26)(28)(30)(32)(34)(36)(38) (40)(42) 사이에는 기밀유지 수단을 갖는 통상의 진공용 게이트 밸브(48)(50)(52) (54)(56)(58)가 각각 설치되며, 상기 게이트 밸브(48)(50)(52)(54)(56)(58)는 에어실린더와 같은 개폐수단(60)(62)(64)(66)(68)(70)에 의해 승강 또는 전ㆍ후진 또는이들의 복합운동으로 게이트(26)(28)(30)(32)(34)(36)(38)(40)(42)를 개폐하게 된다.And the airtightness between the gates 26, 28, 30, 32, 34, 36, 38, 40, 42 of the chambers 12, 14, 16, 18, 20. Normal vacuum gate valves 48, 50, 52, 54, 56 and 58 with means are provided, respectively, and the gate valves 48, 50, 52, 54 and 56 are respectively provided. 58 is a gate 26, 28, 30 in the lifting or moving forward or backward, or a combined movement thereof by the opening and closing means 60, 62, 64, 66, 68, 70, such as an air cylinder. (32) (34) (36) (38) (40) (42) are opened and closed.

개방부가 형성된 챔버(12)(14)(16)(18)(20)의 상부에는 챔버(12)(14)(16) (18)(20)의 내부를 관망할 수 있는 투명 강화유리(80)(82)(84)(86)(88)를 각각 얹어 설치하도록 하고, 챔버(12)(14)(16)(18)(20)의 개방부 가장자리 부분과 투명 강화유리(80)(82)(84)(86)(88)의 가장자리 부분 사이에는 기밀유지용 패킹(90)(92) (94)(96)(98)을 설치하여 챔버(12)(14)(16)(18)(20)의 기밀을 유지하도록 한다.The upper part of the chambers 12, 14, 16, 18, and 20 in which the openings are formed is transparent tempered glass 80 capable of viewing the interior of the chambers 12, 14, 16, 18, and 20. (82) (84) (86) (88) are installed on top of each other, and the open edges of the chambers (12) (14) (16) (18) (20) and the transparent tempered glass (80) (82) Airtight packings 90, 92, 94, 96 and 98 are installed between the edges of the (84) (86) and (88) chambers (12) (14) (16) (18). Keep confidentiality of (20).

상기 투명 강화유리(80)(82)(84)(86)(88)는 1 ×10-6torr의 고진공에도 충분히 견딜 수 있는 두께와 강도를 갖도록 하고, 투명 강화유리(80)(82)(84)(86)(88)의 저부면에는 도 7과 같이 복수 개의 지지부재(100)를 고른 간격으로 각각 설치하여 고진공에 의해 투명 강화유리(80)(82)(84)(86)(88)가 챔버(12)(14)(16)(18)(20)안으로 함몰되거나 밴딩되는 현상을 방지하도록 한다.The transparent tempered glass (80, 82, 84, 86, 88) has a thickness and strength that can withstand high vacuum of 1 × 10 -6 torr sufficiently, and the transparent tempered glass (80, 82) ( The bottom surface of the 84, 86, 88 is provided with a plurality of support members 100 at even intervals, as shown in Figure 7, respectively, transparent glass 80, 82, 84, 86, 88 by high vacuum ) To prevent depression or banding into chambers 12, 14, 16, 18 and 20.

도 8은 본 발명 PDP 검사장치(22)의 단면구성도로, 서로 겹쳐지는 전면유리 (102)와 후면유리(104)가 얹어져 안착되는 받침부재(109)와, 겹쳐진 전면유리(102)와 후면유리(104)를 클램핑하여 그 유동을 방지하는 PDP 클램프(115)와, PDP로 구동전원 및 패턴검사신호를 공급하는 PDP소켓(117)과, PDP소켓(117)으로 상기 구동전원 및 패턴검사신호를 공급하는 PDP구동회로 어레이(113)와, 상기 PDP구동신호어레이(113)가 전기적으로 연결되는 PDP구동회로 소켓(11)과, PDP패턴신호를 발생시키는 패턴발진기(114)와, 검사장치(22)로 자기유도 방식 또는 브러시접촉 방식으로전원을 공급하는 전원부(112)로 구성된다.8 is a cross-sectional view of the present invention PDP inspection device 22, the front glass 102 and the back glass 104 overlapping each other, the support member 109 is seated, the overlapping front glass 102 and the rear PDP clamp 115 for clamping glass 104 to prevent its flow, PDP socket 117 for supplying driving power and pattern inspection signal to PDP, and PDP socket 117 for driving power and pattern inspection signal. A PDP drive circuit array 113 for supplying a PDP drive circuit, a PDP drive circuit socket 11 to which the PDP drive signal array 113 is electrically connected, a pattern oscillator 114 for generating a PDP pattern signal, and an inspection apparatus ( 22) is composed of a power supply unit 112 for supplying power in a magnetic induction or brush contact method.

또한, 회로구성이 복잡한 PDP구동회로 어레이(113)는 모듈화 하도록 하되 PDP구동회로 소켓(11)으로부터 삽탈할 수 있게 구성함으로써 회로의 고장이나 이상이 발생된 모듈단위로 PDP구동회로 어레이(113)를 교환 수리할 수 있으며, 따라서 유지보수가 용이할 뿐 아니라 수리비를 절감할 수 있다.In addition, the PDP driving circuit array 113 having a complicated circuit configuration is modularized, but can be inserted and detached from the PDP driving circuit socket 11 so that the PDP driving circuit array 113 is formed in a module unit in which a circuit failure or abnormality is generated. It can be exchanged and repaired, thus making it easy to maintain and reduce the repair cost.

또한, 상기 PDP구동회로 어레이(113)는 진공에폭시를 이용하여 모듈별로 몰딩하도록 함으로써 방전가스의 간섭에 의한 전기적인 쇼트나 방전 및 간섭 등을 방지하도록 하고, 아울러 이들 회로소자나 부품으로부터 빠져나오거나 발생되는 이물 및 공기를 차단할 수 있으므로 진공시간을 크게 단축할 수 있다. 상기 PDP 검사장치(22)는 구동수단을 갖는 이송장치(24)에 의해 각 챔버를 출입 및 정지할 수 있게 된다.In addition, the PDP driving circuit array 113 may be molded for each module using vacuum epoxy to prevent electrical shorts, discharges, and interferences caused by the interference of discharge gas, and also escape from these circuit elements or components. Since the foreign matter and air generated can be blocked, the vacuum time can be greatly shortened. The PDP inspection device 22 is able to enter and stop each chamber by the transfer device 24 having a drive means.

또한, 가스주입 및 검사챔버(16)에는 급기량을 조절할 수 있는 개폐밸브 (120a)와 가스공급장치(126)와 가스봄베(128)가 연결되고, 가스공급장치(126)는 제어기(124)와 전기적으로 연결되어 가스공급을 제어하게 된다.In addition, the gas injection and inspection chamber 16 is connected to the on-off valve 120a and the gas supply device 126 and the gas cylinder 128 that can adjust the air supply amount, the gas supply device 126 is the controller 124 It is electrically connected to control gas supply.

상기의 경우 후면유리(104)에 형성된 배기구를 통하여 검사에 필요한 가스를 주입하거나 배기구를 통하지 않고 가스주입 및 검사챔버(16)로 바로 주입하면 서로 겹친 전면유리(102)와 후면유리(104) 사이에 형성되는 틈 사이를 통하여 가스가 주입되므로 반제품 PDP의 불량여부를 검사할 수 있게 된다.In this case, when the gas required for inspection is injected through the exhaust port formed in the rear glass 104 or directly into the gas injection and inspection chamber 16 without passing through the exhaust port, the windshield 102 and the rear glass 104 overlap each other. Gas is injected through the gap formed in the semi-finished product PDP can be inspected.

또한, 챔버(12)(14)(16)(18)의 적절한 진공을 달성하는 진공장치(74a)(74b) (74c)(74d)(74e)에는 진공 배기관(120)과 진공개폐밸브(122)가 기계적으로 연결되고, 또한 제어기(124)와 진공장치(74a)(74b)(74c)(74d)(74e)가 전기적으로 연결되어 제어된다.In addition, the vacuum apparatuses 74a, 74b, 74c, 74d and 74e which achieve proper vacuum in the chambers 12, 14, 16 and 18 are provided with the vacuum exhaust pipe 120 and the vacuum opening / closing valve 122 Is mechanically connected, and the controller 124 and the vacuum devices 74a, 74b, 74c, 74d, 74e are electrically connected and controlled.

본 발명에서 챔버(12)(14)(16)(18)(20)를 다단으로 구성한 것은 PDP 불량여부 검사를 빠른 시간에 대량으로 진행할 수 있게 한 것으로 생산성을 극대화 할 수 있다.In the present invention, the chambers 12, 14, 16, 18, and 20 are configured in multiple stages to maximize the productivity of the PDP defect inspection in a large amount of time.

한편, 본 발명에서 PDP 검사장치(22)는 검사공정을 따라 복수 챔버(12)(14) (16)(18)(20)를 순차적으로 이동하게되고, PDP구동회로 어레이(110)로는 동작전원이 공급되어야 할 뿐 아니라 챔버(12)(14)(16)(18)(20)의 진공도 또한 유지되어야 하므로 본 발명에서는 비록 도시하지 않았지만 가스주입 및 검사챔버(16)의 내측벽이나 바닥면에 외부전원과 연결되는 자기유도코일을 설치하고 검사장치(22)에도 대향 자기유도코일을 설치하여 구동전원이 자기유도 되게하거나, 또는 가스주입 및 검사챔버(16)의 내측벽이나 바닥면에 외부전원과 연결되는 브러시(brush)를 설치하고, 검사장치(22)에는 상기 브러시 접촉자를 설치하거나 이와 반대로 설치하여 구동전원이 공급되도록 하면 될 것이다. 따라서 전원공급을 위한 진공실링장치가 불필요하며, 시중품 피드쓰루(feed throughs)가 많이 있으므로 이에 대한 상세한 설명은 생략한다.Meanwhile, in the present invention, the PDP inspection apparatus 22 sequentially moves the plurality of chambers 12, 14, 16, 18, and 20 according to the inspection process, and the operation power is supplied to the PDP driving circuit array 110. Not only must this be supplied, but also the vacuum of the chambers 12, 14, 16, 18 and 20 must also be maintained, so that although not shown in the present invention, the inner wall or the bottom surface of the gas injection and inspection chamber 16 is not shown. Install a magnetic induction coil connected to an external power source and install an opposing magnetic induction coil in the inspection device 22 to induce the driving power to be magnetically induced, or external power to the inner wall or the bottom of the gas injection and inspection chamber 16. The brush is connected to the brush (brush), and the inspection device 22 may be installed to the brush contactor or vice versa to supply the driving power. Therefore, there is no need for a vacuum sealing device for power supply, and a lot of commercial feed throughs are omitted.

도 9는 본 발명의 회로 블럭도로, PLC 또는 마이콤(MICOM)으로 구성되는 제어기(124)의 입력에 검사장치(22)의 이송위치를 감지하는 이송위치감지기(130)와, 게이트 밸브(48)(50)(52)(54)(56)(58)의 개ㆍ폐상태를 감지하는 게이트 밸브 개ㆍ폐감지기(132)와, 챔버(12)(14)(16)(18)의 진공도를 감지하는 진공게이지(134)가각각 접속된다.9 is a circuit block diagram of the present invention, the transfer position sensor 130 for detecting the transfer position of the inspection device 22 to the input of the controller 124 consisting of a PLC or MICOM (MICOM), and the gate valve 48 The gate valve opening / closing detector 132 for detecting the open / closed state of the (50) (52) (54) (56) (58) and the vacuum degree of the chamber (12) (14) (16) (18) The sensing vacuum gauge 134 is connected respectively.

상기 제어기(124)의 출력에는 각 챔버(12)(14)(16)(18)의 적절한 진공도를 유지하는 진공장치(74)와, 반제품 PDP(108)가 장착된 검사장치(22)를 챔버(12)(14) (16)(18)(20)로 이송하는 이송장치(24)와, 상기 이송장치(24)를 구동하는 이송장치 구동드라이버(136)와, 가스주입 및 검사챔버(16)로 시험에 필요한 가스를 공급하는 가스공급장치(126)와, PDP로 시험용 패턴신호를 공급하는 패턴발진기(114)와, PDP로 구동신호를 공급하는 PDP구동회로 어레이(110)와, 배기챔버(12)(20) 및 고진공 챔버(14)(18)의 진공을 도우는 자외선램프(76)(78)와, 자기유도방식 또는 브러시 접촉방식으로 전원을 공급하는 전원부(112)로 구성된다.At the output of the controller 124 is a vacuum device 74 which maintains an appropriate degree of vacuum in each of the chambers 12, 14, 16 and 18, and an inspection device 22 equipped with a semi-finished PDP 108. (12) (14) (16) (18) and (20) a conveying device (24), a conveying device driver (136) for driving the conveying device (24), and a gas injection and inspection chamber (16). A gas supply device 126 for supplying a gas required for the test, a pattern oscillator 114 for supplying a test pattern signal to the PDP, a PDP drive circuit array 110 for supplying a drive signal to the PDP, and an exhaust chamber (12) 20 and ultraviolet lamps 76 and 78 for assisting the vacuum of the high vacuum chambers 14 and 18, and a power supply 112 for supplying power in a magnetic induction method or a brush contact method.

도 10은 본 발명 챔버를 3개로 구성하여 연속 검사할 수 있는 반제품 PDP 검사시스템(10a)의 다른 실시 예의 단면 구성도로 PDP 연속 검사시간은 다소 연장되나 간단하게 구성한 것이다.10 is a cross-sectional configuration diagram of another embodiment of a semi-finished PDP inspection system 10a capable of continuously inspecting three chambers according to the present invention.

즉, 1 ×10-4torr~1 ×10-6torr의 진공도를 유지하는 배기챔버(12a)와 검사에 필요한 가스를 주입하여 반제품 PDP를 검사할 수 있는 가스주입 및 검사챔버(16a)와 검사가 끝난 PDP를 바깥으로 끄집어 낼 수 있는 배기챔버(20a)로 구성되며, 배기챔버(12a)(18a)의 일단에는 진공을 해제시킬 때 수초간에 걸쳐 서서히 해제시킬 수 있는 리크밸브(121a)(123a)가 각각 설치되고, 리크밸브(121a) (123a)의 단부에는 소음기 또는 필터가 설치된다.That is, the gas injection and inspection chamber 16a that can inspect the semi-finished product PDP by inspecting the exhaust chamber 12a maintaining the vacuum degree of 1 × 10 -4 torr to 1 × 10 -6 torr and the gas required for the inspection. It is composed of an exhaust chamber (20a) that can take out the finished PDP to the outside, one end of the exhaust chamber (12a) (18a) to release the leak slowly over a few seconds when releasing the vacuum valve (121a) (123a) Are respectively installed, and silencers or filters are installed at the ends of the leak valves 121a and 123a.

또한, 배기챔버(12a)(20a)에는 진공밸브(122a)와 배기관(120a) 및 제어기(124)와 전기적으로 연결되는 진공장치(75a)(75b)(75c)를 연결하여, 1 ×10-4torr~1 ×10-6torr의 진공도를 유지할 수 있도록 하고, 가스주입 및 검사챔버(16a)에는 급기관(118a)과 밸브(120a)와 제어기(124)에 전기적으로 연결되는 가스주입장치 (126a) 및 가스봄베(128a)를 연결하여 PDP검사에 필요한 적당량의 가스를 공급할 수 있도록 한다.In addition, by connecting the exhaust chamber (12a), (20a), the vacuum valve (122a) and the exhaust pipe (120a) and the controller 124 with electrical vacuum devices (75a) (75b) (75c ) which is connected to, 1 × 10 - It is possible to maintain a vacuum degree of 4 torr ~ 1 × 10 -6 torr, and the gas injection device (12a) electrically connected to the air supply pipe 118a, the valve 120a and the controller 124 in the gas injection and inspection chamber (16a) 126a) and the gas cylinder 128a are connected to supply an appropriate amount of gas for PDP inspection.

또한, 도 6처럼 각 챔버(12a)(16a)(20a)의 게이트 부분에는 게이트 밸브 (48a)(52a)(54a)(56a)를 갖는 개폐수단(60a)(64a)(66a)(70a)에 의해 승강운동, 전.후진 운동 또는 이들의 복합운동 형태로 게이트를 열거나 닫게 되며, 게이트가 열리는 동안 도 8과 같은 구성의 검사장치(22)가 이송된다.Further, as shown in FIG. 6, opening and closing means 60a, 64a, 66a, 70a having gate valves 48a, 52a, 54a, 56a in the gate portion of each chamber 12a, 16a, 20a. By opening and closing the gate in the form of elevating movement, forward and backward movements, or a combination thereof, the inspection device 22 of the configuration shown in Figure 8 is transferred while the gate is opened.

도 11은 본 발명 반제품 PDP 검사시스템(10b)의 또 다른 실시 예의 단면구성도로, 1개의 챔버를 이용하여 진공배기와 가스주입 및 검사를 일괄적으로 수행할 수 있게 구성을 간략화 한 것이다.FIG. 11 is a cross-sectional view of another embodiment of the semifinished product PDP inspection system 10b of the present invention. The configuration of the semifinished PDP inspection system 10b is simplified so that vacuum exhaust and gas injection and inspection can be collectively performed using one chamber.

즉, 챔버(18c)의 일단에 진공밸브(122c)와 배기관(120c) 및 제어기(124)와 전기적으로 연결되는 진공장치(77)를 연결하여 챔버(16c)의 진공도를 1 ×10-4torr~1×10-6torr로 유지할 수 있도록 하고, 또한 챔버(16c)의 일단에 급기관 (118c)과 밸브(120d)와 가스공급장치(126c)와 가스봄베(128c)를 연결하여 검사에 필요한 적당량의 가스를 공급할 수 있도록 한다.That is, the vacuum degree of the chamber 16c is 1 × 10 -4 torr by connecting the vacuum valve 122c, the exhaust pipe 120c, and the vacuum device 77 electrically connected to the controller 124 to one end of the chamber 18c. To be maintained at ˜1 × 10 −6 torr, and the supply pipe 118c, the valve 120d, the gas supply device 126c, and the gas cylinder 128c are connected to one end of the chamber 16c for inspection. Make sure you supply the right amount of gas.

또한, 도 6처럼 챔버(18c)의 게이트 부분에 게이트 밸브(48b)(50b)를 갖는개폐수단(60b)(62b)을 설치하여 개폐수단(60b)(62b)의 승강운동이나 전ㆍ후진운동 또는 이들의 복합운동 형태로 챔버(16c)의 게이트를 열거나 닫을 수 있도록 하고, 게이트가 열려있는 동안 도 8과 같은 구성의 검사장치(22)가 출입 및 안착할 수 있도록 한다.In addition, as shown in FIG. 6, opening and closing means 60b and 62b having gate valves 48b and 50b are provided at the gate portion of the chamber 18c to raise and lower the movements of the opening and closing means 60b and 62b or to move forward and backward. Alternatively, the gates of the chambers 16c may be opened or closed in the form of their combined motions, and the inspection apparatus 22 having the configuration as shown in FIG. 8 may be opened and closed while the gates are opened.

또한, 챔버(16c)의 일단에 리크밸브(121c)를 설치하여 챔버(16c)의 진공을 해제시킬 때 수초간에 걸쳐 서서히 진행하도록 함으로써 진공해제에 따른 충격이나 충격소음을 줄이도록 하고, 리크밸브(121c)의 단부에는 소음기 또는 필터가 설치된다.In addition, by installing the leak valve 121c at one end of the chamber 16c, the vacuum valve of the chamber 16c is allowed to proceed slowly for a few seconds to reduce the shock or impact noise caused by the vacuum release, and the leak valve ( At the end of 121c), a silencer or filter is installed.

상기와 같은 구성의 검사시스템(10b)은 검사장치(22)를 검사단계별로 이동시키면서 연속적인 검사를 할 수는 없으나 구성이 매우 간단하면서 설치 점유공간을 적게 차지하는 1개의 챔버(16c)로 반제품 PDP(108)를 일괄적으로 검사할 수 있는 장점이 있다.The inspection system 10b having the above configuration cannot move continuously the inspection apparatus 22 for each inspection step, but it is not possible to perform continuous inspection, but the semifinished product PDP is composed of one chamber 16c which is very simple in configuration and occupies little space for installation. There is an advantage in that (108) can be checked in a batch.

이와같이 구성하여서 된 본 발명은 도 6과 같이 개폐수단(60)으로 게이트 밸브(48)를 개방시켜 반제품 상태의 PDP(108)가 PDP 소켓(117)으로 연결된 검사장치 (22)를 이송장치(24)의 도움을 빌어 배기챔버(26)의 내부로 이송시키고 개방시켰던 게이트 밸브(48)는 닫아 배기챔버(12)의 기밀을 유지한 다음 진공펌프(72)를 가동시켜 배기챔버(12)의 진공도가 1 ×10-1~1 ×10-3torr로 유지될 때 까지 진공시킨다.According to the present invention configured as described above, as shown in FIG. 6, the gate valve 48 is opened by the opening / closing means 60 to transfer the inspection apparatus 22 in which the PDP 108 in the semi-finished state is connected to the PDP socket 117. The gate valve 48, which has been transferred to the inside of the exhaust chamber 26 and opened with the help of a), is closed to maintain the airtightness of the exhaust chamber 12, and then the vacuum pump 72 is operated to operate the vacuum degree of the exhaust chamber 12. Vacuum until is maintained at 1 × 10 −1 to 1 × 10 −3 torr.

배기챔버(12)의 진공도가 1 ×10-1~1 ×10-4torr의 진공도로 유지되면, 배기챔버(12)와 고진공챔버(14) 사이의 게이트 밸브(50)를 열어 고진공챔버(14)로 검사장치(22)를 이동시킨 다음 게이트 밸브(50)를 닫아 기밀을 유지하고 다음 진공펌프 (72)를 가동시켜 고진공실(14)의 진공도가 1 ×10-4~1 ×10-6torr로 유지될 때까지 진공시킨다.When the vacuum degree of the exhaust chamber 12 is maintained at a vacuum degree of 1 × 10 −1 to 1 × 10 −4 torr, the gate valve 50 between the exhaust chamber 12 and the high vacuum chamber 14 is opened to open the high vacuum chamber 14. ), And then close the gate valve 50 to maintain airtightness, and then operate the next vacuum pump 72 so that the vacuum degree of the high vacuum chamber 14 is 1 × 10 -4 to 1 × 10 -6. Vacuum until it remains at torr.

상기에서 배기챔버(12)에 의해 고진공챔버(14)의 진공도가 1 ×10-1~1 ×10-3torr로 유지된 상태에서 고진공을 실시하게 되므로 (고)진공도를 쉽게 달성할 수 있게 되며, 더불어 자외선 램프(76)(68)로부터 발생되는 자외선의 작용에 의해 수증기분자(물분자)가 쉽게 여기되므로 (고)진공을 빨리 달성할 수 있게 된다.Since the vacuum of the high vacuum chamber 14 is maintained at 1 × 10 -1 to 1 × 10 -3 torr by the exhaust chamber 12, high vacuum can be easily achieved. In addition, since water vapor molecules (water molecules) are easily excited by the action of ultraviolet rays generated from the ultraviolet lamps 76 and 68, (high) vacuum can be achieved quickly.

따라서, 고진공챔버(14)로 이송 안착된 반제품 상태의 PDP(108)는 1 ×10-4~1 ×10-6torr의 고진공에 의해 불순물이 거의 완전히 배기되어 방전 활성화 및 안정화가 이루어진다.Therefore, the semi-finished PDP 108 transported and seated in the high vacuum chamber 14 is almost completely discharged from impurities by high vacuum of 1 × 10 −4 to 1 × 10 −6 torr, thereby enabling discharge activation and stabilization.

상기에서 검사장치(22)가 이송장치(24)에 의해 고진공챔버(14)로 이송이 완료된 다음 기밀이 달성되면 배기챔버(12)의 리크밸브(121)를 열어 대기 상태까지 서서히 진공을 해제시키고, 검사장치(22)가 이송되어 안착하면 열었던 게이트 밸브(48)를 닫아 앞서 기술한 바와 같이 진공장치(74a)로 배기챔버(12)의 진공도를 1 ×10-1~1 ×10-3torr까지 달성하게 된다.When the inspection device 22 is transferred to the high vacuum chamber 14 by the transfer device 24 and the airtightness is achieved, the leak valve 121 of the exhaust chamber 12 is opened to gradually release the vacuum until the standby state. When the inspection device 22 is transported and seated, the gate valve 48 opened is closed, and the vacuum degree of the exhaust chamber 12 is 1 × 10 −1 to 1 × 10 −3 with the vacuum device 74a as described above. torr is achieved.

한편, 고진공으로 배기된 PDP(108)는 약 100torr~300torr의 진공분위기가 유지되는 가스주입 및 검사챔버(16)로 이송되어 안착되고, 게이트(52)가 폐쇄되면 제어기(124)와 가스공급장치(126)에 의해 가스봄베(128)의 가스가 급ㆍ배기관(118)과 후면유리(104)에 형성된 배기구(116) 또는 가스주입 및 검사챔버(16)로 바로 주입하면 서로 접촉하고 있는 PDP(108)의 전면유리(102)와 후면유리(106) 사이로 방전에 필요한 적당량의 가스가 공급되므로 실제환경(완제품 PDP 환경)과 동일하거나 비슷한 환경이 조성되어 시험에 적절한 가스분위기가 형성된다.On the other hand, the PDP 108 exhausted by the high vacuum is transferred to the gas injection and inspection chamber 16 in which the vacuum atmosphere of about 100torr to 300torr is maintained and seated, and when the gate 52 is closed, the controller 124 and the gas supply device are closed. PDPs which are directly in contact with each other when the gas of the gas cylinder 128 is directly injected into the exhaust port 116 or the gas injection and inspection chamber 16 formed in the supply / exhaust pipe 118 and the rear glass 104 by the 126. Since an appropriate amount of gas for discharging is supplied between the windshield 102 and the rear glass 106 of 108, an environment similar to or similar to the actual environment (finished product PDP environment) is formed to form an appropriate gas atmosphere for the test.

시험분위기가 고조된 이러한 상태에서 전원부(112)로부터 PDP구동회로 어레이(113)로 동작전원이 공급되어 PDP구동회로 어레이(113)와 패턴발진기(pattern generater)(114)가 동작하며, 제어기(124)의 제어에 의해 PDP(108) 구동전원과 구동신호와 화상신호가 PDP소켓(117)을 통하여 PDP(108)로 공급되므로 반제품 상태의 PDP(108)를 마치 완성된 PDP의 제품에 장착하여 실현하는 것처럼 검사할 수 있게 된다.In this state where the test atmosphere is heightened, operating power is supplied from the power supply unit 112 to the PDP driving circuit array 113 to operate the PDP driving circuit array 113 and the pattern generator 114, and the controller 124. The PDP 108 driving power, driving signals, and image signals are supplied to the PDP 108 through the PDP socket 117 under the control of the PDP 108. Thus, the PDP 108 in a semi-finished state is mounted on the finished PDP product. You can inspect it as if.

상기에서 PDP(108)의 시험화면은 그 상부에 위치하는 투명 강화유리(86)를 통하여 외부에서 검사자의 육안관찰이나 CCD카메라와 모니터로 확대하여 검사할 수 있으며, 검사결과 불량으로 판정되는 경우 바로 수리하여(원인을 제거) 하거나 수리가 불가능한 경우 전면유리와 후면유리 중 양품만 사용하여 제조할 수 있으므로 PDP(108)의 불량율을 종래보다 수백 배 이하로 크게 떨어뜨릴 수 있다. 따라서 PDP의 제조수율이 크게 향상되고 제조원가를 절감할 수 있어서 대중화에 기여할 수 있다.In the above, the test screen of the PDP 108 can be inspected by a visual inspection of the inspector or by expanding the image to a CCD camera and a monitor from the outside through the transparent tempered glass 86 located at an upper portion thereof. If repair is possible (removing the cause) or if repair is impossible, it can be manufactured using only good quality of the front glass and the rear glass, so that the defect rate of the PDP 108 can be drastically reduced to several hundred times or less than before. Therefore, the production yield of PDP can be greatly improved and manufacturing cost can be reduced, thereby contributing to popularization.

검사가 끝난 PDP는 고진공챔버(18)로 이동시켜 1 ×10-4~1 ×10-6torr로 진공을 유지한 다음 게이트밸브(54)를 닫아 가스주입 및 검사챔버(16)로 불순물이나 이물질이 이동하는 것을 방지하고, 이어서 배기챔버(20)로 이동시킨 다음 게이트 밸브(58)를 열면, 배기챔버(20)의 기압이 대기압과 같아진다.After completion of the inspection, the PDP is moved to the high vacuum chamber 18 to maintain a vacuum of 1 × 10 −4 to 1 × 10 −6 torr, and then the gate valve 54 is closed to impart impurities or foreign matter to the gas injection and inspection chamber 16. This movement is prevented and then moved to the exhaust chamber 20 and then the gate valve 58 is opened, whereby the atmospheric pressure of the exhaust chamber 20 becomes equal to atmospheric pressure.

즉, 도 6에 도시한 바와 같이 결합 용접한 다음 후면유리의 배면 모서리 부분에 형성되는 배기구를 통하여 1 ×10-7torr의 고진공을 유지하고, 방전에 필요한 가스를 주입(약 100torr~300torr)하고, 충분한 에이징(Ageing)과 최종동작과정을 거쳐 PDP의 제조를 완료하게 되며, 앞서 기술한 바와 같이 검사결과 불량으로 판정되는 경우 바로 수리하여 원인을 제거한 다음 제조하거나 수리가 불가능한 경우 전면유리와 후면유리 중 양품만 사용하여 PDP를 제조하면 되므로 불량율이 거의 없어진다.That is, after welding welding as shown in Figure 6 to maintain a high vacuum of 1 × 10 -7 torr through the exhaust port formed in the rear corner portion of the rear glass, injecting the gas required for discharge (about 100torr ~ 300torr) and In this case, the PDP is manufactured through sufficient aging and final operation.If it is determined to be defective as described above, repair it immediately to remove the cause and then manufacture or repair the windshield and rear glass. Since the PDP is manufactured using only heavy goods, the defect rate is almost eliminated.

상기에서 결함이 없는 전면유리(102)와 후면유리 (104)는 종래와 같이 제조하여 완성품으로 만들면 되고 불량품은 수리하여 제조하면 될 것이다.In the above, the windshield 102 and the rear glass 104 without defects may be manufactured and manufactured as in the prior art, and defective products may be repaired and manufactured.

본 발명에서 상기와 같은 과정을 반복하면서 PDP(108)가 장착된 검사장치 (22)를 각 챔버(12)(14)(16)(18)(20)로 순차적으로 계속하여 이동시키면 연속적인 검사가 이루어지므로 검사속도가 빨라져 생산성을 향상시킬 수 있게된다.In the present invention by repeating the above process while continuously moving the inspection apparatus 22 equipped with the PDP 108 to each chamber 12, 14, 16, 18, 20, continuous inspection Since the inspection speed is increased, productivity can be improved.

이상과 같이 본 발명은 최종제품으로 완성되지 않은 반제품 상태의 플라즈마 디스플레이 패널을 마치 플라즈마 디스플레이 패널의 완제품이나 완제품 PDP를 실제품에 장착한 것과 같은 환경하에서 불량여부를 검사하도록 함으로써 불량률이 종래보다 수백 배 이하로 떨어져 플라즈마 디스플레이 패널의 수율이 크게 향상되는 효과가 있다.As described above, the present invention allows the plasma display panel in the semi-finished state, which is not completed as a final product, to be inspected for defects under the same environment as the finished product or the finished product PDP of the plasma display panel in the actual product. As a result, the yield of the plasma display panel is greatly improved.

또한, 종래의 경우 PDP의 정밀한 검사가 이루어지지 아니하여 전면유리와 후면유리를 접합 한 완제품의 경우 불량율이 제조회사나 모델명에 따라 수십 %에 이르러 원가 상승 요인이 있었으나 실제검사와 같은 본 발명에서는 전면유리와 후면유리를 접합하기 전에 완제품 PDP와 같은 환경으로 조성된 챔버로 PDP의 불량여부를 사전검사하게 되므로 PDP의 불량율이 종래보다 수백 배로 크게 떨어져 PDP의 수율이 크게 향상되는 효과가 있으며, 불량율 하락에 의한 제조원가 절감으로 대중화의 접근이 용이한 효과가 있다.In addition, in the conventional case, the PDP was not precisely inspected, and thus, in the case of the finished product in which the front glass and the rear glass were laminated, the defect rate reached several ten percent according to the manufacturer or model name, but there was a factor in the cost increase. Before bonding the glass and the back glass, the chamber constructed in the same environment as the finished product PDP is inspected for defects of the PDP. Therefore, the defect rate of the PDP is greatly reduced several hundred times than before, and the yield of the PDP is greatly improved. It is easy to approach the popularization by reducing the manufacturing cost by.

또한, 본 발명은 진공을 위한 배기, 고진공, 가스주입, 검사 및 검사된 PDP를 끄집어내기 위한 배기검사를 일련의 연속적인 공정으로 진행하므로 검사속도가 빨라 생산성이 향상되는 등의 효과가 있다.In addition, the present invention has the effect of improving the inspection speed is faster and the productivity is improved because the exhaust inspection for vacuum, high vacuum, gas injection, inspection and exhaust inspection to pull out the inspected PDP in a series of continuous processes.

Claims (13)

완제품 PDP와 같은 진공분위기와 가스분위기로 조성된 챔버의 내부에 가동된 반제품 상태의 PDP 전면유리와 후면유리를 넣은 다음 전원과 검사용 영상신호가 검사대상 PDP로 공급되는 검사장치로 반제품 PDP의 불량여부를 검사하도록 함을 특징으로 하는 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사방법.The semi-finished PDP front glass and rear glass operated inside the chamber composed of vacuum atmosphere and gas atmosphere such as finished product PDP, and then the power supply and inspection video signal are supplied to the target PDP. Inspection method for a semi-finished plasma display panel, characterized in that the inspection. 제 1 항에 있어서, 배기챔버, 고진공챔버, 가스주입 및 검사챔버, 고진공챔버, 배기챔버로 구성하여 반제품 PDP의 불량여부를 연속적으로 검사할 수 있도록 함을 특징으로 하는 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사방법.The method of claim 1, wherein the exhaust chamber, the high vacuum chamber, the gas injection and inspection chamber, the high vacuum chamber, and the exhaust chamber are configured to continuously inspect whether the semi-finished PDP is defective. . 완제품 PDP와 같은 진공분위기와 가스분위기를 조성하여 반제품 PDP의 불량여부를 검사할 수 있는 챔버와, 상기 챔버를 진공시키는 진공장치와, 상기 챔버로 검사에 필요한 가스를 주입하는 가스공급장치와, 상기 챔버로 검사장치를 운반하는 이송장치와, 반제품 PDP로 전원과 검사신호를 공급하는 검사장치로 구성하여서 된 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사시스템.A chamber capable of inspecting whether the semi-finished product PDP is defective by forming a vacuum atmosphere and a gas atmosphere such as a finished product PDP, a vacuum device for evacuating the chamber, a gas supply device for injecting gas required for inspection into the chamber, and An inspection system for a semi-finished plasma display panel consisting of a conveying device for carrying an inspection device to a chamber, and an inspection device for supplying power and an inspection signal to a semi-finished PDP. 제 3 항에 있어서, PDP의 검사에 필요한 진공분위기를 조성하고 아울러 방전에 필요한 가스가 주입 및 배기되는 복수 개의 챔버와, 검사장치가 이송될 때 게이트 밸브를 개방시키고 검사장치가 챔버에 안착 정지하면 챔버끼리의 기밀을 유지시키는 게이트 밸브와, 게이트 밸브를 개방 및 폐쇄하는 게이트 밸브 개폐수단과, 반제품 PDP를 완제품 PDP와 같은 진공분위기와 가스분위기 하에서 검사하는 PDP 검사장치와, PDP 검사장치를 각 챔버 및 챔버의 안이나 바깥으로 운반시키는 이송장치으로 구성하여서 된 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사시스템.4. The method of claim 3, further comprising: a plurality of chambers in which a vacuum atmosphere necessary for the inspection of the PDP is formed and the gas required for discharging is injected and exhausted; and the gate valve is opened when the inspection apparatus is transferred, and the inspection apparatus rests on the chamber. A gate valve for maintaining the airtightness between the chambers, a gate valve opening and closing means for opening and closing the gate valve, a PDP inspection device for inspecting the semi-finished product PDP under a vacuum atmosphere such as a finished product PDP, and a gas atmosphere, and a PDP inspection device for each chamber. And a transfer device for transporting the chamber into or out of the chamber. 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, PDP의 검사에 필요한 진공분위기를 조성하고 아울러 방전에 필요한 가스가 주입 및 배기되는 복수 개의 챔버(12)(14)(16) (18)(20)와, 복수 개의 피딩롤러로 구성된 이송장치(24)에 의해 검사장치(22)가 이송될 때 각 챔버(12)(14)(16)(18)(20)의 게이트(26)(28)(30)(32)(34)(36)(38)(40) (42)를 개방시키고 PDP 검사장치(22)가 챔버에 안착 정지하면 챔버(12)(14)(16) (18)(20)끼리의 기밀이 유지되도록 격리시키는 게이트 밸브(48)(50)(52)(54)(56) (58)와, 게이트 밸브(48)(50)(52)(54)(56)(58)를 개방 및 폐쇄하는 게이트 밸브 개폐수단(60)(62)(64)(66)(68)(70)과, 반제품 PDP를 완성품 PDP와 같은 진공분위기 (100torr~300torr)와 가스분위기로 조성하여 반제품 PDP의 불량여부를 검사하는 PDP 검사장치(22)와, PDP 검사장치(44)를 챔버의 안이나 바깥 또는 옆으로 운반시키는 이송장치(24)로 구성 함을 특징으로 하는 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사시스템.5. A plurality of chambers (12), (14), (16) and (20) according to claim 3 or 4, wherein a plurality of chambers (12), (14), (16), (20), and the like are provided with a vacuum atmosphere for inspecting a PDP, and a gas for discharge is injected and exhausted; The gates 26, 28, 30 of the respective chambers 12, 14, 16, 18, 20 when the inspection apparatus 22 is transferred by the conveying apparatus 24 composed of a plurality of feeding rollers. (32) (34) (36) (38) (40) (42) is opened and the chambers 12, 14, 16, 18 and 20 are separated when the PDP inspection device 22 stops seating in the chamber. Gate valves 48, 50, 52, 54, 56 and 58, and the gate valves 48, 50, 52, 54, 56 and 58 to isolate Semi-finished PDP by opening and closing gate valve opening / closing means 60, 62, 64, 66, 68, 70, and semi-finished PDP in a vacuum atmosphere (100torr ~ 300torr) and gas atmosphere such as finished PDP. PDP inspection device 22 for inspecting whether there is a defect of the PDP inspection device 44, and the conveying device 24 for transporting the PDP inspection device 44 to the inside, outside or side of the chamber Inspection system of semi-finished plasma display panel characterized in that the configuration. 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, 검사에 필요한 진공분위기인 1 ×10-4torr~1 ×10-6torr의 적절한 진공도를 얻기 위하여 진공장치(74a)로 1 ×10-1torr~1 ×10-3torr의 진공도를 1차 확보하는 배기챔버(12)와, 1차 배기된 진공을 진공장치 (74a)를 이용하여 1 ×10-4torr~1 ×10-6torr의 진공도를 확보하는 고진공챔버(14)와, 100torr~300torr 전후의 진공분위기 하에서 검사에 필요한 가스를 챔버 또는 반제품 PDP(108)의 전면유리와 후면유리 사이로 주입하여 완제품 PDP와 같은 가스분위기를 조성하여 반제품 PDP의 불량여부를 검사하는 가스주입 및 검사챔버 (16)와, 검사가 완료된 반제품 PDP를 검사시스템(10)의 바깥으로 끄집어내기 전에 가스주입 및 검사챔버(16)로 이물이나 불순물 유입을 방지하도록 1 ×10-4torr~1 ×10-6torr의 진공도를 유지하는 고진공챔버(18)와, 반제품 PDP를 검사시스템의 바깥으로 완전히 끄집어낼 수 있도록 게이트 밸브(70)를 열어 진공해제 함으로써 대기와 같은 기압으로 만드는 배기챔버(20)로 구성하여서 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사시스템. 1 × 10 -1 torr ~ 1 × 10 to a vacuum device (74a) to obtain the proper degree of vacuum 4torr ~ 1 × 10 -6 torr - claim 3 or 4 in a vacuum atmosphere of 1 × 10 necessary to check the High vacuum for securing a vacuum degree of 1 × 10 -4 torr to 1 × 10 -6 torr by using an evacuation device 74a for the exhaust chamber 12 for securing the primary degree of vacuum of -3 torr and the vacuum device 74a. Inject the gas required for inspection under the vacuum atmosphere around the chamber 14 and 100torr ~ 300torr between the front glass and the rear glass of the chamber or semifinished product PDP 108 to form a gas atmosphere such as the finished product PDP to check whether the semifinished product PDP is defective or not. 1 × 10 -4 to prevent foreign substances or impurities from entering the gas injection and inspection chamber 16 before the gas injection and inspection chamber 16 to be inspected and the semi-finished PDP whose inspection has been completed are taken out of the inspection system 10. torr ~ 1 × 10 -6 torr with the vacuum chamber 18 to maintain the degree of vacuum, the semi-finished gum PDP Opening the gate valve 70 to be able to completely pull out of the system hayeoseo composed of an exhaust chamber 20 to create the same pressure with the atmosphere by releasing the vacuum semi-finished product inspection system of the PDP. 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, 배기챔버와 고진공챔버의 내부에 자외선램프를 각각 설치함을 특징으로 하는 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사시스템.5. The inspection system for a semi-finished plasma display panel according to claim 3 or 4, wherein an ultraviolet lamp is provided inside the exhaust chamber and the high vacuum chamber, respectively. 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, 챔버의 개방부 상부에 챔버의 내부를 관망할 수 있는 투명 강화유리를 각각 얹어 설치하도록 하고, 챔버의 개방부 가장자리 부분과 투명 강화유리 사이에는 기밀유지용 패킹을 설치함을 특징으로 하는 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사시스템.5. The airtight packing according to claim 3 or 4, wherein the transparent tempered glass that can be connected to the inside of the chamber is placed on the upper part of the chamber, and the airtight packing is provided between the edge of the chamber and the transparent tempered glass. Inspection system of a semi-finished plasma display panel, characterized in that the installation. 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, PDP 검사장치(22)는 서로 겹쳐지는 전면유리(102)와 후면유리(104)가 얹어지는 받침부재(109)와, 겹쳐진 전면유리(102)와 후면유리(104)를 클램핑하여 유동을 방지하는 PDP 클램프(115)와, PDP로 구동전원 및 패턴검사신호를 공급하는 PDP소켓(117)과, PDP소켓(117)으로 상기 구동전원 및 패턴검사신호를 공급하는 PDP구동회로 어레이(113)와, 상기 PDP구동신호어레이(113)가 전기적으로 연결되는 PDP구동회로 소켓(11)과, PDP패턴신호를 발생시키는 패턴발진기(114)와, 검사장치(22)로 자기유도 방식 또는 브러시접촉 방식으로 전원을 공급하는 전원부(112)로 구성함을 특징으로 하는 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사시스템.The PDP inspection apparatus 22 according to claim 3 or 4, wherein the PDP inspection apparatus 22 includes a backing member 102 on which the front glass 102 and the rear glass 104 overlap each other, the overlapping front glass 102 and the rear glass. PDP clamp 115 for clamping 104 to prevent flow, PDP socket 117 for supplying driving power and pattern inspection signal to PDP, and PDP socket 117 for supplying the driving power and pattern inspection signal. A PDP driving circuit array 113, a PDP driving circuit socket 11 to which the PDP driving signal array 113 is electrically connected, a pattern oscillator 114 for generating a PDP pattern signal, and an inspection apparatus 22 Inspection system for a semi-finished plasma display panel, characterized in that consisting of a power supply 112 for supplying power in a magnetic induction method or a brush contact method. 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, PDP구동회로 어레이(113)는 진공에폭시를 이용하여 모듈별로 몰딩하도록 하되 PDP구동회로 소켓(11)으로부터 삽탈할 수 있게 구성함을 특징으로 하는 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사시스템.The semi-finished plasma display panel according to claim 3 or 4, wherein the PDP driving circuit array 113 is configured to be molded for each module by using vacuum epoxy and to be detachable from the PDP driving circuit socket 11. Inspection system. 검사장치를 투입하기 위한 배기챔버(12a)와, 검사에 필요한 진공분위기와 가스분위기에서 반제품 PDP를 검사할 수 있는 가스주입 및 검사챔버(16a)와, 검사가끝난 PDP를 바깥으로 끄집어 낼 수 있는 배기챔버(20a)와, 배기챔버(12a)(20a)의 진공도를 1 ×10-4torr~1 ×10-6torr로 유지하는 진공장치(75a)(75b)(75c)와, 가스주입 및 검사챔버(16a)로 검사에 필요한 가스를 공급하는 가스주입장치(126a) 및 가스봄베(128a)와, 투명 강화유리가 설치된 챔버(12a)(16a)(20a)의 게이트를 개ㆍ폐할 수 있게 게이트 밸브(48a)(52a)(54a)(56a)를 갖는 개폐수단(60a)(64a)(66a) (70a)으로 구성하여서 된 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사시스템.Exhaust chamber 12a for introducing the inspection device, gas injection and inspection chamber 16a for inspecting the semi-finished product PDP in the vacuum atmosphere and gas atmosphere necessary for the inspection, and the PDP after the inspection can be pulled out. Vacuum devices 75a, 75b and 75c for maintaining the vacuum degree of the exhaust chamber 20a and the exhaust chambers 12a and 20a at 1 x 10 -4 torr to 1 x 10 -6 torr, and gas injection and The gas injection device 126a and gas cylinder 128a for supplying the gas required for inspection to the inspection chamber 16a, and the gates of the chambers 12a, 16a and 20a provided with transparent tempered glass can be opened and closed. An inspection system for a semi-finished plasma display panel composed of opening and closing means (60a) (64a) (66a) and (70a) having gate valves (48a) (52a) (54a) and (56a). 검사에 필요한 100torr~300torr의 진공분위기와 가스분위기가 조성되고 투명 강화유리가 설치되는 1개의 챔버(18c)와, 상기 챔버(16c)의 진공도를 1 ×10-4torr~1×10-6torr로 유지하는 진공장치(77)와, 상기 챔버(18c)로 검사에 필요한 적당량의 가스를 공급하는 가스공급장치(126c) 및 가스봄베(128c)와, 챔버(18c)의 게이트를 개ㆍ폐할 수 있게 게이트 밸브(48b)(50b)를 갖는 개폐수단(60b)(62b)으로 구성하여서 된 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사시스템.One chamber 18c in which a vacuum atmosphere and a gas atmosphere of 100torr to 300torr required for inspection are formed and transparent tempered glass is installed, and the vacuum degree of the chamber 16c is 1 × 10 -4 torr to 1 × 10 -6 torr. The vacuum device 77 held at a low temperature, the gas supply device 126c and gas cylinder 128c for supplying an appropriate amount of gas to the chamber 18c for inspection, and the gate of the chamber 18c can be opened and closed. An inspection system for a semi-finished plasma display panel composed of opening and closing means (60b) and (62b) having gate valves (48b) and (50b). 제어기(124)의 입력에 검사장치(22)의 이송위치를 감지하는 이송위치감지기 (130)와, 게이트 밸브의 개ㆍ폐상태를 감지하는 게이트 밸브 개ㆍ폐감지기(132)와, 챔버의 진공도를 감지하는 진공게이지(134)와, 각 챔버(12)(14)(16)(18)의 적절한 진공도를 유지하는 진공장치(74)와, 반제품 PDP(108)가 장착된 검사장치(22)를 챔버로 이송하는 이송장치(24)와, 상기 이송장치(24)를 구동하는 이송장치 구동드라이버(136)와, 가스주입 및 검사챔버(챔버)로 시험에 필요한 가스를 공급하는 가스공급장치(126)와, PDP로 시험용 패턴신호를 공급하는 패턴발진기(114)와, PDP로 구동신호를 공급하는 PDP구동회로 어레이(110)와, 배기챔버(12)(20) 및 고진공 챔버(14)(18)의 진공을 도우는 자외선램프(76)(78)와, 자기유도방식 또는 브러시 접촉방식으로 전원을 공급하는 전원부(112)로 구성함을 특징으로 하는 반제품 플라즈마 디스플레이 패널의 검사시스템.A transfer position detector 130 for detecting a transfer position of the inspection device 22 at the input of the controller 124, a gate valve open / close detector 132 for detecting an open / closed state of the gate valve, and a vacuum degree of the chamber A vacuum gauge 134 for sensing the pressure, a vacuum device 74 for maintaining an appropriate degree of vacuum in each of the chambers 12, 14, 16, and 18, and an inspection device 22 equipped with a semi-finished PDP 108. A gas supply device for supplying the gas necessary for the test to the conveying apparatus 24 for conveying the gas into the chamber, the conveying apparatus driver driver 136 for driving the conveying apparatus 24, and the gas injection and inspection chamber (chamber) ( 126, a pattern oscillator 114 for supplying a test pattern signal to the PDP, a PDP drive circuit array 110 for supplying a drive signal to the PDP, an exhaust chamber 12, 20 and a high vacuum chamber 14 ( 18) the ultraviolet lamps (76) and (78) to help vacuum, and the power supply unit (112) for supplying power in a magnetic induction or brush contact method. Semi-finished product inspection system of the plasma display panel.
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KR20030042646A (en) * 2001-11-23 2003-06-02 바이옵트로 주식회사 Method and apparatus for testing a plasma display panel
KR101388145B1 (en) * 2013-05-22 2014-04-23 엠에스테크에스아이 주식회사 Chamber apparatus using gas

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106197883A (en) * 2014-09-15 2016-12-07 金东彦 Semi-finished product waterproof inspection device
CN106197883B (en) * 2014-09-15 2019-02-12 金东彦 Semi-finished product waterproof check device
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