KR20010077103A - Scanning method of electron beam for beam index type CRT - Google Patents

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KR20010077103A
KR20010077103A KR1020000004681A KR20000004681A KR20010077103A KR 20010077103 A KR20010077103 A KR 20010077103A KR 1020000004681 A KR1020000004681 A KR 1020000004681A KR 20000004681 A KR20000004681 A KR 20000004681A KR 20010077103 A KR20010077103 A KR 20010077103A
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이승현
조상환
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김순택
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Abstract

PURPOSE: A method for scanning an electron beam of a beam index type cathode ray tube is provided to realize high resolution by using a fine beam and to maintain the uniform focus characteristics on the whole screen by controlling a vertical microscope of the electron beam. CONSTITUTION: In the method for scanning the electron beam of the beam index type cathode ray tube, a panel(4), a funnel(6), a neck portion(8), electron guns(10a, 10b), an optical detector(12), deflection yokes(14a, 14b), an indexing circuit portion(16) are included. The panel(4) is formed in a fluorescent film screen. The funnel portion(6) is formed at the rear of the panel(4). The neck portion(8) is formed on the same axis at the rear of the funnel portion(6). The electron guns(10a, 10b) are installed on the inner circumference of the neck portion(8). The deflection yokes(14a, 14b) are stuck on the outer circumference of the funnel portion(6). The optical detector(12) detects the index light emitted from the index stripe and converts it into the index signal. The indexing circuit portion(16) is connected with the electron gun(10a, 10b).

Description

빔 인덱스형 음극선관의 전자빔 주사 방법 {Scanning method of electron beam for beam index type CRT}Scanning method of electron beam for beam index type CRT

본 발명은 빔 인덱스형 음극선관에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 미세 빔경 구현으로 고해상도를 실현하며, 전자빔의 수직 빔경을 조절하여 전화면에 걸쳐 균일한 포커스 특성을 유지할 수 있도록 한 빔 인덱스형 음극선관의 전자빔 주사방법에 관한 것이다.The present invention relates to a beam index type cathode ray tube, and more particularly, to realize high resolution by implementing a fine beam diameter, and to adjust a vertical beam diameter of an electron beam to maintain a uniform focus characteristic across the entire surface. It relates to an electron beam scanning method of.

일반적으로 빔 인덱스형 음극선관은 전자총에서 전자빔을 생성, 집속 및 가속시키고 이를 형광막 스크린에 주사하여 화상을 구현하는 기본 원리는 일반 음극선관과 동일하나, 섀도우 마스크 대신 인덱스 스트라이프를 형성하여 색선별 기능을 행하고 있다.In general, the beam index type cathode ray tube generates, focuses, and accelerates an electron beam from an electron gun, and the basic principle of realizing an image by scanning it on a fluorescent film screen is the same as that of a general cathode ray tube. Is doing.

도 7은 종래 기술에 의한 빔 인덱스형 음극선관의 단면도이고, 도 8은 형광막 스크린의 확대도로서, 전자총(1)에서 형광막 스크린(3)을 향하여 한줄기 전자빔(5)을 방출하면, 전자빔(5)은 인덱스 스트라이프(7)를 여기시켜 근자외선 영역의 광 펄스(인덱스 광)를 생성하며, 인덱스 광은 집광판(9)을 통해 포토디텍터(11)에서 검출되어 인덱스 신호로 전환된다. 인덱스 신호는 인덱싱 회로부(13)에서 색신호와 동기되어 정확한 색신호를 방출, 원하는 색을 구현할 수 있도록 한다.FIG. 7 is a cross-sectional view of a beam index type cathode ray tube according to the prior art, and FIG. 8 is an enlarged view of a fluorescent film screen. When the electron gun 1 emits a single electron beam 5 toward the fluorescent film screen 3, the electron beam (5) excites the index stripe 7 to generate a light pulse (index light) in the near ultraviolet region, which is detected by the photodetector 11 through the light collecting plate 9 and converted into an index signal. The index signal emits an accurate color signal in synchronization with the color signal in the indexing circuit unit 13 to implement a desired color.

이와 같은 구성의 빔 인덱스형 음극선관은 섀도우 마스크가 구비되지 않으므로 전자빔(5)이 인접한 형광막 스트라이프(15)를 발광시키지 않도록 제한된 크기의 수평 빔경(D1)을 구현해야 한다. 이로 인해 빔 인덱스형 음극선관에 구비되는 전자총(1)은 일반 음극선관에 구비되는 전자총에 비해 매우 작은 수평 빔경을 실현해야 하며, 고해상도를 구현하기 위해서는 보다 미세한 수평 빔경이 요구된다.Since the beam index type cathode ray tube having such a configuration does not have a shadow mask, it is necessary to implement a horizontal beam diameter D1 having a limited size so that the electron beam 5 does not emit the adjacent fluorescent film stripe 15. For this reason, the electron gun 1 provided in the beam index type cathode ray tube should realize a very small horizontal beam diameter compared to the electron gun provided in the general cathode ray tube, and a finer horizontal beam diameter is required to realize high resolution.

이로서 미세 빔경을 구현하기 위하여 종래에는 넥크부(17) 직경이 기존보다 큰 펀넬부(19)를 채용하거나 마그네틱 포커스(magnetic focus) 방식을 사용하여 전자총(1)의 메인 렌즈 직경을 확대시키는 방식을 채용하고 있다. 그러나넥크부(17) 직경이 증가하는 경우, 포커스 특성은 우수하나 전자빔 편향에 소요되는 전력이 크게 증가하여 전체 음극선관의 소비 전력을 증가시키며, 이들 두가지 기술 모두 미세 빔경 구현에는 일정한 한계를 갖는 단점이 있다.Thus, in order to implement a fine beam diameter, conventionally, a method of expanding the main lens diameter of the electron gun 1 by employing a funnel portion 19 having a larger diameter than the neck portion 17 or using a magnetic focus method is used. I adopt it. However, when the neck portion 17 is increased in diameter, the focus characteristic is excellent, but the power required for electron beam deflection is greatly increased to increase the power consumption of the entire cathode ray tube, and both techniques have a certain limitation in implementing the fine beam diameter. There is this.

그리고 전자총(1)에서 방출된 전자빔(5)은 편향 요크(점선으로 도시)에서 발생된 자계에 의해 편향되어 라스터를 형성하게 되는데, 도 9에서 도시한 바와 같이 전자빔(5)은 화면을 상하로 양분하는 가상의 중앙 수평축에서 멀어질수록 즉, 화면의 상하부로 주사될수록 수직 빔경(D2)이 증가하여 화면 주변부에서의 포커스 특성을 저하시키게 된다. 따라서 화면 주변부에서의 포커스 특성을 개선하기 위하여 화면의 주변부를 기준으로 수직 빔경을 설정하면, 화면 중앙부에서의 화질 유지에 어려움이 따른다.The electron beam 5 emitted from the electron gun 1 is deflected by a magnetic field generated by a deflection yoke (shown by a broken line) to form a raster. As shown in FIG. 9, the electron beam 5 moves up and down the screen. The vertical beam diameter D2 increases as the distance from the virtual central horizontal axis, which is divided into two parts, is increased to the upper and lower parts of the screen, thereby deteriorating focus characteristics at the periphery of the screen. Therefore, when the vertical beam diameter is set based on the periphery of the screen in order to improve the focus characteristic at the periphery of the screen, it is difficult to maintain the image quality at the center of the screen.

또한 종래 기술로서 복수개의 전자총을 채용하여 화면을 분할 주사하는 방식의 카멜(camel) 타입 음극선관이 있다. 이는 음극선관의 전장을 단축시키고, 화면의 포커스 특성을 개선할 수 있는 장점이 있지만, 분할된 화면을 하나의 화면으로 조화시키는데 어려움이 있으며, 복수개 전자총에서 방출된 각 전자빔의 최대 전류치에는 변화가 없으므로 미세 빔경 구현에 한계를 갖는다.In addition, there is a camel-type cathode ray tube of a prior art, which employs a plurality of electron guns and divides the screen. This has the advantage of shortening the electric field of the cathode ray tube and improving the focus characteristic of the screen, but it is difficult to harmonize the divided screen into one screen, and there is no change in the maximum current value of each electron beam emitted from the plurality of electron guns. There is a limit to the implementation of the fine beam diameter.

따라서 본 발명은 상기한 문제점을 해소하기 위하여 고안된 것으로서, 본 발명의 목적은 복수개의 전자총이 동일한 화면을 주사하도록 하여 각 전자빔의 최대 전류치를 감소시킴으로써 미세 빔경 구현으로 고해상도를 실현할 수 있는 빔 인덱스형 음극선관의 전자빔 주사 방법을 제공하는데 있다.Therefore, the present invention was devised to solve the above problems, and an object of the present invention is to make a high-resolution beam index cathode ray by realizing fine beam diameter by reducing the maximum current value of each electron beam by allowing a plurality of electron guns to scan the same screen. The present invention provides a method for electron beam scanning of a tube.

본 발명의 다른 목적은 각 전자총에서 방출되는 전자빔의 겹침 정도를 조절하여 수직 빔경을 조절함으로써 전화면에 걸쳐 균일한 포커스 특성을 유지할 수 있는 빔 인덱스형 음극선관의 전자빔 주사 방법을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide an electron beam scanning method of a beam index type cathode ray tube which can maintain a uniform focus characteristic over the entire surface by adjusting the vertical beam diameter by adjusting the overlapping degree of the electron beam emitted from each electron gun.

도 1은 본 발명에 의한 빔 인덱스형 음극선관의 후면 사시도.1 is a rear perspective view of a beam index type cathode ray tube according to the present invention;

도 2는 본 발명에 의한 빔 인덱스형 음극선관의 단면도.2 is a cross-sectional view of a beam index type cathode ray tube according to the present invention.

도 3은 캐소드 전류치 변화에 따른 전자빔의 수평 빔경을 나타낸 그래프.3 is a graph showing the horizontal beam diameter of the electron beam according to the change of the cathode current value.

도 4a와 도 6a는 형광막 스크린의 확대도.4A and 6A are enlarged views of the fluorescent screen.

도 4b와 도 6b는 전자빔의 수직 빔경에 따른 전류 밀도를 나타낸 그래프.4B and 6B are graphs showing current density according to the vertical beam diameter of the electron beam.

도 5는 화면의 중앙 수평축을 도시한 개략도.5 is a schematic diagram illustrating a central horizontal axis of the screen.

도 7은 종래 기술에 의한 빔 인덱스형 음극선관의 단면도.7 is a cross-sectional view of a beam index type cathode ray tube according to the prior art.

도 8은 형광막 스크린의 확대도.8 is an enlarged view of a fluorescent screen;

도 9는 화면의 각 위치별 전자빔의 형상을 도시한 개략도.9 is a schematic diagram showing the shape of an electron beam for each position of a screen.

상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명은,In order to achieve the above object, the present invention,

패널의 내면에 형성되며 인덱스 스트라이프를 구비하는 형광막 스크린과,A fluorescent film screen formed on an inner surface of the panel and having an index stripe;

상기 패널의 후방에 결합되는 펀넬부 및 펀넬부의 후방에 결합되며 동일축상으로 복수개가 형성되는 넥크부와,A neck portion coupled to the rear of the panel and a rear portion of the panel and having a plurality of neck portions formed on the same axis;

각각의 넥크부 내주면에 장착되며 전자빔을 방출하는 복수개의 전자총과,A plurality of electron guns mounted on the inner circumferential surface of each neck portion to emit electron beams,

상기 넥크부와 마주하는 펀넬부의 외주면에 장착되는 복수개의 편향 요크와,A plurality of deflection yokes mounted on an outer circumferential surface of the funnel portion facing the neck portion;

상기 인덱스 스트라이프에서 방출된 인덱스 광을 검출하여 인덱스 신호로 전환하는 광 검출기와,A photo detector for detecting the index light emitted from the index stripe and converting the index light into an index signal;

상기 인덱스 신호를 색신호와 동기시켜 정확한 색신호를 복수개의 전자총에 인가하는 인덱싱 회로부를 포함하는 빔 인덱스형 음극선관에 있어서,A beam index type cathode ray tube comprising an indexing circuit unit for synchronizing the index signal with a color signal to apply an accurate color signal to a plurality of electron guns,

상기 복수개의 편향 요크가 각 전자총에서 방출된 전자빔이 형광막 스크린의 동일 영역을 동시에 주사하도록 이들 전자빔을 편향시키는 빔 인덱스형 음극선관의 전자빔 주사 방법을 제공한다.The electron beam scanning method of the beam-index type cathode ray tube which deflects these electron beams so that the said electron beam emitted from each electron gun may scan the same area | region of a fluorescent film screen simultaneously is provided.

이와 같이 복수개의 전자빔으로 형광막 스크린의 전면을 동시에 주사함으로써 각 전자빔의 최대 전류치와 평균 전류치를 감소시킬 수 있으므로 보다 축소된 수평 빔경을 구현할 수 있다. 또한 각 전자빔을 수직축상으로 나란히 배열하여 각전자빔이 수직축상으로 겹치는 정도를 조절하여 최종 전자빔의 수직 빔경을 제어할 수 있다.As described above, by simultaneously scanning the entire surface of the fluorescent film screen with a plurality of electron beams, the maximum current value and the average current value of each electron beam may be reduced, thereby realizing a smaller horizontal beam diameter. In addition, by arranging each electron beam side by side on the vertical axis, it is possible to control the vertical beam diameter of the final electron beam by adjusting the degree of overlap of each electron beam on the vertical axis.

이로서 본 발명은 미세 빔경 구현으로 고해상도를 실현하며, 최종 전자빔의 수직 빔경을 조절하여 화면 전체에 걸쳐 균일한 포커스 특성을 유지할 수 있는 장점을 갖는다.As a result, the present invention realizes high resolution by implementing a fine beam diameter, and has the advantage of maintaining a uniform focus characteristic over the entire screen by adjusting the vertical beam diameter of the final electron beam.

이하, 첨부한 도면을 참고하여 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 실시예에 의한 빔 인덱스형 음극선관의 후면 사시도이고, 도 2는 본 실시예에 의한 빔 인덱스형 음극선관의 단면도이다.1 is a rear perspective view of a beam index type cathode ray tube according to the present embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view of the beam index type cathode ray tube according to the present embodiment.

도시한 바와 같이 본 실시예는 내면으로 형광막 스크린(2)이 형성된 패널(4)과, 패널(4)의 후방에 결합되는 펀넬부(6)와, 펀넬부(6)의 후방에 결합되며 동일축상으로 복수개가 형성되는 넥크부(8)와, 각각의 넥크부(8) 내주면에 장착되는 복수개의 전자총(10)과, 펀넬부(6)의 수광창(6a) 외주면에 부착되는 광 검출기(12)와, 각각의 넥크부(9)와 마주하는 펀넬부(6)의 외주면에 부착되는 복수개의 편향 요크(14)와, 광 검출기(12) 및 복수개의 전자총(10)과 연결되는 인덱싱 회로부(16)를 포함한다.As shown, the present embodiment has a panel 4 having a fluorescent screen 2 formed therein, a funnel portion 6 coupled to the rear of the panel 4, and a rear portion of the funnel portion 6. A plurality of neck portions 8 formed on the same axis, a plurality of electron guns 10 mounted on the inner circumferential surface of each neck portion 8, and a photo detector attached to the outer circumferential surface of the light receiving window 6a of the funnel portion 6 (12), a plurality of deflection yokes (14) attached to the outer circumferential surface of the funnel portion (6) facing each neck portion (9), and an index connected to the photo detector (12) and the plurality of electron guns (10). And a circuit portion 16.

상기 넥크부(8)와 전자총(10) 및 편향 요크(14)는 복수개가 구비되며, 일례로 도시한 바와 같이 화면의 수직축상으로 한쌍이 소정의 간격을 두고 나란히 배치될 수 있다.The neck part 8, the electron gun 10, and the deflection yoke 14 may be provided in plural, and as illustrated, for example, a pair may be arranged side by side at a predetermined interval on the vertical axis of the screen.

여기서, 본 실시예는 제 1전자총(10a)과 제 2전자총(10b)에서 각각의 제 1및 제 2전자빔(18a, 18b)을 방출하면, 제 1편향 요크(14a)와 제 2편향 요크(14b)가 한쌍의 전자총(10a, 10b)에서 방출된 전자빔(181, 18b)이 형광막 스크린(2)의 전면을 동시에 주사하도록 각각의 수평 및 수직 편향 자계를 발생하여 해당 전자총(10a, 10b)에서 방출된 전자빔(181, 18b)을 편향시킨다.In this embodiment, when the first and second electron beams 18a and 18b are respectively emitted from the first electron gun 10a and the second electron gun 10b, the first deflection yoke 14a and the second deflection yoke ( 14b) generates respective horizontal and vertical deflection magnetic fields such that the electron beams 181 and 18b emitted from the pair of electron guns 10a and 10b simultaneously scan the entire surface of the fluorescent film screen 2 to produce corresponding electron guns 10a and 10b. Deflect electron beams 181 and 18b emitted from

즉, 상기 제 1 및 제 2전자총(10a, 10b)이 화면을 상하로 양분하는 윗부분과 아래부분에 각각 위치하더라도, 한쌍의 편향 요크(14a, 14b)가 해당 전자빔(18a, 18b)을 편향시켜 형광막 스크린(2)의 동일 영역을 동일한 궤적으로 동시에 주사하도록 함으로써 하나의 화면을 구성하도록 한다.That is, even if the first and second electron guns 10a and 10b are located at the upper and lower portions of the screen that divide the screen up and down, respectively, the pair of deflection yokes 14a and 14b deflect the corresponding electron beams 18a and 18b. One screen is configured by simultaneously scanning the same area of the fluorescent film screen 2 with the same trajectory.

상기한 전자빔 주사 방법에 의해 한쌍의 전자총(10a, 10b)에서 각각의 전자빔(181, 18b)을 방출하여 형광막 스크린(2)을 동시에 주사하면, 상기 전자빔(18)이 인덱스 스트라이프(20)를 동시에 여기시켜 인덱스 광을 방출하며, 방출된 인덱스 광은 광 검출기(12)에서 검출되어 인덱스 신호로 전환되고, 상기 인덱스 신호는 인덱싱 회로부(16)에서 색신호와 동기되어 정확한 색신호로서 제 1 및 제 2전자총(10a, 10b)에 전달된다.By emitting the electron beams 181, 18b from the pair of electron guns 10a, 10b by the electron beam scanning method described above, and simultaneously scanning the fluorescent film screen 2, the electron beam 18 causes the index stripe 20 to be scanned. Simultaneously exciting to emit index light, the emitted index light is detected by the photo detector 12 and converted into an index signal, which is synchronized with the color signal in the indexing circuit section 16 as the correct color signal as the first and second signals. It is transmitted to the electron guns 10a and 10b.

이 때 인덱스 광을 검출하는 한쌍의 광 검출기(12)는 한쌍의 전자총(10a, 10b)이 배열되는 수직축과 교차하는 화면의 수평축상으로 소정의 간격을 두고 나란히 배치되어 인덱스 광의 집광 효율을 높인다.At this time, the pair of light detectors 12 for detecting the index light are arranged side by side at a predetermined interval on the horizontal axis of the screen intersecting the vertical axis where the pair of electron guns 10a and 10b are arranged to increase the light collecting efficiency of the index light.

이와 같이 한쌍의 전자총(10a, 10b)과 편향 요크(14a, 14b)를 구비하여 한쌍의 전자빔(18a, 18b)으로 화면을 동시에 구성함에 따라, 형광막 스크린(2)에 도달하는 최종 전자빔(18)은 일반 빔 인덱스형 음극선관에서의 전자빔보다 높은 전류밀도를 갖게 된다.As described above, the pair of electron guns 10a and 10b and the deflection yoke 14a and 14b simultaneously constitute a screen with a pair of electron beams 18a and 18b, thereby resulting in the final electron beam 18 reaching the fluorescent film screen 2. ) Has a higher current density than the electron beam in the general beam index type cathode ray tube.

따라서 각 전자총(10)에서 방출된 전자빔(18)의 최대 전류치와 평균 전류치를 감소시켜도 일반 빔 인덱스형 음극선관과 동일 휘도를 구현할 수 있으므로, 각 전자빔(18a, 18b)의 최대 전류치와 평균 전류치를 감소시킬 수 있다.Therefore, even if the maximum current value and the average current value of the electron beam 18 emitted from each electron gun 10 are reduced, the same brightness as that of the general beam index type cathode ray tube can be realized. Therefore, the maximum current value and the average current value of each of the electron beams 18a and 18b can be obtained. Can be reduced.

도 3은 하나의 전자총을 기준으로 캐소드 전류치(Ik) 변화에 따른 전자빔의 수평 빔경 변화를 나타낸 그래프로서, 캐소드 전류치가 증가할수록 전자빔의 수평 빔경이 증가하며, 일례로 캐소드 전류치가 1500 μA를 초과하면서부터 전자빔의 수평 빔경이 급격하게 증가하고 있음을 알 수 있다.3 is a graph showing the change in the horizontal beam diameter of the electron beam according to the change of the cathode current value Ik with respect to one electron gun. As the cathode current value increases, the horizontal beam diameter of the electron beam increases, for example, while the cathode current value exceeds 1500 μA. It can be seen that the horizontal beam diameter of the electron beam is rapidly increasing.

이로서 캐소드 전류의 최대치, 즉 전자빔의 최대 전류치를 감소시키면 전자빔의 수평 빔경을 효과적으로 축소시킬 수 있다.Thus, reducing the maximum value of the cathode current, that is, the maximum current value of the electron beam, can effectively reduce the horizontal beam diameter of the electron beam.

따라서 제 1 및 제 2전자총(10a, 10b)에서 종래보다 감소된 최대 전류치와 평균 전류치를 갖는 전자빔(18a, 18b)을 방출하면, 각각의 전자총(10a, 10b)에서 방출된 제 1 및 제 2전자빔(18a, 18b)은 감소된 전류치에 따라 축소된 수평 빔경을 구현하게 된다. 그리고 각각의 제 1전자빔(18a)과 제 2전자빔(18b)은 형광막 스크린(2)내 동일 지점에 도달하게 되므로, 제 1전자빔(18a)과 제 2전자빔(18b)이 합쳐진 최종 전자빔의 수평 빔경은 각각의 제 1 및 제 2전자빔(18a, 18b)의 수평 빔경과 거의 동일하므로 보다 축소된 수평 빔경을 구현하게 된다.Therefore, when the first and second electron guns 10a and 10b emit the electron beams 18a and 18b having the maximum current value and the average current value reduced than before, the first and second electron beams 10a and 10b emitted from the respective electron guns 10a and 10b. The electron beams 18a and 18b implement a horizontal beam diameter reduced according to the reduced current value. Since each of the first electron beam 18a and the second electron beam 18b reaches the same point in the fluorescent screen 2, the horizontal level of the final electron beam in which the first electron beam 18a and the second electron beam 18b are combined. Since the beam diameter is substantially the same as the horizontal beam diameter of each of the first and second electron beams 18a and 18b, a smaller horizontal beam diameter is realized.

이로서 축소된 수평 빔경 구현으로 인접한 타색 형광막 스트라이프의 발광을 방지할 수 있으며, 고해상도 실현에 더욱 유리한 장점을 갖는다.As a result, a reduced horizontal beam diameter can be prevented from emitting light of adjacent other fluorescent film stripes, and has a further advantage in realizing high resolution.

또한 본 실시예는 제 1 및 제 2전자빔(18a, 18b)이 수직축상으로 나란하게배열하도록 한쌍의 편향 요크(14a, 14b)가 이들 전자빔을 편향시키며, 각각의 전자빔(18a, 18b)이 수직축상으로 겹치는 정도를 조절하여 최종 전자빔의 수직 빔경을 제어할 수 있다.Also in this embodiment, a pair of deflection yokes 14a, 14b deflect these electron beams such that the first and second electron beams 18a, 18b are arranged side by side on the vertical axis, and each of the electron beams 18a, 18b has a vertical axis. It is possible to control the vertical beam diameter of the final electron beam by adjusting the degree of overlap on the image.

도 4a는 형광막 스크린의 확대도이고, 도 4b는 각 전자빔의 수직 빔경과 전자빔의 밀도를 나타낸 그래프로서, 제 1 및 제 2편향 요크(14a, 14b)가 발생하는 편향 자계의 세기를 조절하여 형광막 스크린(2)내 동일 지점에 도달하는 제 1 및 제 2전자빔(18a, 18b)을 수직축상에서 일정 부분 어긋나게 배열한다. 이로서 제 1 및 제 2전자빔(18a, 18b)의 수직축간 중심 거리(t)를 조절하여 최종 전자빔의 수직 빔경의 확대 또는 축소시킬 수 있다.4A is an enlarged view of a fluorescent screen, and FIG. 4B is a graph showing the vertical beam diameter of each electron beam and the density of the electron beam. The intensity of the deflection magnetic field generated by the first and second deflection yokes 14a and 14b is adjusted. The first and second electron beams 18a and 18b reaching the same point in the fluorescent film screen 2 are arranged to be shifted by a predetermined portion on the vertical axis. Thus, the center distance t between the vertical axes of the first and second electron beams 18a and 18b may be adjusted to enlarge or reduce the vertical beam diameter of the final electron beam.

이와 같이 형광막 스크린(2)에 도달하는 최종 전자빔의 수직 빔경을 제어하여 화면 전체에 걸쳐 균일한 포커스 특성을 보장할 수 있는바, 이를 보다 상세하게 설명하면, 음극선관 작동중 전자총(10)에서 방출되는 전자빔이 도 5에서 도시한 바와 같이 화면을 상하로 양분하는 중앙 수평축(A)에 근접하게 주사될수록 제 1 및 제 2편향 요크(14a, 14b)가 각 전자빔(18a, 18b)의 수직축간 중심 거리(t)가 증가하도록 제 1 및 제 2전자빔(18a, 18b)을 편향시켜 최종 전자빔의 수직 빔경을 확대시킨다.As described above, the vertical beam diameter of the final electron beam reaching the fluorescent film screen 2 can be controlled to ensure uniform focus characteristics over the entire screen, which will be described in more detail. As the emitted electron beam is scanned closer to the central horizontal axis A that bisects the screen up and down as shown in FIG. 5, the first and second deflection yokes 14a and 14b are disposed between the vertical axes of the respective electron beams 18a and 18b. The first and second electron beams 18a and 18b are deflected to increase the center distance t to enlarge the vertical beam diameter of the final electron beam.

그리고 전자빔이 중앙 수평축(A)에서 멀리 주사될수록 도 6a 및 도 6b에서 도시한 바와 같이, 제 1 및 제 2편향 요크(14a, 14b)가 각 전자빔(18a, 18b)의 수직축간 중심 거리(t')가 최소화되도록 제 1 및 제 2전자빔(18a, 18b)을 편향시켜 최종 전자빔의 수직 빔경을 최소화한다.As the electron beam is scanned farther from the central horizontal axis A, as shown in FIGS. 6A and 6B, the first and second deflection yokes 14a and 14b have the center distance t between the vertical axes of the respective electron beams 18a and 18b. The first and second electron beams 18a and 18b are deflected to minimize ') to minimize the vertical beam diameter of the final electron beam.

따라서 전자빔 편향에 따른 화면 중앙부와 주변부와의 수직 빔경 차이를 상쇄하여 화면 전체에 걸쳐 균일한 수직 빔경을 구현할 수 있으므로, 화면 중앙부와 주변부에 걸쳐 균일한 포커스 특성을 유지할 수 있다.Therefore, since the vertical beam diameter between the center portion and the peripheral portion of the screen due to the electron beam deflection is canceled, a uniform vertical beam diameter can be realized throughout the entire screen, thereby maintaining uniform focus characteristics across the center portion and the peripheral portion of the screen.

이와 같이 본 실시예는 한쌍의 전자총과 편향 요크를 화면의 수직축상으로 나란히 배열하고 있으나, 상술한 실시예 이외에 한쌍의 전자총 및 편향 요크를 화면의 수평축상으로 나란히 배열하면서 한쌍의 광 검출기를 수직축상으로 나란히 배열하는 구성 및 동일축상에 2개 이상의 전자총과 편향 요크를 구비하는 구성도 가능하며, 모든 실시예에 있어서 편향 요크의 전자빔 주사 방법은 동일하게 이루어진다.As described above, the present embodiment arranges the pair of electron guns and the deflection yokes side by side on the vertical axis of the screen. However, in addition to the above-described embodiment, the pair of the electron guns and the deflection yoke are arranged side by side on the horizontal axis of the screen. It is also possible to have a configuration arranged side by side and a configuration having two or more electron gun and the deflection yoke on the same axis, the electron beam scanning method of the deflection yoke is the same in all embodiments.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되는 것이 아니고 특허청구범위와 발명의 상세한 설명 및 첨부한 도면의 범위 안에서 여러 가지로 변형하여 실시하는 것이 가능하고 이 또한 본 발명의 범위에 속하는 것은 당연하다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited thereto, and various modifications and changes can be made within the scope of the claims and the detailed description of the invention and the accompanying drawings. Naturally, it belongs to the range of.

이와 같이 본 발명에 의한 빔 인덱스형 음극선관은 복수개의 전자빔으로 형광막 스크린의 전면을 동시에 주사함에 따라, 각 전자총에서 방출되는 전자빔의 최대 전류치를 감소시켜 보다 축소된 수평 빔경을 구현할 수 있으므로 고해상도를 용이하게 실현할 수 있다.As described above, the beam index type cathode ray tube according to the present invention simultaneously scans the front surface of the fluorescent screen with a plurality of electron beams, thereby reducing the maximum current value of the electron beam emitted from each electron gun, thereby realizing a reduced horizontal beam diameter. It can be easily realized.

또한 각 전자총에서 방출되는 전자빔의 수직축간 중심 거리를 변화시켜 최종 전자빔의 수직 빔경을 제어함으로써 화면 전체에 걸쳐 균일한 포커스 특성을 유지할 수 있다.In addition, by changing the center distance between the vertical axis of the electron beam emitted from each electron gun to control the vertical beam diameter of the final electron beam it is possible to maintain a uniform focus characteristic throughout the screen.

Claims (7)

패널의 내면에 형성되며 인덱스 스트라이프를 구비하는 형광막 스크린과;A fluorescent film screen formed on an inner surface of the panel and having an index stripe; 상기 패널의 후방에 결합되는 펀넬부 및 펀넬부의 후방에 결합되며 동일축상으로 복수개가 형성되는 넥크부와;A neck portion coupled to the rear of the panel and a neck portion coupled to the rear of the panel and having a plurality formed on the same axis; 각각의 넥크부 내주면에 장착되며 전자빔을 방출하는 복수개의 전자총과;A plurality of electron guns mounted on the inner circumferential surface of each neck portion and emitting electron beams; 상기 넥크부와 마주하는 펀넬부의 외주면에 장착되는 복수개의 편향 요크와;A plurality of deflection yokes mounted on an outer circumferential surface of the funnel portion facing the neck portion; 상기 인덱스 스트라이프에서 방출된 인덱스 광을 검출하여 인덱스 신호로 전환하는 광 검출기와;A photo detector for detecting the index light emitted from the index stripe and converting the index light into an index signal; 상기 인덱스 신호를 색신호와 동기시켜 정확한 색신호를 복수개의 전자총에 인가하는 인덱싱 회로부를 포함하는 빔 인덱스형 음극선관에 있어서,A beam index type cathode ray tube comprising an indexing circuit unit for synchronizing the index signal with a color signal to apply an accurate color signal to a plurality of electron guns, 상기 복수개의 편향 요크가 각 전자총에서 방출된 전자빔이 형광막 스크린의 동일 영역을 동시에 주사하도록 이들 전자빔을 편향시키는 빔 인덱스형 음극선관의 전자빔 주사 방법.And a beam index type cathode ray tube for deflecting the electron beams so that the electron beams emitted from the electron guns simultaneously scan the same region of the fluorescent film screen. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 복수개의 편향 요크가 각 전자총에서 방출된 전자빔을 수직축상으로 나란히 배열하여 소정의 수직축간 중심 거리를 갖도록 이들 전자빔을 편향시키는 빔 인덱스형 음극선관의 전자빔 주사 방법.And a plurality of deflection yokes are arranged so that the electron beams emitted from each electron gun are arranged side by side on a vertical axis to deflect these electron beams so as to have a predetermined center-center distance. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 복수개의 편향 요크가 각 전자총에서 방출된 전자빔이 화면의 중앙 수평축과 근접할수록 수직축간 중심 거리를 확대시키면서 이들 전자빔을 편향시키는 빔 인덱스형 음극선관의 전자빔 주사 방법.The electron beam scanning method of the beam index type cathode ray tube which deflects these electron beams, increasing the center distance between vertical axes as the electron beam emitted from each said electron gun approaches the center horizontal axis of a screen. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 복수개의 편향 요크가 각 전자총에서 방출된 전자빔이 화면의 중앙 수평축에서 멀어질수록 수직축간 중심 거리를 최소화하면서 이들 전자빔을 편향시키는 빔 인덱스형 음극선관의 전자빔 주사 방법.And a beam index type cathode ray tube deflecting the electron beams while minimizing the center distance between the vertical axes as the electron beams emitted from the electron guns are moved away from the central horizontal axis of the screen. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 복수개의 넥크부와 전자총 및 편향 요크가 화면의 수직축상에서 소정의 간격으로 나란하게 배열되는 빔 인덱스형 음극선관의 전자빔 주사 방법.And a plurality of neck portions, an electron gun, and a deflection yoke are arranged side by side at predetermined intervals on the vertical axis of the screen. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 복수개의 넥크부와 전자총 및 편향 요크가 화면의 수평축상에서 소정의 간격으로 나란하게 배열되는 빔 인덱스형 음극선관의 전자빔 주사 방법.And a plurality of neck portions, an electron gun, and a deflection yoke are arranged side by side at predetermined intervals on a horizontal axis of the screen. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 복수개의 넥크부와 전자총 및 편향 요크가 한쌍으로 구비되는 빔 인덱스형 음극선관의 전자빔 주사 방법.And a plurality of neck portions, an electron gun, and a deflection yoke in pairs.
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