KR20010056751A - Ａｔｍ망의 셀 손실률 추출방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 ATM망의 셀 손실률 추출방법에 관한 것으로, 대부분의 공중통신망사업자는 현재 저속의 데이터통신서비스를 제공하기 위하여 저속 데이터망이 구축되어 있으며, ATM망은 초고속서비스 제공과 기존 데이터망의 백본망 기능을 수행하기 위하여 구축되므로 이러한 구조에서의 ATM망의 품질값은 기존 저속 데이터망 교환기를 이용하여 손쉽게 산출할 수 있다. 즉, 한 예로써 한국통신에서는 현재 패킷/프레임릴레이 서비스를 제공하기 위하여 약 600개의 교환기로 구성된 통신망(HiNET-P/F)이 구축되어 있으며, ATM망은 이들 HiNET-P/F의 백본망 기능(HiNET-P/F 교환기를 ATM망의 VP/VC를 이용하여 연결)을 수행하므로 HiNET-P/F 교환기에서 ATM망과 연결되는 접속점의 통계데이터를 이용하면 ATM망 VP/VC의 CLR 품질값을 별도의 부가장치 없이 손쉽게 산출할 수 있다.

Description

ＡＴＭ망의 셀 손실률 추출방법{Method for ATM performance parameter using network statistics record}
본 발명은 ATM망의 셀 손실률 추출방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 ATM 망이 저속 데이터망의 백본망 기능을 수행하는 구조에서 ATM망과 저속 데이터망은 ATM-UNI 인터페이스로 접속되며, 저속데이터 교환기에서는 ATM-UNI인터페이스를 감시하여 송수신 셀 정보를 제공하는 경우 이들 데이터를 이용하여 백본망의 성능파라메타인 셀 손실률의 품질값 추출방법에 관한 것이다.
일반적으로 ISDN 표준화의 기본 취지를 살려 각종 광대역 신호를 수용하도록 확장시키면서 동기식 광 통신 표준화의 영향을 받아 형성된 것이 광대역 ISDN(B-ISDN)이다. B-ISDN은 그 기본적인 목적이 원격 검침, 데이터 단말, 전화, 팩시밀리 등 협대역 서비스로부터 영상 전화, 영상 회의, 정밀 화면 전송, 고속 데이터 전송, 영상 신호 전송 등의 광대역 서비스에 이르기까지 넓은 대역 분포를 갖는 실시간 신호들과 군집성의 데이터 신호들을 모두 통합하는데 있었는데 그것의 실현 방안으로서 등장하게 된 것이 ATM 방식이다. 따라서 ATM 망은 B-ISDN망의 기반망으로써(Backbone Network) 세계 각국에서 구축되어 가고 있으며 우리나라에서도 ATM 기반의 초고속 정보통신망이 구축 추진중에 있다.
이러한 ATM 망의 품질관리를 위하여 국제전기통신연합(ITU-T)에서는 아래와 같은 품질항목들을 정의하고 있다. (I.353, I.356, I.610 참조)
1) 셀 오류율 (Cell Error Ratio: 이하 CER 이라 한다)
2) 셀 손실율 (Cell Loss Ratio: 이하 CLR 이라 한다)
3) 셀 오삽입율 (Cell Misinsertion Rate: 이하 CMR 이라 한다)
4) 심각한 오류를 포함한 블럭율(Severely Errored Cell Block Ratio: 이하 SECBR 이라 한다)
5) 셀 전달지연(Cell Transfer Delay: 이하 CTD 라 한다)
여기서 국제전기통신연합(ITU-T)의 CLR 정의 및 산출방법을 살펴보면 다음과같다.
ITU-T의 권고(I.356)에 정의되어 있는 셀 손실율(Cell Loss Ratio : CLR)은 ATM망의 셀 전달능력을 표시하는 지표로써 송신측 단말기와 연결된 교환기의 입력부분에서 입력된 셀들이 착신측 단말기와 연결된 교환기의 출력부분에 도착하였을 때 손실된 셀의 비율이다. 이때 심각한 오류를 포함한 셀 블럭(Severely Errored Cell Block : SECB)에 속하는 셀은 계산에서 제외한다.
CLR에는 셀의 우선순위(Priority)와 관계없이 송신된 전체 셀에 대한 셀 손실율을 나타내는 CLR0+1과 우선순위가 높은 셀(Cell Loss Priority = 0 : CLP=0)에 대한 셀 손실율을 나타내는 CLR0및 우선순위가 낮은 셀(Cell Loss Priority = 1 : CLP=1)에 대한 셀 손실율을 나타내는 CLR1이 있다. 이들은 다음과 같은 공식을 적용하여 산출한다.
가) CLR0+1= Nl(0+1) / Nt(0+1)
나) CLR0= Nl(0) / Nt(0)
다) CLR1= Nl(1) / Nt(1)
여기서 Nt(0)는 CLP=0로 전송된 셀 수, Nl(0)는 CLP=0로 전송된 셀 중에서 통신망을 통한 전달 중 손실된 셀과 태깅된(tagging) 셀의 수, Nt(1)는 CLP=1로 전송된 셀 수이고, Nl(1)는 CLP=1로 전송된 셀 중에서 통신망을 통한 전달 중 손실된 셀수, Nt(0+1)는 CLP=0와 CLP=1로 전송된 셀 수, Nl(0+1)는 CLP=0와 CLP=1로 전송된 셀 중에서 통신망을 통한 전달 중 손실된 셀 수이다.
그러나 CLR 품질값은 SECB에 속한 셀을 결정하는 방법의 문제점 때문에 정확하게 추출하기 어렵다. 즉 권고 I.356에 따르면 심각한 오류를 포함한 셀은 오류가 생긴 셀(헤더의 오류 + 사용자 데이터의 오류), 오삽입된 셀, 손실된 셀의 오류부분이 셀 크기의 1/32보다 큰 경우로 정의하고 있으나, 헤더에 오류가 생긴 셀을 제외한 나머지 경우에는 수신단에서 SECB 여부를 정확히 판단하기가 어렵다. 일례로 사용자 데이터영역에 오류가 생긴 경우는 BIP-16이라는 패리티 체크가 한 셀 블럭에 대해 유도되어 OAM(Operation And Management) 셀에 기록되지만 전체 블록 중 몇 개의 셀이 사용자 데이터영역에 오류가 났는지는 알 수 없고 단지 오류의 발생 유무만 감지 할 수 있을 뿐이다(권고 I.610).
한편, CLR 품질값을 추출하는 방법(권고 I.356)에는 in-service 방법과 out-of-service 방법이 있다. In-service 방법은 통신서비스를 제공하면서 추출한 자료를 이용하여 품질값을 계산하는 방법이며, out-of-service 방법은 별도의 장비와 회선을 설치하여 품질값을 도출해내는 방법이다.
상기 In-service 방법은 통신망 사용자에 의하여 사용중인 VP(Virtual Path) 또는 VC(Virtual Circuit)의 한쪽 종단교환기에서 수신된 사용자 셀들을 그룹화하고 이들 그룹의 특성을 분석하여 OAM 셀을 생성한 후 사용자 셀과 함께 VP/VC를 통하여 타 종단교환기로 전송하며, 이들 셀그룹을 수신한 종단교환기에서는 사용자셀들과 OAM 셀을 분석하여 Nl(0+1), Nt(0+1), Nl(0), Nt(0), Nl(1), Nt(1)를 산출한 후 정의된 공식을 적용하여 VP 또는 VC의 CLR 품질값을 산출한다. 따라서 ATM망에서 설정된 모든 VP/VC의 CLR 품질값을 산출할 수 있다.
그러나 이 방식은 ATM망을 구성하는 각 교환기에 CLR을 추출하기 위한 기능(사용자 셀 분석, OAM셀 생성/삽입/전송, 수신 셀 모니터/추출/분석, CLR 품질값 계산등)이 구현되어 있어야 한다. 그러나 현재 ATM 교환기에서는 한 개의 회선당 4,096개의 VC를 개설할 수 있으므로 1000회선 용량의 ATM 교환기에서는 4,096,000개의 VC가 구성 가능하므로 이들 VC별로 CLR 품질값을 산출하는 기능을 교환기에 부가하는 것은 기술적으로 구현하기가 어려우며, 구현을 위해서는 많은 비용이 필요하다.
그리고 상기 Out-of-service 방법은 ATM망을 대표하는 몇 개의 회선을 선정하여 이들 회선간에 VP 또는 VC를 설정한 후 VP/VC의 양쪽 종단에 측정 장비를 부착하고 서로 사전에 정의된 시험 셀(권고 O.191)을 이용하여 셀 송수신시험을 수행하므로써, Nl(0+1),Nt(0+1), Nl(0), Nt(0), Nl(1), Nt(1)를 산출한 후 이를 정의된 공식에 적용하여 해당 VP 또는 VC의 CLR 품질값을 산출한다. 그리고 이러한 시험을 반복 수행하므로써 도출된 품질값을 산술적으로 처리하여 ATM망의 CLR 품질값을 예측한다. 그러나 Out-of-service 방법은 다양한 속도의 ATM 인터페이스를 지원하며, 시험셀 생성/전송, 수신 셀 모니터/추출/분석, CLR 품질값 계산 등의 기능을 가진 시험장비가 필요하나, 이러한 기능을 갖춘 장비 가격이 고가이므로, 광범위한지역(국내의 경우 전국)에 설치되어 있는 통신망을 대상으로 CLR 품질값을 도출하기 위한 시험망 구축에 많은 비용이 필요하다.
따라서 ITU-T에서 제시하고 있는 CLR 품질값 추출방법은 ATM 교환기에 부가기능을 개발하여 이를 활용하거나, 별도의 시험장치를 설치하여 품질값을 산출하는 방법으로써 ATM망의 품질값을 산출하기 위해서는 기술적인 문제나, 경제적인 문제가 해결되어야 한다.
즉, 이들 품질값을 추출하는 방법에 대하여 ITU-T의 자료(권고)에 명시되어 있으나, 실제 통신망에서 이를 적용하여 품질값을 추출하기에는 기술측면과 비용측면에서 많은 문제점을 가지고 있다.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, ATM망 품질항목 중 셀 손실율(CLR) 품질값을 손쉽게 산출할 수 있는 방법을 제시하여 통신망운용체에서 저렴한 비용으로 ATM망 품질관리를 수행할 수 있도록 하므로써 ATM망 사용자에게 양질의 통신서비스를 제공할 수 있도록 한 ATM망의 셀 손실률 추출방법을 제공함에 그 목적이 있다.
즉, 대부분의 공중통신망사업자는 현재 저속의 데이터통신서비스를 제공하기 위하여 저속 데이터망이 구축되어 있으며, ATM망은 초고속서비스 제공과 기존 데이터망의 백본망 기능을 수행하기 위하여 구축되므로 이러한 구조에서의 ATM망의 품질값은 기존 저속 데이터망 교환기를 이용하여 손쉽게 산출할 수 있다. 즉, 한 예로써 한국통신에서는 현재 패킷/프레임릴레이 서비스를 제공하기 위하여 약 600개의 교환기로 구성된 통신망(HiNET-P/F)이 구축되어 있으며, ATM망은 이들 HiNET-P/F의 백본망 기능(HiNET-P/F 교환기를 ATM망의 VP/VC를 이용하여 연결)을 수행하므로 HiNET-P/F 교환기에서 ATM망과 연결되는 접속점의 통계데이터를 이용하면 ATM망 VP/VC의 CLR 품질값을 별도의 부가장치 없이 손쉽게 산출할 수 있도록 한 ATM망의 셀 손실률 추출방법을 제공함에 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 이루기 위한 본 발명은 저속데이터교환기에서 각각의 ATM-UNI 인터페이스를 대상으로 주기적으로 생성되는 통계데이터를 이용하여, 이들 통계데이터를 저장하고 있는 망관리시스템의 전체 통계데이터 중에서 분석하고자 하는 특정 VC에 대한 통계데이터를 "componentName"과 "remoteComponentName" 이용하여 쌍(pair)으로 추출하는 제 1단계;
상기 제 1단계에서 추출된 통계데이터 중에서 분석하고자 하는 기간의 통계데이터를 "timeOfRecord" 필드를 이용하여 추출한 후 이용하여 특정 기간동안의 ATM VC를 통하여 송수신된 셀정보(txCell, txCellClp, txDiscard, rxCell, rxCellClp, rxDiscard, rxDiscardClp)를 산출하는 제 2단계; 및
상기 제 2단계에서 추출된 통계데이터를 해당 공식을 사용하여 해당 VC의 CLR 품질값을 산출하는 하는 제 3단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 제 1단계에서 통계 데이터는 switchType, componentName, timeOfRecord, remoteComponentName, txCell, txCellClp, txDiscard, rxCell, rxCellClp, rxDiscard, rxDiscardClp)인 것을 특징으로 한다.
도 1은 본 발명에 적용되는 저속 데이터망의 백본교환망으로 ATM망을 사용하는 통신망 구조.
도 2는 본 발명에 따르 저속 데이터망에서 생성하는 ATM 인터페이스 관련 통계데이터 정보.
도 3은 본 발명에 따른 저속 데이터교환기간 연결을 ATM망의 VC를 이용하는 통신망 구조.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 저속데이터망(HiNET-P/F)에서 생성하는 ATM 인터페이스 관련 통계데이터.
도 5는 본 발명에 따른 CLR 품질값 산출을 위한 기준점을 보여주는 도면.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 발명은 도 1과 같이 ATM망이 저속 데이터망의 백본망 기능을 수행하는 구조에서 ATM망과 저속 데이터망은 ATM-UNI 인터페이스로 접속되며, 저속 데이터망에서는 ATM-UNI 인터페이스를 감시하여 도 2와 같은 정보필드로 구성된 데이터를 발생시키는 경우에 적용 가능하다.
현재 한국통신의 데이터망은 이와 같은 환경으로 구축되어 있으며, 이러한 환경에서의 ATM망 CLR 품질값 산출방법은 첨부된 도면을 참조하여 실시 예로써 설명한다.
한국통신에서는 현재 저속의 패킷/프레임릴레이 서비스를 제공하기 위하여 약 600개의 교환기로 구성된 저속 데이터망(HiNET-P/F)이 구축되어 있으며, ATM망은 일부구간에서 VC를 이용하여 저속 데이터망 교환기를 연결하는 백본망 기능을 수행하고 있다. 그리고 ATM 기반의 초고속 정보통신망이 완성되면 ATM망은 모든 구간에서 저속 데이터망의 백본망 기능을 수행할 것이다.
따라서 ATM망의 VC를 이용하여 저속 데이터망 교환기를 Full-mesh로 연결할 경우 ATM망에는 179,700개의 VC가 구성되므로 이들 VC의 CLR 품질값을 산출하면 ATM망 전체의 CLR 품질값을 예측할 수 있다. 따라서 우선 특정 VC의 CLR 품질값을 산출하는 방법을 실제 예를 이용하여 설명한다.
현재 서울의 구로전화국에 설치되어 있는 구로 데이터교환기와 대전의 대전전화국에 설치되어 있는 대전 데이터교환기는 ATM-UNI 인터페이스를 이용하여 ATM망과 접속되어 있으며, 두 교환기 사이는 도 3과 같이 ATM망의 VC를 이용하여 상호 접속되어 있다. 그리고 구로와 대전 데이터교환기에서는 ATM망과 접속점인 ATM-UNI 인터페이스를 감시하여 15분 단위로 도 2와 같은 통계데이터를 생성하여 관리하고 있다.
도 4는 이들 데이터교환기에서 1999년 5월 10일 14시 30분에 생성한 실제 통계데이터로써 각 필드의 의미를 도 5를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
(1) switchType pp : HiNET-P/F를 구성하는 교환기의 종류.
(2) componentName (EM/GRP00 Trunk/71 AtmAccess) : 구로 데이터교환기에 접속되어 ATM-UNI인터페이스의 위치로써 구로교환기의 9번째 모듈의 1번째 포트에 연결되어 있다.
(3) timeOfRecord 19990510T143000 : 구로교환기에서 생성한 정보의 발생시각으로 1999년 5월10일 14:30분. 따라서 이 정보는 1999년 5월 10일 14:15분 ~ 14:30분 사이의 특성임.
(4) remoteComponentName EM/DJP00 TRUNK/10 : 구로 데이터교환기의 ATM-UNI 인터페이스와 연결되어 있는 상대편 교환기의 ATM 인터페이스의 위치로써 대전 데이터교환기의 1번째 모듈의 0번째 포트임. 이들 구간은 ATM망의 VC를 이용하여 연결되어 있다.
(5) txCell 13954132 : 구로 데이터교환기에서 송신하기 위하여 생성한 셀 수 (도 5의 "A").
(6) txCellClp 557216 : 구로 데이터교환기에서 CLP=1로 송신한 셀 수(도 5의 "B").
(7) txDiscard 0 : 구로 데이터교환기에서 송신전에 폐기한 셀 수(도 5의 "D").
(8) rxCell 6166063 : 구로 데이터교환기에서 정상적으로 수신한 셀 수(도 5의 "J")
(9) rxCellClp 103982 : 구로 데이터교환기에서 CLP=1로 정상적으로 수신한 셀 수(도 5의 "F")
(10) rxDiscard 0 : 구로 데이터교환기에서 수신된 셀 중 에러로 인하여 폐기된 수(도 5의 "I")
(11) rxDiscardClp 0 : 구로 데이터교환기에서 CLP=1로 수신된 셀 중 에러로 인하여 폐기된 셀 수(도 5의 "G")
이렇게 생성된 ATM-UNI 인터페이스에 대한 통계데이터는 저속 데이터망(HiNET-P/F)을 관리하는 망관리시스템으로 전송되어 저장되므로 수집된 통계데이터를 다음과 같은 방식으로 분석하면 구로와 대전 데이터교환기간을 연결하고 있는 ATM망 VC의 CLR 품질값을 산출할 수 있다.
먼저 1단계로 망관리시스템에 저장되어 있는 전체 통계데이터 중에서 분석하고자 하는 특정 VC에 대한 통계데이터를 도 2의 "componentName"과 "remoteComponentName" 이용하여 쌍(pair)으로 추출한다. 이는 CLR 품질값을 추출하기 위해서는 송신측과 수신측 통계데이터가 모두 필요하기 때문이다.
그리고 2단계로 1단계에서 추출된 통계데이터 중에서 분석하고자 하는 기간의 통계데이터를 도 2의 "timeOfRecord" 필드를 이용하여 추출한다. 만일 15분 단위로 분석하고자 하는 경우 도 4와 같이 2개의 통계데이터만 있으면 되며, 1시간 단위로 분석하고자 하면 각각의 ATM 인터페이스별로 15분 단위로 생성된 4개의 통계데이터를 추출한다. 따라서 15분 단위의 임의의 기간동안 ATM망의 CLR 품질값을 산출할 수 있다. 추출된 통계데이터에서 txCell, txCellClp, txDiscard, rxCell, rxCellClp, rxDiscard, rxDiscardClp 필드의 정보를 추출하여 계산하면 도 4와 같은 형태의 데이터를 생성한다.
도 4는 분석기간이 1999년 5월 10일 14:15분 ~ 14:30분 사이의 15분간이며, 분석대상이 구로와 대전 데이터교환기간을 연결하고 있는 VC의 CLR 품질값을 추출하기 위하여 추출한 통계데이터이다.
3단계로 2단계에서 추출된 통계데이터를 다음과 같은 공식을 사용하여 해당 VC의 CLR 품질값을 산출한다. 이때 공식은 도 5를 참조하여 작성되었으며, ①과 ②는 VC 양쪽 종단에 접속되어 있는 교환기를 구분하기 위한 것이며, 수신측에서 폐기된 셀은 SECB로 가정하여 계산에서 제외한다.
(1) CLR0+1= Nl(0+1) / Nt(0+1)
=
=
=
(2) CLR0= Nl(0) / Nt(0)
=
=
=
(3) CLR1= Nl(1) / Nt(1)
=
=
이러한 절차로 산출된 각 VC의 CLR 품질값을 이용하면 ATM망 전체의 CLR 품질값을 예측할 수 있다.
실시 예로써 분석기간이 1999년 5월 10일 14:15분 ~ 14:30분 사이의 15분간이며, 분석대상이 구로와 대전 데이터교환기간을 연결하고 있는 VC의 CLR 품질값을 구로 데이터교환기 입장에서 계산하면 다음과 같다.
(4) 송신 CLR0+1= Nl(0+1) / Nt(0+1)
=
=
= (13954132 - 0 - 0 - 13954103) / (13954132 - 0 - 0)
= 2.078 x 10-6
(5) 수신 CLR0+1= Nl(0+1) / Nt(0+1)
=
=
= (6166204 - 0 - 0 - 6166063) / 6166204
= 22.866 x 10-6
(6) 송신 CLR0= Nl(0) / Nt(0)
=
=
= ((13954132 - 557216 - 0) - (0 - 0) - (13954103 - 557204)) / ((13954132 - 557216 - 0) - (0 - 0))
= 1.268 x 10-6
(7) 수신 CLR0= Nl(0) / Nt(0)
=
=
= ((6166204 - 103986 - 0) - (0 - 0) - (6166063 - 103982)) / ((6166204 - 103986)- (0 - 0))
= 22.599 x 10-6
(8) 송신 CLR1= Nl(1) / Nt(1)
=
=
= (557216 - 0 - 557204) / (557216 - 0)
= 21.535 x 10-6
(9) 수신 CLR1= Nl(1) / Nt(1)
=
=
= (6166204 - 0 - 6166063) / (6166204 - 0)
= 38.466 x 10-6
이상과 같이 본 발명은 기존 방식의 기술적, 경제적 문제없이 CLR 품질값을산출할 수 있는 방법으로써 ITU-T의 Out-of-Service 형태의 품질값 산출방법과 유사하지만 ITU-T 방법에 비하여 별도의 시험장치 대신 기 설치되어 운용중인 저속 데이터교환기 기능을 이용한 것이다. 따라서 1대의 워크스테이션급 컴퓨터를 이용하여 ATM망 CLR 품질값을 산출하는 시스템을 구축할 수 있으며, 15분 단위의 다양한 기간동안의 CLR 품질값을 추출이 가능하다. 그리고 저속 데이터교환기를 연결하고 있는 각 VC의 CLR 품질값을 이용하여 ATM망 전체의 CLR 품질값을 예측할 수 있다.
또한 이 방법에 의한 품질값 추출방법은 별도의 시험절차가 필요없이 자동으로 산출할 수 있으므로 운용관리인력이 거의 필요하지 않은 장점이 있다.그리고 Busy Hour을 포함한 모든(365일) 기간동안의 품질값 산출이 가능하므로 이들 데이터를 이용하여 통신망 엔지니어링(설계, 구축, 품질관리..)에 활용이 가능하다.
아울러 본 발명의 바람직한 실시예들은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 당업자라면 본 발명의 사상과 범위안에서 다양한 수정, 변경, 부가등이 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허 청구의 범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

Claims (3)

  1. 저속데이터교환기에서 각각의 ATM-UNI 인터페이스를 대상으로 주기적으로 생성되는 통계데이터를 이용하여, 이들 통계데이터를 저장하고 있는 망관리시스템의 전체 통계데이터 중에서 분석하고자 하는 특정 VC에 대한 통계데이터를 "componentName"과 "remoteComponentName" 이용하여 쌍(pair)으로 추출하는 제 1단계;
    상기 제 1단계에서 추출된 통계데이터 중에서 분석하고자 하는 기간의 통계데이터를 "timeOfRecord" 필드를 이용하여 추출한 후 이용하여 특정 기간동안의 ATM VC를 통하여 송수신 된 셀 정보를 산출하는 제 2단계; 및
    상기 제 2단계에서 추출된 통계데이터를 해당 공식을 사용하여 해당 VC의 CLR 품질값을 산출하는 하는 제 3단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 ATM망의 셀 손실률 추출방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1단계에서 통계 데이터는 switchType, componentName, timeOfRecord, remoteComponentName, txCell, txCellClp, txDiscard, rxCell, rxCellClp, rxDiscard, rxDiscardClp인 것을 특징으로 하는 ATM망의 셀 손실률 추출방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 3단계에서 해당 공식은 하기의 식으로 정의되는 것을 특징으로 하는 ATM망의 셀 손실률 추출방법.
    (1) CLR0+1= Nl(0+1) / Nt(0+1)
    =
    =
    =
    (2) CLR0= Nl(0) / Nt(0)
    =
    =
    =
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