KR20010039359A - Stable voltage regulator in semiconductor integrated circuit - Google Patents

Stable voltage regulator in semiconductor integrated circuit Download PDF

Info

Publication number
KR20010039359A
KR20010039359A KR1019990047723A KR19990047723A KR20010039359A KR 20010039359 A KR20010039359 A KR 20010039359A KR 1019990047723 A KR1019990047723 A KR 1019990047723A KR 19990047723 A KR19990047723 A KR 19990047723A KR 20010039359 A KR20010039359 A KR 20010039359A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage signal
signal
output node
source
voltage
Prior art date
Application number
KR1019990047723A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR100588732B1 (en
Inventor
권오봉
Original Assignee
박종섭
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 박종섭, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 박종섭
Priority to KR1019990047723A priority Critical patent/KR100588732B1/en
Publication of KR20010039359A publication Critical patent/KR20010039359A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100588732B1 publication Critical patent/KR100588732B1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
    • G05F3/247Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a voltage or current as a predetermined function of the supply voltage
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M3/00Conversion of dc power input into dc power output
    • H02M3/02Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac
    • H02M3/04Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters
    • H02M3/06Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider
    • H02M3/07Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider using capacitors charged and discharged alternately by semiconductor devices with control electrode, e.g. charge pumps

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)

Abstract

PURPOSE: A voltage regulator of a stable semiconductor integrated circuit is provided to generate various voltages stably in a system using various kinds of power supply voltages. CONSTITUTION: The voltage regulator includes: a reference voltage generating part(310) generating a reference voltage signal(Vref); a comparison part(310) generating a comparison voltage signal(Vcomp) by comparing the reference voltage signal with a feedback voltage signal in response to a clock signal; a clamp(330) generating a clamp voltage signal(Vclamp) by clamping the comparison voltage signal; a charge pump(340) generating a control voltage signal(Vg) in response to the clock signal and the comparison voltage signal; a feedback part(350) generating the feedback voltage signal and feeding it back to the comparison part in response to the control voltage signal; and an output part(360) generating the second supply voltage(VCC) as an output in response to the control voltage signal. The feedback part includes: the first NMOS transistor(NM31) transferring the first supply voltage to the feedback voltage signal via the first resistor(R31) through a source-drain path by receiving the control voltage signal to a gate; and the first and the second resistor(R32) outputting the feedback voltage signal to a common node by being connected in serial between the first supply voltage(VDD) and a ground voltage(VSS).

Description

안정적인 반도체집적회로의 전압조절장치{Stable voltage regulator in semiconductor integrated circuit}Stable voltage regulator in semiconductor integrated circuit

본 발명은 반도체집적회로에 관한 것으로서, 특히 안정적으로 다양한 전압신호를 생성하는 반도체집적회로의 전압조절장치(voltage regulator)에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to semiconductor integrated circuits, and more particularly, to a voltage regulator of a semiconductor integrated circuit for stably generating various voltage signals.

일반적으로, 공정기술의 발전과 더불어 회로의 집적도가 높아지고 트랜지스터의 사이즈가 작아지면서 공급되는 전압이 낮아지는 추세이다. 이로 인해 하나의 시스템에 5V와 3.3V와 같은 두 개의 공급전원을 사용하는 칩이 같이 사용되고, 이를 보완하기 위하여 5V의 전원을 3.3V로 낮추어주는 전압조절장치가 사용된다.In general, with the development of process technology, as the integration of circuits increases and the size of transistors decreases, the supply voltage decreases. As a result, a chip using two power supplies, such as 5V and 3.3V, is used in one system. To compensate for this, a voltage regulator that lowers the power supply of 5V to 3.3V is used.

도1은 전압조절장치가 디지털 칩에 사용된 예를 보여주는 도면으로서, 둘 이상의 공급전원을 갖는 디지털 칩은 제1공급전원(VDD)을 입력받아 상대적으로 전위가 낮은 제2공급전원(VCC)을 생성하는 전압조절장치(110)와, 상기 제2공급전원(VCC)에 의해 구동되는 디지털코어(130)와, 상기 제1공급전원(VDD)에 의해 구동되는 입출력단(150)으로 이루어진다.1 is a diagram illustrating an example in which a voltage regulator is used in a digital chip. A digital chip having two or more supply power sources receives a first supply power supply VDD and receives a second supply power supply VCC having a relatively low potential. The voltage regulator 110 is generated, the digital core 130 driven by the second supply power supply VCC, and the input / output terminal 150 driven by the first supply power supply VDD.

도2a는 종래 기술에 따른 전압조절장치의 일실시예에 따른 회로도로서, 전압조절장치(110)는 기준전압신호(Vref)와 전압조절장치(110)의 출력신호인 상기 제2공급전원신호(VCC)에 응답하여 상기 제2공급전원신호(VCC)의 전위를 제어하기 위한 제어신호(ctrl_a)를 생성하는 연산트랜스컨덕턴스증폭기(operational transconductance amplifier : 이하, "OTA")(210)와, 게이트로 상기 제어신호(ctrl_a)를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제1공급전원(VDD)을 상기 제2공급전원(VCC)로 전달하는 PMOS트랜지스터 PM21과, 상기 제2공급전원(VCC)와 접지전원(VSS)사이에 존재하는 출력임피던스 Z21의 영향을 보완하기 위하여 상기 제2공급전원(VCC)와 상기 접지전원(VSS)사이에 위치하는 커패시터(capacitor) C21로 이루어진다.Figure 2a is a circuit diagram according to an embodiment of the voltage regulator according to the prior art, the voltage regulator 110 is a reference voltage signal (Vref) and the output signal of the voltage regulator 110, the second supply power signal ( An operational transconductance amplifier (“OTA”) 210 for generating a control signal ctrl_a for controlling the potential of the second supply power signal VCC in response to VCC). A PMOS transistor PM21 that receives the control signal ctrl_a and transfers the first supply power VDD to the second supply power VCC through a source-drain path, and the second supply power VCC and ground. In order to compensate for the influence of the output impedance Z21 existing between the power supply VSS, a capacitor C21 is disposed between the second supply power supply VCC and the ground power supply VSS.

도2b는 종래 기술에 따른 전압조절장치의 다른 실시예에 따른 회로도로서, 전압조절장치(110)는 기준전압신호(Vref)와 전압조절장치(110)의 출력신호인 상기 제2공급전원신호(VCC)에 응답하여 상기 제2공급전원신호(VCC)의 전위를 제어하기 위한 제어신호(ctrl_b)를 생성하는 연산트랜스컨덕턴스증폭기(OTA)(220)와, 게이트로 상기 제어신호(ctrl_b)를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제1공급전원(VDD)을 상기 제2공급전원(VCC)로 전달하는 NMOS트랜지스터 NM21과, 상기 제2공급전원(VCC)와 접지전원(VSS)사이에 존재하는 출력임피던스 Z22로 이루어진다.FIG. 2B is a circuit diagram according to another embodiment of the voltage regulator according to the prior art, wherein the voltage regulator 110 is a reference voltage signal Vref and an output signal of the voltage regulator 110. An operational transconductance amplifier (OTA) 220 for generating a control signal ctrl_b for controlling the potential of the second supply power signal VCC in response to VCC; and the control signal ctrl_b through a gate. A NMOS transistor NM21 that receives the first supply power VDD to the second supply power VCC through a source-drain path, and is present between the second supply power VCC and the ground power supply VSS. It is composed of output impedance Z22.

도2c는 종래 기술에 따른 전압조절장치의 또다른 실시예에 따른 회로도로서, 전압조절장치(110)는 상기 제1공급전원신호(VDD)를 입력받아 상기 제2공급전원신호(VCC)의 생성을 제어하는 제어신호(ctrl_c)를 생성하는 차지펌프(chargepump)(230)와, 게이트로 상기 제어신호(ctrl_c)를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 노드 N21에 상기 제어신호(ctrl_c)를 전달하는 NMOS트랜지스터 NM23과, 게이트로 상기 노드 N21의 신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 노드 N22에 상기 노드 N21의 신호를 전달하는 NMOS트랜지스터 NM24와, 게이트로 상기 노드 N22의 신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 접지전원(VSS)으로 상기 노드 N22의 신호를 전달하는 NMOS트랜지스터 NM25와, 상기 제어신호(ctrl_c)와 상기 접지전원(VSS)사이에 위치하는 커패시터 C22와, 게이트로 상기 제어신호(ctrl_c)를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제2공급전원(VCC)에 상기 제1공급전원(VDD)을 전달하는 NMOS트랜지스터 NM22와, 상기 제2공급전원(VCC)와 상기 접지전원(VSS)사이에 위치하는 출력임피던스 Z23으로 이루어진다.FIG. 2C is a circuit diagram according to another embodiment of the voltage regulator according to the prior art, wherein the voltage regulator 110 receives the first supply power signal VDD and generates the second supply power signal VCC. Charge pump 230 for generating a control signal (ctrl_c) for controlling the control signal received by the control signal (ctrl_c) to the gate and transfers the control signal (ctrl_c) to the node N21 through a source-drain path An NMOS transistor NM23 receives the signal of the node N21 through a gate, an NMOS transistor NM24 that transfers the signal of the node N21 to a node N22 through a source-drain path, and a source-drain receives the signal of the node N22 through a gate NMOS transistor NM25 which transfers the signal of the node N22 to the ground power supply VSS through a path, a capacitor C22 positioned between the control signal ctrl_c and the ground power supply VSS, and the control signal (gate). ctrl_ c) an NMOS transistor NM22 that receives the first supply power VDD to the second supply power VCC through a source-drain path, the second supply power VCC, and the ground power VSS. Output impedance Z23 between them.

상기와 같은 구성을 갖는 세 가지 실시예에 따른 종래 기술의 동작 및 문제점에 대하여 같이 살펴본다.The operation and problems of the prior art according to the three embodiments having the above configuration will be described together.

도2a는 상기 연산트랜스컨덕턴스증폭기(OTA)(210) 궤환을 사용한 출력단으로서, 출력 전류량은 상기 PMOS트랜지스터 PM21의 게이트로 인가되는 제어신호(ctrl_a)에 의해서 제어된다. 주파수가 높아짐에 따라 루프 게인(loop gain)이 급격히 떨어지므로 출력임피던스 Z21 값이 커지게 된다. 이를 보완하고자 큰 사이즈(size)의 커패시터 C21을 필요로 하나 이는 궤환의 안정성 문제를 일으키기 쉽고 칩 외부에 큰 커패시터를 달아야 하는 단점을 가지고 있다.2A is an output terminal using the feedback of the operational transconductance amplifier (OTA) 210. The output current amount is controlled by a control signal ctrl_a applied to the gate of the PMOS transistor PM21. As the frequency increases, the loop gain drops sharply, resulting in an increase in output impedance Z21. In order to compensate for this, a large size capacitor C21 is required, but this causes a problem of stability of feedback and has a disadvantage of attaching a large capacitor outside the chip.

도2b는 소스 팔로워(source follower) 구조로 인해 낮은 출력임피던스 Z22를 가지므로 큰 사이즈의 커패시터가 필요 없고 안정성이 높다. 하지만 상기 NMOS트랜지스터 NM21의 게이트로 인가되는 제어신호(ctrl_b)의 전압이 외부 전원 전압보다 낮아야 하므로 5V ∼ 3.3V 사이의 전압을 조절하는 데 문제가 생긴다.Figure 2b has a low output impedance Z22 due to the source follower structure, which eliminates the need for a large size capacitor and high stability. However, since the voltage of the control signal ctrl_b applied to the gate of the NMOS transistor NM21 must be lower than the external power supply voltage, there is a problem in controlling the voltage between 5V and 3.3V.

도2C는 궤환이 없어 가장 안정적이며 차지 펌프를 이용하므로 상기 NMOS트랜지스터 NM22의 게이트 전압을 외부 전원전압보다 높게 올릴수 있어 5V ∼ 3.3V 사이의 전압을 조절할 수 있으나, 출력 전압이 NMOS트랜지스터의 로직 쓰레시홀드(threshold) 전압 Vt 변화에 같이 변하므로 공정상의 Vt 변화에 따른 부정확성을 내포하고 있다.2C is the most stable because there is no feedback, and the charge pump is used, so the gate voltage of the NMOS transistor NM22 can be raised higher than the external power supply voltage, so that the voltage can be adjusted between 5V and 3.3V, but the output voltage is the logic threshold of the NMOS transistor. As the change in the threshold voltage Vt changes, it implies inaccuracies due to the Vt change in the process.

본 발명은 전술한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 여러 가지 형태의 전원전압을 사용하는 시스템에서 안정적으로 다양한 전압을 생성하는 반도체집적회로의 전압조절장치를 제공하는 데 그 목적이 있다.The present invention is to solve the problems of the prior art as described above, it is an object of the present invention to provide a voltage regulator of a semiconductor integrated circuit that generates a variety of voltages stably in a system using various types of power supply voltage. .

도1은 전압조절장치가 디지털 칩에 사용된 예를 보여주는 도면.1 shows an example in which a voltage regulator is used in a digital chip.

도2a 내지 도2c는 종래 기술에 따른 전압조절장치의 여러 실시예에 따른 회로도.Figures 2a to 2c is a circuit diagram according to various embodiments of the voltage regulator according to the prior art.

도3은 본 발명의 일실시예에 따른 전압조절장치의 블록 다이아그램.Figure 3 is a block diagram of the voltage regulating device according to an embodiment of the present invention.

도4는 본 발명의 일실시예에 따른 상기 클램프의 상세 회로도.4 is a detailed circuit diagram of the clamp according to an embodiment of the present invention.

도5는 본 발명의 일실시예에 따른 차지펌프의 개념도.5 is a conceptual diagram of a charge pump according to an embodiment of the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings

310 : 기준전압생성부 320 : 비교부310: reference voltage generation unit 320: comparison unit

330 : 클램프 340 : 차지펌프330: clamp 340: charge pump

350 : 궤환부 360 : 출력부350: feedback unit 360: output unit

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 제1공급전원으로 상기 제1공급전원에 비해 상대적으로 전원 레벨이 낮은 제2공급전원을 생성하는 전압조절장치에 있어서, 기준전압신호를 생성하는 기준전압생성부; 클럭신호에 응답하여 상기 기준전압신호와 궤환전압신호를 비교하여 비교전압신호를 생성하는 비교부; 상기 비교전압신호를 클램프시킨 클램프전압신호를 생성하는 클래프; 상기 클럭신호와 상기 비교전압신호에 응답하여 제어전압신호를 생성하는 차지펌프; 상기 제어전압신호에 응답하여 상기 궤환전압신호를 생성하여 상기 비교부로 궤환하는 궤환부; 및 상기 제어전압신호에 응답하여 출력으로 상기 제2공급전원을 생성하는 출력부를 구비하여 이루어진다.In order to achieve the above object, the present invention provides a voltage regulator for generating a second supply power source having a relatively low power level compared to the first supply power source as a first supply power source, the reference voltage generation unit generating a reference voltage signal. ; A comparator for generating a comparison voltage signal by comparing the reference voltage signal and a feedback voltage signal in response to a clock signal; A clap for generating a clamp voltage signal by clamping the comparison voltage signal; A charge pump generating a control voltage signal in response to the clock signal and the comparison voltage signal; A feedback unit generating the feedback voltage signal in response to the control voltage signal and returning the feedback voltage signal to the comparison unit; And an output unit configured to generate the second supply power as an output in response to the control voltage signal.

이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the technical idea of the present invention. do.

도3은 본 발명의 일실시예에 따른 전압조절장치의 블록 다이아그램이다.Figure 3 is a block diagram of a voltage regulating device according to an embodiment of the present invention.

도3을 참조하면, 제1공급전원(VDD)으로 상기 제1공급전원에 비해 상대적으로 전원 레벨이 낮은 제2공급전원(VCC)을 생성하는 전압조절장치는 기준전압신호(Vref)를 생성하는 기준전압생성부(310)와, 클럭신호(clk)에 응답하여 상기 기준전압신호(Vref)와 궤환전압신호(Vrep)를 비교하여 비교전압신호(Vcomp)를 생성하는 비교부(320)와, 상기 비교전압신호(Vcomp)를 클램프(clamp)시킨 클램프전압신호(Vclamp)를 생성하는 클래프(330)와, 상기 클럭신호(clk)와 상기 비교전압신호(Vcomp)에 응답하여 제어전압신호(Vg)를 생성하는 차지펌프(340)와, 상기 제어전압신호(Vg)에 응답하여 상기 궤환전압신호(Vrep)를 생성하여 상기 비교부(320)로 궤환하는 궤환부(350)와, 상기 제어전압신호(Vg)에 응답하여 출력으로 상기 제2공급전원(VCC)을 생성하는 출력부(360)로 이루어진다.Referring to FIG. 3, a voltage regulator for generating a second supply power supply VCC having a lower power level than the first supply power supply with the first supply power supply VDD generates a reference voltage signal Vref. A comparison unit 320 for generating a comparison voltage signal Vcomp by comparing the reference voltage generator 310 with the reference voltage signal Vref and the feedback voltage signal Vrep in response to a clock signal clk; A clamp 330 for generating a clamp voltage signal Vclamp that clamps the comparison voltage signal Vcomp, and a control voltage signal in response to the clock signal clk and the comparison voltage signal Vcomp. A charge pump 340 for generating Vg, a feedback unit 350 for generating the feedback voltage signal Vrep in response to the control voltage signal Vg, and returning it to the comparator 320; The output unit 360 generates the second supply power VCC as an output in response to the voltage signal Vg.

상기 궤환부(350)는 게이트로 상기 제어전압신호(Vg)를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제1공급전원(VDD)을 저항 R31을 거쳐 상기 궤환전압신호(Vrep)에 전달하는 NMOS트랜지스터 NM31과, 상기 NMOS트랜지스터 NM31을 통해 전달된 상기 제1공급전원(VDD)와 접지전원(VSS)사이에서 직렬 연결되어 공통노드로 상기 궤환전압신호를 출력하는 상기 저항 R31 및 저항 R32로 이루어진다.The feedback unit 350 receives the control voltage signal Vg through a gate and transfers the first supply power VDD to the feedback voltage signal Vrep through a resistor R31 through a source-drain path. NM31 and the resistor R31 and resistor R32 connected in series between the first supply power supply VDD and the ground power supply VSS transmitted through the NMOS transistor NM31 to output the feedback voltage signal to a common node.

상기 출력부(360)는 게이트로 상기 제어전압신호(Vg)를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제1공급전원(VDD)를 상기 제2공급전원(VCC)에 전달하는 NMOS트랜지스터 NM32와, 상기 제어전압신호(Vg)와 상기 접지전원(VSS) 사이에 연결된 커패시터 C31과, 상기 제2공급전원(VCC)와 상기 접지전원(VSS) 사이에 연결된 저항 R33으로 이루어진다.The output unit 360 receives an input of the control voltage signal Vg through a gate and transfers the first supply power VDD to the second supply power VCC through a source-drain path; A capacitor C31 connected between the control voltage signal Vg and the ground power supply VSS, and a resistor R33 connected between the second supply power supply VCC and the ground power supply VSS.

상기 전원조정장치의 모든 블록의 공급전원은 상기 제1공급전원(VDD)을 사용한다.The supply power of all the blocks of the power regulator uses the first supply power VDD.

도4는 본 발명의 일실시예에 따른 상기 클램프(330)의 상세 회로도이다.4 is a detailed circuit diagram of the clamp 330 according to an embodiment of the present invention.

도4를 참조하면, 상기 클램프(330)는 상기 제어전압신호(Vg)에 응답하여 출력노드 N41 신호를 생성하는 제어전압입력부(410)와, 상기 비교전압신호(Vcomp)에 응답하여 상기 클램프전압신호(Vclamp) 노드에 전류를 공급 또는 뽑아오는 비교전압입력부(450)와, 상기 제어전압입력부(410)와 상기 비교전압입력부(450)의 출력신호에 응답하여 상기 클래프전압신호(Vclamp)를 생성하는 클램프출력부(430)로 이루어진다.4, the clamp 330 includes a control voltage input unit 410 for generating an output node N41 signal in response to the control voltage signal Vg, and the clamp voltage in response to the comparison voltage signal Vcomp. The clamp voltage signal Vclamp is applied in response to a comparison voltage input unit 450 for supplying or drawing a current to a signal node, and an output signal of the control voltage input unit 410 and the comparison voltage input unit 450. It consists of a clamp output unit 430 to generate.

상기 제어전압입력부(410)는 게이트로 상기 제어전압신호(Vg)를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 공급전원(VDD)을 노드 N42로 전달하는 NMOS트랜지스터 NM6과, 게이트로 상기 제어전압신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 공급전원을 노드 N44를 통해 전류원 J1으로 전달하는 NMOS트랜지스터 NM7과, 게이트로 노드 N43신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 노드 N42와 상기 노드 N43사이의 경로를 연결하는 PMOS트랜지스터 PM3과, 게이트로 상기 노드 N43신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 노드 N42와 노드 N41 사이의 경로를 연결하는 PMOS트랜지스터 PM4와, 게이트로 상기 노드 N41신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 노드 N41과 상기 노드 N43 사이의 경로를 연결하는 NMOS트랜지스터 NM1과, 게이트로 각각 상기 접지전원신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 노드 N43에 상기 접지전원신호를 전달하는 PMOS트랜지스터 PM5와 PM6으로 이루어진다.The control voltage input unit 410 receives the control voltage signal Vg through a gate and transfers the supply voltage VDD to the node N42 through a source-drain path, and transmits the control voltage signal through a gate. NMOS transistor NM7 which receives the input and transfers the supply power to the current source J1 through the node N44, and a node between the node N43 and the node through the source-drain path through the source-drain path. A PMOS transistor PM3 for connecting a node, a PMOS transistor PM4 for receiving a node N43 signal through a gate, and a path between the node N42 and a node N41 through a source-drain path, and a node for receiving the node N41 signal through a gate. A NMOS transistor NM1 connecting a path between the node N41 and the node N43 through a drain path, and the ground power signal to a gate, respectively; It is composed of PMOS transistors PM5 and PM6 which receive the input and transfer the ground power signal to the node N43 through a source-drain path.

상기 비교전압입력부(450)는 게이트로 각각 노드 N45신호와 상기 비교전압신호(Vcomp)를 입력받아 직렬 연결된 소스-드레인 경로를 통해 상기 노드 N44신호를 상기 클램프전압신호로 전달하는 PMOS트랜지스터 PM9 및 PM11과, 게이트로 각각 노드 N46신호와 상기 비교전압신호를 입력 받아 직렬 연결된 소스-드레인 경로를 통해 상기 접지전원신호를 상기 클램프전압신호로 전달하는 NMOS트랜지스터 NM3 및 NM4와, 게이트로 상기 노드 N45신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 노드 N44로부터 전류원 J3에 전류를 공급하는 PMOS트랜지스터 PM10과, 게이트로 상기 노드 N46신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 전류원 J3와 접지전원사이의 경로를 열어주는 NMOS트랜지스터 NM5로 이루어진다.The comparison voltage input unit 450 receives the node N45 signal and the comparison voltage signal Vcomp through gates, respectively, and transfers the node N44 signal to the clamp voltage signal through a source-drain path connected in series. NMOS transistors NM3 and NM4 for receiving the node N46 signal and the comparison voltage signal through gates, and transmitting the ground power signal to the clamp voltage signal through a source-drain path connected in series, and the node N45 signal through a gate. PMOS transistor PM10 that receives the input and supplies the current to the current source J3 from the node N44 through the source-drain path, and receives the node N46 signal through the gate to open the path between the current source J3 and the ground power source through the source-drain path. The main consists of NMOS transistor NM5.

상기 클램프출력부(430)는 게이트로 노드 N47 신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 노드 N41과 전류원 J2와의 경로를 열어주는 PMOS트랜지스터 PM7과, 게이트로 상기 노드 N41신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 노드 N41신호를 상기 클램프전압신호로 전달하는 NMOS트랜지스터 NM2와, 게이트로 상기 노드 N47신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 접지전압신호를 상기 클램프전압신호로 전달하는 PMOS트랜지스터 PM8로 이루어진다.The clamp output unit 430 receives a node N47 signal through a gate and opens a path between the node N41 and a current source J2 through a source-drain path, and receives a node N41 signal through a gate and receives a source-drain signal. An NMOS transistor NM2 that transfers the node N41 signal as the clamp voltage signal through a path, and a PMOS transistor PM8 that receives the node N47 signal as a gate and transfers the ground voltage signal to the clamp voltage signal through a source-drain path. Is made of.

도5는 본 발명의 일실시예에 따른 차지펌프(340)의 개념도이다.5 is a conceptual diagram of a charge pump 340 according to an embodiment of the present invention.

도5를 참조하면, 차지펌프(340)는 상기 클램프전압신호(Vclamp)를 버퍼링하여 출력노드 N51 신호를 생성하는 버퍼(510)와, 상기 출력노드 N51과 출력노드 N52 사이의 연결을 제어하는 제1스위치(S1)와, 출력노드 N53과 상기 접지전원(VSS) 사이의 연결을 제어하는 제2스위치(S2)와, 상기 출력노드 N51과 상기 출력노드 N53 사이의 연결을 제어하는 제3스위치(S3)와, 상기 출력노드 N52와 상기 제어전압신호(Vg) 사이의 연결을 제어하는 제4스위치(S4)와, 상기 출력노드 N52와 상기 출력노드 N53 사이에 위치한 커패시터 C51과, 상기 제어전압신호(Vg)와 상기 접지전원(VSS) 사이에 위치한 커패시터 C52로 이루어진다.Referring to FIG. 5, the charge pump 340 buffers the clamp voltage signal Vclamp to generate an output node N51 signal, and controls the connection between the output node N51 and the output node N52. The first switch S1, the second switch S2 for controlling the connection between the output node N53 and the ground power supply VSS, and the third switch for controlling the connection between the output node N51 and the output node N53 ( S3), a fourth switch S4 for controlling the connection between the output node N52 and the control voltage signal Vg, a capacitor C51 located between the output node N52 and the output node N53, and the control voltage signal. And a capacitor C52 located between Vg and the ground power supply VSS.

상기와 같은 구성을 갖는 본 발명의 일실시예에 따른 동작에 대하여 살펴본다.It looks at the operation according to an embodiment of the present invention having the configuration as described above.

제1공급전원(VDD)를 통해 전원이 들어오면 상기 커패시터 C31에 아직 전하가 차지(charge)되어 있지 않아 로직 "로우"의 상태가 되고 NMOS트랜지스터 NM31과 NM32의 게이트 전압인 상기 제어전압신호(Vg) 또한 로직 "로우"가 되어 상기 저항 R31과 상기 저항 R32에 전류가 흐르지 않는다. 따라서, 상기 궤환전압신호(Vrep)가 로직 "로우"가 되어 상기 비교부(320)로 인가된다.When the power is supplied through the first supply VDD, the capacitor C31 has not been charged yet, so it is in a logic " low " state and the control voltage signal Vg which is the gate voltage of the NMOS transistors NM31 and NM32. ) And also a logic " low " so that no current flows through the resistor R31 and the resistor R32. Accordingly, the feedback voltage signal Vrep becomes a logic "low" and is applied to the comparison unit 320.

상기 클램프(330)에서는 상기 기준전압신호(Vref)와 비교하여 액티브된 상기 비교전압신호(Vcomp)에 응답하여 상기 클램프전압신호(Vclamp)가 액티브되어 상기 차지펌프(340)로 인가되어 상기 제어전압신호(Vg)가 액티브되어 상기 커패시터 C31에 전하가 축적된다.In the clamp 330, the clamp voltage signal Vclamp is activated and applied to the charge pump 340 in response to the comparison voltage signal Vcomp, which is activated in comparison with the reference voltage signal Vref, to control the control voltage. The signal Vg is activated to accumulate charge in the capacitor C31.

상기 커패시터 C31에서는 서서히 전압이 증가하다가 상기 궤환전압이 상기 기준전압보다 커지게 되면 비교기에서 이를 감지하여 차지펌프를 통해 상기 커패시터 C31의 전압을 방전하게 되며 이제부터 안정적으로 출력단을 통해 상기 제2공급전원을 공급한다.When the voltage is gradually increased in the capacitor C31 and the feedback voltage becomes larger than the reference voltage, the comparator detects this and discharges the voltage of the capacitor C31 through a charge pump. To supply.

만약 온도 변화로 인해 상기 NMOS트랜지스터 NM31의 쓰레시홀드 전압이 변하게 되어 내부 전원 전압이 올라가게 되면 상기 NMOS트랜지스터 NM2의 쓰레시홀드 전압도 변하게 되며, 이는 비교기에 의해 감지되어 차지 펌프를 통해 상기 NMOS트랜지스터의 게이트 전압을 조절하여 이를 보상하게 된다.If the threshold voltage of the NMOS transistor NM31 is changed due to a temperature change and the internal power supply voltage is increased, the threshold voltage of the NMOS transistor NM2 is also changed, which is detected by a comparator and is charged by the charge pump. This is compensated by adjusting the gate voltage of.

상기 클램프(330)에 대해서 구체적으로 살펴보면, 상기 노드 N42의 전압은 게이트전압에서 상기 NMOS트랜지스터 NM6의 쓰레시홀드 전압(Vt)을 뺀 (Vg-Vt)이므로, 상기 노드 N43의 전압은 전압 분배(divide)에 의해 (Vg-Vt)/2가 된다. 또한, 상기 노드 N41의 전압은 상기 NMOS트랜지스터 NM1에 의해 상기 노드 N43보다 Vt가 큰 (Vg+Vt)/2가 된다.In detail with respect to the clamp 330, since the voltage of the node N42 is (Vg-Vt) minus the threshold voltage Vt of the NMOS transistor NM6, the voltage of the node N43 is divided by the voltage distribution ( divide) to (Vg-Vt) / 2. In addition, the voltage of the node N41 becomes (Vg + Vt) / 2 in which Vt is larger than that of the node N43 by the NMOS transistor NM1.

상기 비교전압신호(Vcomp)에서 "로우"의 신호가 인가되면 상기 NMOS트랜지스터 NM13이 턴온되면서 상기 NMOS트랜지스터 NM12가 턴온되어 상기 클램프전압신호(Vclamp)는 (Vg+Vt)/가 되고, 상기 비교전압신호로 "하이"의 신호가 인가되면 상기 PMOS트랜지스터 PM11이 턴온되면서 상기 PMOS트랜지스터 PM8이 턴온되어 상기 클램프전압신호는 (Vg-Vt)/2가 된다. 이와 같은 출력 전압은 차지펌프의 차지 분배신 항상 Vt만큼의 일정한 양의 전하를 상기 커패시터 C31에 차지 또는 방전하기 위함이면 이는 출력단을 정밀하게 제어하는 데 필수적이다.When the "low" signal is applied to the comparison voltage signal Vcomp, the NMOS transistor NM13 is turned on and the NMOS transistor NM12 is turned on so that the clamp voltage signal Vclamp becomes (Vg + Vt) /. When the signal "high" is applied as the signal, the PMOS transistor PM11 is turned on and the PMOS transistor PM8 is turned on so that the clamp voltage signal becomes (Vg-Vt) / 2. This output voltage is essential to precisely control the output stage if the charge distribution of the charge pump is to always charge or discharge a certain amount of charge in the capacitor C31.

상기 차지펌프(340)는 상기 제1스위치(S1)과 상기 제2스위치(S2)가 동시에 온-오프되고, 상기 제3스위치(S3)와 상기 제4스위치(S4)가 동시에 온-오프되는 것으로서, 먼저 상기 제1스위치와 상기 제2스위치가 턴온되어 상기 커패시터 C51에 상기 클램프전압신호를 저장하고, 상기 제3스위치와 상기 제4스위치가 턴온되면 상기 클램프전압신호와 상기 커패시터 C51에 저장된 전하가 더해져 상기 클램프전압신호의 두 배의 신호가 상기 커패시터 C52로 인가된다.The charge pump 340 is the first switch (S1) and the second switch (S2) at the same time on-off, the third switch (S3) and the fourth switch (S4) at the same time on-off First, the first switch and the second switch is turned on to store the clamp voltage signal in the capacitor C51, and when the third switch and the fourth switch are turned on, the charge stored in the clamp voltage signal and the capacitor C51 Is added to signal twice the clamp voltage signal to the capacitor C52.

상기 궤환부(350)에서는 출력 전압을 바로 센싱하지 않고 출력단과 똑같은 구조를 갖는 궤환부에서 출력 전압을 센싱하므로 출력 로드(load)로 인한 불안정적이 요소를 차단할 수 있다.The feedback unit 350 senses the output voltage in the feedback unit having the same structure as the output terminal instead of directly sensing the output voltage, thereby blocking an unstable element due to the output load.

한편, 상기 NMOS트랜지스터 NM31에 서 생기는 여러 변화가 상기 NMOS트랜지스터 NM32에 반영되어 보정할 수 있게 하기 위하여 레이아웃(layout)시 상기 NMOS트랜지스터 NM32의 위치를 상기 NMOS트랜지스터 NM31의 한 가운데에 위치시켜야 한다.On the other hand, the position of the NMOS transistor NM32 should be positioned at the center of the NMOS transistor NM31 during layout in order to allow various changes occurring in the NMOS transistor NM31 to be reflected and corrected in the NMOS transistor NM32.

본 발명의 기술 사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.Although the technical idea of the present invention has been described in detail according to the above preferred embodiment, it should be noted that the above-described embodiment is for the purpose of description and not of limitation. In addition, those skilled in the art will understand that various embodiments are possible within the scope of the technical idea of the present invention.

상기와 같이 이루어지는 본 발명은, 여러 가지 형태의 전원전압을 사용하는 시스템에서 안정적으로 다양한 전압을 생성하기 위한 것이다.The present invention made as described above is to stably generate various voltages in a system using various types of power supply voltages.

Claims (10)

제1공급전원으로 상기 제1공급전원에 비해 상대적으로 전원 레벨이 낮은 제2공급전원을 생성하는 전압조절장치에 있어서,In the voltage regulating device for generating a second supply power source having a lower power level relative to the first supply power supply as a first supply power supply, 기준전압신호를 생성하는 기준전압생성부;A reference voltage generator for generating a reference voltage signal; 클럭신호에 응답하여 상기 기준전압신호와 궤환전압신호를 비교하여 비교전압신호를 생성하는 비교부;A comparator for generating a comparison voltage signal by comparing the reference voltage signal and a feedback voltage signal in response to a clock signal; 상기 비교전압신호를 클램프시킨 클램프전압신호를 생성하는 클래프;A clap for generating a clamp voltage signal by clamping the comparison voltage signal; 상기 클럭신호와 상기 비교전압신호에 응답하여 제어전압신호를 생성하는 차지펌프;A charge pump generating a control voltage signal in response to the clock signal and the comparison voltage signal; 상기 제어전압신호에 응답하여 상기 궤환전압신호를 생성하여 상기 비교부로 궤환하는 궤환부;A feedback unit generating the feedback voltage signal in response to the control voltage signal and returning the feedback voltage signal to the comparison unit; 상기 제어전압신호에 응답하여 출력으로 상기 제2공급전원을 생성하는 출력부An output unit generating the second supply power as an output in response to the control voltage signal 를 구비하는 반도체집적회로의 전압조절장치.Voltage control device of a semiconductor integrated circuit having a. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 궤환부는 게이트로 상기 제어전압신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제1공급전원을 제1저항 R31을 거쳐 상기 궤환전압신호에 전달하는 제1NMOS트랜지스터;The feedback unit may include a first NMOS transistor configured to receive the control voltage signal through a gate and transfer the first supply power to the feedback voltage signal through a first resistor R31 through a source-drain path; 상기 제1NMOS트랜지스터를 통해 전달된 상기 제1공급전원과 접지전원 사이에서 직렬 연결되어 공통노드로 상기 궤환전압신호를 출력하는 상기 제1저항 및 제2저항The first and second resistors connected in series between the first supply power source and the ground power source transferred through the first NMOS transistor to output the feedback voltage signal to a common node; 을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체집적회로의 전압조절장치.Voltage control device of a semiconductor integrated circuit comprising a. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 출력부는,The output unit, 게이트로 상기 제어전압신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제1공급전원을 상기 제2공급전원에 전달하는 제2NMOS트랜지스터;A second NMOS transistor receiving the control voltage signal through a gate and transferring the first supply power to the second supply power through a source-drain path; 상기 제어전압신호와 상기 접지전원 사이에 연결된 커패시터; 및A capacitor connected between the control voltage signal and the ground power source; And 상기 제2공급전원과 상기 접지전원 사이에 연결된 제3저항A third resistor connected between the second supply power source and the ground power source; 을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체집적회로의 전압조절장치.Voltage control device of a semiconductor integrated circuit comprising a. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 레이아웃에서 상기 제2NMOS트랜지스터는 상기 제1NMOS트랜지스터의 한 가운데에 위치하는 것을 특징으로 하는 반도체집적회로의 전압조절장치.And the second NMOS transistor is positioned at the center of the first NMOS transistor in the layout. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 전원조정장치의 모든 블록의 공급전원은 상기 제1공급전원을 사용하는 것을 특징으로 하는 반도체집적회로의 전압조절장치.The power supply of all the blocks of the power regulator is the voltage regulator of the semiconductor integrated circuit, characterized in that using the first supply power. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 클램프는,The clamp is, 상기 제어전압신호에 응답하여 제1출력노드신호를 생성하는 제어전압입력부;A control voltage input unit configured to generate a first output node signal in response to the control voltage signal; 상기 비교전압신호에 응답하여 상기 클램프전압신호에 전류를 공급 또는 뽑아오는 비교전압입력부;A comparison voltage input unit configured to supply or draw current to the clamp voltage signal in response to the comparison voltage signal; 상기 제어전압입력부와 상기 비교전압입력부의 출력신호에 응답하여 상기 클래프전압신호를 생성하는 클램프출력부A clamp output unit configured to generate the clap voltage signal in response to an output signal of the control voltage input unit and the comparison voltage input unit; 를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체집적회로의 전압조절장치.Voltage control device of a semiconductor integrated circuit comprising a. 제6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 제어전압입력부는,The control voltage input unit, 게이트로 상기 제어전압신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 공급전원을 제2출력노드로 전달하는 제1NMOS트랜지스터;A first NMOS transistor receiving the control voltage signal through a gate and transferring the supply power to a second output node through a source-drain path; 게이트로 상기 제어전압신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 공급전원을 제3출력노드를 통해 제1전류원 J1으로 전달하는 제2NMOS트랜지스터;A second NMOS transistor receiving the control voltage signal through a gate and transferring the supply power through a third output node to a first current source J1 through a source-drain path; 게이트로 제4출력노드신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제2출력노드와 상기 제4출력노드 사이의 경로를 연결하는 제1PMOS트랜지스터;A first PMOS transistor receiving a fourth output node signal through a gate and connecting a path between the second output node and the fourth output node through a source-drain path; 게이트로 상기 제4출력노드신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제2출력노드와 상기 제1출력노드 사이의 경로를 연결하는 제2PMOS트랜지스터;A second PMOS transistor configured to receive the fourth output node signal through a gate and connect a path between the second output node and the first output node through a source-drain path; 게이트로 상기 제1출력노드신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제1출력노드와 상기 제4출력노드 사이의 경로를 연결하는 제3NMOS트랜지스터; 및A third NMOS transistor receiving the first output node signal through a gate and connecting a path between the first output node and the fourth output node through a source-drain path; And 게이트로 각각 상기 접지전원신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제4출력노드에 상기 접지전원신호를 전달하는 제3PMOS트랜지스터 및 제4PMOS트랜지스터A third PMOS transistor and a fourth PMOS transistor configured to receive the ground power signal through a gate, and to transfer the ground power signal to the fourth output node through a source-drain path; 를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체집적회로의 전원조정장치.Power control apparatus for a semiconductor integrated circuit comprising a. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 비교전압입력부는,The comparison voltage input unit, 게이트로 각각 제5출력노드 신호와 상기 비교전압신호를 입력받아 직렬 연결된 소스-드레인 경로를 통해 상기 제3출력노드 신호를 상기 클램프전압신호로 전달하는 제5PMOS트랜지스터 및 제6PMOS트랜지스터;A fifth PMOS transistor and a sixth PMOS transistor configured to receive a fifth output node signal and the comparison voltage signal through a gate, and to transfer the third output node signal to the clamp voltage signal through a source-drain path connected in series; 게이트로 각각 제6출력노드신호와 상기 비교전압신호를 입력받아 직렬 연결된 소스-드레인 경로를 통해 상기 접지전원신호를 상기 클램프전압신호로 전달하는 제4NMOS트랜지스터 및 제5NMOS트랜지스터;A fourth NMOS transistor and a fifth NMOS transistor configured to receive a sixth output node signal and the comparison voltage signal through a gate, and to transfer the ground power signal to the clamp voltage signal through a source-drain path connected in series; 게이트로 상기 제5출력노드신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제3출력노드로부터 제2전류원에 전류를 공급하는 제7PMOS트랜지스터; 및A seventh PMOS transistor configured to receive the fifth output node signal through a gate and supply current from the third output node to a second current source through a source-drain path; And 게이트로 상기 제6출력노드신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제2전류원과 상기 접지전원사이의 경로를 열어주는 제6NMOS트랜지스터A sixth NMOS transistor configured to receive the sixth output node signal through a gate and open a path between the second current source and the ground power source through a source-drain path; 를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체집적회로의 전원조정장치.Power control apparatus for a semiconductor integrated circuit comprising a. 제8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 클램프출력부는,The clamp output unit, 게이트로 제7출력노드신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제1출력노드와 제3전류원과의 경로를 열어주는 제8PMOS트랜지스터; 및An eighth PMOS transistor configured to receive a seventh output node signal through a gate and open a path between the first output node and a third current source through a source-drain path; And 게이트로 상기 제1출력노드신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 제1출력노드신호를 상기 클램프전압신호로 전달하는 제7NMOS트랜지스터; 및A seventh NMOS transistor configured to receive the first output node signal through a gate and transfer the first output node signal as the clamp voltage signal through a source-drain path; And 게이트로 상기 제7출력노드신호를 입력받아 소스-드레인 경로를 통해 상기 접지전압신호를 상기 클램프전압신호로 전달하는 제9PMOS트랜지스터A ninth PMOS transistor configured to receive the seventh output node signal through a gate and transfer the ground voltage signal to the clamp voltage signal through a source-drain path; 를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체집적회로의 전원조정장치.Power control apparatus for a semiconductor integrated circuit comprising a. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 차지펌프는,The charge pump, 상기 클램프전압신호를 버퍼링하여 제1출력노드 신호를 생성하는 버퍼;A buffer configured to buffer the clamp voltage signal to generate a first output node signal; 상기 제1출력노드와 제2출력노드 사이의 연결을 제어하는 제1스위치수단;First switch means for controlling a connection between the first output node and a second output node; 제3출력노드와 상기 접지전원 사이의 연결을 제어하는 제2스위치수단;Second switch means for controlling a connection between a third output node and the ground power source; 상기 제1출력노드와 상기 제3출력노드 사이의 연결을 제어하는 제3스위치수단;Third switch means for controlling a connection between the first output node and the third output node; 상기 제2출력노드와 상기 제어전압신호 사이의 연결을 제어하는 제4스위치수단;Fourth switch means for controlling a connection between the second output node and the control voltage signal; 상기 제2출력노드와 상기 제3출력노드 사이에 위치한 제1커패시터; 및A first capacitor located between the second output node and the third output node; And 상기 제어전압신호와 상기 접지전원 사이에 위치한 제2커패시터A second capacitor located between the control voltage signal and the ground power source 를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체집적회로의 전압조절장치.Voltage control device of a semiconductor integrated circuit comprising a.
KR1019990047723A 1999-10-30 1999-10-30 Stable voltage regulator in semiconductor integrated circuit KR100588732B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990047723A KR100588732B1 (en) 1999-10-30 1999-10-30 Stable voltage regulator in semiconductor integrated circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990047723A KR100588732B1 (en) 1999-10-30 1999-10-30 Stable voltage regulator in semiconductor integrated circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010039359A true KR20010039359A (en) 2001-05-15
KR100588732B1 KR100588732B1 (en) 2006-06-13

Family

ID=19617818

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990047723A KR100588732B1 (en) 1999-10-30 1999-10-30 Stable voltage regulator in semiconductor integrated circuit

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100588732B1 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100439045B1 (en) * 2001-06-29 2004-07-05 주식회사 하이닉스반도체 Circuit for clamping word-line voltage
KR100474196B1 (en) * 2002-07-18 2005-03-10 주식회사 하이닉스반도체 Clamp circuit and boosting circuit using the same
KR100784861B1 (en) * 2005-10-10 2007-12-14 삼성전자주식회사 Flash memory device and voltage generating circuit for the same
KR101500075B1 (en) * 2012-05-16 2015-03-06 인피니언 테크놀로지스 아게 System and method for testing an integrated circuit

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006302971A (en) 2005-04-15 2006-11-02 Fujitsu Ltd Power supply clamp circuit and semiconductor device

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100439045B1 (en) * 2001-06-29 2004-07-05 주식회사 하이닉스반도체 Circuit for clamping word-line voltage
KR100474196B1 (en) * 2002-07-18 2005-03-10 주식회사 하이닉스반도체 Clamp circuit and boosting circuit using the same
KR100784861B1 (en) * 2005-10-10 2007-12-14 삼성전자주식회사 Flash memory device and voltage generating circuit for the same
US7548466B2 (en) 2005-10-10 2009-06-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Flash memory device and voltage generating circuit for the same
KR101500075B1 (en) * 2012-05-16 2015-03-06 인피니언 테크놀로지스 아게 System and method for testing an integrated circuit
US9588171B2 (en) 2012-05-16 2017-03-07 Infineon Technologies Ag System and method for testing an integrated circuit
US10288669B2 (en) 2012-05-16 2019-05-14 Infineon Technologies Ag System and method for testing an integrated circuit

Also Published As

Publication number Publication date
KR100588732B1 (en) 2006-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8073643B2 (en) Semiconductor device
US6583644B2 (en) Output buffer for reducing slew rate variation
US6236239B1 (en) Output buffer circuit achieving stable operation and cost reduction
WO2006081283A2 (en) Voltage regulator with bypass mode
JP2006293802A (en) Semiconductor integrated circuit device
US20120256691A1 (en) Oscillator and input-output device and method of controlling the same
US7298200B2 (en) Voltage generation circuits for supplying an internal voltage to an internal circuit and related methods
US6326837B1 (en) Data processing circuit having a waiting mode
US5602506A (en) Back bias voltage generator
KR960032899A (en) A semiconductor device having an output buffer circuit capable of outputting data while taking impedance matching with an external data transmission line
US6639390B2 (en) Protection circuit for miller compensated voltage regulators
KR100197998B1 (en) Low power loss input buffer of semiconductor device
CN117093526B (en) Pull-down resistor control system, chip and electronic equipment
KR100588732B1 (en) Stable voltage regulator in semiconductor integrated circuit
US20030080717A1 (en) Semiconductor device
US6563351B2 (en) Semiconductor integrated circuit having output buffer
US6940335B2 (en) Constant-voltage circuit
US6512698B2 (en) Semiconductor device
WO2002091471A2 (en) Integrated circuit
KR100252740B1 (en) A semiconductor device
US6841980B2 (en) Apparatus for controlling voltage sequencing for a power supply having multiple switching regulators
US6433622B1 (en) Voltage stabilized low level driver
KR100806605B1 (en) Internal Voltage Generator in Semiconductor Memory Device
US6781891B2 (en) Half power supply voltage generator and semiconductor memory device using the same
KR100304952B1 (en) Semiconductor memory device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130524

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140519

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150518

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160518

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170529

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180517

Year of fee payment: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190516

Year of fee payment: 14