KR20010038191A

KR20010038191A - 광 기록 매체의 일반화 방법 및 이를 이용한 최적 기록 장치와 방법

Info

Publication number: KR20010038191A
Application number: KR1019990046073A
Authority: KR
Inventors: 노진태
Original assignee: 구자홍; 엘지전자 주식회사
Priority date: 1999-10-22
Filing date: 1999-10-22
Publication date: 2001-05-15
Also published as: KR100314069B1

Abstract

본 발명은 광 기록 매체의 일반화 방법 및 이를 이용한 최적 기록 장치와 방법에 관한 것으로, 장착되는 기록 매체에 소정 기록 광파워를 주사하여 매질 특성 인자를 검출하는 매질 특성 인자 검출부와; 기록 매체의 매질 특성 인자에 따른 최적 기록 조건을 연계 저장하는 저장부와; 상기 검출된 매질 특성 인자에 대응하는 상기 저장부의 최적 기록 조건 정보를 확인하고, 이에 따라 사용자 데이터의 기록을 제어하는 제어부로 구성하여 종래의 기록 매체 제조원 별로 대응되는 최적 기록 조건을 매체 특성 인자로 일반화해 구분함으로써, 새로운 매체 제조원에 의해 새로운 매체가 제조되어 시판되더라도 그 매체의 특성 인자에 의해 최적 기록을 수행할 수 있도록 하는 효과가 있다.

Description

광 기록 매체의 일반화 방법 및 이를 이용한 최적 기록 장치와 방법{OPTIMAL WRITING APPARATUS AND METHOD USING NORMALIZING METHOD OF OPTICAL RECORDING MEDIUM}

본 발명은 광 기록 매체의 일반화 방법 및 이를 이용한 최적 기록 장치와 방법에 관한 것이다.

일반적으로, 1회 기록이 가능한 CD-R과 같은 광 기록 매체는 재기록을 할 수 없다는 점 때문에 최적 기록을 위한 조건(예를 들어 광파워, 빔 프로파일(write strategy)) 검출이 대단히 중요함에도 불구하고 개개의 기록 매체 제조원에서는 상기 최적 기록 조건을 검출하기 위한 소정인자(예를 들어,ratio)를 정확하게 제공하고 있지 않기 때문에 대부분의 기록/재생 장치 제조 업체에서는 최적 기록을 위하여 기록 매체 제조원 별로 최적 기록을 위한 빔 프로파일(write strategy)을 실험에 의해 구하고 이를 기록 매체 제조원 고유 데이터와 연계하여 저장하고, 최적 광파워 검출을 위한 테스트 기록 및 실제 사용자 데이터의 기록시 이를 이용하여 기록함으로써 기록 및 재생 품질을 향상시키고자 하는 노력 등을 하고 있다.

도1은 일반적인 광 기록 매체 기록/재생 장치의 구성도로서, 입력되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 출력하는 A/D 변환기(20)와; 상기 A/D 변환기(20)에서 출력되는 디지털 신호를 엠펙(MPEG) 유형으로 부호화하는 엠펙 엔코더(30)와; 상기 부호화된 신호에 에러정정 코드(ECC)등을 부가하여 기록포맷으로 변환하는 디지털 기록신호 처리부(70a)와; 상기 기록포맷으로 변환된 신호를 비트스트림으로 다시 변환하는 채널비트 엔코더(80)와; 상기 채널비트 엔코더(80)에서 출력되는 신호를 입력받아 광량 구동신호를 출력하는 광 구동기(81)와; 상기 광량 구동신호에 따라 신호를 광 기록 매체(10)에 기록하거나 기록된 신호를 검출하기 위한 픽업부(11)와; 상기 픽업부(11) 및 모터(91)를 구동하는 드라이브부(90)와; 상기 픽업부(11)에서 검출되는 신호를 입력받아 여파 정형화된 신호를 출력하는 R/F부(100)와; 상기 픽업부(11)의 트래킹에러신호(T.E) 및 초점에러신호(F.E)와 상기 광 기록 매체(10)의 회전속도로부터 상기 드라이브부(90)의 구동을 제어하고, 상기 R/F부(100)로부터 출력되는 출력신호의 동기를 검출하는 서보부(110)와; 상기 검출된 동기신호를 기준으로 상기 여파 정형화된 신호로부터 압축 기록데이터를 복원하는 디지털 재생신호 처리부(70b)와; 상기 압축 기록데이터를 디코딩하여 영상 및 오디오신호로 변환하여 출력하는 엠펙 디코더(120)와; 임의의 광 기록 매체(10)에 대하여 제조원에 따른 최적 기록 빔 프로파일이 연계 저장되어 있는 저장부(130)와; 광 기록 매체(10)에 입력신호를 기록하고 재생하는 기록/재생장치의 전체를 제어하는 마이컴(60)을 포함하여 구성된 것으로, 이하 상기와 같이 구성된 종래 광 기록/재생 장치의 일반적인 동작을 설명하면 다음과 같다.

먼저, 사용자가 기록 매체(10)에 데이터를 기록하기 위해 기록장치에 기록 매체를 삽입하면 기록 장치는 실제 기록에 앞서 최적 기록 조건 즉, 최적 기록 파워를 검출하기 위한 테스트 기록(OPC)을 수행하게 된다.

즉, 기록 장치는 삽입된 기록 매체의 소정 영역에 기록된 '리드인 시작 시간' 데이터로부터 그 기록 매체의 제조원을 판별하는 한편 도2에 도시된 바와 같이 리드인(lead in) 영역의 시간정보 필드(ATIP : Absolute Time In Pre-Groove)의 정보 바이트(M1)에 기록되어 있는 3비트(W1∼W3)의 데이터를 리드하여 기준 광파워(P_ind)를 독출 한 후 테스트용 디지털 데이터(예를 들어, 101010...)를 도3에 도시된 바와 같이 기준 광파워(P_ind)를 중심으로 상하 일정범위 내에서 소정 시간 간격으로 업/다운 시켜가며 도4의 PCA영역의 안쪽에 있는 테스트 영역(A)에 기록되도록 한다.

다음, 상기 PCA영역에 기록된 테스트 데이터를 독출 하여 지터량이 가장 적게 검출되는 시점(도3의 T₀)에 구동한 기록광의 전력(도3의 P_OP)을 최적 기록 광파워로 결정한다.

그런데, 실제의 데이터 기록에 있어서는 기록 매체 제조원에 따라 매질특성에 많은 차이가 있기 때문에 상기 최적 광파워에 의해서만 만들어지는 피트(PIT)는 열 흡수 상태에 따라 도5의 (a)에 도시된 바와 같이 처음 광이 조사되는 부분과 끝 부분의 모양에 많은 차이가 발생하게 되어 기록 장치 제조 업체에서는 상기 판별된 기록 매체의 제조원에 대응하여 도5의 (b)에 도시된 바와 같이 최적 기록을 위한 빔 프로파일(write strategy)을 기록 장치의 저장부(130)에 연계 저장해 두고, 기록 매체에 따라 최적 기록 빔 프로파일을 독출하여, 이를 상기 독출된 기준 기록 광파워를 기준으로 파워 스캔(power scan)하면서 테스트 기록시 적용함으로써, 최적 기록 파워 뿐만이 아니라 빔 프로파일이 고려된 최적 기록 조건에 의해 기록 및 재생 품질을 향상시킬 수 있게 된다.

그런데, 상기와 같은 최적 기록을 위한 빔 프로파일은 모든 기록 매체에 대하여 공통적으로 적용되는 것이 아니고, 각 기록 매체 제조원 별로 대응하여 실험적으로 구한 데이터를 연계 저장한 것이므로 기록장치 출시 후에 새로운 기록 매체의 제조원에 의해 생산하여 출시되는 기록 매체에 대해서는 최적 기록 조건을 산출하는 것에 문제가 발생할 수 있다.

이에 기록 장치 제조 회사는 새로운 기록 매체 제조원에 의해 생산 시판되는 기록 매체에 대하여 상기와 같은 실험을 통해 최적 기록을 위한 빔 프로파일을 산출하여 인터넷을 통해 주기적으로 업데이트를 함으로써, 새로운 기록 매체에 대한 최적 기록 조건들을 제공하거나, 기록 장치 출시 당시까지만 실험적으로 구해진 최적 기록 조건의 평균치를 디폴트로 하여 상기 새로이 시판되는 기록 매체에 대한 최적 기록 조건으로 적용하게 하는 방법 등을 사용하여 상기와 같은 문제를 해결하고 있다.

그러나, 상기 인터넷을 통하여 업데이트하는 방법은 주기적으로 기록 장치 제조 회사가 이를 제공하고 사용자는 그 때 마다 이를 다운로드(down load)해야 하기 때문에 양자 모두에게 번거롭고, 상기 디폴트에 의한 방법은 새로이 시판되는 기록 매체의 매체 특성에 근거하여 산출된 것이 아니기 때문에 오히려 기록 및 재생 품질을 저하시킬 수 있는 문제점이 있었다.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 창출한 것으로, 종래의 기록 매체 제조원 별로 대응되는 최적 기록 조건을 매체 특성 인자, 예를 들어 기록 매체의 소정 기록 파워에 대한 반사 레벨과 같은 소정 인자(factor)로 일반화시킴으로써, 새로운 매체 제조원에 의해 새로운 매체가 제조되어 시판되더라도 그 매체의 최적 기록 조건을 상기 소정 인자에 의해 일반화된 최적 기록 조건을 준용할 수 있도록 기록 매체 제조원에 따른 최적 기록 조건을 소정 인자로 일반화시키는 방법 및 이를 이용한 최적 기록 장치와 방법을 제공함에 그 목적이 있다.

도1은 일반적인 광 기록 매체 기록/재생 장치의 구성을 보인 블록도.

도2는 광 기록 매체에 기록되어 있는 기준 광파워의 데이터 형태를 보인 예시도.

도3은 테스트 데이터의 기록시 기준 기록 광파워를 기준으로 그 광파워를 변화시켜 최적 기록 광파워를 찾는 과정을 설명하기 위한 그래프도.

도4는 기록가능 광 기록 매체의 각 신호 영역을 도시한 예시도.

도5는 최적 기록 빔 프로파일을 적용하지 않은 경우와 적용한 경우의 피트 형성 모양을 비교한 예시도.

도6은 본 발명에 의한 최적 기록 장치의 구성을 보인 블록도.

도7은 본 발명에 의한 광 기록 매체 일반화 과정을 보인 순서도.

도8은 본 발명에 의한 최적 기록 방법의 과정을 보인 순서도.

도9는 반사-레벨(B-레벨)에 따른 피트 형성 모양을 비교하여 보인 예시도.

***도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명***

200 : 재료 계열 판별부 210 : 반사 레벨 검출부

220 : 저장부

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 최적 기록 조건의 매질 특성 인자, 예를 들어 반사 레벨에 의한 일반화 방법은, 기록 매체에 소정 기록 파워로 설정된 빔을 조사하여 반사되는 반사 레벨을 검출 및 확인하는 제1단계와; 상기 검출 확인된 기록 매체에 대한 최적 기록 빔 프로파일을 확인하는 제2단계와; 상기 확인된 최적 기록 빔 프로파일을 상기 확인된 반사 레벨과 연계 저장하는 제3단계로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 따른 최적 기록을 위한 광 기록 장치는, 장착되는 기록 매체에 소정 기록 광파워를 주사하여 매질 특성 인자를 검출하는 매질 특성 인자 검출부와; 기록 매체의 매질 특성 인자에 따른 최적 기록 조건을 연계 저장하는 저장부와; 상기 검출된 매질 특성 인자에 대응하는 상기 저장부의 최적 기록 조건 정보를 확인하고, 이에 따라 사용자 데이터의 기록을 제어하는 제어부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

상기와 같이 구성되고 이루어지는 본 발명에 따른 광 기록 매체의 최적 기록 방법 및 장치는, 입력되는 데이터의 기록을 위해 광 기록 매체가 장착되면 각 기록 매체의 특성 인자(반사 레벨 등...)를 검출하고, 그 특성 인자에 따라 기 구분하여 저장해 둔 최적 기록 빔 프로파일(write strategy)중 특성이 같은 것을 선택하여 기록 동작이 수행되도록 하였다.

이하, 본 발명에 따른 일실시예를 첨부한 도면을 참조하여 좀 더 상세히 설명하면 다음과 같다.

일단, 도6은 본 발명에 의한 광 기록 매체의 최적 기록 장치의 구성을 보인 블록도로서, 이에 도시한 바와 같이 도1에 도시된 광 기록/재생 장치의 구성에 있어서, 광 기록 매체로부터 독출된 리드인 시작 시간에 의해 재료 계열을 구분해 내는 재료 계열 판별부(200)와; 광 기록 매체에 소정 조건으로 기록 테스트를 수행하여 그때의 매질 특성 인자(반사 레벨)를 검출하는 매질 특성 인자 검출부(210)와; 각 기록 매체의 반사 레벨에 따라 세분화된 최적 기록 빔 프로파일을 저장하고 있는 저장부(220)를 더 포함하여 구성한다.

여기서, 상기 저장부(220)에는 기록 장치 제조 업체에서 미리 제조원이 상이한 광 기록 매체들을 수집하여 각각의 광 기록 매체에 소정 파워를 가지는 광(반사 레벨 검출의 용이를 위해 6T 이상이 바람직)을 조사하여, 그 때 검출되는 반사 레벨에 대응하는 최적 기록 빔 프로파일이 매핑 저장되어 있다.

이와 같이, 같은 최적 기록 빔 프로파일(write strategy)을 적용할 수 있는 광 기록 매체를 구분하기 위해 소정의 매질 특성 인자에 의해 일반화시키는 방법을 도7의 순서도를 참조하여 설명하면 다음과 같다.

먼저, 각 기록 매체를 반사 레벨과 같은 매질 특성 인자에 의해 일반화 시키기 위해서는 일단, 기록 매체에 소정 기록 파워로 설정된 빔을 조사하여 그 때 반사되는 반사 레벨을 검출 및 확인하고(ST1), 종래의 기술에서 언급한 기록 매체 제조원별 연계 저장된 최적 기록 빔 프로파일을 상기 검출 확인된 기록 매체에 대한 최적 기록 빔 프로파일로 확인한 후(ST2), 상기 확인된 최적 기록 빔 프로파일을 상기 검출 확인된 반사 레벨에 연계하여 저장시켜 둔다(ST3).

다음, 상기와 같이 기록 매체의 특성 인자와 연계된 기록 빔 프로파일을 저장하고 있는 광 기록 장치에서, 그 저장되어 있는 기록 빔 프로파일 중 장착된 기록 매체에 가장 적합한 최적 빔 프로파일을 선택하는 과정을 도8의 순서도를 참조하여 설명한다.

먼저, 기록 매체가 삽입되면(ST1), 기록 매체에 기록되어 있는 리드인 시작 시간 데이로로부터 재료 계열을 독출한다.(ST2)

다음, 기록 장치 제조원에서 기록 매체의 특성 인자를 검출하기 위해서 사용했던 똑 같은 조건 예를 들어, 반사 레벨을 검출하기 위해 사용했던 소정 기록 파워를 가지는 빔을 조사하고,(ST3) 그 때의 반사 레벨을 검출하게 된다.(ST4)

이에 따라 상기 기록 매체 일반화 과정에 의해 기록 매체의 매질 특성 인자에 따라 연계 저장되어 있는 최적 기록 조건 정보를 독출하여(ST5), 상기 최적 기록 조건 정보에 기준하여 사용자 데이터를 기록한다.(ST6)

여기서, 상기와 같이 기록 매체 별로 소정 기록 파워에 대한 반사 레벨을 확인하는 것은 반사 레벨이 기록 매체 제조원 별로 고유한 것은 아니지만, 기록 매체의 매질 특성을 나타내는 하나의 인자로 작용할 수 있기 때문에 이를 이용하여 반사 레벨에 따른 최적 기록 조건, 예를 들어 최적 기록 빔 프로파일을 대응시켜 연계 저장하면 향후 새로운 제조원의 기록 매체가 생산 시판되더라도 그 기록 매체의 반사 레벨을 확인하고 이에 대응되어 저장된 최적 기록 빔 프로파일 데이터를 독출하여 사용함으로써 매질 특성에 따른 최적 기록 조건을 적용할 수 있도록 하기 위함이다.

이 때, 상기 반사 레벨은 기록 매체를 구성하는 매질의 열 흡수도 특성을 나타내는 것이나 기록 매체의 재료 계열에 따라 상기 열 흡수도 특성이 다르므로 이를 고려하여 반사 레벨을 확인하는 것이 바람직하다.

즉, 반사 레벨이 같다고 하더라도 아래의 표1과 같이 재료 계열에 따라 열 흡수도가 다르기 때문에 상기 반사 레벨을 재료 계열에 따라 구분할 필요가 있다.

재료 계열	특 징
Pthalo_Cyanine 계	- 기록 파워에 대한 열 흡수도가 낮아 반사 레벨이 높다.
Cyanine 계	- 기록 파워에 대한 열 흡수도가 높아 반사 레벨이 낮다.
Azo 계	- 상기 Cyanine 계와 유사.

즉, 장착되는 기록 매체의 재료 계열을 우선적으로 판별하고, 이에 따라 반사 레벨을 확인하여 이에 대응되는 최적 기록 빔 프로파일을 저장하는 것이 바람직할 수 있다.

그런데, 상기와 같은 재료 계열의 판별은 실험적으로 볼 때, 기록 매체 상에 기록된 '리드인 시작 시간' 데이터로부터 확인될 수 있는데, 예를 들어 상기 '리드인 시작 시간'데이터를 나타내는 Min, Sec, Frame 데이터 중 마지막 데이터 값, 즉 프레임 데이터 수치를 확인(예를 들어 Min, Sec, Frame 데이터가 "97(Min) - 12(Sec) - 15(Frame)"이라면 프레임 데이터의 마지막 수치("5")가 0∼4일 경우에는 Cyanine 계, 5∼9일 경우에는 Pthalo_Cyanine계의 특성을 갖음)함에 의해 재료 계열을 확인할 수 있다.

또한, 실험적으로 볼 때, 상기와 같은 열 흡수도에 따른 반사 레벨은 스핀 코팅(spin coating)에 의하여 기록 매체가 제조된다는 점에서 기록 매체 반경 방향으로의 왜곡이 있을 수 있는데 이를 고려하여 도9에 도시된 바와 같이 재생 레벨(read-level)에 대한 상대적인 반사 레벨을 측정하는 것이 바람직하다.

그러나, 이는 본 발명을 설명하기 위한 한 실시예일 뿐, 굳이 상기와 같이 재료 계열을 우선적으로 판별하지 않고, 반사 레벨에 대한 최적 기록 빔 프로파일만을 매핑시킨다고 하더라도 최적 기록 빔 프로파일이 상기 재료 계열을 반영하여 다른 값이 산출되어 매핑될 것이므로 별 문제는 없게 된다.

단, 상기와 같이 반사 레벨에 대한 최적 기록 빔 프로파일을 기록 매체에 대하여 일일이 실험적으로 구하는 것은 어려우므로 종래의 기술에서 언급한 기록 매체 제조원별 연계 저장된 최적 기록 빔 프로파일을 그대로 적용하는 방법을 고려할 수 있다.

이 때, 단지 반사 레벨을 확인하고 이에 따라 최적 기록 빔 프로파일을 매핑시키면 반사 레벨은 동일한데 최적 기록 빔 프로파일이 다르거나, 반사 레벨은 다른데 최적 기록 빔 프로파일이 동일할 수 있는 등의 문제가 발생할 수 있으므로 반사 레벨에 영향을 미치는 재료 계열을 우선적으로 확인 분리하고, 이에 따라 반사 레벨을 확인하는 것이 바람직하다.

또한, 상기와 같이 실험적으로 구해지는 반사 레벨에 대한 최적 기록 빔 프로파일은 어제나 실험 오차가 존재하고, 실험에 의해 구해지는 반사 레벨도 이산적인 값들로 이루어질 것이므로 이들 소정 오차를 감안하더라도 소정 레인지(range)로 구분하는 것이 실제 제품 적용에 있어 유용할 수 있다.

즉, 반사 레벨을 소정 레인지로 구분하고 이에 따라 최적 기록 빔 프로파일을 연계 저장하여 두면 장착되는 기록 매체의 소정 파워에 대한 반사 레벨이 어느 레인지에 속하고 그에 대응하여 연계 저장된 최적 기록 빔 프로파일이 무엇인지를 확인함에 의해 최적 기록 조건을 확인할 수 있게 되는 것이다.

상기에서 언급한 반사 레벨에 대한 최적 기록 빔 프로파일의 최적의 실시예를 도식화하면 다음 표2와 같다.

재료 계열	반사레벨 Range(mW)	최적 기록 빔 프로파일
Pthalo_Cyanine 계	0.0∼0.5	모드 1
	∼	∼
	9.5∼10.0	모드 N
Cyanine(Azo) 계	0.0∼0.5	모드 1
	:	∼
	9.5∼10.0	모드 N

이 때, 상기 최적 기록 빔 프로파일 모드는 도5의 (b)에 도시된 바와 같이 변수 x, y, z에 의해 결정된다.

즉, 상기 최적 기록 빔 프로파일 모드는 기록 광 파워의 초기 오버 드라이브 부분의 파워 레벨(x) 및 유지 기간(y, duration), 소정 기록 파워 부분의 유지 기간(z, duration) 중 적어도 어느 하나의 변수에 의하여 결정되는 모드이다.

또한, 상기와 같이 반사 레벨에 의하여 일반화된 최적 기록 조건을 이용하는 최적 기록 방법에 있어서는 장착된 기록 매체 상에 소정 기록 파워로 설정된 빔을 주사하여 그때 반사 검출되는 매질 특성 인자를 검출 및 확인하는 제1단계와; 상기 검출 확인된 매질 특성 인자에 대응하여 연계 저장된 최적 기록 빔 프로파일을 독출하는 제2단계와; 상기 독출된 매질 특성 인자에 대응한 최적 기록 빔 프로파일을 사용하여 기록 동작을 수행하는 제3단계로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

이를 좀 더 상세히 설명하면, 장착된 기록 매체 상에 소정 기록 파워로 설정된 빔을 주사하여 매질 특성 인자, 예를 들어 반사 레벨을 검출, 확인함에 있어 "반사 레벨에 대한 최적 기록 빔 프로파일"을 산출할 때 적용했던 기록 파워로 기록 매체 상의 테스트 영역 중 일부, 예를 들어 기록시마다 최적 기록 조건 확인을 위하여 할당된 15 ATIP frame 중 1 ATIP frame을 할당하여 기록하면서 이에 대한 반사 레벨을 확인한다.

이와 같이 장착된 기록 매체의 반사 레벨을 확인함에 의해 실험적으로 산출하여 저장된 반사 레벨에 따른 최적 기록 빔 프로파일 정보 중 대응되는 최적 기록 빔 프로파일 정보를 알 수 있다.

이 때에도 상기 반사 레벨에 대한 최적 기록 빔 프로파일의 일반화 방법에서 언급한 바와 같이 재료 계열의 분리가 이루어졌을 경우에는 먼저, 장착된 기록 매체의 소정 영역 상에 기록된 리드인 시작 시간 정보를 독출하여 재료 계열을 확인하는 것이 선행될 수 있다.

위와 같이 장착된 기록 매체에 대한 최적 기록 빔 프로파일 정보가 확인되면 이를 이용 최적 기록 빔 파워를 검출하기 위한 과정(OPC)을 상기 최적 기록 빔 프로파일 정보와 기록 매체상의 소정 영역에 기록된 기준 기록 광 파워값을 기준하여 파워 스캔(power scan)하면서 테스트 기록하고 테스트 기록에 대한 재생 특성을 확인함에 의해 최적 기록을 위한 광파워 값을 검출할 수 있게 된다.

따라서, 위와 같이 검출 확인된 최적 기록 광 파워 및 최적 기록 빔 프로파일 정보를 이용하여 실제 사용자 데이터를 기록함에 의해 최적 기록 조건에 의한 기록을 수행할 수 있게 된다.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명 광 기록 매체의 분류 방법 및 이를 이용한 최적 기록 장치와 방법은 종래의 기록 매체 제조원 별로 대응되는 최적 기록 조건을 매체 특성 인자로 일반화해 구분함으로써, 새로운 매체 제조원에 의해 새로운 매체가 제조되어 시판되더라도 그 매체의 특성 인자에 의해 최적 기록을 수행할 수 있도록 하는 효과가 있다.

Claims

기록 빔을 기록 매체에 주사하여 기록 매체의 매질 특성에 따라 검출되는 매질 특성 인자를 검출하는 제1단계와; 상기 기록 매체에 대한 최적 기록 조건을 확인하는 제2단계와; 상기 검출된 매질 특성 인자와 상기 확인된 최적 기록 조건을 연계 저장하는 제3단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 광 기록 매체의 일반화 방법.
제1항에 있어서, 상기 매질 특성 인자는 재생 레벨에 대한 상대적인 반사 레벨인 것을 특징으로 하는 광 기록 매체의 일반화 방법.
제1항에 있어서, 상기 최적 기록 조건을 확인하는 과정은 기록 빔의 프로파일을 변화시켜 기록하는 제1단계와; 상기 기록 빔 프로파일에 대한 재생 신호 특성을 비교하는 제2단계와; 상기 단계에서 재생 신호 특성이 최적으로 검출되는 기록 빔 프로파일을 최적 기록 조건으로 설정하는 제3단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 광 기록 매체의 일반화 방법.
제3항에 있어서, 최적 기록 조건의 확인은 기록 매체의 재료 계열을 확인하고, 이에 따라 상기 매질 특성 인자를 구분하는 단계를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 광 기록 매체의 일반화 방법.
장착되는 기록 매체에 소정 기록 광파워를 주사하여 매질 특성 인자를 검출하는 제1단계와; 상기 검출된 매질 특성 인자에 근거하여 기록 매체의 매질 특성 인자에 따라 연계 저장되어 있는 최적 기록 조건 정보를 독출하는 제2단계와; 상기 독출된 최적 기록 조건 정보에 기준하여 사용자 데이터를 기록하는 제3단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 광 기록 매체의 최적 기록 방법.
제5항에 있어서, 상기 매질 특성 인자는 재생 레벨에 대한 상대적인 반사 레벨인 것을 특징으로 하는 광 기록 매체의 최적 기록 방법.
제5항에 있어서, 최적 기록 조건 정보는 기록 매체의 재료 계열에 따라 구분된 기록 매체의 매질 특성 인자에 대응하여 저장된 정보인 것을 특징으로 하는 광 기록 매체의 최적 기록 방법.
제5항에 있어서, 상기 최적 기록 조건 정보는 재생 신호 특성이 최적으로 검출되는 기록 빔 프로파일인 것을 특징으로 하는 광 기록 매체의 최적 기록 방법.
장착되는 기록 매체에 소정 기록 광파워를 주사하여 매질 특성 인자를 검출하는 매질 특성 인자 검출부와; 기록 매체의 매질 특성 인자에 따른 최적 기록 조건을 연계 저장하는 저장부와; 상기 검출된 매질 특성 인자에 대응하는 상기 저장부의 최적 기록 조건 정보를 확인하고, 이에 따라 사용자 데이터의 기록을 제어하는 제어부를 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는 광 기록 매체의 최적 기록 장치.
제9항에 있어서, 상기 매질 특성 인자 검출부는 재생 레벨에 대한 상대적인 반사 레벨을 특성 인자로 검출하는 것을 특징으로 하는 광 기록 매체의 최적 기록 장치.
제9항에 있어서, 기록 매체의 매질 특성 인자를 재료 계열에 따라 구분하기 위한 재료계열 판별부를 더 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는 광 기록 매체의 최적 기록 장치.