KR20010010037A - Driver circuit for memory device - Google Patents

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KR20010010037A KR1019990028715A KR19990028715A KR20010010037A KR 20010010037 A KR20010010037 A KR 20010010037A KR 1019990028715 A KR1019990028715 A KR 1019990028715A KR 19990028715 A KR19990028715 A KR 19990028715A KR 20010010037 A KR20010010037 A KR 20010010037A
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Abstract

PURPOSE: A driving circuit of a memory device is provided to search a chip at a high speed by detecting a word line selection signal and then applying the detected word line selection signal to a sense amp driving circuit. CONSTITUTION: A driving circuit of a memory device includes a cell block(100), a word line driving portion(101), a sense amplifier(102), a word line driving signal detection portion(104) and a sense amplifier driving portion(103). The cell block consists of a plurality of cell arrays. The word line driving portion selects a word line connected with a cell of the cell array by decoding an external address signal. The sense amplifier senses and amplifies data stored in the cell. The word line driving signal detection portion generates a word line driving detection signal in response to an output of the word line driving portion. The sense amplifier driving portion activates the sense amplifier in response to the word line driving detection signal and a detection signal according to the external address signal.

Description

메모리 소자의 구동 회로{DRIVER CIRCUIT FOR MEMORY DEVICE}DRIVER CIRCUIT FOR MEMORY DEVICE

본 발명은 반도체 소자에 관한 것으로, 특히 칩을 고속으로 탐색하는데 적당한 센스 앰프 구동 회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to semiconductor devices, and more particularly to a sense amplifier drive circuit suitable for high speed chip searching.

일반적으로 DRAM 은 외부에서 인가되는 X,Y 어드레스 신호를 받아들여 다수의 셀 캐패시터(cell capacitor) 중 1 개를 선택하여 저장되어 있던 전하를 전압으로 바꾸어 일련의 증폭 과정을 통해 증폭한 뒤 외부에 전달한다.Generally, DRAM accepts externally applied X and Y address signals, selects one of a plurality of cell capacitors, converts the stored charge into a voltage, amplifies it through a series of amplification processes, and transfers the signal to the outside. do.

또한 어드레스와 동시에 외부에서 데이터에 대응하여 입력된 전압을 지정된 셀 캐패시터에 전하 형태로 저장한다.At the same time as the address, the voltage input corresponding to the data from the outside is stored in a designated cell capacitor in the form of a charge.

다수의 셀 캐패시터 중 원하는 셀에 빠른 시간내에 접근하여 미세한 신호를 정확하고 신속하게 증폭해내기 위해 DRAM은 여러 경로들의 다양한 회로들을 포함하고 있다.The DRAM includes various circuits of various paths to quickly and accurately amplify a minute signal by quickly accessing a desired cell among a plurality of cell capacitors.

한편 로우 어드레스신호를 고정하고 컬럼 어드레스만을 변화시켜줌에 따라 비트 라인에 실려 있는 셀 데이터를 순차적으로 출력할 경우, 어드레스 입력에 동기되어 데이터의 전송 및 관련 회로의 활성화를 제어하는 신호, 예를 들면 /CAS 신호가 필요하다.On the other hand, when the cell data contained in the bit line is sequentially output as the row address signal is fixed and only the column address is changed, a signal for controlling data transfer and activation of a related circuit in synchronization with the address input, for example, / CAS signal is required.

그러나 /CAS(Coloum Address Strobe) 신호 대신 ATD(Address Transiton Detection)신호를 발생시키어 각종 제어 신호로 사용한다.However, instead of the / CAS (Coloum Address Strobe) signal, ATD (Address Transiton Detection) signal is generated and used as various control signals.

고속 DRAM을 설계하기 위해서는 각각의 회로들의 지연시간을 감소시켜야 한다.To design high speed DRAMs, the latency of each circuit must be reduced.

이하 첨부도면을 참조하여 종래 기술에 따른 센스 앰프의 구동 회로에 대해 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a driving circuit of a sense amplifier according to the prior art will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1 은 종래 기술에 따른 메모리 블록을 나타낸 구성 블록도로서, 메모리 셀 블록(10)과, 어드레스를 입력받아 워드라인 신호(WL)를 발생시키는 워드라인 구동부(20)와, 상기 셀 블록(10)에서 출력된 셀 데이터(D,/D)를 센싱 증폭하는 센스 앰프(30)와, 상기 어드레스 신호와 외부 제어 신호가 변화되면서 발생되는 ATD (Address Transition Detection)신호를 받아 상기 센스 앰프(30)를 활성화시키는 센스 앰프 구동부(40)를 포함하여 구성된다.1 is a block diagram illustrating a memory block according to the related art, a memory cell block 10, a word line driver 20 that receives an address and generates a word line signal WL, and the cell block 10. And a sense amplifier 30 for sensing and amplifying the cell data D and / D outputted from the cell data, and an ATD (Address Transition Detection) signal generated when the address signal and the external control signal are changed. It is configured to include a sense amplifier driver 40 for activating the.

상기와 같이 구성된 종래 기술에 따른 메모리 소자의 구동 회로는 어드레스가 입력되면 워드라인 구동부(20)는 상기 어드레스를 디코딩하여 선택적으로 워드라인 신호(WL)를 발생한다.In the driving circuit of the conventional memory device configured as described above, when an address is input, the word line driver 20 decodes the address to selectively generate a word line signal WL.

이어 상기 워드라인 신호(WL)에 의해 M 개의 워드라인(WL1~WLM) 중 하나의 워드라인 예를 들면, 제 1 워드라인(WL1)이 선택되며, 상기 선택된 제 1 워드라인을 고전압으로 부트스트랩핑(bootstrapping)한다.Subsequently, one word line, for example, a first word line WL 1 , of M word lines WL 1 to WL M is selected by the word line signal WL, and the selected first word line is connected to a high voltage. Bootstrapping

이에 따라 셀 데이터(D,/D)가 셀 블록(10)내에 구성된 비트라인(도시 생략)으로 전송되며, 상기 어드레스 신호(AX0~AXJ)의 변화에 따라 발생되는 ATD 신호 (ATD0~ATDJ)는 딜레이되어 센스 앰프 구동부(40)에 입력된다.As a result, the cell data D and / D are transmitted to a bit line (not shown) configured in the cell block 10, and the ATD signals ATD 0 to generated due to the change of the address signals AX 0 to AX J. ATD J ) is delayed and input to the sense amplifier driver 40.

이어 상기 센스 앰프 구동부(40)는 상기 셀 데이터(D,/D)의 출력 시간보다 마진을 두어 인에이블되도록 ATD 신호를 딜레이시켜 센스 앰프 인에이블 신호 (Sense amplifier enable;SAEN)를 발생시킨다.Subsequently, the sense amplifier driver 40 delays the ATD signal so as to enable a margin more than the output time of the cell data D and / D to generate a sense amplifier enable signal SAEN.

이어 상기 센스 앰프 인에이블 신호(SAEN)가 인에이블되면 센스 앰프(30)는 상기 셀 데이터(D,/D)를 감지 및 증폭하여 증폭된 데이터(DO)를 데이터 버스 라인 (Data bus line)으로 전송한다.Subsequently, when the sense amplifier enable signal SAEN is enabled, the sense amplifier 30 senses and amplifies the cell data D and / D to convert the amplified data D O into a data bus line. To send.

이와 같이 종래기술에 따른 메모리 소자의 구동 회로는 칩의 탐색 시간을 확보하는데 있어서, 워드라인 신호와 센스 앰프 인에이블 신호의 마진을 어드레스 신호에 의해 발생되는 ATD 신호의 딜레이로 확보한다.As described above, the driving circuit of the memory device according to the related art secures the margin of the word line signal and the sense amplifier enable signal as a delay of the ATD signal generated by the address signal in securing the search time of the chip.

그러나 상기와 같은 종래기술에 따른 메모리 소자의 구동 회로는 단순히 외부 어드레스 입력 신호의 변화에 의해 발생되는 ATD신호의 딜레이만으로 워드라인과 센스 앰프의 시간 마진을 확보하므로써, 칩의 고속 탐색 시간을 확보하는데 어려움이 있다.However, the driving circuit of the memory device according to the related art as described above secures the high-speed search time of the chip by securing the time margin of the word line and the sense amplifier by simply delaying the ATD signal generated by the change of the external address input signal. There is difficulty.

본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 특히 워드라인 구선택 신호를 검출하여 센스 앰프 구동 회로에 인가함으로써 칩의 고속 탐색 시간을 가능하도록 한 메모리 소자의 구동 회로를 제공하는데 그 목적이 있다.Disclosure of Invention The present invention has been made to solve the above problems, and in particular, the purpose of the present invention is to provide a driving circuit of a memory device which enables a high-speed search time of a chip by detecting and applying a word line selection signal to a sense amplifier driving circuit. have.

도 1 은 종래기술에 따른 메모리 블록을 나타낸 구성 블록도1 is a block diagram illustrating a memory block according to the prior art;

도 2 는 도 1 에 따른 동작 파형도2 is an operating waveform diagram according to FIG.

도 3 은 본 발명에 따른 메모리 블록을 나타낸 구성 블록도3 is a block diagram illustrating a memory block according to the present invention;

도 4 는 도 3 에 다른 동작 파형도4 is an operational waveform diagram according to FIG. 3.

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for the main parts of the drawings

100 : 셀 블록 101 : 워드라인 구동부100: cell block 101: word line driver

102 : 센스 앰프 103 : 센스 앰프 구동부102: sense amplifier 103: sense amplifier driver

104 : 워드라인 구동 신호 검출부104: word line drive signal detector

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 메모리 소자의 구동 회로는 다수의 셀 어레이로 구성된 셀 블록, 외부 어드레스 신호를 입력받아 디코딩하여 상기 셀이 연결된 워드라인을 선택하는 워드라인 구동부, 상기 셀에 저장된 데이터를 감지하고 증폭하는 센스 앰프, 상기 워드라인 구동부의 출력 신호에 의해 워드라인 구동 검출 신호를 발생시키는 워드라인 구동 신호 검출부, 상기 어드레스 신호의 변화에 따른 ATD 신호와 워드라인 구동 검출 신호를 동시에 입력받아 상기 센스 앰프를 인에이블 시키는 센스 앰프 구동부를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a driving circuit of a memory device, including: a cell block including a plurality of cell arrays, a word line driver configured to receive and decode an external address signal to select a word line to which the cell is connected; A sense amplifier for sensing and amplifying stored data, a word line driving signal detector for generating a word line driving detection signal by an output signal of the word line driver, and simultaneously generating an ATD signal and a word line driving detection signal according to the change of the address signal. And a sense amplifier driver configured to receive the input and enable the sense amplifier.

이하 본 발명의 실시예에 따른 메모리 소자의 구동 회로에 대해 첨부도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a driving circuit of a memory device according to an exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 3 은 본 발명의 실시예에 따른 메모리 소자의 구동 회로를 나타낸 구성 블록도이고, 도 4 는 도 3 에 따른 동작 파형도이다.3 is a block diagram illustrating a driving circuit of a memory device according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 4 is an operation waveform diagram of FIG. 3.

도 3 에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 메모리 소자의 구동 회로는 M 열(row)과 N 행(colum)의 셀 어레이로 구성된 셀 블록(100)과, 상기 셀 블록(100)의 하나의 열을 선택하기 위한 어드레스 신호(AX0~AXi)를 입력받아 M 개의 워드라인 신호(WL)를 발생하는 워드라인 구동부(101)와, 상기 셀 블록(100)의 출력 데이터(D,/D)를 감지하여 증폭하는 센스 앰프(102)와, 상기 워드라인 신호(WL)를 입력받아 워드라인 구동 검출신호(WLED)를 발생시키는 워드라인 구동 검출부(104)와, 상기 워드라인 구동 검출신호(WLED)와 ATD 신호를 입력받아 상기 센스 앰프 (102)를 구동시키는 센스 앰프 구동부(103)를 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 3, a driving circuit of a memory device according to an exemplary embodiment of the present invention may include a cell block 100 including a cell array of M rows and N columns, and the cell block 100. A word line driver 101 for receiving M signal line signals WL by receiving address signals AX 0 to AX i for selecting one column, and output data D of the cell block 100. And a sense amplifier (102) for sensing and amplifying, a word line driving detection unit (104) for receiving the word line signal (WL) and generating a word line driving detection signal (WLED), and the word line driving. And a sense amplifier driver 103 for receiving the detection signal WLED and the ATD signal to drive the sense amplifier 102.

여기서 상기 워드라인 구동 신호 검출부(104)는 상기 워드라인 구동부(101)로부터 출력되는 M 개의 워드라인 신호(WL0~WLM)를 각각 게이트 입력으로 하고 소오스는 접지되어 있으며 드레인단이 공통으로 연결된 M 개의 NMOS 트랜지스터 (MN0~MNm)와, 상기 NMOS 트랜지스터들(MN0~MNm)의 드레인에 공통으로 드레인에 연결되고, 접지전압을 게이트 입력으로 받으며 소오스단이 동작 전원(VCC)에 연결된 하나의 PMOS트랜지스터(MP0)로 구성된다.Here, the word line driving signal detecting unit 104 uses M word line signals WL 0 to WL M output from the word line driving unit 101 as gate inputs, a source is grounded, and a drain terminal is connected in common. M NMOS transistors (MN 0 to MNm) and drains of the NMOS transistors (MN 0 to MN m ) are commonly connected to a drain, receive a ground voltage as a gate input, and a source terminal connected to an operating power supply (VCC). It consists of one PMOS transistor MP 0 .

여기서 상기 PMOS 트랜지스터(MPO)는 접지전압(VSS)을 게이트 입력으로 하기 때문에 항상 고전압(VCC)으로 프리차아지 되어 있다.Since the PMOS transistor MP O uses the ground voltage VSS as the gate input, the PMOS transistor MP O is always precharged to the high voltage VCC.

그리고 상기 ATD(Address Transition Detector;ATD0~ATDj) 신호는 어드레스 신호와 외부 신호, 예를 들면 칩선택신호 (/CS), 라이트 인에이블 신호(/WE)의 변화에 따라 발생된다.The ATD (Address Transition Detector; ATD 0 to ATD j ) signal is generated according to changes in an address signal and an external signal, for example, a chip select signal (/ CS) and a write enable signal (/ WE).

상기와 같이 구성된 본 발명의 실시예에 따른 메모리 소자의 구동 회로의 동작에 대해 첨부도면 도 4 를 참조하여 설명하면 다음과 같다.The operation of the driving circuit of the memory device according to the exemplary embodiment of the present invention configured as described above will be described with reference to FIG. 4.

도면에서 화살표는 신호들의 인에이블 인과관계를 나타내고 있다.Arrows in the figure indicate the enable causality of signals.

먼저 로우 디코더(row decoder)(도시 생략)를 구비한 워드라인 구동부(101)는 입력되는 어드레스 신호(AX0~AXi)를 디코딩하여 선택적으로 M 개의 워드라인 (WL1~WLM)을 선택하는 신호를 출력한다.First, the word line driver 101 having a row decoder (not shown) decodes input address signals AX 0 to AX i to selectively select M word lines WL 1 to WL M. Outputs a signal.

이어 상기 M 개의 워드라인(WL1~WLM) 중 하나의 워드라인 예를 들면, 제 1 워드라인(WL1)이 선택되면, 상기 선택된 제 1 워드라인(WL1)을 고전압으로 부트스트랩핑(bootstrapping)한다.Subsequently, when one word line of the M word lines WL 1 to WL M is selected, for example, a first word line WL 1 is selected, bootstrapping the selected first word line WL 1 to a high voltage. (bootstrapping)

이처럼 선택된 워드라인이 고전압으로 승압됨에 따라 셀 데이터(D,/D)는 비트라인(도시 생략)으로 전송되며, 상기 어드레스 신호(AX0~AXi)의 변화에 따라 발생되는 ATD 신호(ATD0~ATDj)는 딜레이되어 센스 앰프 구동부(103)에 입력된다(A).As the selected word line is boosted to a high voltage, the cell data D and / D are transmitted as bit lines (not shown), and the ATD signal ATD 0 generated in response to the change of the address signals AX 0 to AX i . ATD j is delayed and input to the sense amplifier driver 103 (A).

이어 상기 센스 앰프 구동부(103)는 상기 셀 데이터(D,/D)의 출력 시간보다 타이밍 마진(timing margin)을 두어 인에이블되도록 ATD 신호를 딜레이시켜 센스 앰프 인에이블 신호(Sense amplifier enable;SAEN)를 발생시킨다.Subsequently, the sense amplifier driver 103 delays the ATD signal so as to enable a timing margin rather than an output time of the cell data D and / D, thereby enabling a sense amplifier enable signal (SAEN). Generates.

이어 상기 센스 앰프 인에이블 신호가 인에이블되면 센스 앰프(102)는 상기 셀 데이터(D,/D)를 감지 및 증폭하여 증폭된 데이터(DO)를 데이터 버스 라인(Data bus line;DB line)으로 전송한다.Subsequently, when the sense amplifier enable signal is enabled, the sense amplifier 102 senses and amplifies the cell data D and / D and receives the amplified data D O from a data bus line (DB line). To send.

그리고 상기 고전압으로 승압된 워드라인(WL1) 선택 신호에 의해 상기 워드라인 구동 신호 검출부(104)의 제 1 NMOS 트랜지스터(MN0)는 턴온된다.The first NMOS transistor MN 0 of the word line driving signal detector 104 is turned on by the word line WL 1 selection signal boosted to the high voltage.

즉 게이트 입력인 상기 워드라인 신호(WL1)가 하이 레벨로 상승하므로 제 1 NMOS 트랜지스터(MN0)는 턴온되어 노드 X 의 전위를 로우 레벨로 하강시킨다.That is, since the word line signal WL 1 , which is a gate input, rises to a high level, the first NMOS transistor MN 0 is turned on to lower the potential of the node X to a low level.

이 때 상기 워드라인 구동 신호 검출부(104)의 NMOS 트랜지스터들의 드레인에 공통으로 드레인이 연결된 PMOS(MP0)는 게이트 입력이 접지 전압이므로 소오스단에 인가되는 외부전원(VCC)에 의해 항상 고전압으로 프리차아지 되어 있다.At this time, since the gate input is the ground voltage, the PMOS MP 0 having a drain connected to the drains of the NMOS transistors of the word line driving signal detector 104 is always freed at a high voltage by an external power supply VCC applied to the source terminal. I have been charged.

이는 상기 노드 X의 전위가 하강하므로써 워드라인 구동 검출 신호(WLED)는 하이 레벨에서 로우 레벨로 하강한다.This causes the word line driving detection signal WLED to fall from the high level to the low level as the potential of the node X falls.

이어 상기 워드라인 구동 검출 신호(WLED)는 센스 앰프 구동부(103)에 입력되고, 또한 어드레스 변화에 따라 발생된 ATD 신호도 상기 센스 앰프 구동부(103)에 입력된다.Subsequently, the word line driving detection signal WLED is input to the sense amplifier driver 103, and the ATD signal generated according to the address change is also input to the sense amplifier driver 103.

이어 상기 센스 앰프 구동부(103)는 상기 신호들(WLED,ATD)을 조합하여 센스 앰프 인에이블 신호(SAEN)를 발생시키어 센스 앰프(102)를 구동한다.Subsequently, the sense amplifier driver 103 generates a sense amplifier enable signal SAEN by combining the signals WLED and ADT to drive the sense amplifier 102.

이어 상기 센스 앰프(102)는 셀 데이터(D,/D)신호를 검출하여 증폭 데이터 (DO)를 데이터 버스 라인으로 전송한다.Then, the sense amplifier 102 detects the cell data (D, / D) signal and transmits the amplified data (D O ) to the data bus line.

이와 같이 워드라인 구동 검출 신호(WLED)에 동기되어 셀로부터 셀 데이터 신호(D,/D)가 발생되며, 상기 센스앰프 인에이블 신호(SAEN)는 기본적으로 상기 셀 데이터 신호(D,/D)가 발생되는 시간보다 최소한의 타이밍 마진(margin)을 두어 인에이블되도록 한다.As such, the cell data signals D and / D are generated from the cell in synchronization with the word line driving detection signal WLED, and the sense amplifier enable signal SAEN is basically the cell data signals D and / D. Allow a minimum timing margin above the time at which is to be enabled.

이를 위해 상기 ATD 신호를 딜레이시킨 신호와 워드라인 구동 검출 신호 (WLED)를 조합하여 상기 셀 데이터 신호(D,/D)와 항상 일정한 타이밍 마진을 두고 센스 앰프 인에이블 신호(SAEN)가 발생된다.To this end, the delayed signal and the word line driving detection signal WLED are combined to generate the sense amplifier enable signal SAEN at a constant timing margin with the cell data signals D and / D.

이어 상기 센스 앰프 인에이블 신호(SAEN)가 인에이블되면 센스 앰프는 구동하고 이 때 상기 셀 데이터 신호(D,/D)를 감지 및 증폭하여 출력 데이터(D0)를 발생한다.Subsequently, when the sense amplifier enable signal SAEN is enabled, the sense amplifier drives and generates output data D 0 by sensing and amplifying the cell data signals D and / D.

이와 같이 본 발명에 따른 메모리 소자의 구동 회로는 칩을 설계함에 있어서 액세스 타임을 좌우하는 부분 중의 하나인 워드라인과 센스 앰프 인에이블 신호와의 타이밍 마진을 직접 워드라인 구동 신호를 검출함으로써 항상 타이밍 마진을 최적화할 수 있다.As described above, the driving circuit of the memory device according to the present invention always detects the timing margin between the word line and the sense amplifier enable signal, which is one of the parts that determine the access time, in the chip design. Can be optimized.

상기와 같은 본 발명의 실시예에 따른 메모리 소자의 구동 회로는 워드라인과 센스 앰프 인에이블 신호와의 타이밍 마진을 직접 워드라인 구동 신호를 검출하여 센스 앰프 인에이블 신호를 발생시킴으로써 타이밍 마진을 최적화시키고 칩의 엑세스 타임을 고속으로 할 수 있는 효과가 있다.The driving circuit of the memory device according to the embodiment of the present invention optimizes the timing margin by generating a sense amplifier enable signal by directly detecting a word line driving signal with a timing margin between the word line and the sense amplifier enable signal. There is an effect that can speed up the access time of the chip.

Claims (3)

다수의 셀 어레이로 구성된 셀 블록,A cell block composed of a plurality of cell arrays, 외부 어드레스 신호를 입력받아 디코딩하여 상기 셀이 연결된 워드라인을 선택하는 워드라인 구동부,A word line driver to receive and decode an external address signal to select a word line to which the cell is connected; 상기 셀에 저장된 데이터를 감지하고 증폭하는 센스 앰프,A sense amplifier for sensing and amplifying data stored in the cell, 상기 워드라인 구동부의 출력 신호에 의해 워드라인 구동 검출 신호를 발생시키는 워드라인 구동 신호 검출부,A word line driving signal detector for generating a word line driving detection signal by an output signal of the word line driver; 상기 어드레스 신호의 변화에 따른 검출 신호와 워드라인 구동 검출 신호를 동시에 입력받아 상기 센스 앰프를 인에이블 시키는 센스 앰프 구동부를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 메모리 소자의 구동 회로.And a sense amplifier driver configured to receive the detection signal and the word line driving detection signal according to the change of the address signal to enable the sense amplifier at the same time. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 워드라인 구동 신호 검출부는 워드라인 구동부로부터 나온 다수 개의 워드라인 신호를 각각 게이트 입력으로 받고 VSS 에 소오스단이 연결되고 드레인단은 공통으로 연결된 NMOS 트랜지스터들과, 게이트 입력을 VSS 로 받고 외부전원이 소오스에 인가되며 드레인단이 상기 NMOS 트랜지스터들의 공통 드레인과 같이 연결된 한 개의 PMOS로 구성됨을 특징으로 하는 메모리 소자의 구동 회로.The word line driving signal detection unit receives a plurality of word line signals from the word line driving unit as a gate input, a source terminal is connected to VSS, and a drain terminal is commonly connected to a NSS transistor and a gate input is VSS. And a drain terminal connected to the source and connected to a common drain of the NMOS transistors. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 워드라인 구동 신호 검출부는 상기 PMOS 트랜지스터의 드레인 출력으로 워드라인 구동 검출 신호를 발생시키는 것을 특징으로 하는 메모리 소자의 구동 회로.And the word line driving signal detector generates a word line driving detection signal to a drain output of the PMOS transistor.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100378683B1 (en) * 2000-12-20 2003-04-07 주식회사 하이닉스반도체 Semiconductor Memory Device
KR100706056B1 (en) * 2001-10-04 2007-04-13 후지쯔 가부시끼가이샤 Nonvolatile semiconductor memory with improved sense amplifier operating margin
KR100949266B1 (en) * 2008-06-30 2010-03-25 주식회사 하이닉스반도체 Semiconductor memory device

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