KR20000056040A - Cell bus switch test apparatus polling based ATM and method thereof - Google Patents

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KR20000056040A KR1019990005058A KR19990005058A KR20000056040A KR 20000056040 A KR20000056040 A KR 20000056040A KR 1019990005058 A KR1019990005058 A KR 1019990005058A KR 19990005058 A KR19990005058 A KR 19990005058A KR 20000056040 A KR20000056040 A KR 20000056040A
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Abstract

PURPOSE: A method for testing a cell bus switch of a polling-based asynchronous transfer mode(ATM) is provided to efficiently perform a look-up test of the cell bus switch by connecting with an ATM network to supply in-band communication in the ATM cell bus switch utilized for ATM cell switching in a digital subscriber line-access multiplexer(DSLAM). CONSTITUTION: A method for testing a cell bus switch of a polling-based asynchronous transfer mode(ATM) comprises the steps of: initializing a register of a cubit when a test process is started; deciding whether the cubit has to be enabled to complete the test process if the cubit is disabled, and if the cubit is enabled, deciding whether an interrupt-based test has to be performed; if so, enabling an interrupt mask of a central processing unit(CPU) utilized in a corresponding board, and performing an interrupt-based loop back test; and if the interrupt-based test is not selected, performing a polling-based loop back test.

Description

폴링 베이스드 비동기 전송 모드의 셀 버스 스위치 테스트 장치 및 방법{Cell bus switch test apparatus polling based ATM and method thereof}Cell bus switch test apparatus and method for polling based asynchronous transmission mode

본 발명은 ADSL(Asymmetric Digital Subscriber Line), DSLAM(Digital Subscriber Line-Access Multiplexer), ATM,셀버스 스위칭 디바이스등에 사용될 수 있는 폴링 베이스드(Polling Based) ATM의 셀 버스 스위치 테스트 장치 및 방법에 관한 것으로, 특히 셀 버스 스위칭 디바이스의 성능 검증은 물론 해당 디바이스가 장착된 보드 및 시스템에 대한 신속한 기본 기능 검증이 가능하도록 한 것이다.The present invention relates to an apparatus and method for testing a cell bus switch of a polling based ATM that can be used in an asymmetric digital subscriber line (ADSL), a digital subscriber line-access multiplexer (DSLAM), an ATM, a cell bus switching device, and the like. In particular, it enables verification of the performance of cell bus switching devices as well as quick basic functional verification of the boards and systems on which they are mounted.

일반적으로 ADSL이란 기존의 데이터 모뎀을 대치하는 신기술로 전화국과 가입자사이에 설치된 전화선을 이용하여 음성 및 고속의 데이터 서비스를 동시에 제공할 수 있는 기술이다.In general, ADSL is a new technology that replaces an existing data modem. It is a technology that can simultaneously provide voice and high-speed data services by using a telephone line installed between a telephone company and a subscriber.

이중에서 DSLAM은 교환국에 설치되는 장비로서, 가입자로부터 받은 음성 및 데이터 신호를 분리하여 음성신호는 TDX-10 등의 회선 교환장치로 정합시키고 데이터는 전용의 데이터 교환장치로 정합시키는 시스템이다.Among them, DSLAM is a device installed in the exchange office. It separates voice and data signals received from subscribers, matches voice signals to circuit switching devices such as TDX-10, and matches data to dedicated data exchange devices.

본 발명은 이와같은 DSLAM 시스템에서 ATM셀 스위칭을 위해 이용되는 ATM 셀 버스 스위치 디바이스에 있어서, ATM망과의 접속을 근간으로 함과 동시에 제어용 인-밴드(In-band)통신을 제공하여 상용 프로그램의 대체효과를 가져오고 신속한 성능 검정이 가능하도록 하여 원가절감을 가져올 수 있도록 한 폴링 베이스드 비동기 전송 모드의 셀 버스 스위치 테스트 장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention provides an ATM cell bus switch device used for ATM cell switching in such a DSLAM system, and provides in-band communication for control based on a connection to an ATM network. It is an object of the present invention to provide an apparatus and method for testing a cell bus switch in a polling-based asynchronous transmission mode that can reduce costs by bringing substitution effect and enabling fast performance verification.

도 1은 본 발명에 따른 구성을 나타낸 블록도1 is a block diagram showing a configuration according to the present invention

도 2는 본 발명의 큐빗, ATM셀 버스 디바이스에 대한 루프-백 테스트에 대 한 시퀸스를 나타낸 동작 흐름도2 is an operational flow diagram illustrating a sequence for a loop-back test for a qubit, ATM cell bus device of the present invention.

도 3은 도 2에서 폴링을 베이스로 하는 루프 백 테스트의 상세 알고리즘을 나타낸 동작 흐름도이다FIG. 3 is an operational flowchart illustrating a detailed algorithm of the poll-based loop back test in FIG.

〈도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명〉<Explanation of symbols for main parts of drawing>

1-N : ATU-C모듈 10 : ATU-OC3모듈1-N: ATU-C module 10: ATU-OC3 module

20 : ATU-M모듈20: ATU-M module

이와같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 시스템에 장착되는 각각의 보드들은 ATM셀 스위치용 디바이스를 장착하도록 하고, 상기 디바이스는 유토피아 또는 ALI-25물리계층셀 인터페이스를 지원하며, 인렛-사이드(Inlet-Side)에서 주소변환,라우팅 헤더 삽입기능등의 다양한 ATM관련 기능들을 제공하도록 구성함을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention allows each board mounted in the system to be equipped with a device for ATM cell switch, and the device supports a utopia or ALI-25 physical layer cell interface, and an inlet-side (Inlet-). Side) is configured to provide various ATM related functions such as address translation and routing header insertion.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면을 참고로 하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 DSLAM에서의 셀 버스 스위칭 블록도로, ATU-C모뎀, 큐빗, 로컬 프로세서로 구성되어 ATU-M모듈(20)과의 데이터 송/수신을 수행하는 다수개의ATU-C모듈(1-N)과, 155Mbps ATM망에 접속되어 STM-3프레임을 처리하는 ATU-OC3모듈(10)과, 상기 ATU-C모듈(1-N)과 데이터 송/수신을 수행하는 ATU-M모듈(20)로 구성된 것으로, 도면중 미설명 부호 30은 셀 버스, 40은 콘트롤 버스이다.1 is a cell bus switching block diagram of a DSLAM of the present invention, comprising a plurality of ATU-C modems, a qubit, and a local processor to perform data transmission / reception with the ATU-M module 20 ( 1-N), an ATU-OC3 module 10 connected to a 155 Mbps ATM network to process STM-3 frames, and an ATU-M module performing data transmission / reception with the ATU-C module 1-N. In the figure, reference numeral 30 denotes a cell bus and 40 a control bus.

이와같이 구성된 본 발명의 작용을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the present invention configured as described above is as follows.

먼저, 도 2는 큐빗,ATM셀 버스 디바이스에 대한 루프-백 테스트에 대한 시퀸스를 나타낸 것으로, 테스트 과정이 시작되면 큐빗 레지스터를 초기화시키며(S1단계), 사용자가 큐빗을 인에이블 할 것인지를 판단하여 만일 사용자가 큐빗을 디스에이블시키면 테스트 과정을 종료한다(S3단계).First, FIG. 2 shows a sequence for a loop-back test for a qubit and ATM cell bus device. When the test process starts, the qubit register is initialized (step S1), and the user determines whether or not to enable the qubit. If the user disables the qubit, the test process ends (step S3).

그러나 사용자가 큐빗을 인에이블시키면, 인터럽트 베이스드 테스트 방식을 사용할 것인지의 여부를 판단한다(S4단계).However, if the user enables the qubit, it is determined whether to use the interrupt-based test method (step S4).

상기 S4단계에서 인터럽트 베이스드 테스트 방식이 선택되면 해당보드에서 사용하는 CPU의 인터럽트 마스크를 인에이블시킨 후 인터럽트 베이스드 루프-백 테스트를 수행한다(S5,S6단계).When the interrupt based test method is selected in step S4, the interrupt mask of the CPU used in the corresponding board is enabled, and then the interrupt based loop-back test is performed (steps S5 and S6).

그러나 상기 S4단계에서 사용자가 인터럽트 베이스드 테스트 방식을 사용하지 않으면 폴링 베이스드 루프백 테스트를 사용하고자 하는 것이므로 인터럽트 마스크 조작과정을 생략하고 폴링 베이스드 루프백 테스트를 수행한다(S7단계).However, if the user does not use the interrupt-based test method in step S4, the polling-based loopback test is to be used. Therefore, the interrupt mask operation is omitted and the polling-based loopback test is performed (step S7).

도 3은 도 2의 S7단계인 폴링을 베이스로 하는 루프 백 테스트의 상세 알고리즘을 나타낸 것이다.FIG. 3 illustrates a detailed algorithm of a loop back test based on polling, which is a step S7 of FIG. 2.

먼저, 테스트 시작시 Rx 셀 큐를 클리어시키고(S11단계), 이를 반복 확인하며(S12단계), 시험하고자 하는 보드가 장착된 슬롯 아이디(Slot ID)를 입력한다(S13단계).First, at the start of the test, the Rx cell queue is cleared (step S11), it is repeatedly checked (step S12), and a slot ID in which the board to be tested is mounted (step S13).

그리고 루프 백이 가능하도록 inVPI=0, inVCI=7, outCPI=0, outVCI=7로 큐빗 레지스터 파라메터를 설정하고(S14단계), ATM셀 페이로드 패턴, 테스트 타입 및 테스트 반복횟수의 테스트에 필요한 사용자 파라미터를 입력받는다(S15단계).Then set the qubit register parameters with inVPI = 0, inVCI = 7, outCPI = 0, outVCI = 7 to enable loop back (step S14), and the user parameters required for testing the ATM cell payload pattern, test type and test iterations. Receive the input (step S15).

다음에 패턴값을 업-데이트하여 페이로드와 패턴이 같도록 하고(S16단계), Tx셀 큐(queue)에 셀을 기록한다(S17단계).Next, the pattern value is updated to make the payload and the pattern the same (step S16), and the cell is recorded in the Tx cell queue (step S17).

여기서, Tx셀 큐에 대한 셀 기록이 실패하면 에러메시지를 출력한 후 종료하지만(S18,S19단계), Tx셀에 대한 셀 기록이 성공하면 Rx셀 큐를 읽는다(S20단계).Here, if the cell write for the Tx cell queue fails, an error message is output and then terminated (steps S18 and S19). If the cell write for the Tx cell succeeds, the Rx cell queue is read (step S20).

만일, 상기 Rx셀 큐에 대한 셀 읽기가 실패하면 에러메시지를 출력한 후 종료한다(S21,S22단계).If the cell read for the Rx cell queue fails, an error message is output and ends (steps S21 and S22).

이어 상기 기록된 셀과 읽어온 셀을 비교하여 패턴 매치(Pattern match)에 실패하면 에러상태를 출력한 후 다음단계를 수행하고(S23,S24단계), 패턴 매치에 성공하면 루프-백은 성공한 것이므로 반복횟수만큼 반복되었는지 검사하여 반복횟수만큼 반복되었으면 테스트를 종료하지만(S25단계), 반복횟수가 완료되지 않았으면 상기 S16단계로 가서 계속 진행한다.If the pattern match is failed after comparing the recorded cell with the read cell, an error condition is output and the next step is performed (steps S23 and S24). If the pattern match is successful, the loop-back is successful. If the number of repetitions is repeated and the number of repetitions is repeated, the test is terminated (step S25). If the number of repetitions is not completed, the process proceeds to step S16.

이상에서 설명한 바와같은 본 발명은 ATM셀 버스 스위칭 디바이스의 룩-업 테스트를 효과적으로 수행할 수 있음은 물론 해당 디바이스가 장착된 보드 및 시스템에 대한 신속한 기본 기능 검증이 가능한 장점이 있다.As described above, the present invention can effectively perform a look-up test of an ATM cell bus switching device, as well as a quick basic function verification for a board and a system equipped with the device.

Claims (3)

ATU-C모뎀, 큐빗, 로컬 프로세서로 구성되어 ATU-M모듈(20)과의 데이터 송/수신을 수행하는 다수개의 ATU-C모듈(1-N)과, 155Mbps ATM망에 접속되어 STM-3프레임을 처리하는 ATU-OC3모듈(10)과, 상기 ATU-C모듈(1-N)과 데이터 송/수신을 수행하는 ATU-M모듈(20)을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 폴링 베이스드 비동기 전송 모드의 셀 버스 스위치 테스트 장치.It consists of ATU-C modem, qubit, and local processor, which is connected to 155Mbps ATM network and multiple ATU-C modules (1-N) to perform data transmission / reception with ATU-M module 20. STM-3 Polling-based asynchronous, characterized in that it comprises an ATU-OC3 module 10 for processing a frame, and the ATU-M module 20 for performing data transmission and reception with the ATU-C module (1-N) Cell bus switch test device in transmission mode. 테스트 과정 시작시 상기 큐빗의 레지스터를 초기화시키는 제1단계와,A first step of initializing the register of the qubit at the start of a test process; 큐빗 인에이블여부를 판단하여 큐빗 디스에이블시 테스트 과정을 종료하고,큐빗 인에이블시, 인터럽트 베이스드 테스트 방식을 사용할 것인지의 여부를 판단하는 제2단계와,A second step of determining whether to enable the qubit and ending the test process when the qubit is disabled, and determining whether to use the interrupt-based test method when the qubit is disabled; 상기 제2단계에서 인터럽트 베이스드 테스트 방식이 선택되면 해당보드에서 사용하는 CPU의 인터럽트 마스크를 인에이블시킨 후 인터럽트 베이스드 루프-백 테스트를 수행하는 제3단계와,A third step of performing an interrupt based loop-back test after enabling an interrupt mask of a CPU used in a corresponding board when an interrupt based test method is selected in the second step; 상기 제2단계에서 인터럽트 베이스드 테스트 방식이 선택되지 않으면 폴링 베이스드 루프백 테스트를 수행하는 제4단계로 이루어짐을 특징으로 하는 폴링 베이스드 비동기 전송 모드의 셀 버스 스위치 테스트 방법.And a fourth step of performing a polling-based loopback test if the interrupt-based test method is not selected in the second step. 제 2항에 있어서, 상기 제4단계의 폴링 베이스드 루프백 테스트가,The method of claim 2, wherein the polling-based loopback test of the fourth step, 테스트 시작시 Rx 셀 큐를 클리어시키고 이를 반복 확인하는 제1단계와,A first step of clearing and repeatedly checking the Rx cell queue at the start of the test, 시험하고자 하는 보드가 장착된 슬롯 아이디를 입력하고, 큐빗 레지스터 파라미터를 설정하며, 사용자 파라미터를 입력하고, 패턴값을 업-데이트한 후 Tx셀 큐에 셀을 기록하는 제2단계와,A second step of inputting a slot ID equipped with a board to be tested, setting a cubit register parameter, inputting a user parameter, updating a pattern value, and writing a cell to a Tx cell queue; Tx셀 큐에 대한 셀 기록 실패여부를 판단하여 성공시 Rx셀 큐를 읽는 제3단계와,Determining a cell write failure for the Tx cell queue and reading the Rx cell queue upon success; Rx셀 큐에 대한 셀 읽기 실패 여부를 판단하여 성공시 기록된 셀과 읽어온 셀을 비교하는 제4단계와,Determining a cell read failure for the Rx cell queue and comparing the read cell with the read cell upon success; 상기 제4단계에서 기록된 셀과 읽어온 셀을 비교하여 패턴 매치에 성공시 테스트를 종료하는 제5단계로 이루어짐을 특징으로 하는 폴링 베이스드 비동기 전송 모드의 셀 버스 스위치 테스트 방법.And a fifth step of terminating the test when the pattern match is successful by comparing the cell recorded in the fourth step with the read cell.
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