KR20000025598A - Method for testing switch in asynchronous transfer mode exchange - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 비동기 전달 모드(ATM) 교환기에서 스위치 시험 방법에 관한 것으로, 특히 아웃 오브 서비스(Out Of Service) 상태에서 경로시험 대상 포트의 위치에 따라 기본 경로 시험, 로칼 경로 시험, 글로벌 경로 시험을 호처리 블록, 가입자/중계선 정합 블록 및 시험 장치와 연계하여 비동기 전달 모드(ATM) 교환기에서 스위치 시험 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a switch test method in an asynchronous transfer mode (ATM) exchange, and in particular, the basic path test, the local path test, the global path test according to the location of the path test target port in the out of service state. A switch test method in an asynchronous transfer mode (ATM) exchange in conjunction with a processing block, a subscriber / relay line matching block, and a test device.
일반적으로, ATM 스위칭 시스템의 셀 경로 시험을 위한 연계 설정은 크게 스위치와 가입자간, 스위치와 스위치간, 프로세서와 스위치간으로 설정되고 각 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS:ATM Local Switching Subsystem)에서 ATM 셀 테스트 보드(ACTA Board)를 통해 테스트 셀(TEST Cell)을 발생시킨다.In general, the association setup for cell path testing of ATM switching systems is largely set between switches and subscribers, between switches and switches, processors and switches, and ATM cells in each ATM Local Switching Subsystem (ALS). A test cell is generated through the test board.
상기 ATM 셀 테스트 장치는 반환(return)된 상기 테스트 셀(Test cell)을 분석하여 운용자에게 알려주게 된다. 경로 테스트 셀(Path test cell)은 각 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)안의 테스트 장치(Test Device)에 의해 발생하며, 상기 테스트 장치는 경로(Path)를 경유하여 반환된 테스트 셀을 분석(Analysis)한다.The ATM cell test apparatus analyzes the returned test cell and informs the operator. The path test cell is generated by a test device in each ATM local switching subsystem (ALS), which analyzes the test cell returned via the path. do.
기능상 경로 시험(Functional Path Test)은 연결 시험(Connection Test)과 성능 시험(Performance Test)이 가능한데, 상기 연결 시험(Connection Test)은 한 개의 셀 테스트(One cell test)를 통해 확인 할 수 있으며, 상기 성능 시험(Performance Test)은 항등 비트율(CBR:Constant Bit Rate)로 대역폭 셀 테스트(Bandwidth Cell Test)를 통해 확인할 수 있다.Functional Path Test (Functional Path Test) is possible to the Connection Test (Connection Test) and Performance Test (Performance Test), the Connection Test (Connection Test) can be confirmed through one cell test (One cell test), The performance test can be confirmed through a bandwidth cell test at a constant bit rate (CBR).
도 1은 ATM 스위칭 시스템의 구조를 나타낸 시스템 구성도이다. ATM 스위치 구조에서 시험 가능한 경로(Path)와 각 디바이스(device)와 스위치(switch)의 위치를 표시한다.1 is a system configuration diagram showing the structure of an ATM switching system. In the ATM switch architecture, the testable path and the location of each device and switch are indicated.
상기 ATM 스위칭 시스템의 구조는 ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS:ATM Central Switching Subsystem)(200)내에 중앙 스위치(CSW:Central Switch)(210) 및 운영 유지 프로세서(OMP: Operating and Maintenance Processor)(220)로 구성되어 있고, ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS:ATM Local Switching Subsystem)(300)는정합 스위치(ASW:Access Switch)(311), 인터페이스 모듈(Interface Module)들(312, 313), 호 연결 제어 프로세서(CCCP:Call and Connection Control Processor)(314) 및 ATM 셀 테스트 보드 조립체(ACTA: ATM Cell Test Board Assembly)(319)로 구성되어 있다.The structure of the ATM switching system includes a central switch (CSW) 210 and an operating and maintenance processor (OMP) 220 within an ATM Central Switching Subsystem (ACS) 200. ATM Local Switching Subsystem (ALS) 300 includes: an access switch (ASW) 311, interface modules 312 and 313, and call connection control. It consists of a processor (CCP) and a call cell connection board assembly (ACTA) 319.
운용자 터미널(100)은 ATM 카드가 장착되어 이더넷 케이블(Ethernet Cable)로 64x64 또는 256x256의 스위치 구조를 가진 상기 ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS)(200)과 연결되어 있고, 상기 ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS)(200)은 다수의 상기 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)(300)으로 구성된다.The operator terminal 100 is connected to the ATM Central Switching Subsystem (ACS) 200 equipped with an ATM card and having a switch structure of 64x64 or 256x256 with an Ethernet cable. ACS) 200 is comprised of a plurality of said ATM local switching subsystems (ALS) 300.
상기 ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS)(200)가 64x64의 스위치 구조를 가지면 최대 8대 까지 32x32 스위치 구조의 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)(310)을 연결할 수 있으며, 상기 ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS)(200)가 256x256의 스위치 구조를 가지면 최대 32대까지 32x32 스위치 구조의 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)(310)을 연결할 수 있고 사용자-네트워크 인터페이스(UNI) 및 교환기와 교환기 간을 연결되는 네트워크-네트워크 인터페이스(NNI)와 연결되어 사용된다.When the ATM central switching subsystem (ACS) 200 has a 64x64 switch structure, up to eight ATM local switching subsystems (ALS) 310 of a 32x32 switch structure may be connected, and the ATM central switching subsystem ( If the ACS) 200 has a 256x256 switch structure, up to 32 ATM local switching subsystems (ALS) 310 of 32x32 switch structure can be connected and a user-network interface (UNI) and a connection between the exchange and the exchange. Used in conjunction with the Network-Network Interface (NNI).
도 2에 도시한 경로 테스트 실행(Path Test Execution) 구성도는, 도 1에서 도시된 구조에서 이를 동작 시키기 위한 상위 소프트웨어와 ATM 셀 테스트 보드 (ACTA)(319) 펌 웨어(Fireware)간 상호 동작을 표시한다.The path test execution configuration shown in FIG. 2 illustrates the interaction between the upper software and the ATM cell test board (ACTA) 319 firmware for operating the same in the structure shown in FIG. Display.
경로 시험시 대역 할당은 상기 ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS:ATM Central Switching System), 인터페이스 모듈(IM:Interface Module) 대역 할당 및 반환을 수행 하는 글로벌 시험(Global Test), 인터페이스 모듈(IM) 대역 할당 및 반환 기능을 수행하는 로컬 시험(Local Test) 및 상기 ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS:ATM Central Switching Subsystem), 인터페이스 모듈(IM) 대역 할당 및 반환을 수행하는 유니트 시험(Unit Test)이 있다.In the path test, the band allocation is performed by the ATM Central Switching System (ACS), the Interface Test (IM), the Global Test (IM), and the Interface Module (IM) Band Assignment. And a local test that performs a return function, an ATM Central Switching Subsystem (ACS), and a unit test that performs interface module (IM) band allocation and return.
비동기 전송 모드(ATM) 교환기에서 사용자 셀(User Cell)이 흐를 수 있는 모든 경로(Path)에 대해 테스트 셀(Test Cell)을 사용하여 현재 스위치 경로나 포트에 대한 성능을 측정한 것으로는 기존에는 서비스 진행(In Service) 상태에서 성능을 측정하기 때문에 가입자 보드인 인터페이스 모듈 타입(IM Type)별 링크 대역 할당이 많았고 사용자 셀(User Cell)이 함께 흐르기 때문에 성능 판단의 기준이 불분명하였다.Performance measurements on current switch paths or ports using a test cell for all paths through which a user cell can flow in an asynchronous transfer mode (ATM) exchange have not been available. Since performance was measured in the In Service state, link band allocation for each interface module type (IM type), which is a subscriber board, was large, and a criterion for performance determination was unclear because user cells flowed together.
셀 경로 시험은 각 링크의 최대 대역에 제한된 용량만 시험 가능하지만 시험 셀(Test Cell)이 흐르는 실제 링크(Link)는 가입자 보드인 인터페이스 모듈 레벨(Interface Module Level)에서 루프백되는 것이기 때문에 링크 타입(Link Type)에 영향을 받을 필요가 없으며 단지 스위치 내에서 스위치 경로 시험을 할 경우 ATM 셀 테스트 보드 조합체(ACTA:ATM Cell Test Board Assembly) PBA가 발생시킬 수 있는 최대 용량으로 성능 시험을 해야한다. ATM 로칼 스위칭 서브 시스템(ALS)에 대한 경로 시험이기 때문에 인터페이스 모듈에 영향을 받는 제약 조건은 최소화해야 한다.The cell path test can only test limited capacity in the maximum band of each link, but since the actual link through which the test cell flows is looped back at the interface module level, which is the subscriber board, the link type It is not necessary to be affected by the type, and only the switch path test within the switch should be performed at the maximum capacity that an ATM Cell Test Board Assembly (ACTA) PBA can generate. Because it is a path test for the ATM local switching subsystem (ALS), the constraints that are affected by the interface module should be minimized.
그러나, 인터페이스 모듈 타입(Interface Module Type)에 따라 각 링크(Link)의 최대 대역에 제한된 용량(2M/45M/155M:DS1E/DS3/STM-1)만 시험 가능하고 서비스 중에 사용자 셀(User cell)이 흐르는 경우 시험 셀에 대한 정확한 측정이 어려운 문제점이 있다.However, depending on the Interface Module Type, only the limited capacity (2M / 45M / 155M: DS1E / DS3 / STM-1) in the maximum bandwidth of each link can be tested and the user cell in service If this flows, there is a problem that it is difficult to accurately measure the test cell.
본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해결하기 위하여 제안된 것으로, 본 발명의 목적은 셀 경로 시험은 각 링크의 최대 대역에 제한된 용량만 시험 가능하지만 시험 셀이 흐르는 링크(Link)는 인터페이스 모듈 레벨(Interface Module Level)에서 스위치 포트들간이므로 단지 스위치 내에서 경로 시험을 할 경우 ATM 셀 테스트 보드 조합체(ACTA)가 발생시킬 수 있는 최대 용량으로 성능시험을 하기 위한 비동기 전송 모드(ATM) 교환기에서 스위치 시험 방법을 제공한다.The present invention has been proposed to solve the above problems, and an object of the present invention is to test only a limited capacity in the maximum band of each link, but the link through which the test cell flows is interface module level (Interface). At the module level, the switch test method is used in an asynchronous transfer mode (ATM) exchange to perform performance tests with the maximum capacity that an ATM cell test board assembly (ACTA) can generate if only a path test is performed within the switch. to provide.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 비동기 전달 모드(ATM) 교환기에 있어서, 호처리 블록, 가입자/중계선 정합 블록, 시험장치와 연계하여 비동기 전송 모드(ATM) 교환기에서 스위치 시험을 하기 위한 경로시험 대상 포트의 위치에 따라 기본 경로 시험 단계; 로칼 경로 시험 단계; 및 글로벌 경로 시험 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 비동기 전송 모드 교환기에서 스위치 시험 방법을 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a switch test in an asynchronous transfer mode (ATM) exchange, the asynchronous transfer mode (ATM) exchange in conjunction with the call processing block, subscriber / relay line matching block, the test apparatus A basic path test step according to a location of a path test target port; Local path testing step; And it provides a switch test method in the asynchronous transmission mode switch, characterized in that it comprises a global path test step.
도 1은 ATM 스위칭 시스템의 구조를 나타낸 시스템 구성도,1 is a system configuration diagram showing the structure of an ATM switching system;
도 2는 경로 테스트 실행(Path Test Execution) 블럭도,2 is a path test execution block diagram;
도 3은 본 발명에 의한 경로 시험 기능 할당의 블럭도,3 is a block diagram of a path test function assignment according to the present invention;
도 4는 단일 ATM 로컬 스위칭 서브시스템(ALS)내의 USER_PORT와 연결된 인터페이스 모듈(IM)까지의 경로 시험을 나타낸 블록도,4 is a block diagram illustrating a path test to an interface module IM associated with USER_PORT in a single ATM local switching subsystem ALS;
도 5는 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS) 내에 ACS_PORT와 연결된 ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS)내의 중앙 스위치(CSW)까지의 셀 경로 시험을 나타낸 블럭도.FIG. 5 is a block diagram illustrating a cell path test to a central switch (CSW) in an ATM central switching subsystem (ACS) connected to an ACS_PORT in a single ATM local switching subsystem (ALS).
도 6은 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내 IPC 셀 경로 시험을 나타낸 블록도,6 is a block diagram illustrating an IPC cell path test in an ATM local switching subsystem (ALS).
도 7은 동일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내 IMS간 셀 경로 시험을 나타낸 블럭도,7 is a block diagram illustrating inter-IMS cell path tests within the same ATM local switching subsystem (ALS).
도 8은 호 연결제어 프로세서(CCCP)와 타 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)간 셀 경로 시험의 블럭도,8 is a block diagram of a cell path test between a call connection control processor (CCCP) and an interface module (IM) in another ATM local switching subsystem (ALS).
도 9는 서로 다른 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)간 셀 경로 시험을 나타낸 블록도.9 is a block diagram illustrating cell path tests between interface modules IM in different ATM local switching subsystems (ALS).
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *
100: 운영자 터미널100: operator terminal
200: ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS:ATM Central Switching Subsystem )200: ATM Central Switching Subsystem (ACS)
210: 중앙 스위치(CSW:Central Switch)210: central switch (CSW)
220: 운영 유지 프로세서(OMP:Operating and Maintenance Processor)220: Operating and Maintenance Processor (OMP)
221: 스위치 경로 시험 관리 블록(SPMF:Switch Path Test Management Block)221: Switch Path Test Management Block (SPMF)
300: ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS:ATM Local Switching Subsystem)300: ATM Local Switching Subsystem (ALS)
311, 361: 정합 스위치(ASW:Access Switch)311, 361: access switch (ASW)
312, 313: 인터페이스 모듈(Interface Module)312, 313: Interface Module
314: 호 연결 제어 프로세서(CCCP:Call and Connection Control Processor)314: Call and Connection Control Processor (CCCP)
315: 스위치 경로 시험 조절 블록(SPTF:Switch Path Test Handling Block)315: Switch Path Test Handling Block (SPTF)
316: ALS내에 유지 라이브러리 보드(LIBMLF:LIBrary on Maintenance in ALS)316: library on maintenance in ALS (LIBMLF)
317: 가입자 인터페이스 모듈(SIM:Subscriber Interface Module)/트렁크317: Subscriber Interface Module (SIM) / Trunk
인터페이스 모듈(TIM:Trunk Interface Module)Trunk Interface Module (TIM)
318: 인터페이스 모듈 제어기(IMC: Interface Module Controller)318: Interface Module Controller (IMC)
319: ATM 셀 테스트 보드 조립체(ACTA: ATM Cell Test Board Assembly)319: ATM Cell Test Board Assembly (ACTA)
390: UNI 링크 자원 조절 기능(ULRHF:UNI Link Resource Handling Function )/NNI 링크 자원 조절 기능(NLRHF:NNI Link Resource Handling Function)/스위치 링크 자원 조절 기능(SLRHF:Switch Link Resource Handling Function)390: UNI Link Resource Handling Function (ULRHF) / NNI Link Resource Handling Function (NLRHF) / Switch Link Resource Handling Function (SLRHF)
321, 331, 360: 인터페이스 모듈(Interface Module)321, 331, 360: Interface Module
330: 셀 먹스/디먹스 보드 조립체(CMDA:Cell Mux/Demux board Assembly)330: Cell Mux / Demux board Assembly (CMDA)
UNI: 사용자-네트워크 인터페이스(User Network Interface)UNI: User Network Interface
NNI: 네트워크-네트워크 인터페이스(Network Network Interface)NNI: Network Network Interface
LSIH: 1.544Mbps(DS-1) 저속 가입자 인터페이스 하드웨어 블록LSIH: 1.544 Mbps (DS-1) low speed subscriber interface hardware block
(Low-rate Subscriber Interface Hardware Block)(Low-rate Subscriber Interface Hardware Block)
LSIM: 1.544Mbps(DS-1) 저속 가입자 인터페이스 모듈LSIM: 1.544 Mbps (DS-1) Low Speed Subscriber Interface Module
(Low-rate Subscriber Interface Module)Low-rate Subscriber Interface Module
MSIH: 44.736Mbps(DS-3) 중속 가입자 인터페이스 하드웨어 블록MSIH: 44.736 Mbps (DS-3) medium speed subscriber interface hardware block
(Medium-rate Subscriber Interface Hardware Block)(Medium-rate Subscriber Interface Hardware Block)
MSIM: 44.736Mbps(DS-3) 중속 가입자 인터페이스 모듈MSI: 44.736 Mbps (DS-3) medium speed subscriber interface module
(Medium-rate Subscriber Interface Module)(Medium-rate Subscriber Interface Module)
BSIM: 155Mbps(STM-1) 기본 속도 가입자 인터페이스 모듈BSIM: 155 Mbps (STM-1) Base Rate Subscriber Interface Module
(Basic-rate Subscriber Interface Module)(Basic-rate Subscriber Interface Module)
BSIH: 155Mbps(STM-1) 기본 속도 가입자 인터페이스 하드웨어 블록BSIH: 155 Mbps (STM-1) native rate subscriber interface hardware block
(Basic-rate Subscriber Interface Hardware Block)(Basic-rate Subscriber Interface Hardware Block)
BTIM: 155Mbps(STM-1) 기본 속도 트렁크 인터페이스 모듈BTIM: 155 Mbps (STM-1) native speed trunk interface module
(Basic-rate Trunk Interface Module)(Basic-rate Trunk Interface Module)
BTIH: 155Mbps(STM-1) 기본 속도 트렁크 인터페이스 하드웨어 블록BTIH: 155 Mbps (STM-1) native speed trunk interface hardware block
(Basic-rate Trunk Interface Hardware Block)(Basic-rate Trunk Interface Hardware Block)
HTIM: 622Mbps(STM-4) 고속 트렁크 인터페이스 모듈HTIM: 622Mbps (STM-4) High Speed Trunk Interface Module
(High-speed Trunk Interface Module)(High-speed Trunk Interface Module)
HTIH: 622Mbps(STM-4) 고속 트렁크 인터페이스 하드웨어 블록HTIH: 622Mbps (STM-4) High Speed Trunk Interface Hardware Block
(High-speed Trunk Interface Hardware Block )(High-speed Trunk Interface Hardware Block)
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 자세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
기능상 경로 시험(Functional Path Test)은 연결 시험(Connection Test)과 성능 시험(Performance Test)이 가능한데, 상기 성능 시험은 INS(In service)/OOS(Out of service)로 구분하여 기능을 세분화 한다.Functional Path Test (Functional Path Test) can be a connection test (Connection Test) and Performance Test (Performance Test), the performance test is divided into INS (In service) / OOS (Out of service) to subdivide the function.
상기 서비스가 제공 안되는 아웃 오브 서비스(OOS:Out Of Service) 성능 시험은 새로 추가된 성능 시험으로 인터페이스 모듈 타입(IM type: 2M,45M,155M)에 무관하게 ATM 셀 테스트 보드 조립체(ACTA)(319)가 발생할 수 있는 최대 대역폭(Bandwidth)으로 시험(Test)이 가능하며 주로 수행되는 시기는 초기 설치시, 확장시 고장으로 인한 보드 교체시 서비스 에러율이 높아서 인터페이스 모듈 성능 시험시 사용가능하다.The Out of Service (OOS) performance test, which is not provided with the service, is a newly added performance test, and is an ATM cell test board assembly (ACTA) 319 regardless of the interface module type (IM type: 2M, 45M, 155M). Test is possible with the maximum bandwidth that can occur.It is mainly used when testing the performance of interface module because the service error rate is high when the board is replaced due to a failure during expansion.
상기 인 서비스(INS:In Service) 성능 시험은 종래의 셀 경로 시험(Cell Path Test)에 해당하는 시험으로 서비스 중인 포트에 영향을 미치지 않아야 하고 인터페이스 타입(IM type)에 의존적인 시험만 가능하며 해당 포트가 서비스 중이면 잔여 대역에 대해서만 시험이 가능하며, 서비스 중 특정 인터페이스 모듈(IM) 또는 포트(port)의 동작 확인시 사용가능하다.The INS (In Service) performance test is a test corresponding to a conventional cell path test, which should not affect the serviced port, and can only test depending on the interface type (IM type). If the port is in service, only the remaining bands can be tested and used to check the operation of a particular interface module (IM) or port during service.
연결성(Connection) 시험은 인 서비스/아웃 오브 서비스(INS/OOS)와 무관하게 시험(Test)하며 하나의 셀 테스트(One Cell test)를 통해 측정한다. 이는 하나의 셀(One cell) 만을 사용하므로 대역의 큰 손실이 없이 언제든지 가능하다.The connection test is a test regardless of in service / out of service (INS / OOS) and is measured through a one cell test. Since only one cell is used, this can be done at any time without significant loss of bandwidth.
도 3은 본 발명에 의한 경로 시험 기능 할당의 구성도이다.3 is a block diagram of the path test function assignment according to the present invention.
경로 시험 기능은 호 처리 블록, 가입자/중계선 정합 블록, 시험장치등과 연계하여 ATM교환 시스템의 스위치 경로 시험을 수행한다. 경로 시험은 연결 상태와 성능 상태 시험, 경로 시험 내역 출력, 경로 시험 중지등으로 구분할 수 있다.The path test function performs switch path tests of ATM switching systems in conjunction with call processing blocks, subscriber / relay line matching blocks, and test equipment. Path tests can be divided into connection and performance test, path test history output, and path test stop.
비동기 전달 모드(ATM) 교환기에서 기본 경로 실험, 로칼 경로 실험 및 글로벌 경로 시험등의 상기 경로 시험은 ATM 교환 시스템의 스위치 경로를 다음과 같이 구분하여 수행한다.The path test such as basic path test, local path test and global path test in an asynchronous transfer mode (ATM) exchange is performed by dividing the switch path of the ATM switching system as follows.
<기본 경로 시험><Basic Path Test>
○ 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 USER_PORT와 연결된 인터페이스 모듈(IM)까지의 경로 시험O Test path to interface module (IM) connected to USER_PORT in a single ATM local switching subsystem (ALS)
○ 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 ACS_PORT와 연결된 중앙 스위치(CSW)까지의 경로 시험O Test path to the central switch (CSW) connected to ACS_PORT in a single ATM local switching subsystem (ALS).
○ 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 IPC_PORT와 연결된 호 연결 제어 프로세서(CCCP)까지의 경로 시험O Tests the path to the call connection control processor (CCCP) associated with IPC_PORT within a single ATM local switching subsystem (ALS).
<로칼 경로 시험><Local path test>
○ 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)과 인터페이스 모듈(IM)간의 경로 시험O Path test between interface module (IM) and interface module (IM) in a single ATM local switching subsystem (ALS)
<글로벌 경로 시험><Global Path Test>
○ 임의의 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 호 연결 제어 프로세서(CCCP)와 다른 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)간의 경로 시험O A path test between a call connection control processor (CCCP) in any ATM local switching subsystem (ALS) and an interface module (IM) in another ATM local switching subsystem (ALS).
○ 임의의 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)과 다른 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)간의 경로 시험O A path test between an interface module (IM) in any ATM local switching subsystem (ALS) and an interface module (IM) in another ATM local switching subsystem (ALS).
도 3을 참조하면, 운용자 터미널(100)에서 스위치 경로 실험 핸들링 블록(SPMF:Switch Path Test Handling Block)(221)으로 시험 경로에 따라 기본 경로 시험(Unit Path Test), 로칼 경로 시험(Local Path Test), 글로벌 경로 시험(Global Path Test)의 MMC(Man-Machine Command) 명령어(TEST-UNIT-PATH, TEST-LOCA-PATH 및 TEST-GLOB-PATH)를 입력한다.Referring to FIG. 3, a switch path test handling block (SPMF) in the operator terminal 100 may be a unit path test or a local path test according to a test path. ), Enter the Man-Machine Command (MMC) commands (TEST-UNIT-PATH, TEST-LOCA-PATH, and TEST-GLOB-PATH) of the Global Path Test.
상기 교환기 경로 실험 핸들링 블록(SPMF:221)은 상기 MMC(Man Machine Command) 명령어를 입력받아 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)내의 스위치 경로 시험 관리 블록(SPTF:Switch Path Test Management Block)(315)으로 각 경로 시험에 해당하는 글로벌 경로 시험을 수행하도록 요구하는 신호(I_MmcGlobPathTestReq), 로컬 경로 시험을 요구하는 신호(I_MmcLocaPathTestReq), 기본 경로 시험을 수행하도록 요구하는 신호(I_MmcUnitPathTestReq)를 전송한다.The switch path test handling block (SPMF) 221 receives the Man Machine Command (MMC) command and switches a switch path test management block (SPTF) in a call connection control processor (CCCP) 314 (315). ), A signal (I_MmcGlobPathTestReq) requesting to perform a global path test corresponding to each path test, a signal (I_MmcLocaPathTestReq) requiring a local path test, and a signal (I_MmcUnitPathTestReq) requiring a basic path test are transmitted.
상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)내에 상기 경로 시험 요구 신호를 입력받아 스위치 경로 시험 조절 블록(SPTF)(315)에서 UNI 링크/NNI 링크/스위치 링크 자원 조절 기능(ULRHF/NLRHF/SLRHF)(317)로 각 링크에 대한 각 UNI 링크 자원 조절 기능 블록(ULRHF), NNI 링크 자원 조절 기능 블록(NLRHF), 스위치 포트에 대한 대역을 할당하고 해제하는 라이브러리를 호출한다.The UNI Link / NNI Link / Switch Link Resource Control Function (ULRHF / NLRHF / SLRHF) is received from the switch path test control block (SPTF) 315 by receiving the path test request signal into the call connection control processor (CCCP) 314. 317 calls the UNI link resource control function block (ULRHF), the NNI link resource control function block (NLRHF), and the library for allocating and releasing bands for the switch port.
상기 라이브러리는 상기 UNI 링크 자원 조절 기능 블록(ULRHF)으로 대역 할당을 요구하는 라이브러리(L_SPC_ResoAlloc) 및 할당 받았던 대역에 대한 해제를 요구하는 라이브러리(L_SPC_ResoDealloc)를 호출하고, 상기 NNI 링크 자원 조절 기능 블록(NLRHF)으로 대역 할당을 요구하는 라이브러리(L_PathTestRQ) 및 할당 받았던 대역에 대한 해제를 요구하는 라이브러리(L_PathTestDel)를 호출하며, 스위치 포트에 대한 대역 할당을 요구하는 라이브러리(L_TestPathSel) 및 대역 해제를 요구하는 라이브러리(L_TestPathRel)를 호출한다.The library calls the library L_SPC_ResoAlloc requesting band allocation and the library L_SPC_ResoDealloc requesting release of the allocated band to the UNI link resource control function block ULRHF, and the NNI link resource control function block NLRHF. Call library (L_PathTestRQ) that requires band allocation and library (L_PathTestDel) that requires release of allocated bands, and call library (L_TestPathSel) that requires band allocation for switch ports, and L_TestPathRel) is called.
상기 UNI 링크/NNI 링크/스위치 링크 자원 조절 기능(ULRHF/NLRHF/SLRHF)(317)에서 대역을 할당하고 해제한 후 상기 스위치 경로 시험 조절 블록(SPTF)(315)으로 상기 라이브러리의 대역 할당 및 해제에 대한 결과(OK/NOK)를 제공한다.Allocating and releasing bands in the UNI Link / NNI Link / Switch Link Resource Conditioning Function (ULRHF / NLRHF / SLRHF) 317 and then allocating and releasing bands of the library to the Switch Path Test Control Block (SPTF) 315. Gives the result (OK / NOK).
상기 스위치 경로 시험 조절 블록(SPTF)(315)은 인터페이스 모듈(IM)(320)내의 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller:318)로 경로의 시작/종료에 따라 경로 시험 시작시 루프백을 하기 위해 가상 경로 식별자/가상 채널 식별자(VPI/VCI), 라우팅 태그(Routing Tag)의 정보(I_TestCellLoopBackInfo) 및 경로 시험 종료시 루프백을 종료하기 위하여 상기 가상 경로 식별자/가상 채널 식별자(VPI/VCI), 라우팅 태그(Routing Tag)의 정보를 상기 인터페이스 모듈 제어기(318)로 보내기 위한 신호(I_TestCellLoopBackEnd)를 전송한다.The switch path test control block (SPTF) 315 is an interface module controller (IM Controller) 318 in the interface module (IM) 320 to virtually loopback at the start of the path test in accordance with the start / end of the path. Virtual channel identifier (VPI / VCI), routing tag information (I_TestCellLoopBackInfo) and the virtual path identifier / virtual channel identifier (VPI / VCI), routing tag (Routing Tag) to terminate loopback at the end of a path test A signal (I_TestCellLoopBackEnd) for transmitting the information of the interface module controller 318 is transmitted.
상기 인터페이스 모듈 제어기(318)는 상기 스위치 경로 시험 조절 블록(SPTF)(315)으로 경로 시험 시작시 루프백을 하기 위해 가상 경로 식별자/가상 채널 식별자(VPI/VCI), 라우팅 태그(Routing Tag)의 정보(I_TestCellLoopBackInfo)의 응답 신호(N_LoopBackInfoAck) 및 경로 시험 종료시 루프백을 종료하기 위하여 상기 가상 경로 식별자/가상 채널 식별자(VPI/VCI), 라우팅 태그(Routing Tag)의 정보의 응답 신호(N_LoopBackEndAck)를 제공한다.The interface module controller 318 is a switch path test control block (SPTF) 315 to the virtual path identifier / virtual channel identifier (VPI / VCI), routing tag (Routing Tag) information to loop back at the start of the path test A response signal (N_LoopBackInfoAck) of (I_TestCellLoopBackInfo) and a response signal (N_LoopBackEndAck) of information of the virtual path identifier / virtual channel identifier (VPI / VCI) and routing tag (Routing Tag) are provided to end the loopback when the path test ends.
상기 응답 신호를 전송받아 경로 시험의 시작과 종료를 알리고 종료시 결과를 받는 라이브러리인 ATM 국소 스위칭 서브시스템(ALS)내에 유지 라이브러리 보드(LIBMLF: Library on Maintenance in ALS)에서 상기 ATM 셀 테스트 보드 조립체(ACTA)(319)로 경로 시작/중지에 따라 경로 시험 시작 알림 신호(I_PathTestStart) 및 시험중인 경로 시험을 중지 요구하는 신호(I_PathTestStopReq)를 전송한다.The ATM cell test board assembly (ACTA) in a Library on Maintenance in ALS (LIBMLF) in an ATM Local Switching Subsystem (ALS), which is a library that receives the response signal to signal the beginning and end of a path test and receives a result upon termination In step 319, a path test start notification signal I_PathTestStart and a signal I_PathTestStopReq requesting to stop the path test under test are transmitted according to the path start / stop.
상기 ATM 셀 테스트 보드 조립체(ACTA)(319)에서 상기 ATM 국소 스위칭 서브시스템(ALS)내에 유지 라이브러리 보드(LIBMLF)로 경로 시작/중지에 따라 경로시험 시작 알림에 대한 응답 신호(N_PathTestAck) 및 경로 시험 중지 요구에 대한 응답 신호(N_PathTestStopAck)를 전송하고, 경로 시험 종료시 시험한 결과 값에 대한 신호(N_PathTestRslt)를 전송한다.Response signal (N_PathTestAck) and path test for a path test start notification according to a path start / stop from the ATM cell test board assembly (ACTA) 319 to the maintenance library board LIBMLF in the ATM local switching subsystem ALS. A response signal (N_PathTestStopAck) for the stop request is transmitted, and a signal (N_PathTestRslt) for the result value tested at the end of the path test is transmitted.
상기 스위치 경로 시험 관리 블록(SPTF)(315)에서 상기 상기 스위치 경로 실험 핸들링 블록(SPMF)(221)으로 시험 경로에 따라 글로벌 경로 시험을 수행한 결과 값을 전송하는 신호(N_MmcGlobPathTestRslt), 로칼 경로 시험을 수행한 결과 값을 전송하는 신호(N_MmcLocaPathTestRslt), 기본 경로 시험을 수행한 결과 값을 전송하는 신호(N_MmcUnitPathTestRslt)를 전송한다.A signal (N_MmcGlobPathTestRslt) for transmitting a result value of performing a global path test according to a test path from the switch path test management block (SPTF) 315 to the switch path test handling block (SPMF) 221, and a local path test. It transmits a signal (N_MmcLocaPathTestRslt) that transmits the result value, and a signal (N_MmcUnitPathTestRslt) that transmits the result value of the basic path test.
또한, 각각 수행되는 교환기에서의 경로(Path) 시험은 시험중에 중지될 수 있고, 현재 수행중인 경로 시험 내용을 표 1과 같이 출력해 볼 수 있다.In addition, the path test at each exchange may be stopped during the test, and the content of the path test currently being performed may be output as shown in Table 1.
우선 표 1에 나타낸 용어 정의를 먼저 간략하게 설명한다.First, the term definitions shown in Table 1 are briefly described.
저속 가입자 인터페이스 하드웨어 블록(LSIH:Low-rate Subscriber Interface Hardware Block)은 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)를 포함하지 않은 나머지 가입자 보드 하드웨어이며, 저속 가입자 인터페이스 모듈(LSIM:Low-rate Subscriber Interface Module)은 1.544 Mbit/s(DS1급)의 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)를 포함한 가입자 인터페이스 인터 페이스 모듈이다.The Low-rate Subscriber Interface Hardware Block (LSIH) is the remaining subscriber board hardware that does not include an Interface Module Controller (IM Controller). The Low-rate Subscriber Interface Module (LSIM) is 1.544. Subscriber interface interface module including Mbit / s (DS1 grade) interface module controller (IM Controller).
스위치 경로 시험 관리 블록(SPTF:Switch Path Test Management Block)과 교환기 경로 실험 핸들링 블록(SPMF:Switch Path Test Handling Block)은 표 1에 기능이 설명되어 있다.The Switch Path Test Management Block (SPTF) and Switch Path Test Handling Block (SPMF) are described in Table 1.
중속 가입자 인터페이스 모듈(MSIM:Medium-rate Subscriber Interface Module)은 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)를 포함한 44.736 Mbit/s(DS3급)의 가입자 인터페이스 모듈이다.The medium-rate subscriber interface module (MSIM) is a subscriber interface module of 44.736 Mbit / s (DS3 grade) including an interface module controller (IM Controller).
기본 속도 가입자 인터페이스 하드웨어 블록(BSIH:Basic-rate Subscriber Interface Hardware Block)는 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)를 포함하지 않은 155 Mbit/s(STM-1급)의 가입자 하드웨어 보드이며. 기본 속도 가입자 인터페이스 모듈(BSIM:Basic-rate Subscriber Interface Module)은 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)를 포함한 155 Mbit/s(STM-1급)의 가입자 하드웨어 모듈이다.Basic-rate Subscriber Interface Hardware Block (BSIH) is a 155 Mbit / s (STM-1) subscriber hardware board that does not include an Interface Module Controller (IM Controller). Basic Rate Subscriber Interface Module (BSIM) is a subscriber hardware module of 155 Mbit / s (STM-1) including an Interface Module Controller.
기본 속도 트렁크 인터페이스 하드웨어 블록(BTIH:Basic-rate Trunk Interface Hardware Block)는 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)를 포함하지 않은 155 Mbit/s(STM-1급)의 트렁크(Trunk) 보드 하드웨어이며, 기본 속도 트렁크 인터페이스 모듈(BTIM:Basic-rate Trunk Interface Module)은 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)를 포함한 155 Mbit/s(STM-1급)의 트렁크(Trunk) 인터페이스 모듈이다.Basic-rate Trunk Interface Hardware Block (BTIH) is 155 Mbit / s (STM-1) trunk board hardware without the Interface Module Controller (IM Controller). Basic-rate trunk interface module (BTIM) is a trunk interface module of 155 Mbit / s (STM-1 level) including an interface module controller (IM Controller).
고속 트렁크 인터페이스 하드웨어 블록(HTIH:High-speed Trunk Interface Hardware Block)은 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)를 포함하지 않은 622 Mbit/s(STM-4급)의 트렁크(Trunk) 보드 하드웨어이며, 고속 트렁크 인터페이스 모듈(HTIM:High-speed Trunk Interface Module)은 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)를 포함한 622 Mbit/s(STM-4급)의 트렁크(Trunk) 인터페이스 모듈이다.High-speed Trunk Interface Hardware Block (HTIH) is 622 Mbit / s (STM-4 class) trunk board hardware without the Interface Module Controller (IM Controller). The module (HTIM: High-speed Trunk Interface Module) is a 622 Mbit / s (STM-4 class) trunk interface module including an interface module controller (IM Controller).
UNI 링크 자원 조절 기능(ULRHF:UNI Link Resource Handling Function )는 자국호 관련 대역 라이브러리 즉, 기본 속도(155Mbps:STM-1급) 가입자 인터페이스 모듈(BSIM)이나 중속(44.736Mbps:DS-3급) 가입자 인터페이스 모듈(MSIM), 저속(1.544Mbps:DS-1급) 가입자 인터페이스 모듈(LSIM)으로 경로 시험시 이 라이브러리를 호출하여 대역관리가 이루어 지도록 한다.The UNI Link Resource Handling Function (ULRHF) is a local-band related band library, that is, a basic speed (155 Mbps: STM-1) subscriber interface module (BSIM) or a medium speed (44.736 Mbps: DS-3) subscriber. The interface module (MSIM) and the low speed (1.544 Mbps: DS-1) subscriber interface module (LSIM) call this library to perform band management during path tests.
호 연결 제어 프로세서(CCCP:Call and Connection Control Processor)는 ATM 교환기 내에 ATM 국소 스위칭 서브 시스템(ALS)에 실장되어 호 연결제어를 하는 프로세서이다.A Call and Connection Control Processor (CCCP) is a processor that is mounted in an ATM local switching subsystem (ALS) in an ATM switch and performs call connection control.
가입자 인터페이스 모듈(SIM:Subscriber Interface Module)은 모든 가입자 보드를 통틀어 지칭하며, 트렁크 인터페이스 모듈(TIM:Trunk Interface Module)은 모든 트렁크(Trunk) 보드를 지칭한다.Subscriber Interface Module (SIM) refers to all subscriber boards in its entirety, and Trunk Interface Module (TIM) refers to all trunk boards.
NNI 링크 자원 조절 기능(NLRHF:NNI Link Resource Handling Function)은 중계호 관련 대역 관리 라이브러리 즉 상기 155Mbps 기본 속도 트렁크 인터페이스 모듈(BTIM)이나 622Mbps 고속 트렁크 인터페이스 모듈(HTIM)으로 경로 시험시 이 라이브러리를 호출하여 대역 관리가 이루어지도록 하며, 스위치 링크 자원 조절 기능(SLRHF:Switch Link Resource Handling Function)는 ACS 스위치 포트 대역 관리 라이브러리 즉, 유니트(UNIT)의 ACS_PORT 시험시 글로벌(GLOBAL) 경로 시험시 이 라이브러리를 호출하여 대역 관리가 이루어 지도록 하며, ATM 셀 테스트 보드 조립체(ACTA:ATM Cell Test Board Assembly)는 테스트 셀을 발생시키고 반환(return)된 테스트 셀을 분석하는 보드이다.The NNI Link Resource Handling Function (NLRHF) calls the library when the path is tested with the relay call-related band management library, that is, the 155 Mbps basic speed trunk interface module (BTIM) or 622 Mbps high speed trunk interface module (HTIM). Band Link Management is performed, and the Switch Link Resource Handling Function (SLRHF) calls this library when testing the global path during the ACS_PORT test of the ACS switch port band management library. Band management is performed, and ATM Cell Test Board Assembly (ACTA) is a board that generates test cells and analyzes the returned test cells.
경로 시험 대상은 대상 포트의 위치에 따라 기본 경로 시험, 로칼 경로 시험, 글로벌 경로 시험으로 나뉘고, 현재 진행중인 경로 시험을 중지할 수 있으며 현재 진행중인 사항을 경로 시험 내역 출력 기능을 수행하여 출력해 볼 수 있다.The path test target is divided into basic path test, local path test, and global path test according to the location of the target port, and the current path test can be stopped and the current progress can be output by performing the path test history output function. .
도 4는 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 USER_PORT와 연결된 인터페이스 모듈(IM)까지의 경로 시험을 나타낸 구성도이다.4 is a schematic diagram illustrating a path test to an interface module IM associated with USER_PORT in a single ATM local switching subsystem (ALS).
운용자가 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)(310)내의 USER_PORT와 연결된 인터페이스 모듈(IM)까지의 경로 시험을 요구하여, 호 연결 제어 프로세서(CCCP)내의 경로 시험 기능은 호처리 블록으로 경로 시험에 필요한 대역폭으로 할당을 양방향으로 요구한다.The operator requires a path test to the interface module (IM) associated with the USER_PORT in a single ATM local switching subsystem (ALS) 310, so that the path test function in the call connection control processor (CCCP) can be routed to the call processing block. Requires allocation in both directions with the required bandwidth.
상기 대역이 할당되면, 상기 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)가 시험셀을 수신해서 루프백시킬 수 있도록 라우팅 정보를 통보하고, 상기 호 연결 제어 프로세서 (CCCP)내의 경로 시험 기능은 시험 장치(ATM 셀 테스트 보드 조립체:ACTA:319)로 시험셀 발생을 요구한다.When the band is allocated, the interface module controller (IM Controller) receives routing information and notifies routing information so that a test cell can be looped back, and a path test function in the call connection control processor (CCCP) is a test device (ATM cell test board). Test cell generation (Assembly: ACTA: 319).
상기 시험장치는 시험 셀(Test Cell)을 발생해서 셀 먹스/디먹스 보드 조립체(CMDA:Cell Mux/Demux board Assembly)(330) 및 정합 스위치(ASW:311)를 거쳐 해당 라우팅으로 셀을 전송하여 인터페이스 모듈(IM)(321)로 송신하고, 인터페이스 모듈(IM)(321)으로부터 루프백되는 시험셀을 분석하여 시험 결과를 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)내의 경로 시험 기능으로 통보한다.The test apparatus generates a test cell and transmits the cell to a corresponding routing via a cell mux / demux board assembly (CMDA) 330 and a matching switch (ASW: 311). It transmits to the interface module (IM) 321, analyzes the test cell looped back from the interface module (IM) 321, and notifies the test result to the path test function in the call connection control processor (CCCP).
상기 셀 먹스/디먹스 보드 조립체(CMDA:Cell Mux/Demux board Assembly)(330)는 셀을 다중화/역다중화하고 호 연결 설정시 IPC 메시지를, 경로 시험시 시험 셀을 라우팅 태그를 첨가하여 상기 정합 스위치(ASW:311)로 전송하고 상기 루프백되는 시험 셀을 상기 정합 스위치(ASW:311)에서 입력받아 IPC 메시지 인지 시험 셀인지를 구분하여 IPC 메시지는 호 연결 제어 프로세서(CCCP:314)로 시험 셀을 ATM 셀 테스트 보드 조립체(ACTA)인 상기 시험 장치(319)로 전송한다.The cell mux / demux board assembly (CMDA) 330 multiplexes / demultiplexes the cells, adds an IPC message when establishing a call connection, and adds a routing tag to a test cell when performing a path test. IPC message is sent to the call connection control processor (CCCP: 314) by transmitting to the switch (ASW: 311) and receiving the loopback test cell from the matching switch (ASW: 311). Is transmitted to the test device 319, which is an ATM cell test board assembly (ACTA).
경로 시험이 완료되면 호처리 블록에 대역 변환하고, 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)로 시험 종료를 통보하며 운용자 터미널(100)로 경로 시험 결과를 통보한다.When the path test is completed, band conversion is performed to the call processing block, the end of the test is notified to the interface module controller (IM Controller), and the path test result is notified to the operator terminal 100.
도 5는 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내에 ACS_PORT와 연결된 ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS)내의 중앙 스위치(CSW)까지의 셀 경로 시험을 나타낸 구성도이다.FIG. 5 is a schematic diagram illustrating a cell path test to a central switch (CSW) in an ATM central switching subsystem (ACS) connected to an ACS_PORT in a single ATM local switching subsystem (ALS).
운용자가 정합 스위치(ASW)(311)내의 ACS_PORT와 연결된 중앙 스위치(CSW)(210)까지의 경로 시험을 요구하면, 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)내의 경로 시험 기능은 호처리 블럭으로 경로 시험에 필요한 대역폭 할당을 양방향으로 요구한다.If an operator requests a path test to a central switch (CSW) 210 connected to an ACS_PORT in a match switch (ASW) 311, the path test function in the call connection control processor (CCCP) 314 returns to the call processing block. Requires bandwidth allocation in both directions for path testing.
상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)내의 경로 시험 기능은 ATM 셀 테스트 보드 조립체인 상기 시험 장치(319)로 시험 셀 발생을 요구하여, 상기 시험 장치(319)는 시험셀을 발생해서 중앙 스위치(CSW)(210)로 송신하고, 상기 중앙 스위치(CSW)(210)로부터 루프백되는 시험 셀을 분석하여 시험 결과를 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)내의 경로 시험 기능으로 통보한다.The path test function in the call connection control processor (CCCP) 314 requires test cell generation to the test device 319, which is an ATM cell test board assembly, so that the test device 319 generates a test cell to generate a central switch. (CSW) 210, and analyzes the test cell looped back from the central switch (CSW) 210 and notifies the test result to the path test function in the call connection control processor (CCCP).
경로 시험이 완료되면, 호 처리 블록에 대한 대역을 변환하여 운용자 터미널(100)로 경로 시험 결과를 출력한다.When the path test is completed, the band for the call processing block is converted and the path test result is output to the operator terminal 100.
도 6은 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내 IPC 셀 경로 시험을 나타낸 블록도이다. 즉, 도 6은 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)와 연결된 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)(310)와 IPC_PORT 까지의 경로 시험을 나타낸다.6 is a block diagram illustrating an IPC cell path test in an ATM local switching subsystem (ALS). That is, FIG. 6 illustrates a path test up to IPC_PORT with an ATM local switching subsystem (ALS) 310 coupled with the call connection control processor (CCCP) 314.
운용자가 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)에 연결된 정합 스위치(ASW)(311)의 IPC_PORT 까지의 경로 시험을 요구하면, 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)내의 경로 시험 기능은 ATM 셀 테스트 보드 조립체인 상기 시험 장치(319)로 시험 셀 발생을 요구한다.If an operator requests a path test to IPC_PORT of a matched switch (ASW) 311 connected to the call connection control processor (CCCP) 314, the path test function in the call connection control processor (CCCP) 314 is an ATM. Test cell generation is required with the test device 319, a cell test board assembly.
상기 시험 장치(319)는 상기 시험 셀을 발생해서 정합 스위치(ASW)(311)로 송신하고, 상기 정합 스위치(ASW)(311)로부터 루프백되는 상기 시험 셀을 분석하여 시험결과를 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)내의 경로 시험 기능으로 통보한다. 경로 시험이 완료되면 운용자 터미널(100)로 경로 시험 결과 출력한다.The test device 319 generates the test cell and transmits the test cell to the matching switch (ASW) 311, and analyzes the test cell looped back from the matching switch (ASW) 311 to control a test result of the call connection control. Notifies the path test function in the processor (CCCP) 314. When the path test is completed, output the path test result to the operator terminal (100).
한편, 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)(310)내의 기본 경로 시험의 중지는 현재 진행중인 단일 정합 스위치(ASW)(311)내의 USER_PORT와 연결된 인터페이스 모듈(IM)까지의 경로 시험 또는 단일 정합 스위치(ASW)(311)내의 ACS_PORT와 연결된 중앙 스위치(CSW)(210)까지의 경로 시험 또는 단일 정합 스위치(ASW)(311)내의 IPC_PORT와 연결된 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)까지의 경로 시험을 중지시킨다. 단일 ATM 국소 스위칭 서브시스템(ALS)(310)내의 기본 경로 시험 중지 명령이 입력되면, 상기 시험 장치(319)로 시험 중지를 요구하고 중지 시점까지의 시험 결과를 통보받아 운용자 터미널(100)로 출력한다.On the other hand, the suspension of the basic path test in a single ATM local switching subsystem (ALS) 310 is either a path test to the interface module (IM) associated with the USER_PORT in the single match switch (ASW) 311 currently in progress or a single match switch ( Path test to the central switch (CSW) 210 connected to ACS_PORT in ASW) 311 or path test to the call connection control processor (CCCP) 314 connected to IPC_PORT in single match switch (ASW) 311. Stop it. When a basic path test stop command in a single ATM local switching subsystem (ALS) 310 is input, the test device 319 is requested to stop the test and the test result up to the stop time is notified and output to the operator terminal 100. do.
도 7은 동일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내 IMS간 셀 경로 시험을 나타낸 블럭도이다.7 is a block diagram illustrating inter-IMS cell path tests within the same ATM local switching subsystem (ALS).
로칼 경로 시험(Local Path Test)의 기능은 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS) 내의 인터페이스 모듈(IM)과 인터페이스 모듈(IM)간의 경로 시험을 의미한다.The function of the local path test means a path test between the interface module (IM) and the interface module (IM) in a single ATM local switching subsystem (ALS).
운용자가 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)과 인터페이스 모듈(IM)간의 경로 시험을 요구하면, 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)내의 경로 시험 기능은 호처리 블록으로 시작_IM(321)과 종료_IM(331) 각각에 대해 경로 시험 에 필요한 대역폭 할당을 양방향으로 요구한다.If an operator requires a path test between an interface module (IM) and an interface module (IM) in a single ATM local switching subsystem (ALS), the path test function in the call connection control processor (CCCP) 314 is transferred to a call processing block. For each of the start_IM 321 and the end_IM 331, the bandwidth allocation required for the path test is bidirectionally requested.
두 인터페이스 모듈(IM)을 연결하는 포트에 대한 내역이 할당되면, 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)가 시험 셀을 수신해서 루프백 시킬 수 있도록 시작_IM(321)과 종료_IM(331) 각각에 대해 라우팅 정보를 통보하고 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)내의 경로 시험 기능은 상기 시험 장치(319)로 상기 시험셀 발생을 요구한다.Once the details of the port connecting the two interface modules (IM) are assigned, for each of the start_IM 321 and end_IM 331, the interface module controller (IM Controller) can receive and loop back the test cell. Notifying of routing information and a path test function within the call connection control processor (CCCP) 314 requires the test device 319 to generate the test cell.
상기 시험장치(319)는 상기 시험셀을 발생해서 시작_IM(321)으로 송신하고, 상기 시작_IM(321)은 종료_IM(331)으로 경로 시험셀이 전송되도록 라우팅 정보를 변경한다.The test device 319 generates the test cell and transmits the test cell to the start_IM 321, and the start_IM 321 changes the routing information so that the path test cell is transmitted to the end_IM 331.
상기 종료_IM(331)은 수신된 상기 시험 셀이 상기 시험 장치(319)로 갈 수 있도록 라우팅 정보를 변경하여, 상기 시험장치(319)는 종료_IM(331)으로부터 루프백되는 상기 시험셀을 분석하여 시험 결과를 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)내의 경로 시험 기능으로 보고한다.The end_IM 331 changes routing information so that the received test cell can go to the test device 319, so that the test device 319 loops back the test cell from the end_IM 331. Analyzes and reports the test results to the path test function in the call connection control processor (CCCP) 314.
경로 시험이 완료되면 호처리 블록에 대역을 변환하고, 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)로 시험 종료를 통보하고, 운용자에게 경로 시험 결과를 출력한다.When the path test is completed, the band is converted to the call processing block, the end of the test is notified to the interface module controller (IM Controller), and the path test result is output to the operator.
상기 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 두 인터페이스 모듈(IM)간 경로 시험의 중지는 운용자가 상기 단일 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS) 내의 두 인터페이스 모듈(IM)간 경로 시험 중지 명령을 요구하면, 상기 시험 장치로 시험중지를 요구하고 중지 시점까지의 시험 결과를 통보받아 운용자에게 출력한다.Suspension of the path test between two interface modules IM in the single ATM local switching subsystem (ALS) if an operator requests a path test stop command between two interface modules (IM) in the single ATM local switching subsystem (ALS). In addition, the test apparatus is requested to stop the test and the test result until the stop is notified and outputted to the operator.
도 8은 호 연결 제어 프로세서(CCCP)와 타 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)간의 인터페이스 모듈(IM)간 셀 경로 시험의 블럭도이다.8 is a block diagram of a cell path test between an interface module (IM) between a call connection control processor (CCCP) and another ATM local switching subsystem (ALS).
글로벌 경로 시험(Global Path Test) 기능은 도 8과 도 9를 참조하여 설명한다.The global path test function will be described with reference to FIGS. 8 and 9.
임의의 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 호 연결 제어 프로세서(CCCP)와 다른 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)간의 경로 시험을 하기 위해 도 8과 같이 구성하고 시험 장치에 붙이는 라우팅 택과 종료 인터페이스 모듈(IM)에서 붙이는 라우팅 택을 표 6과 같이 설정하여 실험한다.Configured and attached to the test apparatus as shown in FIG. 8 for path testing between the Call Connection Control Processor (CCCP) in any ATM Local Switching Subsystem (ALS) and the Interface Module (IM) in another ATM Local Switching Subsystem (ALS). Experiment with the routing tag attached to the routing tag and the termination interface module (IM) as shown in Table 6.
운용자가 임의의 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)와 다른 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)간의 경로 시험을 요구한다.An operator requires a path test between the call connection control processor (CCCP) in any ATM local switching subsystem (ALS) and the interface module (IM) in another ATM local switching subsystem (ALS).
상기 호 연결제어 프로세서(CCCP)(314)내의 경로 시험 기능은 호처리 블럭으로 시작 정합 스위치(ASW)(311)와 중앙 스위치(CSW)(210)를 연결하는 포트, 종료 정합 스위치(ASW)(361)와 중앙 스위치(CSW)(210)를 연결하는 포트, 종료_ASW(361)의 인터페이스 모듈(IM)을 연결하는 포트 등에 대해 경로 시험에 필요한 대역폭 할당을 양방향으로 요구한다. 대역이 할당되면, 인터페이스 모듈 제어기가 시험셀을 수신해서 루프백시킬 수 있도록 종료_IM(360)으로 라우팅 정보를 통보한다. 상기 과정이 성공적으로 수행되면, 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)내의 경로 시험 기능은 ATM 셀 테스트 조립체(ACTA:319)인 상기 시험 장치(319)로 상기 시험셀 발생을 요구한다.The path test function in the call connection control processor (CCCP) 314 is a port for connecting a start match switch (ASW) 311 and a central switch (CSW) 210 as a call processing block, and an end match switch (ASW) ( 361) requests bandwidth allocation in both directions for the port connecting the central switch (CSW) 210 and the port connecting the interface module IM of the termination_ASW 361. Once the band is allocated, the interface module controller notifies the end_IM 360 of the routing information to receive and loop back the test cell. If the process is successful, the path test function in the call connection control processor (CCCP) 314 requires the test cell generation to the test device 319, which is an ATM cell test assembly (ACTA) 319.
상기 시험장치(319)는 시험셀을 발생해서 상기 종료_IM(360)으로 송신하고 상기 종료_IM(360)은 수신된 시험셀이 상기 시험장치(319)로 갈 수 있도록 라우팅 정보를 변경한다.The test apparatus 319 generates and transmits a test cell to the end_IM 360, and the end_IM 360 changes routing information so that the received test cell can go to the test apparatus 319. .
상기 시험장치(319)는 상기 종료_IM(360)으로부터 루프백되는 상기 시험셀을 분석하여 시험결과를 상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(314)내의 경로 시험 기능으로 통보하고 운용자에게 경로 시험 결과를 출력한다.The test device 319 analyzes the test cell looped back from the end_IM 360 and notifies the test result to the path test function in the call connection control processor (CCCP) 314 and informs the operator of the path test result. Output
도 9는 서로 다른 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)간 셀 경로 시험을 나타낸 블록도이다.9 is a block diagram illustrating cell path tests between interface modules IM in different ATM local switching subsystems (ALS).
임의의 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)과 다른 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS) 내의 인터페이스 모듈(IM)간의 경로 시험을 수행하기 위해 도 9와 같이 구성하고 시험장치에서 붙이는 라우팅 택, 시작 인터페이스 모듈(IM)에서 붙이는 라우팅 택, 종료 인터페이스 모듈(IM)에서 붙이는 라우팅 택을 표 7과 같이 설정하여 경로 시험을 수행한다.Routing configured and attached to the test apparatus as shown in FIG. 9 to perform a path test between the interface module IM in any ATM local switching subsystem (ALS) and the interface module IM in another ATM local switching subsystem (ALS). The path test is performed by setting the tag, the routing tag attached by the start interface module (IM) and the routing tag attached by the end interface module (IM) as shown in Table 7.
운용자가 임의의 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)과 다른 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)간의 경로 시험을 요구한다.The operator requires a path test between an interface module IM in any ATM local switching subsystem (ALS) and an interface module IM in another ATM local switching subsystem (ALS).
상기 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(318)내의 경로 시험 기능은 호 처리 블록으로 시작_ASW(311)의 인터페이스 모듈(IM)을 연결하는 포트, 시작_ASW(311)와 중앙 스위치(CSW)(210)를 연결하는 포트, 종료_ASW(361)와 상기 중앙 스위치(CSW)(210)를 연결하는 포트, 종료_ASW(361)의 인터페이스 모듈(IM)(321)을 연결하는 포트 등에 대해 경로 시험에 필요한 대역폭 할당을 양방향으로 요구한다. 대역이 할당되면, 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)가 시험셀을 수신해서 루프백시킬 수 있도록 시작_IM(321)과 종료_IM(360)으로 라우팅 정보를 통보한다. 상기 과정이 성공적으로 수행되면, 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(318)내의 경로 시험 기능은 ATM셀 테스트 보드 조립체(ACTA)인 상기 시험 장치(319)로 시험셀 발생을 요구한다.The path test function in the call connection control processor (CCCP) 318 is a port for connecting the interface module (IM) of the start_ASW 311 to the call processing block, the start_ASW 311 and the central switch (CSW) ( A path for connecting the port 210, a port connecting the end_ASW 361 and the central switch (CSW) 210, a port connecting the interface module (IM) 321 of the end_ASW 361, and the like. Requires bidirectional bandwidth allocation for testing. Once the band is allocated, the interface module controller (IM Controller) informs the start_IM 321 and the end_IM360 of the routing information to receive and loop back the test cell. If the procedure is successful, the path test function in the call connection control processor (CCCP) 318 requires test cell generation to the test device 319, which is an ATM cell test board assembly (ACTA).
상기 시험 장치(319)는 시험 셀을 발생해서 시작_IM(321)으로 송신하고, 상기 시작_IM(321)은 수신된 시험셀이 종료_IM(360)으로 갈 수 있도록 라우팅 정보를 변경하며, 상기 시작_ASW(311), ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS) 내의 중앙스위치(CSW:210) 및 종료_ASW(361)로 라우팅 되어 종료_IM(360)은 수신된 시험셀이 시험 장치(319)로 갈 수 있도록 라우팅 정보를 변경한다.The test device 319 generates a test cell and transmits it to the start_IM 321, and the start_IM 321 changes the routing information so that the received test cell can go to the end_IM 360. The start_ASW 311, the central switch (CSW) 210 and the end_ASW 361 in the ATM Central Switching Subsystem (ACS) are routed to the End_IM 360 to receive the test cell ( Change routing information to go to 319).
상기 시험 장치(319)는 종료_IM(360)으로부터 루프백되는 시험셀을 분석하여 시험결과를 호 연결 제어 프로세서(CCCP)(318)내의 경로 시험 기능으로 통보한다.The test device 319 analyzes the test cell looped back from the end_IM 360 and notifies the test result to the path test function in the call connection control processor (CCCP) 318.
경로 시험이 완료되면 호처리 블록에 대역 반환하고, 인터페이스 모듈 제어기(IM Controller)로 시험 종료를 통보하고 운용자 터미널(100)로 경고 시험 결과를 통보한다.When the path test is completed, the band is returned to the call processing block, the end of the test is notified to the interface module controller (IM Controller), and the warning test result is notified to the operator terminal 100.
한편, 서로 다른 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)간의 경로 시험 중지는 임의의 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 호 연결 제어 프로세서(CCCP)와 다른 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)간의 인터페이스 모듈(IM)간의 경로 시험 또는 임의의 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)과 다른 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)내의 인터페이스 모듈(IM)간의 경로 시험을 중지시킨다.On the other hand, the path test halting between different ATM local switching subsystems (ALSs) is an interface module (IM) between the call connection control processor (CCCP) in another ATM local switching subsystem (ALS) and another ATM local switching subsystem (ALS). Stop the path test between the interface module (IM) in any ATM local switching subsystem (ALS) and the interface module (IM) in another ATM local switching subsystem (ALS).
운용자가 서로 다른 ATM 로칼 스위칭 서브시스템(ALS)간의 경로 시험 중지 명령을 요구하면, 상기 시험장치로 시험 중지를 요구하고 중지 시점까지의 시험결과를 통보받아 운용자에게 출력한다.When the operator requests a path test stop command between different ATM local switching subsystems (ALS), the test apparatus requests the test stop and the test result up to the stop point is notified and output to the operator.
또한, 기본의 운용자가 입력한 경로시험 명령을 히스토리(HISTORY)로 가지고 있다가 현재 진행중인 경로시험의 내용을 출력한다.In addition, the path test command entered by the basic operator is stored in the history, and the contents of the path test currently in progress are displayed.
기본 경로 시험, 로칼 경로 시험 및 글로벌 경로 시험의 타입에 따라 경로 시험의 출력 내용은 다음과 같이 출력된다.Depending on the type of basic path test, local path test and global path test, the output of the path test is output as follows.
경로시험타입이 기본 경로 시험이면 정합 스위치(ASW) 번호, 포트번호, 경로시험주기, 경로시험대역폭, 트래픽모드를 출력한다.If the path test type is a basic path test, the ASW number, port number, path test period, path test bandwidth, and traffic mode are output.
경로시험 타입이 로칼 경로 시험이면 정합 스위치(ASW) 번호, 포트 번호, 종료포트 번호, 경로 시험 주기, 경로 시험 대역폭, 트래픽 모드를 출력한다.If the path test type is a local path test, the ASW number, port number, end port number, path test period, path test bandwidth, and traffic mode are output.
경로 시험 타입이 글로벌 경로 시험이면 시작 정합 스위치(ASW) 번호, 시작 사용자(USER) 포트번호 또는 호 연결 제어 프로세서(CCCP)가 연결된 포트 번호, 시작 ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS) 포트 번호, 종료 정합 스위치(ASW) 번호, 종료 ATM 중앙 스위칭 서브시스템(ACS) 포트 번호, 종료 사용자(USER) 포트 번호, 경로 시험 주기, 경로 시험 대역폭, 트래픽 모드를 출력한다.If the path test type is Global Path Test, the start match switch (ASW) number, the start user (USER) port number, or the port number to which the call connection control processor (CCCP) is connected, the start ATM central switching subsystem (ACS) port number, and the end match. Output switch (ASW) number, terminating ATM central switching subsystem (ACS) port number, terminating user (USER) port number, path test period, path test bandwidth, traffic mode.
상술한 바와 같이, 본 발명에 의한 비동기 전달 모드(ATM) 교환기에서 스위치 시험 방법은 호처리 블록, 가입자/중계선 정합 블록, 시험장치와 연계하여 경로시험 대상 포트의 위치에 따라 기본 경로 시험, 로칼 시험 및 글로벌 시험을 수행함으로써 교환기 초기 설치시, 확장시 및 고장으로 인한 보드 교체시 서비스 에러율이 높을때 경로 성능 확인을 할 수 있는 효과가 있다.As described above, the switch test method in the asynchronous transfer mode (ATM) switch according to the present invention is a basic path test, a local test according to the location of the path test target port in connection with the call processing block, subscriber / relay line matching block, the test apparatus And by performing the global test, it is possible to check the path performance when the exchange error is high when the exchange is initially installed, when the board is replaced, and when the board is replaced due to a failure.
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KR1019980042746A KR20000025598A (en) | 1998-10-13 | 1998-10-13 | Method for testing switch in asynchronous transfer mode exchange |
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KR1019980042746A KR20000025598A (en) | 1998-10-13 | 1998-10-13 | Method for testing switch in asynchronous transfer mode exchange |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20030012337A (en) * | 2001-07-31 | 2003-02-12 | 삼성전자주식회사 | Service Management Method for Asynchronous Transfer Mode Switchboard |
KR100478833B1 (en) * | 2000-10-31 | 2005-03-25 | 엘지전자 주식회사 | A method and a device of testing data transmission path for exchanger |
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1998
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KR100478833B1 (en) * | 2000-10-31 | 2005-03-25 | 엘지전자 주식회사 | A method and a device of testing data transmission path for exchanger |
KR20030012337A (en) * | 2001-07-31 | 2003-02-12 | 삼성전자주식회사 | Service Management Method for Asynchronous Transfer Mode Switchboard |
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