KR20000009190A - Chemical vapor deposition apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 화학적 기상 증착 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 내관 내에서의 반응 가스의 흐름을 균일하게 하여 웨이퍼 상에 일정한 두께의 박막을 형성할 수 있는 화학적 기상 증착 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a chemical vapor deposition apparatus, and more particularly, to a chemical vapor deposition apparatus capable of forming a thin film of a constant thickness on a wafer by uniformly flowing the reaction gas in the inner tube.
반도체 제조 공정에 있어서, 증착 공정(Deposition Process)이라 함은 기상(Gas or Vapor Phase)의 소스(Source)로부터 특정 원자나 분자를 고상(Solid Phase)화 시켜 필요로 하는 박막을 얻어내는 일종의 물질 합성(Material Synthesis) 과정을 통칭한다. 반도체 소자의 제조에는 다결정 실리콘(Poly-crystal Silicon), 산화막(Oxide Film), 질화막(Nitride Film) 등 여러 종류의 금속 혹은 실리사이드(Silicide) 박막이 필요하며 이와 같은 박막들은 모두 증착 공정에 의해서 형성된다.In the semiconductor manufacturing process, a deposition process is a kind of material synthesis that obtains a thin film required by solidifying a specific atom or molecule from a source of a gas or vapor phase. (Material Synthesis) process. To manufacture semiconductor devices, various kinds of metal or silicide thin films, such as poly-crystal silicon, oxide film, and nitride film, are required. All of these thin films are formed by a deposition process. .
증착 공정은 박막 형성 공정(Thin Film Process)이라고 말할 수 있으며, 이는 크게 물리적 기상 증착(Physical Vapor Deposition; PVD) 공정과 화학적 기상 증착(Chemical Vapor Deposition; CVD) 공정으로 대별된다. PVD 공정은 소스로부터 다른 성분이 더해지거나 감해지지 않고 상의 변환 과정만을 통하여 증착되는 것이다. 반면에 CVD 공정은 화학 반응을 수반하기 때문에 소스와 증착 산물간에 물리화학적 구조의 차이가 있다.The deposition process may be referred to as a thin film process, which is roughly classified into a physical vapor deposition (PVD) process and a chemical vapor deposition (CVD) process. The PVD process is deposited only through the conversion of phases without adding or subtracting other components from the source. On the other hand, because CVD processes involve chemical reactions, there is a difference in physicochemical structure between the source and the deposition product.
CVD 공정은 증착 하고자 하는 대상 물질의 원소를 포함하는 기체(혹은 Vapor) 소스와 반응 기체를 가열된 웨이퍼와 같은 기판 위에 공급하고 화학 반응이 일어나도록 하여 기판 위에 고상의 박막을 형성하고 반응 부생성물(By-product) 기체를 제거하는 일련의 공정이다. CVD 공정은 증착 압력에 따라 상압 CVD, 저압 CVD 공정 등으로 분류하거나 에너지원에 따라 열(Thermal) CVD, 플라즈마(Plasma) CVD, 광 CVD, 레이져(Laser) CVD 공정 등으로 분류하기도 한다.The CVD process supplies a gas (or vapor) source and a reactant gas containing an element of a target material to be deposited onto a substrate such as a heated wafer, and causes a chemical reaction to form a solid thin film on the substrate and a reaction by-product ( By-product) A series of processes to remove gases. The CVD process may be classified into atmospheric CVD and low pressure CVD processes according to the deposition pressure, or may be classified into thermal CVD, plasma CVD, optical CVD, and laser CVD processes according to energy sources.
여기서, 저압 CVD 공정은 진공 상태에서 가스를 반응시켜 반응된 가스 화합물을 웨이퍼 표면에서 박막을 증착토록 하는 공정이다. 저압 CVD 공정에 사용되는 장치의 반응관은 재질이 석영(SiO2)으로 된 내관(Inner Tube) 및 외관(Out Tube)으로 이루어진 이중 반응관으로 내관 내에서 증착 공정이 이루어지게 된다.Here, the low pressure CVD process is a process of depositing a thin film on the wafer surface of the reacted gas compound by reacting the gas in a vacuum state. The reaction tube of the device used in the low pressure CVD process is a double reaction tube composed of an inner tube and an outer tube made of quartz (SiO 2 ), and a deposition process is performed in the inner tube.
이하, 첨부도면을 참조하여 종래 기술에 따른 저압 CVD 공정에 사용되는 CVD 장치에 대하여 설명하겠다.Hereinafter, a CVD apparatus used for a low pressure CVD process according to the prior art will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1을 참조하여 종래 기술에 따른 종형의 CVD 장치(100)를 설명하면, CVD 장치(100)는 반응가스가 공급되는 가스 공급관(30)과, 가스 공급관(30)과 연결된 이중 반응관(10)과, 이중 반응관(10)을 가열하기 위한 가열원(20)과, 반응되고 남은 반응가스와 미반응된 부산물을 포함하는 배출가스를 배출하기 위한 가스 배출관(40) 및 이중 반응관(10) 내부에 설치되는 보트(50; Boat)를 포함하며, 보트(50)의 밑 부분은 회전축(70)에 축지(軸支)된 구조를 갖는다. 여기서, 보트(50)는 복수의 웨이퍼(60)를 적재할 수 있는 수단이다.Referring to FIG. 1, a vertical CVD apparatus 100 according to the related art is described. The CVD apparatus 100 includes a gas supply pipe 30 through which a reaction gas is supplied, and a double reaction tube 10 connected to the gas supply pipe 30. ), A heating source 20 for heating the double reaction tube 10, a gas discharge tube 40 and a double reaction tube 10 for discharging the exhaust gas containing the reacted remaining reaction gas and unreacted by-products. Including a boat (50) installed in the inside, the bottom portion of the boat 50 has a structure that is stored on the axis of rotation (70). Here, the boat 50 is a means which can load the some wafer 60.
이중 반응관(10)은 석영 반응관인 내관(12)과 외관(14)으로 이루어져 있으며, 내관(12)의 내부에는 복수개의 웨이퍼(60)가 수직으로 적재된 보트(50)가 설치되며, 보트(50)의 밑부분은 회전축(70)에 축지되어 있다. 그리고, 내관(12)의 상부는 개방되어 있어 내관(12)에 주입되는 반응가스는 내관(12)에 설치된 웨이퍼(60) 상에 박막을 증착시키고, 배출가스는 내관(12)의 상부의 형성된 개방부(16)를 거쳐 외관(14)을 통하여 가스 배출관(40)으로 배출된다. 그리고, 보트(50) 또한 재질이 석영이다. 통상적으로 내관의 개방부(16)를 통하여 배출가스가 잘 배출될 수 있도록 개방부(16)의 직경은 보트(50)의 직경보다는 크게 형성한다.The dual reaction tube 10 is composed of an inner tube 12 and an outer tube 14, which are quartz reaction tubes, and a boat 50 in which a plurality of wafers 60 are vertically stacked is installed inside the inner tube 12. The bottom part of 50 is supported by the rotating shaft 70. In addition, the upper portion of the inner tube 12 is open so that the reaction gas injected into the inner tube 12 deposits a thin film on the wafer 60 installed in the inner tube 12, and the exhaust gas is formed on the upper portion of the inner tube 12. It is discharged to the gas discharge pipe 40 through the exterior 14 via the opening 16. The boat 50 is also made of quartz. Typically, the diameter of the opening 16 is larger than the diameter of the boat 50 so that the exhaust gas can be discharged well through the opening 16 of the inner tube.
반응가스가 공급되는 가스 공급관(30)은 내관(12)의 내부와 연결되어 있으며, 내관(12)의 내부의 측면부에 평행하게 설치되어 있다. 그리고, 가스 공급관(30)은 짧은 길이로 되어 있으며, 보트(50)의 밑부분 가까이에 설치되어 있다. 반응가스는 가스 공급관(30)의 상부로부터 위쪽으로 공급되어, 웨이퍼(60)를 통과한 반응가스를 포함하는 배출가스는 내관(12)의 상부에 있는 개방부(16)로 배출되어, 내관(12)과 외관(14) 사이에 연결된 가스 배출관(40)을 통해서 배출된다.The gas supply pipe 30 to which the reaction gas is supplied is connected to the inside of the inner pipe 12 and is installed in parallel with the side surface of the inside of the inner pipe 12. The gas supply pipe 30 has a short length and is provided near the bottom of the boat 50. The reaction gas is supplied upwards from the upper portion of the gas supply pipe 30, and the exhaust gas containing the reaction gas passing through the wafer 60 is discharged to the opening 16 located above the inner tube 12, and the inner tube ( It is discharged through the gas discharge pipe 40 connected between 12 and the appearance (14).
이와 같은 구조를 갖는 CVD 장치(100)를 이용한 CVD 공정은, 보트(50)가 축지된 회전축(70)이 소정의 속도로 회전하는 상태에서 가스 공급관(30)을 통하여 반응가스를 공급하여 웨이퍼(60) 상에 필요한 박막을 증착시키고, 반응되고 남은 반응가스를 포함한 배출가스를 가스 배출관(40)을 통하여 이중 반응관(10) 밖으로 배출시키는 단계로 진행된다.In the CVD process using the CVD apparatus 100 having such a structure, the reaction gas is supplied through the gas supply pipe 30 in a state in which the rotating shaft 70 on which the boat 50 is stored is rotated at a predetermined speed so that the wafer ( Deposition of the necessary thin film on 60), and proceeds to the step of discharging the exhaust gas containing the reaction gas remaining in the reaction through the gas discharge pipe (40) out of the double reaction pipe (10).
이와 같은 종형의 CVD 장치를 이용하면, 종래의 CVD 장치에 비하여 약 10배의 처리능력을 향상시킬 수가 있다. 한편, 종형의 CVD 장치는 처음에는 보트의 회전 없이 증착 공정을 하였으나 웨이퍼에 균일한 박막을 증착시키기 위하여 한 방향으로 보트를 회전시키면서 증착 공정을 진행하였다.By using such a vertical CVD apparatus, the processing capacity of about 10 times can be improved as compared with the conventional CVD apparatus. On the other hand, the vertical CVD apparatus was initially deposited without rotating the boat, but in order to deposit a uniform thin film on the wafer, the deposition process was performed while rotating the boat in one direction.
그러나, 이와 같은 종형의 CVD 장치(100)는 내관의 개방부(16)의 직경이 보트(50)의 직경보다 크기 때문에, 보트(50)에 적재된 웨이퍼(60)에 반응가스가 정체하는 시간이 짧다. 그리고, 내관(12)으로 공급되는 반응가스의 대부분이 보트(50)와 내관(12) 사이의 공간을 타고 내관의 개방부(16)를 통과하여 외관(14)으로 배출되기 때문에, 내관(12)에 근접한 웨이퍼(60)의 가장자리에 비하여 보트(50)의 중심에 근접한 웨이퍼(60)의 중심부분에 형성되는 박막의 두께가 상대적으로 얇다. 즉, 내관(12)에 공급된 반응가스의 흐름이 균일하지 않기 때문에, 웨이퍼(60) 상에 형성되는 박막의 두께가 가장자리에서 중심부분으로 갈수록 얇아진다.However, in such a vertical CVD apparatus 100, since the diameter of the opening 16 of the inner tube is larger than the diameter of the boat 50, the time when the reaction gas is stagnated in the wafer 60 loaded on the boat 50 is fixed. This is short. Since most of the reaction gas supplied to the inner tube 12 passes through the opening 16 of the inner tube through the space between the boat 50 and the inner tube 12 and is discharged to the outer surface 14, the inner tube 12 The thickness of the thin film formed in the central portion of the wafer 60 close to the center of the boat 50 is relatively thin as compared to the edge of the wafer 60 close to). That is, since the flow of the reaction gas supplied to the inner tube 12 is not uniform, the thickness of the thin film formed on the wafer 60 becomes thinner from the edge to the central portion.
따라서, 본 발명의 목적은 내관 내에서의 반응 가스의 흐름을 균일하게 하여 보트에 적재된 웨이퍼 상에 일정한 두께로 박막을 증착할 수 있는 화학적 기상 증착 장치를 제공하는 데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a chemical vapor deposition apparatus capable of depositing a thin film with a constant thickness on a wafer loaded in a boat by making the flow of reaction gas uniform in the inner tube.
도 1은 종래 기술에 따른 이중 반응관을 이용한 화학적 기상 증착 장치를 나타내는 부분 단면도,1 is a partial cross-sectional view showing a chemical vapor deposition apparatus using a double reaction tube according to the prior art,
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 이중 반응관을 이용한 화학적 기상 증착 장치를 나타내는 부분 단면도이다.2 is a partial cross-sectional view showing a chemical vapor deposition apparatus using a double reaction tube according to an embodiment of the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 설명 *Description of the main parts of the drawing
110 : 이중 반응관 112 : 내관110: double reaction tube 112: inner tube
114 : 외관 116 : 개방부114: appearance 116: opening
118 : 가스 배출구 120 : 가열원118: gas outlet 120: heating source
130 : 가스 공급관 140 : 가스 배출관130: gas supply pipe 140: gas discharge pipe
150 : 보트 160 : 웨이퍼150: boat 160: wafer
200 : 화학적 기상 증착 장치200: chemical vapor deposition apparatus
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 화학적 기상 증착 장치는, 내부에 복수의 웨이퍼가 적재된 보트와; 보트를 둘러싸는 내관 및 그 내관의 외측에 배치된 외관으로 구성된 이중 반응관과; 외관의 외측에 배치된 가열원과; 내관에 반응 가스를 공급하는 가스 공급관; 및 내관과 외관 사이에 설치되며, 반응 가스를 이중 반응관의 밖으로 배출시키는 가스 배출관;을 포함한다. 특히, 본 발명에 따른 화학적 기상 증착 장치는, 내관 내부에서의 반응 가스의 흐름을 균일하게 하기 위하여, 내관의 상부에는 보트의 직경보다는 작은 개구부가 형성되어 있고, 내관의 내벽에는 소정의 간격을 두고 웨이퍼가 적재된 방향으로 복수개의 가스 배출구가 형성된 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the chemical vapor deposition apparatus according to the present invention includes a boat having a plurality of wafers loaded therein; A double reaction tube composed of an inner tube surrounding the boat and an exterior disposed outside the inner tube; A heating source disposed outside the exterior; A gas supply pipe for supplying a reaction gas to the inner pipe; And a gas discharge tube installed between the inner tube and the outer tube and discharging the reaction gas out of the double reaction tube. In particular, in the chemical vapor deposition apparatus according to the present invention, an opening smaller than the diameter of the boat is formed in the upper portion of the inner tube to uniformly flow the reaction gas in the inner tube, and the inner wall of the inner tube has a predetermined interval. A plurality of gas outlets are formed in the direction in which the wafer is loaded.
본 발명에 따른 내관에 형성된 가스 배출구는 가스 공급관을 통하여 공급된 반응 가스가 보트에 적재된 웨이퍼 사이에 균일하게 공급될 수 있도록 가스 공급관이 설치된 곳의 반대쪽에 형성하는 것이 바람직하다.The gas outlet formed in the inner tube according to the present invention is preferably formed on the opposite side where the gas supply pipe is installed so that the reaction gas supplied through the gas supply pipe can be uniformly supplied between the wafers loaded on the boat.
본 발명에 따른 내관에 형성된 가스 배출구는 가스 배출관을 통하여 반응 가스가 안정적으로 배출될 수 있도록 가스 배출관이 설치된 곳을 향하여 형성하는 것이 바람직하다.The gas outlet formed in the inner tube according to the present invention is preferably formed toward the place where the gas discharge pipe is installed so that the reaction gas can be stably discharged through the gas discharge pipe.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail an embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 이중 반응관을 이용한 CVD 장치(200)를 나타내는 부분 단면도이다. 도 2를 참조하면, CVD 장치(200)는 반응가스가 주입되는 가스 공급관(130)과, 가스 공급관(130)과 연결된 이중 반응관(110)과, 이중 반응관(110)의 외측에 배치되어 이중 반응관(110)을 가열하는 가열원(120)과, 반응되고 남은 잔류가스와 미반응된 부산물을 배출하기 위한 가스 배출관(140) 및 이중 반응관(110) 내부에 설치되는 보트(150)를 포함하며, 보트(150)의 밑 부분은 회전축(170)에 축지(軸支)된 구조를 갖는다.2 is a partial cross-sectional view showing a CVD apparatus 200 using a double reaction tube according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 2, the CVD apparatus 200 is disposed outside the gas supply pipe 130 into which the reaction gas is injected, the double reaction pipe 110 connected to the gas supply pipe 130, and the double reaction pipe 110. A heating source 120 for heating the double reaction tube 110, a gas discharge tube 140 for discharging the remaining residual gas and unreacted by-products, and a boat 150 installed inside the double reaction tube 110. It includes, the bottom portion of the boat 150 has a structure (축) (축) is stored on the rotating shaft (170).
이중 반응관(110)은 석영 반응관으로서, 보트를 둘러싸는 내관(112)과, 그 내관(112)의 외측에 배치되는 외관(114)으로 구성된다. 내관(112)의 내부에는 복수개의 웨이퍼(160)가 적층된 보트(150)가 설치되며, 보트(150)의 밑부분은 회전축(170)에 축지되어 있다. 내관(112)의 상부는 개방되어 있어 내관(112)에 주입되는 반응가스가 내관(112)의 상부의 형성된 개방부(116)를 거쳐 외관(114)을 통하여 가스 배출관(140)으로 배출될 수 있다. 보트(150) 또한 재질이 석영이다.The double reaction tube 110 is a quartz reaction tube, and includes an inner tube 112 surrounding a boat and an outer side 114 disposed outside the inner tube 112. Inside the inner tube 112, a boat 150 in which a plurality of wafers 160 are stacked is installed, and a bottom portion of the boat 150 is supported on the rotation shaft 170. The upper portion of the inner tube 112 is open so that the reaction gas injected into the inner tube 112 may be discharged to the gas discharge pipe 140 through the exterior 114 through the opening 116 formed at the upper portion of the inner tube 112. have. The boat 150 is also made of quartz.
특히, 본 발명의 실시예에 따른 내관(112)은 보트(150)의 직경보다 작게 형성된 개방부(116)를 가지며, 내관(112)의 내벽을 관통하여 복수개의 가스 배출구(118)가 소정의 간격을 두고 수직으로 형성된 구조를 갖는다.In particular, the inner tube 112 according to the embodiment of the present invention has an opening 116 formed smaller than the diameter of the boat 150, a plurality of gas outlets 118 through the inner wall of the inner tube 112 is predetermined It has a structure formed vertically at intervals.
이와 같이 내관(112)을 형성한 이유는, 내관(112) 내부에서의 반응가스의 흐름을 균일하게 하여 보트(150)에 적재된 웨이퍼(160) 상에 일정한 두께의 박막을 증착시키기 위해서이다. 즉, 내관(112)의 상부에 형성된 개방부(116)를 보트(150)의 직경보다 작게 형성함으로써, 내관(112)으로 공급된 반응가스가 개방부(116)를 통하여 외관(114)으로 배출되는 양을 줄일 수 있다. 그리고, 이와 같이 줄어든 반응가스는 내관(112)의 내벽에 형성된 복수의 가스 배출구(118)를 통하여 배출되는데, 가스 배출구(118)는 웨이퍼(160)가 적재된 방향으로 형성되기 때문에, 웨이퍼(160)의 양면에 수평한 방향으로 반응가스의 흐름을 유도하여 보트(150)에 적재된 웨이퍼(160)와 웨이퍼(160) 사이를 반응가스가 지나가게 되어 웨이퍼(160) 상에 일정한 두께의 박막을 증착시킬 수 있다.The reason why the inner tube 112 is formed as described above is to uniformly flow the reaction gas inside the inner tube 112 so as to deposit a thin film having a predetermined thickness on the wafer 160 loaded on the boat 150. That is, by forming the opening 116 formed on the upper portion of the inner tube 112 smaller than the diameter of the boat 150, the reaction gas supplied to the inner tube 112 is discharged to the outer appearance 114 through the opening 116. You can reduce the amount. In addition, the reduced reaction gas is discharged through the plurality of gas outlets 118 formed on the inner wall of the inner tube 112. Since the gas outlets 118 are formed in the direction in which the wafer 160 is loaded, the wafer 160 The reaction gas flows between the wafer 160 loaded on the boat 150 and the wafer 160 by inducing the flow of the reaction gas in a horizontal direction on both sides of the bottom surface). Can be deposited.
그리고, 내관(112)에 형성된 가스 배출구(118)는 가스 공급관(130)을 통하여 공급된 반응가스가 보트(150)에 적재된 웨이퍼(160) 사이에 균일하게 공급될 수 있도록 가스 공급관(130)이 설치된 곳의 반대쪽에 형성하는 것이 바람직하며, 그와 동시에 가스 배출관(140)을 통하여 반응되고 남은 가스가 안정적으로 배출될 수 있도록 가스 배출관(140)이 설치된 곳을 향하여 형성하는 것이 더욱 바람직하다.In addition, the gas outlet 118 formed in the inner tube 112 has a gas supply pipe 130 such that the reaction gas supplied through the gas supply pipe 130 may be uniformly supplied between the wafers 160 loaded on the boat 150. It is preferable to form on the opposite side of the installation, and at the same time it is more preferable to form toward the place where the gas discharge pipe 140 is installed so that the gas remaining reacted through the gas discharge pipe 140 can be stably discharged.
반응가스가 주입되는 가스 공급관(130)은 내관(112)의 내부와 연결되어 있으며, 내관(112)의 내부의 측면부에 평행하게 설치되어 있다. 그리고, 가스 공급관(130)은 짧은 길이로 되어 있으며, 보트(150)의 밑부분 가까이에 설치되어 있다. 반응가스는 가스 공급관(130)의 상부로부터 위쪽으로 공급되어, 웨이퍼(160) 상에 박막을 증착시키고, 웨이퍼를 통과한 배출가스는 내관(112)의 상부에 있는 개방부(116)와 가스 배출구(118)로 배출되어, 내관(112)과 외관(114) 사이에 연결된 가스 배출관(140)을 통해서 이중 반응관(110) 밖으로 배출된다.The gas supply pipe 130 into which the reaction gas is injected is connected to the inside of the inner tube 112, and is installed in parallel with the side surface of the inner tube 112. The gas supply pipe 130 has a short length and is provided near the bottom of the boat 150. The reaction gas is supplied upward from the top of the gas supply pipe 130 to deposit a thin film on the wafer 160, and the exhaust gas passing through the wafer is the opening 116 and the gas outlet at the top of the inner pipe 112. It is discharged to 118, and is discharged out of the double reaction tube 110 through the gas discharge pipe 140 connected between the inner tube 112 and the exterior 114.
본 발명의 실시예에 따른 CVD 장치(200)를 이용한 CVD 공정은, 보트(150)가 축지된 회전축(170)이 소정의 속도로 회전하는 상태에서 가스 공급관(130)을 통하여 반응가스를 공급하면, 반응가스는 내관(112)의 내부에서 복수의 가스 배출구(118)쪽으로 이동하면서 보트(150)에 적재된 웨이퍼(160) 상에 필요한 박막을 일정한 두께로 증착시키고, 내관의 개방부(116)와 가스 배출구(118)를 통과한 반응되고 남은 반응가스를 포함한 배출가스는 가스 배출관(140)을 통하여 이중 반응관(110) 밖으로 배출시키는 단계로 진행된다.In the CVD process using the CVD apparatus 200 according to an embodiment of the present invention, when the reaction shaft is supplied through the gas supply pipe 130 in a state in which the rotating shaft 170 on which the boat 150 is stored is rotated at a predetermined speed, In addition, the reaction gas moves to the plurality of gas outlets 118 in the inner tube 112 and deposits a thin film on the wafer 160 loaded on the boat 150 to a predetermined thickness, and the opening 116 of the inner tube. And the discharge gas including the reaction gas remaining after the reaction passed through the gas outlet 118 proceeds to the step of discharging out of the double reaction tube 110 through the gas discharge pipe 140.
따라서, 본 발명의 구조를 따르면 가스 공급관에서 내관으로 공급된 반응 가스가 내관의 개방부를 통하여 외관으로 배출되는 양이 줄어들고, 내관의 내벽에 형성된 가스 배출구를 통하여 배출되는 양이 증가하기 때문에, 내관 내에서의 반응 가스의 수평적 흐름이 증가하고, 내관 내에서의 반응 가스의 흐름이 균일하게 되어, 보트에 적재된 웨이퍼 상에 균일한 두께의 박막을 증착시킬 수 있다.Therefore, according to the structure of the present invention, since the amount of the reaction gas supplied from the gas supply pipe to the inner pipe is discharged to the outside through the opening of the inner pipe is reduced, and the amount discharged through the gas outlet formed on the inner wall of the inner pipe is increased, The horizontal flow of the reactant gas in the process increases, and the flow of the reactant gas in the inner tube becomes uniform, so that a thin film of uniform thickness can be deposited on the wafer loaded in the boat.
Claims (3)
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019980029444A KR20000009190A (en) | 1998-07-22 | 1998-07-22 | Chemical vapor deposition apparatus |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101304361B1 (en) * | 2010-11-11 | 2013-09-11 | 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 | Substrate processing apparatus, method of manufacturing semiconductor device, and semiconductor device |
-
1998
- 1998-07-22 KR KR1019980029444A patent/KR20000009190A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US9496134B2 (en) | 2010-11-11 | 2016-11-15 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Substrate processing apparatus, method of manufacturing semiconductor device and semiconductor device |
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