KR20000004486A - Analog-digital converter - Google Patents

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KR20000004486A KR1019980025925A KR19980025925A KR20000004486A KR 20000004486 A KR20000004486 A KR 20000004486A KR 1019980025925 A KR1019980025925 A KR 1019980025925A KR 19980025925 A KR19980025925 A KR 19980025925A KR 20000004486 A KR20000004486 A KR 20000004486A
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이용섭
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김영환
현대반도체 주식회사
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/34Analogue value compared with reference values
    • H03M1/38Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type

Abstract

PURPOSE: An analog-digital converter is provided to improve the reliability of converting and economical efficiency. CONSTITUTION: The analog-digital converter comprises: a plurality of resistors(31) serially connected each other so as to generate a plurality of threshold voltages between Vfs and VSS; a first comparing portion(32) for outputting a first digital code by simultaneously comparing the each threshold voltage and an input analog voltage; an upper bit processing portion(36) for determining upper bits by receiving an output of the first comparing portion; a second comparing portion(33) for outputting a second digital code by comparing the input analog voltage and an external VD/A; a SAR portion(34) including the upper bit processing portion, and for outputting a final digital code including the determined upper bits after storing the second digital code; and D/A converting portion(35) for outputting the VD/A by receiving a digital code stored in the SAR portion.

Description

아날로그/디지탈 변환기Analog / digital converter

본 발명은 아날로그/디지탈(A/D:Analog Digital) 변환기에 관한 것으로, 특히 변환의 신뢰성 및 경제성을 향상시키는 A/D 변환기에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to analog-to-digital (A / D) converters, and more particularly to an A / D converter that improves the reliability and economics of conversion.

도 1은 종래 일예의 SAR형 A/D 변환기를 나타낸 블록도이고, 도 2는 종래 다른예의 플래시형 A/D 변환기를 나타낸 블록도이다.1 is a block diagram showing a conventional SAR type A / D converter, Figure 2 is a block diagram showing a conventional flash type A / D converter.

종래 일예의 SAR(Successive Approximation Register)형 A/D 변환기는 도 1에서와 같이, 제 1 비교부(11), SAR부(12), D/A 변환부(13)와, 클럭부(21)로 구성된다.A conventional SAR (Successive Approximation Register) type A / D converter has a first comparator 11, a SAR unit 12, a D / A converter 13, and a clock unit 21 as shown in FIG. It consists of.

여기서 상기 SAR부(12)는 축차 비교 레지스터로 상기 제 1 비교부(11)의 디지탈 코드(Digital Code)와 클럭부(21)의 클럭을 입력 받아 상기 디지탈 코드를 저장하고 최종 디지탈 코드를 외부로 출력 한다.Here, the SAR unit 12 receives the digital code of the first comparison unit 11 and the clock of the clock unit 21 as a sequential comparison register, stores the digital code, and stores the final digital code to the outside. Output.

그리고 상기 D/A 변환부(13)는 상기 SAR부(12)의 디지탈 코드를 입력 받아 상기 디지탈 코드를 디코딩(Decoding)하여 상기 제 1 비교부(11)에 VD/A를 출력한다.The D / A converter 13 receives the digital code of the SAR unit 12 and decodes the digital code to output V D / A to the first comparator 11.

상기 제 1 비교부(11)는 부(-)단자에 상기 VD/A가 연결되고 양(+)단자에 상기 VD/A과 비교할 비교 전압으로 아날로그 입력 신호인 아날로그 전압(Va)이 연결된 Op Amp(Operational Amplifier)로 구성되어 상기 VD/A와 Va을 비교하고 디지탈 코드를 출력한다.The first comparator 11 has the V D / A connected to a negative terminal and an analog voltage Va, an analog input signal, connected to a positive terminal to be compared with the V D / A. Op Amp (Operational Amplifier) is configured to compare the V D / A and Va and output a digital code.

상기와 같은 종래 일예의 SAR형 A/D 변환기의 동작을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the conventional SAR type A / D converter as described above is as follows.

먼저, 상기 SAR부(12)의 디지탈 코드가 100...000(N개)이고 이값을 상기 D/A 변환부(13)를 이용하여 아날로그 전압인 제 1 VD/A로 변환 시킨다.First, the digital code of the SAR unit 12 is 100 ... 000 (N pieces), and this value is converted into the first V D / A which is an analog voltage by using the D / A converter 13.

이어, 상기 제 1 VD/A와 Va를 상기 제 1 비교부(11)에서 비교하면 하이(High) 또는 로우(Low) 값을 얻는다.Subsequently, when the first V D / A and Va are compared by the first comparator 11, a high or low value is obtained.

즉, 상기 Va과 비교하여 제 1 VD/A가 크면 하이가 되고, 그 반대로 상기 Va과 비교하여 제 1 VD/A가 작으면 로우가 된다.In other words, when the first V D / A is large compared to the Va is high, on the contrary, when the first V D / A is small compared to the Va is low.

만일 상기 제 1 비교부(11)의 출력이 하이이면 상기 SAR부(12)의 최상위비트는 0으로 저장되고, 로우이면 상기 SAR부(12)의 최상위 비트는 1로 저장된다.If the output of the first comparator 11 is high, the most significant bit of the SAR unit 12 is stored as 0, and if it is low, the most significant bit of the SAR unit 12 is stored as 1.

이때, 상기 제 1 비교부(11)의 출력이 로우이면 상기 SAR부(12)의 디지탈 코드의 값은 100...000이되고, 상기 제 1 비교부(11)의 출력이 하이이면 상기 SAR부(12)의 디지탈 코드의 값은 000...000이된다.In this case, when the output of the first comparator 11 is low, the value of the digital code of the SAR unit 12 is 100.000, and if the output of the first comparator 11 is high, the SAR The value of the digital code of the part 12 is 000 ... 000.

그리고, 그 다음 비트들도 상기와 같은 동작을 반복하여 0 또는 1의 값을 결정한다.The next bits then repeat the same operation to determine a value of zero or one.

최하위 비트(LSB)의 값을 결정하면 아날로그 입력 신호에 대한 디지탈 값을 결정한다.Determining the value of the least significant bit (LSB) determines the digital value for the analog input signal.

종래 다른예의 플래시형 A/D 변환기는 도 2에서와 같이, 아날로그 입력 신호를 n비트 디지탈로의 변환시 Vfs(fs:full scale)와 VSS 사이에 2n개의 저항이 직렬로 연결된 저항열(14), 제 2 비교부(15)와, 우선 부호기(프라이어러티 인코더:Priority Encoder)(16)로 구성된다.In another conventional flash type A / D converter, as shown in FIG. 2, a resistance string 14 having 2 n resistors connected in series between Vfs (fs: full scale) and VSS in converting an analog input signal into n-bit digital is shown. And a second comparator 15, and a coder (priority encoder) 16 first.

여기서, 상기 제 2 비교부(15)는 양단자에 아날로그 입력 신호인 Va가 연결되고 부단자에 상기 Va와 비교할 비교 전압으로 동일 간격의 즉 상기 저항열(14)의 저항 사이의 임계 전압인 Vfs가 연결된 2n-1개의 Op Amp로 구성되어 상기 Vfs와 Va을 비교하고 디지탈 코드를 출력한다.Here, the second comparator 15 has Vfs, which is an analog input signal connected to both terminals, and a threshold voltage between the resistors of the resistance string 14 at equal intervals as a comparison voltage to be compared with Va at the negative terminal. It is composed of 2 n -1 Op Amp connected to compare Vfs and Va and output a digital code.

상기와 같은 종래 다른예의 플래시형 A/D 변환기의 동작을 설명하면 다음과 같다.The operation of the flash-type A / D converter of another conventional example as described above is as follows.

상기 Va가 상기 제 2 비교부(15)의 다수개의 Op Amp에 동시에 인가되어 상기 Va보다 높은 Vfs가 연결된 Op Amp는 낮은 출력 즉 0을 상기 우선 부호기(16)에 출력하며, 상기 Va보다 낮은 Vfs가 연결된 Op Amp는 높은 출력 즉 1을 상기 우선 부호기(16)에 출력한다.When the Va is simultaneously applied to a plurality of Op Amps of the second comparator 15, the Op Amp to which Vfs higher than Va is connected outputs a low output, that is, 0 to the priority encoder 16, and Vfs lower than Va. Op Amp connected to outputs a high output, that is, 1 to the priority encoder 16.

그리고, 상기 우선 부호기(16)는 상기 제 2 비교부(15)의 출력을 조합하여 최종 디지탈 출력을 결정한다.The priority encoder 16 then combines the outputs of the second comparator 15 to determine the final digital output.

그러나 종래의 A/D 변환기는 다음과 같이 변환의 신뢰성 및 경제성을 저하시키는 문제점이 있었다.However, the conventional A / D converter has a problem of lowering the conversion reliability and economics as follows.

첫째, SAR형 A/D 변환기는 1개의 클럭 주기마다 1개의 n비트값을 결정하기 때문에 n비트의 변환시간은 n×클럭 주기가 되므로 많은 소요 시간이 필요하다.First, since the SAR-type A / D converter determines one n-bit value every one clock period, the n-bit conversion time is n × clock period, which requires a lot of time.

둘째, 플래시형 A/D 변환기는 n비트 변환시 2n-1개의 변환기가 필요하므로 칩의 크기가 커지고, n비트 변환시 2n-1개의 신호처리를 위한 우선 부호기가 복잡해지며, 변환의 정밀도가 SAR형 A/D 변환기보다 떨어진다.Second, the flash type A / D converter requires 2 n -1 converters for n-bit conversion, resulting in a larger chip size, a complexity of priority encoders for 2 n -1 signal processing for n-bit conversion, and a high precision of SAR. It is worse than type A / D converter.

본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로 플래시형 A/D 변환기의 저항열과 제 1 비교부 그리고 SAR형 A/D 변환기의 제 2 비교부, SAR부와, D/A 변환부로 구성하여 변환의 신뢰성 및 경제성을 향상시키는 A/D 변환기을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems and consists of a resistor string and a first comparator of a flash type A / D converter and a second comparator, a SAR part and a D / A converter of a SAR type A / D converter. The object is to provide an A / D converter that improves the reliability and economics of the conversion.

도 1은 종래 일예의 SAR형 A/D 변환기를 나타낸 블록도1 is a block diagram showing a conventional SAR type A / D converter

도 2는 종래 다른예의 플래시형 A/D 변환기를 나타낸 블록도Figure 2 is a block diagram showing another conventional flash type A / D converter

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 A/D 변환기를 나타낸 블록도3 is a block diagram illustrating an A / D converter according to an embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 A/D 변환기의 SAR부를 나타낸 블록도4 is a block diagram illustrating a SAR unit of an A / D converter according to an embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 A/D 변환기의 최상위 비트와 차상위 비트를 결정하기 위한 회로도5 is a circuit diagram for determining a most significant bit and a next higher bit of an A / D converter according to an embodiment of the present invention.

도면의 주요부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts of the drawings

31: 저항열 32: 제 1 비교부31: resistance row 32: first comparison unit

33: 제 2 비교부 34: SAR부33: second comparison unit 34: SAR unit

35: D/A 변환부 36: 상위 n/2비트 처리부35: D / A converter 36: upper n / 2 bit processor

37: 하위 n/2비트 처리부 39: 클럭부37: lower n / 2-bit processor 39: clock unit

41: 제 1 인버터 42: 제 2 인버터41: first inverter 42: second inverter

43: 제 1 트랜스퍼 게이트 44: 제 2 트랜스퍼 게이트43: first transfer gate 44: second transfer gate

본 발명의 A/D 변환기는 Vfs와 VSS 사이에 다수개의 임계 전압이 발생되도록 다수개의 직렬 저항으로 구성된 저항열, 상기 각각의 임계 전압과 입력 아날로그 전압을 동시에 비교하여 재 1 디지탈 코드를 출력하는 제 1 비교부, 상기 제 1 비교부의 출력들을 입력 받아 상위 비트들을 결정하는 상위 비트 처리부, 상기 입력 아날로그 전압과 외부의 VD/A을 비교하고 제 2 디지탈 코드를 출력하는 제 2 비교부, 상기 상위 비트 처리부를 포함하며 상기 제 2 디지탈 코드를 저장하고 상기 결정된 상위 비트들을 포함한 최종 디지탈 코드를 외부로 출력하는 SAR부와, 상기 SAR부에 저장된 디지탈 코드를 입력 받아 상기 VD/A를 출력하는 D/A 컨버터부를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.The A / D converter according to the present invention outputs a first digital code by simultaneously comparing a resistance string consisting of a plurality of series resistors, a plurality of series resistors, and each of the threshold voltages and an input analog voltage to generate a plurality of threshold voltages between Vfs and VSS. A first comparator, an upper bit processor configured to receive outputs of the first comparator, and determine higher bits, a second comparator configured to compare the input analog voltage with an external V D / A and output a second digital code; A SAR unit which includes a bit processing unit and stores the second digital code and outputs a final digital code including the determined upper bits to the outside; and D which receives the digital code stored in the SAR unit and outputs the V D / A. It comprises a / A converter unit.

상기와 같은 본 발명에 따른 A/D 변환기의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Referring to the preferred embodiment of the A / D converter according to the present invention as described above in detail with reference to the accompanying drawings as follows.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 A/D 변환기를 나타낸 블록도이고, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 A/D 변환기의 SAR부를 나타낸 블록도이며, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 A/D 변환기의 최상위 비트와 차상위 비트를 결정하기 위한 회로도이다.3 is a block diagram illustrating an A / D converter according to an embodiment of the present invention, FIG. 4 is a block diagram showing a SAR unit of an A / D converter according to an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is an embodiment of the present invention. Is a circuit diagram for determining the most significant bit and the next higher bit of the A / D converter.

본 발명의 실시예에 따른 A/D 변환기는 도 3에서와 같이, 아날로그 입력 신호를 n비트 디지탈로의 변환시 플래시형 A/D 변환기의 저항열(31)과 제 1 비교부(32) 그리고 SAR형 A/D 변환기의 제 2 비교부(33), SAR부(34), D/A 변환부(35)와, 클럭부(39)로 구성된다.In the A / D converter according to the embodiment of the present invention, as shown in FIG. 3, the resistor string 31, the first comparator 32, and the SAR of the flash-type A / D converter when converting an analog input signal into n-bit digital. A second comparator 33, a SAR unit 34, a D / A converter 35, and a clock unit 39 of the type A / D converter.

여기서, 상기 저항열(31)은 Vfs와 VSS 사이에 직렬로 연결된 2n/2개의 저항으로 구성되어 Vfs를 2n/2-1개의 임계 전압으로 분배하고, 상기 제 1 비교부(32)는 양단자에 아날로그 입력 신호인 아날로그 전압(Va)이 연결되고 부단자에 상기 Va와 비교할 비교 전압으로 동일 간격의 즉 상기 저항열(31)의 저항 사이의 임계 전압인 Vfs가 연결된 2n/2-1개의 Op Amp로 구성되어 상기 Vfs와 Va을 비교하고 디지탈 코드를 출력한다.Here, the resistor string 31 is composed of 2 n / 2 resistors connected in series between Vfs and VSS to divide Vfs into 2 n / 2 -1 threshold voltages, and the first comparator 32 to both terminals analog input signal is an analog voltage (Va) is connected and the second to the negative terminal is the threshold voltage of Vfs between resistance that is the resistance heating (31) of the same spacing is connected to the comparison voltage compared to the Va n / 2 - It consists of one Op Amp and compares Vfs and Va and outputs a digital code.

그리고, 상기 SAR부(34)는 축차 비교 레지스터로 도 4에서와 같이, 상위 n/2비트 처리부(36)와 하위 n/2비트 처리부(37)로 구성되어 상기 제 1, 제 2 비교부(32,33)의 디지탈 코드와 상기 클럭부(39)의 클럭을 입력 받아 상기 디지탈 코드를 저장하고 최종 디지탈 코드를 외부로 출력 한다.The SAR unit 34 is a sequential comparison register. The SAR unit 34 includes an upper n / 2-bit processor 36 and a lower n / 2-bit processor 37 as shown in FIG. 4. The digital codes of 32 and 33 and the clock of the clock unit 39 are inputted to store the digital codes and output the final digital codes to the outside.

그리고 상기 D/A 변환부(35)는 상기 SAR부(34)의 디지탈 코드를 입력 받아 상기 디지탈 코드를 디코딩하여 상기 제 2 비교부(33)에 VD/A를 출력한다.The D / A converter 35 receives the digital code of the SAR unit 34 and decodes the digital code to output V D / A to the second comparator 33.

상기 제 2 비교부(33)는 부단자에 상기 VD/A가 연결되고 양단자에 상기 VD/A과 비교할 비교 전압인 Va가 연결된 하나의 Op Amp로 구성되어 상기 VD/A와 Va을 비교하고 디지탈 코드를 출력한다.The second comparison part 33 is the V D / A are connected to the negative terminal and is composed of one of Op Amp is the V D / A as the comparison voltage of Va to compare connected to both terminals the V D / A and Va Compare and print the digital code.

상기와 같이 구성된 본 발명의 실시예에 따른 A/D 변환기의 동작을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the A / D converter according to an embodiment of the present invention configured as described above are as follows.

아날로그 입력 신호를 n비트 디지탈로의 변환시, A/D 변환기에 입력된 아날로그 신호는 먼저 n/2비트 플래시형 A/D 변환기를 통하여 1개의 클럭으로 상기 제 1 비교부(32)의 2n/2-1개의 Op Amp에서 비교된 2n/2-1개의 논리 신호를 상기 SAR부(34)에 입력된다.Of the analog signal by one clock, first through the n / 2-bit flash type A / D converter, the first comparison part 32 input during conversion to an analog input signal n bit digital, A / D converter 2 n / 2 n / 2 -1 logic signals compared at 2 -1 Op Amp are input to the SAR unit 34.

그리고, 상기 SAR부(34)는 플래시형 A/D 변환기에서 입력된 상기 2n/2-1개의 논리 신호를 상기 상위 n/2비트 처리부(36)에서 n/2비트로 조합하고 상기 조합된 n/2비트는 상기 SAR부(34)에서 상위 n/2비트로 셋팅(Setting)된다.In addition, the SAR unit 34 combines the 2 n / 2 -1 logic signals input from the flash type A / D converter into n / 2 bits in the upper n / 2 bit processing unit 36, and the combined n The / 2 bit is set to the upper n / 2 bits in the SAR unit 34.

상기 상위 n/2비트 처리부(36)에서의 최상위 비트(MSB)와 차상위 비트의 조합은 도 5에서와 같이, 최상위 비트는 두 개의 제 1 인버터(41)를 거친 상기 제 1 비교부(32)의 출력 W 2n/2-1-1에 의해 결정되고, 차상위 비트는 상기 제 1 비교부(32)의 출력 W 2n/2-1-1을 제 2 인버터(42)에 의해 각각 반대의 상태로 입력 받는 제 1, 제 2 트랜스퍼 게이트(Transfer Gate)(43,44)의 턴-온(Turn-on) 여부에 따라 상기 제 1 비교부(32)의 출력 W (2n/2-1-2n/2-2) 또는 W (2n/2-1+2n/2-2)으로 결정된다.The combination of the most significant bit (MSB) and the next higher bit in the upper n / 2 bit processor 36 is the first comparator 32 through two first inverters 41, as shown in FIG. Is determined by the output of W 2 n / 2-1 -1, and the next higher bit is opposite to the output W 2 n / 2-1 -1 of the first comparator 32 by the second inverter 42, respectively. Output W (2 n / 2-1 ) of the first comparator 32 depending on whether the first and second transfer gates 43 and 44 that are input in the state are turned on. -2 n / 2-2 ) or W (2 n / 2-1 +2 n / 2-2 ).

이어, 상위 n/2비트가 결정된 상태에서 상기 하위 n/2비트 처리부(37)에서 하위 최상위 비트는 1로 나머지 비트는 0으로 프리셋(Preset)하여 n비트의 디지탈 코드 값을 결정한다.Subsequently, in the state where the upper n / 2 bits are determined, the lower most significant bit is set to 1 and the remaining bits are set to 0 in the lower n / 2 bit processor 37 to determine n-bit digital code values.

그리고, 상기 하위 n/2비트 처리부(37)에서 결정된 디지탈 코드는 상기 D/A 변환부(35)로 입력되고 그 값에 해당하는 VD/A을 출력하여 Va와 상기 제 2 비교부(33)에서 비교되어 n/2-1번째 비트 값을 결정한다.The digital code determined by the lower n / 2-bit processor 37 is inputted to the D / A converter 35 and outputs V D / A corresponding to the value to output Va and the second comparator 33. ) To determine the n / 2-1th bit value.

이어서, 상기 하위 n/2비트 처리부(37)에서 상기와 같은 과정을 n/2번 반복하므로 아날로그 입력 신호에 대하여 n비트의 디지탈 값을 결정한다.Subsequently, the above n / 2-bit processing unit 37 repeats the above process n / 2 times, thereby determining a digital value of n bits for the analog input signal.

본 발명의 A/D 변환기는 플래시형 A/D 변환기의 저항열과 제 1 비교부그리고 SAR형 A/D 변환기의 제 2 비교부, SAR부와, D/A 변환부로 구성하여 아날로그 입력 신호를 n비트 디지탈로의 변환시 상위 n/2비트는 플래시형 A/D 변환기를 사용하고 하위 n/2비트는 SAR형 A/D 변환기를 사용하므로, SAR형 A/D 변환기의 소요 시간을 줄이고, 플래시형 A/D 변환기에서 종래보다 적은 변환기가 필요하므로 칩의 크기가 작아지고 변환의 정밀도를 향상시키므로 변환의 신뢰성 및 경제성을 향상시키는 효과가 있다.The A / D converter of the present invention is composed of a resistor string and a first comparator of a flash type A / D converter and a second comparator, a SAR part, and a D / A converter of a SAR type A / D converter to convert an analog input signal to n. When converting to bit digital, the upper n / 2 bits use flash type A / D converters and the lower n / 2 bits use SAR type A / D converters, which reduces the time required for SAR type A / D converters. In the A / D converter, less converters are required than in the prior art, thereby reducing the size of the chip and improving the accuracy of the conversion, thereby improving the reliability and economic efficiency of the conversion.

Claims (3)

Vfs와 VSS 사이에 다수개의 임계 전압이 발생되도록 다수개의 직렬 저항으로 구성된 저항열;A resistor string comprising a plurality of series resistors such that a plurality of threshold voltages are generated between Vfs and VSS; 상기 각각의 임계 전압과 입력 아날로그 전압을 동시에 비교하여 재 1 디지탈 코드를 출력하는 제 1 비교부;A first comparator for simultaneously comparing the respective threshold voltages and the input analog voltages and outputting a first digital code; 상기 제 1 비교부의 출력들을 입력 받아 상위 비트들을 결정하는 상위 비트 처리부;An upper bit processor configured to receive outputs of the first comparator and determine upper bits; 상기 입력 아날로그 전압과 외부의 VD/A을 비교하고 제 2 디지탈 코드를 출력하는 제 2 비교부; A second comparing unit comparing the input analog voltage with an external V D / A and outputting a second digital code; 상기 상위 비트 처리부를 포함하며 상기 제 2 디지탈 코드를 저장하고 상기 결정된 상위 비트들을 포함한 최종 디지탈 코드를 외부로 출력하는 SAR부;A SAR unit including the upper bit processing unit and storing the second digital code and outputting a final digital code including the determined upper bit to the outside; 상기 SAR부에 저장된 디지탈 코드를 입력 받아 상기 VD/A를 출력하는 D/A 컨버터부를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 A/D 변환기.And a D / A converter for receiving the digital code stored in the SAR and outputting the V D / A. 상기 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 SAR부는 상위 비트 처리부와 하위 비트 처리부로 구성됨을 특징으로 하는 A/D 변환기.The SAR unit comprises an upper bit processing unit and a lower bit processing unit. 상기 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 상위 비트 처리부는 최상위 비트를 결정하기 위한 두 개의 제 1 인버터와 차상위 비트를 결정하기 위하여 상기 최상위 비트를 제 2 인버터에 의해 각각 반대의 상태로 입력 받는 제 1, 제 2 트랜스퍼 게이트를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 A/D 변환기.The upper bit processing unit includes two first inverters for determining the most significant bit and first and second transfer gates receiving the most significant bit in opposite states by a second inverter to determine the next higher bit. A / D converter, characterized in that.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8120520B2 (en) 2009-11-02 2012-02-21 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Successive approximation analog/digital converter and time-interleaved successive approximation analog/digital converter
EP2509178A4 (en) * 2009-11-30 2015-04-29 Toshiba Kk Protective relay

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