KR19980060579A - Semiconductor memory device with extended memory function - Google Patents

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김홍석
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김영환
현대전자산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 데이타의 연관성을 이용가중값 코드로 변환시켜 정보를 저장하고 읽어냄으로써 정보 저장에 소요되는 메모리 셀의 갯수를 대폭 줄인 확장 메모리 기능을 갖는 반도체 메모리 장치에 관한 것으로, 이를 구현하기 위하여 메모리 셀 어레이 블럭과, 상기 메모리 셀에 저장할 입력 데이타를 버퍼렁하기 위한 데이타 입력 버퍼와, 상기 메모리 셀로부터 출력된 데이타를 버퍼렁히가 위한 데이타 출력 버퍼와, 상기 데이타 입력 버퍼로부터 출력된 입력 데이타를 가중값 코드로 인코딩하여 데이타 압축후 상기 메모리 셀 어레이 블럭으로 전송하는 데이타 인코딩 수단과, 상기 메모리 셀 어레이 블럭으로부터 출력된 데이타를 디코딩하여 원 상태로 복원후 상기 데이타 출력 버퍼로 전송하는 데이타 디코딩 수단을 구비하였다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device having an extended memory function which significantly reduces the number of memory cells required for information storage by converting data associating data into use weight codes, thereby storing and reading information. A block, a data input buffer for buffering input data to be stored in the memory cell, a data output buffer for buffering data output from the memory cell, and input data output from the data input buffer as weighting codes. Data encoding means for encoding and transmitting data to the memory cell array block after data compression, and data decoding means for decoding the data output from the memory cell array block, restoring the data to its original state, and then transmitting the data to the data output buffer.

Description

확장 메모리 기능을 갖는 반도체 메모리 장치Semiconductor memory device with extended memory function

본 발명은 종래의 메모리 디바이스(Memory Device)들이 셀(Cell)에 전하(charge)를 라이트(Write)시키므로서 바이너리 코드(binary code)에 대응시키는데 반하여, 셀의 데이타에 가중값 코드(Weight Code)를 주어 데이타를 저장시키는 방법으로 모든 메모리 디바이스(DRAM, SDRAM, SRAM, ROM, Flash Memory 등)에 적용 가능하다.The present invention corresponds to a binary code by writing a charge to a cell, whereas a conventional memory device writes a weight code to data of a cell. It is applicable to all memory devices (DRAM, SDRAM, SRAM, ROM, Flash Memory, etc.) as a method of storing the subject data.

도 1은 종래의 메모리 디바이스에 데이타를 리드/라이트하는 과정을 도시한 256M 디램(DRAM)의 블럭도이다.1 is a block diagram of a 256M DRAM (DRAM) showing a process of reading / writing data to a conventional memory device.

일반적으로, 디램소자의 셀에 저장되어 있는 데이타를 리드/라이트하는 동작을 설명하면 다음과 같다.In general, an operation of reading / writing data stored in a cell of a DRAM device will be described below.

먼저, 디램소자를 동작시키는 주 신호인 라스(/RAS) 신호가 액티브 상태로 변하면서 로오 어드레스 버퍼(19)로 입력되는 어드레스 신호를 받아들이고, 이 때에 받아들인 어드레스 신호들을 디코딩하여 셀 어레이 블럭(10_0)의 워드라인 중에서 하나를 선택하는 로오 디코딩 동작이 이루어진다. 이때 선택된 워드라인에 연결되어 있는 셀들의 데이타가 비트라인(BL/BL)으로 실리게 되면 비트라인 센스 앰프가 구동하여 비트라인에 실린 미세한 신호의 데이타를 전원전압(Vcc) 및 접지전압(Vss)으로 증폭하게 된다. 그후 컬럼 어드레스 신호가 입력되면 증폭된 비트라인의 데이타들은 컬럼 디코더 출력신호에 의해 선택된 하나의 비트라인의 데이타만이 데이타 버스 라인(IO/IO)에 실리게 되고, 이 데이타들을 데이타 버스라인 센스 앰프에 의해 감지·증폭된 다음 데이타 출력 버퍼(15_0)를 통해 소자 외부로 출력하게 된다.First, the Ras (/ RAS) signal, which is the main signal for operating the DRAM element, changes to an active state, receives an address signal input to the row address buffer 19, decodes the received address signals, and decodes the cell array block 10_0. A row decoding operation is performed to select one of the word lines. At this time, when data of cells connected to the selected word line is loaded to the bit line BL / BL, the bit line sense amplifier is driven to supply the data of the minute signal loaded on the bit line to the power supply voltage Vcc and the ground voltage Vss. Will be amplified. Then, when the column address signal is input, the data of the amplified bit line includes only one bit line data selected by the column decoder output signal on the data bus line (IO / IO), and the data bus line sense amplifiers. Is sensed and amplified by the controller and then output to the outside of the device through the data output buffer 15_0.

상기한 바와 같이, 종래의 메모리 디바이스(Memory Device)는 셀에 저장된 전하의 존재 유무에 의해 데이타 '1'과 '0'을 결정하게 된다. 이와 같이 하나의 셀에 한개의 데이타를 저장시키는 경우, 1기가(Giga) 비트(Bit) 에스디램(SDRAM)의 경우에는 1기가 비트, 즉 1,073,741,824개의 셀이 필요로 하게 된다. 그리고, 메모리 디바이스의 어드레스 역시 2진수('1'과 '0')로 주어져 디바이스의 밀도는 2의 N승(정수)으로 늘어나게 된다. 이런 이유로, 대부분의 칩의 밀도는 2의 2승배씩 증가되어 보통 4배가 되고, 셀의 밀도도 2n승씩 증가되어 보통 4배의 밀도를 갖게된다. 이는 셀의 갯수가 2n승씩 약 4배씩 증가되어 칩의 밀도를 증가시키게 되고, 이에 따른 파워의 소모도 가중시키게 되는 문제점이 있었다.As described above, the conventional memory device determines the data '1' and '0' by the presence or absence of the charge stored in the cell. As described above, when one data is stored in one cell, one giga bit SDRAM requires one gigabit, that is, 1,073,741,824 cells. The address of the memory device is also given as a binary number ('1' and '0') so that the density of the device is increased by an N power (integer) of two. For this reason, the density of most chips is increased by two powers of two, usually four times, and the density of cells is also increased by 2 n times, usually four times the density. This increases the density of the chip by increasing the number of cells by about 4 times by 2 n times, thereby increasing the power consumption.

따라서 본 발명의 목적은 데이타의 연관성을 이용가중값 코드로 변환시켜 정보를 저장하고 읽어냄으로써 정보 저장에 소요되는 메모리 셀의 갯수를 대폭 줄인 확장 메모리 기능을 갖는 반도체 메모리 장치를 제공하는데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a semiconductor memory device having an extended memory function which significantly reduces the number of memory cells required for information storage by converting data associations into use weight codes and storing and reading information.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 의한 확장 메모리 기능을 갖는 반도체 메모리 장치는 다수개의 메모리 셀 어레이 블럭과, 상기 메모리 셀에 저장할 입력 데이타를 버퍼링하기 위한 데이타 입력 버퍼와, 상기 메모리 셀로부터 출력된 데이타를 버퍼링하기 위한 데이타 출력 버퍼와, 상기 데이타 입력 버퍼로부터 출력된 입력 데이타를 가중값 코드로 인코딩하여 데이타 압축후 상기 메모리 셀 어레이 블럭으로 전송하는 데이타 인코딩 수단과, 상기 메모리 셀 어레이 블럭으로부터 출력된 디코딩하여 원 상태로 복원후 상기 데이타 출력 버퍼로 전송하는 데이타 디코딩 수단을 구비하였다.In order to achieve the above object, a semiconductor memory device having an extended memory function according to the present invention includes a plurality of memory cell array blocks, a data input buffer for buffering input data to be stored in the memory cell, and outputted from the memory cell. A data output buffer for buffering data, data encoding means for encoding input data output from the data input buffer into a weighted value code, and transmitting the data to the memory cell array block after data compression; and decoding output from the memory cell array block. Data decoding means for restoring the original state to the data output buffer.

도 1은 종래의 메모리 디바이스에서 데이타를 리드/라이트 하는 과정을 도시한 블럭도.1 is a block diagram showing a process of reading / writing data in a conventional memory device.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 DRAM의 블럭도.2 is a block diagram of a DRAM in accordance with an embodiment of the present invention.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *

10_0, 10_7 : 32비트 셀 어레이 블럭10_0, 10_7: 32-bit cell array block

11_0, 11_7 : 로오 디코더11_0, 11_7: Roo decoder

12_0, 12_7 : 컬럼 디코더12_0, 12_7: column decoder

13_0, 13_7 : 데이타 버스 센스 엠프13_0, 13_7: Data bus sense amplifier

14_0, 14_7 : 센스 앰프와 입/출력 게이트14_0, 14_7: Sense Amplifiers and Input / Output Gates

15_0, 15_7 : 데이타 출력 버퍼16_0, 16_7 : 데이타 출력핀15_0, 15_7: Data output buffer 16_0, 16_7: Data output pin

18 : 데이타 입력 버퍼19 : 로오 어드레스 버퍼와 래치 회로18: data input buffer 19: row address buffer and latch circuit

20 : 컬럼 어드레스 버퍼와 래치 회로21 : 제어 신호 발생회로20: column address buffer and latch circuit 21: control signal generating circuit

22 : 데이타 출력 버퍼 제어 회로22: data output buffer control circuit

상술한 목적과 특징 및 장점은 첨부된 도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통하여 보다 분명해 질 것이다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.The above objects, features, and advantages will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 256M DRAM의 블럭도를 도시한 것으로, 메모리 셀 어레이 블럭(10_0)과, 상기 메모리 셀에 저장할 입력 데이타를 버퍼링하기 위한 데이타 입력 버퍼(18)와, 상기 메모리 셀로부터 출력된 데이타를 버퍼링하기 위한 데이타 출력 버퍼(15_0)와, 상기 데이타 입력 버퍼(15_0)로부터 출력된 입력 데이타를 가중값 코드로 인코딩하여 데이타 압축후 상기 메모리 셀 어레이 블럭(10_0)으로 전송하는 압축코드 인코더 회로(30)와, 상기 메모리 셀 어레이 블럭(10_0)으로부터 출력된 데이타를 디코딩하여 원 상태로 복원후 상기 데이타 출력 버퍼(15_0)로 전송하는 압축코드 디코더 회로(40)를 구비한다.2 illustrates a block diagram of a 256M DRAM according to an embodiment of the present invention, a memory cell array block 10_0, a data input buffer 18 for buffering input data to be stored in the memory cell, and the memory. Data output buffer 15_0 for buffering the data output from the cell, and input data output from the data input buffer 15_0 is encoded with a weighted code to compress the data and then transmit the data to the memory cell array block 10_0. A code encoder circuit 30 and a compressed code decoder circuit 40 for decoding the data output from the memory cell array block 10_0, restoring the original state, and transmitting the data to the data output buffer 15_0.

상기 구성에 의한 동작을 살펴보면, 데이타 입력 버퍼(18)로 입력된 2진수의 데이타를 상기 압축코드 인코더 회로(30)에 서 8진수, 또는 16진수의 값으로 변환 압축시켜서 상기 셀 어레이 블럭(10_0)에 데이타를 저장시키게 된다. 예를 들어, 바이트(byte) 단위로 동작하는 디바이스라면 데이타 입력 버퍼는D0∼D7까지 8개를 갖고 있으므로 2진수의 데이타를 칩에 라이트시키게 된다. 여기서, 8비트 데이타가 '00000001'이라면 2진수 코드로 표현하면 '001'이 된다. 상기 데이타 입력 버퍼(18)로 입력된 2진수의 데이타 '00000001'는 상기 압축코드 인코더 회로(30)에서 압축 코드로 인코딩된 후 셀로 라이트하게 되는데, 이때 인코딩된 데이타는 (001)c3비트의 2진 데이타이므로 3개의 셀만 있으면 8비트 '00000001' 2진 데이타를 라이트 시킬 수 있게 된다.Referring to the operation by the above configuration, the binary data inputted to the data input buffer 18 is converted into an octal or hexadecimal value by the compression code encoder circuit 30 to be compressed. ) To save the data. For example, a device operating in units of bytes has eight data input buffers, D0 to D7, so that binary data is written to the chip. Here, if the 8-bit data is '00000001', it is '001' when expressed in binary code. The binary data '00000001' input to the data input buffer 18 is encoded by the compression code in the compression code encoder circuit 30 and then written to the cell, where the encoded data is (001) c 3 bits. Since it is binary data, only three cells can write 8-bit '00000001' binary data.

그리고, 셀에 저장된 데이타를 읽을 경우에는 2진 바이너리 데이타 001을 읽은 후 이것을 데이타 출력 버퍼(15_0) 이전에 압축코드 디코더 회로(40)에서 원래 상태의 8비트 2진 데이타('00000001')로 다시 디코딩시켜 데이타를 출력시키면 데이타 출력 버퍼의 DQ0∼7 핀에서 2진 데이타 '00000001'가 출력되게 된다.When reading the data stored in the cell, the binary binary data 001 is read and then converted back to the original 8-bit binary data ('00000001') by the compression code decoder circuit 40 before the data output buffer 15_0. When the data is decoded and output, the binary data '00000001' is output at the DQ0 to 7 pins of the data output buffer.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 확장 메모리 기능을 갖는 반도체 메모리 장치는 데이타의 연관성을 이용값중 코드로 변환시켜 셀에 저장하고 읽어냄으로써 데이타 저장에 소요되는 메모리 셀의 갯수를 대폭 줄일수가 있으며, 또한 메모리의 용량을 압축 코드에 따라 늘일 수 있고, 데이타가 압축되어 파워 소모를 줄일 수 있는 효과가 있다. 그리고, 메모리에 기억되는 데이타는 압축 코드 및 데이타의 길이에 따라 변하지만 종전의 메모리 셀로도 용량이 대부분 증가하게 되는 효과가 있으며, 메모리 용량을 종전의 SDRAM과 같이 고정시킬 경우 ECC 코드를 메모리 셀의 증가없이 추가할 수 있다.As described above, the semiconductor memory device having an extended memory function according to the present invention can significantly reduce the number of memory cells required for data storage by converting the data association into a code among the available values and storing and reading them in the cell. In addition, the memory capacity can be increased according to the compression code, and data can be compressed to reduce power consumption. In addition, the data stored in the memory varies depending on the compression code and the length of the data, but the capacity of the conventional memory cells is increased. In the case where the memory capacity is fixed like the conventional SDRAM, the ECC code is Can be added without increase.

아울러 본 발명의 바람직한 실시예들은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 당업자라면 본 발명의 사상과 범위안에서 다양한 수정, 변경, 부가 등이 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허 청구의 범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.In addition, preferred embodiments of the present invention are disclosed for the purpose of illustration, those skilled in the art will be able to make various modifications, changes, additions, etc. within the spirit and scope of the present invention, such modifications and modifications belong to the following claims You will have to look.

본 발명은 반도체 메모리 장치에 관한 것으로, 특히 데이타의 연관성을 이용가중값 코드로 변환시켜 정보를 저장하고 읽어냄으로써 정보 저장에 소요되는 메모리 셀의 갯수를 대폭 줄인 확장 메모리 기능을 갖는 반도체 메모리 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device, and more particularly, to a semiconductor memory device having an extended memory function that significantly reduces the number of memory cells required for information storage by converting data into a weight-weight code and storing and reading information. .

Claims (3)

반도체 메모리 장치에 있어서,In a semiconductor memory device, 다수개의 메모리 셀 어레이 블럭과,A plurality of memory cell array blocks, 상기 메모리 셀에 저장할 입력 데이타를 버퍼링하기 위한 데이타 입력 버퍼와,A data input buffer for buffering input data to be stored in the memory cell; 상기 메모리 셀로부터 출력된 데이타를 버퍼링하기 위한 데이타 출력 버퍼와,A data output buffer for buffering data output from the memory cell; 상기 데이타 입력 버퍼로부터 출력된 입력 데이타를 가중값 코드로 인코딩하여 데이타 압축후 상기 메모리 셀 어레이 블럭으로 전송하는 데이타 인코딩 수단과,Data encoding means for encoding the input data output from the data input buffer into a weighted value code and transmitting the data to the memory cell array block after data compression; 상기 메모리 셀 어레이 블럭으로부터 출력된 데이타를 디코딩하여 원 상태로 복원후 상기 데이타 출력 버퍼로 전송하는 데이타 디코딩 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 확장 메모리 기능을 갖는 반도체 메모리 장치.And data decoding means for decoding the data output from the memory cell array block, restoring the data to an original state, and transmitting the data output buffer to the data output buffer. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 가중값 코드는 23×N 진수값을 가지는 것을 특징으로 하는 확장 메모리 기능을 갖는 반도체 메모리 장치.And the weighting code has a 2 3 × N decimal value. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 영문자 N은 1이상 자연수인 것을 특징으로 하는 확장 메모리 기능을 갖는 반도체 메모리 장치.And said alphabet letter N is one or more natural numbers.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0581123A (en) * 1991-09-25 1993-04-02 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor memory
JPH05204747A (en) * 1992-01-29 1993-08-13 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor memory controller
US5287305A (en) * 1991-06-28 1994-02-15 Sharp Kabushiki Kaisha Memory device including two-valued/n-valued conversion unit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5287305A (en) * 1991-06-28 1994-02-15 Sharp Kabushiki Kaisha Memory device including two-valued/n-valued conversion unit
JPH0581123A (en) * 1991-09-25 1993-04-02 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor memory
JPH05204747A (en) * 1992-01-29 1993-08-13 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor memory controller

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