KR19980060318A - Optical pickup device with light intensity control - Google Patents

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Abstract

본 발명은 광원에서 발생되는 광빔의 세기를 일정하게 유지하여 광디스크를 정확하게 억세스할 수 있는 광세기 제어 기능를 가진 광픽업 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an optical pickup apparatus having a light intensity control function capable of accurately accessing an optical disc by maintaining a constant intensity of a light beam generated from a light source.

본 발명에 따른 광픽업 장치는 광디스크에 조사될 광빔을 발생하는 광원과, 광원에서 발생된 광빔의 세기를 검출하기 위한 제1광검출기와, 제1광검출기와 동일평면상에 나란하게 배열되어 광디스크에 의해 반사된 광빔을 검출하기 위한 제2광검출기와, 광원으로부터의 광빔의 일부를 광디스크쪽으로 그리고 나머지 일부를 제1광검출기쪽으로 분리함과 아울러 광디스크에 의해 반사된 광빔을 제2검출기쪽으로 전달하는 적응형 빔 스프이터와, 제1광검출기의 출력신호에 따라 광원을 제어하는 제어기를 구비한다.An optical pickup apparatus according to the present invention includes a light source for generating a light beam to be irradiated to an optical disk, a first photodetector for detecting the intensity of the light beam generated from the light source, and an optical disk arranged side by side on the same plane as the first photodetector. And a second photodetector for detecting the light beam reflected by the light source, separating a part of the light beam from the light source toward the optical disk and the other part toward the first photodetector, and transferring the light beam reflected by the optical disk to the second detector. And an adaptive beam splitter and a controller for controlling the light source in accordance with the output signal of the first photodetector.

이러한 구성에 의하여, 본 발명에 따른 광픽업 장치는 부피 및 구성을 간소화 할 수 있다.By such a configuration, the optical pickup apparatus according to the present invention can simplify the volume and configuration.

Description

광세기 제어 기능을 가진 광픽업 장치Optical pickup device with light intensity control

제 1도는 종래의 광세기 제어 기능을 가진 광픽업 장치의 구조를 개략적으로 도시하는 도면.1 is a diagram schematically showing the structure of a conventional optical pickup apparatus having a light intensity control function.

제 2도는 본 발명의 실시예에 따른 광세기 제어 기능을 가진 광픽업 장치의 구조를 개략적으로 도시하는 도면.2 is a diagram schematically showing the structure of an optical pickup apparatus having a light intensity control function according to an embodiment of the present invention.

제 3도는 제 2도에 광검출기를 상세하게 도시하는 도면.FIG. 3 shows the photodetector in detail in FIG.

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for the main parts of the drawings

10,30 : 광원 12,32 : 대물렌즈10,30 light source 12,32 objective lens

14,16,34 : 광검출기 18 : 빔 스프리터14,16,34: photodetector 18: beam splitter

20 : 파셜 미러 22,36C : λ/4 판20: partial mirror 22, 36C: λ / 4 plate

24,40 : 시준렌즈 26,28,42 : 센서렌즈24,40: collimating lens 26,28,42: sensor lens

29 : 제어부 36 : 적응형 빔 스프리터29 control unit 36 adaptive beam splitter

36A : 선택성 반사면 36B : 육면체 프리즘36A: Selective Reflective Surface 36B: Hexahedral Prism

36D : 전반사면을 갖는 λ/4 판 38 : 직각 프리즘36D: λ / 4 plate with total reflection surface 38: right angle prism

44 : A-D 변환기 46 : 광 제어기44: A-D converter 46: optical controller

48 : 지지판 50,52 : 수광소자48: support plate 50,52: light receiving element

본 발명은 광디스크를 광학적으로 억세스하는 광픽업 장치에 관한 것으로, 특히 광빔의 세기를 일정하게 유지하여 광디스크를 정확하게 억세스 할 수 있는 광세기 제어 기능을 가진 광픽업 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an optical pickup apparatus for optically accessing an optical disc, and more particularly, to an optical pickup apparatus having a light intensity control function capable of accurately accessing an optical disc by maintaining a constant intensity of the light beam.

통상의 광픽업 장치는 광디스크의 정보 기록면에 광빔을 조사하여 광디스크를 억세스한다. 이에 따라, 광픽업 장치는 기록 및 재생기 광원으로부터 광디스크의 정보 기록면쪽으로 진행하는 광빔의 세기를 정하게 유지하여야만 한다. 그리고 광픽업 장치는 기록시는 광디스크의 정보 기록면의 물질구조가 변화될 수 있도록 재생시 보다 비교적 센 광빔을 조사하여야함은 물론 일정한 세기의 유지하는 광빔을 발생시켜야만 한다. 이를 위하여, 광픽업 장치는 광빔의 세기 검출용으로 별도의 광검출기를 이용하여 광원에서 발생된 광빔의 세기를 검출하고 그 광검출기로부터의 전기적 신호를 이용하여 광원을 제어하였다.A conventional optical pickup apparatus accesses an optical disc by irradiating a light beam onto the information recording surface of the optical disc. Accordingly, the optical pickup apparatus must maintain the intensity of the light beam traveling from the recording and player light source toward the information recording surface of the optical disk. In addition, the optical pickup device must irradiate a relatively light beam at the time of reproduction so as to change the material structure of the information recording surface of the optical disk during recording, and must generate a light beam of constant intensity. To this end, the optical pickup apparatus detects the intensity of the light beam generated by the light source using a separate photodetector for detecting the intensity of the light beam, and controls the light source by using an electrical signal from the photodetector.

그러나, 광빔의 세기를 검출하기 위해 별도로 설치된 광검출기는 광픽업 장치의 부피를 크게 함과 아울러 광픽업 장치의 구성을 복잡하게 하는 요인으로 작용하였다. 이러한 종래의 광픽업 장치의 문제점을 첨부한 제1도를 참조하여 상세히 살펴보기로 한다.However, the photodetector separately installed to detect the intensity of the light beam acted as a factor to increase the volume of the optical pickup device and to complicate the configuration of the optical pickup device. The problem of the conventional optical pickup apparatus will be described in detail with reference to FIG. 1.

제 1도를 참조하면, 종래의 광픽업 장치는 광디스크(D)에 조사될 광빔을 발생하는 광원(10)와, 광원(10)으로부터 광빔을 광디스크(D)의 표면에 스폿의 형태로 집속하는 대물렌즈(12)와, 광디스크(D)에 의해 반사된 광빔을 전기적 신호로 변환가기 위한 제1광검출기(14)와, 광원(10)에서 발생된 광빔의 세기를 검출하기 위한 제2광검출기(16)을 구비한다. 그리고 종래의 광픽업 장치는 광원(10)과 제2광검출기(16) 사이에 나란하게 설치된 빔 스프리터(18) 및 파셜 미러(20)와, 파셜 미러(20)와 대물렌즈(12)사이에 위치한 λ/4판(22)을 추가로 구비한다.Referring to FIG. 1, a conventional optical pickup apparatus includes a light source 10 generating a light beam to be irradiated onto an optical disc D, and focusing the light beam from the light source 10 in the form of a spot on the surface of the optical disc D. The objective lens 12, the first photodetector 14 for converting the light beam reflected by the optical disk D into an electrical signal, and the second photodetector for detecting the intensity of the light beam generated by the light source 10. (16) is provided. In addition, the conventional optical pickup device includes a beam splitter 18 and a partial mirror 20 arranged side by side between the light source 10 and the second photodetector 16, and between the partial mirror 20 and the objective lens 12. It is further provided with a λ / 4 plate 22 located.

광원(10)에서 발생된 광빔은 타원에 대하여 단축 또는 장축방향으로 유동하는 수직 선편광빔(즉, S파라고도 별칭되는 TE파) 또는 수평 선편광빔(즉, P파라고도 별칭되는 TM파)로서 빔 스프리터(18), 시준렌즈(24)를 경유하여 파셜 미러(20)쪽으로 진행한다. 파셜 미러(Partial Mirror, 20)는 시준렌즈(24)로부터의 광빔의 대부분(예를 들면, 70% 정도)이 λ/4판(22) 및 대물렌즈(12)를 거쳐 광디스크(D)쪽으로 진행하도록 반사시킴과 아울러 그 나머지(예를 들면, 30% 정도)는 제2센서렌즈(28)을 경유하여 제2광검출기(16)쪽으로 진행하도록 통과시킨다. 그리고 파셜 미러(20)는 대물렌즈(12)와 λ/4판(22)을 경유한 광디스크(D)에 의해 반사된 광빔이 시준렌즈(24)를 거쳐 빔 스프리터(18)쪽으로 진행하도록 반사시킨다. 이 때, 시준렌즈(24)를 거쳐 빔 스프리터(18)쪽으로 진행하는 광빔은 광원(10)에서 발생된 광빔과는 다른 편광특성을 가진다. 예를 들면, 광원(10)에서 발생된 광빔이 수직 선편광빔(즉, S파)인 경우에 시준렌즈(24)를 거쳐 빔 스프리터(18)쪽으로 진행하는 광빔은 수평 선편광빔(즉, P파)가 되고, 반대로 광원(10)에서 발생된 광빔이 수평 선편광빔(즉, P파)인 경우에 시준렌즈(24)를 거쳐 빔 스프리터(18)쪽으로 진행하는 광빔은 수직 선편광빔(즉, S파)가 된다. 빔 스프리터(18)은 광빔의 편광특성에 따라 광빔을 선택적으로 반사시킴으로써 광원(10)으로부터의 광빔을 시준렌즈(24)쪽으로 통과시키고 아울러 시준렌즈(24)로부터의 광빔은 제1센서렌즈(26)을 거쳐 제1광검출기(14)쪽으로 진행하도록 반사시킨다.The light beam generated by the light source 10 is either a vertical linearly polarized beam (i.e., TE wave, also referred to as S-wave) or a horizontal linearly polarized beam (i.e., TM wave, also referred to as P-wave), which flows in a short or long axis direction with respect to an ellipse. The process proceeds toward the partial mirror 20 via the splitter 18 and the collimation lens 24. In the partial mirror 20, most of the light beams from the collimation lens 24 (for example, about 70%) travel through the λ / 4 plate 22 and the objective lens 12 toward the optical disk D. And the rest (eg, about 30%) is passed through the second sensor lens 28 toward the second photodetector 16. The partial mirror 20 reflects the light beam reflected by the optical disk D via the objective lens 12 and the λ / 4 plate 22 to travel through the collimator lens 24 toward the beam splitter 18. . At this time, the light beam traveling through the collimating lens 24 toward the beam splitter 18 has a polarization characteristic different from that of the light beam generated by the light source 10. For example, when the light beam generated by the light source 10 is a vertical linearly polarized beam (ie, S wave), the light beam traveling through the collimation lens 24 toward the beam splitter 18 is a horizontal linearly polarized beam (ie, P wave). On the contrary, when the light beam generated from the light source 10 is a horizontal linearly polarized beam (that is, P wave), the light beam traveling through the collimation lens 24 toward the beam splitter 18 becomes a vertical linearly polarized beam (ie, S). Par). The beam splitter 18 selectively reflects the light beam in accordance with the polarization characteristic of the light beam, thereby passing the light beam from the light source 10 toward the collimation lens 24, and the light beam from the collimation lens 24 passes through the first sensor lens 26. B) to be directed toward the first photodetector 14.

한편, 제2광검출기(16)은 광원(10)으로부터 빔 스프리터(18), 시준렌즈(24), 파셜 미러(20) 및 제2센서렌즈(28)를 경유하여 입사되는 광빔을 그 광량에 따른 전압레벨을 가지는 전기적 신호로 변환하고 그 전기적 신호를 제어부(29)에 공급한다. 제어부(29)는 제2광검출기(16)로부터의 전기적 신호의 전압 레벨에 따라 광원(10)에서 발생되는 광빔의 세기를 판단하고 그 결과에 따라 광원(10)에 공급되는 구동신호의 전압을 조절한다. 이 결과, 광원(10)에서 발생되는 광빔은 일정한 세기를 유지하게 된다.Meanwhile, the second photodetector 16 receives a light beam incident from the light source 10 via the beam splitter 18, the collimating lens 24, the partial mirror 20, and the second sensor lens 28 to the amount of light. The signal is converted into an electrical signal having a corresponding voltage level, and the electrical signal is supplied to the controller 29. The controller 29 determines the intensity of the light beam generated by the light source 10 according to the voltage level of the electrical signal from the second photodetector 16 and accordingly results in the voltage of the driving signal supplied to the light source 10. Adjust As a result, the light beam generated from the light source 10 maintains a constant intensity.

이와 같이, 종래의 광픽업 장치는 광원에서 발생되는 광빔의 세기를 검출하기 위해 별도의 광검출기를 설치함으로 광빔 집속용의 또 다른 센서렌즈를 사용하여야만 한다. 이로 인하여, 종래의 광픽업 장치는 부치가 커질 뿐만 아니라 구성이 복잡해지는 단점을 안고 있었다.As such, the conventional optical pickup apparatus must use another sensor lens for focusing the light beam by installing a separate photodetector to detect the intensity of the light beam generated from the light source. For this reason, the conventional optical pickup device has a disadvantage that the configuration is complicated as well as the butch.

따라서, 본 발명의 목적은 부피 및 구성을 간소화 할 수 있는 광빔의 세개 제어 기능을 가진 광픽업 장치를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide an optical pickup apparatus having three control functions of a light beam that can simplify the volume and configuration.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 광픽업 장치는 광디스크에 조사될 광빔을 발생하는 광원과, 광원에서 발생된 광빔의 세기를 검출하기 위한 제1광검출기와, 제1광검출기와 동일평면상에 나란하게 배열되어 광디스크에 의해 반사된 광빔을 검출하기 위한 제2광검출기와, 광원으로부터의 광빔의 일부를 광디스크쪽으로 그리고 나머지 일부를 제1광검출기쪽으로 분리함과 아울러 광디스크에 의해 반사된 광빔을 제2검출기쪽으로 전달하는 광경로 분리수단과, 제1광검출기의 출력신호에 따라 광원을 제어하는 제어수단을 구비한다.In order to achieve the above object, the optical pickup apparatus according to the present invention is a light source for generating a light beam to be irradiated on the optical disk, a first photodetector for detecting the intensity of the light beam generated from the light source, the same plane as the first photodetector A second photodetector for detecting a light beam reflected by the optical disk arranged side by side on the optical beam, and separating the part of the light beam from the light source toward the optical disk and the other part toward the first photodetector, as well as the light beam reflected by the optical disk Optical path separating means for transmitting the light toward the second detector, and control means for controlling the light source according to the output signal of the first photodetector.

상기 목적들 외에 본 발명의 다른 목적 및 잇점들은 첨부 도면을 참조한 다음의 바람직한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other objects and advantages of the present invention in addition to the above objects will become apparent from the following description of the preferred embodiments with reference to the accompanying drawings.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 제 2도 및 제 3도를 참조하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, with reference to Figures 2 and 3 attached to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail.

제 2도에는 광원(30), 대물렌즈(32) 및 광검출기(34) 사이에 위치하는 적응형 빔 스프리터(36)와, 대물렌즈(32)와 적응형 빔 스프리터(36) 사이에 위치한 직각 프리즘(38)를 구비하는 본 발명의 실시예에 따른 광픽업 장치가 도시되어 있다. 광원(32)은 두가지의 편광특성의 광빔들이 발생되도록 설치된다. 즉, 광원(30)에서 발생되는 광빔에는 타원에 대하여 단축방향에서 유동하는 수직 선편광빔(즉, S파)와 타원에 대하여 장축방향에서 유동하는 수평 선편광빔(P파)가 포함되어 있다. 대물렌즈(32)는 광원(30)으로부터 적응형 빔 스프리터(36) 및 직각 프리즘(38)를 경유하여 입사되는 광빔을 광디스크(D)의 표면에 스폿의 형태로 집속시킨다.2 shows an adaptive beam splitter 36 positioned between the light source 30, the objective lens 32, and the photodetector 34, and a right angle positioned between the objective lens 32 and the adaptive beam splitter 36. An optical pickup apparatus according to an embodiment of the present invention having a prism 38 is shown. The light source 32 is installed to generate light beams having two polarization characteristics. That is, the light beam generated by the light source 30 includes a vertical linearly polarized beam (that is, S wave) flowing in the axial direction with respect to the ellipse and a horizontal linearly polarized beam (P wave) flowing in the major axis direction with respect to the ellipse. The objective lens 32 focuses the light beam incident from the light source 30 via the adaptive beam splitter 36 and the right angle prism 38 on the surface of the optical disc D in the form of a spot.

광검출기(34)는 적응형 빔 스프리터(36)를 경유한 광원(30)으로부터의 광빔의 광량에 의해 광원에서 발생된 광빔의 세기를 검출하고 아울러 서보 제어상태 및 광디스크(D)에 수록된 정보가 실린 광빔을 검출한다. 이를 위하여 광검출기(34)는 제 3도에 도시된 바와 같이 지지판(48)상에 일정한 간격을 두고 설치된 제1수광소자(50)와 제2수광소자(52)를 구비한다. 제1수광소자는 광디스크(D)에 의해 반사되어 대물렌즈(32), 직각 프리즘(38) 및 적응형 빔 스프리터(36)를 경유하여 입사되는 광빔을 전기적 신호로 변환한다. 제1수광소자(50)에서 발생되는 전기적 신호는 3개의 고주파 신호를 포함하여 광빔의 트래킹 및 포커스를 제어에 사용된다. 아울러, 제1수광소자(50)에서 발생된 전기적 신호에는 광디스크(D)에 수록된 정보가 실려 있게 된다. 이를 위하여, 제1수광소자(50)은 3개의 부분으로 분할된 3개의 수광소자편으로 구성된다. 한편, 제2수광소자(52)는 광원(30)으로부터 적응형 빔 스프리터(36)을 경유한 광빔을 전기적 신호로 변환한다. 제2수광소자(52)에서 발생되는 전기적 신호는 광원(30)에서 발생된 광빔의 세기를 나타낸다.The photodetector 34 detects the intensity of the light beam generated in the light source by the light amount of the light beam from the light source 30 via the adaptive beam splitter 36, and the information contained in the servo control state and the optical disk D is stored. Detect the reflected light beam. To this end, the photodetector 34 includes a first light receiving element 50 and a second light receiving element 52 provided at regular intervals on the support plate 48 as shown in FIG. 3. The first light receiving element is converted by the optical disk (D) to convert the light beam incident through the objective lens 32, the right angle prism 38 and the adaptive beam splitter 36 into an electrical signal. The electrical signal generated by the first light receiving element 50 includes three high frequency signals and is used for controlling the tracking and focus of the light beam. In addition, the information contained in the optical disk D is loaded on the electrical signal generated by the first light receiving element 50. To this end, the first light receiving element 50 is composed of three light receiving element pieces divided into three parts. On the other hand, the second light receiving element 52 converts the light beam from the light source 30 via the adaptive beam splitter 36 into an electrical signal. The electrical signal generated by the second light receiving element 52 represents the intensity of the light beam generated by the light source 30.

또한, 적응형 빔 스프리터(36)은 광빔의 편광특성에 따라 입사 광빔을 선택적으로 반사시킴으로써 광원(30)으로부터의 광빔 중 일부(예를 들면, 수직 선편광빔(S파))를 광검출기(34)의 제2수광소자(52)쪽으로 반사시키고 그 광빔의 나머지(예를 들면, 수평 선편광빔(P파))는 원편광빔(예를 들면, 우회전 원편광빔)의 형태로 직각 프리즘(38)쪽으로 통과시킨다. 아울러, 적응형 빔 스프리터(36)은 광디스크(D)에 의해 반사되어 대물렌즈(32) 및 직각 프리즘(38)을 경유하여 입사되는 광빔을 광검출기(34)의 제1수광소자(50)쪽으로 반사시킨다. 이를 위하여, 적응형 빔 스프리터(36)는 대각선 방향에 선택성 반사면(36A)을 가지는 육면체 프리즘(36B)와, 직각 프리즘(38)쪽에 위치하는 육면체 프리즘(38B)의 측벽에 부착된 λ/4판(36C)와, 광원(30)으로부터 직각 프리즘(38)쪽으로 이어지는 광축을 기준으로 광검출기(34)와 대향되는 편에 위치한 육면체 프리즘(38B)의 측면에 부착된 전반사면을 가진 λ/4(36D)을 구비한다.In addition, the adaptive beam splitter 36 selectively reflects an incident light beam according to the polarization characteristic of the light beam, thereby detecting a part of the light beam (for example, a vertical linearly polarized beam S wave) from the light source 30. Reflects toward the second light-receiving element 52 and the rest of the light beam (e.g., horizontal linearly polarized beam (P wave)) is a right-angle prism 38 Pass it toward). In addition, the adaptive beam splitter 36 is reflected by the optical disk D and enters the light beam incident through the objective lens 32 and the right angle prism 38 toward the first light receiving element 50 of the photodetector 34. Reflect. To this end, the adaptive beam splitter 36 has a hexahedral prism 36B having a selective reflective surface 36A in the diagonal direction and λ / 4 attached to the side wall of the hexahedral prism 38B located on the right angle prism 38 side. [Lambda] / 4 having a plate 36C and a total reflection surface attached to the side of the hexahedral prism 38B on the side opposite to the photodetector 34 with respect to the optical axis extending from the light source 30 toward the right prism 38 36D is provided.

선택성 반사면(36A)는 PBS 코팅막으로 형성되어 입사광빔의 편광특성에 따라 선택적으로 반사시킨다. 이를 상세히 하면, 선택성 반사면(36A)는 광원(30)으로부터의 광빔중 수직 선편광빔(즉, S파)는 전반사면을 갖는 λ/4판(36D)쪽으로 직각으로 반사시키고 광원(30)으로부터의 광빔 중 수평 선편광빔(P파)는 λ/4판(36C)쪽으로 통과시킨다. 아울러, 선택성 반사면(36A)는 λ/4판(36C)으로부터의 수직 선편광빔(S파)는 광검출기(34)의 제1수광소자(50)쪽으로 진행하도록 직각으로 반사시킨다. 또한, 선택성 반사면(36A)는 전반사면을 갖는 λ/4판(36D)로부터의 수직 선편광빔(S파)는 광검출기(34)쪽으로 통과시킨다.The selective reflection surface 36A is formed of a PBS coating film to selectively reflect the polarization characteristics of the incident light beam. In detail, the selective reflecting surface 36A reflects the perpendicular linearly polarized beam (i.e., S-wave) of the light beams from the light source 30 at right angles to the λ / 4 plate 36D having a total reflection surface and from the light source 30. The horizontal linearly polarized beam (P wave) of the light beams is passed toward the λ / 4 plate 36C. In addition, the selective reflection surface 36A reflects the perpendicular linearly polarized beam S wave from the λ / 4 plate 36C at right angles to travel toward the first light receiving element 50 of the photodetector 34. In addition, the selective reflection surface 36A passes the vertical linearly polarized beam S wave from the lambda / 4 plate 36D having a total reflection surface toward the photodetector 34.

그리고 λ/4판(36C)는 선택성 반사면(36A)로부터의 수평 선편광빔을 우회전 원편광빔으로 변화하고 그 변환된 우회전 원편광빔을 직각 프리즘(38)쪽으로 송출한다. 이 λ/4판(36C)로부터 송출된 우회전 원편광빔은 직각 프리즘(38) 및 대물렌즈(32)를 거쳐 광디스크(D)에 도달한다. 광디스크(D)에 도달된 우회전 원편광빔을 광디스크(D)에 의해 반사될 때 좌회전 원편광빔으로 변한다. 이 좌회전 원편광빔은 대물렌즈(32) 및 직각 프리즘(38)을 경유하여 λ/4판(36C)쪽으로 진행한다. 아울러, λ/4판(36C)는 직각 프리즘(38)으로부터의 좌회전 원편광빔을 수직 선편광빔으로 변환시킨다.Then, the λ / 4 plate 36C changes the horizontal linearly polarized beam from the selective reflecting surface 36A into a right-turning circularly polarized beam and sends the converted right-turning circularly polarized beam toward the right angle prism 38. The right-turn circularly polarized light beam sent out from the λ / 4 plate 36C reaches the optical disk D via the right-angle prism 38 and the objective lens 32. When the right rotating circularly polarized beam reaching the optical disk D is reflected by the optical disk D, the left rotating circularly polarized beam is changed. This left rotating circularly polarized beam travels to the λ / 4 plate 36C via the objective lens 32 and the right angle prism 38. In addition, the lambda / 4 plate 36C converts the left rotating circularly polarized beam from the right angle prism 38 into a vertical linearly polarized beam.

또한, 전반사면을 갖는 λ/4판(36D)는 미러 코팅막으로 형성되어 선택성 반사면(36A)로부터의 수직 선편광빔을 입사경로에 대해 일정한 각도로 전반사시킨다. 이를 위하여, 전반사면을 가진 λ/4판(36D)는 광원(30)으로부터 직각 프리즘(38)로 이어지는 광경로에 대하여 일정한 각도(θ)로 경사지게 형성된다. 이에 따라, 전반사면을 갖는 λ/4판(36D)에 의해 반사된 수직 선편광빔은 선택성 반사면을 거쳐 광검출기(34)상의 좌측에 위치한 제2수광소자(52)쪽으로 진행하게 된다. 결국, 전반사면을 갖는 λ/4판(36D)는 직각 프리즘(38)으로부터 λ/4판(36C) 및 선택성 반사면을 거치는 광빔의 경로와 광원(30)으로부터 선택성 반사면(36A)를 거치는 수직 선편광빔의 경로를 일정한 각도(θ) 이상으로 분리하는 기능을 한다.Further, the lambda / 4 plate 36D having a total reflection surface is formed of a mirror coating film to totally reflect the vertical linearly polarized beam from the selective reflection surface 36A at a constant angle with respect to the incident path. To this end, the λ / 4 plate 36D having a total reflection surface is formed to be inclined at a constant angle θ with respect to the optical path leading from the light source 30 to the right angle prism 38. Accordingly, the vertical linearly polarized beam reflected by the λ / 4 plate 36D having a total reflection surface passes toward the second light receiving element 52 located on the left side on the photodetector 34 via the selective reflection surface. As a result, the λ / 4 plate 36D having a total reflection surface passes through the path of the light beam passing through the λ / 4 plate 36C and the selective reflection surface from the right angle prism 38 and the selective reflection surface 36A from the light source 30. It functions to separate the path of the vertical linearly polarized beam by a certain angle (θ) or more.

다음으로, 광픽업 장치는 광원(30)과 적응형 빔 스프리터(36) 사이에 위치한 시준렌즈(40)와, 적응형 빔 스프리터(36)과 광검출기(34) 사이에 위치한 센서렌즈(42)와, 광검출기(34)의 제2수광소자(52)와 광원(30) 사이에 직렬 접속된 아날로그-디지탈(Analog-Digital ; 이하 A-D라 함) 변환기(44) 및 광 제어기(46)을 추가로 구비한다. 시준렌즈(40)는 광원(32)으로부터 적응형 빔 스프리터(36)쪽으로 발산되는 형태로 진행하는 광빔을 평행하게 하여 광빔의 누설을 최소화한다. 그리고 센서렌즈(42)는 적응형 빔 스프리터(36)로부터 광검출기(34)의 제1 및 제2수광소자(50,52)쪽으로 진행하는 광빔들을 집속하여 반사 광빔의 누설을 방지한다. 결과적으로, 시준렌즈(40)와 센서렌즈(42)은 광픽업 장치의 광 감도를 일정한 수준 이상으로 유지시키는 기능을 담당하는 것이라 할 수 있다.Next, the optical pickup device includes a collimating lens 40 positioned between the light source 30 and the adaptive beam splitter 36, and a sensor lens 42 positioned between the adaptive beam splitter 36 and the photodetector 34. And an analog-digital (AD) converter 44 and an optical controller 46 connected in series between the second light receiving element 52 of the photodetector 34 and the light source 30. It is provided with. The collimation lens 40 minimizes the leakage of the light beam by paralleling the light beam traveling in a form diverging from the light source 32 toward the adaptive beam splitter 36. The sensor lens 42 focuses the light beams traveling from the adaptive beam splitter 36 toward the first and second light receiving elements 50 and 52 of the photodetector 34 to prevent leakage of the reflected light beam. As a result, the collimating lens 40 and the sensor lens 42 may be said to be responsible for maintaining the optical sensitivity of the optical pickup device to a predetermined level or more.

A-D변환기(44)는 제2수광소자(52)로부터의 광빔의 세기에 대한 전기적 신호를 디지탈 신호의 형태로 변환한다. 그러면, 광 제어기(46)는 A-D변환기(44)의 출력신호의 전압레벨을 기준 전압 레벨과 비교하여 그 차이에 해당하는 전압 만큼 증감된 광 구동 신호를 발생한다. 이 광 구동신호는 광원(30)에 공급되어 광원(30)에 발생되는 광빔의 세기를 일정하게 유지시키게 된다.The A-D converter 44 converts the electrical signal for the intensity of the light beam from the second light receiving element 52 into the form of a digital signal. Then, the optical controller 46 compares the voltage level of the output signal of the A-D converter 44 with the reference voltage level and generates an optical drive signal that is increased or decreased by a voltage corresponding to the difference. This light driving signal is supplied to the light source 30 to maintain the intensity of the light beam generated in the light source 30 constant.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 광픽업 장치는 빔 스프리터에 의해 광빔의 경로를 분리함으로써 광원에서 발생되는 광빔의 광량을 검출하는 광검출 소자와 광디스크에서 반사된 광빔의 광량을 검출하는 광검출 소자를 일체화 할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 광픽업 장치는 광학소자의 수를 줄일 수 있을 뿐만 아니라 구성을 간소화 할 수 있다. 더 나아가, 본 발명에 따른 광픽업 장치는 제작 공정을 단축시킬 수 있는 잇점을 제공한다.As described above, the optical pickup device according to the present invention is a light detecting element for detecting the light amount of the light beam generated from the light source by separating the path of the light beam by a beam splitter and a light detection element for detecting the light amount of the light beam reflected from the optical disk Can be integrated. Accordingly, the optical pickup device according to the present invention can not only reduce the number of optical elements but also simplify the configuration. Furthermore, the optical pickup apparatus according to the present invention provides an advantage that can shorten the manufacturing process.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의하여 정하여져야만 한다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

Claims (6)

광디스크에 조사될 광빔을 발생하는 광원과, 상기 광원에서 발생된 광빔의 세기를 검출하기 위한 제1광검출기와, 상기 제1광검출기와 동일평면상에 나란하게 배열되어 상기 광디스크에 의해 반사된 광빔을 검출하기 위한 제2광검출기와, 상기 광원으로부터의 광빔의 일부를 상기 광디스크쪽으로 그리고 나머지 일부를 상기 제1광검출기쪽으로 분리함과 아울러 상기 광디스크에 의해 반사된 광빔을 상기 제2검출기쪽으로 전달하는 광경로 분리수단과, 상기 제1광검출기의 출력신호에 따라 상기 광원을 제어하는 제어수단을 구비한 것을 특징으로 하는 광세기 제어 기능을 가진 광픽업 장치.A light source for generating a light beam to be irradiated to the optical disk, a first light detector for detecting the intensity of the light beam generated by the light source, and a light beam arranged parallel to the first light detector and reflected by the optical disk And a second photodetector for detecting a signal, separating a part of the light beam from the light source toward the optical disk and a part of the light beam toward the first photo detector, and transferring the light beam reflected by the optical disk to the second detector. And an optical path separating means and a control means for controlling the light source in accordance with an output signal of the first photodetector. 제1항에 있어서, 상기 광경로 분리 수단은, 육면체의 프리즘에 대각선 방향으로 형성되어 편광특성에 따라 선택적으로 투과 및 반사시키는 제1반사면과, 상기 광원으로부터 광디스크로 이어지는 광경로와 일치하도록 육면체 프리즘의 측벽에 부착된 편광변환기와, 상기 광원으로부터 광디스크에 이르는 광축을 기준으로 상기 광검출기들과 대향되는 편에 위치한 육면체 프리즘(38B)의 측면에 부착되어 광빔을 전반사하는 전반사면을 가진 λ/4판을 구비한 것을 특징으로 하는 광세기 제어 기능을 가진 광픽업 장치.The hexahedron according to claim 1, wherein the optical path separating means comprises: a first reflecting surface formed in a diagonal direction on a prism of the hexahedron and selectively transmitting and reflecting according to polarization characteristics, and the hexahedron to match the optical path from the light source to the optical disk; [Lambda] having a polarization transducer attached to the side wall of the prism and a total reflection surface attached to the side of the hexahedral prism 38B on the side opposite to the photodetectors with respect to the optical axis from the light source to the optical disk to totally reflect the light beam. An optical pickup device having a light intensity control function, characterized by having four plates. 제2항에 있어서, 상기 광원에서 발생되는 광빔이 수직 및 수평 선편광빔을 포함하고, 상기 제1반사면이 상기 수평 선편광빔을 투과시킴과 아울러 상기 수직 선편광빔을 입사방향에 따라 선택적으로 반사시키는 것을 특징으로 하는 광세기 제어 기능을 가진 광픽업 장치.The optical beam of claim 2, wherein the light beams generated by the light source include vertical and horizontal linearly polarized beams, and the first reflection surface transmits the horizontal linearly polarized beams and selectively reflects the vertical linearly polarized beams according to the incident direction. Optical pickup device having a light intensity control function, characterized in that. 제3항에 있어서, 상기 제1반사면이 PBS 코팅 막으로 형성된 것을 특징으로 하는 광세게 제어 기능을 가진 광픽업 장치.The optical pickup apparatus of claim 3, wherein the first reflecting surface is formed of a PBS coating film. 제2항에 있어서, 상기 전반사면을 가진 λ/4판은 상기 광원으로부터 상기 광디스크에 이르는 광축과 일정한 각도를 이루도록 경사지게 형성된 것을 특징으로 하는 광세기 제어 기능을 가진 광픽업 장치.The optical pickup apparatus of claim 2, wherein the λ / 4 plate having the total reflection surface is inclined to form a predetermined angle with an optical axis from the light source to the optical disk. 제1항 내지 제5항에 있어서, 상기 광원과 상기 광경로 분리수단 사이에 위치하여 상기 광원으로부터 상기 광경로 분리수단쪽으로 입사되는 광빔이 평행하게 진행시키는 시준렌즈와, 상기 광경로 분리수단으로부터 상기 제1 및 제2광검출기쪽으로 입사되는 광빔들을 집속하는 센서렌즈를 추가로 구비한 것을 특징으로 하는 광세기 제어 기능을 가진 광픽업 장치.The collimating lens according to claim 1, further comprising: a collimating lens positioned between the light source and the light path separating means and allowing a light beam incident from the light source to the light path separating means to travel in parallel; And a sensor lens for focusing the light beams incident toward the first and second photodetectors.
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