KR19980030243U - 시험장입의 에러발생을 감소시킨 전자유도식 시한신관 - Google Patents

시험장입의 에러발생을 감소시킨 전자유도식 시한신관 Download PDF

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Abstract

본 고안은 전자 유도방식에 의하여 그 신관의 지연시간을 세팅(setting)할 수 있는 전자식 시한신관에 관한 것으로서, 더 자세하게는 발사된 후 일정시간의 지연시간 경과후 폭발하는 미사일이나 대형포탄에 장착되는 신관에 있어서, 그 지연시간을 필요에 따라 외부에서 세팅(setting)하는 경우의 에러발생을 감소시킨 시한신관에 대한 것이다.
본 고안은 세터로부터 공급되는 전원 및 변조신호를 전자유도에 의해 수신하는 코일; 상기 코일을 통해 수전된 전원을 신관의 전자회로내에 공급하기 위한 전원부; 상기 코일을 통해 수신된 변조신호를 처리하기 위한 복조회로 및 디지탈 신호처리부; 그리고, 마이콤 회로부를 포함하여 구성된 전자유도식 시한신관에 있어서, 마이콤 회로부로부터의 역전송신호를 변조하여 상기 코일의 일단에 인가하기 위한 제 1 트랜지스터; 마이콤 회로부로부터의 역전송신호를 변조하여 상기 코일의 다른 일단에 인가하기 위한 제 2 트랜지스터를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 시한 장입의 에러발생을 감소시킨 전자유도식 시한신관을 제공함으로서, 신관의 세팅작용에 있어서 장입 데이타를 역 전송하는 과정에서의 안정성을 확보하여 오동작을 방지하는 효과를 달성한다.

Description

시한 장입의 에러발생을 감소시킨 전자유도식 시한신관
본 고안은 전자 유도방식에 의하여 그 신관의 지연시간을 세팅(setting)할 수 있는 전자식 시한신관에 관한 것으로서, 더 자세하게는 발사된 후 일정시간의 지연시간 경과후 폭발하는 미사일이나 대형포탄에 장착되는 신관에 있어서, 그 지연시간을 필요에 따라 외부에서 세팅(setting)하는 경우의 에러발생을 감소시킨 시한신관에 대한 것이다.
신관은 폭발장치의 작약을 점화시켜 폭발시키도록, 폭발물연쇄의 최초과정을 일으키는 기능을 가지며, 폭발물이 기폭되면 다음 폭발물에 도폭케 하여 마침내 포탄의 작약에까지 점화되도록 하기 위한 장치이다.
모든 신관은 안전도, 장전, 민감도, 폭발의 4가지 기능을 구비하여야 한다. 안전도면에서 신관은 요구되는 시간이전에는 작용되지 않도록 설계되어야 한다. 또한 저장, 적재, 선적, 취급 및 발사시에 안전해야 한다.
신관은 두번째 기능으로서, 발사후 적당한 시간에 장전되어야 한다. 이는 발사포탄이 비약하는 동안에 발생하는 자연현상을 적절히 이용함으로써 달성될 수도 있다.
신관은 또한 표적의 위치를 감지하는 기능을 가져야 한다. 이러한 최종적인 소기의 목적을 달성하기 위해서는 표적과의 접촉, 표적에의 접근, 발사시로부터 예정된 비약시간의 측정 또는 표적의 존재를 표시하는 탄도의 특성을 측정함으로써 가능하다.
신관의 마지막 기능으로서 신관은 최적효과를 갖도록 소정의 시간에 폭발되어야 한다.
한편, 상기 포탄의 신관을 그 작용형태 또는 기능에 따라 분류해 보면, 충격신관, 시한신관, 주위신관, 근접신관, 및 명령신관으로 분류해 볼 수 있다.
도 1은 종래기술의 전자유도 방식의 세터(setter) 및 시한신관의 지연시간 기억장치의 회로도이다.
이 세터(100)와 신관의 전자회로부(200)는 각각 코일(110, 210)을 가지고 있으므로 이러한 코일간의 전자유도에 의하여 결합될 수 있다.
신관의 전자회로부(200)의 코일(110)을 상기 세터(100)의 코일(210)에 근접시키고 세터(100)의 코일(110)에 교류전압을 인가하면, 세터(100)의 코일(110)과, 신관의 전자회로부(200)의 코일(210) 사이의 권선비에 따라 신관 전자회로부(200)의 코일(210)에는 교류전압이 유도된다.
이때 세터(100)에서 소정신호로 변조된 교류전압을 상기 코일(110)에 인가하고, 신관의 전자회로부(200) 코일(210)을 통해 유도된 전압을 수신하여 이를 복조하는 기술적 원리를 통해 세터(100)와 신관의 전자회로부(200)가 회로적으로 결합되고, 소망의 신호가 전송될 수 있다.
신관의 전자회로부(200)는 전원부(230) 및 신호처리부로 구성되어 있다.
전원부(230)는 상술한 코일(210)에 유기되는 교류전압을 전파정류기를 통해 정류하여 직류전압을 생성시키고, 평활회로 및 전압안정화 회로를 통한 후 전자회로부(200)내의 각종 소자에 공급한다.
신호처리부는 상술한 코일(210)을 통한 교류전압에 실린 신호를 다이오드(D1)를 사용하여 검파하고 적분회로를 거쳐 디지탈 파형으로 변형한 후 연산증폭기를 경유하여 원칩 마이콤 집적회로(260)에 인가한다.
원칩 마이콤 집적회로(260)는 소정의 알고리즘에 따라 동작하여, 신관의 전자회로부(200)가 내장하고 있는, 전기적으로 소거 및 프로그램 가능한 읽기 전용메모리 즉, 이이피롬(EEPROM)으로 구성된 기록장치(290)에 기록시킨다.
이때 상기 기록장치(290)에는 그 신관의 폭발의 지연시간에 관한 데이타가 저장됨으로서, 개개의 신관에 대한 세팅이 이루어진다.
상술한 세팅과정을 수행한 후, 그 내용을 세터(장입기)에 역 전송하여 상기 이이피롬(EEPROM)에 기록된 내용을 확인하기 위하여, 종래기술의 세터(장입기)에서는 도 1에서 도시한 바와 같이, 상기 신관의 전자회로부(200)의 코일(210)의 중간에 중간탭을 내고 트랜지스터(Q 1)를 연결한 방식이 사용되고 있다.
도 3a는 종래기술에서의 역전송신호의 파형을 보이고 있다.
이러한 종래기술의 세터(장입기)에서는 역 전송되는 데이타의 1, 0을 표시하는 디지탈 신호의 진폭변화가 근소하여 신호 전송상의 에러가 발생하는 문제가 존재한다.
본 고안은 상기 문제를 해결하기 위한 것으로, 전자유도 방식의 세팅장치를 사용하는 전자식 시한신관에 있어서, 세터와 신관의 회로부와의 신호 역 전송의 불량률을 저감시킬 수 있는 회로구조를 가진 전자식 시한신관을 제공하는 데 그 목적이 있다.
도 1은 종래기술의 전자유도 방식의 시한신관 및 그 세팅장치의 구성을 보인 회로도,
도 2는 전자유도 방식의 시한신관의 장입기에 역 전송을 위한 트랜지스터 회로부의 회로도,
도 3은 시한 장입의 데이타를 역전송하는 신호의 파형도로서, 도 3a는 종래 기술의 시한신관에서의 데이타 역 전송 신호파형의 파형도, 도 3b는 본 고안의 시한신관에서의 데이타 역 전송 신호파형의 파형도이다.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
100; 세터150;세터 마이콤
310;코일330;전원부
335;정류기340;복조회로
350;적분회로360;신호처리부
370;마이콤380;마이콤 회로부
390;이이피롬(EEPROM)Q 2, Q3;제 1 트랜지스터
상술한 목적을 달성하기 위하여, 본 고안은 세터로부터 공급되는 전원 및 변조신호를 전자유도에 의해 수신하는 코일; 상기 코일을 통해 수전된 전원을 신관의 전자회로내에 공급하기 위한 전원부; 상기 코일을 통해 수신된 변조신호를 처리하기 위한 복수회로 및 디지탈 신호처리부; 그리고, 마이콤 회로부를 포함하여 구성된 전자유도식 시한신관에 있어서, 마이콤 회로부로부터의 역전송신호를 변조하여 상기 코일의 일단에 인가하기 위한 제 1 트랜지스터; 마이콤 회로부로부터의 역전송신호를 변조하여 상기 코일의 다른 일단에 인가하기 위한 제 2 트랜지스터를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 시한 장입의 에러발생을 감소시킨 전자유도식 시한신관을 제공한다.
본 고안의 일실시예로서, 상기 제 1 트랜지스터 및 제 2 트랜지스터는 그 베이스에 상기 마이콤 회로부로부터의 역전송신호가 인가되고, 그 콜렉터가 상기 코일의 일단에 각각 연결되는 것을 특징으로 하여 구성되는 것도 가능하다.
[실시예]
첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 바람직한 일시예를 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 고안에 따른 역전송회로부를 구비한 시한신관의 회로도이다.
이 회로부는 크게보아 코일(310), 전원부(330), 복조회로(340), 적분회로(350)와 비교용 연산증폭기(365)를 포함하는 신호처리부(360), 이이피롬(EEPROM)(390)을 구비함 마이콤 회로부(370), 그리고 역전송 회로부(400)로서 형성된다.
코일(310)은 세터의 코일로부터 유도되는 전자유도작용에 의해 전력 및 변조신호를 전자유도작용에 의해 수신하여 본 발명의 시한신관의 각 회로에 공급하며, 송신된 신호를 후술하는 마이콤(370)에 공급한다.
상기 코일(310)에 유기되는 교류전압은 전원부(330)에 인가된다. 이 전원부(330)는 교류전압을 정류하기 위한 전파정류기(335), 커패시터(C 1, C 2)로 형성된 평활회로를 거쳐 정전압 다이오드(DZ 1, DZ 2)에 의해 소정의 전압으로 안정화 된후, 기타의 회로 각부에 공급된다.
또한 코일(310)을 통해 수신된 변조신호는 고주파 교류신호이므로 이 중에서 소망하는 신호를 복조하기 위해 복조회로(340)에 인가된다. 이 복조회로(340)는 예컨대 진폭변조된 고주파신호에서 소망하는 저주파신호를 검파하기 위한 다이오드(D 1) 및 커패시터(C 3)를 사용하여 형성될 수 있다. 이때, 상기 다이오드(D 1)에 의해서 교류신호중 플러스 성분만을 정류하는 작용이 이루어지며, 커패시터(C3)를 통해서는 고주파 성분이 제거되어 소망하는 신호를 출력시킬 수 있다.
상술한 바와 같이 복조회로(340)를 통해 복조된 신호는 아날로그 신호이므로 이를 디지탈 신호로 변환하여야만 본 고안의 마이콤 회로부(380)가 동작가능하다.
디지탈 신호의 처리를 위해서는 저항기(R 1)와 커패시터(C 4)로 구성된 적분회로를 통과하게 한 후, 이 신호가 비교기 회로를 형성하는 연산증폭기(365)의 하나의 입력에 인가되고, 그 출력은 디지탈화 된다.
상술한 바와 같이 디지탈화된 신호는 마이콤 회로부(380)에 입력되어 소정의 플로우에 따라 처리되고, 이이피롬(EEPROM)(390)에 기록된다. 이 이이피롬(EEPROM) 소자는 그 기억장치의 기억된 내용을 전기적으로 소거가능하며, 한편 전기적인 신호를 인가하여 새로운 내용을 기억시킬 수도 있는 읽기 전용 메모리 소자를 말한다. 이 기억장치에는 시한신관을 작동시킬 수 있는 각종 데이타가 저장된다.
또한 그 저장된 데이타를 세터를 사용하여 갱신하는 것도 가능하므로, 전자유도식 시한신관에 대해 그 작동시간 등을 입력가능하다.
상술한 바와 같이 이이피롬(390)에 기록된 내용은 또한 원칩 마이콤 집적회로(380)의 작동에 의해 본 고안의 역전송호로를 통하여 상기 코일(310)을 통행 세터측으로 전송된다.
이때, 마이콤 회로부로부터의 역전송신호를 변조하기 위해서 상기 코일의 일단에 연결된 제 1 트랜지스터(Q 2), 및 상기 코일의 다른 일단에 연결된 제 2 트랜지스터(Q 3)에 의한 2중 변조과정을 통해 그 신호의 전송을 위한 파형의 변화가 뚜렷해진다.
도 3b에서는 본 고안에 의한 2중 변조과정을 거친 신호파형의 실측도이다.
도 3a에서 보인 종래의 신호파형과 비교하면 본 발명에 따른 변조도의 변화에 의한 차이점을 확실히 구별할 수 있다.
상술한 바와 같은 구성과 작용에 의해 본 고안은, 전자유도방식의 신관의 세팅작용에 있어서 장입 데이타를 역 전송하는 과정에서의 안정성을 확보함으로서, 오동작을 방지하는 효과를 달성한다.
본 고안은 특정의 바람직한 실시예에 관련하여 도시하고 설명하였지만, 이하의 실용신안등록청구범위에 의해 마련되는 본 고안의 정신이나 분야를 이탈하지 않는 한도 내에서 본 고안의 다양하게 개조 및 변화될 수 있다는 것을 당업계에서 통상의 지식을 가진 자는 용이하게 알 수 있다.

Claims (2)

  1. 세터로부터 공급되는 전원 및 변조신호를 전자유도에 의해 수신하는 코일; 상기 코일을 통해 수전된 전원을 신관의 전자회로내에 공급하기 위한 전원부; 상기 코일을 통해 수신된 변조신호를 처리하기 위한 복수회로 및 디지탈 신호처리부; 그리고, 마이콤 회로부를 포함하여 구성된 전자유도식 시한신관에 있어서,
    마이콤 회로부로부터의 역전송신호를 변조하여 상기 코일의 일단에 인가하기 위한 제 1 트랜지스터(Q 2);
    마이콤 회로부로부터의 역전송신호를 변조하여 상기 코일의 다른 일단에 인가하기 위한 제 2 트랜지스터(Q 3)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 시한 장입의 에러발생을 감소시킨 전자유도식 시한신관.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 트랜지스터 및 제 2 트랜지스터는 그 베이스에 상기 마이콤 회로부로부터의 역전송신호가 인가되고, 그 콜렉터가 상기 코일의 일단에 각각 연결되는 것을 특징으로 하는 시한 장입의 에러발생을 감소시킨 전자유도식 시한신관.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101341396B1 (ko) * 2011-12-12 2013-12-13 국방과학연구소 전자 시한 신관

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