KR102698873B1 - Or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로 및 진단 방법, or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 배터리 관리 시스템 - Google Patents

Or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로 및 진단 방법, or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 배터리 관리 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR102698873B1
KR102698873B1 KR1020180136506A KR20180136506A KR102698873B1 KR 102698873 B1 KR102698873 B1 KR 102698873B1 KR 1020180136506 A KR1020180136506 A KR 1020180136506A KR 20180136506 A KR20180136506 A KR 20180136506A KR 102698873 B1 KR102698873 B1 KR 102698873B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
power switch
gate
diodes
circuit
bits
Prior art date
Application number
KR1020180136506A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20200053197A (ko
Inventor
유동현
김유식
김태윤
이승현
Original Assignee
주식회사 엘지에너지솔루션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 엘지에너지솔루션 filed Critical 주식회사 엘지에너지솔루션
Priority to KR1020180136506A priority Critical patent/KR102698873B1/ko
Publication of KR20200053197A publication Critical patent/KR20200053197A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102698873B1 publication Critical patent/KR102698873B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/3277—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3172—Optimisation aspects, e.g. using functional pin as test pin, pin multiplexing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3177—Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
    • H02J7/0022—

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

본 발명은 배터리 관리 시스템(BMS)의 전원 구동 스위치 제어신호를 생성하는 다이오드(Diode)들이 연결된 OR게이트의 출력단에 멀티플렉서(Multiplexer)를 배치하고, MCU를 통해 입력되는 선택신호의 비트 변경에 따라 다이오드를 순차적으로 선택 및 제어신호를 생성하도록 함으로써, 생성된 제어신호가 전원 구동 스위치에 인가되는 시점에서 BMS의 정상적인 전원공급이 이루어지는지 여부를 토대로 OR게이트의 정상작동 여부를 진단할 수 있는 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로 및 진단 방법, OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 배터리 관리 시스템에 관한 것이다.

Description

OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로 및 진단 방법, OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 배터리 관리 시스템{CIRCUIT AND MEHTOD FOR DIAGNOSING POWER SWITCH USING OR GATE CIRCUIT, BMS INCLUDING CIRCUIT FOR DIAGNOSING POWER SWITCH USING OR GATE CIRCUIT}
본 발명은 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로 및 진단 방법, OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 배터리 관리 시스템에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는, 배터리 관리 시스템(BMS)의 전원 구동 스위치 제어신호를 생성하는 다이오드(Diode)들이 연결된 OR게이트의 출력단에 멀티플렉서(Multiplexer)를 배치하고, MCU를 통해 입력되는 선택신호의 비트 변경에 따라 다이오드를 순차적으로 선택 및 제어신호를 생성하도록 함으로써, 생성된 제어신호가 전원 구동 스위치에 인가되는 시점에서 BMS의 정상적인 전원공급이 이루어지는지 여부를 토대로 OR게이트의 정상작동 여부를 진단할 수 있는 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로 및 진단 방법, OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 배터리 관리 시스템에 관한 것이다.
삭제
일반적으로, 배터리 관리 시스템(BMS)에는 BMS의 전원 공급을 제어하기 위한 전원 구동 스위치가 마련된다.
전원 구동 스위치에 인가되는 제어신호(Control signal)는 다수의 다이오드(Diode)들이 OR게이트를 통해 연결되어 있고, 여러 개의 전원 구동용 제어신호 중 하나의 제어신호만 인가되더라도 BMS의 전원 공급을 위한 스위치 구동이 개시될 수 있다.
하지만, OR게이트를 이용한 BMS의 전원 공급 시, 다수의 다이오드들 중 어떠한 다이오드를 통해 생성된 제어신호에 의해 전원 구동 스위치가 구동되었는지 여부나, OR게이트와 연결된 다수의 다이오드들 중 비정상적으로 동작되는 다이오드가 어떤 것인지 여부를 확인할 수가 없는 단점을 가지게 된다.
이러한 점은, BMS의 전원 공급과 관련하여 차량 및 운전자의 안전과 직결된다는 점에서, 현재 다이오드를 포함한 OR게이트 회로의 정상작동 여부와 비정상적으로 동작되는 다이오드를 진단하기 위한 기술이 필요한 실정이다.
삭제
한국공개특허 제10-1998-0030573호
본 발명은 상술된 문제점을 해결하기 위해 도출된 것으로서, 배터리 관리 시스템(BMS)의 전원 구동 스위치 제어신호를 생성하는 다이오드(Diode)들이 연결된 OR게이트의 출력단에 멀티플렉서(Multiplexer)를 배치하고, MCU를 통해 입력되는 선택신호의 비트 변경에 따라 다이오드를 순차적으로 선택 및 제어신호를 생성하도록 함으로써, 생성된 제어신호가 전원 구동 스위치에 인가되는 시점에서 BMS의 정상적인 전원공급이 이루어지는지 여부를 토대로 OR게이트의 정상작동 여부를 진단할 수 있는 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로 및 진단 방법, OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 배터리 관리 시스템을 제공하고자 한다.
삭제
본 발명의 일 실시예에 따른 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로는 BMS의 전원공급 상태를 제어하는 전원 스위치에 인가되기 위한 제어신호(Control signal)을 생성하는 하나 이상의 다이오드(Diode)와 각각 연결된 OR게이트, 상기 OR게이트의 출력단과 각각 연결된 멀티플렉서, 상기 멀티플렉서에 선택신호(Select signal)를 전송하되, 상기 선택신호의 비트를 순차적으로 변경하여 전송하는 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU) 및 상기 선택신호에 따라 상기 하나 이상의 다이오드 중 특정 다이오드가 선택된 후, 해당 선택된 다이오드를 통해 생성되는 제어신호가 상기 전원 스위치에 정상적으로 인가되는지 여부를 토대로 상기 OR게이트의 정상동작 여부를 판단하는 판단부를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 하나 이상의 다이오드는 상기 OR게이트의 입력단과 각각 연결되고, 상기 OR게이트의 출력단은 상기 멀티플렉서의 입력단과 각각 연결되는 것을 특징으로 할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 MCU로부터 전송되는 상기 선택신호의 비트는 2개 이상에 해당할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 멀티플렉서로 전송된 상기 선택신호의 비트가 순차적으로 변경됨에 따라 상기 하나 이상의 다이오드가 순차적으로 선택되며, 선택된 다이오드를 통해 생성되는 제어신호가 상기 전원 스위치에 순차적으로 인가될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 MCU는 하이 비트(High bit)인 1 또는 로우 비트(Low bit)인 0에 해당하는 2개의 비트로 구현된 선택신호를 상기 멀티플렉서에 전송하며, 전송된 2개의 비트가 모두 로우 비트인 0에 해당하는 경우 제1 다이오드가 선택되고, 전송된 2개의 비트 중 하나의 비트가 로우 비트인 0에 해당하고 다른 하나의 비트가 하이 비트인 1에 해당하는 경우 제2 다이오드가 선택되며, 전송된 2개의 비트 중 하나의 비트가 하이 비트인 1에 해당하고 다른 하나의 비트가 로우 비트인 0에 해당하는 경우 제3 다이오드가 선택되고, 전송된 2개의 비트가 모두 하이 비트인 1에 해당하는 경우 제4 다이오드가 선택될 수 있다.
삭제
본 발명의 다른 실시예에 따른 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 방법은 BMS의 전원공급 상태를 제어하는 전원 스위치에 인가되기 위한 제어신호(Control signal)을 생성하는 하나 이상의 다이오드(Diode)와 OR 게이트가 각각 연결되고, 상기 OR 게이트의 출력단과 멀티플렉서가 각각 연결되는 단계, 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU)에서 선택신호(Select signal)의 비트를 순차적으로 변경하여 상기 멀티플렉서에 전송하는 단계, 상기 선택신호에 따라 상기 하나 이상의 다이오드 중 특정 다이오드가 선택되는 단계 및 해당 선택된 다이오드를 통해 생성되는 제어신호가 상기 전원 스위치에 정상적으로 인가되는지 여부를 토대로, 판단부에서 상기 OR게이트의 정상동작 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 OR 게이트의 출력단과 멀티플렉서가 각각 연결되는 단계는 상기 하나 이상의 다이오드는 상기 OR게이트의 입력단과 각각 연결되고, 상기 OR게이트의 출력단은 상기 멀티플렉서의 입력단과 각각 연결될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 MCU에서 선택신호의 비트를 순차적으로 변경하여 상기 멀티플렉서에 전송하는 단계는 2개 이상의 비트에 해당하는 상기 선택신호의 비트가 순차적으로 변경됨에 따라 상기 하나 이상의 다이오드가 순차적으로 선택되는 단계 및 선택된 다이오드를 통해 생성되는 제어신호가 상기 전원 스위치에 순차적으로 인가되는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 MCU에서 선택신호의 비트를 순차적으로 변경하여 상기 멀티플렉서에 전송하는 단계는 상기 MCU에서 하이 비트(High bit)인 1 또는 로우 비트(Low bit)인 0에 해당하는 2개의 비트로 구현된 선택신호를 상기 멀티플렉서에 전송하는 단계, 전송된 2개의 비트가 모두 로우 비트인 0에 해당하는 경우 제1 다이오드가 선택되는 단계, 전송된 2개의 비트 중 하나의 비트가 로우 비트인 0에 해당하고 다른 하나의 비트가 하이 비트인 1에 해당하는 경우 제2 다이오드가 선택되는 단계, 전송된 2개의 비트 중 하나의 비트가 하이 비트인 1에 해당하고 다른 하나의 비트가 로우 비트인 0에 해당하는 경우 제3 다이오드가 선택되는 단계 및 전송된 2개의 비트가 모두 하이 비트인 1에 해당하는 경우 제4 다이오드가 선택되는 단계를 포함할 수 있다.
삭제
본 발명의 다른 실시예에 따른 배터리 관리 시스템은 BMS의 전원공급 상태를 제어하는 전원 스위치에 인가되기 위한 제어신호(Control signal)을 생성하는 하나 이상의 다이오드(Diode)와 각각 연결된 OR게이트, 상기 OR게이트의 출력단과 각각 연결된 멀티플렉서, 상기 멀티플렉서에 선택신호(Select signal)를 전송하되, 상기 선택신호의 비트를 순차적으로 변경하여 전송하는 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU) 및 상기 선택신호에 따라 상기 하나 이상의 다이오드 중 특정 다이오드가 선택된 후, 해당 선택된 다이오드를 통해 생성되는 제어신호가 상기 전원 스위치에 정상적으로 인가되는지 여부를 토대로 상기 OR게이트의 정상동작 여부를 판단하는 판단부가 포함된 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함할 수 있다.
삭제
본 발명의 일 측면에 따르면, 가변되는 비트를 통한 제어신호가 전원 구동 스위치에 인가되는 시점에서 BMS의 정상적인 전원공급이 이루어지는지 여부를 토대로 OR게이트의 정상작동 여부를 진단할 수 있기 때문에, 모든 다이오드들의 제어신호 정상인가 여부를 OR게이트 단에서 미리 진단할 수 있는 이점을 가진다.
특히, 실제 BMS 구동에 필요한 제어신호를 생성 및 출력하는 다이오드가 어떠한 다이오드인지 여부를 정확히 파악할 수 있는 이점을 가진다.
삭제
도 1은 종래의 OR게이트(1)만을 이용하여 다수의 다이오드를 통해 생성된 제어신호를 전원 구동 스위치에 인가, BMS에 전원을 공급하는 회로를 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로(100)를 도시한 도면이다.
도 3은 도 2에 도시된 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로(100)를 통해 OR게이트 회로의 전원 스위치를 진단하기 위한 방법을 일련의 순서대로 도시한 도면이다.
이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 바람직한 실시예를 제시한다. 그러나 하기의 실시예는 본 발명을 보다 쉽게 이해하기 위하여 제공되는 것일 뿐, 실시예에 의해 본 발명의 내용이 한정되는 것은 아니다.
삭제
도 1은 종래의 OR게이트(1)만을 이용하여 다수의 다이오드를 통해 생성된 제어신호를 전원 구동 스위치에 인가, BMS에 전원을 공급하는 회로를 도시한 도면이다.
도 1을 살펴보면, 종래에는 OR게이트의 입력단에 다수의 다이오드가 각각 연결되고, OR게이트의 출력단은 하나로 병합되어 BMS의 전원 구동 스위치(FET) 구동을 위한 접합 트랜지스터(BJT)로 인가됨을 알 수 있다.
이 경우, OR게이트는 다수의 다이오드중 어느 하나의 다이오드를 통해 생성된 제어신호가 인가되더라도 출력값이 정상적으로 인가되도록 설계되었기 때문에, 접합 트랜지스터(BJT)에 정상적인 제어신호가 인가되게 된다.
하지만, 이러한 OR게이터 특성 상 다수의 다이오드 중 비정상적으로 작동되거나 아예 작동되지 않는 다이오드를 판별할 수 없고, 정상적인 제어신호를 생성한 다이오드가 어떠한 다이오드인지 여부를 확인할 수 없다는 문제점을 가지게 된다.
삭제
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로(100)를 도시한 도면이다.
도 2를 살펴보면, 본 발명의 일 실시예에 따른 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로(100)는 크게 OR게이트(110), 멀티플렉서(120), 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU)(130) 및 판단부(미도시)를 포함하여 구성될 수 있다.
삭제
OR게이트(110)는 BMS의 전워공급 상태를 제어하는 전원 스위치에 인가되기 위한 제어신호(Control signal)을 생성하는 하나 이상의 다이오드(Diode)와 각각 연결되며, 각 다이오드를 통해 생성된 제어신호를 후술되는 멀티플렉서(120)로 인가하는 역할을 한다.
이러한 OR게이트(110)는 입력단이 각각의 다이오드와 연결되고, 출력단이 멀티플렉서(120)의 입력단과 연결된다.
한편, 후술되는 멀티플렉서(120)는 OR게이트(110)를 통해 개별 인가되는 제어신호 중 어느 하나의 제어신호를 선택하게 되는데, 이에 관해서는 후술하기로 한다.
삭제
멀티플렉서(120)는 MCU(130)로부터 전송되는 선택신호(Select signal)를 토대로 OR게이트(110)를 통해 생성된 제어신호 중 어느 하나를 선택하는 역할을 한다.
이때, MCU(130)로부터 전송되는 선택신호는 하이 비트(High bit)인 1과 로우 비트(Low bit)인 0에 해당하는 비트값을 가지는 신호가 2개로 구현될 수 있다.
보다 구체적으로, 멀티플렉서(120)에는 선택신호의 2가지 비트가 입력되는 입력단이 마련되며, 2개의 입력단 각각을 통해 0 또는 1의 비트가 입력된다.
예컨대, 각각의 입력단을 통해 0/0 비트가 입력된 경우, 멀티플렉서(120)는 첫번째 다이오드(예컨대, 제1 다이오드)를 통해 생성된 제어신호를 선택한 후 선택된 다이오드를 통한 제어신호가 BMS의 전원 구동 스위치(FET)(전원 스위치) 구동을 위한 접합 트랜지스터(BJT)로 인가되도록 하고,
각각의 입력단을 통해 0/1 비트가 입력된 경우, 멀티플렉서(120)는 두번째 다이오드(예컨대, 제2 다이오드)를 통해 생성된 제어신호를 선택한 후 선택된 다이오드를 통한 제어신호가 BJT로 인가되도록 하며,
각각의 입력단을 통해 1/0 비트가 입력된 경우, 멀티플렉서(120)는 세번째 다이오드(예컨대, 제3 다이오드)를 통해 생성된 제어신호를 선택한 후 선택된 다이오드를 통한 제어신호가 BJT로 인가되도록 하며,
각각의 입력단을 통해 1/1 비트가 입력된 경우, 멀티플렉서(120)는 네번째 다이오드(예컨대, 제4 다이오드)를 통해 생성된 제어신호를 선택한 후 선택된 다이오드를 통한 제어신호가 BJT로 인가되도록 한다.
즉, MCU(130)를 통해 전송되는 선택신호는 그 비트가 순차적으로 변경되는데, 멀티플렉서(120)는 그에 따라 다른 다이오드를 통한 제어신호를 선택하게 되고, 이러한 제어신호는 전원 스위치에 순차적으로 인가된다.
삭제
판단부는 전원 스위치에 순차적으로 인가되는 제어신호의 정상적 인가 여부를 토대로 OR게이트(110)의 정상동작 여부, OR게이트(110)와 연결된 다수의 다이오드의 정상동작 여부, 혹은 전원 스위치에 인가된 제어신호를 생성한 다이오드가 어떠한 다이오드인지 여부 등을 파악하게 된다.
삭제
다음으로는, 도 3을 통해 OR게이트 회로의 전원 스위치를 진단하기 위한 방법을 순서대로 살펴보기로 한다.
도 3은 도 2에 도시된 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로(100)를 통해 OR게이트 회로의 전원 스위치를 진단하기 위한 방법을 일련의 순서대로 도시한 도면이다.
도 3을 살펴보면, 먼저 하나 이상의 다이오드와 OR게이트가 연결되고, OR게이트의 출력단과 멀티플렉서의 입력단이 연결된다(S301).
그 다음, MCU에서 2개의 비트로 구현된 선택신호를 멀티플렉서에 순차적으로 전송하고(S302), 멀티플렉서는 선택신호의 비트에 따라 하나 이상의 다이오드 중에서 해당 비트에 대응하는 다이오드를 선택하게 된다(S303).
또한, 멀티플렉서는 해당 선택된 다이오드를 통해 생성된 제어신호를 전원 스위치에 인가되도록 하며(S304) 판단부에서는 해당 제어신호가 정상적으로 인가되는지 여부를 판단하게 되고(S305), 이를 토대로 OR게이트가 정상적으로 동작하는지 여부와, 비정상적으로 동작하는 다이오드의 판별과, 제어신호를 생성한 다이오드가 어떠한 다이오드에 해당하는지 여부 등을 판단하게 된다(S306).
삭제
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
삭제
100: OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로
110: OR게이트
120: 멀티플렉서
130: MCU

Claims (10)

  1. BMS의 전원공급 상태를 제어하는 전원 스위치에 인가되기 위한 제어신호(Control signal)을 생성하는 복수의 다이오드(Diode)들과 각각 연결된 OR게이트;
    상기 OR게이트의 출력단과 각각 연결된 멀티플렉서;
    상기 멀티플렉서에 선택신호(Select signal)를 전송하되, 상기 선택신호의 비트를 순차적으로 변경하여 전송하는 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU); 및
    상기 선택신호의 비트가 순차적으로 변경됨에 따라 상기 복수의 다이오드들이 순차적으로 선택되고, 선택된 해당 다이오드로부터 생성되는 제어신호가 각각 상기 전원 스위치에 순차적으로 인가되면, 상기 제어 신호가 상기 전원 스위치에 정상적으로 인가되는지 여부를 토대로 상기 해당 다이오드의 정상동작 여부를 판단하고, 상기 복수의 다이오드들 중 비정상적으로 동작하는 다이오드를 판별하는 판단부;를 포함하는 것을 특징으로 하는, OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 다이오드들은 상기 OR게이트의 입력단과 각각 연결되고,
    상기 OR게이트의 출력단은 상기 멀티플렉서의 입력단과 각각 연결되는 것을 특징으로 하는, OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 MCU로부터 전송되는 상기 선택신호의 비트는 2개 이상에 해당하는 것을 특징으로 하는, OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로.
  4. 삭제
  5. 제1항에 있어서,
    상기 MCU는 하이 비트(High bit)인 1 또는 로우 비트(Low bit)인 0에 해당하는 2개의 비트로 구현된 상기 선택신호를 상기 멀티플렉서에 전송하며,
    전송된 2개의 비트가 모두 로우 비트인 0에 해당하는 경우 제1 다이오드가 선택되고,
    전송된 2개의 비트 중 하나의 비트가 로우 비트인 0에 해당하고 다른 하나의 비트가 하이 비트인 1에 해당하는 경우 제2 다이오드가 선택되며,
    전송된 2개의 비트 중 하나의 비트가 하이 비트인 1에 해당하고 다른 하나의 비트가 로우 비트인 0에 해당하는 경우 제3 다이오드가 선택되고,
    전송된 2개의 비트가 모두 하이 비트인 1에 해당하는 경우 제4 다이오드가 선택되는 것을 특징으로 하는, OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로.
  6. OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로에 따른 전원 스위치 진단 방법에 있어서,
    상기 전원 스위치 진단 회로는,
    BMS의 전원공급 상태를 제어하는 전원 스위치에 인가되기 위한 제어신호(Control signal)을 생성하는 복수의 다이오드(Diode)들과 OR 게이트,
    상기 OR 게이트의 출력단과 각각 연결된 멀티플렉서,
    상기 멀티플렉서의 선택신호(Select signal)의 비트를 순차적으로 변경하여 전송하는 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU) 및,
    상기 선택신호의 비트가 순차적으로 변경됨에 따라 상기 복수의 다이오드들이 순차적으로 선택되고, 선택된 해당 다이오드로부터 생성되는 제어신호가 각각 상기 전원 스위치에 순차적으로 인가되면, 상기 제어 신호가 상기 전원 스위치에 정상적으로 인가되는지 여부를 토대로 상기 해당 다이오드의 정상동작 여부를 판단하고, 상기 복수의 다이오드들 중 비정상적으로 동작하는 다이오드를 판별하는 판단부를 포함하는 것을 특징으로 하는, OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 복수의 다이오드들은 상기 OR게이트의 입력단과 각각 연결되고,
    상기 OR게이트의 출력단은 상기 멀티플렉서의 입력단과 각각 연결되는 것을 특징으로 하는, OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 방법.
  8. 삭제
  9. 제6항에 있어서,
    상기 MCU는, 하이 비트(High bit)인 1 또는 로우 비트(Low bit)인 0에 해당하는 2개의 비트로 구현된 상기 선택신호를 상기 멀티플렉서에 전송하되,
    상기 멀티플렉서는 전송된 2개의 비트가 모두 로우 비트인 0에 해당하는 경우 제1 다이오드를 선택하고,
    전송된 2개의 비트 중 하나의 비트가 로우 비트인 0에 해당하고 다른 하나의 비트가 하이 비트인 1에 해당하는 경우 제2 다이오드를 선택하며,
    전송된 2개의 비트 중 하나의 비트가 하이 비트인 1에 해당하고 다른 하나의 비트가 로우 비트인 0에 해당하는 경우에는 제3 다이오드를 선택하고,
    전송된 2개의 비트가 모두 하이 비트인 1에 해당하는 경우에는 제4 다이오드가 선택하는 것을 특징으로 하는, OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 방법.
  10. BMS의 전원공급 상태를 제어하는 전원 스위치에 인가되기 위한 제어신호(Control signal)을 생성하는 복수의 다이오드(Diode)들과 각각 연결된 OR게이트, 상기 OR게이트의 출력단과 각각 연결된 멀티플렉서, 상기 멀티플렉서에 선택신호(Select signal)를 전송하되, 상기 선택신호의 비트를 순차적으로 변경하여 전송하는 마이크로 컨트롤러 유닛(MCU) 및 상기 선택신호의 비트가 순차적으로 변경됨에 따라 상기 복수의 다이오드들이 순차적으로 선택되고, 선택된 해당 다이오드로부터 생성되는 제어신호가 각각 상기 전원 스위치에 순차적으로 인가되면, 상기 제어 신호가 상기 전원 스위치에 정상적으로 인가되는지 여부를 토대로 상기 해당 다이오드의 정상동작 여부를 판단하고, 상기 복수의 다이오드들 중 비정상적으로 동작하는 다이오드를 판별하는 판단부가 포함된 OR게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는, 배터리 관리 시스템.
KR1020180136506A 2018-11-08 2018-11-08 Or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로 및 진단 방법, or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 배터리 관리 시스템 KR102698873B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180136506A KR102698873B1 (ko) 2018-11-08 2018-11-08 Or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로 및 진단 방법, or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 배터리 관리 시스템

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180136506A KR102698873B1 (ko) 2018-11-08 2018-11-08 Or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로 및 진단 방법, or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 배터리 관리 시스템

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200053197A KR20200053197A (ko) 2020-05-18
KR102698873B1 true KR102698873B1 (ko) 2024-08-23

Family

ID=70912803

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180136506A KR102698873B1 (ko) 2018-11-08 2018-11-08 Or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로 및 진단 방법, or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 배터리 관리 시스템

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102698873B1 (ko)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101326419B1 (ko) * 2006-10-06 2013-11-11 로베르트 보쉬 게엠베하 회로 장치

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980030573A (ko) 1996-10-30 1998-07-25 배순훈 로직 검사 장치
KR101451806B1 (ko) * 2010-09-16 2014-10-17 삼성에스디아이 주식회사 전력저장시스템

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101326419B1 (ko) * 2006-10-06 2013-11-11 로베르트 보쉬 게엠베하 회로 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR20200053197A (ko) 2020-05-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10630210B2 (en) Optocoupler-based control circuit and method thereof
CN100531492C (zh) 发光二极管驱动器设备
US8569954B2 (en) Luminescence driving apparatus, display apparatus, and driving method thereof
US7793177B2 (en) Chip testing device and system
US8478089B2 (en) Optical switch and optical-switch control method
US20060033456A1 (en) Flashing light control apparatus and method thereof
US11381687B2 (en) Information processing apparatus and control method therefor
CN112255542A (zh) 一种pwm驱动负载的故障诊断方法、装置和驱动系统
KR102698873B1 (ko) Or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로 및 진단 방법, or게이트 회로를 이용한 전원 스위치 진단 회로를 포함하는 배터리 관리 시스템
JP5582748B2 (ja) 車両用電子制御装置
EP2939344B1 (en) Automatic input impedance control
KR102030827B1 (ko) 스타터 모터 드라이버 및 그것의 진단 방법
US20050273180A1 (en) System and method for starting up plural electronic devices in an orderly manner
JPS5829006A (ja) シ−ケンスコントロ−ラ
US8996894B2 (en) Method of booting a motherboard in a server upon a successful power supply to a hard disk driver backplane
US20160056720A1 (en) Power managing apparatus, dc-dc control circuit, and method for enabling chip
US20070097587A1 (en) Inductive load drive device and drive method
CN117953815B (zh) 一种led显示系统及其控制方法、计算机设备和存储介质
KR101429086B1 (ko) 추진 제어 레버 및 추진 제어 레버의 제어방법
JP6793861B1 (ja) 異常診断システムおよび異常診断方法
CN114326651B (zh) Tcu测试系统及方法
JP5970563B2 (ja) 電池制御装置
KR100349860B1 (ko) 차량용 전원 분배장치
KR20220034584A (ko) 차량의 led 램프 구동 시스템 및 그 방법
JP2013213892A (ja) 映像表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant