KR102665843B1 - 광학장비 점검 장치 및 시스템 - Google Patents

광학장비 점검 장치 및 시스템 Download PDF

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Abstract

본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 광학장비 점검 장치 및 시스템을 적용함으로써 기계 구동 방식에 비하여 동작 속도가 빠르며, 소형화가 가능하고, 전기적 잡음 및 전력 소모를 줄일 수 있고, 광 신호에 임의의 형상을 모사할 수 있으며, 광신호의 세기를 조정할 수 있다.

Description

광학장비 점검 장치 및 시스템{OPTICAL EQUIPMENT INSPECTION APPARATUS AND SYSTEM}
본 발명은 점검 장치 및 시스템에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본 발명은 광학장비를 점검하기 위한 장치 및 시스템에 관한 것이다.
이 부분에 기술된 내용은 단순히 본 실시 예에 대한 배경 정보를 제공할 뿐 종래기술을 구성하는 것은 아니다.
기존의 광학장비 점검 장치는 광케이블과 광 차단막을 이용하여 신호의 유무만을 모사할 수 있었다. 기존의 광학장비 점검 장치는 소형화 및 저전력 구현이 어려우며, 전기적 잡음이 생길 수 있다는 문제점이 있다.
기존의 방식은 물리적인 동작을 통하여 광신호를 통과시키거나 차단시키는 방식을 이용하지만, 기존 방식인 솔레노이드, 모터와 같은 유도성 부하를 사용하는 방식은 전기적 잡음이 발생하며, 전력이 많이 필요하고, 소형화가 어렵다는 문제점이 있다. 물리적인 동작을 통하여 광신호를 통과시키거나 차단시키는 방식은 구동 속도가 느리다는 단점이 있다.
기존의 방식은 광신호에 사용자가 원하는 형상을 모사할 수 없거나, 고정된 형상만을 모사할 수 있다는 문제점이 있다.
광학식 신관과 같은 광학장비를 점검하는 점검장비는 일반적으로 광신호의 유무를 모사하거나, 광신호의 세기를 조절하는 역할을 할 수 있다. 광신호의 유무 모사(ON/OFF)는 일반적으로 솔레노이드와 같은 장치를 이용하여 광 경로를 물리적으로 차단하는 방식이 주로 사용된다. 이러한 방식은 전기적인 잡음을 발생시키며, 전력 소모가 큰 단점이 있다.
광 신호의 세기를 조절할 경우, 광 케이블 또는 광 섬유 다발을 이용하거나, 테프론과 같이 광 손실체(광 차단체)를 활용하는 방식이 주로 사용된다. 광 섬유 다발을 이용할 경우, 조절할 수 있는 광신호의 세기가 한정되어 있으며, 소형화가 불가능하다는 문제점이 있다. 테프론과 같이 광 손실체를 활용하는 방식의 경우, 일반적으로 손실체의 물리적인 이동이 필요하다. 손실체의 물리적인 이동을 위하여 솔레노이드와 같은 소자를 사용해야 하기 때문에, 전기적인 잡음 및 전력 소모가 크고, 소형화가 힘든 단점이 있다. 솔레노이드 등을 이용하는 방식은 동작 속도가 느리다는 문제점이 있다. 또한 광 신호를 단순히 차단/통과만 할 수 있으며, 광 신호에 사용자가 원하는 형상을 쉽게 모사 할 수 없다는 문제점이 있다.
하기 선행기술문헌의 3개의 선행 특허는 수신부에서 송신부로 전달되는 광 신호의 크기 조절 및 광 신호 차단 기능을 가지고 있다. 그러나, 물리적인 방식을 이용하기 때문에, 장치의 부피가 크며, 전기적 잡음이 발생할 수 있고, 전력 소모가 크다는 문제점이 있다. 또한, 소형화가 불가능해 다중 채널을 구현하는데 어려움이 있다. 또한, 점검대상 광학장비의 형상에 따라 구현이 불가능할 수 있다.
대한민국 등록특허공보 제10-0169070호(1996.12.23.) 대한민국 등록특허공보 제10-0133958호(1993.05.21.) 대한민국 등록특허공보 제10-0169070호(1998.10.08.)
본 발명이 이루고자 하는 목적은, 기계 구동 방식에 비하여 동작 속도가 빠르며, 소형화가 가능하고, 전기적 잡음 및 전력 소모를 줄일 수 있고, 광 신호에 임의의 형상을 모사할 수 있으며, 광신호의 세기를 조정할 수 있는 광학장비 점검 장치 및 시스템을 제공하는데 있다.
본 발명의 명시되지 않은 또 다른 목적들은 하기의 상세한 설명 및 그 효과로부터 용이하게 추론할 수 있는 범위 내에서 추가적으로 고려될 수 있다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시 예에 따른 광학장비 점검 장치는, 광신호를 발생시켜 목적위치로 조사하는 광학장비로부터 광신호를 수신하는 광신호 수신부; 액정을 이용하여 상기 광신호 수신부가 수신한 광신호의 신호 특성을 조정하는 광학신호 조정부; 외부로부터 제어 설정 정보를 수신하고, 상기 제어 설정 정보에 대응하는 제어 신호를 출력하여 상기 광학신호 조정부를 제어하는 제어부; 및 상기 조정된 광신호를 상기 광학장비로 송신하는 광신호 송신부;를 포함한다.
여기서, 상기 광학신호 조정부는, 상기 광학장비로부터 수신한 광신호의 폭을 조정하는 신호폭 조정부; 및 상기 광학장비로부터 수신한 광신호의 세기를 조정하거나 차단하는 신호세기 조정부를 포함하고, 상기 신호폭 조정부는, 상기 광신호 수신부로부터 수신하는 광신호의 신호폭을 조정하는 제1 신호폭 조정부; 및 상기 광학신호 조정부가 상기 광신호 송신부를 향해 송신하는 광신호의 신호폭을 조정하는 제2 신호폭 조정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 제1 신호폭 조정부는, 상기 광학장비로부터 수신하는 광신호의 신호폭을 넓히되, 상기 광신호 수신부로부터 수신하는 광신호를 회절시키는 적어도 하나의 슬릿; 및 상기 회절된 광신호를 평행광 형태로 변환하는 적어도 하나의 볼록렌즈를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 제2 신호폭 조정부는, 상기 광학장비를 향해 송신하는 광신호의 신호폭을 줄이되, 상기 광신호 송신부를 향해 송신하는 광신호의 폭을 줄이는 적어도 하나의 볼록렌즈; 및 상기 볼록렌즈를 통과한 광신호를 평행광 형태로 변환하는 적어도 하나의 오목렌즈를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 신호세기 조정부는, 상기 광학장비로부터 수신하는 광신호의 일방향 성분만 통과시키는 제1 편광판; 상기 제1 편광판을 통과한 광신호의 편파를 변환하는 제1 액정; 상기 제1 액정에 의하여 변환된 광신호의 편파를 변환하는 제2 액정; 및 상기 제2 액정에 의하여 변환된 광신호를 상기 제1 편광판이 통과시키는 방향과 같은 방향의 성분만 통과시키는 제2 편광판;을 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 신호세기 조정부는, 적어도 하나의 전극을 포함하고, 상기 제어 신호에 대응하여 상기 전극을 통해 상기 제1 액정과 상기 제2 액정에 전기장을 형성하는 방식으로 상기 제1 액정과 상기 제2 액정이 변환하는 광신호의 편파 방향을 제어하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 제1 액정 및 상기 제2 액정은, TN(Twisted Nematic) 방식으로 구현된 액정이고, 상기 신호세기 조정부는, 상기 전극을 통해 상기 제1 액정 및 상기 제2 액정에 전기장을 형성하는 방식으로 상기 광신호를 차단하거나, 상기 전극을 통해 상기 제1 액정 및 상기 제2 액정에 전기장을 형성하지 않는 방식으로 제1 액정 및 상기 제2 액정을 통과하는 광신호의 편파를 변환하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 신호세기 조정부는, 상기 제1 액정과 상기 제2 액정의 화소를 제어하는 방식으로 상기 제1 액정과 상기 제2 액정을 통과하는 광신호를 상기 제어 신호에 대응하는 형상으로 모사하되, 상기 형상은, 점검을 위한 표적에 대한 모의 형상으로써, 공중운동체 또는 지상이동체 중 적어도 하나의 형상인 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 광신호 수신부와 상기 광학신호 조정부 사이의 광경로를 변환하는 수신 광경로 변환부; 및 상기 광학신호 조정부와 상기 광신호 송신부 사이의 광경로를 변환하는 송신 광경로 변환부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시 예에 따른 광학장비 점검 시스템은, 광신호를 발생시켜 목적위치로 조사하는 광학장비; 및 상기 광학장비로부터 광신호를 수신하는 광신호 수신부, 액정을 이용하여 상기 광신호 수신부가 수신한 광신호의 신호 특성을 조정하는 광학신호 조정부, 외부로부터 제어 설정 정보를 수신하고, 상기 제어 설정 정보에 대응하는 제어 신호를 출력하여 상기 광학신호 조정부를 제어하는 제어부 및 상기 조정된 광신호를 상기 광학장비로 송신하는 광신호 송신부를 포함하는 광학장비 점검 장치;를 포함한다.
여기서, 상기 광학신호 조정부는, 상기 광학장비로부터 수신한 광신호의 폭을 조정하는 신호폭 조정부; 및 상기 광학장비로부터 수신한 광신호의 세기를 조정하거나 차단하는 신호세기 조정부를 포함하고, 상기 신호폭 조정부는, 상기 광신호 수신부로부터 수신하는 광신호의 신호폭을 조정하는 제1 신호폭 조정부; 및 상기 광학신호 조정부가 상기 광신호 송신부를 향해 송신하는 광신호의 신호폭을 조정하는 제2 신호폭 조정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 신호세기 조정부는, 상기 광학장비로부터 수신하는 광신호의 일방향 성분만 통과시키는 제1 편광판; 상기 제1 편광판을 통과한 광신호의 편파를 변환하는 제1 액정; 상기 제1 액정에 의하여 변환된 광신호의 편파를 변환하는 제2 액정; 및 상기 제2 액정에 의하여 변환된 광신호를 상기 제1 편광판이 통과시키는 방향과 같은 방향의 성분만 통과시키는 제2 편광판;을 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 신호세기 조정부는, 적어도 하나의 전극을 포함하고, 상기 제어 신호에 대응하여 상기 전극을 통해 상기 제1 액정과 상기 제2 액정에 전기장을 형성하는 방식으로 상기 제1 액정과 상기 제2 액정이 변환하는 광신호의 편파 방향을 제어하는 것을 특징으로 한다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 광학장비 점검 장치 및 시스템을 적용함으로써 기계 구동 방식에 비하여 동작 속도가 빠르며, 소형화가 가능하고, 전기적 잡음 및 전력 소모를 줄일 수 있고, 광 신호에 임의의 형상을 모사할 수 있으며, 광신호의 세기를 조정할 수 있다.
여기에서 명시적으로 언급되지 않은 효과라 하더라도, 본 발명의 기술적 특징에 의해 기대되는 이하의 명세서에서 기재된 효과 및 그 잠정적인 효과는 본 발명의 명세서에 기재된 것과 같이 취급된다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광학장비 점검 장치 및 시스템의 구성을 개략적으로 도시한 블록도이다.
도 2 내지 도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 다양한 형태의 광학장비 점검 장치 및 시스템의 구성을 개략적으로 도시한 블록도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 광학장비 점검 장치의 제1 신호폭 조정부를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광학장비 점검 장치의 제2 신호폭 조정부를 설명하기 위한 도면이다.
도 7 내지 도 13은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광학장비 점검 장치의 신호세기 조정부를 설명하기 위한 도면이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 상세히 설명한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 게시되는 실시 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 게시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다. 본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함 하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 제2, 제1 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소 들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제2 구성요소는 제1 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제1 구성요소도 제2 구성요소로 명명될 수 있다. 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.
본 명세서에서 각 단계들에 있어 식별부호(예를 들어, a, b, c 등)는 설명의 편의를 위하여 사용되는 것으로 식별부호는 각 단계들의 순서를 설명하는 것이 아니며, 각 단계들은 문맥상 명백하게 특정 순서를 기재하지 않는 이상 명기된 순서와 다르게 일어날 수 있다. 즉, 각 단계들은 명기된 순서와 동일하게 일어날 수도 있고 실질적으로 동시에 수행될 수도 있으며 반대의 순서대로 수행될 수도 있다.
본 명세서에서, "가진다", "가질 수 있다", "포함한다" 또는 "포함할 수 있다"등의 표현은 해당 특징(예: 수치, 기능, 동작, 또는 부품 등의 구성요소)의 존재를 가리키며, 추가적인 특징의 존재를 배제하지 않는다.
또한, 본 명세서에 기재된 '~부'라는 용어(예를 들어, 제어부)는 소프트웨어 또는 FPGA(field-programmable gate array) 또는 ASIC과 같은 하드웨어 구성요소를 의미할 수 있으며, '~부'는 어떤 역할들을 수행한다. 그렇지만 '~부'는 소프트웨어 또는 하드웨어에 한정되는 의미는 아니다. '~부'는 어드레싱할 수 있는 저장 매체에 있도록 구성될 수도 있고 하나 또는 그 이상의 프로세서들을 재생시키도록 구성될 수도 있다. 따라서, 일 예로서 '~부'는 소프트웨어 구성요소들, 객체지향 소프트웨어 구성요소들, 클래스 구성요소들 및 태스크 구성요소들과 같은 구성요소들과, 프로세스들, 함수들, 속성들, 프로시저들, 서브루틴들, 프로그램 코드의 세그먼트들, 드라이버들, 펌웨어, 마이크로코드, 회로, 데이터 구조들 및 변수들을 포함할 수 있다. 구성요소들과 '~부'들 안에서 제공되는 기능은 더 작은 수의 구성요소들 및 '~부'들로 결합되거나 추가적인 구성요소들과 '~부'들로 더 분리될 수 있다.
이하에서 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 광학장비 점검 장치 및 시스템의 다양한 실시 예에 대해 상세하게 설명한다.
본 발명은 광신호를 조사하는 광학장비가 정상적으로 작동되는지를 점검하고자 발명한 광학장비 점검 장치 및 시스템에 관한 것이다. 본 명세서에 기재된 실시 예들은 광신호를 이용하는 광학식 신관, 레이저 고도계 등을 점검하는 점검장비 및 생산장비에 적용이 가능하고, 레이저 거리계, 레이저 고도계, 광통신 장치, 자유공간 광통신 장비 등의 개발이나 생산과정, 유지보수 등에 적용될 수 있다.
기존의 방식은 물리적인 동작을 통하여 광신호를 통과시키거나 차단시키는 방식을 이용하지만, 본 발명은 액정을 이용하여 광신호를 통과/차단 및 세기 조절할 수 있다. 기존 방식인 솔레노이드, 모터와 같은 유도성 부하를 사용하는 방식은 전기적 잡음이 발생하며, 전력이 많이 필요하고, 소형화가 어렵다는 문제점이 있다. 본 발명은 액정의 사용으로, 전기적 잡음이 없으며, 저전력 및 소형화 구현이 용이하다.
종래에는 물리적인 동작을 통하여 광신호를 통과시키거나 차단시켜, 구동 속도가 느리다는 단점이 있다. 본 발명은 액정의 전기장 세기 조절을 통하여 광신호의 세기를 조절하기 때문에, 수~수십 ms 단위의 매우 빠른 반응 속도를 구현할 수 있다.
기존의 방식은 광신호에 사용자가 원하는 형상을 모사할 수 없거나, 고정된 형상만을 모사할 수 있다는 문제점이 있다. 본 발명은 액정을 이용하기 때문에, 광신호에 사용자가 원하는 형상을 쉽게 모사할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광학장비 점검 장치 및 시스템의 구성을 개략적으로 도시한 블록도이다.
도 1을 참조하면, 광학장비 점검 시스템(10)은 광학장비 점검 장치(100) 및 광학장비(200)를 포함할 수 있다.
광학장비 점검 장치(100)는 제어부(110), 광신호 수신부(121), 광신호 송신부(122), 수신 광경로 변환부(131), 송신 광경로 변환부(132), 광학신호 조정부(140)를 포함할 수 있다.
도 1에 도시된 모든 블록이 필수 구성요소는 아니며, 다른 실시 예에서 광학장비 점검 시스템(10)과 연결된 일부 블록이 추가, 변경 또는 삭제될 수 있다.
제어부(110)는 외부의 컴퓨터나 다른 점검장비 등과 연동하여 광학장비 점검 장치를 제어하고 모니터링하는 역할을 할 수 있다. 제어부(110)는 광학장비 점검 장치(100)를 운용하기 위한 제어 설정 정보를 수신하고, 제어 설정 정보에 대응하는 제어 신호를 출력하여 광학장비 점검 장치(100)를 제어할 수 있다.
제어 설정 정보는 광학장비 점검 장치(100) 및 광학장비 점검 시스템(10)의 사용자에 의하여 제어부(110)로 입력되는 정보로써, 광신호의 신호 폭, 신호 세기, 광경로 조정 각도 및 모사하고자 하는 형상 등 광학장비 점검 장치(100)를 운용하기 위해 필요한 정보를 의미하는 것이 바람직하다.
광신호 수신부(121)는 광학장비(200)로부터 광신호를 수신할 수 있다. 광신호 수신부(121)는 수신한 광신호를 수신 광경로 변환부(131) 또는 광학신호 조정부(140)로 송신할 수 있다.
광신호 송신부(122)는 광학신호 조정부(140)에 의하여 조정된 광신호를 광학장비(200)로 송신할 수 있다.
수신 광경로 변환부(131)는 광신호 수신부(121)와 광학신호 조정부(140) 사이의 광경로를 변환할 수 있다. 수신 광경로 변환부(131)는 광학장비(200)의 송/수신부가 일직선상에 위치하지 않고, 임의의 각도로 틀어져 있는 경우에 광 경로를 그에 대응하여 변환할 수 있다.
송신 광경로 변환부(132)는 광학신호 조정부(140)와 광신호 송신부(122) 사이의 광경로를 변환할 수 있다. 송신 광경로 변환부(132)는 광학장비(200)의 송/수신부가 일직선상에 위치하지 않고, 임의의 각도로 틀어져 있는 경우에 광 경로를 그에 대응하여 변환할 수 있다.
수신 광경로 변환부(131) 및 송신 광경로 변환부(132)에 대해서는 도 2 내지 도 4에서 보다 상세하게 설명한다.
광학신호 조정부(140)는 제어부(110)가 출력하는 제어 신호에 대응하여 광신호 수신부(121)가 수신한 광신호의 신호 특성을 조정할 수 있다. 광학신호 조정부(140)는 신호폭 조정부(150) 및 신호세기 조정부(160)를 포함할 수 있다.
신호폭 조정부(150)는 좁은 폭을 가지는 광신호를 넓은 폭을 가지도록 변환하거나, 넓은 폭을 가지는 광신호를 좁은 폭을 가지도록 변환할 수 있다.
신호폭 조정부(150)는 제1 신호폭 조정부(151) 및 제2 신호폭 조정부(152)를 포함할 수 있다.
제1 신호폭 조정부(151)는 광학장비(200)로부터 수신하는 광신호의 신호폭을 조정할 수 있다. 제1 신호폭 조정부(151)는 적어도 하나의 슬릿 및 적어도 하나의 볼록렌즈를 포함할 수 있다. 제1 신호폭 조정부(151)는 광학장비(200)로부터 수신하는 광신호의 신호폭을 넓힐 수 있다. 제1 신호폭 조정부(151)에 대해서는 도 5에서 보다 상세하게 설명한다.
제2 신호폭 조정부(152)는 광학장비 점검 장치(100)가 광학장비(200)를 향해 송신하는 광신호의 신호폭을 조정할 수 있다. 제2 신호폭 조정부(152)는 적어도 하나의 볼록렌즈 및 적어도 하나의 오목렌즈를 포함할 수 있다. 제2 신호폭 조정부(152)는 광학장비 점검 장치(100)가 광학장비(200)를 향해 송신하는 광신호의 신호폭을 줄일 수 있다. 제2 신호폭 조정부(152)에 대해서는 도 6에서 보다 상세하게 설명한다.
신호세기 조정부(160)는 광신호 조절기는 편광판 및 액정으로 구성되어 있으며, 제어부(110)로부터 받은 제어 신호에 따라 액정의 배열을 변환하여 광신호를 차단하거나, 그 세기를 조절하거나, 임의의 형상을 모사하는 역할을 한다. 신호세기 조정부(160)는 광학장비(200)로부터 수신하는 광신호의 일방향 성분만 통과시키는 제1 편광판(161), 제1 편광판(161)을 통과한 광신호의 편파를 변환하는 제1 액정(162), 제1 액정(162)에 의하여 변환된 광신호의 편파를 변환하는 제2 액정(163), 제2 액정(163)에 의하여 변환된 광신호를 제1 편광판(161)이 통과시키는 방향과 같은 방향의 성분만 통과시키는 제2 편광판(164)를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따르면, 제1 액정(162) 및 제2 액정(163)은 TN(Twisted Nematic) 방식, VA(Vertical Alignment) 방식 및 PLS(Plane to Line Switching) 방식 중 어느 하나의 방식으로 구현될 수 있다.
신호세기 조정부(160)는 적어도 하나의 전극(165)을 포함할 수 있다. 신호세기 조정부(160)는 제어 신호에 대응하여 전극(165)을 통해 제1 액정(162)과 제2 액정(163)에 전기장을 형성하는 방식으로 제1 액정(162)과 제2 액정(163)이 변환하는 편파의 방향을 제어할 수 있다.
신호세기 조정부(160)는 제1 액정(162)과 제2 액정(163)의 화소를 제어하는 방식으로 제1 액정(162)과 제2 액정(163)을 통과하는 광신호를 제어 신호에 대응하는 형상으로 모사할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따르면, 신호세기 조정부(160)는 임계치와 가중치에 기초하여 광신호의 신호 세기를 조정할 수 있다.
보다 상세하게는, 신호세기 조정부(160)는 수신한 광신호의 세기가 제1 임계치보다 낮은 경우, 수신한 광신호의 세기와 제1 가중치(예를 들어, 1.4)를 곱한 값만큼의 신호세기를 가지도록 수신한 광신호의 세기를 조정할 수 있다.
신호세기 조정부(160)는 수신한 광신호의 세기가 제1 임계치 보다 크고, 제2 임계치보다는 작은 경우, 수신한 광신호의 세기와 제2 가중치(예를 들어, 1.1)를 곱한 값만큼의 신호세기를 가지도록 수신한 광신호의 세기를 조정할 수 있다.
신호세기 조정부(160)는 수신한 광신호의 세기가 제2 임계치보다 큰 경우, 수신한 광신호의 세기와 제3 가중치(예를 들어, 0.7)를 곱한 값만큼의 신호세기를 가지도록 수신한 광신호의 세기를 조정할 수 있다.
신호세기 조정부(160)는 수신한 광신호의 세기가 제1 임계치와 같은 값을 가지게 되는 경우, 수신한 광신호의 세기와 제1 가중치(예를 들어, 1.4)와 제2 가중치(예를 들어, 1.1)의 평균값(상기 예시의 경우, 1.25)를 곱한 값만큼의 신호세기를 가지도록 수신한 광신호의 세기를 조정할 수 있다.
신호세기 조정부(160)는 수신한 광신호의 세기가 제2 임계치와 같은 값을 가지게 되는 경우, 수신한 광신호의 세기와 제2 가중치(예를 들어, 1.1)와 제3 가중치(예를 들어, 0.7)와 의 평균값(상기 예시의 경우, 0.9)를 곱한 값만큼의 신호세기를 가지도록 수신한 광신호의 세기를 조정할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따르면, 가중치와 임계치는 사용자가 광학장비(200)의 특성에 대응하여 제어 설정 정보에 포함시켜 제어부(110)로 송신한 값일 수 있다. 이 경우, 제어부(110)는 제어 설정 정보에 대응하는 제어 신호를 신호세기 조정부(160)로 송신하고, 신호세기 조정부(160)는 제어 신호에 포함된 임계치와 가중치를 기반으로 광신호의 세기를 조정한다.
본 발명의 또 다른 일 실시 예에 따르면, 임계치와 가중치는 사용자에 의하여, 광학장비(200)의 특성에 대응하여 미리 결정되어 신호세기 조정부(160)에 저장된 값 일 수 있다.
광학장비(200)는 광을 발생시켜 목적 위치로 조사하는 장치일 수 있다. 예를 들어,　광학장비(200)는 레이저를 이용하여 거리를 측정하는 레이저 거리 측정기(Laser Range Finder: LRF)에 적용되는 장치일 수 있다. 또한,　광학장비(200)는 레이저를 전기 에너지로 변환시켜 전기를 충전하는 장치에 레이저를 조사하는 장치일 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따르면, 광학장비(200)는 광학식 신관일 수 있다.
도 2 내지 도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 다양한 형태의 광학장비 점검 장치 및 시스템의 구성을 개략적으로 도시한 블록도이다.
도 2는 본 발명의 제1 실시 예로써, 광경로 변환부(131, 132)가 반사거울 또는 프리즘으로 구현된 경우이다.
광학장비(200)에서 송신된 광학신호가 광신호 수신부(121)를 통하여 수신 광경로 변환부(131)로 전달된다. 반사거울 또는 프리즘으로 형성된 수신 광경로 변환부(131)에서는 광신호를 반사시켜 광학신호 조절부(140)로 전달하며, 광학신호 조절부(140)에서 광학신호의 세기 또는 폭 등이 조절된 광신호는 송신 광경로 변환부(132)로 전달된다. 광신호는 송신 광경로 변환부(132)에서 반사되어 광신호 송신부(122)를 거쳐 광학장비(200)로 송신된다.
도 2를 참조하면, 수신 광경로 변환부(131)와 송신 광경로 변환부(132)는 광경로를 90도 변환하는 것으로 도시되어 있으나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니다.
도 3은 본 발명의 제2 실시 예로써, 광경로 변환부(131, 132)가 광케이블 또는 광도파관으로 구현된 경우이다.
도 3을 참조하면, 수신 광경로 변환부(131)와 송신 광경로 변환부(132)는 광경로를 90도 변환하는 것으로 도시되어 있으나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니고, 수신 광경로 변환부(131) 및 송신 광경로 변환부(132)를 광케이블을 이용하여 구현할 경우, 90도, 180도뿐만 아니라, 임의의 각도로 구현하는 것이 가능하고, 광경로를 곡선형으로 조정하는 것도 가능하다.
광케이블은 심(Core)과 클래드(Clad), 재킷(Jacket) 등으로 구성되어 있고 심과 클래드 사이 굴절률 차이에 의한 전반사를 이용해 빛을 전달하며, 광케이블에서 심은 매우 가는 유리나 플라스틱으로 구성되어 있고 클래딩은 폴리이미드(polyimide)나 아크릴레이트 폴리머(acrylate polymer) 등의 물질 층으로 코팅되는 것을 의미하는 것이 바람직하나 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
도 4는 본 발명의 제4 실시 예로써, 광경로가 일직선 상에 위치하여, 광학장비 점검 장치(100)에 광경로 변환부(131, 132)가 포함되지 않는 경우이다.
도 4는 광경로가 일직선 상에 위치하여 수신 광경로 변환부(131) 및 송신 광경로 변환부(132)를 사용하지 않은 예이다. 광학장비(200-1)에서 송신된 광학신호는 광신호 수신부(121)를 거쳐 바로 광학신호 조절부(140)로 전달되어 광신호의 세기가 조정되거나 신호의 유무가 모사되고, 광신호 송신부(122)를 거쳐 광학장비(200-2)로 전달된다. 광경로가 일직선상에 위치하기 때문에, 수신 광경로 변환부(131) 및 송신 광경로 변환부(132)가 필요하지 않다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 광학장비 점검 장치의 제1 신호폭 조정부를 설명하기 위한 도면이다.
제1 신호폭 조정부(151)는 광신호 수신부(121) 또는 수신 광경로 변환부(131)로부터 전달받은 광신호의 폭을 신호세기 조정부(160)의 액정 크기에 대응되도록 조정할 수 있다. 신호세기 조정부(160)로 전달되는 광신호의 폭이 좁을 경우, 신호세기 조정부(160)의 액정에서 조절할 수 있는 광신호의 세기나 형상 모사의 해상도가 낮아질 수 있기 때문에 이를 보완하기 위하여 광신호의 폭을 신호세기 조정부(160)의 액정 크기에 대응되도록 변환할 수 있다.
제1 신호폭 조정부(151)는 슬릿과 볼록렌즈로 구현할 수 있다. 좁은 폭을 가지는 광신호가 슬릿을 통과하면서 회절 현상에 의해 폭이 증가하게 되며, 폭이 증가한 광신호를 볼록렌즈를 통과하면서 평행광 형태로 변화하게 된다. 슬릿과 볼록렌즈의 거리는 볼록렌즈의 초점이 슬릿의 중심에 위치하도록 하여 볼록렌즈를 통과한 광신호의 형태가 평형광에 가까워 질 수 있도록 하는 것이 바람직하다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광학장비 점검 장치의 제2 신호폭 조정부를 설명하기 위한 도면이다.
제2 신호폭 조정부(152)는 신호세기 조정부(160)로부터 전달받은 넓은 폭을 가지는 광신호를 송신 광경로 변환부(132) 또는 광신호 송신부(122)를 통해 광학장비(200)로 전달될 수 있도록 폭을 좁게 만들 수 있다. 제2 신호폭 조정부(152)는 광신호 송신부(122)를 향해 송신하는 광신호의 폭을 줄이는 적어도 하나의 볼록렌즈 및 볼록렌즈를 통과한 광신호를 평행광 형태로 변환하는 적어도 하나의 오목렌즈를 포함할 수 있다.
도 6을 참조하면, 제2 신호폭 조정부(152)는 볼록렌즈 2개 사이에 오목렌즈가 위치하도록 구성될 수 있으며, 오목렌즈의 위치를 조정함에 따라 광신호의 폭을 조정할 수 있다.
도 7 내지 도 13은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광학장비 점검 장치의 신호세기 조정부를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 신호세기 조정부(160)의 내부 구조를 개략적으로 도시한 것이다.
신호세기 조정부(160)는 편광판 및 액정으로 구성되어 있으며, 제어부(110)로부터 받은 제어 신호에 따라 액정의 배열을 변환하여 광신호를 차단하거나, 그 세기를 조절하거나, 임의의 형상을 모사하는 역할을 한다.
신호세기 조정부(160)는 제1 편광판(161), 제1 액정(162), 제2 액정(163) 및 제2 편광판(164)를 포함할 수 있다.
제1 편광판(161)은 광학장비(200)로부터 수신하는 광신호의 일방향 성분(예를 들어, 수평 성분)만 통과시킬 수 있다.
제1 액정(162)은 제1 편광판(161)을 통과한 광신호의 편파를 변환할 수 있다.
제2 액정(163)은 제1 액정(162)에 의하여 변환된 광신호의 편파를 변환할 수 있다.
제2 편광판(164)은 제2 액정(163)에 의하여 변환된 광신호를 제1 편광판(161)이 통과시키는 방향과 같은 방향의 성분만 통과시킬 수 있다. 예를 들어, 제1 편광판(161)이 수평 성분만을 통과시키는 편광판이라면, 제2 편광판(164)도 역시 수평 성분만을 통과시키는 편광판이다.
일반적인 액정의 경우, 액정의 배열에 따라 광학신호의 세기를 조절할 수 있도록 서로 다른 편파를 가지는 편광판을 액정의 양쪽에 부착하여 사용한다. 그러나, 본 발명은, 신호세기 조정부(160)는 편광판(161, 164)과 액정(162, 163)이 이중적으로 적층된 구조로 형성됨에 따라, 광신호의 신호 특성(예를 들어, 세기 및 폭)을 보다 세밀하게 조정할 수 있다.
도 8을 참조하면, 신호세기 조정부(160)는 제1 편광판(161)과 제1 액정(162), 제1 액정(162)과 제2 액정(163) 및 제2 액정(163)과 제2 편광판(164) 사이에 전극(165)이 위치하는 구조로 형성될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따르면, 신호세기 조정부(160)를 구성하는 제1 액정(162)과 제2 액정(163)은 액정(162, 163)을 구성하는 물질이 서로 반대방향으로 배열되도록 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1 액정(162)을 구성하는 물질이 수평 방향으로 배열된 경우, 제2 액정(163)을 구성하는 물질은 수직 방향으로 배열된 것이 바람직하다.
도 8에 도시한 바와 같은 액정 물질 배열 구조는 액정(162, 163)으로 입사되는 광신호의 편광이 90도 회전하여 출력되는 특징을 가질 수 있다. 도 8을 참조하면, 2개의 얇은 편광판(161, 164) 사이에 전극(165)-제1 액정(162)-전극(165)-제2 액정(163)-전극(165)의 구조로 이루어져 있으며, 2개의 액정(162, 163)의 액정 배열이 90도 차이가 나도록 구성되어 있다. 광신호가 2개의 액정(162, 163)을 통과하면서 광신호의 편파가 두 번 90도 회전을 하기 때문에, 입사한 광신호의 편파와 출력되는 광신호의 편파가 동일하다는 특징이 있다.
도 9를 참조하면, 신호세기 조정부(160)는 제1 편광판(161-1)과 제2 편광판(164-1)을 광신호의 수평 성분만을 통과시키는 수평 편광판으로 형성하고, 제1 액정(162-1)과 제2 액정(163-2)을 TN 방식 액정으로 구현할 수 있다. 신호세기 조정부(160)에 입력된 광신호는 제1 편광판(161-1)에 의해 수평 편광성분만 제1 액정(162-1)에 전달된다. TN 방식의 액정의 경우, 전기장이 형성되어 있지 않으면, 액정의 배열이 90도 방향으로 꼬여 있으며, 전기장이 형성될 경우, 일정한 배열을 가지게 된다. 제1 액정(162-1)과 제2 액정(163-2)의 액정 배열에 따라 수평 편광 성분이 전부 또는 일부가 수평 편파 성분으로 남아 있거나, 전부 수직 편파 성분으로 변한 후에 제2 편광판(164-1)으로 전달되게 된다.
도 10 내지 도 12는 TN 방식의 액정에서 신호의 전달, 차단 및 세기 조절을 나타낸 것이다.
도 10은 TN방식의 액정에서 광신호의 전달의 예를 나타낸 것이다. 도 10을 참조하면, 신호세기 조정부(160)로 전달된 광신호는 제1 편광판(161-1)을 통과하면서 수평 편파 성분만 제1 액정(162-1)에 도달하게 된다. 제1 액정(162-1)에서는 액정이 배열이 수평 방향에서 수직 방향으로 90도 꼬여 있어, 수평 편파 성분이 수직 편파 성분으로 변하게 된다. 제1 액정(162-1)을 통과한 수직 편파 성분은 제2 액정(163-2)으로 전달되게 된다. 제2 액정(163-2)은 액정의 배열이 수직 방향에서 수평 방향으로 90도 꼬여 있어, 수직 편파 성분이 수평 편파 성분으로 변하게 된다. 제2 액정(163-2)에서 수평 편파로 변환된 광신호는 제2 편광판(164-1)을 통과하여 제2 신호폭 조정부(152)로 도달하게 된다.
도 11은 TN 방식의 액정에서 광신호의 차단의 예를 나타낸 것이다. 도 11을 참조하면, 신호세기 조정부(160)로 전달된 광신호는 제1 편광판(161-1)을 통하여 수평 편파 성분만 제1 액정(162-1)으로 전달되게 된다.
여기서, 제어 신호에 대응하여 신호세기 조정부(160)가 전극(165)을 통하여 제1 액정(162-1)에 전기장을 형성하는 경우, 제1 액정(162-1)을 통과한 광신호는 수평 편파 성분만을 가지게 된다. 제2 액정(163-2)은 제1 액정(162-1)과 액정 배열이 90도 차이가 나기 때문에, 수평 편파를 통과시키지 못하게 되어, 광신호가 차단되게 된다.
반대로, 제1 액정(162-1)에 전기장이 형성되지 않은 경우, 제1 액정(162-1)의 액정 배열에 의해 광신호는 수평 편파에서 수직 편파로 변하게 된다. 제2 액정(163-2)은 제1 액정(162-1)과 액정 배열이 90도 차이가 나기 때문에, 수직 편파를 통과 시킬 수 있다. 이 때에, 제2 액정(163-2)에 전기장이 형성될 경우, 제2 액정(163-2)으로 전달된 수직 편파는 그대로 제2 편광판(164-1)으로 전달되게 되고, 제2 편광판(164-1)에 의해 수직 평파 성분이 차단되므로 광신호가 차단되게 된다.
도 12는 TN 방식의 액정에서 광신호의 세기를 조절하는 것의 예를 나타낸 것이다. 도 12를 참조하면, 제1 액정(162-1)의 전기장 세기를 조절하여 입력되는 광신호의 수평 편파 성분을 일부 또는 전부를 수직 편파 성분으로 변화 시키고, 제2 액정(163-2)의 전기장 세기를 조절하여, 제2 액정(163-2)으로 전달되는 광신호의 수직 편파 성분의 일부 또는 전부를 수평 편파 성분으로 변화시켜 제2 편광판(164-1)으로 전달되는 수평 편파 성분의 크기를 조절하여, 광신호의 세기를 조절할 수 있다.
또한, 액정(162, 163)은 하나의 화소로 구성되어 있지 않고, 수많은 화소로 구성되어 있으며, 각각의 화소 별로 제어가 가능하다. 그렇기 때문에, 액정 전체 면적의 화소 중 일부 화소만 제어하여 액정을 통과하는 광학신호의 세기를 조절할 수 있다. 예를 들어, 액정에 약 10,000개의 화소가 있을때 그 중 50%인 5,000개의 화소를 제어하여 편파를 변환하지 않도록 하면 광신호의 세기가 50% 줄어드는 효과를 볼 수 있다.
본 발명의 또 다른 일 실시 예에 따르면, 제1 액정(162) 및 제2 액정(163)은 TN 방식으로 구현된 액정으로써, 액정의 배열이 수평 방향에서 수직방향으로 0 도 내지 180도 사이의 각도 중 어느 하나의 각도만큼 꼬여있는 구조로 구현될 수 있고, 도 8 내지 도 12에 도시된 바와 같이 반드시 액정이 배열이 수평 방향에서 수직 방향으로 90도 꼬여 있는 구조로 한정되는 것은 아니다.
광학장비(200) 중 광학식 신관은 송신된 광신호가 표적에 반사되어 들어오는 것을 분석하여 표적의 여부 등을 판단한다. 그렇게 때문에, 광학식 신관 점검 시 보다 더 많은 데이터를 얻거나, 많은 항목을 점검하기 위하여 표적을 모사하는 경우가 있다.
도 13은 신호세기 조정부(160)에서 광학신호에 형상을 모사하는 것을 나타낸 것이다.
신호세기 조정부는(160) 제1 액정(162)과 제2 액정(163)의 화소를 제어하는 방식으로 제1 액정(162)과 제2 액정(163)을 통과하는 광신호를 제어 신호에 대응하는 형상으로 모사할 수 있다.
형상은 표적에 대한 점검을 위한 모의 형상으로써, 공중운동체(예를 들어, 드론) 또는 지상이동체(예를 들어, SUV 차량) 중 적어도 하나의 형상인 것이 바람직하다.
신호세기 조정부(160)의 액정(162, 163)은 하나의 화소로 구성되어 있지 않고, 수많은 화소로 구성되어 있으며, 각각의 화소 별로 제어가 가능하다.
액정의 화소를 개별 제어를 통해, 액정 각각의 화소를 통과하는 광학신호의 편파를 각각 제어하여 임의의 형상을 모사할 수 있다. 액정의 화소가 많아 해상도가 높을 경우, 그 만큼 높은 해상도를 가지는 형상을 모사할 수 있다.
도 13을 참조하면, 사용자가 모사하고자 하는 형상(예를 들어, 항공기 형상)에 대한 정보가 포함된 제어 설정 정보를 제어부(110)로 송신한다. 제어부(110)는 제어 설정 정보에 대응하는 제어 신호를 신호세기 조정부(160)로 송신하고, 신호세기 조정부(160)는 액정(162, 163)을 제어하여, 항공기 형상을 모사할 수 있다. 보다 상세하게는, 신호세기 조정부(160)는 액정(162, 163)의 화소들 중에서 항공기 형상에 대응되는 영역에 포함되는 화소들을 제어하여 신호세기 조정부(160)를 통과하는 광신호가 항공기 형상에 대응되는 영역에 포함되는 화소들을 통과하지 못하게 하는 방식을 통하여 형상을 모사할 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명의 실시 예를 구성하는 모든 구성요소들이 하나로 결합하거나 결합하여 동작하는 것으로 기재되어 있다고 해서, 본 발명이 반드시 이러한 실시 예에 한정되는 것은 아니다. 즉, 본 발명의 목적 범위 안에서라면, 그 모든 구성요소들이 하나 이상으로 선택적으로 결합하여 동작할 수도 있다. 또한, 그 모든 구성요소들이 각각 하나의 독립적인 하드웨어로 구현될 수 있지만, 각 구성요소들의 그 일부 또는 전부가 선택적으로 조합되어 하나 또는 복수개의 하드웨어에서 조합된 일부 또는 전부의 기능을 수행하는 프로그램 모듈을 갖는 컴퓨터 프로그램으로서 구현될 수도 있다. 또한, 이와 같은 컴퓨터 프로그램은 USB 메모리, CD 디스크, 플래쉬 메모리 등과 같은 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록 매체(Computer Readable Media)에 저장되어 컴퓨터에 의하여 읽혀지고 실행됨으로써, 본 발명의 실시 예를 구현할 수 있다. 컴퓨터 프로그램의 기록 매체로서는 자기기록매체, 광 기록매체 등이 포함될 수 있다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정, 변경 및 치환이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시 예 및 첨부된 도면들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예 및 첨부된 도면에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구 범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
10: 광학장비 점검 시스템
100: 광학장비 점검 장치
110: 제어부
121: 광신호 수신부
122: 광신호 송신부
131: 수신 광경로 변환부
132: 송신 광경로 변환부
140: 광학신호 조정부
150: 신호폭 조정부
160: 신호세기 조정부
200: 광학장비

Claims (13)

  1. 광신호를 발생시켜 목적위치로 조사하는 광학장비로부터 광신호를 수신하는 광신호 수신부;
    액정을 이용하여 상기 광신호 수신부가 수신한 광신호의 신호 특성을 조정하는 광학신호 조정부;
    외부로부터 제어 설정 정보를 수신하고, 상기 제어 설정 정보에 대응하는 제어 신호를 출력하여 상기 광학신호 조정부를 제어하는 제어부; 및
    상기 조정된 광신호를 상기 광학장비로 송신하는 광신호 송신부;를 포함하고,
    상기 광학신호 조정부는, 상기 광학장비로부터 수신한 광신호의 폭을 조정하는 신호폭 조정부; 및 상기 광학장비로부터 수신한 광신호의 세기를 조정하거나 차단하는 신호세기 조정부;를 포함하고,
    상기 신호폭 조정부는, 상기 광신호 수신부로부터 수신하는 광신호의 신호폭을 조정하는 제1 신호폭 조정부; 및 상기 광학신호 조정부가 상기 광신호 송신부를 향해 송신하는 광신호의 신호폭을 조정하는 제2 신호폭 조정부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학장비 점검 장치.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1 신호폭 조정부는,
    상기 광학장비로부터 수신하는 광신호의 신호폭을 넓히되,
    상기 광신호 수신부로부터 수신하는 광신호를 회절시키는 적어도 하나의 슬릿; 및
    상기 회절된 광신호를 평행광 형태로 변환하는 적어도 하나의 볼록렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학장비 점검 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제2 신호폭 조정부는,
    상기 광학장비를 향해 송신하는 광신호의 신호폭을 줄이되,
    상기 광신호 송신부를 향해 송신하는 광신호의 폭을 줄이는 적어도 하나의 볼록렌즈; 및
    상기 볼록렌즈를 통과한 광신호를 평행광 형태로 변환하는 적어도 하나의 오목렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학장비 점검 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 신호세기 조정부는,
    상기 광학장비로부터 수신하는 광신호의 일방향 성분만 통과시키는 제1 편광판;
    상기 제1 편광판을 통과한 광신호의 편파를 변환하는 제1 액정;
    상기 제1 액정에 의하여 변환된 광신호의 편파를 변환하는 제2 액정; 및
    상기 제2 액정에 의하여 변환된 광신호를 상기 제1 편광판이 통과시키는 방향과 같은 방향의 성분만 통과시키는 제2 편광판;을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학장비 점검 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 신호세기 조정부는,
    적어도 하나의 전극을 포함하고, 상기 제어 신호에 대응하여 상기 전극을 통해 상기 제1 액정과 상기 제2 액정에 전기장을 형성하는 방식으로 상기 제1 액정과 상기 제2 액정이 변환하는 광신호의 편파 방향을 제어하는 것을 특징으로 하는 광학장비 점검 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제1 액정 및 상기 제2 액정은,
    TN(Twisted Nematic) 방식으로 구현된 액정이고,
    상기 신호세기 조정부는,
    상기 전극을 통해 상기 제1 액정 및 상기 제2 액정에 전기장을 형성하는 방식으로 상기 광신호를 차단하거나,
    상기 전극을 통해 상기 제1 액정 및 상기 제2 액정에 전기장을 형성하지 않는 방식으로 제1 액정 및 상기 제2 액정을 통과하는 광신호의 편파를 변환하는 것을 특징으로 하는 광학장비 점검 장치.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 신호세기 조정부는,
    상기 제1 액정과 상기 제2 액정의 화소를 제어하는 방식으로 상기 제1 액정과 상기 제2 액정을 통과하는 광신호를 상기 제어 신호에 대응하는 형상으로 모사하되,
    상기 형상은, 점검을 위한 표적에 대한 모의 형상으로써, 공중운동체 또는 지상이동체 중 적어도 하나의 형상인 것을 특징으로 하는 특징으로 하는 광학장비 점검 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 광신호 수신부와 상기 광학신호 조정부 사이의 광경로를 변환하는 수신 광경로 변환부; 및
    상기 광학신호 조정부와 상기 광신호 송신부 사이의 광경로를 변환하는 송신 광경로 변환부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학장비 점검 장치.
  10. 광신호를 발생시켜 목적위치로 조사하는 광학장비; 및
    상기 광학장비로부터 광신호를 수신하는 광신호 수신부, 액정을 이용하여 상기 광신호 수신부가 수신한 광신호의 신호 특성을 조정하는 광학신호 조정부, 외부로부터 제어 설정 정보를 수신하고, 상기 제어 설정 정보에 대응하는 제어 신호를 출력하여 상기 광학신호 조정부를 제어하는 제어부 및 상기 조정된 광신호를 상기 광학장비로 송신하는 광신호 송신부를 포함하는 광학장비 점검 장치;를 포함하고,
    상기 광학신호 조정부는, 상기 광학장비로부터 수신한 광신호의 폭을 조정하는 신호폭 조정부; 및 상기 광학장비로부터 수신한 광신호의 세기를 조정하거나 차단하는 신호세기 조정부를 포함하고,
    상기 신호폭 조정부는, 상기 광신호 수신부로부터 수신하는 광신호의 신호폭을 조정하는 제1 신호폭 조정부; 및 상기 광학신호 조정부가 상기 광신호 송신부를 향해 송신하는 광신호의 신호폭을 조정하는 제2 신호폭 조정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학장비 점검 시스템.
  11. 삭제
  12. 제10항에 있어서,
    상기 신호세기 조정부는,
    상기 광학장비로부터 수신하는 광신호의 일방향 성분만 통과시키는 제1 편광판;
    상기 제1 편광판을 통과한 광신호의 편파를 변환하는 제1 액정;
    상기 제1 액정에 의하여 변환된 광신호의 편파를 변환하는 제2 액정; 및
    상기 제2 액정에 의하여 변환된 광신호를 상기 제1 편광판이 통과시키는 방향과 같은 방향의 성분만 통과시키는 제2 편광판;을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학장비 점검 시스템.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 신호세기 조정부는,
    적어도 하나의 전극을 포함하고, 상기 제어 신호에 대응하여 상기 전극을 통해 상기 제1 액정과 상기 제2 액정에 전기장을 형성하는 방식으로 상기 제1 액정과 상기 제2 액정이 변환하는 광신호의 편파 방향을 제어하는 것을 특징으로 하는 광학장비 점검 시스템.
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